KR19990080104A - 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 테스트 트레이의 캐리어 모듈에 매달린 64개의 소자를 1개의 테스트부에서 소켓에 각각 콘택트(contact)시키기 위해 테스트부에 설치된 가동트랙을 좌우로 이송시키는 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치에 관한 것으로 그 구조를 개선하여 1개의 테스트부에서 64개의 소자를 테스트할 수 있도록 한 것이다.
이를 위해, 드라이브의 구동에 따라 푸싱판(51)이 테스트 트레이(6)를 소켓 어셈블리(28)측으로 누르도록 된 것에 있어서, 테스트 트레이(6)의 이송경로상에 위치하는 소켓 어셈블리의 일측에 좌우이동가능하게 설치된 가동트랙(29)과, 상기 가동트랙의 하단에 설치되어 이송된 테스트 트레이가 자중에 의해 가동트랙으로부터 이탈되지 않도록 제어하는 스토퍼(30)와, 상기 가동트랙을 1스탭씩 좌우로 이송시키는 구동수단과, 상기 구동수단에 의해 가동트랙이 좌우로 1스탭식 이송될 때 가동트랙의 수평이동을 안내하는 가이드수단으로 구성되어 있어 장비의 콤팩트화가 가능해지게 됨은 물론 단위 시간당 보다 많은 양의 소자를 테스트하게 된다.

Description

수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치
본 발명은 소자의 성능을 테스트하기 위해 소자를 수평적으로 이송시키는 수평식 핸들러에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 테스트 트레이의 캐리어 모듈에 매달린 64개의 소자를 소켓에 각각 콘택트(contact)시키기 위해 테스트부에 설치된 가동트랙을 좌우로 이송시키는 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치에 관한 것이다.
첨부도면 도 1은 종래의 수평식 핸들러를 나타낸 사시도이고 도 2는 도 1의 A - A선 단면도로써, 64개의 소자가 캐리어 모듈에 각각 로딩된 테스트 트레이(6)를 수평이동하면서 소자의 성능을 테스트하는 수평식 핸들러는 생산 완료된 소자가 담겨진 합성수지재의 고객트레이(1)가 적재되는 적재부(2)와, 상기 적재부에 적재되어 있던 최상측의 고객트레이(1)가 이동아암(3)에 의해 분리되어 안착되는 로딩부(4)와, 상기 로딩부에 얹혀져 있던 고객트레이로부터 로드 픽 플레이스장치가 소자를 흡착하여 이송되어 옴에 따라 이송된 소자의 위치를 정렬하는 위치결정블럭(5)과, 상기 고객트레이(1)내에 담겨져 있던 소자를 위치결정블럭으로 이송시켜 위치를 정렬한 다음, 수평이동하는 테스트 트레이(6)의 캐리어 모듈에 로딩 또는 언로딩하는 로드 픽 및 플레이스장치(7)(25)와, 상기 테스트 트레이(6)를 순차적으로 하강시키면서 테스트 트레이(6)에 로딩된 소자를 원하는 테스트온도가 되도록 가열 또는 냉각시키는 제 1 챔버(8)와, 상기 제 1 챔버내에서 소자가 테스트조건에 알맞는 온도가 되어 통로(9)를 통해 송출됨에 따라 테스트 트레이에 로딩된 소자를 테스트하는 제 1, 2 테스트부(10a)(10b)와, 상기 테스트 트레이(6)를 순차적으로 상승시키면서 일정온도조건에서 테스트완료된 소자를 냉각 또는 가열시키는 제 2 챔버(11)와, 상기 제 2 챔버에서 빠져 나온 테스트 트레이가 얹혀지는 언로딩부(12)와, 상기 언로딩부에 얹혀진 테스트 트레이로부터 테스트결과에 따라 소자를 분류하여 적재하는 분류적재부(13)로 구성되어 있다.
상기한 바와 같은 수평식 핸들러에서 소자를 테스트하는 과정을 개략적으로 설명하면 다음과 같다.
생산 완료된 소자가 담겨진 고객트레이(1)를 적재부(2)상에 적재하여 놓으면 엘리베이터(14)에 의해 고객트레이가 1스탭씩 상승하게 되므로 로더캣쳐(15)가 하방으로 내려가 최상측에 위치한 고객트레이(1)를 집어 버퍼(16)의 상면에 위치시킨후, 다음의 고객트레이를 집기 위해 초기상태로 환원된다.
이와 같이 1개의 고객트레이(1)가 로더캣쳐(15)에 의해 버퍼(16)의 상면에 위치하면 이동아암(3)이 상기 고객트레이(1)를 집어 로딩부(4)에 위치시킨다.
상기 로딩부(4)에 소자가 담겨진 고객트레이(1)가 위치되고 나면 로드 픽 및 플레이스장치(7)가 이송되어 와 1열의 소자를 진공으로 흡착한 다음 위치결정블럭(5)측으로 이송하여 소자의 위치를 테스트 트레이(6)에 장착된 캐리어 모듈의 캐비티와 일치되도록 정렬한다.
상기한 바와 같은 동작으로 소자의 위치가 정렬되고 나면 로드 픽 및 플레이스장치(7)가 위치결정블럭(5)내에 위치된 소자를 재흡착한 다음 테스트 트레이(6)의 상측으로 이동하여 흡착된 소자를 캐리어 모듈의 캐비티상면에 얹어 놓는다.
상기 로드 픽 및 플레이스장치(7)의 반복된 동작으로 테스트 트레이(6)의 상면에 테스트하고자 하는 소자가 전부 얹혀지고 나면 레일(17)의 상면에 얹혀진 테스트 트레이(6)가 제 1 챔버(8)의 상측에 형성된 통로(18)를 통해 제 1 챔버의 내부에 수평상태로 인입되어 엘리베이터(19)에 얹혀지게 된다.
상기 제 1 챔버(8)의 엘리베이터(19)에 순차적으로 얹혀지는 테스트 트레이(6)는 하방으로 1스탭씩 이송되면서 테스트에 적합한 온도, 즉 소자가 제품에 적용된 상태에서 동작시 발열되는 온도로 히팅하거나, 추운지역에서도 정상적으로 동작가능한지를 판단하기 위해 냉각시킨 다음 테스트 트레이(6)가 제 1 챔버(8)의 하방에 위치된 통로(9)를 통해 제 1 테스트부(10a)로 이송되어 오면 테스트 트레이(6)를 하향구동시키는 수직드라이브(20)가 하강하여 테스터고정장치(21)에 의해 각 소자의 테스트신호를 중앙처리장치(CPU)에 제공하게 되므로 소켓을 통해 결과신호가 출력되고, 이에 따라 테스터(도시는 생략함)에 의해 소자의 성능이 감지된다.
이 때, 상기 제 1 테스트부(10a)에 의해 홀수열의 캐리어 모듈(6)에 로딩된 소자(26)만을 테스트하게 된다.
이는, 현재까지 출시된 테스터는 1회 테스트가능한 소자의 개수가 32개인데 반해, 도 3에 나타낸 바와 같이 테스트 트레이(6)의 캐리어 모듈(27)에 로딩되는 소자(26)는 64개이므로 상기 테스트 트레이(6)에 로딩된 소자(26)를 1번에 테스트할 수 없기 때문이다.
상기한 동작으로 캐리어 모듈(27)에 얹혀진 홀수열의 소자(26)를 테스트하고 나면 테스트 트레이(6)는 이송수단에 의해 제 2 테스트부(10b)측으로 이동하여 짝수열의 소자를 전술한 바와 같이 테스트하게 된다.
이와 같이 테스트 트레이(6)에 로딩되어 있던 소자(26)의 테스트가 완료되면 테스트 트레이(6)는 제 2 챔버(11)의 하방에 형성된 통로(22)를 통해 상기 제 2 챔버의 엘리베이터(23)에 얹혀지게 되므로 순차적으로 상승되면서 외부의 대기온도와 거의 동일한 온도로 서서히 냉각 또는 가열된다.
그 후, 상기 테스트 트레이(6)는 제 2 챔버(11)의 상방에 형성된 통로(24)를 통해 언로딩부(12)로 이송되므로 언로딩부에 설치된 로드 픽 및 플레이스장치(25)가 캐리어 모듈(27)에 얹혀진 소자(26)를 테스트결과에 따라 분류적재부(13)에 위치된 빈고객트레이(1a)내에 분류하여 담게 된다.
테스트가 완료된 소자(26)가 각각의 캐리어 모듈(27)에서 전부 언로딩되고 나면 빈테스트 트레이는 레일(17)을 따라 초기상태로 이송되므로 계속해서 소자(TSOP)를 테스트할 수 있게 된다.
그러나 이러한 종래의 장치는 테스터의 용량 한계로 인해 테스트 트레이(6)의 각 캐리어 모듈(27)에 로딩된 소자(26)를 한꺼번에 테스트하지 못하고 제 1, 2 테스트부(10a)(10b)를 인라인으로 설치하여 제 1 테스트부(10a)에서는 홀수열의 소자를, 그리고 제 2 테스트부(10b)에서는 짝수열의 소자를 2회에 걸쳐 테스트하므로 장비의 크기가 커지게 됨은 물론 테스트 트레이의 이송에 따른 싸이클 타임이 길어지게 되는 문제점이 있었다.
본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로 그 구조를 개선하여 1개의 테스트부에서 64개의 소자를 테스트할 수 있게 하므로서 장비의 콤팩트화를 실현하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 드라이브의 구동에 따라 푸싱판이 테스트 트레이를 소켓 어셈블리측으로 누르도록 된 것에 있어서, 테스트 트레이의 이송경로상에 위치하는 소켓 어셈블리의 일측에 좌우이동가능하게 설치된 가동트랙과, 상기 가동트랙의 하단에 설치되어 이송된 테스트 트레이가 자중에 의해 가동트랙으로부터 이탈되지 않도록 제어하는 스토퍼와, 상기 가동트랙을 1스탭씩 좌우로 이송시키는 구동수단과, 상기 구동수단에 의해 가동트랙이 좌우로 1스탭식 이송될 때 가동트랙의 수평이동을 안내하는 가이드수단으로 구성된 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치가 제공된다.
도 1은 종래의 수평식 핸들러를 나타낸 사시도
도 2는 도 1의 A - A선 단면도
도 3은 테스 트레이의 구성을 나타낸 분해 사시도
도 4a 내지 도 4c는 본 발명을 나타낸 횡단면도로서,
도 4a는 캐리어 모듈의 홀수열이 소켓과 일치된 상태도
도 4b는 테스트 트레이가 소켓측으로 전진하여 소자의 리드가 소켓의 콘택트 핀과 접속된 상태도
도 4c는 캐리어 모듈의 짝수열이 소켓과 일치된 상태도
도 5는 본 발명의 구동수단을 나타낸 사시도
도 6은 본 발명의 가동트랙이 백커버에 설치된 상태의 사시도
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 테스트부 28 : 소켓 어셈블리
29 : 가동트랙 30 : 스토퍼
33 : 모터 36 : 리드스크류
37 : 회전방지블럭 39 : 감지편
40 : 센서 43 : 걸림편
이하, 본 발명을 일 실시예로 도시한 도 4 내지 도 6을 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 4a 내지 도 4c는 본 발명을 나타낸 횡단면도이고 도 5는 본 발명의 구동부를 나타낸 사시도이며 도 6은 본 발명의 가동트랙이 백커버에 설치된 상태의 사시도로서, 본 발명은 수직상태로 이송하는 테스트 트레이(6)의 이송경로상인 소켓 어셈블리(28)의 일측에 좌우이동가능하게 가동트랙(29)이 설치되어 있는데, 상기 테스트 트레이(6)는 수직 상태로 이송되므로 인해 테스트부(10)로 이송 완료된 상태에서 자중에 의해 테스트 트레이가 가동트랙(29)으로부터 이탈되지 않도록 가동트랙(29)의 하단에 스토퍼(30)가 설치되어 있다.
상기 스토퍼(30)는 테스트 트레이(6)가 가동트랙(29)으로 이송되어 소자의 테스트를 실시하고 있는 동안에는 가동트랙상으로 노출되어 테스트 트레이(6)가 자중에 의해 가동트랙(29)으로부터 이탈되는 현상을 방지하고, 테스트가 완료되면 공지의 구동수단에 의해 가동트랙의 외측으로 빠져 나와 테스트 트레이(6)가 냉각챔버(테스트부의 하부에 위치함)측으로 이동되도록 하는 역할을 하게 된다.
이러한 역할을 하는 스토퍼(30)를 가동트랙(29)의 내부로 출몰시키는 구성은 이미 공지되어 있으므로 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
또한, 측판(31)의 일측에는 64개의 캐리어 모듈(27)이 매달린 테스트 트레이(6)가 이송되어 오면 홀수열 또는 짝수열의 소자를 소켓 어셈블리(28)의 소켓(32)에 콘택트시킬 수 있도록 상기 가동트랙(29)을 1스탭씩 좌우로 이송시키는 구동수단이 설치되어 일단이 테스트부(10)의 내부로 연장되어 가동트랙(29)과 연결되어 있다.
상기 구동수단이 본 발명의 일 실시예에서는 도 5와 같이 측판(31)에 설치되어 동력을 발생하는 모터(33)와, 상기 모터축에 고정되어 모터의 구동에 따라 회전하는 구동기어(34)와, 상기 측판에 구동기어와 맞물리게 설치되어 모터의 구동에 따라 정역회전하는 종동기어(35)와, 상기 종동기어의 내부에 나사결합됨과 함께 가동트랙(29)에 연결된 리드스크류(36)와, 상기 종동기어(35)의 회전운동을 리드스크류(36)의 직선왕복운동으로 절환하는 변환수단으로 구성되어 있다.
따라서 모터(33)의 구동으로 구동기어(34)와 맞물린 종동기어(35)가 회전함에 따라 상기 종동기어에 나사결합된 리드스크류(36)는 직선왕복운동하게 된다.
상기 구동기어(34)의 회전운동을 리드스크류(36)의 직선왕복운동으로 절환하는 변환수단은 리드스크류(36)의 다른 일단에 고정된 회전방지블럭(37)과, 상기 회전방지블럭의 일단이 끼워져 리드스크류의 회전운동을 억제하는 가이드봉(38)으로 구성되어 있다.
상기 회전방지블럭(37)의 일단에 감지편(39)이 일체로 형성되어 있고 상기 회전방지블럭의 이송경로상에는 리드스크류(36)의 이동으로 감지편(39)을 감지함에 따라 모터(33)의 구동을 제어하는 센서(40)가 브라켓(41)에 설치되어 있다.
상기 가동트랙(29)의 일단에 고정편(42)이 고정되어 있고 상기 고정편의 끝단에는 일측이 개방된 대략 "ㄷ"형상의 걸림편(43)이 고정되어 있으며 상기 걸림편에는 리드스크류(36)의 일단이 착탈가능하게 결합되어 있다.
이는, 소켓 어셈블리(28)에 장착된 소켓(32) 등의 유지 보수작업을 목적으로 가동트랙(29)이 설치된 백커버(44)를 분리할 필요가 있으며, 캐리어 모듈(27)에 매달린 소자(26)를 소켓(32)에 콘택트시키기 위해 가동트랙(29)이 소켓 어셈블리(28)측으로 진퇴운동하기 때문이다.
상기 구동수단에 의해 좌우로 1스탭씩 이동하는 가동트랙(29)은 가이드수단에 의해 안내되어 안정적인 동작이 이루어지도록 되어 있다.
상기 가이드수단은 도 6과 같이 백커버(44)의 상측에 고정되어 수직방향으로 긴 장공(45a)이 형성된 가이드블럭(45)과, 상기 가동트랙의 양단에 회동가능하게 결합된 링크(46)와, 상기 링크의 양단에 결합되어 가이드블럭(45)에 형성된 장공(45a)내에 끼워진 가이드봉(47)으로 구성되어 있다.
또한, 다른 일측에 설치된 가동트랙(29)에 가이드 핀(48)이 고정되어 있고 상기 가이드 핀은 드라이브의 구동에 따라 함께 이동하는 설치판(49)상에 끼워져 있다.
이와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 리드스크류(36)가 측판(31)으로 최대한 인출되어 상기 리드스크류의 일단에 고정된 회전방지블럭(37)의 감지편(39)을 센서(40)가 감지하여 모터(33)의 구동이 중단된 상태, 즉 도 4a와 같이 가동트랙(29)이 도면상 우측으로 최대한 이동된 상태에서 히팅챔버(테스트부의 상측에 위치함)의 셔터가 개방되면 가동트랙(29)이 테스트 트레이의 이송경로상에 위치하고 있으므로 상기 히팅챔버의 내부에서 테스트에 적절한 온도로 소자가 히팅된 테스트 트레이(6)가 자중에 의해 이송된다.
상기 가동트랙(29)을 따라 테스트부(10)로 이송된 상기 테스트 트레이는 가동트랙(29)의 내부로 인출되어 있던 스토퍼(30)에 걸리게 되므로 이송이 제어된다.
이와 같이 테스트 트레이(6)가 가동트랙(29)사이로 이송되어 테스트부(10)에 위치하면 드라이브의 구동으로 푸싱판(51)이 스프링(50)을 압축시키면서 이동하여 가동트랙(29)을 소켓 어셈블리(28)측으로 밀게 되므로 테스트 트레이(6)의 캐리어 모듈(27)에 매달린 홀수열의 소자(26)가 소켓 어셈블리(28)으로 이동되고, 이에 따라 소자(26)의 리드가 도 4b와 같이 소켓(32)의 콘택트 핀과 접속된다.
이 때, 리드스크류(36)의 일단에 "ㄷ"형상의 걸림편(43)이 끼워진 상태로 가동트랙이 이동하므로 상기 가동트랙(29)과 리드스크류(36)가 상호 분리되지 않는다.
이에 따라 소자(26)의 리드가 성능을 검사하는 테스터(도시는 생략함)와 전기적으로 통하여지게 되므로 설정된 시간동안 소자의 성능을 테스트하여 그 결과를 중앙처리장치(CPU)에 알리게 된다.
상기한 바와 같은 동작으로 캐리어 모듈(27)에 매달린 홀수열의 소자(26)를 테스트하고 나면 드라이브가 초기상태로 환원되므로 가동트랙(29)도 스프링(50)의 복원력으로 초기상태로 환원된다.
이와 같이 홀수열의 소자를 테스트하고 나면 콘트롤부에 의해 구동수단의 모터(33)에 전원이 인가되므로 상기 모터축에 고정된 구동기어(34)가 회전하게 되고, 이에 따라 상기 구동기어에 맞물려 있던 종동기어(35)가 회전운동하게 된다.
상기 종동기어(35)의 회전운동에 따라 종동기어에 나사결합된 리드스크류(36)도 회전운동할려고 하지만, 상기 리드스크류의 일단에 고정된 회전방지블럭(37)의 일단이 가이드봉(38)에 끼워져 있어 회전운동이 억제되므로 리드스크류(36)는 직선운동을 하게 된다.
이 때, 가동트랙(29)이 수평이동하는 양은 캐리어 모듈(27)의 간격 및 소켓(32)의 간격에 따라 콘트롤부에 미리 설정되어 있으므로 모터(33)의 구동에 따라 제어된다.
상기 모터(33)의 구동이 중단되면 캐리어 모듈(27)에 매달린 짝수열의 소자가 도 4c와 같이 소켓과 일치되므로 전술한 바와 같이 드라이브의 구동에 따라 캐리어 모듈(27)에 매달린 소자의 리드를 소켓 어셈블리(28)의 소켓(32)에 콘택트시킬 수 있게 된다.
이와 같이 짝수열의 소자를 테스트하고 나면 드라이브의 복원으로 가동트랙(29) 또한 스프링(50)의 복원력으로 후퇴하게 되는데, 가동트랙이 후퇴하고 나면 콘트롤부에 의해 모터(33)가 역회전하게 되므로 가동트랙(29)은 센서(40)가 리드스크류(36)에 고정된 감지편(39)을 감지할 때 까지 이동하게 된다.
즉, 가동트랙(29)이 테스트 트레이(6)의 이송경로와 일치되는 지점까지 이동된 다음 이동을 중단하게 되므로 냉각챔버의 셔터를 개방함과 동시에 테스트 트레이(6)의 이송을 제어하는 스토퍼(30)를 가동트랙(29)의 외측으로 이동시키게 되므로 테스트완료된 소자가 매달린 테스트 트레이가 냉각챔버측으로 이송된다.
지금까지 설명한 것은 1개의 테스트 트레이를 히팅챔버로부터 공급받아 테스트 트레이의 캐리어 모듈에 매달린 홀수열과 짝수열의 소자를 테스트한 다음 냉각챔버측으로 이송시키는 1싸이클을 설명한 것으로서, 이는 히팅챔버로부터 테스트 트레이가 계속적으로 이송됨에 따라 연속동작됨은 이해가능한 것이다.
이상에서와 같이 본 발명은 1개의 테스트부를 구성하고도 테스트 트레이의 캐리어 모듈에 매달린 64개의 소자를 테스트할 수 있게 되므로 장비의 콤팩트화가 가능해지게 됨은 물론 소자의 테스트에 따른 테스트 트레이의 이송경로를 최소화하게 되므로 소자의 테스트에 따른 시간을 대폭 줄일 수 있게 되고, 이에 따라 단위 시간당 보다 많은 양의 소자를 테스트하게 되는 효과를 얻게 된다.

Claims (7)

  1. 드라이브의 구동에 따라 푸싱판이 테스트 트레이를 소켓 어셈블리측으로 누르도록 된 것에 있어서, 테스트 트레이의 이송경로상에 위치하는 소켓 어셈블리의 일측에 좌우이동가능하게 설치된 가동트랙과, 상기 가동트랙의 하단에 설치되어 이송된 테스트 트레이가 자중에 의해 가동트랙으로부터 이탈되지 않도록 제어하는 스토퍼와, 상기 가동트랙을 1스탭씩 좌우로 이송시키는 구동수단과, 상기 구동수단에 의해 가동트랙이 좌우로 1스탭식 이송될 때 가동트랙의 수평이동을 안내하는 가이드수단으로 구성된 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    구동수단은 측판에 설치되어 동력을 발생하는 모터와, 상기 모터축에 고정된 구동기어와, 상기 측판에 구동기어와 맞물리게 설치되어 모터의 구동에 따라 정역회전하는 종동기어와, 상기 종동기어의 내부에 나사결합됨과 함께 가동트랙에 연결된 리드스크류와, 상기 종동기어의 회전운동을 리드스크류의 직선왕복운동으로 절환하는 변환수단으로 구성된 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    변환수단은 리드스크류의 다른 일단에 고정된 회전방지블럭과, 상기 회전방지블럭의 일단이 끼워져 리드스크류의 회전운동을 억제하는 가이드봉으로 구성된 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    회전방지블럭의 일단에 형성된 감지편과, 상기 회전방지블럭의 이송경로상에 설치되어 리드스크류의 이동으로 감지편을 감지함에 따라 모터의 구동을 제어하는 센서로 구성된 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    가동트랙의 일단에 고정편을 고정하고 상기 고정편의 끝단에는 대략 "ㄷ"형상의 걸림편을 고정하여 상기 걸림편에 리드스크류의 일단을 착탈가능하게 결합하여서 된 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    가이드수단은 백커버의 상측에 고정되어 수직방향으로 긴 장공이 형성된 가이드블럭과, 상기 가동트랙의 양단에 회동가능하게 결합된 링크와, 상기 링크의 양단에 결합되어 가이드블럭에 형성된 장공내에 끼워진 가이드봉으로 구성된 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    가동트랙의 일단에 고정되어 드라이브의 구동에 따라 함께 이동하는 설치판상에 끼워진 가이드 핀이 더 구비된 수평식 핸들러의 가동트랙 좌우 이동장치.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100776814B1 (ko) * 2006-10-19 2007-11-19 미래산업 주식회사 전자부품 테스트용 핸들러
KR20170011650A (ko) * 2015-07-23 2017-02-02 (주)테크윙 테스트핸들러

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