KR20020028699A - Apparatus for cleaning semiconductor products and method of controlling concentration of a cleaning solution contained in a cleaning tube of the apparatus - Google Patents

Apparatus for cleaning semiconductor products and method of controlling concentration of a cleaning solution contained in a cleaning tube of the apparatus Download PDF

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KR20020028699A
KR20020028699A KR1020000059825A KR20000059825A KR20020028699A KR 20020028699 A KR20020028699 A KR 20020028699A KR 1020000059825 A KR1020000059825 A KR 1020000059825A KR 20000059825 A KR20000059825 A KR 20000059825A KR 20020028699 A KR20020028699 A KR 20020028699A
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윤종용
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Abstract

PURPOSE: An apparatus for cleaning a semiconductor device is provided to improve productivity and yield of the semiconductor device, by uniformly maintaining the density of cleaning solution in a cleaning bath at all times. CONSTITUTION: The semiconductor device to clean and the cleaning solution are contained in the cleaning bath(10). A compound supply source supplies a compound to the cleaning bath. An electrical conductivity measuring unit(60) measures the electrical conductivity of the cleaning solution in the cleaning bath, and supplies an electrical conductivity data signal corresponding to the measured electrical conductivity. A controller(70) controls the quantity of the compound supplied from the compound supply source to the cleaning bath in response to the electrical conductivity data signal.

Description

반도체제품 세정장치 및 그 장치의 세정조 내 세정액의 농도를 제어하는 방법{APPARATUS FOR CLEANING SEMICONDUCTOR PRODUCTS AND METHOD OF CONTROLLING CONCENTRATION OF A CLEANING SOLUTION CONTAINED IN A CLEANING TUBE OF THE APPARATUS}FIELD OF THE CLEANING SOLUTION CONTAINED IN A CLEANING TUBE OF THE APPARATUS

본 발명은 일반적으로 반도체제품 세정장치에 관한 것으로, 더 구체적으로는자동화된 세정장치 및 그 제어방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention generally relates to semiconductor product cleaning apparatuses, and more particularly, to automated cleaning apparatuses and control methods thereof.

일반적으로, 액정 표시(Liquid Crystal Display: LCD) 패널 또는 반도체 웨이퍼 등과 같은 반도체제품의 제조과정에서 각 제품은 단위공정을 거친 후 불순물의 제거를 위해 세정된다.In general, in the process of manufacturing a semiconductor product such as a liquid crystal display (LCD) panel or a semiconductor wafer, each product is cleaned to remove impurities after a unit process.

특히, 현재 널리 사용되고 있는 액티브 매트릭스 박막 트랜지스터 LCD 패널을 제조함에 있어서 액정의 배향 등을 위한 고분자 유기 물질들 또는 무기 물질들이 사용되고 있는데, 이들 물질들에 의해 액정 표시 패널의 표면이 오염될 수 있기 때문에 그들 물질과 관련이 있는 각 단위 공정들(예컨대, 액정주입 후의 봉지 공정)의 완료 후에 해당 패널을 세정하는 것이 반드시 필요하다.Particularly, in manufacturing an active matrix thin film transistor LCD panel which is widely used at present, high molecular organic materials or inorganic materials are used for the alignment of liquid crystals, and since these surfaces may contaminate the surface of the liquid crystal display panel, It is necessary to clean the panel after completion of each unit process related to the material (eg encapsulation process after liquid crystal injection).

현재, LCD 패널의 제작 과정에서는 순수(Deionized Water)와 혼합되는 수계세정액(Aqueous Cleaning Solution)이 널리 사용되고 있다. 수계세정액은 우수한 세정력을 가지나, 그 특성상 수분(즉, 순수)의 비율을 항상 일정하게 유지하는 것이 요구된다.Currently, in the manufacturing process of the LCD panel, an aqueous cleaning solution mixed with deionized water is widely used. Aqueous cleaning liquids have excellent detergency but are required to maintain a constant ratio of water (ie, pure water) at all times.

수계세정액을 이용한 세정과정 동안 LCD 패널은 통상적으로 세정조 내에서 세정되는데, 계속적인 세정 과정에서 세정액 수분의 증발로 인해 세정액 수분 비율이 원하는 비율과 달라지게 된다. 수계세정액의 특성상 그 수분이 적정한 비율로 유지되지 않으면, 그것의 세정력은 현격히 저하된다. 이를 막기 위해, 종래에는 엔지니어가 수동으로 세정조 내 세정액의 농도를 측정하고 순수 및/또는 세정액을 세정조로 공급해 왔으나, 그것을 체계적으로 관리하는데는 많은 어려움이 따른다.During the cleaning process using an aqueous cleaning liquid, the LCD panel is typically cleaned in a cleaning bath. In the subsequent cleaning process, the cleaning liquid moisture ratio is different from the desired ratio due to the evaporation of the cleaning liquid moisture. If the water is not maintained at an appropriate ratio due to the characteristics of the aqueous washing solution, its cleaning power is significantly lowered. In order to prevent this, engineers have conventionally measured the concentration of the cleaning liquid in the cleaning tank and supplied pure water and / or the cleaning liquid to the cleaning tank, but it is difficult to systematically manage it.

한편, 세정 과정에서 세정조 내의 세정액의 농도가 원하는 농도와 다를 때세정조 내의 세정액을 완전히 폐기하고 세정조로 새롭게 적정 농도의 세정액을 공급할 수도 있는데, 이 경우에는 생산비가 상승한다.On the other hand, when the concentration of the washing liquid in the washing tank is different from the desired concentration in the washing process, the washing liquid in the washing tank may be completely discarded, and the washing liquid of an appropriate concentration may be newly supplied to the washing tank, in which case the production cost increases.

따라서, 본 발명의 목적은 세정조 내의 세정액의 농도를 일정하게 유지할 수 있는 자동화된 반도체제품 세정장치 및 그 제어방법을 제공하는 것이다.It is therefore an object of the present invention to provide an automated semiconductor product cleaning apparatus and its control method capable of maintaining a constant concentration of the cleaning liquid in the cleaning tank.

도 1은 본 발명에 따른 세정장치의 제 1 실시예를 보여주는 도면이고,1 is a view showing a first embodiment of the cleaning apparatus according to the present invention,

도 2는 본 발명에 따른 세정장치의 제 2 실시예를 보여주는 도면이다.2 is a view showing a second embodiment of the cleaning apparatus according to the present invention.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

10, 110: 세정조12, 112: 주 세정조10, 110: washing tank 12, 112: main washing tank

14, 114: 보조 세정조16, 116a, 116b: 유입관14, 114: auxiliary cleaning tank 16, 116a, 116b: inlet pipe

18a, 18b, 118a, 118b: 배출관20, 120: 순수 탱크18a, 18b, 118a, 118b: discharge pipe 20, 120: pure water tank

30, 130: 혼합 탱크40, 140, 180: 전동 밸브30, 130: mixing tank 40, 140, 180: electric valve

50, 150: 모터60, 160: 전기전도도 측정기50, 150: motor 60, 160: conductivity meter

70, 170: 제어기70, 170: controller

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 용액의 전기전도도가 용액에 포함되어 있는 물질의 종류 및 용액의 농도에 의존한다는 사실을 이용하여 창안된 것이다.In order to achieve the above object, the present invention has been invented using the fact that the electrical conductivity of the solution depends on the kind of substance contained in the solution and the concentration of the solution.

본 발명의 일 특징에 따르면, 액정 표시(LCD) 패널, 반도체 웨이퍼, 등과 같은 반도체제품을 세정하기 위한 세정장치는 세정조 내의 세정액의 전기전도도를 측정하고 측정된 전기전도도에 대응하는 전도도 데이터 신호를 제공하는 전기전도도 측정기와, 전도도 데이터 신호에 응답하여 세정조로 공급되는 혼합물(예컨대, 순수)의 양을 제어하는 제어기를 구비한다.According to one aspect of the present invention, a cleaning apparatus for cleaning a semiconductor product, such as a liquid crystal display (LCD) panel, a semiconductor wafer, or the like, measures an electrical conductivity of a cleaning liquid in a cleaning tank and provides a conductivity data signal corresponding to the measured electrical conductivity. And a controller for controlling the amount of the mixture (eg, pure water) supplied to the cleaning bath in response to the conductivity data signal.

제 1의 바람직한 실시예에 따른 반도체제품 세정장치는, 순수를 공급하기 위한 순수 탱크와, 세정될 반도체제품과 세정액을 담기 위한 세정조와, 순수 탱크로부터 전기적으로 제어 가능한 밸브(이하, '전동 밸브'라 함)를 통해 공급되는 순수와 세정조로부터 배출되는 세정액을 혼합하기 위한 혼합 탱크와, 혼합 탱크로부터 세정조로 공급되는 세정액의 전기전도도를 측정하고 측정된 전도도에 대응하는 전도도 데이터 신호를 제공하는 전기전도도 측정기 및, 전도도 데이터 신호에 응답하여 전동 밸브의 개폐를 제어하는 것에 의해 순수 탱크로부터 혼합 탱크로 공급되는 순수의 양을 제어하는 제어기로 구성된다.The semiconductor product cleaning apparatus according to the first preferred embodiment includes a pure water tank for supplying pure water, a washing tank for containing the semiconductor product to be cleaned and a cleaning liquid, and a valve electrically controllable from the pure water tank (hereinafter referred to as 'electric valve'). A mixing tank for mixing the pure water supplied through the cleaning liquid and the cleaning liquid discharged from the cleaning tank, and an electrical power measuring the electrical conductivity of the cleaning liquid supplied from the mixing tank to the cleaning tank and providing a conductivity data signal corresponding to the measured conductivity. And a conductivity meter and a controller for controlling the amount of pure water supplied from the pure water tank to the mixing tank by controlling the opening and closing of the electric valve in response to the conductivity data signal.

제 2의 바람직한 실시예에 따른 반도체제품 세정장치는, 순수를 공급하기 위한 순수 탱크와, 제 1 전동 밸브를 통해 순수 탱크와 연결되고 세정될 반도체제품과 세정액을 담기 위한 세정조와, 순수 탱크로부터 제 2 전동 밸브를 통해 공급되는 순수와 세정조로부터 배출되는 세정액을 혼합하기 위한 혼합 탱크와, 세정조로부터 혼합 탱크로 배출되는 세정액의 전기전도도를 측정하고 측정된 전기전도도에 대응하는 전도도 데이터 신호를 제공하는 전기전도도 측정기 및, 전도도 데이터 신호에 응답하여 제 1 및 제 2 전동 밸브의 개폐를 각각 제어하는 것에 의해 순수 탱크로부터 혼합 탱크 및 세정조로 각각 공급되는 순수의 양을 제어하는 제어기로 구성된다.The semiconductor product cleaning apparatus according to the second preferred embodiment includes a pure water tank for supplying pure water, a cleaning tank connected to the pure water tank through a first electric valve and containing a semiconductor product to be cleaned and a cleaning liquid, and a pure water tank. 2 A mixing tank for mixing the pure water supplied through the electric valve and the cleaning liquid discharged from the cleaning tank, and measuring the electrical conductivity of the cleaning liquid discharged from the cleaning tank to the mixing tank and providing a conductivity data signal corresponding to the measured electrical conductivity. And a controller for controlling the amount of pure water supplied from the pure water tank to the mixing tank and the washing tank, respectively, by controlling the opening and closing of the first and second electric valves in response to the conductivity data signal.

본 발명의 다른 특징에 따르면, 세정조 내의 세정액의 농도를 자동적으로 제어할 수 있는 방법이 제공된다. 이 방법에 의하면, LCD 패널, 반도체 웨이퍼 등과 같은 반도체제품을 세정하기 위한 세정장치의 세정조로 세정액이 공급되고, 세정조 내의 수계세정액의 전기전도도가 측정되며, 그리고 측정된 전기전도도에 따라서 세정조로 공급되는 혼합물의 양이 제어된다.According to another feature of the present invention, there is provided a method capable of automatically controlling the concentration of the cleaning liquid in the cleaning tank. According to this method, the cleaning liquid is supplied to the cleaning tank of the cleaning apparatus for cleaning semiconductor products such as LCD panels, semiconductor wafers, etc., the electrical conductivity of the water-based cleaning liquid in the cleaning tank is measured, and supplied to the cleaning tank according to the measured electrical conductivity. The amount of mixture to be controlled is controlled.

이상과 같은 본 발명에 따르면, 세정조 내의 세정액의 농도를 항상 일정하게 유지할 수 있기 때문에 제품의 생산성 및 수율을 향상시킬 수 있다.According to the present invention as described above, since the concentration of the cleaning liquid in the cleaning tank can be kept constant at all times, the productivity and yield of the product can be improved.

이하, 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail.

"용액의 전기전도도"란 용액이 전류를 운반할 수 있는 정도를 나타내는 것으로, 그 측정기는 용액에 담겨진 2개의 전극에 일정한 전압을 가해주면 그 용액을 통해 전류가 흐르고 이때 흐르는 전류의 양이 용액의 전기전도도에 의존한다는 사실을 이용한 것이다. 전기전도도는 전기저항성분의 역수로서 그 단위는 mho 또는 S(Siemens)이다."Electric conductivity of a solution" refers to the degree to which a solution can carry current.The meter applies a constant voltage to two electrodes in a solution, and current flows through the solution. It uses the fact that it depends on electrical conductivity. Electrical conductivity is the inverse of the electrical resistance component, the unit of which is mho or S (Siemens).

일반적으로, 전기전도도 측정기에 의해 측정되는 용액의 저항성분 R은 다음의 수학식 1로 표시될 수 있다.In general, the resistance component R of the solution measured by the conductivity meter can be represented by the following equation (1).

R = ρㆍι/AR = ρ · ι / A

여기서, ρ는 용액의 저항율이고 그 단위는 Ω이고, ι는 두 전극 간의 거리이며 그 단위는 cm, A는 단면적이며 그 단위는 ㎠이다.Where ρ is the resistivity of the solution and its unit is Ω, ι is the distance between the two electrodes, its unit is cm, A is its cross-sectional area and its unit is cm 2.

따라서, 용액의 전기전도도 L은 다음의 수학식 2로 표시될 수 있다.Therefore, the electrical conductivity L of the solution may be represented by the following equation (2).

L = 1/R = (AㆍK)/AL = 1 / R = (AK) / A

여기서, K는 용액의 도전율(Specific Conductance)로서 1/ρ과 같으며, 그 단위는 mho/cm이다.Here, K is the specific conductivity of the solution, which is equal to 1 / ρ, and the unit is mho / cm.

용액의 전기전도도는 용액에 포함되어 있는 물질의 종류, 용액의 농도, 그리고 용액의 온도에 따라서 변한다. 따라서, 일정한 온도 하에서 용액을 구성하는 물질의 종류 및 그 용액의 전기전도도를 알고 있다면 용액의 농도를 계산하는 것이 가능하다.The conductivity of a solution varies with the type of material in the solution, the concentration of the solution, and the temperature of the solution. Therefore, it is possible to calculate the concentration of the solution if the kind of material constituting the solution and the electrical conductivity of the solution are known under a constant temperature.

다음에는 첨부된 도면에 의거하여 본 발명의 실시예들에 대해 상세히 설명한다. 여기서는 편의상 반도체제품의 하나인 LCD 패널의 세정과정 통해 본 발명을 상세히 설명하지만, 본 발명의 원리는 반도체 웨이퍼의 세정에도 적용될 수 있다. 또, 여기서는 세정액으로서 수계세정액이 그리고 혼합물로서 초순수(Deionized Water)가 사용되는 경우를 설명하나, 다른 세정액들(예컨대, HF 용액, H2O2용액) 및 그 혼합물들이 사용되는 경우에도 본 발명의 원리가 적용될 수 있다.Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Herein, the present invention will be described in detail through the cleaning process of the LCD panel, which is one of the semiconductor products, for convenience. In addition, although the case where an aqueous washing liquid is used as the washing liquid and deionized water is used as the mixture is described here, even when other washing liquids (eg, HF solution, H 2 O 2 solution) and mixtures thereof are used, The principle can be applied.

<제 1 실시예><First Embodiment>

도 1은 본 발명에 따른 세정장치의 제 1 실시예를 보여주는 도면이다. 도 1을 참조하면, 세정장치는 세정될 LCD 패널과 그 패널의 세정을 위한 수계세정액이 담기는 세정조(10)와, 세정액과 혼합되는 혼합물인 순수를 저장하고 있는 순수 탱크(또는 혼합물 탱크)(20), 그리고 세정조(10)로부터 배출되는 세정액과 순수 탱크(20)로부터 공급되는 순수를 혼합하여 다시 세정조(10)로 공급하기 위한 혼합 탱크(30)를 구비한다.1 is a view showing a first embodiment of the cleaning apparatus according to the present invention. Referring to FIG. 1, the cleaning apparatus includes a cleaning tank 10 containing an LCD panel to be cleaned and an aqueous cleaning solution for cleaning the panel, and a pure water tank (or mixture tank) storing pure water, which is a mixture mixed with the cleaning liquid. (20) and a mixing tank (30) for mixing the washing liquid discharged from the washing tank (10) and the pure water supplied from the pure water tank (20) to supply to the washing tank (10) again.

순수 탱크(20)와 혼합 탱크(30)를 상호 연결하는 배관(22)에는 전동 밸브(40)가 설치되는데, 이 밸브(40)를 개폐하는 것에 의해 순수 탱크(20)로부터 혼합 탱크(30)로 순수가 공급되도록 하거나 공급되지 않도록 할 수 있다. 세정액과 순수가 적정한 비율로 유지되지 않을 때에만 밸브(40)가 열려서 순수 탱크(20)로부터 혼합 탱크(30)로 순수가 공급된다.An electric valve 40 is installed in the pipe 22 connecting the pure water tank 20 and the mixing tank 30 to each other. The opening and closing of the valve 40 opens and closes the mixing tank 30 from the pure water tank 20. Pure water can be supplied or not supplied. Only when the washing liquid and the pure water are not maintained at an appropriate ratio, the valve 40 is opened to supply pure water from the pure water tank 20 to the mixing tank 30.

세정조(10)는 중앙부위에 배치되고 유입관(16)을 갖는 주 세정조(12)와, 주 세정조(12)의 상부에 배치되고 2개의 배출관(18a 및 18b)을 갖는 보조 세정조(14)로 구성된다. 세정조(10 또는 12)의 유입관(16)은 펌프(50)를 통해 혼합 탱크(30)와 연결된다. 펌프(50)는, 제어기(70)의 제어 하에서, 일정한 압력으로 세정액이 세정조(10 또는 12)로 공급되도록 한다. 주 세정조(10)에서 넘친 세정액은 보조 세정조(14)에 저장된다. 보조 세정조(14)에 담긴 세정액은 배출관(18a 및 18b)을 통해 혼합 탱크(30)로 방출된다.The cleaning tank 10 is disposed at the center portion and has a main cleaning tank 12 having an inlet pipe 16, and an auxiliary cleaning tank having two discharge pipes 18a and 18b disposed above the main cleaning tank 12. It consists of 14. The inlet pipe 16 of the cleaning tank 10 or 12 is connected to the mixing tank 30 through the pump 50. The pump 50 allows the washing liquid to be supplied to the washing tank 10 or 12 at a constant pressure under the control of the controller 70. The washing liquid overflowed from the main washing tank 10 is stored in the auxiliary washing tank 14. The cleaning liquid contained in the auxiliary cleaning tank 14 is discharged to the mixing tank 30 through the discharge pipes 18a and 18b.

세정조(10 또는 12)의 유입관(16)에는 전기전도도 측정기(Conductivity Meter)(60)가 설치된다. 전기전도도 측정기(60)는 혼합 탱크(30)로부터 펌프(50)를 통해 세정조(10 또는 12)로 공급되는 세정액의 전기전도도를 측정하고 측정된 전도도에 대응하는 전도도 데이터 신호(COND)를 제어기(70)로 제공한다. 전기전도도 측정기(60)는 아날로그 장치일 수도 있고 디지털 장치일 수도 있는데, 아날로그 측정기가 사용되는 경우에는 아날로그 전도도 데이터가 제어기(70)의 내부에 집적된 아날로그-디지털 변환기(ADC) 또는 별도에 ADC에 의해 디지털 데이터로 변환된다. 제어기(70)의 코어 부분(즉, 디지털 회로 부분)은 ADC로부터 제공되는 디지털 데이터를 이용하여 세정액의 농도를 검출한다.An inductance tube 16 of the cleaning tank 10 or 12 is provided with a conductivity meter 60. The conductivity meter 60 measures the conductivity of the cleaning liquid supplied from the mixing tank 30 to the cleaning tank 10 or 12 through the pump 50 and controls the conductivity data signal COND corresponding to the measured conductivity. Provided by 70. The conductivity meter 60 may be an analog device or a digital device. When an analog meter is used, the analog conductivity data may be integrated into an analog-to-digital converter (ADC) integrated in the controller 70 or a separate ADC. Is converted into digital data. The core portion (ie, digital circuit portion) of the controller 70 detects the concentration of the cleaning liquid using digital data provided from the ADC.

LCD 패널(또는 반도체제품) 제조 라인에서 전기전도도를 이용해서 세정 용액의 농도를 측정하기 위해서는 반드시 온도 변화를 고려해야 한다. 일반적으로 전기전도도는 약 2%/℃씩 차이를 보이는 것으로 알려져 있다. 이 때문에, 세정액을 구성하는 물질의 종류와 온도 변화에 따른 세정액의 전기전도도의 변화 데이터가 제어기(70)로서 사용되는 마이크로컴퓨터(Microcomputer)의 내부 메모리(도시되지 않음)에 미리 기억된다. 물론, 이와는 달리, 그와 같은 데이터가 세정장치의 가동 초기에 외부로부터 제어기(70)로 제공되도록 할 수도 있다.Temperature measurement must be taken into account to measure the concentration of cleaning solutions using electrical conductivity in LCD panel (or semiconductor product) manufacturing lines. In general, the electrical conductivity is known to show a difference of about 2% / ℃. For this reason, the change data of the electrical conductivity of the cleaning liquid according to the kind of material constituting the cleaning liquid and the temperature change are stored in advance in an internal memory (not shown) of the microcomputer used as the controller 70. Of course, alternatively, such data may be provided from the outside to the controller 70 at the beginning of the operation of the cleaning apparatus.

제어기(70)는 외부로부터 주변온도 데이터를 받아들여서 주변온도를 인식하고, 그 온도에 적합한 전기전도도 데이터에 근거하여 전기전도도 측정기(60)의 전도도 데이터(COND)를 보정하고, 보정된 데이터에 의거하여 용액의 전기전도도를 결정한다. 이후, 제어기(70)는 세정액의 전기전도도를 이용하여 세정액의 농도를 계산하고, 그 농도에 대응하는 밸브 제어신호(V_CON)을 발생한다.The controller 70 receives ambient temperature data from the outside to recognize the ambient temperature, corrects the conductivity data COND of the conductivity meter 60 based on the conductivity data suitable for the temperature, and based on the corrected data. To determine the electrical conductivity of the solution. Thereafter, the controller 70 calculates the concentration of the cleaning liquid using the electrical conductivity of the cleaning liquid, and generates a valve control signal V_CON corresponding to the concentration of the cleaning liquid.

전동 밸브(40)는 제어신호(V_CON)의 논리 값('0' 또는 '1')에 따라서 완전히 닫히거나 완전히 열리는 디지털 방식으로 제어되거나, 제어신호(V_CON)의 전압 레벨에 비례해서 그 개구가 조절되는 아날로그 방식으로 제어될 수도 있다.The electric valve 40 is digitally controlled in a fully closed or fully open manner according to the logic value '0' or '1' of the control signal V_CON, or its opening is proportional to the voltage level of the control signal V_CON. It may be controlled in an analog manner that is adjusted.

제어기(70)는 전도도 데이터 신호(COND)에 응답하여 전동 밸브(40)의 개폐를 제어하는 것에 의해 순수 탱크(20)로부터 혼합 탱크(30)로 공급되는 순수의 양을 제어한다. 이때, 과도한 양의 순수가 혼합 탱크(30)로 공급되는 것을 막기 위해, 밸브(40)의 열리는 정도, 열리는 시간 등을 제한할 수도 있다.The controller 70 controls the amount of pure water supplied from the pure water tank 20 to the mixing tank 30 by controlling the opening and closing of the electric valve 40 in response to the conductivity data signal COND. In this case, in order to prevent excessive amounts of pure water from being supplied to the mixing tank 30, the opening degree of the valve 40, the opening time, and the like may be limited.

이상과 같은 자동화된 세정액 농도 제어는 세정조 내의 세정액의 농도를 항상 일정하게 유지할 수 있도록 함으로써 제품의 생산성 및 수율을 향상시키는 효과를 가져온다.The automated cleaning solution concentration control as described above can maintain the concentration of the cleaning solution in the cleaning tank at all times, thereby bringing an effect of improving the productivity and yield of the product.

<제 2 실시예>Second Embodiment

도 2는 본 발명에 따른 세정장치의 제 2 실시예를 보여주는 도면이다. 도 2을 참조하면, 이 실시예의 세정장치는 세정조(110)와, 순수 탱크(또는 혼합물 탱크)(120), 혼합 탱크(130), 펌프(150), 전기전도도 측정기(160), 그리고제어기(170)를 구비한다.2 is a view showing a second embodiment of the cleaning apparatus according to the present invention. Referring to FIG. 2, the cleaning apparatus of this embodiment includes a cleaning tank 110, a pure water tank (or a mixture tank) 120, a mixing tank 130, a pump 150, an electrical conductivity measuring instrument 160, and a controller. 170 is provided.

순수 탱크(120)와 혼합 탱크(130)를 상호 연결하는 배관(122)에는 전동 밸브(140)가 설치되고, 이 밸브(140)를 개폐하는 것에 의해 순수 탱크(120)로부터 혼합 탱크(130)로 순수가 공급되도록 하거나 공급되지 않도록 할 수 있다.An electric valve 140 is installed in the pipe 122 connecting the pure water tank 120 and the mixing tank 130 to each other, and the mixing tank 130 is separated from the pure water tank 120 by opening and closing the valve 140. Pure water can be supplied or not supplied.

세정조(110)는 중앙부위에 배치되고 2개의 유입관(116a 및 116b)을 갖는 주 세정조(112)와, 주 세정조(112)의 상부에 배치되고 2개의 배출관(118a 및 118b)을 갖는 보조 세정조(114)로 구성된다.The cleaning tank 110 is disposed at the center portion and has a main cleaning tank 112 having two inflow pipes 116a and 116b, and a top of the main cleaning tank 112 and two discharge pipes 118a and 118b. It consists of the auxiliary washing tank 114 which has.

세정조(110 또는 112)의 한 유입관(116a)은 펌프(150)를 통해 혼합 탱크(130)와 연결되고, 다른 한 유입관(116b)은 전동 밸브(180)을 통하여 순수 탱크(120)과 연결된다. 펌프(150)는, 제어기(170)의 제어 하에서, 일정한 압력으로 세정액이 세정조(110 또는 112)로 공급되도록 한다.One inlet pipe 116a of the cleaning tank 110 or 112 is connected to the mixing tank 130 through the pump 150, and the other inlet pipe 116b is connected to the pure water tank 120 through the electric valve 180. Connected with The pump 150 allows the cleaning liquid to be supplied to the cleaning tank 110 or 112 at a constant pressure under the control of the controller 170.

주 세정조(110)에서 넘친 세정액은 보조 세정조(114)에 저장된다. 보조 세정조(114)에 담긴 세정액은 배출관(118a 및 118b)을 통해 혼합 탱크(130)로 방출된다.The washing liquid overflowed from the main washing tank 110 is stored in the auxiliary washing tank 114. The cleaning liquid contained in the auxiliary cleaning tank 114 is discharged to the mixing tank 130 through the discharge pipes 118a and 118b.

세정조(110 또는 114)의 배출관(118a)에는 전기전도도 측정기(160)가 설치된다. 전기전도도 측정기(160)는 세정조(110)로부터 배출되는 세정액의 전기전도도를 측정하고 측정된 전도도에 대응하는 전도도 데이터 신호(COND)를 제어기(170)로 제공한다. 전기전도도 측정기(160)는 아날로그 장치일 수도 있고 디지털 장치일 수도 있는데, 아날로그 측정기가 사용되는 경우에는 아날로그 전도도 데이터가 제어기(170)의 내부에 집적된 ADC 또는 별도에 ADC에 의해 디지털 데이터로 변환된다. 제어기(170)의 코어 부분(즉, 디지털 회로 부분)은 ADC로부터 제공되는 디지털 데이터를 이용하여 세정액의 농도를 검출한다.An electrical conductivity meter 160 is installed in the discharge pipe 118a of the cleaning tank 110 or 114. The conductivity meter 160 measures the conductivity of the cleaning liquid discharged from the cleaning tank 110 and provides a conductivity data signal COND corresponding to the measured conductivity to the controller 170. The conductivity meter 160 may be an analog device or a digital device. When an analog meter is used, the analog conductivity data is converted into digital data by an ADC integrated in the controller 170 or a separate ADC. . The core portion (ie, digital circuit portion) of the controller 170 detects the concentration of the cleaning liquid using the digital data provided from the ADC.

세정액을 구성하는 물질의 종류와 온도 변화에 따른 세정액의 전기전도도의 변화 데이터는 제어기(170)로서 사용되는 마이크로컴퓨터의 내부 메모리(도시되지 않음)에 미리 기억된다. 물론, 그와 같은 데이터는, 앞의 실시에에서와 마찬가지로, 세정장치의 가동 초기에 외부로부터 제어기(170)로 제공되도록 할 수도 있다.The change data of the electrical conductivity of the cleaning liquid according to the kind of material constituting the cleaning liquid and the temperature change are stored in advance in the internal memory (not shown) of the microcomputer used as the controller 170. Of course, such data may be provided to the controller 170 from the outside at the initial stage of operation of the cleaning apparatus, as in the previous embodiment.

제어기(170)는 외부로부터 주변온도 데이터를 받아들여서 주변온도를 인식하고, 그 온도에 적합한 전기전도도 데이터에 근거하여 전기전도도 측정기(160)의 전도도 데이터(COND)를 보정하고, 보정된 데이터에 의거하여 용액의 전기전도도를 결정한다. 이후, 제어기(170)는 세정액의 전기전도도를 이용하여 세정액의 농도를 계산하고, 그 농도에 대응하는 밸브 제어신호들(V_CON1 및/또는 V_CON2)을 발생한다.The controller 170 receives ambient temperature data from the outside to recognize the ambient temperature, corrects the conductivity data COND of the conductivity meter 160 based on the conductivity data suitable for the temperature, and based on the corrected data. To determine the electrical conductivity of the solution. Thereafter, the controller 170 calculates the concentration of the cleaning liquid using the electrical conductivity of the cleaning liquid, and generates valve control signals V_CON1 and / or V_CON2 corresponding to the concentration.

전동 밸브(140 및/또는 180)는 제어신호(V_CON1 및/또는 V_CON2)의 논리 값('0' 또는 '1')에 따라서 완전히 닫히거나 완전히 열리는 디지털 방식으로 제어되거나, 제어신호(V_CON1 및/또는 V_CON2)의 전압 레벨에 비례해서 그 개구가 조절되는 아날로그 방식으로 제어될 수도 있다.The electric valves 140 and / or 180 are digitally controlled to be fully closed or fully open according to the logic values '0' or '1' of the control signals V_CON1 and / or V_CON2, or the control signals V_CON1 and / or Alternatively, the opening may be controlled in an analog manner in which the opening is adjusted in proportion to the voltage level of V_CON2).

제어기(170)는 전기전도도 측정기(160)으로부터 제공되는 전도도 데이터 신호(COND)에 응답하여 전동 밸브(140 및/또는 180)의 개폐를 제어하는 것에 의해 혼합 탱크(130) 및/또는 세정조(110)로 공급되는 순수의 양을 제어한다. 이때, 과도한 양의 순수가 혼합 탱크(130) 및/또는 세정조(110)로 공급되는 것을 막기 위해, 밸브(140 및/또는 180)의 열리는 정도, 열리는 시간 등을 제한할 수도 있다.The controller 170 controls the opening and closing of the electric valve 140 and / or 180 in response to the conductivity data signal COND provided from the conductivity meter 160 and / or the cleaning tank 130. 110) to control the amount of pure water supplied. In this case, in order to prevent the excessive amount of pure water from being supplied to the mixing tank 130 and / or the cleaning tank 110, the opening degree of the valve 140 and / or 180 may be limited.

이상과 같은 본 발명에 따르면, 세정조 내의 세정액의 농도를 항상 일정하게 유지할 수 있기 때문에 제품의 생산성 및 수율을 향상시킬 수 있다.According to the present invention as described above, since the concentration of the cleaning liquid in the cleaning tank can be kept constant at all times, the productivity and yield of the product can be improved.

Claims (10)

세정될 반도체제품과 세정액을 담기 위한 세정조와;A cleaning tank for containing a semiconductor product to be cleaned and a cleaning liquid; 상기 세정조로 혼합물을 공급하기 위한 혼합물 공급원과;A mixture source for supplying the mixture to the cleaning bath; 상기 세정조 내의 상기 세정액의 전기전도도를 측정하고 측정된 전기전도도에 대응하는 전도도 데이터 신호를 제공하는 전기전도도 측정기 및;An conductivity meter for measuring the conductivity of the cleaning liquid in the cleaning bath and providing a conductivity data signal corresponding to the measured conductivity; 상기 전도도 데이터 신호에 응답하여 상기 혼합물 공급원으로부터 상기 세정조로 공급되는 상기 혼합물의 양을 제어하는 제어기를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체제품 세정장치.And a controller for controlling the amount of the mixture supplied from the mixture source to the cleaning bath in response to the conductivity data signal. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 세정액은 수계세정액이고,The washing liquid is an aqueous washing liquid, 상기 혼합물은 순수인 것을 특징으로 하는 반도체제품 세정장치.And the mixture is pure water. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 반도체제품은 액정 표시 패널 또는 반도체 웨이퍼인 것을 특징으로 하는 반도체제품 세정장치.And the semiconductor product is a liquid crystal display panel or a semiconductor wafer. 순수를 공급하기 위한 순수 탱크와;A pure water tank for supplying pure water; 세정될 반도체제품과 수계세정액을 담기 위한 세정조와;A cleaning tank for containing a semiconductor product to be cleaned and an aqueous cleaning solution; 전동 밸브와;An electric valve; 상기 순수 탱크로부터 상기 전동 밸브를 통해 공급되는 상기 순수와 상기 세정조로부터 배출되는 상기 수계세정액을 혼합하기 위한 혼합 탱크와;A mixing tank for mixing the pure water supplied from the pure water tank through the electric valve and the aqueous washing liquid discharged from the washing tank; 상기 혼합 탱크로부터 상기 세정조로 공급되는 상기 수계세정액의 전기 전도도를 측정하고 측정된 전도도에 대응하는 전도도 데이터 신호를 제공하는 전기전도도 측정기 및;An electrical conductivity meter for measuring the electrical conductivity of the water cleaning liquid supplied from the mixing tank to the cleaning tank and providing a conductivity data signal corresponding to the measured conductivity; 상기 전도도 데이터 신호에 응답하여 상기 전동 밸브의 개폐를 제어하는 것에 의해 상기 순수 탱크로부터 상기 혼합 탱크로 공급되는 상기 순수의 양을 제어하는 제어기를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체제품 세정장치.And a controller for controlling the amount of pure water supplied from the pure water tank to the mixing tank by controlling the opening and closing of the electric valve in response to the conductivity data signal. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 반도체제품은 액정 표시 패널인 것을 특징으로 하는 반도체제품 반도체제품.The semiconductor product semiconductor product, characterized in that the semiconductor product is a liquid crystal display panel. 순수를 공급하기 위한 순수 탱크와;A pure water tank for supplying pure water; 제 1 전동 밸브를 통해 상기 순수 탱크와 연결되고, 세정될 반도체제품과 수계세정액을 담기 위한 세정조와;A cleaning tank connected to the pure water tank through a first electric valve and containing a semiconductor product to be cleaned and an aqueous cleaning liquid; 상기 순수 탱크로부터 제 2 전동 밸브를 통해 공급되는 상기 순수와 상기 세정조로부터 배출되는 상기 수계세정액을 혼합하기 위한 혼합 탱크와;A mixing tank for mixing the pure water supplied from the pure water tank through the second electric valve and the aqueous washing liquid discharged from the washing tank; 상기 세정조로부터 상기 혼합 탱크로 배출되는 상기 수계세정액의 전기전도도를 측정하고 측정된 전기전도도에 대응하는 전도도 데이터 신호를 제공하는 전기전도도 측정기 및;An electrical conductivity meter for measuring the electrical conductivity of the water cleaning liquid discharged from the cleaning tank to the mixing tank and providing a conductivity data signal corresponding to the measured electrical conductivity; 상기 전도도 데이터 신호에 응답하여 상기 제 1 및 제 2 전동 밸브의 개폐를 각각 제어하는 것에 의해 상기 순수 탱크로부터 상기 혼합 탱크 및 상기 세정조로 각각 공급되는 상기 순수의 양을 제어하는 제어기를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체제품 세정장치.And controlling a quantity of the pure water supplied from the pure water tank to the mixing tank and the cleaning tank, respectively by controlling opening and closing of the first and second electric valves in response to the conductivity data signal. Semiconductor product cleaning apparatus. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 반도체제품은 액정 표시 패널인 것을 특징으로 하는 반도체제품 세정장치.And said semiconductor product is a liquid crystal display panel. 반도체제품 세정장치의 세정조로 세정액을 공급하는 단계와;Supplying a cleaning liquid to a cleaning tank of a semiconductor product cleaning apparatus; 상기 세정조 내의 상기 세정액의 전기전도도를 측정하는 단계 및;Measuring the electrical conductivity of the cleaning liquid in the cleaning tank; 상기 측정된 전기전도도에 따라서 상기 세정조로 공급되는 혼합물의 양을 제어하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 세정액 농도 제어 방법.And controlling the amount of the mixture supplied to the cleaning tank in accordance with the measured electrical conductivity. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 세정액은 수계세정액이고,The washing liquid is an aqueous washing liquid, 상기 혼합물은 순수인 것을 특징으로 하는 세정액 농도 제어 방법.And the mixture is pure water. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 반도체제품은 액정 표시 패널 또는 반도체 웨이퍼인 것을 특징으로 하는 세정액 농도 제어 방법.And the semiconductor product is a liquid crystal display panel or a semiconductor wafer.
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