KR102333385B1 - Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device - Google Patents

Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device Download PDF

Info

Publication number
KR102333385B1
KR102333385B1 KR1020150135921A KR20150135921A KR102333385B1 KR 102333385 B1 KR102333385 B1 KR 102333385B1 KR 1020150135921 A KR1020150135921 A KR 1020150135921A KR 20150135921 A KR20150135921 A KR 20150135921A KR 102333385 B1 KR102333385 B1 KR 102333385B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
sensing
node
driving transistor
data
Prior art date
Application number
KR1020150135921A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20170036569A (en
Inventor
박준민
타니료스케
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020150135921A priority Critical patent/KR102333385B1/en
Publication of KR20170036569A publication Critical patent/KR20170036569A/en
Priority to KR1020210151628A priority patent/KR102374105B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102333385B1 publication Critical patent/KR102333385B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G09G3/3233Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the current through the light-emitting element
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3275Details of drivers for data electrodes
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/043Compensation electrodes or other additional electrodes in matrix displays related to distortions or compensation signals, e.g. for modifying TFT threshold voltage in column driver
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/08Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
    • G09G2300/0809Several active elements per pixel in active matrix panels
    • G09G2300/0842Several active elements per pixel in active matrix panels forming a memory circuit, e.g. a dynamic memory with one capacitor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

본 실시예들은, 유기발광표시장치에서의 센싱 및 보상 기술에 관한 것으로서, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화에 대한 센싱 구동 시, 유동적이면서도 꽤 오랜 시간이 걸릴 수 있는 센싱 초기화 시간을 대폭 단축하여, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화를 신속하고 정확하게 센싱할 수 있게 해주는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다. The present embodiments relate to sensing and compensation technology in an organic light emitting display device, and when driving sensing for a characteristic value or a change in characteristic value for a circuit element in each sub-pixel, a sensing initialization time that is flexible and can take quite a long time The present invention relates to an organic light emitting display panel, an organic light emitting display device, and a driving method thereof, which can quickly and accurately sense a characteristic value or a change in a characteristic value of a circuit element in each sub-pixel, which is greatly shortened.

Figure R1020150135921
Figure R1020150135921

Description

유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY PANEL, ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE, AND THE METHOD FOR DRIVING THE ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE}Organic light emitting display panel, organic light emitting display device and driving method thereof

본 실시예들은 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법에 관한 것이다. The present embodiments relate to an organic light emitting display panel, an organic light emitting display device, and a driving method thereof.

최근, 유기발광표시장치로서 각광받고 있는 유기발광표시장치는 스스로 발광하는 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답속도가 빠르고, 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 크다는 장점이 있다. Recently, an organic light emitting display device, which has been in the spotlight as an organic light emitting display device, has advantages of fast response speed and high luminous efficiency, luminance, and viewing angle by using an organic light emitting diode (OLED) that emits light by itself.

이러한 유기발광표시장치는 유기발광다이오드와 이를 구동하는 구동 트랜지스터가 포함된 서브픽셀을 매트릭스 형태로 배열하고 스캔 신호에 의해 선택된 서브픽셀들의 밝기를 데이터의 계조에 따라 제어한다. In such an organic light emitting display device, sub-pixels including an organic light emitting diode and a driving transistor driving the same are arranged in a matrix form, and the brightness of the sub-pixels selected by a scan signal is controlled according to the gray level of data.

이러한 유기발광표시장치에서 각 서브픽셀 내 유기발광다이오드 및 구동 트랜지스터 등의 회로 소자는 각기 고유한 특성치(예: 문턱전압, 이동도 등)를 갖는다. In such an organic light emitting display device, circuit elements such as an organic light emitting diode and a driving transistor in each sub-pixel each have unique characteristic values (eg, threshold voltage, mobility, etc.).

각 서브픽셀 내 회로 소자의 고유한 특성치에 의해 해당 서브픽셀의 휘도 특성이 달라질 수 있다. A luminance characteristic of a corresponding sub-pixel may vary according to a unique characteristic value of a circuit element in each sub-pixel.

그런데, 각 서브픽셀 내 회로 소자는, 구동 시간이 길어짐에 따라 열화가 진행되어 특성치가 변할 수 있으며, 이 특성치 변화에 따라 해당 서브픽셀의 휘도 특성도 변경될 수 있다. However, as the driving time of the circuit element in each sub-pixel increases, deterioration may progress and thus a characteristic value may change, and the luminance characteristic of the corresponding sub-pixel may also change according to the change in the characteristic value.

특히, 회로 소자 간의 특성치 또는 특성치 변화가 서로 다른 경우, 서브픽셀 간의 휘도 편차를 유발시켜 유기발광표시패널의 휘도 균일도를 나빠지게 할 수 있다. In particular, when a characteristic value or characteristic value change between circuit elements is different from each other, a luminance deviation between sub-pixels may be induced, thereby deteriorating the luminance uniformity of the organic light emitting display panel.

이에, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치를 센싱하여 보상해주는 기술이 개발되고 있다. Accordingly, a technology for sensing and compensating a characteristic value of a circuit element in each sub-pixel is being developed.

하지만, 이러한 보상 기술에도 불구하고, 여러 요인에 의해, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치를 정확하게 센싱하지 못하여, 정확한 보상도 이루어지지 못하고 있는 실정이다. However, despite the compensation technology, the characteristic values of the circuit elements in each sub-pixel cannot be accurately sensed due to various factors, and thus accurate compensation is not performed.

본 실시예들의 목적은, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화를 정확하고 신속하게 센싱하여 정확한 보상을 가능하게 해주는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공하는 데 있다. An object of the present embodiments is to provide an organic light emitting display panel, an organic light emitting display device, and a driving method thereof, which enable accurate compensation by accurately and quickly sensing a characteristic value or a change in characteristic value of a circuit element in each sub-pixel. .

본 실시예들의 다른 목적은, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화에 대한 센싱 구동 시, 2차례의 센싱 기법을 통해, 유동적이면서도 꽤 오랜 시간이 걸릴 수 있는 센싱 초기화 시간을 대폭 단축하여, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화를 신속하게 센싱할 수 있게 해주는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공하는 데 있다.Another object of the present embodiments is to significantly shorten the sensing initialization time, which can be flexible and take quite a long time, through two sensing techniques when driving a sensing operation for a characteristic value or a characteristic value change for a circuit element in each sub-pixel. , to provide an organic light emitting display panel, an organic light emitting display device, and a driving method thereof, which can quickly sense a characteristic value or a change in a characteristic value of a circuit element in each sub-pixel.

본 실시예들의 또 다른 목적은, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화에 대한 센싱 구동 시, 2차례의 센싱 기법을 통해 유동적이면서도 꽤 오랜 시간이 걸릴 수 있는 센싱 초기화 시간을 대폭 단축하면서도, 데이터 오프셋 처리를 통해 정확한 센싱을 가능하게 하는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공하는 데 있다.Another object of the present embodiments is to significantly reduce the sensing initialization time, which can be flexible and take quite a long time, through two sensing techniques when driving a sensing operation for a characteristic value or a characteristic value change for a circuit element in each sub-pixel. , to provide an organic light emitting display panel, an organic light emitting display device, and a driving method thereof that enable accurate sensing through data offset processing.

일 측면에서, 본 실시예들은, 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인이 배치되고 다수의 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널과, 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버를 포함하고, 다수의 서브픽셀 각각은, 유기발광다이오드와, 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준전압 라인 사이에 연결된 제1트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 연결된 제2트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결된 스토리지 캐패시터를 포함하여 구성되고, 기준전압 라인의 전압 또는 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압이 상승하는 동안, 기준전압 라인의 전압 또는 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압을 2차례 센싱하는 센싱부를 더 포함하는 유기발광표시장치를 제공할 수 있다. In one aspect, the present exemplary embodiments include an organic light emitting display panel in which a plurality of data lines and a plurality of gate lines are disposed and a plurality of subpixels are disposed, and a data driver driving the plurality of data lines, and include a plurality of sub-pixels. Each pixel includes an organic light emitting diode, a driving transistor for driving the organic light emitting diode, a first transistor connected between a first node of the driving transistor and a reference voltage line, and a second node connected between the second node of the driving transistor and a data line. 2 transistors and a storage capacitor connected between the first node and the second node of the driving transistor, and while the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor increases, the voltage of the reference voltage line or The organic light emitting display device may further include a sensing unit configured to sense the voltage of the first node of the driving transistor twice.

다른 측면에서, 본 실시예들은, 유기발광다이오드와 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 포함하는 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널과, 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법에 있어서, 구동 트랜지스터의 제1노드에 기준전압을 인가하고, 구동 트랜지스터의 제2노드에 제1데이터전압을 인가하는 초기화 단계와, 구동 트랜지스터의 제1노드를 플로팅 시켜 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압이 상승하는 동안, 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압 또는 구동 트랜지스터의 제1노드와 전기적으로 연결된 다른 지점의 전압을 2차례 센싱하는 센싱 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법을 제공할 수 있다. In another aspect, the present exemplary embodiments provide an organic light emitting diode display including an organic light emitting diode display panel in which sub-pixels including an organic light emitting diode and a driving transistor for driving the organic light emitting diode are disposed, and a data driver for driving a data line. A driving method comprising: an initialization step of applying a reference voltage to a first node of a driving transistor and a first data voltage to a second node of the driving transistor; Provided is a method of driving an organic light emitting diode display, comprising the sensing step of sensing the voltage of the first node of the driving transistor or the voltage of another point electrically connected to the first node of the driving transistor twice while the voltage of the node is increased can do.

또 다른 측면에서, 본 실시예들은, 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인이 배치되고 다수의 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널과, 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버를 포함하고, 다수의 서브픽셀 각각은, 유기발광다이오드와, 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준전압 라인 사이에 연결된 제1트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 연결된 제2트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결된 스토리지 캐패시터를 포함하여 구성되고, 기준전압 라인의 전압 또는 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압이 상승하는 동안, 데이터 드라이버는, 데이터 라인으로 제1데이터 전압을 출력하다가, 제1데이터 전압과는 다른 제2데이터 전압을 데이터 라인으로 출력하는 유기발광표시장치를 제공할 수 있다. In another aspect, the present exemplary embodiments include an organic light emitting display panel in which a plurality of data lines and a plurality of gate lines are disposed and a plurality of subpixels are disposed, and a data driver driving the plurality of data lines, and a plurality of data lines are provided. Each subpixel includes an organic light emitting diode, a driving transistor for driving the organic light emitting diode, a first transistor connected between a first node of the driving transistor and a reference voltage line, and a second node of the driving transistor and a data line connected between the data line. a second transistor and a storage capacitor connected between the first node and the second node of the driving transistor, and while the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor increases, the data driver An organic light emitting display device that outputs a first data voltage to a line and outputs a second data voltage different from the first data voltage to a data line may be provided.

또 다른 측면에서, 본 실시예들은, 유기발광다이오드와 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 포함하는 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널과, 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법에 있어서, 구동 트랜지스터의 제1노드에 기준전압을 인가하고, 구동 트랜지스터의 제2노드에 제1데이터전압을 인가하는 단계와, 구동 트랜지스터의 제1노드를 플로팅 시키는 단계와, 구동 트랜지스터의 제1노드의 플로팅에 따라 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압이 상승하기 시작하면, 상승 시점 또는 상승 시점으로부터 일정 시간 후에, 구동 트랜지스터의 제2노드에 제1데이터전압과 다른 제2데이터 전압을 인가하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법을 제공할 수 있다. In another aspect, the present exemplary embodiments provide an organic light emitting display device including an organic light emitting diode display panel in which sub-pixels including an organic light emitting diode and a driving transistor for driving the organic light emitting diode are disposed, and a data driver for driving a data line. A driving method of a driving transistor comprising: applying a reference voltage to a first node of a driving transistor and applying a first data voltage to a second node of the driving transistor; floating the first node of the driving transistor; When the voltage of the first node of the driving transistor starts to rise according to the floating of the first node of It is possible to provide a driving method of an organic light emitting display device including the step of applying.

또 다른 측면에서, 본 실시예들은, 제1방향으로 배치된 다수의 데이터 라인과, 제2방향으로 배치된 다수의 게이트 라인과, 제1방향으로 배치된 둘 이상의 기준전압 라인과, 매트릭스 타입으로 배치되고, 유기발광다이오드와 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 각각 포함하는 다수의 서브픽셀을 포함하고, 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압 또는 기준전압 라인의 전압이 상승하는 동안, 데이터 라인에는, 제1데이터 전압이 출력되다가 제1데이터 전압과는 다른 제2데이터 전압이 출력되는 유기발광표시패널을 제공할 수 있다. In another aspect, the present exemplary embodiments include a plurality of data lines disposed in a first direction, a plurality of gate lines disposed in a second direction, two or more reference voltage lines disposed in the first direction, and a matrix type. and a plurality of sub-pixels each including an organic light emitting diode and a driving transistor for driving the organic light emitting diode, and while the voltage of the first node of the driving transistor or the voltage of the reference voltage line increases, the data line includes: It is possible to provide an organic light emitting display panel in which a first data voltage is output and a second data voltage different from the first data voltage is output.

이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화를 정확하고 신속하게 센싱하여 정확한 보상을 가능하게 해주는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공할 수 있다. According to the present exemplary embodiments as described above, an organic light emitting display panel, an organic light emitting display device, and a driving method thereof that enable accurate compensation by accurately and quickly sensing a characteristic value or a change in characteristic value of a circuit element in each sub-pixel can provide

본 실시예들에 의하면, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화에 대한 센싱 구동 시, 2차례의 센싱 기법을 통해, 유동적이면서도 꽤 오랜 시간이 걸릴 수 있는 센싱 초기화 시간을 대폭 단축하여, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화를 신속하게 센싱할 수 있게 해주는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공할 수 있다.According to the present embodiments, when sensing driving a characteristic value or a characteristic value change for a circuit element in each sub-pixel, the sensing initialization time, which is flexible and can take quite a long time, is greatly shortened through two sensing techniques, It is possible to provide an organic light emitting display panel, an organic light emitting display device, and a driving method thereof that can quickly sense a characteristic value or a change in a characteristic value of a circuit element in each sub-pixel.

본 실시예들에 의하면, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화에 대한 센싱 구동 시, 2차례의 센싱 기법을 통해 유동적이면서도 꽤 오랜 시간이 걸릴 수 있는 센싱 초기화 시간을 대폭 단축하면서도, 데이터 오프셋 처리를 통해 정확한 센싱을 가능하게 하는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 그 구동방법을 제공할 수 있다.According to the present exemplary embodiments, when sensing a characteristic value or a characteristic value change for a circuit element in each sub-pixel, the sensing initialization time, which is flexible and takes quite a long time, is greatly reduced through two sensing techniques, while the data It is possible to provide an organic light emitting display panel, an organic light emitting display device, and a driving method thereof that enable accurate sensing through offset processing.

도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 2a 및 도 2b는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 서브픽셀 구조의 예시도들이다.
도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 보상회로이다.
도 4는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 문턱전압 센싱 구동을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 이동도 센싱 구동을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 센싱 구간의 예시도이다.
도 7은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 1차례 센싱 기반의 이동도 센싱 구동에 대한 타이밍 다이어그램이다.
도 8은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 2차례 센싱 기반의 이동도 센싱 구동에 대한 타이밍 다이어그램이다.
도 9는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 2차례 센싱 기반의 이동도 센싱 구동 시, 4가지의 중요한 상태와 각 상태에서 주요 노드의 전압 변화를 나타낸 도면이다.
도 10은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서, 2차례 센싱 기반의 이동도 센싱 구동을 통해 이동도 센싱 방식을 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 구동방법에 대한 흐름도이다.
도 12는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 구동방법에 대한 다른 흐름도이다.
도 13은 본 실시예들에 따른 유기발광표시패널을 나타낸 도면이다.
1 is a schematic system configuration diagram of an organic light emitting diode display according to example embodiments.
2A and 2B are exemplary views of a sub-pixel structure of an organic light emitting diode display according to example embodiments.
3 is a compensation circuit of the organic light emitting diode display according to the present exemplary embodiment.
4 is a view for explaining a threshold voltage sensing driving of the organic light emitting diode display according to the present exemplary embodiment.
5 is a diagram for explaining mobility sensing driving of the organic light emitting diode display according to the present exemplary embodiment.
6 is an exemplary diagram of a sensing section of the organic light emitting display device according to the present embodiments.
7 is a timing diagram for one-time sensing-based mobility sensing driving in the organic light emitting diode display according to the present embodiments.
8 is a timing diagram for a two-time sensing-based mobility sensing operation in the organic light emitting diode display according to the present exemplary embodiments.
FIG. 9 is a diagram illustrating four important states and voltage changes of major nodes in each of the two sensing-based mobility sensing operations in the organic light emitting diode display according to the present embodiments.
FIG. 10 is a diagram for explaining a mobility sensing method through two-time sensing-based mobility sensing driving in the organic light emitting display device according to the present exemplary embodiment.
11 is a flowchart illustrating a method of driving an organic light emitting diode display according to the present exemplary embodiment.
12 is another flowchart of a method of driving an organic light emitting diode display according to the present exemplary embodiment.
13 is a diagram illustrating an organic light emitting display panel according to the present exemplary embodiment.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to exemplary drawings. In adding reference numerals to components of each drawing, the same components may have the same reference numerals as much as possible even though they are indicated in different drawings. In addition, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description may be omitted.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), (b), etc. may be used. These terms are only for distinguishing the elements from other elements, and the essence, order, order, or number of the elements are not limited by the terms. When it is described that a component is “connected”, “coupled” or “connected” to another component, the component may be directly connected or connected to the other component, but other components may be interposed between each component. It will be understood that each component may be “interposed” or “connected,” “coupled,” or “connected” through another component.

도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 개략적인 시스템 구성도이다.1 is a schematic system configuration diagram of an organic light emitting display device 100 according to the present exemplary embodiment.

도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 다수의 데이터 라인(DL) 및 다수의 게이트 라인((GL)이 배치되고, 다수의 서브픽셀(SP: Sub Pixel)이 배치된 유기발광표시패널(110)과, 다수의 데이터 라인(DL)을 구동하는 데이터 드라이버(120)와, 다수의 게이트 라인((GL)을 구동하는 게이트 드라이버(130)와, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어하는 컨트롤러(140) 등을 포함한다. Referring to FIG. 1 , in the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments, a plurality of data lines DL and a plurality of gate lines GL are disposed, and a plurality of sub-pixels (SP) are provided. ), the data driver 120 driving the plurality of data lines DL, the gate driver 130 driving the plurality of gate lines GL, and the data driver 120 and a controller 140 controlling the gate driver 130 and the like.

컨트롤러(140)는, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)로 각종 제어신호를 공급하여, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어한다. The controller 140 supplies various control signals to the data driver 120 and the gate driver 130 to control the data driver 120 and the gate driver 130 .

이러한 컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 외부에서 입력되는 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터(DATA)를 출력하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 통제한다. The controller 140 starts scanning according to the timing implemented in each frame, and converts the input image data input from the outside according to the data signal format used by the data driver 120 to convert the converted image data DATA. output and control the data drive at an appropriate time according to the scan.

이러한 컨트롤러(140)는 통상의 디스플레이 기술에서 이용되는 타이밍 컨트롤러(Timing Controller)이거나, 타이밍 컨트롤러(Timing Controller)를 포함하여 다른 제어 기능도 더 수행하는 제어장치일 수 있다. The controller 140 may be a timing controller used in a typical display technology or a control device that further performs other control functions including a timing controller.

데이터 드라이버(120)는, 다수의 데이터 라인(DL)으로 데이터 전압(Vdata)을 공급함으로써, 다수의 데이터 라인(DL)을 구동한다. 여기서, 데이터 드라이버(120)는 '소스 드라이버'라고도 한다. The data driver 120 drives the plurality of data lines DL by supplying the data voltage Vdata to the plurality of data lines DL. Here, the data driver 120 is also referred to as a 'source driver'.

게이트 드라이버(130)는, 다수의 게이트 라인((GL)으로 스캔 신호를 순차적으로 공급함으로써, 다수의 게이트 라인((GL)을 순차적으로 구동한다. 여기서, 게이트 드라이버(130)는 '스캔 드라이버'라고도 한다. The gate driver 130 sequentially drives the plurality of gate lines GL by sequentially supplying scan signals to the plurality of gate lines GL. Here, the gate driver 130 is a 'scan driver' Also called

게이트 드라이버(130)는, 컨트롤러(140)의 제어에 따라, 온(On) 전압 또는 오프(Off) 전압의 스캔 신호를 다수의 게이트 라인((GL)으로 순차적으로 공급한다. The gate driver 130 sequentially supplies a scan signal of an on voltage or an off voltage to the plurality of gate lines GL under the control of the controller 140 .

데이터 드라이버(120)는, 게이트 드라이버(130)에 의해 특정 게이트 라인이 열리면, 컨트롤러(140)로부터 수신한 영상 데이터를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환하여 다수의 데이터 라인(DL)으로 공급한다. When a specific gate line is opened by the gate driver 130 , the data driver 120 converts the image data received from the controller 140 into an analog data voltage and supplies it to the plurality of data lines DL.

데이터 드라이버(120)는, 도 1에서는 유기발광표시패널(110)의 일측(예: 상측 또는 하측)에만 위치하고 있으나, 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라서, 유기발광표시패널(110)의 양측(예: 상측과 하측)에 모두 위치할 수도 있다. Although the data driver 120 is located only on one side (eg, upper or lower side) of the organic light emitting display panel 110 in FIG. 1 , both sides of the organic light emitting display panel 110 (eg, according to a driving method, a panel design method, etc.) : It may be located on both the upper and lower sides).

게이트 드라이버(130)는, 도 1에서는 유기발광표시패널(110)의 일 측(예: 좌측 또는 우측)에만 위치하고 있으나, 구동 방식, 패널 설계 방식 등에 따라서, 유기발광표시패널(110)의 양측(예: 좌측과 우측)에 모두 위치할 수도 있다. Although the gate driver 130 is located only on one side (eg, left or right) of the organic light emitting display panel 110 in FIG. 1 , the gate driver 130 is located on both sides of the organic light emitting display panel 110 according to a driving method, a panel design method, etc. For example, it can be located on both the left and right side).

전술한 컨트롤러(140)는, 입력 영상 데이터와 함께, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블(DE: Data Enable) 신호, 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호들을 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다. The above-described controller 140, along with the input image data, includes a vertical synchronization signal (Vsync), a horizontal synchronization signal (Hsync), an input data enable (DE: Data Enable) signal, a clock signal (CLK), including various Receive timing signals from the outside (eg host system).

컨트롤러(140)는, 외부로부터 입력된 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하는 것 이외에, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 DE 신호, 클럭 신호 등의 타이밍 신호를 입력 받아, 각종 제어 신호들을 생성하여 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)로 출력한다. The controller 140 converts the input image data input from the outside to match the data signal format used by the data driver 120 and outputs the converted image data, as well as the data driver 120 and the gate driver 130 . In order to control the data driver 120 and the gate driver 130 by receiving a timing signal such as a vertical synchronization signal (Vsync), a horizontal synchronization signal (Hsync), an input DE signal, and a clock signal to generate various control signals output as

예를 들어, 컨트롤러(140)는, 게이트 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal)를 출력한다. For example, in order to control the gate driver 130 , the controller 140 includes a gate start pulse (GSP), a gate shift clock (GSC), and a gate output enable signal (GOE). Various gate control signals (GCS: Gate Control Signal) including gate output enable) are output.

여기서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 드라이버(130)를 구성하는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭(GSC)은 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호(게이트 펄스)의 쉬프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 타이밍 정보를 지정하고 있다. Here, the gate start pulse GSP controls the operation start timing of one or more gate driver integrated circuits constituting the gate driver 130 . The gate shift clock GSC is a clock signal commonly input to one or more gate driver integrated circuits and controls shift timing of a scan signal (gate pulse). The gate output enable signal GOE specifies timing information of one or more gate driver integrated circuits.

또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 드라이버(120)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal)를 출력한다. In addition, the controller 140 controls the data driver 120 , a source start pulse (SSP), a source sampling clock (SSC), and a source output enable signal (SOE: Source Output). Enable) and output various data control signals (DCS: Data Control Signal).

여기서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 드라이버(120)를 구성하는 하나 이상의 소스 드라이버 집적회로의 데이터 샘플링 시작 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 소스 드라이버 집적회로 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 드라이버(120)의 출력 타이밍을 제어한다. Here, the source start pulse SSP controls the data sampling start timing of one or more source driver integrated circuits constituting the data driver 120 . The source sampling clock SSC is a clock signal that controls sampling timing of data in each of the source driver integrated circuits. The source output enable signal SOE controls the output timing of the data driver 120 .

데이터 드라이버(120)는, 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)를 포함하여 다수의 데이터 라인을 구동할 수 있다. The data driver 120 may drive a plurality of data lines including at least one source driver integrated circuit (SDIC).

각 소스 드라이버 집적회로(SDIC)는, 쉬프트 레지스터(Shift Register), 래치 회로(Latch Circuit), 디지털 아날로그 컨버터(DAC: Digital to Analog Converter), 출력 버퍼(Output Buffer) 등을 포함할 수 있다. Each source driver integrated circuit SDIC may include a shift register, a latch circuit, a digital to analog converter (DAC), an output buffer, and the like.

각 소스 드라이버 집적회로(SDIC)는, 경우에 따라서, 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog to Digital Converter)를 더 포함할 수 있다. Each source driver integrated circuit SDIC may further include an analog-to-digital converter (ADC) in some cases.

게이트 드라이버(130)는, 적어도 하나의 게이트 드라이버 집적회로(GDIC: Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다. The gate driver 130 may include at least one gate driver integrated circuit (GDIC).

각 게이트 드라이버 집적회로(GDIC)는 쉬프트 레지스터(Shift Register), 레벨 쉬프터(Level Shifter) 등을 포함할 수 있다. Each gate driver integrated circuit GDIC may include a shift register, a level shifter, and the like.

유기발광표시패널(110)에 배치되는 각 서브픽셀(SP)은 트랜지스터 등의 회로 소자를 포함하여 구성될 수 있다. Each subpixel SP disposed in the organic light emitting display panel 110 may include a circuit element such as a transistor.

일 예로, 유기발광표시패널(110)에서, 각 서브픽셀(SP)은 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)와, 이를 구동하기 위한 구동 트랜지스터(Driving Transistor) 등의 회로 소자로 구성되어 있다. For example, in the organic light emitting display panel 110, each sub-pixel SP is composed of an organic light emitting diode (OLED) and circuit elements such as a driving transistor for driving the organic light emitting diode (OLED). .

각 서브픽셀(SP)을 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는, 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.The type and number of circuit elements constituting each sub-pixel SP may be variously determined according to a provided function and a design method.

도 2a 및 도 2b는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 서브픽셀 구조의 예시도들이다. 2A and 2B are exemplary views of a sub-pixel structure of the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiment.

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 각 서브픽셀은, 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)와, 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(DRT: Driving Transistor)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 기준전압(Vref: Reference Voltage)을 공급하는 기준전압 라인(RVL: Reference Voltage Line) 사이에 전기적으로 연결되는 제1트랜지스터(T1)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 데이터 전압(Vdata)을 공급하는 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결되는 제2트랜지스터(T2)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되는 스토리지 캐패시터(Cstg: Storage Capacitor) 등을 포함하여 구성된다. 2A and 2B , in the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments, each sub-pixel drives an organic light emitting diode (OLED) and an organic light emitting diode (OLED). is electrically connected between a driving transistor (DRT) and a reference voltage line (RVL) supplying a reference voltage (Vref) and a first node (N1) of the driving transistor (DRT) a first transistor T1 to be used, a second transistor T2 electrically connected between the second node N2 of the driving transistor DRT and the data line DL for supplying the data voltage Vdata; and a storage capacitor (Cstg) electrically connected between the first node N1 and the second node N2 of the transistor DRT.

유기발광다이오드(OLED)는, 제1전극(예: 애노드 전극 또는 캐소드 전극), 유기층 및 제2전극(예: 캐소드 전극 또는 애노드 전극) 등으로 이루어질 수 있다. The organic light emitting diode (OLED) may include a first electrode (eg, an anode electrode or a cathode electrode), an organic layer, and a second electrode (eg, a cathode electrode or an anode electrode).

구동 트랜지스터(DRT)는, 유기발광다이오드(OLED)로 구동 전류를 공급해줌으로써 유기발광다이오드(OLED)를 구동해준다. The driving transistor DRT drives the organic light emitting diode OLED by supplying a driving current to the organic light emitting diode OLED.

이러한 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)는 유기발광다이오드(OLED)의 제1전극과 전기적으로 연결될 수 있으며, 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)는 제2트랜지스터(T2)의 소스 노드 또는 드레인 노드와 전기적으로 연결될 수 있으며, 게이트 노드일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제3노드(N3)는 구동전압(EVDD)을 공급하는 구동전압 라인(DVL: Driving Voltage Line)과 전기적으로 연결될 수 있으며, 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있다. The first node N1 of the driving transistor DRT may be electrically connected to the first electrode of the organic light emitting diode OLED, and may be a source node or a drain node. The second node N2 of the driving transistor DRT may be electrically connected to a source node or a drain node of the second transistor T2 and may be a gate node. The third node N3 of the driving transistor DRT may be electrically connected to a driving voltage line (DVL) that supplies the driving voltage EVDD, and may be a drain node or a source node.

제1트랜지스터(T1)는 게이트 신호에 의해 턴-온 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 기준전압(Vref)을 인가해줄 수 있다. The first transistor T1 may be turned on by the gate signal to apply the reference voltage Vref to the first node N1 of the driving transistor DRT.

또한, 제1트랜지스터(T1)는, 턴-온 시, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 대한 전압 센싱 경로로 활용될 수도 있다. Also, the first transistor T1 may be used as a voltage sensing path for the first node N1 of the driving transistor DRT when it is turned on.

제2트랜지스터(T2)는 게이트 신호에 의해 턴-온 시, 데이터 라인(DL)을 통해 공급된 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)에 전달해준다.When the second transistor T2 is turned on by the gate signal, it transfers the data voltage Vdata supplied through the data line DL to the second node N2 of the driving transistor DRT.

스토리지 캐패시터(Cstg)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되어, 영상 신호 전압에 해당하는 데이터 전압 또는 이에 대응되는 전압을 한 프레임 시간 동안 유지해줄 수 있다. The storage capacitor Cstg is electrically connected between the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DRT, and applies a data voltage corresponding to the image signal voltage or a voltage corresponding thereto for one frame time. can keep you

이러한 스토리지 캐패시터(Cstg)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 사이에 존재하는 내부 캐패시터(Internal Capacitor)인 기생 캐패시터(예: Cgs, Cgd)가 아니라, 구동 트랜지스터(DRT)의 외부에 의도적으로 설계한 외부 캐패시터(External Capacitor)이다.This storage capacitor (Cstg) is not a parasitic capacitor (eg, Cgs, Cgd) which is an internal capacitor existing between the first node (N1) and the second node (N2) of the driving transistor (DRT), It is an external capacitor intentionally designed outside the driving transistor (DRT).

한편, 도 2a에 도시된 바와 같이, 제1트랜지스터(T1)와 제2트랜지스터(T2)는 별도로 온-오프가 제어될 수 있다. Meanwhile, as shown in FIG. 2A , on-off of the first transistor T1 and the second transistor T2 may be separately controlled.

즉, 제1트랜지스터(T1)와 제2트랜지스터(T2)는, 다른 게이트 라인(GL1, GL2)에 게이트 노드가 연결되어, 각기 다른 게이트 신호(SCAN1, SCAN2)를 공급받아 온-오프가 제어될 수 있다. That is, the first transistor T1 and the second transistor T2 have gate nodes connected to different gate lines GL1 and GL2, respectively, to receive different gate signals SCAN1 and SCAN2 so that on-off is controlled. can

또한, 도 2b에 도시된 바와 같이, 제1트랜지스터(T1)와 제2트랜지스터(T2)는 함께 제어될 수 있다. Also, as shown in FIG. 2B , the first transistor T1 and the second transistor T2 may be controlled together.

즉, 제1트랜지스터(T1)와 제2트랜지스터(T2)는, 동일한 게이트 라인(GL)에 게이트 노드가 연결되어, 동일한 게이트 신호(SCAN)를 공급받아 함께 온-오프가 제어될 수 있다. That is, the first transistor T1 and the second transistor T2 may have their gate nodes connected to the same gate line GL, and receive the same gate signal SCAN to be controlled on/off together.

단, 아래에서는, 설명의 편의를 위해, 제1트랜지스터(T1)와 제2트랜지스터(T2)는, 동일한 게이트 라인(GL)을 통해 동일한 게이트 신호(SCAN)를 공급받아 함께 온-오프가 제어되는 것으로 가정한다. However, below, for convenience of explanation, the first transistor T1 and the second transistor T2 are supplied with the same gate signal SCAN through the same gate line GL so that on-off is controlled together. assume that

도 2a 및 도 2b에 도시된 바와 같이, 구동 트랜지스터(DRT), 제1트랜지스터(T1) 및 제2트랜지스터(T2) 각각은 n 타입으로 구현될 수도 있고, 경우에 따라서는, p 타입으로도 구현될 수도 있다. As shown in FIGS. 2A and 2B , each of the driving transistor DRT, the first transistor T1 , and the second transistor T2 may be implemented as an n-type, and in some cases, a p-type as well. could be

한편, 제1트랜지스터(T1)의 드레인 노드 또는 소스 노드에 전기적으로 연결된 기준전압 라인(RVL)은, 1개의 서브픽셀 열(Sub Pixel Column)마다 1개씩 배치될 수도 있고, 2개 이상의 서브픽셀 열마다 1개씩 배치될 수도 있다. On the other hand, one reference voltage line RVL electrically connected to the drain node or the source node of the first transistor T1 may be disposed in one sub-pixel column, or in two or more sub-pixel columns. One of each may be arranged.

예를 들어, 1개의 픽셀이 4개의 서브픽셀(적색 서브픽셀, 흰색 서브픽셀, 청색 서브픽셀, 녹색 서브픽셀)로 구성된 경우, 기준전압 라인(RVL)은 4개의 서브픽셀 열(적색 서브픽셀 열, 흰색 서브픽셀 열, 청색 서브픽셀 열, 녹색 서브픽셀 열)마다 1개씩 배치될 수도 있다. For example, if one pixel is composed of 4 sub-pixels (red sub-pixel, white sub-pixel, blue sub-pixel, and green sub-pixel), the reference voltage line RVL has 4 sub-pixel columns (red sub-pixel columns). , one white subpixel column, one blue subpixel column, and one green subpixel column).

한편, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 경우, 각 서브픽셀(SP)의 구동 시간이 길어짐에 따라, 유기발광다이오드(OLED), 구동 트랜지스터(DRT) 등의 회로 소자에 대한 열화(Degradation)가 진행될 수 있다. On the other hand, in the case of the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments, as the driving time of each sub-pixel SP increases, the circuit elements such as the organic light emitting diode OLED and the driving transistor DRT are not applied. Degradation may proceed.

이에 따라, 유기발광다이오드(OLED), 구동 트랜지스터(DRT) 등의 회로 소자가 갖는 고유한 특성치(예: 문턱전압, 이동도 등)가 변할 수 있다. Accordingly, unique characteristic values (eg, threshold voltage, mobility, etc.) of circuit elements such as organic light emitting diodes (OLEDs) and driving transistors (DRTs) may change.

이러한 회로 소자의 특성치 변화는 해당 서브픽셀의 휘도 변화를 야기한다. A change in the characteristic value of such a circuit element causes a change in luminance of a corresponding sub-pixel.

이러한 회로 소자의 특성치 변화의 정도는, 회로 소자 간의 열화 정도 차이로 인해, 회로 소자마다 서로 다를 수 있다. The degree of change in the characteristic value of the circuit element may be different for each circuit element due to a difference in the degree of deterioration between the circuit elements.

따라서, 회로 소자 간의 열화 정도 차이에 의한 회로 소자 간의 특성치 변화 정도 차이는 서브픽셀 간의 휘도 편차를 발생시키고, 유기발광표시패널(110)의 휘도 균일도 저하를 초래할 수 있다. Accordingly, the difference in the degree of change in the characteristic value between the circuit elements due to the difference in the degree of deterioration between the circuit elements may cause a luminance deviation between sub-pixels, and may lead to a decrease in the luminance uniformity of the organic light emitting display panel 110 .

여기서, 회로 소자의 특성치 변화는 서브픽셀의 휘도 변화와 동일한 개념으로 사용되고, 회로 소자 간의 특성치 편차는 서브픽셀 간의 휘도 편차와 동일한 개념으로 사용될 수 있다. Here, the change in the characteristic value of the circuit element may be used in the same concept as the luminance change of the sub-pixel, and the deviation in the characteristic value between the circuit elements may be used in the same concept as the luminance deviation between the sub-pixels.

전술한 서브픽셀 휘도 변화와 서브픽셀 간 휘도 편차는, 서브픽셀의 휘도 표현력에 대한 정확도를 떨어뜨리거나, 유기발광표시패널(110)의 균일도를 저하시켜, 화상 품질 저하를 발생시킬 수 있다. The above-described change in sub-pixel luminance and luminance deviation between sub-pixels may deteriorate the accuracy of the luminance expressive power of the sub-pixels or reduce the uniformity of the organic light emitting display panel 110, thereby degrading image quality.

여기서, 회로 소자의 특성치(이하, "서브픽셀 특성치"라고도 함)는, 일 예로, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압 및 이동도 등을 포함할 수 있고, 경우에 따라서, 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 포함할 수도 있다. Here, the characteristic value of the circuit element (hereinafter, also referred to as “sub-pixel characteristic value”) may include, for example, the threshold voltage and mobility of the driving transistor DRT, and in some cases, the organic light emitting diode (OLED). may include a threshold voltage of

본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 서브픽셀의 특성치 변화 또는 각 서브픽셀 간의 특성치 편차를 센싱(측정)하는 센싱 기능과, 센싱 결과를 이용하여 서브픽셀 특성치를 보상해주는 보상 기능을 제공할 수 있다. The organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments includes a sensing function for sensing (measuring) a change in a characteristic value of a sub-pixel or a deviation in a characteristic value between each sub-pixel, and a compensation function for compensating for a characteristic value of a sub-pixel using the sensing result can provide

여기서, 서브픽셀의 특성치는, 서브픽셀의 휘도에 영향을 끼치는 것으로서, 서브픽셀 내 회로 소자(유기발광다이오드, 구동 트랜지스터)의 특성치를 포함할 수 있다. Here, the characteristic value of the sub-pixel affects the luminance of the sub-pixel, and may include characteristic values of circuit elements (organic light emitting diode, driving transistor) in the sub-pixel.

서브픽셀의 특성치 변화는, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 변화, 유기발광다이오드(OLED)의 특성치 변화를 포함할 수 있으며, 각 서브픽셀 간의 특성치 편차는, 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차, 유기발광다이오드(OLED) 간의 특성치 편차를 포함할 수 있다. The change in the characteristic value of the sub-pixel may include a change in the characteristic value of the driving transistor DRT and the change in the characteristic value of the organic light emitting diode OLED. It may include a characteristic value deviation between the diodes (OLED).

예를 들어, 서브픽셀의 특성치는, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압 또는 이동도를 포함할 수 있고, 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압을 포함할 수 있다. For example, the characteristic value of the sub-pixel may include the threshold voltage or mobility of the driving transistor DRT, and may include the threshold voltage of the organic light emitting diode (OLED).

본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 서브픽셀 특성치에 대한 센싱 및 보상 기능을 제공하기 위하여, 그에 맞는 서브픽셀 구조(도 2a 또는 도 2b)와, 센싱 및 보상 구성을 포함하는 보상 회로를 포함한다. The organic light emitting diode display 100 according to the present embodiments includes a sub-pixel structure ( FIG. 2A or FIG. 2B ) suitable for providing a sensing and compensation function for a sub-pixel characteristic value, and a sensing and compensation structure. Compensation circuit is included.

도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 보상회로이다. 3 is a compensation circuit of the organic light emitting display device 100 according to the present exemplary embodiment.

도 3을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 서브픽셀의 특성치 변화 및/또는 서브픽셀 간의 특성치 편차를 센싱하여 센싱 데이터를 출력하는 센싱부(310)와, 센싱 데이터를 저장하는 메모리(320)와, 센싱 데이터를 이용하여 서브픽셀 특성치의 변화 및/또는 서브픽셀 특성치 간의 편차를 보상해주는 보상 프로세스를 수행하는 보상부(330) 등을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 3 , the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments includes a sensing unit 310 that senses a change in a characteristic value of a sub-pixel and/or a deviation in a characteristic value between sub-pixels and outputs sensing data; It may include a memory 320 that stores data, a compensation unit 330 that performs a compensation process for compensating for a change in sub-pixel characteristic values and/or a deviation between sub-pixel characteristic values using the sensed data, and the like.

센싱부(310)는 적어도 하나의 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog to Digital Converter)를 포함하여 구현될 수 있다. The sensing unit 310 may be implemented by including at least one analog to digital converter (ADC).

각 아날로그 디지털 컨버터(ADC: Analog to Digital Converter)는 소스 드라이버 집적회로(SDIC)의 내부에 포함될 수 있으며, 경우에 따라서는, 소스 드라이버 집적회로(SDIC)의 외부에 포함될 수도 있다.Each analog-to-digital converter (ADC) may be included inside the source driver integrated circuit SDIC, and in some cases, may be included outside the source driver integrated circuit SDIC.

보상부(320)는 컨트롤러(140)의 내부에 포함될 수 있으며, 경우에 따라서는, 컨트롤러(140)의 외부에 포함될 수도 있다. The compensator 320 may be included inside the controller 140 , and in some cases, may be included outside the controller 140 .

센싱부(310)에서 출력되는 센싱 데이터는, 일 예로, LVDS (Low Voltage Differential Signaling) 데이터 포맷으로 되어 있을 수 있다. The sensing data output from the sensing unit 310 may be, for example, in a low voltage differential signaling (LVDS) data format.

도 3을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 서브픽셀에 대한 센싱 구동을 제어하기 위하여, 기준전압 라인(RVL)에 여러 가지의 스위치(SAMP, SPRE, RPRE)가 연결될 수 있다.Referring to FIG. 3 , in the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments, various switches SAMP, SPRE, and RPRE are connected to the reference voltage line RVL to control the sensing driving of the sub-pixels. can be connected

센싱용 기준전압 전압 스위치(SPRE)는, 센싱용 기준전압(VpreS)의 공급 노드와 기준전압 라인(RVL) 사이에 연결되는 스위치로서, 센싱용 기준전압(VpreS)이 기준전압 라인(RVL)에 공급되는 것을 제어하는 스위치이다. The sensing reference voltage switch SPRE is a switch connected between the supply node of the sensing reference voltage VpreS and the reference voltage line RVL, and the sensing reference voltage VpreS is connected to the reference voltage line RVL. A switch that controls what is supplied.

여기서, 센싱용 기준전압(VpreS)은, 센싱 구동 시, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 초기화 전압으로서, 기준전압(Vref)의 일종이다. Here, the sensing reference voltage VpreS is an initialization voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT during sensing driving, and is a type of the reference voltage Vref.

센싱 구동 시, 센싱용 기준전압 스위치(SPRE)가 턴-온 되어, 센싱용 기준전압(VpreS)이 기준전압 라인(RVL)에 공급된다. During sensing driving, the sensing reference voltage switch SPRE is turned on, and the sensing reference voltage VpreS is supplied to the reference voltage line RVL.

이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)는 센싱용 기준전압(VpreS)으로 초기화된다. Accordingly, the first node N1 of the driving transistor DRT is initialized to the sensing reference voltage VpreS.

샘플링 스위치(SAMP)는, 센싱부(310)와 기준전압 라인(RVL) 사이에 연결되는 스위치이다. The sampling switch SAMP is a switch connected between the sensing unit 310 and the reference voltage line RVL.

샘플링 스위치(SAMP)가 턴-온 되면, 센싱부(310)와 기준전압 라인(RVL)이 연결되어, 센싱부(310)는 기준전압 라인(RVL)의 전압을 센싱할 수 있다. When the sampling switch SAMP is turned on, the sensing unit 310 and the reference voltage line RVL are connected, and the sensing unit 310 may sense the voltage of the reference voltage line RVL.

여기서, 제1트랜지스터(T1)이 턴-온 된 경우, 기준전압 라인(RVL)과 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)는 등전위일 수 있다. Here, when the first transistor T1 is turned on, the reference voltage line RVL and the first node N1 of the driving transistor DRT may have an equipotential potential.

따라서, 기준전압 라인(RVL)의 전압은, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압과 동일 또는 유사할 수 있다. Accordingly, the voltage of the reference voltage line RVL may be the same as or similar to the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT.

회복 기준전압 스위치(RPRE)는, 센싱 구동 후, 회복(Recovery) 과정에서, 회복 기준전압(VpreR)의 공급 노드와 기준전압 라인(RVL) 사이에 연결되는 스위치로서, 회복 기준전압(VpreR)이 기준전압 라인(RVL)에 공급되는 것을 제어하는 스위치이다. The recovery reference voltage switch RPRE is a switch connected between the supply node of the recovery reference voltage VpreR and the reference voltage line RVL during a recovery process after sensing driving, and the recovery reference voltage VpreR is It is a switch that controls what is supplied to the reference voltage line RVL.

한편, 센싱 구동에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 서브픽셀의 특성치를 반영하는 전압 상태가 되면, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 등 전위일 수 있는 기준전압 라인(RVL)의 전압도 서브픽셀 특성치를 반영하는 전압 상태가 될 수 있다. 이때, 서브픽셀의 특성치를 반영하는 전압이 기준전압 라인(RVL) 상에 형성된 라인 캐패시터에 충전될 수 있다. On the other hand, when the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is in a voltage state reflecting the characteristic value of the sub-pixel according to the sensing driving, it is equal to the first node N1 of the driving transistor DRT. The voltage of the available reference voltage line RVL may also be in a voltage state reflecting the sub-pixel characteristic value. In this case, a voltage reflecting the characteristic value of the sub-pixel may be charged in the line capacitor formed on the reference voltage line RVL.

구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 서브픽셀의 특성치를 반영하는 전압 상태가 되면, 샘플링 스위치(SAMP)가 턴-온 되어, 센싱부(310)와 기준전압 라인(RVL)이 연결될 수 있다. When the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT reaches a voltage state that reflects the characteristic value of the sub-pixel, the sampling switch SAMP is turned on, and the sensing unit 310 and the reference voltage line RVL are turned on. This can be connected

센싱부(310)는, 기준전압 라인(RVL)과 연결되면, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 반영하는 기준전압 라인(RVL)의 전압(즉, 기준전압 라인(RVL) 상의 라인 캐패시터에 충전된 전압)을 센싱하고, 센싱된 전압을 디지털 값으로 변환하여 센싱 데이터를 생성하여 출력한다. When the sensing unit 310 is connected to the reference voltage line RVL, the voltage of the reference voltage line RVL that reflects the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT (that is, the reference voltage line RVL) ) senses the voltage charged in the line capacitor), and converts the sensed voltage into a digital value to generate and output sensed data.

센싱부(310)에서 센싱된 전압은, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압(Vth) 또는 문턱전압 변화(ΔVth)을 포함하는 전압(Vdata-Vth 또는 Vdata-ΔVth)이거나, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 센싱하기 위한 전압이거나, 유기발광다이오드(OLED)의 문턱전압(OLED_Vth) 또는 문턱전압 변화(ΔOLED_Vth)을 포함하는 전압(Vdata- OLED_Vth 또는 Vdata-ΔOLED_Vth)일 수 있다.The voltage sensed by the sensing unit 310 is a voltage Vdata-Vth or Vdata-ΔVth including a threshold voltage Vth or a threshold voltage change ΔVth of the driving transistor DRT, or a voltage of the driving transistor DRT. It may be a voltage for sensing mobility or a voltage (Vdata-OLED_Vth or Vdata-ΔOLED_Vth) including a threshold voltage OLED_Vth or a threshold voltage change ΔOLED_Vth of the organic light emitting diode (OLED).

아래에서는, 구동 트랜지스터(DRT)에 대한 문턱전압 센싱 구동 및 이동도 센싱 구동에 대하여, 도 4 및 도 5를 참조하여 간략하게 설명한다. Hereinafter, threshold voltage sensing driving and mobility sensing driving of the driving transistor DRT will be briefly described with reference to FIGS. 4 and 5 .

단, 아래에서는, 설명의 편의를 위해, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)는 소스 노드이고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)는 게이트 노드인 것으로 가정한다. However, hereinafter, for convenience of description, it is assumed that the first node N1 of the driving transistor DRT is a source node and the second node N2 of the driving transistor DRT is a gate node.

도 4는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 문턱전압 센싱 구동을 설명하기 위한 도면이다. 4 is a view for explaining a threshold voltage sensing driving of the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiment.

도 4를 참조하면, 구동 트랜지스터(DRT)에 대한 문턱전압 센싱 구동 시, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 각각은 센싱용 기준전압(VpreS)과 문턱전압 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata)으로 초기화된다. Referring to FIG. 4 , when the threshold voltage sensing operation of the driving transistor DRT is performed, the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DRT respectively have a sensing reference voltage VpreS and a threshold voltage. It is initialized to the data voltage Vdata for sensing driving.

이후, 센싱용 기준전압 스위치(SPRE)가 오프 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 플로팅(Floating) 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승한다. Thereafter, the sensing reference voltage switch SPRE is turned off, and the first node N1 of the driving transistor DRT is floated. Accordingly, the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT increases.

구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압은, 일정 시간 동안 상승하다가, 상승 폭이 서서히 줄어들어 포화하게 된다. The voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT rises for a predetermined time, and then gradually decreases and becomes saturated.

구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 포화된 전압은 데이터 전압(Vdata)과 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압(Vth, 포지티브 문턱전압 또는 네거티브 문턱전압일 수 있음)의 차이 또는 데이터 전압(Vdata)과 문턱전압 변화(ΔVth)의 차이에 해당할 수 있다. The saturated voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is the difference between the data voltage Vdata and the threshold voltage Vth (which may be a positive threshold voltage or a negative threshold voltage) of the driving transistor DRT or a data voltage It may correspond to the difference between (Vdata) and the threshold voltage change (ΔVth).

센싱부(310)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 포화되면, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 포화된 전압(Vs)을 센싱한다. When the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is saturated, the sensing unit 310 senses the saturated voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT.

센싱부(410)에 의해 센싱된 전압(Vsense)은 데이터 전압(Vdata)에서 문턱전압(Vth)을 뺀 전압(Vdata-Vth) 또는 데이터 전압(Vdata)에서 문턱전압 변화(ΔVth)을 뺀 전압(Vdata-ΔVth)일 수 있다. The voltage Vsense sensed by the sensing unit 410 is the voltage Vdata-Vth obtained by subtracting the threshold voltage Vth from the data voltage Vdata or the voltage obtained by subtracting the threshold voltage change ΔVth from the data voltage Vdata ( Vdata-ΔVth).

도 5는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(500)의 이동도 센싱 구동을 설명하기 위한 도면이다. 5 is a diagram for explaining mobility sensing driving of the organic light emitting diode display 500 according to the present exemplary embodiment.

도 5를 참조하면, 이동도 센싱 구동 시, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 제2노드(N2) 각각은 센싱용 기준전압(VpreS)과 이동도 센싱 구동용 데이터 전압(Vdata)으로 초기화된다. Referring to FIG. 5 , when the mobility sensing is driven, the first node N1 and the second node N2 of the driving transistor DRT respectively have a sensing reference voltage VpreS and a mobility sensing driving data voltage Vdata. ) is initialized to

이후, 센싱용 기준전압 스위치(SPRE)가 오프 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 플로팅 된다. 이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승할 수 있다. Thereafter, the sensing reference voltage switch SPRE is turned off, and the first node N1 of the driving transistor DRT is floated. Accordingly, the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT may increase.

이때, 전압 상승 속도(시간에 대한 전압 상승치의 변화량(ΔV))는 구동 트랜지스터(DRT)의 전류 능력, 즉 이동도를 나타낸다. At this time, the voltage rising rate (the amount of change in the voltage rising value with respect to time ΔV) represents the current capability of the driving transistor DRT, that is, the mobility.

따라서, 전류 능력(이동도)이 큰 구동 트랜지스터(DRT)일 수록, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 더욱 가파르게 상승한다. Accordingly, as the driving transistor DRT has a large current capability (mobility), the voltage at the first node N1 of the driving transistor DRT rises more steeply.

센싱부(310)는, 미리 정해진 일정 시간 동안 전압 상승이 이루어진 이후, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 상승된 전압(Vs)을 센싱한다. The sensing unit 310 senses the increased voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT after the voltage rises for a predetermined period of time.

센싱부(310)에 의해 센싱된 전압(Vsense)과 센싱용 기준전압(VpreS)의 차이는 전압 변화량(ΔV)에 해당한다. The difference between the voltage Vsense sensed by the sensing unit 310 and the reference voltage VpreS for sensing corresponds to the voltage change amount ΔV.

도 3을 참조하면, 센싱부(310)는, 전술한 문턱전압 센싱 구동 또는 이동도 센싱 구동이 진행됨에 따라, 문턱전압 센싱 또는 이동도 센싱을 위한 전압을 센싱하고, 센싱된 전압(Vsense)을 디지털 값으로 변환하고, 변환된 디지털 값을 포함하는 센싱 데이터를 생성하여 출력한다. Referring to FIG. 3 , the sensing unit 310 senses a voltage for threshold voltage sensing or mobility sensing as the above-described threshold voltage sensing driving or mobility sensing driving proceeds, and receives the sensed voltage Vsense. It is converted into a digital value, and sensed data including the converted digital value is generated and output.

도 3을 참조하면, 센싱부(310)에서 출력된 센싱 데이터는 메모리(320)에 저장되거나 보상부(330)로 제공될 수 있다. Referring to FIG. 3 , sensing data output from the sensing unit 310 may be stored in the memory 320 or provided to the compensator 330 .

도 3을 참조하면, 보상부(330)는 메모리(320)에 저장되거나 센싱부(310)에서 제공된 센싱 데이터를 토대로 해당 서브픽셀 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(예: 문턱전압, 이동도) 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 변화(예: 문턱전압 변화, 이동도 변화)를 파악하고, 특성치 보상 프로세스를 수행할 수 있다. Referring to FIG. 3 , the compensator 330 includes characteristic values (eg, threshold voltage, mobility) of a driving transistor DRT in a corresponding sub-pixel based on sensing data stored in the memory 320 or provided from the sensing unit 310 . Alternatively, a characteristic value change (eg, a threshold voltage change, a mobility change) of the driving transistor DRT may be identified, and a characteristic value compensation process may be performed.

여기서, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 변화는 이전 센싱 데이터를 기준으로 현재 센싱 데이터가 변화된 것을 의미하거나, 기준 센싱 데이터를 기준으로 현재 센싱 데이터가 변화된 것을 의미할 수도 있다. Here, the change in the characteristic value of the driving transistor DRT may mean that the current sensed data is changed based on the previous sensed data or that the current sensed data is changed based on the reference sensed data.

여기서, 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 또는 특성치 변화를 비교해보면, 구동 트랜지스터(DRT) 간의 특성치 편차를 파악할 수 있다. Here, by comparing a characteristic value or a characteristic value change between the driving transistors DRT, a characteristic value deviation between the driving transistors DRT may be recognized.

특성치 보상 프로세스는, 구동 트랜지스터(DRT)의 문턱전압을 보상하는 문턱전압 보상 처리와, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 보상하는 이동도 보상 처리를 포함할 수 있다. The characteristic value compensation process may include a threshold voltage compensation process for compensating for a threshold voltage of the driving transistor DRT and a mobility compensation process for compensating for mobility of the driving transistor DRT.

문턱전압 보상 처리는 문턱전압 또는 문턱전압 편차(문턱전압 변화)를 보상하기 위한 보상값을 연산하고, 연산된 보상값을 메모리(320)에 저장하거나, 연산된 보상값으로 해당 영상 데이터(DATA)를 변경하는 처리를 포함할 수 있다. The threshold voltage compensation process calculates a compensation value for compensating for a threshold voltage or a threshold voltage deviation (threshold voltage change), and stores the calculated compensation value in the memory 320 or the image data DATA as the calculated compensation value. It may include processing to change the .

이동도 보상 처리는 이동도 또는 이동도 편차(이동도 변화)를 보상하기 위한 보상값을 연산하고, 연산된 보상값을 메모리(320)에 저장하거나, 연산된 보상값으로 해당 영상 데이터(DATA)를 변경하는 처리를 포함할 수 있다. The mobility compensation process calculates a compensation value for compensating for mobility or mobility deviation (mobility change), and stores the calculated compensation value in the memory 320 or the image data DATA as the calculated compensation value. It may include processing to change the .

도 3을 참조하면, 보상부(330)는 문턱전압 보상 처리 또는 이동도 보상 처리를 통해 영상 데이터(DATA)를 변경하여 변경된 영상 데이터(DATA')를 데이터 드라이버(120) 내 해당 소스 드라이버 집적회로(SDIC)로 공급해줄 수 있다. Referring to FIG. 3 , the compensator 330 changes the image data DATA through threshold voltage compensation processing or mobility compensation processing to convert the changed image data DATA′ into the corresponding source driver integrated circuit in the data driver 120 . (SDIC) can be supplied.

이에 따라, 해당 소스 드라이버 집적회로(SDIC)는 변경된 영상 데이터(DATA')를 데이터 전압(Vdata)으로 변환하여 해당 서브픽셀로 공급해줌으로써, 서브픽셀 특성치 보상(문턱전압 보상, 이동도 보상)이 실제로 이루어지게 된다. Accordingly, the source driver integrated circuit SDIC converts the changed image data DATA' into the data voltage Vdata and supplies it to the corresponding sub-pixel, so that the sub-pixel characteristic compensation (threshold voltage compensation, mobility compensation) is actually performed. will be done

이러한 서브픽셀 특성치 보상이 이루어짐에 따라, 서브픽셀 간의 휘도 편차를 줄여주거나 방지해줌으로써, 화상 품질을 향상시켜줄 수 있다. As such sub-pixel characteristic value compensation is performed, image quality can be improved by reducing or preventing a luminance deviation between sub-pixels.

도 6은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 센싱 구간의 예시도이다.6 is an exemplary diagram of a sensing section of the organic light emitting diode display 100 according to the present embodiments.

도 6을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 파워 온 신호가 발생한 이후, 온-센싱 구간(ONS: On-Sensing Period) 동안 센싱 동작을 진행할 수 있다. Referring to FIG. 6 , the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments may perform a sensing operation during an On-Sensing Period (ONS) after a power-on signal is generated.

또한, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 파워 오프 신호가 발생한 이후, 오프-센싱 구간(OFFS: OFF-Sensing Period) 동안 센싱 동작을 진행할 수 있다.In addition, the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments may perform a sensing operation during an OFF-Sensing Period (OFFS) after a power-off signal is generated.

또한, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 화상 구동 중에 존재하는 실시간 센싱 구간(RTS: Real Time Sensing Period)마다 센싱 동작을 진행할 수 있다.In addition, the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments may perform a sensing operation for each Real Time Sensing Period (RTS) existing during image driving.

더 구체적으로, 수직 동기 신호(Vsync)를 기준으로, 화상 구동 시간에 해당하는 액티브 시간(Active Time) 사이의 블랭크 시간(Blank Time)을 실시간 센싱 구간(RTS)으로 할당하여, 이때마다 센싱 동작을 진행할 수 있다. More specifically, based on the vertical synchronization signal Vsync, the blank time between the active times corresponding to the image driving time is allocated as the real-time sensing period RTS, and the sensing operation is performed each time. can proceed.

한편, 1개의 서브픽셀에 대한 문턱전압 센싱은 1개의 서브픽셀에 대한 이동도 센싱에 비해 상대적으로 긴 시간이 걸린다. Meanwhile, the threshold voltage sensing for one sub-pixel takes a relatively long time compared to the mobility sensing for one sub-pixel.

따라서, 일 예로, 문턱전압 센싱은 오프-센싱 구간(OFFS)에 진행될 수 있고, 이동도 센싱은 온-센싱 구간(ONS)과 실시간 센싱 구간(RTS)마다에 진행될 수 있다.Accordingly, as an example, the threshold voltage sensing may be performed in the off-sensing period OFFS, and the mobility sensing may be performed in each of the on-sensing period ONS and the real-time sensing period RTS.

이와 같이, 문턱전압 센싱 및 이동도 센싱은 정해진 구간(ONS, OFFS, RTS)에 진행되어야 하기 때문에, 센싱 동작이 빠르게 진행될 필요가 있다. As described above, since the threshold voltage sensing and the mobility sensing must be performed in a predetermined period (ONS, OFFS, and RTS), the sensing operation needs to proceed quickly.

특히, 파워 온 신호 발생에 따라 온-센싱 구간(ONS)에 진행되는 센싱 동작의 경우, 신속한 파워 온 처리와 신속한 화상 구동 시작을 위해서, 온-센싱 구간(ONS)에서 센싱 동작은 빠르게 진행될 필요가 있다. In particular, in the case of the sensing operation performed in the on-sensing period (ONS) according to the generation of the power-on signal, it is necessary to rapidly perform the sensing operation in the on-sensing period (ONS) for rapid power-on processing and rapid image driving start. have.

또한, 액티브 시간 사이의 블랭크 시간에 해당하는 실시간 센싱 구간(RTS)마다 센싱 동작이 진행되는 경우, 짧은 블랭크 시간에 센싱 동작이 진행되어야 하기 때문에, 실시간 센싱 구간(RTS)마다의 센싱 동작은 빠르게 진행될 수 있는 센싱 구동 방식이 필요하다. In addition, when the sensing operation is performed for each real-time sensing interval (RTS) corresponding to the blank time between active times, since the sensing operation must be performed in a short blank time, the sensing operation for each real-time sensing interval (RTS) is performed quickly. A sensing driving method that can do this is required.

아래에서는, 이동도 센싱을 예로 들어, 정해진 시간 내에 센싱 동작이 최대한 빠르게 진행될 수 있도록 하는 센싱 구동 방식을 설명한다. Hereinafter, a sensing driving method that allows the sensing operation to proceed as quickly as possible within a predetermined time, taking mobility sensing as an example, will be described.

도 7은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 1차례 센싱 기반의 이동도 센싱 구동에 대한 타이밍 다이어그램이다. 7 is a timing diagram for one-time sensing-based mobility sensing driving in the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments.

도 7을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는 센싱 초기화 단계 및 센싱 단계로 이동도 센싱을 진행할 수 있다. 단, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)는 소스 노드이고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)는 게이트 노드인 것으로 가정한다. Referring to FIG. 7 , the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments may perform mobility sensing in a sensing initialization step and a sensing step. However, it is assumed that the first node N1 of the driving transistor DRT is a source node and the second node N2 of the driving transistor DRT is a gate node.

도 7을 참조하면, 센싱 초기화 단계에서, 센싱용 기준전압 스위치(SPRE)가 턴-온 되어, 센싱용 기준전압(VpreS)이 기준전압 라인(RVL)에 공급된다. 또한, 센싱용 데이터(DATA)에 대응되는 데이터 전압(Vdata)이 데이터 라인(DL)으로 공급된다. 제1트랜지스터(T1) 및 제2트랜지스터(T2)의 게이트 노드로 인가되는 게이트 신호(SCAN)가 하이 레벨이 되어, 제1트랜지스터(T1) 및 제2트랜지스터(T2)는 턴-온 된다. Referring to FIG. 7 , in the sensing initialization step, the sensing reference voltage switch SPRE is turned on, and the sensing reference voltage VpreS is supplied to the reference voltage line RVL. In addition, the data voltage Vdata corresponding to the sensing data DATA is supplied to the data line DL. The gate signal SCAN applied to the gate nodes of the first transistor T1 and the second transistor T2 becomes a high level, and the first transistor T1 and the second transistor T2 are turned on.

이에 따라, 센싱 초기화 단계에서, 기준전압 라인(RVL)에 공급된 센싱용 기준전압(VpreS)은, 턴-온 된 제1트랜지스터(T1)를 통해, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 인가된다. 데이터 라인(DL)에 공급된 데이터 전압(Vdata)은, 턴-온 된 제2트랜지스터(T2)를 통해, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)에 인가된다. Accordingly, in the sensing initialization step, the sensing reference voltage VpreS supplied to the reference voltage line RVL is applied to the first node N1 of the driving transistor DRT through the turned-on first transistor T1. ) is approved. The data voltage Vdata supplied to the data line DL is applied to the second node N2 of the driving transistor DRT through the turned-on second transistor T2 .

즉, 센싱 초기화 단계에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)은 센싱용 기준전압(VpreS)으로 초기화되고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)은 센싱용 데이터 전압(Vdata)로 초기화된다. That is, in the sensing initialization step, the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT is initialized to the sensing reference voltage VpreS, and the voltage of the second node N2 of the driving transistor DRT. (Vg) is initialized to the sensing data voltage (Vdata).

도 7을 참조하면, 센싱 초기화 단계 이후, 센싱 단계가 진행되는데, 이 센싱 단계에서, 센싱용 기준전압 스위치(SPRE)가 턴-오프 된다. Referring to FIG. 7 , after the sensing initialization step, a sensing step is performed. In this sensing step, the sensing reference voltage switch SPRE is turned off.

이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 플로팅 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)이 상승한다. Accordingly, the first node N1 of the driving transistor DRT floats, and the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT increases.

이때, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)은 일정한 기울기로 상승한다. At this time, the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT rises with a constant slope.

센싱 단계에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)이 상승한 이후, 일정 시간이 지나면, 샘플링 스위치(SAMP)가 턴-온 되어, 기준전압 라인(RVL)과 센싱부(310)가 연결된다. In the sensing step, after a predetermined time elapses after the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT rises, the sampling switch SAMP is turned on, and the reference voltage line RVL and the sensing unit 310 is connected.

이에 따라, 센싱부(310)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)이 센싱용 기준전압(VpreS)에서부터 일정 시간 동안 상승한 전압에 대응되는 기준전압 라인(RVL)의 전압을 센싱한다. Accordingly, the sensing unit 310 generates a reference voltage line RVL corresponding to a voltage at which the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT increases for a predetermined time from the sensing reference voltage VpreS. sense the voltage of

한편, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)의 변화량(ΔV=Vsen-VpreS)은, 구동 트랜지스터(DRT)의 드레인-소스 전류(Ids)에 비례한다. Meanwhile, the amount of change (ΔV=Vsen-VpreS) of the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT is proportional to the drain-source current Ids of the driving transistor DRT.

즉, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)의 변화량(ΔV=Vsen-VpreS)은 구동 트랜지스터(DRT)의 전류 능력에 해당하는 이동도에 비례한다. That is, the amount of change (ΔV=Vsen-VpreS) of the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT is proportional to the mobility corresponding to the current capability of the driving transistor DRT.

구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)의 변화량(ΔV=Vsen-VpreS)은 센싱된 전압(Vsen)과 이미 알고 있는 센싱용 기준전압(VpreS)을 토대로 확인 가능하다. The amount of change (ΔV=Vsen-VpreS) of the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT can be confirmed based on the sensed voltage Vsen and a known reference voltage for sensing VpreS.

한편, 센싱 단계 이후, 이동도 센싱이 진행되었던 서브픽셀 행(라인)이 다음 화상 구동 시에 화면 상에 보이는 현상을 방지하기 위해, 회복 초기화 단계 및 회복 단계를 포함하는 회복 과정이 진행될 수 있다. Meanwhile, after the sensing step, a recovery process including a recovery initialization step and a recovery step may be performed in order to prevent a phenomenon in which a subpixel row (line) in which the mobility sensing has been performed is displayed on the screen when the next image is driven.

회복 초기화 단계에서, 회복 기준전압 스위치(RPRE)가 턴-온 되어, 회복 기준전압(VpreR)이 기준전압 라인(RVL)에 공급된다. 블랙 데이터(BLK)에 해당하는 데이터 전압이 데이터 라인(DL)을 통해 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)에 인가된다. In the recovery initialization step, the recovery reference voltage switch RPRE is turned on, and the recovery reference voltage VpreR is supplied to the reference voltage line RVL. A data voltage corresponding to the black data BLK is applied to the second node N2 of the driving transistor DRT through the data line DL.

회복 단계에서, 회복 데이터(REC)에 해당하는 데이터 전압이 데이터 라인(DL)을 통해 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)에 인가된다. In the recovery step, a data voltage corresponding to the recovery data REC is applied to the second node N2 of the driving transistor DRT through the data line DL.

한편, 도 7의 타이밍으로 이동도 센싱 동작이 파워 온 신호 발생 후 온-센싱 구간(ONS)에 진행되는 경우, 신속한 파워 온 처리와 신속한 화상 구동 시작을 위해서, 온-센싱 구간(ONS)에서 이동도 센싱 동작은 빠르게 진행될 필요가 있다. On the other hand, when the mobility sensing operation is performed in the on-sensing period (ONS) after the generation of the power-on signal at the timing of FIG. 7 , the movement is performed in the on-sensing period (ONS) for quick power-on processing and rapid image driving start Also, the sensing operation needs to proceed quickly.

또한, 도 7의 타이밍으로 이동도 센싱 동작이 액티브 시간 사이의 블랭크 시간에 해당하는 실시간 센싱 구간(RTS)마다 진행되는 경우, 짧은 블랭크 시간에 이동도 센싱 동작이 진행되어야 하기 때문에, 실시간 센싱 구간(RTS)마다의 이동도 센싱 동작은 빠르게 진행될 필요가 있다. In addition, when the mobility sensing operation is performed for each real-time sensing period (RTS) corresponding to the blank time between the active times at the timing of FIG. 7, since the mobility sensing operation must be performed in a short blank time, the real-time sensing period ( The mobility sensing operation for each RTS) needs to be performed quickly.

한편, 전술한 바와 같이, 이동도 센싱은, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)를 센싱용 기준전압(VpreS)으로 초기화한 이후, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 상승시켜, 구동 트랜지스터(DRT)의 전류 능력에 따른 전압 상승량(ΔV)을 측정하여, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 센싱한다. Meanwhile, as described above, in the mobility sensing, after the first node N1 of the driving transistor DRT is initialized to the sensing reference voltage VpreS, the first node N1 of the driving transistor DRT is By increasing the voltage, the voltage increase amount ΔV according to the current capability of the driving transistor DRT is measured to sense the mobility of the driving transistor DRT.

따라서, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 신속하고 정확하게 센싱하기 위해서는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)를 센싱용 기준전압(VpreS)으로 신속하고 정확하게 초기화할 수 있어야만 한다. Accordingly, in order to quickly and accurately sense the mobility of the driving transistor DRT, the first node N1 of the driving transistor DRT must be quickly and accurately initialized to the sensing reference voltage VpreS.

하지만, 기준전압 라인(RVL)에 어쩔 수 없이 존재하는 기생 캐패시터들로 인하여, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 센싱용 기준전압(VpreS)으로 초기화하는데 많은 시간(Tinit)이 걸릴 수 있다. However, due to parasitic capacitors unavoidably present in the reference voltage line RVL, it takes a long time (Tinit) to initialize the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT to the sensing reference voltage VpreS. This can take

이에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 센싱하는데 많은 센싱 시간이 소요된다. Accordingly, a lot of sensing time is required to sense the mobility of the driving transistor DRT.

만약, 센싱 초기화 단계의 구간 길이가 정해진 경우, 기준전압 라인(RVL)에 어쩔 수 없이 존재하는 기생 캐패시터들로 인하여, 정해진 초기화 단계 구간 이내에, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 센싱용 기준전압(VpreS)에 도달하지 못할 수 있다. If the period length of the sensing initialization step is determined, the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT within the predetermined initialization step period due to parasitic capacitors unavoidably present in the reference voltage line RVL. This sensing reference voltage (VpreS) may not be reached.

이 경우, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)가 작아져서, 센싱 값이 작아질 수 있다. 이에 따라 정확한 보상이 되지 못할 수 있다. In this case, the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT is reduced, so that the sensing value may be reduced. Accordingly, accurate compensation may not be provided.

또한, 센싱 초기화 단계에서, 노이즈 신호에 의한 커플링 현상으로 인해, 기준전압 라인(RVL)의 전압이 센싱용 기준전압(VpreS)으로 일정하지 않고 흔들리게 되어, 센싱 정확도가 떨어질 수도 있다. Also, in the sensing initialization step, the voltage of the reference voltage line RVL is not constant to the sensing reference voltage VpreS due to a coupling phenomenon due to the noise signal, and thus the sensing accuracy may be deteriorated.

이에, 본 실시예들은, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)를 센싱용 기준전압(VpreS)으로 신속하고 정확하게 초기화하여, 서브픽셀의 특성치에 대한 센싱 시간을 단축시키고, 이를 통해, 서브픽셀의 특성치(또는 특성치 변화)를 정확하게 센싱할 수 있는 2차례 센싱 기반의 센싱 구동 방법을 제안한다. Accordingly, in the present embodiments, the first node N1 of the driving transistor DRT is quickly and accurately initialized to the sensing reference voltage VpreS to shorten the sensing time for the characteristic value of the sub-pixel, and through this, the sub-pixel A two-time sensing-based sensing driving method capable of accurately sensing a characteristic value (or a characteristic value change) of a pixel is proposed.

아래에서는, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 2차례 센싱 기반의 센싱 구동 방법을 이동도 센싱을 예로 들어 더욱 상세하게 설명한다. Hereinafter, the sensing driving method based on the two-time sensing of the organic light emitting display device 100 according to the present exemplary embodiments will be described in more detail by taking mobility sensing as an example.

도 8은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 2차례 센싱 기반의 이동도 센싱 구동에 대한 타이밍 다이어그램이다.8 is a timing diagram for the two-time sensing-based mobility sensing driving in the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments.

도 8을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 센싱 초기화 시간(Tinit)을 단축시키기 위하여, 2차례의 센싱 처리(샘플링 처리)를 수행할 수 있다. Referring to FIG. 8 , the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments may perform sensing processing (sampling processing) twice in order to shorten the sensing initialization time Tinit.

이에 따라, 센싱 초기화 시간(Tinit)이 크게 단축되어 전체 이동도 센싱 시간도 상당히 단축될 수 있다. Accordingly, the sensing initialization time Tinit is greatly shortened, and thus the overall mobility sensing time may be significantly shortened.

또한, 센싱 초기화 시간(Tinit)을 단축시키면서도, 센싱 정확도의 저하를 방지하기 위하여, 어느 시점에서는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)를 유지해주는 것이 필요하다. In addition, in order to shorten the sensing initialization time Tinit and prevent a decrease in sensing accuracy, at a certain point in time, a voltage difference (Vgs) between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT. It is necessary to maintain

이를 위해, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)의 유지를 위한 데이터 오프셋 처리를 수행할 수 있다. To this end, the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments performs data offset processing for maintaining the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT. can be performed.

아래에서, 개략적으로 설명한 2차례 센싱 기반의 구동방법에 대하여 더욱 상세하게 설명한다. Hereinafter, the schematically described two-time sensing-based driving method will be described in more detail.

도 8을 참조하면, 센싱용 기준전압 스위치(SPRE)가 잠깐 턴-온 되었다가 턴-오프 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 플로팅 되어, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하는 동안, 센싱부(310)는, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 2차례 센싱한다. Referring to FIG. 8 , the sensing reference voltage switch SPRE is briefly turned on and then turned off, the first node N1 of the driving transistor DRT is floated, and the voltage of the reference voltage line RVL is Alternatively, while the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is rising, the sensing unit 310 may generate the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT. is sensed twice.

즉, 센싱용 기준전압 스위치(SPRE)가 잠깐 턴-온 되었다가 턴-오프 되어, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 플로팅 되어, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하는 동안, 샘플링 스위치(SAMP)는 2번 턴-온 되어, 센싱부(310)와 기준전압 라인(RVL)을 2차례 연결해준다. That is, the sensing reference voltage switch SPRE is briefly turned on and then turned off, so that the first node N1 of the driving transistor DRT is floated, so that the voltage of the reference voltage line RVL or the driving transistor ( While the voltage of the first node N1 of the DRT is rising, the sampling switch SAMP is turned on twice to connect the sensing unit 310 and the reference voltage line RVL twice.

전술한 바와 같이, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하는 동안, 센싱부(310)는, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 2차례 센싱함으로써, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 센싱용 기준전압(VpreS)으로 정확하게 초기화되지 못하더라도, 2차례 센싱된 센싱 전압(1차 센싱 전압, 2차 센싱 전압) 또는 2차 센싱 전압을 토대로, 전압 상승량을 정확하게 파악하여, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(예: 이동도)를 정확하게 파악할 수 있다. As described above, while the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is rising, the sensing unit 310 is configured to operate the voltage of the reference voltage line RVL or the driving transistor DRT. By sensing the voltage of the first node N1 of the transistor DRT twice, even if the first node N1 of the driving transistor DRT is not accurately initialized to the sensing reference voltage VpreS, the Based on the sensing voltage (the primary sensing voltage, the secondary sensing voltage) or the secondary sensing voltage, it is possible to accurately determine the voltage increase amount, thereby accurately determining the characteristic value (eg, mobility) of the driving transistor (DRT).

한편, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하는 동안, 데이터 드라이버(120)는, 데이터 라인(DL)으로 제1센싱용 데이터(DATA1)에 대응되는 제1데이터 전압(Vdata1)을 출력하다가, 제1센싱용 데이터(DATA1)과는 다른 제2센싱용 데이터(DATA2)에 대응되는 제2데이터 전압(Vdata2), 즉, 제1데이터 전압(Vdata1)과는 다른 제2데이터 전압(Vdata2)을 데이터 라인(DL)으로 출력할 수 있다. Meanwhile, while the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is rising, the data driver 120 transfers the first sensing data DATA1 to the data line DL. ) while outputting the first data voltage Vdata1 corresponding to the second data voltage Vdata2 corresponding to the second sensing data DATA2 different from the first sensing data DATA1, that is, the first data A second data voltage Vdata2 different from the voltage Vdata1 may be output to the data line DL.

더 구체적으로, 데이터 드라이버(120)는, 센싱부(310)가 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 1차로 센싱하기 이전에는 제1데이터 전압(Vdata1)을 데이터 라인(DL)으로 출력하다가, 센싱부(310)가 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 1차로 센싱한 이후에는 제1데이터 전압(Vdata1)과는 다른 제2데이터 전압(Vdata2)을 데이터 라인(DL)으로 출력할 수 있다. More specifically, the data driver 120 performs the first data before the sensing unit 310 first senses the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT. After outputting the voltage Vdata1 to the data line DL, the sensing unit 310 first senses the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT. A second data voltage Vdata2 different from the first data voltage Vdata1 may be output to the data line DL.

여기서, 제2데이터 전압(Vdata2)은 제1데이터 전압(Vdata1)보다 높은 전압이다. Here, the second data voltage Vdata2 is higher than the first data voltage Vdata1.

더 구체적으로, 제2데이터 전압(Vdata2)은 제1데이터 전압(Vdata1)에 오프셋 전압(Voffset)이 더해진 전압이다. More specifically, the second data voltage Vdata2 is a voltage obtained by adding the offset voltage Voffset to the first data voltage Vdata1.

오프셋 전압(Voffset)은 센싱부(310)가 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 1차로 센싱한 1차 센싱 전압(Vsen1)에 의해 결정될 수 있다. The offset voltage Voffset may be determined by the primary sensing voltage Vsen1 in which the sensing unit 310 first senses the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT. can

일 예로, 오프셋 전압(Voffset)은 1차 센싱 전압(Vsen1)과 센싱용 기준전압(VpreS)의 차이(Vsen1-VpresS)에 대응될 수 있다. For example, the offset voltage Voffset may correspond to the difference Vsen1-VpresS between the primary sensing voltage Vsen1 and the sensing reference voltage VpreS.

여기서, 센싱용 기준전압(VpreS)은, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하기 이전에, 기준전압 라인(RVL)으로 공급되는 전압이다. Here, the sensing reference voltage VpreS is the voltage supplied to the reference voltage line RVL before the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT rises. am.

컨트롤러(140)는, 센싱부(310)에 의해 센싱된 1차 센싱 전압(Vsen1)의 디지털 값을 토대로 오프셋 데이터(Offset DATA)를 산출하고, 제1센싱용 데이터(DATA1)에 산출된 오프셋 데이터(Offset DATA)를 더하여 제2센싱용 데이터(DATA2)를 생성하여 데이터 드라이버(120)로 공급한다. The controller 140 calculates the offset data Offset DATA based on the digital value of the primary sensing voltage Vsen1 sensed by the sensing unit 310 , and the offset data calculated in the first sensing data DATA1 . (Offset DATA) is added to generate the second sensing data DATA2 and supplied to the data driver 120 .

여기서, 센싱 단계 도중에 제1센싱용 데이터(DATA1)가 제2센싱용 데이터(DATA2)로 변경하는 것을 "데이터 오프셋 처리"라고 한다. Here, changing the first sensing data DATA1 to the second sensing data DATA2 during the sensing step is referred to as “data offset processing”.

이러한 데이터 오프셋 처리에 따라, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하는 동안, 데이터 드라이버(120)는, 데이터 라인(DL)으로 제1센싱용 데이터(DATA1)에 대응되는 제1데이터 전압(Vdata1)을 출력하다가, 제1센싱용 데이터(DATA1)과는 다른 제2센싱용 데이터(DATA2)에 대응되는 제2데이터 전압(Vdata2), 즉, 제1데이터 전압(Vdata1)과는 다른 제2데이터 전압(Vdata2)을 데이터 라인(DL)으로 출력할 수 있다.According to the data offset processing, while the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT rises, the data driver 120 transfers the first voltage to the data line DL. While outputting the first data voltage Vdata1 corresponding to the sensing data DATA1, the second data voltage Vdata2 corresponding to the second sensing data DATA2 different from the first sensing data DATA1; That is, the second data voltage Vdata2 different from the first data voltage Vdata1 may be output to the data line DL.

데이터 드라이버(120)가 제1데이터 전압(Vdata1)을 데이터 라인(DL)으로 출력할 때, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1) 간의 전압 차이(Vgs)와, 데이터 드라이버(120)가 제2데이터 전압(Vdata2)을 데이터 라인(DL)으로 출력할 때, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1) 간의 전압 차이는 서로 대응될 수 있다. When the data driver 120 outputs the first data voltage Vdata1 to the data line DL, the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT is , when the data driver 120 outputs the second data voltage Vdata2 to the data line DL, the voltage difference between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT corresponds to each other. can be

전술한 바와 같이, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)이 상승한 것을 고려한 데이터 오프셋 처리를 통해, 1차 센싱 직후의 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)가, 정확한 센싱 초기화가 되었을 때의 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)와 동일해질 수 있다. 이에 따라, 2차례 센싱(샘플링)에도 불구하고, 1차례 센싱(샘플링)이 정확하게 이루어진 것과 동일한 상황을 만들어 줄 수 있다. As described above, the second node N2 of the driving transistor DRT immediately after the first sensing and The voltage difference Vgs of the first node N1 may be equal to the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT when accurate sensing initialization is performed. have. Accordingly, it is possible to create a situation identical to that in which sensing (sampling) is performed once in spite of sensing (sampling) twice.

아래에서는, 도 7의 1차례 센싱 기반의 센싱 구동 방식과 도 8의 2차례 센싱 기반의 센싱 구동 방식 간의 센싱 시간을 비교해본다. 여기서, 센싱 시간은, 센싱 초기화 단계에 필요한 시간(Tinit)과 센싱 단계에 필요한 시간을 합한 시간과 대응된다. Below, the sensing time between the first sensing-based sensing driving method of FIG. 7 and the second sensing-based sensing driving method of FIG. 8 is compared. Here, the sensing time corresponds to the sum of the time Tinit required for the sensing initialization step and the time required for the sensing step.

먼저, 이동도 센싱 방식을 간략하게 설명하면, 미리 정해진 일정 시간 동안 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 변화된 전압을 센싱하고, 이렇게 센싱된 전압(Vsense)과 전압 변화가 발생하기 전 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압으로서 미리 알고 있는 센싱용 기준전압(VpreS) 간의 전압 차이(ΔV, 즉, 전압 변화량)를 계산하여 구하고, 전압 변화량(ΔV)과 이동도 간에 미리 정해진 관계 특성 정보(예: 대응 테이블 등)에 따라 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 결정함으로써, 이동도 센싱이 이루어진다. First, briefly describing the mobility sensing method, the changed voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is sensed for a predetermined period of time, and before the sensed voltage Vsense and the voltage change occur. As the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT, the voltage difference (ΔV, that is, the voltage change amount) between the known sensing reference voltages VpreS is calculated and obtained, and the difference between the voltage change amount ΔV and the mobility is obtained. Mobility sensing is performed by determining the mobility of the driving transistor DRT according to predetermined relational characteristic information (eg, a correspondence table, etc.).

전술한 이동도 센싱 방식에서 볼 때, 정확한 이동도 센싱을 위해서는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 변화량(ΔV)을 정확하게 구할 수 있어야 한다. In view of the aforementioned mobility sensing method, for accurate mobility sensing, the voltage change amount ΔV of the first node N1 of the driving transistor DRT must be accurately calculated.

그런데, 센싱 초기화 단계에서, 여러 요인(예: 유기발광표시패널(110) 상의 라인 캐패시터 등의 다양한 캐패시터 성분 등)에 의해, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 초기화 전압에 해당하는 센싱용 기준전압(VpreS)으로 정확하게 초기화되지 못한다면, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 측정된 전압(Vsense)에서 미리 알고 있는 센싱용 기준전압(VpreS)을 차감하는 계산으로부터 얻어지는 전압 변화량이, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 실질적인 전압 변화량과 다를 수 있고, 다른 정도만큼 이동도 센싱 정확도가 낮아지게 된다. However, in the sensing initialization step, the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is changed to the initialization voltage due to various factors (eg, various capacitor components such as a line capacitor on the organic light emitting display panel 110 ). If it is not correctly initialized to the corresponding sensing reference voltage VpreS, from the calculation of subtracting the known sensing reference voltage VpreS from the measured voltage Vsense of the first node N1 of the driving transistor DRT. The obtained voltage change amount may be different from the actual voltage change amount of the first node N1 of the driving transistor DRT, and mobility sensing accuracy is lowered to a different extent.

따라서, 1차례 센싱 기반의 센싱 구동의 경우, 정확한 이동도 센싱을 위해서는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 원하는 초기화 전압에 해당하는 센싱용 기준전압(VpreS)으로 정확하게 초기화될 때까지 충분한 시간(실험 통계를 통해 미리 설정될 수 있음)을 기다리는 것이 반드시 필요하다. Therefore, in the case of one-time sensing-based sensing driving, for accurate mobility sensing, the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is accurately initialized to the sensing reference voltage VpreS corresponding to the desired initialization voltage. It is absolutely necessary to wait a sufficient amount of time (which can be preset through experimental statistics) until

하지만, 2차례 센싱 기반의 센싱 구동의 경우, 1차 센싱 전압과 2차 센싱 전압을 이용하여 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 변화량을 구할 수 있기 때문에, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 원하는 초기화 전압에 해당하는 센싱용 기준전압(VpreS)으로 정확하게 초기화될 때까지 기다릴 필요가 없다. However, in the case of two-time sensing-based sensing driving, since the amount of voltage change of the first node N1 of the driving transistor DRT can be obtained using the primary sensing voltage and the secondary sensing voltage, the driving transistor DRT There is no need to wait until the voltage of the first node N1 is correctly initialized to the sensing reference voltage VpreS corresponding to the desired initialization voltage.

다시 말해, 2차례 센싱 기반의 센싱 구동의 경우, 센싱 초기화 단계를 위해 설정된 시간(Tinit)은, 1차례 센싱 기반의 센싱 구동의 경우에 비해 짧아도 관계가 없다. In other words, in the case of the second sensing-based sensing operation, the time Tinit set for the sensing initialization step is not relevant even if it is shorter than in the case of the first sensing-based sensing operation.

경우에 따라서는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 센싱 초기화 단계 이전의 전압보다 낮아질 수만 있다면, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 센싱용 기준전압(VpreS)을 인가해주기 위하여, 센싱용 기준전압(VpreS)을 기준전압 라인(RVL)에 공급해주었다가, 바로 센싱 단계로 진입하여도 된다. 이 경우, 센싱 초기화 단계에 소요되는 시간은 거의 무시할 수 있을 정도로 짧아질 수 있다(Tinit

Figure 112015093544825-pat00001
0). In some cases, as long as the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT can be lower than the voltage before the sensing initialization step, the sensing reference voltage VpreS is applied to the first node N1 of the driving transistor DRT. ), the sensing reference voltage VpreS may be supplied to the reference voltage line RVL, and then directly enter the sensing stage. In this case, the time required for the sensing initialization step may be short enough to be almost negligible (Tinit).
Figure 112015093544825-pat00001
0).

이와 같이, 2차례 센싱 기반의 센싱 구동 방식의 경우, 1차례 센싱 기반의 센싱 구동 방식의 경우에 비해, 센싱 정확도를 저하시키지 않으면서도, 센싱 초기화 단계에 필요한 시간(Tinit)을 짧게 설정하여 센싱 구동을 할 수 있기 때문에, 센싱 시간(예: 센싱 초기화 단계의 시작 시점 ~ 2차 샘플링 시점)을 줄일 수 있다.As such, in the case of the sensing driving method based on the two-time sensing, compared to the case of the sensing driving method based on the sensing once, the sensing operation is driven by setting a shorter time (Tinit) for the sensing initialization step without degrading the sensing accuracy. , it is possible to reduce the sensing time (eg, the starting point of the sensing initialization stage to the second sampling time).

또한, 2차례 센싱 기반의 센싱 구동 방식의 경우, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 원하는 초기화 전압에 해당하는 센싱용 기준전압(VpreS)으로 정확하게 초기화될 때까지 기다릴 필요가 없기 때문에, 센싱 구동의 타이밍 설계에 대한 자유도가 높아질 수도 있다. In addition, in the case of the two-time sensing-based sensing driving method, there is no need to wait until the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is correctly initialized to the sensing reference voltage VpreS corresponding to the desired initialization voltage. Since there is no such thing, the degree of freedom for timing design of sensing driving may be increased.

도 9는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 2차례 센싱 기반의 이동도 센싱 구동 시, 4가지의 중요한 상태와 각 상태에서 주요 노드의 전압 변화를 나타낸 도면이다. FIG. 9 is a diagram illustrating four important states and voltage changes of main nodes in each state when the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments is driven twice by sensing-based mobility.

도 9는, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 2차례 센싱 기반의 이동도 센싱 구동 시, 센싱 초기화 상태, 1차 센싱 상태, 1차 센싱 직후의 데이터 오프셋 처리가 된 데이터 오프셋 상태 및 2차 센싱 상태를 포함하는 4가지 중요한 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)과 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)의 변화를 나타낸 도면이다. 9 is a diagram illustrating data subjected to data offset processing immediately after a sensing initialization state, a primary sensing state, and a first sensing operation, in the organic light emitting display device 100 according to the present exemplary embodiments, when driving the sensing-based mobility sensing twice. In four important states including an offset state and a secondary sensing state, the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT and the voltage Vg of the second node N2 of the driving transistor DRT ) is a diagram showing the change in

센싱 초기화 상태는 센싱 초기화 단계에서의 상태이고, 1차 센싱 상태, 데이터 오프셋 상태 및 2차 센싱 상태는 센싱 단계에서의 3가지 상태이다. The sensing initialization state is a state in the sensing initialization stage, and the primary sensing state, the data offset state, and the secondary sensing state are three states in the sensing stage.

도 9를 참조하면, 센싱 초기화 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)은 제1데이터 전압(Vdata1)이고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)은 센싱용 기준전압(VpreS)이다. Referring to FIG. 9 , in the sensing initialization state, the voltage Vg of the second node N2 of the driving transistor DRT is the first data voltage Vdata1 and the first node N1 of the driving transistor DRT. A voltage (Vs) of is a reference voltage (VpreS) for sensing.

여기서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)은 초기화가 덜 이루어져서 센싱용 기준전압(VpreS)에 도달하지 못했을 수도 있다. Here, the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT may not reach the sensing reference voltage VpreS due to less initialization.

센싱 초기화 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)는, Vdata1-VpreS이다. In the sensing initialization state, a voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT is Vdata1-VpreS.

따라서, 센싱 초기화 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)과, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)과, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)는 하기 수학식 1과 같다. Accordingly, in the sensing initialization state, the voltage Vg of the second node N2 of the driving transistor DRT, the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT, and the driving transistor DRT A voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of

Figure 112015093544825-pat00002
Figure 112015093544825-pat00002

도 9를 참조하면, 1차 센싱 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)은 제1데이터 전압(Vdata1)이고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)은 1차 센싱 전압(Vsen1)이다. Referring to FIG. 9 , in the primary sensing state, the voltage Vg of the second node N2 of the driving transistor DRT is the first data voltage Vdata1 and the first node N1 of the driving transistor DRT. ) voltage Vs is the primary sensing voltage Vsen1.

1차 센싱 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)는, Vdata1-Vsen1이다.In the primary sensing state, a voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT is Vdata1-Vsen1.

따라서, 1차 센싱 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)과, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)과, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)는 하기 수학식 2와 같다.Accordingly, in the primary sensing state, the voltage Vg of the second node N2 of the driving transistor DRT, the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT, and the driving transistor DRT ), the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 is expressed by Equation 2 below.

Figure 112015093544825-pat00003
Figure 112015093544825-pat00003

도 9를 참조하면, 1차 센싱 직후 데이터 오프셋 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)은 제2데이터 전압(Vdata2)이고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)은 1차 센싱 전압(Vsen1)이다. Referring to FIG. 9 , in the data offset state immediately after the first sensing, the voltage Vg of the second node N2 of the driving transistor DRT is the second data voltage Vdata2, and the first of the driving transistor DRT is The voltage Vs of the node N1 is the primary sensing voltage Vsen1.

1차 센싱 직후 데이터 오프셋 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)는, Vdata2-Vsen1이다.In the data offset state immediately after the primary sensing, the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT is Vdata2-Vsen1.

따라서, 1차 센싱 직후 데이터 오프셋 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)과, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)과, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)는 하기 수학식 3과 같다.Accordingly, in the data offset state immediately after the primary sensing, the voltage Vg of the second node N2 of the driving transistor DRT, the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT, and the driving A voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the transistor DRT is expressed by Equation 3 below.

Figure 112015093544825-pat00004
Figure 112015093544825-pat00004

여기서, 제2데이터 전압(Vdata2)은 제1데이터 전압(Vdata1)에 오프셋 전압(Voffset)이 더해진 전압이다. Here, the second data voltage Vdata2 is a voltage obtained by adding the offset voltage Voffset to the first data voltage Vdata1.

이러한 점을 고려해보면, 수학식 3은 하기 수학식 4와 같이 다시 표현될 수 있다. Considering this point, Equation 3 can be expressed again as Equation 4 below.

Figure 112015093544825-pat00005
Figure 112015093544825-pat00005

한편, 오프셋 전압(Voffset)은 1차 센싱 전압(Vsen1)에서 센싱용 기준전압(VpreS)을 뺀 전압에 해당한다.Meanwhile, the offset voltage Voffset corresponds to a voltage obtained by subtracting the sensing reference voltage VpreS from the primary sensing voltage Vsen1.

이 점을 고려하면, 수학식 4는 하기 수학식 5와 같이 다시 표현될 수 있다. Considering this point, Equation 4 can be expressed again as Equation 5 below.

Figure 112015093544825-pat00006
Figure 112015093544825-pat00006

상기 수학식 1에서와 같이, 센싱 초기화 상태에서 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)와, 상기 수학식 5에서와 같이, 데이터 오프셋 상태에서 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)를 비교해보면, 데이터 오프셋 처리에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)가 Vdata1-VpreS로 동일하다는 것을 알 수 있다. As shown in Equation 1, the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT in the sensing initialization state and the data offset state as in Equation 5 above Comparing the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT in It can be seen that the voltage difference (Vgs) of one node N1 is the same as Vdata1-VpreS.

도 9를 참조하면, 2차 센싱 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)은 제2데이터 전압(Vdata2=Vdata1+Voffset)이고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)은 2차 센싱 전압(Vsen2)이다. Referring to FIG. 9 , in the secondary sensing state, the voltage Vg of the second node N2 of the driving transistor DRT is the second data voltage Vdata2=Vdata1+Voffset, and the voltage Vg of the driving transistor DRT is The voltage Vs of the first node N1 is the secondary sensing voltage Vsen2.

2차 센싱 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)는, Vdata2-Vsen2(= Vdata1+Voffset-Vsen2)이다.In the secondary sensing state, the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT is Vdata2-Vsen2 (= Vdata1+Voffset-Vsen2).

따라서, 2차 센싱 상태에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)의 전압(Vg)과, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)과, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)는 하기 수학식 6과 같다.Accordingly, in the secondary sensing state, the voltage Vg of the second node N2 of the driving transistor DRT, the voltage Vs of the first node N1 of the driving transistor DRT, and the driving transistor DRT ), the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 is expressed by Equation 6 below.

Figure 112015093544825-pat00007
Figure 112015093544825-pat00007

전술한 바와 같이, 2차례의 센싱이 완료되면, 2차례의 센싱 결과 또는 2차 센싱 결과를 토대로 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(예: 이동도, 문턱전압)를 센싱할 수 있다. As described above, when the second sensing is completed, the characteristic value (eg, mobility, threshold voltage) of the driving transistor DRT may be sensed based on the second sensing result or the second sensing result.

일 예로, 2차례의 센싱 결과 또는 2차 센싱 결과를 토대로 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 센싱하는 방식을 도 10을 참조하여 간략하게 설명한다. As an example, a method of sensing the mobility of the driving transistor DRT based on the second sensing result or the secondary sensing result will be briefly described with reference to FIG. 10 .

도 10은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서, 2차례 센싱 기반의 이동도 센싱 구동을 통해 이동도 센싱 방식을 설명하기 위한 도면이다. FIG. 10 is a diagram for explaining a mobility sensing method through a two-time sensing-based mobility sensing driving in the organic light emitting display device 100 according to the present exemplary embodiments.

도 10을 참조하면, 센싱부(310)는, 샘플링 스위치(SAMP)의 2차 턴-온에 따라, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 2차로 센싱하고, 2차 센싱된 전압인 2차 센싱 전압(Vsen2)을 디지털 값으로 변환하여 전송한다. Referring to FIG. 10 , the sensing unit 310 may include a voltage of the reference voltage line RVL or a voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT according to the secondary turn-on of the sampling switch SAMP. is secondarily sensed, and the second sensed voltage Vsen2, which is the second sensed voltage, is converted into a digital value and transmitted.

이에 따라, 보상부(330)는, 센싱부(310)에서 전송된 디지털 값에 해당하는 2차 센싱 전압(Vsen2), 즉, 센싱부(310)가 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 2차로 센싱한 2차 센싱 전압(Vsen2)을 토대로, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(예: 이동도)를 계산하여, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치 보상 처리(예: 이동도 보상 처리)를 수행할 수 있다. Accordingly, the compensator 330 is configured to generate the secondary sensing voltage Vsen2 corresponding to the digital value transmitted from the sensing unit 310 , that is, the sensing unit 310 is the voltage of the reference voltage line RVL or the driving transistor. Based on the secondary sensing voltage Vsen2 that is secondarily sensed by the voltage of the first node N1 of the DRT, a characteristic value (eg, mobility) of the driving transistor DRT is calculated, and the Characteristic value compensation processing (eg, mobility compensation processing) may be performed.

더 구체적인 예로서, 보상부(330)는, 2차 센싱 전압(Vsen2)을 토대로, 일정 시간(Δt) 동안 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 상승량(ΔV=Vsen2-Vsen1)을 산출하여 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 계산할 수 있다. As a more specific example, the compensator 330 may generate a voltage increase amount (ΔV=Vsen2-Vsen1) of the first node N1 of the driving transistor DRT for a predetermined time Δt based on the secondary sensing voltage Vsen2. can be calculated to calculate the mobility of the driving transistor DRT.

여기서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 상승량(ΔV)은, 2차 센싱 전압(Vsen2)과 1차 센싱 전압(Vsen1)의 차이일 수도 있고, 2차 센싱 전압(Vsen2)와 센싱용 기준전압(VpreS)의 차이일 수도 있다. Here, the voltage increase amount ΔV of the first node N1 of the driving transistor DRT may be the difference between the secondary sensing voltage Vsen2 and the primary sensing voltage Vsen1, or the secondary sensing voltage Vsen2. and the reference voltage for sensing VpreS.

전술한 바에 따르면, 도 7 및 도 8을 비교해보면, 2차례 센싱 기반의 센싱 구동을 통해, 센싱 초기화 시간(Tinit)을 크게 단축하면서도 정확한 센싱을 통해 정확한 보상 처리를 해줄 수 있다. As described above, comparing FIGS. 7 and 8 , through two sensing-based sensing driving, the sensing initialization time Tinit can be greatly shortened and accurate compensation processing can be performed through accurate sensing.

도 11은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법에 대한 흐름도이다. 11 is a flowchart of a method of driving the organic light emitting display device 100 according to the present exemplary embodiments.

도 11을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법은, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 기준전압(VpreS)을 인가하고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드에 제1데이터전압을 인가하는 초기화 단계(S1110)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)를 플로팅 시켜 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하는 동안, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 전기적으로 연결된 다른 지점(예: 기준전압 라인(RVL) 상의 임의의 지점으로서, 라인 캐패시터가 형성된 지점)의 전압을 2차례 센싱하는 센싱 단계(S1120) 등을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 11 , in the method of driving the organic light emitting diode display 100 according to the present exemplary embodiments, a reference voltage VpreS is applied to the first node N1 of the driving transistor DRT, and the driving transistor DRT is applied. ), an initialization step (S1110) of applying a first data voltage to the second node of the driving transistor (DRT), and floating the first node (N1) of the driving transistor (DRT) so that the voltage of the first node (N1) of the driving transistor (DRT) is During the rising, the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT or another point electrically connected to the first node N1 of the driving transistor DRT (eg, any point on the reference voltage line RVL) As such, the sensing step ( S1120 ) of sensing the voltage at the point where the line capacitor is formed) may be included twice.

전술한 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법을 이용하면, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하는 동안, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 2차례 센싱함으로써, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 센싱용 기준전압(VpreS)으로 정확하게 초기화되지 못하더라도, 2차례 센싱된 센싱 전압(1차 센싱 전압, 2차 센싱 전압) 또는 2차 센싱 전압을 토대로, 전압 상승량을 정확하게 파악하여, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치(예: 이동도)를 정확하게 파악할 수 있다. When the driving method of the organic light emitting diode display 100 according to the above-described exemplary embodiments is used, while the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is increased, By sensing the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT twice, the first node N1 of the driving transistor DRT is converted to the sensing reference voltage VpreS. Even if it is not correctly initialized, the amount of voltage increase is accurately determined based on the sensing voltage (primary sensing voltage, secondary sensing voltage) or secondary sensing voltage sensed twice, and the characteristic value (eg, mobility) of the driving transistor (DRT) ) can be accurately identified.

도 11을 참조하면, 전술한 센싱 단계(S1120)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 전기적으로 연결된 다른 지점의 전압을 1차로 센싱하는 1차 센싱 단계(S1121)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드에 제1데이터전압과는 다른 제2데이터 전압(Vdata2)을 인가하는 데이터 오프셋 단계(S1123)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 전기적으로 연결된 다른 지점의 전압을 2차로 센싱하는 2차 센싱 단계(S1125) 등을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 11 , in the above-described sensing step S1120 , the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT or the voltage of another point electrically connected to the first node N1 of the driving transistor DRT A first sensing step (S1121) of first sensing the A secondary sensing step (S1125) of secondarily sensing the voltage of the first node N1 of the transistor DRT or the voltage of another point electrically connected to the first node N1 of the driving transistor DRT may be included (S1125). can

데이터 오프셋 단계(S1123)에서, 제1데이터 전압(Vdata1)에서 오프셋 된 제2데이터 전압(Vdata2)은 제1데이터 전압(Vdata1)에 오프셋 전압(Voffset)이 더해진 전압일 수 있다. In the data offset step S1123 , the second data voltage Vdata2 offset from the first data voltage Vdata1 may be a voltage obtained by adding the offset voltage Voffset to the first data voltage Vdata1 .

전술한 바와 같이, 센싱 단계(S1120)가 1차 센싱 단계(S1121), 데이터 오프셋 단계(S1123), 2차 센싱 단계(S1125)로 진행됨에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압(Vs)이 상승한 것을 고려한 데이터 오프셋 처리를 통해, 1차 센싱 직후의 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)가, 정확한 센싱 초기화가 되었을 때의 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)와 동일해질 수 있다. 이에 따라, 2차례 센싱(샘플링)에도 불구하고, 1차례 센싱(샘플링)이 정확하게 이루어진 것과 동일한 상황을 만들어 줄 수 있고, 이를 통해, 센싱 초기화 속도를 빠르게 해주면서도 정확한 센싱을 가능하게 해줄 수 있다. As described above, as the sensing step S1120 proceeds to the first sensing step S1121 , the data offset step S1123 , and the second sensing step S1125 , the first node N1 of the driving transistor DRT Through data offset processing in consideration of the increase in the voltage Vs of It may be equal to the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT when . Accordingly, in spite of sensing (sampling) twice, it is possible to create the same situation as if sensing (sampling) was performed correctly once, thereby enabling accurate sensing while speeding up the sensing initialization speed.

한편, 데이터 오프셋 단계(S1123)에서, 제1데이터 전압(Vdata1)에 더해진 오프셋 전압(Voffset)은, 제1 센싱 단계(S1121)에서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 전기적으로 연결된 다른 지점의 전압을 1차례로 센싱한 1차 센싱 전압(Vsen1)에 의해 결정된 값일 수 있다. Meanwhile, in the data offset step S1123 , the offset voltage Voffset added to the first data voltage Vdata1 is the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT or the offset voltage Voffset added to the first data voltage Vdata1 in the first sensing step S1121 . It may be a value determined by the primary sensing voltage Vsen1 that senses voltages at other points electrically connected to the first node N1 of the driving transistor DRT once.

전술한 바와 같이, 1차 센싱 전압(Vsen1)을 토대로 오프셋 전압(Voffset)을 결정한 이후, 이를 토대로 데이터 오프셋 처리를 수행하여 얻어진 제2데이터 전압(Vdata2)을 이용하여, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 상승시킴으로써, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 센싱용 기준전압(VpreS)으로 정확하게 초기화되지 못하는 상황에서도, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 상승량(ΔV)을 결정하는데 기준이 되는 전압을 적응적으로 설정해줄 수 있다. As described above, after the offset voltage Voffset is determined based on the primary sensing voltage Vsen1, the second data voltage Vdata2 obtained by performing data offset processing based on this is used to determine the second data voltage of the driving transistor DRT. By increasing the voltage of the first node N1 , even in a situation in which the first node N1 of the driving transistor DRT is not correctly initialized to the sensing reference voltage VpreS, the first node N1 of the driving transistor DRT ) can be adaptively set to a reference voltage for determining the voltage increase amount (ΔV).

이에 따라, 어떠한 상황에서도, 구동 트랜지스터(DRT)의 이동도를 신속하고 정확하게 센싱할 수 있다. Accordingly, it is possible to quickly and accurately sense the mobility of the driving transistor DRT in any situation.

도 12는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법에 대한 다른 흐름도이다.12 is another flowchart of a method of driving the organic light emitting display device 100 according to the present exemplary embodiments.

도 12를 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법은, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 기준전압(VpreS)을 인가하고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)에 제1데이터전압(Vdata1)을 인가하는 단계(S1210)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)를 플로팅 시키는 단계(S1220)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 플로팅에 따라 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하기 시작하면, 상승 시점 또는 상승 시점으로부터 일정 시간 후에, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)에 제1데이터전압(Vdata1)과 다른 제2데이터 전압(Vdata2)을 인가하는 단계(S1230) 등을 포함할 수 있다. Referring to FIG. 12 , in the method of driving the organic light emitting display device 100 according to the present exemplary embodiments, a reference voltage VpreS is applied to the first node N1 of the driving transistor DRT, and the driving transistor DRT is applied. ) applying the first data voltage Vdata1 to the second node N2 ( S1210 ), floating the first node N1 of the driving transistor DRT ( S1220 ), and the driving transistor DRT ) when the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT starts to rise according to the floating of the first node N1 of The step of applying a second data voltage Vdata2 different from the first data voltage Vdata1 to the node N2 ( S1230 ) may be included.

전술한 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 구동방법을 이용하면, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 상승하는 동안, 기준전압 라인(RVL)의 전압 또는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 2차례 센싱함에 있어서, 데이터 전압의 변경 처리를 통해, 2차례 센싱(샘플링)에도 불구하고, 1차례 센싱(샘플링)이 정확하게 이루어진 것과 동일한 상황에서 정확하고 신속한 센싱을 할 수 있게 해준다. When the driving method of the organic light emitting diode display 100 according to the above-described exemplary embodiments is used, while the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT is increased, In sensing the voltage of the reference voltage line RVL or the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT twice, through a data voltage change process, despite sensing (sampling) twice, once It enables accurate and rapid sensing under the same conditions as when sensing (sampling) was performed correctly.

S1230 단계에서 제2데이터 전압(Vdata1)이 인가된 직후, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)가 플로팅 되기 이전, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)와 제1노드(N1)의 전압 차이(Vgs)와 동일할 수 있다. Immediately after the second data voltage Vdata1 is applied in step S1230, the voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT is The voltage difference Vgs between the second node N2 and the first node N1 of the driving transistor DRT may be equal to the voltage difference Vgs before the node N1 floats.

이에 따라, 2차례 센싱(샘플링)에도 불구하고, 1차례 센싱(샘플링)이 정확하게 이루어진 것과 동일한 상황을 만들어 줄 수 있고, 이를 통해, 신속하면서도 정확한 센싱을 가능하게 할 수 있다. Accordingly, in spite of sensing (sampling) twice, it is possible to create the same situation as when sensing (sampling) is performed once, and through this, it is possible to enable fast and accurate sensing.

이상에서 전술한 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)와 그 구동방법에 이용되는 유기발광표시패널(110)에 대하여 간략하게 설명한다. The organic light emitting display device 100 and the organic light emitting display panel 110 used in the driving method according to the above-described embodiments will be briefly described.

도 13은 본 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)을 나타낸 도면이다.13 is a diagram illustrating the organic light emitting display panel 110 according to the present exemplary embodiment.

도 13을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)은, 제1방향으로 배치된 다수의 데이터 라인(DL)과, 제2방향으로 배치된 다수의 게이트 라인(GL)과, 제1방향으로 배치된 둘 이상의 기준전압 라인(RVL)과, 매트릭스 타입으로 배치되고, 유기발광다이오드(OLED)와 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(DRT)를 각각 포함하는 다수의 서브픽셀(SP)을 포함한다. Referring to FIG. 13 , the organic light emitting display panel 110 according to the present exemplary embodiments includes a plurality of data lines DL disposed in a first direction, a plurality of gate lines GL disposed in a second direction, and , two or more reference voltage lines RVL arranged in the first direction, and a plurality of matrix types each including an organic light emitting diode (OLED) and a driving transistor (DRT) for driving the organic light emitting diode (OLED). It includes a sub-pixel SP.

도 13을 참조하면, 센싱 초기화 단계 이후, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 플로팅에 따라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 또는 기준전압 라인(RVL)의 전압이 상승하는 동안, 데이터 라인(DL)에는, 제1데이터 전압(Vdata1)이 출력되다가 제1데이터 전압(Vdata1)과는 다른 제2데이터 전압(Vdata2)이 출력될 수 있다. Referring to FIG. 13 , after the sensing initialization step, according to the floating of the first node N1 of the driving transistor DRT, the voltage of the first node N1 of the driving transistor DRT or the reference voltage line RVL While the voltage is rising, a first data voltage Vdata1 may be output to the data line DL and a second data voltage Vdata2 different from the first data voltage Vdata1 may be output.

전술한 바에 따르면, 2차례 센싱을 통해 구동 트랜지스터(DRT)의 특성치를 신속하고 정확하게 센싱하는 것이 가능한 유기발광표시패널(110)을 제공할 수 있다. As described above, it is possible to provide the organic light emitting display panel 110 capable of quickly and accurately sensing the characteristic value of the driving transistor DRT through sensing twice.

위에서 언급한 제2데이터 전압(Vdata2)은 제1데이터 전압(Vdata1)에 오프셋 전압(Voffset)이 더해진 전압일 수 있다. The above-mentioned second data voltage Vdata2 may be a voltage obtained by adding an offset voltage Voffset to the first data voltage Vdata1.

이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화를 정확하고 신속하게 센싱하여 정확한 보상을 가능하게 해주는 유기발광표시패널(110), 유기발광표시장치(100) 및 그 구동방법을 제공할 수 있다. According to the present embodiments as described above, the organic light emitting display panel 110, the organic light emitting display device ( 100) and a driving method thereof.

본 실시예들에 의하면, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화에 대한 센싱 구동 시, 2차례의 센싱 기법을 통해, 유동적이면서도 꽤 오랜 시간이 걸릴 수 있는 센싱 초기화 시간을 대폭 단축하여, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화를 신속하게 센싱할 수 있게 해주는 유기발광표시패널(110), 유기발광표시장치(100) 및 그 구동방법을 제공할 수 있다.According to the present embodiments, when the sensing operation for the characteristic value or the characteristic value change of the circuit element in each sub-pixel is driven, the sensing initialization time, which is flexible and can take quite a long time, is greatly shortened through two sensing techniques, It is possible to provide an organic light emitting display panel 110 , an organic light emitting display device 100 , and a driving method thereof that can quickly sense a characteristic value or a change in a characteristic value of a circuit element in each sub-pixel.

본 실시예들에 의하면, 각 서브픽셀 내 회로 소자에 대한 특성치 또는 특성치 변화에 대한 센싱 구동 시, 2차례의 센싱 기법을 통해 유동적이면서도 꽤 오랜 시간이 걸릴 수 있는 센싱 초기화 시간을 대폭 단축하면서도, 데이터 오프셋 처리를 통해 정확한 센싱을 가능하게 하는 유기발광표시패널(110), 유기발광표시장치(100) 및 그 구동방법을 제공할 수 있다.According to the present exemplary embodiments, when sensing a characteristic value or a characteristic value change for a circuit element in each sub-pixel, the sensing initialization time, which is flexible and takes quite a long time, is greatly reduced through two sensing techniques, while the data It is possible to provide the organic light emitting display panel 110 , the organic light emitting display device 100 , and a driving method thereof that enable accurate sensing through offset processing.

이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다. The above description and the accompanying drawings are merely illustrative of the technical spirit of the present invention, and those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can combine configurations within a range that does not depart from the essential characteristics of the present invention. , various modifications and variations such as separation, substitution and alteration will be possible. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical spirit of the present invention, but to explain, and the scope of the technical spirit of the present invention is not limited by these embodiments. The protection scope of the present invention should be construed by the following claims, and all technical ideas within the equivalent range should be construed as being included in the scope of the present invention.

100: 유기발광표시장치
110: 유기발광표시패널
120: 데이터 드라이버
130: 게이트 드라이버
140: 컨트롤러
100: organic light emitting display device
110: organic light emitting display panel
120: data driver
130: gate driver
140: controller

Claims (21)

다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인이 배치되고 다수의 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널; 및
상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버를 포함하고,
상기 다수의 서브픽셀 각각은,
유기발광다이오드와, 상기 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준전압 라인 사이에 연결된 제1트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 연결된 제2트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 제2노드 사이에 연결된 스토리지 캐패시터를 포함하여 구성되고,
상기 기준전압 라인의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압이 상승하는 동안,
상기 기준전압 라인의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압을 2차례 센싱하는 센싱부를 더 포함하고,
상기 데이터 드라이버는,
상기 센싱부가 상기 기준전압 라인의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압을 1차로 센싱하기 이전에는 제1데이터 전압을 상기 데이터 라인으로 출력하고,
상기 센싱부가 상기 기준전압 라인의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압을 1차로 센싱한 이후에는 상기 제1데이터 전압과는 다른 제2데이터 전압을 상기 데이터 라인으로 출력하는 유기발광표시장치.
an organic light emitting display panel in which a plurality of data lines and a plurality of gate lines are disposed and a plurality of subpixels are disposed; and
a data driver for driving the plurality of data lines;
Each of the plurality of sub-pixels,
An organic light emitting diode, a driving transistor for driving the organic light emitting diode, a first transistor connected between the first node of the driving transistor and a reference voltage line, and a second connected between the second node of the driving transistor and a data line a transistor and a storage capacitor connected between a first node and a second node of the driving transistor;
While the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor rises,
Further comprising a sensing unit for sensing the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor twice,
The data driver is
Before the sensing unit first senses the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor, a first data voltage is output to the data line;
After the sensing unit first senses the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor, a second data voltage different from the first data voltage is output to the data line.
제1항에 있어서,
상기 기준전압 라인의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압이 상승하는 동안, 상기 센싱부와 상기 기준전압 라인을 2차례 연결해주는 샘플링 스위치를 더 포함하는 유기발광표시장치.
According to claim 1,
and a sampling switch connecting the sensing unit and the reference voltage line twice while the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor increases.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제2데이터 전압은 상기 제1데이터 전압에 오프셋 전압이 더해진 전압인 유기발광표시장치.
According to claim 1,
The second data voltage is a voltage obtained by adding an offset voltage to the first data voltage.
제4항에 있어서,
상기 오프셋 전압은 상기 센싱부가 상기 기준전압 라인의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압을 1차로 센싱한 1차 센싱 전압에 의해 결정되는 유기발광표시장치.
5. The method of claim 4,
The offset voltage is determined by a primary sensing voltage in which the sensing unit first senses the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor.
제5항에 있어서,
상기 오프셋 전압은 상기 1차 센싱 전압과 기준전압의 차이에 대응되는 유기발광표시장치.
6. The method of claim 5,
The offset voltage corresponds to a difference between the primary sensing voltage and a reference voltage.
제6항에 있어서,
상기 기준전압은,
상기 기준전압 라인의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압이 상승하기 이전에, 상기 기준전압 라인으로 공급되는 유기발광표시장치.
7. The method of claim 6,
The reference voltage is
The organic light emitting diode display is supplied to the reference voltage line before the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor rises.
제1항에 있어서,
상기 데이터 드라이버가 상기 제1데이터 전압을 상기 데이터 라인으로 출력할 때, 상기 구동 트랜지스터의 제2노드와 제1노드 간의 전압 차이와,
상기 데이터 드라이버가 상기 제2데이터 전압을 상기 데이터 라인으로 출력할 때, 상기 구동 트랜지스터의 제2노드와 제1노드 간의 전압 차이는 서로 대응되는 유기발광표시장치.
According to claim 1,
a voltage difference between the second node and the first node of the driving transistor when the data driver outputs the first data voltage to the data line;
When the data driver outputs the second data voltage to the data line, a voltage difference between the second node and the first node of the driving transistor corresponds to each other.
제1항에 있어서,
상기 센싱부가 상기 기준전압 라인의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압을 2차로 센싱한 2차 센싱 전압을 토대로, 상기 구동 트랜지스터의 특성치를 계산하여, 상기 구동 트랜지스터의 특성치 보상 처리를 수행하는 보상부를 더 포함하는 유기발광표시장치.
According to claim 1,
The sensing unit calculates a characteristic value of the driving transistor based on a secondary sensing voltage obtained by secondly sensing the voltage of the reference voltage line or the voltage of the first node of the driving transistor, and performing a characteristic value compensation process of the driving transistor The organic light emitting display device further comprising a compensator.
제9항에 있어서,
상기 보상부는,
상기 2차 센싱 전압을 토대로, 일정 시간 동안 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압 상승량을 산출하여 상기 구동 트랜지스터의 이동도를 계산하는 유기발광표시장치.
10. The method of claim 9,
The compensation unit,
An organic light emitting display device for calculating mobility of the driving transistor by calculating an amount of voltage increase of the first node of the driving transistor for a predetermined time based on the secondary sensing voltage.
유기발광다이오드와 상기 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터를 포함하는 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널과, 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법에 있어서,
상기 구동 트랜지스터의 제1노드에 기준전압을 인가하고, 상기 구동 트랜지스터의 제2노드에 제1데이터전압을 인가하는 초기화 단계; 및
상기 구동 트랜지스터의 제1노드를 플로팅 시켜 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압이 상승하는 동안, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 전기적으로 연결된 다른 지점의 전압을 2차례 센싱하는 센싱 단계를 포함하고,
상기 센싱 단계는,
상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 전기적으로 연결된 다른 지점의 전압을 1차로 센싱하는 1차 센싱 단계;
상기 구동 트랜지스터의 제2노드에 상기 제1데이터전압과는 다른 제2데이터 전압을 인가하는 데이터 오프셋 단계; 및
상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 전기적으로 연결된 다른 지점의 전압을 2차로 센싱하는 2차 센싱 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동방법.
A driving method of an organic light emitting display device comprising: an organic light emitting diode display panel including subpixels including an organic light emitting diode and a driving transistor for driving the organic light emitting diode; and a data driver for driving a data line, the method comprising:
an initialization step of applying a reference voltage to a first node of the driving transistor and applying a first data voltage to a second node of the driving transistor; and
While the voltage of the first node of the driving transistor is increased by floating the first node of the driving transistor, the voltage of the first node of the driving transistor or a voltage at another point electrically connected to the first node of the driving transistor is applied. Including a sensing step of sensing twice,
The sensing step is
a primary sensing step of first sensing a voltage of a first node of the driving transistor or a voltage of another point electrically connected to the first node of the driving transistor;
a data offset step of applying a second data voltage different from the first data voltage to a second node of the driving transistor; and
and a secondary sensing step of secondarily sensing a voltage of a first node of the driving transistor or a voltage at another point electrically connected to the first node of the driving transistor.
삭제delete 제11항에 있어서,
상기 제2데이터 전압은 상기 제1데이터 전압에 오프셋 전압이 더해진 전압인 유기발광표시장치의 구동방법.
12. The method of claim 11,
The second data voltage is a voltage obtained by adding an offset voltage to the first data voltage.
제13항에 있어서,
상기 오프셋 전압은 상기 구동 트랜지스터의 제1노드의 전압 또는 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 전기적으로 연결된 다른 지점의 전압을 1차로 센싱한 1차 센싱 전압에 의해 결정되는 유기발광표시장치의 구동방법.
14. The method of claim 13,
The offset voltage is determined by a primary sensing voltage obtained by first sensing a voltage of a first node of the driving transistor or a voltage at another point electrically connected to the first node of the driving transistor.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
KR1020150135921A 2015-09-24 2015-09-24 Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device KR102333385B1 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150135921A KR102333385B1 (en) 2015-09-24 2015-09-24 Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device
KR1020210151628A KR102374105B1 (en) 2015-09-24 2021-11-05 Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150135921A KR102333385B1 (en) 2015-09-24 2015-09-24 Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210151628A Division KR102374105B1 (en) 2015-09-24 2021-11-05 Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170036569A KR20170036569A (en) 2017-04-03
KR102333385B1 true KR102333385B1 (en) 2021-12-01

Family

ID=58589408

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150135921A KR102333385B1 (en) 2015-09-24 2015-09-24 Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device
KR1020210151628A KR102374105B1 (en) 2015-09-24 2021-11-05 Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210151628A KR102374105B1 (en) 2015-09-24 2021-11-05 Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device

Country Status (1)

Country Link
KR (2) KR102333385B1 (en)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102335376B1 (en) 2016-08-03 2021-12-06 주식회사 엘엑스세미콘 Display driving device
KR102315672B1 (en) * 2017-06-02 2021-10-20 엘지디스플레이 주식회사 Conroller, organic light emitting display device and method for compensating degradation thereof
KR102437176B1 (en) * 2017-11-20 2022-08-26 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting diode display device and method for driving the same
KR102536619B1 (en) * 2018-09-18 2023-05-25 엘지디스플레이 주식회사 Driving circuit, organic light emitting display device, and driving method
KR102618477B1 (en) * 2018-10-12 2023-12-28 삼성디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device and method of driving the same
CN111312150B (en) * 2020-04-02 2022-03-08 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Pixel driving circuit and display panel
KR20230047251A (en) 2021-09-30 2023-04-07 삼성디스플레이 주식회사 Display device

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101475085B1 (en) * 2008-12-29 2014-12-23 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Diode Display
KR101908513B1 (en) * 2011-08-30 2018-10-17 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting diode display device for sensing pixel current and method for sensing pixel current thereof
KR101981677B1 (en) * 2012-12-14 2019-08-28 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display Device and Method for Operating The Same
KR101965335B1 (en) * 2013-03-29 2019-04-04 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display Device and Driving Method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
KR20210135207A (en) 2021-11-12
KR20170036569A (en) 2017-04-03
KR102374105B1 (en) 2022-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102374105B1 (en) Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device
US10204565B2 (en) Organic light emitting display panel having a sensing transistor and method of driving thereof
US10366651B2 (en) Organic light-emitting display device and driving method thereof
KR102537376B1 (en) Gate driving method, sensing driving method, gate driver, and organic light emitting display device
JP2016081030A (en) Organic light-emitting display device
KR102460539B1 (en) Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, source driver ic, operating method of the source driver ic, and driving method of the organic light emitting display device
KR20170060219A (en) Organic light emitting display
KR102673238B1 (en) Pixel circuit and display apparatus
EP3789993B1 (en) Light emitting display device and method of driving same
KR102575436B1 (en) Display device, display panel, driving method, and gate driving circuit
KR20170061784A (en) Organic Light Emitting Display Device and Method of Driving the same
KR102371146B1 (en) Organic light emitting display device and organic light emitting display panel
KR102526241B1 (en) Controller, organic light emitting display device and the method for driving the same
KR20190005019A (en) Organic light emitting display device, driving method, and driving circuit
KR102379393B1 (en) Organic light emitting display device
KR102423045B1 (en) Organic light emitting display device, and the method for driving therof
KR102414311B1 (en) Organic light emitting display device and method for controlling luminance of the organic light emitting display device
KR102244545B1 (en) Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device
KR20170123400A (en) Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device
KR102526232B1 (en) Organic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device
KR102623839B1 (en) Display device, controller, driving circuit, and driving method
KR102156160B1 (en) Organic light emitting display device, organic light emitting display panel, and method for driving the organic light emitting display device
KR102416887B1 (en) Organic light emitting diode display device and operation method thereof
KR102452725B1 (en) Controller, organic light emitting display device, and the method for driving the organic light emitting display device
KR102500858B1 (en) Organic light emitting display device and method for driving the organic light emitting display device

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant