JP7337705B2 - 被試験デバイスを正確に評価するための方法および測定システム - Google Patents

Description

本発明は、被試験デバイス（ＤＵＴ）をどのように評価するかについての情報を提供する方法、かかる情報を使用してＤＵＴを評価する方法、ＤＵＴおよび測定システムに関連する。本発明はさらに、コンピュータプログラムに関連する。特に、本発明は、「放射中心基準（ＣＯＲＲ）」および座標系を定義する方法、ならびに無線放射コンポーネントおよび無線受信コンポーネントならびに３Ｄ空間でのその位置決めに関連する。ＣＯＲＲＰを使用してＤＵＴを正しい場所に配置することに加えて、ＤＵＴを適切に位置合わせすることもできる。

アンテナまたは多数のアンテナによって形成されるアンテナアレイの放射中心は、当業者によく知られている用語であり、ＩＥＥＥ Ｓｔｄ １４５－２０１３「アンテナの用語の定義に関するＩＥＥＥ標準」［参考文献１］で定義されている。

たとえば、ビーム（放射ビームパターン）の特性評価のためのＯｖｅｒ－ｔｈｅ－Ａｉｒ（ＯＴＡ）測定においては、プローブが被試験デバイス（ＤＵＴ）の周囲に分布している。放射ビームパターンは、放射するＤＵＴおよびその周りの測定プローブの位置、ならびにそれらの間の全ての距離に関する知識を使用して、たとえばＤＵＴの回転と、多くのサンプルポイントを協調的に測定することによって測定することができる。このようなメカニズムは、アンテナ測定を使用したアンテナパターンの特性評価［参考文献２］、つまりＯＴＡで測定されるアンテナ放射パターン測定で知られている。将来の通信システムでは、既知のアンテナコネクタ（現在の３ＧＰＰ規格、たとえばリリース８－１４では、アンテナポート測定用にはいわゆる伝導測定が標準化されている）が過去のものになることが予想される。したがって、無線性能パラメータとアンテナ性能パラメータのＯＴＡ測定は将来のものになると予想される。将来的には、アンテナポートへのアクセスが不可能になる、および／またはアンテナアレイが共同で機能する多くの個別の要素で構成されるようになるため、アンテナ測定の多くはそのような方法、つまりＯＴＡでしか行えなくなる。さらに、このようなアンテナは、たとえばスマートフォンなどのデバイスのハウジング内に埋め込まれている可能性があるため、アンテナはデバイス内にあるが、放射を測定する必要があるということになる。アンテナはデバイスハウジング内に隠されているため、正確な位置は不明である。したがって、これにより、測定された放射パターンがアンテナの正確な位置を参照できない限り、測定が不正確になる［参考文献３、４、５］。さらに、デバイスハウジングと比較してアンテナサイズが小型であれば、不正確度はさらに高くなる可能性がある。

加えて、波形伝搬が測定に使用されることが多い遠方界であると想定できる場合、無線送信に使用される搬送周波数がＤＵＴとプローブとの間の距離を定義する。測定チャンバー／デバイスのサイズを小さくするために、測定がいわゆる近接場で実行されることもあり、このようなサンプルポイントは、遠方界の同等物に変換する必要がある。そのためには、放射ビームの原点が正確にわかっていることが最大限に重要である。そうでなければ、測定によりビームの不整合が結論付けられ、多くの予防可能なエラーが発生することになる［参考文献４］。さらに、近接場で測定する場合、放射源と測定プローブからの正確な距離が正確な変換に不可欠である、近接場から遠方界への変換によって遠方界パターンが導出される。

これまでのところ、アンテナとアンテナアレイは、測定チャンバーまたはチャンバー内にない測定システムの基準中心点でそれらを移動および／または傾斜および／または回転させることができるポジショナーに個別に配置されている。これには、電波が実際にどこから送信されているのかについての正確な知識が必要である。１つ以上のアンテナ素子のブロードサイドまたはボアサイドを測定するためのＤＵＴの方向付けおよび大まかな位置決めも実行できる。３ＧＰＰ ＴＳ ３７．１４５－２［参考文献６］では、正しいアライメントのためにアクティブアンテナシステム（ＡＡＳ）をチャンバー内のキャリアに正しく配置するための座標系の原点と関連する座標系を含む製造業者宣言書（ＭＤ）が定義されている。複数入力および複数出力（ＭＩＭＯ）デバイスの放射性能測定に対応する３ＧＰＰ ＴＲ ３７．９７６［参考文献７］、およびＡＡＳのＯＴＡテストを説明する３ＧＰＰ ＴＲ ３７．８４２［参考文献８］で、ＯＴＡテストのさらなる例を示している。

したがって、ＤＵＴを正確にＯＴＡ測定することを可能にする方法、ＤＵＴ、測定システム、および関連ソフトウェアとしてのコンピュータプログラムを提供する必要がある。

本発明の目的は、ＤＵＴを正確に測定することを可能にする方法、ＤＵＴ、測定システムおよびコンピュータプログラムを提供することである。

本発明者らは、被試験デバイスの放射中心基準（ポイント）を定義すること、および前記基準点に対する位置および指向性情報、ならびにビームの原点（基準点、基準元、または測定元）およびビームの方向を示す位置情報を決定することで、ＤＵＴを高精度で評価できることを発見した。評価範囲は基準点と評価対象のビームを基準としており、これにより、未知のＤＵＴ内の１つ以上のアンテナの正確な位置に関する情報を取得し、同時に正確な測定値を取得できるからである。

一実施形態によれば、方法は、ＤＵＴの放射中心基準点（ＣＯＲＲＰ）を定義するステップを含む。この方法はさらに、ＣＯＲＲＰに対する位置情報を決定するステップをさらに含み、この位置情報は、ＤＵＴで形成可能で、且つビームの方向を示すビームの基準原点を示す。この方法はさらに、ＣＯＲＲＰおよび位置情報を測定システムに提供するステップをさらに含む。これにより、特定のビームパターンの作成に関与するアンテナアレイまたはアンテナの組み合わせの位置に関する正確な知識がなくても、ＤＵＴによるビーム法を参照することが可能になる。

一実施形態によれば、ＣＯＲＲＰを定義するステップは、ＤＵＴにおいて基準マーカーのセットを決定するステップを含み、基準マーカーのセットは、ＤＵＴを見た時に可視である。このような可視のマーカーは、ＤＵＴの外部からアクセスできる他の適切な物理的特性に置き換えることもできる。さらに、座標系内で定義された基準マーカーとＣＯＲＲＰを使用して座標系が定義される。これにより、ＤＵＴを見たときに可視な基準マーカーに対する参照原点とビームの方向を参照できるようになる。ここでは放射中心基準（ＣＯＲＲ）が１つだとしているが、たとえば、ＤＵＴの内側および／または外側および／または表面の異なる位置に、より多くのＣＯＲＲを定義することもできる。こうして、より実践的な測定を行うことができる。

一実施形態によれば、基準マーカーのセットは、ＤＵＴのディスプレイ上に表示される光信号パターン、ＤＵＴのレンズ、ＤＵＴの発光デバイス、ＤＵＴの電気ポートまたは音響ポートのうちの少なくとも１つを含む。これにより、装置のサンプルを修正することなくＤＵＴの既存の物理的特性を使用できるようになり、ひいてはサンプルは販売される製品と全く同じではなくなる。

一実施形態によれば、位置情報を決定するステップは、ＤＵＴで形成可能なビームのセットを定義するステップであって、ビームのセットはビームを含む、ステップと、ビームのセット内の各ビームについて、ビームの基準原点のＣＯＲＲＰに対するオフセット、および基準方向に対するビーム方向からの方向偏差を決定して、位置情報が基準原点とＣＯＰＰＲに対するビーム方向を示すことができるようにするステップと、を含む。これにより、ＤＵＴのＣＯＲＲＰに対するパラメータを示すことができるようになる。

一実施形態によれば、ビームは少なくともＤＵＴの第１および第２のアンテナまたはアンテナアレイによって形成することができる。ＣＯＲＲＰを参照する位置情報を使用することにより、一般に遠方界で単一のビームを形成するが異なるアンテナアレイで生成されたビームの組み合わせである複数のビームについて、単一のアンテナアレイ個別の情報と、当該アンテナアレイに対するかかる単一のビームの測定では、第２のアンテナアレイに関する情報が欠落しているため、提供される情報が不十分な場合でも、特徴付けることができることもある。

一実施形態によれば、方法は、ＤＵＴからの無線周波数ビームを検出するステップ、ＤＵＴのＣＯＲＲＰを示す情報を受信するステップ、およびＤＵＴで形成されたビームのＣＯＲＲＰに対する基準原点を示し、且つビームの方向を示す位置情報を受信するステップを含む。方法はさらに、検出された無線周波数ビームをＣＯＲＲＰおよび位置情報との一致に関して評価するステップを含む。これにより、ＣＯＲＲＰを使用してＤＵＴ、ビームをそれぞれ評価できるため、ＤＵＴの内部に関する詳細な知識を持っている必要がなくなる。

一実施形態によれば、この方法はさらに、ＤＵＴのマーカーのセットを使用してＤＵＴの位置を決定するステップ、およびマーカーのセットによって定義されている３Ｄ座標系におけるＤＵＴの位置とビームの方向とを使用して無線周波数ビームの予測位置を決定するステップを含む。これにより、ＤＵＴのアライメントに、おそらく固定または標準化されたマーカーを使用することができる。

一実施形態によれば、ＤＵＴの位置を決定するステップは、測定環境の構造でＤＵＴを保持するステップ、ＤＵＴにおけるマーカーセットの位置を検出するステップ、および測定環境内のマーカーセットの位置を使用して測定環境内のＤＵＴの位置を決定するステップを含む。これにより、位置マーカーおよびＣＯＲＲＰを測定環境内の場所／位置にリンクさせることができる。

一実施形態によれば、位置情報は、少なくとも１つのビームのメインローブおよび／または少なくとも１つのサイドローブを示す情報を含む。検出された無線周波数ビームを評価するステップは、検出された無線周波数ビームを少なくとも１つのビームのメインローブおよび／または少なくとも１つのビームのサイドローブに対して評価するステップを含む。これにより、ビームを詳細に特徴づけることが可能になる。

一実施形態によれば、方法はさらに、ビームの基準原点が測定環境の中心を形成するようにＤＵＴの位置を調整するステップ、または、測定環境の既定の中心とビームの基準原点との間の位置ずれを決定し、決定された位置ずれを使用して、検出された無線周波数ビームの評価の結果を修正するステップを含む。これにより、ビームのＤＵＴに対する実際の位置に基づいて、測定値を調整または測定結果を修正することができる。それにより、ＤＵＴ内のアンテナアレイの位置および指向性の詳細な知識は不要となり、および／または特定の位置（所望の条件）に対するアンテナアレイの実際の位置の偏差を補償することができるようになる。多くのアプリケーションでは、実際のビームパターンが重要であり、ＤＵＴ内のアンテナアレイの位置は、重要度が低い、あるいはサプライヤが秘密にしようとしている。本明細書に記載の実施形態を使用することで、アンテナアレイの位置を参照することなく放射されたビームの位置を評価し得る。さらに、ＤＵＴが他の事項との相互作用に付されている間、例えば携帯電話を耳の近くに保持している間に、かかる特定の位置を実質的に変化させることができる。明確に指定された条件下で行えば、基準点が偏光された可能性があってもそれに従ってビームパターンを再び測定することができる。

一実施形態によれば、ＤＵＴからの無線周波数ビームを検出するステップは、ＤＵＴによって送信されたビームを検出するステップを含む、またはＤＵＴでビームを検出するステップを含む。このように、送信ビームならびに受信ビームを評価することができる。

一実施形態によれば、ＣＯＲＲＰは、ＤＵＴの容積の外側、ＤＵＴの筐体の表面、またはＤＵＴの筐体の内側、例えば車の中に、位置するように決定される。これにより、定義済みの座標系内の任意のポイントを使用できる場合がある。

一実施形態によれば、位置情報は、無線周波数ビームに関連付けられた周波数を示す情報を含む。これにより、例えばＤＵＴと測定システムのプローブ間の距離を定義するために実行される測定に周波数範囲を組み込むことができる。

一実施形態によれば、ＣＯＲＲＰはＤＵＴのアンテナアレイの中心とは異なる。これにより、アンテナアレイの位置を知らなくてもＣＯＲＲＰを使用することができる場合がある。この目的のために、ＣＯＲＲＰに関連付けられた位置情報は、例えば搬送周波数および／または予定している放射ビームパターンの種類についての追加情報を含むことがある。

一実施形態によれば、装置は、ディスプレイと、装置にテストモードの実行を要求する要求を示す信号を受信するように構成されたインターフェースと、を備える。この装置は、信号に応じてテストモードに切り替わり、ディスプレイによって既定の光信号パターンを表示するように構成されている。光信号パターンは、ＤＵＴの基準マーカーのセットの少なくとも一部を提供する。これにより、被試験対象のシリーズのどの装置でもＤＵＴとして使用できるようになる可能性があり、さらに、光信号パターン、例えばＱＲコード（登録商標）を調整することにより、基準マーカーのセットを調整できる場合がある。

一実施形態によれば、装置は、光信号パターンの表示の変更を示すユーザー入力とは無関係に光信号パターンを表示するように構成される。これにより、基準マーカーのセットの変更、ひいては決定されたＣＯＲＲＰにおける偏差につながる可能性があるユーザーコマンドとは無関係に、光信号パターンを表示できる場合がある。

一実施形態によれば、光信号パターンは、例えばクイックレスポンスコード（ＱＲコード（登録商標））などのマトリックスバーコードを含む１次元以上のバーコードである。これにより、２次元パターン、ひいてはＤＵＴを見るまたは観る際にモニターおよびキャプチャすることが可能な、ＤＵＴの表面にある２次元の基準マーカーのセットを実装することができる。さらに、既知の次元のマトリックスパターンを使用することにより、光学読み取り装置に対するその位置を決定し、ひいては３次元空間でのＤＵＴの位置を決定することができるようにするために、画像処理技術を使用することができる。

一実施形態によれば、装置は、後に複数のテストモードのうちの１つをスイッチオンし、その後、複数の光信号パターンのうちの１つを表示するように構成される。表示された光信号パターンは現在のモードに関連付けられている。これにより、異なるテストモード、ひいては正確なテスト条件に対して異なるＣＯＲＲＰを使用し得る。

一実施形態によれば、測定システムは、本明細書に記載の方法を実行するように構成される。

一実施形態によれば、測定システムが使用する位置情報は、第１のビームの第１の基準原点および第２のビームの第２の基準原点を示す情報と、第１のビームの第１の方向情報および第２のビームの第２の方向情報を示す情報と、を含む。測定システムは、第１のビームおよび第２のビームとの重畳との一致に関して、検出された無線周波数ビームを評価するように構成される。これにより、２つ以上のアンテナまたはアンテナアレイの放射または／および受信によって形成されるビームを評価することができる。

一実施形態によれば、測定システムは、ビームの近接場においてビームを検出し、ビームの遠方界においてビームの特性を外挿するように適合されている。これにより、測定システムの寸法を小さくすることができる。

別の実施形態は、コンピュータで実行されると、本明細書に記載される実施形態にかかる方法を実行する命令を記憶するコンピュータ可読媒体を含む非一時的なコンピュータプログラム製品に関連する。

別の実施形態は、さらなる従属請求項に記載される。

ここで、本発明の実施形態を、添付の図面を参照してさらに詳細に説明する。

図１は、一実施形態にかかる方法の概略フローチャートである。 図２は、放射線中心基準点（ＣＯＲＲＰ）を定義するために実施され得る実施形態にかかる方法の概略フローチャートである。 図３ａは、一実施形態にかかるＤＵＴの概略斜視図である。 図３ｂは、一実施形態にかかる、ＤＵＴを評価するために使用され得る測定環境の一部の概略斜視図である。 図３ｃは、一実施形態にかかる時間／周波数平面におけるワイヤレス通信ネットワーク内のリソース要素のスケジュールを示す概略図である。 図３ｄは、図３ｃのスケジュールおよび一実施形態に従って動作するアンテナアレイで形成され得るビームの概略図である。 図３ｅは、本実施形態にかかるユースケースの概略図である。 図４ａは、位置情報を決定するために実施され得る一実施形態にかかる方法の概略フローチャートである。 図４ｂは、放射中心基準を決定するために実施され得る一実施形態にかかる方法の概略フローチャートである。 図５ａは、ＣＯＲＲＰおよび／または位置情報に関連する情報を活用するために使用され得る、一実施形態にかかる方法の概略フローチャートである。 図５ｂは、図５ａにかかる方法のステップの一環として実施され得る一実施形態にかかる方法の概略フローチャートである。 図６は、図５の方法と一緒に実行され得る一実施形態にかかる方法の概略フローチャートである。 図７は、一実施形態にかかる被試験デバイスとして使用することができるデバイス７０の概略ブロック図である。 図８ａは、一実施形態にかかる測定システムの概略ブロック図である。 図８ｂは、複数のプローブを収容する測定チャンバーを備える、一実施形態にかかる測定システムの概略ブロック図である。 図９ａは、一実施形態にかかる放射線中心基準点に関する知識不足の影響を示す概略図である。 図９ｂは、一実施形態にかかるアンテナアレイの構造を示す概略図である。

以下の記載において、同じまたは同等の要素、または機能が同じまたは同等の要素は、異なる図に現れる場合であっても、同じまたは同等の参照番号によって示される。

本明細書で記載する実施形態は、ビーム、とりわけビームフォーミングに関する技術に関連する。デバイス、たとえばＤＵＴに関連付けられたビームは、ＤＵＴが電磁エネルギーを放出する、あるいは望ましくはＤＵＴが電磁エネルギーを受信する１つ以上の優先方向を定義することがある。信号を送信する場合、ビームは１つ以上のメインローブと１つ以上のサイドローブを含むことがあり、ここで、メインローブは所望の放射パターンおよび／またはその方向を指し示す。サイドローブは、放射がそれぞれのパターンで放出される攪乱方向および／または避けられない方向に関連する場合がある。本明細書は、マイクロフォンの指向特性に比較して、電磁エネルギーの受信中の高いゲインが可能となる方向をメインローブで定義できる、受信シナリオに言及するが、これに限定されるものではない。したがって、ビームに言及する場合、これは送信シナリオおよび／または受信シナリオに関連していると理解されるものとする。以下、ビームと言った場合、送信シナリオおよび／または受信シナリオの双方に関連すると理解されるものとする。以下、ビームと言ったとしても、実施形態は他の形態の電磁波送受信パターン、すなわち、いかなる限定もない、無線周波数での電磁パターンに関連する。このようなパターンは、線または平面／表面に沿って送受信パターンを形成するポイントによって記述されたソースによって参照されることがある。このような電磁波の送受信パターンの例は、漏洩給電線、つまりケーブルに垂直に放射するためのスロットを備えたケーブルによって実装されることがある。このような漏洩給電線は、トンネル内で列車を接続するために使用されることがある。この特定の事例では、放射された電磁場への言及はラインであることがある。

開示された実施形態にかかるＤＵＴは、ワイヤレス通信のために無線周波数で電磁放射を放射および／または受信するように構成された任意のデバイス、例えば、ユーザー機器（ＵＥ）、基地局（ＢＳ）および／またはアクティブアンテナシステム（ＡＡＳ）であり得る。

本明細書に記載される実施形態は、測定システムで使用され得るプローブに関連し得る。このようなプローブは、例えば測定システム内でビームフォーミングを実行するときに電磁エネルギーを生成および／または送信するように構成されたアンテナ素子および／またはアンテナアレイなどの能動素子を備えていることがある。あるいはまたはさらに、プローブは、例えばＤＵＴで放射され得る電磁エネルギーを受信するように構成された検知要素、例えばアンテナ（素子）および／またはアンテナアレイを含むことがある。このように、測定システムで検出または判定されるビームを形成するＤＵＴと言った場合には、１つ以上のプローブによる電磁エネルギーの送信、ＤＵＴで受信される電磁エネルギーに関連することがあり、ここでＤＵＴは受信の１つ以上の特性を示すフィードバック信号を送信することがある。あるいはまたはさらに、ＤＵＴは電磁エネルギーを送信するように適合されることがあり、ここでプローブは前記エネルギーを受信し、受信特性および／または測定システムでかかる特性を決定することを可能にする情報を測定システムにフィードバックすることがある。

本明細書に記載される実施形態は、電磁放射を受信および／または送信するために使用されるアンテナアレイに関連する場合がある。アンテナアレイは、１つ以上の数のアンテナ、例えば、少なくとも１つ、少なくとも２つ、少なくとも５つ、少なくとも１０個、または５０個以上などより多くの数のアンテナを含むことができる。このように、アンテナアレイは、複数のアンテナを含む構造に限定されるものではなく、１つのアンテナしか含まないこともある。

図１は、一実施形態にかかる方法１００の概略フローチャートである。方法１００は、被試験デバイスについて放射中心基準（ＣＯＲＲ）が定義される工程１１０を含む。ＣＯＲＲは、点（ＣＯＲＲＰ）、線（ＣＯＲＲＬ）、または領域（ＣＯＲＲＡ）を指す場合がある。したがって、ＣＯＲＲＰのＰは、通常の点という意味を超えて線や表面の意味であることもある。ＣＯＲＲは、ＤＵＴで形成可能な電磁波パターン、たとえばビームまたは異なるパターンの基準原点を示す。ＣＯＲＲは、例えば基準原点と一致してもよく、または少なくとも部分的に基準原点を含んでいてもよい。あるいは、ＣＯＲＲは異なる位置に配置されて、ＣＯＲＲと基準原点との間のオフセットに関する情報を含んでいてもよい。工程１２０において、ＣＯＲＲに対する３次元方位情報が決定され、３次元方位情報は電磁波パターンの向きを示す。３次元方位情報は位置情報と呼ばれる場合がある。ＣＯＲＲと３次元方位情報とを組み合わせることで、電磁波パターンの原点と空間における伝播を明確にすることができる。工程１３０は、ＣＯＲＲおよび３次元方位情報（位置情報）を測定システムに提供するステップを含む。

以下、実施形態を、放射中心基準点（ＣＯＲＲＰ）を参照しながら記載する。記載の例は、ＣＯＲＲ全般および／または具体的な意味でのＣＯＲＲＬおよび／またはＣＯＲＲＡに関連し得るが、これに限定されない。すなわち、ＣＯＲＲＰの名前には点があり、したがって空間内の拡がりは最小限だが、そうではなく、ＣＯＲＲＰは放射が延びる方向または線に関連する場合がある。例えば、ＣＯＲＲＰは放射のメインローブの中心に沿って、またはそれに平行に配置されることがある。言い換えれば、放射の中心は漏洩給電ケーブルのような線でもあり得る。さらに、ＤＵＴを調査／測定するときに測定される放射および／または受信アンテナパターンを記述するために、放射中心から始まる、または放射中心で終わる方向が実施形態によって説明／定義されることになる。例えば多数のアンテナがいくつかの波長の距離で分布され、その結果生じる遠方界アンテナパターンが個々のアンテナからの放射電磁波の重ね合わせである場合、ＣＯＲＲは点、線、または平面への仮想投影である場合がある。

１つのＣＯＲＲ／ＣＯＲＲＰではなく、２つまたはそれ以上のＣＯＲＲが複数定義されることもある。異なるＣＯＲＲは、たとえば、ＤＵＴの内側および／または外側および／または表面の異なる位置に定義され得る。複数のＣＯＲＲのうちの１つ、いくつか、またはそれぞれに対して単一の電磁波パターン／ビームの位置情報が生成され得る。つまり、ＤＵＴで形成された特定の電磁波パターンは、それぞれ特定のＣＯＲＲに関連する１つ以上の位置情報によって記述することができる。これにより、さらに実践的な測定を行うことができる。例えば、自動車をＤＵＴとして考察した場合、例えば自動車の内側または外側の放射パターンを測定する場合、このようなさまざまなＣＯＲＲＰは実用的な意味において有用な可能性がある。

図２は、例えば、工程１１０を実行するときに実施され得る方法２００の概略フローチャートである。工程２１０は、ＤＵＴにおいて基準マーカーのセットを決定するステップを含み、基準マーカーのセットはＤＵＴを見ると見ることができる。これには、人間の目を使用した場合の基準マーカーのセットの可視性が含まれるが、これに限定されない。あるいはまたはさらに、ＤＵＴを見たときに見える基準マーカーのセットは、人間の目に見えないマーカーを識別する技術的手段の使用を含んでもよい。このようなマーカーの例としては、小さなマーカーまたは、例えば、紫外線マーカーまたは赤外線マーカー等人間の能力を超える物理的特性を使用するマーカー、ならびに温度、内蔵された磁気源等を使用するマーカーの使用などである。このように、マーカーは少なくともアクセス可能であってもよい。工程２２０は、基準マーカーを使用して座標系を定義するステップを含む。座標系は、３次元空間をナビゲートできるようにする第１座標系またはグローバル座標系と呼ばれることもある。例えば、必ずというわけではないが、定義された座標系は３つの垂直軸を含むことがあり、すなわち、デカルト座標系として形成することができる。あるいはまたはさらに、他の座標系、例えば球座標系または円筒座標系または線形座標系または平面座標系を使用することもできる。工程２３０は、座標系内でＣＯＲＲＰを定義するステップを含む。ＣＯＲＲＰは、座標系内の任意の点として選択または定義することができる。例えば、ＣＯＲＲＰは、特定のプローブやオブジェクトなど、測定環境内の特定のポイントであることがある。ＣＯＲＲＰの座標は、ＣＯＲＲＰとＤＵＴの相対位置を示す場合があり、したがって、測定チャンバーなどの測定環境内のＤＵＴの正確な位置決めに関係することがある。あるいは、ＣＯＲＲＰは、他の任意のポイント、例えば測定環境内のオブジェクトから切り離されたポイントである場合がある。

ＤＵＴに接続されている基準マーカーに関連する座標系の定義に基づけば、ＣＯＲＲＰも同じくＤＵＴに接続され、おそらく測定環境にも接続されている。これにより、ＤＵＴの位置を測定環境内の位置にリンクさせることができる。好ましくは、基準マーカーは本試験シナリオでは不動であり、ひいてはＣＯＲＲＰもＤＵＴに対して不動である。例えば、基準マーカーのセットは少なくとも部分的に、例えば、ＤＵＴのレンズ、懐中電灯等ＤＵＴの発光デバイス、ＤＵＴの電気ポートおよび／または音響ポート、および／または電磁気または磁気パターン等物理的特性のような、不動のマーカーであり得る。実施形態によれば、基準マーカーのセットは少なくとも部分的に、ＤＵＴのディスプレイに表示されることがあり、ひいては光信号パターンと呼ぶこともできる信号パターンによって実装することができる。これにより、リファレンスマーカーのセットに基づいてＣＯＲＲＰを取得、決定、および再現することができる。このことによって、ＤＵＴで形成可能なビームを特徴付ける位置情報も基準マーカーのセットを使用して、ひいてはＤＵＴの内部の正確な知識なしで評価することができる。

図３は、方法１００および２００を説明するための一実施形態にかかるＤＵＴ３０の概略斜視図を示す。

基準マーカー３２₁、３２₂、および３２₃のセットが、ＤＵＴ３０のハウジング３４に配置されることがある。基準マーカー３２₁～３２₃のセットは、ＤＵＴハウジング３４の同じ側に配置されてもよいが、互いに異なる側に配置されていてもよい。３次元座標系３６を定義するには３つのマーカー３２₁～３２₃ で十分かもしれないが、より多数の基準マーカーも使用され得る。２つの選択された基準マーカー間の幾何学的関係が既知であり、ひいては既知の幾何学的関係によって欠落している情報が提供され得る場合には、２等のより小さい数のマーカーが使用される可能性もある。

３次元座標系３６の原点３８は任意の位置を含むことができ、これに限定されるものではないが、３２₂などの基準マーカー３２₁、３２₂、または３２₃のうちの１つの位置に配置することができる。あるいは、３Ｄ座標系３６内の任意のどの位置であっても参照することができるので、基準位置として使用することができる。

言い換えれば、Ａ、Ｂ、Ｃでマークされた基準マーカーまたは基準点３２₁～３２₃ はＤＵＴ３０の外側に配置することができ、座標系３６を拡張する、および／または座標系３６の原点３８を定義することができる。

３ＧＰＰによれば、相対座標系４２₁および４２₂は、ＤＵＴ３０のアンテナアレイ４２₁および４２₂に関連して定義される必要がある。例えば、１つ、３つ、４つまたはそれ以上等の異なる数のアンテナアレイ４４が存在してもよい。アンテナアレイ４４₁ との関係で相対座標系４２₁ を、そしてアンテナアレイ４４₂ との関係で相対座標系４２₂を定義するために、アンテナアレイ４４₁、４４₂の基準位置４８₁、４８₂をそれぞれ指すために相対ポインター４６ ₁ および４６ ₂ が使用されることがある。このためには、アンテナアレイ４４₁および４４₂の位置に関する精確な知識が必要である。これは、ビームがどのようにして正確に生成されるかを示唆し得るアンテナアレイの正確な位置を開示しないという製造者の関心と矛盾する。

本開示によれば、ＣＯＲＲＰ５２が３次元座標系３６の任意の位置に定義されている。それにより、ＣＯＲＲはＤＵＴのマーカー３２₁～３２₃のうちの１つ以上、ならびに放射ビームの基準原点に相関するように定義することができる。ＣＯＲＲは、マーカー３２₁～３２₃のうちの少なくとも１つの位置に配置することもできる。この工程では、測定条件または環境に関する知識、つまり、後のテストでＤＵＴがどのように配置されることになるかを使用することができる。つまり、ＣＯＲＲＰ５２は別の場所、例えば、ＤＵＴ３０の容積の外側、すなわちハウジング３４の外側に配置されてもよい。あるいは、ＣＯＲＲＰは、ＤＵＴの筐体の表面またはＤＵＴの筐体の内側、たとえば車の中に定義することができる。ＣＯＲＲＰ５２は、その環境内の特定の点に設定されることがある。あるいはまたはさらに、ＣＯＲＲＰ５２は、基準マーカー３２₁、３２₂、または３２₃のセットのうちの１つと一致してもよく、さらには３８の原点の中心と一致してもよい。後のテストでＤＵＴの位置がわかれば、これは基準マーカーのセットに当てはまることになる。本実施形態によれば、ビーム５６₁および／または５６₂の基準原点５４₁および／または５４₂は、位置情報の一部として定義されていてもよい。基準原点は、ビームの物理的または理論的な原点として理解され得る。そのような原点は、特に基準位置４８がアンテナアレイの中心を示す場合、基準位置４８と異なっていてもよい。特定のビーム５６を生成するためには、アンテナアレイ４４のアンテナ素子のサブセットを使用して、ビームがアンテナアレイ上のどこにでも基準原点を有するようにすることができる。特に、異なるビームはアンテナアレイ上の異なる基準原点を含む場合がある。位置情報には、３Ｄ空間でのアンテナアレイの表面の位置、放射の方向（ビーム）、および／または放射のベクトルと組み合わせた基準点（基準原点）などの追加情報が含まれる。位置情報はさらに、電磁波パターンを形成するために使用される電力、例えばビームの使用電力および／または電力クラスを示す情報などの情報を含むことがある。例えば、テーパリングによって、および／またはビームが高出力、中出力、または低出力で放射されていれば、アンテナアレイを使用してサイドローブ抑制を実行することができる。あるいはまたはさらに、ＣＯＲＲＰに関連付けられた位置情報は、例えば搬送周波数および／または放射されるべきビームパターンの種類、すなわち３Ｄパターンを示す情報に関する情報を含むことがある。さらに、位置情報は、放射されたビームが１つまたはいくつかの個別のビームによって合成／重畳されているかどうかを示す情報を含んでいることもある。これにより、ＣＯＲＲＰを互いに、つまり重畳するコンポーネントについて異なるものにすることができる。いくつかのシナリオ、例えば近接場での測定中では、結合情報は疑わしいおよび／または意味がないことがある、単一のコンポーネントに関する情報の方が有利である場合がある。例えば２つ以上のビームを重ね合わせで共通信号が送信される一方で、情報の他の部分は重畳されていないビーム１つまたはすべてを使用して送信される場合には、これが有意義であることがある。これは制御チャネル情報については関連し得るが、ユーザーデータは個々のビームに多重化される場合がある（時間周波数リソースは、ビームによって提供される空間リソースに異なってマッピングされる場合がある）。

ここで、結合ビーム５６ ₃ を生成するために２つ以上のアンテナアレイ、たとえばアンテナアレイ４４₁と４４₂の双方を使用することを考えてみると、ビーム５６₃の基準原点５４₃は、アンテナアレイ４４₁および４４₂の一方または双方の外側にあることさえあり得る限定されない例では、ビーム５６₁および５６₂は２つで一緒にビーム５６₃を形成することもある。ビーム５６₁および５６₂は、近接場では区別可能または識別可能であり得るが、遠方界では共通ビーム５６₃を形成することがある。したがって、遠方界では、ビーム５６₃は、ビーム５６₃に関連付けられた単一の基準原点５４₃を有することがある。

ここでハウジング３４に取り囲まれたＤＵＴとその中のアンテナアレイ４４₁および４４₂の位置が未知である場合を考慮すると、アンテナアレイ４４₁および／または４４₂のうちの１つ以上によって生成されたビームを、３ＧＰＰに準拠すればアンテナアレイの位置に依存する情報で評価することは困難である３ＧＰＰに準拠した情報では、アンテナアレイの位置に依存する。これとは対照的に、基準原点を定義し、ビーム５６₁～５６₃に関連付けられた方向５８₁、５８₂、および／または５８₃をさらに定義すれば、アンテナアレイの放射、すなわちビームは、アンテナ素子の位置に関する知識がなくても測定され得る。いくつかの実施形態、例えばビーム５６₃によれば、アンテナ４４₁および４４₂の位置さえも共通ビーム５６₃を形成する際に重要ではないこともある。方向５８₁、５８₂および／または５８₃ は３Ｄ座標系３６内の方向として定義され、ひいてはマーカー３２₁～３２₃のセットに対する方向に関連することがある。

ＣＯＲＲ５２は、３Ｄ空間における位置であることがある。３次元方位情報は、ＣＯＲＲが基準位置または中心として使用され得る同空間内のベクトルである場合がある。したがって、ＣＯＲＲは、アクセス可能なマーカー３２に対する基準を含むことがあり、あらゆる位置および／または方向、すなわち波形パターンの原点および方向が、ＣＯＲＲひいてはマーカーに対して記述され得る。

図３ｂは、ＤＵＴ３０を評価するために使用され得る測定環境３１の一部の概略斜視図である。例えば、測定環境３１は、３次元空間、好ましくは座標系３６におけるＤＵＴの位置および／または向き、好ましくは両方を決定することを可能にするマーカー３２₁～３２₃のセットに関する情報を受信または取得することができる。測定環境３１は、ＤＵＴ３０で設定されたマーカー３２₁～３２₃の少なくともいくつかを検出するように構成されたデバイス３３を備えることがある。デバイス３３は、例えばカメラ、スキャナー、リーダー等であってもよい。

測定環境３１は、ＤＵＴ３０の位置を定義および／または適合させるように構成された構造体３５を含むことがある。構造体３５は、その後行われるＯＴＡ測定のために図３ｂに示されていないプローブを使用してＤＵＴ３０を保持するためのキャリア、固定具、ジグ、ホルダー、マウント、容器、ポジショナーである、またはこれらを含み得る。試験中、構造体３５は、図示されていないプローブに対してＤＵＴ３０を移動する、例えばＤＵＴ３０を回転および／または傾斜および／または並進させるように構成されることがある。あるいはまたはさらに、図示されていないプローブはＤＵＴ３０に対して移動させることができる。実施形態によれば、ＤＵＴ３０は、手動配置、ロボットまたはマニピュレーター配置、コンベヤーベルト、自動および／または半自動ハンドリングシステムなどによって配置および／または移動することができる。

測定環境３１、例えばその制御ユニットは、測定環境３１内のマーカー３２₁～３２₃のセットの位置に関する情報をＣＯＲＲＰ５２の位置を示す位置情報とリンクさせることができる。これにより、測定環境３１内の位置と座標とのリンクと、マーカー３２～３２₃のセットによって定義されている３Ｄ座標系が取得され得る。このように、マーカー３２₁ ～３２₃の既知の位置、すなわち、ＤＵＴ３０の平面および／または先端および／または角および／またはその他の何らかの特性をＣＯＲＲＰ５２と組み合わせることにより、構造体３５内において確実にＤＵＴを適切に配置することができる。制御ユニットは、環境内における構造体３５の位置に関する情報、および測定環境内のマーカー３２₁～３２₃の情報、例えば、構造体３５に対して既知の相対位置を有するデバイス３３に対するマーカー３２₁～３２₃の情報を使用することができる。制御ユニットはさらに、ＤＵＴのさらなるパラメータ、例えば、先端、表面または平面のマーカー３２ ₁ ～３２ ₃ に対する位置、ひいてはＤＵＴの形状についての知識を有していることがある。

実施形態にかかる方法は、ＤＵＴ３０のマーカー３２₁～３２₃のセットを使用してＤＵＴ３０の位置を決定するステップと、ＤＵＴ３０の位置と、マーカーのセット３２ ₁ ～３２ ₃ によって定義される３Ｄ座標系におけるビーム５６の方向を使用して、無線周波数ビームの予想位置を決定するステップを含む。この予想位置は、ＤＵＴ３０を評価するために測定データが比較される値または値のセットとして使用することができる。この方法は、ＤＵＴの位置を決定するステップが、ＤＵＴ３０を構造体３５で保持し、ＤＵＴ３０におけるマーカー３２₁～３２₃のセットの位置を検出し、測定環境３１内のマーカー３２₁～３２₃のセットの位置を使用して測定環境３１におけるＤＵＴの位置を決定するステップを含むように、実施し得る。

実施形態によれば、ＣＯＲＲＰの知識は、ＤＵＴ３０の幾何学的特徴、すなわちマーカー３２₁～３２₃の知識と組み合わされる。これら２つの情報の組み合わせを通じて、基準点ＣＯＲＲＰ５２およびビームの基準方向を決定することができる。方向を決定するには、平面および／または先端および／または角および／または固定特性と組み合わせた３つまたは１つの単一のポイントの最小数を使用することができる。このように、ＤＵＴ３０の位置はマーカー３２₁から３２₃のセットを使用して決定することができる。ＤＵＴ３０の位置および受信した方向情報を使用して、ＤＵＴがビームを形成すると予想される場所の予想位置または公称値を決定することができる。これは、３Ｄ座標系３６と同一であるか少なくとも３Ｄ座標系３６から転送可能な、マーカー３２のセットによって定義される３Ｄ座標系を使用して行うことができる。

図３ｃは、時間／周波数平面におけるワイヤレス通信ネットワーク内のリソース要素３７のスケジュールを示す概略図である。

図３ｄは、図３ｃのスケジュールに従って動作するアンテナアレイ４４₁および４４₂で形成され得るビーム５６₁および５６₂の概略図を示す。左上から右下への斜線付きのリソース要素３７₁を使用して、アンテナアレイ４４₁でビーム５６₁を形成することができる。ここで、右上から左下への斜線付きのリソース要素３７₂を使用して、アンテナアレイ４４₂でビーム５６₂を形成することができる。網掛けされている共通のリソース要素３７₃は、例えば共通の制御メッセージを送信するために、アンテナアレイ４４₁および４４₂ の双方によって使用される。リソース要素３７₃に関しては、ビーム５６₁および５６₂は、時間／周波数空間において同じパターンを有し得る。例えば、図３ｄでは、ビーム５６₁と５６₂ の重畳により、共通のリソース５６₃の使用に基づいて共通のビーム５６₃を形成することができる。このビーム５６₃は、ＣＯＲＲに対して参照または決定され得る仮想基準原点５４₃を有し得る。仮想基準原点は、例えば、ビーム５６₁および５６₂の（実際の）基準原点５４₁および５４₂の間に配置されてもよい。仮想基準原点５４₃は、ビーム５６₁および５６₂ に対する対称面に配置されてもよい。

このように、ＤＵＴは複数のビームを形成する場合がある。第１のビーム５６₁は第１のアンテナアレイ４４₁ によって形成可能であり、第２のビーム５６ ₂ は第２のアンテナアレイ４４₂ によって形成可能である。ここで、第１および第２のビームは少なくとも部分的に、時間および周波数空間において共通パターンを含み、ひいては第１のビーム５６₁の基準原点５４₁および第２のビーム５６₂の基準原点５４ ₂ から間隔を空けて配置された基準原点５４₃を備える第３のビーム５６₃を形成する。ビーム５６₁および／または５６₂のうちの少なくとも１つのパワーの変動、ビーム間のパワー関係の変動に基づいて、ビーム５６₃の向きを変えることができる。

実施形態は、１つ以上のアンテナアレイを含み、アンテナアレイの少なくとも１つはそれ自体いくつかのサブアレイを含み、その数は１より大きい任意の数である、ＤＵＴに関連する。

例えば、アンテナアレイまたはサブアレイはタイル構造に配置されてもよい。そのような構造はアンテナパネルの配列と呼ばれる場合があり、各アンテナパネルは、アンテナアレイまたはサブアレイの機能ユニットである場合がある。これらのパネルのそれぞれは、送受信用の１つ以上のビームを形成するように設計することができる。さらに、単一のパネルおよび／または異なるパネルの少なくとも２つのビームを使用して、結合ビームを形成することができる。

これらの実施形態は、パネルおよびサブパネルの任意の配置に適用することができ、その実施例は規則的および不規則なタイルスキームの両方を含むことができる。ＤＵＴを考慮して、ＤＵＴの無線インターフェースは複数のアンテナサブアレイを備えることができ、各サブアレイは、ビームパターン、合成ビームなどの少なくとも一部を形成するように構成される。

一実施形態によれば、各サブアレイについてＣＯＲＲを定義することができる。あるいはまたはさらに、単一のサブアレイまたはサブアレイの組み合わせによって形成される少なくとも１つの結合ビームに対してＣＯＲＲを定義することができる。単一のサブアレイまたは各サブアレイについてＣＯＲＲを定義すると、サブアレイで形成されたビームの簡単な評価が可能になる場合があり、少なくとも第１および第２のサブアレイに基づくＣＯＲＲを定義することにより、ＤＵＴの結合ビームの簡単な評価が可能になる。１つの解決策は、限定なく他の解決策と組み合わせることができることに注意されたい。すなわち、ＣＯＲＲは、サブアレイとその組み合わせに対して同時に定義することができる。

図３ｅは、本実施形態にかかるユースケースの概略図である。ビーム５６の例示的な断面は、ビーム５６の対称性を示す対称点、対称軸または対称面５９の周りに配置された異なる適合／測定点５７₁ ～５７₄を使用して評価することができる。角度φとθは、ビームおよびそれぞれのアンテナアレイに対する仰角と方位角を示す。対称点、対称軸、または対称面５９は、誤差ベクトルの大きさ（ＥＶＭ）に関連する測定の中心、すなわちＥＶＭ方向範囲の中心を形成することがある。ＯＴＡ ＥＶＭ方向範囲、すなわち評価しなければならない断面の領域に関する宣言に従って平面６１が形成され得る。この領域は、原点からの距離に依存し、デフォーカスされたビームでは増大し、合焦されたビームでは減少することがある。このように、点、軸、または平面５９を知ることで、ポイント５７の位置決めとビーム５６の評価が可能になる。実施形態によれば、点、軸または平面５９はＣＯＲＲとして定義することができ、点５７は測定点として使用することができる。

図４ａは、例えば工程１２０中に位置情報を決定するために実施され得る方法４００の概略フローチャートである。工程４１０では、ＤＵＴで形成可能なビームのセットが定義される。例えば、ビームのセットはビーム５６₁、５６₂および／または５６₃を含み得る。

工程４２０は、ビームのセット内の各ビームについて、ビームの基準原点のＣＯＲＲＰに対するオフセット、および基準方向に対するビーム方向の方向偏差を決定して、位置情報により基準原点とＣＯＲＲＰに対するビーム方向を示すことができるようにするステップを含む。例えば基準原点５４₁、５４₂および／または５４₃ 等の基準原点のオフセットは、３Ｄ座標系３６内におけるそれぞれの基準原点の位置であることがある。したがって、オフセットは、原点３８に対するそれぞれの基準原点のオフセットおよび／または測定環境内の位置に関連することがある。基準方向の偏差は座標系３６内の方向に関係していることがある。基準方向は、例えば軸のうちの１つ以上に沿った方向および／または座標系内の方向であってもよい。座標系３６内の任意の方向を基準方向として使用して、方向５８₁、５８₂、および５８₃が、３Ｄ座標系３６内でのそれぞれのビーム５４₁、５４₂、および／または５４₃の方向を示すようにすることができる。

言い換えれば、ＣＯＲＲＰは４つのポイント（３つの基準マーカーと座標系の原点）と、３つの軸によって記述される。この３つの軸は垂直軸であってもよく、少なくとも３Ｄ空間にわたる。

ＣＯＲＲＰおよび／または位置情報は、特に、
ｉ）波（ビーム）が放射されるポイントおよび／またはエリア、
ｉｉ）分散アンテナが配置されているポイントおよび／またはエリア、
ｉｉｉ）電波を放射する重畳／有効アンテナ／アンテナアレイのポイントおよび／またはエリア、および／または
ｉｖ）偏光効果を示す
ポイントおよび／またはエリアの相対方向および軸方向の決定と、空間内への記述を可能にする、３次元空間内の基準点／ベクトルとして提供されることがある。ポイントｉｉ）はアンテナの位置を定義することは可能だが、必ずしもそのステップを含むわけではない。メーカーは、デバイス内のアンテナの位置を明らかにするよりも、本願発明の基準点ＣＯＲＲＰを使用することを好むだろう。このように、アンテナ／アンテナアレイの正確な位置は、ＣＯＲＲＰの記述によって明らかにされることはあるがその必要はなく、ビームパターンがどこから発生しているように思われるかについて、より概略的な位置決めが可能になる。もちろん、アンテナ位置そのものである場合もある。さらに、デバイスが複数のアンテナまたは複数のアンテナアレイを備えている場合、アンテナまたはアンテナアレイの位置の指定は面倒であり、誤解を招く可能性があり、結果として精度に影響する可能性がある。したがって、各デバイスに対して、含まれるアンテナの数に関係なくＣＯＲＲＰが１つであれば、デバイスの詳細を非公開に保つ、測定の精度を向上させる、および／または測定環境を効果的に定義するという点で利点がある。

アンテナアレイ、ビームをそれぞれＣＯＲＲＰと関連付けるために、ＣＯＲＲＰを指すベクトルが定義されることがある。これには、
ａ）放射された放射の原点、および／または
ｂ）ｉ）アレイ表面の３Ｄ空間の位置、
ｉｉ）方向５８などの放出方向、および／または
ｉｉｉ）放出のめの基準点およびベクトル、
を記述する相対座標系
が含まれる場合がある。基準点または基準マーカーは、デバイスの外側からアクセス可能である、または特定のマーカー、または例えば正面、平面、角、エッジデバイス固有のデバイス境界に関係する場合がある。したがって、基準マーカーのセットはＤＵＴハウジングの角またはエッジを含むこともある。

図４ｂに示すように、３次元方位情報を定義するステップと同様に、ＣＯＲＲを定義するステップは、工程４１０、すなわちＤＵＴで形成可能な電磁波パターンのセットを定義するステップであって、電磁波パターンのセットは電磁波パターンのセットを含む、ステップを含むことがある。さらに、電磁波パターンのセット内の各電磁波パターンについて、ＣＯＲＲに対する電磁波パターンの基準原点のオフセットが工程４６０において決定されることがある。

図５ａは、ＣＯＲＲＰおよび／または位置情報に関連する情報を活用するために使用できる方法５００の概略フローチャートである。オプションの工程５１０は、ＤＵＴのマーカーのセット、例えば図３ｂに関連して記載された、マーカー３２₁～３２₃等を使用してＤＵＴの位置を決定するステップを含む。オプションの工程５２０は、マーカーのセットによって定義されている３Ｄ座標系におけるＤＵＴの位置およびビームの方向を使用して、無線周波数ビームの予想位置を決定するステップを含む。工程５３０は、ＤＵＴからの無線周波数ビームを検出するステップを含む。無線周波数ビームは、例えば受信ビームおよび／または送信ビームであることがある。工程５４０は、ＤＵＴの放射中心基準（ＣＯＲＲ）を示す情報を受信するステップであって、ＣＯＲＲは、ＤＵＴで形成された電磁波パターンの基準原点を示す、ステップを含む。工程５４０は、ＣＯＲＲに関する３次元方位情報を受信するステップであって、３次元方位情報は電磁波パターンの方向を示す、ステップを含む。工程５５０は、検出された無線周波数ビームをＣＯＲＲＰおよび位置情報との一致に関して評価するステップを含む。工程５３０および５４０を実行する順序は任意であってもよく、すなわち工程５３０は工程５４０の前、後、またはさらには同時に実行されてもよい。工程５５０は、例えば位置情報によって特徴付けられるビームがＤＵＴから検出された無線周波数ビームと一致する場合、所定の評価工程を含むことがある。かかる一致は基準原点の一致、および／またはメインローブおよび／またはサイドローブの物理的延長の一致を含み得るが、これに限定されない。電磁波パターンは放射の３Ｄパターンであってもよく、また任意に形成されてもよい。かかる３Ｄパターンは、例えば、電磁波パターンがビームを含む場合、メインローブおよび／またはサイドローブに関する情報を含み得る。３Ｄパターンは、例えば仰角および／または方位角方向に大きな開口角がある場合、メインローブまたはサイドローブという言葉では適切に説明できない場合がある。３Ｄパターンは、所与のＣＯＲＲＰおよび方向に対して相対的に説明できる、形成または整形された放射ビームパターン／フィールドであり得る。

位置情報は、ビームの少なくとも１つのメインローブおよび／またはビームの少なくとも１つのサイドローブを示す情報を含んでいることがある。かかる情報は角度構成を含むことがあり、それぞれのメインローブまたはサイドローブはビーム内で、ＣＯＲＲＰおよびまたは基準原点に対して、および／または角度構成の方向に向けて延びる。例えば工程５５０を実行する際に検出された無線周波数ビームを評価するステップは、ビームの少なくとも１つのメインローブおよび／またはビームの少なくとも１つのサイドローブに関する検出された無線周波数ビームの評価を含み得る。工程５１０および／または５２０の順序は、実行される際に、工程５３０および／または５４０の実行から独立していてもよい。つまり、工程５５０を実行する前に実行されている限り、工程５１０、５２０、５３０および５４０を実施するだけで十分であり得る。上述の通り、電磁波パターンはビームに限定されるものではない。たとえば、ＣＯＲＲＰと放射ビームパターンの記述のための基準方向が提供されていれば、パターンの正確な形状は任意であり、１つ以上のメインローブまたはサイドローブの定義は必要ではない。３次元の特定の方向に向かうそのような特定の特徴の説明は、いくつかの実施形態では実装され得るが、３Ｄ電磁波パターンのより一般的な特徴に関連し得る。

図５ｂは、例えば工程５１０が実行された場合にその一環として実施され得る方法５６０の概略フローチャートを示す。工程５７０は、測定環境３１の構造体３５などの測定環境の構造体でＤＵＴを保持するステップを含む。工程５８０は、マーカー３２₁～３２₃などのマーカーのセットのＤＵＴにおける位置を検出するステップを含む。工程５９０は、測定環境内のマーカーのセットの位置を使用して、測定環境内のＤＵＴの位置を決定するステップを含む。

図６は、例えば工程５５０の結果に応じて、方法５００と一緒に実行され得る方法６００の概略フローチャートである。工程６１０において、ビームの基準原点が無線周波数ビームの検出および／または評価に使用される測定環境の中心を形成するように、ＤＵＴの位置が調整される。あるいはまたはさらに、測定環境の既定の中心と無線周波数ビームの基準原点との間のずれを決定することができる工程６２０が実行される。決定されたずれを使用して、検出された無線周波数ビームの評価の結果を修正することができる。すなわち、工程５５０の結果は修正され得る。たとえば、検出された無線周波数ビームの基準原点が位置情報に示されているのとは異なる位置にあることが測定により示された場合、ＤＵＴはプローブに対してシフトされる場合がある。すなわち、プローブおよび／またはＤＵＴを動かして、無線周波数ビームの正確な分類が可能になるようにすることがある。あるいはまたはさらに、結果において検出されたずれが考慮されることがある。
工程６１０および６２０をそれぞれ使用すれば、周波数が同じまたは異なる２つの異なるビームのＣＯＲＲＰがずれていてそれを知っている場合、その結果である偏差を使用してずれを事後補償（６１０）する、または測定を繰り返す前に反復的に事前補償（６２０）することができる。

上述のように、無線周波数ビームの検出は、ＤＵＴを使用して無線周波数ビームを受信するときに、ＤＵＴからのビームの検出（受信）および／またはＤＵＴでのビームの検出に関連する場合がある。

図７は、一実施形態にかかる被試験デバイスとして使用することができるデバイスまたは装置７０の概略ブロック図である。装置７０は、ディスプレイ６２およびインターフェース６４を備えていることがある。インターフェース６４は、装置７０に試験モードを実行するよう要求する要求を示す信号６６を受信するように構成されることがある。インターフェース６４は、例えば、アンテナまたはアンテナアレイを含むインターフェースなどの無線通信インターフェースであってもよい。この場合、信号６６はワイヤレス信号であることがある。装置７０は信号６６に応答して試験モードに切り替わり、ディスプレイで既定の光学信号パターン６８を表示するように構成される。光信号パターンは、１つ、２つ、３つまたはそれ以上の基準マーカー３２₁および／または３２₂および／または３２₃として使用できる１つ以上の画像および／または点および／またはドットを含むことがある。つまり光信号パターン６８は、装置７０における基準マーカーのセットの少なくとも一部を提供する。ここで再びＤＵＴ３０を参照すると、基準マーカー３２₁、３２₂および／または３２₃のうちの少なくとも１つは、光信号パターン６８のそれぞれのパートまたは部分によって実装され得ると理解することができる。装置７０は、光信号パターンの表示の変更を示すユーザー入力とは無関係に光信号パターンを表示するように構成されてもよい。かかるユーザー入力は、例えば、パターンのサイズ、ディスプレイ６２内のパターンの位置を変更する要求、および／または異なるパターンを表示する要求であることがある。このように、光信号パターン６８は、装置７０のハウジングに対して不動であってもよく、ひいては基準マーカーとして機能することができる。例えば、光信号パターンは、例えばクイックレスポンス（ＱＲ）コードまたはマトリックスバーコードまたは異なる２次元コードなどのマトリックスバーコードを含む１次元以上のバーコードであることがある。ＱＲコード（登録商標）は表示される情報を高密度で提供することができる。これは、特に試験中に多数のビームが評価されている場合には、利点となり得る。特定の光信号パターン６８がそれぞれのビームおよび／またはテストモードに関連付けられ得る。それにより、光信号パターンはそれぞれのビームおよび／またはテストモードを表示して、装置７０が実際に装置で形成されるビームを示すようにすることができる。装置７０は、続いて複数のテストモードおよび／またはビームまたはそれらの組み合わせのうちの１つに切り替わって作動させ、その後に複数の光学信号パターンのうちの１つを表示するように構成することができる。表示された光信号パターンのそれぞれは、装置７０で実行されるそれぞれの現在のテストモードに関連付けられることがある。

図８ａは、一実施形態にかかる測定システム８０の概略ブロック図である。測定システム８０は、本明細書に記載される方法の１つ以上を実行するように構成される。例えば、測定システム８０は、方法５００および／または６００を実行するように構成される。任意で、測定システム８０は、方法１００、２００、および／または４００のうちの少なくとも１つをさらに実行するように構成されてもよい。測定システム８０は、複数のプローブ７２₁～７２₅を備えることがある。１つ以上のプローブ、例えばプローブ７２ ₁ は、近接場でビーム５６を評価するように構成されてもよい。１つ以上のプローブ、例えばプローブ７２ ₂ は、中距離場でビーム５６を評価することができる。１つ以上のプローブ、例えばプローブ７２₃、７２₄および／または７２₅などは、ビーム５６の遠方界でビーム５６を評価するように構成されることがある。

測定システム１８は、ＤＵＴ、例えば装置３０および／または７０などを評価するように構成されることがある。測定システム１８で取得および使用される位置情報は、ビーム５６₁の基準原点５４₁を示す情報を含むことがある。位置情報は、各ビーム５６₁および５６₂の基準原点５４₁および５４₂を示す情報を含んでいてもよい。位置情報はさらに、各ビームの方向５８₁および５８₂に関する情報を含んでいることがある。測定システムは、検出された無線周波数ビーム５６₁および／または５６₂を、ビーム５６₁ および５６₂との重畳部分の一致に関して評価するように構成されていることもある。図３に関連して記載したように、単一のビーム５６₁および５６₂ 、および／またはさらなるビームの重畳により、要約ビームを取得することができる。測定システム１８は、（受信ビームを評価する）ＤＵＴおよび／または（ビームを送信する）プローブ７２₁～７２ ₅ によって得られた結果を評価するように構成された制御ユニットおよび／または評価ユニットを備えていることがある。

ビーム５６₁および／または５６₂ 、および／またはビームの近接場におけるビームの重畳を検出するとき、測定システム１８は、ビームの遠方界におけるビームの特性を外挿することにより構成することもできる。評価されるビームについての正確な情報、すなわち基準原点およびＣＯＲＲＰに対する方向に基づいて、このような外挿を高精度で実行することができる。

図８ｂは、近接場（ＮＦ）、中距離場（ＭＦ）および／または遠方界（ＦＦ）に配置され得る複数のプローブ７２₁ ～７２₆を収容する測定チャンバーを備える測定システム８０´の概略ブロック図である。１つ以上のプローブ、たとえばプローブ７２₁は、測定チャンバー７４内で移動可能であってもよい。あるいはまたはさらに、評価されるＤＵＴのうちの１つ以上、例えばＤＵＴ７０は測定チャンバー７４の中で可動であって、サイドローブ７６₁～７６₄および／またはメインローブ７８₁～７８₃がプローブ７２₁～７２₆に対する位置および／または向きを変えることができるようになっている。

言い換えれば、例えばビームパターンの特徴づけのためにＯＴＡ測定を使用する場合、ビームが発生する正確な基準点（ソース、基準原点）を知ることは非常に重要になり得る。ＯＴＡ測定が近接場で行われている場合、あるいはＤＵＴの寸法が大きい場合、たとえば自動車の場合、これはさらに重要になってくる可能性がある。さらに、例えば２８ＧＨｚ、３９ＧＨｚ、６０ＧＨｚ以上のミリ波等の高い無線周波数を使用した場合、波長は非常に短くなり、放射ビームの正確なＣＯＲＲＰが不明な場合、近接場での測定が不正確なことにより、計算された変換後の遠方界パターンに関してかなり大きな誤差が生じる可能性がある。別のケースとしては、アンテナの正確な位置が外部からは不明である、および／またはデバイスがデバイス全体に分散された複数のアンテナを使用しているスマートフォン、タブレット、ラップトップなどのフォームファクタがコンパクトなデバイスで生じ得る。いずれにせよ、測定されたビームパターンを正確に評価するためには、基準点を知ることが極めて重要になる場合がある。本明細書に記載の実施形態は、ＣＯＲＲＰを使用してＤＵＴが作成したすべてのビームについて基準原点を記述することができる３Ｄ参照スキームを紹介している。実施形態は、放射されるすべてのビームの基準点を正しく、特にデバイスの外部から決定するための解決策を提供している。たとえばＤＵＴの周りの３Ｄ放射ビームパターンを決定するための測定手順中に、アンテナおよび／またはアンテナアレイが測定セットアップ／システムに配置された車などの比較的大きな物体に分散されている場合に明らかになり、１つ以上のセンサーに所定の距離（近接場、中距離場、または遠方界）で囲まれたホルダー上の測定システムにＤＵＴを取り付けて、電力、位相、位相安定政党の特定のパラメータを測定することが知られている。放射パターンを３Ｄでスキャンするには、ＤＵＴは回転、シフト、または移動されて、センサーが別の観測角度でＤＵＴを観測するか、またはＤＵＴの周囲のセンサーが特定の距離で配置されるかのいずれかである。あるいは、２つの動きを重ねて３Ｄフィールドスキャンを実行することもできる。図８ｂのＤＵＴ７０について図示されているように、回転子に取り付けてＤＵＴを移動してもよい。理想的なケースであるエミッター等の点の場合、例えば、ワイヤー中心の周りのヘルツ双極子回転としてのワイヤーでは、測定された放射パターンは、極めて対称的な円形形状になる可能性がある。回転中心に対するワイヤーの位置が誤っている場合、歪んだ放射パターンが観察されるときがあるが、ＣＯＲＲＰが既知であり、測定中に考慮されていれば簡単に補正することができる。ＣＯＲＲＰは回転中心に関する情報を含む場合がある。このような補正手順は測定後に実行することができるが、可能であれば、動きを事前補正して有効な回転軸が既にアンテナの放射中心と一致するようにすることができる。

図９ａは、例えば放射パターン測定のために、ＤＵＴがセンサー環境、すなわち測定システム内に取り付けられているときに放射中心基準点に関する知識がなかった場合の影響を図示する概略図を示している。方向８２に沿ってＤＵＴをシフトすると、メインローブ７８および／または放出された他のローブのシフトにつながる可能性がある。プローブ７２でビームおよび／またはローブを決定することにより、とりわけアンテナアレイの望ましい位置や実際の位置が不明な場合、これがＤＵＴの誤動作や位置ずれによる影響であるかどうかを判断するのは困難または不可能である。

ＤＵＴの例は、例えば、アクティブアンテナシステム（ＡＡＳ）、基地局アンテナ、ハンドセットなどのユーザー機器、ラップトップ、車両、ドローン、漏洩給電ケーブルなどの拡張された大型オブジェクトなどがあり得る。

図９ｂは、アンテナアレイ４４の構造を示す概略図を示している。アンテナアレイ４４は、複数のアンテナ素子８４₁～８４_Nを備えていることがある。ＣＯＲＲＰは、スタンドアロンで使用することも、プローブ、ＤＵＴ、または別の要素などの特定のコンポーネントをデバイスのエッジに合わせる要求および／またはテストパターンを表示するディスプレイ上に基準点を表示するスクリーンまたは表面に垂直なセンサーを位置合わせする要求等、あらゆる情報／指示と組み合わせて使用することができる。図示されるように、図９ａのシフト８２と逆であり得るシフト８２´´を実装して、ＤＵＴ、例えばＤＵＴ７０を１つ以上のプローブ７２と位置合わせするようすることもできる。これにより、ビームのサイドローブ７６および／またはメインローブ７８を正確に決定することができる。例えば、測定システムは、例えばプローブに関連した検索アルゴリズムを使用する場合がある。プローブ７２に関してそれぞれのマーカーまたはパターンが観測できた場合、位置合わせが想定され、検出または決定されたビームが所望の条件に一致するかどうかを決定するためにＣＯＲＲＰを使用することができる。これは、ＤＵＴを位置合わせするための検索アルゴリズムを使用して実行されることがある。

本明細書に記載の実施形態はまとめて実行され得るが、分散して実装することも可能であり得る。例えば、デバイスまたはＤＵＴのメーカーは、方法１００、２００および／または４００のうちの１つ以上を実行してもよい。送することで、メーカーはデバイスがサポートされる各ビームおよび／またはビームのセットに対して１つの基準点および／または複数の基準点／ベクトルを提供することができる。これには１つ以上のメインローブおよび／または１つ以上のサイドローブに関連する情報が含まれることがある。メーカーはさらに、各ビームの送受信の周波数または周波数範囲に関する情報を提供する場合がある。送信モードの各モードまたはセットは、特定のビームを形成するために使用されるように示される場合がある。特定のモードでは、異なるアンテナ／アンテナ要素がビーム作成に関与する場合がある。それにより、使用されるアンテナまたはアンテナ素子の特定の細目を示すことにより、試験内でさらなる細目を評価することができる。

ＣＯＲＲＰおよび／または位置情報を使用する測定システム、および／または方法５００および６００のうちの１つ以上を実装する測定システムは、ＤＵＴホルダー（キャリア）を含むことがあり、ベクトルを使用して３Ｄ座標において搭載されたＤＵＴをオフセットして、通常の測定手順（工程６１０）の間基準点が中心にあり、および／またはビームパターン評価（工程６２０）のための関数／変換の補正に既知のずれが組み込まれるように構成されることがある。

それぞれの基準点は、デバイス上の物理的なマーカー、またはコーナーストーンおよび／またはエッジに相対的なものであってもよい。これには、平面、角、エッジ、バーコード、例えば（平面で定義され既定サイズ等であり、座標系の基準として使用し得る）ＱＲコード（登録商標）などのマトリックスバーコードなどのバーコードをどのように参照するかについてのあらゆる種類のオプションを含み得る。ＣＯＲＲＰの定義またはマーキングは、妥当な物理的制約に縛られる／制限され得る値に関連する情報などの追加情報を含むＱＲコード（登録商標）を使用して実行することもできる。ＱＲコード（登録商標）などの１次元または２次元バーコードは、たとえば印刷、エッチング、彫刻、接着ステップなどを使用してコードをＤＵＴのケース、ボディ、ハウジング、カバーカウリング、筐体、および／または無作為に取り付けることで、永続的に実装できる。あるいは、ＵＥが測定目的において利便性の高い特定の動作モードに設定されている場合、このようなコードをＵＥの画面に表示することができる。すべてのインスタンスにおいて、ＱＲコード（登録商標）の位置は固定されていてもよい。ＱＲコード（登録商標）自体は、スキャナーまたはリーダーなどの機械読み取り装置、例えばデバイス３３によって読み取られてもよい。このようなデバイスは、ＱＲコード（登録商標）に含まれる情報を読み取ることができる、および／またはＤＵＴ上のＱＲコード（登録商標）の位置を決定するように構成することができる。ＱＲコード（登録商標）データに含まれる情報は、この場合、リーダーがＣＯＲＲＰを決定するために使用する情報である。換言すれば、ＱＲコード（登録商標）は、利便性が高く、実用的で、容認可能および／または美的であり、ＣＯＲＲＰ自体のマーキングを形成しないような場所に配置することができる。さらに、ＱＲコード（登録商標）は、ＤＵＴの外側の物理的特性と、例えば演繹的に既知の、または時間とともに更新されるこの情報をデータベースから提供することによって、このマーカーに関連するＣＯＲＲＰをどのように導出するかに関する記述とを定義することができる。このような情報は、たとえば、ウェブサイトまたはその他の参照先が明示的な情報ソースにアクセスすることで取得することができる。このようなソースでは、コンテンツは、変更のない形で、または必要に応じて更新できるように変更可能な形でダウンロード／アクセスできるように保持することができる。さらに、このような情報セットには、「ＤＵＴでのこのような測定は、測定指示ＡＢＣバージョン１．２３に従って実行された」という意味において測定を行う場合、参照すべきバージョン番号が含まれる場合がある。

あるいはまたはさらに、ＣＯＲＲＰは、ノッチ、エッチング、または穴などの機械的マーキングに基づいて定義することができる。あるいはまたはさらに、いわゆるバッジマーキングを実装してスイートスポットを得ることができる。あるいはまたはさらに、ＱＲコード（登録商標）などのマトリックスコードがテストモードで表示され、それにより、光学パターンを備えた専用ピクセル位置を使用するユーザー機器画面（ディスプレイ）を使用してもよい。あるいはまたはさらに、ユーザー機器のランプ／カメラレンズ／マイク、スピーカーなどをＣＯＲＲＰとして使用することもできる。

本明細書に記載の実施形態は、波／ビームが元々どこから省略されているかを正確な参照することができるようにしている。実施形態は、メーカーによるデバイス固有の技術的解決策を開示しないままにすることができるようにしている。ＣＯＲＲＰおよび位置情報を定義するだけで十分なはずだからである。実施形態は、デバイスから見る／アクセスすることができる外側の基準点に対してデバイスを適正に位置決めすることができる。実施形態は、ずれているアンテナまたは分散アンテナであっても、近接場から遠方界に正しく変換することができる。その挙動を正しく、高精度で評価することができるからである。ビームの基準原点および／またはパターンを正しく決定していることに基づいて、ビームの対称性はより簡単に識別することができる。測定場所または建物、例えば実験室では、ＤＵＴを開いたり破壊したりすることなく、ＣＯＲＲＰを使用してメーカーとまったく同じ基準原点を使用することができる。本明細書に記載される実施形態により、アンテナ／アレイなどの組み合わせについて異なる基準点を定義／使用することが可能になる。通信システムにおいて、本願で提案する実施形態を再利用して、ビームペアリング等のような機能性を容易にすることができる。つまり、ＣＯＲＲＰは、スタンドアロンおよび／または検索アルゴリズムなどの他の方法と組み合わせて使用され得る。

あるいはまたはさらに、例えば任意の方向を指すいくつかのアンテナアレイを使用している際に、ビーム調整が実行されてもよい。実施形態は、他の同等のデバイスまたは製品との標準化された公正な比較（ベンチマーク）を可能にする、ＤＵＴ放射パターンのＯＴＡ測定のための正確な方法を提供している。

いくつかの態様は装置の文脈で記載されてきたが、これらの態様は、ブロックまたはデバイスが方法工程または方法工程の特徴に相当する、対応する方法の説明も表すことは明らかである。同様に、方法工程の文脈で記載された態様は、対応する装置の対応するブロックまたはアイテムまたは特徴の説明も表す。

所定の実装要件によっては、本発明の実施形態はハードウェアまたはソフトウェアで実装することができる。実装は、それぞれの方法が実行されるようにプログラム可能なコンピュータシステムと協働する（または協働することができる）電子的に読み取り可能な制御信号が格納されたデジタル記憶媒体、たとえばフロッピーディスク、ＤＶＤ、ＣＤ、ＲＯＭ、ＰＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、またはフラッシュメモリを使用して実行することができる。

本発明にかかるいくつかの実施形態は、本明細書に記載の方法の１つが実行されるように、プログラマブルなコンピュータシステムと協働することができる電子可読な制御信号を有するデータキャリアを含む。

一般に、本発明の実施形態は、プログラムコードを備えたコンピュータプログラム製品として実装することができ、プログラムコードは、コンピュータプログラム製品がコンピュータ上で実行されるときに方法の１つを実行するように動作する。プログラムコードは、例えば機械可読なキャリアに記憶されていてもよい。

他の実施形態には、機械可読キャリアに記憶された、本明細書に記載の方法の１つを実行するためのコンピュータプログラムを含む。

言い換えれば、本発明の方法の実施形態は、したがって、コンピュータプログラムがコンピュータ上で実行されるときに本明細書に記載の方法のうちの１つを実行するためのプログラムコードを有するコンピュータプログラムである。

したがって、本発明の方法のさらなる実施形態は、本明細書に記載の方法のうちの１つを実行するためのコンピュータプログラムが記録されたデータキャリア（またはデジタル記憶媒体、またはコンピュータ可読媒体）である。

本発明の方法のさらなる実施形態は、したがって、本明細書に記載の方法のうちの１つを実行するためのコンピュータプログラムを表すデータストリームまたは信号のシーケンスである。データストリームまたは信号のシーケンスは、たとえばインターネットを介して等、データ通信接続を介して転送されるように構成されてもよい。

別の実施形態には、本明細書に記載の方法のうちの１つを実行するように構成または適合された処理手段、例えばコンピュータ、またはプログラマブル論理デバイスが含まれる。

さらなる実施形態は、本明細書に記載の方法のうちの１つを実行するためのコンピュータプログラムをインストールしたコンピュータを含む。

一部の実施形態では、プログラマブル論理デバイス（例えば、フィールドプログラマブルゲートアレイ）を使用して、本明細書に記載の方法の機能の一部またはすべてを実行することができる。一部の実施形態では、フィールドプログラマブルゲートアレイは、本明細書に記載の方法のうちの１つを実行するために、マイクロプロセッサと協働することもある。一般に、方法は任意のハードウェア装置によって実行されることが好ましい。

上述の実施形態は、本発明の原理の単なる例示である。本明細書に記載の構成および細目の修正および変更は、他の当業者には明らかであると理解される。したがって、本明細書に記載の実施形態の記述および説明によって提示される特定の細目によってではなく、目下の特許請求の範囲によってのみ制限されるものとする。

参考文献
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［６］ 3GPP TS 37.145-2; V14.0.0 (2017-03), "Active Antenna System (AAS) Base Station (BS) conformance testing; Part 2: radiated conformance testing"
［７］ 3GPP TR 37.976; V14.0.0.0 (2017-03), "Measurement of radiated performance for Multiple Input Multiple Output (MIMO) and multi-antenna reception for High Speed Packet Access (HSPA) and LTE terminals"
［８］ 3GPP TR 37.842; V13.2.0 (2017-03), "Evolved Universal Terrestrial Radio Access (E-UTRA) and Universal Terrestrial Radio Access (UTRA; Radio Frequency (RF) requirement background for Active Antenna System (AAS) Base Station (BS)"

Claims (26)

1. 被試験デバイス（ＤＵＴ）（３０；７０）で形成可能な電磁波パターン（５６）の基準原点（５４）を示す、前記ＤＵＴ（３０；７０）の放射中心基準（ＣＯＲＲ）（５２）を定義するステップ（１１０）であって、
   前記ＣＯＲＲ（５２）は前記基準原点（５４）と比べて異なる位置に配置され、前記ＣＯＲＲ（５２）と前記基準原点（５４）との間のオフセットに関する情報を含む、ステップ（１１０）と、
   前記ＣＯＲＲ（５２）に関して、前記電磁波パターン（５６）の方向（５８）を示す３次元方位情報を決定するステップ（１２０）と、
   前記ＣＯＲＲ（５２）および前記３次元方位情報を測定システム（８０；８０´）に提供するステップ（１３０）と、を含む方法（１００）。
2. 前記電磁波パターンは前記被試験デバイスの通信のために形成可能なビームパターンを含む、請求項１に記載の方法。
3. 前記電磁波パターンは前記ＤＵＴのアンテナアレイで形成することができる、請求項１または請求項２に記載の方法。
4. 前記ＣＯＲＲを定義するステップ（５２）は、
   前記ＤＵＴ（３０；７０）を見たときに視認可能な、または前記ＤＵＴの外側からアクセス可能な基準マーカーのセット（３２）を前記ＤＵＴ（３０；７０）において決定するステップ（２１０）と、
   前記基準マーカー（３２）を使用して座標系（３６）を定義するステップ（２２０）と、
   前記座標系（３６）内で前記ＣＯＲＲ（５２）を定義するステップ（２３０）と、を含む、請求項１～請求項３のうちの１項に記載の方法。
5. 前記基準マーカーのセット（３２）は、紫外線マーカー、赤外線マーカー、温度または内蔵された磁気源を使用するマーカーを含む、請求項４に記載の方法。
6. 前記基準マーカーのセット（３２）は、
   前記ＤＵＴ（３０；７０）のディスプレイに表示される光信号パターン（６８）、
   前記ＤＵＴ（３０；７０）のレンズ、
   前記ＤＵＴ（３０； ７０）の発光デバイス、
   電気ポート、
   電磁または磁気パターン、
   前記ＤＵＴの音響ポート（３０；７０）、
   前記ＤＵＴ（３０；７０）のハウジングの正面、
   前記ＤＵＴ（３０；７０）のハウジングの平面、
   前記ＤＵＴ（３０；７０）のハウジングのコーナー、
   および
   前記ＤＵＴ（３０；７０）のハウジングのエッジのうちの少なくとも１つを含む、請求項４または請求項５項に記載の方法。
7. 少なくとも第１および第２のＣＯＲＲ（５２）は、前記ＤＵＴ（３０；７０）の内側および／または外側および／または表面の異なる位置で定義され、前記３次元方位情報は前記少なくとも第１および第２のＣＯＲＲについては単一のビームについて決定される、請求項１～請求項６のいずれか１項に記載の方法。
8. 前記ＣＯＲＲを定義するステップは、
   前記電磁波パターン（５６）を含む、前記ＤＵＴ（３０；７０）によって形成可能な電磁波パターンのセット（５６）を定義するステップと、
   前記電磁波パターンのセット内の各電磁波パターン（５６）について、前記ＣＯＲＲ（５２）に対する前記電磁波パターン（５６）の前記基準原点（５４）のオフセットを決定するステップと、を含む、請求項１～請求項７のいずれか１項に記載の方法。
9. 前記３次元方位情報を決定するステップは、
   前記電磁波パターン（５６）を含む、前記ＤＵＴ（３０；７０）によって形成可能な電磁波パターンのセット（５６）を定義するステップ（４１０）と、
   前記３次元方位情報が前記基準原点（５４）、および前記ＣＯＲＲ（５２）に対する前記電磁波パターン（５６）の方向（５８）を示すことが可能になるように、
   基準方向に対する、前記電磁波パターン（５６）の方向（５８）の方向偏差を決定するステップ（４２０）と、を含む、請求項１～請求項８のいずれか１項に記載の方法。
10. 前記電磁波パターン（５６）は、前記ＤＵＴ（３０；７０）の少なくとも第１および第２のアンテナアレイ（４４ ₁ 、４４ ₂ ）によって形成可能である、請求項１～請求項９のいずれか１項に記載の方法。
11. 第１ビーム（５６ ₁ ）は前記第１アンテナアレイ（４４ ₁ ）によって形成可能であり、第２ビーム（５６ ₂ ）は前記第２アンテナアレイ（４４ ₂ ）によって形成可能であり、前記第１および第２のビームは少なくとも部分的に、時間および周波数空間において共通パターンを含み、ひいては前記第１ビーム（５６ ₁ ）の前記基準原点（５４ ₁ ）および前記第２ビーム（５６ ₂ ）の前記基準原点（５４ ₂ ）から離間して配置された基準原点（５４ ₃ ）を含む第３ビーム（５６ ₃ ）を形成する、請求項１０に記載の方法。
12. 被試験デバイス（ＤＵＴ）（３０；７０）から無線周波電磁波パターン（５６）を検出するステップ（５３０）と、
    前記ＤＵＴ（３０；７０）によって形成された電磁波パターン（５６）の基準原点（５４）を示す、前記被試験デバイス（ＤＵＴ）（３０；７０）の放射中心基準（ＣＯＲＲ）（５２）を示す情報を受信するステップ（５４０）、および、前記電磁波パターン（５６）の方向（５８）を示す、前記ＣＯＲＲ（５２）に関する３次元方位情報を受信するステップであって、前記ＣＯＲＲ（５２）は前記基準原点（５４）と比べると異なる位置に配置され、前記ＣＯＲＲ（５２）と前記基準原点（５４）との間のオフセットに関する情報を含む、受信するステップと、
    検出された前記無線周波電磁波パターン（５６）が前記ＣＯＲＲ（５２）および前記３次元方位情報と一致しているかを評価するステップ（５５０）と、
    を含む、方法（５００）。
13. 前記方法は、前記無線周波数電磁波パターンを試験するためのＯＴＡ試験の少なくとも一部である、請求項１２に記載の方法。
14. 前記方法は、
    前記ＤＵＴ（３０；７０）のマーカーのセット（３２）を使用して前記ＤＵＴ（３０；７０）の位置を決定するステップ（５１０）と、
    前記マーカーのセット（３２）によって定義される３次元座標系における前記ＤＵＴ（３０；７０）の位置と前記電磁波パターン（５６）の方向（５８）を使用して、前記無線周波電磁波パターン（５６）の予想される３次元方向を決定するステップ（５２０）と、をさらに含む、請求項１２または請求項１３に記載の方法。
15. 前記ＤＵＴの位置を決定するステップは、
    測定環境（３１）の構造（３５）でＤＵＴ（３０；７０）を保持するステップ（５７０）と、
    前記ＤＵＴ（３０；７０）における前記マーカーのセット（３２）の位置を検出するステップ（５８０）と、
    前記測定環境（３１）内の前記マーカーのセット（３２）の位置を使用して、前記測定環境（３１）内の前記ＤＵＴの位置を決定するステップ（５９０）と、
    を含む、請求項１４に記載の方法。
16. 前記３次元方位情報は３次元放射ビームパターンを示す情報を含む、請求項１２～請求項１５のいずれか１項に記載の方法。
17. 前記３次元放射ビームパターンは、前記電磁波パターン（５６）の少なくとも１つのメインローブおよび／または前記電磁波パターン（５６）の少なくとも１つのサイドローブ（７６）を含み、
    前記検出された無線周波電磁波パターン（５６）を評価するステップは、前記電磁波パターン（５６）の前記少なくとも１つのメインローブ（７８）および／または前記電磁波パターン（５６）の少なくとも１つのサイドローブ（７６）に関する前記検出された無線周波電磁波パターン（５６）の評価を含む、請求項１６に記載の方法。
18. 前記電磁波パターン（５６）の前記基準原点（５４）が前記測定環境の中心を形成するように、前記ＤＵＴ（３０；７０）の位置を調整するステップ（６１０）、または
    前記測定環境の既定の中心と前記電磁波パターン（５６）の基準原点（５４）との間のずれ（８２）を決定するステップ（６２０）および前記決定されたずれ（８２）を使用して前記検出された無線周波電磁波パターン（５６）の評価結果を修正するステップをさらに含む、請求項１５に記載の方法。
19. 前記ＤＵＴ（３０；７０）から無線周波電磁波パターン（５６）を検出するステップは、前記ＤＵＴ（３０；７０）から受信した前記電磁波パターン（５６）を検出するステップまたは前記ＤＵＴ（３０；７０）によって前記電磁波パターン（５６）を検出するステップを含む、請求項１２～請求項１８のいずれか１項に記載の方法。
20. 前記ＣＯＲＲ（５２）は、前記ＤＵＴ（３０；７０）の容積の外側、前記ＤＵＴの筐体の表面、または前記ＤＵＴの筐体の内側に位置するように決定される、請求項１～請求項１９のいずれか１項に記載の方法。
21. 前記３次元方位情報は、前記無線周波電磁波パターン（５６）に関連する周波数を示す情報、予定している放射ビームパターンの種類を示す情報、前記電磁波パターンの形成に使用される電力を示す情報、前記電磁波パターンに重畳する電磁波パターンの数を示す情報のうちの少なくとも１つを含む、請求項１～請求項２０のいずれか１項に記載の方法。
22. 前記ＣＯＲＲ（５２）は、前記ＤＵＴ（３０；７０）のアンテナアレイ（４４）の中心とは異なる、請求項１～請求項２１のいずれか１項に記載の方法。
23. 請求項１０～請求項２２のいずれか１項に記載の方法を実行するように構成された測定システム（８０；８０´）。
24. 前記３次元方位情報は、第１の電磁波パターン（５６ ₁ ）の第１の基準原点（５４ ₁ ）および第２の電磁波パターン（５６2）の第２の基準原点（５４ ₂ ）を示す情報と、前記第１の電磁波パターン（５６ ₁ ）の第１の方向情報（５８ ₁ ）および前記第２の電磁波パターン（５６ ₂ ）の第２の方向情報（５８ ₂ ）と、を含み、
    前記測定システムは、前記検出された無線周波電磁波パターン（５６ ₃ ）が前記第１の電磁波パターン（５６ ₁ ）と前記第２の電磁波パターン（５６ ₂ ）との重畳に一致するかを評価するように構成される、請求項２３に記載の測定システム。
25. 前記測定システムは、前記電磁波パターン（５６）の近接場（ＮＦ）において前記電磁波パターン（５６）を検出し、前記電磁波パターン（５６）の遠方界（ＦＦ）において前記電磁波パターン（５６）の特性を外挿するように適合されている、請求項２３または請求項２４に記載の測定システム。
26. コンピュータ上で実行されると、請求項１～請求項２２のいずれか１項に記載の方法を実行する命令を格納するコンピュータ可読媒体を含む非一時的なコンピュータプログラム製品。

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