CN111902713B - 检查装置、ptp包装机以及检查方法 - Google Patents

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Abstract

提供一种检查装置、PTP包装机和检查方法，其中，可谋求利用分光分析的检查相关的检查精度的提高等的效果。检查装置(22)包括：照明装置(52)，该照明装置(52)可对片剂(5)照射近红外光；摄像装置(53)，该摄像装置(53)可对从片剂(5)反射的反射光进行分光，对其进行摄像，检查装置(45)根据通过该摄像装置(53)获得的分光图像数据获得片剂(5)的光谱数据，判断该光谱数据中包括的各波长频带的光谱强度是否分别在允许范围内，针对该片剂(5)进行是否合格的判断。另外，检查装置(22)按时间序列依次存储判定为合格的片剂(5)的光谱数据，根据最近的规定数量的合格品的片剂(5)的光谱数据，针对各波长频带而计算光谱强度的平均值，根据它计算各波长频带的阈值，根据该阈值，针对各波长频带变更上述允许范围。

Description

检查装置、PTP包装机以及检查方法
技术领域
本发明涉及采用分光分析来检查异常品种的混入的检查装置、PTP包装机以及检查方法。
背景技术
一般，作为用于医药品等的领域的泡罩片，人们知道有PTP(泡罩)片。
PTP片由容器膜与罩面膜构成，在该容器膜中形成填充有片剂等的内容物的袋部，该罩面膜按照密封袋部的开口侧的方式安装于该容器膜上。
在制造PTP片时，人们知道有利用分光分析进行内容物的异常品种混入检查的情况。
作为进行该检查的检查装置，人们知道有下述的检查装置，该检查装置对比如填充于所运送的容器膜的袋部中的片剂照射近红外光，通过分光器对其反射光进行分光，根据对其进行摄像而获得的光谱数据，判断片剂的种类(比如，参照专利文献1)。
在专利文献1的检查装置中，形成下述的结构，在该结构中，对检查的片剂的光谱数据的指定波长的强度等与预先存储于存储部中的数据进行核对，判断片剂的种类。
另外，在利用分光分析的检查领域，人们还知道有下述的方法等，其中，根据预先测定的多个对象物的光谱数据的平均值和标准偏差，预先设定检查相关的对象物的光谱数据的允许范围(确定允许范围的阈值)(比如，参照专利文献2)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：WO2013002291号公报
专利文献2：WO2017094188号公报
发明内容
发明要解决的课题
但是，检查装置的照明、成像元件具有伴随温度等的环境因素或伴随时间而变化的因素、亮度、灵敏度、波长特性等慢慢地变化的问题。
另外，对于填充于PTP片中的内容物，即使称为合格品，针对每个生产批次，分光分析结构仍微妙地变化。比如，片剂因压片的条件(材料的粒径、混合程度、压片的压力等的因素)、压片后的条件(温度、湿度、伴随时间而变化等)，合格品的分光分析结果微妙地变化。
在这里，在考虑上述那样的检查装置的变化与内容物本身的变化的方面，抑制内容物的合格品错误率(将合格品误认为不合格品的概率)的上升的场合，具有下述的危险，即，必须要求按照比如确定合格品的允许范围的下述式(A1)的系数K设定为较大的值的方式，预先较大地设定允许范围的幅度，不合格品错误率(将不合格品误认为合格品的概率)的上升。在PTP片的制造领域，特别是医药品等的领域，不合格品错误率最好无限地接近于“0”。
L＝μ±K×σ···(A1)
在这里，“L”表示允许范围(上限阈值和下限阈值)，“K”表示系数，“μ”表示平均值，“σ”表示标准偏差。
即，像过去的那样，在检查的内容物的光谱数据的允许范围(确定允许范围的阈值)在预先设定的设置值的状态固定的方案中，具有一边抑制内容物的合格品错误率的上升，一边抑制不合格品错误率的上升这一点是困难的，检查精度降低的危险。
本发明是针对上述情况而提出的，本发明的目的在于，提供可谋求利用分光分析的检查的检查精度的提高等的效果的检查装置、PTP包装机和检查方法。
用于解决课题的技术方案
在下面，针对适合于解决上述课题的各技术方案，分段地进行说明。另外，根据需要，在对应的技术方案后面附有特有的作用效果。
技术方案1.涉及一种检查装置，该检查装置用于下述的PTP片的制造的场合，在该PTP片中，在形成于容器膜上的袋部中接纳规定的内容物，按照封闭该袋部的方式安装罩面膜，其特征在于，该检查装置包括：
照射机构，该照射机构可对上述内容物照射近红外光；
分光机构，该分光机构可对从照射有上述近红外光的上述内容物反射的反射光进行分光；
摄像机构，该摄像机构可对通过上述分光机构分光的上述反射光的分光光谱进行摄像；
光谱数据获得机构，该光谱数据获得机构可根据通过上述摄像机构获得的上述分光图像数据获得该内容物的光谱数据；
检查机构，该检查机构可根据通过上述光谱数据获得机构获得的上述内容物的光谱数据，针对上述内容物进行规定的检查(比如，异常品种混入检查)；
上述检查机构包括：
判断机构，该判断机构可通过下述的方式针对上述内容物进行是否合格的判断，该方式为：判断通过上述光谱数据获得机构获得的上述内容物的光谱数据中包括的多个波长频带中的N个(N为大于等于1的自然数)指定波长频带的光谱强度是否分别在允许范围内；
光谱数据存储机构，该光谱数据存储机构可按照时间序列依次存储通过上述判断机构而判断为合格的上述内容物的光谱数据；
平均值计算机构，该平均值计算机构根据按时间序列存储于上述光谱数据存储机构中的最近的M个(M为大于等于2的自然数)上述内容物的光谱数据，计算上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的平均值；
阈值计算机构，该阈值计算机构根据通过上述平均值计算机构计算的上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的平均值，计算用于针对上述N个指定波长频带的每个而判断该指定波长频带的光谱强度的阈值(上限阈值和/或下限阈值)；
变更机构，该变更机构可根据通过上述阈值计算机构计算的上述N个指定波长频带的每个的各阈值，针对上述N个指定频带的每个变更上述允许范围。
按照上述技术方案1，可一边连续地进行利用分光分析的异常品种混入检查等的处理，一边反馈最近的合格品的内容物的分光分析结果，随时地更新内容物的光谱数据的允许范围。
由此，对应于检查装置、内容物的伴随时间的变化等，在检查时，在更加适合的允许范围内，可进行检查的内容物的光谱数据是否合格的判断。
其结果是，不必要求预先较大地设定允许范围的幅度，可一边抑制内容物相关的合格品错误率的上升，一边抑制不合格品的错误率的上升，可谋求检查精度的提高。
但是，由于从照射机构射出的近红外光中包括的各波长频带的光谱强度不均匀，故对分光光谱进行摄像的摄像机构的灵敏度(感光量)和其伴随时间的变化等也针对各波长频带而不同。
相对该情况，在本技术方案1中形成下述的方案，其中，针对N个指定波长频带的每个，设定光谱强度的允许范围，并且可针对各指定波长频带而变更该允许范围。由此，相对检查装置、内容物的伴随时间的变化等，针对各指定波长频带，可更加精细地应对，可谋求检查精度的进一步的提高。
另外，在上述技术方案1中，比如包括“标准偏差计算机构，该标准偏差计算机构根据按照时间序列存储于上述光谱数据存储机构中的最近的M个(M为大于等于2的自然数)上述内容物的光谱数据，计算上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的标准偏差”；
上述“阈值计算机构”形成下述的方案，其中，“根据通过上述平均值计算机构计算的上述N个波长频带的每个的光谱强度的平均值，与通过上述标准偏差计算机构计算的上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的标准偏差，计算用于针对上述N个波长频带的每个而判断该指定波长频带的光谱强度的阈值(上限阈值和/或下限阈值)”。
技术方案2.涉及技术方案1所述的检查装置，其特征在于，上述检查机构包括加权机构，该加权机构在将按时间序列存储于上述光谱数据存储机构中的最近的M个上述内容物的光谱数据用于规定的处理(比如，平均值计算机构的平均值处理等)时，可按照下述的方式进行规定的加权处理，该方式为：与上述M个内容物的光谱数据中的规定的光谱数据或按时间序列连续的规定的光谱数据组相比较，反映按时间序列最近的光谱数据、或按时间序列连续并且按时间序列最近的光谱数据组的比例大。
按照上述技术方案2，比如，可进行比如将相对按照时间序列而旧的第1光谱数据，按照时间序列而新的第2光谱数据换算为2倍(内容物2个)等的加权处理。
由此，可在检查时的状况下设定更加适合的允许范围，可谋求检查精度的进一步的提高。
技术方案3.涉及技术方案1或2所述的检查装置，其特征在于，上述摄像机构按照可同时地对设置于多个位置(比如，与内容物的运送方向相正交的方向的多个位置)的上述内容物所相关的反射光的分光光谱进行摄像的方式构成；
上述检查机构(上述判断机构、上述光谱数据存储机构、上述平均值计算机构、上述阈值计算机构和上述变更机构)分别与上述多个位置相对应地设置。
因从照射机构照射到摄像区域的近红外光的亮度不均匀、基于构成摄像机构的成像元件(CCD区域传感器等)的多个感光元件的特性的灵敏度的参差不齐等的原因，成像元件的灵敏度(感光量)和其伴随时间的变化等也针对每个坐标位置而不同。
相对该情况，按照上述技术方案3，可分别地进行多个位置的内容物的检查。
即，形成下述的方案，其中，根据分别与多个位置相对应而设定的光谱数据的允许范围，进行各位置的内容物是否合格的判断，并且按时间序列依次存储合格品内容物的光谱数据的光谱数据存储机构分别对应于多个位置分别地设置，根据存储于该光谱数据存储机构中的光谱数据，针对各位置，分别地进行上述光谱强度的平均值的计算，上述阈值的计算，上述阈值范围的变更等的处理。
其结果是，相对检查装置、内容物的伴随时间的变化等，可针对各位置更加精细地精细应对，可谋求检查精度的进一步的提高。
技术方案4.涉及一种PTP包装机，该PTP包装机用于制造PTP片，在该PTP片中，在形成于容器膜上的袋部中接纳规定的内容物，按照封闭该袋部的方式安装罩面膜，其特征在于，该PTP包装机包括：
袋部形成机构，该袋部形成机构在带状的上述容器膜上形成上述袋部；
填充机构，该填充机构在上述袋部中填充上述内容物；
安装机构，该安装机构在于上述袋部中填充上述内容物的上述容器膜上，按照密封上述袋部的方式安装带状的上述罩面膜；
切分机构(包括以片单位而冲压的冲压机构)，该切分机构从于上述容器膜上安装有上述罩面膜的带状体(带状的PTP膜)上切分上述PTP片；
对上述内容物进行检查的技术方案1～3中任一项所述的检查装置。
像上述技术方案4那样，上述技术方案1等的检查装置设置于PTP包装机中，由此具有在PTP片的制造过程中，以良好的精度而排除包括异常品种的不合格品等的优点。另外，PTP包装机也可为下述的结构，其中，包括排出通过上述检查装置而判定为不合格的PTP片的排出机构。
另外，在上述技术方案4中，也可形成下述的结构，其中，上述检查装置设置于“通过填充机构在袋部中填充内容物的前步骤中”。在该场合，可在填充于袋部中的前阶段排除异常品种，可减少构成不合格品的PTP片。
此外，也可形成下述的结构，其中，上述检查装置设置于“通过填充机构在袋部中填充内容物的后步骤，并且通过安装机构安装罩面膜的前步骤”。在此场合，可在没有遮挡物的状态，进行检查，可谋求检查精度的进一步的提高。
还有，还可形成下述的结构，其中，上述检查装置设置于“通过安装机构安装罩面膜的后步骤，并且通过切分机构切分PTP片的前步骤中”。在此场合，可在没有替换内容物的状态，进行检查，可谋求检查精度的进一步的提高。
再有，也可形成下述的结构，其中，上述检查装置设置于“通过切分机构切分PTP片的后步骤中”。在此场合，可在最终阶段确认是否混入不合格。
技术方案5.一种检查方法，该检查方法在下述的场合，利用分光分析进行规定的检查(比如，异常品种混入检查)，该场合指，在形成于容器膜上的袋部中接纳规定的内容物，按照将该袋部封闭的方式安装罩面膜的PTP片的制造的场合；
其特征在于，该检查方法包括：
照射步骤，在该照射步骤中，可对上述内容物照射近红外光；
分光步骤，在该分光步骤中，可对从照射有上述近红外光的上述内容物反射的反射光进行分光；
摄像步骤，在该摄像步骤中，可对通过上述分光步骤分光的上述反射光的分光光谱进行摄像；
光谱数据获得步骤，在该光谱数据获得步骤中，可根据通过上述摄像步骤获得的上述分光图像数据，获得该内容物的光谱数据；
判断步骤，在该判断步骤中，可通过下述的方式针对上述内容物进行是否合格的判断，该方式为：判断通过上述光谱数据获得步骤获得的上述内容物的光谱数据中包括的多个波长频带中的N个(N为大于等于1的自然数)指定波长频带的光谱强度是否分别在允许范围内；
光谱数据存储步骤，在该光谱数据存储步骤中，可按照时间序列，依次存储通过上述判断步骤而判断为合格的上述内容物的光谱数据；
平均值计算步骤，在该平均值计算步骤中，根据按时间序列通过上述光谱数据存储步骤存储的最近的M个(M为大于等于2的自然数)上述内容物的光谱数据，计算上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的平均值；
阈值计算步骤，在该阈值计算步骤中，根据通过上述平均值计算步骤计算的上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的平均值，计算用于针对上述N个指定波长频带的每个而判断该指定波长频带的光谱强度的阈值(上限阈值和/或下限阈值)；
变更步骤，在该变更步骤中，可根据通过上述阈值计算步骤计算的上述N个指定波长频带的每个的各阈值，针对上述N个指定频带的每个变更上述允许范围。
按照上述技术方案5，实现与上述技术方案1相同的作用效果。
另外，在上述技术方案5中，也可形成下述的方案，其中，比如，包括“根据通过光谱数据存储步骤，按时间序列存储的最近的M个(M为大于等于2个的自然数)上述内容物的光谱数据，计算上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的标准偏差的标准偏差计算步骤”；
在上述“阈值计算步骤”中，“根据通过上述平均值计算步骤计算的上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的平均值、与通过上述标准偏差计算步骤而计算的上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的标准偏差，计算用于针对上述N个指定波长频带的每个而判断该指定波长频带的光谱强度的阈值(上限阈值和/或下限阈值)”。
附图说明
图1的(a)为表示PTP片的立体图，图1的(b)为表示PTP膜的立体图；
图2为PTP片的袋部的部分放大剖视图；
图3为表示PTP包装机的外观结构的模式图；
图4为表示检查装置的电气结构的方框图；
图5为以模式方式表示摄像装置的配置结构的立体图；
图6为表示摄像装置的外观结构的模式图；
图7为表示测定程序的流程图；
图8为表示投射于成像元件上的分光光谱的模式图；
图9为用于说明运送方向摄像范围与片剂等的关系的说明图；
图10为表示光谱图像的模式图；
图11为表示检查程序的流程图；
图12为用于说明运送方向摄像范围与光谱图像的关系的说明图；
图13为表示分析处理的流程图；
图14为表示表格变更处理的流程图；
图15为列举一部分的合格品数据的一部分的波长频带的光谱强度，平均光谱强度和标准偏差的表。
具体实施方式
下面参照附图，对一个实施方式进行说明。首先，具体地对PTP片的结构进行说明。
像图1、图2所示的那样，PTP片1包括容器膜3与罩面膜4，该容器膜3具有多个袋部2，该罩面膜4按照封闭袋部2的方式安装于容器膜3上。
本实施方式的容器膜3通过比如PP(聚丙烯)、PVC(聚氯乙烯)等的透明的热塑性树脂材料形成，该容器膜3具有透光性。另一方面，罩面膜4通过不透明材料(比如铝箔等)构成，在该不透明材料的表面上，设置由比如聚丙烯树脂等形成的密封剂。
从平面看，PTP片1呈大致矩形状。在PTP片1上，在其短边方向形成2个袋排，该袋排由5个袋部2构成，该5个袋部沿其长边方向而排列。即，形成共计10个袋部。在各袋部2中每次1个地接纳作为内容物的片剂5。
PTP片1(参照图1的(a))通过下述的方式而制造，该方式为：由带状的容器膜3和带状的罩面膜4形成的带状的PTP膜6(参照图1的(b))呈片状而冲压。
下面参照图3，对用于制造上述PTP片1的PTP包装机10的外观结构进行说明。
像图3所示的那样，在PTP包装机10的最上游侧，带状的容器膜3的原料卷呈卷状而卷绕。呈卷状而卷绕的容器膜3的伸出端导向给导向辊13。容器膜3在导向辊13的下游侧，挂绕在间歇运送辊14上。间歇运送辊14与间歇运送的马达连接，以间歇方式运送容器膜3。
在导向辊13和间歇运送辊14之间，沿容器膜3的运送线路，依次设置加热装置15和袋部形成装置16。另外，在通过加热装置15对容器膜3进行加热，该容器膜3较柔软的状态，通过袋部形成装置16，在容器膜3的规定位置对多个袋部2进行成形(袋部形成步骤)。通过加热装置15和袋部形成装置16构成本实施方式的袋部形成机构。袋部2的形成在间歇运送辊14的容器膜3的运送动作之间的间隔的时期而进行。
从间歇运送辊14而送出的容器膜3依次挂绕在张紧辊18、导向辊19和膜接纳辊20上。由于膜接纳辊20与以一定程度而旋转的马达连接，故该膜接纳辊20连续并且以一定速度而运送容器膜3。张紧辊18处于将容器膜3张拉到通过弹力而张紧的一侧的状态，防止上述间歇运送辊14和膜接纳辊20的运送动作的不同造成的容器膜3的挠曲，在平时将容器膜3保持在张紧状态。
在导向辊19和膜接纳辊20之间，沿容器膜3的运送线路，依次设置片剂填充装置21。片剂填充装置21包括作为填充机构的功能，该填充机构自动地将片剂5填充于袋部2中。片剂填充装置21与膜接纳辊20对容器膜3的运送动作同步，通过每规定间隔而打开开闭器的方式使片剂5掉落，伴随开闭门的开放动作，在各袋部2中填充片剂5(填充步骤)。
在片剂填充装置21与膜接纳辊20之间，沿容器膜3的运送线路设置检查装置22。检查装置22为利用分光分析进行检查的分光分析设备，其用于检查异常品种的混入。关于检查装置22的具体内容，将在后面描述。
另一方面，呈带状而形成的罩面膜4的原料卷呈卷状卷绕于最上游侧。
呈卷状卷绕的罩面膜4的伸出端导向给导向辊24，导向到加热辊25的一侧。加热辊25可与上述膜接收辊20压接，将容器膜3和罩面膜4送入2个辊20、25之间。
另外，通过容器膜3和罩面膜4在加热压接状态而从2个辊20、25之间通过，在容器膜3上粘贴罩面膜4，通过罩面膜4封闭袋部2(安装步骤)。由此，制造作为片剂5接纳于各袋部2中的带状体的PTP膜6。在加热辊25的表面上，形成密封用的网格状的细微的凸条，其强烈地压接，由此实现牢固的密封。通过膜接收辊20和加热辊25构成本实施方式的安装机构。
从膜接收辊20而送出的PTP膜6依次挂绕于张紧辊27和间歇运送辊28上。由于间歇运送辊28与以间歇方式旋转的马达连接，故以间歇方式运送PTP膜6。张紧辊27处于将PTP膜6张拉到通过弹力而张紧的一侧的状态，防止膜接纳辊20和间歇辊28的运送动作的不同造成的PTP膜6的挠曲，在平时将PTP膜6保持在张紧状态。
从间歇运送辊28送出的PTP膜6依次挂绕于张紧辊31和间歇运送辊32上。由于间歇运送辊32与以间歇方式旋转的马达连接，故以间歇方式运送PTP膜6。张紧辊31处于将PTP膜6张拉到通过弹力而张紧的状态，防止上述间歇运送辊28、32之间的PTP膜6的挠曲。
在间歇运送辊28和张紧辊31之间，沿PTP膜6的运送线路，依次设置狭缝形成装置33和刻印装置34。狭缝形成装置33具有在PTP膜6的规定位置形成切分用狭缝的功能。另外，刻印装置34具有在PTP膜6的规定位置(比如标签部)设置刻印的功能。
从间歇运送辊32送出的PTP膜6依次在其下游侧挂绕于张紧辊35和连续运送辊36上。在间歇运送辊32和张紧辊35之间，沿PTP膜6的运送通路设置片冲压装置37。片冲压装置37具有作为以PTP片1单位，对PTP膜6的外缘进行冲压的片冲压机构(切分机构)的功能。
通过片冲压装置37而冲压的PTP片1通过输送器39运送，暂时贮存于完成品用料斗40中(切分步骤)。但是，在通过上述检查装置22而判定为不合格品的场合，判定为不合格品的PTP片1不运送给完成品用料斗40，而通过作为在图中没有示出的不合格片排出机构而单独地排出。
在上述连续运送辊36的下游侧设置裁剪装置41。另外，构成通过片冲压装置37的冲压后而呈带状残留的残留部(废弃部)的不需要膜部42在导向给上述张紧辊35和连续运送辊36后，导向给裁剪装置41。另外，上述连续运送辊36受到从动辊的压接，在夹持不需要膜部42的同时，进行运送动作。在裁剪装置41中，具有以规定尺寸而裁剪不需要膜部42的废弃处理的功能。该废弃部在贮存于废弃用料斗43中后，单独进行废弃处理。
另外，上述各辊14、20、28、31、32等处于其辊表面与袋部2面对的位置关系。但是，由于在间歇运送辊14等的表面上，形成接纳袋部2的凹部，故不将袋部2压坏。另外，在袋部2接纳于间歇运送辊14等的各凹部中的同时，进行运送动作，由此，确实地进行间歇运送动作、连续运送动作。
PTP包装机10的基本结构如上所述，下面参照附图具体地对上述检查装置22的结构进行说明。图4为表示检查装置22的电气结构的方框图，图5为以模式方式表示检查装置22的配置结构的立体图。
像图4、图5所示的那样，检查装置22包括照明装置52、摄像装置53与实施照明装置52或摄像装置53的驱动控制等的检查装置22内的各种控制、图像处理、运算处理等的控制处理装置54。
照明装置52和摄像装置53设置于容器膜3的袋部2的开口部侧。即，在本实施方式中，从安装罩面膜4的前阶段的容器膜3的袋部2的开口部侧，进行异常品种混入检查。
照明装置52为公知的类型，其以可照射近红外光的方式构成，照明装置52构成本实施方式的照射机构。照射装置52以可朝连续运送的容器膜3上的规定区域，从斜上方照射近红外光的方式设置。
在本实施方式的照明装置52中，可射出具有连续光谱的近红外光(比如，波长700～2500nm的近红外区域)的光源采用卤素灯。此外，光源采用重氢放电管、钨灯、氦气灯等。
像图6所示的那样，摄像装置53包括光学透镜61、作为分光机构的二维分光器62与作为摄像机构的摄像头63。
光学透镜61由在图中没有示出的多个透镜等构成，以可使入射光平行化的方式构成。光学透镜61的光轴沿竖直方向(Z方向)而设定。
另外，光学透镜61按照可使入射光成像于后述的二维分光器62的狭缝62a的位置的方式设置。此外，在这里，为了方便起见，给出光学透镜61采用两侧远心透镜的例子，当然，也可为像侧远心透镜。
二维分光器62由狭缝62a、入射侧透镜62b、分光部62c与射出侧透镜62d构成。分光部62c由入射侧棱镜62ca、透射型衍射光栅62cb与射出侧棱镜62cc构成。
在该方案的条件下，通过狭缝62a的光在通过入射侧透镜62b变为平行光之后，通过分光部62c而分光，通过射出侧棱镜62d，在后述的摄像头63的成像元件65上作为二次分光图像(分光光谱像)而成像。
狭缝62a的开口呈细长的基本矩形状(线状)，该开口宽度方向(短边方向)沿容器膜3的膜运送方向(Y方向)而设置，其长边方向沿与上述运送方向相垂直的容器膜3的膜宽度方向(X方向)而设置。由此，二维分光器62在狭缝62a的开口宽度方向，即，膜运送方向(Y方向)，对入射光进行分光。即，片运送方向(Y方向)为本实施方式的波长分散方向。
摄像头63包括成像元件65，该成像元件65具有多个感光元件(感光部)64呈行列状而以二维方式排列的感光面65a。在本实施方式中，成像元件65采用近红外区域中的比如对波长1300～2000nm的波长范围具有充分的灵敏度的公知的CCD区域传感器。
对于CCD区域传感器，一般知道有下述的类型，其包括比如多个感光元件，该多个感光元件由呈行列状以二维方式设置，并且将入射光转换为与其光量相对应的电荷，对其进行蓄积的光电转换元件(比如，光电二极管)构成；多个垂直转送部，该多个垂直转送部在垂直方向依次转送蓄积于各感光元件中的电荷；水平转送部，该水平转送部在水平方向依次转送从该垂直转送部转送的电荷；输出放大器，该输出放大器将从该水平转送部转送的电荷变换为电压，对其进行放大，将其输出。
显然，成像元件不限于此，其也可采用对于近红外区域具有灵敏度的其它的传感器。比如，也可采用CMOS传感器、MCT(HgCdTe)传感器等。
摄像装置53的视野区域(摄像区域)为下述的区域，该区域为沿膜宽度(X方向)而延伸的线状的区域，至少包括容器膜3的膜宽度方向的全部区域(参照图5的两点虚线部)。另一方面，膜运送方向(Y方向)中的摄像装置53的视野区域为相当于狭缝62a的宽度的区域。即，其为通过狭缝62a的光(狭缝光)在成像元件65的感光面65a上进行成像的区域。
由此，成像元件65的各感光元件64分别对在容器膜3的膜宽度方向(X方向)的各位置处反射的反射光的分光光谱的各波长成分(比如，每个10～20nm频带宽度)进行感光。接着，将与各感光元件64已接收的光的强度相对应的信号转换为数字信号，然后将其从摄像头63输出给控制处理装置54。即，通过成像元件65的感光面65a的整体而拍摄的1个画面的图像信号(分光图像数据)输出给控制处理装置54。
控制处理装置54包括进行检查装置22的整体的控制的CPU和输入输出界面71(在下面称为“CPU等71”)；由键盘、鼠标、触摸面板等构成的作为“输入机构”的输入装置72；具有CRT、液晶等的显示画面的作为“显示机构”的显示装置73；用于存储各种图像数据等的图像数据存储装置74；用于存储各种运算结果等的运算结果存储装置75；用于预先存储各种信息的设定数据存储装置76等。另外，各装置72～76与CPU等71电连接。
CPU等71以可接收发送各种信号的方式与PTP包装机10连接。由此，比如，可控制PTP包装机10的不合格片排出机构等。
图像数据存储装置74用于存储通过摄像装置53拍摄的分光图像数据、根据该分光图像数获得的光谱图像数据、经过二值化处理后的二值化图像数据等。
运算结果存储装置75存储检查结果数据，以概率统计方式对该检查结果数据进行了处理而得到的统计数据等。该检查结果数据、统计数据可适当地显示于显示装置73中。
设定数据存储装置76存储比如，用于PTP片1、袋部2和片剂5的形状和尺寸，片剂5是否合格的判断的光谱允许范围表格等。
下面对通过检查装置22进行的异品种混入检查(检查步骤)的流程进行说明。
首先，参照图7的流程图，对获得光谱数据的测定程序进行说明。另外，本程序为每当以规定量运送容器膜3而反复进行的处理。
控制处理装置54首先在步骤S01中，一边从照明装置52对通过连续运送的容器膜3(片剂5)照射近红外光(照射步骤)，一边进行摄像装置53的摄像处理(曝光处理)。
在这里，控制处理装置54根据来自设置在PTP包装机10中的在图中没有示出的编码器的信号，驱动控制摄像装置53，将该摄像装置53所拍摄的分光图像数据获取到图像数据存储装置74中。
由此，在从照明装置52朝向容器膜3照射的近红外光中的步骤S01的摄像处理的实施区间(曝光期间)中，在运送方向摄像范围W(参照图9)而反射的反射光射入摄像装置53中。即，通过1次的摄像处理，对运送方向摄像范围W进行摄像。
射入摄像装置53中的反射光通过二维分光器62进行分光(分光步骤)、通过摄像头63的摄像元件65作为分光图像(分光光谱)而进行摄像(摄像步骤)。由于在摄像处理的实施期间(曝光期间)中，连续运送容器膜3，故在这里，对运送方向摄像范围W的平均化的分光光谱进行摄像(参照图8)。
图8为表示于片剂5上的规定位置处反射的反射光的分光光谱H投射于成像元件65的感光面65a上的状态的模式图。在图8中，为了方便起见，仅仅示出片剂5的分光光谱H，其它的部位(容器膜3等)的分光光谱的图示省略。
通过摄像装置53拍摄的分光图像(分光光谱)数据在间隔期间，输出给控制处理装置54，存储于图像数据存储装置74中。另外，在这里所说的间隔期间指图像数据的读出期间。即，摄像装置53的摄像周期可通过作为摄像处理的进行期间的曝光期间与间隔期间的总和时间而表示。
如果控制处理装置54获得分光图像数据，则其开始步骤S02的数据形成处理。
在数据形成处理中，根据在步骤S01获得的分光图像数据形成光谱数据。如果形成光谱数据，则控制处理装置54将其存储于图像数据存储装置74中，暂且结束本程序。该步骤相当于本实施方式的光谱数据获得步骤，通过实施该步骤的控制处理装置54的处理功能，构成本实施方式的光谱获得机构。
接着，像图9所示的那样，每当容器膜3(片剂5)以规定量而运送，运送方向摄像范围W间断地相对移动，反复进行上述测定程序，由此，在图像数据存储装置74中，与片运送方向(Y方向)和输送器宽度方向(X方向)的位置信息一起地，按照时间序列依次地存储与各运送方向摄像范围W相对应的光谱数据。由此，形成针对每个像素而具有光谱数据的二维的光谱图像Q(参照图10)。
在这里，对本实施方式的光谱图像Q进行说明。像图10所示的那样，光谱图像Q为多个像素Qa以二维方式而排列的图像数据。在各像素Qa中分别包括光谱数据[表示规定数量n(比如，n＝100个带)的波长频带的光谱强度(亮度值)的数据]。
另外，如果获得相当于构成检查对象的1个PTP片1的规定的检查范围(参照图10的两点划线部)的光谱图像Q，则控制处理装置54进行检查程序。
在这里，参照图11的流程图，对检查程序进行说明。另外，本程序每当获得上述检查范围的光谱图像Q时而反复进行的程序。
控制处理装置54首先，在步骤S11进行片剂像素抽取处理。在本处理中，抽取光谱图像Q的各像素Qa中的与构成分析对象的片剂5相对应的像素(在下面称为“片剂像素”)Qb。
在本实施方式中，比如，判断各像素Qa的光谱数据中的规定波长的光谱强度(亮度值)是否大于等于预定的阈值，对光谱图像Q，进行二值化处理。接着，根据已获得的二值化图像数据，抽取片剂像素Qb(参照图10，图12)。
像图12所示的那样，在本实施方式中，包括没有受到背景的影响，仅仅拍摄片剂5的范围的数据的像素Qa作为片剂像素Qb而抽取。图12为用于说明运送方向摄像范围W与光谱图像Q的关系的说明图。在图10、图12中，通过斜线表示作为片剂像素Qb而抽取的像素。
另外，片剂像素Qb的抽取方法不限于此，也可采用其它的方法。比如，也可形成下述的方案，其中，针对每个像素Qa计算光谱数据(各波长频带的光谱强度)的累积计算值，判断该值是否大于等于预定的阈值，由此，抽取片剂像素Qb。
接着，控制处理装置54在步骤S12进行片剂区域指定处理。通过本处理，指定接纳于检查范围内的各袋部2中的10个片剂5的区域。
在本实施方式中，比如，针对通过上述步骤S11获得的片剂像素Qb，进行标签处理，将邻接的全部的片剂像素Qb视为属于同一片剂5的片剂像素Qb的连接成分。
由此，可将1个连接成分的范围指定为接纳于规定的袋部2的内部中的1个片剂5的片剂区域(参照图10、图12)。在图10、图12中，分别通过粗框包围属于各片剂5的多个片剂像素Qb的连接成分(片剂区域)。
还有，片剂5的区域指定方法不限于此，也可采用其它的方法。比如，也可将在以指定的像素为中心的规定的范围中包括的像素判定为属于与该指定的像素相同的片剂5的像素。
接着，控制处理装置54在步骤S13中，进行平均光谱计算处理。在本处理中，针对在上述步骤S12中已指定的片剂5的相应片剂区域，采用在这里包括的多个片剂像素Qb的各自光谱数据计算该片剂5的平均光谱数据。
在本实施方式中，对属于1个片剂5的片剂区域的多个片剂像素Qb全部的光谱数据进行平均化处理，将其作为该片剂5的平均光谱数据而计算。并不限于此，也可形成下述的方案，其中，抽取属于1个片剂5的片剂区域的多个片剂像素Qb中的一部分，采用该片剂像素Qb的光谱数据，计算该片剂5的平均光谱数据。
如果像这样，接纳于检查范围内的各袋部2中的10个片剂5的相应片剂的平均光谱数据(在下面，称为“光谱测定数据”)，则控制处理装置54将它们作为一个检查范围的测定数据而汇集，存储于运算结果存储装置75中。
另外，在本实施方式中，作为1个片剂5的光谱测定数据，存储各波长频带(带号i＝1～n)的光谱强度V(i)。
在这里，“带号I(1≤i≤n，i为自然数)为光谱数据中包括的规定数量n个(比如，n＝100个带)波长频带所附带的连续号。
在下一步骤S14，控制处理装置54在于运算结果存储装置75中设定的带号计数器的计数值P中，设定作为初始值的“1”。
另外，所谓“袋号”为分别与1个检查范围内的10个袋部2相对应而设定的连续号，可通过上述带号计数器的计数值P(在下面简称为“带号计数器的计数值P”)指定袋部2的位置(参照图10)。
在图10所示的例子中，比如，左侧列的最上部的袋部2作为与袋号“1”相对应的袋部2而设定，右侧列的最下部的袋部2作为与袋号“10”相对应的袋部2而设定。
接着，控制处理装置54在步骤S15中，进行片剂数据抽取处理。在本处理中，从于步骤S13中获得的1个检查范围的测定数据(10个片剂5的光谱测定数据)中，抽取接纳于与当前的袋号袋值P(比如，P＝1)相对应的袋部2中的片剂5的光谱测定数据。
然后，控制处理装置54对于步骤S15中已抽取的片剂5的光谱测定数据进行分析处理(步骤S16)。在这里，参照图13的流程图，具体地对分析处理的流程进行说明。
首先，控制处理装置54在步骤S31中，于运算结果存储装置75中设定的带号计数器的计数值I(在下面简称为“带号计数值I”)中设定作为初始值的“1”。
另外，“带号计数值I”为与上述“袋号i”相对应的值，其用于指定构成分析对象的波长频带。
在下一步骤S32，控制处理装置54进行光谱判断处理。在本处理中，针对在于上述步骤S15中已抽取的片剂5的光谱测定数据中包括的n个波长频带(带号i＝1～n)的光谱强度V(i)中的通过当前的带号计数值I而指定的带号i的波长频带的光谱强度V(i)，参照在设定数据存储装置76中设定的光谱允许范围表格，进行是否合格的判断。
光谱允许范围表格针对n个波长频带(带号i＝1～n)的每个，确定光谱强度V(i)的允许范围D(i)。另外，光谱允许范围表格分别与1个检查范围的10个袋部2的位置(袋号计数值P)，每次1个地设定。即，在本实施方式中，相对1个检查范围，设定10个光谱允许范围表格。
于是，在本处理中，参照与当前的袋号计数值P相对应的光谱允许范围表格，判断通过当前的带号计数值I而指定的带号i的波长频带的光谱强度V(i)是否在与该带号i的波长频带相对应的允许范围D(i)内。
接着，控制处理装置54在运算结果存储装置75中，存储该判断结果(“合格品”或“不合格”)。
另外，在检查开始时的光谱允许范围表格中，设定根据下述数据而计算的各波长频带的允许范围D(i)，该数据指在检查开始前，预先获得的规定个数(比如，200个)的合格品的PTP片的片剂5的光谱测定数据。
然后，控制处理装置54在于步骤S33中，对当前的带号计数值I，加“1”后，转到步骤S34，判断新设定的带号计数值I是否超过最大值n(光谱测定数据中包括的波长频带n)。
在于这里判定为否的场合，再次返回到步骤S32，进行上述一系列的处理。另一方面，在判定为是的场合，视为针对全部的波长频带的光谱强度V(i)，进行是否合格的判断，结束处理。
返回到图11的流程图所示的检查程序的说明，控制处理装置54在步骤S17，进行片剂是否合格的判断处理。
在本处理中，根据上述步骤S16的分析处理的分析结果，判断接纳于与当前的带号计数值P(比如，P＝1)相对应的袋部2中的片剂5是合格品(相同品种)，还是不合格(不同品种)。
具体来说，片剂5的光谱测定数据中包含的n个的波长频带(袋号i＝1～n)的光谱强度V(i)中判定为“不合格”的光谱强度V(i)连1个也不存在的场合，将该片剂5判定为“合格品”。另一方面，在判定为“不合格”的光谱强度V(i)连1个也不存在的场合，判定该片剂5为“不合格”。
另外，控制处理装置54在运算结果存储装置75中，存储该片剂5的判断结果(“合格品”或“不合格”)。于是，通过上述步骤S16的分析处理以及上述步骤S17的片剂是否合格判断处理，构成本实施方式的判断步骤，通过进行这些处理的控制处理装置54的处理功能，构成本实施方式的判断机构。
然后，控制处理装置54在于步骤S18中，于当前的袋号计数值P中添加“1”后，转到步骤S19，判断新设定的袋号码计算值P是否超过最大值Pmax。另外，最大值Pmax为1个检查范围的袋部2个的最大值(在本实施方式中为“10”)。
在于这里判定为否的场合，再次返回到步骤S15，进行上述一系列的处理。另一方面，在判定为肯定的场合，视为全部的袋部2的片剂5的是否合格的判断结束，转到步骤S20。
在下一步骤S20中，控制处理装置54进行片是否合格判断处理。在本处理中，根据上述步骤S17的片剂是否合格判断处理的判断结果，判断与检查范围相对应的PTP片1是合格品，还是不合格。
具体来说，在于检查范围内判定为“不合格”的片剂5连1个也不存在的场合，将与该检查范围相对应的PTP片1判定为“不合格品”，转到步骤S21。
另一方面，在于检查范围内判定为“不合格”的片剂5连1个也不存在的场合，将与该检查范围相对应的PTP片1判定为“合格品”，转到步骤S22。
接着，控制处理装置54在步骤S21的不合格品处理中，于运算结果存储装置75中存储该PTP片1的“不合格品”判断结果，并且将该内容输出给PTP包装机10的不合格片排出机构等，结束检查程序。
另一方面，控制处理装置54在步骤S22的合格品处理中，首先在运算结果存储装置中存储该PTP片1(检查范围)的“合格品”判断结果。同时，控制处理装置54在于运算结果存储装置75中设定的合格品数据存储部中，存储该PTP片1的测定数据(10个的片剂5的光谱测定数据)。
另外，“合格品数据存储部”为按照每当进行检查时，以时间序列而可依次存储判定为“合格品”的PTP片1的测定数据的方式构成的存储机构，其相当于本实施方式的“光谱数据存储机构”。于是，相对合格品数据存储部，通过存储PTP片1的测定数据的处理，构成本实施方式的光谱数据存储步骤。
接着，控制处理装置54进行表格变更处理。另外，表格变更处理为用于变更在设定数据存储装置76中设定的上述光谱允许范围表格的内容的处理。在这里，参照图14的流程图，具体地对表格变更处理的流程进行说明。
控制处理装置54首先在步骤S41进行合格品数据抽取处理。在本处理中，抽取存储于运算结果存储装置75的合格品数据存储部中的最近的规定数量m个(比如，m＝200个)合格品的PTP片1的测定数据(在下面称为“合格品数据”)。
即，在本次的合格品处理(步骤S22)中，以存储有最近的合格品数据的合格品数据存储部的规定地址位置为基准，读取存储有过去m个合格品数据的m个地址位置的内容。
在下一步骤S42，控制处理装置54在袋号计数值P中设定作为初始值的“1”。
接着，控制处理装置54在步骤S43进行表格再设定处理。在本处理中，首先，从于上述步骤S41中抽取的m个合格品数据的相应数据中，抽取接纳于与当前的袋号计数值P(比如，P＝1)相对应的袋部2中的片剂5的光谱测定数据。
接着，控制处理装置54根据已抽取的m个的片剂5的光谱测定数据(合格品号j＝1～m)，计算作为各波长频带(袋号i＝1～n)的光谱强度V(i，j)的平均值的平均光谱强度μ(i)，并且计算各波长频带的光谱强度V(i，j)的标准偏差σ(i)(参照图15)。
在这里，合格品号j(1≤j≤m，j表示自然数)为在上述步骤S41中抽取的m个合格品数据所带有的连续号。
另外，在图15中，精选合格品号“1”～“5”的合格品数据中的带号“1”～“3”的波长频带的光谱强度V(i，j)，进行列举，并且列举采用它们计算的平均光谱强度μ(i)和标准偏差σ(i)。
在这里，计算平均光谱强度μ(i)的处理相当于本实施方式的平均值计算步骤，通过进行该处理的控制处理装置54的处理功能，构成本实施方式的平均值计算机构。
另外，计算标准偏差σ(i)的处理相当于本实施方式的标准偏差计算步骤，通过进行该步骤的控制处理装置54的处理功能，构成本实施方式的标准偏差计算机构。
此外，控制处理装置54根据像上述那样而计算的各波长频带的平均光谱强度μ(i)和标准偏差σ(i)，针对波长频带(带号i＝1～n)，计算用于判断该波长频带的光谱强度V(i)的阈值L(i)[(上限阈值La(i))和下限阈值Lb(i))]。在本实施方式中，根据下述式(1)计算阈值L(i)。
L(i)＝μ(i)±K×σ(i)···(1)
其中，L(i)：带号i的波长频带的阈值；
K：系数
μ(i)：带号i的波长频带的平均光谱强度；
σ(i)：带号i的波长频带的光谱强度的标准偏差。
即，上限阈值La(i))和下限阈值Lb(i)可分别通过下述式(2)、(3)表示。
La(i)＝μ(i)+K×σ(i)···(2)
Lb(i)＝μ(i)-K×σ(i)···(3)
于是，计算上述阈值L(i)的处理相当于本实施方式的阈值计算步骤，通过进行该步骤的控制处理装置54的处理功能，构成本实施方式的阈值计算机构。
接着，控制处理装置54针对每个波长频带(带号i＝1～n)，判断像上述那样而计算的上限阈值La(i)是否小于最大允许值Dmax。另外，最大允许值Dmax为作为制品而可允许的极限值，即可作为上述允许范围D(i)而设定的最大值，预先设定于设定数据存储装置76中。
在这里，在上述阈值La(i)小于最大允许值Dmax的场合，设定作为与在设定数据存储装置76中当前设定的当前的袋号计数值P相对应的光谱允许范围表格中的带号i的波长频带的允许范围D(i)的上限值的上限阈值La(i)。
另一方面，在上限阈值La(i)大于等于最大允许值Dmax的场合，设定作为上述允许范围D(i)的上限值的最大允许值Dmax。
同样地，控制处理装置54针对波长频带(带号i＝1～n)判断像上述那样而计算的下限阈值Lb(i)是否大于最小允许值Dmin。另外，在最小允许值Dmin为作为制品而可允许的极限值，即作为上述允许范围D(i)而可设定的最小值，预先在设定数据存储装置76中设定。
在这里，在下限阈值Lb(i)大于最小允许值Dmin的场合，设定与在设定数据存储装置76中当前设定的当前的袋号计数值P相对应的光谱允许范围表格中的作为带号i的波长频带的允许范围D(i)的下限值的下限阈值Lb(i)。
另一方面，在下限阈值Lb(i)小于等于最小允许值Dmin的场合，设定作为上述允许范围D(i)的下限值的最小允许值Dmin。
如果像这样，与当前的袋号计数值P相对应的光谱允许范围表格的各波长频带的允许范围D(i)的上限值和下限值的再次设定结束，则控制处理装置54转到步骤S44。
在这里，再次设定各波长频带的允许范围D(i)的上限值和下限值的一系列的处理相当于本实施方式的变更步骤，通过进行该步骤的控制处理装置54的处理功能，构成本实施方式的变更机构。
然后，控制处理装置54在于步骤S44中，对当前的袋号计数值P添加“1”后，转到步骤S45，判断新设定的袋号计数值P是否超过最大值Pmax。
在于这里而判定为否的场合，再次返回到步骤S43，进行上述一系列的处理。另一方面，在判定为是的场合，视为再次设定袋号“1”～“10”全部的袋2的光谱允许范围表格，结束本表格变更处理。
接着，控制处理装置54在表格变更处理的结束之后，结束步骤S22的合格品处理，结束检查程序。
像以上具体描述的那样，按照本实施方式，可一边连续地进行利用分光分析的异常品种混入检查等，一边将最近的规定数量m个的合格品的PTP片1的分光分析结果反馈，随时变更用于进行片剂5的光谱测定数据的是否合格判断的光谱允许范围表格[每个波长频带的光谱强度V(i)的允许范围D(i)]。
由此，可对应于检查装置22、片剂5的伴随时间的变化等，在检查时，通过更加适合的光谱允许范围表格进行检查的片剂5的光谱测定数据是否良好的判断。
其结果是，不必要求预先较大地设定允许范围D(i)的幅度，可一边抑制片剂5的合格品错误率的上升，一边抑制不合格品错误率的上升，可谋求检查精度的提高。
另外，在本实施方式中形成下述的方案，其中，针对各波长频带设定光谱强度V(i)的允许范围D(i)，并且可针对各波长频带变更该允许范围D(i)。由此，相对检查装置22、片剂5的伴随时间的变化等，针对各波长频带，可更加精细地精细地应对，可谋求检查精度的进一步的提高。
此外，在本实施方式中，形成下述的方案，其中，分别与1个PTP片1(检查范围)内的10个袋部2的位置相对应，每次1个地设定光谱允许范围表格，根据它们进行各袋部2的片剂5的是否合格的判断。
还有，在合格品数据存储部中形成下述的结构，其中，分别存储各袋部2的片剂5的光谱测定数据，在上述表格变更处理中，平均光谱强度μ(i)的计算处理、标准偏差σ(i)的计算处理、阈值L(i)的计算处理、允许范围D(i)的再次设定处理等分别针对各袋部2而进行。
其结果是，可减少基于从照明装置52照射的近红外光的亮度不均匀、基于构成成像元件65的多个感光元件64的特性的灵敏度的参差不齐等的影响，并且可相对检查装置22、片剂5的伴随时间的变化等，针对各袋部2更加精细地应对，可谋求检查精度的进一步的提高。
另外，不限于上述实施方式的记载内容，也可比如像下述那样而实施。显然，在下面没有列举的其它的应用例、变更例也当然是可能的。
(a)在上述实施方式中，针对内容物为片剂5的场合而进行具体化，但是，内容物的种类、形状等没有特别的限定，比如，也可为胶囊剂、营养品、食品等。另外，片剂包括裸片、糖衣片等的固态制剂。
(b)容器膜3、罩面膜4的材料不限于上述实施方式，也可采用其它的材质的类型。比如，也可形成容器膜3由铝叠层膜等的以铝为主材料的金属材料形成的方案。
(c)关于PTP片1中的袋部2的排列、个数，完全不限于上述实施方式。比如，可采用以比如具有3排12个的袋部的类型为首的由各种的排列、个数构成的PTP片。
(d)在上述实施方式中，形成下述的方案，其中，在于袋部2中填充片剂5后步骤中，并且在于容器膜3上安装罩面膜4的前步骤，进行检查装置22的异常品种混入检查。
并不限于此，也可形成下述的方案，其中，在于容器膜3上安装罩面膜4的后步骤，并且从PTP膜6冲压PTP片1的前步骤，从PTP膜6的容器膜3侧越过袋部2而进行检查装置22的异常品种混入检查。
另外，也可形成下述的方案，其中，于从PTP膜6上冲压PTP片1的后步骤，从通过输送器39运送的PTP片1的容器膜3侧，越过袋部2而进行检查装置22的异常品种混入检查。
此时，还可代替检查装置22设置于PTP包装机10的内部的方案(联机)，而形成下述的方案，在该方案中，独立于PTP包装机10，设置作为通过非联机方式检查PTP片1的设备的检查装置22。另外，在该场合，还可于检查装置22中设置可运送PTP片1的运送机构的结构。
此外，还可在袋部2中填充有片剂5的前步骤，进行检查装置22的异常品种混入检查的方案。比如，也可于片剂填充装置21中投入片剂5的前阶段进行检查的方案。即，还可形成下述的结构，其中，独立于PTP包装机10，包括作为通过非联机方式而检查片剂5的设备的检查装置22。
还有，在通过非联机方式进行检查的场合，也可形成下述的方案，其中，不连续地运送PTP片1、片剂5，而在停止的状态进行检查。但是，为了谋求生产性的提高，最好，一边连续运送PTP片1或PTP膜6或容器膜3，一边通过联机方式进行检查。
近年，在PTP片1的制造领域等中，伴随生产速度的高速化，要求异常品种混入检查等的各种检查的高速化。比如，在于PTP包装机中进行检查的场合，还具有要求每秒检查大于等于100个的片剂5的情况。
(e)照明装置52和摄像装置53的结构不限于上述实施方式。比如，也可形成下述的方案，其中，代替二维分光器62而采用作为分光机构的反射衍射光栅、棱镜等。
(f)在上述实施方式中，形成下述的方案，其中，在步骤S32的光谱判断处理中，通过判断片剂5的光谱测定数据中包括的n个(比如，n＝100个带)全部的波长频带的光谱强度V(i)分别是否在允许范围D(i)内，针对该片剂5，进行是否合格的判断。
并不限于此，也可形成下述的方案，其中，通过判断片剂5的光谱测定数据中包括的n个(比如，n＝100个带)波长频带中的N个(N为1个以上的自然数。比如，N＝30个带)指定波长频带中的光谱强度是否分别在允许范围内，针对该片剂5进行是否合格的判断。
(g)在上述实施方式中，形成下述的方案，其中，在步骤S43的表格再设定处理中，根据m个合格品的片剂5的光谱测定数据(合格品号j＝1～m)，计算作为各波长频带(带号i＝1～n)的光谱强度V(i，j)的平均值的平均光谱强度μ(i)，并且计算各波长频带的平均光谱强度V(i，j)的标准偏差σ(i)，针对各波长频带的平均光谱强度μ(i)以及标准偏差σ(i)，计算判断各波长频带的光谱强度V(i)的阈值L(i)[(上限阈值La(i)和下限阈值Lb(i)]。
计算阈值L(i)的方法不限于此，可形成下述的方案，其中，至少根据各波长频带的平均光谱强度μ(i)而进行计算。
比如，形成下述方案，其中，将比平均光谱强度μ(i)大规定值的值作为上限阈值La(i)而计算，将比平均光谱强度μ(i)小规定值的值作为下限阈值Lb(i)而计算。
(h)在上述实施方式中，形成下述的方案，其中，在步骤S43的表格再设定处理中，计算作为阈值L(i)的上限阈值La(i)和下限阈值Lb(i)，进行各波长频带的允许范围D(i)的上限值和下限值的再设定。
并不限于此，也可形成下述的方案，其中，计算上限阈值La(i)、下限阈值Lb(i)中的一者，仅仅进行各波长频带的允许范围D(i)的上限值或下限值的再设定。另外，还可形成通过1个阈值而确定允许范围D(i)的方案。
(i)在上述实施方式中，形成下述的方案，其中，作为获取允许范围D(i)的上限值的极限值，设定最大允许值Dmax，并且作为获取允许范围D(i)的下限值的极限值，设定最小允许值Dmin，在进行步骤S43的步骤再设定处理时，没有设定超过最大允许值Dmax的上限值、小于最小允许值Dmin的下限值。
并不限于此，也可形成下述的方案，其中，将基于平均光谱强度μ(i)和标准偏差σ(i)的阈值L(i)[上限阈值La(i)和下限阈值Lb(i)]原样地作为允许范围D(i)的上限值和下限值而设定。
(j)还可形成下述的方案，其中，在进行步骤S43的表格再设定处理时，按照与按时间序列存储于运算结果存储装置75的合格品数据存储部中的最近的m个合格品的片剂5的光谱测定数据中的规定的光谱测定数据或按时间序列连续的规定的光谱测定数据组相比较，反映按时间序列最近的光谱测定数据或按时间序列连续并且按时间序列最近的光谱测定数据组的比例大的方式，进行规定的加权处理。通过进行该处理的功能，构成本实施方式的加权机构。
(k)在本实施方式中，形成下述的方案，其中，分别与1个PTP片1(检查范围)内的10个袋部2的位置相对应，每次1个地设定光谱允许范围表格，根据它们分别地进行袋部2的片剂5的是否合格的判断。
并不限于此，也可形成下述的方案，其中，仅仅设置1个光谱允许范围表格，其在1个PTP片1(检查范围)内的10个袋部2全部的位置上是共同的，根据该表格，进行各袋部2的片剂5的是否合格的判断。
另外，也可形成下述的方案，其中，在上述表格变更处理中，采用10个袋部2全部的片剂5的光谱测定数据，计算平均光谱强度μ(i)、标准偏差σ(i)、阈值L(i)，进行允许范围D(i)的再设定处理。
(l)在上述实施方式中，也可形成下述的方案，虽然该方案没有特别提及，在该方案中，在检查开始的当初，在于运算结果存储装置75的合格品数据存储部中尚未存储规定数量m个合格品数据的场合，在进行上述表格变更处理时，代替而使用作为不足量的在检查开始前已获得的合格品数据。
此外，还可形成下述的方案，其中，在于运算结果存储装置75的合格品数据存储部中存储规定数量m个合格品数据之前，不进行上述表格变更处理，而根据在检查开始前设定的光谱允许范围表格，进行是否是合格的判断。
标号的说明：
标号1表示PTP片；
标号2表示袋部；
标号3表示容器膜；
标号4表示罩面膜；
标号5表示片剂；
标号10表示PTP包装机；
标号22表示检查装置；
标号52表示照明装置；
标号53表示摄像装置；
标号54表示控制处理装置；
标号62表示二维分光器；
标号63表示摄像头；
标号64表示感光元件；
标号65表示成像元件；
符号74表示图像数据存储装置；
符号76表示设定数据存储装置；
符号H表示分光光谱。

Claims (5)

1.一种检查装置，该检查装置用于下述的PTP片的制造的场合，在该PTP片中，在形成于容器膜上的袋部中接纳规定的内容物，按照封闭该袋部的方式安装罩面膜，其特征在于，该检查装置包括：
照射机构，该照射机构能对上述内容物照射近红外光；
分光机构，该分光机构能对从照射有上述近红外光的上述内容物反射的反射光进行分光；
摄像机构，该摄像机构能对通过上述分光机构分光的上述反射光的分光光谱进行摄像；
光谱数据获得机构，该光谱数据获得机构能根据通过上述摄像机构获得的分光图像数据获得该内容物的光谱数据；
检查机构，该检查机构能根据通过上述光谱数据获得机构获得的上述内容物的光谱数据，针对上述内容物进行规定的检查，
上述检查机构包括：
判断机构，该判断机构能通过下述的方式针对上述内容物进行是否合格的判断，该方式为：判断通过上述光谱数据获得机构获得的上述内容物的光谱数据中包括的多个波长频带中的N个指定波长频带的光谱强度是否分别在允许范围内，该N为大于等于1的自然数；
光谱数据存储机构，该光谱数据存储机构能按照时间序列，依次存储通过上述判断机构而判断为合格的上述内容物的光谱数据；
平均值计算机构，该平均值计算机构根据按时间序列而存储于上述光谱数据存储机构中的最近的M个上述内容物的光谱数据，计算上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的平均值，该M为大于等于2的自然数；
阈值计算机构，该阈值计算机构根据通过上述平均值计算机构计算的上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的平均值，计算用于针对上述N个指定波长频带的每个而判断该指定波长频带的光谱强度的阈值；
变更机构，该变更机构能根据通过上述阈值计算机构计算的上述N个指定波长频带的每个的各阈值，针对上述N个指定波长频带的每个变更上述允许范围。
2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，上述检查机构包括加权机构，该加权机构在将按时间序列存储于上述光谱数据存储机构中的最近的M个上述内容物的光谱数据用于规定的处理时，能按照下述的方式进行规定的加权处理，该方式为：与上述M个上述内容物的光谱数据中的规定的光谱数据或按时间序列而连续的规定的光谱数据组相比较，反映按时间序列最近的光谱数据、或按时间序列连续并且按时间序列最近的光谱数据组的比例大。
3.根据权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于，上述摄像机构按照能同时地对设置于多个位置的上述内容物所相关的反射光的分光光谱进行摄像的方式构成；
上述检查机构分别与上述多个位置相对应地设置。
4.一种PTP包装机，该PTP包装机用于制造PTP片，在该PTP片中，在形成于容器膜上的袋部中接纳规定的内容物，按照封闭该袋部的方式安装罩面膜，其特征在于，该PTP包装机包括：
袋部形成机构，该袋部形成机构在带状的上述容器膜上形成上述袋部；
填充机构，该填充机构在上述袋部中填充上述内容物；
安装机构，该安装机构在于上述袋部中填充上述内容物的上述容器膜上，按照密封上述袋部的方式安装带状的上述罩面膜；
切分机构，该切分机构从于上述容器膜上安装有上述罩面膜的带状体上切分上述PTP片；
对上述内容物进行检查的权利要求1～3中任一项所述的检查装置。
5.一种检查方法，该检查方法在下述的场合，利用分光分析进行规定的检查，该场合指，在形成于容器膜上的袋部中接纳规定的内容物，按照将该袋部封闭的方式安装罩面膜的PTP片的制造的场合，
其特征在于，该检查方法包括：
照射步骤，在该照射步骤中，能对上述内容物照射近红外光；
分光步骤，在该分光步骤中，能对从照射有上述近红外光的上述内容物反射的反射光进行分光；
摄像步骤，在该摄像步骤中，能对通过上述分光步骤分光的上述反射光的分光光谱进行摄像；
光谱数据获得步骤，在该光谱数据获得步骤中，能根据通过上述摄像步骤获得的分光图像数据，获得该内容物的光谱数据；
判断步骤，在该判断步骤中，能通过下述的方式针对上述内容物进行是否合格的判断，该方式为：判断通过上述光谱数据获得步骤获得的上述内容物的光谱数据中包括的多个波长频带中的N个指定波长频带的光谱强度是否分别在允许范围内，该N为大于等于1的自然数；
光谱数据存储步骤，在该光谱数据存储步骤中，能按照时间序列，依次存储通过上述判断步骤而判断为合格的上述内容物的光谱数据；
平均值计算步骤，在该平均值计算步骤中，根据按时间序列通过上述光谱数据存储步骤存储的最近的M个上述内容物的光谱数据，计算上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的平均值，该M为大于等于2的自然数；
阈值计算步骤，在该阈值计算步骤中，根据通过上述平均值计算步骤计算的上述N个指定波长频带的每个的光谱强度的平均值，计算用于针对上述N个指定波长频带的每个而判断该指定波长频带的光谱强度的阈值；
变更步骤，在该变更步骤中，能根据通过上述阈值计算步骤计算的上述N个指定波长频带的每个的各阈值，针对上述N个指定波长频带的每个变更上述允许范围。
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