JP3006806B2 - 液晶セルのセル厚測定方法 - Google Patents
液晶セルのセル厚測定方法Info
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- JP3006806B2 JP3006806B2 JP3258593A JP25859391A JP3006806B2 JP 3006806 B2 JP3006806 B2 JP 3006806B2 JP 3258593 A JP3258593 A JP 3258593A JP 25859391 A JP25859391 A JP 25859391A JP 3006806 B2 JP3006806 B2 JP 3006806B2
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- cell
- crystal cell
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、液晶表示セルに利用
される液晶セルのセル厚測定方法に関するものである。
される液晶セルのセル厚測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の液晶セルの構造は、図３に図示し
たように、一対のガラス基板１をシール材２で接着し、
該一対のガラス基板１間には液晶３が注入してあり、上
方にはディテクター５を配置し、上側からは反射測定光
４ｂを、下側からは透過測定光４ａを照射している。
たように、一対のガラス基板１をシール材２で接着し、
該一対のガラス基板１間には液晶３が注入してあり、上
方にはディテクター５を配置し、上側からは反射測定光
４ｂを、下側からは透過測定光４ａを照射している。
【０００３】そして、光干渉法等を用いて液晶３注入後
のセル厚を測定する場合は、測定光４ａ、４ｂが偏光を
含む時、該偏光に対する液晶セルの方向を決めて透過光
スペストルを測定して液晶セルの光学的光路差を求め、
その偏光方向に対応する液晶の屈折率で割ることにより
セル厚を求めている。
のセル厚を測定する場合は、測定光４ａ、４ｂが偏光を
含む時、該偏光に対する液晶セルの方向を決めて透過光
スペストルを測定して液晶セルの光学的光路差を求め、
その偏光方向に対応する液晶の屈折率で割ることにより
セル厚を求めている。
【０００４】なお、上記屈折率は、例えば、ホモジニア
ス配向したセル（図４参照）では、ガラス基板１間で、
偏光方向と液晶分子３ａの主軸方向が平行な場合には、
その液晶分子３ａの異常光に対する屈折率であり、ま
た、ガラス基板１間で、偏光方向と液晶分子３ａの主軸
方向が直交する場合には、常光に対する屈折率をいう。
ス配向したセル（図４参照）では、ガラス基板１間で、
偏光方向と液晶分子３ａの主軸方向が平行な場合には、
その液晶分子３ａの異常光に対する屈折率であり、ま
た、ガラス基板１間で、偏光方向と液晶分子３ａの主軸
方向が直交する場合には、常光に対する屈折率をいう。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ホモジニアス
配向のセルでは、その主軸の方向を決めることによっ
て、そのセルの屈折率を規定することが可能であるが、
例えばＴＮセル（図５参照）や、ＳＴＮセル（図６参
照）の場合は、液晶分子の主軸方向の空間分布が連続的
に変化（ツイストとテイルト）しているため、例え測定
偏光に対する基板界面の液晶配向方向が判っているとし
ても、そのセルの屈折率の値を簡単に規定することがで
きない。
配向のセルでは、その主軸の方向を決めることによっ
て、そのセルの屈折率を規定することが可能であるが、
例えばＴＮセル（図５参照）や、ＳＴＮセル（図６参
照）の場合は、液晶分子の主軸方向の空間分布が連続的
に変化（ツイストとテイルト）しているため、例え測定
偏光に対する基板界面の液晶配向方向が判っているとし
ても、そのセルの屈折率の値を簡単に規定することがで
きない。
【０００６】従って、従来の液晶セル厚測定方法では、
光学的光路差は測定できても、ギャップの値を計算でき
ないという大きな問題点がある。
光学的光路差は測定できても、ギャップの値を計算でき
ないという大きな問題点がある。
【０００７】また、一軸配向のセルの場合も、プレテイ
ルト角θ（図７参照）を有するときは、同様な問題点が
ある。
ルト角θ（図７参照）を有するときは、同様な問題点が
ある。
【０００８】そこで、本発明は、上記従来の技術の問題
点に鑑み案出されたもので、正確なギャップ測定が可能
な液晶セルのセル厚測定方法の提供を目的としている。
点に鑑み案出されたもので、正確なギャップ測定が可能
な液晶セルのセル厚測定方法の提供を目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明における液晶セルのセル厚測定方法において
は、内面に透明電極を有する一対のガラス基板をシール
材で接着すると共に、該一対のガラス基板間には誘電率
異方性が正の液晶を注入し、液晶セルのギャップ測定時
に、該液晶セルにしきい電圧の５０倍以上の高電圧若し
くはしきい磁界の５０倍以上の高磁界をかけながら測定
して成るものである。
に、本発明における液晶セルのセル厚測定方法において
は、内面に透明電極を有する一対のガラス基板をシール
材で接着すると共に、該一対のガラス基板間には誘電率
異方性が正の液晶を注入し、液晶セルのギャップ測定時
に、該液晶セルにしきい電圧の５０倍以上の高電圧若し
くはしきい磁界の５０倍以上の高磁界をかけながら測定
して成るものである。
【００１０】
【作用】ギャップ測定時に、該液晶セルに高電圧をかけ
ながら測定を行うため、液晶セルの屈折率が規定でき
る。従って、ＴＮ，ＳＴＮ、プレテイルト配向セル等モ
ードにおいても、正確なギャップ測定ができる。
ながら測定を行うため、液晶セルの屈折率が規定でき
る。従って、ＴＮ，ＳＴＮ、プレテイルト配向セル等モ
ードにおいても、正確なギャップ測定ができる。
【００１１】
【実施例】本発明は、誘電率異方性が正の液晶に電界を
かけた場合、液晶分子が電界方向を向くという性質を利
用したものであり、誘電率異方性が正の液晶を用いて該
液晶分子が水平若しくはプレテイルト配向（ツイスト配
向の有無は問わない）している液晶セルのギャップ測定
方法である。
かけた場合、液晶分子が電界方向を向くという性質を利
用したものであり、誘電率異方性が正の液晶を用いて該
液晶分子が水平若しくはプレテイルト配向（ツイスト配
向の有無は問わない）している液晶セルのギャップ測定
方法である。
【００１２】次に、実施例について図１から図２を参照
して説明すると、一対のガラス基板１０の内面には、透
明電極４０が配設してあり、該一対のガラス基板１０同
士はシール材５０で接着し、ガラス基板１０間には誘電
率異方性が正の液晶６０が注入されている。
して説明すると、一対のガラス基板１０の内面には、透
明電極４０が配設してあり、該一対のガラス基板１０同
士はシール材５０で接着し、ガラス基板１０間には誘電
率異方性が正の液晶６０が注入されている。
【００１３】また、上方にはデイテクター８０を配置
し、透明電極４０には交流電圧９０が印加可能に配置さ
れている。
し、透明電極４０には交流電圧９０が印加可能に配置さ
れている。
【００１４】さらに、上方からは反射測定光７０ｂ、下
側からは透明測定光７０ａが照射されている。
側からは透明測定光７０ａが照射されている。
【００１５】Ａ．ところで、図２に図示したように、透
明電極４０に高電界をかけた時は、液晶セル内の液晶分
子２０の殆どは、該電界方向にすなわち、ガラス基板１
０に対し法線方向に再配列する。すなわち、電界が弱い
ときには、界面のアンカーリング力により，基板界面付
近の液晶分子２０は初期配向の方向に近い方向に配向し
ているが、電界が強いときには、このような部分の厚さ
３０が、セル厚に比べて無視できる程薄くなる。
明電極４０に高電界をかけた時は、液晶セル内の液晶分
子２０の殆どは、該電界方向にすなわち、ガラス基板１
０に対し法線方向に再配列する。すなわち、電界が弱い
ときには、界面のアンカーリング力により，基板界面付
近の液晶分子２０は初期配向の方向に近い方向に配向し
ているが、電界が強いときには、このような部分の厚さ
３０が、セル厚に比べて無視できる程薄くなる。
【００１６】そこで、上記条件にするために、液晶セル
にしきい電圧の５０倍以上の高電圧若しくはしきい磁界
の５０倍以上の高磁界をかけるようにしている。
にしきい電圧の５０倍以上の高電圧若しくはしきい磁界
の５０倍以上の高磁界をかけるようにしている。
【００１７】Ｂ．次に、上記Ａと同様な条件下で、従来
と同様な方法でセル厚を測定し光学的光路差を決定して
いる。
と同様な方法でセル厚を測定し光学的光路差を決定して
いる。
【００１８】Ｃ．また、上記Ａの様な条件下では、セル
の垂直方向であれば、如何なる方向から入射する偏光に
対しても、該液晶セルの屈折率は該液晶の常光方向の屈
折率になるため、この値でＢで求めた光学的光路差を割
ることにより、該液晶セルのセル厚を求めることができ
る。
の垂直方向であれば、如何なる方向から入射する偏光に
対しても、該液晶セルの屈折率は該液晶の常光方向の屈
折率になるため、この値でＢで求めた光学的光路差を割
ることにより、該液晶セルのセル厚を求めることができ
る。
【００１９】なお、垂直配向したセルに於いても、液晶
６０の誘電率異方性が正である限り、此の方法は有効で
ある。
６０の誘電率異方性が正である限り、此の方法は有効で
ある。
【００２０】
【発明の効果】本発明は、上述の通り構成され、液晶セ
ルの屈折率が規定できるため、セルギャップ測定が困難
なモードのＴＮ，ＳＴＮ、プレテイルト配向セル等にお
いても正確なギャップ測定ができる。
ルの屈折率が規定できるため、セルギャップ測定が困難
なモードのＴＮ，ＳＴＮ、プレテイルト配向セル等にお
いても正確なギャップ測定ができる。
【図１】本発明の測定方法の概略図である。
【図２】本発明の液晶の配列状態の説明図である。
【図３】従来の測定方法の概略図である。
【図４】ホモジニアス配向セルの分子配列説明図であ
る。
る。
【図５】ＴＮセルの分子配列説明図である。
【図６】ＳＴＮセルの分子配列説明図である。
【図７】プレテイルト角セルの分子配列説明図である。
１０ ガラス基板 ２０ 液晶分子 ４０ 透明電極 ５０ シール材 ６０ 液晶 ７０ａ 測定光（反射） ７０ｂ 測定光（透過） ８０ ディテクター
Claims (1)
- 【請求項１】内面に透明電極を有する一対のガラス基板
をシール材で接着すると共に、該一対のガラス基板間に
は誘電率異方性が正の液晶を注入し、液晶セルのギャッ
プ測定時に、該液晶セルにしきい電圧の５０倍以上の高
電圧若しくはしきい磁界の５０倍以上の高磁界をかけな
がら測定して成る液晶セルのセル厚測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3258593A JP3006806B2 (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 液晶セルのセル厚測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3258593A JP3006806B2 (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 液晶セルのセル厚測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0571924A JPH0571924A (ja) | 1993-03-23 |
| JP3006806B2 true JP3006806B2 (ja) | 2000-02-07 |
Family
ID=17322422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3258593A Expired - Lifetime JP3006806B2 (ja) | 1991-09-09 | 1991-09-09 | 液晶セルのセル厚測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3006806B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW477897B (en) | 1999-05-07 | 2002-03-01 | Sharp Kk | Liquid crystal display device, method and device to measure cell thickness of liquid crystal display device, and phase difference plate using the method thereof |
| WO2001016646A1 (fr) * | 1999-09-01 | 2001-03-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Panneau d'affichage a cristaux liquides et son procede de production |
| JP6638316B2 (ja) * | 2015-10-22 | 2020-01-29 | Dic株式会社 | 液晶組成物の弾性定数測定装置、及び液晶組成物の弾性定数測定方法 |
-
1991
- 1991-09-09 JP JP3258593A patent/JP3006806B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0571924A (ja) | 1993-03-23 |
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