KR102652311B1 - 테스트 대상 디바이스를 정확하게 평가하기 위한 방법들 및 측정 시스템들 - Google Patents

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레섹 라슈코브스키
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프라운호퍼 게젤샤프트 쭈르 푀르데룽 데어 안겐반텐 포르슝 에. 베.
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Abstract

방법은 테스트 대상 디바이스(DUT)에 대한 방사선 중심 기준(CORR)을 정의하는 단계 ― CORR은 DUT로 성형 가능한 전자기파 패턴의 기준 원점을 나타냄 ―; CORR에 대한 3차원 배향 정보를 결정하는 단계 ― 3차원 배향 정보는 전자기파 패턴의 방향을 나타냄 ―; 및 CORR 및 3차원 배향 정보를 측정 시스템에 제공하는 단계를 포함한다.

Description

테스트 대상 디바이스를 정확하게 평가하기 위한 방법들 및 측정 시스템들
본 발명은 테스트 대상 디바이스(DUT: device under test)를 어떻게 평가할지에 관한 정보를 제공하기 위한 방법, 이러한 정보를 사용하여 DUT를 평가하기 위한 방법, DUT 및 측정 시스템에 관한 것이다. 본 발명은 또한 컴퓨터 프로그램에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 "방사선 중심 기준(Center-of-Radiation Reference) - CORR" 및 좌표계를 정의하는 방법뿐만 아니라 3D 공간에서의 무선 방출 및 수신 컴포넌트들 그리고 이들의 포지셔닝에 관한 것이다. CORRP를 사용하여 DUT를 정확한 위치에 포지셔닝하는 것 외에도, DUT는 또한 적절히 정렬될 수 있다.
다수의 안테나들에 의해 형성된 안테나 또는 안테나 어레이의 방사선 중심은 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 친숙한 용어이며, 이에 따라 IEEE Std 145-2013 "IEEE Standard for Definitions of Terms for Antennas"[1]에 정의되어 있다.
예컨대, 빔(방사 빔 패턴) 특성화를 위한 오버 디 에어(OTA: Over-the-Air) 측정들에서는, 테스트 대상 디바이스(DUT) 주위에 프로브들이 분포된다. 방출 DUT 및 주위의 측정 프로브들의 포지션에 관한 지식과 이들 간의 모든 거리들에 관한 지식을 사용하여, 방출된 빔 패턴이 예컨대, DUT의 회전에 의해 그리고 많은 샘플 지점들을 좌표 방식으로 측정함으로써 측정될 수 있다. 이러한 메커니즘은 안테나 측정들, 즉 OTA 측정되는 안테나 방사 패턴 측정들을 사용하여 안테나 패턴 특성화[2]를 위해 공지되어 있다. 미래의 통신 시스템들에 대해, 공지된 대로 안테나 커넥터(현재 3GPP 표준들, 예컨대 릴리스 8-14에서, 소위 전도 측정들이 안테나 포트 측정들에 대해 표준화됨)는 과거의 일이 될 것으로 예상된다. 따라서 무선 성능 파라미터들 및 안테나 성능 파라미터들의 OTA 측정은 미래의 일이 될 것으로 예상된다. 미래에는, 안테나 포트에 대한 액세스가 이용 가능하지 않고 그리고/또는 안테나 어레이가 공동 방식으로 작동하는 많은 개별 엘리먼트들로 구성되기 때문에, 안테나 측정들 중 다수는 이러한 방식으로만, 즉 OTA로만 이루어질 수 있다. 더욱이, 이러한 안테나들은 예컨대, 스마트폰들과 같은 디바이스들의 하우징 내에 내장될 수도 있고, 따라서 안테나들이 디바이스 내에 있더라도 이들의 방사선은 측정되어야 한다. 안테나(들)는 디바이스 하우징 안에 숨겨져 있기 때문에 이들의 정확한 위치는 알려지지 않는다. 그러므로 이는 측정된 방사 패턴이 안테나들의 정확한 위치에 참조될 수 없는 한 측정을 부정확하게 만들 것이다[3, 4, 5]. 더욱이, 디바이스 하우징에 비해 소형 안테나 크기들은 훨씬 더 높은 부정확성을 야기할 수 있다.
또한, 무선 송신에 사용되는 반송파 주파수들은 무선파 전파가 측정들에 흔히 사용되는 원거리장으로 추정될 수 있을 때 DUT와 프로브 간의 거리를 정의한다. 측정 챔버/디바이스의 크기를 줄이기 위해, 소위 근접장에서도 또한 측정이 수행될 수 있으며, 이러한 샘플 지점들은 원거리장 등가물로 변환되어야 한다. 그렇게 하려면, 방출된 빔의 원점이 정확히 알려지는 것이 가장 중요하고, 그렇지 않으면 측정은 많은 예방 가능한 오류들에서 빔 결과의 오정렬로 끝날 것이다[4]. 더욱이, 근접장에서 측정할 때, 근접장에서 원거리장으로의 변환에 의해 원거리장 패턴이 도출되며, 이 경우 방사선 원점 및 측정 프로브들로부터의 정확한 거리가 정확한 변환에 필수적이다.
지금까지, 안테나들 및 안테나 어레이들은 측정 챔버 또는 챔버 내에 있지 않은 측정 시스템의 기준 중심점에서 이들을 이동시킬 수 있고 그리고/또는 기울일 수 있고 그리고/또는 회전시킬 수 있는 포지셔너(positioner) 상에 개별적으로 포지셔닝된다. 이것은 무선파가 실제로 어디에서부터 송신되는지에 대한 정확한 지식을 필요로 한다. 하나 이상의 안테나 엘리먼트들의 브로드 사이드 또는 보어 사이드(bore side)를 측정하기 위해 DUT의 배향 및 대략적 포지셔닝이 또한 수행될 수 있다. 3GPP TS 37.145-2[6]에서는, 정확한 정렬을 위해 챔버 내의 캐리어 상에 능동 안테나 시스템(AAS: active antenna system)을 정확하게 포지셔닝하기 위한 좌표계의 원점 및 연관 좌표계를 포함하는 제조업체 선언(MD: manufacture's declaration)이 정의된다. 다중 입력 다중 출력(MIMO: multiple input and multiple output) 디바이스들의 방사 성능 측정을 다루는 3GPP TR 37.976[7] 및 AAS의 OTA 테스트를 기술하는 3GPP TR 37.842[87]에는, 오버 테스트(over-the-testing)의 추가 예들이 주어진다.
따라서 DUT를 정확하게 OTA 측정할 수 있게 하는 연관 소프트웨어로서 방법들, DUT, 측정 시스템 및 컴퓨터 프로그램을 제공할 필요가 있다.
본 발명의 목적은 DUT를 정확하게 측정할 수 있게 하는 방법들, DUT, 측정 시스템 및 컴퓨터 프로그램을 제공하는 것이다.
본 발명자들은 테스트 대상 디바이스에 대한 방사선 중심 기준(점)을 정의함으로써 그리고 상기 기준점에 대한 위치 및 지향성 정보― 위치 정보는 빔의 원점(기준점, 기준 원점 또는 측정 원점)과 빔의 방향을 나타냄 ―를 결정함으로써, DUT는 평가 범위가 평가될 빔 및 기준점에 참조될 수 있기 때문에 높은 정확도로 평가될 수 있으며, 이는 DUT 내의 알려지지 않은 하나 이상의 안테나들의 정확한 위치에 관한 정보를 얻을 수 있게 하고 정확한 측정들을 동시에 얻을 수 있게 함을 알게 되었다.
일 실시예에 따르면, 방법은 DUT에 대한 방사선 중심 기준점(CORRP: Center-of-Radiation Reference Point)을 정의하는 단계를 포함한다. 이 방법은 CORRP에 대한 위치 정보를 결정하는 단계를 더 포함하며, 위치 정보는 DUT로 형성 가능한 빔의 기준 원점을 나타내고 빔의 방향을 나타낸다. 이 방법은 CORRP 및 위치 정보를 측정 시스템에 제공하는 단계를 더 포함한다. 이것은 안테나 어레이 또는 특정 빔 패턴의 생성과 관련된 안테나들의 조합의 포지션에 관한 정확한 지식 없이 DUT에 의한 빔 방법을 참조할 수 있게 한다.
일 실시예에 따르면, CORRP를 정의하는 단계는 DUT에서 한 세트의 기준 마커들을 결정하는 단계를 포함하며, 한 세트의 기준 마커들은 DUT를 볼 때 보이고, 이러한 가시적인 마크들은 또한 DUT 외부로부터 액세스 가능한 임의의 다른 적절한 물리적 특징으로 또한 대체될 수 있다. 또한, 기준 마커들을 사용하여 좌표계가 정의되고, 좌표계 내에 CORRP가 정의된다. 이것은 DUT를 볼 때 보이는 기준 마커들에 대해 빔의 기준 원점 및 방향을 참조하게 할 수 있다. 하나의 방사선 중심 기준(CORR)을 참조하지만, 예를 들어 DUT의 내부 및/또는 외부 및/또는 표면의 서로 다른 포지션들에 더 많은 수의 CORR이 또한 정의될 수 있다. 이는 실제 측정들의 향상을 가능하게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 한 세트의 기준 마커들은 DUT의 디스플레이 상에 디스플레이된 광 신호 패턴, DUT의 렌즈, DUT의 발광 디바이스, DUT의 전기 또는 음향 포트 중 적어도 하나를 포함한다. 이것은 장치의 시편(specimen)을 수정하지 않고도 DUT의 기존 물리적 특징을 사용하게 할 수 있는데, 이러한 장치는 이로써, 판매될 수 있는 제품에 더는 따르지 않는다.
일 실시예에 따르면, 위치 정보를 결정하는 단계는 DUT로 형성 가능한 한 세트의 빔들을 정의하는 단계를 포함하고― 한 세트의 빔들은 빔을 포함함 ―, 한 세트의 빔들 내의 빔들 각각에 대해, CORRP에 대한 빔의 기준 원점의 오프셋 및 기준 방향에 대한 빔 방향으로부터의 방향 편차를 결정하여, 위치 정보가 CORRP에 대한 기준 원점 및 빔 방향을 나타낼 수 있게 하는 단계를 포함한다. 이는 CORRP와 관련하여 DUT의 파라미터들을 나타내게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 빔은 DUT의 적어도 제1 및 제2 안테나 또는 안테나 어레이로 형성 가능하다. CORRP를 참조하는 위치 정보를 사용함으로써, 원거리장에서 단일 빔을 공통적으로 형성하지만 서로 다른 안테나 어레이들로 생성된 빔들의 조합인 복수의 빔들이 특성화될 수 있는데, 여기서는 단일 안테나 어레이에 대한 정보 및 안테나 어레이에 대한 이러한 단일 빔의 측정은 제2 안테나 어레이에 대한 정보 누락으로 인해 불충분한 정보를 제공할 것이다.
일 실시예에 따르면, 방법은, 소프트웨어 또는 하드웨어를 사용하여, DUT로부터 무선 주파수 빔을 검출하는 단계, DUT에 대한 CORRP를 나타내는 정보를 수신하는 단계, 및 CORRP에 대해 DUT로 형성된 빔의 기준 원점을 나타내고 빔의 방향을 나타내는 위치 정보를 수신하는 단계를 포함한다. 이 방법은 검출된 무선 주파수 빔을 CORRP 및 위치 정보와의 매칭과 관련하여 평가하는 단계를 더 포함한다. 이것은 CORRP를 사용하여 DUT, 빔을 각각 평가할 수 있게 하며, 이는 DUT의 내부에 관한 상세한 지식을 피하게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 이 방법은 DUT의 한 세트의 마커들을 사용하여 DUT의 포지션을 결정하는 단계, 및 한 세트의 마커들에 의해 정의되는 3D 좌표계에서 DUT의 포지션 및 무선 주파수 빔의 방향을 사용하여 빔에 대한 예상된 위치를 결정하는 단계를 더 포함한다. 이는 DUT를 정렬하기 위해 가능하게는 움직이지 않는 또는 표준화된 마커들을 사용하게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, DUT의 포지션을 결정하는 단계는, 측정 환경의 구조물로 DUT를 유지하는 단계; DUT에서 한 세트의 마커들의 포지션을 검출하는 단계, 및 측정 환경에서 한 세트의 마커들의 포지션을 사용하여 측정 환경 내에서 DUT의 포지션을 결정하는 단계를 포함한다. 이는 포지션 마커들 및 CORRP를 측정 환경 내의 위치들/포지션들에 링크하게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 위치 정보는 빔의 적어도 하나의 메인 로브(lobe) 및/또는 빔의 적어도 하나의 사이드 로브를 나타내는 정보를 포함한다. 검출된 무선 주파수 빔을 평가하는 단계는 빔의 적어도 하나의 메인 로브 및/또는 빔의 적어도 하나의 사이드 로브에 대한 검출된 무선 주파수 빔의 평가를 포함한다. 이것은 빔의 상세한 특성화를 가능하게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 이 방법은, 빔의 기준 원점이 측정 환경의 중심을 형성하도록 DUT의 포지션을 조정하는 단계; 또는 측정 환경의 미리 결정된 중심과 빔의 기준 원점 간의 오정렬을 결정하고, 결정된 오정렬을 사용하여 검출된 무선 주파수 빔의 평가 결과를 정정하는 단계를 더 포함한다. 이것은 DUT에 대한 빔의 실제 포지션에 기초하여 측정을 조정하거나 측정 결과들을 정정하게 할 수 있다. 이로써, DUT 내의 안테나 어레이의 포지션 및 지향성의 상세한 지식이 불필요할 수 있고 그리고/또는 지정된 포지션(원하는 조건)에 대한 안테나 어레이의 실제 포지션의 편차들이 보상될 수 있다. 많은 애플리케이션들에서, 실제 빔 패턴이 관심의 대상이며, 여기서 DUT 내의 안테나 어레이들의 포지션은 관심이 적거나 공급업체에 의해 비밀로 유지되는 것을 목표로 한다. 본 명세서에서 설명되는 실시예들을 사용함으로써, 방출된 빔의 포지션이 안테나 어레이들의 포지션을 참조하지 않고 평가될 수 있다. 더욱이, DUT가 다른 물체와의 상호 작용, 예컨대 휴대 전화를 귀에 가까이 대고 있는 것을 겪는 동안 이러한 지정된 위치는 효과적으로 변할 수도 있다. 잘 지정된 조건에서 다시 이루어진다면, 잠재적으로 변경된 기준점에 따라 빔 패턴이 측정될 수 있다.
일 실시예에 따르면, DUT로부터 무선 주파수 빔을 검출하는 것은 DUT에 의해 송신된 빔을 검출하는 것을 포함하거나 DUT로 빔을 검출하는 것을 포함한다. 따라서 송신 빔들뿐만 아니라 수신 빔들도 평가될 수 있다.
일 실시예에 따르면, CORRP는 DUT의 체적 외부에, DUT의 인클로저의 표면에 또는 DUT의 인클로저 내부에, 예컨대 자동차 내부에 위치되도록 결정된다. 이것은 정의된 좌표계 내에서 임의의 점을 사용하게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 위치 정보는 무선 주파수 빔과 연관된 주파수를 나타내는 정보를 포함한다. 이것은 예를 들어, 측정 시스템의 DUT와 프로브들 간의 거리를 정의하기 위해 수행된 측정들에 주파수 범위를 포함시키게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, CORRP는 DUT의 안테나 어레이의 중심과 구별된다. 이것은 안테나 어레이의 포지션에 관한 지식 없이 CORRP를 사용하게 할 수 있다. 이를 위해, CORRP와 연관된 위치 정보는 예컨대, 반송파 주파수 및/또는 의도된 종류의 방사될 빔 패턴에 관한 추가 정보를 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 장치는 디스플레이 및 테스트 모드를 수행하도록 장치에 요청하는 요청을 나타내는 신호를 수신하도록 구성된 인터페이스를 포함한다. 이 장치는 신호에 응답하여 테스트 모드로 전환하도록 그리고 사전 정의된 광 신호 패턴을 디스플레이에 디스플레이하도록 구성된다. 광 신호 패턴은 DUT에서 한 세트의 기준 마커들 중 적어도 일부를 제공한다. 이것은 테스트될 일련의 임의의 장치를 DUT로서 사용하게 할 수 있고, 광 신호 패턴, 예컨대 QR 코드를 적응시킴으로써 한 세트의 기준 마커들을 적응시키게 추가로 허용할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 이 장치는 광 신호 패턴의 디스플레이 변경을 나타내는 사용자 입력으로부터 독립적으로 광 신호 패턴을 디스플레이하도록 구성된다. 이는 한 세트의 기준 마커들의 수정으로 이어질 수도 있고, 따라서 결정된 CORRP의 편차로 이어질 수도 있는 사용자 커맨드와 독립적으로 광 신호 패턴을 디스플레이하게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 광 신호 패턴은 매트릭스 바코드, 예를 들어 신속 응답 코드(QR(Quick Response) 코드)를 포함하는 하나 이상의 차원들의 바코드이다. 이는 2차원 패턴을 구현하게 할 수 있고, 따라서 DUT를 보거나 시청할 때 모니터링되고 캡처될 수 있는 DUT의 표면의 기준 마커들의 2차원 세트를 구현하게 할 수 있다. 더욱이, 공지된 차원의 매트릭스 패턴을 사용함으로써, 광학 판독 디바이스에 대한 포지션을 결정하는 데 이미지 처리 기술들이 사용될 수 있어, 3차원 공간에서의 DUT의 포지션이 결정되는 것을 가능하게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 이 장치는 후속하여 복수의 테스트 모드들 중 하나를 온 전환하도록 그리고 후속하여 복수의 광 신호 패턴들 중 하나를 디스플레이하도록 구성되며, 디스플레이된 광 신호 패턴은 현재 모드와 연관된다. 이는 서로 다른 테스트 모드들에 대해 그리고 이에 따라 정확한 테스트 조건들에 대해 서로 다른 CORRP들을 사용하게 할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 측정 시스템은 본 명세서에서 설명되는 방법을 수행하도록 구성된다.
일 실시예에 따르면, 측정 시스템에 의해 사용되는 위치 정보는 제1 빔의 제1 기준 원점 및 제2 빔의 제2 기준 원점 그리고 제1 빔의 제1 방향 정보 및 제2 빔의 제2 방향 정보를 나타내는 정보를 포함한다. 측정 시스템은 검출된 무선 주파수 빔을 제1 빔 및 제2 빔과의 중첩의 매칭에 대해 평가하도록 구성된다. 이것은 2개 이상의 안테나 또는 안테나 어레이들의 방출 및/또는 수신에 의해 형성되는 빔을 평가할 수 있게 한다.
일 실시예에 따르면, 측정 시스템은 빔의 근접장에서 빔을 검출하도록 그리고 빔의 원거리장에서 빔의 특성을 외삽하도록 적응된다. 이것은 작은 차원의 측정 시스템을 허용할 수 있다.
추가 실시예들은 컴퓨터 상에서 실행될 때, 본 명세서에 설명되는 실시예들에 따른 방법을 실행하는 명령을 저장하는 컴퓨터 판독 가능 매체를 포함하는 비-일시적 컴퓨터 프로그램 제품에 관한 것이다.
추가 실시예들은 추가 종속 청구항들에서 기술된다.
이제 첨부 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들이 더 상세히 설명된다.
도 1은 일 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 2는 방사선 중심 기준점(CORRP)을 정의하기 위해 구현될 수 있는 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 3a는 일 실시예에 따른 DUT의 개략적인 사시도이다.
도 3b는 일 실시예에 따라, DUT를 평가하기 위해 사용될 수 있는 측정 환경의 일부의 개략적인 사시도이다.
도 3c는 일 실시예에 따른 시간/주파수 평면에서 무선 통신 네트워크에서의 자원 엘리먼트들의 스케줄을 예시하는 개략도이다.
도 3d는 도 3의 스케줄에 따라 그리고 일 실시예에 따라 동작하는 안테나 어레이들로 형성될 수 있는 빔들의 개략도이다.
도 3e는 본 실시예들에 따른 사용 사례의 개략도이다.
도 4a는 위치 정보를 결정하기 위해 구현될 수 있는 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 4b는 방사선 중심 기준을 결정하기 위해 구현될 수 있는 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 5a는 CORRP와 관련된 정보 및/또는 위치 정보를 활용하기 위해 사용될 수 있는 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 5b는 도 5a에 따른 방법의 단계의 일부로서 구현될 수 있는 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 6은 도 5의 방법과 함께 수행될 수 있는 실시예에 따른 방법의 개략적인 흐름도이다.
도 7은 일 실시예에 따라 테스트 대상 디바이스로서 사용될 수 있는 디바이스(70)의 개략적인 블록도이다.
도 8a는 일 실시예에 따른 측정 시스템의 개략적인 블록도이다.
도 8b는 복수의 프로브들을 수용하는 측정 챔버를 포함하는, 일 실시예에 따른 측정 시스템의 개략적인 블록도이다.
도 9a는 일 실시예에 따른 방사선 중심 기준점에 관한 지식이 누락된 영향을 예시하는 개략도이다.
도 9b는 일 실시예에 따른 안테나 어레이의 구조를 예시하는 개략도이다.
동일한 또는 대등한 엘리먼트들 또는 동일한 또는 대등한 기능을 갖는 엘리먼트들은 다음 설명에서 서로 다른 도면들에서 발생하더라도 동일한 또는 대등한 참조 번호들로 표시된다.
본 명세서에서 설명되는 실시예들은 특히, 빔 형성에 관한 기술들과 관련하여 빔들에 관한 것이다. 디바이스, 예컨대 DUT와 연관된 빔들은 전자기 에너지가 DUT로 방출될 때 따라가는 또는 전자기 에너지가 바람직하게는 DUT로 수신될 때 따라가는 하나 이상의 바람직한 방향들을 정의할 수 있다. 신호를 송신하는 경우에, 빔은 하나 이상의 메인 로브들 및 하나 이상의 사이드 로브들을 포함할 수 있으며, 여기서 메인 로브는 원하는 방사 패턴 및/또는 그 방향과 관련된다. 사이드 로브는 방사선이 각각의 패턴으로 방출될 때 따라가는 교란 및/또는 불가피한 방향과 관련될 수 있다. 이 설명은 마이크로폰의 지향성 특성과 비교하여, 전자기 에너지의 수신 동안 높은 이득을 허용하는 메인 로브들로 방향들이 정의될 수 있는 수신 시나리오에 어떠한 제한도 없이 관련된다. 따라서 빔을 언급할 때, 이것은 송신 시나리오 및/또는 수신 시나리오와 관련되는 것으로 이해될 것이다. 이하, 빔들을 언급하지만, 실시예들은 다른 형태들의 전자기파 송신 또는 수신 패턴, 즉 무선 주파수에서의 전자기 패턴에 어떠한 제한도 없이 관련된다. 이러한 패턴들은 라인 또는 평면/표면을 따라 송신 및/또는 수신 패턴을 형성하는 지점에 의해 기술된 소스에 의해 참조될 수 있다. 이러한 전자기파 송신 또는 수신 패턴들에 대한 일례는 누설 피더 라인, 즉 케이블에 수직으로 방사하는 슬롯들을 갖는 케이블에 의해 구현될 수 있다. 이러한 누설 피더 라인은 터널들의 트레인들을 연결하는 데 사용될 수 있다. 이 특정 예에서, 방출된 전자기장에 대한 기준은 라인일 수 있다.
개시된 실시예들에 따른 DUT는 무선 통신을 위해 무선 주파수에서 전자기 방사선을 방사 및/또는 수신하도록 구성된 임의의 디바이스, 예를 들어 사용자 장비(UE: user equipment), 기지국(BS: base station) 및/또는 능동 안테나 시스템(AAS)일 수 있다.
본 명세서에서 설명되는 실시예들은 측정 시스템에서 사용될 수 있는 프로브들에 관한 것일 수 있다. 이러한 프로브는 예를 들어, 측정 시스템 내에서 빔 형성을 수행할 때 전자기 에너지를 생성 및/또는 송신하도록 구성된 안테나 엘리먼트 및/또는 안테나 어레이와 같은 능동 엘리먼트들을 포함할 수 있다. 대안으로 또는 추가로, 프로브는 예를 들어, DUT로 방출될 수 있는 전자기 에너지를 수신하도록 구성되는 감지 엘리먼트들, 예를 들어 안테나(엘리먼트) 및/또는 안테나 어레이를 포함할 수 있다. 따라서 측정 시스템으로 검출 또는 결정된 빔을 형성하는 DUT를 언급할 때, 이는 DUT로 수신될 전자기 에너지의 하나 이상의 프로브들에 의한 송신에 관련될 수 있으며, 여기서 DUT는 하나 이상의 수신 특성들을 나타내는 피드백 신호를 송신할 수 있다. 대안으로 또는 추가로, DUT는 전자기 에너지를 송신하도록 적응될 수 있으며, 프로브들은 상기 에너지를 수신할 수 있고 측정 시스템으로 수신 특성 및/또는 측정 시스템으로 이러한 특성을 결정할 수 있게 하는 정보를 피드백할 수 있다.
본 명세서에서 설명되는 실시예들은 전자기 방사선을 수신 및/또는 송신하는 데 사용되는 안테나 어레이들에 관한 것일 수 있다. 안테나 어레이는 하나 또는 더 많은 수의 안테나들, 예를 들어 50개 초과 등과 같은 적어도 하나, 적어도 2개, 적어도 5개, 적어도 10개 또는 더 많은 수의 안테나들을 포함할 수 있다. 따라서 안테나 어레이는 복수의 안테나들을 포함하는 구조로 제한되는 것이 아니라 단 하나의 안테나만을 또한 포함할 수도 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 방법(100)의 개략적인 흐름도이다. 방법(100)은, 소프트웨어 또는 하드웨어를 사용하여, 테스트 대상 디바이스에 대한 방사선 중심 기준(CORR)이 정의되는 단계(110)를 포함한다. CORR은 점(CORRP), 라인(CORRL) 또는 영역(CORRA)과 관련될 수 있다. 따라서 CORRP의 P는 또한 일반적인 점의 의미를 넘어 라인과 표면의 의미를 가질 수 있다. CORR은 DUT로 형성 가능한 전자기파 패턴, 예컨대 빔 또는 다른 패턴의 기준 원점을 나타낸다. CORR은 예를 들어, 기준 원점과 일치할 수 있거나 기준 원점을 적어도 부분적으로 포함할 수 있다. 대안으로, CORR은 서로 다른 포지션에 배열될 수 있고 CORR과 기준 원점 사이의 오프셋에 관한 정보를 포함할 수 있다. 단계(120)에서 CORR에 대한 3차원 배향 정보가 결정되며, 3차원 배향 정보는 전자기파 패턴의 방향을 나타낸다. 3차원 배향 정보는 위치 정보로 지칭될 수 있다. CORR과 3차원 배향 정보의 조합은 공간에서 전자기파 패턴의 원점과 전파를 지정할 수 있게 한다. 단계(130)는 CORR 및 3차원 배향 정보(위치 정보)를 측정 시스템에 제공하는 단계를 포함한다.
다음에, 실시예들은 방사선 중심 기준점(CORRP)을 참조하여 설명될 것이다. 설명된 예들은 일반적으로 CORR 및/또는 특정하게는 CORRL 및/또는 CORRA를 어떠한 제한도 없이 참조할 수 있다. 즉, CORRP가 점으로 명명되어 공간에서 최소 확장을 갖지만, CORRP는 대안으로 방사선이 연장되는 방향 또는 라인과 관련될 수 있다. 예를 들어, CORRP는 방사선의 메인 로브의 중심을 따라 또는 그에 평행하게 배열될 수 있다. 다시 말해서, 방사선 중심은 또한 누설 피더 케이블과 같은 라인일 수 있다. 더욱이, DUT를 조사/측정할 때 측정될 방사 및/또는 수신 안테나 패턴을 기술하기 위해, 방사선의 중심에서부터 시작하거나 그 중심에서 끝나는 방향이 실시예들에 의해 기술/정의되어야 한다. CORR은 예컨대, 다수의 안테나들이 여러 개의 파장들의 거리들에 분포되고 결과적으로 원거리장 안테나 패턴이 개별 안테나들로부터 방사된 전자기파의 중첩인 경우에 점, 라인 또는 평면으로의 가상 투영일 수 있다.
단 하나의 CORR/CORRP 대신에, 복수의 2개 또는 훨씬 더 많은 CORR이 정의될 수 있다. 예를 들어, DUT의 내부 및/또는 외부 및/또는 표면의 서로 다른 포지션들에 서로 다른 CORR이 정의될 수 있다. 단일 전자기파 패턴/빔에 대한 위치 정보는 복수의 CORR 중 하나, 일부 또는 각각에 대해 생성될 수 있는데, 즉 DUT로 형성된 특정 전자기파 패턴은 각각 특정 CORR과 관련된 하나 이상의 위치 정보에 의해 기술될 수 있다. 이는 실제 측정들의 향상을 가능하게 할 수 있다. 예를 들어, 자동차를 DUT로서 고려할 때, 이러한 다양한 CORRP는 예컨대, 차량 내부 또는 외부의 방사 패턴이 측정되는 경우에 실용적인 측면에서 도움이 될 수 있다.
도 2는 예를 들어, 단계(110)를 수행할 때 구현될 수 있는 방법(200)의 개략적인 흐름도이다. 단계(210)는 DUT에서 한 세트의 기준 마커들을 결정하는 단계를 포함하며, 한 세트의 기준 마커들은 DUT를 볼 때 보인다. 이것은 사람의 눈들을 사용할 때 한 세트의 기준 마커들의 가시성을 포함할 수 있지만 이에 제한되지는 않는다. DUT를 볼 때 보이는 한 세트의 기준 마커들은 대안으로 또는 추가로 사람의 눈에는 보이지 않는 마커들을 식별하기 위한 기술적 수단의 사용을 포함할 수 있다. 이러한 마커들의 예들은 작은 마커들 또는 인간 능력들 이상의 물리적 특성들을 사용하는 마커들, 예를 들어 자외선 마커들 또는 적외선 마커들뿐만 아니라 온도, 내장된 자기 소스들 등의 사용이다. 따라서 마커들은 적어도 액세스 가능할 수 있다. 단계(220)는 기준 마커들을 사용하여 좌표계를 정의하는 단계를 포함한다. 좌표계는 3차원 공간을 탐색할 수 있게 하는 제1 좌표계 또는 전역 좌표계로 지칭될 수 있다. 반드시 그런 것은 아니지만, 예를 들어, 정의된 좌표계는 3개의 수직 축들을 포함할 수 있는데, 즉 좌표계는 데카르트 좌표계로서 형성될 수 있다. 대안으로 또는 추가로, 다른 좌표계들, 예를 들어 구형 좌표계 또는 원통형 좌표계 또는 선형 좌표계 또는 평면 좌표계가 사용될 수 있다. 단계(230)는 좌표계 내에서 CORRP를 정의하는 단계를 포함한다. CORRP는 좌표계 내에서 임의의 점으로서 선택 또는 정의될 수 있다. 예를 들어, CORRP는 특정 프로브 또는 객체와 같은 측정 환경 내의 특정 지점일 수 있다. CORRP의 좌표는 CORRP와 DUT의 상대 포지션을 나타낼 수 있고, 따라서 측정 챔버와 같은 측정 환경 내에서 DUT의 정확한 포지셔닝과 관련될 수 있다. 대안으로, CORRP는 임의의 다른 지점, 예컨대 측정 환경에서 객체들로부터 분리될 수 있다.
DUT에 연결된 기준 마커들과 관련된 좌표계의 정의를 기초로, CORRP는 이로써 DUT에 그리고 바람직하게는 측정 환경 내의 포지션들과 DUT의 포지션의 링크를 가능하게 하는 측정 환경에도 또한 연결된다. 바람직하게, 기준 마커들은 본 테스트 시나리오에서 움직이지 않는데, 즉 CORRP는 또한 DUT에 대해 움직이지 않는다. 예를 들어, 한 세트의 기준 마커들은 적어도 부분적으로는, 물리적 특징, 예컨대 DUT의 렌즈, DUT의 발광 디바이스, 예컨대 DUT의 플래시광, 전기 포트 및/또는 음향 포트 및/또는 전자기 또는 자기 패턴과 같은 움직이지 않는 마커일 수 있다. 실시예들에 따르면, 한 세트의 기준 마커들은 DUT의 디스플레이에 디스플레이될 수 있는 신호 패턴에 의해 적어도 부분적으로 구현될 수 있으며, 따라서 이는 광 신호 패턴으로 지칭될 수 있다. 이는 한 세트의 기준 마커들에 기초하여 CORRP를 획득, 결정 및 재생할 수 있게 한다. 이로써, DUT로 형성 가능한 빔을 특성화하는 위치 정보는 또한 한 세트의 기준 마커들을 사용하여 그리고 이로써 DUT의 내부에 대한 정확한 지식 없이도 또한 평가될 수 있다.
도 3은 방법(100, 200)을 설명하기 위한 일 실시예에 따른 DUT(30)의 개략적인 사시도를 도시한다.
한 세트의 기준 마커들(321, 322, 323)은 DUT(30)의 하우징(34)에 배열될 수 있다. 한 세트의 기준 마커들(321 내지 323)은 DUT 하우징(34)의 동일한 측면에 배열될 수 있지만, 또한 서로에 대해 서로 다른 측면들에 배열될 수도 있다. 3차원 좌표계(36)를 정의하기에는 3개의 마커들(321 내지 323)이 충분할 수 있지만, 더 많은 수의 기준 마커들이 또한 사용될 수 있다. 선택된 2개의 기준 마커들 사이의 기하학적 관계가 알려진 경우, 더 작은 수, 예를 들어 2를 사용하는 것이 또한 가능하며, 따라서 알려진 기하학적 관계는 누락 정보를 제공할 수 있다.
3차원 좌표계(36)의 원점 중심(38)은 임의의 위치를 포함할 수 있고, 단지 비제한적인 예로서만 기준 마커들(321, 322 또는 323) 중 하나, 이를테면 322의 위치에 위치될 수 있다. 대안으로, 3D 좌표계(36) 내의 임의의 다른 포지션은 좌표계 내의 임의의 다른 포지션이 그에 참조될 수 있을 때 기준 포지션으로서 사용될 수 있다.
다시 말해서, A, B, C로 표기된 기준 마커들 또는 기준점들(321 내지 323)은 DUT(30)의 외부에 배열될 수 있고 좌표계(36)에 걸쳐 있을 수 있으며 그리고/또는 좌표계(36)의 원점 중심(38)을 정의할 수 있다.
3GPP에 따르면, 상대 좌표계들(421, 422)은 DUT(30)의 안테나 어레이들(421, 422)과 관련하여 정의되는 것이 요구된다. 서로 다른 수의, 예를 들어, 1개, 3개, 4개 이상의 안테나 어레이들(44)이 존재할 수 있다. 안테나 어레이(441)와 관련하여 상대 좌표계들(421)을 그리고 안테나 어레이(442)와 관련하여 상대 좌표계(422)를 정의하기 위해, 상대 포인터들(461, 462)이 안테나 어레이들(441, 442) 각각의 기준 포지션들(481, 482)을 각각 가리키는 데 사용될 수 있다. 이것은 안테나 어레이들(441, 442)의 포지션에 관한 정확한 지식을 요구한다. 이것은 빔들이 어떻게 정확하게 생성되는지에 대한 힌트를 줄 수도 있는 안테나 어레이의 정확한 위치를 공개하지 않으려는 제조업체들의 관심에 모순된다.
본 개시내용에 따르면, CORRP(52)는 3차원 좌표계(36)의 임의의 포지션에 정의된다. 이로써, CORR은 DUT의 하나 이상의 마커들(321 내지 323)뿐만 아니라 방출된 빔의 기준 원점에 상관되도록 정의될 수 있다. CORR은 마커들(321 내지 323) 중 적어도 하나의 마커의 포지션에 위치될 수 있다. 이 단계에서, 측정 조건 또는 환경에 관한 지식, 즉, DUT가 이후의 테스트들 내에서 어떻게 포지셔닝될지가 사용될 수 있다. 즉, CORRP(52)는 다른 위치에, 예를 들어 DUT(30)의 체적 외부에, 즉 하우징(34) 외부에 배열될 수 있다. 대안으로, CORRP는 DUT의 인클로저의 표면에 또는 DUT의 인클로저 내부에, 예컨대 자동차 내부에 정의될 수 있다. CORRP(52)는 그 환경 내의 특정 점에 설정될 수 있다. 대안으로 또는 추가로, CORRP(52)는 한 세트의 기준 마커들(321, 322 또는 323) 중 하나와 또는 심지어 38의 원점 중심과 일치할 수 있다. DUT의 포지션이 이후 테스트들에서 알려진 경우, 이로써 이는 한 세트의 기준 마커들에 대해서도 마찬가지이다. 본 실시예들에 따르면, 빔들(561 및/또는 562)의 기준 원점들(541 및/또는 542)은 위치 정보의 일부로서 정의될 수 있다. 기준 원점은 빔의 물리적 또는 이론적 원점으로 이해될 수 있다. 이러한 원점은 특히 기준 포지션(48)이 안테나 어레이의 중심을 나타내는 경우에 기준 포지션(48)과 상이할 수 있다. 특정 빔(56)을 생성하기 위해, 빔이 안테나 어레이 상의 임의의 위치에 기준 원점을 가질 수 있도록 안테나 어레이(44)의 안테나 엘리먼트들의 서브세트가 사용될 수 있다. 특히, 서로 다른 빔들은 안테나 어레이 상의 서로 다른 기준 원점들을 포함할 수 있다. 위치 정보는 3D 공간에서의 안테나 어레이의 표면의 포지셔닝, 방출들(빔들)의 방향들 및/또는 기준점(기준 원점)과 같은 추가 정보를 방출을 위한 벡터들과 함께 포함할 수 있다. 위치 정보는 파 패턴을 형성하기 위해 사용된 전력, 예컨대 빔의 사용된 전력 및/또는 전력 등급을 나타내는 정보와 같은 정보를 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 테이퍼링에 의해 그리고/또는 빔이 고전력, 중간 또는 저전력으로 방출된다면, 안테나 어레이로 사이드 로브 억제가 수행될 수 있다. 대안으로 또는 추가로, CORRP와 연관된 위치 정보는 예컨대, 반송파 주파수 및/또는 의도된 종류의 방사될 빔 패턴에 관한 정보, 즉 3D 패턴을 나타내는 정보를 포함할 수 있다. 더욱이, 위치 정보는 방사 빔이 하나 또는 여러 개별 빔들에 의해 구성/중첩되는지를 나타내는 정보를 포함할 수 있다. 이것은 CORRP가 서로 다른 것, 즉 컴포넌트들의 중첩을 가능하게 한다. 일부 시나리오들에서, 예컨대 근접장에서의 측정들 동안, 공동 정보는 의심스럽고 그리고/또는 의미가 없을 수 있으며, 여기서 단일 컴포넌트들에 관한 정보는 사전에 있을 수 있다. 예컨대, 공통 신호가 2개 이상의 빔들의 중첩으로 송신되는 한편, 정보의 다른 부분은 하나의 중첩된 또는 전혀 중첩되지 않은 빔들만을 사용하여 송신된다면, 그러한 경우가 중요할 수 있다. 이것은 제어 채널 정보와 관련될 수 있지만, 사용자 데이터는 독립적인 빔들로 다중화될 수 있다(시간-주파수 자원들은 빔들에 의해 제공되는 공간적 자원들에 서로 다르게 매핑될 수도 있다).
조합된 빔(563)을 생성하기 위해 2개 이상의 안테나 어레이들, 예를 들어 안테나 어레이들(441, 442) 모두의 사용을 고려하면, 빔(563)의 기준 원점(543)이 심지어 안테나 어레이들(441, 442) 중 하나 또는 둘 다의 밖에 있을 수 있는 것이 발생할 수 있다. 비제한적인 예로서, 빔들(561, 562)은 둘 다 함께 빔(563)을 형성할 수 있다. 빔들(561, 562)은 근접장에서 구별 가능 또는 식별 가능할 수 있지만, 원거리장에서는 공통 빔(563)을 형성할 수 있다. 원거리장에서, 빔(563)은 따라서 빔(563)과 연관된 단일 기준 원점(543)을 가질 수 있다.
이제 하우징(34)으로 둘러싸인 DUT 그리고 안테나 어레이들(441, 442)의 알려지지 않은 포지션들을 고려하면, 안테나 어레이들(441 및/또는 442) 중 하나 이상에 의해 생성된 빔들을 평가하는 것은 어렵다. 3GPP에 따른 정보로, 이는 안테나 어레이들의 포지션에 의존한다. 이에 반해, 기준 원점들을 정의하고 빔들(561 내지 563)과 연관된 방향들(581, 582 및/또는 583)을 추가로 정의하면, 안테나 어레이들의 방사선, 즉 빔들은 안테나 엘리먼트들의 포지션에 관한 지식 없이도 측정될 수 있다. 일부 실시예들, 예컨대 빔(563)에 따르면, 공통 빔(563)을 형성할 때 안테나(441, 442)의 포지션은 심지어 중요하지 않을 수 있다. 방향들(581, 582 및/또는 583)이 3D 좌표계(36) 내에서 방향으로서 정의될 수 있으며, 따라서 한 세트의 마커들(321 내지 323)에 대한 방향과 관련될 수 있다.
CORR(52)은 3D 공간에서의 포지션일 수 있다. 3차원 배향 정보는 동일한 공간 내에서 벡터일 수 있고, CORR은 기준 위치로서 또는 중심으로서 사용될 수 있다. 따라서 CORR은 액세스 가능한 마커들(32)에 대한 기준을 포함할 수 있으며, 여기서 모든 각각의 포지션 및/또는 방향, 즉 파 패턴 원점들 및 그 방향들은 CORR에 대해 그리고 이로써 마커들에 대해 설명될 수 있다.
도 3b는 DUT(30)를 평가하기 위해 사용될 수 있는 측정 환경(31)의 일부의 개략적인 사시도이다. 예를 들어, 측정 환경(31)은 한 세트의 마커들(321 내지 323)에 관한 정보를 수신 또는 획득할 수 있는데, 이 정보는 3차원 공간에서, 바람직하게는 좌표계(36)에서 DUT의 포지션 및/또는 배향, 바람직하게는 이 둘 다를 결정할 수 있게 한다. 측정 환경(31)은 DUT(30)에서 한 세트의 마커들(321 내지 323) 중 적어도 일부를 검출하도록 구성된 디바이스(33)를 포함할 수 있다. 디바이스(33)는 예를 들어, 카메라, 스캐너, 판독기 등일 수 있다.
측정 환경(31)은 DUT(30)의 포지션을 정의 및/또는 적응시키도록 구성된 구조물(35)을 포함할 수 있다. 구조물(35)은 OTA 측정들을 위해 DUT(30)를 유지하여, 다음에 도 3b에 도시되지 않은 프로브들을 사용하여 이루어지도록 캐리어, 고정구, 지그, 홀더, 마운트, 컨테이너, 포지셔너 등을 포함할 수 있다. 테스트들 동안, 구조물(35)은 도시되지 않은 프로브들에 대해 DUT(30)를 이동시키도록, 예를 들어 DUT(30)를 회전시키고 그리고/또는 기울이고 그리고/또는 병진시키도록 구성될 수 있다. 대안으로 또는 추가로, 도시되지 않은 프로브들은 DUT(30)에 관련하여 움직일 수 있다. 실시예들에 따르면, DUT(30)는 수동 배치, 로봇 또는 조작기 배치, 컨베이어 벨트, 자동 및/또는 반자동 핸들링 시스템 등에 의해 배치 및/또는 이동될 수 있다.
측정 환경(31), 예를 들어, 그의 제어 유닛은 측정 환경(31) 내의 한 세트의 마커들(321 내지 323)의 포지션과 관련된 정보를 CORRP(52)의 위치를 나타내는 위치 정보와 링크할 수 있다. 이로써, 측정 환경(31) 내의 포지션들 및 좌표들과 한 세트의 마커들(321 내지 323)에 의해 정의되는 3D 좌표계 간의 링크가 획득될 수 있다. 따라서 마커들(321 내지 323)의 알려진 포지션, 즉 DUT(30)의 평면(들) 및/또는 에지(들) 및/또는 코너(들) 및/또는 다른 어떤 특징(들)을 CORRP(52)와 함께 조합함으로써, 구조물(35)에서의 DUT의 적절한 배치가 보장될 수 있다. 제어 유닛은 환경 내의 구조물(35)의 위치에 관한 정보 및 측정 환경 내의 마커들(321 내지 323)의 정보, 예컨대 구조물(35)에 대한 알려진 상대적 포지션을 갖는 디바이스(33)에 대한 마커들(321 내지 323)의 정보를 사용할 수 있다. 제어 유닛은 DUT의 추가 파라미터들, 예컨대 마커들(321 내지 323)에 대한 에지들, 표면들 또는 평면들의 포지션에 관한 그리고 이로써 DUT의 형상에 관한 지식을 추가로 가질 수 있다.
실시예들에 따른 방법은 DUT(30)의 한 세트의 마커들(321 내지 323)을 사용하여 DUT(30)의 포지션을 결정하는 단계, 및 한 세트의 마커들(321 내지 323)에 의해 정의되는 3D 좌표계에서 DUT(30)의 포지션 및 무선 주파수 빔(56)의 방향을 사용하여 빔에 대한 예상된 위치를 결정하는 단계를 포함할 수 있다. 이 예상된 위치는 DUT(30)를 평가하기 위해 측정 데이터가 비교되는 값 또는 값들의 세트로서 사용될 수 있다. 이 방법은, DUT의 포지션을 결정하는 단계가 구조물(35)로 DUT(30)를 유지하는 단계 및 DUT(30)에서 한 세트의 마커들(321 내지 323)의 포지션을 검출하는 단계, 및 측정 환경(31)에서 한 세트의 마커들(321 내지 323)의 포지션을 사용하여 측정 환경(31) 내에서 DUT의 포지션을 결정하는 단계를 포함하도록 구현될 수 있다.
실시예들에 따르면, CORRP의 지식은 DUT(30)의 기하학적 특징, 즉 마커들(321 내지 323)의 지식과 조합될 수 있다. 이러한 2개의 정보의 조합을 통해, 빔의 기준점 CORRP(52) 및 기준 방향이 결정될 수 있다. 방향을 결정하기 위해, 최소 3개의 점들, 또는 평면 및/또는 에지들 및/또는 코너들 및/또는 고정된 특징들과 결합된 단일 점이 사용될 수 있다. 따라서 DUT(30)의 포지션은 한 세트의 마커들(321 내지 323)을 사용하여 결정될 수 있다. DUT가 빔을 형성할 것으로 예상되는 위치의 공칭 값 또는 예상 위치는 DUT(30)의 포지션 및 수신된 방향 정보를 사용하여 결정될 수 있다. 이것은 3D 좌표계(36)와 동일하거나 3D 좌표계(36)로부터 적어도 변환될 수 있는 한 세트의 마커들(32)에 의해 정의되는 3D 좌표계를 사용하여 이루어질 수 있다.
도 3c는 시간/주파수 평면에서 무선 통신 네트워크에서의 자원 엘리먼트들(37)의 스케줄을 예시하는 개략도이다.
도 3d는 도 3c의 스케줄에 따라 동작하는 안테나 어레이들(441, 442)로 형성될 수 있는 빔들(561 and 562)의 개략도를 도시한다. 상부 좌측에서부터 하부 우측까지 그늘진 자원 엘리먼트들(371)이 안테나 어레이(441)로 빔(561)을 형성하는 데 사용될 수 있고, 여기서 상부 우측에서부터 하부 좌측까지 그늘진 자원 엘리먼트들(372)이 안테나 어레이(442)로 빔(562)을 형성하는 데 사용될 수 있다. 교차 그늘진 공통 자원 엘리먼트들(373)이 예를 들어, 공통 제어 메시지들을 송신하기 위해 두 안테나 어레이들(441, 442) 모두에 의해 사용될 수 있다. 자원 엘리먼트들(373)과 관련하여, 빔들(561, 562)은 시간/주파수 공간에서 동일한 패턴을 가질 수 있다. 예를 들어, 도 3d에서, 빔들(561, 562)의 중첩에 의해, 공통 자원 엘리먼트들(373)의 사용에 기초하여 공통 빔(563)이 형성될 수 있다. 이 빔(563)은 CORR과 관련하여 참조 또는 결정될 수 있는 가상 기준 원점(543)을 가질 수 있다. 가상 기준 원점은 예를 들어, 빔들(561, 562)의 (실제) 기준 원점들(541, 542) 사이에 배열될 수 있다. 가상 기준 원점(543)은 빔들(561, 562)에 대한 대칭 평면에 배치될 수 있다.
따라서 DUT는 복수의 빔들을 형성할 수 있다. 제1 안테나 어레이(441)로 제1 빔(561)이 형성 가능하고, 제2 안테나 어레이(442)로 제2 빔(562)이 형성 가능하며, 제1 빔 및 제2 빔은 적어도 부분적으로 시간 및 주파수 공간에서 공통 패턴을 포함하고, 이로써 제1 빔(561)의 기준 원점(541) 및 제2 빔(562)의 기준 원점(542)으로부터 이격되어 배열되는 기준 원점(543)을 포함한다. 적어도 하나의 빔(561 및/또는 562)의 가변 전력, 빔들 사이의 전력들의 가변적인 관계에 기초하여, 빔(563)의 배향이 변경될 수 있다.
실시예들은 하나 이상의 안테나 어레이들을 포함할 수 있는 그리고/또는 안테나 어레이들 중 적어도 하나가 자체적으로 다수의 서브어레이들을 포함하는 DUT에 관한 것으로, 서브어레이들의 수는 1보다 더 큰 임의의 수이다.
예를 들어, 안테나 어레이들 또는 서브어레이들은 타일 구조로 배열될 수 있다. 이러한 구조는 안테나 패널들의 배열로 지칭될 수 있으며, 여기서 각각의 안테나 패널은 안테나 어레이 또는 서브어레이의 기능 유닛일 수 있다. 이러한 패널들 각각은 송신 및/또는 수신 목적들로 하나 이상의 빔들을 형성하도록 설계될 수 있다. 또한, 단일 패널의 그리고/또는 서로 다른 패널들의 적어도 2개의 빔들을 사용하여, 조합된 빔이 형성될 수 있다.
이러한 실시예들은 패널들 및 서브 패널들의 임의의 배열들에 적용될 수 있으며, 그 예들은 규칙적 및 불규칙적인 타일링 방식들을 모두 포함할 수 있다. DUT의 관점에서, DUT의 무선 인터페이스는 복수의 안테나 서브어레이들을 포함할 수 있으며, 각각의 서브어레이는 빔 패턴, 조합된 빔 등의 적어도 일부를 형성하도록 구성된다.
일 실시예에 따르면, 각각의 서브어레이에 대해 CORR이 정의될 수 있다. 대안으로 또는 추가로, 단일 서브어레이 또는 서브어레이들의 조합에 의해 형성되는 적어도 하나의 조합된 빔에 대해 CORR이 정의될 수 있다. 단일 서브어레이에 대해 또는 각각의 서브어레이에 대해 CORR을 정의하는 것은 서브어레이들로 형성된 빔들의 간단한 평가를 허용할 수 있으며, 여기서 적어도 제1 및 제2 서브어레이에 기초하여 CORR을 정의하는 것은 DUT의 조합된 빔들의 간단한 평가를 허용할 수 있다. 하나의 솔루션은 제한 없이 다른 솔루션과 결합 가능한데, 즉 CORR이 서브어레이에 대해 그리고 그 조합에 대해 동시에 정의될 수 있다는 점이 주목된다.
도 3e는 본 실시예들에 따른 사용 사례의 개략도이다. 빔(56)의 대칭을 나타내는 대칭점, 축 또는 평면(59) 주위에 배열되는 서로 다른 일치/측정 지점들(571 내지 574)을 사용하여 빔(56)의 예시적인 단면이 평가될 수 있다. 각도들(Φ, Θ)은 빔 및 각각의 안테나 어레이(들)에 관한 고도 및 방위 방향들을 나타낸다. 대칭점, 축 또는 평면(59)은 오류 벡터 크기(EVM: error vector magnitude)와 관련하여 측정들을 위한 중심, 즉 EVM 방향 범위의 중심을 형성할 수 있다. 평면(61)은 OTA EVM 방향 범위, 즉 평가되어야 하는 단면의 면적에 대한 선언들에 따라 형성될 수 있다. 이 영역은 원점에 대한 거리에 의존할 수 있고, 초점이 맞지 않는 빔에 대해 증가하거나 초점이 맞는 빔에 대해 감소할 수 있다. 따라서 점, 축 또는 평면(59)을 아는 것은 점들(57)을 포지셔닝하고 빔(56)을 평가하게 할 수 있다. 실시예들에 따르면, 점, 축 또는 평면(59)은 CORR로서 정의될 수 있고, 점들(57)은 측정 지점들로서 사용될 수 있다.
도 4a는 예를 들어, 단계(120) 동안 위치 정보를 결정하기 위해 구현될 수 있는 방법(400)의 개략적인 흐름도이다. 단계(410)에서, DUT로 형성 가능한 한 세트의 빔들이 정의된다. 예를 들어, 한 세트의 빔들은 빔(561, 562 및/또는 563)을 포함할 수 있다.
단계(420)는 한 세트의 빔들 내의 빔들 각각에 대해, CORRP에 대한 빔의 기준 원점의 오프셋 및 기준 방향에 대한 빔 방향의 방향 편차를 결정하여, 위치 정보가 CORRP에 대한 기준 원점 및 빔 방향을 나타낼 수 있게 하는 단계를 포함한다. 기준 원점, 예컨대 기준 원점들(541, 542 및/또는 543)의 오프셋은 3D 좌표계(36) 내에서 각각의 기준 원점의 포지션일 수 있다. 따라서 오프셋은 측정 환경에서의 포지션 및/또는 원점 중심(38)에 대한 각각의 기준 원점의 오프셋과 관련될 수 있다. 기준 방향의 편차는 좌표계(36) 내의 방향과 관련될 수 있다. 기준 방향은 예를 들어, 좌표계 내의 축들 및/또는 방향들 중 하나 이상을 따르는 방향일 수 있다. 좌표계(36) 내의 임의의 방향은 방향들(581, 582, 583)이 3D 좌표계(36) 내의 각각의 빔(541, 542 및/또는 543)의 방향을 나타내도록 기준 방향으로서 사용될 수 있다.
다시 말해서, CORRP는 4개의 점들(좌표계의 3개의 기준 마커들 및 원점 중심) 및 수직 축들일 수 있고 적어도 3D 공간에 걸쳐 있을 수 있는 3개의 축들로 기술될 수 있다.
CORRP 및/또는 위치 정보는 3차원 공간에서 기준점/벡터 세트로서 제공될 수 있는데, 이는 공간에서 상대 및 축 방향 포지션 및 설명의, 특히 ⅰ) 파들(빔들)이 방출되는 지점 및/또는 영역, ⅱ) 분산 안테나들이 포지셔닝되는 지점 및/또는 영역들; ⅲ) 무선파들을 방출하는 중첩/유효 안테나들/안테나 어레이들의 지점 및/또는 영역들의 결정을 허용하고; 그리고/또는 ⅳ) 편광 효과들을 나타낸다. 지점 ⅱ)는 가능하지만 안테나들의 포지션을 정의하는 것을 반드시 포함하는 것은 아니다. 제조업체들은 디바이스 내에서 안테나(들)의 위치를 밝히는 것보다는 발명된 기준점 CORRP를 사용하는 것을 선호할 수 있다. 따라서 정확한 안테나/안테나 어레이 위치는 CORRP의 설명에 의해 드러낼 수 있지만, 그렇게 요구되는 것이 아니라, 빔 패턴이 시작되는 것처럼 보이는 보다 더 일반적인 위치를 허용한다. 물론, 이는 그 자체가 안테나 위치일 수 있다. 더욱이, 디바이스가 다수의 안테나들 또는 다수의 안테나 어레이들을 포함할 때, 그 위치의 특정화는 장황할 수 있고 잘못 해석될 수 있으며, 이는 결국 정확도에 영향을 줄 수도 있다. 따라서 각각의 디바이스가 포함하는 안테나들의 수에 관계없이 각각의 디바이스에 대한 단일 CORRP는 디바이스의 세부사항들을 공개하지 않고 유지한다는, 측정들의 정확도를 높인다는 그리고/또는 측정 환경을 효과적으로 정의한다는 점에서 이점들을 제공한다.
안테나 어레이, 빔을 각각 CORRP와 관련시키기 위해 CORRP에 대해 포인팅 벡터들이 정의될 수 있다. 이것은 a) 방출된 방사선의 원점 및/또는 b) ⅰ) 어레이 표면 3D 공간의 포지셔닝; ⅱ) 방향들(58)과 같은 방출들의 방향들 및/또는 ⅲ) 방출에 대한 기준점 및 벡터들을 기술하기 위한 상대 좌표계를 포함할 수 있다. 기준점들 또는 기준 마커들은 디바이스의 외부로부터 또는 디바이스의 특정 마커들 또는 디바이스 특정 경계들, 예컨대 면들, 평면들, 코너들, 에지들 등에 대해 액세스 가능할 수 있다. 따라서 한 세트의 기준 마커들은 또한 DUT 하우징의 코너들 또는 에지들을 포함할 수 있다.
도 4b에 도시된 바와 같이, 3차원 배향 정보를 정의하는 것과 유사하게, CORR을 정의하는 것은 단계(410), 즉 DUT로 형성 가능한 한 세트의 전자기파 패턴들을 정의하는 단계를 포함할 수 있으며, 한 세트의 전자기파 패턴들은 전자기파 패턴을 포함한다. 추가로, 단계(460)에서 한 세트의 전자기파 패턴들 내의 전자기파 패턴들 각각에 대해, CORR에 대한 전자기파 패턴의 기준 원점의 오프셋이 결정될 수 있다.
도 5a는 CORRP와 관련된 정보 및/또는 위치 정보를 활용하기 위해 사용될 수 있는 방법(500)의 개략적인 흐름도이다. 선택적인 단계(510)는 예를 들어, 도 3b와 관련하여 설명된 바와 같이 DUT의 한 세트의 마커들, 예컨대 마커들(321 내지 323)을 사용하여 DUT의 포지션을 결정하는 단계를 포함한다. 선택적인 단계(520)는 한 세트의 마커들에 의해 정의되는 3D 좌표계에서 DUT의 포지션 및 무선 주파수 빔의 방향을 사용하여 빔에 대한 예상된 위치를 결정하는 단계를 포함한다. 단계(530)는 DUT로부터 무선 주파수 빔을 검출하는 단계를 포함한다. 무선 주파수 빔은 예를 들어, 수신기 빔 및/또는 송신 빔일 수 있다. 단계(540)는 DUT에 대한 방사선 중심 기준(CORR)을 나타내는 정보를 수신하는 단계를 포함하며, CORR은 DUT로 형성된 전자기파 패턴의 기준 원점을 나타낸다. 단계(540)는 CORR에 대한 3차원 배향 정보를 수신하는 단계를 포함하며, 3차원 배향 정보는 전자기파 패턴의 방향을 나타낸다. 단계(550)는 검출된 무선 주파수 빔을 CORRP 및 위치 정보와의 매칭과 관련하여 평가하는 단계를 포함한다. 단계들(530, 540)을 수행하는 순서는 임의일 수 있다. 즉, 단계(530)는 단계(540) 이전, 이후 또는 심지어 동시에 수행될 수 있다. 단계(550)는 예를 들어, 위치 정보에 의해 특성화된 빔이 DUT로부터 검출된 무선 주파수 빔과 매칭하는 경우, 특정 평가 단계들을 포함할 수 있다. 이러한 매칭은 기준 원점의 매칭 및/또는 메인 로브들 및/또는 사이드 로브들의 물리적 확장의 매칭을 포함할 수 있지만, 이에 제한되지는 않는다. 전자기파 패턴은 방사선의 3D 패턴일 수 있고 임의로 형성될 수 있다. 이러한 3D 패턴은 예를 들어, 전자기파 패턴이 빔을 포함할 때 메인 로브들 및/또는 사이드 로브들에 관한 정보를 포함할 수 있다. 3D 패턴은 예를 들어, 고도 및/또는 방위 방향으로 큰 개방 각들을 가질 때 메인 로브 또는 사이드 로브에 의해 적절하게 기술되지 않을 수 있다. 3D 패턴은 주어진 CORRP 및 방향에 대해 상대적으로 기술될 수 있는 임의의 형성 또는 성형된 방사 빔 패턴/장일 수 있다.
위치 정보는 빔에 대한 적어도 하나의 메인 로브 및/또는 빔의 적어도 하나의 사이드 로브를 나타내는 정보를 포함할 수 있다. 이러한 정보는 각도 형성, 즉 CORRP 및/또는 기준 원점을 참조하는 그리고/또는 각각의 메인 로브 또는 사이드 로브가 빔 내에서 연장되는 방향에 따른 각도 형성을 포함할 수 있다. 예를 들어, 단계(550)를 수행할 때, 검출된 무선 주파수 빔을 평가하는 단계는 빔의 적어도 하나의 메인 로브 및/또는 빔의 적어도 하나의 사이드 로브에 대한 검출된 무선 주파수 빔의 평가를 포함할 수 있다. 단계들(510 및/또는 520)의 순서는 수행될 때 단계들(530 및/또는 540)의 실행과 무관할 수 있는데, 즉 단계(550)를 실행하기 전에 실행되는 한 단계들(510, 520, 530, 540)을 구현하는 것으로 충분할 수 있다. 앞서 설명한 바와 같이, 전자기파 패턴은 빔들로 제한되지 않는다. 예를 들어, 방사 빔 패턴의 설명을 위한 CORRP 및 기준 방향이 제공될 때, 패턴의 정확한 형상은 임의일 수 있고 하나 또는 다수의 메인 로브들 또는 사이드 로브들의 정의를 요구하지 않는다. 3차원으로 특정 방향들을 향한 이러한 특정 특징들의 설명은 일부 실시예들에서 구현될 수 있지만, 3D 전자기파 패턴의 보다 일반적인 특징들과 관련될 수 있다.
도 5b는 예를 들어, 단계(510)의 일부로서 수행될 때 구현될 수 있는 방법(560)의 개략적인 흐름도를 도시한다. 단계(570)는 측정 환경(31)의 구조물(35)과 같은 측정 환경의 구조물로 DUT를 유지하는 단계를 포함한다. 단계(580)는 DUT에서 마커들(321 내지 323)과 같은 한 세트의 마커들의 포지션을 검출하는 단계를 포함한다. 단계(590)는 측정 환경에서 한 세트의 마커들의 포지션을 사용하여 측정 환경 내에서 DUT의 포지션을 결정하는 단계를 포함한다.
도 6은 예를 들어, 단계(550)의 결과들에 응답하여 방법(500)과 함께 수행될 수 있는 방법(600)의 개략적인 흐름도이다. 단계(610)에서, 빔의 기준 원점이 무선 주파수 빔을 검출 및/또는 평가하는 데 사용되는 측정 환경의 중심을 형성하도록 DUT의 포지션이 조정된다. 대안으로 또는 추가로, 측정 환경의 미리 결정된 중심과 무선 주파수 빔의 기준 원점 간의 오정렬이 결정될 수 있는 단계(620)가 수행될 수 있다. 결정된 오정렬을 사용하여, 검출된 무선 주파수 빔의 평가 결과가 정정될 수 있다. 즉, 단계(550)의 결과들이 정정될 수 있다. 예를 들어, 측정이 검출된 무선 주파수 빔의 기준 원점이 위치 정보에 표시된 것과 다른 위치에 있다고 나타낼 때, DUT는 프로브들에 대해 시프트될 수 있는데, 즉 프로브들 및/또는 DUT는 무선 주파수 빔의 정확한 카테고리화를 허용하도록 이동될 수 있다. 대안으로 또는 추가로, 검출된 오정렬이 결과들에서 고려될 수 있다.
단계들(610, 620)을 각각 사용하여, 동일한 또는 서로 다른 주파수에서 2개의 서로 다른 빔들에 대한 CORRP에 관한 지식 및 오정렬에 대비하여, 결과적인 편차들이 오정렬을 사후 보상(610)하는 데 또는 측정을 반복하기 전에 반복해서 사전 보상(620)하는 데 사용될 수도 있다.
앞서 설명한 바와 같이, 무선 주파수 빔의 검출은 DUT의 사용에 의해 무선 주파수 빔을 수신할 때 DUT로부터 빔을 검출(수신)하고 그리고/또는 DUT로 빔을 검출하는 것과 관련될 수 있다.
도 7은 일 실시예에 따라 테스트 대상 디바이스로서 사용될 수 있는 디바이스 또는 장치(70)의 개략적인 블록도이다. 장치(70)는 디스플레이(62) 및 인터페이스(64)를 포함할 수 있다. 인터페이스(64)는 테스트 모드를 수행하도록 장치(70)에 요청하는 요청을 나타내는 신호(66)를 수신하도록 구성될 수 있다. 인터페이스(64)는 예를 들어, 안테나 또는 안테나 어레이를 포함하는 인터페이스와 같은 무선 통신 인터페이스일 수 있다. 이 경우, 신호(66)는 무선 신호일 수 있다. 장치(70)는 신호(66)에 응답하여 테스트 모드로 전환하도록 그리고 사전 정의된 광 신호 패턴(68)을 디스플레이에 디스플레이하도록 구성된다. 광 신호 패턴은 다수의 1개, 2개, 3개 이상의 기준 마커들(321 및/또는 322 및/또는 323)로서 사용될 수 있는 하나 이상의 화상들 및/또는 점들 및/또는 도트들을 포함할 수 있다. 즉, 광 신호 패턴(68)은 장치(70)에서 한 세트의 기준 마커들 중 적어도 일부를 제공한다. 다시 DUT(30)를 참조하면, 기준 마커들(321, 322 및/또는 323) 중 적어도 하나가 광 신호 패턴(68)의 각각의 파트들 또는 부분들로 구현될 수 있는 것으로 보일 수 있다. 장치(70)는 광 신호 패턴의 디스플레이 변경을 나타내는 사용자 입력으로부터 독립적으로 광 신호 패턴을 디스플레이하도록 구성될 수 있다. 이러한 사용자 입력은 예를 들어, 패턴의 크기를 변경하라는 요청, 디스플레이(62)에서의 패턴의 포지션 및/또는 다른 패턴을 디스플레이하라는 요청일 수 있다. 따라서 광 신호 패턴(68)은 장치(70)의 하우징에 대해 움직이지 않을 수 있고 따라서 기준 마커로서 작용할 수 있다. 예를 들어, 광 신호 패턴은 매트릭스 바코드, 예를 들어 신속 응답(QR) 코드 또는 매트릭스 바코드 또는 다른 2차원 코드를 포함하는 하나 이상의 차원들의 바코드일 수 있다. QR 코드는 고밀도 정보가 디스플레이되도록 제공할 수 있다. 이는 특히, 테스트 동안 다수의 빔들이 평가될 때 유리할 수 있다. 특정 광 신호 패턴(68)은 각각의 빔 및/또는 테스트 모드와 연관될 수 있다. 이로써, 광 신호 패턴은 장치(70)가 실제로 이 장치로 형성된 빔을 나타내도록 각각의 빔 및/또는 테스트 모드를 나타낼 수 있다. 장치(70)는 복수의 테스트 모드들 및/또는 빔들 또는 이들의 조합들 중 하나를 순차적으로 온 전환하도록 그리고 이어서 복수의 광 신호 패턴들 중 하나를 디스플레이하도록 구성될 수 있다. 디스플레이된 광 신호 패턴들 각각은 장치(70)로 수행된 각각의 현재 테스트 모드와 연관될 수 있다.
도 8a는 일 실시예에 따른 측정 시스템(80)의 개략적인 블록도이다. 측정 시스템(80)은 본 명세서에 설명되는 방법들 중 하나 이상을 수행하도록 구성된다. 예를 들어, 측정 시스템(80)은 방법(500 및/또는 600)을 수행하도록 구성된다. 선택적으로, 측정 시스템(80)은 방법들(100, 200 및/또는 400) 중 적어도 하나를 추가로 수행하도록 구성될 수 있다. 측정 시스템(80)은 복수의 프로브들(721 내지 725)을 포함할 수 있다. 하나 이상의 프로브들, 예를 들어 프로브들(721)은 근접장에서 빔(56)을 평가하도록 구성될 수 있다. 하나 이상의 프로브들, 예를 들어 프로브(722)는 중거리장(mid-field)에서 빔(56)을 평가하도록 구성될 수 있다. 하나 이상의 프로브들, 예를 들어 프로브들(723, 724 및/또는 725)은 빔(56)의 원거리장에서 빔(56)을 평가하도록 구성될 수 있다.
측정 시스템(80)은 DUT, 예를 들어 장치(30 및/또는 70)를 평가하도록 구성될 수 있다. 측정 시스템(80)으로 획득되고 사용된 위치 정보는 빔(561)의 기준 원점(541)을 나타내는 정보를 포함할 수 있다. 위치 정보는 각각의 빔들(561, 562)의 기준 원점들(541, 542)을 나타내는 정보를 포함할 수 있다. 위치 정보는 각각의 빔의 방향(581, 582)에 관한 정보를 더 포함할 수 있다. 측정 시스템은 검출된 무선 주파수 빔(561 및/또는 562)을 빔(561, 562)과의 중첩의 매칭에 대해 평가하도록 구성될 수 있다. 도 3과 관련하여 설명된 바와 같이, 단일 빔들(561, 562) 및/또는 추가 빔들의 중첩에 의해 요약된 빔이 획득될 수 있다. 측정 시스템(80)은 (수신 빔을 평가하는) DUT 및/또는 프로브들(721 내지 725)(송신 빔들)에 의해 획득된 결과들을 평가하도록 구성된 평가 유닛 및/또는 제어 유닛을 포함할 수 있다.
빔의 근접장에서 빔들(561 및/또는 562) 및/또는 빔들의 중첩을 검출할 때, 측정 시스템(80)은 빔의 원거리장에서 빔의 특성을 외삽하도록 구성될 수 있다. 평가될 빔의 정확한 지식, 즉 CORRP에 대한 기준 원점 및 방향에 기초하여, 이러한 외삽이 높은 정밀도로 수행될 수 있다.
도 8b는 근접장(NF: near field), 중거리장(MF: mid-field) 및/또는 원거리장(FF: far field)에 배열될 수 있는 복수의 프로브들(721 내지 726)을 수용하는 측정 챔버를 포함하는 측정 시스템(80')의 개략적인 블록도이다. 하나 이상의 프로브들, 예를 들어, 프로브(721)는 측정 챔버(74) 내에서 이동 가능할 수 있다. 대안으로 또는 추가로, 평가된 DUT들 중 하나 이상, 예를 들어 DUT(70)는 사이드 로브들(761 내지 764) 및/또는 메인 로브들(781 내지 783)이 프로브들(721 내지 726)에 대한 포지션 및/또는 배향에 관해 변화할 수 있게 하도록 측정 챔버(74) 내에서 이동 가능할 수 있다.
다시 말해서, 예컨대 빔 패턴들의 특성화를 위해 OTA 측정을 사용할 때, 빔이 시작되는 정확한 기준점(소스; 기준 원점)을 아는 것이 매우 중요할 수 있다. OTA 측정들이 근접장에서 이루어지고 있다면 또는 DUT가 큰 치수들을 갖는다면, 예를 들어 자동차일 경우 이는 훨씬 더 중요해질 수 있다. 더욱이, 예컨대 28㎓, 39㎓, 60㎓ 이상에서, 예컨대 밀리미터 파들과 같은 높은 무선 주파수들을 사용하여, 파장이 매우 짧아지면, 방출된 빔에 대한 정확한 CORRP가 알려지지 않는다면 근접장 측정들에서의 부정확성들이 변환 후 계산된 원거리장 패턴에 대해 다소 큰 오류들을 유발할 수 있다. 안테나들의 정확한 위치가 외부로부터 알려지지 않은 경우 및/또는 디바이스가 디바이스에 걸쳐 분산된 여러 안테나들을 사용하는 경우, 스마트폰들, 태블릿들 또는 랩톱들과 같은 소형 폼 팩터 디바이스들로부터 다른 경우가 제공될 수 있다. 이러한 모든 경우들에, 측정된 빔 패턴들을 정확하게 평가하기 위해 기준점을 아는 것이 중요할 수 있다. 본 명세서에서 설명되는 실시예들은 CORRP를 사용하여 DUT에 의해 생성된 모든 각각의 빔에 대한 참조 원점을 기술할 수 있게 하는 3D 참조 방식을 도입한다. 실시예들은 특히 디바이스의 외부로부터 정확하게 방출된 모든 각각의 빔의 기준점을 결정하기 위한 솔루션을 제공한다. 이는 안테나들 및/또는 안테나 어레이들이 측정 프로시저 동안 측정 설정/시스템에 포지셔닝된 자동차 등과 같은 비교적 큰 객체에 걸쳐 분산되어, 예컨대 DUT 주위의 3D 방사 빔 패턴을 결정한다면 명백해지는데, 전력, 위상, 위상 안정성 등과 같은 특정 파라미터들을 측정하기 위해 일정한 거리(근접장, 중거리장 또는 원거리장)에서 하나 또는 다수의 센서들로 둘러싸인 홀더 상에 측정 시스템의 DUT를 장착하는 것이 알려져 있다. 방사된 패턴을 3D로 스캔하기 위해, 센서가 다른 관찰 각도 하에서 DUT를 관찰하도록 또는 주어진 거리들에서 DUT 주위의 센서(들)를 관찰하도록 DUT가 회전, 시프트 또는 이동된다. 대안으로, 2개의 움직임들이 3D 필드 스캔을 갖도록 오버레이될 수 있다. 도 8b에서 DUT(70)에 대해 예시된 바와 같이, DUT를 이동시키기 위해 회전자 상에 DUT가 장착될 수 있다. 와이어 중심에 대한 헤르츠 쌍극자 회전으로서 이미터들, 예컨대 와이어와 같은 지점의 이상적인 경우, 측정 방사 패턴은 다양한 대칭 원형 형상을 야기할 수 있다. 회전 중심에 대한 와이어의 잘못된 포지션의 경우, 왜곡된 방사 패턴이 관찰될 수 있으며, 이는 측정 중에 CORRP가 알려지고 고려될 때 쉽게 보상될 수 있다. CORRP는 회전 중심에 대해 상대적으로 정보를 포함할 수 있다. 이러한 보상 프로시저는 측정들 후에 수행될 수 있거나, 가능하다면, 유효 회전축이 이미 안테나의 방출 중심과 정렬되도록 이동이 사전 보상될 수 있다.
도 9a는 DUT가 예컨대, 방사 패턴 측정들을 위한 센서 환경, 즉 측정 시스템 내에 장착될 때 방사선 중심 기준점에 관한 지식이 누락된 영향을 예시하는 개략도를 도시한다. 방향(82)을 따라가는 DUT의 시프트는 메인 로브(78) 및/또는 방출된 다른 로브들의 시프트로 이어질 수 있다. 프로브들(72)로 빔 및/또는 로브들을 결정함으로써, 이것이 DUT의 오작동인지 그리고/또는 특히 안테나 어레이들의 원하는 그리고/또는 실제 포지션이 알려지지 않을 때 오정렬에 의해 야기된 영향인지를 결정하는 것이 어렵거나 불가능할 수 있다.
예시적인 DUT들은 예를 들어, 능동 안테나 시스템(AAS)들, 기지국 안테나들, 사용자 장비, 이를테면 핸드셋, 랩톱, 차량 드론, 누설 피더 케이블과 같은 확장된 대형 크기 객체 등일 수 있다.
도 9b는 안테나 어레이(44)의 구조를 예시하는 개략도를 도시한다. 안테나 어레이(44)는 복수의 안테나 엘리먼트들(841 내지 84N)을 포함할 수 있다. CORRP는 독립형으로 또는 프로브, DUT 또는 다른 엘리먼트와 같은 특정 컴포넌트를 디바이스의 에지와 정렬하기 위한 그리고/또는 테스트 패턴을 보여주는 디스플레이 상에 기준점을 디스플레이하는 스크린 또는 표면에 수직으로 센서를 정렬하기 위한 요청과 같은 모든 정보/명령들과 조합하여 사용될 수 있다. 예시된 바와 같이, 도 9a의 시프트(82)에 대해 역일 수 있는 시프트(82')가 DUT, 예컨대 DUT(70)를 하나 이상의 프로브들(72)과 정렬시키도록 구현될 수 있다. 이는 빔의 사이드 로브(76) 및/또는 메인 로브(78)를 정확하게 결정할 수 있게 한다. 예를 들어, 측정 시스템은 예컨대, 프로브와 관련하여 검색 알고리즘을 사용할 수 있다. 프로브(72)로 각각의 마커 또는 패턴이 관찰될 때, 정렬이 추정될 수 있고 CORRP가 사용되어, 검출된 또는 결정된 빔이 원하는 조건과 매칭하는지 여부를 결정할 수 있다. 이것은 DUT를 정렬하기 위한 검색 알고리즘을 사용하여 이루어질 수 있다.
본 명세서에서 설명되는 실시예들은 함께 실행될 수 있지만, 또한 분산된 구현을 허용할 수 있다. 예를 들어, 디바이스 또는 DUT의 제조업체는 방법들(100, 200 및/또는 400) 중 하나 이상을 수행할 수 있다. 이로써, 제조업체는 디바이스에 의해 지원되는 각각의 빔 및/또는 빔 세트들에 대한 기준점 및/또는 기준점들/벡터들을 제공할 수 있다. 이것은 하나 이상의 메인 로브들 및/또는 하나 이상의 사이드 로브들과 관련된 정보를 포함할 수 있다. 제조업체는 추가로, 빔들 각각에 대한 송신/수신을 위한 주파수들 또는 주파수 범위들에 관한 정보를 제공할 수 있다. 각각의 모드 또는 송신 모드들의 세트들은 특정 빔을 형성하기 위해 사용되도록 지시될 수 있다. 특정 모드들에서, 서로 다른 안테나들/안테나 엘리먼트들이 빔 생성에 관련될 수 있다. 이로써, 사용된 안테나들 또는 안테나 엘리먼트들에 대한 특정 세부사항들을 표시함으로써, 테스트 내에서 추가 세부사항들이 평가될 수 있다.
CORRP 및/또는 위치 정보를 사용하고 그리고/또는 방법들(500, 600) 중 하나 이상을 구현하는 측정 시스템은 DUT 홀더(캐리어)를 포함할 수 있고, 통상의 측정 프로시저를 통해 기준점이 중심이 되고(단계(610)) 그리고/또는 알려진 오정렬이 빔 패턴 평가들을 위한 기능들/변환들의 정정에 포함되게(단계 620), 장착된 DUT를 벡터들을 사용하여 3D 좌표들에서 오프셋하도록 구성될 수 있다.
각각의 기준점은 디바이스 상의 또는 코너 스톤들 및/또는 에지들에 대한 물리적 마커일 수 있다. 이는 예컨대, (평면에 정의되어 있으며 미리 결정된 크기 등을 가질 수 있고, 좌표계에 대한 기준으로서 사용될 수 있는) 평면, 코너, 에지, 바코드, 예컨대 QR 코드들과 같은 매트릭스 바코드들을 어떻게 참조할지에 대한 임의의 종류의 옵션들을 포함할 수 있다. CORRP의 정의 또는 마킹은 적정한 물리적 제약들에 구속/제한될 수 있는 값들에 관한 정보와 같은 추가 정보를 포함할 수 있는 QR 코드를 사용하여 이루어질 수 있다. QR 코드와 같은 1차원 또는 2차원 바코드는 코드를 DUT의 케이스, 본체, 하우징, 커버 카울링(cover cowling), 인클로저 및/또는 라돔(radom) 커버 카울링(cover cowling), 인클로저 및/또는 라돔(radom)에 부착하기 위해 예를 들어, 인쇄, 에칭 판화, 접착 단계 등을 사용하여 영구적으로 구현될 수 있다. 대안으로, 이러한 코드는 UE가 측정 목적들로 편리한 특정 동작 모드로 구성될 때 UE의 스크린 상에 디스플레이될 수 있다. 모든 경우들에 QR 코드의 포지션은 고정될 수 있다. QR 코드 자체는 스캐너 또는 판독기와 같은 기계 판독 디바이스에 의해, 예컨대 디바이스(33)에 의해 판독될 수 있다. 이러한 디바이스는 QR 코드에 포함된 정보를 판독할 수 있고 그리고/또는 DUT 상에서 QR 코드의 포지션을 결정하도록 구성될 수 있다. QR 코드 데이터 내에는, 이 경우에 CORRP를 결정하기 위해 판독기에 의해 사용되는 정보가 포함된다. 다시 말해서, QR 코드는 편리하고 실용적이며 수용 가능하고 그리고/또는 미적이며 그 자체로는 CORRP 자체의 마킹을 형성하지 않는 그러한 위치에 포지셔닝될 수 있다. 더욱이, QR 코드는 예컨대, 연역적으로 알려질 수 있는 또는 시간이 지남에 따라 업데이트될 수 있는 데이터베이스로부터 이 정보를 제공함으로써 이 마커에 대한 CORRP를 어떻게 도출하는지에 대한 설명 및 DUT 외부에서의 물리적 특징을 정의할 수 있다. 이러한 정보는 예를 들어, 웹사이트 또는 다른 명시적으로 참조된 정보 소스에 액세스하는 것으로부터 리트리브될 수 있다. 그러한 소스에서 콘텐츠는 필요하다면 업데이트될 수 있도록 변경되지 않은 또는 변경 가능한 방식으로 다운로드/액세스에 이용 가능하도록 유지될 수 있다. 또한, 이러한 정보 세트는 "DUT에 대한 이러한 측정이 측정 명령 ABC 버전 1.23에 따라 수행되었다" 등의 의미로 측정을 수행할 때 참조될 버전 번호를 가질 수도 있다.
대안으로 또는 추가로, CORRP는 노치, 에칭 또는 홀과 같은 기계적 마킹에 기초하여 정의될 수 있다. 대안으로 또는 추가로, 소위 배지(badge) 마킹이 스위트 스폿을 얻도록 구현될 수 있다. 대안으로 또는 추가로, QR 코드와 같은 매트릭스 코드가 테스트 모드에서 디스플레이될 수 있고, 이로써 광학 패턴을 갖는 전용 픽셀 포지션들을 사용하는 사용자 장비 스크린(디스플레이)을 사용할 수 있다. 대안으로 또는 추가로, 사용자 장비의 램프/카메라 렌즈/마이크로폰, 스피커 등이 CORRP로서 사용될 수 있다.
본 명세서에서 설명된 실시예들은 파들/빔들이 원래 어디에서 생략되는지를 정확하게 참조할 수 있게 할 수 있다. 실시예들은 CORRP 및 위치 정보를 정의하기에 충분할 수 있기 때문에 제조업체에 의한 디바이스 특정 기술 솔루션들의 비공개를 유지할 수 있게 한다. 실시예들은 디바이스에서 가시적/액세스 가능한 외부 기준점들에 대한 디바이스의 적절한 포지셔닝을 허용할 수 있다. 실시예들은 오정렬 또는 분산된 안테나들을 사용하더라도 근접장에서 원거리장으로의 올바른 변환을 허용할 수 있는데, 이들의 동작이 높은 정확도로 정확하게 평가될 수 있기 때문이다. 빔들의 대칭성들은 빔들의 기준 원점들 및/또는 패턴들의 정확한 결정에 기초하여 보다 쉽게 식별될 수 있다. 측정 장소 또는 집, 예컨대 실험실은 DUT를 열거나 파괴하지 않고 CORRP를 사용하여 제조업체와 정확히 동일한 기준점을 사용할 수 있다. 본 명세서에서 설명된 실시예들은 안테나들/어레이들의 조합들 등에 대한 서로 다른 기준점들을 정의/사용할 수 있게 한다. 통신 시스템에서, 제안된 실시예들은 빔 파링(paring)과 같은 기능을 용이하게 하기 위해 재사용될 수 있는데, 즉 CORRP는 독립하여 그리고/또는 검색 알고리즘들과 같은 다른 방법들과 함께 사용될 수 있다.
대안으로 또는 추가로, 예컨대 임의의 방향들을 따라 가리키는 여러 개의 안테나 어레이들을 사용할 때 빔 조정이 수행될 수 있다. 실시예들은 다른 피어 디바이스들 또는 제품들과 표준화되고 공정한 비교(벤치마킹)를 허용하는 DUT 방사 패턴들의 OTA 측정을 위한 정확한 방법을 제공한다.
일부 양상들은 장치와 관련하여 설명되었지만, 이러한 양상들은 또한 대응하기 위한 방법의 설명을 나타내며, 여기서 블록 또는 디바이스는 방법 단계 또는 방법 단계의 특징에 대응한다는 점이 명백하다. 비슷하게, 방법 단계와 관련하여 설명한 양상들은 또한 대응하는 장치의 대응하는 블록 또는 항목 또는 특징의 설명을 나타낸다.
특정 구현 요건들에 따라, 본 발명의 실시예들은 하드웨어로 또는 소프트웨어로 구현될 수 있다. 구현은 각각의 방법이 수행되도록 프로그래밍 가능 컴퓨터 시스템과 협력하는(또는 협력할 수 있는) 전자적으로 판독 가능 제어 신호들이 저장된 디지털 저장 매체, 예를 들어 플로피 디스크, DVD, CD, ROM, PROM, EPROM, EEPROM 또는 플래시 메모리를 사용하여 수행될 수 있다.
본 발명에 따른 일부 실시예들은 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나가 수행되도록, 프로그래밍 가능 컴퓨터 시스템과 협력할 수 있는 전자적으로 판독 가능 제어 신호들을 갖는 데이터 반송파를 포함한다.
일반적으로, 본 발명의 실시예들은 컴퓨터 프로그램 제품이 컴퓨터 상에서 실행될 때, 방법들 중 하나를 수행하기 위해 작동하는 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램 제품으로서 구현될 수 있다. 프로그램 코드는 예를 들어, 기계 판독 가능 반송파 상에 저장될 수 있다.
다른 실시예들은 기계 판독 가능 반송파 상에 저장된, 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 포함한다.
즉, 본 발명의 방법의 한 실시예는 이에 따라, 컴퓨터 상에서 컴퓨터 프로그램이 실행될 때 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위한 프로그램 코드를 갖는 컴퓨터 프로그램이다.
따라서 본 발명의 방법들의 추가 실시예는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 포함하여 그 위에 기록된 데이터 반송파(또는 디지털 저장 매체, 또는 컴퓨터 판독 가능 매체)이다.
따라서 본 발명의 방법의 추가 실시예는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램을 나타내는 신호들의 데이터 스트림 또는 시퀀스이다. 신호들의 데이터 스트림 또는 시퀀스는 예를 들어, 데이터 통신 접속을 통해, 예를 들어 인터넷을 통해 전송되도록 구성될 수 있다.
추가 실시예는 처리 수단, 예를 들어 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하도록 구성 또는 적응된 컴퓨터 또는 프로그래밍 가능 로직 디바이스를 포함한다.
추가 실시예는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 설치된 컴퓨터를 포함한다.
일부 실시예들에서, 프로그래밍 가능 로직 디바이스(예를 들어, 필드 프로그래밍 가능 게이트 어레이)는 본 명세서에서 설명한 방법들의 기능들 중 일부 또는 전부를 수행하는데 사용될 수 있다. 일부 실시예들에서, 필드 프로그래밍 가능 게이트 어레이는 본 명세서에서 설명한 방법들 중 하나를 수행하기 위해 마이크로프로세서와 협력할 수 있다. 일반적으로, 방법들은 바람직하게 임의의 하드웨어 장치에 의해 수행된다.
앞서 설명한 실시예들은 단지 본 발명의 원리들에 대한 예시일 뿐이다. 본 명세서에서 설명한 배열들 및 세부사항들의 수정들 및 변형들이 다른 당업자들에게 명백할 것이라고 이해된다. 따라서 이는 본 명세서의 실시예들의 묘사 및 설명에 의해 제시된 특정 세부사항들로가 아닌, 첨부된 특허청구범위로만 한정되는 것을 취지로 한다.
참조들:
[1] IEEE Standard for Definitions of Terms for Antennas, in IEEE Std 145-2013 (Revision of IEEE Std 145-1993), March 6 2014.
[2] IEEE Standard Test Procedures for Antennas, in ANSI/IEEE Std 149-1979, vol., no., pp.0_1-, 1979, reaffirmed 1990, 2003, 2008.
[3] Caner Ozdemir, Rajan Bhalla, and Hao Ling, "A Radiation Center Representation of Antenna Radiation Patterns on a Complex Platform", IEEE Transactions on Antennas and Propagation, Vol. 48, No. 6, June 2000.
[4] Jonas Friden, Gerhard Kristensson, "Calculation of antenna radiation center using angular momentum," IEEE Transactions on Antennas and Propagation, Vol. 61, No.12, Dec. 2013.
[5] S. Kurokawa and M. Hirose, "Antenna gain pattern estimation for log periodic dipole array broadband antenna using near field radiation pattern and amplitude center," 2016 IEEE International Conference on Computational Electromagnetics (ICCEM), Guangzhou, 2016, pp. 191-193.
[6] 3GPP TS 37.145-2; V14.0.0 (2017-03), "Active Antenna System (AAS) Base Station (BS) conformance testing; Part 2: radiated conformance testing"
[7] 3GPP TR 37.976; V14.0.0.0 (2017-03), "Measurement of radiated performance for Multiple Input Multiple Output (MIMO) and multi-antenna reception for High Speed Packet Access (HSPA) and LTE terminals"
[8] 3GPP TR 37.842; V13.2.0 (2017-03), "Evolved Universal Terrestrial Radio Access (E-UTRA) and Universal Terrestrial Radio Access (UTRA; Radio Frequency (RF) requirement background for Active Antenna System (AAS) Base Station (BS)"

Claims (29)

  1. 방법(100)으로서,
    처리 수단을 사용하여, 테스트 대상 디바이스(DUT: device under test)(30; 70)에 대한 방사선 중심 기준(CORR: Center-of-Radiation Reference)(52)을 정의하는 단계(110) ― 상기 CORR(52)은 상기 DUT(30; 70)로 성형 가능한 전자기파 패턴(56)의 기준 원점(54)을 나타냄 ―;
    상기 CORR(52)은 상기 기준 원점(54)과 비교하였을 때 다른 위치에 배열되고, 상기 CORR(52) 및 상기 기준 원점(54) 사이의 오프셋에 대한 정보를 포함하며,
    상기 처리 수단과 동일한 또는 다른 처리 수단을 사용하여, 상기 CORR(52)에 대한 3차원 배향 정보를 결정하는 단계(120) ― 상기 3차원 배향 정보는 상기 전자기파 패턴(56)의 방향(58)을 나타내며, 상기 CORR(52) 및 상기 3차원 배향 정보의 조합은 공간에서 전자기파 패턴(56)의 원점 및 전파 중 적어도 하나를 지정할 수 있게 함 ―; 및
    상기 CORR(52) 및 상기 3차원 배향 정보를 측정 시스템(80; 80') 처리 수단에 제공하는 단계(130)를 포함하는,
    방법.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 CORR(52) 및 상기 3차원 배향 정보를 제공하는 단계는 상기 CORR(52)와 관련하여 DUT(30; 70)의 파라미터들을 나타내게 할 수 있는,
    방법.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 CORR(52)을 정의하는 단계는,
    상기 DUT(30; 70)에서 한 세트의 기준 마커들(32)을 결정하는 단계(210) ― 상기 한 세트의 기준 마커들(32)은 상기 DUT(30; 70)를 볼 때 보이거나 상기 DUT의 외부에서 부터 액세스 가능함 ―;
    상기 기준 마커들(32)을 사용하여 좌표계(36)를 정의하는 단계(220); 및
    상기 좌표계(36) 내에서 상기 CORR(52)을 정의하는 단계(230)를 포함하는,
    방법.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 한 세트의 마커들은 자외선 마커들, 적외선 마커들, 온도의 사용 또는 내장된 자기 소스들을 포함하는,
    방법.
  5. 제3 항에 있어서,
    상기 한 세트의 기준 마커들(32)은 상기 DUT(30; 70)의 디스플레이 상에 디스플레이된 광 신호 패턴(68), 상기 DUT(30; 70)의 렌즈, 상기 DUT(30; 70)의 발광 디바이스, 전기 포트, 전자기 또는 자기 패턴, 상기 DUT(30; 70)의 음향 포트, 상기 DUT(30; 70)의 하우징의 면, 평면들, 코너 및 에지 중 적어도 하나를 포함하는,
    방법.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 DUT(30; 70)의 내부 및/또는 외부 및/또는 표면의 서로 다른 포지션들에 적어도 제1 CORR(52) 및 제2 CORR(52)이 정의되고, 상기 3차원 배향 정보는 적어도 상기 제1 CORR 및 상기 제2 CORR에 대해 단일 빔에 대해 결정되는,
    방법.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 CORR은 상기 DUT(30; 70)의 마커(32)에 또는 상기 기준 원점(54)에 상관되도록 정의되는,
    방법.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 CORR을 정의하는 단계는,
    상기 DUT(30; 70)로 형성 가능한 한 세트의 전자기파 패턴들(56)을 정의하는 단계(410) ― 상기 한 세트의 전자기파 패턴들은 상기 전자기파 패턴(56)을 포함함 ―; 및
    상기 한 세트의 전자기파 패턴들 내의 상기 전자기파 패턴들(56) 각각에 대해, 상기 CORR(52)에 대한 상기 전자기파 패턴(56)의 기준 원점(54)의 오프셋을 결정하는 단계를 포함하는,
    방법.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 3차원 배향 정보를 결정하는 단계는,
    상기 DUT(30; 70)로 형성 가능한 한 세트의 전자기파 패턴들(56)을 정의하는 단계(410) ― 상기 한 세트의 전자기파 패턴들은 상기 전자기파 패턴(56)을 포함함 ―; 및
    기준 방향에 대한 상기 전자기파 패턴(56)의 방향(58)의 방향 편차를 결정하는 단계(420)를 포함하여,
    상기 3차원 배향 정보가 상기 CORR(52)에 대한 상기 전자기파 패턴(56)의 기준 원점(54) 및 방향(58)을 나타낼 수 있게 하는,
    방법.
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 전자기파 패턴(56)은 상기 DUT(30; 70)의 적어도 제1 안테나 어레이(441) 및 제2 안테나 어레이(442)로 형성 가능한,
    방법.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 제1 안테나 어레이(441)로 제1 빔(561)이 형성 가능하고, 상기 제2 안테나 어레이(442)로 제2 빔(562)이 형성 가능하며,
    상기 제1 빔 및 상기 제2 빔은 적어도 부분적으로 시간 및 주파수 공간에서 공통 패턴을 포함하고, 이로써 상기 제1 빔(561)의 기준 원점(541) 및 상기 제2 빔(562)의 기준 원점(542)으로부터 이격되어 배열되는 기준 원점(543)을 포함하는 제3 빔(563)을 형성하는,
    방법.
  12. 측정 시스템을 사용하는 방법(500)으로서,
    상기 측정 시스템으로 DUT(30; 70)로부터 무선 주파수 전자기파 패턴(56)을 검출하는 단계(530);
    처리 수단을 사용하여, 테스트 대상 디바이스(DUT)에 대한 방사선 중심 기준(CORR)(52)을 나타내는 정보를 수신하는 단계(540) ― 상기 CORR은 상기 DUT(30; 70)로 형성된 전자기파 패턴(56)의 기준 원점(54)을 나타내고 상기 CORR(52)에 대한 3차원 배향 정보를 수신하며, 상기 3차원 배향 정보는 상기 전자기파 패턴(56)의 방향(58)을 나타냄, 상기 CORR(52)은 상기 기준 원점(54)과 비교하였을 때 다른 위치에 배열되고, 상기 CORR(52) 및 상기 기준 원점(54) 사이의 오프셋에 대한 정보를 포함하고, 상기 CORR(52) 및 상기 3차원 배향 정보의 조합은 공간에서 전자기파 패턴(56)의 원점 및 전파 중 적어도 하나를 지정할 수 있게 함 ―; 및
    상기 처리 수단을 사용하여, 검출된 무선 주파수 전자기파 패턴(56)을 상기 CORR(52) 및 상기 3차원 배향 정보와의 매칭과 관련하여 평가하는 단계(550)를 포함하는,
    방법.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 CORR(52) 및 상기 3차원 배향 정보를 제공하는 단계는 상기 CORR(52)와 관련하여 DUT(30; 70)의 파라미터들을 나타내게 할 수 있는,
    방법.
  14. 제12 항에 있어서,
    상기 DUT(30; 70)의 한 세트의 마커들(32)을 사용하여 상기 DUT(30; 70)의 포지션을 결정하는 단계(510); 및
    상기 한 세트의 마커들(32)에 의해 정의되는 3D 좌표계에서 상기 DUT(30; 70)의 포지션 및 상기 무선 주파수 전자기파 패턴(56)의 방향(58)을 사용하여 상기 전자기파 패턴(56)에 대한 예상된 3차원 배향을 결정하는 단계(520)를 더 포함하는,
    방법.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 DUT의 포지션을 결정하는 단계는,
    측정 환경(31)의 구조물(35)로 상기 DUT(30; 70)를 유지하는 단계(570);
    상기 DUT(30; 70)에서 상기 한 세트의 마커들(32)의 포지션을 검출하는 단계(580); 및
    상기 측정 환경(31)에서 상기 한 세트의 마커들(32)의 포지션을 사용하여 상기 측정 환경(31) 내에서 상기 DUT의 포지션을 결정하는 단계(590)를 포함하는,
    방법.
  16. 제12 항에 있어서,
    상기 3차원 배향 정보는 3D 방사 빔 패턴을 나타내는 정보를 포함하는,
    방법.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 3D 방사 빔 패턴은 상기 전자기파 패턴(56)의 적어도 하나의 메인 로브(78) 및/또는 상기 전자기파 패턴(56)의 적어도 하나의 사이드 로브(76)를 포함하고,
    상기 검출된 무선 주파수 전자기파 패턴(56)을 평가하는 단계는 상기 전자기파 패턴(56)의 적어도 하나의 메인 로브(78) 및/또는 상기 전자기파 패턴(56)의 적어도 하나의 사이드 로브(76)에 대한 상기 검출된 무선 주파수 전자기파 패턴(56)의 평가를 포함하는,
    방법.
  18. 제12 항에 있어서,
    상기 전자기파 패턴(56)의 기준 원점(54)이 측정 환경의 중심을 형성하도록 상기 DUT(30; 70)의 포지션을 조정하는 단계(610); 또는
    상기 측정 환경의 미리 결정된 중심과 상기 전자기파 패턴(56)의 기준 원점(54) 간의 오정렬(82)을 결정하고, 결정된 오정렬(82)을 사용하여 상기 검출된 무선 주파수 전자기파 패턴(56)의 평가 결과를 정정하는 단계(620)를 더 포함하는,
    방법.
  19. 제12 항에 있어서,
    상기 DUT(30; 70)로부터 무선 주파수 전자기파 패턴(56)을 검출하는 단계는, 상기 DUT(30; 70)로부터 수신된 전자기파 패턴(56)을 검출하는 단계 또는 상기 DUT(30; 70)로 상기 전자기파 패턴(56)을 검출하는 단계를 포함하는,
    방법.
  20. 제1 항 또는 제11 항에 있어서,
    상기 CORR(52)은 상기 DUT(30; 70)의 체적 외부에, 상기 DUT의 인클로저의 표면에 또는 상기 DUT의 인클로저 내부에 위치되도록 결정되는,
    방법.
  21. 제1 항 또는 제12 항에 있어서,
    상기 3차원 배향 정보는 상기 전자기파 패턴(56)에 연관된 주파수, 의도된 종류의 방사될 빔 패턴, 상기 전자기파 패턴을 형성하는 데 사용되는 전력, 상기 전자기파 패턴에 중첩된 전자기파 패턴 컴포넌트들의 수를 나타내는 정보 중 적어도 하나를 포함하는,
    방법.
  22. 제1 항 또는 제12 항에 있어서,
    상기 CORR(52)은 상기 DUT(30; 70)의 안테나 어레이(44)의 중심(48)과 구별되는,
    방법.
  23. 제12 항에 있어서,
    상기 3차원 배향 정보는 제1 전자기파 패턴(561)의 제1 기준 원점(541) 및 제2 전자기파 패턴(562)의 제2 기준 원점(542) 그리고 상기 제1 전자기파 패턴(561)의 제1 방향 정보(581) 및 상기 제2 전자기파 패턴(562)의 제2 방향 정보(582)를 나타내는 정보를 포함하고,
    상기 측정 시스템은 상기 검출된 무선 주파수 전자기파 패턴(563)을 상기 제1 전자기파 패턴(561) 및 상기 제2 전자기파 패턴(562)과의 중첩의 매치에 대해 평가하도록 구성되는,
    방법.
  24. 제12 항에 있어서,
    상기 측정 시스템은 상기 전자기파 패턴(56)의 근접장(NF: near field)에서 상기 무선 주파수 전자기파 패턴(56)을 검출하도록 그리고 상기 전자기파 패턴(56)의 원거리장(FF: far field)에서 상기 전자기파 패턴(56)의 특성을 외삽하도록 적응되는,
    방법.
  25. 비-일시적 컴퓨터 판독 가능 저장 매체로서,
    컴퓨터 상에서 실행될 때, 제1 항 또는 제12 항의 방법을 실행하는 명령들을 수행하는 프로그램이 저장되는,
    비-일시적 컴퓨터 판독 가능 저장 매체.
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