KR20020008515A - 오프셋 전압을 갖는 비교기 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (11)
- 공통전압을 갖는 제 1 입력전압과 제 2 입력전압을 비교하여 로우 레벨 또는 하이 레벨의 출력신호를 발생시키는 비교기의 입력단 회로에 있어서,공통전압 검출신호가 입력되고;상기 공통전압 검출신호가 로우 레벨일 때 상기 공통전압에 제 1 오프셋 전압을 부가하며;상기 공통전압 검출신호가 하이 레벨일 때 상기 공통전압에 제 2 오프셋 전압을 부가하고;상기 제 1 입력전압과 상기 제 2 입력전압의 전압 차를 증폭하여 상기 비교기로 출력하는 비교기의 입력단 회로.
- 청구항 1에 있어서, 상기 입력단 회로는,제 1 바이어스 전압 발생기에서 출력되는 제 1 바이어스 전압과 상기 공통전압 검출신호가 입력되고, 상기 공통전압 검출신호가 로우 레벨일 때 활성화되어 상기 공통전압에 제 1 오프셋 전압을 부가하는 제 1 구동 회로와;제 2 바이어스 전압 발생기에서 출력되는 제 2 바이어스 전압과 상기 공통전압 검출신호가 입력되고, 상기 공통전압 검출신호가 하이 레벨일 때 활성화되어 상기 공통전압에 제 2 오프셋 전압을 부가하는 제 2 구동 회로와;상기 제 1 구동 회로가 활성화될 때 상기 제 1 구동 회로의 전류원으로 동작하고상기 제 2 구동 회로가 활성화될 때 상기 제 2 구동 회로의 능동 부하로 동작하여 상기 제 1 입력전압과 상기 제 2 입력전압의 전압 차를 증폭하여 상기 비교기로 출력하는 차동 증폭기를 포함하는 비교기의 입력단 회로.
- 청구항 2에 있어서, 상기 공통전압이 전원전압의 1/2보다 높을 때 상기 공통전압 검출신호가 하이 레벨이 되고, 상기 전원전압의 1/2보다 낮을 때 로우 레벨이 되는 비교기의 입력단 회로.
- 청구항 2에 있어서, 상기 제 1 구동 회로는,상기 제 1 바이어스 전압에 의해 제어되는 제 1 피모스 트랜지스터와 상기 공통전압 검출신호에 의해 제어되는 제 2 피모스 트랜지스터가 상기 전원전압에 직렬 연결되는 제 1 직렬 회로와;상기 제 1 입력전압에 의해 제어되는 제 3 피모스 트랜지스터가 제 1 오프셋 저항을 통하여 상기 제 1 직렬 회로에 연결되고 상기 제 2 입력전압에 의해 제어되는 제 4 피모스 트랜지스터가 상기 제 1 오프셋 저항 및 상기 제 3 피모스 트랜지스터에 병렬 연결되는 제 1 병렬 회로를 포함하는 것이 특징인 비교기의 입력단 회로.
- 청구항 4에 있어서, 상기 제 1 구동 회로에 입력된 상기 제 1 입력전압의 공통전압 레벨이 상기 제 1 오프셋 저항 양단의 전압 차만큼 하강하여 출력되는 비교기의 입력단 회로.
- 청구항 2에 있어서, 상기 제 2 구동 회로는,상기 제 1 바이어스 전압에 의해 제어되는 제 1 엔모스 트랜지스터와 상기 공통전압 검출신호에 의해 제어되는 제 2 엔모스 트랜지스터가 직렬 연결되는 제 2 직렬 회로와;상기 제 2 입력전압에 의해 제어되는 제 3 엔모스 트랜지스터가 제 2 오프셋 저항을 통하여 상기 제 2 직렬 회로에 연결되고 상기 제 1 입력전압에 의해 제어되는 제 4 엔모스 트랜지스터가 상기 제 2 오프셋 저항 및 상기 제 3 엔모스 트랜지스터와 병렬 연결되어 이루어지는 제 2 병렬 회로를 포함하는 비교기의 입력단 회로.
- 청구항 6에 있어서, 상기 제 2 구동 회로에 입력된 상기 제 2 입력전압의 공통전압 레벨이 상기 제 2 오프셋 저항 양단의 전압 차만큼 상승하여 출력되는 비교기의 입력단 회로.
- 청구항 2에 있어서, 상기 차동 증폭기는,상기 제 1 병렬 회로에 연결되어 상기 제 1 구동회로의 전류원으로 동작하는 제 5 엔모스 트랜지스터와;상기 제 2 병렬 회로에 연결되어 상기 제 2 구동회로의 능동 부하로 동작하는 다이오드 연결 구조의 제 5 피모스 트랜지스터를 포함하여 이루어지는 비교기의 입력단 회로.
- 청구항 2에 있어서, 상기 바이어스 전압 발생기는,능동 부하로 동작하는 제 5 및 제 6 피모스 트랜지스터와;비반전 입력단에 상기 기준 전압이 입력되고, 반전 입력단은 저항을 통하여 접지에 연결되는 연산 증폭기와;상기 연산 증폭기의 출력신호에 의해 제어되어 상기 제 1 바이어스 전압을 발생시키는 제 5 엔모스 트랜지스터와;다이오드 연결된 정전압원으로 동작하여 상기 제 2 바이어스 전압을 발생시키는 제 6 엔모스 트랜지스터를 포함하여 이루어지는 비교기.
- 청구항 2에 있어서, 상기 공통전압 검출기는,양단에 상기 제 1 입력전압과 상기 제 2 입력전압을 입력받아 상기 제 1 입력전압과 상기 제 2 입력전압의 직류 공통전압을 검출하는 직렬 저항과;상기 공통전압을 논리 신호인 공통전압 검출신호로 바꾸어 출력하는 인버터를 포함하여 이루어지는 비교기.
- 청구항 10에 있어서, 상기 공통전압 검출신호는 상기 공통전압의 레벨이 상기 인버터의 논리 임계전압보다 높을 때 하이 레벨이 되고, 상기 논리 임계전압보다 낮을 때 로우 레벨이 되도록 이루어지는 비교기.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0041749A KR100372633B1 (ko) | 2000-07-20 | 2000-07-20 | 오프셋 전압을 갖는 비교기 |
US09/783,963 US6445218B1 (en) | 2000-07-20 | 2001-02-16 | Comparator with offset voltage |
US10/201,788 US6801059B2 (en) | 2000-07-20 | 2002-07-25 | Comparator with offset voltage |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2000-0041749A KR100372633B1 (ko) | 2000-07-20 | 2000-07-20 | 오프셋 전압을 갖는 비교기 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20020008515A true KR20020008515A (ko) | 2002-01-31 |
KR100372633B1 KR100372633B1 (ko) | 2003-02-17 |
Family
ID=19679067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2000-0041749A KR100372633B1 (ko) | 2000-07-20 | 2000-07-20 | 오프셋 전압을 갖는 비교기 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6445218B1 (ko) |
KR (1) | KR100372633B1 (ko) |
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US20020180492A1 (en) | 2002-12-05 |
US6801059B2 (en) | 2004-10-05 |
US6445218B1 (en) | 2002-09-03 |
KR100372633B1 (ko) | 2003-02-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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