KR100342757B1 - 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치 - Google Patents
파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치Info
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Abstract
본 발명은 파장 분할 다중화 시스템에 채용되어 다채널 광신호를 감시하는 장치에 관한 것으로서, 파장 가변 파브리-페로 에탈론 필터의 좁은 대역폭을 이용하여 일정 대역 파장의 광신호를 추출하고, 그 추출된 광신호를 둘 이상으로 분리한 뒤, 그 분리된 광신호중 하나를 선형 필터(또는 광섬유 격자)에 투과시키고, 그 투과율(또는 반사율)을 절대 파장으로 정하여 광신호의 광세기, 파장 및 광신호대 잡음비를 측정하도록 구성되어, 간단한 회로 구성에 의해서 WDM 시스템의 성능에 영향을 미치는 광신호를 감시할 수 있고, 광스위치의 채널 수 증가나 감시하고자 하는 파장 영역의 확대등과 같은 시스템의 변화에 대해서 용이하게 변경 실시할 수 있는 발명이다.
Description
본 발명은 파장 분할 다중화(WDM : wavelength division multiplexing) 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 WDM 시스템의 성능에 영향을 미치는 광신호의 특성을 감시하는데 적합한 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치에 관한 것이다.
일반적으로, WDM 시스템에서는 전송 용량을 늘리기 위해서 하나의 전송로(fiber)에 포함되는 채널 수를 증가시킬 필요가 있는데, 이와 같이 하나의 전송로에 포함되는 채널 수가 증가할수록 파장간의 간격이 좁아져서 이웃하는 파장간의 상호 영향이 증가하게 되므로, 시스템의 신뢰성 측면에서 광신호의 감시가 보다 중요한 문제로 대두되고 있다.
즉, WDM 시스템의 성능에 영향을 미치는 대표적인 요인으로, 각 채널의 광세기, 파장 및 광신호대잡음비(optical signal noise ratio : OSNR) 등이 있는데, WDM 시스템의 성능에 영향을 미치는 광신호의 특성을 측정하고 신호 전송의 이상 유무를 파악함으로써, 전송 장해나 성능 저하를 체크하여 문제 발생시 빠르게 보수할 수 있는 WDM 시스템이 요구된다.
이와 같이 광신호를 감시하는 종래의 장치에는, WDM 시스템에 사용중인 파장만을 선택적으로 측정하는 형태와 모든 채널이 포함된 영역을 훑으면서 광신호를 측정하는 형태로 분류할 수 있다.
먼저, WDM 시스템에 사용중인 파장만을 선택적으로 측정하는 형태로는, AWG(Arrayed Waveguide Grating)의 주어진 파장에 대해 엇갈린 투과 특성을 이용한 장치를 들 수 있는데, 이와 같은 장치에서는 AWG 및 AWG의 각 포트에 고정된 광검출기가 필요하므로 비용이 많이 들고, 삽입 손실이 크다는 단점이 있으며, 측정 채널의 파장이 고정되어 있기 때문에 WDM의 채널 증가시, 또는 파장 변환을 통한 다른 파장의 채널을 사용하는 상황에 유연하게 대처할 수 없다는 문제점이 있다.
따라서, WDM 시스템에서의 채널수 변화에 대해서 유연하게 적용하기 위해서는 파장 가변 필터를 적용하는 것이 바람직한데, 이와 같이 파장 가변 필터를 채용해서 모든 채널이 포함된 영역을 훑으면서 광신호를 측정하는 형태로는, 파장 가변 파브리-페로(Fabry-Perot) 에탈론 필터와 음향 광학 가변 필터(AOTF: audio optical tunable filter)를 이용해서 시간에 따른 광신호 측정 장치나 256개 또는 512개의 광검출기가 배열된 광소자를 이용해서 광신호를 동시에 측정하는 장치를 들 수 있다.
그중 256개 또는 512개의 광검출기가 배열된 광소자를 사용하는 경우에는 측정 시간을 단축할 수 있고 구성이 간단한 등의 장점이 있는 반면, 분해능에 한계가 있고 데이터 처리 연산이 복잡하며, 채널 증가시 감시 모듈을 교체해야 하는 등의문제점이 있다.
한편, 음향 광학 가변 필터의 경우 비용이 너무 비싸고 기술 개발이 미비하기 때문에 실제 시스템에 적용하기에는 어려움이 있고, 파장 가변 파브리-페로 에탈론 필터의 경우에는 가해준 전압에 따라서 투과 파장이 쉽게 변화되기 때문에 기준 파장을 잡기 어려운 문제점이 있었다.
본 발명에서는 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해서, 간단한 구성 및 저비용으로 채널수 변화에 유연한 WDM 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 관점에서는, 파장 분할 다중화 시스템에서 하나의 광선로(fiber)에 다중화된 다수 채널의 광신호를 감시하는 장치에 있어서, 입력된 다수 채널이 분포되어 있는 광대역의 파장 대역 중 특정 파장 대역의 광신호만을 추출하는 파장 가변 필터(100); 상기 파장 가변 필터(100)를 투과한 광신호를 둘로 분배하는 광 분배기(200); 상기 광 분배기(200)에서 분배된 광신호 중 일정 부분을 파장 대역에 따라 상이한 투과율로 투과하는 선형 필터(400); 상기 선형 필터(400)에서 투과되는 광신호를 전기적 신호로 검출하는 제 1 광 검출기(500); 상기 광 분배기(200)에서 분배된 광신호 중 나머지 부분을 전기적 신호로 검출하는 제 2 광 검출기(600); 상기 파장 가변 필터(100)의 투과 파장 영역을 제어하면서, 상기 제 1 검출기(500) 및 제 2 광 검출기(600)로부터 출력된 전기적 신호를 이용하여 기 설정된 투과율 대 파장 좌표에 의거하여 입사된 광신호의 특성을 측정하며, 상기 측정된 광신호의 특성이 기설정된 범위를 벗어나면 경고 메시지를 출력하는 시스템 제어 수단(700)을 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치를 제공한다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 관점에서는, 파장 분할 다중화 시스템에서 하나의 광선로에 다중화된 다수 채널의 광신호를 감시하는 장치에 있어서, 입력된 다수 채널이 분포되어 있는 광대역의 파장 대역 중 특정 파장 대역의 광신호만을 추출하는 파장 가변 필터(100); 상기 파장 가변 필터를 투과한 특정 파장 대역의 광신호를 파장 대역에 따라 상이한 반사율로 반사하는 선형 필터(400); 상기 파장 가변 필터(100)를 투과한 광신호를 둘로 분배하고, 그 중 한 신호를 상기 선형 필터(400)에 제공한 후 반사되는 일정 양의 광신호를 되받는 광 분배기(200); 상기 광 분배기(200)를 통해 선형 필터에서 반사된 광신호의 세기를 전기적 신호로 검출하는 제 1 광 검출기(500); 상기 광 분배기(200)를 통해 상기 파장 가변 필터(100)를 투과한 광신호 중 나머지 부분을 전기적 신호로 검출하는 제 2 광 검출기(600); 상기 선형 필터(400)로부터 반사되는 광신호가 상기 파장 가변 필터(100)로 역류하는 것을 차단하기 위하여 상기 파장 가변 필터(100)와 상기 광 분배기(200) 사이에 놓이는 광 아이솔레이터(300);상기 파장 가변 필터(100)의 투과 파장 대역을 제어하고, 상기 제 1 광 검출기(500) 및 제 2 광 검출기(600)의 출력 신호와 기 설정된 반사율 대 파장 좌표에 의거하여 입사된 광신호의 특성을 측정하며, 측정된 광신호의 특성이 기 설정된 범위를 벗어나면 경고 메시지를 출력하는 시스템 제어 수단(700)을 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치를 제공한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치를 도시한 블록 구성도,
도 2는 도 1에 도시된 선형 필터의 특성을 도시한 예시도,
도 3은 도 1의 다채널 광신호 감시 장치를 확장한 형태를 도시한 블록 구성도,
도 4는 도 3에 도시된 선형 필터의 특성을 도시한 예시도,
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치를 도시한 블록 구성도,
도 6은 도 5에 도시된 선형 필터의 특성을 도시한 예시도,
도 7은 도 5의 다채널 광신호 감시 장치를 확장한 형태를 도시한 블록 구성도,
도 8은 도 7에 도시된 선형 필터의 특성을 도시한 예시도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100 : 파장 가변 필터 200 : 광 분배기
300 : 광 아이솔레이터 400, 400/1∼400/n : 선형 필터
500 : 제 1 광 검출기 600 : 제 2 광 검출기
700 : 시스템 제어 수단 800 : (제 1)광 스위치
900 : 제 2 광 스위치
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한다.설명에 앞서, 본 발명의 핵심 기술 사상은, 파장 가변 파브리-페로 에탈론 필터의 좁은 대역폭을 이용하여 일정 대역 파장의 광신호를 추출하고, 그 추출된 광신호를 둘 이상으로 분리한 뒤, 그 분리된 광신호중 하나를 선형 필터(또는 광섬유 격자)에 투과시키고, 그 투과율 또는 반사율을 절대 파장으로 정하여 광신호의 광세기, 파장 및 광신호대 잡음비를 측정하는데 있는 바, 본 발명은 후술하는 실시예 1 및 실시예 2로 한정되는 것이 아니라 본 발명의 핵심 기술 사상에 의거하여 이해되어야 할 것이다.
[실시예 1]
실시예 1은 도 1 내지 도 4를 참조하여 설명되는데, 도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치를 도시한 블록 구성도이고, 도 2는 도 1에 도시된 선형 필터의 특성을 도시한 예시도이다. 또한, 도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치를 확장한 형태를 도시한 블록 구성도이고, 도 4는 도 3에 도시된 선형 필터의 특성을 도시한 예시도이다.
본 실시예의 특징은 다음과 같은 바, 이러한 특징에 중심을 두고 본 발명을 이해해야 할 것이다.
첫째, 광선로를 통해서 제공되는 광신호를 광 분배기에 의해서 둘로 분리하여, 그 하나는 광세기를 산출하는데 이용하고, 다른 하나는 선형 필터에 투과시켜 절대 파장을 산출하는데 이용하는 점에 특징이 있다.
둘째, 선형 필터의 투과율을 이용해서 파장을 산출하며, 그와 같이 투과율을 이용하기 위해서 반사되는 광신호의 영향을 억제하기 위해서 광 분배기와 선형 필터 사이에 광 아이솔레이터를 부가한다.
셋째, 산출된 광세기에 의거해서, 채널에서의 광신호가 갖는 광세기와 채널과 채널 사이의 무신호 구간에서 잡음 광신호가 갖는 광세기로부터 광신호대잡음비를 산출한다.
이하, 그와 같은 특징들을 중심으로 본 실시예에 따른 WDM 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치에 대해서 설명하면 다음과 같다.
먼저, 도 1을 참조하면, 본 실시예에 따른 WDM 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치에는, 기본적으로 파장 가변 필터(100), 광분배기(200), 광 아이솔레이터(300), 선형 필터(400), 제 1 광 검출기(500), 제 2 광 검출기(600) 및 시스템 제어 수단(700)을 구비하며, 그 개별 블록별 구성 및 기능은 다음과 같다.
파장 가변 필터(100)는 파장 가변 파브리-페로 에탈론 필터 등으로 이루어지며, 시스템 제어 수단(700)에 의거하여 투과 파장 대역이 설정되면, 다채널 광신호중에서 시스템 제어 수단(700)에 의해서 설정된 파장 대역의 광신호만을 투과시키고, 나머지 파장 대역의 광신호는 투과를 억제함으로써, 특정 파장 대역의 광신호를 추출하고, 그 추출된 광신호를 광분배기(200)에 제공한다. 이때, 파장 가변 필터(100)는 시스템 제어 수단(700)의 제어에 의거하여 중심 파장을 가변하면서 하나의 광선로(fiber) 내에 다중화된 각 채널을 추출하게 된다.
광 분배기(200)는 파장 가변 필터(100)로부터 제공된 광신호를 둘로 분배하고, 그 분배된 광신호중 하나는 광 아이솔레이터(300)에 제공하며, 나머지 하나는 제 2 광 검출기(600)에 제공한다.
광 아이솔레이터(300)는 광 분배기(200)로부터 입사된 광신호는 선형 필터(400)에 제공하고, 선형 필터(400)로부터 반사되는 광신호는 차단한다. 이때, 광 아이솔레이터(300)는 선형 필터(400)로부터의 반사에 의한 영향을 방지하기 위한 것이므로, 본 실시에에서는 광 분배기(200)와 선형 필터(400) 사이에 배치된다.
선형 필터(400)로는 파장에 따른 투과 특성의 증가 또는 감소에 상관없이 사용되는 영역에서 변곡점이 없는 필터가 사용되고, 광 아이솔레이터(300)를 경유해서 광 분배기(200)로부터 제공받은 특정 채널의 광신호를 투과 곡선에 대응하는 투과율로 제 1 광 검출기(500)에 제공하며, 나머지 광신호는 반사한다. 이때, 반사되는 광신호는 광 아이솔레이터(300)에 의해서 억제될 것이다.
제 1 광 검출기(500)는 선형 필터(400)로부터 출력되는 광신호의 세기를 전기적 신호(즉, 전압)로 변환해서 검출하고, 그 변환된 전기적 신호를 시스템 제어 수단(700)에 제공한다.
제 2 광 검출기(600)는 선형 필터(400)에서 투과된 광신호의 세기를 전기적 신호(즉, 전압)로 변환해서 검출하고, 그 변환된 전기적 신호를 시스템 제어 수단(700)에 제공한다. 이때, 제 2 광 검출기(600)로부터 제공되는 전기적 신호는, 시스템 제어 수단(700)에서 투과율을 산출할 때 기준 전압으로 사용될 것이다.
시스템 제어 수단(700)은 광 신호 감시 장치의 전반을 제어하며, 특히, 하나의 광선로 내에 다중화된 각 채널을 추출할 수 있도록 파장 가변 필터(100)의 투과파장 대역을 제어하고, 제 1 광 검출기(500) 및 제 2 광 검출기의 출력 신호로부터 광세기, 파장 및 OSNR 등을 측정하며, 그 측정치가 기설정된 범위를 벗어나면 도시 생략한 운용자 인터페이스를 통해서 경고 메시지를 출력한다. 이때, 시스템 제어 수단(700)에는 광세기, 파장 및 OSNR 각각에 대응하는 측정 소프트 웨어(도시 생략함)가 탑재되어 있을 수도 있고, 그와 같은 소프트 웨어가 각각 탑재되어 있는 개별 프로세서를 구비할 수도 있을 것이다.
도 2를 참조해서, 본 실시예에 따른 시스템 제어 수단(700)이 광세기, 파장, OSNR 등을 측정하는 원리에 대해서 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 선형 필터(400)는 입사되는 광신호의 파장에 따라서 그 투과율이 달라지므로, 다수번의 측정을 통해서 정확히 측정된 파장대 투과율 정보, 즉, 입사되는 광신호의 파장 각각에 대응하는 투과율 정보가 도시 생략한 메모리(예를 들어, 시스템 제어 수단(700)의 내부 메모리)에 저장된다.
먼저, 광신호의 세기는, 제 2 광검출기(600)로부터 제공되는 전기적 신호를 시스템에 의해서 손실된 오차만큼 보상해서 산출한다. 즉, 파장 가변 필터(100) 및 광 분배기(200)를 거치면서 손실된 오차를 보상해서 광신호의 세기를 얻는다. 이때, 파장 가변 필터(100)로부터의 손실량 및 광 분배기(200)로부터의 손실량은 다수의 실험을 통해서 결정될 수 있을 것이다. 또한, 광신호의 세기는 각 채널 구간에서 가장 커질 것이고, 채널과 채널 사이는 무신호 구간이므로 이상적으로는 0으로 검출될 것이다.
그 다음, 파장은 제 1 광 검출기(500)의 출력과 제 2 광 검출기(600)의 출력으로부터 하기의 수학식 1에 의해서 투과율을 산출한 후, 그 투과율에 대응하는 파장을 상술한 메모리로부터 검색해서 결정한다. 이때, 본 실시예에서 선형 필터(400)의 투과율을 이용해서 파장을 결정하는 이유는 입력되는 광신호의 광세기 변화에 관계 없이 파장을 결정하기 위해서이다.
즉, 상술한 바와 같이 도시 생략한 메모리에는 다수의 실험을 통해서 결정된 투과율 대 파장 정보가 기저장되어 있으므로, 투과율을 산출하면, 그 투과율로부터 파장을 결정할 수 있다.
예를 들면, 도 2에 도시된 바와 같이 측정 가능한 파장 영역이 λ1, λ2, λ3, …, λn이고, 그 각각에 대응하는 투과율이 T1, T2, T3, …, Tn이므로, 투과율이 T2라면, 그때의 파장은 λ2로 얻을 수 있는 바와 같이, 투과율의 측정에 의해서 파장을 결정할 수 있을 것이다.
그 다음, 광신호대잡음비(OSNR)는, 하기의 수학식 2, 즉, 광세기 산출부에서 산출된 각 채널에서 광신호가 갖는 광세기(이하, '채널 광세기'라 칭함)와 채널과 채널 사이의 무신호 구간에서 잡음 광신호가 갖는 광세기(이하, '잡음 광세기'라 칭함)의 비율로 산출할 수 있을 것이다. 이상적으로 각 채널에서의 광신호가 갖는 광세기는 최고 큰 광세기를 가질 것이다. 그리고, 채널과 채널 사이에서는 광신호가 존재하지 않아야되므로 그 구간에서의 광신호가 갖는 광세기는 0이 되어야 함에도 불구하고, 실제로는 광세기가 검출되는 바, 그와 같은 광세기는 잡음 광신호가되므로 그 채널 광세기와 잡음 광세기의 비율로부터 광신호대잡음비를 산출할 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 WDM 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치의 확장된 형태에 대해서 설명하면 다음과 같다.
본 실시예에서는, 파장 측정 범위를 확대하거나, 동일한 파장 측정 범위 내에서 증가된 채널을 구분하거나 또는 좀더 정확한 파장 값을 측정하려는 경우에, 도 3에 도시된 바와 같이 원래의 선형 필터(도 1에서는 400, 도 3에서는 400/1)에 하나 이상의 선형 필터(400/2∼400/n)를 더 부가하고, 그와 같이 다수개로 증가된 선형 필터(400/1∼400/n) 중에서 어느 하나를 선택하기 위한 제 1 광 스위치(800) 및 제 2 광 스위치(900)를 선형 필터(400/1∼400/n)의 전단과 후단에 각각 더 부가하며, 시스템 제어 수단(700)에서는 제 1 광 스위치(800) 및 제 2 광스위치(900)를 스위칭 제어하는 기능을 더 수행하도록 변형시킬 수 있다.
본 실시예에서 선형 필터(400/1∼400/n)를 부가하는 갯수는, 측정하고자 하는 파장의 범위에 대응되게 선형 필터의 개수가 정해지거나, 또는 측정하고자 하는 전체 파장 영역이 동일하지만 채널 수가 증가되어 채널간의 구분이 불가능해지는 경우에 채널간의 분해능을 얻을 수 있는 개수로 정해진다.
예를 들어, 기존에 선형 필터(400/1)에 의해서 λ1∼λn의 파장 영역에 대해서 측정하는 도중 측정하고자 하는 파장 영역이 λ1∼λ2n으로 확장 되었다면, 실시예 1에서의 λ1∼λn의 파장 영역에 대응하는 선형 필터(400/1), 즉, 도 4a에 도시된 바와 같은 특성을 갖는 선형 필터(400/1)에다가 λn+1∼λ2n의 파장 영역에 대응하는 선형 필터(400/2), 즉, 도 4b에 도시된 바와 같은 특성을 갖는 선형 필터(400/2)를 부가한다. 이때, 파장 영역의 확장되는 범위에 따라서, 선형 필터(400/3), 선형 필터(400/4), …와 같이 부가할 수 있을 것이다.
또한, 동일한 파장 영역 범위라 하더라도 채널수가 증가되는 경우 이웃하는 채널간의 투과율 차이가 줄어들어 되는데, 그와 같이 채널간의 투과율의 차이가 줄어들게되면, 선형 필터(400, 본 실시예에서는 400/1)를 하나만 사용하는 경우 투과율에 의해서 파장을 산출하기는 어렵게 된다. 따라서, 그와 같은 경우에는 선형 필터(400/1)의 파장 측정 가능 영역을 줄이고, 선형 필터(400/2)를 더 부가하여 각 선형 필터(400/1, 2)에서 담당하는 채널수를 제한함으로써, 채널간의 분해능을 높일수 있다.
또한, 그와 같이 각 파장에 대응하는 선형 필터(400/1∼400/n중에서 어느 하나)를 선택하기 위해서, 제 1 광 스위치(800) 및 제 2 광 스위치(900)가 부가된다. 이때, 제 1 광 스위치(800)는 시스템 제어 수단(700)의 스위칭 제어에 의거해서 광분배기(200)에서 제공되는 광신호를 다수개의 선형 필터(400/1∼400/n) 중에서 어느 하나에 제공하고, 제 2 광 스위치(900)는 시스템 제어 수단(700)의 제어에 의거해서 다수 개의 선형 필터(400/1∼400/n) 중에서 어느 하나로부터 제공되는 광신호를 제 1 광 검출기(500)에 제공하는 기능을 수행한다. 이때, 시스템 제어 수단(700)의 제어는 파장 가변 필터(100)에 설정한 투과 영역에 대응하는 선형 필터(400/1∼400/n) 중에서 어느 하나)를 선택하도록 제 1 광 스위치(800) 및 제 2 광 스위치(900)를 스위칭 제어 할 것이다.
한편, 본 실시예에서는 상술한 바와 같이 다수개로 증가된 선형 필터(400/1∼400/n) 중에서 어느 하나를 선택하기 위해서 제 1 광 스위치(800) 및 제 2 광 스위치(900)를 선형 필터(400/1∼400/n)의 전단과 후단에 각각 더 부가하지만, 본 발명의 다른 실시예에서는, 선형 필터(400/1∼400/n)의 전단에만 광 스위치(800)를 부가하고, 제 2 광 스위치(900)를 부가하는 대신에 각각의 선형 필터(800)에 대응해서 제 1 광 검출기(500)를 개별적으로 부가할 수도 있을 것이다.
상술한 설명은, 본 실시예에 따른 다채널 광신호 측정 장치의 동작 과정에 준하여 설명하고 있으므로, 당업자라면 상술한 구성 블록의 기능 및 시스템 제어 수단의 측정 원리에 대한 설명으로부터 본 실시예에 따른 다채널 광신호 측정 장치의 동작 과정을 충분히 이해할 수 있을 것이다. 그리고, 확장된 형태 역시 선형 필터(400/2∼400/n)를 더 부가하고, 그에 따라서 선형 필터(400/1∼400/n)의 수가 증가됨에 따라 선형 필터(400/1∼400/n)를 선택하기 위한 제 1 광 스위치(800) 및 제 2 광 스위치(900)가 부가되었을 뿐이므로, 당업자라면 도 3에 도시된 블록 구성도 및 도 3 및 도 4를 참조한 설명으로부터 그 동작 과정을 충분히 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 상술한 설명과의 중복을 피하기 위해서, 본 실시예에 따른 WDM 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치가 동작하는 과정에 대한 설명은 생략하기로 한다.
[실시예 2]
실시예 2는 도 5 내지 도 8을 참조하여 설명되는데, 도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치를 도시한 블록 구성도이고, 도 6은 도 5에 도시된 선형 필터의 특성을 도시한 예시도이다. 또한, 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치를 확장한 형태를 도시한 블록 구성도이고, 도 8은 도 7에 도시된 선형 필터의 특성을 도시한 예시도이다.
본 실시예의 특징은 다음과 같은 바, 그와 같은 특징에 중심을 두고 본 발명을 이해해야 할 것이다.
첫째, 광선로를 통해서 제공되는 광신호를 광분배기에 의해서 둘로 분리하여, 그 하나는 광세기를 산출하는데 이용하고, 다른 하나는 선형 필터에 투과시켜서 선형 필터로부터 반사되는 광신호(이하, '반사광'이라 칭함)를 이용해서 절대 파장을 산출하는 점에 특징이 있다.
둘째, 선형 필터의 반사율을 이용해서 파장을 산출하며, 그와 같이 반사율율을 이용하기 위해서 본 실시예에서는 광 아이솔레이터가 파장 가변 필터(100)와 광 분배기(200) 사이에 위치한다.
셋째, 산출된 광세기에 의거해서, 채널에서의 광신호가 갖는 광세기와 채널과 채널 사이의 무신호 구간에서 잡음 광신호가 갖는 광세기로부터 광신호대잡음비를 산출한다.
상술한 세 번째 특징은 실시예 1에서와 동일하지만, 본 실시예에서는 선형필터의 투과율을 이용하는 것이 아니라, 반사율을 이용하기 때문에 첫 번째 특징 및 두 번째 특징은 실시예 1과는 차이를 갖는다.
이하, 그와 같은 특징들을 중심으로 본 실시예에 따른 WDM 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치에 대해서 설명하면 다음과 같다.
먼저, 도 5을 참조하면, 본 실시예에 따른 WDM 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치에도, 실시예 1에서와 마찬가지로 파장 가변 필터(100), 광분배기(200), 광 아이솔레이터(300), 선형 필터(400), 제 1 광 검출기(500), 제 2 광 검출기(600) 및 시스템 제어 수단(700)이 구비되지만, 본실시예에서는 반사율을 이용하는 점 때문에 그 구성 및 기능이 실시예 1과는 다르므로, 실시예 1과의 차이점을 중심으로 그 개별 블록별 구성 및 기능에 대해서 설명한다.
본 실시예에 따른 파장 가변 필터(100)는 파장 가변 파브리-페로 에탈론 필터 등으로 이루어는 구성 및 특정 파장 대역의 광신호를 추출하는 기본적인 기능은 실시예 1과 동일하지만, 그 추출된 광신호를 광 분배기(200)에 직접 제공하는 대신 광 아이솔레이터(300)를 경유해서 광 분배기(200)에 제공하는 점에서 실시예 1과는 차이를 갖는다. 이때, 파장 가변 필터(100)는 시스템 제어 수단(700)의 제어에 의거하여 중심 파장을 가변하면서 하나의 광선로(fiber) 내에 다중화된 각 채널을 추출하게 되는 점 역시 실시예 1과 동일하다.
본 실시예에 따른 광 분배기(200)는, 파장 가변 필터(100)로부터 제공된 광신호를 둘로 분배해서 광 아이솔레이터(300)를 경유한 선형 필터(400) 및 제 2 광 검출기(600)에 각각 제공하던 실시예 1과는 달리, 광 아이솔레이터(300)를 경유해서 파장 가변 필터(100)로부터 광신호를 제공받고, 그 제공받은 광신호를 둘로 분배해서 선형 필터(400) 및 제 2 광 검출기(200)에 제공하는 한편, 선형 필터(400)에서 투과되지 못하고 반사되는 반사광을 다시 제 1 광 검출기(500)에 제공한다.
본 실시예에 따른 광 아이솔레이터(300)는, 실시예1에서는 투과율을 이용하기 때문에 선형 필터(400)로부터 반사되는 반사광의 반사 영향을 방지하기 위해서 부가되었던 반면, 본 실시예에서는 반사율을 이용하기 때문에, 선형 필터(400)로부터 반사된 광이 손실되지 않고 광 분배기(200)에 의해서 제 1 광 검출기(500)에 제공될 수 있도록, 광 분배기(300)의 전단에 배치되어 광 분배기(200)로부터 반사되는 반사광을 억제한다.
본 실시예에 따른 선형 필터(400)로는, 투과율을 이용하기 위해서 파장에 따른 투과 특성의 증가 또는 감소에 상관없이 사용되는 영역에서 변곡점이 없는(즉, 사용되는 파장 영역에서 투과 특성이 선형인) 필터가 사용되던 실시예 1과는 달리, 반사율을 이용하기 위해서 파장에 따른 반사 특성의 증가 또는 감소에 상관없이 사용되는 영역에서 변곡점이 없는(즉, 사용되는 파장 영역에서 반사 특성이 선형인) 필터가 사용된다. 또한, 실시예 1에서의 선형 필터(400)는 광 아이솔레이터(300)를 경유해서 광 분배기(200)로부터 제공받은 특정 채널의 광신호를 투과 곡선에 대응하는 투과율로 제 1 광 검출기(500)에 제공하였으나, 본 실시예에서의 선형 필터(400)는 분배된 광신호를 광 분배기(200)로부터 직접 제공받아서, 특정 채널의 광신호를 반사 곡선에 대응해서 광 분배기(200)로 반사하고, 나머지 광신호는 투과시킨다.
본 실시예에 따른 제 1 광 검출기(500)는, 그 구성 및 기능이 실시예 1에서의 제 1 광 검출기(500)와 동일하므로 이에 대한 설명은 생략한다.
본 실시예에 따른 제 2 광 검출기(600)는, 선형 필터(400)에서 투과된 광신호의 세기를 전기적 신호로 검출하던 실시예 1에서의 제 2 광 검출기(600)와는 달리, 선형 필터(400)로부터 반사되어 광 분배기(200)에 의해서 제공되는 반사광의 세기를 전기적 신호(예를 들어, 전압)로 검출하고, 그 검출된 전기적 신호를 시스템 제어 수단(700)에 제공한다. 이때, 제 2 광 검출기(600)로부터 제공되는 전기적 신호는, 시스템 제어 수단(700)에서 반사율을 산출하는데 이용될 것이다.
본 실시예에 따른 시스템 제어 수단(700)도 실시예 1에서와 마찬가지로 광 신호 감시 장치의 전반을 제어하고, 광세기, 파장 및 OSNR 각각에 대응하는 측정 소프트 웨어(도시 생략함) 또는 그 소프트 웨어가 각각 탑재된 개별 프로세서를 구비해서 제 1 광 검출기(500) 및 제 2 광 검출기의 출력 신호로부터 광세기, 파장 및 OSNR 등을 측정하며, 그 측정치가 기설정된 범위를 벗어나면 도시 생략한 운용자 인터페이스를 통해서 경고 메시지를 출력하는 점에서는 실시예 1에서의 시스템 제어 수단(700)과 동일하지만, 그 각각의 광세기, 파장 및 OSNR 각각에 대응하는 측정 소프트 웨어(도시 생략함) 또는 그 소프트 웨어가 각각 탑재된 개별 프로세서는 다음과 같은 점에서 실시예 1의 시스템 제어 수단(700)과 차이가 있다.
도 6을 참조해서, 본 실시예에 따른 시스템 제어 수단(700)이 실시예 1의 시스템 제어 수단(700)과 광세기, 파장, OSNR 등을 측정하는 데 갖는 차이점을 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 6을 참조하면, 본 실시예에 따른 선형 필터(400)는, 입사되는 광신호의 파장에 따라서 그 투과율이 달라지던 실시예 1에서의 선형 필터(400)와는 달리 그 반사율이 달라지므로, 다수 번의 측정을 통해서 정확히 측정된 파장대 투과율 정보를 메모리에 저장하는 대신에, 다수번의 측정을 통해서 정확히 측정된 파장대 반사율 정보, 즉, 입사되는 광신호의 파장 각각에 대응하는 반사율 정보를 도시 생략한 메모리(예를 들어, 시스템 제어 수단(700)의 내부 메모리)에 저장한다.
먼저, 본 실시예에 따른 시스템 제어 수단(700)에서 광신호의 세기를 산출하는 과정은, 실시예 1의 시스템 제어 수단(700)과 동일하므로 이에 대한 설명은 생략한다.
그 다음, 본 실시예에 따른 시스템 제어 수단(700)에서 파장을 측정하는 과정은, 수학식 1, 즉, '투과율=제 1 광 검출기의 출력/제 2 광 검출기의 출력'에 의해서 투과율을 산출하고, 그 투과율을 이용해서 파장을 측정하던 실시예 1의 시스템 제어 수단(700)과는 달리, 하기의 수학식 3에 의해서 산출된 반사율을 산출하고, 그 반사율을 이용해서 파장을 측정한다. 이때, 본 실시예에서 선형 필터(400)의 반사율을 이용해서 파장을 결정하는 이유도, 실시예 1에서 투과율을 이용해서 파장을 결정하는 이유와 마찬가지로 입력되는 광신호의 광세기 변화에 관계없이 파장을 결정하기 위해서이다.
이때, 수학식 3은 투과율을 산출하던 수학식 1과 동일하게 보이지만, 수학식1에서는 제 1 광 검출기의 출력이 선형 필터(400)에서 투과된 광으로부터 얻어진 전기적 신호인 반면, 수학식 3에서는 선형 필터(400)에서 반사된 광으로부터 얻어진 전기적 신호란 점에 차이가 있음을 유의해야 할 것이다.
그와 같이 수학식 3에 의해서 반사율을 산출하고 나면, 그 반사율에 대응하는 파장을 상술한 메모리로부터 검색해서 결정한다. 즉, 실시예 1에서와 마찬가지로 반사율도 다수의 실험을 통해서 측정된 반사율-파장 정보가 메모리에 기저장되어 있을 것이므로, 그 메모리로부터 반사율-파장 정보를 검색해서 반사율에 대응하는 파장을 결정할 수 있을 것이다.
예를 들면, 도 6에 도시된 바와 같이 측정 가능한 파장 영역이 λ1, λ2, λ3, …, λn이고, 그 각각에 대응하는 반사율이 R1, R2, R3, …, Rn이므로, 반사율이 R2라면, 그때의 파장은 λ2로 얻을 수 있는 바와 같이, 반사율의 측정에 의해서 파장을 결정할 수 있을 것이다.
그 다음, 본 실시예에 따른 광신호대잡음비(OSNR)의 산출 과정은, 실시예 1에서와 동일한 과정에 의해서 이루어지므로, 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.
상술한 바와 같이 본 발명의 바람직한 이 실시예에 따른 WDM 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치의 확장된 형태에 대해서 설명하면 다음과 같다.
본 실시예에서도 실시예 1에서와 마찬가지로 파장 측정 범위를 확대하거나, 동일한 파장 측정 범위 내에서 증가된 채널을 구분하거나 또는 좀더 정확한 파장 값을 측정하려는 경우에, 도 7에 도시된 바와 같이 장치를 변경하지만, 실시예 1에서 투과율을 이용하는 것과는 달리 본 실시예에서는 반사율을 이용하기 때문에 도3에 도시된 바와 같이 확장하던 실시예 1과는 다른 특징을 갖는다. 즉, 실시예 1에서는 다 수개의 선형 필터(400/1∼400/n)로 구성하고, 그와 같이 다수개로 증가된 선형 필터(400/1∼400/n) 중에서 어느 하나를 선택하기 위한 제 1 광 스위치(800) 및 제 2 광 스위치(900)를 선형 필터(400/1∼400/n)의 전단과 후단에 각각 더 부가하였지만, 본 실시예에서는 반사광을 이용해서 파장을 측정하기 때문에 광신호의 입사 및 반사에 대한 선형 필터(400/1∼400/n)의 선택을 하나의 광스위치에 의해서 수행할 수 있다.
본 실시예에서 선형 필터(400/1∼400/n)를 부가하는 개수도, 실시예 1에서와 마찬가지로 측정하고자 하는 파장의 범위에 대응되게 선형 필터의 개수가 정해지거나, 또는 측정하고자 하는 전체 파장 영역이 동일하지만 채널 수가 증가되어 채널간의 구분이 불가능해지는 경우에 채널간의 분해능을 얻을 수 있는 개수로 정해진다.
예를 들어, 기존에 선형 필터(400/1)에 의해서 λ1∼λn의 파장 영역에 대해서 측정하는 도중 측정하고자 하는 파장 영역이 λ1∼λ2n으로 확장 되었다면, 실시예 1에서의 λ1∼λn의 파장 영역에 대응하는 선형 필터(400/1), 즉, 도 8a에 도시된 바와 같은 특성을 갖는 선형 필터(400/1)에다가 λn+1∼λ2n의 파장 영역에 대응하는 선형 필터(800/2), 즉, 도 8b에 도시된 바와 같은 특성을 갖는 선형 필터(400/2)를 부가한다. 이때, 파장 영역의 확장되는 범위에 따라서, 선형 필터(400/3), 선형 필터(400/4), …와 같이 부가할 수 있을 것이다.
또한, 동일한 파장 영역 범위라 하더라도 채널수가 증가되는 경우 이웃하는채널간의 반사율 차이가 줄어들어 되는데, 그와 같이 채널간의 반사율의 차이가 줄어들게되면 선형 필터(400, 본 실시예에서는 400/1)를 하나만 사용하는 경우, 반사율에 의해서 파장을 산출하기는 어렵게 된다.
따라서, 그와 같은 경우에는 선형 필터(400/1)의 파장 측정 가능 영역을 줄이고, 선형 필터(400/2)를 더 부가하여 각 선형 필터(400/1, 2)에서 담당하는 채널수를 제한함으로써, 채널간의 분해능을 높일수 있다.
그와 같이 각 파장에 대응하는 선형 필터(400/1∼400/n 중에서 어느 하나)를 선택하기 위해서, 부가되는 광 스위치(800) 및 시스템 제어 수단(700)에 추가되는 기능은 다음과 같다.
먼저, 광 스위치(800)는 시스템 제어 수단(700)의 스위칭 제어에 의거해서, 광분배기(200)에서 제공되는 광신호를 다수개의 선형 필터(400/1∼400/n) 중에서 어느 하나에 제공하고, 그 선형 필터(400/1∼400/n 중에서 어느 하나)로부터 반사되는 반사광을 제 1 광 검출기(500)에 제공한다. 이때, 시스템 제어 수단(700)의 제어는 파장 가변 필터(100)에 설정한 투과 영역에 대응하는 선형 필터(400/1∼400/n중에서 어느 하나)를 선택하도록 광 스위치(800)를 제어한다.
당업자라면 상술한 실시예 1 및 그 실시예 1과 비교 설명한 본 실시예의 설명으로부터 본 실시예에 따른 다채널 광신호 감시 장치의 동작 과정을 충분히 이해할 수 있을 것이므로 이에 대한 설명은 생략한다.
상술한 본 발명에 따르면, 간단한 회로 구성에 의해서 WDM 시스템의 성능에영향을 미치는 광신호를 감시할 수 있고, 광스위치의 채널 수 증가나 감시하고자 하는 파장 영역의 확대등과 같은 시스템의 변화에 대해서 용이하게 변경 실시할 수 있는 효과가 있다.
Claims (16)
- 파장 분할 다중화 시스템에서 하나의 광선로(fiber)에 다중화된 다수 채널의 광신호를 감시하는 장치에 있어서,입력된 다수 채널이 분포되어 있는 광대역의 파장 대역중 특정 파장 대역의 광신호만을 추출하는 파장 가변 필터(100);상기 파장 가변 필터(100)를 투과한 광신호를 둘로 분배하는 광 분배기(200);상기 광 분배기(200)에서 분배된 광신호 중 일정 부분을 파장 대역에 따라 상이한 투과율로 투과하는 선형 필터(400);상기 선형 필터(400)에서 투과되는 광신호를 전기적 신호로 검출하는 제 1 광 검출기(500);상기 광 분배기(200)에서 분배된 광신호 중 나머지 부분을 전기적 신호로 검출하는 제 2 광 검출기(600);상기 파장 가변 필터(100)의 투과 파장 대역을 제어하면서, 상기 제 1 광 검출기(500) 및 상기 제 2 광 검출기(600)로부터 출력된 전기적 신호를 이용하여 기 설정된 투과율 대 파장 좌표에 의거하여 입사된 광신호의 특성을 측정하며, 측정된 광신호의 특성이 기 설정된 범위를 벗어나면 경고 메시지를 출력하는 시스템 제어 수단(700)을 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치는,측정하고자 하는 광신호의 파장 대역의 확장 또는 채널 수의 증가 등으로 인해 추가된 새로운 측정 대역에 적합하도록 상기 광 분배기와 상기 제 1 광 검출기 사이에 부가 위치시킨 선형 필터;상기 선형 필터 부가에 따른 다수 개의 선형 필터 중에서 어느 하나에, 상기 광 분배기(200)에서 분배된 광신호를 선택적으로 제공하기 위하여 상기 광 분배기(200)와 상기 다수 개의 선형 필터 사이에 부가 위치시킨 제 1 광 스위치(800);상기 다수 개의 선형 필터 중 어느 하나를 투과한 광신호를 상기 제 1 광 검출기(500)에 제공하기 위하여 상기 제 1 광 검출기(500)와 상기 다수 개의 선형 필터 사이에 부가 위치시킨 제 2 광 스위치(900);상기 파장 가변 필터(100)를 투과한 파장 대역에 대응하는 선형 필터를 선택하도록 상기 제 1 광 스위치(800)를 제어하고, 상기 제 1 광 스위치(800)에 의해서 선택된 선형 필터에서 투과되는 광신호를 제 1 광 검출기(500)에 제공할 수 있도록 상기 제 2 광 스위치(900)를 제어하는 기능이 더 부가된 시스템 제어 수단(700)을 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치는,상기 선형 필터(400)로부터 반사되는 광신호를 차단하기 위하여 상기 광 분배기(200) 다음 단에 광 아이솔레이터(300)를 더 구비 위치시키는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 시스템 제어 수단(700)은,기설정된 다수의 투과율 대 파장값이 기저장되어 있는 메모리;상기 제 2 광 검출기(600)에서 검출된 전기적 신호로부터 광세기를 측정하기 위한 광세기 산출부;상기 제 1 광 검출기(600) 및 제 2 광 검출기(700)에서 검출된 전기적 신호로부터 투과율을 산출하기 위한 투과율 산출부;상기 투과율 산출부에서 산출된 투과율에 대응하는 파장값을 상기 메모리로부터 검색하는 파장 검색부;상기 광세기 산출부로부터 산출된 각 채널에서의 광신호 세기와 무신호 구간에서 검출되는 광신호 세기로부터 광신호대잡음비를 산출하는 신호대잡음비 산출부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 광세기 산출부, 투과율 산출부, 파장 검색부 및 신호대잡음비 산출부는,상기 시스템 제어 수단(700)에 탑재된 소프트 웨어 이거나, 상기 소프트 웨어가 각각 탑재된 개별 마이크로 프로세서인 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 광세기 산출부는,상기 제 2 광 검출기(600)에서 검출된 전기적 신호에 기측정된 시스템 손실 오차를 보상해서 광세기를 산출하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 투과율 산출부는,투과율=제 1 광 검출기의 출력/제 2 광 검출기의 출력의 식에 의해서 투과율을 산출하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 신호대잡음비 산출부는,광신호대잡음비=채널 광세기/잡음 광세기의 식에 의해서 신호대잡음비를 산출하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 파장 분할 다중화 시스템에서 하나의 광선로에 다중화된 다수 채널의 광신호를 감시하는 장치에 있어서,입력된 다수 채널이 분포되어 있는 광대역의 파장 대역 중 특정 파장 대역의 광신호만을 추출하는 파장 가변 필터(100);상기 파장 가변 필터(100)를 투과한 특정 파장 대역의 광신호를 파장 대역에 따라 상이한 반사율로 반사하는 선형 필터(400);상기 파장 가변 필터(100)에서 추출된 광신호를 둘로 분배하고, 그 중 한 신호를 상기 선형 필터(400)에 제공한 후 반사되는 일정 양의 광 신호를 되받는 광 분배기(200);상기 광 분배기(200)를 통해 상기 선형 필터(400)에서 반사된 광신호의 세기를 전기적 신호로 검출하는 제 1 광 검출기(500);상기 광 분배기(200)를 통해 상기 파장 가변 필터(100)를 투과한 광신호 중 나머지 부분을 전기적 신호로 검출하는 제 2 광 검출기(600);상기 선형 필터(400)로부터 반사되는 광신호가 상기 파장 가변 필터(100)로 역류하는 것을 차단하기 위하여 상기 파장 가변 필터(100)와 상기 광 분배기(200) 사이에 놓이는 광 아이솔레이터;상기 파장 가변 필터(100)의 투과 파장 대역을 제어하고, 상기 제 1 검출기(500) 및 상기 제 2 광 검출기(600)의 출력 신호와 기설정된 반사율 대 파장 좌표에 의거하여 입사된 상기 광신호의 특성을 측정하며, 측정된 광신호의 특성이 기 설정된 범위를 벗어나면 경고 메시지를 출력하는 시스템 제어 수단(700)을 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 9 항에 있어서,상기 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치는,측정하고자 하는 광신호의 파장 대역의 확장 또는 채널 수의 증가 등으로 인해 추가된 새로운 측정 대역에 적합한 선형 필터;상기 선형 필터 부가에 따른 다수 개의 선형 필터 중에서 어느 하나에, 상기 광 분배기(200)에서 분배된 광신호를 상기 선형 필터에 선택적으로 제공하고, 선택된 선형 필터로부터 반사되는 광신호를 제공받기 위하여 상기 광 분배기(200)와 상기 다수 개의 선형 필터 사이에 부가 위치시킨 광 스위치(800);상기 파장 가변 필터(100)를 투과한 파장 대역에 대응하는 선형 필터를 선택하도록 상기 광 스위치(800)를 제어하는 기능이 더 부가된 시스템 제어 수단(700)을 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 삭제
- 제 9 항 또는 제 10 항에 있어서,상기 시스템 제어 수단(700)은,기설정된 다수의 반사율 대 파장값이 기저장되어 있는 메모리;상기 제 2 광 검출기(600)에서 검출된 전기적 신호로부터 광세기를 측정하기 위한 광세기 산출부;상기 제 1 광 검출기(600) 및 제 2 광 검출기(700)에서 검출된 전기적 신호로부터 반사율을 산출하기 위한 반사율 산출부;상기 반사율 산출부에서 산출된 반사율에 대응하는 파장값을 상기 메모리로부터 검색하는 파장 검색부;상기 광세기 산출부로부터 산출된 각 채널에서의 광신호 세기와 무신호 구간에서 검출되는 광신호 세기로부터 광신호대잡음비를 산출하는 신호대잡음비 산출부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 광세기 산출부, 반사율 산출부, 파장 검색부 및 신호대잡음비 산출부는,상기 시스템 제어 수단(700)에 탑재된 소프트 웨어 이거나, 상기 소프트 웨어가 각각 탑재된 개별 마이크로 프로세서인 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 광세기 산출부는,상기 제 2 광 검출기(600)에서 검출된 전기적 신호에 기측정된 시스템 손실 오차를 보상해서 광세기를 산출하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 반사율 산출부는,반사율=제 1 광 검출기의 출력/제 2 광 검출기의 출력의 식에 의해서 투과율을 산출하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
- 제 12 항에 있어서,상기 신호대잡음비 산출부는,광신호대잡음비=채널 광세기/잡음 광세기의 식에 의해서 신호대잡음비를 산출하는 것을 특징으로 하는 파장 분할 다중화 시스템에서의 다채널 광신호 감시 장치.
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