KR20010018565A - 액정디스플레이 패널과 그 구동소자 사이의 접촉 저항값 측정방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명에 따른 측정 방법은, 액정디스플레이 패널로부터의 전극 라인들과, 상응하는 구동소자의 패드들 사이의 접촉 저항값을 측정하는 방법이다. 이 방법은, 구동소자와 동일하되, 인접되는 적어도 제1 및 제2 패드들이 서로 단락된 표본 구동소자를 제조하는 단계를 포함한다. 또한, 표본 구동소자에 상응하는 표본 액정디스플레이 패널이 제조된다. 다음에, 도전성 부착제가 사용되어, 구동소자와 표본소자의 패드들이 상응하는 액정디스플레이 패널들로부터의 전극 라인들에 압착된다. 다음에, 표본 구동소자의 제1 및 제2 패드들과 압착된 표본 액정디스플레이 패널로부터의 제1 및 제2 전극 라인들 사이에 전압이 인가되어, 흐르는 전류량이 측정된다. 그리고, 인가 전압과 전류량에 상응하는 저항값이 접촉 저항값으로서 구해진다.
Description
본 발명은, 액정디스플레이 장치의 품질 향상을 위하여 액정디스플레이 패널과 그 구동소자 사이의 접촉 저항값을 측정하는 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 액정디스플레이 패널로부터의 전극 라인들과, 상응하는 구동소자의 패드들 사이의 접촉 저항값을 측정하는 방법에 관한 것이다.
액정디스플레이 장치의 제조 공정에 있어서, 완성된 액정디스플레이 패널로부터의 전극 라인들과 상응하는 구동소자들의 패드들 사이를 도전성 접착제 예를 들어, 이방성 도전필름으로써 열과 압력에 의하여 압착하는 공정이 있다. 이와 같은 압착 공정에 있어서, 사용되는 온도와 압력 조건에 따라 전극 라인과 패드 사이의 접촉 저항값이 달라지게 된다. 물론 이 접촉 저항값이 적을수록 상응하는 액정디스플레이 장치의 품질이 개선될 수 있다.
따라서, 압착을 위한 최적의 온도 및 압력 조건을 설정하려면, 압착 공정 후, 액정디스플레이 패널로부터의 전극 라인들과 상응하는 구동소자들의 패드들 사이의 접촉 저항값을 측정하는 단계가 필요하다. 하지만, 이 접촉 저항값을 측정하기 위하여 구동소자의 패드에 프로빙을 하는 경우, 그 프로빙의 위치가 상대적으로 매우 정밀하지 못하여 그 측정값 역시 매우 정밀하지 못한 문제점이 있다.
본 발명의 목적은, 액정디스플레이 패널로부터의 전극 라인들과, 상응하는 구동소자의 패드들 사이의 접촉 저항값을 정밀하게 측정하는 방법을 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 의한 표본 구동소자의 패드들과 표본 액정디스플레이 패널의 전극 라인들이 압착된 상태를 보여주는 단면도이다.
도 2는 도 1의 표본 액정디스플레이 패널의 두 전극 라인들이 프로빙된 상태를 보여주는 사시도이다.
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 의한 표본 구동소자의 패드들과 표본 액정디스플레이 패널의 전극 라인들이 압착된 상태를 보여주는 단면도이다.
도 4는 도 3의 표본 액정디스플레이 패널의 네 전극 라인들이 프로빙된 상태를 보여주는 사시도이다.
〈도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〉
1, 8...표본 구동소자, 2, 9...표본 액정디스플레이 패널,
3, 924...단락부, 51...직류 전원,
52...전류계, 7...회로기판,
11, 12, 13, 14, 81, 82, 83, 84...패드,
21, 22, 23, 24, 91, 92, 93, 94...아이티오 전극 라인,
41, 42, 43, 44...도전볼, 61, 62, 63, 64...프로브.
상기 목적을 이루기 위한 본 발명의 측정 방법은, 액정디스플레이 패널로부터의 전극 라인들과, 상응하는 구동소자의 패드들 사이의 접촉 저항값을 측정하는 방법이다. 이 방법은, 상기 구동소자와 동일하되, 인접되는 적어도 제1 및 제2 패드들이 서로 단락된 표본 구동소자를 제조하는 단계를 포함한다. 또한, 상기 표본 구동소자에 상응하는 표본 액정디스플레이 패널이 제조된다. 다음에, 도전성 부착제가 사용되어, 상기 구동소자와 상기 표본소자의 패드들이 상응하는 액정디스플레이 패널들로부터의 전극 라인들에 압착된다. 다음에, 상기 표본 구동소자의 제1 및 제2 패드들과 압착된 상기 표본 액정디스플레이 패널로부터의 제1 및 제2 전극 라인들 사이에 전압이 인가되어, 흐르는 전류량이 측정된다. 그리고, 상기 인가 전압과 전류량에 상응하는 저항값이 상기 접촉 저항값으로서 구해진다.
상기 본 발명의 측정 방법에 의하면, 상기 표본 액정디스플레이 패널로부터의 제1 및 제2 전극 라인들 사이에 전압이 인가됨으로써 상기 접촉 저항값이 구해지므로, 안정되고 균일한 전압 인가가 가능하여 보다 정밀한 접촉 저항값을 구할 수 있다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예가 상세히 설명된다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 의한 표본 구동소자(1)의 패드들(11, 12, 13, 14)과 표본 액정디스플레이 패널(2)의 전극 라인들(21, 22, 23, 24)이 압착된 상태를 보여준다. 여기서, 전극 라인들(21, 22, 23, 24)은 앞면 글라스 기판 또는 뒷면 글라스 기판에 형성되어 있다. 도 2는 도 1의 표본 액정디스플레이 패널(2)의 두 전극 라인들(21, 22)이 프로빙된 상태를 보여준다.
도 1 및 2를 참조하면, 본 발명에 따른 측정 방법은, 액정디스플레이 패널(2)로부터의 아이티오(Indiun-Tin-Oxide) 전극 라인들(21, 22, 23, 24)과, 상응하는 구동소자(1)의 패드들(11, 12, 13, 14) 사이에 형성된 도전볼(41, 42, 43, 44)의 접촉 저항값을 측정하는 방법이다. 이 도전볼(41, 42, 43, 44)은 이방성 도전필름이 압착됨에 의하여 분리되어 나타나며 금과 같은 금속재이다.
표본 구동소자(1)는, 다른 구동 소자와 동일한 구조이되, 인접되는 제1 및 제2 패드들(11, 12)이 서로 단락되도록 제조된다. 표본 구동소자(1)에 상응하는 표본 액정디스플레이 패널(2)은 다른 액정디스플레이 패널과 동일한 구조이다. 표본 구동소자(1)와 표본 액정디스플레이 패널(2) 사이에는, 도전성 부착제가 사용되어, 다른 구동소자들과 표본 구동소자(1)의 패드들이 상응하는 액정디스플레이 패널들로부터의 전극 라인들에 압착된다.
다음에, 표본 구동소자(1)의 제1 및 제2 패드들(11, 12)과 압착된 표본 액정디스플레이 패널로부터의 제1 및 제2 전극 라인들(21, 22) 사이에 직류전원(51)의 전압이 인가되어, 흐르는 전류량이 전류계(52)로써 측정된다. 그리고, 인가 전압과 전류량에 상응하는 저항값이 접촉 저항값으로서 구해진다. 여기서, 전류는 직류전원(51)의 양극 단자에서 출발하여, 제1 전극 라인(21), 제1 도전볼(41), 제1 패드(11), 단락부(3), 제2 패드(12), 제2 도전볼(42) 제2 전극 라인(22) 및 전류계(52)를 순서대로 경유하여 직류전원(51)의 음극 단자로 흐른다. 따라서, 인가 전압을 전류량으로 나눈 결과인 저항값은, 제1 도전볼(41)의 저항값과 제2 도전볼(42)의 저항값이 합쳐진 값이다.
이에 따라, 제1 및 제2 패드들(11)에 프로빙하지 않고 제1 및 제2 전극 라인들(21, 22)에만 프로브들(61, 62)을 접촉시킴으로써, 안정되고 균일한 전압 인가가 가능하여 보다 정밀한 접촉 저항값을 구할 수 있다.
도 3은 본 발명의 제2 실시예에 의한 표본 구동소자(8)의 패드들(81, 82, 83, 84)과 표본 액정디스플레이 패널(9)의 전극 라인들(91, 92, 93, 94)이 압착된 상태를 보여준다. 도 4는 도 3의 표본 액정디스플레이 패널(9)의 네 전극 라인들(91, 92, 93, 94)이 프로빙된 상태를 보여준다.
도 3 및 4를 참조하면, 본 발명에 따른 측정 방법은, 액정디스플레이 패널(9)로부터의 아이티오 전극 라인들(91, 92, 93, 94)과, 상응하는 구동소자(8)의 패드들(81, 82, 83, 84) 사이에 형성된 도전볼(41, 42, 43, 44)의 접촉 저항값을 측정하는 방법이다.
표본 구동소자(8)는, 다른 구동소자와 동일한 구조이되, 순서대로 인접되는 제1, 제2 및 제3 패드들(81, 82, 83)이 서로 단락되고, 제3 패드(83)와 인접된 제4 패드(84)가 제3 패드(83)와 단락되지 않도록 제조된다. 표본 구동소자(8)에 상응하는 표본 액정디스플레이 패널(9)은 다른 액정디스플레이 패널과 동일하되, 제1 및 제3 패드들(81, 83)과 상응하는 제1 및 제3 전극 라인들(91, 93)이 액정디스플레이 패널(9)로부터 단절되고, 제2 및 제4 패드들(82, 84)에 상응하는 제2 및 제4 전극 라인들(92, 94)이 서로 단락되도록 제조된다. 표본 구동소자(9)와 표본 액정디스플레이 패널(8) 사이에는, 도전성 부착제가 사용되어, 다른 구동소자들과 표본 구동소자(8)의 패드들이 상응하는 액정디스플레이 패널들로부터의 전극 라인들에 압착된다.
다음에, 표본 구동소자(8)의 제1 및 제4 패드들(81 84)과 압착된 제1 및 제4 전극 라인들(91, 94) 사이에 직류전원(51)의 전압이 인가되어, 표본 구동소자(8)의 제2 및 제3 패드들(82, 83)과 압착된 제2 및 제3 전극 라인들(92, 93) 사이에 흐르는 전류량이 전류계(52)로써 측정된다. 그리고, 인가 전압과 전류량에 상응하는 저항값이 접촉 저항값으로서 구해진다. 여기서, 전류는 직류전원(51)의 양극 단자에서 출발하여, 제1 전극 라인(91), 제1 도전볼(41), 제1 패드(81), 단락부(3) 및 제2 패드(82)를 경유하고, 제2 패드(82)에서부터 두 개의 통로로 분할되어 흐른다. 그중 제1 전류는 제2 도전볼(42)로 흐르고, 제2 전류는 단락부(3), 제3 패드(83), 제3 도전볼(43) 및 전류계(52)로 흐르는 전류이다. 제1 및 제2 전류들은 제3 전극 라인(93)에서 합류되어 단락부(924) 및 제4 전극 라인(94)을 통하여 직류전원(51)의 음극 단자로 흐른다.
이에 따라, 제1, 제2, 제3 및 제4 패드들(81, 82, 83, 84)에 프로빙하지 않고 제1, 제2, 제3 및 제4 전극 라인들(91, 92, 93, 94)에만 프로브들(61, 62, 63, 64)을 접촉시킴으로써, 안정되고 균일한 전압 인가가 가능하여 보다 정밀한 접촉 저항값을 구할 수 있다.
이상 설명된 바와 같이, 본 발명에 따른 접촉 저항값 측정 방법에 의하면, 표본 구동소자의 패드들에 프로빙하지 않고서도 표본 액정디스플레이 패널로부터의 전극 라인들 사이에 전압을 인가하여 접촉 저항값이 구해지므로, 안정되고 균일한 전압 인가가 가능하여 보다 정밀한 접촉 저항값을 구할 수 있다.
본 발명은, 상기 실시예들에 한정되지 않고, 청구범위에서 정의된 발명의 사상 및 범위 내에서 당업자에 의하여 변형 및 개량될 수 있다.
Claims (2)
- 액정디스플레이 패널로부터의 전극 라인들과, 상응하는 구동소자의 패드들 사이의 접촉 저항값을 측정하는 방법에 있어서,상기 구동소자와 동일하되, 인접되는 적어도 제1 및 제2 패드들이 서로 단락된 표본 구동소자를 제조하는 단계;상기 표본 구동소자에 상응하는 표본 액정디스플레이 패널을 제조하는 단계;도전성 부착제를 사용하여, 상기 구동소자와 상기 표본 구동소자의 패드들을 상응하는 액정디스플레이 패널들로부터의 전극 라인들에 압착시키는 단계;상기 표본 구동소자의 제1 및 제2 패드들과 압착된 상기 표본 액정디스플레이 패널로부터의 제1 및 제2 전극 라인들 사이에 전압을 인가하여, 흐르는 전류량을 측정하는 단계; 및상기 인가 전압과 전류량에 상응하는 저항값을 상기 접촉 저항값으로서 구하는 단계를 포함한 측정 방법.
- 액정디스플레이 패널로부터의 전극 라인들과, 상응하는 구동소자의 패드들 사이의 접촉 저항값을 측정하는 방법에 있어서,상기 구동소자와 동일하되, 순서대로 인접되는 적어도 제1, 제2 및 제3 패드들이 서로 단락되고, 상기 제3 패드와 인접된 제4 패드가 상기 제3 패드와 단락되지 않은 표본 구동소자를 제조하는 단계;상기 액정디스플레이 패널과 동일하되, 상기 제1 및 제3 패드들과 상응하는 제1 및 제3 전극 라인들이 상기 액정디스플레이 패널로부터 단절되고, 상기 제2 및 제4 패드들에 상응하는 제2 및 제4 전극 라인들이 서로 단락된 표본 액정디스플레이 패널을 제조하는 단계;도전성 부착제를 사용하여, 상기 구동소자와 상기 표본소자의 패드들을 상응하는 액정디스플레이 패널들로부터의 전극 라인들에 압착시키는 단계;상기 표본 구동소자의 제1 및 제4 패드들과 압착된 상기 제1 및 제4 전극 라인들 사이에 전압을 인가하고, 상기 표본 구동소자의 제2 및 제3 패드들과 압착된 상기 제2 및 제3 전극 라인들 사이에 흐르는 전류량을 측정하는 단계; 및상기 인가 전압과 전류량에 상응하는 저항값을 상기 접촉 저항값으로서 구하는 단계를 포함한 측정 방법.
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| KR1019990034572A KR100313105B1 (ko) | 1999-08-20 | 1999-08-20 | 액정디스플레이 패널과 그 구동소자 사이의 접촉 저항값 측정방법 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| KR1019990034572A KR100313105B1 (ko) | 1999-08-20 | 1999-08-20 | 액정디스플레이 패널과 그 구동소자 사이의 접촉 저항값 측정방법 |
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|---|---|
| KR (1) | KR100313105B1 (ko) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100806910B1 (ko) * | 2002-01-31 | 2008-02-22 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치 및 이의 제조시의 본딩 상태 측정 방법 |
| KR20150072263A (ko) * | 2013-12-19 | 2015-06-29 | 삼성디스플레이 주식회사 | 구동 칩 및 이를 포함하는 표시 장치 |
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-
1999
- 1999-08-20 KR KR1019990034572A patent/KR100313105B1/ko not_active IP Right Cessation
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| KR20150072263A (ko) * | 2013-12-19 | 2015-06-29 | 삼성디스플레이 주식회사 | 구동 칩 및 이를 포함하는 표시 장치 |
| US11313891B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-04-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device |
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