KR20010080611A - 필터링 장치 및 방법 - Google Patents

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KR20010080611A
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요트.게.아. 롤페즈
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Abstract

본 발명은 이전에 인코드되고 디코드된 화상들의 시퀀스를 나타내는 픽셀들(P[i,j])이 될 수 있는, 데이터를 처리하는 방법에 관한 것이다. 상기 방법은 이러한 픽셀들이 필터링될지에 대해, 이전 단계에서 에지로서 검출되지 않은 픽셀로 선택이 이루어지는 연속한 단계(TEST) 다음의, 적어도 연속으로 화상내의 에지 픽셀들을 검출하는 첫 번째 단계(ED)를 포함한다. 그 후에, 상기 방법은 필터링될 적어도 하나의 픽셀을 상기 픽셀의 가까운 인접 영역에 속한 픽셀로 대체하여 이루어진 필터링 단계(SAF)를 포함하고, 상기 가까운 인접 영역은 상기 픽셀 및 상기 픽셀에 인접한 픽셀들을 포함한다.

Description

필터링 장치 및 방법{Device and method for filtering}
화상들의 시퀀스를 코딩하는 것은 다른 단계들을 포함한다. 각각의 화상은 화상 요소 또는 픽셀의 2차원 어레이로 구성되고, 그것들 중 각각은 휘도 및 색차 성분들을 가진다. 인코딩 목적을 위해, 화상은 픽셀들의 비중첩(non-overlapping) 블록들로 세분된다. DCT(discrete cosine transform)는 화상의 블록 각각에 적용된다. 이러한 DCT로부터 획득된 계수들은 고정된 양자화 규칙에 의해 주어진 가장 가까운 값으로 반올림되고, 그것들이 나타내는 블록내에 공간 주파수에 따라, 양자화된다. 이와 같이 획득된 양자화된 데이터는 코드화된다. 디코딩 단계동안, 코딩된 데이터는 연속적으로 디코드되어 역 양자화 및 역 DCT 변환에 의해 처리되고, 디스플레이되기 전에 최종적으로 필터링된다.
양자화는 데이터 송신에서, 데이터 압축 단계들 중 하나이고, 손실을 수반하는 처리이다. 코딩에서 DCT 계수들의 양자화에 의해 발생된 양자화 에러들은 주된 결과로서 링잉 아티펙트(ringing arifact)가 발생한다. 이러한 링잉 잡음은 인코딩 동안, 양자화를 통해 고주파 계수들의 절단(truncation)에 의해 야기된 깁 현상(Gibb's phenomenon)이다. 그러므로, 링잉 아티펙트들은 저활성 영역에 위치한 고주파수 영역 가까이에 발생하고 화상내의 "의사 에지(false edges)"로 나타날 수 있다.
이러한 링잉 아티펙트들을 제거가능한 방법은 Park et al. in IEEE Transactions on CSVT, vol.9, no.1, February 1999, pp 161-171에 의해 제안된다. 개시된 방법은 주어진 화상에 대해, 저역 통과 필터링 다음에 에지 검출의 제 1 단계를 포함하는 것이다. 에지 검출 단계는 인코딩 단계로부터 얻은 양자화된 계수(QP)를 사용한다. 또한, 제안된 필터링 단계는 휘도값들의 규정된 설정의 가중 수단들의 유도에 의해 휘도 성분들의 저역 통과 필터링을 수반한다. 이와 같이, 종래 기술에 의해 제안된 방법은 인코딩된 파라미터의 사용을 수반하며, 에지 검출 단계에서 항상 사용가능하지 않을 수 있고, 반면에, 저역 통과 필터링은 휘도의 최종값들이 발견될 수 있는 화상 영역들내에 블러링 효과(blurring effect)을 발생시킬 수 있다.
본 발명은 이전에 인코드되고 디코드된, 화상의 시퀀스(sequence)를 나타내는 데이터를 처리하는 방법에 관한 것이다.
본 발명은 또한, 그러한 방법을 실행하는 필터링 장치에 관한 것이다. 본 발명은 특히, 이전에 압축 및 압축해제된 낮은 비트 전송율을 갖는 비디오 신호의 후처리(post-processing)에 관한 것이다.
도 1는 본 발명에 따른 방법의 다양한 단계들을 나타내는 블록도.
도 2는 픽셀 영역을 나타내는 도면.
도 3는 본 발명에 따른 에지 검출 단계를 나타내는 블록도.
도 4는 에지 검출에 사용되는 행렬을 나타내는 도면.
도 5는 픽셀들의 5개의 인접한 블록들을 도시하는 도면.
도 6는 본 발명에 따라 픽셀들이 필터링되어야 하는지의 여부를 결정하는 단계를 나타내는 블럭도.
본 발명의 목적은 양질의 화상이 되고, 이전의 화상 압축에 기인한 아티펙트들로부터 극도로 벗어나 있는 화상 데이터를 처리하는 효과적인 방법을 제공하는 것이다.
이러한 목적을 위해, 서론에 기술된 바와 같은 방법은:
화상내의 에지 픽셀들을 검출하는 단계,
이전 단계에서 에지들로 검출되지 않은 픽셀들 중에서 필터링되도록 픽셀들을 결정하는 단계,
적어도 하나의 픽셀이 필터링되도록 픽셀들의 가까운 인접 영역에 속한 픽셀로 대체하는 단계로서, 상기 가까운 인접 영역은 상기 픽셀 및 상기 픽셀에 인접한 픽셀들을 포함하는 대체 단계를 적어도 연속하여 포함한다.
본 발명에 따른 방법에 있어서, 에지 검출의 제 1 단계는 링잉이 발생하기 쉬운 화상내의 영역들을 예측하는 것이다. 실제로, 링잉 효과는 화상내의 에지를 따라 위치한 영역에 주로 나타난다. 에지에 따른 이러한 영역들은 화상 에지들을 교란하지 않고 필터링될 수 있다. 이러한 영역들에 속한 픽셀들은 인접한 픽셀로 대체되어 수정될 수 있다. 종래 기술의 저역 통과 필터로 동작할 때, 필터가 성가신 블러링 효과를 발생하지 않기 때문에, 필터링될 픽셀의 제안된 수정의 장점은 고품질의 화상이다. 종래 기술에 개시된 방법과 대조적으로, 상기 제안된 방법이 화상 데이터에 적용된 이전의 처리로부터 임의의 정보를 요구하지 않는다는 것이 본 발명의 또다른 장점이다. 또한, 본 발명에 따른 방법의 제 1 단계에서 에지 픽셀로 검출되지 않은 픽셀은 반드시 필터링되는 것은 아니다. 제 2 단계는 표준 셋에 따라 픽셀들이 필터링될 수 있는지를 결정하도록 실행된다.
본 발명의 실시에에서, 적어도 필터링될 픽셀은 에지로 검출되지 않은 홀수 픽셀들을 갖는 셋의 중간 픽셀로 대체되고, 그 셋은 적어도 한번 상기 픽셀 및 상기 픽셀에 인접한 픽셀들을 포함한다.
본 발명의 이러한 실시예에서, 셋은 픽셀이 필터링되도록 형성되어 홀수 픽셀들이 상기 픽셀의 가까운 인접 영역에 속한다. 중간 필터는 에지로서 검출되지 않는 픽셀값을 픽셀에 연관된 이러한 셋의 중간 픽셀값으로 대체하게 한다. 이와 같이, 이러한 중간 필터링 단계 때문에, 픽셀의 영역내의 임의의 최종값이 제거된다. 종래의 문서에서는, 픽셀 영역에서 최종 픽셀들은 필터링이 고려되어 필터링된 픽셀에 블러링 영향이 미칠 수 있다.
본 발명의 또다른 실시예에서, 상기 방법은 화상 픽셀들의 휘도 성분에 적용된다. 인간의 눈은 휘도 성분에 매우 민감하므로, 휘도 성분들의 필터링은 고도로 처리된 화질이 주어진다.
본 발명은 또한, 본 발명에 따른 방법을 실행하는 필터링 장치에 관한 것이다.
본 발명에 따라 데이터를 처리하는 방법은 도 1에 도시된다. 본 실시에에서, 그 방법이 연속적인 픽셀들 P[i,j]에 적용된다. 본 발명의 본 실시에에서, 그 제공된 픽셀들 P[i,j]은 이전의 처리에서 압축 및 압축해제된 공간 영역내의 프레임에 속한다. 에지 검출은 각각의 수신된 픽셀 P[i,j]에 대한 단계 ED동안 실행되어 수신된 픽셀 P[i,j]이 에지인지의 여부를 결정하게 된다. 에지 검출의 이러한 단계는 아래의 단락에서 자세히 설명될 것이다. 에지 검출 단계동안, 에지로서 검출된 픽셀 P[i,j]은 연관된 값 EDG[i,j]을 1로 주어진다. 에지 검출 단계동안 에지로서 검출되지 않은 픽셀 P[i,j]은 연관된 값 EDG[i,j]을 1로 주어진다. 픽셀 P[i,j]이 EDG[i,j] = 0을 의미하는, 에지로 검출되지 않으면, 픽셀 P[i,j]은 SAF(spatially adaptive filter)에 필터링될 수 없다. 실제로, 부가적인 조건이 만족될 때, 에지로 검출되지 않은 픽셀 P[i,j]이 필터링된다. 이러한 부가적인 조건은 아래의 단락에서 규정될 것이다. 에지로 검출되지 않은 픽셀 P[i,j]을 필터링하는 결정은 도 6을 참조하여 아래에 기술된 단계 TEST에 주어진다. 픽셀 P[i,j]이 에지로서 검출되면, 그것은 필터링되지 않고 수정되지 않는다. 실제로, 화상 콘투어들(picture contours)이 보존될 수 있도록 에지가 아닌 에지들에 따른 픽셀들만이 필터링된다.
도 2는 처리될 화상에 속한 픽셀 P[i,j]을 도시한다. 이러한 픽셀 P[i,j]은 픽셀 P[i,j]의 가까운 인접 영역에 위치한 8개의 인접한 픽셀들{P[i-1,j-1], P[i-1,j], P[i-1,j+1], P[i,j+1], P[i+1,j+1], P[i+1,j], P[i+1,j-1], P[i,j-1]}에 의해 둘러쌓인다. 픽셀들 P[i,j-1], P[i-1,j], P[i,j+1], P[i+1,j]은 P[i,j]의 왼쪽 픽셀, 상부 픽셀, 오른쪽 픽셀, 및 하부 픽셀, 각각으로 이후에 참조될 것이다.
본 발명에 따라 에지 검출 단계 ED를 실행을 실행할 수 있는 방법은 도 3에 도시된다. 본 발명의 상기 실시예에서, 각각의 화상은 4x4 픽셀들의 비중첩 블록들로 분할될 수 있고, 각각의 블록은 검출된 에지들의 수 N(bck)를 가진다. 본 발명에 따라 에지 검출 ED의 이러한 제안된 단계는 각각의 픽셀 P[i,j]의 휘도 성분 Y[i,j]에 기초한다. 이것은 본 발명에 제한되지 않고, 임의의 픽셀 성분은 에지 검출 단계에 수반된 계산에서 소위 픽셀값으로 사용될 수 있다. 각각의 제공된 픽셀 P[i,j]에 대해, 그래디언트(gradient) G[i,j]의 수평 성분 GH[i,j] 및 수직 성분 Gv[i,j]이 구해진다. 그래디언트를 유도할 수 있는 방법은 도 4에 주어진 소벨 행렬(Sobel matricex)(SH 및 Sv)을 사용하는 것이다. 도 4에 도시된 바와 같이, 8개의 인접한 픽셀들{P[i-1,j-1],...p[i,j-1]}의 휘도 성분들 {Y[i-1,j-1],..., Y[i,j-1]} 및 픽셀 P[i,j]의 휘도 성분 Y[i,j]으로 이루어진 행렬을 고려해보자. 그래디언트 G[i,j]의 수평 및 수직 성분들 GH[i,j], Gv[i,j] 각각은 다음과 같이 합성곱(convolution product)으로 유도된다.
GH[i,j] = Y*SH
GV[i,j] = Y*SV
그래디언트 G[i,j]는 2개의 성분들의 계수이고,이다. 그 주위의 픽셀들보다 더 큰 그래디언트를 갖는 픽셀은 에지로서 더 검출되기 쉽다.
이와 같이, 도 3에 도시된 바와 같이, 첫번째 단계 1에서, 그래디언트 G[i,j]는 화상의 각각의 픽셀 P[i,j]에 대해 유도되고, 여러 가지의 획득된 그래디언트들의 수단 Gm은 또한 전체 화상에 대해 유도된다. 그 후에, 연속한 단계 2에서, 각각 제공된 픽셀 P[i,j]에 대해, 픽셀 P[i,j]의 그래디언트 G[i,j]는 수단 Gm과 비교된다. 그래디언트 Gp[i,j]가 수단 Gm의 반보다 더 작으면, 그 대응 픽셀 P[i,j]은 에지로서 검출되지 않고, EDG[i,j]는 0으로 설정된다. 그래디언트 G[i,j]가 수단 Gm의 반보다 더 크면, 픽셀 P[i,j]은 에지로서 검출될 수 있고, 수직 및 수평 성분들 GH[i,j], Gv[i,j]은 다음 단락에서 기술된 바와 같이 차례로 비교된다.
단계 3에서, 수평 성분이 수직 성분 Gv[i,j]보다 더 크면, 단계 4에서, 그래디언트 G[i,j]는 왼쪽 픽셀 P[i,j-1]의 그래디언트 G[i,j-1]와 오른쪽 픽셀 P[i,j+1]의 그래디언트 G[i,j+1] 양쪽 모두보다 크면, 픽셀 P[i,j]은 수평 에지에 속한다. 그러한 경우, P[i,j]는 에지로서 검출되고, EDG[i,j]는 1로 설정되고, P[i,j]가 속한 블록에서 검출된 에지의 수 N[bck]가 증가한다.
단계 4에서, 수평 성분 GH[i,j]가 수직 성분 Gv[i,j]보다 크고, 왼쪽 픽셀 P[i,j-1]의 그래디언트 G[i,j-1] 또는 오른쪽 픽셀 P[i,j+1]의 그래디언트 G[i,j+1]보다 작다면, 픽셀 P[i,j]은 에지로서 검출되지 않고, EDG[i,j]는 0으로 설정된다.
단계 3에서, 수평 성분 GH[i,j]가 수직 성분 Gv[i,j]보다 작고, 단계 5에서, 그래디언트 G[i,j]가 상부 픽셀 P[i-1,j]의 그래디언트 G[i-1,j]와 하부 픽셀P[i+1,j]의 그래디언트 G[i+1,j] 양쪽 모두보다 크면, 픽셀 P[i,j]은 수직 에지에 속한다. 그러한 경우에, 픽셀 P[i,j]은 에지로서 검출되고, EDG[i,j]는 1로 설정되고, P[i,j]가 속한 블록의 검출된 에지의 수 N[bck]는 증가한다.
단계 5에서, 수평 성분 GH[i,j]이 수직 성분 Gv[i,j]보다 작고, 그래디언트 G[i,j]가 상부 픽셀 P[i-1,j]의 그래디언트 G[i-1,j] 또는 하부 픽셀 P[i+1,j]의 그래디언트 G[i+1,j]보다 크면, 픽셀 P[i,j]은 에지로서 검출되지 않고, EDG[i,j]는 0으로 설정된다. 상기 제안된 에지 검출 단계만이 많아야 하나의 픽셀을 갖는 에지들을 제공하여 미세 필터링이 실행될 수 있다.
도 5에서, 4x4 픽셀들 P[i,j]로 이루어진 블록(A)은 4개의 비중첩 4x4 블록들(B,C,D,E)에 의해 둘러쌓인다. 도 3에 도시된 에지 검출 단계동안, 에지로서 검출되지 않고 필터링될 수 있는, 블록(A)에 속한 픽셀 P[i,j]를 고려해보자. 이와 같이, EDG[i,j] = 0일 때, 픽셀 P[i,j]은 필터링될 수 있다. 본 발명의 실시예에서, 에지로서 검출되지 않은 임의의 픽셀 P[i,j]이 필터링될 필요는 없다. 실제로, 도 6에 도시된 바와 같이, 부가 조건들이 만족되어야 하고, 도 1의 TEST 유닛에서 실행된 동작들이 도시된다. 이와 같이, 블록(A)에 속하고 0의 값 EDG[i,j]을 갖는 임의의 픽셀 P[i,j]에 대해, 픽셀 P[i,j]의 규정된 영역에서 검출된 에지의 밀도가 고려된다. 이와 같이, 예컨대, 조건은 블록 (A) 및 인접한 블록(B,C,D,E)에서 전체 에지양으로 설정된다. 단계 11에서, 제 1 조건이 테스트된다: 블록(A, B ,C ,D, E)에서 전체 에지수는 소정의 최대 에지수 Nmax보다 작아야 한다. 이와 같이, 블록(A, B, C, D, E) 당 에지수 N(A), N(B), N(C), N(D), N(E)의 수의 합은각각 규정된 수 Nmax보다 작아야 한다. 이러한 경우, 전체 에지수는 Nmax보다 크고: 5개의 블록(A, B, C, D, E)에 전체적으로 너무 많은 에지들이 있고, 픽셀 P[i,j]가 필터링되지 않는다. 5개의 블록(A, B, C, D, E)의 에지 수가 Nmax보다 크지 않으면, 몇몇 부가 조건들이 픽셀 P[i,j]이 필터링되어야 하는지의 여부를 결정하도록 블록당 최소 에지수를 고려하여 설정된다. 다음 단계(12, 13, 14, 15, 16)에서, 블록당 에지수는 최소 임계값 Nmin과 비교된다. 블록들(A, B, C, D, E) 중 적어도 하나는 적어도 하나의 에지들의 최소값 Nmin을 포함해야 한다. 모든 이러한 조건들이 만족되면, 그 선택은 필터링하기 위해 SAF(sapatially-adaptive filter)에 픽셀 P[i,j]을 전송하는 것으로 이루어진다. 만일 그렇지 않다면, 즉, 5개의 블록들(A, B, C, D, E)의 전체 에지수가 적어도 Nmax보다 크거나 블록들이 적어도 Nmin 에지들을 포함하지 않는다면, 픽셀 P[i,j]은 필터링되지 않는다. 단계 11, 12, 13, 14, 15, 16가 본 실시예에서 실행되는 순서는 중요하지 않다; 임의의 다른 순서가 선택될 수도 있다. 소정의 수 Nmin 및 Nmax는 상기 방법의 정확도를 조절하게 한다. Nmax는 필터링될 때, 열화될 수 있고, 너무 복잡해지는 영역의 필터링을 방지하는데 사용된다. Nmin은 상기 방법의 효과가 감소되지 않도록 충분히 작게 선택될 것이다.
SAF의 예는 다음 단락에서 자세히 주어진다. 용어 SAF가 필터뿐만 아니라 필터링 단계를 나타낼 수 있다는 것을 주목해야 한다. 이와 같이, 가능한 SAF는 픽셀 P[i,j]의 휘도값 Y[i,j]를 대응하는 셋 [S[i,j]의 중간값으로 대체한다. 픽셀 P[i,j]과 연관된 셋 S[i,j]은 인접한 픽셀들 P[i,j], P[i-1,j], P[i+1,j], P[i,j-1] 및 P[i,j+1]의 휘도 성분 Y[i,j], Y[i-1,j], Y[i+1,j], Y[i,j-1] 및 Y[i,j+1]을 포함한다. 연관된 픽셀 P[i,j]이 에지로서 검출되지 않을 때, 각각의 휘도 성분 Y[i-1,j], Y[i+1,j], Y[i,j-1] 또는 Y[i,j+1]은 효과적으로 셋 S[i,j]에 속한다. 셋 S[i,j]은 또한 값 Y[i,j]을 포함하고, 셋 S[i,j]이 홀수값으로 이루어도록 반복될 수 있다. 짝수의 셋 S[i,j] 성분들은 셋 S[i,j]의 2개의 중간값의 수단을 유도하는 것이 필요하게 되고, 저역 통과 필터링이 될 것이다. 표 1에서, 주어진 픽셀 P[i,j]이 인접한 픽셀 P[i-1,j], P[i+1,j], P[i,j-1], P[i,j+1]의 상태, 즉, 에지 픽셀인지의 여부에 따라 필터링되기 위해 가능한 셋 S[i,j]의 구성이 주어진다.
픽셀 P[i,j]를 둘러싸고 있는 에지들의 수는 3보다 크고, 제안된 필터링 패턴이 픽셀 P[i,j]에 비활성이고, 수정되지 않는 다는 것을 주목해야 한다. 제안된 필터링 패턴은 셋 S[i,j]에 속한 픽셀의 휘도 성분의 임의의 가능한 최종값을 소거하게 된다. 또한, 기술된 필터링 패턴으로 저역 통과 필터링이 없기 때문에, 블러링 효과가 화상내에서 발생하지 않는다.
기술된 코딩 방법에서 수정 및 개선이 본 발명의 범위에서 벗어나지 않고 제안될 수 있다는 것이 주목되어야 한다. 예컨대, 이러한 처리 방법은 유선 전자 회로에 의해, 또는 대안적으로, 컴퓨터 판독 매체에 저장된 명령 셋과 같은, 몇가지 방법으로 실행될 수 있고, 상기 명령들은 적어도 상기 회로부를 대체하고 상기 대체 회로에 채워진 것과 동일한 기능을 실행하기 위해 디지철 프로세서 또는 컴퓨터의 제어하에 실행가능하다는 것이 명확하다. 본 발명은 또한, 프로세서 또는 컴퓨터의 제어하에 실행가능한 명령들의 셋을 저장하는 소프트웨어 모듈을 포함하고, 처리 방법의 적어도 몇가지 단계들을 실행하도록 제공되는 저장 매체에 관한 것이다. 도 1, 도 3 및 도 6의 블록들은 본 발명에 따른 방법의 단계와 그러한 단계를 실행하는 통상적인 필터링 장치의 처리 회로 양쪽 모두를 나타낸다.
본원에서 동사 "포함하다"의 사용은 청구항에 기재된 것과 다른 성분 및 단계의 존재를 제외하지 않는다는 것을 주목되어야 한다.

Claims (9)

  1. 이전에 인코드 및 디코드된 화상의 시퀀스를 나타내는 데이터를 처리하는 방법에 있어서,
    화상내의 에지 픽셀들을 검출하는 단계,
    이전 단계에서 에지들로 검출되지 않은 픽셀들 중에서 필터링될 픽셀들을 결정하는 단계,
    필터링될 적어도 하나의 픽셀을 상기 픽셀의 가까운 인접 영역에 속한 픽셀로 대체하는 단계로서, 상기 가까운 인접 영역은 상기 픽셀 및 상기 픽셀에 인접한 픽셀들을 포함하는 상기 대체 단계를 적어도 연속하여 포함하는, 데이터 처리 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    적어도 상기 필터링될 픽셀은 에지로서 검출되지 않은 홀수 픽셀들을 갖는 셋의 중간 픽셀로 대체되고, 상기 셋은 상기 픽셀 및 상기 픽셀에 인접한 픽셀들을 적어도 한번 포함하는, 데이터 처리 방법.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 방법은 상기 화상의 픽셀들의 휘도 성분에 적용되는, 데이터 처리 방법.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 픽셀의 그래디언트를 나타내는 크기가 소정의 임계값보다 크면, 픽셀은 에지 픽셀로서 검출되는, 데이터 처리 방법.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 픽셀의 그래디언트의 수평 성분이 상기 그래디언트의 수직 성분보다 크고, 상기 그래디언트의 계수가 왼쪽의 인접 픽셀의 그래디언트 계수와 오른쪽의 인접 픽셀의 그래디언트 계수 양쪽 모두보다 크면, 픽셀은 에지 픽셀로서 검출되는, 데이터 처리 방법.
  6. 제 4항에 있어서,
    상기 픽셀의 그래디언트의 수직 성분이 상기 그래디언트의 수평 성분보다 크고, 상기 그래디언트의 계수가 상기 인접한 하부 픽셀의 그래디언트의 계수 및 상기 인접한 상부 픽셀의 계수 양쪽 모두보다 크면, 픽셀은 에지 픽셀로서 검출되는, 데이터 처리 방법.
  7. 제 1항에 있어서,
    픽셀의 규정된 인접 영역내의 에지 픽셀들의 수가 규정된 범위내에 있다면, 상기 픽셀이 필터링되는, 데이터 처리 방법.
  8. 제 1항에 청구된 방법을 실행하는 필터링 장치.
  9. 컴퓨터 또는 프로세서의 제어하에 실행가능한 명령들의 셋을 저장하는 소프트웨어 모듈을 포함하고, 제 1항에 청구된 상기 처리 방법의 단계 중 적어도 일부의 단계들을 실행하도록 제공된 저장 매체.
KR1020017006645A 1999-09-28 2000-09-21 필터링 장치 및 방법 KR100675498B1 (ko)

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