KR20020044111A - 전기장치 테스트용 자가정렬 인터페이스 장치 - Google Patents

전기장치 테스트용 자가정렬 인터페이스 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20020044111A
KR20020044111A KR1020017015536A KR20017015536A KR20020044111A KR 20020044111 A KR20020044111 A KR 20020044111A KR 1020017015536 A KR1020017015536 A KR 1020017015536A KR 20017015536 A KR20017015536 A KR 20017015536A KR 20020044111 A KR20020044111 A KR 20020044111A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
connectors
self
aligned
connector
coaxial
Prior art date
Application number
KR1020017015536A
Other languages
English (en)
Inventor
제임스 제이 케리간
프랭크 켄달 쥬니어 포터
Original Assignee
텐솔라이트 컴파니
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 텐솔라이트 컴파니 filed Critical 텐솔라이트 컴파니
Publication of KR20020044111A publication Critical patent/KR20020044111A/ko

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/62—Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
    • H01R13/629—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances
    • H01R13/631—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances for engagement only
    • H01R13/6315—Additional means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts, e.g. aligning or guiding means, levers, gas pressure electrical locking indicators, manufacturing tolerances for engagement only allowing relative movement between coupling parts, e.g. floating connection
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2103/00—Two poles
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R24/00—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure
    • H01R24/38—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts
    • H01R24/40—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts specially adapted for high frequency
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H01R43/26—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for engaging or disengaging the two parts of a coupling device

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Abstract

테스트 장치(12)의 다수의 커넥터(27)와 동시에 연결되는 다수의 자가정렬 동축커넥터(26)를 구비한 인터페이스 장치(10)는 베이스부재(28), 제1 인터페이스 (20) 및 제2 인터페이스(22)를 포함한다. 제1, 제2 인터페이스들(20,22)중 적어도 하나는 베이스부재(28)에서 미끄럼 운동하고 테스트 장치(12)의 다수의 커넥터들 (27)과 연결되는 다수의 자가정렬 동축커넥터들(26)을 구비한다. 이들 자가정렬 동축커넥터(26)가 움직여 인터페이스(20,22) 사이에 있는 테스트 장치(12)의 다수의 커넥터들(27)과 연결되도록 인터페이스(20,22)를 이동시키는 푸싱수단(24)이 제공된다. 자가정렬 커넥터(26)에는 테스트 장치(12)의 테스트용 분석기(14)와 공급기 (16)에 연결되는 형상을 갖는 케이블들(106)이 제공된다.

Description

전기장치 테스트용 자가정렬 인터페이스 장치{Self-aligning interface apparatus for use in testing electrical devices}
Type N, Type F, SMA TNC, BNC 등의 특수용 마이크로파 인터페이스 및 여러가지 공업규격을 이용하는 마이크로파 장비를 전기적으로 테스트할 때는 이들 인터페이스에 여러개의 테스트 케이블들 각각을 수동으로 부착해야만 한다. 따라서, 이런 과정은 지루하고도 많은 시간이 소요된다.
각각의 케이블을 인터페이스에 신속하게 연결하는 장치들이 다수 개발되었지만, 이런 장치들 역시 각각의 테스트 케이블을 인터페이스에 개별적으로 연결해야만 하는 단점이 있다.
고정 하우징에 장착된 연결 커넥터들에 동축케이블들을 "대충" 연결해도 되는 자가정렬 동축케이블 커넥터들이 개발되었는바, 미국특허 5,746,617에는 이런 자가정렬 동축커넥터의 예가 기재되어 있다.
본 발명은 인터페이스 장치에 관한 것으로, 구체적으로는 전기장치, 특히 마이크로파 장치를 테스트하는데 사용되는 자가정렬 인터페이스 장치에 관한 것이다.
도 1은 본 발명을 이용한 테스트 시스템의 블록도;
도 2는 다수의 자가정렬 동축커넥터들을 구비하고 테스트 장치를 수용할 개방 위치에 있는 본 발명의 인터페이스 장치의 사시도;
도 3은 테스트 장치와 결합상태에 있는 자가정렬 동축커넥터들과 함께 폐쇄 위치에 있는 도 2의 인터페이스 장치의 사시도;
도 4는 도 2의 자가정렬 동축커넥터들의 세부를 보여주는 상부 사시도;
도 5는 도 2의 자가정렬 동축커넥터들의 다른 세부를 보여주는 상부 사시도;
도 6은 도 2의 자가정렬 동축커넥터들의 세부를 보여주는 평면도;
도 7은 테스트 장치가 인터페이스 장치내에 위치한 상태에서 다수의 사각형으로 배치된 자가정렬 동축커넥터들을 구비한 인터페이스 장치가 개방 위치에 있는 다른 실시예의 사시도.
본 발명의 목적은, 전기장치, 특히 마이크로파 장치를 테스트하는데 사용되면서도 전술한 종래의 문제점들을 해결한 자가정렬 인터페이스 장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은, 전기장치, 특히 마이크로파 장치를 테스트하는데 사용되면서도, 테스트 될 장치의 다수의 커넥터들을 테스트 장치에 동시에 연결할 수 있는 효과적인 인터페이스 장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 또다른 목적은, 테스트 될 장치의 다수의 커넥터들에 동시에 연결되는 다수의 자가정렬 동축커넥터들을 구비한 인터페이스 장치를 제공하는데 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 테스트 될 장치의 다수의 커넥터들과 동시에 연결되는 다수의 자가정렬 동축커넥터들을 구비한 인터페이스 장치는 베이스부재, 제1 인터페이스 및 제2 인터페이스를 포함한다. 이들 제1, 제2 인터페이스는 서로 떨어져서 상기 테스트 장치를 수용한다. 제1, 제2 인터페이스중 적어도 하나는 베이스부재에서 미끄럼 운동하여 인터페이스 사이에 위치한 테스트 장치와 분리결합된다. 제1, 제2 인터페이스들중 적어도 하나는 테스트 장치의 다수의 커넥터들과 연결되도록 배치된 다수의 자가정렬 동축커넥터들을 갖는다. 테스트 장치의 커넥터들과 자가정렬 동축커넥터들을 연결하기 위해 테스트장치를 향해 인터페이스들을 이동시키는 푸싱수단이 제공된다. 동작시, 이들 인터페이스들은 서로 떨어져 있고 그 사이에 테스트 장치가 배치된다. 푸싱수단에 의해 이들 인터페이스 둘다 또는 하나가 이동하여 테스트 장치와 연결됨에 따라, 이들 인터페이스 둘다 또는 하나에 장착된 자가정렬 동축커넥터들이 테스트 장치의 다수의 커넥터들과 동시에 연결된다. 자가정렬 커넥터들에 연결된 케이블들은 테스트 장치를 테스트하는 분석기와공급기에 연결되는 형태를 갖는다. 테스트를 완료하면, 푸싱수단에 의해 인터페이스들이 서로 분리되어 테스트 장치의 커넥터들과 자가정렬 커넥터들이 분리된다. 이 인터페이스 장치는 다른 테스트 장치를 수용하도록 대기된다.
이하, 첨부 도면들을 참조하여 본 발명에 대해 자세히 설명하면 다음과 같다.
도 1-5에는 분석기(14)와 공급기(16) 및 테스트 장치(12) 사이의 연결을 촉진하는 본 발명의 인터페이스 장치(10)가 도시되어 있다. 이하 상세히 설명하는 바와 같이, 인터페이스 장치(10)는 고정부(18), 한쌍의 인터페이스 부재(20,22) 및 푸싱조립체(24)를 포함한다. 인터페이스 부재들(20,22)에는 다수의 자가정렬 동축 커넥터(26)가 장착되되, 테스트 장치(12)의 결합 커넥터(27)와 거의 일치되게 위치한다. 도 2에는 테스트 장치(12)를 삽입하기 위해 개방 위치에 있는 인터페이스 장치(10)가 도시되어 있다. 도 3에 도시된 인터페이스 장치(10)는 폐쇄 위치에 있으며, 커넥터들(27)은 자가정렬 동축 커넥터(26)에 연결되어 있다. 베이스(28)에 장착된 푸싱 조립체(24)는 인터페이스 장치(10)를 개폐 위치 사이로 이동시키기 위한 것이다. 도시된 실시예에서, 푸싱 조립체(24)는 공압식이나 유압식으로 오퍼레이터에 의해 제어될 수도 있고, 또는 자동식일 수도 있다. 물론, 다른 실시예에서는, 푸싱 조립체(24)가 기계식으로서 오퍼레이터에 의해 제어될 수도 있고, 또는 자동으로 작동될 수도 있다. 이하, 도 3, 4, 5를 참조하여 고정부(18)에 대해 자세히 설명한다.
도 3, 4, 5에 따르면, 고정부(18)는 인터페이스 부재(20)를 수납하기에 적당한 고정 플랫폼(30)을 포함하는 것으로 도시되어 있다. 고정 플랫폼(30)에 인터페이스 부재(20)를 정위치시키기 위해 인덱스 핀(32)을 배치한다. 고정 플랫폼(30)과 동일 평면상에 있는 미끄럼 플랫폼(34)은 예컨대 나사식으로 구성된 로드(36)를 통해 푸싱 조립체(24)에 기능적으로 연결된다. 미끄럼 플랫폼(34)은 인터페이스 부재(22)를 수납하기에 적당하다. 미끄럼 플랫폼(34)에 인터페이스 부재(22)를 정위치하기 위해 인덱스 핀(38)을 배치한다.
고정 플랫폼(30)의 표면에서 위치를 조정할 수 있는 제1 장치 안내부(40a,40b)가 인터페이스 부재(20)와 테스트 장치(12)를 정렬하기 위해 제공된다. 미끄럼 플랫폼(34)의 표면에서 위치를 조정할 수 있는 제2 장치 안내부(42a,42b)는 인터페이스 부재(22)와 테스트 장치(12)를 정렬하기 위해 제공된다. 이들 장치 안내부(40a,40b,42a,42b)에 의해, 인터페이스부재(20,22)에 장착되는 자가정렬 동축 커넥터들(26)과 테스트 장치(12)에 장착되는 커넥터들이 대략적으로 정렬된다.
미끄럼 플랫폼(34)에 체결되는 푸싱 부착부(44)는 너트 등의 체결구(46)나 나사식 로드(36)를 이용해 푸싱 조립체(24)에 대해 미끄럼 플랫폼(34)을 조절하기 위해 제공된다. 지지 블록들(48a,48b)은 각각 안내레일(50a,50b)에서 미끄럼 가능하다. 이들 지지블록(48a,48b)은 각각 레일 베어링(52a,52b)에 끼워맞춤되어 안내레일(50a,50b)의 미끄럼 운동을 촉진한다. 지지블록(48a)에 형성된 채널(54a)과 지지블록(48b)에 형성된 채널(54b)은 인터페이스 부재(22)를 삽입하기에 적절한 형태를 갖는다. 후단 지지부(58)에 의해 간격을 유지하는 한쌍의 후단 지지구(56a,56b)는 안내레일(50a,50b)을 삽입하기에 적절한 형태를 갖는다. 전단 지지부(59)에 의해 간격을 유지하는 한쌍의 전단 지지구(60a,60b) 역시 안내레일(50a,50b)을 삽입하기에 적절한 형태를 갖는다. 전단 지지구(60a,60b)에 각각 인접 배치된 한쌍의 전방 지지구(62a,62b)는 전방 지지부(64)에 의해 그 간격이 유지된다. 안내레일 (50a,50b)은 전방 지지구(62a,62b)를 관통한다. 전방 지지구(62a)에 형성된 채널 (66a)과 전방 지지구(62b)에 형성된 채널(66b)은 인터페이스 부재(20)를 삽입하기에 적당한 형태를 갖는다. 전단 지지구(60a)에 형성된 채널(68a)과 전단 지지구 (60b)에 형성된 채널(68b)은 케이블 가이드(70)를 삽입하기에 적당한 형태를 갖는다(도 2 참조). 후단 지지구(56a)에 형성된 채널(72a)과 후단 지지구(56b)에 형성된 채널(72b) 역시 케이블 가이드(74)를 삽입하기에 적당한 형태를 갖는다(도 2 참조). 후단 지지구(60a,60b)와 전방 지지구(62a,62b)의 형상 관계는 스페이서(76), 나사식 로드(77) 및 체결구(79)에 의해 유지된다. 이런 배열로 인해 지지구들이 필요한만큼 쉽게 정렬될 수 있다.
도 6에 가장 잘 도시된 바와 같이, 각각의 자가정렬 동축 커넥터(26)는 하우징(80)을 포함하고, 이 하우징은 인터페이스 부재(22)에 장착되어 이 부재(22)에 대해 움직이지 않도록 고정된다. 하우징(80)은 내부 보어(81), 내부 레이디얼 플랜지(82) 및 내부 레이디얼 단턱(84)을 구비한다. 플랜지(82)의 내경은 단턱(84)의 직경보다 작고, 단턱(84)의 직경은 보어(81)의 직경보다 약간 작다. 하우징(80)의 후방으로 삽입되는 커넥터(88)에는 레이디얼 플랜지(90)가 달려 있다. 이 커넥터 (88)는 커넥터 플랜지(90)가 하우징 플랜지(82)에 맞닿을 때까지 하우징(80)에 삽입된다. 직경이 단턱(84)의 내경보다 크면서 보어(81)의 직경보다는 작은 와셔(92)를 단턱(84)에 걸릴 때까지 하우징 후방에서 삽입한다. 플랜지(82)와 와셔(92) 사이에는 정렬 간극(96)이 형성된다. 직경이 보어(81)의 직경보다는 작고 와셔(92)의 내경보다는 큰 압축 스프링 등의 스프링(94)을 와셔(92)에 걸릴 때까지 하우징(80) 후방에서 삽입한다. 이 스프링(94)을 고정하기 위해 하우징(80) 후방에서 리테이너 (96)를 끼운다. 고정된 스프링(94)에 의해 와셔(92)에 축선방향 스프링 힘이 작용한다.
전단부에는 대구경 입구(100)가 형성되고 후단부에는 다수의 핑거들(102)이달린 커플링 칼라(98)를 하우징(80)의 전단부로 삽입한다. 대구경 입구(100)는 커플링 칼라(98)에서 캠면 역할을 한다. 핑거(102)는 커넥터(88)에 형성된 돌기들 (104)을 조여 커넥터(88)에 칼라(98)를 단단히 조여준다. 이 커넥터(88)에 동축케이블(106)을 연결한다.
스프링(94)에 의해 와셔(92)에 작용하는 축선방향 스프링력에 의해 와셔가 종방향으로 밀려 단턱(84)에 맞닿는다. 이렇게 하여, 커넥터(88)와 이곳에 결합된 커플링 칼라(98)가 고정 하우징(80)내에 탄성적으로 지지되기 때문에, 커넥터(88)와 칼라(98)는 축선방향 스프링력의 바이어스에 대항하여 고정 하우징(80)에 대해 축선 방향으로 자유롭게 움직일 수 있다.
커넥터(88)와 칼라(98)는 축선 방향으로 움직이는 외에 반경 방향으로도 움직일 수 있다. 레이디얼 플랜지(90)가 소정 두께와 직경을 갖고, 정렬 간극(86)도 소정 깊이와 직경을 가지므로, 플랜지(90)가 레이디얼 플랜지(82)와 와셔(92) 사이에서 반경 방향으로 자유롭게 미끄러지기에 충분한 축선방향 틈새가 제공된다. 칼라(98)와 커넥터(88)가 반경 방향으로 소정 간격 이동할 수 있을 정도로 레이디얼 플랜지(90)와 정렬 간극(86)의 직경이 결정된다. 이런 구조에 의해, 정렬간극(86)내에 레이디얼 플랜지(90)를 효과적으로 수용할 수 있으면서도, 정렬간극(86)에 의해 형성된 소정의 이동범위내에서 커넥터(88)가 자유롭게 하우징(80)에 대해 반경 방향으로 움직일 수 있다.
이상으로부터 알 수 있듯이, 칼라(98)와 커넥터(88)의 이론적 중심선이 하우징(80)의 보어(81)의 실제 중심선에 비스듬하게 배치되는 위치로 칼라(98)와 커넥터(88)가 스프링력의 바이어스에 대항해 기울어질 수 있다. 따라서, 본 발명에 의하면, 고정 하우징(80)에 대해 "프리 바디(free body)"로서 어떤 방향으로도 칼라(98)와 커넥터(88)를 자유롭게 움직여, 직교 방향으로의 커넥터 부품들에 대한 스트레스나 잠재 에너지를 제거하면서도 결합작용을 촉진할 수 있다. 이에 대해서는 이하 설명되는 본 발명의 동작을 참조하면 더 명백해질 것이다.
본 발명의 첫번째 동작 단계로, 도 2의 개방 위치에 인터페이스 장치(10)를 설치한다. 다음, 플랫폼(30,34)에 테스트 장치(12)를 위치시킨다. 명심할 것은, 인터페이스 부재(20,22)의 자가정렬 동축 커넥터들(26)은 테스트장치(12)의 커넥터 (27)와 정렬된다는 것이다. 다음, 푸싱조립체(24)를 동작시켜 인터페이스 장치를 도 3의 폐쇄위치로 이동시킨다. 커넥터(27)와 자가정렬 동축 커넥터(26)가 오정렬되면, 커넥터(26)가 커넥터(27)와의 초기 결합위치로 계속 이동하여 외부 커넥터 (27)와 입구(100)의 캠면이 맞닿도록 안내한다. 이런 결합이동중에, 스프링(94)에 의해 와셔(92)에 작용하는 스프링력에 의해 커플링 칼라(98)가 보어(81)에 대해 초기 종방향 위치를 유지하고 커넥터(88)의 반경방향 이동 및 정렬에 아무 장애도 되지 않는다. 따라서, 전술한 바와 같이, 커넥터(88)나 커넥터(27)에 반경방향 스트레스나 잠재에너지를 전혀 발생시키지 않고, 또는 이들 부품에 예비하중이나 변형을 전혀 발생시키지 않고 반경방향의 이동이 발생된다. 이런 특징으로 인해, 종래의 구조에 비해 성능이 개선되고 마모가 감소된다. 테스트 장치(12)를 향해 인터페이스 부재(22)가 계속 움직이면 자가정렬 동축커넥터(26)가 커넥터(27)와 동일평면상에서 맞물리게 된다. 테스트장치(12)를 향한 인터페이스 부재(22)의 계속적인 이동으로 인해, 스프링(94)의 힘을 거슬러 보어(81)에 대해 커플링 칼라(98)와 커넥터(88)가 편향된다. 스프링력은 커넥터(27)와 커넥터(88)의 접촉면에 직접 작용하여, 이들 커넥터가 전기적으로 일체화되는 것을 도와준다. 이런 편향작용으로 인해, 커넥터들(88,27)의 종방향 틈새들이 보상된다. 따라서, 이들 커넥터들(88,27)은 편향이 일어난 뒤 완전히 결합된 위치에 도달한다.
도 2, 3에 도시된 실시예에서, 커넥터(27)는 테스트 장치(27)의 양측 평행변에 장착된다. 따라서, 인터페이스 부재들(20,22)이 평행하게 정렬되되, 인터페이스 부재(20)는 고정되고 인터페이스 부재(22)는 미끄럼운동한다. 도 7에 도시된 다른 실시예에서는, 장치(110)의 4변에 다수의 커넥터(112)가 제공된다. 이 실시예에서, 인터페이스 장치(14)는 다수의 자가정렬 동축커넥터(116)를 구비하고, 이들 커넥터는 인터페이스 부재들(118,120,122,124)에 장착된다. 인터페이스 장치(114)의 구조와 기능은 인터페이스 장치(10)와 거의 동일하다. 그러나, 도 7의 실시예에서, 인터페이스 부재들(118,120,122,124) 전부 또는 일부는 장치(110)에 대해 상대적으로 이동하여 자가정렬 동축커넥터(116)와 커넥터(112)를 서로 연결한다.
따라서, 본 발명은 많은 종래의 RF 부품들을 이용해 비교적 간단한 구성을 채택하고 비교적 높은 제조공차에 대한 필요성을 배제함으로써 RF 성능의 저하 없이 비교적 저렴하게 기계적인 개략적 결합을 성공시키는 수단을 제공한다. 또, 본 발명은 반경 방향으로 이동이 자유로와 커넥터들에 대한 모든 반경방향 예비부하나 스트레스의 발생을 방지하면서도 모든 오정렬을 보상하는 연결수단을 제공한다.
이상의 구조는 본 발명의 범위에서 벗어나지 않고도 다양하게 변형할 수 있으므로, 첨부 도면을 참조하여 전술한 모든 내용은 예시적인 것일 뿐이고 한정적인 것은 아니다.

Claims (17)

  1. 테스트 장치를 시험하기 위한 분석기와 공급기에 테스트 장치를 연결하기 위한 자가정렬 인터페이스 장치에 있어서:
    ⒜ 다수의 커넥터들을 구비한 테스트 장치를 수용하기에 적합한 고정부;
    ⒝ 상기 고정부에 미끄럼 가능하게 장착되고, 상기 고정부에 배치된 상기 테스트 장치에 대해 미끄럼 가능하도록 구성된 인터페이스 수단;
    ⒞ 상기 고정부에 배치된 테스트 장치의 커넥터들과 정렬되도록 상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결되고, 고정부에 배치된 테스트장치의 커넥터들 각각에 연결되도록 위치하는 다수의 자가정렬 동축 커넥터들; 및
    ⒟ 상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결되어 인터페이스 수단을 움직이는 푸싱수단;을 포함하고,
    상기 인터페이스 수단이 상기 푸싱수단에 의해 움직일 때, 상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결된 상기 자가정렬 동축 커넥터들도 동시에 움직여 상기 고정부에 위치한 테스트 장치의 커넥터들중 선택된 것들과 결합하여, 상기 자가정렬 동축 커넥터들과 상기 테스트장치의 커넥터들이 결합 상태에서 서로 전기기계적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 자가정렬 동축 커넥터들은,
    ⒜ 동축 케이블을 수납하기에 적합하고, 상기 고정부에 위치한 테스트 장치의 커넥터들중 하나와 선택적으로 연결되는 형태를 가져, 상기 테스트 장치의 커넥터와 연결됨으로써 테스트 장치의 커넥터들중 하나와 동축케이블을 전기적으로 결합하고, 테스트 장치의 커넥터들중 하나가 상기 자가정렬 동축커넥터들중 하나와 동축으로 정렬되게 하는 커플링부재;
    ⒝ 상기 테스트 장치의 커넥터와 동축으로 정렬되도록 반경 방향으로 소정의 이동 범위내에서 자유롭게 이동하기에 적합하여 상기 자가정렬 동축커넥터와 상기 고정부에 위치한 테스트 장치의 커넥터의 연결을 촉진시키는 상기 커플링부재를 이동 가능하게 지지하기에 적합한 하우징; 및
    ⒞ 상기 고정부에 위치한 테스트 장치의 커넥터와 상기 자가정렬 동축커넥터를 결합시키는 방향으로 상기 커플링부재를 탄력적으로 밀어주기에 적합한 푸싱부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 커플링부재는 상기 하우징의 이동방향에 직교하는 동축방향으로 상기 하우징에 대해 이동하기에 적합하여, 상기 고정부에 위치한 테스트 장치의 커넥터와 상기 커플링부재가 완전히 결합된 최종 위치와 초기 위치 사이를 이동하고, 상기 푸싱부재는 상기 초기위치로부터 상기 커플링부재가 이동할 때 상기 결합방향을 향해 상기 커플링부재를 밀어주는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  4. 테스트 장치를 테스트하는데 사용되는 자가정렬 인터페이스 장치에 있어서:
    ⒜ 다수의 커넥터들을 구비한 테스트 장치를 수용하기에 적합한 고정부;
    ⒝ 상기 고정부에 미끄럼 가능하게 장착되고, 상기 고정부에 배치된 상기 테스트 장치에 대해 미끄럼 가능하도록 구성된 인터페이스 수단;
    ⒞ 상기 고정부에 배치된 테스트 장치의 커넥터들과 정렬되도록 상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결되고, 고정부에 배치된 테스트장치의 커넥터들 각각에 연결되도록 위치하는 다수의 자가정렬 동축 커넥터들로서, 각각의 동축커넥터가 각기 커플링부재와 하우징을 포함하고, 상기 커플링부재는 케이블을 수납하여 상기 고정부에 위치한 테스트장치의 커넥터들 각각과 연결되어 이 커넥터와 케이블을 전기적으로 연결하기에 적합하며, 상기 하우징은 상기 커플링부재를 이동 가능하게 지지하기에 적합하고, 또 상기 커플링부재는 정렬상태에 있는 테스트장치의 커넥터에 대해 어떤 방향으로도 이동하여 연결되기에 적합한 다수의 자가정렬 동축커넥터들; 및
    ⒟ 상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결되어 인터페이스 수단을 움직이는 푸싱수단;을 포함하고,
    상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결된 상기 자가정렬 동축커넥터들은 상기 고정부에 위치한 테스트 장치의 커넥터들중 선택된 것들과 결합하도록 동시에 움직여, 상기 자가정렬 동축 커넥터들과 상기 테스트장치의 커넥터들이 결합 상태에서 서로 전기기계적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 자가정렬 동축커넥터들중 선택된 것이 제1 방향으로 배치되고 나머지는 제2 방향으로 배치되는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 제1 방향은 상기 제2 방향에 직교하는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 푸싱수단은 제1 푸싱수단 및 상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결된 제2 푸싱수단을 포함하고, 상기 제1 푸싱수단은 정렬상태에 있는 테스트 장치의 커넥터들중 선택된 것과 동시에 연결되도록 상기 제1 방향으로 배치된 상기 자가정렬 동축커넥터들중 상기 선택된 것들을 상기 제1 방향으로 이동시키는 형태를 갖고, 상기 제2 푸싱수단은 정렬상태에 있는 테스트장치의 커넥터들중 선택된 것과 동시에 연결되도록 상기 제2 방향으로 배치된 상기 자가정렬 동축커넥터들중 상기 선택된 것들을 상기 제2 방향으로 이동시키는 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  8. 제4항에 있어서, 상기 자가정렬 동축커넥터들 각각은 상기 커플링부재와 기능적으로 연관된 바이어스 수단을 구비하고, 상기 바이어스 수단은 동축방향에 비스듬한 방향 및 동축방향에 평행한 방향으로는 상기 커플링부재의 이동을 방해하는 한편 동축방향에 직각인 방향으로는 커플링부재를 자유롭게 이동시키는 힘을 제공하는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  9. 테스트 장치를 시험하는데 사용되는 자가정렬 인터페이스 장치에 있어서:
    ⒜ 다수의 커넥터들을 구비한 테스트 장치를 수용하기에 적합한 고정부;
    ⒝ 상기 고정부에 미끄럼 가능하게 장착되고, 상기 고정부에 배치된 상기 테스트 장치에 대해 제1 및 제2 방향으로 미끄럼 가능하도록 구성된 인터페이스 수단;
    ⒞ 상기 고정부에 배치된 테스트 장치의 커넥터들과 정렬되도록 상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결되고, 고정부에 배치된 테스트장치의 커넥터들 각각에 연결되도록 위치하는 다수의 자가정렬 동축 커넥터들로서, 이들 동축커넥터들중 선택된 것은 상기 제1 방향으로 배치되고 나머지 동축커넥터들은 상기 제2 방향으로 배치되는 다수의 자가정렬 동축커넥터들; 및
    ⒟ 상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결되어 인터페이스 수단을 상기 제1 및 제2 방향으로 움직이는 푸싱수단;을 포함하고,
    상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결된 상기 자가정렬 동축커넥터들은 상기 고정부에 위치한 테스트 장치의 커넥터들중 선택된 것들과 결합하도록 동시에 움직이고, 상기 제1 방향으로 움직인 상기 인터페이스 수단은 자가정렬 동축 커넥터들중 상기 선택된 것들과 정렬되게 배치된 테스트장치의 커넥터들중 선택된 것과 결합하도록 상기 제1 방향으로 상기 선택된 자가정렬 동축커넥터들을 동시에 밀어주며, 상기 제2 방향으로 움직인 상기 인터페이스 수단은 상기 자가정렬 동축 커넥터들중 상기 선택된 것들과 정렬되게 배치된 테스트장치의 커넥터들중 선택된 것과 결합하도록 상기 제2 방향으로 상기 선택된 자가정렬 동축커넥터들을 동시에 밀어주고, 상기 자가정렬 동축 커넥터들과 상기 테스트장치의 커넥터들이 결합 상태에서 서로 전기기계적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 자가정렬 동축커넥터들 각각은,
    ⒜ 케이블을 수납하기에 적합한 커넥터 부재;
    ⒝ 상기 커넥터부재에 기능적으로 연결된 커플링 칼라;
    ⒞ 상기 인터페이스 수단에 장착되고, 상기 커넥터부재와 상기 커플링 칼라를 상기 인터페이스 수단에 대해 어떤 방향으로도 이동할 수 있도록 수납하면서 상기 커넥터부재를 유지 및 지지하기에 적합한 하우징; 및
    ⒟ 상기 커넥터부재와 기능적으로 연관되고, 동축방향에 비스듬한 방향 및 동축방향에 평행한 방향으로는 상기 커넥터부재와 커플링 칼라의 이동을 방해하는 한편 동축방향에 직각인 방향으로는 커넥터부재와 커플링 칼라를 자유롭게 이동시키는 힘을 제공하는 바이어스 수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
  11. 테스트 장치의 다수의 커넥터들과 동시에 연결되는 인터페이스 장치에 있어서:
    ⒜ 베이스부재;
    ⒝ 상기 베이스부재에 장착된 제1 인터페이스 수단;
    ⒞ 상기 베이스부재에 장착되고, 상기 테스트 장치를 수납하도록 상기 제1 인터페이스 수단에서 이격되어 있는 제2 인터페이스 수단;
    ⒟ 상기 제1 및 제2 인터페이스 수단중 적어도 하나는 나머지 인터페이스 수단에 대해 상기 베이스부재상에 미끄럼 가능하도록 장착되어 상기 제1 및 제2 인터페이스 수단 사이에 위치하는 테스트 장치와 분리결합되고;
    ⒠ 상기 제1 및 제2 인터페이스 수단중의 적어도 하나에 장착되고, 테스트 장치의 다수의 커넥터들과 연결되도록 위치하는 다수의 자가정렬 동축커넥터들; 및
    ⒡ 상기 제1 및 제2 인터페이스 수단중 상기 가동되는 것에 기능적으로 연결되고 상기 가동되는 인터페이스 수단을 테스트 장치를 향해 밀어서 자가정렬 동축커넥터들과 테스트 장치의 커넥터들을 결합시키는 푸싱수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 인터페이스 장치.
  12. ⒜ 동축케이블을 수납하기에 적합한 커넥터 부재;
    ⒝ 상기 커넥터부재에 기능적으로 연결된 커플링 칼라;
    ⒞ 상기 커넥터부재를 수납하기에 적합하고, 커넥터부재와 커플링 칼라를 그 내부에 동축으로 수용하여 어떤 방향으로도 움직이게 할 수 있는 하우징; 및
    ⒟ 상기 커넥터부재와 기능적으로 연관되고, 상기 하우징의 종축선에 비스듬한 방향 및 평행한 방향으로는 커넥터부재와 커플링 칼라의 이동을 방해하는 한편 하우징의 종축선에 직각인 방향으로는 커넥터부재와 커플링 칼라를 자유롭게 이동시키는 힘을 제공하는 바이어스 수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 자가정렬 동축커넥터.
  13. 제12항에 있어서, 상기 하우징에 내부 보어, 내부 레이디얼 플랜지 및 내부 레이디얼 단턱이 형성되고, 상기 레이디얼 플랜지의 내경은 상기 레이디얼 단턱의 내경보다 작고, 상기 단턱의 내경은 상기 보어의 내경보다 작은 것을 특징으로 하는 자가정렬 동축커넥터.
  14. 제13항에 있어서, 외경과 내경을 갖되 상기 외경은 상기 단턱의 내경보다 크고 상기 보어의 내경보다 작은 와셔 수단을 포함하고, 상기 단턱은 와셔수단에 대한 정지구를 구성하며, 상기 바이어스 수단이 와셔 수단을 밀어주는 것을 특징으로 하는 자가정렬 동축커넥터.
  15. 제14항에 있어서, 상기 커넥터부재에 레이디얼 플랜지가 있고, 이 레이디얼 플랜지의 외경이 상기 보어의 내경보다는 작고 상기 하우징의 레이디얼 플랜지의 내경과 상기 와셔 수단의 내경보다는 큰 것을 특징으로 하는 자가정렬 동축커넥터.
  16. 제15항에 있어서, 상기 와셔 수단과 압축 결합되게 상기 하우징에 상기 바이어스 수단을 유지하도록 하우징에 기능적으로 연결된 리테이너 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 자가정렬 동축커넥터.
  17. 다수의 커넥터들을 구비한 제1 전기장치를 제2 전기장치에 연결하기 위한 자가정렬 인터페이스 장치에 있어서:
    ⒜ 제1 전기장치를 수용하기에 적합한 고정부;
    ⒝ 상기 고정부에 기능적으로 연결되면서, 고정부에 대해 상대적으로 미끄럼 운동하도록 구성된 인터페이스 수단;
    ⒞ 상기 고정부에 수용된 제1 전기장치의 커넥터들과 정렬되게 상기 인터페이스 수단에 기능적으로 연결되고, 고정부에 수용된 제1 전기장치의 커넥터들과 연결되도록 움직이게 위치하는 다수의 자가정렬 동축 커넥터들; 및
    ⒟ 상기 자가정렬 동축커넥터들에 연결되고, 제2 전기장치에 연결되는 형태를 갖는 다수의 케이블 수단;을 포함하고,
    ⒠ 상기 자가정렬 동축커넥터들은 상기 인터페이스 수단과 고정부의 상대적 미끄럼 운동에 의해 고정부에 수용된 제1 전기장치의 커넥터들중 선택된 것들과 결합하도록 움직이고, 상기 자가정렬 동축커넥터들과 고정부에 수용된 제1 전기장치의 상기 커넥터들이 결합 상태에서 서로 전기기계적으로 연결됨으로써, 제1 및 제2 전기장치들은 상기 케이블 수단들이 제2 전기장치에 연결되었을 때 전기적으로 연결되고, 상기 자가정렬 동축커넥터들이 제1 전기장치의 커넥터들과 연결되는 것을 특징으로 하는 자가정렬 인터페이스 장치.
KR1020017015536A 1999-07-22 2000-07-21 전기장치 테스트용 자가정렬 인터페이스 장치 KR20020044111A (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/359,092 1999-07-22
US09/359,092 US6344736B1 (en) 1999-07-22 1999-07-22 Self-aligning interface apparatus for use in testing electrical
PCT/US2000/020063 WO2001007923A1 (en) 1999-07-22 2000-07-21 Self-aligning interface apparatus for use in testing electrical devices

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20020044111A true KR20020044111A (ko) 2002-06-14

Family

ID=23412270

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020017015536A KR20020044111A (ko) 1999-07-22 2000-07-21 전기장치 테스트용 자가정렬 인터페이스 장치

Country Status (8)

Country Link
US (1) US6344736B1 (ko)
JP (1) JP2003505836A (ko)
KR (1) KR20020044111A (ko)
CN (1) CN1353817A (ko)
BR (1) BR0012668A (ko)
CA (1) CA2378832A1 (ko)
MX (1) MXPA02000765A (ko)
WO (1) WO2001007923A1 (ko)

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8664030B2 (en) 1999-03-30 2014-03-04 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
TW511801U (en) * 2001-08-31 2002-11-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Cable connector assembly
JP3892329B2 (ja) * 2002-03-29 2007-03-14 Ｕｒｏ電子工業株式会社 同軸コネクタ
DE10239845C1 (de) * 2002-08-29 2003-12-24 Day4 Energy Inc Elektrode für fotovoltaische Zellen, fotovoltaische Zelle und fotovoltaischer Modul
US6999888B2 (en) * 2002-09-30 2006-02-14 Intel Corporation Automated circuit board test actuator system
US7154257B2 (en) * 2002-09-30 2006-12-26 Intel Corporation Universal automated circuit board tester
US6679726B1 (en) * 2002-11-26 2004-01-20 Molex Incorporated Panel mounted electrical connector
DE10258106A1 (de) * 2002-12-11 2004-06-24 Volkswagen Ag Elektrische Steckverbindung, insbesondere für ein Fahrzeug mit einer Schiebetür
US6900649B1 (en) 2003-09-23 2005-05-31 Keithley Instruments, Inc. High frequency RF interconnect for semiconductor automatic test equipment
US7165974B2 (en) * 2004-10-14 2007-01-23 Corning Gilbert Inc. Multiple-position push-on electrical connector
JP4561461B2 (ja) * 2005-04-28 2010-10-13 住友電装株式会社 ワイヤーハーネスの導通検査器
US20070068567A1 (en) * 2005-09-23 2007-03-29 Rubin Leonid B Testing apparatus and method for solar cells
CN100360944C (zh) * 2006-03-01 2008-01-09 友达光电股份有限公司 电压检测电路以及电压检测系统
US9865758B2 (en) 2006-04-13 2018-01-09 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US8729385B2 (en) 2006-04-13 2014-05-20 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US8884155B2 (en) 2006-04-13 2014-11-11 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US8822810B2 (en) 2006-04-13 2014-09-02 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US9236512B2 (en) 2006-04-13 2016-01-12 Daniel Luch Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US9006563B2 (en) 2006-04-13 2015-04-14 Solannex, Inc. Collector grid and interconnect structures for photovoltaic arrays and modules
US20080092944A1 (en) * 2006-10-16 2008-04-24 Leonid Rubin Semiconductor structure and process for forming ohmic connections to a semiconductor structure
US20080290368A1 (en) * 2007-05-21 2008-11-27 Day4 Energy, Inc. Photovoltaic cell with shallow emitter
US7510436B2 (en) * 2007-06-01 2009-03-31 Ftime Technology Industrial Co., Ltd. Multi-connector set for signal testing
US7699617B2 (en) * 2007-10-08 2010-04-20 Winchester Electronics Corporation Modular interconnect apparatus
CN101458265B (zh) * 2007-12-14 2013-01-09 深圳富泰宏精密工业有限公司 测试用电源装置
CA2708536A1 (en) * 2007-12-18 2009-06-25 Day4 Energy Inc. Photovoltaic module with edge access to pv strings, interconnection method, apparatus, and system
JP4623748B2 (ja) * 2008-04-18 2011-02-02 Ｓｍｋ株式会社 フローティング構造を有するコネクタ
CA2731158A1 (en) * 2008-07-28 2010-02-04 Day4 Energy Inc. Crystalline silicon pv cell with selective emitter produced with low temperature precision etch back and passivation process
US8113875B2 (en) * 2008-09-30 2012-02-14 Belden Inc. Cable connector
US10088501B2 (en) * 2010-11-24 2018-10-02 Ziota Technology Inc. Universal mate-in cable interface system
US8157588B1 (en) 2011-02-08 2012-04-17 Belden Inc. Cable connector with biasing element
US8888527B2 (en) * 2011-10-25 2014-11-18 Perfectvision Manufacturing, Inc. Coaxial barrel fittings and couplings with ground establishing traveling sleeves
JP2014123482A (ja) * 2012-12-21 2014-07-03 Murata Mfg Co Ltd 検査用同軸コネクタ
WO2015089121A2 (en) * 2013-12-09 2015-06-18 Dockon Ag Wireless coupling for rf calibration and testing of wireless transmitters and receivers
US9748651B2 (en) 2013-12-09 2017-08-29 Dockon Ag Compound coupling to re-radiating antenna solution
US9799956B2 (en) 2013-12-11 2017-10-24 Dockon Ag Three-dimensional compound loop antenna
US20140354321A1 (en) * 2014-08-14 2014-12-04 Caterpillar Inc. Automated test management system for electronic control module
EP3201987A4 (en) * 2014-10-01 2018-05-09 Amphenol Corporation Integrated antenna unit with blind mate interconnect
EP3021425A1 (en) 2014-11-11 2016-05-18 Spinner GmbH Self-aligning connector interface
EP3048672A1 (en) 2015-01-22 2016-07-27 Spinner GmbH Low passive intermodulation coaxial connector test interface
US10630034B2 (en) 2015-05-27 2020-04-21 Amphenol Corporation Integrated antenna unit with blind mate interconnect
JP6515003B2 (ja) 2015-09-24 2019-05-15 東京エレクトロン株式会社 インターフェース装置、インターフェースユニット、プローブ装置及び接続方法
US10473714B2 (en) * 2017-03-06 2019-11-12 Asm Technology Singapore Pte Ltd Method and apparatus for aligning electronic components
CN108196186A (zh) * 2018-02-22 2018-06-22 广东欧珀移动通信有限公司 用于电路板测试的测试工装
KR101923145B1 (ko) * 2018-03-02 2019-02-20 이승용 이동 가능한 커넥터를 포함한 테스트 소켓 및 그 테스트 소켓을 포함한 테스트 장치
GB2577598B (en) * 2018-08-01 2023-02-01 Eaton Intelligent Power Ltd Electrical connector
US11152746B2 (en) * 2018-08-01 2021-10-19 Eaton Intelligent Power Limited Electrical connector
CN113540906B (zh) * 2021-07-14 2022-07-22 重庆中车四方所科技有限公司 一种连接器自动布线装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL266688A (ko) * 1960-07-08
US4227765A (en) * 1979-02-12 1980-10-14 Raytheon Company Coaxial electrical connector
US4426127A (en) * 1981-11-23 1984-01-17 Omni Spectra, Inc. Coaxial connector assembly
DE9314259U1 (de) * 1992-09-29 1994-02-10 Tektronix, Inc., Wilsonville, Oreg. Sondenadapter für elektonische Bauelemente
US5543726A (en) * 1994-01-03 1996-08-06 International Business Machines Corporation Open frame gantry probing system
US5546405A (en) * 1995-07-17 1996-08-13 Advanced Micro Devices, Inc. Debug apparatus for an automated semiconductor testing system
US5746617A (en) * 1996-07-03 1998-05-05 Quality Microwave Interconnects, Inc. Self aligning coaxial connector assembly
US6010349A (en) * 1998-06-04 2000-01-04 Tensolite Company Locking coupling assembly

Also Published As

Publication number Publication date
BR0012668A (pt) 2002-04-09
WO2001007923A1 (en) 2001-02-01
CN1353817A (zh) 2002-06-12
US6344736B1 (en) 2002-02-05
MXPA02000765A (es) 2002-07-22
CA2378832A1 (en) 2001-02-01
JP2003505836A (ja) 2003-02-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20020044111A (ko) 전기장치 테스트용 자가정렬 인터페이스 장치
US4906197A (en) Spring engagement mechanism for mating electrical and fiber optic connectors independently
US4697859A (en) Floating coaxial connector
US5383790A (en) Connector with floating self-alignment and zero impulse separation mechanisms
US5562458A (en) Interface engagement and locking system
US5397244A (en) Preload release mechanism
US7563133B2 (en) Low extraction force connector interface
US6617867B2 (en) Mechanism for clamping device interface board to peripheral
US20010013782A1 (en) Electrical connection testing device and an electrical connection testing method for terminal fittings accommodated in a connector
EP2144338A1 (en) Coaxial probe
US11125810B2 (en) Blind-mate PIM testing adapter connector and fixture
KR20170084218A (ko) 자기 정렬 커넥터 인터페이스
US6422886B1 (en) Method and apparatus for aligning and electrically connecting mating connectors
US11473701B2 (en) Connecting device and pipe press-fit connecting apparatus using the same
US6316954B1 (en) High performance test interface
JPH0274875A (ja) 取付具ラッチ機構
US6798227B1 (en) Two axis self-centering probe block assembly with two axis float and self-alignment
US5490797A (en) Multipin connector apparatus
EP0822417A2 (en) Probe positioning assembly for armature tester
CN114199763B (zh) 一种用于连接器视觉检测的高精度定位载具
US4768006A (en) Electrical and mechanical coupling for coupling a microwave case both to its source and to its support, and a method of using such a coupling
KR20220049246A (ko) 케이블 연결용 가변형 어댑터 및 이를 포함하는 케이블 연결용 가변형 어댑터 구조체
US6802727B2 (en) Apparatus for and method of connecting connectors
GB1599751A (en) Device for connecting a tool or measuring sensor to a machine
EP0351174B1 (en) Board alignment system

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid