KR19980018347A - 노출측정장치 - Google Patents

Abstract

상 모사 시스템, 표면에 반사 구조물(7)이 있고 크기가 거의 상촬영 포맷에 상응하는, 상 모사 광선의 경로에 존재하는 반사기, 및 촬영을 위한 하나 이상의 광전 수신기(18)를 갖는, 반사 구조물(7)로부터 유래하고 특정 상 영역에 귀속되는 광도를 갖는 사진기에서 노출을 측정하기 위한 장치에 있어서, 노출을 측정하는 동안 반사기-표면이 사진기의 필름면(17) 근처에 위치하고 반사기-표면이 하나 이상의 제한된 광투과 영역(8)을 나타내는 방식으로 반사기(6)가 사진기 하우징(1) 내에서 선회할 수 있으며, 광투과 영역 뒤에 광전 수신기(9)가 반사기(6)에 삽입된 노출측정 장치가 기재되어 있다.

Description

노출측정 장치

본 발명은 사진기에 있어서 특허 청구의 범위 제1항의 특징부를 갖는 노출측정 장치에 관한 것이다.

상을 촬영하려는 대물렌즈에 의해 전체적으로 노출측정 장치가 있는 사진기는 몇몇 형태가 공지되어 있다. 한 가지 방식은 노출을 측정하기 위해 필름면 앞에 광전 수신기를 선회시키는 파인더 사진기이다. 수신기는 촬영면을 한정하여 단지 상 부분만이 측정을 수행하기 위해 존재한다. 기타의 다른 방식은 차단커튼에 광을 반사하는 스폿을 설정하는 것이다. 당해 스폿에서 반사시키는 광은 사진기 하우징의 하부에 배치된 광전 수신기에 의해 측정 신호로 전환된다. 이러한 방식으로도 전체적인 상 영역에 대한 노출의 통합적인 측정을 성취할 수는 없다.

DE 제26 05 955 C2호에는 거울반사 사진기가 공지되어 있다. 반사기에는 주사(走査) 구조물이 존재하며, 주사 구조물은 부분적으로 광을 투과시키는 반사 거울을 통해 투과하는 상 모사 광을 사진기의 하부에 배치된 광전 수신기의 방향으로 조정한다. 주사 구조물은 다수의 볼록하거나 오목한, 벌집형 거울을 형성하는 동일한 초점거리의 거울요소로 구성된다. 거울요소는 각각의 단위요소의 중앙이 주요광선을 광전 수신기를 위해 반사시키는 경향이 있다.

또한, 반사기는 모사할 대물렌즈에 의해 나타나는 가장자리광을 광전 수신기에 대해 반사시키는 방식으로 약간의 휨을 나타낼 수 있다.

언급한 벌집형 거울은 2부분으로 나뉘어 중앙의 거울부분을 포함할 수 있으며, 중앙의 거울부분은 스폿 측정을 위해 사용되고 추가로 이를 포괄하는 더욱 큰 부분을 나타낸다. 포괄하는 거울부분은 선택적으로 작은 부분에 연결되어 두 부분이 함께 전체적인 상 영역의 통합적인 측정을 가능하게 한다.

반사기는 측정위치에서 사진기의 필름면상의 방향으로 선회하고 반사거울과 함께 촬영을 위해 광 경로로부터 펼쳐진다. 반사기는 사진기 하우징중 어차피 한정된 공간에서 상 모사 광의 경로를 제한하지 않기 위해 평면상으로 형성될 수 있어야 한다.

언급한 벌집형 요소의 목적은 광전 수신기의 방향으로 가능한 한 이상적으로 분산되는 산란 표면을 나타내는 것으로서, 당해 표면의 휘도는 촬영할 대상물의 휘도에 비례하고 대물렌즈의 개구정도에 비례한다. 실제로 오늘날 분할된 반사기가 사용되고 광전 수신기의 분류에 의해 서로 분리된 영역으로 스폿측정과 통합측정으로의 분류가 이루어지고 있다.

언급한 의미에서 분산되는 산란 반사기를 통한 광의 방향조정에 의해 광전 수신기면에 비교적 작은 전류가 제공되고, 당해 전류에 대해 측정 신호를 평가하기 위한 당해전류의 보강을 위해 비용이 많이 드는 전자공학적 부품이 필요하다.

DE 제12 09 419호로부터 차단기 앞에 움직이는 광 보호판막상에 작은 포토다이오드가 제공되는 거울반사 사진기가 공지되어 있다. 포토다이오드는 광 보호판막의 하강시 안정되어 있고 이로부터 상 모사 광의 경로에 대해 수직 위치에서 측정하기 위해 선회시켜야 한다. 포토다이오드는 직접 부분적으로 광을 투과시키는 반사거울 뒤에 당해 포토다이오드상의 높은 광 전류가 가능하도록 배치된다.

그러나 보호판막의 하강은 광 보호판막이 노출시 반사거울에 대해 선회되는 경우 상 모사 광의 경로를 제한한다. 스폿형태로 측정하는 포토다이오드의 언급한 배열은 주변환경에 대한 측정 시스템의 설치를 방해하여 통합적인 측정이 불가능해진다.

각각 언급한 일정한 대상물의 조명 이외에 종종 플래시에 의한 조명이 필요하다. 정확한 노출을 위해 노출에 앞서 대상물에 대한 플래시에 의해 맞춰진 광의 양을 측정하는 것이 유리하다. 이러한 측정은 마찬가지로 상을 촬영하는 대물렌즈에 의해 전체적으로 수행되고 단시간에 목적하는 높은 광의 산출, 예를 들어 스폿측정을 위한 포토다이오드가 광전 전환기로서 사용되는 것이 공지되어 있다.

DE 제31 49 655 C2호로부터 일정한 또는 동일한 평가 스위치를 사용하여 플래시 조명을 측정할 뿐만 아니라 일정한 주변의 조명을 측정하는 것이 공지되어 있다. 이를 위해 광의 변화를 측정함에 있어서 우선 신호를 대수적으로 압축시키는 동안 평가 스위치는 플래시 조명에 있어서 포토다이오드에 의해 나오는 신호를 직접 선형의 보강영역에 통합시키는 방식으로 개폐될 수 있다.

본 발명의 과제는, 한편으로는 광전 수신기에서 스폿측정을 위해 광의 산출량을 일정한 주변 조명으로 사실상 증가시키고, 다른 한편으로는 반사 사진기에 있어서 공지된 통합적인 측정의 가능성을 포함하고 마찬가지로 파인더 사진기용으로도 가능하게 하는 것에 근거한다. 이외에 촬영에 앞서 플래시 조명의 측정 가능성도 개선시켜야 한다.

이러한 과제는 본 발명에 따라 특허청구의 범위 제1항에 나타낸 특징부에 의해 해결된다. 추가의 유리한 형태는 후속 종속항의 특징부로부터 제공된다.

본 발명에 따라 비교적 작은 면의 상 영역으로 인해 통합적인 측정의 경우보다 광전 전환기에 있어서 더욱 작은 전류가 처리되는 전류측정에 있어서 반사기에 의해 우회하지 않고 직접 상 모사 광의 경로로 측정될 수 있는 이점이 제공된다. 이러한 배치에 의해 광 전류가 중앙 영역에 있어서 평가되는 사진기의 하부영역에서의 다수 영역의 수신기에 있어서 보다 약 30의 인수 더 크다. 그러나 동시에 이러한 수신기를 사용하는 통상의 통합 측정도 사용될 수 있다. 광전 다수 영역-수신기의 중앙 영역에 존재하지 않는 광도는 반사기에 존재하는 수신기의 신호를 중점적으로 고려함으로써 보충시킬 수 있다.

본 발명이 기초로 하는 개념은 이미 존재하고 필름면 근처에 존재하는 반사기를 캐리어로서 하나 이상의 광전 수신기용으로 사용하는 것이다. 반사기는 촬영에 앞서 어차피 광 경로로부터 선회되기 때문에 광전 수신기용으로 추가의 움직이는 캐리어요소를 고려하지 않는다.

스폿-수신기의 특히 평평한 구조로 인해 수신기는 이의 규격을 확대시키지 않고 반사기에 삽입될 수 있다. 필름면에 대한 광학적 상 모사 광의 경로는 이에 의해 제한되지 않는다. 전기적 연결부는 구부릴 수 있는 전선에 의해 계속 설치되는 전도관으로서 수신기 요소로부터 측면으로 뻗어 있고, 마찬가지로 전도관은 반사기의 배면에서 충분히 통합될 수 있다.

전선은 모서리에서 반사기를 빠져나와, 반사기의 선회축에 대해 평행하게 위치하고 우선 반사기 및 반사거울의 선회축에 후속적으로 설치된다. 종종 반사기와 반사거울의 펼쳐짐과 꺾임은 구부릴 수 있는 전선의 대단히 미미한 움직임에 대해 유도되어 당해 위치상에 파괴위험이 배제된다.

또한 스폿 수신기는 스폿 형태의 측광 측정을 위해 적용되며, 이때 평가 스위치는 상응하게 개폐되어야 한다. 광전 민감성 수신기면은 단면에 의해 반사 구조물에서 한정된다. 필름면에 인접한 위치에 의해 매우 정확한 배치의 측정 스폿이 상의 세부사항을 제공한다. 산란광의 흐름은 특별한 처리를 필요로 하지 않기 때문에 이러한 위치에서는 무시할 수 있다. 수신기상에 존재하는 스펙트럼 필터에 의해 수신기의 스펙트럼 민감성이 사진의 촬영을 위한 통상의 노출조건을 조절할 수 있다.

사진기 하우징의 하부영역에 위치하는, 통합적인 측정을 위한 수신기는 통상적인 방식으로 산란광 흐름에 대해 보호되어야 한다. TTL-플래시 자동 제어장치의 개선된 평가를 위해 통합적으로 측정되는 수신기 배치에 인접하여 측면으로 추가로 2개의 광전 수신기가 배치되는 것은 유리한 것으로 판명되며, 이들은 약 통합적으로 측정되는 수신기에 대해 대충 평평하다. 광을 집속하는 렌즈가 연결되는 동안 측면으로 배치된 수신기는 렌즈상에 지나가는 광을 수용한다. 이러한 추가의 수신기를 사용하여 통합적인 플래시 노출측정을 위한 민감성이 유리하게 대칭적으로 분포한다. 민감성의 조절은 통합적으로 측정되는 수신기에 대한 필터로서 기타의 투과성을 겸비한 스펙트럼 필터가 외부 수신기를 연결시킴으로써 더욱 개선된다.

도면에 본 발명에 따른 노출측정 장치에 대한 실시양태를 개략적으로 나타내며 이후 도면을 사용하여 더욱 상세하게 설명한다.

도 1은 본 발명에 따른 반사기를 갖는 거울반사 사진기의 단면도이다.

도 2는 반사기의 배면상에서의 부감도이다.

도 3은 반사기의 단면도이다.

도 4는 반사기의 정면상에서의 부감도이다.

도 5는 저급의 수신기 배열의 반사기상에서의 부감도이다.

실시예

도 1은 사진기 하우징(1) 및 특정한 거울반사 사진기를 나타낸다. 점직선으로 나타낸 것은 추가로 도시하지 않은 상 모사 시스템의 광학 축(2)에 상응한다. 통상적인 방식으로 상 모사광은 우선 부분적인 광 투과 반사거울(3)에 도달하고 일부가 방향조정 프리즘(4)을 거쳐 뷰파인더(5)에 도달한다. 나머지 일부는 반사거울(3)를 투과하여 반사기(6)에 도달한다. 반사기(6)는 반사 구조물(7)이 배치되고, 이는 가운데에 투명 개구부(8)를 나타나고, 이 개구부 뒤에 본 발명에 따른 원판형 광전 수신기(9)가 반사기(6)에 삽입되어 있다. 도시한 실시양태에서 개구부(8)는 상 영역의 가운데에 위치하고 이로써 특히 스폿-측정에 적합하다. 그러나 개구부는 분명히 반사기(6)상의 다른 위치 또는 다른 개구부들과 조합되어 제공될 수 있다. 광전 수신기(9)는 기본판(10), 수신기면(11) 및 연결되는 스펙트럼 필터(12)를 나타낸다. 광전 수신기(9)로부터 나오는 전선(13)은 마찬가지로 반사기-배면에 도달하고 이로부터 우선 상부 모서리(14)에 도달한다. 이어서 전선은 관으로서 형성된 반사기(6)의 선회축(15)에 도달한다.

도시한 실시양태에서 반사기(6)는 반사거울(3)에 접하여 조정되는데, 반사거울은 반사기 축(15)을 통해 상 모사 광으로부터 선회될 수 있다. 이를 위해 필요한 선회 기계장치(16)는 오직 대칭적으로 묘사된다. 명백히 반사거울도 뻗어 있고 선회 기계장치도 직접 반사기상에서 작동할 수 있다. 이는 뷰파인더(5)에 사진기 하우징(1)으로부터 가시부를 갖는 광 경로를 귀속시키는 파인더 사진기에의 부가물에 상응한다. 반사기(6)는 필름면(17) 근처에 나타낸 펼쳐진 위치에 존재하여 광전 수신기(9)상에서 촬영할 대상의 거의 선명한 상이 형성된다. 투명 개구부(8)는 하나의 원형 단면을 나타내고 적당한 상의 세부사항을 제한한다. 또한, 놀랍게도 반사기(6)상에서 상의 잔류하는 미미한 불분명한 부분이 원형의 개구부(8) 뒤에서 정사각형의 광전요소(11)의 부족한 센서표면을 고르게 하여, 투명 개구부(8)의 상응하는 측정면으로부터 제거시킬 수 있다. 이에 대해 도 4의 설명시 다시 언급된다.

반사 구조물(7) 및 스펙트럼 필터(12)상에 반사되는 상 모사 광선은 공지된 방식으로 사진기 하우징(1)의 바닥에 산광 보호되어 배치되는 추가의 광전 수신기(18)상에서 조정된다. 수신기에는 광학 집속요소(19)가 연결된다. 추가의 단위수단은 후속 도면으로부터 제공된다.

도 2는 반사기(6)의 배면상에서의 부감도이다. 광전 수신기(9)의 기본판(10)은 반사기(6)의 배면에 삽입된다. 기본판(10)에 정사각형의 수신기면(11)이 박혀있고 고정요소(20)에 의해 가장자리가 고정된다. 수신기면(11)은 개별적인 수집영역으로 분리될 수 있다. 수신기면(11)으로부터 나오는 전기 연결부는 우선 기본판(10)의 배면상에서 전도관으로서 연장되어, 단지 말단측면의 납 연결부(21/22)를 볼 수 있다. 추가로 연장되는 전도관(23/24)도 마찬가지로 명백히 배면에서 삽입된다.

도 3의 단면도로부터 광전 수신기(9)가 매우 평평한 구조물인 것이 더욱 명백해진다. 배면을 전체적으로 덮고있는 보호천은 도시하지 않았다.

도 4는 반사 구조물(7)을 포함하는 반사기(6)의 전면상의 부감도이다. 구조물에 투명 개구부(8)가 끼워져있고, 이 뒤에는 광전 수신기면(11)이 위치한다. 제조기술상의 이유에 근거하여 정사각형면이 선택된다. 최적으로 이용하기 위해 투명 개구부(8)는 적어도 모든 수신기면의 가장자리가 반사 구조물에 의해 유지되는 크기로 선택된다. 이에 의해 투명 개구부(8)에 평면 영역이 형성되며, 이 영역은 비 광전적으로 감응한다. 이미 언급한 바와 같이, 상의 미미한 불분명한 부분에 의해 반사기상에서 목적지점은 측정기술상 고려되며, 이의 상은 필름면에서 더욱 정확한 위치에서 광전적으로 감응하지 않는 표면 영역상에 떨어진다.

반사기(6)의 상부 모서리(25)에 나타낸 이탈부(26)는 전선(23/24)이 반사기(6)로부터 연장되어 나온 것처럼 최소한 비틀림운동을 분명하게 중지한다. 사진기 하우징에 고정된 캐리어(27)상에 고리(28/29)에 의해 반사기(6) 뿐만 아니라 공축(30)에 의해 선회할 수 있는 반사거울(3)이 위치한다. 전선(23/24)은 바람직하게는 비틀림운동을 가능한 한 긴 전도체로 수용할 수 있기 때문에 오른쪽 측면에서 공축에 의해 수행된다.

도 5는 사진기 하부에서 배치된 광전 수신기(18)상에서의 부감도이다. 당해 도면은 공지된 방식으로 중앙부분(31)에 다수의 개별영역(32 내지 36)으로 분리된 수신기를 나타내며, 여기에 렌즈(19)가 연결된다. 반사기(6)에 배치된 광전 수신기(9)로 인해 중앙부분의 면(32)이 분명하게 반사기(6)상에 산란되는 광에 의해 통상적인 배치보다 더 작게 형성된다. 중앙부분 면(32)은 연결되는 렌즈(19)에 의해 반사기(6)에서 개구부(8)의 영역을 광학적으로 검은 구멍으로서 나타난다. 우선 면(32)상에서 측정되는 광의 양을 조합하여 수신기(9)의 신호로 적합한, 광학적으로 검은 구멍을 메우기 위한 평균치를 수득한다. 광전 수신기(9)와 함께 모든 면 요소(32 내지 36)는 통합적인 측정을 위한 값을 제공한다.

측광을 사용함에 있어서 정상적인 조명을 사용하는 경우 보다 단시간에 사실상 더욱 높은 광 전류가 형성된다. 이는 광을 산란시키는 구조물(7)상에서 반사되는 광의 일부가 렌즈(19)를 지나가는 정확한 노출측정을 위한 가장자리 강도가 무시되어서는 안되는 산란 클럽(club)을 갖도록 이루어진다. 마찬가지로 이러한 비율의 광을 측정하기 위해 추가의 광전 수신기(37/38)를 다수개의 수신기(32 내지 36) 옆에 대칭적으로 배치된다. 이러한 추가의 광의 비율을 고려하여 사실상 개선된 플래시 측정이 이루어진다. 이러한 수신기(37/38)의 개선된 적용을 위해 측광에 있어서 스펙트럼의 광 분류시에 수신기에 각각 적합하게 맞는 스펙트럼 필터가 연결되는 것이 유용하고, 스펙트럼 필터는 다수 장의 수신기에 앞의 스펙트럼 필터와 구별된다.

상이한 광전 수신기(9)를 배치한 접속위치는 개략적으로 사각형 무늬에 의해 나타낸다. 여기에 접속된 신호전류는 추가로 도시하지 않은 평가 스위치에 사실상 통상적인 기술로 습득되는데, 여기서 당해 신호는 목적하는 촬영상태에 맞춘 노출측정 신호를 나타내고 결국 자동적으로 노출이 조정될 수 있게 된다. 사진기의 노출방식-스위치는 특히 측광-측정을 위한 스위치 위치를 제공할 수 있으며, 측광-측정을 사용하여 이러한 수행방식으로 평가 스위치가 전환된다.

Claims (16)

1. 상 모사 시스템, 표면에 반사 구조물(7)이 있고 크기가 거의 상촬영 포맷에 상응하는, 상 모사 광선의 경로에 존재하는 반사기, 및 촬영을 위한 제1 종류의 하나 이상의 광전 수신기(18)를 갖는, 반사 구조물(7)로부터 유래하고 특정 상 영역에 위치하는 광도를 갖는 사진기에서 노출을 측정하기 위한 장치에 있어서, 노출을 측정하는 동안 반사기-표면이 사진기의 필름면(17) 근처에 위치하고 반사기-표면이 하나 이상의 제한된 광투과 영역(8)을 나타내는 방식으로 반사기(6)가 사진기 하우징(1) 내에서 선회할 수 있으며, 광투과 영역 뒤에 제2 종류의 광전 수신기(9)가 반사기(6)에 삽입된 노출측정 장치.
2. 제 1 항에 있어서, 반사기(6)가 거울반사-사진기중 부분적으로 투과되는 반사거울(3)에 접하여 선회할 수 있게 조종되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 제한된 광투과 영역(8)이 상 모사 시스템의 상 중심에 위치하는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상이한 상부분에 대해 다수의 제한된 광투과 영역이 제공되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
5. 제 1 항 내지 제 4 항 중의 어느 한 항에 있어서, 광전 수신기(9)가 반사기(6)에 나란한 평면으로 삽입된 평평한 원판으로서 연결부로 형성되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
6. 제 5 항에 있어서, 광전 수신기(9)의 전기적 연결부가, 원판에 의해 측면으로 뻗어있고 반사기(6)의 배면에 삽입된 전도관(21, 22)으로서 수행되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
7. 제 6 항에 있어서, 마찬가지로 반사기(6)의 배면에 존재하고 반사기(6)의 선회축에 평행하게 존재하는 모서리(14)상에서 반사기로부터 나오는, 구부릴 수 있는 전선이 전도관(21, 22)에 접속되어 있는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
8. 제 7 항에 있어서, 반사기로부터 나온 전선(23, 24)이 반사기 거울(3)의 선회축(30)에 연장되고 선회축(30)으로부터 나와 사진기의 하우징에 존재하는 평가 전자장치에 접속되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
9. 제 5 항에 있어서, 평평한 원판상에 스펙트럼 필터(12)가 장착되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
10. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 광전 수신기(9)의 수신기 표면(11)이 서로 분리된 상이한 표면요소로 분류되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
11. 제 1 항 내지 제 10 항 중의 어느 한 항에 있어서, 반사 구조물(7)에 의해 반사되는 광을 광전 수신기(18)에 집속시키는 제1 렌즈(19)가 광전 수신기(18)에 연결되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
12. 제 11 항에 있어서, 제1 종류의 추가의 광전 수신기(18)가 다수의 부분표면(32 내지 36)으로 분리되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
13. 제 12 항에 있어서, 제1 종류의 광전 수신기(18) 옆에 대칭적으로 각각 하나의 제3 종류의 추가 광전 수신기(37, 38)가 배치되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
14. 제 13 항에 있어서, 제1 종류의 광전 수신기(18) 및 제3 종류의 광전 수신기(37, 38)에 상이한 스펙트럼 필터가 연결되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
15. 제 1 항 내지 제 14 항 중의 어느 한 항에 있어서, 측광-노출측정시 전환될 수 있는 평가 스위치가 광전 수신기(9, 18, 37, 38)에 장착되는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.
16. 제 1 항 내지 제 15 항 중의 어느 한 항에 있어서, 평가 스위치가 모든 또는 선택되는 광전 수신기의 조합을 위한 단위를 포함하는 것을 특징으로 하는 노출측정 장치.