KR20020040285A - Contact film for testing lcd panel and testing method using the contact film - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A contact film used for testing a liquid crystal display panel and a test method are provided to allow a signal data pad to come into contact with a probe pin without having errors in an LCD panel test process. CONSTITUTION: A contact film(1) that electrically connects a signal data pad to a probe block when a liquid crystal display panel is tested includes a nonconductive film(2) and a plurality of conductive particles(5). The conductive particles are uniformly distributed in the nonconductive film. When the probe block presses the contact film attached to the signal data pad, the conductive particles electrically connect the signal data pad with the probe block.

Description

액정 표시 패널 검사용 접촉 필름 및 검사 방법{CONTACT FILM FOR TESTING LCD PANEL AND TESTING METHOD USING THE CONTACT FILM}CONTACT FILM FOR TESTING LCD PANEL AND TESTING METHOD USING THE CONTACT FILM}

본 발명은 액정 표시 패널(Liquid Crystal Display panel: 이하 'LCD 패널'이라 칭한다)을 테스트할 때 사용되는 접촉 필름(contact film) 및 검사 방법에 관한 것으로, 더 상세히는 그로스 테스트를 수행할 때 LCD 패널의 신호 데이터 패드와 프로브 블록(probe block)의 프로브 핀의 접촉성을 향상시키기 위한 접촉 필름 및 검사 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a contact film and an inspection method used when testing a liquid crystal display panel (hereinafter referred to as an 'LCD panel'), and more particularly to an LCD panel when performing a gross test. A contact film and an inspection method for improving the contact between the signal data pad of the probe block and the probe pin of the probe block.

소형화, 경량화 및 저소비전력 등의 추세로 발전하고 있는 LCD 패널은 TFT(Thin Film Transistor) 기판과 칼라 필터 및 액정 물질로 구성되며, 주입된 액정의 전기 광학적 성질을 이용하여 정보를 표시하는 장치이다.The LCD panel, which has been developed with the trend of miniaturization, light weight, and low power consumption, is composed of a thin film transistor (TFT) substrate, a color filter, and a liquid crystal material, and displays an information by using the electro-optical properties of the injected liquid crystal.

LCD 패널은 유리 재질의 기판 위에 형성된 회로와 전기적 신호를 수신하는입출력 패드인 신호 데이터 패드가 전기적으로 연결되어 구성된다. 이러한 회로 및 신호 데이터 패드가 형성된 LCD 패널은 백라이트 어셈블리 등과 함께 완제품으로 조립되기 전에 완제품과 같은 동일한 환경으로 테스트를 시행하는 것이 LCD 패널 제조 공정의 일반적인 순서이다.The LCD panel is configured by electrically connecting a circuit formed on a glass substrate and a signal data pad, which is an input / output pad for receiving an electrical signal. It is a general procedure of the LCD panel manufacturing process that the LCD panel in which such a circuit and signal data pad is formed is subjected to the same environment as the finished product before being assembled into the finished product together with the backlight assembly.

최근 소비자들이 보다 크고 선명한 LCD 패널을 요구하고 있다. 이에 따라 패널의 크기는 15 인치와 14.1 인치가 양산되고 있으며, 기존의 SVGA(800??600)의 해상도로 충분했던 것이 근래에는 XGA(1024??768) 및 SXGA(1280??1024)의 고해상도 제품이 출시되고 있다.Recently, consumers are demanding bigger and clearer LCD panels. As a result, panel sizes are in mass production of 15 inches and 14.1 inches, and the resolution of the existing SVGA (800 ?? 600) was enough. In recent years, the high resolution of XGA (1024 ?? 768) and SXGA (1280 ?? 1024) The product is coming to market.

도 1은 LCD 패널의 평면도이며, 도 2는 신호 데이터 패드의 접촉부와 프로브 핀의 접촉 면적의 치수와 접촉 관계를 설명하기 위해 도시한 도면이고, 도 3은 테스트 공정에서 프로브 핀이 접촉되는 모양을 도시한 사시도이다. 도 1에 도시한 바와 같이 신호 데이터 패드는 LCD 모듈의 가장자리부에 배치되는데, 15인치 SXGA인 경우 프로브 핀의 접촉부는 그 폭(D)이 25??30㎛ 이고 신호 데이터 패드의 폭(A)은 38㎛이며 신호 데이터 패드의 간격(E)은 22㎛이다. 이와 같이 치수가 가시적으로 판단할 수 없을 정도로 세밀해져서 프로브 핀을 정확한 위치에 배치하는 것이 기술적으로 중요한 인자가 되고 있는 것이 사실이다.1 is a plan view of an LCD panel, FIG. 2 is a view illustrating dimensions and contact relations of contact areas of a signal data pad and a contact area of a probe pin, and FIG. 3 is a view in which a probe pin is in contact in a test process. It is a perspective view shown. As shown in FIG. 1, the signal data pad is disposed at the edge of the LCD module. In the case of 15-inch SXGA, the contact portion of the probe pin has a width D of 25 ?? 30 μm and a width A of the signal data pad. Is 38 mu m and the spacing E of the signal data pad is 22 mu m. As such, it is true that the dimension becomes so small that it cannot be visually judged, so that the positioning of the probe pin in the correct position is a technically important factor.

도 4는 프로브 핀이 정위치에 배치되지 않은 경우를 나타낸 도면이다. 도 4와 같이 프로브 핀이 정위치에 배치되지 않을 경우 그 라인에 해당되는 부분이 제대로 작동되지 않게 되고, 이러한 징후가 나타날 때 LCD 모듈은 해당 신호 데이터 패드와 연결된 회로부분에 문제가 있는 것인지 아니면 접촉에 문제가 있는지 육안으로 판단할 수 없으므로, 작업자가 프로브 블록을 재설정해야하는 번거로움이 있다.4 is a diagram illustrating a case in which the probe pin is not disposed in the correct position. If the probe pin is not placed in position as shown in FIG. 4, the part corresponding to the line does not work properly, and when such an indication appears, the LCD module may have a problem with the circuit part connected to the corresponding signal data pad or may be in contact. Since it is not possible to visually determine whether there is a problem, the operator has to reset the probe block.

한편, 이러한 접촉 불량의 문제는 프로브 블록을 장시간 사용함으로써 노후하여 발생하기도 한다.On the other hand, such a problem of contact failure may occur due to aging by using the probe block for a long time.

본 발명은 상술한 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로, LCD 패널의 테스트 공정에서 신호 데이터 패드와 프로브 핀이 에러 없이 접촉될 수 있도록 하는 접촉 필름을 제공하는 데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and an object thereof is to provide a contact film which allows a signal data pad and a probe pin to be contacted without error in a test process of an LCD panel.

도 1은 LCD 패널의 평면도;1 is a plan view of an LCD panel;

도 2는 신호 데이터 패드의 접촉부와 프로브 핀의 접촉 면적의 치수와 접촉 관계를 설명하기 위해 도시한 도면;FIG. 2 is a diagram for explaining the contact relationship between the contact area of the signal data pad and the probe pin and the contact relationship;

도 3은 테스트 공정에서 프로브 핀이 접촉되는 모양을 도시한 사시도;3 is a perspective view showing the contact of the probe pin in the test process;

도 4는 프로브 핀이 정위치에 배치되지 않은 경우를 나타낸 도면;4 is a view showing a case in which the probe pin is not disposed in place;

도 5는 본 발명의 접촉 필름의 사시도;5 is a perspective view of a contact film of the present invention;

도 6은 본 발명의 접촉 필름을 사용하여 LCD 패널을 테스트하는 것을 설명하기 위한 사시도;6 is a perspective view for explaining testing an LCD panel using the contact film of the present invention;

도 7a와 도 7b는 본 발명의 접촉 필름이 어떻게 작동하는지 설명하기 위해 도시한 측면도; 및7A and 7B are side views illustrating how the contact film of the present invention works; And

도 8은 본 발명의 접촉 필름을 사용하여 LCD 패널을 검사하는 공정의 순서도이다.8 is a flowchart of a process of inspecting an LCD panel using the contact film of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1: 접촉 필름(contact film)1: contact film

2: 비전도성 필름(nonconductive film)2: nonconductive film

3: 신호 데이터 패드(signal data pad)3: signal data pad

4: LCD 패널(Liquid Crystal Display panel)4: LCD panel (Liquid Crystal Display panel)

5: 도전 입자(conductive particle)5: conductive particles

6: 프로브 핀 접촉부6: probe pin contacts

7: 프로브 핀(probe pin)7: probe pin

8: 프로브 블록(probe block)8: probe block

A, B, C, D, E: 신호 데이터 패드와 프로브 핀 접촉부의 치수A, B, C, D, E: Dimensions of signal data pad and probe pin contacts

F: 프로프 핀의 이동 방향F: direction of prop pin movement

상술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 접촉 필름은 비전도성 필름에 도전 입자들을 그 내부에 균일하게 도포하여 구성된다.In order to achieve the above object, the contact film of the present invention is configured by uniformly applying conductive particles therein to a nonconductive film.

본 발명의 특징에 의하면, 도전 입자의 분포도를 단일 프로브 핀이 접촉면 내에 다수개가 포함되도록 적절하게 조절하여야 한다. 이렇게 배치함으로써 신호 데이터 패드와 프로브 핀의 접촉 불량 가능성을 최소화할 수 있다.According to a feature of the present invention, the distribution of the conductive particles must be appropriately adjusted so that a plurality of single probe pins are included in the contact surface. This arrangement minimizes the possibility of poor contact between the signal data pad and the probe pin.

이하 본 발명의 구체적인 실시예의 구성과 작용을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, the configuration and operation of a specific embodiment of the present invention will be described in detail.

도 5는 본 발명의 접촉 필름의 사시도이다. 도 6은 접촉 필름을 사용하여 LCD 패널을 테스트하는 것을 설명하기 위한 사시도이고, 도 7a와 도 7b는 본 발명의 접촉 필름의 작동 원리를 설명하기 위해 도시한 측면도이다.5 is a perspective view of a contact film of the present invention. FIG. 6 is a perspective view for explaining testing an LCD panel using a contact film, and FIGS. 7A and 7B are side views illustrating the operating principle of the contact film of the present invention.

도 5에 도시한 바와 같이 본 발명의 접촉 필름(contact film)(1)은 그 내부에 다수의 도전 입자(conductive particle)(5)가 균일하게 분포되어 있는 비전도성 필름(nonconductive film)(2)으로 구성된다. 도 7a와 도 7b에 도시한 바와 같이 비전도성 필름(2)의 두께는 도전 입자(5)의 직경보다 두껍게 제조된다. 즉 도전 입자(5)는 비전도성 필름(2) 내부에 균일하게 분포되지만, 외관상으로는 도전입자(5)가 외부로 돌출되지 않게 된다. 바람직하게는 상기 도전 입자(5)는 구형이며, 전도성과 연성이 우수한 니켈로 제조된다. 그러나, 이러한 형상과 재질은 본 발명의 한 실시예를 의미하며, 본 발명의 도전 입자(5)로써 그 주요 기능을 충분히 수행할 수 있는 형상과 재질이라면 어떠한 것이라도 적용될 수 있는 것은 당연하다.As shown in FIG. 5, the contact film 1 of the present invention is a nonconductive film 2 in which a plurality of conductive particles 5 are uniformly distributed therein. It consists of. As shown in FIGS. 7A and 7B, the thickness of the non-conductive film 2 is made thicker than the diameter of the conductive particles 5. In other words, the conductive particles 5 are uniformly distributed in the non-conductive film 2, but the conductive particles 5 do not protrude outwardly in appearance. Preferably, the conductive particles 5 are spherical and are made of nickel having excellent conductivity and ductility. However, this shape and material means one embodiment of the present invention, it is natural that any shape and material that can sufficiently perform its main function as the conductive particles (5) of the present invention can be applied.

한편, 도면에는 표시되어 있지 않으나 상기 비전도성 필름(2)은 그 일면에 접착 물질(adhesive material)이 도포될 수 있는데, 이것은 LCD 패널의 테스트 공정을 진행할 때 본 발명의 접촉 필름(1)을 신호 데이터 패드(3)에 부착하기 위한 것이다. 이는 테스트 공정이 더 정밀하게 진행되도록 도와준다.On the other hand, although not shown in the drawing, the non-conductive film 2 may be coated with an adhesive material on one surface thereof, which signals the contact film 1 of the present invention when the LCD panel is tested. It is for attaching to the data pad 3. This helps to make the test process more precise.

도전 입자의 크기는 약 5㎛으로, 이는 신호 데이터 패드(3)의 폭인 38 ㎛의 약 1/8이고 프로브 핀(7)의 접촉부(6)의 폭인 25??30㎛의 약 1/6이다. 그리고, 바람직하게는 도전 입자(5)가 프로브 핀(7)의 접촉부(6) 안에 다수개 분포될 수 있을 정도로 충분히 많은 도전 입자가 비도전성 필름(2) 내에 분포되어야 한다.The size of the conductive particles is about 5 μm, which is about 1/8 of the width of the signal data pad 3, about 38 μm, and about 1/6 of the width 25 ?? 30 μm, which is the width of the contact portion 6 of the probe pin 7. . And, preferably, enough conductive particles should be distributed in the non-conductive film 2 so that a large number of conductive particles 5 can be distributed in the contact portion 6 of the probe pin 7.

상술한 것과 같이 구성된 접촉 필름(1)이 어떤 방식으로 신호 데이터 패드(3)와 프로브 핀(7)을 전기적으로 연결하는지 설명하면 다음과 같다. 도 7a와 같이 접촉 필름(1)은 LCD 패널(4)의 신호 데이터 패드(3)들을 가로질러 그 하면에도포된 접착 물질의 접착력에 의해 부착된다. 도 7a에 도시한 바와 같이 프로브 핀(7)은 F방향으로 하향 이동한다. 도 7a와 같이 프로브 핀(7)이 접촉 필름(1)을 가압하지 않는 상태에서는 도전 입자(5)가 비전도성 필름(2)의 내부에 고정된 위치를 유지하고 있다. 그러나, 도 7b와 같이 프로브 핀(7)이 접촉 필름(1)을 가압하면 도전 입자(5)가 눌려져서 다수의 도전 입자(5)를 매개로 하여 신호 데이터 패드(3)와 프로브 핀(7)이 전기적으로 연결된다. 전술하였듯이 이러한 연결은 단일 도전 입자(5)에 의해서 이루어지지 않으므로, 전기적 연결성의 신뢰도는 기존의 것보다 우수할 것이다.When the contact film 1 configured as described above is described how to electrically connect the signal data pad 3 and the probe pin 7 as follows. As shown in FIG. 7A, the contact film 1 is attached across the signal data pads 3 of the LCD panel 4 by the adhesive force of the adhesive material applied thereon. As shown in FIG. 7A, the probe pin 7 moves downward in the F direction. In the state where the probe pin 7 does not pressurize the contact film 1 as shown in FIG. 7A, the conductive particles 5 are held at a fixed position inside the non-conductive film 2. However, as shown in FIG. 7B, when the probe pin 7 presses the contact film 1, the conductive particles 5 are pressed to pass through the signal data pad 3 and the probe pins 7 through the plurality of conductive particles 5. ) Is electrically connected. As mentioned above, this connection is not made by a single conductive particle 5, so that the reliability of the electrical connection will be better than the conventional one.

도 8은 본 발명의 접촉 필름을 사용하여 LCD 패널을 검사하는 공정의 순서도이다.8 is a flowchart of a process of inspecting an LCD panel using the contact film of the present invention.

도 8을 참고하여 LCD 패널 검사 공정을 자세히 설명하면 다음과 같다. 첫째, 상술한 접촉 필름을 신호 데이터 패드에 부착한다.(S801) 부착하는 방법은 공정의 환경에 따라 적절한 방법을 선택하여야 하겠지만, 바람직하게는 접촉 필름의 일면에 접착 물질을 도포하는 방법이 사용될 수 있다. 그러나, 검사가 진행될 때 접착 물질을 견고하게 고정할 수 있는 방법이라면 어떠한 수단을 사용해도 관계 없다. 둘째, 테스트 보드(test board)에 연결된 프로브 블록(probe block)을 하강시킨다.(S802) 프로브 블록에는 다수의 프로브 핀이 장착되어 있으며, 프로브 핀이 접촉 필름을 가압하면, 그 내부의 도전 입자에 의해 프로브 핀과 신호 데이터 패드가 전기적으로 연결된다. 셋째, LCD 패널의 표시 상태를 테스트한다.(S803) 넷째, 프로브 핀을 상승시켜 전기적 접촉을 해제한 후, 신호 데이터 패드에 부착된접촉 필름을 제거한다.(S804) 마지막으로, 신호 데이터 패드에 남아있는 접착 물질 및 비도전성 필름을 제거하기 위한 세정을 실시한다.(S805)Referring to Figure 8 describes the LCD panel inspection process in detail as follows. First, the above-mentioned contact film is attached to the signal data pad. (S801) The method of attaching should be appropriately selected according to the environment of the process, but preferably, a method of applying an adhesive material to one surface of the contact film may be used. have. However, any means may be used as long as it can firmly fix the adhesive material as the inspection proceeds. Second, the probe block (probe block) connected to the test board (test board) is lowered (S802) The probe block is equipped with a plurality of probe pins, and when the probe pin presses the contact film, the conductive particles therein The probe pins and the signal data pads are electrically connected by this. Third, the display state of the LCD panel is tested. (S803) Fourth, the probe pin is raised to release the electrical contact, and then the contact film attached to the signal data pad is removed (S804). Cleaning is performed to remove the remaining adhesive material and the non-conductive film. (S805)

이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.Although the present invention has been described in detail only with respect to the described embodiments, it will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations are possible within the technical scope of the present invention, and such modifications and modifications are within the scope of the appended claims.

특히, 도전 입자의 크기나 형상 및 재질은 사용 환경 및 그 기능에 따라 조절될 수 있는 것이며, 본 발명의 실시예와 같이 한정되게 사용될 것은 아니다. 그리고, 적용 범위에 있어서도 LCD 모듈뿐만 아니라 IMT-2000, 휴대폰 단말기의 액정 화면, 네비게이션 시스템의 표시 장치 등과 같은 평판 패널 표시 장치(flat panel display: 줄여서 'FPD'이라고도 한다)의 제조 공정에 광범위하게 사용될 수 있는 것 또한 자명할 것이다.In particular, the size, shape and material of the conductive particles can be adjusted according to the use environment and its function, and is not limited to the embodiment of the present invention. In addition, it is widely used in the manufacturing process of flat panel displays (also referred to as 'FPD' for short) as well as LCD modules such as IMT-2000, LCD screen of mobile phone terminal, display device of navigation system, etc. It can also be obvious.

본 발명의 접촉 필름을 LCD 패널의 테스트 공정에 적용하면, LCD 패널의 고해상도에 따라 피할 수 없는 접촉 불량을 해소할 수 있으며, 이로 인한 화상 신호 전달 문제가 해결된다.Applying the contact film of the present invention to the test process of the LCD panel, it is possible to solve the unavoidable contact failure according to the high resolution of the LCD panel, thereby solving the image signal transmission problem.

Claims (6)

액정 표시 패널을 검사할 때 신호 데이터 패드와 프로브 블록을 전기적으로 연결하기 위한 접촉 필름에 있어서:In the contact film for electrically connecting the signal data pad and the probe block when inspecting the liquid crystal display panel: 비도전성 필름; 및Non-conductive film; And 상기 비도전성 필름의 내부에 균일하게 분포되는 다수의 도전 입자를 포함하되,It includes a plurality of conductive particles evenly distributed inside the non-conductive film, 상기 프로브 블록이 상기 신호 데이터 패드에 부착된 상기 접촉 필름을 가압할 때, 상기 다수의 도전 입자들이 상기 신호 데이터 패드와 상기 프로브 블록을 전기적으로 연결하는 것을 특징으로 하는 접촉 필름.And when the probe block presses the contact film attached to the signal data pad, the plurality of conductive particles electrically connect the signal data pad and the probe block. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 다수의 도전 입자들의 형상은 구형인 것을 특징으로 하는 접촉 필름.The shape of the plurality of conductive particles is a contact film, characterized in that the sphere. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 비도전성 필름의 일면은 접착 물질층이 도포되어 있어 상기 접촉 필름이 상기 액정 표시 패널의 신호 데이터 패드에 접착력에 의해 부착되는 것을 특징으로 하는 접촉 필름.One surface of the non-conductive film is coated with an adhesive material layer so that the contact film is attached to the signal data pad of the liquid crystal display panel by the adhesive force. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 다수의 도전 입자들은 그 직경이 5㎛이며, 상기 신호 데이터 패드에 각각 다수개의 도전 입자가 접촉될 수 있도록 분포되는 것을 특징으로 하는 접촉 필름.The plurality of conductive particles has a diameter of 5㎛, the contact film, characterized in that distributed to the plurality of conductive particles in contact with the signal data pad, respectively. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 다수의 도전 입자들은 니켈로 제조된 것을 특징으로 하는 접촉 필름.And the plurality of conductive particles are made of nickel. 다수의 도전 입자가 그 내부에 분포된 비도전성 필름으로 구성된 접촉 필름을 사용하여 액정 표시 패널을 검사하는 방법에 있어서:In a method for inspecting a liquid crystal display panel using a contact film composed of a nonconductive film having a plurality of conductive particles distributed therein: 상기 액정 표시 패널의 신호 데이터 패드에 상기 접촉 필름을 부착하는 단계;Attaching the contact film to a signal data pad of the liquid crystal display panel; 테스트용 보드에 연결된 다수의 프로브 핀들을 하강시켜 상기 접촉 필름 표면을 가압하여 상기 도전 입자를 통해 상기 신호 데이터 패드와 프로프 핀들을 전기적으로 연결시키는 단계;Lowering a plurality of probe pins connected to a test board to pressurize the contact film surface to electrically connect the signal data pad and the prop pins through the conductive particles; 상기 액정 표시 패널에 정보 표시 신호를 전송하여 표시 상태를 테스트하는 단계;Testing a display state by transmitting an information display signal to the liquid crystal display panel; 상기 접촉 필름를 제거하는 단계; 및Removing the contact film; And 상기 신호 데이터 패드를 세정하는 단계로 구성된 액정 표시 패널 검사 방법.And cleaning the signal data pads.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100456064B1 (en) * 2001-07-06 2004-11-08 한국과학기술원 Anisotropic conductive film for ultra-fine pitch COG application
KR100782454B1 (en) * 2005-12-20 2007-12-05 삼성에스디아이 주식회사 Flat Panel Display And Method For Inspection Of The Same
KR100958007B1 (en) * 2008-07-30 2010-05-17 삼성모바일디스플레이주식회사 Testing Apparatus for Testing Flat Display Panel
KR101144638B1 (en) * 2004-12-13 2012-05-08 엘지디스플레이 주식회사 Method for testing the organic electroluminescent device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100456064B1 (en) * 2001-07-06 2004-11-08 한국과학기술원 Anisotropic conductive film for ultra-fine pitch COG application
KR101144638B1 (en) * 2004-12-13 2012-05-08 엘지디스플레이 주식회사 Method for testing the organic electroluminescent device
KR100782454B1 (en) * 2005-12-20 2007-12-05 삼성에스디아이 주식회사 Flat Panel Display And Method For Inspection Of The Same
KR100958007B1 (en) * 2008-07-30 2010-05-17 삼성모바일디스플레이주식회사 Testing Apparatus for Testing Flat Display Panel

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