KR20000039358A - 광기록/재생장치의 틸트 조정장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 별도의 틸트 감지장치를 사용하지 않고 광픽업으로부터 검출된 고주파신호(RF)에 의하여 틸트 각도를 감지할 수 있도록 한 틸트 조정장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 광기록/재생장치의 틸트 조정장치는 디스크를 광학적으로 억세스하기 위한 광픽업수단과, 광픽업수단으로부터 광전변환된 신호로부터 재생신호를 검출하기 위한 재생신호 검출수단과, 재생신호에 근거하여 틸트 각도를 검출하기 위한 제어수단과, 제어수단의 제어에 의해 디스크와 광픽업수단 사이의 광축을 보정하기 위한 틸트조정수단을 구비한다.
이러한 구성에 의하여, 본 발명에 따른 광기록/재생장치의 틸트 조정장치는 별도의 틸트 센서를 사용하지 않고 재생신호에 의해 틸트 각도를 정밀하게 감지하여 틸트를 보정함으로써 재생신호에 포함되는 지터 성분을 최소화할 수 있게 된다.

Description

광기록/재생장치의 틸트 조정장치(Tilt Control Apparatus in Optical Recording/Reproducing Apparatus)
본 발명은 광기록/재생장치에 관한 것으로, 특히 별도의 틸트 감지장치를 사용하지 않고 광픽업으로부터 검출된 고주파신호(RF)에 의하여 틸트 각도를 감지할 수 있도록 한 틸트 조정장치에 관한 것이다.
초기의 광디스크인 컴팩트 디스크-롬(CD-ROM) 이후, 광디스크의 고밀도화와 광기록/재생장치의 고배속화가 급속히 발전되고 있다. 최근에는 정보의 재생뿐 아니라 기록까지 가능한 광디스크가 등장하고 있다.
이와 같은 고밀도의 광디스크에 정보를 안정적으로 기록/재생하기 위해서는 광픽업으로부터 출사되는 광빔의 광축과 광디스크의 반사면이 이루는 각도가 수직이 되도록 조정되어야만 한다.
일반적으로, 광픽업으로부터 출사되는 광빔의 광축이 디스크 반사면과 수직을 이루지 못하게 되면 재생신호가 열화되어 재생신호의 신호 대 잡음비를 떨어 뜨리게 된다.
광축과 디스크가 수직을 이루지 못하는 원인은 광픽업 자체의 오차, 각종 주변부품의 오차, 디스크의 뒤틀림 등이 있다. 광축으로부터 디스크가 수직에서 벗어나는 값을 틸트(Tilt)라 하며 틸트의 정도에 따라서 재생에러의 발생정도가 달라진다.
통상적으로, 재생에러에 해당하는 지터(jitter)가 15% 이상되면 정상적인 재생이 불가능한 것으로 알려져 있다.
틸트 각도에 따른 지터량의 변화는 도 1과 같다. 도 1을 통하여 알 수 있는 바, 틸트 각도가 증가하면 지터는 포물선 형태로 증가하게 된다. 따라서, 틸티 각도를 0으로 유지할 수 있다면 재생신호에 에러를 유발시키는 지터를 최소화시킬 수 있다. 특히, DVD-ROM, DVD-RAM과 같이 고밀도 디스크를 재생하는 데 있어서 틸트 각도에 따라 지터가 매우 민감하게 변화하게 되므로 각종 부품의 오차 및 조립 누적오차 등에 의해 발생되는 틸트 각도가 작더라도 정상적인 재생이 불가능하게 된다.
이러한 틸트를 보정하기 위하여, 광기록/재생장치에는 별도의 틸트 조정장치를 구비한다. 종래의 틸티 조정장치는 틸트 각도를 감지하여 광픽업의 각도를 조정함으로써 틸트 각도를 보상하게 된다. 이러한 틸트 보정 원리는 도 2와 같다.
도 2를 참조하면, 틸트 각도는 디스크의 회전에 따라서 변하는 교류(AC) 성분과 디스크의 회전과 무관하게 각종 부품의 오차에 의해 발생하는 직류(DC) 성분에 의해 나타난다. 틸트 센서(Tilt sensor)를 사용하지 않는 경우, 틸트 각도를 감지하는 대신 재생신호로부터 지터를 감지하는 방법을 사용하게 된다. 틸트 각도의 조정은 지터를 최소화하는 방향으로 광픽업의 각도를 조정하여 틸트 각도의 직류(DC) 성분의 절대값이 최소값이 되도록 한다.
그러나 종래의 틸트 조정장치는 지터가 어느 정도 이하가 되면 지터의 최소값을 정확히 검출하기가 불가능하여 일정 범위 내에서만 틸트를 조정하게 되는 문제점이 있다. 따라서, 틸트 조정범위가 일정 범위 내로 한정될 수밖에 없다.
즉, 정밀한 조정이 불가능하게 되고 제품마다 조정된 정도가 다르게 되기 때문에 균일한 성능을 가지지 못하는 단점이 있다. 따라서, 별도의 틸트 센서를 사용하지 않고도 재생신호를 이용하여 보다 정밀한 틸트 각도를 검출할 수 있는 방안이 요구되고 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 별도의 틸트 센서를 사용하지 않고 재생신호에 의해 틸트 각도를 정밀하게 감지할 수 있도록 한 광기록/재생장치의 틸트 조정장치를 제공하는데 있다.
도 1은 CD-ROM 및 DVD-ROM에서 틸트 각도에 따른 지터의 변화를 나타내는 특성도.
도 2는 종래 틸트 조정장치의 틸트 조정범위를 나타내는 특성도.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 광기록/재생장치의 틸트 조정장치를 나타내는 블록도.
도 4는 본 발명의 틸트 조정원리를 나타내는 도면.
도 5는 도 4에서 틸트 각도가 (a)인 경우에 검출되는 고주파신호를 나타내는 파형도.
도 6은 도 4에서 틸트 각도가 (b)인 경우에 검출되는 고주파신호를 나타내는 파형도.
도 7은 도 4에서 틸트 각도가 (c)인 경우에 검출되는 고주파신호를 나타내는 파형도.
도 8은 도 4에서 틸트 각도가 (d)인 경우에 검출되는 고주파신호를 나타내는 파형도.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : 광픽업 2 : 스핀들 모터
3 : 디스크 4 : 가이드 샤프트
5 : 각도조절기구 10 : 제어부
11 : 스핀들 모터 위상 검출기 12 : RF 신호 처리부
13 : RF 형상/H 검출부 14 : 각도조절 구동부
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 광기록/재생장치의 틸트 조정장치는 디스크를 광학적으로 억세스하기 위한 광픽업수단과, 광픽업수단으로부터 광전변환된 신호로부터 재생신호를 검출하기 위한 재생신호 검출수단과, 재생신호에 근거하여 틸트 각도를 검출하기 위한 제어수단과, 제어수단의 제어에 의해 디스크와 광픽업수단 사이의 광축을 보정하기 위한 틸트조정수단을 구비한다.
상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부 도면을 참조한 실시예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.
이하, 도 3 내지 도 8을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명하기로 한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 광기록/재생장치의 틸트 조정장치를 나타내는 블록도이다.
도 3의 구성에서, 본 발명에 따른 광기록/재생장치의 틸트 조정장치는 스핀들 모터(2)의 1 회전 주기를 검출하기 위한 스핀들 모터 위상 검출기(11)와, 광픽업(1)의 출력신호로부터 고주파신호(RF)를 검출하기 위한 RF 신호처리부(12)와, 스핀들 모터 위상 검출기(11) 및 RF 신호처리부(12)에 공통으로 접속되어 스핀들 모터의 1 회전 주기 내에서 고주파신호의 형상과 골(valley)의 레벨차를 검출하기 위한 RF 형상/H 검출부(13)와, 고주파신호의 형상과 골의 레벨차에 따라 틸트 각도 조정신호를 발생하기 위한 제어부(10)와, 제어부(10)의 제어에 따라 각도조절기구(5)를 조정하기 위한 각도조절 구동부(14)를 구비한다. 디스크(1)는 스핀들 모터(2)의 턴테이블(도시하지 않음)에 안착되어 스핀들 모터(2)의 구동에 의해 회전하게 된다. 스핀들 모터 위상 검출기(11)는 스핀들 모터(11)의 매 1회전마다 감지신호를 발생하는 센서(도시하지 않음)에 접속되어 감지신호에 따라 스핀들 모터(2)의 1회전 정보를 RF 형상/H 검출부(13)에 전송하게 된다. 광픽업(1)은 가이드 샤프트(4)를 따라 디스크(1)의 반경 방향으로 이송하면서 디스크(3)를 랜덤 억세스(Random access)하게 된다. 가이드 샤프트(4)는 도시하지 않은 슬레드 모터의 구동에 의해 회전하여 광픽업(1)을 이송시킨다. 이 가이드 샤프트(4)는 각도조절기구(5)에 의해 높이가 조절된다. RF 신호처리부(12)는 광픽업(1)에 설치된 광검출소자(도시하지 않음)로부터 출력되는 신호를 신호처리하여 고주파신호(RF)를 검출하게 된다. 여기서, 고주파신호(RF)는 재생신호를 검출하는데 이용된다. 각도조절 구동부(14)는 제어부(10)의 제어에 의해 각도조절기구(5)를 구동함으로써 광픽업(1)으로부터 출사되는 광빔의 광축을 조정하게 된다.
제어부(10)는 디스크(1)의 1회전 내에 검출되는 고주파신호의 형상 및 골의 레벨차(H)에 따라 각도조절 구동부(14)를 제어하여 광픽업(1)의 틸트 각도를 조정하여 틸트 각도를 최소화시키는 역할을 한다.
제어부(10)에 의한 틸트 보정원리를 상세히 하면 다음과 같다.
도 4는 본 발명에 따른 틸트 검출원리를 나타내는 도면이다.
도 4를 참조하면, 틸트 각도(a)와 같이 음의 방향으로 많이 치우치게 되면 교류(AC) 성분이 최대 값일 때에도 틸트 각도가 0이 되지 않는다. 이 때, 디스크(3)가 1 회전하는 동안 검출되는 고주파신호(RF)의 파형은 도 5와 같다. 틸트 각도(a)의 점 (a-1)으로부터 디스크(3)가 1회전하는 동안 틸트의 교류(AC) 성분이 90°간격으로 변할 때마다 고주파신호(RF)의 레벨차를 살펴보면, 먼저 점(a-1)으로부터 점(a-2)로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 줄어들게 되므로 지터가 감소되는 방향으로 진행된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 지터가 감소하게 되므로 이에 반비례하여 포락선(envelop) 레벨은 증가하게되어 점(a-2)에서 최대가 된다. 점(a-2)로부터 점(a-4)로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 증가하게 되므로 고주파신호(RF)의 지터는 증가하게 된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 지터가 증가하게 되므로 포락선 레벨은 감소되어 점(a-4)에서 최소가 된다. 그리고 점(a-4)에서 점(a-1)으로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 다시 감소되므로 고주파신호(RF)의 지터는 감소되어 고주파신호(RF)의 포락선 레벨은 증가하게 된다. 이와 같이, 디스크의 1회전 동안 틸트(a)에 대하여 검출되는 고주파신호(RF)는 그 주기가 1이고 포락선레벨의 산(최대값)과 골(최소값)이 각각 1씩 나타나게 된다.
도 4에 있어서, 틸트 각도(b)와 같이 틸트 각도의 직류(DC) 성분이 0인 위치에 있다면 틸트 각도는 교류(AC) 성분에 의해서만 나타나게 된다. 이 때, 디스크(3)가 1 회전하는 동안 검출되는 고주파신호(RF)의 파형은 도 6과 같다. 틸트 각도(b)의 점 (b-1)으로부터 디스크(3)가 1회전하는 동안 틸트의 교류(AC) 성분이 90°간격으로 변할 때마다 고주파신호(RF)의 레벨차를 살펴보면, 먼저 점(b-1)으로부터 점(b-2)로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 증가되므로 이에 비례하여 지터가 증가된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 지터가 증가되는 만큼 이에 반비례하여 포락선(envelop) 레벨은 감소하게 되어 점(b-2)에서 최소가 된다. 점(b-2)로부터 점(b-3)로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 감소하게 되므로 고주파신호(RF)의 지터는 감소된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 지터가 감소되므로 포락선 레벨은 점(b-3)에서 최대가 된다. 점(b-3)에서 점(b-4)로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 증가하게 되므로 고주파신호(RF)의 지터는 증가된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 지터가 증가하는 만큼 포락선 레벨이 감소되어 점(b-4)에서 최소가 된다. 그리고 점(b-4)에서 점(b-1)으로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 다시 감소되므로 고주파신호(RF)의 지터는 감소되어 고주파신호(RF)의 포락선 레벨은 증가하게 된다. 이와 같이, 디스크의 1회전 동안 틸트(b)에 대하여 검출되는 고주파신호(RF)는 그 주기가 2이고 포락선레벨의 산(최대값)과 골(최소값)이 각각 2씩 나타나게 된다.
도 5 및 도 6에서 알 수 있는 바, 틸트 각도(a)와 틸트 각도(b)에서 검출되는 고주파신호(RF)는 그 주기에 의해 구별될 수 있다.
도 4에 있어서, 틸트 각도(c)와 같이 틸트 각도가 양의 방향으로 많이 치우치게 되면 교류(AC) 성분이 최소값일 때에도 틸트 각도가 0이 되지 않게 된다. 이 때, 디스크(3)가 1 회전하는 동안 검출되는 고주파신호(RF)의 파형은 도 7과 같다. 틸트 각도(c)의 점 (c-1)으로부터 디스크(3)가 1회전하는 동안 틸트의 교류(AC) 성분이 90°간격으로 변할 때마다 고주파신호(RF)의 레벨차를 살펴보면, 틸트 각도(a)에서 검출되는 고주파신호(RF)의 형태와 유사하게 그 주기가 1이 되고 포락선레벨의 산(최대값)과 골(최소값)이 각각 1씩 나타나게 됨을 알 수 있다. 먼저 점(c-1)으로부터 점(c-2)로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 증가되므로 이에 비례하여 지터가 증가된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 지터가 증가되는 만큼 포락선(envelop) 레벨은 감소하게 되어 점(c-2)에서 최소가 된다. 점(c-2)로부터 점(c-4)로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 감소하게 되므로 고주파신호(RF)의 지터는 감소된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 지터가 감소되는 만큼 포락선 레벨은 증가되어 점(c-4)에서 최대가 된다. 그리고 점(c-4)에서 점(c-1)으로 디스크(3)가 회전하여 1회전을 마치게 되면 틸트 각도가 다시 증가되므로 고주파신호(RF)의 지터는 증가되어 고주파신호(RF)의 포락선 레벨은 감소하게 된다. 이와 같이 틸트 각도(c)는 틸트 각도(a)와 마찬가지로, 디스크(3)의 1회전 동안 검출되는 고주파신호(RF)의 주기가 1이 되므로 틸트 각도(b)와 명확히 구별된다.
도 4에 있어서, 틸트 각도 (d)와 같이 틸트 각도가 틸트 각도 0에 음에 방향으로 근접하게 되면 직류(DC) 성분의 절대값이 교류(AC) 성분의 최대값보다 작게 되어 교류(AC) 성분이 디스크(3)가 1회전하는 동안 임의의 점에서 틸트 각도 0인 점이 존재하게 된다. 이 때, 디스크(3)가 1 회전하는 동안 검출되는 고주파신호(RF)의 파형은 도 8과 같다. 틸트 각도(d)의 점 (d-1)으로부터 디스크(3)가 1회전하는 동안 틸트의 교류(AC) 성분이 변할 때마다 고주파신호(RF)의 레벨차를 살펴보면, 먼저 점(d-1)으로부터 점(d-1')로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 감소되어 지터가 감소되기 시작하여 점(d-1')에서 틸트 각도가 0이 될 때 지터는 최소가 된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 지터가 감소되는 만큼 포락선(envelop) 레벨은 증가되어 점(d-1')에서 최대가 된다. 점(d-1')으로부터 점(d-2)로 디스크(3)가 회전하는 동안은 틸트 각도가 증가되어 점(d-2)에서 양의 방향으로 최대값이 되므로 지터는 증가된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 지터가 증가되는 만큼 포락선 레벨이 감소되어 점(d-2)에서 포락선 레벨은 AL2로 감소된다. 점(d-2)에서 점(d-2')으로 디스크(3)가 회전하게 되면 틸트 각도가 다시 감소되어 지터가 감소되고 점(d-2')에서 틸트 각도가 0이 될 때 지터는 최소값이 된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 포락선 레벨이 증가되어 점(d-1')에서와 마찬가지로 최대가 된다. 점(d-2')에서 점(d-4)으로 디스크(3)가 회전하게 되면 틸트 각도가 음의 방향으로 증가되어 지터가 증가되어 점(d-4)에서 최대가 되어 지터가 최대값이 된다. 이 때, 고주파신호(RF)는 포락선 레벨이 감소되어 점(d-4)에서 최소값 AL1이 된다. 그리고 점(d-4)에서 점(d-1)으로 디스크(3)가 회전하여 1 회전을 마치게 되면 틸트 각도가 다시 감소되어 지터가 감소하게 되므로 고주파신호(RF)의 포락선 레벨이 다시 증가하게 된다. 이 경우는 틸트 각도(b)의 경우와 마찬가지로 산(최대값)과 골이 각각 2씩 나타나지만 디스크(3)의 1 회전에 검출되는 고주파신호(RF)에서 골(최소값)의 레벨값이 AL1, AL2로 서로 다르게 되어 H만큼의 레벨차가 나타나게 됨과 아울러, 각각의 산과 골까지의 거리가 T와 T'으로 서로 다르게 나타난다. 즉, 첫 번째 골인 점(d-2)에서의 레벨은 AL2인 반면 두 번째 골인 점(d-4)에서의 레벨은 AL1(AL2)이 된다. 또한, 점(d-2)에서 점(d-2') 까지의 거리는 T가 되고, 점(d-2')에서 점(d-4)까지의 거리는 T'이 된다. 한편, 틸트 각도(d')에서 검출되는 고주파신호(RF) 역시 틸트 각도(d)에서 검출되는 고주파신호(RF)와 유사한 특성을 갖게 되어 고주파신호(RF)에서 골의 레벨값이 서로 다르게 되고, 각각의 산과 골까지의 거리가 서로 다르게 나타난다. 따라서, 틸트 각도(d) 또는 틸트 각도(d')에서 검출되는 고주파신호(RF)는 틸트 각도(a) 또는 틸트 각도(c) 또는 틸트 각도(b)에서 검출되는 고주파신호(RF)의 크기와 형상으로부터 명확히 구별된다.
이와 같이, 서로 다른 틸트 각도에서 검출되는 고주파신호(RF)의 크기, 주기 및 형상이 다르게 되므로 제어부(10)는 디스크(3)의 1회전 주기에서 검출되는 고주파신호(RF)에 의해 틸트 각도를 판별하게 된다. RF 형상/H 검출부(13)는 스핀들 모터 위상 검출기(11)로부터 검출되는 디스크 1회전 정보에 따라 디스크(3)의 매 1회전마다 고주파신호(RF)의 크기, 주기 및 골의 레벨차(H)를 검출하여 제어부(10)에 전송하게 된다. 제어부(10)는 RF 형상/H 검출부(13)로부터 전송되는 고주파신호(RF)의 특성으로부터 현재의 틸트 각도를 판별하여 틸트 각도의 직류(DC) 성분이 (a) 또는 (c)라면 각도조절 구동부(14)를 제어하여 틸트 각도를 조정하여 틸트 각도의 직류(DC) 성분을 (d) 또는 (d')으로 조정되도록 한다. 또한, 제어부(10)는 현재의 틸트 각도의 직류(DC) 성분이 (d) 또는 (d')인 경우로 판별되면 골의 레벨차(H)를 소정 허용치(Th)와 비교하여 골의 레벨차(H)가 소정 허용치(Th)보다 크게 되면 각도조절 구동부(14)를 조정하여 골의 레벨차(H)가 소정 허용치(Th) 이내가 될 때까지 틸트 각도를 줄이게 된다. 한편, 제어부(10)는 틸트 각도의 직류(DC) 성분이 (d) 또는 (d')인 경우로 판별되면 골의 레벨차(H) 대신에 산과 골의 거리차의 절대값(｜T-T'｜)을 소정 허용치(Th')와 비교하여 산과 골의 거리차의 절대값(｜T-T'｜)이 소정 허용치(Th') 이내에 들도록 틸트 각도를 조정함으로써 틸트 각도가 0이 되도록 정밀하게 조정할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 광기록/재생장치의 틸트 조정장치는 별도의 틸트 센서를 사용하지 않고 재생신호에 의해 틸트 각도를 정밀하게 감지하여 틸트를 보정함으로써 재생신호에 포함되는 지터 성분을 최소화할 수 있게 된다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.

Claims (6)

  1. 디스크를 광학적으로 억세스하기 위한 광픽업수단과,
    상기 광픽업수단으로부터 광전변환된 신호로부터 재생신호를 검출하기 위한 재생신호 검출수단과,
    상기 재생신호에 근거하여 틸트 각도를 검출하기 위한 제어수단과,
    상기 제어수단의 제어에 의해 상기 디스크와 광픽업수단 사이의 광축을 보정하기 위한 틸트조정수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 광기록/재생장치의 틸트 조정장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 디스크의 매 1회전 정보를 발생하는 위상검출수단과,
    상기 광픽업수단의 이송을 안내하는 샤프트부재와,
    상기 샤프트부재에 체결되어 상기 틸트조정수단의 제어에 의해 상기 샤프트부재의 수직방향 높이를 조정하는 틸트조정부재를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 광기록/재생장치의 틸트 조정장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 제어수단은 상기 디스크의 매 1회전당 검출되는 고주파신호 형태에 따라 상기 디스크와 광픽업수단 사이의 광축을 보정하는 것을 특징으로 하는 광기록/재생장치의 틸트 조정장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어수단은 상기 디스크의 매 1회전당 검출되는 고주파신호의 주기가 1인 경우, 상기 고주파신호의 주기가 2가 되도록 상기 디스크와 광픽업수단 사이의 광축을 보정하는 것을 특징으로 하는 광기록/재생장치의 틸트 조정장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어수단은 상기 디스크의 매 1회전당 검출되는 상기 고주파신호의 골들간 레벨이 일정하도록 상기 디스크와 광픽업수단 사이의 광축을 보정하는 것을 특징으로 하는 광기록/재생장치의 틸트 조정장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어수단은 상기 디스크의 매 1회전당 검출되는 고주파신호 내에서 산과 골간의 거리가 일정하도록 상기 디스크와 광픽업수단 사이의 광축을 보정하는 것을 특징으로 하는 광기록/재생장치의 틸트 조정장치.
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