KR200159110Y1 - 쇼 필터 위치 결정 지그 - Google Patents

쇼 필터 위치 결정 지그 Download PDF

Info

Publication number
KR200159110Y1
KR200159110Y1 KR2019960068139U KR19960068139U KR200159110Y1 KR 200159110 Y1 KR200159110 Y1 KR 200159110Y1 KR 2019960068139 U KR2019960068139 U KR 2019960068139U KR 19960068139 U KR19960068139 U KR 19960068139U KR 200159110 Y1 KR200159110 Y1 KR 200159110Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
show filter
ribs
positioning jig
semiconductor chip
show
Prior art date
Application number
KR2019960068139U
Other languages
English (en)
Other versions
KR19980054940U (ko
Inventor
김근배
Original Assignee
권호택
대우전자부품주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 권호택, 대우전자부품주식회사 filed Critical 권호택
Priority to KR2019960068139U priority Critical patent/KR200159110Y1/ko
Publication of KR19980054940U publication Critical patent/KR19980054940U/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR200159110Y1 publication Critical patent/KR200159110Y1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

본 고안의 쇼 필터 위치 결정 지그(10)는 쇼 필터(20)의 베이스(21) 하부에 결합된 리드(22)와 베이스(21) 윗면에 부착되는 반도체 칩(23) 단자의 방향성 오류를 방지하여 쇼 필터(20) 생산 공정에서 불량율 발생을 줄일 수 있도록 한 것으로, 본 고안의 쇼 필터 위치 결정 지그(10)는 플랜지(11) 상부면에 양측으로 대칭된 리브(12)와 상기 대칭형의 리브(12) 일면과 수직으로 돌출된 리브(12)를 형성하여, 쇼 필터(20)의 리드(22)의 일열은 상기 쇼 필터 위치 결정 지그(10)의 양측 대칭형의 리브(12) 배면에 끼워지고, 쇼 필터(20)의 또 다른 일열의 리드(22)는 상기 쇼 필터 위치 결정지그(10)의 반도체 칩(23) 부착 공정에서 표 필터 위치 결정 지그(10)에 고정된 쇼 필터(20)는 항상 동일한 방향으로 고정되게 함으로써, 쇼 필터(20) 베이스(21) 상부면에 반도체 칩(23)을 부착할 때, 작업자가 반도체 칩(23)의 부착 방향 오류를 일으키는 것을 억제하여 쇼 필터(20)의 불량율을 줄일 수 있도록 한 것이다.

Description

쇼 필터 위치 결정 지그
쇼 필터의 구조는 도 1a, b에 나타낸 바와 같이, 쇼 필터(20)는 상부면에는 반도체 칩(23)이 부착되고, 하부는 베이스(21)와 베이스(21)면 하부에 결합된 리드(22)로 구성된다.
상기 쇼 필터(20)의 리드(22)는 두열로 배열되며, 각열의 리드(22) 수는 다르며, 상기 각각의 리드(22)는 상기 베이스(21) 윗면에 결합되는 반도체 칩(23)의 단자와 각각 대응되며, 방향성과 극성을 가진다.
종래에 있어서, 상기 쇼 필터(20) 베이스(21) 윗면에 반도체 칩(23)을 부착하기 위하여 사용되던 쇼 필터 고정 지그는 쇼 필터(20)의 리드(22)와 반도체 칩(23)의 방향성을 구분할 수 있는 장치 또는 구조가 없으며, 상기 쇼 필터(20)의 베이스(21) 윗면에 반도체 칩(23)을 부착하는 작업 공정에서, 작업자의 육안 식별에 의하여 반도체 칩(23)과 베이스(21) 저면에 결합된 리드(22)의 방향성을 구분하여 상기 쇼 필터(20) 베이스(21)의 윗면에 반도체 칩(23)을 부착하였다.
이러한 종래의 구성에서는 반도체 칩(23)의 부착 공정에서 리드(22)와 반도체 칩(23)의 방향성을 작업자의 육안 식별에 의하여 구분하여 쇼 필터(20) 베이스(21) 상부에 반도체 칩(23)을 부착함으로써, 작업자의 실수나 오류 등으로 인하여 쇼 필터(20)의 베이스(21) 저면에 결합된 리드(22)와 베이스(21) 상부면에 부착되는 된 반도체 칩(23)의 부착 방향 오류로 쇼 필터(20) 불량 발생률이 높은 문제점이 있었다.
따라서 본 고안은 상기한 문제점을 해소하기 위하여 안출한 것으로, 그 목적은 쇼 필터의 리드와 반도체 칩의 부착 방향 불량에 의한 쇼 필터의 불량율을 줄일 수 있는 쇼 필터 위치 결정 지그를 제공하는데 있다.
제1a도는 쇼 필터의 구조를 나타낸 사시도.
제1b도는 쇼 필터의 리드 위치를 나타낸 저면도.
제2도는 본 고안의 쇼 필터 위치 결정 지그 구조를 나타낸 사시도.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 쇼 필터 위치 결정 지그 11 : 플랜지
12 : 리브 13 : 진공홀
14 : 결합부 20 : 쇼 필터
21 : 베이스 22 : 리드
23 : 반도체 칩
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 고안은 플랜지의 상부에 양측으로 대칭된 리브와 상기 양측으로 대칭된 리브의 중앙부에 일면으로 직각으로 돌출되게 리브를 형성하며, 상기 양측 대칭형의 리브와 양측 대칭형의 리브 중앙에 돌출된 리브의 면과 면이 만나는 부분을 라운딩 처리하며, 상기 양측 대칭형의 리브와 양측 대칭형의 리브에 돌출된 리브의 중앙에 관통된 진공홀을 형성한 것을 특징으로 하는 쇼 필터 위치 결정 지그.
위와 같이 구성된 본 고안의 실시예를 첨부된 도면을 참조하면서 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2에 나타낸 바와 같이, 쇼 필터 위치 결정 지그(10)는 플랜지(11) 상부로 돌출된 리브(12)를 형성한다. 상기 리브(12)는 양측으로 대칭된 리브(12)와 상기 양측으로 대칭된 리브(12)의 중앙부에 일면으로 직각으로 돌출된 리브(12)를 형성하며, 상기 양측 대칭형의 리브(12)와 양측 대칭형의 리브(12) 중앙에 돌출된 리브(12)의 면과 면이 만나는 부분은 라운딩 처리된다. 상기 쇼 필터 위치 결정 지그(10)의 리브(12) 중앙에는 관통된 진공홀(13)을 형성한다. 상기 쇼 필터 위치 결정지그(10)의 플랜지(11) 하부는 결합부(14)를 형성한다.
상기 쇼 필터 위치 결정지그(10)는 하부에 진공 장치를 구비하고, 상기 진공장치의 상부에 프레임이 결합한 베이스 장치의 상기 프레임 상단부에 결합된다.
이러한 본 고안의 작용 및 효과를 설명하면 다음과 같다.
본 고안의 쇼 필터 위치 결정 지그(10)는 쇼 필터(20)의 베이스(21) 하부에 결합된 리드(22)와 베이스(21) 윗면에 부착되는 반도체 칩(23) 단자의 방향성 오류를 방지하여 쇼 필터(20) 생산 공정에서 불량율 발생을 줄일 수 있도록 한 것으로, 상기 본 고안의 쇼 필터 위치 결정 지그(10)는 플랜지(11) 상부면에 양측으로 대칭된 리브(12)와 상기 대칭형의 리브(12) 일면과 수직으로 돌출된 리브(12)를 형성하여, 쇼 필터(20)의 리드(22)의 일열은 상기 쇼 필터 위치 결정 지그(10)의 양측 대칭형의 리브(12) 배면에 끼워지고, 쇼 필터(10)의 또 다른 일열의 리브(12)는 상기 쇼 필터 위치 결정 지그(10)의 양측 대칭형의 리브(12)에 직각으로 돌출된 리브(12)의 양면에 안착되게 하여 쇼 필터(20)의 반도체 칩(23) 부착 공정에서 쇼 필터 위치 결정 지그(10)에 고정된 쇼 필터(20)는 항상 동일한 방향으로 고정되게 함으로써, 쇼 필터(20)의 베이스(21) 상부면에 반도체 칩(23)을 부착할 때, 작업자가 반도체 칩(23)의 부착 방향 오류를 일으키는 것을 억제할 수 있도록 하였다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 고안은 쇼 필터의 제작공정에서 쇼 필터의 반도체 칩과 리드의 방향성에 따른 반도체 칩의 부착 방향 오류에 의한 쇼 필터의 불량율을 줄일 수 있도록 한 것으로, 쇼 필터 위치 결정 지그의 플랜지 상단부에 양측 대칭형의 리브와 측 대칭형의 리브와 작각으로 돌출된 리브에 의해 쇼 필터의 리드가 항상 같은 방향으로 고정되게 하여 쇼 필터의 반도체 칩 부착 공정에서 반도체 칩의 부착 방향 오류에 의한 쇼 필터의 불량율 발생을 줄일 수 있도록 한 것이다.
본 고안은 쇼 필터 위치 결정 지그에 관한 것으로, 특히 쇼 필터의 삽입 고정 방향을 정확하게 하여 쇼 필터의 칩 결합 불량을 줄일 수 있도록 한 쇼 필터 위치 결정 지그에 관한 것이다.

Claims (1)

  1. 쇼 필터의 위치 결정 지그에 있어서, 플랜지(11)의 상부에 양측으로 대칭된 리브(12)와 상기 양측으로 대칭된 리브의 중앙부에 일면으로 직각으로 돌출되게 리브를 형성하며, 상기 양측 대칭형의 리브와 양측 대칭형의 리브 중앙에 돌출된 리브의 면과 면이 만나는 부분을 라운딩 처리하며, 상기 양측 대칭형의 리브와 양측 대칭형의 리브에 돌출된 리브의 중앙에 관통된 진공홀(13)을 형성한 것을 특징으로 하는 쇼 필터 위치 결정 지그.
KR2019960068139U 1996-12-31 1996-12-31 쇼 필터 위치 결정 지그 KR200159110Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019960068139U KR200159110Y1 (ko) 1996-12-31 1996-12-31 쇼 필터 위치 결정 지그

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019960068139U KR200159110Y1 (ko) 1996-12-31 1996-12-31 쇼 필터 위치 결정 지그

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19980054940U KR19980054940U (ko) 1998-10-07
KR200159110Y1 true KR200159110Y1 (ko) 1999-10-15

Family

ID=19489355

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2019960068139U KR200159110Y1 (ko) 1996-12-31 1996-12-31 쇼 필터 위치 결정 지그

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR200159110Y1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR19980054940U (ko) 1998-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4565314A (en) Registration and assembly of integrated circuit packages
KR20010053507A (ko) Ic 소켓
US3999827A (en) Electrical connector for semiconductor device package
KR200159110Y1 (ko) 쇼 필터 위치 결정 지그
US6648204B2 (en) Alignment weight for floating pin field design
US8727792B2 (en) Semiconductior device socket including contact block
JPS63128654A (ja) 半導体装置実装体
JPS59175145A (ja) リ−ドフレ−ム
CN218694738U (zh) 一种防松动吸附平台及排针连接器
US20200393511A1 (en) Wedged contact fingers for integrated circuit testing apparatus
KR19980082948A (ko) 패키지 고정용 지그
KR200198272Y1 (ko) 캐리어 가이드
JPS625289A (ja) Ledホルダ
JPS6023983Y2 (ja) 半導体装置用パッケ−ジ
JP2578704Y2 (ja) Icソケット
JP3809019B2 (ja) 面実装型半導体装置およびその製造方法
KR0125869Y1 (ko) 메모리 모듈용 반도체 집적회로 패키지 구조
KR930007173Y1 (ko) 리드프레임 구멍 삽입랙
JPH039355Y2 (ko)
KR200276089Y1 (ko) 마이크로 볼 그리드 어레이 반도체 패키지용 마이크로 필름의구조
KR0125871Y1 (ko) 록크핀을 이용한 멀티칩 모듈의 패키지 실장 구조
JPS59117139A (ja) 半導体装置
JP2818700B2 (ja) 半導体装置
KR200141131Y1 (ko) 반도체 제조 공정용 리드 프레임
TW202044441A (zh) 用於半導體裝置之測試治具

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
REGI Registration of establishment
LAPS Lapse due to unpaid annual fee