KR19990062695A - 액정 초기배향각의 측정방법 및 액정 초기배향각의 측정장치 - Google Patents

액정 초기배향각의 측정방법 및 액정 초기배향각의 측정장치 Download PDF

Info

Publication number
KR19990062695A
KR19990062695A KR1019980052319A KR19980052319A KR19990062695A KR 19990062695 A KR19990062695 A KR 19990062695A KR 1019980052319 A KR1019980052319 A KR 1019980052319A KR 19980052319 A KR19980052319 A KR 19980052319A KR 19990062695 A KR19990062695 A KR 19990062695A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
transmitted light
light
crystal sample
sample
Prior art date
Application number
KR1019980052319A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100317567B1 (ko
Inventor
이찌로 히로사와
Original Assignee
가네꼬 히사시
닛뽕덴끼 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가네꼬 히사시, 닛뽕덴끼 가부시끼가이샤 filed Critical 가네꼬 히사시
Publication of KR19990062695A publication Critical patent/KR19990062695A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100317567B1 publication Critical patent/KR100317567B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C23/00—Combined instruments indicating more than one navigational value, e.g. for aircraft; Combined measuring devices for measuring two or more variables of movement, e.g. distance, speed or acceleration
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J4/00—Measuring polarisation of light
    • G01J4/02—Polarimeters of separated-field type; Polarimeters of half-shadow type
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1337—Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers
    • G02F1/133753—Surface-induced orientation of the liquid crystal molecules, e.g. by alignment layers with different alignment orientations or pretilt angles on a same surface, e.g. for grey scale or improved viewing angle

Abstract

직선편광을 액정시료 (3) 에 수직으로 입사하고, 회전 스테이지 (7) 위에서 액정시료 (3) 를 면내에서 회전시켜서, 투과광의 진폭비 및 위상차의 입사광 편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을 측정한다. 이 측정 결과로부터 액정 초기배향각을 결정한다.

Description

액정 초기배향각의 측정방법 및 액정 초기배향각의 측정장치
본 발명은 액정 표시 소자에 있어서, 예를 들면 액정 분자에 초기 배향을 제공하는 액정 배향막 등의 분자의 배향으로 인한 광학적 이방성을 갖는 막의 평가 방법에 관한 것이다.
평행하지 않은 셀 중의 액정 분자가 기판 이면에 대하여 이루는 각도를 측정하는 광학적인 측정방법으로서, 수정 회전법 (T. J. Scheffer and J. Nehring, Journal of Applied Physics, Vol.48, pp.1783, 1977년) 이 널리 사용되어 왔다. 이 방법은 시료에 대하여 직선편광을 입사시킬 때에 발생하는 투과광의 복굴절 위상차를 입사각의 함수로서 측정한다. 다른 한편, 투과광의 편광상태의 입사 방위 의존성을 직접적으로 측정하는 대신에, 검광자를 시료의 후방에 배치하고, 그 검광자를 투과하는 광량을 입사각의 함수로서 측정하는 다른 측정방법도 또한 널리 사용된다.
그러나, 전술한 종래 기술은, 예를 들어 「Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 32, pp. L1242-1244, L277-279, 1993년, K. -Y. Han 이외」에 의하여 지적된 바와 같은 다음과 같은 문제점을 가지고 있다.
즉, 액정은 한 쌍의 유리 기판 사이에 지지되기 때문에, 기판에 의한 광의 굴절에 의해 액정 부분에 입사하는 광의 위치가 입사각에 의해 변화된다. 액정을 투과하는 광의 위치가 변화하면, 투과광의 편광상태에 액정층의 두께의 변화가 직접적으로 반영되어 정확한 측정이 방해된다. 일반적으로 시료에 대한 광의 입사각의 변화는 시료를 회전시킴으로써 변화하기 때문에, 시료 회전에 따른 입사광과 투과광의 상대적인 위치가 변화한다. 결과적으로, 투과광의 편광 측정을 정확하게 하기 위해서는 시료의 두께, 재질 및 회전 각도에 따라서 검출기 등의 위치를 변화시키는 것이 필요하기 때문에, 측정 능률이 저하된다.
도 1 은 본 발명의 액정 초기배향각을 측정하는 장치의 예를 설명하는 구성도이다.
도 2 는 도 1의 액정 초기배향각의 측정장치를 사용하여 측정된, 액정시료를 통과한 투과광의 위상차와 시료 방위 사이의 의존성을 나타내는 그래프이다.
도 3 은 도 1의 액정 초기배향각의 측정장치에 의하여 측정된, 액정시료를 통과한 투과광의 진폭비와 시료 방위 사이의 의존성을 나타내는 그래프이다.
도 4 는 도 9의 액정 초기배향각의 측정장치에 의하여 측정된, 액정시료를 통과한 투과광의 위상차와 시료 방위 사이의 의존성을 나타내는 그래프이다.
도 5 는 도 9의 액정 초기배향각의 측정장치에 의하여 측정된, 액정시료를 통과한 투과광의 진폭비와 시료 방위 사이의 의존성을 나타내는 그래프이다.
도 6 은 본 발명에 따른 액정 초기배향각을 측정하는 또 다른 장치의 예를 설명하는 구성도이다.
도 7 은 도 6의 액정 초기배향각의 측정장치에 의하여 측정된, 액정시료를 통과한 투과광의 위상차와 시료 방위 사이의 의존성을 나타내는 그래프이다.
도 8 은 도 6의 액정 초기배향각의 측정장치에 의하여 측정된, 액정시료를 통과한 투과광의 진폭비와 시료 방위 사이의 의존성을 나타내는 그래프이다.
도 9 는 본 발명에 따른 액정 초기배향각을 측정하는 또 다른 장치의 예를 설명하는 구성도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 광원 2 : 편광자
3 : 액정시료 4 : 1/4 파장판
5 : 검광자 6 : 검출기
7 : 회전 스테이지 8 : 데이터 해석 장치
11 : 광원 12 : 편광자
13 : 1/2 파장판 14 : 액정시료
15 : 1/4 파장판 16 : 검광자
17 : 검출기
전술한 문제의 측면에서, 본 발명의 목적은, 직선편광을 액정시료에 입사하고 투과광의 편광상태를 측정으로써 액정 초기배향각을 결정하는 액정 초기배향각의 측정법에 있어서, 상기 직선편광은 액정시료에 수직으로 입사되고, 상기 액정시료의 초기배향각은, 상기 액정시료를 면내에서 회전시켜, 상기 투과광의 진폭비 및 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을 측정함으로써 결정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은, 직선편광을 액정시료에 입사하여, 투과광의 편광상태를 측정함으로써 액정 초기배향각을 결정하는 액정 초기배향각의 측정방법에 있어서, 상기 직선편광은 편광자를 통과한 후, 액정시료에 수직으로 입사되고, 상기 액정시료의 초기배향각은, 상기 편광자를 면내에서 회전시켜, 상기 투과광의 진폭비 및 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을 측정함으로써 결정하는 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은, 직선편광을 액정시료에 입사하여, 투과광의 편광상태를 측정함으로써 액정 초기배향각을 결정하는 액정 초기배향각의 측정방법에 있어서, 상기 직선편광은 편광자 및 1/2 파장판을 통과한 후, 액정시료에 수직으로 입사되고, 상기 액정시료의 초기배향각은, 상기 1/2 파장판을 면내에서 회전시켜, 상기 투과광의 진폭비 및 상기 투과광의 위상차의 입사광 편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을 측정함으로써 결정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은, 광원과, 상기 광원으로부터 방출되는 광을 편광시키는 편광자와, 측정 대상인 액정시료를 지지하는 지지대와, 상기 지지대를 면내에서 회전시키는 기구와, 상기 액정시료를 투과시킨 광으로써 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차를 측정하는 수단과, 상기 측정된 편광으로부터 액정 초기배향각을 결정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은, 광원과, 상기 광원으로부터 방출된 광을 편광시키는 편광자와, 상기 편광자를 면내에서 회전시키는 기구와, 상기 편광자의 후방에 설치되며, 또한 측정 대상인 액정시료를 지지하는 지지대와, 상기 액정시료를 투과시킨 광으로써 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차를 측정하는 수단과, 상기 측정된 편광으로부터 액정 초기배향각을 결정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은, 광원과, 상기 광원으로부터 방출되는 광을 편광시키는 편광자와, 상기 편광자의 후방에 설치된 1/2 파장판과, 상기 1/2 파장판을 면내에서 회전시키는 기구와, 상기 1/2 파장판의 후방에 설치되며, 측정 대상인 액정시료를 지지하는 지지대와, 상기 액정시료를 투과시킨 광으로써 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차를 측정하는 수단과, 상기 측정된 편광으로부터 액정 초기배향각을 결정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 액정 초기배향각의 측정방법은, 시료 표면에 대한 광의 입사각이 일정하고, 측정중에 액정층 내부에서의 광 경로가 변화하지 않기 때문에, 종래 기술의 결점이 되어 왔던 액정층 두께의 불균일에 따른 정확도의 저하가 발생하지 않는다. 또 투과광의 편광상태를 측정함에 있어, 종래 기술과는 달리 액정시료의 회전에 수반하여 검출기 위치를 조정할 필요가 없으므로, 검출기 위치를 고정하여 측정할 수 있기 때문에, 신속한 측정이 가능하게 된다. 투과광의 편광상태는 액정의 이방적 유전율 εe와 ε0, 초기배향각 θ, 액정층의 두께 d 로부터 4 X 4 행렬법에 따라서 계산할 수 있다. 그리고, 측정되는 편광상태의 시료방위는 편광방위 의존성을 재현하기 위한 초기배향각 θ, 액정층 두께 d 의 값을 최적화하여 결정한다.
또 본 발명의 액정 초기배향각의 측정장치는, 전술한 바와 같은 구성을 가지고 있는 바와 같이, 상기 본 발명의 액정 초기배향각의 측정방법을 바람직하게 실시하는 것을 가능케 한다.
전술한 바와 같이, 본 발명에서는, 시료 표면에 대한 광의 입사각이 일정하고, 측정중에 액정층 내에서의 광경로가 변화하지 않는다. 그러므로, 종래 기술의 문제였던 액정층 두께의 불균일성에 따른 정확도의 저하는 발생하지 않는다. 또, 종래 기술과는 달리, 투과광의 편광상태를 측정할 때, 액정시료의 회전에 수반된 검출기의 위치 조정이 필요하지 않다. 따라서, 검출기 위치를 고정하여 측정할 수 있기 때문에 신속한 측정이 가능하다.
본 발명의 액정 초기배향각의 측정방법은, 액정시료, 액정시료의 전방에 배치된 편광자 또는 1/2 파장판을 면내에서 회전시키며, 투과광의 편광상태, 즉, 투과광의 진폭비와 위상차를 입사광 편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 함수로서 측정하여 액정 초기배향각을 결정한다.
여기에서, 투과광의 편광상태, 즉, 투과광의 진폭비와 위상차의 액정시료 방위각 의존성은, 예를 들어, 액정시료의 후방에 설치된 1/4 파장판 또는 검광자를 면내에서 회전시킴으로써 측정하는 것이 가능하다.
(실시예 1)
이하에서, 본 발명을 실시예에 따라서 더욱 상세하게 설명한다.
본 발명의 실시예 1을 도 1을 참조하여 설명한다. 도 1은, 직선편광을 액정시료에 수직으로 입사하고, 상기 액정시료를 면내에서 회전시켜 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사광 편광 방향에 대한 액정시료 방위각 의존성을 측정함으로써 상기 액정시료의 초기배향각을 결정하는 액정 초기배향각의 측정장치의 구성을 보여주는 도면이다. 광원 (1)으로부터 방출되는 광은 편광자 (2)를 통과하여 직선편광된 후에, 시료 (3)에 수직으로 입사한다. '수직'이라함은 입사광의 광축이 액정시료의 면에 대하여 직각의 관계로 되어 있는 것을 말한다. 광원으로서는 1㎽ He-Ne 레이저를 사용했다. 회전 스테이지 (7)는, 액정시료 (3)를 지지하고 있으며, 이외에도 이 액정시료 (3)를 면내에서 회전시키는 기구를 갖추고 있다. 여기에서, 면내에서의 회전이라함은 회전축을 광축에 일치시켜서 회전시키는 것을 말한다.
시료를 투과한 투과광은 1/4 파장판 (4)과 검광자 (5)를 통과한 후, 검출기 (6)에 들어간다. 이 검출기 (6)에 의하여 투과광의 편광상태를 측정하여, 얻어진 데이터를 사용하여 데이터 해석 장치 (8)에 의하여 액정 초기배향각이 산출된다. 편광자와 검광자의 방위는 서로 평행하게 되었다. 투과광의 편광상태는, 1/4 파장판 (4)을 면내에서 회전시켜서, 투과광 검출 강도의 1/4 파장판의 방위 의존성을 측정함으로써 구하는 방법(이하, 회전 위상자법이라고 함)에 의하여 결정되었다. 편광측정은 위상자 방위각의 3도 간격으로 검출강도를 추출하여 실시한다. 시료의 방위와 투과광의 편광방향은 액정시료를 면내에서 회전시키는 것으로 제어했다.
상기 배치를 사용하여, 아래와 같은 액정시료의 측정을 실시했다. 두께 1.1㎜인 코닝사 (Corning Inc.)의 7059 유리 기판에 닛산사 (Nissan Chemical Industries Ltd.)의 배향제 PI-A를 회전 도금으로 도포하고, 250℃로 1시간동안 가열한 후에, 레이온 포 (rayon cloth) 로 표면의 마찰을 실시했다. 마찰 방향이 서로 반대가 되도록 2장의 유리 기판을 접착제로 접합하여 셀을 만들었다. 이 때, 접착제 중에 4㎛의 스페이서를 혼합하여 만들었다 (시료 A). 그 셀 중에 네마틱 (nematic) 액정 (상품명 : ZNI-2293, Merck사 제품) 을 모세관 현상에 의하여 주입했다.
도 2에 투과광의 위상차, 도 3에 투과광의 진폭비의 시료 방위각 의존성의 측정 결과 (o)와 계산 결과(곡선)를 표시했다. 하지만, 진폭비는 많은 과거의 문헌에서 정의된 바와 같이 진폭비의 아크 탄젠트 ψ로 표시했다. 또, 시료방위각은 마찰방향이 입사광의 진동방향과 45도를 이루는 방위를 0도로 정의했다. 다시 말하자면, 계산 결과는 데이터 해석장치 (8)에 의하여 얻어진 것이다. 액정의 굴절율을 1.631과 1.500으로 하여 반사광의 편광상태를 계산할 경우, 계산 결과는 초기배향각 3.52도, 액정층 두께 4.2㎛로 했을 때에 측정결과에 더욱 근접했다. 도 2 와 도 3 중의 실선은 이와 같은 값을 사용하여 계산한 반사광의 편광상태이다. 이에 따라, 시료의 초기배향각은 3.5도로 결정했다. 또한, 투과광의 편광상태는, 위상자를 회전시키는 대신에 검광자를 회전시킴으로써, 검출 강도의 검광자 방위각 의존성으로부터 결정하는 것 (회전 검광자법)도 가능하다.
(실시예 2)
시료방위를 고정하고, 편광자 (2)를 회전시키는 것 이외에는 실시예 1과 동일한 배치의 측정장치(도 9)를 사용하여 액정시료의 측정을 실시했다. 투과광의 편광측정은 실시예 1과 동일하게 회전 위상자법으로 실시했지만, 본 실시예에서는 입사광의 편광 방향이 변화하기 때문에, 검광자의 방위는 항상 편광자의 방위와 일치하도록 상기 편광자와 동기로 변화했다.
편광측정시에는, 위상자 방위각 3도마다 추출하여 측정했다. 두께 1.1mm인 코닝사의 7059 유리 기판에 닛산사의 배향제 PI-A를 회전 도금으로 도포하고, 250℃로 1시간동안 가열한 후에, 레이온 포로 표면의 마찰을 실시했다. 마찰 방향이 서로 반대가 되도록 2장의 유리 기판을 접착제로 접합하여 셀을 만들었다. 이 때, 접착제 중에 20 ㎛ 스페이서를 혼합하여 만들었다(시료 B). 이 셀 중에 네마틱 액정 (상품명 : ZNI-2293, Merck사 제품)을 모세관 현상에 의하여 주입하였다.
도 4에 투과광의 위상차, 도 5에 투과광의 진폭비의 시료 방위각 의존성의 측정 결과 (o) 와 계산 결과 (곡선) 를 표시했다. 다만, 진폭비는 많은 과거의 문헌에서 정의된 바와 같이 진폭비의 아크 탄젠트 ψ로 표시했다. 또, 시료 방위각은 마찰방향이 입사광의 진동방향과 45도를 이루는 방위를 0도로 정의했다. 액정의 굴절률을 1.631과 1.500으로 하여, 반사광의 편광상태를 계산했다. 초기배향각 3.46도, 액정층 두께 20.5㎛로 하였을 때에, 계산결과가 측정결과에 더 근접했다. 도 4 와 도 5중의 실선은 이러한 값들을 사용하여 계산된 반사광의 편광상태를 나타낸다. 이와 같이 하였을 때, 이 시료의 초기배향각은 3.5도로 결정되었다.
(실시예 3)
도 6에, 직선편광을 액정시료에 수직으로 입사하고, 이 액정시료를 면내에서 회전시켜 투과광의 진폭비뿐만 아니라 입사편광 방향에 대한 상기 투과광의 위상차의 액정시료 방위각 의존성을 측정하여, 액정시료의 초기배향각을 결정하는 장치의 구성도를 나타낸다. 광원 (11)으로부터 방출된 광은 편광자 (12)를 통과하여 직선편광화된 후, 1/2 파장판 (13)에 입사한다. 광원으로서는 1㎽ He-Ne 레이저를 사용했다. 입사광은 시료 (14)에 수직으로 입사한다. 시료로부터의 투과광은 1/4 파장판 (15)과 검광자 (16)를 통과한 후에 검출기 (17)에 들어간다. 이 검출기 (17)에 의하여 투과광의 편광상태를 측정하고, 얻어진 데이터를 사용하여 액정 초기배향각이 데이터 해석 장치 (19)에 의해 산출된다. 편광자와 검광자의 방위는 서로 평행하게 되었다.
투과광의 편광상태는 1/4 파장판 (15)에 대한 검출 강도의 방위 의존성으로부터 구해진 회전 위상자법에 의하여 결정된다. 편광 측정은 위상자 방위각의 3도간격으로 검출 강도를 추출하여 실시한다. 더욱이, 입사광의 편광 방향은 1/2 파장판에 의하여 변화하기 때문에, 액정시료를 투과하는 투과광에서 발생하는 편광상태의 변화에 주목하기 위하여, 투과광의 진폭비 성분은 입사광의 편광 방위 회전을 고려하여 결정된다. 더욱이, 실시예 2에서 처럼, 검광자 방위를 1/2 파장판과 동기로 회전시켜 측정하는 것도 가능하다.
이 배치에서, 아래와 같은 액정시료의 측정을 실시했다. 두께 1.1mm인 코닝사의 7059 유리 기판에 닛산사의 배향제 PI-A를 회전 도금으로 도포하고, 250℃로 1시간동안 가열한 후에, 레이온 포로 표면의 마찰을 실시했다. 마찰 방향이 서로 반대가 되도록 2장의 유리 기판을 접착제로 접합하여 셀을 만들었다. 이 때, 접착제 중에 10 ㎛의 스페이서를 혼합하여 만들었다(시료 C). 이 셀 중에 네마틱 액정 (상품명 : ZNI-2293, Merck사 제품) 을 모세관 현상에 의하여 주입했다.
도 7에 투과광의 위상차, 도 8에 투과광의 진폭비의 시료 방위각 의존성의 측정 결과 (o) 와 계산 결과 (곡선) 를 표시했다. 다만, 진폭비는 많은 과거의 문헌에서 정의된 바와 같이 진폭비의 아크 탄젠트 ψ로 표시했다. 또, 시료 방위각은 마찰 방향이 입사광의 진동 방향과 45도를 이루는 방위를 0도로 정의했다. 액정의 굴절률을 1.631과 1.500으로 하여 반사광의 편광상태를 계산하였다. 초기배향각 3.44도, 액정층 두께 10.3㎛로 하였을 때에, 계산결과가 측정결과에 더 근접했다. 도 7 과 도 8 중의 실선은 이러한 값들을 사용하여 계산된 반사광의 편광상태를 나타낸다. 이와 같은 경우, 시료의 초기배향각은 3.4도로 결정되었다.
상기에서 설명한 바와 같은 본 발명에 따르면, 시료표면에 대한 광의 입사각이 일정하면, 측정중에 액정층 내부의 광경로가 변화하지 않기 때문에, 종래 기술의 결점이었던 액정층 두께의 불균일에 의한 정확도의 저하가 없다. 또, 투과광의 편광상태의 측정시에, 종래 기술에서와는 달리 액정시료의 회전에 따른 검출기 위치를 조정할 필요가 없어서, 검출기 위치를 고정하여 측정하는 것이 가능하기 때문에, 신속한 측정이 가능하다.

Claims (12)

  1. 직선편광을 액정시료에 입사하고 투과광의 편광상태를 측정함으로써 액정 초기배향각을 결정하는 액정 초기배향각의 측정방법에 있어서,
    상기 직선편광은 액정시료의 표면에 수직으로 입사되고,
    상기 액정시료의 초기배향각은, 상기 액정시료를 면내에서 회전시켜, 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을 측정함으로써 결정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을, 상기 액정시료의 후방에 설치된 1/4 파장판을 회전시킴으로써 측정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을, 상기 액정시료의 후방에 설치된 검광자를 회전시킴으로써 측정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법.
  4. 직선편광을 액정시료에 입사하고 투과광의 편광상태를 측정함으로써 액정 초기배향각을 결정하는 액정 초기배향각의 측정방법에 있어서,
    상기 직선편광은 편광자를 통과한 후에 액정시료의 표면에 수직으로 입사되고,
    상기 액정시료의 초기배향각은, 상기 편광자를 면내에서 회전시켜, 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을 측정함으로써 결정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을, 상기 액정시료의 후방에 설치된 1/4 파장판을 회전시킴으로써 측정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법.
  6. 제 4 항에 있어서, 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을, 상기 액정시료의 후방에 설치된 검광자를 회전시킴으로써 측정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법.
  7. 직선편광을 액정시료에 입사하고 투과광의 편광상태를 측정함으로써 액정 초기배향각을 결정하는 액정 초기배향각의 측정방법에 있어서,
    상기 직선편광은, 편광자 및 1/2 파장판을 통과한 후에 액정시료의 표면에 수직으로 입사되고,
    상기 액정시료의 초기배향각은, 상기 1/2 파장판을 면내에서 회전시켜, 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을 측정함으로써 결정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을, 상기 액정시료의 후방에 설치된 1/4 파장판을 회전시킴으로써 측정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법.
  9. 제 7 항에 있어서, 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차의 입사편광 방향에 대한 액정시료의 방위각 의존성을, 상기 액정시료의 후방에 설치된 검광자를 회전시킴으로써 측정하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정방법.
  10. 광원과,
    상기 광원으로부터 방출되는 광을 편광시키는 편광자와,
    측정 대상인 액정시료를 지지하는 지지대와,
    상기 지지대를 면내에서 회전시키는 기구와,
    상기 액정시료를 투과한 광으로써 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차를 측정하는 수단과,
    상기 측정된 편광으로부터 액정 초기배향각을 결정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정장치.
  11. 광원과,
    상기 광원으로부터 방출되는 광을 편광시키는 편광자와,
    상기 편광자를 면내에서 회전시키는 기구와,
    상기 편광자의 후방에 설치되며, 또한 측정의 대상인 액정시료를 지지하는 지지대와,
    상기 액정시료를 투과한 광으로써 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차를 측정하는 수단과,
    상기 측정된 편광으로부터 액정 초기배향각을 결정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정장치.
  12. 광원과,
    상기 광원으로부터 방출되는 광을 편광시키는 편광자와,
    상기 편광자의 후방에 설치된 1/2 파장판과,
    상기 1/2 파장판을 면내에서 회전시키는 기구와,
    상기 1/2 파장판의 후방에 설치되며, 또한 측정의 대상인 액정시료를 지지하는 지지대와,
    상기 액정시료를 투과한 광으로써 상기 투과광의 진폭비뿐만 아니라 상기 투과광의 위상차를 측정하는 수단과,
    상기 측정된 편광으로부터 액정 초기배향각을 결정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 초기배향각의 측정장치.
KR1019980052319A 1997-12-02 1998-12-01 액정초기배향각의측정방법및액정초기배향각의측정장치 KR100317567B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9331715A JPH11160198A (ja) 1997-12-02 1997-12-02 液晶初期配向角測定方法及び液晶初期配向角測定装置
JP97-331715 1997-12-02

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990062695A true KR19990062695A (ko) 1999-07-26
KR100317567B1 KR100317567B1 (ko) 2002-06-20

Family

ID=18246788

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980052319A KR100317567B1 (ko) 1997-12-02 1998-12-01 액정초기배향각의측정방법및액정초기배향각의측정장치

Country Status (3)

Country Link
US (3) US6317208B1 (ko)
JP (1) JPH11160198A (ko)
KR (1) KR100317567B1 (ko)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3535786B2 (ja) 1999-12-03 2004-06-07 Ｎｅｃエレクトロニクス株式会社 液晶表示素子評価法及び評価装置
JP3910352B2 (ja) * 2000-04-11 2007-04-25 三菱電機株式会社 プレチルト角検出方法及び検出装置
US6633358B1 (en) * 2000-11-15 2003-10-14 The Hong Kong University Of Science And Technology Methods and apparatus for measurement of LC cell parameters
JP4895428B2 (ja) * 2001-03-12 2012-03-14 シンテック株式会社 液晶セルの配向パラメータ測定方法および測定装置
JP3733112B2 (ja) * 2002-12-24 2006-01-11 三洋電機株式会社 投写装置及び該投写装置に用いる液晶パネルユニット
US7218398B2 (en) * 2003-11-26 2007-05-15 Smith Matthew H Method and apparatus for determining liquid crystal cell parameters from full Mueller matrix measurements
US7808637B2 (en) 2003-11-26 2010-10-05 Axometrics, Incorporated Method and apparatus for determining liquid crystal cell parameters from full mueller matrix measurements
US7382258B2 (en) * 2004-03-19 2008-06-03 Applera Corporation Sample carrier device incorporating radio frequency identification, and method
US20080238627A1 (en) * 2005-03-22 2008-10-02 Applera Corporation Sample carrier device incorporating radio frequency identification, and method
US7187286B2 (en) 2004-03-19 2007-03-06 Applera Corporation Methods and systems for using RFID in biological field
US7154601B2 (en) * 2004-04-22 2006-12-26 Optimax Technology Corporation Testing method for a polarizing plate
US20060103843A1 (en) * 2004-11-17 2006-05-18 Optimax Technology Corporation Device and method for automatically calibrating an LCD panel
JP2006171683A (ja) * 2004-11-18 2006-06-29 Olympus Corp センサーユニット及び画像表示装置
KR101113109B1 (ko) * 2010-02-12 2012-02-15 (주)엘립소테크놀러지 배향막의 배향 상태 측정 장치 및 측정 방법
CN104460062B (zh) * 2014-12-12 2018-09-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种光配向特性检测方法、装置及系统
CN111670072B (zh) 2018-01-30 2023-10-27 生命技术公司 用于智能分子分析系统的工作流中的仪器、装置和消耗品

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5381253A (en) * 1991-11-14 1995-01-10 Board Of Regents Of University Of Colorado Chiral smectic liquid crystal optical modulators having variable retardation
JP3108938B2 (ja) 1991-07-12 2000-11-13 カシオ計算機株式会社 液晶分子のチルト角測定方法
JP2953128B2 (ja) 1991-08-06 1999-09-27 日本電気株式会社 液晶初期配向角測定用液晶素子及び測定方法
JPH0682239A (ja) 1992-09-04 1994-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶材料のプレチルト角測定方法及びその装置
JP3037009B2 (ja) 1992-12-24 2000-04-24 キヤノン株式会社 液晶装置の量産方法
JPH0713114A (ja) 1993-06-22 1995-01-17 Sony Corp 液晶のプレティルト角の測定方法と測定装置
JP2606152B2 (ja) 1994-09-28 1997-04-30 日本電気株式会社 プレチルト角測定装置
US5903352A (en) * 1995-01-27 1999-05-11 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus and method for measuring optical anisotropy
JP3379287B2 (ja) 1995-06-26 2003-02-24 松下電器産業株式会社 複屈折層ギャップ厚測定方法
JP3411433B2 (ja) 1995-09-28 2003-06-03 株式会社リコー 液晶セルのプレティルト角測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
US6490036B2 (en) 2002-12-03
US6317208B1 (en) 2001-11-13
US20020024667A1 (en) 2002-02-28
US20020012121A1 (en) 2002-01-31
KR100317567B1 (ko) 2002-06-20
JPH11160198A (ja) 1999-06-18
US6473180B2 (en) 2002-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100317567B1 (ko) 액정초기배향각의측정방법및액정초기배향각의측정장치
Zhou et al. A novel method for determining the cell thickness and twist angle of a twisted nematic cell by Stokes parameter measurement
US6822737B2 (en) Pretilt angle measuring method and measuring instrument
JPH04307312A (ja) 液晶セルのギャップ厚測定方法
Han et al. Accurate measurement of the pretilt angle in a liquid crystal cell by an improved crystal rotation method
Benecke et al. Determination of director distributions in liquid crystal polymer-films by means of generalized anisotropic ellipsometry
KR100293008B1 (ko) 액정프리틸트각의측정방법및액정프리틸트각의측정장치
US6628389B1 (en) Method and apparatus for measuring cell gap of VA liquid crystal panel
Oh-ide et al. Surface coupling between nematic liquid crystals and rubbed polyimide substrates for pure twist deformation: Dependence on rubbing strength
US6633358B1 (en) Methods and apparatus for measurement of LC cell parameters
Zhou et al. An improved stokes parameter method for determination of the cell thickness and twist angle of twisted nematic liquid crystal cells
JPH0763670A (ja) 分子配向特性測定装置
US7079245B2 (en) Method and apparatus for detecting gap of liquid-crystal panel and apparatus therefor
Faetti et al. An improved reflectometric method to measure the azimuthal anchoring energy of nematic liquid crystals
JP2606152B2 (ja) プレチルト角測定装置
Jánossy High-precision measurement of azimuthal rotation of liquid crystals on solid substrates
Hwang et al. Heterodyne method for determining the surface tilt angle of nematic liquid‐crystal displays
JP3006806B2 (ja) 液晶セルのセル厚測定方法
Gwag et al. High pretilt angle measurement by extended crystal rotation method
O'Flaherty et al. System for high-sensitivity measurement of birefringence using a photoelastic modulator, and its applications
JP2565147B2 (ja) ツイスト角およびセルギャップの測定方法
JPH0713114A (ja) 液晶のプレティルト角の測定方法と測定装置
JPH08128946A (ja) 光学特性測定方法及び測定装置
Honma et al. Application of a circularly homogeneously aligned liquid-crystal cell to real-time measurements of twist angles in twisted-nematic liquid-crystal cells
Birecki et al. Accurate optical measurement of small tilt angles in thin twisted nematic layers

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20041124

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee