KR102461359B1 - 얼라인 검사 장치 및 이를 포함하는 합지 검사 시스템 - Google Patents

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Abstract

제조 설비의 얼라인 검사 장치는 상하로 상호 합지(laminate)된 상판과 하판 사이의 얼라인을 촬영하여 영상 데이터를 생성하는 카메라부; 영상 데이터를 이용하여 상판과 하판이 서로 중첩하지 않는 미합지 영역에서의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출하고, 얼라인(align) 데이터를 생성하는 얼라인 산출부; 및 수평 거리들 및 수직 거리들을 이용하여 노이즈 데이터가 필터링된 진성 불량 데이터를 검출하는 오정렬(misalignment) 검출부를 포함한다.

Description

얼라인 검사 장치 및 이를 포함하는 합지 검사 시스템{ALIGN INSPECTION APPARATUS AND LAMINATION INSPECTION SYSTEM HAVING THE SAME}
본 발명은 자재 합지 설비에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 얼라인 검사 장치 및 이를 포함하는 합지 검사 시스템에 관한 것이다.
자재를 실장하여 제조하는 제조 설비에 의한 공정은 패널 등을 로딩하는 공정에서부터 자재들 사이의 ACF부착, 가압착, 본압착, 언로딩하는 공정을 수반한다.
이때, 패널(또는 하판)의 표면 상에 상판을 본딩하는 가압착 공정에서는 상판과 하판의 합지 상태에서의 얼라인 불량 여부 여부 또는 본딩 상태에서의 얼라인 불량 여부를 검출하기 위한 얼라인 검사 장치가 구축된다.
예를 들어, 얼라인 마크 등을 촬영하고 이를 분석하여 기판 등의 본딩 얼라인 검사가 수행된다.
본 발명의 일 목적은 얼라인 검사에서 오검출되는 노이즈 데이터를 필터링하는 얼라인 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 얼라인 검사 장치를 포함하는 합지 검사 시스템을 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 얼라인 검사 장치는 상하로 상호 합지(laminate)된 상판과 하판 사이의 얼라인을 촬영하여 영상 데이터를 생성하는 카메라부; 상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판과 상기 하판이 서로 중첩하지 않는 미합지 영역에서의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출하고, 얼라인(align) 데이터를 생성하는 얼라인 산출부; 및 상기 수평 거리들 및 상기 수직 거리들을 이용하여 노이즈 데이터가 필터링된 진성 불량 데이터를 검출하는 오정렬(misalignment) 검출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 수평 거리들 각각은 상기 상판의 테두리에 기초하여 검출된 꼭지점들 각각으로부터 상기 하판의 테두리까지의 X축 방향으로의 최단 거리에 대응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 수직 거리들 각각은 상기 꼭지점들 각각으로부터 상기 하판의 상기 테두리까지의 Y축 방향으로의 최단 거리에 대응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 얼라인 산출부는 상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판을 제1 내지 제4 꼭지점들을 갖는 가상의 사각형으로 검출하며, 상기 제1 내지 제4 꼭지점들로부터 각각 제1 내지 제4 수평 거리들 및 제1 내지 제4 수직 거리들을 산출할 수 있다. 상기 제1 꼭지점과 상기 제2 꼭지점은 제1 수평 짝을 이루고, 상기 제3 꼭지점과 상기 제4 꼭지점은 제2 수평 짝을 이루며, 상기 제1 꼭지점과 상기 제3 꼭지점은 제1 수직 짝을 이루고, 상기 제2 꼭지점과 상기 제4 꼭지점은 제2 수직 짝을 이룰 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 오정렬 검출부는 상기 제1 내지 제4 수평 거리들 각각과 기 설정된 제1 내지 제4 수평 거리 기준들을 각각 비교하고, 상기 제1 수직 거리 내지 상기 제4 수직 거리와 기 설정된 제1 내지 제4 수직 거리 기준들을 각각 비교하여 오정렬 데이터를 생성하는 오정렬 판단부; 및 상기 제1 수평 거리와 상기 제2 수평 거리의 합인 제1 수평 합과 기 설정된 수평 노이즈 기준을 비교하고, 상기 제3 수평 거리와 상기 제4 수평 거리의 합인 제2 수평 합과 상기 수평 노이즈 기준을 비교하며, 상기 제1 수직 거리와 상기 제3 수직 거리의 합인 제1 수직 합과 수직 노이즈 기준을 비교하고, 상기 제2 수직 거리와 상기 제4 수직 거리의 합인 제2 수직 합과 상기 수직 노이즈 기준을 비교하여 상기 얼라인 데이터의 진성을 판단하는 진성 판단부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 오정렬 판단부는 상기 제1 수평 거리가 상기 제1 수평 거리 기준을 벗어나면서 상기 제2 수평 거리가 상기 제2 수평 거리 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 오정렬 판단부는 상기 제3 수평 거리가 상기 제3 수평 거리 기준을 벗어나면서 상기 제4 수평 거리가 상기 제4 수평 거리 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 오정렬 판단부는 상기 제1 수직 거리가 상기 제1 수직 거리 기준을 벗어나면서 상기 제3 수직 거리가 상기 제3 수직 거리 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 오정렬 판단부는 상기 제2 수직 거리가 상기 제2 수직 거리 기준을 벗어나면서 상기 제4 수직 거리가 상기 제4 수직 거리 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 진성 판단부는 상기 제1 수평 합 및 상기 제2 수평 합 중 적어도 하나가 상기 수평 노이즈 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 상기 노이즈 데이터로 결정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 진성 판단부는 상기 제1 수직 합 및 상기 제2 수직 합 중 적어도 하나가 상기 수직 노이즈 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 상기 노이즈 데이터로 결정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 진성 판단부는 상기 제1 수평 합 및 상기 제2 수평 합이 상기 수평 노이즈 기준에 부합하면서 상기 제1 수직 합 및 상기 제2 수직 합이 상기 수직 노이즈 기준에 부합하는 경우에 상기 오정렬 데이터를 상기 진성 불량 데이터로 결정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 얼라인 산출부는 상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판의 테두리들에 대한 가상의 연장선들을 산출하고, 상기 연장선들이 각각 교차하는 부분의 좌표를 상기 상판의 꼭지점들로 결정하는 꼭지점 검출부; 및 상기 꼭지점들 각각으로부터 상기 하판의 테두리까지의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출하는 거리 산출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 얼라인 검사 장치는 상기 꼭지점들 사이의 거리를 산출하여 상기 상판의 크기를 검출하고, 상기 검출된 상판의 크기와 기 설정된 기준 크기를 비교하여 자재의 크기 불량 여부를 결정하는 불량 자재 검출부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 불량 자재 검출부는 상기 상판의 크기가 상기 기준 크기를 벗어나는 경우 크기 불량 데이터를 생성할 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 합지 검사 시스템은 노이즈 데이터를 필터링하며, 제조 설비에 의해 상하로 상호 합지(laminate)되는 상판과 상기 상판보다 넓은 면적의 하판 사이의 얼라인을 검사하는 얼라인 검사 장치; 상기 상판과 상기 하판이 합지된 자재 각각의 얼라인 데이터 및 진성 불량 데이터를 포함하는 자재 데이터를 저장하는 데이터 베이스; 및 기 설정된 개수의 자재 데이터를 갖는 현재 누적 데이터에 포함되는 불량 자재 데이터의 개수에 기초하여 상기 제조 설비의 동작 중단을 위한 인터락(interlock) 신호를 출력하는 인터락 장치를 포함할 수 있다.
상기 얼라인 검사 장치는 상기 상판의 꼭지점들을 촬영하여 영상 데이터를 생성하는 카메라부; 상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판과 상기 하판이 서로 중첩하지 않는 미합지 영역에서의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출하여 상기 얼라인 데이터를 생성하는 얼라인 산출부; 및 상기 수평 거리들 및 상기 수직 거리들을 이용하여 상기 노이즈 데이터가 필터링된 상기 진성 불량 데이터를 검출하는 오정렬(misalign) 검출부를 포함할 수 있다. 상기 불량 자재 데이터는 상기 진성 불량 데이터를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 인터락 장치는 상기 자재 각각에 대한 얼라인 검사 시마다 상기 현재 누적 데이터에 포함되는 가장 오래된 상기 자재 데이터를 제거하면서 현재 자재 데이터를 추가함으로써 상기 현재 누적 데이터를 갱신하는 데이터 갱신부; 및 상기 갱신된 현재 누적 데이터에 포함되는 상기 불량 자재 데이터의 개수와 기 설정된 임계 값을 비교하고, 상기 불량 자재 데이터의 개수가 상기 임계 값에 도달하면 상기 인터락 신호를 출력하는 인터락 판단부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 얼라인 검사 장치는 상기 노이즈 데이터를 상기 데이터 베이스에 제공하지 않고 제거할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 얼라인 산출부는 상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판을 제1 내지 제4 꼭지점들을 갖는 가상의 사각형으로 검출하며, 상기 제1 내지 제4 꼭지점들로부터 각각 제1 내지 제4 수평 거리들 및 제1 내지 제4 수직 거리들을 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 오정렬 검출부는 상기 제1 내지 제4 수평 거리들 각각과 기 설정된 제1 내지 제4 수평 거리 기준들을 각각 비교하고, 상기 제1 수직 거리 내지 상기 제4 수직 거리와 기 설정된 제1 내지 제4 수직 거리 기준들을 각각 비교하여 오정렬 데이터를 생성하는 오정렬 판단부; 및 상기 제1 수평 거리와 상기 제2 수평 거리의 합인 제1 수평 합과 기 설정된 수평 노이즈 기준을 비교하고, 상기 제3 수평 거리와 상기 제4 수평 거리의 합인 제2 수평 합과 상기 수평 노이즈 기준을 비교하며, 상기 제1 수직 거리와 상기 제3 수직 거리의 합인 제1 수직 합과 수직 노이즈 기준을 비교하고, 상기 제2 수직 거리와 상기 제4 수직 거리의 합인 제2 수직 합과 상기 수직 노이즈 기준을 비교하여 상기 오정렬 데이터의 진성을 판단하는 진성 판단부를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 얼라인 검사 장치는 제1 내지 제4 수평 거리들 및 제1 내지 제4 수직 거리들에 기초하여 오정렬 데이터를 진성 불량 데이터와 노이즈 데이터로 구분할 수 있다. 따라서 노이즈에 따른 잘못된 불량 판정률이 감소될 수 있고, 얼라인 검사의 정확도가 크게 향상될 수 있다. 이에 따라, 얼라인 검사 장치를 포함하는 합지 설비의 생산성이 크게 증가될 수 있으며, 생산 비용이 절감될 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들에 따른 합지 검사 시스템은 노이즈에 따른 잘못된 얼라인 불량 판정률을 감소시키고, 이벤트성 불량 검출에 의한 의도치 않은 제조 설비의 구동 중단을 방지할 수 있다. 따라서, 제조 설비의 생산성이 향상될 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 얼라인 검사 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 얼라인 검사 장치의 카메라부의 동작의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 카메라부에 의해 촬영된 도 2의 자재의 A 부분의 영상을 확대한 도면이다.
도 4는 도 1의 얼라인 검사 장치에 포함되는 얼라인 산출부의 동작의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 4의 얼라인 산출부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 6은 도 1의 얼라인 검사 장치에 포함되는 오정렬 검출부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 오정렬된 자재의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 얼라인 검사 장치를 나타내는 블록도이다.
도 9는 도 8의 얼라인 검사 장치에 포함되는 자재 불량 검출부의 동작의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시예들에 따른 합지 검사 시스템을 나타내는 블록도이다.
도 11은 도 10의 합지 검사 시스템의 동작의 일 예를 나타내는 도면이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 얼라인 검사 장치를 나타내는 블록도이고, 도 2는 도 1의 얼라인 검사 장치의 카메라부의 동작의 일 예를 나타내는 도면이며, 도 3은 카메라부에 의해 촬영된 도 2의 자재의 A 부분의 영상을 확대한 도면이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 얼라인 검사 장치(1000)는 카메라부(100), 얼라인 산출부(200) 및 오정렬 검출부(300)를 포함할 수 있다.
얼라인 검사 장치(1000)는 하판(10)과 상판(20)을 합지하는 합지 설비에 적용될 수 있다. 합지 설비에 포함되는 검사 스테이지 상에 하판(10)과 상판(20)이 합지된 검사 대상 자재가 고정되면, 얼라인 검사 장치(1000)가 하판(10)과 상판(20) 사이의 오정렬(미스얼라인, misalign)을 검출할 수 있다.
하판(10)과 상판(20)이 합지된 자재는 평판 표시 패널, 터치 패널, 터치 표시 패널, 플렉서블 표시 패널 등을 구성할 수 있다. 예를 들어, 상판(20)은 소정의 필름 부재 등일 수 있고, FOG(film on glass) 등의 방식으로 하판(10)에 합지될 수 있다. 일 실시예에서, 상판(20)은 하판(10)보다 작은 면적을 가질 수 있다.
일 실시예에서, 얼라인 검사 장치(1000)는 자재가 오정렬된 것으로 판단되는 경우, 자동 파라미터 제어(auto parameter control, APC) 기능을 수행하여 합지 설비에 대한 얼라인 오프셋(offset)을 실시간으로 수행할 수 있다.
카메라부(100)는 상판(20)과 하판(10)이 합지(또는 정렬)된 상면을 촬영할 수 있다. 도 2에 도시된 바와 같이, 카메라부(100)는 복수의 카메라들을 포함할 수 있다. 카메라부(100)는 합지된 자재의 코너 부분들을 촬영할 수 있다. 두 개의 카메라들(101, 102)이 자재 상측을 촬영하여 상측 코너 영상들(CAM1, CAM2)을 획득할 수 있다. 이후, 카메라들(101, 102)이 Y축 방향(Y, 수직 방향)으로 이동한 후 자재의 하측을 촬영하여 하측 코너 영상들(CAM3, CAM4)을 획득할 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로서, 카메라의 개수 및 영상 촬영 위치가 이에 한정되는 것은 아니다.
카메라부(100)에 의해 촬영된 영상들(CAM1, CAM2, CAM3, CAM4)을 포함하는 영상 데이터(IMG)는 얼라인 산출부(200)에 제공될 수 있다.
얼라인 산출부(200)는 영상 데이터(IMG)를 이용하여 상판(20)과 하판(10)이 서로 중첩하지 않는 미합지 영역에서의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출할 수 있다. 얼라인 산출부(200)는 영상 데이터(IMG)에 기초하여 수평 거리들 및 수직 거리들을 포함하는 얼라인 데이터(AD)를 생성할 수 있다.
수평 거리들 각각은 상판(20)의 꼭지점들 각각으로부터 하판(10)의 테두리까지의 X축 방향(X, 수평 방향)으로의 최단 거리에 대응할 수 있다. 수직 거리들 각각은 상판(20)의 꼭지점들 각각으로부터 하판(10)의 테두리까지의 Y축 방향(Y, 수직 방향)으로의 최단 거리에 대응할 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로서, 수평 거리들 및 수직 거리들은 상판(20)에 설정된 소정의 지점으로부터의 하판(10)의 테두리까지의 거리로 결정될 수도 있다.
얼라인 산출부(200)는 영상 데이터(IMG)에 기초하여 상판의 테두리들을 인식 및 검출할 수 있다. 예를 들어, 얼라인 산출부(200)는 코너 부분들 각각에서의 테두리 라인들을 인식하고, 이들을 조합하여 상판(20)을사각형 형태의 테두리로써 검출할 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 영상 데이터(IMG)는 실질적인 테두리 정보도 포함하지만, 원치 않는 노이즈를 포함할 수 있다. 이러한 노이즈는 자재의 크랙, 주변의 이물질, 카메라의 성능 등을 포함하고, 얼라인 오인식의 원인이 될 수 있다. 따라서, 이와 같은 노이즈는 얼라인 검사 시에는 무시되어야 하는 가성 불량 정보이다.
노이즈가 상판(20)의 테두리로 인식되어 자재가 불량품으로 판단된 경우, 합지 설비의 동작이 중단되거나, 불량품에 대한 육안 검사 등의 추가 검사 절차가 진행될 수 있다. 따라서, 노이즈 오인식에 의해 얼라인 검사 장치(1000) 및 합지 설비의 생산성이 저하되고, 생산 비용이 증가될 우려가 있다.
이러한 문제점을 개선하기 위해 얼라인 검사 장치(1000)는 오정렬 검출부(300)를 포함한다. 오정렬 검출부(300)는 수평 거리들 및 수직 거리들을 이용하여 노이즈 데이터(ND)를 필터링하고, 진성 불량 데이터(GM)를 검출할 수 있다.
오정렬 검출부(300)는 수평 거리들 및 수직 거리들을 각각과 기 설정된 기준들을 비교하여 오정렬 데이터를 생성할 수 있다. 수평 거리들 및 수직 거리들이 모두 기준들을 만족하는 경우, 오정렬 검출부(300)는 양품 데이터(PM)를 출력하고, 해당 자재는 양품으로 판단될 수 있다.
오정렬 검출부(300)는 오정렬 데이터에 대한 진성 여부를 판단할 수 있다. 오정렬 데이터에 포함되는 정보가 진성 불량인 것으로 판단되는 경우, 오정렬 검출부(300)는 진성 불량 데이터(GM)를 생성할 수 있다. 오정렬 데이터에 포함되는 정보가 노이즈로 판단되는 경우, 오정렬 검출부(300)는 노이즈 데이터(ND) 및/또는 양품 데이터(PM)를 출력할 수 있다.
얼라인 산출부(200) 및 오정렬 검출부(300)에 대해서는 도 4 내지 도 7을 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
이와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 얼라인 검사 장치(1000)는 얼라인 데이터(AD)에 포함되는 상판(20)의 테두리 정보의 노이즈를 검출하여 오정렬 데이터를 진성 불량 데이터(GM)와 노이즈 데이터(ND)로 구분할 수 있다. 따라서, 얼라인 검사의 정확도 및 이를 포함하는 합지 설비의 생산성이 크게 증가될 수 있으며, 생산 비용이 절감될 수 있다.
도 4는 도 1의 얼라인 검사 장치에 포함되는 얼라인 산출부의 동작의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 5는 도 4의 얼라인 산출부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 얼라인 산출부(200)는 상판(20A)의 테두리, 제1 내지 제4 꼭지점들(P1 내지 P4), 제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4) 및 제1 내지 제4 수직 거리들(VD1 내지 VD4)을 산출할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 상판(20A)은 직사각형이 아닌 모서리가 둥근 사각 형태를 가질 수도 있다. 얼라인 산출부(200)는 영상 데이터(IMG)를 이용하여 이러한 상판(20A)을 가상의 사각형 형태로 정의할 수 있다. 예를 들어, 얼라인 산출부(200)는 영상 데이터(IMG)에 포함되는 일부 테두리 정보(직선 정보)를 연결하고, 직선들의 교차점을 가상의 사각형의 제1 내지 제4 꼭지점들(P1 내지 P4)로 결정할 수 있다.
마찬가지로, 얼라인 산출부(200)는 영상 데이터(IMG)에 포함되는 하판(10A)의 정보에 기초하여 하판(10A)의 테두리(외곽 경계선)를 산출할 수 있다.
얼라인 산출부(200)는 꼭지점들(P1 내지 P4)과 하판(10A)의 테두리까지의 거리를 산출할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 꼭지점(P1)으로부터 하판(10A)의 테두리까지의 X축 방향(X)으로의 최단 거리는 제1 수평 거리(HD1)이고, 제1 꼭지점(P1)으로부터 하판(10A) 테두리까지의 Y축 방향(Y)으로의 최단 거리는 제1 수직 거리(VD1)일 수 있다. 마찬가지로, 얼라인 산출부(200)는 제2 꼭지점(P2)으로부터 하판(10A)의 테두리까지의 X축 방향(X)으로의 최단 거리인 제2 수평 거리(HD2), 제2 꼭지점(P2)으로부터 하판(10A) 테두리까지의 Y축 방향(Y)으로의 최단 거리인 제2 수직 거리(VD2), 제3 꼭지점(P3)으로부터 하판(10A)의 테두리까지의 X축 방향(X)으로의 최단 거리인 제3 수평 거리(HD3), 제3 꼭지점(P3)으로부터 하판(10A) 테두리까지의 Y축 방향(Y)으로의 최단 거리인 제3 수직 거리(VD3), 제4 꼭지점(P4)으로부터 하판(10A)의 테두리까지의 X축 방향(X)으로의 최단 거리인 제4 수평 거리(HD4), 및 제4 꼭지점(P4)으로부터 하판(10A) 테두리까지의 Y축 방향(Y)으로의 최단 거리인 제4 수직 거리(VD4)를 산출할 수 있다.
여기서, 수평 거리들 및 수직 거리들에 의해 상판(20A)이 하판(10A) 상에 합지되고 남은 미합지 영역의 너비 등이 유추될 수 있고, 이에 기초하여 상판(20A)의 오정렬 여부가 판단될 수 있다.
상기 산출된 제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4) 및 제1 내지 수직 거리들(VD1 내지 VD4)은 얼라인 데이터(AD)에 포함되며, 오정렬 검출부에 제공될 수 있다.
여기서, 제1 꼭지점(P1)과 제2 꼭지점(P2)은 서로 제1 수평 짝을 이루고, 제3 꼭지점(P3)과 제4 꼭지점(P4)은 서로 제2 수평 짝을 이룰 수 있다. 또한, 제1 꼭지점(P1)과 제3 꼭지점(P3)은 서로 제1 수직 짝을 이루고, 제2 꼭지점(P2)과 제4 꼭지점(P4)은 서로 제2 수직 짝을 이룰 수 있다. 상기 짝 정보에 기초하여 오정렬 검출부(300)가 각각의 수평 짝끼리의 수평 합 및 수직 짝끼리의 수직 합을 산출될 수 있다.
일 실시예에서, 도 5에 도시된 바와 같이, 얼라인 산출부(200)는 꼭지점 검출부(220) 및 거리 산출부(240)를 포함할 수 있다.
꼭지점 검출부(220)는 영상 데이터(IMG)를 이용하여 상판(20A)의 테두리들에 대한 가상의 연장선들을 산출할 수 있다. 꼭지점 검출부(2020)는 상기 연장선들이 각각 교차하는 부분의 좌표를 상판(20A)의 제1 내지 제4 꼭지점들(P1 내지 P4)로 결정할 수 있다.
거리 산출부(240)는 제1 내지 제4 꼭지점들(P1 내지 P4) 각각으로부터 하판(10A)의 테두리까지의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출할 수 있다. 예를 들어, 거리 산출부(240)는 제1 꼭지점(P1)으로부터 X축 방향(X)으로 평행한 하판(10A)의 테두리의 일 지점의 좌표를 추출하고, 제1 꼭지점(P1)의 좌표와 상기 일 지점의 좌표 사이의 거리를 산출하여 제1 수평 거리(HD1)를 산출할 수 있다. 동일한 방식으로, 거리 산출부(240)는 제2 내지 제4 수평 거리들(HD2 내지 HD4) 및 제1 내지 제4 수직 거리들(VD1 내지 VD4)을 산출할 수 있다.
도 6은 도 1의 얼라인 검사 장치에 포함되는 오정렬 검출부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3 내지 도 6을 참조하면, 오정렬 검출부(300)는 오정렬 판단부(320) 및 진성판단부(340)를 포함할 수 있다.
오정렬 검출부(300)는 제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4) 및 제1 내지 제4 수직 거리들(VD1 내지 VD4)을 이용하여 노이즈 데이터(ND)가 필터링된 진성 불량 데이터(GM)를 검출할 수 있다.
일 실시예에서, 오정렬 검출부(300)는 오정렬 판단부(320) 및 진성 판단부(340)를 포함할 수 있다.
오정렬 검출부(300)는 제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4) 각각과 기 설정된 제1 내지 제4 수평 거리 기준들(HDR1 내지 HDR4)을 각각 비교하여 오정렬 데이터(MA)를 생성할 수 있다. 또한, 오정렬 검출부(300)는 1 내지 제4 수직 거리들(VD1 내지 VD4) 각각과 기 설정된 제1 내지 제4 수직 거리 기준들(VDR1 내지 VDR4)을 각각 비교하여 오정렬 데이터(MA)를 생성할 수 있다.
제1 내지 제4 수평 거리 기준들(HDR1 내지 HDR4)은 상판(20A)의 오정렬 여부를 판단하기 위한 기준이 된다. 예를 들어, 제1 내지 제4 수평 거리 기준들(HDR1 내지 HDR4)은 약 1mm로 설정될 수 있다.
예를 들어, 상판(20A)과 하판(10A) 사이의 얼라인이 맞는 경우, 제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4)은 각각 제1 내지 제4 수평 거리 기준들(HDR1 내지 HDR4)과 일치할 수 있다.
상판(20A)이 하판(10A)에 대하여 오정렬되는 경우, 제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4)은 각각 제1 내지 제4 수평 거리 기준들(HDR1 내지 HDR4)을 벗어날 수 있다. 예를 들어, 상판(20A)이 우측으로 시프트되어 하판(10A)에 합지되는 경우, 제1 및 제3 수평 거리들(HD1, HD3)은 제1 및 제3 수평 거리 기준들(HDR1, HDR3)보다 커지고 제2 및 제4 수평 거리들(HD2, HD4)은 제2 및 제4 수평 거리 기준들(HDR2, HDR4)보다 작아질 수 있다. 상판(20A)이 우측으로 시프트되어 하판(10A)에 합지되는 경우, 오정렬 판단부(320)는 오정렬 데이터(MA)를 생성하여 진성 판단부(340)에 제공할 수 있다.
예를 들어, 제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4) 중 적어도 하나가 소정의 오프셋 범위를 벗어나는 경우에 오정렬 데이터(MA)가 생성될 수 있다.
마찬가지로, 제1 내지 제4 수직 거리 기준들(VDR1 내지 VDR4) 또한 상판(20A)의 오정렬 여부를 판단하기 위한 기준이 된다. 예를 들어, 제1 내지 제4 수직 거리 기준들(VDR1 내지 VDR4)은 약 1.5mm로 설정될 수 있다.
예를 들어, 상판(20A)과 하판(10A) 사이의 얼라인이 맞는 경우, 제1 내지 제4 수직 거리들(VD1 내지 VD4)은 각각 제1 내지 제4 수직 거리 기준들(VDR1 내지 VDR4)과 일치할 수 있다.
상판(20A)이 하판(10A)에 대하여 오정렬되는 경우, 제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4)은 각각 제1 내지 제4 수평 거리 기준들(HDR1 내지 HDR4)을 벗어날 수 있다. 예를 들어, 상판(20A)이 하측으로 시프트되어 하판(10A)에 합지되는 경우, 제1 및 제2 수직 거리들(VD1, VD2)은 제1 및 제2 수직 거리 기준들(VDR1, VDR2)보다 커지고 제3 및 제4 수직 거리들(VD3, VD4)은 제3 및 제4 수평 거리 기준들(VDR3, VDR4)보다 작아질 수 있다. 이 때, 오정렬 판단부(320)는 오정렬 데이터(MA)를 생성하여 진성 판단부(340)에 제공할 수 있다.
다만, 이는 예시적인 것으로서, 제1 내지 제4 수직 거리 기준들(VDR1 내지 VDR4)은 서로 다른 값일 수도 있고, 소정의 오프셋 범위를 가질 수도 있다.
구체적으로, 오정렬 판단부(320)는 제1 수평 거리(HD1)가 제1 수평 거리 기준(HDR1)을 벗어나면서 제2 수평 거리(HD2)가 제2 수평 거리 기준(HDR2)을 벗어나는 경우에 오정렬 데이터(MA)를 생성할 수 있다. 또는, 오정렬 판단부(320)는 제3 수평 거리(HD3)가 제3 수평 거리 기준(HDR3)을 벗어나면서 제4 수평 거리(HD4)가 제4 수평 거리 기준(HDR4)을 벗어나는 경우에 오정렬 데이터(MA)를 생성할 수 있다.
이와 마찬가지로, 오정렬 판단부(320)는 제1 수직 거리(VD1)가 제1 수직 거리 기준(VDR1)을 벗어나면서 제3 수직 거리(VD3)가 제3 수직 거리 기준(VDR3)을 벗어나는 경우에 오정렬 데이터(MA)를 생성할 수 있다. 또는, 오정렬 판단부(320)는 제2 수직 거리(VD2)가 제2 수직 거리 기준(VDR2)을 벗어나면서 제4 수직 거리(VD4)가 제4 수직 거리 기준(VDR4)을 벗어나는 경우에 오정렬 데이터(MA)를 생성할 수 있다.
제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4)이 각각 제1 내지 제4 수평 거리 기준들(HDR1 내지 HDR4)을 벗어나지 않으면서 제1 내지 제4 수직 거리들(VD1 내지 VD4)이 각각 제1 내지 제4 수직 거리 기준들(VDR1 내지 VDR4)을 벗어나지 않는 경우, 오정렬 판단부(320)는 양품 데이터(PM)를 출력하고, 해당 자재는 양품으로 판단될 수 있다.
도 3을 참조하여 설명한 노이즈에 의해 제1 내지 제4 수평 거리들(HD1 내지 HD4) 및/또는 제1 내지 제4 수직 거리들(VD1 내지 VD4)이 잘못 산출될 수 있다. 진성 판단부(340)는 이러한 노이즈 데이터(ND)를 판단하여 제거할 수 있다.
일 실시예에서, 진성 판단부(340)는 제1 수평 거리(HD1)와 제2 수평 거리(HD2)의 합인 제1 수평 합(HD1 + HD2)을 산출할 수 있다. 상판(20A)이 시프트되거나 틀어지더라도 상판(20A)과 하판(10A)의 크기는 고정된 값을 가지므로, 제1 수평 합(HD1 + HD2)은 항상 일정한 값을 가져야 한다. 즉, 상판(20A)의 가로 길이(예를 들어, 제1 꼭지점(P1)과 제2 꼭지점(P2) 사이의 거리)와 제1 수평 합(HD1 + HD2)을 더한 길이는 항상 하판(10A)의 가로 길이와 같아야 한다. 다시 말하면, 제1 수평 합(HD1 + HD2)은 제1 수평 거리 기준(HDR1)과 제2 수평 거리 기준(HDR2)의 합(즉, HDR1 + HDR2)과 실질적으로 동일해야 한다. 제1 수평 합(HD1 + HD2)이 제1 수평 거리 기준(HDR1)과 제2 수평 거리 기준(HDR2)의 합과 다르면 해당 오정렬 데이터(MA)는 노이즈를 포함하는 것으로 볼 수 있다. 따라서, 해당 오정렬 데이터(MA)는 노이즈 데이터(ND)로 판단되고, 제거될 수 있다.
진성 판단부(340)는 제1 수평 합(HD1 + HD2)과 기 설정된 수평 노이즈 기준(HNR)을 비교할 수 있다. 일 실시예에서, 수평 노이즈 기준(HNR)은 제1 수평 거리 기준(HDR1)과 제2 수평 거리 기준(HDR2)의 합 및/또는 제3 수평 거리 기준(HDR3)과 제4 수평 거리 기준(HDR4)의 합에 대응할 수 있다. 다만, 수평 노이즈 기준(HNR)은 소정의 오프셋 범위를 포함할 수도 있다.
진성 판단부(340)는 제3 수평 거리(HD3)와 제4 수평 거리(HD4)의 합인 제2 수평 합(HD3 + HD4)과 기 설정된 수평 노이즈 기준(HNR)을 비교할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 수평 합(HD1 + HD2) 및 제2 수평 합(HD3 + HD4) 중 적어도 하나가 수평 노이즈 기준(HNR)을 벗어나는 경우, 진성 판단부(340)는 오정렬 데이터(MA)를 노이즈 데이터(ND)로 결정할 수 있다. 노이즈 데이터(ND)는 가성 오정렬 데이터이므로 오정렬 판단에 쓰일 수 없다. 따라서, 노이즈 데이터(ND)는 바로 제거될 수 있다.
이와 마찬가지로, 진성 판단부(340)는 제1 수직 거리(VD1)와 제3 수직 거리(VD3)의 합인 제1 수직 합(VD1 + VD3) 및 제2 수직 거리(VD2)와 제4 수직 거리(VD4)의 합인 제2 수직 합(VD2 + VD4)을 산출할 수 있다. 제1 수직 합(VD1 + VD3)은 제1 수직 거리 기준(VDR1)과 제3 수직 거리 기준(VDR3)의 합과 동일해야 한다.
일 실시예에서, 제1 수직 합(VD1 +VD3) 및 제2 수직 합(VD2 + VD4) 중 적어도 하나가 수직 노이즈 기준(VNR)을 벗어나는 경우, 진성 판단부(340)는 오정렬 데이터(MA)를 노이즈 데이터(ND)로 결정할 수 있다. 수직 노이즈 기준(VNR)은 제1 수직 거리 기준(VDR1)과 제3 수직 거리 기준(VDR3)의 합 (즉, VDR1 + VDR3) 및/또는 제2 수직 거리 기준(VDR2)과 제4 수직 거리 기준(VDR4)의 합 (즉, VDR2 + VDR4)에 대응할 수 있다. 다만, 수직 노이즈 기준(VNR)은 소정의 오프셋 범위를 포함할 수도 있다.
제1 수평 합(HD1 + HD2) 및 제2 수평 합(HD3 + HD4)이 수평 노이즈 기준(HNR)에 부합하면서 제1 수직 합(VD1 + VD3) 및 제2 수직 합(VD2 + VD4)이 수직 노이즈 기준(VNR)에 부합하는 경우, 진성 판단부(340)는 오정렬 데이터(MA)를 진성 불량 데이터(GM)로 결정할 수 있다.
진성 불량 데이터(GM)에 대응하는 자재는 오정렬 불량품으로 판단될 수 있다.
일 실시예에서, 진성 판단부(340)는 양품 데이터(PM)에 대한 진성 여부를 판단할 수도 있다. 예를 들어, 제1 수평 합(HD1 + HD2) 및 제2 수평 합(HD3 + HD4) 중 적어도 하나가 수평 노이즈 기준(HNR)을 벗어나는 경우, 또는 제1 수직 합(VD1 +VD3) 및 제2 수직 합(VD2 + VD4) 중 적어도 하나가 수직 노이즈 기준(VNR)을 벗어나는 경우, 양품 데이터(PM)는 노이즈를 포함하는 것으로 판단될 수 있다. 따라서, 상기 양품 데이터(PM) 또한 노이즈 데이터(ND)로 판단될 수 있다.
다른 실시예에서, 진성 판단부(340)는 양품 데이터(PM)에 대해서는 진성 판단을 수행하지 않을 수 있다. 이에 따라, 얼라인 검사 속도가 향상될 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 얼라인 검사 장치(1000)는 제1 내지 제4 수평 거리들(HDR1 내지 HDR4) 및 제1 내지 제4 수직 거리들(VD1 내지 VD4)에 기초하여 오정렬 데이터를 진성 불량 데이터(GM)와 노이즈 데이터(ND)로 구분할 수 있다. 따라서 노이즈에 따른 잘못된 불량 판정률이 감소될 수 있고, 얼라인 검사의 정확도가 크게 향상될 수 있다. 이에 따라, 얼라인 검사 장치(1000)를 포함하는 합지 설비의 생산성이 크게 증가될 수 있으며, 생산 비용이 절감될 수 있다.
도 7은 오정렬된 자재의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7에 도시된 바와 같이, 상판(20A)은 우측 및 상측 방향으로 시프트되어 오정렬될 수 있다.
도 4, 도 6, 및 도 7을 참조하면, 제1 수평 거리(HD1') 및 제3 수평 거리(HD3')는 증가하고, 제2 수평 거리(HD2') 및 제4 수평 거리(HD4')는 감소할 수 있다. 그러나, 진성 오정렬의 경우, 제1 수평 합(HD1' + HD2')과 제2 수평 합(HD3' + HD4')은 모두 수평 노이즈 기준(HNR, HDR1 + HDR2)에 부합할 수 있다.
이와 마찬가지로, 진성 오정렬의 경우, 제1 수직 합(VD1' + VD3')과 제2 수직 합(VD2' + VD4')은 모두 수직 노이즈 기준(VNR, VDR1 + VDR3)에 부합할 수 있다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 얼라인 검사 장치를 나타내는 블록도이다. 도 9는 도 8의 얼라인 검사 장치에 포함되는 자재 불량 검출부의 동작의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 8에서는 도 1을 참조하여 설명한 구성 요소들에 대해 동일한 참조 부호들을 사용하며, 이러한 구성 요소들에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 또한, 도 8의 얼라인 검사 장치(1001)는 불량 자재 검출부(400)을 제외하면, 도 1의 얼라인 검사 장치(1000)와 실질적으로 동일하거나 유사한 구성을 가질 수 있다.
도 8 및 도 9를 참조하면, 얼라인 검사 장치(1000)는 카메라부(100), 얼라인 산출부(200), 오정렬 검출부(300), 및 불량 자재 검출부(400)를 포함할 수 있다.
카메라부(100), 얼라인 산출부(200) 및 오정렬 검출부(300)의 구성 및 동작은 도 1 내지 도 7를 참조하여 상술하였으므로, 중복되는 설명을 생략한다.
불량 자재 검출부(400)는 얼라인 산출부(200)에 의해 산출된 꼭지점들(P1 내지 P4) 사이의 거리를 산출하여 상판(20A)의 크기를 검출할 수 있다. 예를 들어, 불량 자재 검출부(400)는 제1 꼭지점(P1)의 좌표와 제2 꼭지점(P2)의 좌표에 기초하여 제1 꼭지점(P1)과 제2 꼭지점(P2) 사이의 길이(L1)를 산출할 수 있다. 제1 꼭지점(P1)과 제2 꼭지점(P2) 사이의 길이(L1)는 상판(20A)을 정의하는 사각형의 일 변에 대응할 수 있다. 이와 동일한 방식으로 사각형의 모든 변의 길이들(L1 내지 L4)이 산출될 수 있다. 사각형의 모든 변의 길이들(L1 내지 L4)로부터 상판(20A)의 크기가 판단될 수 있다.
불량 자재 검출부(400)는 사각형의 모든 변의 길이들(L1 내지 L4)과 기 설정된 기준 크기(RS)를 비교하여 자재의 크기 불량 여부를 판단할 수 있다. 사각형의 모든 변의 길이들(L1 내지 L4) 중 적어도 하나가 기준 크기(RS)를 벗어나는 경우, 불량 자재 검출부(400)는 크기 불량 데이터(DM)를 생성할 수 있다.
이에 따라, 불량 자재가 검출된 경우, 추후 공정이 중단되고, 불량 자재 처리 피드백이 수행될 수 있다.
이와 같이, 얼라인 검사 장치(1000)는 꼭지점 정보를 이용하여 불량 자재를 추가적으로 검출함으로써 얼라인 검사뿐만 아니라 자재 크기 불량 검사도 수행될 수 있다.
도 10은 본 발명의 실시예들에 따른 합지 검사 시스템을 나타내는 블록도이고, 도 11은 도 10의 합지 검사 시스템의 동작의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 합지 검사 시스템(1)은 얼라인 검사 장치(1000), 데이터 베이스(2000) 및 인터락 장치(3000)를 포함할 수 있다.
합지 검사 시스템(1)은 제조 설비(예를 들어, 합지 설비)에 의해 합지되는 자재(패널)의 얼라인을 검사하여 제조 설비의 동작을 결정할 수 있다.
얼라인 검사 장치(1000)는 상하로 상호 합지된 상판과 하판 사이의 얼라인 검사를 수행할 수 있다. 얼라인 검사 장치(1000)는 얼라인 검사 중 검출된 노이즈 데이터를 필터링하여 자재 데이터(MAD)를 생성할 수 있다. 자재 데이터(MAD)는 자재 각각의 얼라인 데이터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 자재 데이터(MAD)는 자재 각각의 양품 데이터(PM) 또는 진성 불량 데이터(GM)를 포함할 수 있다.
얼라인 검사 장치(1000)는 노이즈 데이터를 데이터 베이스(2000)에 제공하지 않고 제거할 수 있다.
얼라인 검사 장치(1000)는 도 1 또는 도 8의 얼라인 장치일 수 있다. 얼라인 검사 장치(1000)의 구성 및 동작은 도 1 내지 도 9를 참조하여 상술하였으므로, 중복되는 설명을 생략하기로 한다.
데이터 베이스(2000)는 상판과 하판이 합지된 자재 각각의 자재 데이터(MAD)를 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 데이터 베이스(2000)는 저장된 자재 데이터(MAD)를 이용하여 누적 데이터(ACD1)를 생성할 수 있다. 데이터 베이스(2000)는 얼라인 검사가 진행되는 자재들의 자재 데이터(MAD)를 순차적으로 누적할 수 있다.
인터락 장치(3000)는 기 설정된 개수의 자재 데이터(MAD)를 갖는 현재 누적 데이터(ACD1)에 포함되는 불량 자재 데이터의 개수에 기초하여 제조 설비의 동작 중단을 위한 인터락(interlock) 신호(ITL)를 출력할 수 있다. 불량 자재 데이터는 진성 불량 데이터(GM)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 진성 불량 데이터(GM)를 포함하는 자재 데이터(MAD)는 불량 자재 데이터로 판단될 수 있다.
일 실시예에서, 인터락 장치(3000)는 데이터 갱신부(3200) 및 인터락 판단부(3400)를 포함할 수 있다.
데이터 갱신부(3200)는 자재 각각에 대한 얼라인 검사 시마다 현재 누적 데이터(ACD1)에 포함되는 가장 오래된 상기 자재 데이터를 제거하면서 현재 자재 데이터(도 11의 PDAT)를 추가함으로써 상기 현재 누적 데이터(ACD1)를 갱신할 수 있다.
예를 들어, 현재 누적 데이터(ACD1)는 최근 검사된 10개의 자재 데이터(ACD1)를 포함할 수 있다. 일례로, 도 11에 도시된 바와 같이, 현재 자재 데이터(PDAT)가 누적 데이터(ACD1)에 추가되면서 가장 오래된 자재 데이터(DAT0)가 제거됨으로써 현재 누적 데이터(ACD1)가 갱신될 수 있다.
다만, 이는 예시적인 것으로서, 현재 누적 데이터(ACD1)에 포함되는 자재 데이터(ACD1)의 개수가 이에 한정되는 것은 아니다.
인터락 판단부(3400)는 갱신된 현재 누적 데이터(ACD2)에 포함되는 불량 자재 데이터의 개수와 기 설정된 임계 값(TH)을 비교할 수 있다. 일 실시예에서, 불량 자재 데이터는 진성 불량 데이터(GM)에 의해 카운트될 수 있다. 예를 들어, 도 11에 도시된 바와 같이, 진성 불량 데이터(GM)를 포함하는 자재 데이터(도 11의 DAT3, PDAT)는 불량 자재 데이터로 카운트될 수 있다. 양품 데이터(PM)을 포함하는 자재 데이터(도 11의 DAT0, DAT1, DAT2, DAT4, DAT5, DAT6, DAT7, DAT8, DAT9)에 대응하는 자재들은 양품으로 판단된다.
인터락 판단부(3400)는 불량 자재 데이터의 개수가 임계 값(TH)에 도달하면 인터락 신호(ITL)를 출력하여 제조 설비의 동작을 중단시킬 수 있다. 예를 들어, 도 11에 도시된 바와 같이, 임계 값(TH)이 2로 설정될 수 있다. 이 때, 갱신된 현재 누적 데이터(ACD2)에 불량 자재 데이터가 2로 카운트되는 경우, 인터락 신호(ITL)가 출력될 수 있다.
갱신된 현재 누적 데이터(ACD2)에 포함되는 불량 자재 데이터의 개수가 임계 값(TH) 미만인 경우, 얼라인 검사가 지속적으로 진행될 수 있다. 일 실시예에서, 이 경우, 불량 자재 데이터에 상응하는 불량 자재는 따로 엔지 포트(NG port) 등으로 이송되도록 설계될 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 합지 검사 시스템(1)은 노이즈에 따른 잘못된 얼라인 불량 판정률을 감소시키고, 이벤트성 불량 검출에 의한 의도치 않은 제조 설비의 구동 중단을 방지할 수 있다. 따라서, 제조 설비의 생산성이 향상될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
1: 합지 검사 시스템 10: 하판
20: 상판 100: 카메라부
200: 얼라인 산출부 300: 오정렬 검출부
400: 불량 자재 검출부 1000: 얼라인 검사 장치
2000: 데이터 베이스 3000: 인터락 장치

Claims (20)

  1. 상하로 상호 합지(laminate)된 상판과 하판 사이의 얼라인을 촬영하여 영상 데이터를 생성하는 카메라부;
    상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판과 상기 하판이 서로 중첩하지 않는 미합지 영역에서의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출하고, 얼라인(align) 데이터를 생성하는 얼라인 산출부; 및
    상기 수평 거리들 및 상기 수직 거리들을 이용하여 노이즈 데이터가 필터링된 진성 불량 데이터를 검출하는 오정렬(misalignment) 검출부를 포함하고,
    상기 수평 거리들 각각은 상기 상판의 테두리에 기초하여 검출된 꼭지점들 각각으로부터 상기 하판의 테두리까지의 X축 방향으로의 최단 거리에 대응하며,
    상기 수직 거리들 각각은 상기 꼭지점들 각각으로부터 상기 하판의 상기 테두리까지의 Y축 방향으로의 최단 거리에 대응하고,
    상기 얼라인 산출부는 상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판을 제1 내지 제4 꼭지점들을 갖는 가상의 사각형으로 검출하며, 상기 제1 내지 제4 꼭지점들로부터 각각 제1 내지 제4 수평 거리들 및 제1 내지 제4 수직 거리들을 산출하며,
    상기 제1 꼭지점과 상기 제2 꼭지점은 제1 수평 짝을 이루고,
    상기 제3 꼭지점과 상기 제4 꼭지점은 제2 수평 짝을 이루며,
    상기 제1 꼭지점과 상기 제3 꼭지점은 제1 수직 짝을 이루고,
    상기 제2 꼭지점과 상기 제4 꼭지점은 제2 수직 짝을 이루며,
    상기 오정렬 검출부는
    상기 제1 내지 제4 수평 거리들 각각과 기 설정된 제1 내지 제4 수평 거리 기준들을 각각 비교하고, 상기 제1 수직 거리 내지 상기 제4 수직 거리와 기 설정된 제1 내지 제4 수직 거리 기준들을 각각 비교하여 오정렬 데이터를 생성하는 오정렬 판단부; 및
    상기 제1 수평 거리와 상기 제2 수평 거리의 합인 제1 수평 합과 기 설정된 수평 노이즈 기준을 비교하고, 상기 제3 수평 거리와 상기 제4 수평 거리의 합인 제2 수평 합과 상기 수평 노이즈 기준을 비교하며, 상기 제1 수직 거리와 상기 제3 수직 거리의 합인 제1 수직 합과 수직 노이즈 기준을 비교하고, 상기 제2 수직 거리와 상기 제4 수직 거리의 합인 제2 수직 합과 상기 수직 노이즈 기준을 비교하여 상기 얼라인 데이터의 진성을 판단하는 진성 판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 제조 설비의 얼라인 검사 장치.
  2. 삭제
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  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 오정렬 판단부는 상기 제1 수평 거리가 상기 제1 수평 거리 기준을 벗어나면서 상기 제2 수평 거리가 상기 제2 수평 거리 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 얼라인 검사 장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 오정렬 판단부는 상기 제3 수평 거리가 상기 제3 수평 거리 기준을 벗어나면서 상기 제4 수평 거리가 상기 제4 수평 거리 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 얼라인 검사 장치.
  8. 제 1 항에 있어서, 상기 오정렬 판단부는 상기 제1 수직 거리가 상기 제1 수직 거리 기준을 벗어나면서 상기 제3 수직 거리가 상기 제3 수직 거리 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 생성하는 것 특징으로 하는 얼라인 검사 장치.
  9. 제 1 항에 있어서, 상기 오정렬 판단부는 상기 제2 수직 거리가 상기 제2 수직 거리 기준을 벗어나면서 상기 제4 수직 거리가 상기 제4 수직 거리 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 얼라인 검사 장치.
  10. 제 1 항에 있어서, 상기 진성 판단부는 상기 제1 수평 합 및 상기 제2 수평 합 중 적어도 하나가 상기 수평 노이즈 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 상기 노이즈 데이터로 결정하는 것을 특징으로 하는 얼라인 검사 장치.
  11. 제 1 항에 있어서, 상기 진성 판단부는 상기 제1 수직 합 및 상기 제2 수직 합 중 적어도 하나가 상기 수직 노이즈 기준을 벗어나는 경우에 상기 오정렬 데이터를 상기 노이즈 데이터로 결정하는 것을 특징으로 하는 얼라인 검사 장치.
  12. 제 1 항에 있어서, 상기 진성 판단부는 상기 제1 수평 합 및 상기 제2 수평 합이 상기 수평 노이즈 기준에 부합하면서 상기 제1 수직 합 및 상기 제2 수직 합이 상기 수직 노이즈 기준에 부합하는 경우에 상기 오정렬 데이터를 상기 진성 불량 데이터로 결정하는 것을 특징으로 하는 얼라인 검사 장치.
  13. 상하로 상호 합지(laminate)된 상판과 하판 사이의 얼라인을 촬영하여 영상 데이터를 생성하는 카메라부;
    상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판과 상기 하판이 서로 중첩하지 않는 미합지 영역에서의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출하고, 얼라인(align) 데이터를 생성하는 얼라인 산출부; 및
    상기 수평 거리들 및 상기 수직 거리들을 이용하여 노이즈 데이터가 필터링된 진성 불량 데이터를 검출하는 오정렬(misalignment) 검출부를 포함하고,
    상기 얼라인 산출부는
    상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판의 테두리들에 대한 가상의 연장선들을 산출하고, 상기 연장선들이 각각 교차하는 부분의 좌표를 상기 상판의 꼭지점들로 결정하는 꼭지점 검출부;
    상기 꼭지점들 각각으로부터 상기 하판의 테두리까지의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출하는 거리 산출부; 및
    상기 꼭지점들 사이의 거리를 산출하여 상기 상판의 크기를 검출하고, 상기 검출된 상판의 크기와 기 설정된 기준 크기를 비교하여 자재의 크기 불량 여부를 결정하는 불량 자재 검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 얼라인 검사 장치.
  14. 삭제
  15. 제 13 항에 있어서, 상기 불량 자재 검출부는 상기 상판의 크기가 상기 기준 크기를 벗어나는 경우 크기 불량 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 얼라인 검사 장치.
  16. 노이즈 데이터를 필터링하며, 제조 설비에 의해 상하로 상호 합지(laminate)되는 상판과 상기 상판보다 넓은 면적의 하판 사이의 얼라인을 검사하는 얼라인 검사 장치;
    상기 상판과 상기 하판이 합지된 자재 각각의 얼라인 데이터 및 진성 불량 데이터를 포함하는 자재 데이터를 저장하는 데이터 베이스; 및
    기 설정된 개수의 자재 데이터를 갖는 현재 누적 데이터에 포함되는 불량 자재 데이터의 개수에 기초하여 상기 제조 설비의 동작 중단을 위한 인터락(interlock) 신호를 출력하는 인터락 장치를 포함하고,
    상기 얼라인 검사 장치는
    상기 상판의 꼭지점들을 촬영하여 영상 데이터를 생성하는 카메라부;
    상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판과 상기 하판이 서로 중첩하지 않는 미합지 영역에서의 수평 거리들 및 수직 거리들을 산출하여 상기 얼라인 데이터를 생성하는 얼라인 산출부; 및
    상기 수평 거리들 및 상기 수직 거리들을 이용하여 상기 노이즈 데이터가 필터링된 상기 진성 불량 데이터를 검출하는 오정렬(misalign) 검출부를 포함하며,
    상기 불량 자재 데이터는 상기 진성 불량 데이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 합지 검사 시스템.
  17. 제 16 항에 있어서, 상기 인터락 장치는
    상기 자재 각각에 대한 얼라인 검사 시마다 상기 현재 누적 데이터에 포함되는 가장 오래된 상기 자재 데이터를 제거하면서 현재 자재 데이터를 추가함으로써 상기 현재 누적 데이터를 갱신하는 데이터 갱신부; 및
    상기 갱신된 현재 누적 데이터에 포함되는 상기 불량 자재 데이터의 개수와 기 설정된 임계 값을 비교하고, 상기 불량 자재 데이터의 개수가 상기 임계 값에 도달하면 상기 인터락 신호를 출력하는 인터락 판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 합지 검사 시스템.
  18. 제 17 항에 있어서, 상기 얼라인 검사 장치는 상기 노이즈 데이터를 상기 데이터 베이스에 제공하지 않고 제거하는 것을 특징으로 하는 합지 검사 시스템.
  19. 제 16 항에 있어서, 상기 얼라인 산출부는 상기 영상 데이터를 이용하여 상기 상판을 제1 내지 제4 꼭지점들을 갖는 가상의 사각형으로 검출하며, 상기 제1 내지 제4 꼭지점들로부터 각각 제1 내지 제4 수평 거리들 및 제1 내지 제4 수직 거리들을 산출하는 것을 특징으로 하는 합지 검사 시스템.
  20. 제 19 항에 있어서, 상기 오정렬 검출부는
    상기 제1 내지 제4 수평 거리들 각각과 기 설정된 제1 내지 제4 수평 거리 기준들을 각각 비교하고, 상기 제1 수직 거리 내지 상기 제4 수직 거리와 기 설정된 제1 내지 제4 수직 거리 기준들을 각각 비교하여 오정렬 데이터를 생성하는 오정렬 판단부; 및
    상기 제1 수평 거리와 상기 제2 수평 거리의 합인 제1 수평 합과 기 설정된 수평 노이즈 기준을 비교하고, 상기 제3 수평 거리와 상기 제4 수평 거리의 합인 제2 수평 합과 상기 수평 노이즈 기준을 비교하며, 상기 제1 수직 거리와 상기 제3 수직 거리의 합인 제1 수직 합과 수직 노이즈 기준을 비교하고, 상기 제2 수직 거리와 상기 제4 수직 거리의 합인 제2 수직 합과 상기 수직 노이즈 기준을 비교하여 상기 오정렬 데이터의 진성을 판단하는 진성 판단부를 포함하는 것을 특징으로 하는 합지 검사 시스템.
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