KR19990031195U

KR19990031195U - 푸셔 및 캐리어의 방열구조

Info

Publication number: KR19990031195U
Application number: KR2019970043904U
Authority: KR
Inventors: 진한호; 오영균; 최진선
Original assignee: 김영환; 현대전자산업 주식회사
Priority date: 1997-12-30
Filing date: 1997-12-30
Publication date: 1999-07-26
Also published as: KR200248168Y1

Abstract

본 고안은 메모리 테스트장치에 관한 것으로서, 특히, 몸체의 하단부분에 연결축으로 연결되는 헤드를 갖는 푸셔와; 상기 헤드의 저면에 고정되어 메모리장치가 고정되는 캐리어로 구성된 메모리 테스트장치에서, 상기 헤드의 외측으로 일정 간격으로 돌출되어 헤드에 발생된 열을 방출하는 방열부재와; 상기 헤드의 저면부분에 원형축으로 돌출된 폴대와; 상기 폴대에 끼워지는 폴대끼움공이 형성되고, 상부면에 헤드 저면 사이의 공간부분으로 흐르는 공기를 유도하는 방열판을 형성하며, 메모리장치를 고정시키는 캐리어로 구성된 푸셔 및 캐리어의 방열구조인 바, 메모리장치를 온도변동이 없는 안정적인 상태에서 테스트를 하므로 신뢰성 있는 테스트작업을 수행하도록 하는 매우 유용하고 효과적인 고안이다.

Description

푸셔 및 캐리어의 방열구조

본 고안은 메모리장치에 관한 것으로, 특히, 메모리장치를 고정하는 캐리어에 공기가 흐를 수 있는 공간을 갖는 방열판을 형성하고, 이 캐리어에 상측으로 부터 끼워지는 헤드에 열을 외부로 방출시키는 방열부재를 형성한 푸셔를 사용하므로 메모리장치를 온도변동이 없는 안정적인 상태에서 테스트를 하므로 신뢰성 있는 테스트작업을 수행하도록 하는 푸셔 및 캐리어의 방열구조에 관한 것이다.

일반적으로, 메모리장치(Memory Device)는 테이터나 프로그램의 명령등을 정보로 기억하는 장치로서, 반도체메모리장치가 대표적으로서, 이러한 메모리장치를 제조한 후에 사용자가 원하는 상태로 제조되었는 지 여부를 판별하기 위하여 메모리장치를 테스트하는 작업을 거치게 된다.

이와 같이, 메모리장치의 특성을 측정하기 위하여서는 메모리장치를 캐리어(Carrier)라는 특수한 용기에 담아서 고정시킨 후에 푸셔(Pusher)라고 하는 기구의 헤드(Head)부분에 메모리장치가 내장된 캐리어를 고정시켜서 메모리장치의 각종의 특성을 측정하게 된다.

도 1은 종래의 일반적인 푸셔를 보인 도면이고, 도 2는 종래의 캐리어부재에 메모리장치를 고정하여 푸셔를 이용하여 메모리장치의 전기적특성을 측정하는 상태를 보인 도면으로서, 종래의 푸셔는 고정부(2)를 통하여 상부에 고정되는 몸체(3)가 형성되고, 이 몸체(3)의 하측에는 연결축(4)을 통하여 원형의 헤드(5)가 고정되어 형성된다.

그리고, 이 푸셔(1)의 헤드(5) 저면에는 도 2에 도시돤 바와 같이, 메모리장치(7)가 보관되는 캐리어(6)를 고정시켜서 전기적으로 도전시킨 상태에서 사용할 때에 필요한 각종의 신호를 입력하여 메모리장치(7)의 전기적인 특성을 측정하게 된다.

그런데, 상기한 바와 같이, 일반적으로 종래의 메모리장치(7)를 고정하는 캐리어부재(6)의 온도를 정확하게 유지하기 어려워서 테스트를 진행하는 동안에 메모리장치(7)에 전달되어지는 온도를 효율적으로 제어하지 못하여 메모리장치(7)의 측정값이 정확하지 못할 뿐만아니라 심한 경우에는 메모리장치(7)에 데미지를 가하게 되어 생산성을 저하시키게 돠는 등의 문제점을 지니고 있었다.

본 고안은 이러한 점을 감안하여 안출한 것으로서, 메모리장치를 고정하는 캐리어에 공기가 흐를 수 있는 공간을 갖는 방열판을 형성하고, 이 캐리어에 상측으로 부터 끼워지는 헤드에 열을 외부로 방출시키는 방열부재를 형성한 푸셔를 사용하므로 메모리장치를 온도변동이 없는 안정적인 상태에서 테스트를 하므로 신뢰성 있는 테스트작업을 수행하도록 하는 것이 목적이다.

도 1은 종래의 일반적인 푸셔를 보인 도면.

도 2는 종래의 캐리어에 메모리장치를 고정하여 푸셔를 이용하여 메모리장치의 전기적특성을 측정하는 상태를 보인 도면.

도 3은 본 고안에 따른 방열부재를 갖는 푸셔를 보인 도면.

도 4는 본 고안에 따른 캐리어를 보인 평면도.

도 5는 본 고안에 따른 캐리어에 메모리장치를 고정하여 푸셔를 이용하여 메모리장치의 전기적특성을 측정하는 상태를 보인 도면.

-도면의 주요부분에 대한 부호의 설명-

10 : 푸셔 12 : 고정부

14 : 몸체 16 : 연결축

20 : 헤드 22 : 방열부재

24 : 폴대 30 : 캐리어

32 : 캐리어샤시 34 : 방열판

40 : 메모리장치

이러한 목적은 몸체의 하단부분에 연결축으로 연결되는 헤드를 갖는 푸셔와; 이 헤드의 저면에 고정되어 메모리장치가 고정되는 캐리어로 이루어진 메모리 테스트장치에서, 이 헤드의 외측으로 일정 간격으로 돌출되어 헤드에 발생된 열을 방출하는 방열부재와; 상기 헤드의 저면부분에 원형축으로 돌출된 폴대와; 상기 폴대에 끼워지는 폴대끼움공이 형성되고, 상부면에 헤드 저면 사이의 공간부분으로 흐르는 공기를 유도하는 방열판을 형성하며, 메모리장치를 고정시키는 캐리어로 구성된 푸셔 및 캐리어의 방열구조를 제공함으로써 달성된다.

이하, 첨부한 도면에 의거하여 본 고안의 구성에 대하여 상세히 설명한다.

우선, 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 본 고안인 몸체(14)의 하단부분에 연결축(16)으로 연결되는 헤드(20)를 갖는 푸셔(10)와. 상기 헤드(20)의 저면에 고정되어 메모리장치(40)가 고정되는 캐리어(30)로 구성된 메모리 테스트장치에서 , 상기 헤드(20)의 외측으로 일정 간격으로 돌출되어 헤드(20)에 발생된 열을 방출하는 방열부재(22)와; 상기 헤드(20)의 저면부분에 원형축으로 돌출된 폴대(24)와; 상기 폴대(24)에 끼워지는 폴대끼움공(36)이 형성되고, 상부면에 헤드(20) 저면 사이의 공간부분으로 흐르는 공기를 유도하는 방열판(34)을 형성하며, 메모리장치(40)를 고정시키는 캐리어(30)로 구성된다.

그리고, 상기 방열부재(22)는 원형 단면의 봉상으로 돌출되어 헤드(20)에서발생되는 열을 방열부재(22)를 통하여 외부로 방출시키도록 한다.

또한, 상기 방열판(34)은 캐리어(30)의 상부면으로 타원형상으로 다단계로 형성되어 헤드(20)와 캐리어(30) 사이로 공기가 흐를 수 있는 공간을 확보하여 캐리어(30)에서 발생되는 열을 신속하게 방열하도록 한다.

이하, 본 고안의 작용을 개략적으로 살펴보도록 한다.

본고안의 실시예의 사용 상태를 살펴 보면, 먼저 도 5에 도시된 바와 같이, 본 장치를 이용하여 메모리장치(40)의 테스트를 수행하고자 한다면, 측정 대상이 되는 메모리장치(40)를 캐리어(30)의 저면부분에 필요한 숫자 만큼 장착하여 방열판(34)이 상측으로 돌출된 상태로 캐리어(30)의 폴대끼움공(36)을 헤드(20)의 하측으로 돌출되는 폴대(24)에 끼워서 캐리어(20)를 푸셔(10)의 헤드(20) 저면부분에 고정시키도록 한다.

이와 같이 메모리장치(40)에 테스트에 필요한 전기적 도전 상태에서 측정을 수행하는 과정에서 다량의 열이 헤드(20)와 캐리어(30)의 상부면에서 발생하더라도, 헤드(20)의 주위로 돌출되는 방열부재(22)에 의하여 헤드(20)의 열이 외부로 방출되어지며, 헤드(20) 저면의 폴대(24)로 인하여 헤드(20) 저면부와 캐리어(30)의 상부면 사이에 공간이 확보되어 방열작용이 원활하게 이루어지며, 그 방열작용은 캐리어(30)상에 돌출되는 방열판(34)에 의하여 더욱 더 촉진되는 것이다.

그러므로, 캐리어(30)에 고정된 메모리장치(40)에 열이 가하여지는 것을 효과적으로 방지하므로 인하여 메모리장치(40)의 측정값이 정확하게 되는 것이다.

따라서, 상기한 바와 같이 본 고안에 따른 푸셔 및 캐리어의 방열구조를 사용하게 되면, 메모리장치를 고정하는 캐리어에 공기가 흐를 수 있는 공간을 갖는 방열판을 형성하고, 이 캐리어에 상측으로 부터 끼워지는 헤드에 열을 외부로 방출시키는 방열부재를 형성한 푸셔를 사용하므로 메모리장치를 온도변동이 없는 안정적인 상태에서 테스트를 하므로 신뢰성 있는 테스트작업을 수행하도록 하는 매우 유용하고 효과적인 고안이다.

Claims

몸체의 하단부분에 연결축으로 연결되는 헤드를 갖는 푸셔와. 상기 헤드의 저면에 고정되어 메모리장치가 고정되는 메모리 테스트장치에 있어서,

상기 헤드의 외측으로 일정 간격으로 돌출되어 헤드에서 발생된 열을 방출하는 방열부재와;

상기 헤드의 저면부분에 원형축으로 돌출된 폴대와;

상기 폴대에 끼워지는 폴대끼움공이 형성되고, 상부면에 헤드 저면 사이의 공간부분으로 흐르는 공기를 유도하는 방열판을 형성하며, 메모리장치를 고정시키는 캐리어로 구성된 것을 특징으로 하는 푸셔 및 캐리어의 방열구조.
제 1 항에 있어서, 상기 방열부재는 원형 단면의 봉상으로 돌출되는 것을 특징으로 하는 푸셔 및 캐리어의 방열구조.
제 1 항에 있어서, 상기 방열판은 캐리어의 상부면으로 타원형상으로 다단계로 형성되는 것을 특징으로 하는 푸셔 및 캐리어의 방열구조.