KR20010022571A - 개선된 연마용 패드 및 연마 방법 - Google Patents
개선된 연마용 패드 및 연마 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20010022571A KR20010022571A KR1020007001162A KR20007001162A KR20010022571A KR 20010022571 A KR20010022571 A KR 20010022571A KR 1020007001162 A KR1020007001162 A KR 1020007001162A KR 20007001162 A KR20007001162 A KR 20007001162A KR 20010022571 A KR20010022571 A KR 20010022571A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pad
- polishing
- thermoforming
- workpiece
- die
- Prior art date
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/11—Lapping tools
- B24B37/20—Lapping pads for working plane surfaces
- B24B37/24—Lapping pads for working plane surfaces characterised by the composition or properties of the pad materials
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/11—Lapping tools
- B24B37/20—Lapping pads for working plane surfaces
- B24B37/26—Lapping pads for working plane surfaces characterised by the shape of the lapping pad surface, e.g. grooved
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24D—TOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
- B24D3/00—Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents
- B24D3/02—Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents the constituent being used as bonding agent
- B24D3/20—Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents the constituent being used as bonding agent and being essentially organic
- B24D3/22—Rubbers synthetic or natural
- B24D3/26—Rubbers synthetic or natural for porous or cellular structure
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24D—TOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
- B24D3/00—Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents
- B24D3/02—Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents the constituent being used as bonding agent
- B24D3/20—Physical features of abrasive bodies, or sheets, e.g. abrasive surfaces of special nature; Abrasive bodies or sheets characterised by their constituents the constituent being used as bonding agent and being essentially organic
- B24D3/28—Resins or natural or synthetic macromolecular compounds
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Manufacture Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
Abstract
Description
Claims (18)
- (i) 밀도가 0.5 g/㎤보다 크고, (ii) 임계 표면 장력이 34 mN/m 이상이며, (iii) 인장 탄성율이 0.02 내지 5 기가파스칼이며, (iv) 30 ℃에서의 인장 탄성율 대 60 ℃에서 인장 탄성율의 비율이 1.0 내지 2.5이고, (v) 경도가 25 내지 80 쇼어(Shore) D이며, (vi) 항복 응력이 약 2.1 내지 41.4 메가파스칼 (300 내지 6000 psi)이고, (vii) 인장 강도가 7 내지 105 메가파스칼 (1000 내지 15,000 psi)이고, (viii) 파단 신장율이 500 %이하이며, 우레탄, 카르보네이트, 아미드, 에스테르, 에테르, 아크릴레이트, 메타크릴레이트, 아크릴산, 메타크릴산, 술폰, 아크릴아미드, 할라이드 및 히드록시드로 구성된 군에서 선택된 적어도 하나의 잔기를 포함하며, 또한 열성형법에 의해 발현된 표면 형태 (이 형태는 적어도 하나의 치수가 0.01 mm 보다 크고 연마용 유체의 흐름을 용이하게 하고 반도체 소자 또는 반도체 소자 전구체의 화학적 기계적 연마를 용이하게 함)이 다수 존재하는 연마 표면을 갖는 친수성 재료를 포함하는 연마용 패드.
- 제1항에 있어서, 상기 친수성 재료가 평균 크기가 100 μ 미만인 경질 도메인 다수 및 연질 도메인 다수를 더 포함하는 것인 패드.
- 제2항에 있어서, 상기 경질 도메인 및 연질 도메인이 상기 친수성 재료가 생성될 때 상 분리에 의해 생성된 것이고, 상기 친수성 재료가 다수의 경질 세그먼트 및 다수의 연질 세그먼트를 갖는 중합체를 포함하는 것인 패드.
- 제1항에 있어서, 상기 친수성 재료가 본질적으로 2상 폴리우레탄으로 이루어진 것인 패드.
- 제1항에 있어서, 상기 친수성 재료가 마모 입자를 더 포함하는 것인 패드.
- 제1항에 있어서, 상기 친수성 재료가 본질적으로, 폴리메틸 메타크릴레이트, 폴리비닐 클로라이드, 폴리술폰, 나일론, 폴리카르보네이트, 폴리우레탄, 에틸렌 공중합체, 폴리에테르 이미드, 폴리에틸렌 이민, 폴리케톤 및 이의 조합물로 구성된 군에서 선택된 재료로 이루어진 것인 패드.
- 제1항에 있어서, 압출법에 의해 시트로서 성형된 패드.
- 제7항에 있어서, 상기 시트가 시작 말단 및 종결 말단이 있고, 이 양 말단이 결합되어 연속 벨트를 형성하는 것인 패드.
- 제7항에 있어서, 상기 시트가 절단되어 임의의 크기 또는 모양의 패드를 형성하는 것인 패드.
- 제1항에 있어서, 압착 성형에 의해 제조된 패드.
- 제1항에 있어서, 상기 열성형 방법이 엠보싱 방법인 패드.
- 제11항에 있어서, 상기 표면이 온도 증가에 의해 연화되어, 연마 재료에 엠보싱 패턴을 유지시키는 온도로 냉각된 엠보싱 롤러에 의해 가해진 압력으로 인해 표면이 엠보싱 처리된 것인 패드.
- 제1항에 있어서, 열성형 다이를 사용하여 높이, 폭 또는 깊이가 25 μ이하인 작은 치수의 형태를 포함하는 표면 형태를 발현시키고, 상기 열성형 다이는 패드 재료에 대해 저친화성 부분 및 고친화성 부분을 갖고 있어서 패드의 부분들을 선택적으로 이형시켜, 작은 치수의 표면 형태를 전체에 걸쳐 또는 일부에 발현시키는 것인 패드.
- 제1항에 있어서, 열성형 다이를 사용하여 높이, 폭 또는 깊이가 25 μ이하인 작은 치수의 형태를 포함하는 표면 형태를 발현시키고, 상기 열성형 다이는 패드 재료에 의해 둘러싸였을 때 재료의 이형을 방해하는 모양의 돌출부가 있어서 패드의 부분들을 선택적으로 이형시켜, 작은 치수의 표면 형태를 전체에 걸쳐 또는 일부에 형성하는 것인 패드.
- 제1항에 있어서, 열성형 다이를 사용하여 높이, 폭 또는 깊이가 25 μ이하인 작은 치수의 형태를 포함하는 표면 형태를 발현시키고, 상기 열성형 다이는 패드 재료에 대해 친화도가 더 큰 재료로 이루어진 돌출부가 있어서 패드의 부분들을 선택적으로 이형시켜, 작은 치수의 표면 형태를 전체에 걸쳐 또는 일부에 발현시키는 것인 패드.
- (a) (i) 밀도가 0.5 g/㎤보다 크고, (ii) 임계 표면 장력이 34 mN/m 이상이며, (iii) 인장 탄성율이 0.02 내지 5 기가파스칼이며, (iv) 30 ℃에서의 인장 탄성율 대 60 ℃에서 인장 탄성율의 비율이 1.0 내지 2.5이고, (v) 경도가 25 내지 80 쇼어(Shore) D이며, (vi) 항복 응력이 약 2.1 내지 41.4 메가파스칼 (300 내지 6000 psi)이고, (vii) 인장 강도가 7 내지 105 메가파스칼 (1000 내지 15,000 psi)이고, (viii) 파단 신장율이 500 %이하이며, 우레탄, 카르보네이트, 아미드, 에스테르, 에테르, 아크릴레이트, 메타크릴레이트, 아크릴산, 메타크릴산, 술폰, 아크릴아미드, 할라이드 및 히드록시드로 구성된 군에서 선택된 적어도 하나의 잔기를 포함하며, 또한 열성형법에 의해 발현된, 작업편의 연마를 용이하게 하는 표면 형태를 갖는 연마 표면을 포함하는 친수성 재료를 포함하는 연마용 패드를 제공하는 단계,(b) 상기 작업편을 상기 패드에 밀착시켜 놓는 단계,(c) 상기 작업편과 패드 사이에 연마용 유체를 도입하는 단계, 및(d) 상기 패드와 작업편 사이에 상대적 운동을 유발하는 단계를 포함하는, 반도체 소자 또는 반도체 소자 전구체의 화학적 기계적 연마 방법.
- (a) 본래는 연마용 유체의 흡수 또는 운반 능력이 없는 친수성 연마 표면에 열성형을 통해 작은 치수 표면 형태를 발현시키고,(b) 연마 표면과 작업편 사이의 압력을 0.1 kg/㎡ 보다 크게 하여 연마 표면으로 작업편을 연마하는 것을 포함하는 작업편의 연마 방법.
- 제17항에 있어서, 상기 작업편의 연마 도중 마모 매질을 상기 연마 표면에 대고 상대적으로 이동시켜 상기 작은 치수의 표면 형태를 주기적으로 재생하는 것을 추가로 포함하는 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US5490697P | 1997-08-06 | 1997-08-06 | |
US60/054,906 | 1997-08-06 | ||
PCT/US1998/016289 WO1999007515A1 (en) | 1997-08-06 | 1998-08-05 | Improved polishing pads and methods relating thereto |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010022571A true KR20010022571A (ko) | 2001-03-26 |
KR100499601B1 KR100499601B1 (ko) | 2005-07-07 |
Family
ID=21994291
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2000-7001162A KR100499601B1 (ko) | 1997-08-06 | 1998-08-05 | 개선된 연마용 패드 및 연마 방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1011919B1 (ko) |
JP (1) | JP2001513450A (ko) |
KR (1) | KR100499601B1 (ko) |
CN (1) | CN1265618A (ko) |
DE (1) | DE69827147T2 (ko) |
WO (1) | WO1999007515A1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100838028B1 (ko) * | 2001-03-28 | 2008-06-12 | 가부시기가이샤 디스코 | 연마공구와 이것을 사용하는 연마방법 및 장치 |
KR20180049084A (ko) * | 2015-09-25 | 2018-05-10 | 캐보트 마이크로일렉트로닉스 코포레이션 | 높은 탄성률 비를 갖는 폴리우레탄 화학 기계적 연마 패드 |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998045087A1 (en) * | 1997-04-04 | 1998-10-15 | Rodel Holdings, Inc. | Improved polishing pads and methods relating thereto |
JP3918359B2 (ja) * | 1998-05-15 | 2007-05-23 | Jsr株式会社 | 研磨パッド用重合体組成物および研磨パッド |
JP4954377B2 (ja) * | 2000-02-04 | 2012-06-13 | 東洋ゴム工業株式会社 | 研磨パッド及びその製造方法 |
KR100770852B1 (ko) * | 2000-05-27 | 2007-10-26 | 롬 앤드 하스 일렉트로닉 머티리얼스 씨엠피 홀딩스 인코포레이티드 | 화학 기계적 평탄화용 그루브형 연마 패드 |
US6477926B1 (en) | 2000-09-15 | 2002-11-12 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Polishing pad |
US6679769B2 (en) | 2000-09-19 | 2004-01-20 | Rodel Holdings, Inc | Polishing pad having an advantageous micro-texture and methods relating thereto |
US6568997B2 (en) | 2001-04-05 | 2003-05-27 | Rodel Holdings, Inc. | CMP polishing composition for semiconductor devices containing organic polymer particles |
US7214623B2 (en) * | 2003-10-13 | 2007-05-08 | International Business Machines Corporation | Planarization system and method using a carbonate containing fluid |
WO2006095591A1 (ja) | 2005-03-08 | 2006-09-14 | Toyo Tire & Rubber Co., Ltd. | 研磨パッド及びその製造方法 |
KR100949560B1 (ko) | 2005-05-17 | 2010-03-25 | 도요 고무 고교 가부시키가이샤 | 연마 패드 |
JP4884725B2 (ja) | 2005-08-30 | 2012-02-29 | 東洋ゴム工業株式会社 | 研磨パッド |
JP4898172B2 (ja) * | 2005-09-08 | 2012-03-14 | 日本ミクロコーティング株式会社 | 研磨パッド及びその製造方法並びに研磨方法 |
JP5031236B2 (ja) | 2006-01-10 | 2012-09-19 | 東洋ゴム工業株式会社 | 研磨パッド |
JP5339680B2 (ja) | 2006-02-15 | 2013-11-13 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 表面の研磨 |
EP2489472A3 (en) | 2006-07-14 | 2012-09-12 | Saint-Gobain Abrasives, Inc. | Method of making a backingless abrasive article |
CN101489721B (zh) | 2006-08-28 | 2014-06-18 | 东洋橡胶工业株式会社 | 抛光垫 |
JP5008927B2 (ja) | 2006-08-31 | 2012-08-22 | 東洋ゴム工業株式会社 | 研磨パッド |
JP5078000B2 (ja) | 2007-03-28 | 2012-11-21 | 東洋ゴム工業株式会社 | 研磨パッド |
JP5314353B2 (ja) * | 2008-08-05 | 2013-10-16 | 旭ダイヤモンド工業株式会社 | 超砥粒チップ及び超砥粒工具 |
US8512427B2 (en) * | 2011-09-29 | 2013-08-20 | Rohm And Haas Electronic Materials Cmp Holdings, Inc. | Acrylate polyurethane chemical mechanical polishing layer |
FR3025741B1 (fr) | 2014-09-15 | 2019-05-24 | Airbus Group Sas | Film adhesif multifonctionnel pour la protection de surface de pieces |
CN104889874B (zh) * | 2015-06-25 | 2017-08-04 | 蓝思科技(长沙)有限公司 | 一种蓝宝石抛光用吸附垫及其制备方法 |
JP6380333B2 (ja) * | 2015-10-30 | 2018-08-29 | 株式会社Sumco | ウェーハ研磨装置およびこれに用いる研磨ヘッド |
CN105538047B (zh) * | 2015-12-11 | 2017-09-22 | 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院 | 一种航空有机透明制件的表面研抛方法 |
US20180134918A1 (en) * | 2016-11-11 | 2018-05-17 | Jh Rhodes Company, Inc. | Soft polymer-based material polishing media |
US20200130133A1 (en) * | 2017-07-11 | 2020-04-30 | 3M Innovative Properties Company | Abrasive articles including conformable coatings and polishing system therefrom |
CN109794863A (zh) * | 2019-03-05 | 2019-05-24 | 北京国瑞升精机科技有限公司 | 一种亲水性抛光膜及其制备方法 |
CN110744444B (zh) * | 2019-10-29 | 2022-02-15 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 研磨垫及研磨装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4129457A (en) * | 1977-05-23 | 1978-12-12 | International Business Machines Corporation | Post-polishing cleaning of semiconductor surfaces |
US4581287A (en) * | 1984-06-18 | 1986-04-08 | Creative Products Resource Associates, Ltd. | Composite reticulated foam-textile cleaning pad |
US4787732A (en) * | 1986-04-24 | 1988-11-29 | Nick Siviglia | Contact lens and method of making same |
US5396737B1 (en) * | 1989-01-18 | 1997-12-23 | Minnesota Mining & Mfg | Compound glazing or polishing pad |
US5007128B1 (en) * | 1989-01-18 | 1993-12-07 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Compounding,glazing or polishing pad |
US5157877A (en) * | 1990-04-27 | 1992-10-27 | Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. | Method for preparing a semiconductor wafer |
JP2632738B2 (ja) * | 1990-04-27 | 1997-07-23 | 信越半導体 株式会社 | パッキングパッド、および半導体ウェーハの研磨方法 |
MY114512A (en) * | 1992-08-19 | 2002-11-30 | Rodel Inc | Polymeric substrate with polymeric microelements |
US5704987A (en) * | 1996-01-19 | 1998-01-06 | International Business Machines Corporation | Process for removing residue from a semiconductor wafer after chemical-mechanical polishing |
-
1998
- 1998-08-05 CN CN 98807897 patent/CN1265618A/zh active Pending
- 1998-08-05 JP JP2000507086A patent/JP2001513450A/ja active Pending
- 1998-08-05 DE DE69827147T patent/DE69827147T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-08-05 WO PCT/US1998/016289 patent/WO1999007515A1/en active IP Right Grant
- 1998-08-05 EP EP98938386A patent/EP1011919B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-08-05 KR KR10-2000-7001162A patent/KR100499601B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100838028B1 (ko) * | 2001-03-28 | 2008-06-12 | 가부시기가이샤 디스코 | 연마공구와 이것을 사용하는 연마방법 및 장치 |
KR20180049084A (ko) * | 2015-09-25 | 2018-05-10 | 캐보트 마이크로일렉트로닉스 코포레이션 | 높은 탄성률 비를 갖는 폴리우레탄 화학 기계적 연마 패드 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1011919A4 (en) | 2000-11-02 |
EP1011919A1 (en) | 2000-06-28 |
DE69827147T2 (de) | 2006-03-02 |
JP2001513450A (ja) | 2001-09-04 |
CN1265618A (zh) | 2000-09-06 |
DE69827147D1 (de) | 2004-11-25 |
KR100499601B1 (ko) | 2005-07-07 |
WO1999007515A1 (en) | 1999-02-18 |
EP1011919B1 (en) | 2004-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100499601B1 (ko) | 개선된 연마용 패드 및 연마 방법 | |
US6739962B2 (en) | Polishing pads and methods relating thereto | |
US6022268A (en) | Polishing pads and methods relating thereto | |
US6682402B1 (en) | Polishing pads and methods relating thereto | |
EP1015176B1 (en) | Improved polishing pads and methods relating thereto | |
KR100571448B1 (ko) | 유리한 미세 조직을 갖는 연마 패드 | |
KR100585480B1 (ko) | 개선된 연마 패드 및 기판의 연마 방법 | |
US6328634B1 (en) | Method of polishing | |
US6648733B2 (en) | Polishing pads and methods relating thereto | |
US5489233A (en) | Polishing pads and methods for their use | |
US20020042200A1 (en) | Method for conditioning polishing pads | |
JP2002535843A5 (ko) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130604 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140609 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150602 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160527 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170601 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180529 Year of fee payment: 14 |
|
EXPY | Expiration of term |