KR200142320Y1 - 프로브 제작 지그 - Google Patents

Abstract

HIC 기판 측정 용구인 프로브를 제작함에 있어서 높이가 각각 다르게 셋팅되어 있는 다수개의 높이 조절용 블록으로 저항값 측정이 간편하고 정확하도록 이루어질 수 있는 프로브 제작 지그를 제공하는 것이다.

본 고안에 의한 프로브 제작 지그는 하부베이스의 중앙부에 형성된 사각형의 하우징과, 상기 하우징의 상부에는 수평을 유지하도록 올려진 정반과, 상기 정반의 상부에 안착된 HIC기판, 상기 하부베이스 전면 상부 양쪽에 2개의 포스트와 후면 상부 중앙부에 형성된 1개의 포스트와, 상기 포스트에 지지되는 상부판과, 상기 상부판의 전면부에 개구된 개구부와, 상기 상부판의 저면에는 고정대가 하방으로 형성되어 고정 지지하는 받침대와, 상기 받침대의 상부에는 프로브 핀이 납땜되어진 프로브 헤드가 고정판에 의하여 유동이 방지되며 안착되는 프로브 제작 지그에 있어서, 정반의 상부에 안착되어 HIC기판의 높낮이를 조절할 수 있도록 높이가 각각 다르게 셋팅되어 적절한 높이에 따라 사용 가능한 높이 조정용 블록과, 상기 높이 조정용 블록을 정반에 고정시키기 위한 고정홀과, 상기 높이 조정을 블록의 상부에 얹혀지는 HIC기판의 압착을 위하여 중앙부에 형성된 진공홀로 구성되어 있다.

Description

프로브 제작 지그

본 고안은 프로브 제작 지그에 관한 것으로서, 특히 HIC 기판 측정 용구인 프로브를 제작함에 있머서 높이가 각각 다르게 셋팅되어 있는 다수개의 높이 조절용 블록으로 저항값 측정이 간편하고 정확하도록 이루어질 수 있는 프로브 제작 지포에 관한 것이다.

프로브는 오실로스코프나 전자 전압계 등의 입력 단자에 접속하여 피측정점에 접촉시키는 데 사용하는 것으로써, 고 임피던스로 하여 측정 파형에 영향을 주지 않도록 하고 있다. 검파부 등 측정기의 주요 부분이 수납되어 있으며, 본체와 떨어져서 사용한다.

상기의 프로브는 HIC기판 측정 용구로 HIC기판에 대한 저항값의 측정을 위하여 프로브 헤드에 납땜되어진 프로브 핀과 HIC기판의 소정 특정점의 접지로 하여 저항값을 측정한다. 제3도에 도시되어 있는 바와 같이, 하부베이스(10)의 중앙부에는 사각형의 하우징(20)이 형성되어 있다. 상기 하우징(20)의 상부에는 수평을 유지하는 정반(30)이 올려지고 상기 정반(30)의 상부에는 HIC기판(40)이 안착된다.

한편, 하부베이스(10) 전면 상부 양쪽에 2개의 포스트(50)와 후면 상부 중앙부에 1개의 포스트(50)가 형성되어 상부판(60)을 지지한다. 상기 상부판(60)의 전면부에는 개구부(62)를 가지고 있다.

상기 상부판(60)의 저면에는 고정대(70)가 하방으로 형성되어 받침대(80)를 고정 지지한다. 살기 받침대(80)의 상부에는 프로브 핀(90)이 납땜되어진 프로브 혜드(100)가 고정판(110)에 의하여 유동이 방지되며 안착된다. 상기 프로브 혜드(100)에 납땜된 프로브 핀(90)은 상기 프로브 혜드(100)의 천공부를 중심으로 방사형으로 이루어져서 HIC기판(40)에 일정한 높이로 접지 되어 저항값을 측정하게 된다.

상기한 바와 같은 프로브 제작 지그는 하부베이스에 고정되어 있는 하우징에 정반을 안착시키고, 상기 정반 상부에 HIC기판을 올려놓는다.

그러나, 상기와 같은 방법은 일정한 높이에 올려진 HIC기판에 프로브 핀을 같은 수평면상에 접지를 하여야 하는데 프로브 헤드에 프로브 핀을 납땜시 정확히 이루어지지 않아 서로 다른 높낮이를 가질 수 있다. 이러한 관계로 정착한 측정이 이루어지지 않는 단점이 있다.

본 고안은 HIC 기판 측정 용구인 프로브를 제작함에 있어서 높이가 각각 다르게 셋팅되어 있는 다수개의 높이 조절용 블록으로 저항값 측정이 간편하고 정확하도록 이루어질 수 있는 프로브 제작 지그를 제공하는데 그 목적이 있다.

이와 같은 목적을 갖는 본 고안은 하부베이스의 중앙부에 형성된 사각형의 하우징과, 상기 하우징의 상부에는 수평을 유지하도록 올려진 정반과, 상기 정반의 상부에 안착된 HIC기판, 상기 하부베이스 전면 상부 양쪽에 2개의 포스트와 후면 상부 중앙부에 형성된 1개의 포스트와, 상기 포스트에 지지되는 상부판과, 상기 상부판의 전면부에 개구된 개구부와, 상기 상부판의 저면에는 고정대가 하방으로 형성되어 고정 지지하는 받침대와, 상기 받침대의 상부에는 프로브 핀이 납땜되어진 프로브 헤드가 고정판에 의하여 유동이 방지되며 안착 되는 프로브 제작 지그에 있어서, 정반의 상부에 안착되어 HIC기판의 높낮이를 조절할 수 있도록 높이가 각각 다르게 셋팅되어 적절한 높이에 따라 사용 가능한 높이 조정용 블록과, 상기 높이 조정용 블록을 정반에 고정시키기 위한 고정홀과, 상기 높이 조정용 블록의 상부에 얹혀지는 HIC기판의 압착을 위하여 중앙부에 형성된 진공홀로 구성되어짐을 특징으로 한다.

이와 같은 본 고안에 의한 프로브 제작 지그는 HIC기판에 대한 저항값의 측정을 위하여 프로브 헤드에 납땜되어진 프로브 핀과 HIC기판의 소정 특정점의 접지를 높이 차이 없이 정확히 저항값 측정이 이루어질 수 있도록 미리 셋팅되어 있는 다수개의 높이 조정 블록으로 하여 적절한 높이에 맞춰 사용할 수 있다.

제1도는 본 고안에 관련된 프로브 제작 지그의 정면도.

제2도는 본 고안에 관련된 프로브 제작 지그의 높이 조정용 블록의 평면도.

제3도는 종래의 프로브 제작 지그의 정면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 하부베이스 20 : 하우징

30 : 정반 40 : HIC기판

50 : 포스트 60 : 상부판

62 : 개구부 70 : 고정대

80 : 받침대 90 : 프로브 핀

100 : 프로브 헤드 110 : 고정판

120 : 높이 조정용 블록 122 : 고정홀

124 : 진공홀

이하 본 고안의 바람직한 실시 예를 첨부 도면에 따라 상세히 설명한다.

제1도는 본 고안에 관련된 프로브 제작 지그의 정 단면도로서, 지그의 받침 역할을 하는 하부베이스(10)가 받침 다리를 가지며 형성되어 있다. 상기 하부베이스(10)의 중앙부에는 사각형의 하우징(20)이 형성되어 있다.

상기 하우징 (20)의 상부에는 정반(30)이 안착되어 수평을 유지하며 측정부품을 올려놓을 수 있다. 상기 정반(30)의 상부에는 미리 각각의 높이가 셋팅되어 있는 다수개의 높이 조정 블록(120) 중 적절한 하나가 안착된다.

제2도에 도시되어 있는 바와 같이 상기 높이 조정용 블록(120)에는 정반(30)에 고정시키기 위한 고정홀(122)이 모서리 부근에 형성되어 있다. 또한, 상부에 얹혀지는 HIC기판(40)의 압착을 위한 진공홀(124)이 중앙부를 중심으로 다수개 형성되어 있다.

한편, 하부베이스(10)에는 전면 상부 양쪽에 2개의 포스트(50)와 후면 상부중앙부에 1개의 포스트(50)가 형성되어 상부판(60)을 지지할 수 있도록 한다.

상기 포스트(50)에 의하여 지지되는 상부판(60)은 사각판의 각 꼭지점이 라운딩 처리되었으며, 중앙부에 개구부(62)를 갖는다.

상기 상부판(60)의 저면에는 고정태(70)가 하방으로 형성되어 받침태(80)를 고정 지지한다. 상기 받침대(80)의 상부에는 프로브 핀(90)이 납땜되어진 프로브 헤드 (100)가 고정판(110)에 의하여 유동이 방지되며 안착된다. 상기 프로브 헤드(100)에 납땜된 프로브 핀(90)은 상기 프로브 혜드(100)의 천공부를 중심으로 방사형으로 이루어져서 HIC기판(40)에 일정한 높이로 접지 되어 저항값을 측정하게 된다.

상기와 같은 본 고안은 정반(30)위에 수평으로 올려진 HIC기판(40)에 대한 측정을 위하여 프로브 헤드(100)에 납땜된 프로브 핀(90)이 각각의 종류에 따라 높낮이가 다른점에 유의하여 HIC기판(40)에 프로브 핀(90)이 정확한 높이에서 측정이 이루어질 수 있도록 이미 셋팅되어 있는 적절한 높이의 높이 조정 블록(120)을 선택한다. 상기 높이 조정용 블록(120)은 정반(30)의 상부면에 핀으로 고정홀(122)에 삽입하여 고정한다. 상기 정반(30)에 고정된 높이 조정용 블록(120)에는 HIC기판(40)을 진공홀(124)에 의하여 진공 압착 시킬 수 있다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 고안에 의한 프로브 제작 지그는 HIC기판에 대한 저항값의 측정을 위하여 프로브 헤드에 납땜되어진 프로브 핀과 HIC기판의 소정 특정점의 접지를 높이 차이 없이 정확히 저항값 측정이 이루어질 수 있도록 미리 셋팅되어 있는 다수개의 높이 조정 블록으로 하여 적절한 높이에 맞춰 손쉽게 사용할 수 있는 효과가 있다.

본 고안은 이상과 같이 기재된 구체 예에 대하여만 상세히 설명되었지만 본고안의 기술 사상과 범위 내에서 변경이나 변형할 수 있음은 본 고안이 속하는 분야의 당업자에게는 명백한 것이며 이러한 변경이나 변형은 첨부된 실용신안청구 범위에 의하여 제한되어져야 한다.

Claims (1)

1. 하부베이스의 중앙부에 형성된 사각형의 하우징과, 상기 하우징의 상부에는 수평을 유지하도록 올려진 정반과, 상기 정반의 상부에 안착된 HIC기판, 상기 하부베이스 전면 상부 양쪽에 2개의 포스트와 후면 상부 중앙부에 형성된 1개의 포스트와, 상기 포스트에 지지되는 상부판과, 상기 상부판의 전면부에 개구된 개구부와, 상기 상부판의 저면에는 고정대가 하방으로 형성되어 고정 지지하는 받침대와, 상기 받침대의 상부에는 프로브 핀이 납땜되어진 프로브 헤드가 고정판에 의하여 유동이 방지되며 안착되는 프로브 제작 지그에 있어서, 정반의 상부에 안착 되어 HIC기판의 높낮이를 조절할 수 있도록 높이가 각각 다르게 셋팅되어 적절한 높이에 따라 사용 가능한 높이 조정용 블록과, 상기 높이 조정용 블록을 정반에 고정시키기 위한 고정홈과, 상기 높이 조정용 블록의 상부에 얹혀지는 HIC기판의 압착을 위하여 중앙부에 형성된 진공홀 구성되어짐을 특징으로 프로브 제작 지그.