KR102362846B1 - 검사 장치, ptp 포장기 및 ptp 시트의 제조 방법 - Google Patents

검사 장치, ptp 포장기 및 ptp 시트의 제조 방법 Download PDF

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Abstract

과제
분광 분석을 이용한 이품종 정제의 혼입 검사에 관련된 검사 정밀도의 향상을 도모할 수 있는 검사 장치, PTP 포장기 및 PTP 시트의 제조 방법을 제공한다.
해결 수단
검사 장치(22)는, 반송되는 용기 필름(3)의 포켓부(2)에 충전된 정제(5)에 대하여 근적외광을 조사 가능한 조명 장치(52)와, 정제(5)로부터 반사되는 근적외광의 반사광을 분광하고, 반사광의 분광 화상을 촬상 가능한 촬상 장치(53)를 구비하고, 그 촬상 장치(53)에 의해 촬상된 분광 화상을 기초로 정제(5) 상의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터를 취득하고, 그 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터 중, 적어도 할선의 저부를 포함하는 소정 범위에 대응한 스펙트럼 데이터를 제외한 스펙트럼 데이터를 이용하여, 정제(5)에 대하여 소정의 분석 처리를 행하여, 이품종의 혼입을 검사한다.

Description

검사 장치, PTP 포장기 및 PTP 시트의 제조 방법{Inspection device, PTP packaging machine, and method of manufacturing PTP sheet}
본 발명은, 분광 분석을 이용하여 이품종 정제의 혼입을 검사하는 검사 장치, PTP 포장기 및 PTP 시트의 제조 방법에 관한 것이다.
일반적으로 PTP 시트는, 정제가 충전되는 포켓부가 형성된 용기 필름과, 그 용기 필름에 대하여 포켓부의 개구측을 밀봉하도록 취착되는 커버 필름으로 구성되어 있다.
PTP 시트의 제조시에는, 이품종 정제의 혼입을 검사하는 이품종 혼입 검사가 행하여진다. 이러한 검사의 방법으로는, 근적외광을 정제에 조사하고, 그 반사광을 분광기에 의해 분광하고, 그것을 촬상하여 얻어지는 스펙트럼 데이터를 기초로 분석 처리(예를 들어 주성분 분석)를 행함으로써 이품종 정제의 혼입을 검출하는 방법이 알려져 있다.
일반적으로 스펙트럼 데이터를 기초로 분석 처리를 행할 때에는, 각 정제 상의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터를 평균화함으로써, 그 정제에 관련된 평균 스펙트럼 데이터를 산출하고, 그 평균 스펙트럼 데이터에 기초하여, 그 정제의 종류를 판별한다.
그 중에서도, 각 정제의 중심 위치를 검출하고, 그 중심 위치의 근방의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터를 평균화함으로써, 그 정제에 관련된 평균 스펙트럼 데이터를 산출하고, 그 평균 스펙트럼 데이터에 기초하여, 그 정제의 종류를 판별하는 기술 등도 알려져 있다(예를 들어, 특허문헌 1 참조).
특허문헌 1: 국제 공개 제2005/038443호
그러나, 상기 특허문헌 1 등의 종래 기술과 같이, 단순히 정제 상의 소정 영역 내의 스펙트럼 데이터를 평균화하는 것만으로는, 그 정제에 관련된 적절한 평균 스펙트럼 데이터가 되지 않는 경우가 있다.
예를 들어 근년에는, 유효 성분 또는 이것에 부형제 등을 첨가한 것을 압축 성형하였을 뿐인 나정의 표면에 대하여, 맛이나 냄새의 마스킹, 산소 배리어성이나 방습성, 장용성, 서방성 등의 특성을 부여하는 등 여러 목적에서, 고분자 화합물 등의 코팅제로 피막(코팅층)을 형성한 필름 코팅정이 알려져 있다.
일반적으로 피막은 나정에 대해 액상의 코팅제를 분무하여 건조시키는 등을 하여 형성된다. 이 때문에, 할선이나 각인 등의 오목부가 형성된 정제(나정)의 표면에 코팅이 처리되어 있는 경우, 분무된 코팅제가 오목부에 흘러들어, 오목부의 저부에 있어서 피막의 두께가 두꺼워져 버릴 우려가 있다(도 13 참조).
이러한 경우, 오목부의 저부에 관련된 스펙트럼 데이터는, 코팅제의 영향을 강하게 받은 것이 되기 때문에, 정제의 품종을 나타내는 스펙트럼 데이터와는 크게 다른 것이 되어 버릴 우려가 있다. 특히 유효 성분의 함유량이 다른 이종 정제와 같이, 스펙트럼 데이터가 서로 비슷한 이종 정제를 바르게 구별하는 것이 곤란해질 우려가 있다.
통상, 할선 등은 정제의 중심에 형성되기 때문에, 특허문헌 1과 같이, 정제의 중심 위치의 근방의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터를 평균화한 경우에는, 코팅제의 영향을 강하게 받은 스펙트럼 데이터가 다수 포함되어 버려, 그 정제의 품종을 나타내는 적절한 스펙트럼 데이터가 얻어지지 않을 우려가 있다.
결과로서, 분광 분석을 이용한 이품종 정제의 혼입 검사에 관련된 검사 정밀도가 현저하게 저하될 우려가 있다.
본 발명은, 상기 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적은, 분광 분석을 이용한 이품종 정제의 혼입 검사에 관련된 검사 정밀도의 향상을 도모할 수 있는 검사 장치, PTP 포장기 및 PTP 시트의 제조 방법을 제공하는 것에 있다.
이하, 상기 과제를 해결하기에 적합한 각 수단에 대해 항을 나누어 설명한다. 한편, 필요에 따라 대응하는 수단에 특유의 작용 효과를 부기한다.
수단 1. 표면에 오목부(할선이나 각인 등)를 갖고 또한 코팅이 처리된 정제를 검사하는 검사 장치로서,
상기 정제에 대하여 근적외광을 조사 가능한 조사 수단과,
상기 근적외광이 조사된 상기 정제로부터 반사되는 반사광을 분광 가능한 분광 수단과,
상기 분광 수단에서 분광된 상기 반사광의 분광 화상을 촬상 가능한 촬상 수단과,
상기 촬상 수단에 의해 취득된 상기 분광 화상을 기초로, 상기 정제 상의 복수점(복수의 좌표 위치)에 있어서의 스펙트럼 데이터를 취득 가능한 스펙트럼 데이터 취득 수단과,
상기 정제 상의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터 중, 적어도 상기 오목부의 저부를 포함하는 소정 범위에 대응한 스펙트럼 데이터를 제외한 스펙트럼 데이터를 이용하여, 상기 정제에 대하여 소정의 분석 처리(예를 들어 주성분 분석)를 행함으로써 이품종을 검출 가능한 분석 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 검사 장치.
상기 수단 1에 의하면, 예를 들어 나정의 표면에 할선이나 각인 등의 오목부가 형성되고 또한 그 표면이 코팅제로 피복된 필름 코팅정 등의 정제를 검사하는 경우에 있어서, 만일 정제 표면을 덮는 피막(코팅층)의 두께가 오목부의 저부를 포함하는 소정 범위에 있어서 비교적 두꺼워져 있어, 그 소정 범위에 있어서의 스펙트럼 데이터가 코팅제의 영향을 강하게 받을 우려가 있는 경우에 있어서도, 그 소정 범위에 있어서의 스펙트럼 데이터를 제외하고, 정제의 품종을 적절하게 나타낸 스펙트럼 데이터를 취득한 뒤에, 정제의 분광 분석을 행할 수 있다.
결과로서, 정제 상에 있어서의 복수점의 스펙트럼 데이터를 단순히 평균화하는 구성 등과 비교하여, 코팅제의 영향을 극력 회피할 수 있어, 이품종 정제의 혼입 검사에 관련된 검사 정밀도의 비약적인 향상을 도모할 수 있다.
수단 2. 상기 분석 수단은, 적어도 상기 오목부의 저부를 포함하는 소정 범위에 대하여 소정의 마스크 처리를 행함으로써, 그 소정 범위에 대응한 스펙트럼 데이터를 제외한 스펙트럼 데이터를 파악하는 것을 특징으로 하는 수단 1에 기재된 검사 장치.
상기 수단 2에 의하면, 마스크 처리라는 비교적 간단한 처리에 의해, 상기 소정 범위에 대응한 스펙트럼 데이터를 제외한 스펙트럼 데이터를 파악할 수 있어, 처리의 간소화를 도모할 수 있다.
또한, 스펙트럼 데이터에 대한 코팅제의 영향의 정도에 상관없이, 상기 오목부의 저부를 포함하는 소정 범위 전역에 관련된 스펙트럼 데이터를 제외할 수 있기 때문에, 코팅제의 영향뿐만 아니라, 오목부에 관련된 다른 영향(예를 들어 오목부에 발생하는 그림자부의 영향 등)도 제외할 수 있어, 검사 정밀도의 추가적인 향상을 도모할 수 있다.
수단 3. 표면에 오목부(할선이나 각인 등)를 갖고 또한 코팅이 처리된 정제가 용기 필름에 형성된 포켓부에 수용되고, 그 포켓부를 막도록 커버 필름이 취착되어 이루어지는 PTP 시트를 제조하기 위한 PTP 포장기로서,
띠상의 상기 용기 필름에 대하여 상기 포켓부를 형성하는 포켓부 형성 수단과,
상기 포켓부에 상기 정제를 충전하는 충전 수단과,
상기 포켓부에 상기 정제가 충전된 상기 용기 필름에 대하여, 상기 포켓부를 막도록 하여 띠상의 상기 커버 필름을 취착하는 취착 수단과,
상기 용기 필름에 상기 커버 필름이 취착된 띠상체(띠상의 PTP 필름)로부터 상기 PTP 시트를 절리하는 절리 수단(시트 단위로 블랭킹하는 블랭킹 수단을 포함한다)과,
상기 수단 1 또는 2에 기재된 검사 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 PTP 포장기.
상기 수단 3과 같이, 상기 수단 1 또는 2에 따른 검사 장치를 PTP 포장기에 구비함으로써, PTP 시트의 제조 과정에 있어서 이품종을 포함하는 불량품을 효율적으로 제외할 수 있는 등의 메리트가 발생한다. 또한, PTP 포장기는, 상기 검사 장치에 의해 불량이라고 판정된 PTP 시트를 배출하는 배출 수단을 구비하는 구성으로 해도 된다.
한편, 상기 수단 3에 있어서, 상기 검사 장치를 「충전 수단에 의해 포켓부에 정제가 충전되기 전 공정」에 배치한 구성으로 해도 된다. 이러한 경우, 포켓부에 충전되기 전 단계에 이품종을 배제하는 것이 가능하게 되어, 불량품이 되는 PTP 시트를 저감할 수 있다.
또한, 상기 검사 장치를 「충전 수단에 의해 포켓부에 정제가 충전된 후 공정 또한 취착 수단에 의해 커버 필름이 취착되기 전 공정」에 배치한 구성으로 해도 된다. 이러한 경우, 정제를 가리는 것이 없는 상태에서 검사를 실행할 수 있어, 추가적인 검사 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.
또한, 상기 검사 장치를 「취착 수단에 의해 커버 필름이 취착된 후 공정 또한 절리 수단에 의해 PTP 시트가 절리되기 전 공정」에 배치한 구성으로 해도 된다. 이러한 경우, 정제가 교체되는 일이 없는 상태에서 검사를 실행할 수 있어, 추가적인 검사 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.
또한, 상기 검사 장치를 「절리 수단에 의해 PTP 시트가 절리된 후 공정」에 배치한 구성으로 해도 된다. 이러한 경우, 불량품이 섞여 있지 않은지를 최종 단계에서 확인할 수 있다.
수단 4. 표면에 오목부(할선이나 각인 등)를 갖고 또한 코팅이 처리된 정제가 용기 필름에 형성된 포켓부에 수용되고, 그 포켓부를 막도록 커버 필름이 취착되어 이루어지는 PTP 시트를 제조하기 위한 PTP 시트의 제조 방법으로서,
띠상의 상기 용기 필름에 대하여 상기 포켓부를 형성하는 포켓부 형성 공정과,
상기 포켓부에 상기 정제를 충전하는 충전 공정과,
상기 포켓부에 상기 정제가 충전된 상기 용기 필름에 대하여, 상기 포켓부를 막도록 하여 띠상의 상기 커버 필름을 취착하는 취착 공정과,
상기 용기 필름에 상기 커버 필름이 취착된 띠상체(띠상의 PTP 필름)로부터 상기 PTP 시트를 절리하는 절리 공정(시트 단위로 블랭킹하는 블랭킹 공정을 포함한다)과,
이품종의 혼입을 검사하는 검사 공정을 구비하고,
상기 검사 공정에 있어서,
상기 정제에 대하여 근적외광을 조사하는 조사 공정과,
상기 근적외광이 조사된 상기 정제로부터 반사되는 반사광을 분광하는 분광 공정과,
분광된 상기 반사광의 분광 화상을 촬상하는 촬상 공정(노광 공정)과,
상기 분광 화상을 기초로, 상기 정제 상의 복수점(복수의 좌표 위치)에 있어서의 스펙트럼 데이터를 취득하는 스펙트럼 데이터 취득 공정과,
상기 정제 상의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터 중, 적어도 상기 오목부의 저부를 포함하는 소정 범위에 대응한 스펙트럼 데이터를 제외한 스펙트럼 데이터를 이용하여, 상기 정제에 대하여 소정의 분석 처리(예를 들어 주성분 분석)를 행함으로써 이품종을 검출하는 분석 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 PTP 시트의 제조 방법.
상기 수단 4에 의하면, 상기 수단 3과 동일한 작용 효과가 발휘된다.
한편, 상기 수단 4에 있어서, 상기 검사 공정을 「충전 공정의 전 공정」에 행하는 구성으로 해도 된다. 이러한 경우, 포켓부에 충전되기 전 단계에 이품종을 배제하는 것이 가능하게 되어, 불량품이 되는 PTP 시트를 저감할 수 있다.
또한, 상기 검사 공정을 「충전 공정의 후 공정 또한 취착 공정의 전 공정」에 행하는 구성으로 해도 된다. 이러한 경우, 정제를 가리는 것이 없는 상태에서 검사를 실행할 수 있어, 검사 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.
또한, 상기 검사 공정을 「취착 공정의 후 공정 또한 절리 공정의 전 공정」에 행하는 구성으로 해도 된다. 이러한 경우, 정제가 교체되는 일이 없는 상태에서 검사를 실행할 수 있어, 검사 정밀도의 향상을 도모할 수 있다.
또한, 상기 검사 공정을 「절리 공정의 후 공정」에 행하는 구성으로 해도 된다. 이러한 경우, 불량품이 섞여 있지 않은지를 최종 단계에서 확인할 수 있다.
도 1의 (a)는 PTP 시트를 나타내는 사시도이고, (b)는 PTP 필름을 나타내는 사시도이다.
도 2는 PTP 시트의 포켓부의 부분 확대 단면도이다.
도 3은 PTP 포장기의 개략 구성을 나타내는 모식도이다.
도 4는 검사 장치의 전기적 구성을 나타내는 블록도이다.
도 5는 검사 장치의 배치 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다.
도 6은 촬상 장치의 개략 구성을 나타내는 모식도이다.
도 7은 스펙트럼 데이터 취득 루틴을 나타내는 플로우차트이다.
도 8은 촬상 소자에 투사된 분광 스펙트럼을 나타내는 모식도이다.
도 9는 검사 루틴을 나타내는 플로우차트이다.
도 10은 반송 방향 촬상 범위와 스펙트럼 화상의 관계를 설명하기 위한 설명도이다.
도 11은 스펙트럼 화상을 나타내는 모식도이다.
도 12는 정제를 모식적으로 나타내는 평면도이다.
도 13은 도 12의 J-J선 단면도이다.
도 14의 (a)는 할선 영역 특정 처리를 설명하기 위한 설명도이고, (b)는 마스크 처리를 설명하기 위한 설명도이다.
이하에, 일 실시형태에 대하여 도면을 참조하면서 설명한다. 먼저 PTP 시트의 구성에 대하여 상세하게 설명한다.
도 1, 2에 나타내는 바와 같이, PTP 시트(1)는, 복수의 포켓부(2)를 구비한 용기 필름(3)과, 포켓부(2)를 막도록 하여 용기 필름(3)에 취착된 커버 필름(4)을 갖고 있다.
본 실시형태에 있어서의 용기 필름(3)은, 예를 들어 PP(폴리프로필렌)나 PVC(폴리염화비닐) 등의 투명한 열가소성 수지 재료에 의해 형성되어, 투광성을 갖고 있다. 한편, 커버 필름(4)은, 예를 들어 폴리프로필렌 수지 등으로 이루어지는 실런트가 표면에 형성된 불투명 재료(예를 들어 알루미늄박 등)에 의해 구성되어 있다.
PTP 시트(1)는, 평면시 대략 직사각형상으로 형성되어 있다. PTP 시트(1)에는, 그 길이 방향을 따라 배열된 5개의 포켓부(2)로 이루어지는 포켓열이, 그 폭 방향에 2열 형성되어 있다. 즉, 합계 10개의 포켓부(2)가 형성되어 있다. 각 포켓부(2)에는, 정제(5)가 1개씩 수용되어 있다.
도 12, 도 13에 나타내는 바와 같이, 정제(5)에는, 그 표리 양면 중의 일방면에 있어서, 그 중심을 지나 직선상으로 연장되는 단면 대략 V자 홈상의 할선(G)이 형성되어 있다. 그리고, 정제(5)는, 후술하는 정제 충전 장치(21)에 의해, 할선(G)이 형성된 면이 커버 필름(4)측을 향하도록 포켓부(2)에 수용된다.
또한, 본 실시형태에 따른 정제(5)는, 각종 유효 성분 또는 이것과 부형제 등을 혼합한 것을 압축 성형한 나정(5A)의 표면에 대하여, 소정의 코팅제로 피막(코팅층)(5B)이 형성된 필름 코팅정이다.
코팅제로는, 예를 들어 제인(옥수수 단백질), 셸락(천연 수지), 이스트 랩(효모 세포벽), HPC·HPMC(셀룰로오스) 등을 용도에 따라 선택할 수 있다.
PTP 시트(1)〔도 1(a) 참조〕는, 띠상의 용기 필름(3) 및 띠상의 커버 필름(4)으로부터 형성된 띠상의 PTP 필름(6)〔도 1(b) 참조〕이 시트상으로 블랭킹됨으로써 제조된다.
다음으로, 상기 PTP 시트(1)를 제조하는 PTP 포장기(10)의 개략 구성에 대하여 도 3을 참조하여 설명한다.
도 3에 나타내는 바와 같이, PTP 포장기(10)의 최상류측에서는, 띠상의 용기 필름(3)의 원단이 롤상으로 권회되어 있다. 롤상으로 권회된 용기 필름(3)의 인출단측은, 가이드 롤(13)에 안내되어 있다. 용기 필름(3)은, 가이드 롤(13)의 하류측에 있어서 간헐 이송 롤(14)에 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송 롤(14)은, 간헐적으로 회전하는 모터에 연결되어 있어, 용기 필름(3)을 간헐적으로 반송한다.
가이드 롤(13)과 간헐 이송 롤(14) 사이에는, 용기 필름(3)의 반송 경로를 따라, 가열 장치(15) 및 포켓부 형성 장치(16)가 순서대로 배치 설치되어 있다. 그리고, 가열 장치(15)에 의해 용기 필름(3)이 가열되어 그 용기 필름(3)이 비교적 유연해진 상태에 있어서, 포켓부 형성 장치(16)에 의해 용기 필름(3)의 소정 위치에 복수의 포켓부(2)가 성형된다(포켓부 형성 공정). 가열 장치(15) 및 포켓부 형성 장치(16)에 의해, 본 실시형태에 있어서의 포켓부 형성 수단이 구성된다. 포켓부(2)의 형성은, 간헐 이송 롤(14)에 의한 용기 필름(3)의 반송 동작간의 인터벌시에 행하여진다.
간헐 이송 롤(14)로부터 내보내진 용기 필름(3)은, 텐션 롤(18), 가이드 롤(19) 및 필름 받이 롤(20)의 순서로 걸려 장착되어 있다. 필름 받이 롤(20)은, 일정 회전하는 모터에 연결되어 있기 때문에, 용기 필름(3)을 연속적으로 또한 일정 속도로 반송한다. 텐션 롤(18)은, 용기 필름(3)을 탄성력에 의해 긴장되는 쪽으로 잡아당긴 상태로 되어 있어, 상기 간헐 이송 롤(14)과 필름 받이 롤(20)의 반송 동작의 상이에 의한 용기 필름(3)의 휨을 방지하여 용기 필름(3)을 상시 긴장 상태로 유지한다.
가이드 롤(19)과 필름 받이 롤(20) 사이에는, 용기 필름(3)의 반송 경로를 따라, 정제 충전 장치(21) 및 검사 장치(22)가 순서대로 배치 설치되어 있다.
정제 충전 장치(21)는, 포켓부(2)에 정제(5)를 자동적으로 충전하는 충전 수단으로서의 기능을 갖는다. 정제 충전 장치(21)는, 필름 받이 롤(20)에 의한 용기 필름(3)의 반송 동작과 동기하여, 소정 간격마다 셔터를 여는 것에 의해 정제(5)를 낙하시키는 것으로, 이 셔터 개방 동작에 따라 각 포켓부(2)에 정제(5)가 충전된다(충전 공정).
검사 장치(22)는, 분광 분석을 이용하여 검사를 행하는 분광 분석 장치로서, 이품종의 혼입을 검사하기 위한 것이다. 검사 장치(22)의 상세에 대해서는 후술한다.
한편, 띠상으로 형성된 커버 필름(4)의 원단은, 최상류측에 있어서 롤상으로 권회되어 있다.
롤상으로 권회된 커버 필름(4)의 인출단은, 가이드 롤(24)을 통하여 가열 롤(25) 쪽으로 안내되어 있다. 가열 롤(25)은, 상기 필름 받이 롤(20)에 압접 가능하게 되어 있고, 양 롤(20, 25) 사이에 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)이 보내지게 되어 있다.
그리고, 용기 필름(3) 및 커버 필름(4)이, 양 롤(20, 25) 사이를 가열 압접 상태에서 통과함으로써, 용기 필름(3)에 커버 필름(4)이 첩착되어, 포켓부(2)가 커버 필름(4)으로 막힌다(취착 공정). 이에 의해, 정제(5)가 각 포켓부(2)에 충전된 띠상체로서의 PTP 필름(6)이 제조되게 되어 있다. 가열 롤(25)의 표면에는, 시일용의 그물코상의 미세한 볼록조가 형성되어 있고, 이것이 강하게 압접함으로써, 강고한 시일이 실현되게 되어 있다. 필름 받이 롤(20) 및 가열 롤(25)에 의해 본 실시형태에 있어서의 취착 수단이 구성된다.
필름 받이 롤(20)로부터 내보내진 PTP 필름(6)은, 텐션 롤(27) 및 간헐 이송 롤(28)의 순서로 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송 롤(28)은, 간헐적으로 회전하는 모터에 연결되어 있기 때문에, PTP 필름(6)을 간헐적으로 반송한다. 텐션 롤(27)은, PTP 필름(6)을 탄성력에 의해 긴장되는 쪽으로 잡아당긴 상태로 되어 있어, 상기 필름 받이 롤(20)과 간헐 이송 롤(28)의 반송 동작의 상이에 의한 PTP 필름(6)의 휨을 방지하여 PTP 필름(6)을 상시 긴장 상태로 유지한다.
간헐 이송 롤(28)로부터 내보내진 PTP 필름(6)은, 텐션 롤(31) 및 간헐 이송 롤(32)의 순서로 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송 롤(32)은, 간헐적으로 회전하는 모터에 연결되어 있기 때문에, PTP 필름(6)을 간헐적으로 반송한다. 텐션 롤(31)은, PTP 필름(6)을 탄성력에 의해 긴장되는 쪽으로 잡아당긴 상태로 되어 있어, 상기 간헐 이송 롤(28, 32)간에서의 PTP 필름(6)의 휨을 방지한다.
간헐 이송 롤(28)과 텐션 롤(31) 사이에는, PTP 필름(6)의 반송 경로를 따라, 슬릿 형성 장치(33) 및 각인 장치(34)가 순서대로 배치 설치되어 있다. 슬릿 형성 장치(33)는, PTP 필름(6)의 소정 위치에 절리용 슬릿을 형성하는 기능을 갖는다. 또한, 각인 장치(34)는 PTP 필름(6)의 소정 위치(예를 들어 태그부)에 각인을 넣는 기능을 갖는다.
간헐 이송 롤(32)로부터 내보내진 PTP 필름(6)은, 그 하류측에 있어서 텐션 롤(35) 및 연속 이송 롤(36)의 순서로 걸려 장착되어 있다. 간헐 이송 롤(32)과 텐션 롤(35) 사이에는, PTP 필름(6)의 반송 경로를 따라, 시트 블랭킹 장치(37)가 배치 설치되어 있다. 시트 블랭킹 장치(37)는, PTP 필름(6)을 PTP 시트(1) 단위로 그 외연을 블랭킹하는 시트 블랭킹 수단(절리 수단)으로서의 기능을 갖는다.
시트 블랭킹 장치(37)에 의해 블랭킹된 PTP 시트(1)는, 컨베이어(39)에 의해 반송되어, 완성품용 호퍼(40)에 일단 저류된다(절리 공정). 단, 상기 검사 장치(22)에 의해 불량품이라고 판정된 경우, 그 불량품이라고 판정된 PTP 시트(1)는, 완성품용 호퍼(40)로 보내지지 않고, 도시하지 않은 배출 수단으로서의 불량 시트 배출 기구에 의해 별도 배출된다.
상기 연속 이송 롤(36)의 하류측에는, 재단 장치(41)가 배치 설치되어 있다. 그리고, 시트 블랭킹 장치(37)에 의한 블랭킹 후에 띠상으로 남은 잔재부(스크랩부)를 구성하는 불필요 필름부(42)는, 상기 텐션 롤(35) 및 연속 이송 롤(36)에 안내된 후, 재단 장치(41)로 유도된다. 한편, 상기 연속 이송 롤(36)은 종동 롤이 압접되어 있어, 상기 불필요 필름부(42)를 협지하면서 반송 동작을 행한다. 재단 장치(41)에서는, 불필요 필름부(42)를 소정 치수로 재단하여 스크랩 처리하는 기능을 갖는다. 이 스크랩은 스크랩용 호퍼(43)에 저류된 후, 별도 폐기 처리된다.
한편, 상기 각 롤(14, 20, 28, 31, 32) 등은, 그 롤 표면과 포켓부(2)가 대향하는 위치 관계로 되어 있으나, 간헐 이송 롤(14) 등의 표면에는, 포켓부(2)가 수용되는 오목부가 형성되어 있기 때문에, 포켓부(2)가 찌그러져 버리는 일이 없다. 또한, 포켓부(2)가 간헐 이송 롤(14) 등의 각 오목부에 수용되면서 이송 동작이 행하여짐으로써, 간헐 이송 동작이나 연속 이송 동작이 확실하게 행하여진다.
또한, 도시는 생략하지만, PTP 포장기(10)의 하류측에는, 집적 장치, 이송 장치, 포장 장치 등이 순서대로 설치되어 있다. 그리고, 상기 완성품용 호퍼(40)에 수용된 낱개의 PTP 시트(1)는, 예를 들어 2매 1세트의 끼움 상태가 된 뒤에, 집적 장치에 있어서 복수세트씩 쌓아 올려진다. 쌓아 올려진 복수의 PTP 시트(1)로 이루어지는 집적체는, 이송 장치에 의해 밴드 결속되면서 포장 장치로 이송되고, 포장 장치에 있어서 필로 포장 등이 된다.
PTP 포장기(10)의 개략은 이상과 같지만, 이하에 상기 검사 장치(22)의 구성에 대하여 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 도 4는 검사 장치(22)의 전기적 구성을 나타내는 블록도이고, 도 5는 검사 장치(22)의 배치 구성을 모식적으로 나타내는 사시도이다.
도 4, 5에 나타내는 바와 같이, 검사 장치(22)는, 조명 장치(52)와, 촬상 장치(53)와, 조명 장치(52)나 촬상 장치(53)의 구동 제어 등 검사 장치(22) 내에 있어서의 각종 제어나 화상 처리, 연산 처리 등을 실시하는 제어 처리 장치(54)를 구비하고 있다.
조명 장치(52) 및 촬상 장치(53)는, 용기 필름(3)의 포켓부(2) 개구측에 배치되어 있다. 즉, 본 실시형태에서는, 커버 필름(4)이 취착되기 전 단계에 있어서의 용기 필름(3)의 포켓부(2) 개구측으로부터 이품종 혼입 검사가 행하여진다.
조명 장치(52)는, 근적외광을 조사 가능하게 구성된 공지의 것으로, 본 실시형태에 있어서의 조사 수단을 구성한다. 조명 장치(52)는, 연속 반송되는 용기 필름(3) 상의 소정 영역을 향하여 경사진 상방으로부터 근적외광을 조사 가능하게 배치되어 있다.
본 실시형태에 따른 조명 장치(52)에서는, 연속 스펙트럼을 갖는 근적외광(예를 들어 파장 700∼2500nm의 근적외 영역)을 출사 가능한 광원으로서 할로겐 램프를 채용하고 있다. 이 밖에, 광원으로는, 중수소 방전관, 텅스텐 램프, 크세논 램프 등을 사용할 수 있다.
도 6에 나타내는 바와 같이, 촬상 장치(53)는, 광학 렌즈(61)와, 분광 수단으로서의 이차원 분광기(62)와, 촬상 수단으로서의 카메라(63)를 구비하고 있다.
광학 렌즈(61)는, 도시하지 않은 복수의 렌즈 등에 의해 구성되며, 입사광을 평행광화 가능하게 구성되어 있다. 광학 렌즈(61)는, 그 광축이 연직 방향(Z방향)을 따라 설정되어 있다.
또한, 광학 렌즈(61)는, 입사광을 후술하는 이차원 분광기(62)의 슬릿(62a)의 위치에 결상 가능하도록 설정되어 있다. 한편, 여기서는 편의상, 광학 렌즈(61)로서 양측 텔레센트릭 렌즈를 채용한 예를 나타내지만, 당연히, 상측(像側) 텔레센트릭 렌즈여도 된다.
이차원 분광기(62)는, 슬릿(62a)과, 입사측 렌즈(62b)와, 분광부(62c)와, 출사측 렌즈(62d)로 구성되어 있다. 분광부(62c)는, 입사측 프리즘(62ca)과, 투과형 회절 격자(62cb)와, 출사측 프리즘(62cc)으로 구성되어 있다.
이러한 구성 하, 슬릿(62a)을 통과한 광은, 입사측 렌즈(62b)에 의해 평행광화된 후, 분광부(62c)에 의해 분광되고, 출사측 렌즈(62d)에 의해 후술하는 카메라(63)의 촬상 소자(65)에 이차원 분광 화상(분광 스펙트럼상)으로서 결상된다.
슬릿(62a)은, 가늘고 긴 대략 직사각형상(선상)으로 개구 형성되고, 그 개구 폭 방향(폭 방향)이 용기 필름(3)의 필름 반송 방향(X방향)을 따라 배치 형성되고, 그 길이 방향이 상기 반송 방향과 직교하는 용기 필름(3)의 필름 폭 방향(Y방향)을 따라 배치 형성되어 있다. 이에 의해, 이차원 분광기(62)는, 슬릿(62a)의 개구 폭 방향 즉 필름 반송 방향(X방향)으로 입사광을 분광하게 된다.
카메라(63)는, 복수의 수광 소자(수광부)(64)가 행렬상으로 이차원 배열된 수광면(65a)을 갖는 촬상 소자(65)를 구비하고 있다. 본 실시형태에서는, 촬상 소자(65)로서, 근적외 영역 중 예를 들어 파장 900∼2000nm의 파장 범위에 대하여 충분한 감도를 가진 공지의 CCD 에어리어 센서를 채용하고 있다.
물론, 촬상 소자는, 이에 한정되는 것은 아니며, 근적외 영역에 감도를 갖는 다른 센서를 채용해도 된다. 예를 들어 CMOS 센서나 MCT(HgCdTe) 센서 등을 채용해도 된다.
촬상 장치(53)의 시야 영역(촬상 영역)은, 필름 폭 방향(Y방향)을 따라 연장되는 선상의 영역으로서, 적어도 용기 필름(3)의 필름 폭 방향 전역을 포함하는 영역이 된다(도 5의 이점 쇄선부 참조). 한편, 필름 반송 방향(X방향)에 있어서의 촬상 장치(53)의 시야 영역은, 슬릿(62a)의 폭에 상당하는 영역이 된다. 즉, 슬릿(62a)을 통과한 광(슬릿광)이 촬상 소자(65)의 수광면(65a) 상에 상을 맺는 영역이다.
이에 의해, 용기 필름(3)의 필름 폭 방향(Y방향)의 각 위치에서 반사한 반사광의 분광 스펙트럼의 각 파장 성분(예를 들어 20nm 대역폭마다)을 촬상 소자(65)의 각 수광 소자(64)가 각각 수광하게 된다. 그리고, 각 수광 소자(64)가 수광한 광의 강도에 따른 신호가, 디지털 신호로 변환된 뒤에 카메라(63)로부터 제어 처리 장치(54)에 대하여 출력된다. 즉, 촬상 소자(65)의 수광면(65a) 전체에서 촬상된 1화면분의 화상 신호(분광 화상 데이터)가 제어 처리 장치(54)로 출력되게 된다.
제어 처리 장치(54)는, 검사 장치(22) 전체의 제어를 담당하는 마이크로컴퓨터(71), 키보드나 마우스, 터치 패널 등으로 구성되는 「입력 수단」으로서의 입력 장치(72), CRT나 액정 등의 표시 화면을 갖는 「표시 수단」으로서의 표시 장치(73), 각종 화상 데이터 등을 기억하기 위한 화상 데이터 기억 장치(74), 각종 연산 결과 등을 기억하기 위한 연산 결과 기억 장치(75), 각종 정보를 미리 기억해 두기 위한 설정 데이터 기억 장치(76) 등을 구비하고 있다. 한편, 이들 각 장치(72∼76)는, 마이크로컴퓨터(71)에 대하여 전기적으로 접속되어 있다.
마이크로컴퓨터(71)는, 연산 수단으로서의 CPU(71a)나, 각종 프로그램을 기억하는 ROM(71b), 연산 데이터나 입출력 데이터 등의 각종 데이터를 일시적으로 기억하는 RAM(71c) 등을 구비하고, 제어 처리 장치(54)에 있어서의 각종 제어를 담당한다.
마이크로컴퓨터(71)는, PTP 포장기(10)와 각종 신호를 송수신 가능하게 접속되어 있다. 이에 의해, 예를 들어 PTP 포장기(10)의 불량 시트 배출 기구 등을 제어할 수 있다.
화상 데이터 기억 장치(74)는, 촬상 장치(53)에 의해 촬상된 분광 화상 데이터나, 이것을 기초로 취득되는 스펙트럼 화상 데이터, 2치화 처리된 후의 2치화 화상 데이터, 마스크 처리된 후의 마스크 화상 데이터 등을 기억하기 위한 것이다.
연산 결과 기억 장치(75)는, 검사 결과 데이터나, 그 검사 결과 데이터를 확률 통계적으로 처리한 통계 데이터 등을 기억하는 것이다. 이들 검사 결과 데이터나 통계 데이터는, 적절히 표시 장치(73)에 표시시킬 수 있다.
설정 데이터 기억 장치(76)는, 예를 들어 주성분 분석에 이용하는 로딩 벡터나 판정 범위나, PTP 시트(1), 포켓부(2) 및 정제(5)의 형상 및 치수 등을 기억하는 것이다.
다음으로 검사 장치(22)에 의해 행하여지는 이품종 혼입 검사(검사 공정)의 순서에 대하여 설명한다.
먼저 스펙트럼 데이터를 취득하는 스펙트럼 데이터 취득 루틴에 대하여 도 7의 플로우차트를 참조하여 설명한다. 한편, 본 루틴은, 용기 필름(3)이 소정량 반송될 때마다 반복 실행되는 처리이다.
제어 처리 장치(54)는, 먼저 단계 S01에 있어서, 연속 반송되는 용기 필름(3)(정제(5))에 대하여 조명 장치(52)로부터 근적외광을 조사하면서(조사 공정), 촬상 장치(53)에 의한 촬상 처리(노광 처리)를 실행한다.
여기서, 제어 처리 장치(54)는, PTP 포장기(10)에 설치된 도시하지 않은 인코더로부터의 신호에 기초하여 촬상 장치(53)를 구동 제어하고, 그 촬상 장치(53)가 촬상하는 분광 화상 데이터를 화상 데이터 기억 장치(74)에 입력한다.
이에 의해, 조명 장치(52)로부터 용기 필름(3)을 향하여 조사된 근적외광 중, 단계 S01의 촬상 처리의 실행 기간(노광 기간) 중에 있어서, 반송 방향 촬상 범위(W)(도 10 참조)에서 반사한 반사광이 촬상 장치(53)에 입사된다. 즉, 1회의 촬상 처리로 반송 방향 촬상 범위(W)가 촬상되게 된다.
한편, 도 10에 나타내는 바와 같이, 본 실시형태에서는, 용기 필름(3)이 소정량 반송될 때마다 상기 촬상 처리가 실행됨으로써, 1개의 정제(5)에 대하여 반송 방향 복수 개소의 분광 스펙트럼이 촬상되는 구성으로 되어 있다.
촬상 장치(53)에 입사된 반사광은 이차원 분광기(62)에 의해 분광되고(분광 공정), 카메라(63)의 촬상 소자(65)에 의해 분광 화상(분광 스펙트럼)으로서 촬상된다(촬상 공정).
도 8은, 정제(5) 상의 소정 위치에서 반사한 반사광의 분광 스펙트럼(H)이 촬상 소자(65)의 수광면(65a)에 투사된 상태를 나타내는 모식도이다. 도 8에 있어서는, 편의상, 정제(5)에 관련된 분광 스펙트럼(H)만 도시하고, 그 밖의 부위에 관련된 분광 스펙트럼에 대해서는 도시를 생략하고 있다.
촬상 장치(53)에 의해 촬상된 분광 화상(분광 스펙트럼) 데이터는, 인터벌 기간 중에 제어 처리 장치(54)로 출력되고, 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억된다. 한편, 여기서 말하는 인터벌 기간이란, 화상 데이터의 판독 기간이다. 즉, 촬상 장치(53)에 의한 촬상 사이클은, 촬상 처리의 실행 기간인 노광 기간과, 인터벌 기간의 합계 시간으로 나타낼 수 있다.
제어 처리 장치(54)는, 분광 화상 데이터가 취득되면, 단계 S02의 데이터 생성 처리를 개시한다.
데이터 생성 처리에서는, 단계 S01에 있어서 취득한 분광 화상 데이터를 기초로 스펙트럼 데이터를 생성한다. 스펙트럼 데이터가 생성되면, 이것을 화상 데이터 기억 장치(74)에 기억하고, 본 루틴을 일단 종료한다.
그리고, 도 10에 나타내는 바와 같이, 용기 필름(3)(정제(5))이 소정량 반송될 때마다, 반송 방향 촬상 범위(W)가 단속적으로 상대 이동해 가고, 상기 스펙트럼 데이터 취득 루틴이 반복됨으로써, 화상 데이터 기억 장치(74)에는, 각 반송 방향 촬상 범위(W)에 대응하는 스펙트럼 데이터가 필름 반송 방향(X방향) 및 필름 폭 방향(Y방향)의 위치 정보와 함께 시계열로 순차 기억되어 간다. 이에 의해, 화소마다 스펙트럼 데이터를 가진 이차원적인 스펙트럼 화상(Q)이 생성되어 가게 된다(도 11 참조).
여기서, 본 실시형태에 있어서의 스펙트럼 화상(Q)에 대하여 설명한다. 도 11에 나타내는 바와 같이, 스펙트럼 화상(Q)은, 복수의 화소(Qa)가 이차원 배열된 화상 데이터이다. 각 화소(Qa)에는, 각각 스펙트럼 데이터〔복수의 파장 성분(파장대역)에 관련된 스펙트럼 강도(휘도값)를 나타내는 데이터〕가 포함되어 있다.
그리고, 검사 대상이 되는 1개분의 PTP 시트(1)에 상당하는 소정의 검사 범위(도 11의 이점 쇄선부 참조)의 스펙트럼 화상(Q)이 취득되면, 제어 처리 장치(54)는 검사 루틴을 실행한다.
다음으로 검사 루틴에 대하여 도 9의 플로우차트를 참조하여 설명한다. 한편, 본 루틴은, 상기 검사 범위의 스펙트럼 화상(Q)이 취득될 때마다 반복하여 행하여지는 것이다.
제어 처리 장치(54)는, 먼저 단계 S11에 있어서 정제 화소 추출 처리를 실행한다. 본 처리에 있어서는, 스펙트럼 화상(Q)의 각 화소(Qa) 중, 분석 대상이 되는 정제(5)에 대응하는 화소(이하, 「정제 화소」라고 한다)(Qb)를 추출한다.
본 실시형태에서는, 예를 들어 각 화소(Qa)마다 스펙트럼 데이터(각 파장 성분의 스펙트럼 강도)의 적산값을 산출하고, 이러한 값이 미리 정한 제1 임계값 δ1 이상인지의 여부를 판정하고, 스펙트럼 화상(Q)에 대하여 2치화 처리를 행한다. 그리고, 얻어진 제1 2치화 화상 데이터를 기초로 정제 화소(Qb)를 추출한다(도 10, 11 참조). 여기서, 제1 임계값 δ1은, 할선(G)을 포함하는 정제(5) 전체가 명부가 되도록 사전에 설정된 값이다.
따라서, 본 실시형태에서는, 도 10에 나타내는 바와 같이, 배경의 암부의 영향을 받지 않고 정제(5)의 범위만을 촬상한 데이터를 포함한 화소(Qa)가 정제 화소(Qb)로서 추출되게 된다. 도 10은, 반송 방향 촬상 범위(W)와 스펙트럼 화상(Q)의 관계를 설명하기 위한 설명도이다. 도 10, 11에서는, 정제 화소(Qb)로서 추출된 화소를 사선으로 나타내고 있다.
한편, 정제 화소 추출 처리에 관련된 정제 화소(Qb)의 추출 방법은, 이에 한정되는 것은 아니며, 다른 방법을 채용해도 된다. 예를 들어 각 화소(Qa)의 스펙트럼 데이터 중에 있어서, 소정 파장 성분의 스펙트럼 강도(예를 들어 정제(5)의 소정의 유효 성분에 대응하는 파장 성분의 스펙트럼 강도 등)가 미리 정한 임계값 이상인지의 여부를 판정하고, 2치화 처리를 행함으로써, 정제 화소(Qb)를 추출하는 구성으로 해도 된다.
다음으로, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S12에 있어서 정제 영역 특정 처리를 실행한다. 본 처리에 의해, 검사 범위 내의 각 포켓부(2)에 수용된 10개의 정제(5)의 영역을 특정한다.
본 실시형태에서는, 예를 들어 상기 단계 S11에서 얻어진 정제 화소(Qb)에 대하여 레이블링 처리를 행하여, 인접하는 모든 정제 화소(Qb)를 동일한 정제(5)에 속하는 정제 화소(Qb)의 연결 성분으로 간주한다.
이에 의해, 1개의 연결 성분의 범위를 소정의 포켓부(2) 내에 수용된 1개의 정제(5)에 관련된 정제 영역으로서 특정할 수 있다(도 10, 11 참조). 도 10, 11에서는, 각 정제(5)에 속하는 복수의 정제 화소(Qb)의 연결 성분(정제 영역)을 각각 굵은 테두리에 의해 둘러싸고 있다.
그리고, 1개의 연결 성분(정제 영역)에 포함되는 복수의 정제 화소(Qb)의 스펙트럼 데이터를, 1개의 정제(5) 상의 복수점(복수의 좌표 위치)에 있어서의 스펙트럼 데이터로서 취급할 수 있다.
즉, 상기 단계 S02의 데이터 생성 처리, 단계 S11의 정제 화소 추출 처리, 단계 S12의 정제 영역 특정 처리 등의 일련의 처리 공정에 의해, 본 실시형태에 있어서의 스펙트럼 데이터 취득 공정이 구성되고, 이것을 실행하는 제어 처리 장치(54)의 기능에 의해, 본 실시형태에 있어서의 스펙트럼 데이터 취득 수단이 구성되게 된다.
한편, 정제(5)의 영역 특정 방법은, 이에 한정되는 것은 아니며, 다른 방법을 채용해도 된다. 예를 들어 특정한 화소를 중심으로 한 소정의 범위에 포함되는 화소를 그 특정한 화소와 동일한 정제(5)에 속하는 화소라고 판단하도록 해도 된다.
다음으로, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S13에 있어서 할선 영역 특정 처리를 실행한다. 본 처리에서는, 상기 단계 S12에 있어서 특정된 각 정제(5)의 정제 영역 각각에 대하여, 거기에 포함되는 복수의 정제 화소(Qb)의 스펙트럼 데이터를 이용하여, 각 정제(5)에 관련된 할선(G)의 영역을 특정한다.
보다 상세하게는, 예를 들어 1개의 정제(5)의 정제 영역에 속하는 복수의 정제 화소(Qb)마다 스펙트럼 데이터(각 파장 성분의 스펙트럼 강도)의 적산값을 산출하고, 이러한 값이 미리 정한 제2 임계값 δ2 이상인지의 여부를 판정하고, 스펙트럼 화상(Q)에 대하여 2치화 처리를 행한다. 그리고, 얻어진 제2 2치화 화상 데이터를 기초로, 할선(G)을 제외한 정제(5)의 표면 일반부에 관련된 정제 화소(Qb)를 추출한다.
여기서, 제2 임계값 δ2는, 할선(G)을 제외한 정제(5)의 표면 일반부가 명부가 되도록 사전에 설정된 값으로, 상기 제1 임계값 δ1보다 높은 값으로 되어 있다. 할선(G) 내는, 반사광량이 적은 그림자부를 포함하고 있기 때문에, 이 위치에 관련된 스펙트럼 데이터는 전체적으로 휘도가 낮은 데이터가 된다. 한편, 할선(G)이 형성되어 있지 않은 정제(5)의 표면 일반부에는 그림자부도 발생하지 않아, 이 위치에 관련된 스펙트럼 데이터는 전체적으로 휘도가 높은 데이터가 된다.
한편, 할선 영역 특정 처리에 있어서, 할선(G)을 제외한 정제(5)의 표면 일반부에 관련된 정제 화소(Qb)를 추출하는 방법은, 이에 한정되는 것은 아니며, 다른 방법을 채용해도 된다. 예를 들어 1개의 정제(5)의 정제 영역에 속하는 각 화소(Qa)의 스펙트럼 데이터 중에 있어서, 소정 파장 성분의 스펙트럼 강도(예를 들어 정제(5)의 소정의 유효 성분에 대응하는 파장 성분의 스펙트럼 강도 등)가 미리 정한 임계값 이상인지의 여부를 판정하고, 2치화 처리를 행함으로써, 할선(G)을 제외한 정제(5)의 표면 일반부에 관련된 정제 화소(Qb)를 추출하는 구성으로 해도 된다.
계속해서, 상기 정제(5)의 표면 일반부에 관련된 정제 화소(Qb)에 대하여 레이블링 처리를 행하여, 인접하는 모든 정제 화소(Qb)를 정제(5)의 표면 일반부에 속하는 정제 화소(Qb)의 연결 성분으로 간주한다. 이에 의해, 1개의 연결 성분의 범위를 1개의 정제(5)에 속하는 2개의 괴(塊)영역(R1, R2) 중의 1개로서 특정할 수 있다〔도 14(a) 참조〕.
계속해서, 도 14(a)에 나타내는 바와 같이, 상기 레이블링 처리에 의해 얻어진 2개의 괴영역(R1, R2)의 각각의 중심 위치(M1, M2)를 구하고, 그 중심 위치(M1, M2)를 지나는 선분(α)의 중심점(C1)을 얻는다. 그리고, 그 중심점(C1)을 지나고, 또한, 상기 선분(α)과 직교하는 선분(γ)을 구하고, 그 선분(γ)에 ±β1의 폭을 갖게 한 폭(L1)의 띠상 영역을 할선(G)의 형성 영역으로서 특정함과 함께, 선분(γ)의 위치를 할선(G)의 V자 저부(Ga)의 위치로서 특정한다. 「할선(G)의 V자 저부(Ga)」가 본 실시형태에 있어서의 「오목부의 저부」에 상당한다.
다음으로, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S14에 있어서 마스크 처리를 실행한다. 본 처리에서는, 각 정제(5)의 정제 영역에 속하는 복수의 정제 화소(Qb) 중, 적어도 V자 저부(Ga)를 포함하는 할선(G)의 소정 범위에 대하여 마스크 처리를 행한다.
구체적으로, 본 실시형태에서는, 상기 단계 S13에 있어서 V자 저부(Ga)의 위치로서 특정된 선분(γ)에 ±β2의 폭을 갖게 한 폭(L2)의 띠상 영역을 마스크 설정 영역(K)으로서 특정하고, 마스크 처리를 실행한다〔도 14(b) 참조〕.
본 실시형태에서는, 마스크 처리가 행하여지는 「폭(L2)의 띠상 영역(마스크 설정 영역(K))」이 「오목부의 저부를 포함하는 소정 범위」에 상당하며, 할선(G)의 형성 영역보다 폭이 좁은 영역으로 되어 있다(L1 > L2). 이에 한정하지 않고, 「폭(L2)의 띠상 영역(마스크 설정 영역(K))」, 즉 「오목부의 저부를 포함하는 소정 범위」가, 할선(G)의 형성 영역 전역이 되는 구성으로 해도 된다(L1 = L2).
다음으로, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S15에 있어서 평균 스펙트럼 산출 처리를 실행한다. 본 처리에서는, 각 정제(5)에 관련된 평균 스펙트럼 데이터를 각각 산출한다.
본 실시형태에서는, 각 정제(5)의 정제 영역 각각에 대하여, 거기에 포함되는 복수의 정제 화소(Qb) 중, 상기 단계 S14에서 설정된 마스크 설정 영역(K) 내의 정제 화소(Qb)를 제외한, 마스크 설정 영역(K) 외의 전부 또는 일부의 정제 화소(Qb)의 스펙트럼 데이터를 이용하여, 그 정제(5)에 관련된 평균 스펙트럼 데이터를 산출한다.
한편, 할선(G)의 V자 저부(Ga)를 포함하는 상기 폭(L2)의 띠상 영역(마스크 설정 영역(K))은, 정제(5) 표면의 피막(5B)의 두께가 비교적 두꺼워, 스펙트럼 데이터가 코팅제의 영향을 강하게 받을 우려가 있다고 상정되는 영역으로서 사전에 설정한 것이다. 즉, 상기 마스크 처리를 행함으로써, 이와 같이 코팅제의 영향을 강하게 받을 가능성이 있는 스펙트럼 데이터를 제외한 뒤에, 정제(5)에 관련된 평균 스펙트럼 데이터를 취득할 수 있다.
이와 같이 하여, 검사 범위 내의 각 포켓부(2)에 수용된 10개의 정제(5) 각각에 관련된 평균 스펙트럼 데이터가 취득되면, 제어 처리 장치(54)는, 이들을 1개의 검사 범위에 관련된 평균 스펙트럼 데이터군으로서 정리하여 연산 결과 기억 장치(75)에 기억한다.
계속되는 단계 S16에 있어서, 제어 처리 장치(54)는, 연산 결과 기억 장치(75)에 설정된 포켓 번호 카운터의 카운터값 P에 초기값인 「1」을 설정한다.
한편, 「포켓 번호」란, 1개의 검사 범위 내의 10개의 포켓부(2)에 각각 대응하여 설정된 일련번호로, 상기 포켓 번호 카운터의 카운터값 P(이하, 간단히 「포켓 번호 카운터값 P」라고 한다)에 의해 포켓부(2)의 위치를 특정할 수 있다(도 11 참조).
도 11에 나타내는 예에서는, 예를 들어 좌측열의 최상부의 포켓부(2)가 포켓 번호 카운터값[1]에 대응하는 포켓부(2)로서 설정되고, 우측열의 최하부의 포켓부(2)가 포켓 번호 카운터값[10]에 대응하는 포켓부(2)로서 설정되어 있다.
계속해서, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S17에 있어서 분석 대상 데이터 추출 처리를 실행한다. 본 처리에 있어서는, 상기 단계 S15에 있어서 취득한 1개의 검사 범위에 관련된 평균 스펙트럼 데이터군(10개의 정제(5)의 평균 스펙트럼 데이터)으로부터, 현재의 포켓 번호 카운터값 P(예를 들어 P=1)에 대응하는 포켓부(2)에 수용된 정제(5)의 평균 스펙트럼 데이터를 추출한다.
다음으로, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S17에 있어서 추출한 정제(5)의 평균 스펙트럼 데이터에 대하여 분석 처리를 실행한다(단계 S18).
예를 들어 본 실시형태에서는, 미리 취득한 로딩 벡터를 이용하여, 상기 단계 S15에서 구한 정제(5)의 평균 스펙트럼 데이터에 대하여 주성분 분석(PCA)을 행한다. 보다 상세하게는, 상기 로딩 벡터와, 정제(5)의 평균 스펙트럼 데이터를 연산함으로써 주성분 득점을 산출한다.
즉, 상기 단계 S13의 할선 영역 특정 처리, 단계 S14의 마스크 처리, 단계 S15의 평균 스펙트럼 산출 처리 등의 일련의 처리 공정에 의해, 본 실시형태에 있어서의 분석 공정이 구성되고, 이것을 실행하는 제어 처리 장치(54)의 기능에 의해, 본 실시형태에 있어서의 분석 수단이 구성되게 된다.
계속해서, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S19에 있어서 정제 양부 판정 처리를 실행한다. 본 처리에 있어서는, 상기 단계 S18의 분석 처리에 있어서의 분석 결과를 기초로, 현재의 포켓 번호 카운터값 P(예를 들어 P=1)에 대응하는 포켓부(2)에 수용된 정제(5)가 양품(동품종)인지, 불량(이품종)인지 판정한다.
보다 상세하게는, 상기 단계 S18에서 산출한 주성분 득점을 PCA도에 플롯하고, 그 플롯된 데이터가 미리 설정된 양품 범위 내에 있으면 양품(동품종), 양품 범위 외라면 불량(이품종)으로서 판정한다.
그리고, 제어 처리 장치(54)는, 그 정제(5)에 관련된 판정 결과(「양호」 또는 「불량」)를 연산 결과 기억 장치(75)에 기억한다.
그 후, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S20에 있어서 현재의 포켓 번호 카운터값 P에 「1」을 더한 후, 단계 S21로 이행하여, 새롭게 설정한 포켓 번호 카운터값 P가 최대값 Pmax를 초과하고 있는지의 여부를 판정한다. 한편, 최대값 Pmax는, 1개의 검사 범위에 있어서의 포켓부(2)의 개수의 최대값(본 실시형태에서는 「10」)이다.
여기서 부정 판정된 경우에는, 다시 단계 S17로 되돌아가, 상기 일련의 처리를 실행한다. 한편, 긍정 판정된 경우에는, 모든 포켓부(2)에 관련된 정제(5)의 양부 판정이 종료되었다고 간주하고, 단계 S22로 이행한다.
계속되는 단계 S22에 있어서, 제어 처리 장치(54)는, 시트 양부 판정 처리를 실행한다. 본 처리에 있어서는, 상기 단계 S19의 정제 양부 판정 처리에 있어서의 판정 결과를 기초로, 검사 범위에 대응하는 PTP 시트(1)가 양품인지, 불량품인지 판정한다.
구체적으로는, 검사 범위 내에 「불량」 판정된 정제(5)가 1개라도 존재하는 경우에는, 그 검사 범위에 대응하는 PTP 시트(1)를 「불량품」이라고 판정하고, 단계 S23으로 이행한다.
한편, 검사 범위 내에 「불량」 판정된 정제(5)가 1개도 존재하지 않는 경우에는, 그 검사 범위에 대응하는 PTP 시트(1)를 「양품」이라고 판정하고, 단계 S24로 이행한다.
그리고, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S23의 불량품 처리에 있어서, 그 PTP 시트(1)에 관련된 「불량품」 판정 결과를 연산 결과 기억 장치(75)에 기억함과 함께, 그 취지를 PTP 포장기(10)의 불량 시트 배출 기구 등으로 출력하고, 검사 루틴을 종료한다.
한편, 제어 처리 장치(54)는, 단계 S24의 양품 처리에 있어서, 그 PTP 시트(1)(검사 범위)에 관련된 「양품」 판정 결과를 연산 결과 기억 장치에 기억하고, 검사 루틴을 종료한다.
이상 상세하게 서술한 바와 같이, 본 실시형태에 의하면, 나정(5A)의 표면에 할선(G)이 형성되고 또한 그 표면이 코팅제로 피복된 정제(필름 코팅정)(5)를 검사하는 경우에 있어서, 만일 정제(5) 표면을 덮는 피막(코팅층)(5B)의 두께가 할선(G)의 V자 저부(Ga)를 포함하는 소정 범위(L2)에 있어서 비교적 두꺼워져 있어, 그 소정 범위(L2)에 있어서의 스펙트럼 데이터가 코팅제의 영향을 강하게 받을 우려가 있는 경우에 있어서도, 그 소정 범위(L2)에 있어서의 스펙트럼 데이터를 제외하고, 정제(5)의 품종을 적절하게 나타낸 평균 스펙트럼 데이터를 취득한 뒤에, 정제(5)의 분광 분석을 행할 수 있다.
결과로서, 정제(5) 상에 있어서의 복수점의 스펙트럼 데이터를 단순히 평균화하는 구성 등과 비교하여, 코팅제의 영향을 극력 회피할 수 있어, 이품종 정제의 혼입 검사에 관련된 검사 정밀도의 비약적인 향상을 도모할 수 있다.
또한, 본 실시형태에 있어서는, 할선(G)의 V자 저부(Ga)를 포함하는 소정 범위(L2)에 대하여 마스크 처리를 행함으로써, 코팅제의 영향을 강하게 받을 가능성이 있는 그 소정 범위(L2)에 대응한 스펙트럼 데이터를 제외한 뒤에, 정제(5)에 관련된 평균 스펙트럼 데이터를 취득하는 구성으로 되어 있다.
이에 의해, 스펙트럼 데이터에 대한 코팅제의 영향의 정도에 상관없이, 할선(G)의 V자 저부(Ga)를 포함하는 소정 범위(L2) 전역에 관련된 스펙트럼 데이터를 제외할 수 있기 때문에, 코팅제의 영향뿐만 아니라, 이러한 부위에 있어서의 다른 영향(예를 들어 할선(G)에 발생하는 그림자부의 영향 등)도 제외할 수 있어, 검사 정밀도의 추가적인 향상을 도모할 수 있다.
한편, 상기 실시형태의 기재 내용에 한정되지 않고, 예를 들어 다음과 같이 실시해도 된다. 물론, 이하에 있어서 예시하지 않는 다른 응용예, 변경예도 당연히 가능하다.
(a) 검사 대상이 되는 정제에는, 의약품의 분야에서 사용되는 정제뿐만 아니라, 식품(서플리먼트 등의 건강 보조 식품) 등의 분야에서 사용되는 정제도 포함된다.
(b) 검사 대상이 되는 정제의 형상 등에 대해서도 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니다.
상기 실시형태에 따른 정제(5)는, 평면시 원형상을 이루고 중앙부와 주연부에서 두께가 다른 단면 대략 타원형상의 소위 렌즈정이지만, 이에 한정하지 않고, 예를 들어 표리면이 평탄한 평정 등을 검사 대상으로 해도 된다. 또한, 평면시로 대략 타원형상, 대략 장원형상, 대략 다각형상 등이 되는 정제 등을 검사 대상으로 해도 된다.
또한, 상기 실시형태에 따른 정제(5)에 있어서는, 오목부로서 단면 대략 V자 홈상의 할선(G)이 형성된 구성으로 되어 있으나, 이에 한정하지 않고, 예를 들어 단면 대략 U자 홈상의 할선이 형성된 구성으로 해도 된다. 한편, 단면 대략 U자 홈상의 할선에 있어서는, 할선(G)의 V자 저부(Ga)보다 폭이 넓고 또한 평탄한 저부를 갖게 된다. 즉, 오목부의 저부란, 오목부 내의 최하점 위치를 포함하는 소정 영역을 의미한다.
또한, 할선 대신에 또는 더하여, 오목부로서 단면 대략 V자 홈상 또는 U자 홈상의 각인이 넣어진 정제를 검사 대상으로 해도 된다. 물론, 홈상의 각인에 한정되는 것은 아니며, 평면시로 대략 원형상, 대략 타원형상, 대략 장원형상, 대략 다각형상 등이 되는 각인이 넣어진 정제를 검사 대상으로 해도 된다.
(c) 용기 필름(3)이나 커버 필름(4)의 재료는, 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니며, 다른 재질의 것을 채용해도 된다. 예를 들어 용기 필름(3)이 알루미늄 라미네이트 필름 등, 알루미늄을 주재료로 한 금속 재료에 의해 형성된 구성으로 해도 된다.
(d) 상기 실시형태에서는, 포켓부(2)에 정제(5)가 충전된 후 공정 또한 용기 필름(3)에 대하여 커버 필름(4)이 취착되기 전 공정에 있어서, 검사 장치(22)에 의해, 포켓부(2)의 개구측으로부터 정제(5)를 조명 및 촬상하여, 이품종 혼입 검사를 행하는 구성으로 되어 있다.
이에 한정하지 않고, 용기 필름(3)이 투명 재료에 의해 형성되어 있는 경우에는, 포켓부(2)에 정제(5)가 충전된 후 공정 또한 용기 필름(3)에 대하여 커버 필름(4)이 취착되기 전 공정에 있어서, 검사 장치(22)에 의해, 포켓부(2)(용기 필름(3)) 너머로 정제(5)를 조명 및 촬상하여, 이품종 혼입 검사를 행하는 구성으로 해도 된다.
또한, 용기 필름(3)에 대하여 커버 필름(4)이 취착된 후 공정 또한 PTP 필름(6)으로부터 PTP 시트(1)가 블랭킹되기 전 공정에 있어서, 검사 장치(22)에 의해, PTP 필름(6)의 용기 필름(3)측으로부터 포켓부(2) 너머로 정제(5)를 조명 및 촬상하여, 이품종 혼입 검사를 행하는 구성으로 해도 된다.
또한, PTP 필름(6)으로부터 PTP 시트(1)가 블랭킹된 후 공정에 있어서, 검사 장치(22)에 의해, 컨베이어(39)에서 반송되어 있는 PTP 시트(1)의 용기 필름(3)측으로부터 포켓부(2) 너머로 정제(5)를 조명 및 촬상하여, 이품종 혼입 검사를 행하는 구성으로 해도 된다.
이 때, 검사 장치(22)가 PTP 포장기(10) 내에 설치된 구성(인라인) 대신에, PTP 포장기(10)와는 별도로, 오프라인에서 PTP 시트(1)를 검사하는 장치로서 검사 장치(22)를 구비한 구성으로 해도 된다. 또한, 이러한 경우에, PTP 시트(1)를 반송 가능한 반송 수단을 검사 장치(22)에 구비한 구성으로 해도 된다.
또한, 포켓부(2)에 정제(5)가 충전되기 전 공정에 있어서, 검사 장치(22)에 의한 이품종 혼입 검사가 행하여지는 구성으로 해도 된다. 예를 들어 정제 충전 장치(21)에 정제(5)를 투입하기 전 단계에 검사를 행하는 구성으로 해도 된다. 즉, PTP 포장기(10)와는 별도로, 오프라인에서 정제(5)를 검사하는 장치로서 검사 장치(22)를 구비한 구성으로 해도 된다.
또는, 포켓부(2)에 대하여 정제(5)의 충전이 완료되기 전 단계에 있는 충전 공정에 있어서 이품종 혼입 검사가 행하여지는 구성으로 해도 된다. 예를 들어 셔터를 여는 것에 의해 정제(5)를 낙하시켜 포켓부(2)에 충전하는 상기 정제 충전 장치(21) 대신에, 정제(5)를 흡착 반송하여 포켓부(2)에 충전하는 회전 드럼 등의 흡착 반송 수단을 구비한 정제 충전 장치에 있어서, 정제(5)의 흡착 반송 중에 이품종 혼입 검사를 행하는 구성으로 해도 된다.
한편, 오프라인에서 검사를 행하는 경우에는, PTP 시트(1)나 정제(5)를 연속 반송하지 않고, 정지된 상태에서 검사를 행하는 구성으로 해도 된다. 단, PTP 시트(1), 또는, PTP 필름(6) 혹은 용기 필름(3)을 연속 반송하면서, 인라인에서 검사를 실행하는 편이 생산성의 향상을 도모함에 있어서는 바람직하다.
근년, PTP 시트(1)의 제조 분야 등에 있어서는, 생산 속도의 고속화에 따라, 이품종 혼입 검사 등 각종 검사의 고속화가 요구되고 있다. 예를 들어 PTP 포장기(10) 상에서 검사를 행하는 경우에는, 1초당 100개 이상의 정제(5)를 검사하는 것이 요구되는 경우도 있다.
(e) 조명 장치(52) 및 촬상 장치(53)의 구성은 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어 이차원 분광기(62) 대신에, 분광 수단으로서 반사형 회절 격자나 프리즘 등을 채용한 구성으로 해도 된다.
(f) 상기 실시형태에서는, 스펙트럼 데이터를 주성분 분석(PCA)에 의해 분석하는 구성으로 되어 있으나, 이에 한정하지 않고, PLS 회귀 분석 등, 다른 공지의 방법을 이용하여 분석하는 구성으로 해도 된다.
(g) 상기 실시형태에서는, 마스크 처리를 행함에 있어서, 검사 장치(22) 자신이 취득한 스펙트럼 화상(Q)을 기초로 할선(G)(V자 저부(Ga))의 위치나 방향을 특정하는 구성으로 되어 있다.
이에 한정하지 않고, 검사 장치(22)보다 상류측에 설치된 소정의 장치(예를 들어 다른 검사 장치나, 정제(5)에 인쇄를 행하는 인쇄 장치 등)에 있어서 취득된 할선(G)(V자 저부(Ga))의 위치나 방향에 관한 정보를 기초로 마스크 설정 영역(K)을 설정하는 구성으로 해도 된다.
또는, 검사 장치(22)의 상류측에 별도로, 촬상 장치를 배치하고, 이에 의해 취득되는 화상 데이터를 기초로 할선(G)(V자 저부(Ga))의 위치나 방향에 관한 정보를 취득하고, 이것을 기초로 마스크 설정 영역(K)을 설정하는 구성으로 해도 된다.
(h) 상기 실시형태에서는, 정제(5)에 관련된 평균 스펙트럼 데이터를 취득함에 있어서, 할선(G)의 V자 저부(Ga)를 포함하는 소정 범위(L2)에 대하여 마스크 처리를 행함으로써, 코팅제의 영향을 강하게 받을 가능성이 있는 그 소정 범위(L2)에 대응한 스펙트럼 데이터를 제외하는 구성으로 되어 있다.
이 대신에, 정제(5)에 관련된 평균 스펙트럼 데이터를 취득함에 있어서, 예를 들어 정제(5)의 정제 영역에 속하는 복수의 정제 화소(Qb) 중으로부터, 소정의 코팅제에 대응하는 스펙트럼 데이터가 강하게 나타난 정제 화소(Qb)(예를 들어 소정의 코팅제의 소정 성분에 대응하는 소정 파장 성분의 스펙트럼 강도, 또는, 그 스펙트럼 강도의 편차 혹은 그 비율이 소정값 이상이 되는 정제 화소(Qb) 등)를 제외하는 구성으로 해도 된다.
또는, 정제(5)에 관련된 평균 스펙트럼 데이터를 취득함에 있어서, 예를 들어 정제(5)의 정제 영역에 속하는 복수의 정제 화소(Qb) 중으로부터, 양품(적정 품종)의 정제(5)에 대응하는 스펙트럼 데이터를 갖는 정제 화소(Qb)(예를 들어 양품의 정제(5)의 소정 성분에 대응하는 소정 파장 성분의 스펙트럼 강도, 또는, 그 스펙트럼 강도의 편차 혹은 그 비율이 소정값 이상이 되는 정제 화소(Qb) 등) 이외의 다른 정제 화소(Qb)를, 소정의 코팅제에 대응하는 스펙트럼 데이터가 강하게 나타난 정제 화소(Qb)로 간주하여 제외하는 구성으로 해도 된다.
(i) 상기 실시형태에서는, 정제(5)의 평균 스펙트럼 데이터를 구하고, 이에 기초하여 정제(5)의 분광 분석을 행하는 구성으로 되어 있으나, 분석 방법은 이에 한정되는 것은 아니다.
예를 들어 정제(5)의 정제 영역에 속하는 복수의 정제 화소(Qb) 중, 할선(G)의 V자 저부(Ga)를 포함하는 소정 범위(L2)에 대응한 정제 화소(Qb)를 제외한 나머지의 정제 화소(Qb)의 스펙트럼 데이터에 대하여 파장 성분마다 중앙값을 선출하고, 그 파장 성분마다 선출된 중앙값에 의해 구성되는 중앙값 스펙트럼 데이터를 기초로 정제(5)의 분광 분석을 행하는 구성으로 해도 된다.
1…PTP 시트, 2…포켓부, 3…용기 필름, 4…커버 필름, 5…정제, 5A…나정, 5B…피막, 10…PTP 포장기, 22…검사 장치, 52…조명 장치, 53…촬상 장치, 54…제어 처리 장치, 62…이차원 분광기, 63…카메라, G…할선, Ga…V자 저부, K…마스크 설정 영역, R1, R2…괴영역, Q…스펙트럼 화상, Qa…화소, Qb…정제 화소.

Claims (4)

  1. 표면에 오목부를 갖고 또한 소정의 코팅제에 의한 코팅이 처리된 정제를 검사하는 검사 장치로서,
    상기 정제에 대하여 근적외광을 조사 가능한 조사 수단과,
    상기 근적외광이 조사된 상기 정제로부터 반사되는 반사광을 분광 가능한 분광 수단과,
    상기 분광 수단에서 분광된 상기 반사광의 분광 화상을 촬상 가능한 촬상 수단과,
    상기 촬상 수단에 의해 취득된 상기 분광 화상을 기초로, 상기 정제 상의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터를 취득 가능한 스펙트럼 데이터 취득 수단과,
    상기 정제 상의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터 중,
    적어도 상기 오목부의 저부를 포함하는 소정 범위에 대응한 스펙트럼 데이터와
    상기 소정의 코팅제의 영향을 받은 혹은 받을 수 있는 스펙트럼 데이터
    를 제외한 스펙트럼 데이터를 이용하여, 상기 정제에 대하여 소정의 분석 처리를 행함으로써 이품종을 검출 가능한 분석 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 분석 수단은, 적어도 상기 오목부의 저부를 포함하는 소정 범위에 대하여 소정의 마스크 처리를 행함으로써, 그 소정 범위에 대응한 스펙트럼 데이터를 제외한 스펙트럼 데이터를 파악하는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
  3. 표면에 오목부를 갖고 또한 코팅이 처리된 정제가 용기 필름에 형성된 포켓부에 수용되고, 그 포켓부를 막도록 커버 필름이 취착되어 이루어지는 PTP 시트를 제조하기 위한 PTP 포장기로서,
    띠상의 상기 용기 필름에 대하여 상기 포켓부를 형성하는 포켓부 형성 수단과,
    상기 포켓부에 상기 정제를 충전하는 충전 수단과,
    상기 포켓부에 상기 정제가 충전된 상기 용기 필름에 대하여, 상기 포켓부를 막도록 하여 띠상의 상기 커버 필름을 취착하는 취착 수단과,
    상기 용기 필름에 상기 커버 필름이 취착된 띠상체로부터 상기 PTP 시트를 절리하는 절리 수단과,
    제1항 또는 제2항에 기재된 검사 장치를 구비한 것을 특징으로 하는 PTP 포장기.
  4. 표면에 오목부를 갖고 또한 소정의 코팅제에 의한 코팅이 처리된 정제가 용기 필름에 형성된 포켓부에 수용되고, 그 포켓부를 막도록 커버 필름이 취착되어 이루어지는 PTP 시트를 제조하기 위한 PTP 시트의 제조 방법으로서,
    띠상의 상기 용기 필름에 대하여 상기 포켓부를 형성하는 포켓부 형성 공정과,
    상기 포켓부에 상기 정제를 충전하는 충전 공정과,
    상기 포켓부에 상기 정제가 충전된 상기 용기 필름에 대하여, 상기 포켓부를 막도록 하여 띠상의 상기 커버 필름을 취착하는 취착 공정과,
    상기 용기 필름에 상기 커버 필름이 취착된 띠상체로부터 상기 PTP 시트를 절리하는 절리 공정과,
    이품종의 혼입을 검사하는 검사 공정을 구비하고,
    상기 검사 공정에 있어서,
    상기 정제에 대하여 근적외광을 조사하는 조사 공정과,
    상기 근적외광이 조사된 상기 정제로부터 반사되는 반사광을 분광하는 분광 공정과,
    분광된 상기 반사광의 분광 화상을 촬상하는 촬상 공정과,
    상기 분광 화상을 기초로, 상기 정제 상의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터를 취득하는 스펙트럼 데이터 취득 공정과,
    상기 정제 상의 복수점에 있어서의 스펙트럼 데이터 중,
    적어도 상기 오목부의 저부를 포함하는 소정 범위에 대응한 스펙트럼 데이터와
    상기 소정의 코팅제의 영향을 받은 혹은 받을 수 있는 스펙트럼 데이터
    를 제외한 스펙트럼 데이터를 이용하여, 상기 정제에 대하여 소정의 분석 처리를 행함으로써 이품종을 검출하는 분석 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 PTP 시트의 제조 방법.
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