KR102514723B1 - Display Device - Google Patents

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KR102514723B1 KR1020160073970A KR20160073970A KR102514723B1 KR 102514723 B1 KR102514723 B1 KR 102514723B1 KR 1020160073970 A KR1020160073970 A KR 1020160073970A KR 20160073970 A KR20160073970 A KR 20160073970A KR 102514723 B1 KR102514723 B1 KR 102514723B1
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Abstract

본 발명의 표시장치는 화소 어레이, 쉬프트레지스터 및 게이트 로우전압 제어부를 포함한다. 화소 어레이에는 데이터라인들과 게이트라인들이 정의되고, 화소들이 매트릭스 형태로 배치된다. 쉬프트레지스터는 종속적으로 연결되는 스테이지를 포함하며, 게이트 하이전압과 게이트 로우전압 사이에서 스윙하는 게이트펄스를 게이트라인들에 순차적으로 공급한다. 게이트 로우전압 제어부는 스테이지의 누설 전류가 일정 수준 이상일 경우에 게이트 로우전압을 낮춘다. 제n 스테이지는 풀업 트랜지스터, 풀다운 트랜지스터, 스타트 제어부 및 QB 노드 방전제어부를 포함한다. 풀업 트랜지스터는 Q노드의 전압에 응답하여 출력단을 충전시켜서, 제n 게이트펄스를 출력한다. 풀다운 트랜지스터는 QB 노드의 전압에 응답하여 출력단을 게이트 로우전압으로 방전시킨다. 스타트 제어부는 스타트펄스 또는 상기 제n 게이트펄스 이외의 게이트펄스에 응답하여 Q 노드를 프리챠징한다.The display device of the present invention includes a pixel array, a shift register, and a gate low voltage controller. Data lines and gate lines are defined in the pixel array, and pixels are arranged in a matrix form. The shift register includes stages connected in cascade, and sequentially supplies gate pulses swinging between a gate high voltage and a gate low voltage to the gate lines. The gate low voltage controller lowers the gate low voltage when the leakage current of the stage exceeds a predetermined level. The n-th stage includes a pull-up transistor, a pull-down transistor, a start controller, and a QB node discharge controller. The pull-up transistor charges the output terminal in response to the voltage of the Q node and outputs an nth gate pulse. The pull-down transistor discharges the output stage to a gate low voltage in response to the voltage at the QB node. The start controller precharges the Q node in response to a start pulse or a gate pulse other than the nth gate pulse.

Description

표시장치{Display Device}Display Device {Display Device}

본 발명은 표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to a display device.

표시장치는 데이터라인들과 게이트라인들이 직교되도록 배치되고 픽셀들이 매트릭스 형태로 배치된다. 데이터라인들에는 표시하고자 하는 비디오 데이터전압이 공급되고 게이트라인들에는 게이트펄스가 순차적으로 공급된다. 게이트펄스가 공급되는 표시라인의 픽셀들에 비디오 데이터전압이 공급되며, 모든 표시라인들이 게이트펄스에 의해 순차적으로 스캐닝되면서 비디오 데이터를 표시한다. In the display device, data lines and gate lines are arranged to be orthogonal, and pixels are arranged in a matrix form. Video data voltages to be displayed are supplied to the data lines, and gate pulses are sequentially supplied to the gate lines. The video data voltage is supplied to the pixels of the display line to which the gate pulse is supplied, and video data is displayed while all the display lines are sequentially scanned by the gate pulse.

표시장치의 게이트라인들에 게이트펄스를 공급하기 위한 게이트 구동부는 통상 다수의 게이트 집적회로(Integrated Circuit, 이하 "IC"라 함)를 포함한다. 게이트 드라이브 IC 각각은 게이트펄스를 순차적으로 출력하여야 하기 때문에 기본적으로 쉬프트 레지스터를 포함하며, 표시패널의 구동특성에 따라 쉬프트 레지스터의 출력 전압을 조정하기 위한 회로들과 출력 버퍼들을 포함할 수 있다.A gate driver for supplying gate pulses to gate lines of a display device usually includes a plurality of gate integrated circuits (hereinafter referred to as “ICs”). Since each gate drive IC must sequentially output gate pulses, it basically includes a shift register, and may include circuits and output buffers for adjusting the output voltage of the shift register according to the driving characteristics of the display panel.

표시장치에서 스캔신호인 게이트펄스를 생성하는 게이트 구동부는 표시패널에서 비표시영역인 베젤 영역에 박막 트랜지스터들의 조합으로 이루어지는 게이트-인-패널(Gate Ii Paiel, 이하 GIP) 형태로 구현되기도 한다. GIP 형태의 게이트 구동부는 게이트라인의 개수에 대응하는 스테이지를 구비하여, 각 스테이지는 일대일로 대응하는 게이트라인에 게이트펄스를 출력한다.A gate driver generating a gate pulse, which is a scan signal, in a display device may be implemented in the form of a gate-in-panel (Gate II Paiel, hereinafter referred to as GIP) consisting of a combination of thin film transistors in a bezel area, which is a non-display area, of a display panel. The GIP type gate driver includes stages corresponding to the number of gate lines, and each stage outputs gate pulses to corresponding gate lines on a one-to-one basis.

쉬프트레지스터에 포함되는 박막트랜지스터는 시간이 지나면서 트랜지스터 특성 곡선이 네거티브 쉬프트(Negative Shift)되어 누설전류가 증가한다. 특정 박막트랜지스터의 누설전류가 증가하면 원하지 않는 기간 동안에 트랜지스터들이 동작하게 되어서 트랜지스터의 스트레스(stress)가 심해지고 발열이 증가하는 문제점이 있다. In the thin film transistor included in the shift register, a transistor characteristic curve is negatively shifted over time, so leakage current increases. When the leakage current of a specific thin film transistor increases, the transistors operate for an undesirable period, causing stress in the transistor to increase and heat generation to increase.

상술한 문제점을 해결하기 위해서 본 발명은 쉬프트레지스터에 속하는 트랜지스터의 누설전류로 인한 문제점을 개선할 수 있는 표시장치를 제공하기 위한 것이다.In order to solve the above problems, the present invention is to provide a display device capable of improving problems caused by leakage current of transistors belonging to shift registers.

상술한 과제 해결 수단으로 본 발명의 표시장치는 화소 어레이, 쉬프트레지스터 및 게이트 로우전압 제어부를 포함한다. 화소 어레이에는 데이터라인들과 게이트라인들이 정의되고, 화소들이 매트릭스 형태로 배치된다. 쉬프트레지스터는 종속적으로 연결되는 스테이지를 포함하며, 게이트 하이전압과 게이트 로우전압 사이에서 스윙하는 게이트펄스를 게이트라인들에 순차적으로 공급한다. 게이트 로우전압 제어부는 스테이지의 누설 전류가 일정 수준 이상일 경우에 게이트 로우전압을 낮춘다. 제n 스테이지는 풀업 트랜지스터, 풀다운 트랜지스터, 스타트 제어부 및 QB 노드 방전제어부를 포함한다. 풀업 트랜지스터는 Q노드의 전압에 응답하여 출력단을 충전시켜서, 제n 게이트펄스를 출력한다. 풀다운 트랜지스터는 QB 노드의 전압에 응답하여 출력단을 게이트 로우전압으로 방전시킨다. 스타트 제어부는 스타트펄스 또는 상기 제n 게이트펄스 이외의 게이트펄스에 응답하여 Q 노드를 프리챠징한다. As a means for solving the above problems, the display device of the present invention includes a pixel array, a shift register, and a gate low voltage controller. Data lines and gate lines are defined in the pixel array, and pixels are arranged in a matrix form. The shift register includes stages connected in cascade, and sequentially supplies gate pulses swinging between a gate high voltage and a gate low voltage to the gate lines. The gate low voltage controller lowers the gate low voltage when the leakage current of the stage exceeds a predetermined level. The n-th stage includes a pull-up transistor, a pull-down transistor, a start controller, and a QB node discharge controller. The pull-up transistor charges the output terminal in response to the voltage of the Q node and outputs an nth gate pulse. The pull-down transistor discharges the output stage to a gate low voltage in response to the voltage at the QB node. The start controller precharges the Q node in response to a start pulse or a gate pulse other than the nth gate pulse.

본 발명은 스테이지의 누설전류량에 따라 게이트펄스의 게이트 로우전압의 전압레벨을 낮춘다. 그로 인해서 게이트펄스를 캐리신호로 입력받는 스타트 제어부의 게이트전극의 전압레벨이 낮아져서 스타트 제어부의 누설전류를 줄일 수 있다. 스타트 제어부의 누설전류량이 줄어들면 Q 노드가 원치 않는 기간에 프리챠징되는 것을 방지할 수 있고, 그 결과 Q 노드의 프리챠징으로 인해서 장시간 트랜지스터들이 동작하여 발열문제가 발생하는 것을 개선할 수 있다.According to the present invention, the voltage level of the gate low voltage of the gate pulse is lowered according to the amount of leakage current of the stage. As a result, the voltage level of the gate electrode of the start control unit receiving the gate pulse as a carry signal is lowered, thereby reducing the leakage current of the start control unit. If the amount of leakage current of the start control unit is reduced, it is possible to prevent the Q node from being precharged during an unwanted period, and as a result, it is possible to improve the problem of heat generation caused by the operation of transistors for a long time due to the precharging of the Q node.

도 1은 본 발명에 의한 표시장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 제1 실시 예에 의한 쉬프트레지스터를 나타내는 도면이다.
도 3은 제1 실시 예에 의한 스테이지를 나타내는 도면이다.
도 4는 쉬프트레지스터의 입력 및 출력을 나타내는 타이밍도이다.
도 5는 본 발명에 의한 게이트 로우전압 제어부의 동작을 나타내는 순서도이다.
도 6은 본 발명에 의한 게이트 로우전압 제어부의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 7은 트랜지스터 특성 곡선의 쉬프트로 인한 누설전류량의 증가를 설명하는 도면이다.
도 8은 제2 실시 예에 의한 쉬프트레지스터를 나태는 도면이다.
도 9는 제2 실시 예에 의한 스테이지를 나타내는 도면이다.
1 is a view showing a display device according to the present invention.
2 is a diagram showing a shift register according to the first embodiment.
3 is a diagram showing a stage according to the first embodiment.
4 is a timing diagram showing inputs and outputs of shift registers.
5 is a flowchart illustrating the operation of the gate low voltage controller according to the present invention.
6 is a block diagram showing the configuration of a gate low voltage controller according to the present invention.
7 is a diagram explaining an increase in leakage current due to a shift in a transistor characteristic curve.
8 is a view showing a shift register according to the second embodiment.
9 is a diagram showing a stage according to a second embodiment.

이하 첨부된 도면을 참조하여 액정표시장치를 중심으로 본 발명에 따른 바람직한 실시 예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소들의 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것으로, 실제 제품의 명칭과는 상이할 수 있다. Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, focusing on the liquid crystal display device. Like reference numbers throughout the specification indicate substantially the same elements. In the following description, if it is determined that a detailed description of a known function or configuration related to the present invention may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, the detailed description will be omitted. The names of the components used in the following description are selected in consideration of the ease of writing the specification, and may differ from the names of actual products.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시장치를 보여주는 블록도이다. 도 1을 참조하면, 본 발명의 표시장치는 표시패널(100), 타이밍 콘트롤러(110), 데이터 구동부(120) 및 스캔 구동부(130,150) 등을 구비한다.1 is a block diagram showing a display device according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1 , the display device of the present invention includes a display panel 100 , a timing controller 110 , a data driver 120 , and scan drivers 130 and 150 .

표시패널(100)은 데이터라인(DL) 및 게이트라인(GL)이 정의되고 화소들이 배치되는 화소 어레이(100A), 화소 어레이(100A)의 외측으로 각종 신호라인들이나 패드 등이 형성되는 비표시영역(100B)을 포함한다. 표시패널(100)은 액정표시장치(LCD), 유기발광다이오드 표시장치(OLED), 전기영동 표시장치(EPD) 등을 이용할 수 있다. The display panel 100 includes a pixel array 100A in which data lines DL and gate lines GL are defined and pixels are disposed, and a non-display area in which various signal lines or pads are formed outside the pixel array 100A. (100B). The display panel 100 may use a liquid crystal display (LCD), an organic light emitting diode display (OLED), an electrophoretic display (EPD), or the like.

타이밍 콘트롤러(110)는 영상보드에 연결된 LVDS 또는 TMDS 인터페이스 수신회로 등을 통해 수직 동기신호(Vsync), 수평 동기신호(Hsync), 데이터 인에이블 신호(DE), 도트 클럭(DLCK) 등의 타이밍신호를 입력받는다. 타이밍 콘트롤러(110)는 입력된 타이밍신호를 기준으로 데이터 구동부(120)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어신호(DDC) 및 스캔구동부(130,140)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 타이밍 제어신호(GDC)를 생성한다.The timing controller 110 receives timing signals such as a vertical sync signal (Vsync), a horizontal sync signal (Hsync), a data enable signal (DE), and a dot clock (DLCK) through an LVDS or TMDS interface receiving circuit connected to the video board. is input. The timing controller 110 includes a data timing control signal (DDC) for controlling the operation timing of the data driver 120 and a gate timing control signal (for controlling the operation timing of the scan driver 130 and 140) based on the input timing signal. GDC) is created.

데이터 타이밍 제어신호는 소스 스타트 펄스(Source Start Pulse, SSP), 소스 샘플링 클럭(Source Sampling Clock, SSC), 극성제어신호(Polarity, POL), 및 소스 출력 인에이블신호(Source Output Enable, SOE) 등을 포함한다. 소스 스타트 펄스(SSP)는 소스 드라이브 IC들(120)의 쉬프트 스타트 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 라이징 또는 폴링 에지에 기준하여 소스 드라이브 IC들(120) 내에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭신호이다.The data timing control signal includes a source start pulse (SSP), a source sampling clock (SSC), a polarity control signal (Polarity, POL), and a source output enable signal (Source Output Enable, SOE). includes The source start pulse SSP controls shift start timing of the source drive ICs 120 . The source sampling clock SSC is a clock signal that controls sampling timing of data within the source drive ICs 120 based on a rising or falling edge.

스캔 타이밍 제어신호는 스타트펄스(VST) 및 게이트클럭(CLK) 등을 포함한다. 스타트펄스(VST)는 쉬프트레지스터(130)에 입력되어 쉬프트 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트클럭(CLK)은 레벨 쉬프터(150)를 통해 레벨 쉬프팅된 후에 쉬프트레지스터(130)에 입력된다.The scan timing control signal includes a start pulse (VST) and a gate clock (CLK). The start pulse VST is input to the shift register 130 to control the shift start timing. The gate clock CLK is input to the shift register 130 after level shifting through the level shifter 150.

데이터 구동부(120)는 다수의 소스 드라이브 IC(Integrated Circuit)들을 포함한다. 소스 드라이브 IC들은 타이밍 콘트롤러(110)로부터 디지털 비디오 데이터들(RGB)과 소스 타이밍 제어신호(DDC)를 공급받는다. 소스 드라이브 IC들은 소스 타이밍 제어신호(DDC)에 응답하여 디지털 비디오 데이터들(RGB)을 감마전압으로 변환하여 데이터전압을 생성하고, 데이터전압을 표시패널(100)의 데이터 라인들(DL)을 통해 공급한다. The data driver 120 includes a plurality of source drive ICs (Integrated Circuits). The source drive ICs receive digital video data (RGB) and a source timing control signal (DDC) from the timing controller 110 . The source drive ICs generate data voltages by converting digital video data RGB into gamma voltages in response to the source timing control signal DDC, and transmit the data voltages through the data lines DL of the display panel 100. supply

스캔 구동부(130,150)는 레벨 시프터(150) 및 쉬프트레지스터부(130)를 포함한다. 쉬프트레지스터부(130)는 표시패널(100)의 비표시영역(100B)에 형성되는 게이트-인-패널(Gate In Panel; 이하 GIP) 방식으로 형성된다. The scan driving units 130 and 150 include a level shifter 150 and a shift register unit 130 . The shift register unit 130 is formed in the non-display area 100B of the display panel 100 using a Gate In Panel (GIP) method.

레벨 시프터(150)는 IC 형태로 표시패널(100)에 접속되는 인쇄회로기판(미도시)에 형성된다. 레벨 시프터(150)는 타이밍 콘트롤러(110)의 제어에 의해서 클럭신호들(CLK) 및 스타트신호(VST)를 레벨 쉬프팅한 후 쉬프트레지스터부(130)에 공급한다.The level shifter 150 is formed on a printed circuit board (not shown) connected to the display panel 100 in the form of an IC. The level shifter 150 levels shifts the clock signals CLK and the start signal VST under the control of the timing controller 110 and supplies them to the shift register unit 130 .

쉬프트레지스터부(130)는 GIP 방식에 의해 표시패널(100)의 비표시영역(100B)에서 다수의 박막 트랜지스터(이하 TFT) 조합으로 형성된다. 쉬프트레지스터부(130)는 클럭신호(CLK)들 및 스타트펄스(VST)에 대응하여 게이트펄스를 출력한다.The shift register unit 130 is formed by a combination of a plurality of thin film transistors (hereinafter referred to as TFTs) in the non-display area 100B of the display panel 100 by a GIP method. The shift register unit 130 outputs a gate pulse corresponding to the clock signals CLK and the start pulse VST.

게이트 로우전압 제어부(200)는 누설전류량에 따라 게이트 로우전압(VGL_M)을 조절한다. 그 결과 쉬프트레지스터(130)에 포함되는 트랜지스터들이 누설전류에 의해서 열화가 가속되는 것을 개선할 수 있다.The gate low voltage controller 200 adjusts the gate low voltage VGL_M according to the amount of leakage current. As a result, acceleration of deterioration of the transistors included in the shift register 130 due to leakage current can be reduced.

도 2는 제1 실시 예에 의한 쉬프트레지스터의 스테이지를 나타내는 도면이다. 2 is a diagram showing stages of shift registers according to the first embodiment.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명에 의한 쉬프트레지스터(130)는 제1 내지 제n 스테이지(ST1~STn, n은 2 이상의 자연수)를 구비한다. 도 2는 제[n-3] 스테이지(STG[n-3]) 및 제n 스테이지(STGn)를 도시하고 있다.Referring to FIGS. 1 and 2 , the shift register 130 according to the present invention includes first to nth stages (ST1 to STn, where n is a natural number greater than or equal to 2). 2 shows the [n−3]th stage STG[n−3] and the nth stage STGn.

이하의 설명에서 "전단 스테이지"는 기준이 되는 스테이지의 상부에 위치하는 것을 말한다. 예컨대, 제k(k는 1<k<n 인 자연수) 스테이지(STk)을 기준으로, 전단 스테이지는 제1 스테이지(ST1) 내지 제k-1 스테이지(ST(k-1)) 중 어느 하나를 지시한다. "후단 스테이지"는 기준이 되는 스테이지의 하부에 위치하는 것을 말한다. 예컨대, 제k(1<k<n) 스테이지(STk)을 기준으로, 후단 스테이지는 제k+1 스테이지(ST(k+1)) 내지 제n 스테이지 중 어느 하나를 지시한다.In the following description, "front stage" refers to a stage positioned above a standard stage. For example, based on the kth (k is a natural number of 1<k<n) stage STk, the previous stage is any one of the first stage ST1 to the k−1th stage ST(k−1). instruct "Later stage" refers to a stage positioned below a standard stage. For example, based on the k(1<k<n)th stage STk, the next stage indicates any one of the k+1th stage ST(k+1) to the nth stage.

쉬프트레지스터(130)의 각 스테이지(STG)는 게이트펄스(Gout[1]~Gout[n])를 순차적으로 출력한다. 예컨대, 제[n-3] 스테이지(STG[n-3])는 제[n-3] 게이트펄스(Gout[n-3])를 출력하고, 제n 스테이지(STGn)는 제n 게이트펄스(Gout[n])를 출력한다. 이를 위하여, 각 스테이지(STG)는 순차적으로 지연되는 게이트클럭(CLK)들 중에서 한 개의 게이트클럭을 입력받는다. 게이트클럭들은 240Hz 이상의 고속 구동시 충분한 충전시간 확보를 위해 6 상 이상으로 구현될 수 있다. 제[n-3]게이트펄스(Gout[n-3])는 제[n-3]게이트라인에 인가됨과 동시에, 제n 스테이지로 전달되는 캐리신호 역할을 겸한다. 도 2는 제n 스테이지(STGn)에 입력되는 캐리신호가 제[n-3]게이트펄스(Gout[n-3])인 것을 도시하고 있지만, 캐리신호는 이에 한정되지 않는다.Each stage STG of the shift register 130 sequentially outputs gate pulses Gout[1] to Gout[n]. For example, the [n-3]th stage STG[n-3] outputs the [n-3]th gate pulse Gout[n-3], and the nth stage STGn outputs the nth gate pulse ( Gout[n]). To this end, each stage STG receives one gate clock from among sequentially delayed gate clocks CLK. Gate clocks may be implemented with 6 or more phases to ensure sufficient charging time when driven at a high speed of 240Hz or higher. The [n−3]th gate pulse Gout[n−3] is applied to the [n−3]th gate line and serves as a carry signal transmitted to the nth stage. 2 shows that the carry signal input to the nth stage STGn is the [n−3]th gate pulse Gout[n−3], but the carry signal is not limited thereto.

도 3은 도 2에 도시된 스테이지의 구성을 나타내는 도면이고, 도 4는 도 3에 도시된 스테이지에 입력되는 구동신호의 타이밍과 출력신호를 나타내는 도면이다.FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the stage shown in FIG. 2, and FIG. 4 is a diagram showing timing and output signals of driving signals input to the stage shown in FIG.

도 1 내지 도 4을 참조하면, 쉬프트레지스터(130)의 스테이지(STG)는 풀업 트랜지스터(Pull-up transistor, Tpu), 풀다운 프랜지스터(Pull-down transistor, Tpd) 및 노드 제어회로(NCON)를 포함한다. 1 to 4, the stage STG of the shift register 130 includes a pull-up transistor (Tpu), a pull-down transistor (Tpd), and a node control circuit (NCON). include

풀업 트랜지스터(Tpu)는 Q 노드에 연결되는 게이트전극, 게이트클럭(CLK) 입력단에 연결되는 드레인전극 및 출력단(Nout)에 연결되는 소스전극을 포함한다. The pull-up transistor Tpu includes a gate electrode connected to the Q node, a drain electrode connected to the input terminal of the gate clock CLK, and a source electrode connected to the output terminal Nout.

풀다운 트랜지스터(Tpd)는 QB 노드에 연결되는 게이트전극, 출력단(Nout)에 연결되는 드레인전극 및 게이트 로우전압(VGL_M) 입력단에 연결되는 소스전극을 포함한다.The pull-down transistor Tpd includes a gate electrode connected to the QB node, a drain electrode connected to the output terminal Nout, and a source electrode connected to the gate low voltage VGL_M input terminal.

노드 제어회로(NCON)는 Q 노드와 QB 노드의 전압을 제어하기 위한 것으로, 스타트 제어부(T1), Q 노드 방전제어부(T6), QB 노드 방전제어부(T5) 및 QB 노드 충전제어부(T2,T3,T4)를 포함한다. The node control circuit NCON is for controlling the voltages of the Q node and the QB node, and includes a start controller T1, a Q node discharge controller T6, a QB node discharge controller T5, and a QB node charge controller T2 and T3. , T4).

스타트 제어부(T1)는 스타트펄스(VST) 입력단 또는 제[n-3] 게이트펄스(Gout[n-3]) 입력단에 연결되는 게이트전극, 고전위전압(VDD) 입력단에 연결되는 드레인전극 및 Q 노드에 연결되는 소스전극을 포함한다. The start control unit T1 has a gate electrode connected to the start pulse (VST) input terminal or the [n-3] gate pulse (Gout[n-3]) input terminal, a drain electrode connected to the high potential voltage (VDD) input terminal, and Q It includes a source electrode connected to the node.

QB 노드 방전제어부(T5)는 Q 노드에 연결되는 게이트전극, QB 노드에 연결되는 드레인전극 및 저전위전압(VGL) 입력단에 연결되는 소스전극으로 이루어진다.The QB node discharge controller T5 includes a gate electrode connected to the Q node, a drain electrode connected to the QB node, and a source electrode connected to a low potential voltage (VGL) input terminal.

Q 노드 방전제어부(T6)는 후단신호(NEXT) 입력단에 연결되는 게이트전극, Q 노드에 연결되는 드레인전극 및 저전위전압(VGL) 입력단에 연결되는 소스전극으로 이루어진다. The Q node discharge controller T6 includes a gate electrode connected to the input terminal of the next signal NEXT, a drain electrode connected to the Q node, and a source electrode connected to the input terminal of the low potential voltage VGL.

QB 노드 충전제어부(T2,T3,T4)는 제2 내지 제4 트랜지스터(T2,T3,T4)를 포함한다. 제2 트랜지스터(T2)는 게이트전극과 드레인전극이 고전위전압 입력단에 연결된다. 제3 트랜지스터(T3)는 Q 노드에 연결되는 게이트전극, 제2 트랜지스터(T2)의 소스전극에 연결되는 드레인전극 및 저전위전압(VGL) 입력단에 연결되는 소스전극으로 이루어진다. 제4 트랜지스터(T4)는 제3 트랜지스터(T3)의 드레인전극에 연결되는 게이트전극, 제2 트랜지스터(T2)의 드레인전극에 연결되는 드레인전극 및 QB 노드에 연결되는 소스전극으로 이루어진다. The QB node charging control units T2 , T3 , and T4 include second to fourth transistors T2 , T3 , and T4 . The gate electrode and drain electrode of the second transistor T2 are connected to the high potential voltage input terminal. The third transistor T3 includes a gate electrode connected to the Q node, a drain electrode connected to the source electrode of the second transistor T2, and a source electrode connected to the low potential voltage (VGL) input terminal. The fourth transistor T4 includes a gate electrode connected to the drain electrode of the third transistor T3, a drain electrode connected to the drain electrode of the second transistor T2, and a source electrode connected to the QB node.

스타트 제어부(T1)는 스타트펄스(VST) 또는 제[n-3] 게이트펄스(Gout[n-3])에 응답하여 Q 노드를 Q 노드를 프리 챠징(pre-charging)한다. The start controller T1 pre-charges the Q node in response to the start pulse VST or the [n−3] gate pulse Gout[n−3].

Q 노드가 프리 챠징된 상태에서 게이트클럭(CLK)이 풀업 트랜지스터(Tpu)의 드레인전극에 입력되면, Q 노드는 풀업 트랜지스터(Tpu)의 드레인전극의 전압 상승에 따라 부트스트래핑(bootstrapping)된다. Q 노드가 부트스트래핑되면서 풀업 트랜지스터(Tpu)의 게이트-소스 간의 전위차는 커지면서 풀업 트랜지스터(Tpu)는 턴-온된다. 결국 풀업 트랜지스터(Tpu)는 게이트클럭(CLK)을 이용하여 출력단(Nout)을 충전시킨다. 출력단(Nout)은 게이트라인(GL)과 연결되고, 게이트라인(GL)에는 출력단(Nout)으로부터 게이트펄스(Gout)가 인가된다.When the gate clock CLK is input to the drain electrode of the pull-up transistor Tpu while the Q node is pre-charged, the Q node bootstraps according to the voltage rise of the drain electrode of the pull-up transistor Tpu. As the Q node is bootstrapping, the potential difference between the gate and the source of the pull-up transistor Tpu increases and the pull-up transistor Tpu is turned on. Eventually, the pull-up transistor Tpu charges the output terminal Nout using the gate clock CLK. The output terminal Nout is connected to the gate line GL, and a gate pulse Gout is applied to the gate line GL from the output terminal Nout.

게이트클럭(CLK)이 로우레벨로 반전된 이후에 Q 노드 방전제어부(T6)의 게이트전극은 후단신호(NEXT)를 입력받는다. Q 노드 방전제어부(T6)는 후단신호(NEXT)에 응답하여 턴-온되고, 그 결과 Q 노드의 전압을 저전위전압(VGL)으로 방전시킨다.After the gate clock CLK is inverted to a low level, the gate electrode of the Q node discharge controller T6 receives the next stage signal NEXT. The Q node discharge controller T6 is turned on in response to the next stage signal NEXT, and as a result, the voltage of the Q node is discharged to the low potential voltage VGL.

도 4에서, “t0~t2”기간 동안에는 Q 노드가 하이레벨로 유지되기 때문에 QB노드 방전제어부(T5)는 턴-온 되고, 그 결과 풀다운 트랜지스터(Tpd)의 게이트전극은 게이트 로우전압(VGL_M)으로 유지된다. 즉, QB 노드 방전제어부(T5)는 Q 노드가 하이레벨일 경우에 풀다운 트랜지스터(Tpd)의 동작을 억제한다. In FIG. 4, since the Q node is maintained at a high level during the period “t0 to t2”, the QB node discharge controller T5 is turned on, and as a result, the gate electrode of the pull-down transistor Tpd has a gate low voltage VGL_M is maintained as That is, the QB node discharge controller T5 suppresses the operation of the pull-down transistor Tpd when the Q node is at a high level.

도 4에서 보는 것처럼, 정상적인 구동상태에서 Q 노드의 전압은 스타트펄스(VST)가 입력되는 “t0~t1”기간과 게이트클럭(CLK)이 입력되는 “t1_t2”기간 이외에는 저전위전압으로 유지되고, QB 노드 방전제어부(T5)는 동작하지 않는다. As shown in FIG. 4, in a normal driving state, the voltage of the Q node is maintained at a low potential voltage except for the “t0 to t1” period in which the start pulse (VST) is input and the “t1_t2” period in which the gate clock (CLK) is input, The QB node discharge control unit T5 does not operate.

제1 실시 예에 의한 QB 노드 방전제어부(T5)는 소스전극이 게이트 로우전압(VGL_M)에 연결되고, 게이트 로우전압(VGL_M)은 스테이지(STG)의 누설전류량에 따라 가변된다. 게이트 로우전압(VGL_M)은 게이트 로우전압 제어부(200)에 의해서 조절되어서 QB 노드 방전제어부(T5)의 오동작을 방지한다. In the QB node discharge control unit T5 according to the first embodiment, a source electrode is connected to the gate low voltage VGL_M, and the gate low voltage VGL_M varies according to the amount of leakage current of the stage STG. The gate low voltage VGL_M is controlled by the gate low voltage controller 200 to prevent the QB node discharge controller T5 from malfunctioning.

이하, 게이트 로우전압 제어부(200)의 동작을 도 5 및 도 6을 참조하여 살펴보면 다음과 같다. Hereinafter, the operation of the gate low voltage controller 200 will be described with reference to FIGS. 5 and 6 .

도 5는 본 발명에 의한 게이트 로우전압 제어부의 동작을 나타내는 순서도이고, 도 6은 게이트 로우전압 제어부의 구성을 나타내는 블록도이다. 5 is a flowchart illustrating the operation of the gate low voltage controller according to the present invention, and FIG. 6 is a block diagram showing the configuration of the gate low voltage controller.

도 1 내지 도 6을 참조하면, 게이트 로우전압 제어부(200)는 스테이지(STG)의 누설전류를 센싱한다. 특히, 게이트 로우전압 제어부(200)의 전류 측정부(210)는 스타트 제어부(T1)의 누설전류를 측정할 수 있다. 스타트 제어부(T1)의 누설전류는 저전위전압(VGL)의 입력라인 전류량을 바탕으로 측정될 수 있다.(S501) Referring to FIGS. 1 to 6 , the gate low voltage controller 200 senses the leakage current of the stage STG. In particular, the current measurement unit 210 of the gate low voltage controller 200 may measure the leakage current of the start controller T1. The leakage current of the start control unit T1 may be measured based on the amount of input line current of the low potential voltage (VGL) (S501).

게이트 로우전압 제어부(200)의 비교부(220)는 저전위전압(VGL)의 입력라인 전류량이 미리 설정된 기준값 이상에 도달한지를 판단한다. 저전위전압(VGL)의 전류량은 스타트 제어부(T1)의 누설전류량에 비례하기 때문에, 저전위전압(VGL)의 전류량을 바탕으로 스타트 제어부(T1)의 누설전류량을 추정할 수 있다.(S503) The comparator 220 of the gate low voltage control unit 200 determines whether the current amount of the input line of the low potential voltage VGL reaches a preset reference value or more. Since the amount of current of the low potential voltage VGL is proportional to the amount of leakage current of the start controller T1, the amount of leakage current of the start controller T1 can be estimated based on the amount of current of the low potential voltage VGL (S503).

게이트 로우전압 제어부(200)는 전류량이 기준값 이하일 경우에 게이트 로우전압(VGL_M)을 유지하여 스테이지(STG)에 출력한다.(S505, S507)The gate low voltage controller 200 maintains the gate low voltage (VGL_M) and outputs it to the stage STG when the amount of current is equal to or less than the reference value (S505 and S507).

반면에 게이트 로우전압 제어부(200)의 전압 조절부(230)는 전류량이 기준값 이상일 경우에 게이트 로우전압(VGL_M)을 조절한다. 초기 게이트 로우전압(VGL_M)의 전압레벨은 저전위전압(VGL)과 동일하게 설정될 수 있다.On the other hand, the voltage controller 230 of the gate low voltage controller 200 adjusts the gate low voltage VGL_M when the amount of current is greater than or equal to the reference value. The voltage level of the initial gate low voltage VGL_M may be set to be the same as that of the low potential voltage VGL.

스타트 제어부(T1)는 열화 또는 스트레스(stress)에 의해서 트랜지스터 특성 곡선이 네거티브 쉬프트(negative shift)될 수 있다. 도 7에서 보는 바와 같이, 트랜지스터의 특성 곡선이 제2 그래프(②)에서 제1 그래프(①)로 네거티브 쉬프트되면 저전위전압(VGL)에서의 누설전류량은 “I1”에서 “I2”로 늘어난다. The transistor characteristic curve of the start controller T1 may be negatively shifted due to deterioration or stress. As shown in FIG. 7, when the characteristic curve of the transistor is negatively shifted from the second graph (②) to the first graph (①), the amount of leakage current at the low potential voltage (VGL) increases from “I1” to “I2”.

스타트 제어부(T1)의 누설전류량이 증가하면 “t0~t2”기간 이외에도 QB 노드 방전제어부(T5)가 턴-온될 수 있다. 이에 따라 제4 트랜지스터(T4) 및 QB 노드 방전제어부(T5)를 거쳐서 저전위전압(VGL) 입력단까지의 전류패스가 형성된다. 이러한 전류패스는 “t0~t3” 기간을 제외한 1프레임의 대부분의 구간 동안에 형성되기 때문에, 제4 트랜지스터(T4) 및 QB 노드 방전제어부(T5)는 긴 시간동안 발열 문제가 발생한다. When the amount of leakage current of the start control unit T1 increases, the QB node discharge control unit T5 may be turned on in addition to the “t0 to t2” period. Accordingly, a current path is formed through the fourth transistor T4 and the QB node discharge controller T5 to the low potential voltage (VGL) input terminal. Since this current path is formed during most of one frame except for the period “t0 to t3”, the fourth transistor T4 and the QB node discharge control unit T5 generate heat for a long time.

게이트 로우전압 제어부(200)는 저전위전압(VGL)의 입력라인 전류량이 기준값 이상일 경우에는 게이트 로우전압(VGL_M)의 전압레벨을 낮춘다. 게이트 로우전압(VGL_M)은 게이트펄스(Gout)의 로우레벨 전압값이고, 게이트펄스(Gout)는 후단 스테이지(STG)에 입력되는 캐리신호를 겸한다. 즉, 게이트 로우전압(VGL_M)의 전압레벨이 낮아지면, 후단 스테이지(STG)의 스타트 제어부(T1)에 입력되는 캐리신호의 로우레벨전압도 낮아진다. 스타트 제어부(T1)는 Q 노드를 프리 챠징하는 구간을 제외하고는 더 낮아진 전압을 입력받기 때문에, 스타트 제어부(T1)의 Vgs의 전압레벨은 더 낮아진다. 그 결과 프리 챠징 구간을 제외한 기간 동안에서 스타트 제어부(T1)의 누설전류는 감소하고, Q 노드가 원하지 않게 충전되는 현상이 개선된다.The gate low voltage controller 200 lowers the voltage level of the gate low voltage VGL_M when the input line current amount of the low potential voltage VGL is greater than or equal to the reference value. The gate low voltage VGL_M is a low level voltage value of the gate pulse Gout, and the gate pulse Gout also functions as a carry signal input to the next stage STG. That is, when the voltage level of the gate low voltage VGL_M is lowered, the low level voltage of the carry signal input to the start controller T1 of the next stage STG is also lowered. Since the start controller T1 receives a lower voltage except for the period in which the Q node is pre-charged, the voltage level of Vgs of the start controller T1 becomes lower. As a result, the leakage current of the start control unit T1 is reduced during the period excluding the pre-charging period, and the phenomenon of unwanted charging of the Q node is improved.

게이트 로우전압 제어부(200)는 저전위전압(VGL)의 입력라인에서 측정한 전류값의 변화량에 비례하여 게이트 로우전압(VGL_M)의 전압레벨을 낮출 수 있다. 저전위전압(VGL)의 입력라인 전류량은 스타트 제어부(T1)의 트랜지스터 특성 곡선의 네거티브 쉬프트 된 정도에 비례한다. 저전위전압()의 입력라인 전류량과 게이트 로우전압()의 조절량은 미리 계산된 결과를 바탕으로 룩업테이블로 저장될 수 있다.(S509, S011) The gate low voltage control unit 200 may lower the voltage level of the gate low voltage VGL_M in proportion to the amount of change in the current value measured from the input line of the low potential voltage VGL. The amount of current of the input line of the low potential voltage VGL is proportional to the degree of negative shift of the transistor characteristic curve of the start controller T1. The input line current amount of the low potential voltage ( ) and the control amount of the gate low voltage ( ) may be stored as a lookup table based on the pre-calculated result. (S509, S011)

도 8은 제2 실시 예에 의한 쉬프트레지스터를 나타내는 도면이고, 도 9는 도 8에 도시된 쉬프트레지스터의 스테이지를 나타내는 도면이다. 이하, 제2 실시 예에 대한 설명에서 전술한 실시 예와 동일한 구성에 대해서는 자세한 설명을 생략하기로 한다.8 is a diagram showing a shift register according to the second embodiment, and FIG. 9 is a diagram showing stages of the shift register shown in FIG. 8 . Hereinafter, in the description of the second embodiment, detailed descriptions of the same components as those of the previous embodiment will be omitted.

도 8 및 도 9를 참조하면, 본 발명에 의한 쉬프트레지스터(130)는 제1 내지 제n 스테이지(ST1~STn, n은 2 이상의 자연수)를 구비한다. 도 2는 제[n-3] 스테이지(STG[n-3]) 및 제n 스테이지(STGn)를 도시하고 있다.Referring to FIGS. 8 and 9 , the shift register 130 according to the present invention includes first to nth stages (ST1 to STn, where n is a natural number greater than or equal to 2). 2 shows the [n−3]th stage STG[n−3] and the nth stage STGn.

쉬프트레지스터(130)의 각 스테이지(STG)는 게이트펄스(Gout[1]~Gout[n])를 순차적으로 출력한다. 예컨대, 제[n-3] 스테이지(STG[n-3])는 제[n-3] 게이트펄스(Gout[n-3])를 출력하고, 제n 스테이지(STGn)는 제n 게이트펄스(Gout[n])를 출력한다. Each stage STG of the shift register 130 sequentially outputs gate pulses Gout[1] to Gout[n]. For example, the [n-3]th stage STG[n-3] outputs the [n-3]th gate pulse Gout[n-3], and the nth stage STGn outputs the nth gate pulse ( Gout[n]).

쉬프트레지스터(130)의 스테이지(STG)는 제1 및 제2 풀업 트랜지스터(Tpu1, Tpu2), 제1 및 제2 풀다운 프랜지스터(Tpd1, Tpd2) 및 노드 제어회로(NCON)를 포함한다. The stage STG of the shift register 130 includes first and second pull-up transistors Tpu1 and Tpu2, first and second pull-down transistors Tpd1 and Tpd2, and a node control circuit NCON.

제1 풀업 트랜지스터(Tpu1)는 Q 노드에 연결되는 게이트전극, 게이트클럭(CLK) 입력단에 연결되는 드레인전극 및 제1 출력단(Nout)에 연결되는 소스전극을 포함한다. 제1 풀업 트랜지스터(Tpu1)는 Q 노드에 연결되는 게이트전극, 게이트클럭(CLK) 입력단에 연결되는 드레인전극 및 제2 출력단(Nout2)에 연결되는 소스전극을 포함한다. The first pull-up transistor Tpu1 includes a gate electrode connected to the Q node, a drain electrode connected to the input terminal of the gate clock CLK, and a source electrode connected to the first output terminal Nout. The first pull-up transistor Tpu1 includes a gate electrode connected to the Q node, a drain electrode connected to the input terminal of the gate clock CLK, and a source electrode connected to the second output terminal Nout2.

제1 풀다운 트랜지스터(Tpd1)는 QB 노드에 연결되는 게이트전극, 제1 출력단(Nout1)에 연결되는 드레인전극 및 저전위전압(VGL) 입력단에 연결되는 소스전극을 포함한다. 제2 풀다운 트랜지스터(Tpd2)는 QB 노드에 연결되는 게이트전극, 제2 출력단(Nout2)에 연결되는 드레인전극 및 게이트 로우전압(VGL_M) 입력단에 연결되는 소스전극을 포함한다.The first pull-down transistor Tpd1 includes a gate electrode connected to the QB node, a drain electrode connected to the first output terminal Nout1, and a source electrode connected to the low potential voltage (VGL) input terminal. The second pull-down transistor Tpd2 includes a gate electrode connected to the QB node, a drain electrode connected to the second output terminal Nout2, and a source electrode connected to the gate low voltage VGL_M input terminal.

노드 제어회로(NCON)는 Q 노드와 QB 노드의 전압을 제어하기 위한 것으로, 스타트 제어부(T1), QB 노드 방전제어부(T5), Q 노드 방전제어부(T6) 및 QB 노드 충전제어부(T2,T3,T4)를 포함한다. The node control circuit (NCON) is for controlling the voltages of the Q node and the QB node, and includes a start control unit T1, a QB node discharge control unit T5, a Q node discharge control unit T6, and a QB node charge control unit T2 and T3. , T4).

스타트 제어부(T1)는 스타트펄스(VST) 입력단 또는 제[n-3] 게이트펄스(Gout[n-3]) 입력단에 연결되는 게이트전극, 고전위전압(VDD) 입력단에 연결되는 드레인전극 및 Q 노드에 연결되는 소스전극을 포함한다. The start control unit T1 has a gate electrode connected to the start pulse (VST) input terminal or the [n-3] gate pulse (Gout[n-3]) input terminal, a drain electrode connected to the high potential voltage (VDD) input terminal, and Q It includes a source electrode connected to the node.

QB 노드 방전제어부(T5)는 Q 노드에 연결되는 게이트전극, QB 노드에 연결되는 드레인전극 및 저전위전압(VGL) 입력단에 연결되는 소스전극으로 이루어진다.The QB node discharge controller T5 includes a gate electrode connected to the Q node, a drain electrode connected to the QB node, and a source electrode connected to a low potential voltage (VGL) input terminal.

Q 노드 방전제어부(T6)는 후단신호(NEXT) 입력단에 연결되는 게이트전극, Q 노드에 연결되는 드레인전극 및 저전위전압(VGL) 입력단에 연결되는 소스전극으로 이루어진다. The Q node discharge controller T6 includes a gate electrode connected to the input terminal of the next signal NEXT, a drain electrode connected to the Q node, and a source electrode connected to the input terminal of the low potential voltage VGL.

QB 노드 충전 제어부(T2,T3,T4)는 제2 내지 제4 트랜지스터를 포함한다. 제2 트랜지스터(T2)는 게이트전극과 드레인전극이 고전위전압 입력단에 연결된다. 제3 트랜지스터(T3)는 Q 노드에 연결되는 게이트전극, 제2 트랜지스터(T2)의 소스전극에 연결되는 드레인전극 및 저전위전압(VGL) 입력단에 연결되는 소스전극으로 이루어진다. 제4 트랜지스터(T4)는 제3 트랜지스터(T3)의 드레인전극에 연결되는 게이트전극, 제2 트랜지스터(T2)의 드레인전극에 연결되는 드레인전극 및 QB 노드에 연결되는 소스전극으로 이루어진다.The QB node charging controllers T2, T3, and T4 include second to fourth transistors. The gate electrode and drain electrode of the second transistor T2 are connected to the high potential voltage input terminal. The third transistor T3 includes a gate electrode connected to the Q node, a drain electrode connected to the source electrode of the second transistor T2, and a source electrode connected to the low potential voltage (VGL) input terminal. The fourth transistor T4 includes a gate electrode connected to the drain electrode of the third transistor T3, a drain electrode connected to the drain electrode of the second transistor T2, and a source electrode connected to the QB node.

도 8 및 도 9에 도시된 제2 실시 예의 스테이지에 입력되는 구동신호는 제1 실시 예와 마찬가지로 도 4에 도시된 구동신호와 동일할 수 있다. The driving signal input to the stage of the second embodiment shown in FIGS. 8 and 9 may be the same as the driving signal shown in FIG. 4 as in the first embodiment.

제2 실시 예의 스테이지의 제1 출력단(Nout1)은 게이트라인(GL)과 연결되고, 제2 출력단(Nout2)은 후단 스테이지의 스타트 제어부(T1)에 캐리신호로 입력된다. 도 8은 제[n-3] 스테이지(STG[n-3])의 캐리신호가 제n 스테이지로 입력되는 실시 예를 도시하고 있지만, 캐리신호가 입력되는 스테이지는 이에 한정되지 않는다. The first output terminal Nout1 of the stage according to the second embodiment is connected to the gate line GL, and the second output terminal Nout2 is input as a carry signal to the start controller T1 of the next stage. 8 shows an embodiment in which the carry signal of the [n−3]th stage (STG[n−3]) is input to the nth stage, but the stage to which the carry signal is input is not limited thereto.

제2 실시 예에 의한 쉬프트레지스터는 캐리신호와 게이트펄스를 출력하는 출력단을 분리한다. 그리고, 쉬프트레지스터의 누설전류량에 따라 후단 스테이지의 캐리신호로 입력되는 제2 출력단의 게이트로우전압(VGL_M)을 조절한다. 그 결과 제2 실시 예에 의한 쉬프트레지스터 역시 누설전류에 의해서 트랜지스터들의 열화가 심해지는 것을 개선할 수 있다.The shift register according to the second embodiment separates the output stage for outputting the carry signal and the gate pulse. Then, the gate low voltage (VGL_M) of the second output terminal input as the carry signal of the next stage is adjusted according to the amount of leakage current of the shift register. As a result, the shift register according to the second embodiment can also improve the deterioration of the transistors due to the leakage current.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Although the embodiments of the present invention have been described with reference to the accompanying drawings, the above-described technical configuration of the present invention can be changed into other specific forms by those skilled in the art without changing the technical spirit or essential features of the present invention. It will be appreciated that this can be implemented. Therefore, the embodiments described above should be understood as illustrative in all respects and not limiting. In addition, the scope of the present invention is indicated by the claims to be described later rather than the above detailed description. In addition, all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be construed as being included in the scope of the present invention.

100: 표시패널 110: 타이밍 콘트롤러
120: 데이터 구동부 130, 150: 게이트 구동부
200: 게이트 로우전압 제어부
100: display panel 110: timing controller
120: data driver 130, 150: gate driver
200: gate low voltage control unit

Claims (8)

데이터라인들과 게이트라인들이 정의되고, 화소들이 매트릭스 형태로 배치되는 화소 어레이;
종속적으로 연결되는 스테이지를 포함하며, 게이트 하이전압과 게이트 로우전압 사이에서 스윙하는 게이트펄스를 상기 게이트라인들에 순차적으로 공급하는 쉬프트레지스터; 및
상기 스테이지의 누설 전류가 일정 수준 이상일 경우에 상기 게이트 로우전압을 낮추는 게이트 로우전압 제어부를 구비하고,
제n(n은 자연수) 스테이지는
Q노드의 전압에 응답하여 출력단을 충전시켜서, 제n 게이트펄스를 출력하는 풀업 트랜지스터;
QB 노드의 전압에 응답하여 상기 출력단을 상기 게이트 로우전압으로 방전시키는 풀다운 트랜지스터;
스타트펄스 또는 상기 제n 게이트펄스 이외의 게이트펄스에 응답하여 상기 Q 노드를 프리챠징하는 스타트 제어부를 포함하고,
상기 게이트 로우전압 제어부는
저전위전압의 입력라인의 전류값이 미리 설정된 기준값 이상일 경우에 상기 게이트 로우전압을 낮추는 표시장치.
a pixel array in which data lines and gate lines are defined and pixels are arranged in a matrix form;
a shift register comprising stages connected in a dependent manner and sequentially supplying gate pulses swinging between a gate high voltage and a gate low voltage to the gate lines; and
a gate low voltage control unit that lowers the gate low voltage when the leakage current of the stage exceeds a predetermined level;
The nth (n is a natural number) stage is
a pull-up transistor that charges an output terminal in response to the voltage of the Q node and outputs an n-th gate pulse;
a pull-down transistor for discharging the output terminal to the gate low voltage in response to the voltage of the QB node;
A start controller precharging the Q node in response to a start pulse or a gate pulse other than the nth gate pulse;
The gate low voltage controller
A display device that lowers the gate low voltage when the current value of the input line of the low potential voltage is equal to or greater than a preset reference value.
제 1 항에 있어서,
상기 제n 스테이지는
상기 Q 노드에 연결되는 게이트전극, 상기 QB 노드에 연결되는 드레인전극 및 상기 저전위전압의 입력라인에 연결되는 소스전극으로 이루어지는 QB 노드 방전 제어부를 포함하는 표시장치.
According to claim 1,
The nth stage is
and a QB node discharge controller comprising a gate electrode connected to the Q node, a drain electrode connected to the QB node, and a source electrode connected to the input line of the low potential voltage.
제 2 항에 있어서,
상기 제n 스테이지는
후단신호 입력단에 연결되는 게이트전극, 상기 Q 노드에 연결되는 드레인전극 및 저전위전압 입력단에 연결되는 소스전극으로 이루어지는 Q 노드 방전제어부를 더 포함하는 표시장치.
According to claim 2,
The nth stage is
A display device further comprising a Q node discharge control unit comprising a gate electrode connected to a downstream signal input terminal, a drain electrode connected to the Q node, and a source electrode connected to a low potential voltage input terminal.
제 3항에 있어서,
상기 제n 스테이지는
게이트전극과 드레인전극이 고전위전압 입력단에 연결되는 제2 트랜지스터;
상기 Q 노드에 게이트전극이 연결되고, 상기 제2 트랜지스터의 소스전극에 연결되는 드레인전극 및 상기 저전위전압 입력단에 연결되는 소스전극으로 이루어지는 제3 트랜지스터; 및
상기 제3 트랜지스터의 드레인전극에 연결되는 게이트전극, 상기 제2 트랜지스터의 드레인전극에 연결되는 드레인전극 및 상기 QB 노드에 연결되는 소스전극으로 이루어지는 제4 트랜지스터로 이루어지는 QB 충전 제어부를 더 포함하고,
상기 QB 충전 제어부는 상기 Q 노드가 충전되지 않는 기간 동안 상기 QB 노드를 충전하는 표시장치.
According to claim 3,
The nth stage is
a second transistor having a gate electrode and a drain electrode connected to a high potential voltage input terminal;
a third transistor having a gate electrode connected to the Q node, a drain electrode connected to the source electrode of the second transistor, and a source electrode connected to the low potential voltage input terminal; and
A QB charging control unit comprising a fourth transistor including a gate electrode connected to the drain electrode of the third transistor, a drain electrode connected to the drain electrode of the second transistor, and a source electrode connected to the QB node,
The QB charging controller charges the QB node during a period in which the Q node is not charged.
제 1 항에 있어서,
상기 풀업 트랜지스터는 게이트클럭 입력단 및 상기 출력단에 연결되고,
상기 풀다운 트랜지스터는 상기 출력단 및 게이트 로우전압 입력단에 연결되며,
상기 출력단에서 출력하는 게이트펄스는 후단 스테이지 중에서 어느 하나의 스테이지의 상기 스타트 제어부의 게이트전극에 입력되는 표시장치.
According to claim 1,
The pull-up transistor is connected to a gate clock input terminal and the output terminal,
The pull-down transistor is connected to the output terminal and the gate low voltage input terminal,
The gate pulse output from the output terminal is input to the gate electrode of the start controller of any one of the subsequent stages.
제 2 항에 있어서,
상기 게이트 로우전압의 초기 전압은 상기 저전위전압과 동일하게 설정되는 표시장치.
According to claim 2,
An initial voltage of the gate low voltage is set equal to the low potential voltage.
데이터라인들과 게이트라인들이 정의되고, 화소들이 매트릭스 형태로 배치되는 화소 어레이;
종속적으로 연결되는 스테이지를 포함하며, 게이트 하이전압과 게이트 로우전압 사이에서 스윙하는 게이트펄스를 상기 게이트라인들에 순차적으로 공급하는 쉬프트레지스터; 및
상기 스테이지의 누설 전류가 일정 수준 이상일 경우에 상기 게이트 로우전압을 낮추는 게이트 로우전압 제어부를 구비하고,
제n(n은 자연수) 스테이지는
Q노드의 전압에 응답하여 제1 출력단을 충전시켜서, 제n 게이트펄스를 출력하는 제1 풀업 트랜지스터;
QB 노드의 전압에 응답하여 상기 제1 출력단을 저전위전압으로 방전시키는 제1 풀다운 트랜지스터;
상기 Q노드의 전압에 응답하여 제2 출력단을 충전시켜서, 제n 캐리신호를 출력하는 제2 풀업 트랜지스터;
상기 QB 노드의 전압에 응답하여 상기 제2 출력단을 상기 게이트 로우전압으로 방전시키는 제2 풀다운 트랜지스터;
스타트펄스 또는 상기 제n 캐리신호 이외의 캐리신호에 응답하여 상기 Q 노드를 프리챠징하는 스타트 제어부를 포함하고,
상기 게이트 로우전압 제어부는
상기 저전위전압의 입력라인에서의 전류값이 미리 설정된 기준값 이상일 경우에 상기 게이트 로우전압을 낮추는 표시장치.
a pixel array in which data lines and gate lines are defined and pixels are arranged in a matrix form;
a shift register comprising stages connected in a dependent manner and sequentially supplying gate pulses swinging between a gate high voltage and a gate low voltage to the gate lines; and
a gate low voltage control unit that lowers the gate low voltage when the leakage current of the stage exceeds a predetermined level;
The nth (n is a natural number) stage is
a first pull-up transistor that charges the first output terminal in response to the voltage of the Q node and outputs an n-th gate pulse;
a first pull-down transistor for discharging the first output terminal to a low potential voltage in response to a voltage of a QB node;
a second pull-up transistor configured to charge a second output terminal in response to the voltage of the Q node and output an n-th carry signal;
a second pull-down transistor for discharging the second output terminal to the gate low voltage in response to the voltage of the QB node;
A start control unit precharging the Q node in response to a start pulse or a carry signal other than the n-th carry signal;
The gate low voltage controller
A display device that lowers the gate low voltage when a current value in the input line of the low potential voltage is equal to or greater than a preset reference value.
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