KR20000003605A - 파워-업 감지장치 - Google Patents

파워-업 감지장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20000003605A
KR20000003605A KR1019980024865A KR19980024865A KR20000003605A KR 20000003605 A KR20000003605 A KR 20000003605A KR 1019980024865 A KR1019980024865 A KR 1019980024865A KR 19980024865 A KR19980024865 A KR 19980024865A KR 20000003605 A KR20000003605 A KR 20000003605A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
power
supply voltage
signal
external power
power supply
Prior art date
Application number
KR1019980024865A
Other languages
English (en)
Inventor
신상호
정해숙
Original Assignee
김영환
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김영환, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김영환
Priority to KR1019980024865A priority Critical patent/KR20000003605A/ko
Publication of KR20000003605A publication Critical patent/KR20000003605A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/143Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/148Details of power up or power down circuits, standby circuits or recovery circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치에 관한 것으로, 외부 전원전압이 문턱전압 이상이 되면 이를 감지하고, 내부 RC딜레이를 이용하여 소정의 시간만큼 딜레이시켜 파워-업 신호를 발생시키도록 제어하는 제1 파워-업 감지부와; 상기 외부 전원전압 인가단과 상기 제1 파워-업 감지부의 출력단 사이에 연결되어 설정된 특정전위 이상으로 상기 외부 전원전압이 인가되면 상기 RC딜레이 없이 바로 파워-업 신호를 발생시키도록 제어하는 제2 파워-업 감지부; 상기 제1 및 제2 파워-업 감지부의 제어하에 발생된 파워-업 신호를 버퍼링하여 내부회로로 전달하는 버퍼링부를 구비하므로써, 외부 전원전압의 증가속도에 무관하게 적절한 타이밍 및 레벨로 파워-업을 감지할 수 있게되어 내부회로의 동작지연 및 래치-업 발생을 방지한 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치에 관한 것이다.

Description

파워-업 감지장치
본 발명은 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 외부 전원전압의 증가속도에 무관하게 적절한 타이밍 및 레벨로 파워-업을 감지할 수 있게 하여 내부회로의 스타팅동작 지연 및 래치-업 발생을 방지한 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치에 관한 것이다.
일반적으로, 전원전압이 디램(DRAM)에 인가된 후, 기판 바이어스전압(substrate bias voltage: Vbb) 발생회로의 전하 펌프동작에 의해 기판 바이어스전압(Vbb)이 접지전압으로부터 소정의 네거티브(-)전압으로 될 때까지는 어느정도의 시간이 필요하다. 이는 기판용량(Cs)이 클 뿐 아니라 전원전압도 0V에서 5V로 증가하고 있는 구간이어서 상기 기판 바이어스전압 발생회로 내의 링 오실레이터(ring oscillator)의 발진 주파수도 낮아서 자체 전류공급 능력이 작기 때문이다. 또, 디램 셀영역 전체를 덮고 있는 셀 플레이트(cell plate)에 인가되어 있는 전압(Vcp)이 0V에서 Vcc/2로 상승하게 되므로 기판과의 결합 캐패시턴스에 의해 기판 바이어스전압(Vbb)도 포지티브(+)방향으로 함께 상승하여 기판 바이어스전압 발생회로에 부담을 주며, 큰 과도전류가 흐를 수 있게 된다.
따라서, 초기 파워-업 이후 일정시간 동안 상기 기판 바이어스전압 펌프가 제대로 펌핑동작을 할 수 있을 때까지는 기판 바이어스전압(Vbb)의 전위레벨이 비트라인 프리차지전압(Vblp) 및 셀 플레이트전압(Vcp)에 의해 상승되지 않도록 그라운드 전위로 유지시켜 주는 것이 필요하며, 이러한 장치를 기판 바이어스전위 클램프(Vbb clamp)라 한다.
파워-업시 상기 기판 바이어스전위 클램프(Vbb clamp) 구동 및 내부 신호의 초기화에 사용되는 것이 파워-업 감지장치이다.
도 1 은 종래에 사용된 파워-업 감지장치의 회로 구성도를 나타낸 것으로, 외부 전원전압(Vext) 인가단과 접지(Vss)사이에 직렬연결된 RC소자로 이루어진 파워-업 감지부(11)와, 상기 파워-업 감지부(11)의 출력신호를 버퍼링하여 내부 회로로 파워-업신호(power_up1)를 전달하는 버퍼링부(15)로 구성된다.
동 도면에서는 상기 파워-업 감지부(11)가 벌크단과 연결된 소오스단으로 상기 외부 전원전압이 인가되며 게이트가 접지된 P채널 모스 트랜지스터(MP11)와, 상기 P채널 모스 트랜지스터(MP11)와 접지 사이에 노드(N1)로 연결된 모스 캐패시터(C1)로 구성된다.
상기 구성으로 인해 종래의 파워-업 감지장치는 상기 파워-업 감지부(11)로 인가되는 외부 전원전압(Vext)이 문턱전압(threshold voltage: Vt) 이상이 되면 P채널 모스 트랜지스터(MP11)가 턴온되어 RC딜레이 만큼의 지연을 거친 후, 모스 캐패시터(C1)에 전하를 충전하게 된다.
상기 모스 캐패시터(C1)의 전하충전(charging)에 의해 상기 파워-업 감지부(11)의 출력노드(N1)는 ‘로직로우’가 되고, 상기 버퍼링부(15)를 거쳐 버퍼링되어 파워-업신호(power_up 1)로 ‘로직로우’의 신호를 발생시킨다.
그러면, 상기 ‘로직로우’전위레벨의 파워-업 신호(power_up1)는 내부회로의 여러 제어신호(/RAS, /CAS 등)의 동작을 제어하게 되어 메모리칩 전체의 동작이 시작된다.
그런데, 상기 파워-업 감지부(11)의 RC딜레이값은 설계시 미리 내부적으로 설정되기 때문에 외부 전원전압(Vext)의 증가속도(ΔVext)와 맞지않아 비 효율적으로 파워-업 신호가 발생되는 문제점이 있다.
예를들어, 상기 RC 딜레이에 비해 외부 전원전압(Vext)의 증가속도가 빠를 경우 외부 전원전압이 충분한 전위레벨로 완전히 상승되었는데도 불구하고 상기 RC딜레이가 크기 때문에 파워-업을 인지하는 것이 느려져 회로의 스타팅 동작이 지연된다.
반대로, 상기 RC딜레이에 비해 외부 전원전압의 증가속도가 느린 경우에는 상기 외부 전원전압이 완전히 인가되기도 전에 파워-업된 것으로 인지하게 되어 래치-업등의 문제가 발생할 뿐만 아니라, 불충분한 외부 전원전압의 공급을 받아 내부회로가 동작되기 때문에 회로동작이 안정되지 못한 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 이루어진 것으로, 본 발명의 목적은 외부 전원전압의 증가속도에 따라 파워-업신호의 발생시점을 조절하여 회로의 동작지연 및 래치-업 발생을 방지한 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치를 제공하는데 있다.
도 1 은 종래에 사용된 파워-업 감지장치의 회로 구성도
도 2 는 본 발명에 따른 파워-업 감지장치의 회로 구성도
도 3a 및 도 3b 는 외부 전원전압의 상승시간 변화에 따라 도 1 과 도 2 에 도시된 파워-업 감지장치의 동작특성을 비교하는 시뮬레이션 결과도
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
11, 21, 23: 파워-업 감지부 15, 25: 버퍼링부
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 의한 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치는 외부 전원전압이 문턱전압 이상이 되면 이를 감지하고, 내부 RC딜레이를 이용하여 소정의 시간만큼 딜레이시켜 파워-업 신호를 발생시키도록 제어하는 제1 파워-업 감지부와,
상기 외부 전원전압 인가단과 상기 제1 파워-업 감지부의 출력단 사이에 연결되어 설정된 특정전위 이상으로 상기 외부 전원전압이 인가되면 상기 RC딜레이 없이 바로 파워-업 신호를 발생시키도록 제어하는 제2 파워-업 감지부,
상기 제1 및 제2 파워-업 감지부의 제어하에 발생된 파워-업 신호를 버퍼링하여 내부 회로로 전달하는 버퍼링부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상술한 목적 및 기타의 목적과 본 발명의 특징 및 이점은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해 질 것이다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2 는 본 발명에 따른 파워-업 감지장치의 회로 구성도를 나타낸 것으로, 외부 전원전압(Vext)이 문턱전압(Vt) 이상이 되면 이를 감지하고, 내부 RC딜레이를 이용하여 소정의 시간만큼 딜레이시켜 파워-업 신호(power_up2)를 발생시키도록 제어하는 제1 파워-업 감지부(21)와; 상기 외부 전원전압(Vext) 인가단과 상기 제1 파워-업 감지부(21)의 출력단(N1) 사이에 연결되어 설정된 특정전위(동 도면에서는 ‘2Vt’로 나타냄) 이상으로 상기 외부 전원전압이 인가되면 상기 RC딜레이 없이 바로 파워-업 신호(power_up2)를 발생시키도록 제어하는 제2 파워-업 감지부(23); 상기 제1 및 제2 파워-업 감지부(21, 23)의 제어하에 발생된 파워-업 신호를 버퍼링하여 내부회로로 전달하는 버퍼링부(25)로 구성된다.
그리고, 상기 제1 파워-업 감지부(21)는 벌크단과 연결된 소오스단으로 상기 외부 전원전압(Vext)이 인가되며 게이트가 접지된 P채널 모스 트랜지스터(MP21)와, 상기 P채널 모스 트랜지스터(MP21)와 접지 사이에 연결된 모스 캐패시터(C2)로 구성되며, 상기 두 모스소자(MP21, C2)의 저항성분은 내부 RC딜레이값이 외부 전원전압(Vext)의 증가속도가 늦을 경우에도 상기 외부 전원전압(Vext)이 안정된 레벨로 충분히 증가할 때까지 파워-업 신호의 발생을 억제할 수 있을 정도로 충분히 크게 하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제2 파워-업 감지부(23)는 직렬연결된 다수개의 다이오드형 모스 트랜지스터로 구성되며, 동 도면에서는 2개의 직렬연결된 P채널 모스 트랜지스터(MP22, MP23)로 구성된다.
이하, 상기 구성으로 이루어지는 본 발명의 동작을 살펴보기로 한다.
우선, 외부 전원전압(Vext)이 문턱전압(Vt) 이상이 되면, 제1 파워-업 감지부(21)의 P채널 모스 트랜지스터가(MP21)가 턴-온되어 설계시 미리 충분히 큰 값으로 설정된 RC딜레이를 거친 후 모스 캐패시터(C2)에 전하를 충전하게 된다.
상기 충분히 길게 설정해 놓은 RC딜레이값에 의해, 외부 전원전압(Vext)의 증가속도가 느릴 경우, 상기 외부 전원전압(Vext)이 안정된 레벨로 충분히 증가할 때까지는 상기 모스 캐패시터(C2)의 전하충전이 이루어지지 않아 파워-업 신호가 발생되지 않게 되는 것이다. 그결과, 외부 전원전압(Vext)이 안정된 레벨로 상승되기에 충분히 긴 RC딜레이를 거친 후에야 상기 모스 캐패시터(C1)로 전하충전이 이루어져 파워-업 신호(power_up2)가 발생된다.
그런데, 외부 전원전압(Vext)의 증가속도가 상기 RC딜레이에 비해 매우 빠를 경우에는 외부 전원전압(Vext)이 내부 회로를 파워-업하기에 충분한 레벨로 상승했음에도 불구하고, 상기 제1 파워-업 감지부(21)의 긴 RC딜레이에 의해 불필요하게 파워-업신호가 느리게 발생되는 문제가 발생한다.
그래서, 상기 제2 파워-업 감지부(23)가 상기 외부 전원전압(Vext)이 일정전위(여기서는, 직렬연결된 두 P채널 모스 트랜지스터(MP22, MP23)를 턴-온시킬 수 있는 최소전위인 ‘2Vt’로 설정하고 있다) 이상이 되면 딜레이 없이 곧 바로 모스 캐패시터(C2)에 전하를 충전하도록 동작한다. 그결과, 즉시 파워-업 신호(power_up2)가 발생되어 불필요한 동작 지연없이 내부회로의 동작을 시작하게 된다.
도 3a 및 도 3b 는 외부 전원전압의 상승시간 변화에 따라 도 1 과 도 2 에 도시된 파워-업 감지장치의 동작특성을 비교하는 시뮬레이션 결과도를 나타낸 것으로, 종래 파워-업 감지장치에서의 파워-업신호가 발생되는 시점은 얇은 점선으로 나타내며, 본 발명에 의한 파워-업 감지장치에서의 파워-업신호가 발생되는 시점은 굵은 점선으로 나타낸다.
상기 시뮬레이션 결과도를 통해 알 수 있듯이, 외부 전원전압(Vext)의 상승시간이 RC딜레이에 비해 빠를 경우, 제2 파워-업 감지부(23)의 빠른 전하 충전동작에 의해 종래에 비해 빠르게 파워-업신호를 발생시킨다(도 3a 참조).
그리고, 외부 전원전압(Vext)의 상승시간인 RC딜레이에 비해 느릴 경우에는, 제1 파워-업 감지부(21)의 긴 RC딜레이에 의해 상기 외부 전원전압(Vext)이 충분히 상승할때까지 딜레이시킨 후, 파워-업신호를 발생시킨다(도 3b 참조).
이상에서 설명한 바와같이 본 발명에 따른 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치에 의하면, 외부 전원전압의 증가속도에 무관하게 적절한 타이밍 및 레벨로 파워-업을 감지하여 파워-업 신호를 발생시키므로써 내부회로의 스타팅동작 지연 및 래치-업의 발생을 방지할 수 있는 매우 뛰어난 효과가 있다.
아울러 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가 등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구의 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (5)

  1. 외부 전원전압이 문턱전압 이상이 되면 이를 감지하고, 내부 RC딜레이를 이용하여 소정의 시간만큼 딜레이시켜 파워-업 신호를 발생시키도록 제어하는 제1 파워-업 감지부와,
    상기 외부 전원전압 인가단과 상기 제1 파워-업 감지부의 출력단 사이에 연결되어 설정된 특정전위 이상으로 상기 외부 전원전압이 인가되면 상기 RC딜레이 없이 바로 파워-업 신호를 발생시키도록 제어하는 제2 파워-업 감지부,
    상기 제1 및 제2 파워-업 감지부의 제어하에 발생된 파워-업 신호를 버퍼링하여 내부 회로로 전달하는 버퍼링부를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 파워-업 감지부는, 벌크단과 연결된 소오스단으로 상기 외부 전원전압이 인가되며 게이트가 접지된 P채널 모스 트랜지스터와,
    상기 P채널 모스 트랜지스터와 접지 사이에 연결된 모스 캐패시터를 포함하여 구성하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 P채널 모스 트랜지스터와 모스 캐패시터의 저항값은 상기 외부 전원전압이 내부 회로의 정상동작을 안정화시키는 레벨이 될 때까지 상기 파워-업 신호의 발생을 방지할 정도로 크게 설정되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 제2 파워-업 감지부는, 직렬연결된 다수개의 다이오드형 모스 트랜지스터로 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 제2 파워-업 감지부의 특정전위는, 상기 제1 파워-업 감지부의 문턱전위보다 일정전위이상 높은 전위인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리소자의 파워-업 감지장치.
KR1019980024865A 1998-06-29 1998-06-29 파워-업 감지장치 KR20000003605A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980024865A KR20000003605A (ko) 1998-06-29 1998-06-29 파워-업 감지장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980024865A KR20000003605A (ko) 1998-06-29 1998-06-29 파워-업 감지장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20000003605A true KR20000003605A (ko) 2000-01-15

Family

ID=19541384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980024865A KR20000003605A (ko) 1998-06-29 1998-06-29 파워-업 감지장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20000003605A (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100422588B1 (ko) * 2002-05-20 2004-03-16 주식회사 하이닉스반도체 파워 업 신호 발생 장치
KR100552655B1 (ko) * 2004-09-17 2006-02-20 주식회사 하이닉스반도체 반도체 기억 소자의 파워 업 회로 및 그 보상 방법
KR100839958B1 (ko) * 2001-10-09 2008-06-19 삼성전자주식회사 휴대용 컴퓨터

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100839958B1 (ko) * 2001-10-09 2008-06-19 삼성전자주식회사 휴대용 컴퓨터
KR100422588B1 (ko) * 2002-05-20 2004-03-16 주식회사 하이닉스반도체 파워 업 신호 발생 장치
KR100552655B1 (ko) * 2004-09-17 2006-02-20 주식회사 하이닉스반도체 반도체 기억 소자의 파워 업 회로 및 그 보상 방법
US7276941B2 (en) 2004-09-17 2007-10-02 Hynix Semiconductor Inc. Power up circuit of semiconductor memory device and compensating method thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4961167A (en) Substrate bias generator in a dynamic random access memory with auto/self refresh functions and a method of generating a substrate bias therein
US6426671B1 (en) Internal voltage generating circuit
US7733132B2 (en) Bulk bias voltage level detector in semiconductor memory device
KR100804627B1 (ko) 레벨 검출회로 및 방법과, 반도체 메모리 장치의 기판바이어스 전압 발생회로 및 방법
US20070236278A1 (en) Internal voltage generator for semiconductor integrated circuit capable of compensating for change in voltage level
JP2932433B2 (ja) データ入出力感知形基板電圧発生回路
US5729172A (en) Booster circuit capable of suppressing fluctuations in the boosted voltage
US5374923A (en) Power-on detecting circuit
JPH04351791A (ja) 半導体メモリー装置のデータ入力バッファー
US4533846A (en) Integrated circuit high voltage clamping systems
US6320457B1 (en) High level voltage generator
US5506540A (en) Bias voltage generation circuit
US6483357B2 (en) Semiconductor device reduced in through current
US5744997A (en) Substrate bias voltage controlling circuit in semiconductor memory device
US6882215B1 (en) Substrate bias generator in semiconductor memory device
KR20000003605A (ko) 파워-업 감지장치
KR100379555B1 (ko) 반도체 소자의 내부 전원 발생기
KR100268801B1 (ko) 반도체 메모리 소자의 파워업 장치
US6342808B1 (en) High voltage generating circuit
US7138854B2 (en) Integrated circuit delivering logic levels at a voltage independent from the mains voltage, with no attached regulator for the power section, and corresponding communication module
US7180325B2 (en) Data input buffer in semiconductor device
KR20010063500A (ko) 파워 업 회로
KR19980082678A (ko) 반도체 장치의 고전위 생성 수단 및 방법
KR100390993B1 (ko) 파워 업 발생장치
KR20030047026A (ko) 파워-업 신호 발생 장치

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination