KR102340647B1 - 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치 - Google Patents

전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치는, 회전 샤프트를 갖는 본체부; 상기 회전 샤프트에 대하여 가공대상물의 종류에 따라 교체 장착 가능하게 형성되며, 둘레방향을 따라 복수의 거치홈이 형성된, 턴테이블 지그; 상기 턴테이블 지그의 제1회전위치에 배치되고, 복수의 제1가공대상물을 상기 복수의 거치홈에 수동으로 직접 위치시킬 수 있게 형성된 수동 공급부; 상기 턴테이블 지그의 제2회전위치에 배치되며, 복수의 제2가공대상물을 정렬하여 상기 복수의 거치홈에 순차적으로 배치시킬 수 있게 형성된 자동 공급부; 상기 턴테이블 지그의 제3회전위치에 배치되고, 상기 제1가공대상물에 대하여 나사산을 형성할 수 있게 구성된 제1태핑가공부; 상기 턴테이블 지그의 제4회전위치에 배치되고, 상기 제2가공대상물에 대하여 나사산을 형성할 수 있게 구성된 제2태핑가공부; 및 상기 턴테이블 지그의 제5회전위치에 배치되고, 가공된 상기 제1가공대상물 또는 상기 제2가공대상물을 배출시킬 수 있게 형성된 배출부를 포함할 수 있다.

Description

전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치{THREADED HOLE TAPPING MACHINE FOR THIN PARTS OF ELECTRONIC DEVICES}
본 발명은 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치에 관한 것이다.
배선용 차단기, 계전기, 누전 차단기 등 전자기기에는 금속으로 이루어진 콘택트, 아마추어 등과 같은 박판 부품들이 장착된다. 이러한 부품의 제조를 위하여, 먼저 금속 판재를 프레스와 같은 가공 장치에 의하여 형상이나 홀을 형성하고, 다음 단계에서 나사 가공 장치에 의하여 홀에 나사산을 형성시킨다.
부품에 나사홀을 형성시키기 위한 가공 장치는 요구되는 생산 수량과 관련이 있다. 대량생산을 위한 장치는 속도를 극대화시키기 위한 자동화된 공급 및 가공이 가능하게 구성되기도 한다. 반대로 소량 생산을 위해서는 부품마다 가공을 위한 전용 설비나 치구를 마련해야 하는 경제적 부담이 증대되므로 작업자에 의한 직접 공급이나 배치가 조합되는 경우도 있다.
가공 대상 부품이 소량이면서도 다품종인 경우 제품의 어느 제품에서 다른 제품으로의 가공 작업의 전환이 필요한 경우, 예를 들어 현재의 공정에서 수작업으로 탭가공시, 작업자의 실수 및 가공전후 제품의 혼입으로 무탭불량이 발생할 여지가 있고, 작업자의 탭교환주기 미준수로 인한 가공 불량이 발생하거나, 잦은 모델변경으로 인한 지그 교체시간도 과다하게 소요될 수 있다.
＊ 관련 선행기술
대한민국 공개특허 제10-2007-0047751호(2007.05. 07. 공개)
본 발명의 목적은 제품별로 자동화된 공급 및 나사가공과 수작업의 공급 및 나사가공이 가능하도록 함으로써, 생산성 및 효율성을 향상시킬 수 있는 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치를 제시하는데 있다.
본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치는, 회전 샤프트를 갖는 본체부; 상기 회전 샤프트에 대하여 가공대상물의 종류에 따라 교체 장착 가능하게 형성되며, 둘레방향을 따라 복수의 거치홈이 형성된, 턴테이블 지그; 상기 턴테이블 지그의 제1회전위치에 배치되고, 복수의 제1가공대상물을 상기 복수의 거치홈에 수동으로 직접 위치시킬 수 있게 형성된 수동 공급부; 상기 턴테이블 지그의 제2회전위치에 배치되며, 복수의 제2가공대상물을 정렬하여 상기 복수의 거치홈에 순차적으로 배치시킬 수 있게 형성된 자동 공급부; 상기 턴테이블 지그의 제3회전위치에 배치되고, 상기 제1가공대상물에 대하여 나사산을 형성할 수 있게 구성된 제1태핑가공부; 상기 턴테이블 지그의 제4회전위치에 배치되고, 상기 제2가공대상물에 대하여 나사산을 형성할 수 있게 구성된 제2태핑가공부; 및 상기 턴테이블 지그의 제5회전위치에 배치되고, 가공된 상기 제1가공대상물 또는 상기 제2가공대상물을 배출시킬 수 있게 형성된 배출부를 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치는, 상기 수동 공급부와 상기 자동 공급부 사이에 배치되고, 상기 거치홈에 놓여진 상기 제1가공대상물의 배치 유무를 감지할 수 있게 형성된 제1부품 체크부; 및 상기 자동 공급부와 상기 제1태핑가공부 사이에 배치되고, 상기 거치홈에 놓여진 상기 제2가공대상물의 배치 유무를 감지할 수 있게 형성된 제2부품 체크부를 더 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치는, 상기 턴테이블 지그의 제4회전위치의 이후 위치에 배치되고, 상기 제1가공대상물 또는 상기 제2가공대상물의 나사홀 가공 상태를 촬영 영상에 의하여 검사할 수 있게 형성된 비전검사부를 더 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 턴테이블 지그는, 상기 제1가공대상물이 거치될 수 있는 제1거치홈이 형성되고, 상기 회전 샤프트에 대하여 탈착될 수 있게 형성된 제1턴테이블 지그; 및 상기 제2가공대상물이 거치될 수 있는 제2거치홈이 형성되고, 상기 회전 샤프트에 대하여 탈착될 수 있게 형성된 제2턴테이블 지그를 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 제1턴테이블 지그 및 상기 제2턴테이블 지그는 각각 상기 제1거치홈 또는 상기 제2거치홈이 형성된 원형 디스크 형태로 형성되고, 그 중앙부에 방사상으로 상기 회전 샤프트에 대하여 볼트에 의해 체결될 수 있게 복수의 체결홀이 형성될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 제1가공대상물 및 상기 제2가공대상물은 각각 이전 제조 단계에서 천공된 홀을 포함하고, 상기 제1턴테이블 지그상의 상기 제1거치홈의 위치와 상기 제2턴테이블 지그상의 제2거치홈의 위치는 상기 제1가공대상물에 형성된 홀과 상기 제2가공대상물에 형성된 홀이 동일한 위치가 되도록 형성될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 제1태핑가공부와 상기 제2태핑가공부는 동일한 회전위치에서 동시에 가공이 가능하도록 각각 한 쌍으로 형성되고, 상기 제1거치홈 및 상기 제2거치홈은 각각 한 쌍으로 배치된 상기 제1태핑가공부와 상기 제2태핑가공부에 대응하여 나란히 한 쌍으로 각각 형성되고 각각의 쌍은 상기 제1턴테이블 지그 또는 상기 제2턴테이블 지그의 둘레 방향을 따라 배열될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치는, 상기 제1태핑가공부와 상기 제2태핑가공부의 사이에 배치되며, 상기 제1태핑가공부에 의해 발생된 칩을 제거할 수 있게 형성된 제1블로어를 더 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치는, 상기 제2태핑가공부에 의해 발생된 칩을 제거할 수 있게 형성된 제2블로어를 더 포함하고, 상기 제2블로어는 상기 제2태핑가공부와 동일한 회전위치에 배치될 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 자동 공급부는, 상기 제2가공대상물을 정렬시킬 수 있게 형성된 피더부; 및 정렬된 상기 제2가공대상물을 집어 상기 제2거치홈으로 옮길 수 있게 형성된 제1이송부를 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 배출부는, 검사가 완료된 상기 제1가공대상물 또는 상기 제2가공대상물이 수거함으로 낙하될 수 있도록 형성된 슈트부; 및 상기 제2가공대상물을 집어 상기 슈트부로 옮길 수 있게 형성된 제2이송부를 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 일 예로서, 상기 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치는, 상기 본체부의 상부에 배치되고, 상기 제1가공대상물 또는 상기 제2가공대상물의 나사홀 가공 상태를 표시하는 디스플레이부를 더 포함할 수 있다.
본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치에 의하면, 교체 장착 가능하게 형성된 턴테이블 지그를 활용함으로써 가공대상물의 종류에 따라 장치 전체를 교체하지 않고 턴테이블 지그만을 교체하여 사용할 수 있게 되어, 다품종의 소량 생산 대상이 되는 가공대상물의 경우에도 별도의 장치나 공간을 확보하지 않고 저비용으로 다양한 제품을 생산할 수 있으며, 대상물의 변경으로 인한 시간을 획기적으로 줄일 수 있다.
도 1은 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치에 적용할 수 있는 가공 대상물의 평면도들이다.
도 2는 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치(100)의 정면도이다.
도 3은 도 1의 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치(100)의 평면도이다.
도 4는 도 1의 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치(100)의 측면도이다.
도 5 내지 도 8은 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치에 의하여 제1가공대상물을 가공하기 위한 제1턴테이블 지그(210, 310, 410, 510)를 보인 평면도(a) 및 측면도(b)이다.
도 9는 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공장치에 의하여 제2가공대상물을 가공하기 위한 제2턴테이블 지그(610)를 보인 평면도(a) 및 측면도(b)이다.
도 10은 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치에 적용할 수 있는 가공 대상물들(10, 20, 30, 40, 50)이 기준 위치에 대하여 갖는 상대적 위치를 보이기 위한 평면도이다.
이하, 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치의 사용자 인터페이스 제공 방법을 첨부된 도면을 참조로 하여 상세히 설명한다.
도 1과 같이, 본 발명과 관련된 나사홀 가공 장치에 적용되는 가공 대상물들(10, 20, 30, 40, 50)은 배선용 차단기, 계전기, 누전 차단기 등에 적용될 수 있는 단자 또는 콘택트나 아마추어와 같은 금속(구리, 철 등의 소재) 박판재를 프레스와 같은 가공장치에 의하여 미리 형상이나 홀(11, 21, 31, 41, 51)을 형성하고, 나사 가공장치에 의하여 이러한 홀(11, 21, 31, 41, 51)에 암나사산을 형성시킬 수 있게 구성된다. 다양한 가공 대상물들(10, 20, 30, 40, 50) 중에는 크기가 작고 이송의 제약이 있는 제1가공대상물(10, 20, 30, 40)과, 자동화된 공급, 이송이나 배출이 가능한 제2가공대상물(50)이 있다.
도 2는 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치(100)의 정면도이고, 도 3은 평면도이며, 도 4는 측면도로서, 구동력에 의하여 회전되는 턴테이블 상에 배치된 가공 대상물들이 턴테이블 상에서 회전되는 동안 여러 단계를 거치도록 하여 각 단계별로 정해진 가공 또는 이송될 수 있게 구성된다.
본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치(100)는, 본체부(101), 턴테이블 지그(110), 수동 공급부(120), 제1부품 체크부(130), 자동 공급부(140), 제2부품 체크부(150), 제1태핑가공부(160), 제1블로어(170), 제2태핑가공부(180), 비전검사부(190) 및 배출부(200) 등을 구비하고 있다.
본체부(101)는 턴테이블 지그(110)를 회전 가능하게 지지하고 턴테이블 지그(110) 주위의 다른 부품이나 기능 요소들이 설치되기 위한 테이블로서 기능한다. 본체부(101)의 내부에는 제어를 위한 컴퓨터가 설치될 수 있으며, 가공의 상황을 시각적으로 제공하기 위한 디스플레이부(105)가 구비될 수 있다. 디스플레이부(105)는, 도 1 및 도 3에 의하면, 본체부(101)에 고정되어 있고 연장되어 회전이나 위치 전환이 가능한 포스트에 설치되어 있다. 본체부(101)는 또한, 턴테이블 지그(110)의 하부에 배치되어 회전 샤프트(102)에 연결되어 구동력을 제공하기 위한 구동 모터부(104; 도 3 참조)를 갖는다.
턴테이블 지그(110)는 회전 샤프트(102)에 대하여 가공대상물의 종류에 따라 교체 가능하게 형성되어 있으며, 둘레방향을 따라 복수의 거치홈(111)을 갖는 형태로 형성되어 있다. 거치홈(111)의 배열은 도 2에서 턴테이블 지그(110)의 둘레를 따라 기입된 ① ~ ⑫번의 형태이며, 각 위치별로 2개가 쌍으로 배치되어 있다. 턴테이블 지그(110)의 거치홈(111)에 놓여진 가공대상물은 턴테이블 지그(110)의 회전에 따라 자동으로 다양한 회전각을 갖게 되고, 회전하는 동안 자연스럽게 여러 단계들을 거치게 된다. 가공대상물에 따른 턴테이블 지그(110)의 구체적인 모습은 도 5 내지 도 10을 참조로 뒤에서 설명한다.
턴테이블 지그(110)의 제1회전위치(도 2에서 ①, ② 번에 대응하는 위치)에는 복수의 제1가공대상물(10, 20, 30, 40)을 작업자에 의해 수동으로 위치시킬 수 있게 형성된 수동 공급부(120)가 구비된다. 수동 공급부(120)는 형태의 면에서는 다른 스테이지와 달리 제1가공대상물을 직접 배치하는 작업자가 공간의 방해를 받지 않도록 아무것도 배치되어 있지 않은 모습이다.
자동 공급부(140)는 턴테이블 지그(110)의 제2회전위치(도 2에서 ⑤ 번에 대응하는 위치)에 배치되며, 복수의 제2가공대상물(50)을 복수의 거치홈(111)에 순차적으로 배치시킬 수 있게 형성된다. 구체적으로 자동 공급부(140)는 호퍼로부터 공급된 제2가공대상물(50) 더미를 풀어 순차적으로 정렬시킬 수 있게 형성되는 피더부(141)와, 정렬된 제2가공대상물(50)을 집어 거치홈(111)으로 옮길 수 있게 형성된 제1이송부(142)를 포함한다. 제1이송부(142)는 공압 실린더 또는 스크류 모터와 흡착 픽커 등을 구비할 수 있다.
턴테이블 지그(110)의 제3회전위치(도 2에서 ⑦ 번에 대응하는 위치)에는 제1가공대상물(10, 20, 30, 40)에 대하여 나사산을 형성할 수 있게 구성된 제1태핑가공부(160)가 배치된다. 그리고, 턴테이블 지그(110)의 제4회전위치(도 2에서 ⑨ 번에 대응하는 위치)에는 제2가공대상물(50)에 대하여 나사산을 형성할 수 있게 구성된 제2태핑가공부(180)가 배치된다. 이러한 제1태핑가공부(160) 및 제2태핑가공부(180)는 가공대상물 또는 홀의 변경에 따라 공구를 교체를 위한 시간을 절약할 수 있는 장점을 갖는다.
도 1과 같이, 제1태핑가공부(160)와 제2태핑가공부(180)는 제1가공대상물(10, 20, 30, 40) 또는 제2가공대상물(50)이 동일한 회전 위치에서 동시에 가공이 가능하도록 각각 한 쌍으로 형성된다. 그에 대응하여, 도 2와 같이, 거치홈(111)도 각각의 회전위치에서 한 쌍으로 형성되어 있다. 이러한 제1태핑가공부(160)와 제2태핑가공부(180)의 배치 및 거치홈(111)의 배치는 동시 가공되는 수량을 증대시킬 수 있으므로 생산성을 향상시킬 수 있다.
배출부(200)는 턴테이블 지그(110)의 지그의 제5회전위치에 배치되어 있으며 가공된 제1가공대상물(10, 20, 30, 40) 또는 제2가공대상물(50)을 배출시킨다. 배출부(200)는 제1가공대상물(10, 20, 30, 40) 또는 제2가공대상물(50)이 수거함(204)으로 낙하될 수 있도록 형성된 슈트부(203)와, 제2가공대상물(50)을 집어 슈트부(203)로 옮길 수 있게 형성된 제2이송부(201, 202)를 포함할 수 있다. 제2이송부(201, 202)도 공압 실린더 또는 스크류 모터와 흡착 픽커 등을 구비할 수 있다.
수동 공급부(120)와 자동 공급부(140)의 사이(도 2에서 ③ 번에 대응하는 위치)에는 거치홈(111)에 놓여진 제1가공대상물(10, 20, 30, 40)의 배치 유무를 감지할 수 있도록 제1부품 체크부(130)가 배치되어 있다. 제1부품 체크부(130)는 거치홈(111)에 가공대상물이 존재하는지를 미리 체크하고 제1태핑가공부(160)의 동작 여부를 제어한다. 제1부품 체크부(130)는 제1가공대상물(10, 20, 30, 40)의 존재 여부를 감지하는 비접촉 센서 또는 광센서 형태로 형성될 수 있다.
제1부품 체크부(130)는 제2가공대상물(50)의 가공시에는 잔여 부품을 체크하는 기능을 담당하도록 구성될 수 있다. 즉, 제2가공대상물(50)의 가공시 제1부품 체크부(130)를 통하여 감지 결과물이 없는 경우 잔여 부품이 없으므로 제2태핑가공부(180)의 운전의 종료 제어를 할 수 있다.
자동 공급부(140)와 제1태핑가공부(160)의 사이(도 2에서 ⑥ 번에 대응하는 위치)에는 거치홈(111)에 놓여진 제2가공대상물(50)의 배치 유무를 감지할 수 있게 형성된 제2부품 체크부(150)가 배치되어 있다. 제2부품 체크부(150)는 거치홈(111)에 가공대상물이 존재하는지를 미리 체크하고 제2태핑가공부(180)의 동작 여부를 제어한다. 제2부품 체크부(150)도 제2가공대상물(50)의 존재 여부를 감지하는 비접촉 센서 또는 광센서 형태로 형성될 수 있다.
제1태핑가공부(160)과 제2태핑가공부(180)의 사이(도 2에서 ⑧ 번에 대응하는 위치)에는 제1태핑가공부(160)에 의해 발생된 칩을 제거할 수 있게 형성된 제1블로어(170)가 배치될 수 있다. 제1블로어(170)는 연속 생산하는 과정에서 칩의 축적으로 인한 다른 제품의 성형불량 등을 방지하는 역할을 한다. 제2태핑가공부(180)에 의해 만들어지는 제2가공대상물(50)의 칩은 제2태핑가공부(180)에서 곧바로 제거할 수 있도록 제2태핑가공부(180)와 동일한 회전위치에 제2블로어(도시되지 않음)가 구비될 수 있다.
제2태핑가공부(180) 이후의 위치(도 2에서 ⑩ 번에 대응하는 위치)에는 제1가공대상물(10, 20, 30, 40) 또는 제2가공대상물(50)의 나사홀 가공 상태를 촬영 영상에 의하여 검사할 수 있게 형성된 비전검사부(190)가 배치된다. 비전검사부(190)의 결과에 따라 제1가공대상물(10, 20, 30, 40) 또는 제2가공대상물(50)의 가공의 양부가 결정되며, 미성형 또는 불량성형의 제품은 블로어 등에 의하여 미리 제거될 수 있게 구성될 수 있다.
도 5 내지 도 8은 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치에 의하여 제1가공대상물(10, 20, 30, 40)을 가공하기 위한 제1턴테이블 지그(210, 310, 410, 510)를 보인 평면도(a) 및 측면도(b)이다.
이들 도면과 같이, 각 제1턴테이블 지그(210, 310, 410, 510)는 원형의 디스크 형태로서, 제1가공대상물(10, 20, 30, 40)을 거치하기 위한 고유의 거치홈(211, 311, 411, 511)이 형성되어 있다. 각각의 거치홈(211, 311, 411, 511)은 각 회전위치마다 2축 헤드의 태핑가공부에 의한 작업이 가능하도록, 쌍으로 형성된 거치홈(211A, 211B, 311A, 311B, 411A, 411B, 511A, 511B)을 갖고 있다. 각 제1턴테이블 지그(210, 310, 410, 510)의 중앙부에는 회전 샤프트(102)에 대하여 볼트(103)에 의해 체결될 수 있게 방사상으로 체결홀(215, 315, 415, 515)이 형성되어 있다.
도 9는 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공장치에 의하여 제2가공대상물(50)을 가공하기 위한 제2턴테이블 지그(610)를 보인 평면도(a) 및 측면도(b)이다. 제2턴테이블 지그(610)도, 거치홈(611, 611A, 611B)을 제외하고 제1턴테이블 지그(210, 310, 410, 510)와 동일한 형상 및 체결 구조를 갖는다.
도 10은 본 발명과 관련된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치에 적용할 수 있는 가공 대상물들(10, 20, 30, 40, 50)이 기준 위치에 대하여 갖는 상대적 위치를 보이기 위한 평면도이다.
도 1에서는 각 가공 대상물들(10, 20, 30, 40, 50)이 각각 이전의 프레스 제조 단계에서 천공된 홀(11, 21, 31, 41, 51)은 가공 대상물들(10, 20, 30, 40, 50)의 형상에 대하여 각각 상이한 위치를 가졌다는 것을 보였다. 그럼에도 도 10과 같이, 제1턴테이블 지그(210, 310, 410, 510) 및 제2턴테이블 지그(610)의 거치홈(211, 311, 411, 511, 611)의 위치는 천공된 홀(11, 21, 31, 41, 51)이 제1턴테이블 지그(210, 310, 410, 510) 및 제2턴테이블 지그(610)가 동일한 회전위치에서 동일한 위치가 되도록(즉, 제1태핑가공부(160) 및 제2태핑가공부(180)의 관점에서 이송이 없이 그대로 작업이 가능할 수 있게 동일한 평면상의 위치가 되도록) 형성된다. 이렇게 함으로써, 상이한 가공 대상물로의 변경시 턴테이블 지그만을 변경하는 것만으로 시간이나 공간의 제약을 최소화키면서 생산성성을 향상시킬 수 있게 되는 것이다.
상기와 같이 설명된 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치는 설명된 실시예들의 구성과 방법이 한정되게 적용되지 않는다. 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.
100: 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치
101: 본체부 102: 회전 샤프트
103: 볼트 104: 구동모터부
105: 디스플레이부 110: 턴테이블 지그
111: 거치홈 120: 수동 공급부
130: 제1부품 체크부 140: 자동 공급부
141: 피더부 142: 제1이송부
150: 제2부품 체크부 160: 제1태핑가공부
170: 제1블로어 180: 제2태핑가공부
190: 비전검사부 200: 배출부
201, 202: 제2이송부 203: 슈트부
204: 수거함 10, 20, 30, 40: 제1가공대상물
50: 제2가공대상물 11,21,31,41,51: 천공홀

Claims (12)

  1. 회전 샤프트를 갖는 본체부;
    상기 회전 샤프트에 대하여 가공대상물의 종류에 따라 교체 장착 가능하게 형성되며, 둘레방향을 따라 복수의 거치홈이 형성된, 턴테이블 지그;
    상기 턴테이블 지그의 제1회전위치에 배치되고, 복수의 제1가공대상물을 상기 복수의 거치홈에 수동으로 직접 위치시킬 수 있게 형성된 수동 공급부;
    상기 턴테이블 지그의 제2회전위치에 배치되며, 복수의 제2가공대상물을 정렬하여 상기 복수의 거치홈에 순차적으로 배치시킬 수 있게 형성된 자동 공급부;
    상기 턴테이블 지그의 제3회전위치에 배치되고, 상기 제1가공대상물에 대하여 나사산을 형성할 수 있게 구성된 제1태핑가공부;
    상기 턴테이블 지그의 제4회전위치에 배치되고, 상기 제2가공대상물에 대하여 나사산을 형성할 수 있게 구성된 제2태핑가공부; 및
    상기 턴테이블 지그의 제5회전위치에 배치되고, 가공된 상기 제1가공대상물 또는 상기 제2가공대상물을 배출시킬 수 있게 형성된 배출부를 포함하고,
    상기 턴테이블 지그는,
    상기 제1가공대상물이 거치될 수 있는 제1거치홈이 형성되고, 상기 회전 샤프트에 대하여 탈착될 수 있게 형성된 제1턴테이블 지그; 및
    상기 제2가공대상물이 거치될 수 있는 제2거치홈이 형성되고, 상기 회전 샤프트에 대하여 탈착될 수 있게 형성된 제2턴테이블 지그를 포함하는, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 수동 공급부와 상기 자동 공급부 사이에 배치되고, 상기 거치홈에 놓여진 상기 제1가공대상물의 배치 유무를 감지할 수 있게 형성된 제1부품 체크부; 및
    상기 자동 공급부와 상기 제1태핑가공부 사이에 배치되고, 상기 거치홈에 놓여진 상기 제2가공대상물의 배치 유무를 감지할 수 있게 형성된 제2부품 체크부를 더 포함하는, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 턴테이블 지그의 제4회전위치의 이후 위치에 배치되고, 상기 제1가공대상물 또는 상기 제2가공대상물의 나사홀 가공 상태를 촬영 영상에 의하여 검사할 수 있게 형성된 비전검사부를 더 포함하는, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1턴테이블 지그 및 상기 제2턴테이블 지그는 각각 상기 제1거치홈 또는 상기 제2거치홈이 형성된 원형 디스크 형태로 형성되고, 그 중앙부에 방사상으로 상기 회전 샤프트에 대하여 볼트에 의해 체결될 수 있게 복수의 체결홀이 형성된, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1가공대상물 및 상기 제2가공대상물은 각각 이전 제조 단계에서 천공된 홀을 포함하고,
    상기 제1턴테이블 지그상의 상기 제1거치홈의 위치와 상기 제2턴테이블 지그상의 제2거치홈의 위치는 상기 제1가공대상물에 형성된 홀과 상기 제2가공대상물에 형성된 홀이 동일한 위치가 되도록 형성된, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1태핑가공부와 상기 제2태핑가공부는 동일한 회전위치에서 동시에 가공이 가능하도록 각각 한 쌍으로 형성되고,
    상기 제1거치홈 및 상기 제2거치홈은 각각 한 쌍으로 배치된 상기 제1태핑가공부와 상기 제2태핑가공부에 대응하여 나란히 한 쌍으로 각각 형성되고 각각의 쌍은 상기 제1턴테이블 지그 또는 상기 제2턴테이블 지그의 둘레 방향을 따라 배열된, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1태핑가공부와 상기 제2태핑가공부의 사이에 배치되며, 상기 제1태핑가공부에 의해 발생된 칩을 제거할 수 있게 형성된 제1블로어를 더 포함하는, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제2태핑가공부에 의해 발생된 칩을 제거할 수 있게 형성된 제2블로어를 더 포함하고,
    상기 제2블로어는 상기 제2태핑가공부와 동일한 회전위치에 배치된, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 자동 공급부는,
    상기 제2가공대상물을 정렬시킬 수 있게 형성된 피더부; 및
    정렬된 상기 제2가공대상물을 집어 상기 거치홈으로 옮길 수 있게 형성된 제1이송부를 포함하는, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 배출부는,
    검사가 완료된 상기 제1가공대상물 또는 상기 제2가공대상물이 수거함으로 낙하될 수 있도록 형성된 슈트부; 및
    상기 제2가공대상물을 집어 상기 슈트부로 옮길 수 있게 형성된 제2이송부를 포함하는, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 본체부의 상부에 배치되고, 상기 제1가공대상물 또는 상기 제2가공대상물의 나사홀 가공 상태를 표시하는 디스플레이부를 더 포함하는, 전기기기용 박판형 부품류의 나사홀 가공 장치.
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