KR102635037B1 - 메모리 모듈 검사용 고정치구 - Google Patents

메모리 모듈 검사용 고정치구 Download PDF

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KR102635037B1
KR102635037B1 KR1020230105363A KR20230105363A KR102635037B1 KR 102635037 B1 KR102635037 B1 KR 102635037B1 KR 1020230105363 A KR1020230105363 A KR 1020230105363A KR 20230105363 A KR20230105363 A KR 20230105363A KR 102635037 B1 KR102635037 B1 KR 102635037B1
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memory card
driving body
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금동식
최정기
김준기
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주식회사 지엠이
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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Abstract

본 발명은 메모리 모듈 검사용 고정치구에 있어서, 상기 메모리카드(100)를 거치하는 카드거치부(200)와, 상기 카드거치부(200)를 장착하여 구동하는 구동몸체(300)와, 상기 구동몸체를 가이드 되도록 장착한 베이스(400)를 포함하며, 상기 카드거치부(200)가 장착된 구동몸체(300)는 상기 베이스(400)의 중앙에 배치되고, 상기 메모리카드(100)의 작동을 측정하는 메인피시비(500)는 상기 메모리카드(100)와 마주보도록 배치되어 상기 구동몸체(300)가 상기 매인피시비(500)로 향하거나 반대쪽으로 구동함으로써 상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉되거나 탈락되며, 상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉한 상태에서 상기 메모리카드의 작동여부를 검사하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구가 제공된다.

Description

메모리 모듈 검사용 고정치구{Fixture for memory module inspection}
본 발명은 메모리 모듈 검사용 고정치구에 관한 것으로, 보다 상세하게는 캠 (CAMM) / 엘피 캠(LP-CAMM) 의 검사장치의 고정치구에 관한 것이다.
기존의 전자기기에 사용되던 딤(DIMM, Dual In-line Memory Module)은 전자기기의 주기억장치로써 CPU의 연산과 동작에 필요한 내용들이 저장되는 장치이다.
이러한 DIMM은 최근 들어 CAMM(Compression Attached Memory Module) 과LP-CAMM(Low Power Compression Attached Memory Module)이라는 새로운 형태의 모듈이 개발 및 상용화되고 있다.
그러나 CAMM 과 LP-CAMM 은 기존의 DIMM과 형태 및 구조가 상이하기 때문에 이에 적합한 새로운 검사장치를 개발할 필요가 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 메모리카드의 작동여부를 검사할 수 있는 메모리 모듈 검사용 고정치구를 제공하고자 하는데 그 목적이 있다.
그러나 본 발명의 목적은 상기에 언급된 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 메모리 모듈 검사용 고정치구에 있어서, 상기 메모리카드(100)를 거치하는 카드거치부(200)와, 상기 카드거치부(200)를 장착하여 구동하는 구동몸체(300)와, 상기 구동몸체를 가이드 되도록 장착한 베이스(400)를 포함하며, 상기 카드거치부(200)가 장착된 구동몸체(300)는 상기 베이스(400)의 중앙에 배치되고, 상기 메모리카드(100)의 작동을 측정하는 메인피시비(500)는 상기 메모리카드(100)와 마주보도록 배치되어 상기 구동몸체(300)가 상기 매인피시비(500)로 향하거나 반대쪽으로 구동함으로써, 상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉되거나 탈락되며, 상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉한 상태에서 상기 메모리카드의 작동여부를 검사하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구가 제공된다.
또한, 상기 베이스(400)와 상기 메인피시비(500)는 구속수단에 의해 서로 구속되도록 연결되며, 상기 베이스에 장착된 상기 구동몸체(300)가 메인피시비 쪽으로 이동하여 상기 메인피시비와 상기 메모리카드가 전기적으로 접촉되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구가 제공된다.
또한, 상기 구속수단은 상기 베이스(400)의 양쪽에 배치되되, 상기 베이스에서 상기 메인피시비(500)를 향해 돌출된 스페이서(410)와, 상기 스페이서의 끝단에 상기 메인피시비와 연결되는 연결부를 포함하며, 상기 연결부는 상기 스페이서(410)의 끝단을 상기 메인피시비(500)의 뒷면에 배치된 고정바(420)가 포함되고, 상기 고정바에는 암나사부(425)가 구비되며, 상기 스페이서(410)의 끝단에는 나사부(415)가 가공됨에 따라 상기 나사부(415)가 상기 암나사부(425)에 결합되어 고정되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구가 제공된다.
또한, 상기 구동몸체(300)와 상기 베이스(400) 사이에는 리니어가이드(460,470)가 상기 구동몸체의 이동방향으로 배치되어 상기 구동몸체는 상기 리니어가이드에 의해 가이드 되면서 상기 구동몸체가 앞뒤로 이동하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 베이스(400)의 상면에는 사각돌출부(450)가 구비되고, 상기 구동몸체(300)에서 상기 베이스(400)의 상면과 접하여 구동하는 하면에는 상기 사각돌출부(450)에 대응되도록 사각오목부(350)가 구비되며, 상기 사각오목부(350)의 좌측에 형성된 좌레그(360)와 우측에 형성된 우레그(370)가 배치됨에 따라, 상기 좌레그와 상기 사각돌출부의 일면 사이에 좌리니어가이드(460)가 구비되고, 상기 우레그와 상기 사각돌출부의 타면 사이에 우리니어가이드(470)가 구비되고, 상기 좌리이너가이드와 상기 우리니어가이드에의해 상기 베이스에서 상기 구동몸체(300)가 앞뒤로 이동하는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 메모리카드(100)는 앞면(103)과 뒷면과 좌측면(107) 및 우측면(109)과 상하면으로 형성된 판재형태이고, 상기판재의 앞쪽의 위쪽에 다수의 메모리(110)가 배치되고, 상기 판재의 앞쪽의 아래쪽에는 외부와 전기적으로 접속되는 다수의 제1단자부(120)가 구비되며, 상기 카드거치부(200)는 상기 메모리카드가 수납되는 수납부(210)와 메모리카드의 하방이동을 방지하는 하방스토퍼(220)가 구비되며, 상기 메모리 카드를 수납부에 삽입되기 위해 좌측에 좌슬롯부(205)와 우측에 우슬롯부(207)를 구비하여 상기 좌슬롯부(205)에는 상기 메모리카드의 좌측면(107)이 끼워지고, 상기 우슬롯부(207)에는 상기 메모리카드의 우측면(109)이 끼워져 상기 메모리카드가 상기 수납부(210)에 끼워지는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 수납부(210)에 메모리카드(100)의 존재여부를 확인하는 검출센서가 구비되어 상기 수납부에 메모리카드가 끼워졌는지 여부를 확인한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다.
이에 앞서 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이고 사전적인 의미로 해석되어서는 아니 되며, 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명에 따르면, CAMM(Compression Attached Memory Module) 형태의 메모리카드의 작동여부를 검사할 수 있는 검사장치를 제공할 수 있다.
또한, CAMM 메모리카드의 작동 신호를 간편하게 자동 검사할 수 있게 되므로 검사시간 및 검사비용을 절감할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 메모리 모듈 검사용 고정치구의 분해 사시도,
도 2는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 카드거치부의 평면도와 정면도 및 측면도,
도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 베이스와 구동몸체의 결합상태를 개략적으로 도시한 도,
도 4는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 베이스와 메인피시비의 결합상태를 개략적으로 도시한 도,
도 5는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 메인피시비의 정면도이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다. 이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다.
또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 하여 내려져야 할 것이다.
아울러, 아래의 실시예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것이 아니라 본 발명의 청구범위에 제시된 구성요소의 예시적인 사항에 불과하며, 본 발명의 명세서 전반에 걸친 기술사상에 포함되고 청구범위의 구성요소에서 균등물로서 치환 가능한 구성요소를 포함하는 실시예는 본 발명의 권리범위에 포함될 수 있다.
첨부된 도 1은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 메모리 모듈 검사용 고정치구의 분해 사시도, 도 2는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 카드거치부의 평면도와 정면도 및 측면도, 도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 베이스와 구동몸체의 결합상태를 개략적으로 도시한 도, 도 4는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 베이스와 메인피시비의 결합상태를 개략적으로 도시한 도, 도 5는 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 메인피시비의 정면도이다.
도 1 이하에 도시된 바와 같이 본 발명은 메모리 모듈 검사용 고정치구에 있어서, 상기 메모리카드(100)를 거치하는 카드거치부(200)와, 상기 카드거치부(200)를 장착하여 구동하는 구동몸체(300)와, 상기 구동몸체를 가이드 되도록 장착한 베이스(400)를 포함하며,
상기 카드거치부(200)가 장착된 구동몸체(300)는 상기 베이스(400)의 중앙에 배치되고, 상기 메모리카드(100)의 작동을 측정하는 메인피시비(500)는 상기 메모리카드(100)와 마주보도록 배치되어 상기 구동몸체(300)가 상기 메인피시비(500)로 향하거나 반대쪽으로 구동한다.
따라서 상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉되거나 탈락되며, 상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉한 상태에서 상기 메모리카드의 작동여부를 검사한다.
또한, 상기 베이스(400)와 상기 메인피시비(500)는 구속수단에 의해 서로 구속되도록 연결되며, 상기 베이스에 장착된 상기 구동몸체(300)가 메인피시비 쪽으로 이동하여 상기 메인피시비와 상기 메모리카드가 전기적으로 접촉된다.
또한, 상기 구속수단은 상기 베이스(400)의 양쪽에 배치되되, 상기 베이스에서 상기 메인피시비(500)를 향해 돌출된 스페이서(410)와, 상기 스페이서의 끝단에 상기 메인피시비와 연결되는 연결부가 포함된다.
또한, 도 1 및 도 4를 참조하면, 상기 연결부는 상기 스페이서(410)의 끝단을 상기 메인피시비(500)의 뒷면에 배치된 고정바(420)가 포함되고, 상기 고정바에는 암나사부(425)가 구비되며, 상기 스페이서(410)의 끝단에는 나사부(415)가 가공됨에 따라 상기 나사부(415)가 상기 암나사부(425)에 결합되어 고정된다.
또한, 도 1 및 도 3을 참조하면, 상기 구동몸체(300)와 상기 베이스(400) 사이에는 리니어가이드(460,470)가 상기 구동몸체의 이동방향으로 배치되어 상기 구동몸체는 상기 리니어가이드에 의해 가이드 되면서 상기 구동몸체가 앞뒤로 이동하는 것을 특징으로 한다.
또한, 도 3을 참조하면, 상기 베이스(400)의 상면에는 사각돌출부(450)가 구비되고, 상기 구동몸체(300)에서 상기 베이스(400)의 상면과 접하여 구동하는 하면에는 상기 사각돌출부(450)에 대응되도록 사각오목부(350)가 구비된다.
또한, 상기 사각오목부(350)의 좌측에 형성된 좌레그(360)와 우측에 형성된 우레그(370)가 배치됨에 따라, 상기 좌레그와 상기 사각돌출부의 일면 사이에 좌리니어가이드(460)가 구비된다.
그리고 상기 우레그와 상기 사각돌출부의 타면 사이에 우리니어가이드(470)가 구비되고, 상기 좌리이너가이드와 상기 우리니어가이드에의해 상기 베이스에서 상기 구동몸체(300)가 앞뒤로 이동한다.
또한, 상기 구동몸체(300)는 별도의 공압실린더(미도시)의 작동에 따라 공압실린더의 로드가 상기 구동몸체와 결합되어 상기 구동몸체를 앞뒤로 구동할 수 있다.
한편, 도 1 을 참조하면, 상기 메모리카드(100)는 앞면(103)과 뒷면과 좌측면(107) 및 우측면(109)과 상하면으로 형성된 판재형태로 구비된다.
또한, 상기 판재의 앞쪽의 위쪽에 다수의 메모리(110)가 배치되고, 상기 판재의 앞쪽의 아래쪽에는 외부와 전기적으로 접속되는 다수의 제1단자부(120)가 구비된다.
그리고 도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 카드거치부(200)는 상기 메모리카드가 수납되는 수납부(210)와, 메모리카드의 하방이동을 방지하는 하방스토퍼(220)가 구비되며,
상기 메모리 카드를 수납부에 삽입되기 위해 좌측에 좌슬롯부(205)와 우측에 우슬롯부(207)를 구비하여 상기 좌슬롯부(205)에는 상기 메모리카드의 좌측면(107)이 끼워지고, 상기 우슬롯부(207)에는 상기 메모리카드의 우측면(109)이 끼워져 상기 메모리카드가 상기 수납부(210)에 끼워지도록 구비된다.
또한, 상기 수납부(210)에 메모리카드(100)의 존재여부를 확인하는 검출센서가 구비되어 상기 수납부에 메모리카드가 끼워졌는지 여부를 확인할 수 있다.
또한, 상기 검출센서는"ㄷ"형태로 형성되어 상기 메모리카드(100)의 좌측면 또는 우측면이 끼워지도록 구성된다.
또한, 상기 검출센서는 "ㄷ"형태의 가운데 홈에 상기 메모리카드의 좌측면 또는 우측면이 끼워지면 on으로 판정하고, 끼워지지 않으면 off로 판정한다.
또한, 상기 검출센서는 상기 메모리카드(100)의 좌측면의 유무를 확인하는 좌검출센서(270)와, 상기 메모리카드의 우측면의 유무를 확인하는 우검출센서(271)가 구비된다.
또한, 상기 좌검출센서(270)는 상기 좌슬롯부(205)의 아래쪽의 좌공간부(230)에 배치되어 상기 메모리카드의 좌측면이 상기 좌슬롯부에 끼워질 때 상기 좌검출센서도 통과하도록 배치된다.
또한, 상기 우검출센서(271)는 상기 우슬롯부(207)의 아래쪽의 우공간부(231)에 배치되어 상기 메모리카드의 우측면이 상기 우슬롯부에 끼워질 때 상기 우검출센서도 통과하도록 배치된다.
또한, 상기 카드거치부(200)에서 좌슬롯부의 앞면을 좌앞면부(204)라 하고 우슬롯부의 앞면을 우앞면부(206)라 할 때,
상기 수납부(210)에 상기 메모리카드(100)를 끼워 넣을 때 상기 메모리카드의 앞면에 배치된 다수의 메모리(110)의 아래쪽에 배치된 제1단자부(120)는 상기 좌앞면부와 상기 우앞면부의 안쪽에 위치함에 따라 상기 좌앞면부와 상기 우앞면부가 상기 다수의 메모리(110)를 보호한다.
한편, 상기 카드거치부(200)에서 좌슬롯부(205)의 앞면을 좌앞면부(204)라 하고 우슬롯부의 앞면을 우앞면부(206)라 할 때,
상기 수납부에 상기 메모리카드를 끼워 넣을 때 상기 메모리카드의 앞면에 배치된 제1단자부(120)는 상기 좌앞면부와 상기 우앞면부의 안쪽에 위치함에 따라 상기 메인피시비(500)에 상기 제1단자부(120)와 전기적으로 접속하기 위해 배치된 제2단자부(520)의 사이에는 상기 제1단자부와 상기 제2단자부를 연결하는 연결단자부(530)가 별도로 구비된다.
또한, 상기 메모리카드(100)의 종류에 따라 제1단자부(120)의 높이가 차이나는 경우 상기 연결단자부의 두께가 다른 다수개를 구비하여 제1단자부와 제2단자부를 연결하도록 한다.
이상 본 발명을 구체적인 실시예를 통하여 상세히 설명하였으나, 이는 본 발명을 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 그 변형이나 개량이 가능함이 명백하다.
본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 모두 본 발명의 범주에 속하는 것으로 본 발명의 구체적인 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의해 명확해질 것이다.
100 : 메모리카드 107 : 좌측면
109 : 우측면 110 : 메모리
120 : 제1단자부 200 : 카드거치부
204 : 좌앞면부 205 : 좌슬롯부
206 : 우앞면부 207 : 우슬롯부
210 : 수납부 220 : 하방스토퍼
230 : 좌공간부 231 : 우공간부
270 : 좌검출센서 271 : 우검출센서
300 : 구동몸체 350 : 사각오목부
360 : 좌레그 370 : 우레그
400 : 베이스 410 : 스페이서
415 : 나사부 420 : 고정바
425 : 암나사부 450 : 사각돌출부
460,470 : 리니어가이드 500 : 메인피시비
520 : 제2단자부 530 : 연결단자부

Claims (8)

  1. 메모리 모듈 검사용 고정치구에 있어서,
    메모리카드(100)를 거치하는 카드거치부(200)와,
    상기 카드거치부(200)를 장착하여 구동하는 구동몸체(300)와,
    상기 구동몸체를 가이드 되도록 장착한 베이스(400)를 포함하며,
    상기 카드거치부(200)가 장착된 구동몸체(300)는 상기 베이스(400)의 중앙에 배치되고,
    상기 메모리카드(100)의 작동을 측정하는 메인피시비(500)는 상기 메모리카드(100)와 마주보도록 배치되어 상기 구동몸체(300)가 상기 메인피시비(500)로 향하거나 반대쪽으로 구동함으로써,
    상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉되거나 탈락되며, 상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉한 상태에서 상기 메모리카드의 작동여부를 검사하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구
  2. 제1항에 있어서,
    상기 베이스(400)와 상기 메인피시비(500)는 구속수단에 의해 서로 구속되도록 연결되며, 상기 베이스에 장착된 상기 구동몸체(300)가 메인피시비 쪽으로 이동하여 상기 메인피시비와 상기 메모리카드가 전기적으로 접촉되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구
  3. 제2항에 있어서,
    상기 구속수단은 상기 베이스(400)의 양쪽에 배치되되, 상기 베이스에서 상기 메인피시비(500)를 향해 돌출된 스페이서(410)와, 상기 스페이서의 끝단에 상기 메인피시비와 연결되는 연결부가 포함되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구
  4. 제3항에 있어서,
    상기 연결부는 상기 스페이서(410)의 끝단을 상기 메인피시비(500)의 뒷면에 배치된 고정바(420)가 포함되고,
    상기 고정바에는 암나사부(425)가 구비되며, 상기 스페이서(410)의 끝단에는 나사부(415)가 가공됨에 따라 상기 나사부(415)가 상기 암나사부(425)에 결합되어 고정되는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구
  5. 제4항에 있어서,
    상기 구동몸체(300)와 상기 베이스(400) 사이에는 리니어가이드(460,470)가 상기 구동몸체의 이동방향으로 배치되어 상기 구동몸체는 상기 리니어가이드에 의해 가이드 되면서 상기 구동몸체가 앞뒤로 이동하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구
  6. 제5항에 있어서,
    상기 베이스(400)의 상면에는 사각돌출부(450)가 구비되고,
    상기 구동몸체(300)에서 상기 베이스(400)의 상면과 접하여 구동하는 하면에는 상기 사각돌출부(450)에 대응되도록 사각오목부(350)가 구비되며,
    상기 사각오목부(350)의 좌측에 형성된 좌레그(360)와 우측에 형성된 우레그(370)가 배치됨에 따라, 상기 좌레그와 상기 사각돌출부의 일면 사이에 좌리니어가이드(460)가 구비되고, 상기 우레그와 상기 사각돌출부의 타면 사이에 우리니어가이드(470)가 구비되고, 상기 좌리니어가이드와 상기 우리니어가이드에의해 상기 베이스에서 상기 구동몸체(300)가 앞뒤로 이동하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구
  7. 제6항에 있어서,
    상기 구동몸체(300)는 별도의 공압실린더(미도시)의 작동에 따라 공압실린더의 로드가 상기 구동몸체와 결합되어 상기 구동몸체를 앞뒤로 구동하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구
  8. 제5항에 있어서,
    상기 메모리카드(100)는 앞면(103)과 뒷면과 좌측면(107) 및 우측면(109)과 상하면으로 형성된 판재형태이고,
    상기판재의 앞쪽의 위쪽에 다수의 메모리(110)가 배치되고, 상기 판재의 앞쪽의 아래쪽에는 외부와 전기적으로 접속되는 다수의 제1단자부(120)가 구비되며,
    상기 카드거치부(200)는 상기 메모리카드가 수납되는 수납부(210)와 메모리카드의 하방이동을 방지하는 하방스토퍼(220)가 구비되며,
    상기 메모리 카드를 수납부에 삽입되기 위해 좌측에 좌슬롯부(205)와 우측에 우슬롯부(207)를 구비하여 상기 좌슬롯부(205)에는 상기 메모리카드의 좌측면(107)이 끼워지고, 상기 우슬롯부(207)에는 상기 메모리카드의 우측면(109)이 끼워져 상기 메모리카드가 상기 수납부(210)에 끼워지는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구










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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100935409B1 (ko) * 2009-01-15 2010-01-06 주식회사 유니세트 메모리 모듈 성능 시험장치
KR20120019550A (ko) * 2010-08-26 2012-03-07 주식회사 유니세트 메모리모듈 실장 테스터기의 착탈지그용 암수 분할 힌지핀
KR20130122090A (ko) * 2012-04-30 2013-11-07 한국몰렉스 주식회사 듀얼 메모리카드 소켓 및 그 제조방법
KR101671152B1 (ko) * 2016-08-18 2016-11-01 주식회사 사트 메모리 모듈 온도검사장치
KR101892945B1 (ko) * 2017-07-24 2018-08-30 주식회사 에스에프에이 메모리카드 테스트용 키트 및 그를 구비하는 메모리카드 테스트 장치, 그리고 상기 메모리카드 테스트 장치가 적용되는 메모리카드 테스트 시스템
KR102174744B1 (ko) * 2020-09-02 2020-11-05 제이엠아이 주식회사 Usb 플래시메모리카드에 저장된 내부 프로그램의 실행 불량여부 검사장치
US20220344309A1 (en) * 2020-07-22 2022-10-27 Dell Products L.P. System and method for stacking compression attached memory modules
US20230005882A1 (en) * 2022-09-02 2023-01-05 Intel Corporation Memory on package (mop) with reverse camm (compression attached memory module) and cmt connector

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100935409B1 (ko) * 2009-01-15 2010-01-06 주식회사 유니세트 메모리 모듈 성능 시험장치
KR20120019550A (ko) * 2010-08-26 2012-03-07 주식회사 유니세트 메모리모듈 실장 테스터기의 착탈지그용 암수 분할 힌지핀
KR20130122090A (ko) * 2012-04-30 2013-11-07 한국몰렉스 주식회사 듀얼 메모리카드 소켓 및 그 제조방법
KR101671152B1 (ko) * 2016-08-18 2016-11-01 주식회사 사트 메모리 모듈 온도검사장치
KR101892945B1 (ko) * 2017-07-24 2018-08-30 주식회사 에스에프에이 메모리카드 테스트용 키트 및 그를 구비하는 메모리카드 테스트 장치, 그리고 상기 메모리카드 테스트 장치가 적용되는 메모리카드 테스트 시스템
US20220344309A1 (en) * 2020-07-22 2022-10-27 Dell Products L.P. System and method for stacking compression attached memory modules
KR102174744B1 (ko) * 2020-09-02 2020-11-05 제이엠아이 주식회사 Usb 플래시메모리카드에 저장된 내부 프로그램의 실행 불량여부 검사장치
US20230005882A1 (en) * 2022-09-02 2023-01-05 Intel Corporation Memory on package (mop) with reverse camm (compression attached memory module) and cmt connector

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