KR20010074858A - 파장 분할 다중 섬유 광학 시스템에 있어서 광학 성능모니터링 방법 및 장치 - Google Patents

파장 분할 다중 섬유 광학 시스템에 있어서 광학 성능모니터링 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명을 형성하는 방법과 장치는, 정확하게 상기 광 스펙트럼의 전송되거나 선택된 부분을 분석하기 위해, 채널 선택 요소의 스펙트럼 위치를 제어하고 비율계량 파장과 전력 결정 기술을 사용함으로써 상기 광 스펙트럼과 그 내용의 신속한 분석을 허용한다. 상기 채널 선택 요소는 제어 신호에 의해 동조될 수 있는 전도 또는 반사 장치일 수 있다. 상기 시스템은, 상기 채널 선택 요소의 위치가 상기 비율계량 파장 결정 시스템에 의해 결정되고 상기 채널 선택 요소의 상기 파장 위치를 제어하는데 사용되는, 스캔 및 후처리 모드 또는 연속적인 피드백 모드에서 동작될 수 있다. 그것의 전형적인 형태로 상기 비율계량 파장 및 전력 결정 시스템은, 스펙트럼으로 인코딩된 광 신호를 2개의 부분으로 분할하는 것에 근거한다. 다른 부분이 흐트러지지 않는 반면에, 상기 신호의 한 부분은,파장의 함수로서 연속해서 증가하거나 감소하는 전송을 가진 광 필터를 통과한다. 그다음 상기 2개의 부분은 상기 전기 신호가 상기 광 신호에 비례하는 광전 검출기들에 의해 검출된다. 상기 2개의 신호를 나누는 것은 상기 입력 파장의 전력 독립 표시인 유일한 수를 나타낸다. 본 발명은 단 하나가 아닌 동시에 다수의 캐리어들을 측정하기 위한 방법과 장치를 유리하게 제공한다. 더욱이, 본 발명에 있어서, 전력 측정은 상기 광신호의 필터링되지 않은 부분을 사용함으로써 획득될 수 있다.

Description

파장 분할 다중 섬유 광학 시스템에 있어서 광학 성능 모니터링 방법 및 장치{Method and apparatus for optical performance monitoring in wavelength division multiplexed fiber optical systems}
파장 분할 다중은, 광섬유의 정보 용량 및 대역폭이 실질적으로 증가될 수 있는 하나의 방법이다. 이것은, 상기 광섬유에서 정보를 개별적으로 나르는 전형적으로 약 1550㎚의 협역 스펙트럼내에 있는 다수의 광 캐리어들을 사용함으로써 달성된다. 이러한 시스템들에 있어서, 상기 정보는 각 캐리어 상에 인코딩된다. 그다음 상기 캐리어들은 상기 광섬유로의 모든 캐리어들의 동시 전송을 허용하는 광 다중화기를 통해 결합된다. 상기 수신단에서, 상기 광신호들은, 그후에 각 캐리어들을 그들의 적합한 채널에 연속적으로 라우팅시키는 광 역다중화기를 통과한다. 본 발명은 파장 분할 다중 섬유 광학 시스템에 있어서 각 캐리어들에 대한 광학 파라미터들의 측정에 관한 것이다. 이러한 시스템들에 있어서, 캐리어 당 광학 파라미터들의 측정은, 상기 시스템의 건강상태 뿐만 아니라 이러한 시스템들이 동작하는 상기 광 네트워크들의 건강상태 모두에 관한 생생한 정보를 그들이 제공하기 때문에 중대하다. 그다음 이러한 정보는 진단과 수리 또는 성능 최적화 작동을 위해 사용될 수 있다.
탐색된 상기 광학 정보는 일반적으로 캐리어당 측정된 모든 것, 파장, 전력 및 광학 신호대 잡음비의 측정에 의해 결정될 수 있다. 이러한 파라미터들의 상기 측정은, 적합한 작동을 위해 최단 시간에 필요한 정보를 제공하기 위해 정확하고 광범위해야 하며 적시에 수행되어야 한다.
스펙트럼에 의존하는 시스템의 상기 광학 파라미터들을 분석하는 것에 대한 상기 종래의 접근은 광학 스펙트럼 분석기를 사용하는 것이다. 이들 시스템들은 일반적으로 분광기로서 알려진 광학 도구를 사용하는 것에 근거한다. 광학 스펙트럼 분석기들에 근거한 분광기는 대부분의 내장된 응용 및 필드 응용을 위해 전형적으로 느리고 크기가 크며, 시간에 따라 편류하는 경향이 있는데, 이것은 빈약한 절대적인 정확성을 제공한다. 사실상, 대부분의 응용을 위해서 하나보다 많은 기계가 상술한 것과 같은 중요한 광학 파라미터들을 획득하는데 전형적으로 사용된다.
따라서, 캐리어당 파장, 전력 및 신호대 잡음비 측정을 정확하게 제공하는 비율계량 파장과 전력 검출 시스템을 제공하는 것이 유리할 것이다. 더욱이, 만약 상기 정보가 계속적으로 모니터링될 수 있도록 이들 측정치를 제공하기 위해 이러한 시스템이 본래의 장소에 제공될 수 있다면 유리할 것이다. 대안적으로, 이러한 시스템이 독립적인 진단 도구로서 사용될 수 있다면 유리할 것이다.
본 발명은 파장 분할 다중 섬유 광학 시스템에 있어서 광학 스펙트럼 분석을 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.
도 1은 본 발명에 의한 파장 성능 모니터링 시스템의 시스템 블록도이다.
도 2는 다수의 입력을 제공하는광스위치를 포함하는 본 발명에 의한 파장 성능 모니터링 시스템의 광회로의 상세도이다.
도 3은 2개의 절대 파장 기준점을 생성하기 위한 방법을 포함하는 본 발명에 의한 파장 성능 모니터링 시스템의 대안적인 실시예의 광회로 상세도이다.
도 4는스위치에 대한 널아웃(null-out) 삽입 손실 변이, 동조가능 필터 및 파장 및 전력 결정 시스템을 제공하는 본 발명에 의한 파장 성능 모니터링 시스템의 대안적인 실시예의 광회로 상세도이다.
도 5는 광스위치에 대한 필요없이 절대 파장 및 전력 기준을 포함하는 본 발명에 의한 파장 성능 모니터링 시스템의 대안적인 실시예의 광회로 상세도이다.
도 6은 본 시스템의 대표적인 출력도이다.
도 7은 비율계에 있는 주기 필터를 포함하는 본 발명에 의한 파장 성능 모니터링 시스템의 대안적인 실시예의 광회로 상세도이다.
도 8은 도 7과 유사하지만 또한 브래그(Bragg) 회절 격자 반사기 또는 파장 기준을 제공하는 다른 수단을 포함하는 본 발명에 의한 파장 성능 모니터링 시스템의 대안적인 실시예의 광회로 상세도이다.
도 9는 비율계에 있는 파장 종속 커플러를 포함하는 본 발명에 의한 파장 성능 모니터링 시스템의 대안적인 실시예의 광회로 상세도이다.
도 10은 파장 분할 다중화기, 기준 LED 광원, 역다중화기 및 주기 파장 종속 필터를 포함하는 본 발명에 의한 파장 성능 모니터링 시스템의 대안적인 실시예의 광회로 상세도이다.
본 발명의 목적은, 캐리어당 파장, 전력 및 신호 대 잡음비 측정치를 제공하는 파장 분할 다중 섬유 광학 시스템에 있어서 광 스펙트럼을 분석하기 위한 방법과 장치들을 제공하는 것이다.
본 발명에 의한 파장 분할 다중 섬유 광학 시스템들에 있어서 광 스펙트럼을 분석하기 위한 장치는,
입력과 출력을 구비한 동조가능 채널 선택기;
상기 동조가능 채널 선택기의 출력에 광학적으로 접속된 파장 및 전력 검출 시스템; 및
상기 동조가능 채널 선택기와 상기 파장 및 전력 검출 시스템에 접속된 제어기를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에 의한 파장 분할 다중 섬유 광학 시스템들에 있어서 광 스펙트럼을 분석하기 위한 비율계량 방법은,
(a) 동조가능 선택기에서 스펙트럼으로 인코딩된 광신호를 수신하는 단계;
(b) 상기 스펙트럼으로 인코딩된 신호를 적어도 2개의 광신호로 분할하고 제1 광신호를 광필터에 통과시키는 단계;
(c) 상기 광 필터의 출력을 검출하고 상기 검출된 광신호를 제1 전기신호로 변환하며 상기 분할된 광신호로부터의 제2 광신호를 검출하고 상기 제2 광신호를 제2 전기신호로 변환하는 단계; 및
(d) 입력 파장의 전력 독립적인 표시를 제공하기 위하여 상기 전기신호들 중의 하나를 다른 전기신호로 나누는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명을 형성하는 상기 방법과 장치는, 정확하게 상기 광 스펙트럼의 전송되거나 선택된 부분을 분석하기 위해, 채널 선택 요소의 스펙트럼 위치를 제어하고 비율계량 파장과 전력 결정 기술을 사용함으로써 상기 광 스펙트럼과 그 내용의 신속한 분석을 허용한다. 상기 채널 선택 요소는 제어 신호에 의해 동조될 수 있는 전도 또는 반사 장치일 수 있다. 상기 시스템은, 상기 채널 선택 요소의 위치가 상기 비율계량 파장 결정 시스템에 의해 결정되고 상기 채널 선택 요소의 상기 파장 위치를 제어하는데 사용되는, 스캔 및 후처리 모드 또는 연속적인 피드백 모드에서 동작될 수 있다. 그것의 전형적인 형태로 상기 비율계량 파장 및 전력 결정 시스템은, 스펙트럼으로 인코딩된 광 신호를 2개의 부분으로 분할하는 것에 근거한다. 다른 부분이 흐트러지지 않는 반면에, 상기 신호의 한 부분은,파장의 함수로서 연속해서 증가하거나 감소하는 전송을 가진 광 필터를 통과한다. 그다음 상기 2개의 부분은 상기 전기 신호가 상기 광 신호에 비례하는 광전 검출기들에 의해 검출된다. 상기 2개의 신호를 비율제어(ratioing)하는 것은 상기 입력 파장의 전력 독립 표시인 유일한 수를 나타낸다. 본 발명은 단 하나가 아닌 동시에 다수의 캐리어들을 측정하기 위한 방법과 장치를 유리하게 제공한다. 더욱이, 본 발명에 있어서, 전력 측정은 상기 광신호의 필터링되지 않은 부분을 사용하여 획득될 수 있다.
본 발명을 형성하는 파장 분할 다중 섬유 광학 시스템들에 있어서 광학 성능 모니터링 방법 및 장치가 첨부된 도면들을 참조하여 단지 예로써 지금 설명될 것이다.
본 발명은 캐리어당 파장, 전력 및 신호 대 잡음비 측정치를 정확하게 제공하기 위하여 비율계량 파장 및 전력 결정 시스템과 함께 채널 선택 필터의 사용을 구현한다. 본 발명의 시스템은 광섬유 전송 시스템들내에 내장가능한 형태로 이러한 시스템을 사용가능하게 만드는 가볍고 컴팩트한 봉입물로 모두 달성될 수 있다. 대안적으로, 본 발명의 시스템은 필드와 실험실용 모두를 위한 단독 진단 도구로서 사용될 수 있다.
본 발명을 형성하는 상기 방법과 장치는, 정확하게 상기 광 스펙트럼의 전송되거나 선택된 부분을 분석하기 위해, 채널 선택 요소의 스펙트럼 위치를 제어하고 비율계량 파장과 전력 결정 기술을 사용함으로써 상기 광 스펙트럼과 그 내용의 신속한 분석을 허용한다. 상기 채널 선택 요소는 제어 신호에 의해 동조될 수 있는 전도 또는 반사 장치일 수 있다. 상기 시스템은, 상기 채널 선택 요소의 위치가 상기 비율계량 파장 결정 시스템에 의해 결정되고 상기 채널 선택 요소의 상기 파장 위치를 제어하는데 사용되는, 스캔 및 후처리 모드 또는 연속적인 피드백 모드에서 동작될 수 있다.
도 1을 참조하면, 일반적으로 10으로 도시된 본 발명의 광학 성능 모니터링 시스템은, 스펙트럼으로 인코딩된 광 신호를 2개의 부분으로 분할하고 그후 비율계량 파장 및 전력 결정 시스템을 사용하는 것에 근거한다. 다중 광섬유(11)는 광스위치(12)에 입력되고 스위치(12)의 단일 출력은 도시된 스위치(12)의 스펙트럼 출력(13)과 함께 동조가능 채널 선택기(14)로 입력된다. 상기 채널 선택기(14)의 출력은 비율계량 파장 및 전력 측정 시스템(16)에 입력된다. 제어기(32)는 스위치(12), 동조가능 채널 선택기(14), 비율계량 파장 및 전력 검출 시스템(16) 및 아날로그 인터페이스(30)에 접속된다.
도 2를 참조하면, 상기 비율계량 파장 및 전력 검출 시스템(16)은, 상기 채널 선택기(14)로부터의 신호를 2개의 광신호로 분할하는 신호 분할기(18)를 포함한다. 다른 광신호가 흐트러지지 않는 반면에, 이들 신호중의 하나는, 파장의 함수로서 연속해서 증가하거나 감소하는 전송을 가진 광 필터(22)를 통과한다. 그다음 상기 필터(22)의 출력과 상기 흐트러지지 않은 신호들은 상기 전기 신호가 상기 광신호에 비례하는 광전 검출기들(24 및 26)에 의해 검출된다. 부 처리기(sub-processor, 27)에서 2개의 신호를 나누는 것은 상기 입력 파장의 전력 독립 표시인 유일한 비율을 생산한다. 본 발명은 단 하나가 아닌 동시에 다수의 캐리어들을 측정하기 위한 방법과 장치를 유리하게 제공한다. 더욱이, 본 발명에 있어서, 전력 측정은 상기 광신호의 필터링되지 않은 부분을 사용하여 획득될 수 있다.
본 발명의 한가지 바람직한 실시예에 있어서, 스펙트럼 데이터가 수집되는 동안 필터가 관심있는 파장 영역에 걸쳐 동조하도록 상기 필터를 동조하기 위한 제어신호가 단순히 스캐닝되는, 동조가능 파브리-패로(Fabry-Perot) 필터가 상기 채널 선택 요소(14)로서 사용된다. 상기 비율계량 결정 기술들을 사용하는 것에 의한 상기 데이터의 후처리는, 각 캐리어의 정확한 파장, 전력 및 신호 대 잡음비를 나타낸다. 더 특별하게는, 상기 채널 선택 필터(14)는 관심있는 최단 파장으로부터 관심있는 최장 파장까지 스캐닝되고, 스펙트럼의 각 단계에서 파장과 전력을 측정하기 위하여 상기 비율계량 파장 결정 시스템들에 필요한 인접한 채널 격리를 제공한다. 이러한 방법으로, 상기 데이터는 캐리어들, 그들의 파장들 및 그들의 관련된 전력들을 나타내기 위해 후처리될 수 있다. 그이상의 일상적인 계산들은, 백그라운드 광 노이즈에 대한 상기 캐리어 강도의 상대적인 측정치인 신호 대 잡음비에 관한 정보를 제공한다. 상기 정보는, 신뢰성과 최적 성능을 허용하기 위해 전체 전송 시스템 파라미터들을 더 조정하는데 사용될 수 있다.
다른 실시예에서, 브래그 회절 격자가, 상기 채널 선택기(14)를 형성하기 위해 광섬유 순환기(미도시)와 함께 동조가능한 구성에서 사용된다. 여기에서 상기 섬유 브래그 회절 격자는, 테스트하의 상기 광 스펙트럼의 것과 일치하는 파장 영역에 걸쳐 동조된 스트레인(strain) 또는 온도이다. 상기 섬유 브래그 회절 격자는, 그 대역 및 격리가, 원하는 파장 해상도 및 특별한 응용을 위해 필요한 신호 대 잡음비에 적합하도록 설계된다. 상기 동조가능 채널 선택기는, 얇은 필름에 근거한 필터, 예를 들어 반도체 또는 기판상에 코팅되고 파장 선택도를 제공하기 위하여 경사진 다른 형태의 필름일 수 있다.
관련된 제어 신호와 함께 상기 채널 선택 필터(14)를 사용하는 것은, 상기 필터의 스펙트럼 위치를 식별하고 그후 상기 광 스펙트럼을 재구성할 수 있기에 이치적으로 충분해야 하는 반면에, 대부분의 상업적으로 이용가능한 필터들은 편류하고 그들의 제어 신호와 함께 스펙트럼 위치의 빈약한 절대 정확성을 가지는 경향이 있다. 여기에 개시된 상기 비율계량 파장 결정 접근은, 컴팩트하고 효율적인 비용 효율이 높은 형태로 상기 채널 선택 필터(14)의 스펙트럼 위치와 관련된 모든 모호함을 극복한다.
도 3을 참조하면, 상기 비율계량 파장 및 전력 검출 시스템(16) 또는 상기 채널 선택 필터(14)가 시간과 온도에 따라 드리프트하는 경우, 도면에 도시된 바와 같이 발광다이오드(36, light emitting diode, 이하 LED라 함), 분할기(38) 및 단일 또는 (여기에 도시된 바와 같은) 다중 온도 안정화 회절 격자들(40)로 구성된 상기 광회로(34)가 절대 파장 기준을 확립하는데 사용될 수 있다. 이 경우에 있어서, 상기 회절 격자들(40)로부터의 반사광은 상기 광스위치(12)를 적합한 채널로 이동시킴으로써 선택된다. 그다음 상기 광은 상기 광회로의 나머지 부분을 통과하고 상기 검출기들을 사용하여 측정된다. 상기 신호의 후처리의 바로 뒤에 상기 시스템에 관련한 상기 회절 격자들의 상대적인 위치가 확립될 수 있다. 사전에 상기 회절 격자들의 상기 절대 파장을 확립함으로써, 파장과 관련한 상기 시스템의 상대적인 드리프트가 결정될 수 있고 후처리에서 수정될 수 있다. 이것은, 이러한 수정을 오프라인으로 만들 필요없이 내장된 교정 시스템을 제공한다.
내장된 자기 교정부의 대안적인 실시예가 도 4에 도시되고 상기에서 일반적으로 설명되지만, 도 5의 실시예는 대역통과필터(42)의 부가 및 상기 분할기(38)의 다른 부분의 사용을 포함한다. 상기 출력을 상기 대역통과필터(42)에 접속함으로써, 상기 시스템의 전력 손실은, 상기 LED(36)와 상기 분할기(38)가 그들자체로 안정하는 것을 조건으로 또한 교정될 수 있다.
도 5는, 상기 스위치(12) 대신에 상기 광스위치(12)와 상기 동조가능 선택기(14) 사이에 위치한 커플러(44)를 통해 상기 기준광을 통과시키는 것을 제외하고는 도 3에 도시된 접근의 변형을 묘사한 것이다.
도 6을 참조하면, 상기 시스템의 대표적인 출력도가, 파장이 x축을 따라 도시되고 전력이 y축을 따라 도시된 46으로 일반적으로 도시된다.
도 7에 도시된 다른 실시예에 있어서, 상기 파장 및 전력 결정 회로(16)에서 사용된 상기 파장 독립 필터는 주기 필터(48)이다. 예를 들어, 상기 장치는, 특정 파장 지역에 걸쳐 절대 파장 대 전송 응답을 제공하기 위해서 소정의 주기를 가진 패브리-패로 필터일 수 있다. 상기 필터(48)의 주기성은, 상기 필터의 출력 응답이 파장에 따라 단조롭게 변하도록 선택된다. 상기 필터(48)는 더 높은 해상도를 가진 측정을 허용하는 이점이 있다. 상기 필터들이 전형적으로 다중값을 가지기 때문에 섬유 브래그 회절 격자 반사기(50)(또는 기준 필터들의 다른 형태들)는 도 8에 도시된 바와 같이 기준을 제공하기 위해 상기 주기 필터(48)의 전단에 사용될 수 있다. 상기 필터(48)가 파장에 관하여 알려진 주기와 함께 주기적이라면, 상기 입력 신호의 파장은 기준을 확립하고 상기 비율계량 시스템에 의해 제공되는 상기 비율을 측정함으로써 결정된다.
도 9에 도시된 다른 실시예에 있어서, 상기 채널 선택 필터(14)의 출력은 파장 종속 광 분할기(52)를 통과한다. 상기 커플러(52)는, 파장 종속적이고 서로 상보적인 2개의 출력을 갖는다. 하나의 분기에 있는 상기 파장 종속 필터(54)는 파장에 따라 단조롭게 증가하는 전송 응답을 가지며, 다른 필터(56)는 파장에 따라 단조롭게 감소하는 응답을 갖는다. 적합한 광검출기들(24, 26)을 사용한 이들 출력들의 다음 검출은 인입되는 입력 신호 파장의 전력 독립 측정을 허용한다. 더욱이,전력 측정은 또한, 캐리어당 상기 신호 전력을 나타내기 위하여 행해질 수 있다. 본 실시예는 더 적은 성분들을 사용하는 이점이 있고 일반적으로 손실 관리에 더 효과적이다. 상기 파장 교정 회로는, 신호가 분할기(38)에서 결합되고 다시 스위치(12)로 전송되는 파장들()의 광을 반사하는 브래그 반사기들(40)과 함께 분할기(38)에 결합된 광대역 발광 다이오드(LED)를 포함한다.
도 10에 도시된 다른 실시예에 있어서, 파장 분할 다중화기(60)가 상기 채널 선택 필터(14)의 전단에 위치한다. 1300㎚ 지역에 있는 LED(62)로부터의 광은 상기 다중화기(60)까지 기준 회절 격자(64)를 통과한다. 상기 다중화기(60)는, 1550㎚ 지역에 있는 상기 입력 신호를 상기 기준 LED 광원의 신호와 혼합한다. 그 다음 상기 입력신호는 상기 제어 및 처리 전자회로에 의해 독립적으로 제어되는 상기 채널 선택 필터에 의해 선택된다. 그후 상기 채널 선택 필터(14)의 출력은 1300㎚ 대역(70)과 1550㎚ 대역(72)을 분리하는 역다중화기(68)를 통과한다. 다음에 상기 다중화기의 1300㎚ 출력은 원하는 1500㎚ 응답의 것을 반사하는데 맞추어진 응답을 가진 주기 파장 종속 필터(74)를 통과한다. 최종 측정은 상기 검출기들(24, 26)에 의해 행해지고, 상기 출력들은 상기 처리기에서 비교된다. 상관 함수가, 상기 응답을 상기 1300㎚ 출력과 비교함으로써 원하는 1550㎚ 지역 광의 정확한 파장을 결정하는데 사용될 수 있다.
본 발명의 상기 방법과 장치 이전에 비율계량 파장 및 전력 검출 시스템이 다중 캐리어 시스템에서 캐리어당 상기 파장, 전력 및 신호 대 잡음비 측정치를 결정하기 위한 시스템에 사용되지 않았다는 것은 당업자에 의해 평가될 것이다. 상기비율계량 시스템이 캐리어를 식별할 수 없어서 유용한 측정치를 제공할 수 없었기 때문에, 본 발명 이전에 비율계량 시스템들은 다중 캐리어 시스템에서 사용될 수 없었다.
본 발명의 바람직한 실시예들의 상기 설명은 본 발명의 원리를 설명하기 위해 제공되었고 본 발명을 설명된 특정 실시예에 제한되지 않도록 제공되었다. 본 발명의 범위는 다음 청구항들과 그들의 동등한 것 내에 포함된 모든 실시예들에 의해 정의될 예정이다.

Claims (29)

  1. 파장 분할 다중 섬유 광학 시스템에서 광 스펙트럼을 분석하기 위한 장치에 있어서,
    입력과 출력을 구비한 동조가능 채널 선택기;
    상기 동조가능 채널 선택기의 출력에 광학적으로 접속된 파장 및 전력 검출 시스템; 및
    상기 동조가능 채널 선택기와 상기 파장 및 전력 검출 시스템에 접속된 제어기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 파장 및 전력 검출 시스템은 비율계량 파장 및 전력 검출 시스템인 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 비율계량 파장 및 전력 검출 시스템은,
    광신호를 적어도 2개의 분기로 분할하기 위하여 상기 동조가능 채널 선택기의 출력에 광학적으로 접속된 광 분할기;
    적어도 2개의 분기중 하나에 있는 제1필터와, 상기 제1필터의 출력에 접속된 제1검출기 및 적어도 2개의 분기중 다른 하나에 위치한 제2검출기; 및
    상기 검출기들 중 하나의 출력을 상기 다른 검출기의 출력으로 나누기 위한 분주 회로를 포함하며, 상기 제1검출기와 상기 제2검출기는 각각 출력을 구비한 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1필터는 파장 종속 필터인 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 제1필터는 주기 파장 종속 필터인 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 주기 파장 종속 필터의 입력에 접속된 브래그 회절 격자 반사기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  7. 제1항 내지 제6항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 동조가능 채널 선택기는, 제어신호를 사용하여 동조가능하도록 적응되고 전도 장치 및 반사 장치로 구성된 그룹으로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  8. 제1항 내지 제7항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 동조가능 채널 선택기는 패브리-패로 필터인 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  9. 제1항 내지 제8항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 동조가능 채널 선택기는 브래그 회절 격자와 광섬유 순환기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 브래그 회절 격자는 스캐닝될 파장 영역을 커버링하는 파장의 효과적인 영역에 걸쳐 동조되는 스트레인 또는 온도 동조 가능한 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  11. 제3항 내지 제10항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 제1필터는, 파장의 함수로서 연속적으로 증가하거나 감소하는 전송을 제공하는데 적합한 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  12. 제3항 내지 제11항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 제1검출기 및 상기 제2검출기는, 검출된 광신호에 비례하는 전기적인 출력 신호를 가진 광검파기인 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  13. 제3항 내지 제12항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 분주회로는 상기 제1검출기의 출력을 상기 제2검출기의 출력으로 나누는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  14. 제1항 내지 제13항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 동조가능 채널 선택기의 입력은광스위치의 출력에 접속된 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  15. 제1항에 있어서, 입력과 출력을 구비한 상기 동조가능 필터의 입력에 접속되는 파장 다중화기를 더 포함하고 입력신호가 상기 파장 다중화기의 입력에 위치하며, 상기 파장 및 전력 검출 시스템은,
    적어도 2개의 분기로 신호를 분할하기 위한 상기 동조가능 채널 선택기의 출력에 위치한 광 역다중화기 및 분할기;
    적어도 상기 2개의 분기중 한 분기에 있는 파장 주기 필터, 상기 파장 주기 필터의 출력에 위치한 제1검출기 및 적어도 상기 2개의 분기중 다른 하나에 위치한 제2검출기; 및
    상기 검출기중 한 검출기의 출력을 다른 검출기의 출력과 비교하기 위한 비교기를 포함하며 상기 제1검출기 및 상기 제2검출기는 각각 출력을 구비하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  16. 제15항에 있어서, 상기 입력신호는 기준 회절 격자를 통과한 발광다이오드로부터의 1300㎚의 영역에 있는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  17. 제15항 또는 제16항에 있어서, 상기 역다중화기와 상기 분할기는 상기 신호를 1300㎚ 분기와 1550㎚ 분기로 분할하고 상기 1550㎚ 분기는 상기 필터를 통과하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  18. 제14항에 있어서, 광학 교정 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  19. 제18항에 있어서, 상기 광학 교정 회로는, 입력과 출력을 구비하며 상기 광스위치에 대한 상기 입력에 광학적으로 접속된 상기 출력의 제1분기를 구비하는 광분할기, 상기 광분할기에 대한 상기 입력에 위치하는 적어도 하나 이상의 회절 격자 및 상기 분할기 출력의 제2분기에 위치한 발광다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  20. 제19항에 있어서, 상기 광분할기는 상기 입력의 제1분기를 구비하고 상기 적어도 하나 이상의 회절 격자는 상기 입력의 상기 제1분기에 위치하며, 상기 광분할기와 상기 광스위치에 대한 상기 입력 사이에 광학적으로 접속된 대역통과필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  21. 제18항에 있어서, 상기 광학 교정 회로는, 상기 광스위치와 상기 동조가능 필터 사이에 위치한 커플러와, 입력과 출력을 구비하며 상기 커플러에 위치한 상기 출력의 제1분기를 구비한 분할기와, 상기 분할기에 대한 상기 입력에 위치한 적어도 하나 이상의 회절 격자 및 상기 분할기 출력의 제2분기에 위치한 발광다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  22. 제11항에 있어서, 상기 적어도 2개의 분기중 하나에 제2파장 종속 필터를 포함하며, 상기 2개의 파장 종속 필터들중 하나는 파장의 함수로서 연속적으로 증가하는 전송을 제공하고 상기 다른 파장 종속 필터는 파장의 함수로서 연속적으로 감소하는 전송을 제공하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  23. 제22항에 있어서, 상기 분주회로는, 차이값을 생성하기 위하여 상기 제1검출기의 출력에서 상기 제2검출기의 출력을 감산하고 상기 차이값을 상기 제1검출기의 출력과 상기 제2검출기의 출력의 합으로 나누는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  24. 제1항 내지 제23항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 동조가능 채널 선택기는 얇은 필름에 근거한 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 스펙트럼 분석 장치.
  25. 파장 분할 다중 섬유 광학 시스템에서 광스펙트럼을 분석하기 위한 비율계량 방법에 있어서,
    (a) 동조가능 채널 선택기에서 스펙트럼으로 인코딩된 광신호를 수신하는 단계;
    (b) 상기 스펙트럼으로 인코딩된 광신호를 적어도 2개의 광신호로 분할하고 제1광신호를 광필터로 통과시키는 단계;
    (c) 상기 광필터의 출력을 검출하고 상기 검출된 광신호를 제1전기신호로 변환하며 상기 분할된 광신호로부터 제2광신호를 검출하고 상기 제2광신호를 제2전기신호로 변환하는 단계; 및
    (d) 입력 파장의 전력 독립 표시를 제공하기 위하여 상기 전기신호들중 한 신호를 상기 다른 전기신호로 나누는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광스펙트럼을 분석하기 위한 비율계량 방법.
  26. 제25항에 있어서, 상기 광필터에 대한 상기 신호의 파장의 함수로서 전송을 연속적으로 증가시키거나 감소시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광스펙트럼을 분석하기 위한 비율계량 방법.
  27. 제25항 또는 제26항에 있어서, 제어신호를 사용하여 상기 채널 선택기를 동조시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광스펙트럼을 분석하기 위한 비율계량 방법.
  28. 제25항 내지 제27항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 제1전기신호는 상기 제2전기신호로 나누어지는 것을 특징으로 하는 광스펙트럼을 분석하기 위한 비율계량 방법.
  29. 제25항 내지 제28항 중의 어느 한항에 있어서, 상기 시스템을 교정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광스펙트럼을 분석하기 위한 비율계량 방법.
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