KR101908513B1 - Organic light emitting diode display device for sensing pixel current and method for sensing pixel current thereof - Google Patents

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Abstract

본 발명은 휘도 불균일 보정을 위해 간단한 회로로 화소 전류를 고속으로 측정할 수 있는 OLED 표시 장치와 그의 화소 전류 측정 방법에 관한 것으로, 본 발명의 OLED 표시 장치는 각 화소가 발광 소자와, 그 발광 소자를 독립적으로 구동하는 화소 회로를 포함하는 표시 패널과; 측정 모드에서, 데이터 전압을 이용하여 상기 화소 회로를 구동시킨 다음, 상기 표시 패널에서 상기 화소 회로에 데이터 전압을 공급하는 데이터 라인과, 상기 화소 회로에 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 라인과, 상기 화소 회로에 전원을 공급하는 전원 라인 중 하나를 플로팅시켜서 전류 측정 라인으로 이용하고, 상기 전류 측정 라인으로 흐르는 상기 화소 회로의 화소 전류를 전압으로 측정하여 출력하는 데이터 드라이버를 구비한다.The present invention relates to an OLED display device capable of measuring a pixel current at a high speed with a simple circuit for correcting luminance non-uniformity and a method of measuring a pixel current thereof. In the OLED display device of the present invention, A display panel including a pixel circuit for independently driving the display panel; A data line for supplying a data voltage to the pixel circuit in the display panel after driving the pixel circuit using a data voltage in a measurement mode, a reference line for supplying a reference voltage to the pixel circuit, And a data driver for measuring and outputting the pixel current of the pixel circuit flowing in the current measurement line as a voltage.

Description

화소 전류 측정을 위한 유기 발광 다이오드 표시 장치 및 그의 화소 전류 측정 방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DIODE DISPLAY DEVICE FOR SENSING PIXEL CURRENT AND METHOD FOR SENSING PIXEL CURRENT THEREOF}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an organic light emitting diode (OLED) display device for measuring a pixel current, and a method for measuring a pixel current of the OLED display device.
본 발명은 액티브 매트릭스 유기 발광 다이오드(Active Matrix Organic Light Emitting Diode; 이하 AMOLED) 표시 장치에 관한 것으로, 특히 화소간의 휘도 편차를 보상하기 위하여 각 화소의 전류를 간단한 구조로 고속 측정할 수 있는 AMOLED 표시 장치 및 그의 화소 전류 측정 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an active matrix organic light emitting diode (AMOLED) display device, and more particularly, to an AMOLED display device capable of measuring a current of each pixel with a simple structure at high speed, And a method of measuring a pixel current thereof.
AMOLED 표시 장치는 전자와 정공의 재결합으로 유기 발광층을 발광시키는 자발광 소자로 휘도가 높고 구동 전압이 낮으며 초박막화가 가능하여 차세대 표시 장치로 기대되고 있다. The AMOLED display is a self-luminous device that emits an organic light-emitting layer by recombination of electrons and holes, and is expected to be a next-generation display device because of its high luminance, low driving voltage and ultra thin film.
AMOLED 표시 장치를 구성하는 다수의 화소들 각각은 애노드 및 캐소드 사이의 유기 발광층으로 구성된 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode; 이하 OLED)와, OLED를 독립적으로 구동하는 화소 회로를 구비한다. 화소 회로는 주로 스위칭 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 TFT) 및 커패시터와 구동 TFT를 포함한다. 스위칭 TFT는 스캔 펄스에 응답하여 데이터 신호에 대응하는 전압을 커패시터에 충전하고, 구동 TFT는 커패시터에 충전된 전압의 크기에 따라 OLED로 공급되는 전류의 크기를 제어하여 OLED의 발광량을 조절한다. OLED의 발광량은 구동 TFT로부터 공급되는 전류에 비례한다. Each of the plurality of pixels constituting the AMOLED display device includes an organic light emitting diode (OLED) composed of an organic light emitting layer between the anode and the cathode, and a pixel circuit for independently driving the OLED. The pixel circuit mainly includes a switching thin film transistor (hereinafter referred to as a TFT) and a capacitor and a driving TFT. The switching TFT charges the capacitor corresponding to the data signal in response to the scan pulse and controls the magnitude of the current supplied to the OLED according to the magnitude of the voltage charged in the capacitor to control the amount of light emitted from the OLED. The amount of light emission of the OLED is proportional to the current supplied from the driving TFT.
그러나, OLED 표시 장치는 공정 편차 등의 이유로 화소마다 구동 TFT의 문턱 전압(Vth) 및 이동도(mobility) 등과 같은 특성 차이가 발생하여 OLED를 구동하는 전류량이 달라짐으로써 화소간에 휘도 편차가 발생하게 된다. 일반적으로, 초기의 구동 TFT의 특성 차이는 화면에 얼룩이나 무늬를 발생시키고, OLED를 구동하면서 발생하는 구동 TFT의 열화로 인한 특성 차이는 AMOLED 표시 패널의 수명을 감소시키거나 잔상을 발생시키는 문제점이 있다. However, in the OLED display device, a characteristic difference such as a threshold voltage (Vth) and a mobility of a driving TFT is generated for each pixel for the reason of process variation and the like, so that the amount of current for driving the OLED is varied, . In general, a difference in characteristics between the initial driving TFTs generates spots and patterns on the screen, and a characteristic difference due to the deterioration of the driving TFTs generated while driving the OLEDs causes a problem that the life of the AMOLED display panel is reduced or after- have.
이러한 문제점을 해결하기 위하여, 미국특허 US 7,834,825 등과 같은 선행 특허에서는 각 화소의 전류를 측정하여 측정 결과에 따라 입력 데이터를 보상하는 데이터 보상 방법을 개시하고 있다. 그러나, 선행 특허는 각 화소를 점등하면서 패널의 전원 라인(VDD 또는 VSS 라인)으로 흐르는 전류를 측정하는 방법을 이용함에 따라 해상도가 증가하는 경우 전원 라인에 병렬로 존재하는 기생 커패시터 때문에 전류 측정 시간이 지연되어 고속 측정이 어려운 문제점이 있다. To solve this problem, prior arts such as U.S. Patent No. 7,834,825 disclose a data compensation method for measuring the current of each pixel and compensating the input data according to the measurement result. However, the prior art uses a method of measuring the current flowing to the power supply line (VDD or VSS line) of the panel while lighting each pixel, so that when the resolution increases, the current measurement time is shortened due to parasitic capacitors existing in parallel to the power supply line There is a problem in that high-speed measurement is difficult.
또한 복수의 전류 측정 회로로 복수의 화소의 전류를 동시에 측정하여 고속 측정할 수도 있으나 회로 규모가 커지게 되므로 현실적이지 않은 문제점이 있다. 이로 인하여, 종래의 선행 특허는 제품 출하 이전의 검사 공정에서 초기 구동 TFT간의 특성 편차를 측정하여 보상이 가능하나, 제품 출하 이후에 OLED를 구동하면서 발생하는 구동 TFT의 열화로 인한 특성 편차는 측정 및 보상이 어려운 문제점이 있다. Although a plurality of current measuring circuits can simultaneously measure the currents of a plurality of pixels and measure them at a high speed, the circuit scale becomes large, which is not realistic. Therefore, in the prior art patent, the characteristic deviation between the initial driving TFTs can be compensated by measuring the deviation of the driving TFTs before the product is shipped. However, the characteristic deviation due to the deterioration of the driving TFTs generated while driving the OLED after the product is shipped, There is a problem that compensation is difficult.
본 발명은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 화소간의 휘도 편차를 보상하기 위하여 각 화소의 전류를 간단한 구조로 고속 측정할 수 있는 OLED 표시 장치 및 그의 화소 전류 측정 방법을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the conventional problems, and it is an object of the present invention to provide an OLED display device capable of measuring a current of each pixel with a simple structure at high speed, And to provide a measurement method.
상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치는 각 화소가 발광 소자와, 그 발광 소자를 독립적으로 구동하는 화소 회로를 포함하는 표시 패널과; 측정 모드에서, 데이터 전압을 이용하여 상기 화소 회로와 접속된 데이터 라인을 구동시킨 다음, 상기 표시 패널에서 상기 데이터 라인과, 상기 화소 회로에 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 라인과, 상기 화소 회로에 전원을 공급하는 제1 전원 라인 중 하나를 플로팅시켜서 전류 측정 라인으로 이용하고, 상기 전류 측정 라인으로 흐르는 상기 화소 회로의 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하여 출력하는 데이터 드라이버를 구비하고; 상기 데이터 드라이버는 상기 데이터 라인을 구동하는 구동부와, 상기 전류 측정 라인의 전압을 측정하여 출력하는 측정부를 구비한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an OLED display device for measuring a pixel current according to an embodiment of the present invention includes: a display panel including pixels each including a light emitting element and a pixel circuit for independently driving the light emitting element; A reference line for supplying a reference voltage to the data line and the pixel circuit in the display panel after driving a data line connected to the pixel circuit using a data voltage in a measurement mode, And a data driver which uses one of the first power supply lines to supply a current as a current measurement line and measures and outputs a voltage corresponding to a pixel current of the pixel circuit flowing to the current measurement line; The data driver includes a driving unit for driving the data line, and a measuring unit for measuring and outputting a voltage of the current measuring line.
상기 데이터 드라이버의 구동부는 출력 채널을 통해 상기 데이터 라인으로 데이터 전압을 공급하는 디지털-아날로그 컨버터를 포함하고; 상기 데이터 드라이버의 측정부는 상기 디지털-아날로그 컨버터와 상기 출력 채널에 병렬 접속되어 상기 전류 측정 라인의 전압을 샘플링 및 홀딩하여 상기 측정 전압으로 출력하는 샘플링 및 홀딩 회로와; 상기 샘플링 및 홀딩 회로로부터의 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 컨버터를 구비한다.Wherein the driver of the data driver includes a digital-to-analog converter for supplying a data voltage to the data line through an output channel; A sampling and holding circuit connected in parallel to the digital-analog converter and the output channel for sampling and holding the voltage of the current measurement line and outputting the measured voltage as the measurement voltage; And an analog-to-digital converter for converting the measured voltage from the sampling and holding circuit into digital data and outputting the digital data.
상기 데이터 드라이버의 측정부는 상기 측정 모드에서 샘플링 신호를 순차적으로 출력하는 쉬프트 레지스터와; 상기 샘플링 신호에 응답하여 상기 샘플링 및 홀드 회로의 다수의 출력을 순차적으로 상기 아날로그-디지털 컨버터로 출력하는 멀티플렉서를 추가로 구비한다.Wherein the measuring unit of the data driver includes: a shift register for sequentially outputting sampling signals in the measurement mode; And a multiplexer for sequentially outputting a plurality of outputs of the sampling and holding circuit to the analog-to-digital converter in response to the sampling signal.
상기 발광 소자의 캐소드와 접속된 제2 전원 라인을 저전위 전원 또는 고전위 전원과 접속시는 전원 스위치를 추가로 구비하고; 상기 데이터 드라이버의 구동부는 상기 디지털-아날로그 컨버터와 상기 출력 채널 사이에 채널별로 접속된 제1 스위치를 추가로 구비하고; 상기 데이터 드라이버의 측정부는 상기 출력 채널과 상기 샘플링 및 홀딩 회로 사이에 채널별로 접속된 제2 스위치를 추가로 구비하며; 상기 전원 스위치는 표시 모드에서는 상기 저전위 전원을 상기 전원 라인과 접속시키고, 상기 측정 모드에서는 상기 고전위 전원을 상기 전원 라인과 접속시키고, 상기 제1 스위치는 상기 표시 모드와, 상기 측정 모드의 데이터 공급 기간에서 상기 디지털-아날로그 컨버터를 상기 출력 채널과 접속시키고, 상기 제2 스위치는 상기 제1 스위치와 반대로, 상기 측정 모드의 측정 기간에서 상기 출력 채널을 상기 샘플링 및 홀딩 회로와 접속시킨다.Further comprising a power switch for connecting the second power line connected to the cathode of the light emitting element to the low potential power source or the high potential power source; The driving unit of the data driver further comprises a first switch connected between the digital-analog converter and the output channel on a channel-by-channel basis; Wherein the measuring unit of the data driver further comprises a second switch connected between the output channel and the sampling and holding circuit on a channel-by-channel basis; Wherein the power switch connects the low potential power supply to the power supply line in the display mode and connects the high potential power supply to the power supply line in the measurement mode, And said second switch connects said output channel to said sampling and holding circuit during a measurement period of said measurement mode, as opposed to said first switch, said digital-to-analog converter being connected to said output channel in a supply period.
상기 표시 패널은 상기 데이터 드라이버의 출력 채널과 상기 데이터 라인 사이에 채널별로 접속된 제3 스위치와, 상기 출력 채널과 상기 레퍼런스 라인 사이에 채널별로 접속된 제4 스위치와, 상기 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 공통 라인과 상기 레퍼런스 라인 사이에 채널별로 접속된 제5 스위치를 추가로 구비하고, 상기 제3 스위치는 상기 표시 모드와, 상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간에서 상기 출력 채널을 상기 데이터 라인과 접속시키고, 상기 제4 스위치는 상기 측정 모드의 상기 측정 기간에서 상기 출력 채널을 상기 레퍼런스 라인과 접속시키고, 상기 제5 스위치는 상기 표시 모드와, 상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간에서 상기 레퍼런스 공통 라인을 상기 레퍼런스 라인과 접속시킨다.The display panel includes a third switch connected between the output channel of the data driver and the data line on a channel-by-channel basis, a fourth switch connected between the output channel and the reference line for each channel, And a fifth switch connected between the common line and the reference line on a channel-by-channel basis, wherein the third switch connects the output channel with the data line in the display mode and the data supply period of the measurement mode , The fourth switch connects the output channel to the reference line in the measurement period of the measurement mode, and the fifth switch connects the reference common line in the display mode and the data supply period of the measurement mode Connect to the reference line.
상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이에 존재하는 프리차지 기간에서, 상기 제2, 제4, 제5 스위치가 턴-온되어 상기 샘플링 및 홀딩 회로와 접속된 상기 출력 채널을 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압으로 프리차지한다.The second, fourth, and fifth switches are turned on and connected to the sampling and holding circuit in the precharge period existing between the data supply period and the measurement period of the measurement mode, Precharges to the reference voltage from the line.
상기 화소 회로는 상기 제1 및 제2 전원 라인 사이에 상기 발광 소자와 직렬 접속되어 상기 발광 소자를 구동하는 구동 TFT와, 제1 스캔 라인의 제1 스캔 신호에 응답하여 상기 데이터 라인으로부터의 데이터 전압을 상기 구동 TFT의 게이트 전극과 접속된 제1 노드로 공급하는 제1 스위칭 TFT와; 제2 스캔 라인의 제2 스캔 신호에 응답하여 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압을 상기 구동 TFT와 상기 발광 소자 사이에 접속된 제2 노드로 공급하는 제2 스위칭 TFT와; 상기 제1 및 제2 노드간의 전압을 충전하여 상기 구동 TFT의 구동 전압으로 공급하는 스토리지 커패시터를 구비하고; 상기 측정 모드에서, 상기 제1 스위칭 TFT는 데이터 공급 기간에서만 턴-온되고, 상기 측정 모드에서, 상기 제2 스위칭 TFT는 상기 데이터 공급 기간으로부터 상기 측정 기간까지 턴-온되고, 상기 측정 기간에서는 상기 구동 TFT로부터의 상기 화소 전류가 상기 레퍼런스 라인으로 흐르게 하고, 상기 측정부는 상기 측정 기간에서 상기 레퍼런스 라인 및 상기 출력 채널을 통해 상기 화소 전류에 비례하여 상승하는 전압을 측정하여 출력한다.The pixel circuit including a driving TFT connected between the first and second power lines in series with the light emitting element to drive the light emitting element; To the first node connected to the gate electrode of the driving TFT; A second switching TFT for supplying the reference voltage from the reference line to a second node connected between the driving TFT and the light emitting element in response to a second scan signal of the second scan line; And a storage capacitor which charges the voltage between the first and second nodes and supplies the charged voltage to the driving voltage of the driving TFT; In the measurement mode, the first switching TFT is turned on only in a data supply period, and in the measurement mode, the second switching TFT is turned on from the data supply period to the measurement period, The pixel current from the driving TFT flows to the reference line and the measuring unit measures and outputs a voltage rising in proportion to the pixel current through the reference line and the output channel in the measurement period.
상기 화소 회로는 상기 제1 및 제2 전원 라인 사이에 상기 발광 소자와 직렬 접속되어 상기 발광 소자를 구동하는 구동 TFT와, 제1 스캔 라인의 제1 스캔 신호에 응답하여 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압을 상기 구동 TFT의 게이트 전극과 접속된 제1 노드로 공급하는 제1 스위칭 TFT와; 제2 스캔 라인의 제2 스캔 신호에 응답하여 상기 데이터 라인으로부터의 상기 데이터 전압을 상기 구동 TFT와 상기 발광 소자 사이에 접속된 제2 노드로 공급하는 제2 스위칭 TFT와; 상기 제1 및 제2 노드간의 전압을 충전하여 상기 구동 TFT의 구동 전압으로 공급하는 스토리지 커패시터를 구비하고; 상기 측정 모드에서, 제1 스위칭 TFT는 데이터 공급 기간에서만 턴-온되고, 상기 측정 모드에서, 상기 제2 스위칭 TFT는 상기 측정 모드의 데이터 공급 기간으로부터 상기 측정 기간까지 턴-온되며, 상기 측정 기간에서 상기 구동 TFT로부터의 상기 화소 전류가 상기 데이터 라인으로 흐르게 하고, 상기 측정부는 상기 측정 기간에서 상기 데이터 라인 및 상기 출력 채널을 통해 상기 화소 전류에 비례하여 상승하는 전압을 측정하여 출력한다.Wherein the pixel circuit comprises: a driving TFT connected between the first and second power supply lines in series with the light emitting element to drive the light emitting element; and a driver circuit for receiving the reference from the reference line in response to a first scan signal of the first scan line, A first switching TFT for supplying a voltage to a first node connected to a gate electrode of the driving TFT; A second switching TFT for supplying the data voltage from the data line to a second node connected between the driving TFT and the light emitting element in response to a second scan signal of the second scan line; And a storage capacitor which charges the voltage between the first and second nodes and supplies the charged voltage to the driving voltage of the driving TFT; In the measurement mode, the first switching TFT is turned on only in the data supply period, and in the measurement mode, the second switching TFT is turned on from the data supply period of the measurement mode to the measurement period, And the measuring unit measures and outputs a voltage rising in proportion to the pixel current through the data line and the output channel in the measurement period.
상기 제1 스위치는 상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이에 존재하는 프리차지 기간에서 턴-온되어 상기 디지털-아날로그 컨버터로부터의 프리차지 전압을 상기 데이터 라인으로 공급한다.The first switch is turned on in a precharge period existing between the data supply period and the measurement period of the measurement mode, and supplies the precharge voltage from the digital-analog converter to the data line.
본 발명의 다른 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치는 각 화소가 발광 소자와, 그 발광 소자를 독립적으로 구동하는 화소 회로와, 상기 화소 회로와 접속되고 서로 나란한 데이터 라인 및 제1 전원 라인을 포함하는 표시 패널과; 표시 모드 및 측정 모드에서 상기 데이터 라인으로 데이터 전압을 공급하는 데이터 드라이버와; 상기 표시 모드 및 상기 측정 모드에서 상기 화소 회로의 구동을 위해 상기 제1 전원 라인으로 고전위 전원을 공급하고, 상기 측정 모드의 측정 기간에서 상기 제1 전원 라인으로의 상기 고전위 전원의 공급을 차단한 후, 상기 제1 전원 라인을 전류 측정 라인으로 이용하여 상기 화소 회로의 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하여 출력하는 측정부를 구비한다.An OLED display device for measuring a pixel current according to another embodiment of the present invention includes a plurality of pixels each including a light emitting element, a pixel circuit for independently driving the light emitting element, a data line connected to the pixel circuit, A display panel including a line; A data driver for supplying a data voltage to the data lines in a display mode and a measurement mode; And supplies a high-potential power supply to the first power supply line for driving the pixel circuit in the display mode and the measurement mode, and stops supply of the high-potential power supply to the first power supply line in the measurement period of the measurement mode And a measuring unit for measuring and outputting a voltage corresponding to a pixel current of the pixel circuit using the first power supply line as a current measuring line.
상기 측정부는 상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 전원 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속된 제1 스위치와; 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하고, 그 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 컨버터를 구비하고; 상기 제1 스위치는 측정 모드의 측정 기간에서만 턴-오프된다.Wherein the measuring unit comprises: a first switch connected between the high potential power supply common line for supplying the high potential power and the first power supply line for each channel; An analog-to-digital converter for measuring a voltage on the first power supply line, converting the measured voltage into digital data, and outputting the digital data; The first switch is turned off only during the measurement period of the measurement mode.
상기 측정부는 상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 전원 공통 라인과, 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속된 제1 스위치와; 상기 제1 전원 라인에 채널별로 접속되고, 상기 측정 모드에서 상기 제1 전원 라인의 전압을 샘플링 및 홀딩하여 상기 측정 전압으로 출력하는 샘플링 및 홀딩 회로와; 상기 측정 모드에서 샘플링 신호를 순차적으로 출력하는 쉬프트 레지스터와; 상기 샘플링 신호에 응답하여 상기 샘플링 및 홀드 회로의 다수의 출력을 순차적으로 출력하는 멀티플렉서와; 상기 멀티플렉서의 출력 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 컨버터를 구비한다.The measuring unit may include: a high-potential power supply common line for supplying the high-potential power supply; a first switch connected between the first power supply line and the first switch; A sampling and holding circuit connected to the first power supply line on a channel-by-channel basis, for sampling and holding a voltage of the first power supply line in the measurement mode and outputting the measured voltage as the measurement voltage; A shift register for sequentially outputting sampling signals in the measurement mode; A multiplexer for sequentially outputting a plurality of outputs of the sampling and holding circuit in response to the sampling signal; And an analog-to-digital converter for converting an output voltage of the multiplexer into digital data and outputting the digital data.
상기 측정부는 상기 데이터 드라이버에 내장된다.The measurement unit is embedded in the data driver.
상기 화소 회로는 상기 제1 전원 라인과 제2 전원 라인 사이에 상기 발광 소자와 직렬 접속되어 상기 발광 소자를 구동하는 p형 구동 TFT와, 스캔 라인의 스캔 신호에 응답하여 상기 데이터 라인으로부터의 상기 데이터 전압을 상기 구동 TFT의 게이트 전극과 접속된 제1 노드로 공급하는 n형 스위칭 TFT와; 상기 제1 노드와, 상기 제1 전원 라인과 상기 구동 TFT가 공통 접속된 제2 노드 사이의 전압을 충전하여 상기 구동 TFT의 구동 전압으로 공급하는 스토리지 커패시터를 구비한다.Wherein the pixel circuit includes a p-type driver TFT connected between the first power supply line and the second power supply line in series with the light emitting element to drive the light emitting element, An n-type switching TFT for supplying a voltage to a first node connected to a gate electrode of the driving TFT; And a storage capacitor for charging a voltage between the first node and a second node connected in common between the first power supply line and the drive TFT and supplying the voltage to the drive voltage of the drive TFT.
상기 표시 패널은 상기 화소 회로에 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 라인을 더 구비하고, 상기 화소 회로는 상기 제1 전원 라인과 제2 전원 라인 사이에 상기 발광 소자와 직렬 접속되어 상기 발광 소자를 구동하는 구동 TFT와, 스캔 라인의 스캔 신호에 응답하여 상기 데이터 라인으로부터의 상기 데이터 전압을 상기 구동 TFT의 게이트 전극과 접속된 제1 노드로 공급하는 제1 스위칭 TFT와; 상기 스캔 라인의 스캔 신호에 응답하여 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압을 상기 구동 TFT와 상기 발광 소자 사이에 접속된 제2 노드로 공급하는 제2 스위칭 TFT와; 상기 제1 및 제2 노드 사이의 전압을 충전하여 상기 구동 TFT의 구동 전압으로 공급하는 스토리지 커패시터를 구비한다.Wherein the display panel further comprises a reference line for supplying a reference voltage to the pixel circuit, wherein the pixel circuit is connected between the first power supply line and the second power supply line in series with the light emitting element to drive the light emitting element A first switching TFT for supplying the data voltage from the data line to a first node connected to the gate electrode of the driving TFT in response to a scan signal of the scan line; A second switching TFT for supplying the reference voltage from the reference line to a second node connected between the driving TFT and the light emitting element in response to a scan signal of the scan line; And a storage capacitor which charges a voltage between the first and second nodes and supplies the charged voltage to the driving voltage of the driving TFT.
상기 표시 패널은 상기 화소 회로에 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 라인과, 상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 공통 라인과, 상기 고전위 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속되고, 제1 제어 라인의 제1 제어 신호에 응답하여 상기 고전위 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 접속을 스위칭하는 제2 스위치와; 상기 데이터 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속되고, 제2 제어 라인의 제2 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 접속을 스위칭하는 제3 스위치를 추가로 구비하고, 상기 측정 모드의 측정 기간에서, 상기 측정부는 상기 데이터 라인 및 상기 제3 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하여 출력한다.Wherein the display panel is connected to a reference line for supplying a reference voltage to the pixel circuit, a high potential common line for supplying the high potential power, and a high potential common line for connecting the high potential common line and the first power supply line, A second switch for switching a connection between the high potential common line and the first power supply line in response to a first control signal of the control line; Further comprising a third switch connected between the data line and the first power line for each channel and switching a connection between the data line and the first power line in response to a second control signal of the second control line And in the measurement period of the measurement mode, the measurement unit measures and outputs the voltage on the first power line through the data line and the third switch.
상기 데이터 드라이버는 출력 채널을 통해 상기 데이터 라인으로 상기 데이터 전압을 공급하는 디지털-아날로그 컨버터와; 상기 디지털-아날로그 컨버터와 상기 출력 채널 사이에 채널별로 접속된 제1 스위치와; 상기 디지털-아날로그 컨버터와 상기 출력 채널에 병렬 접속되고, 상기 출력 채널과 접속된 상기 데이터 라인 및 상기 제3 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하여 출력하는 상기 측정부를 구한다.The data driver including a digital-to-analog converter for supplying the data voltage to the data line via an output channel; A first switch connected between the digital-analog converter and the output channel on a channel-by-channel basis; And the measurement unit that is connected in parallel to the digital-analog converter and the output channel and measures and outputs the voltage on the first power line through the data line connected to the output channel and the third switch.
상기 측정 모드의 데이터 공급 기간에서, 상기 제1 스위치는 상기 디지털-아날로그 컨버터로부터의 데이터 전압을 상기 출력 채널을 통해 상기 데이터 라인으로 공급하고, 상기 제2 스위치는 상기 고전위 공통 라인으로부터의 고전위 전원을 상기 제1 전원 라인으로 공급하고; 상기 측정 모드의 측정 기간에서, 상기 제1 및 제2 스위치가 턴-오프되고, 상기 제3 스위치가 턴-온되어, 상기 출력 채널과 접속된 상기 데이터 라인 및 상기 제3 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정한다.Wherein the first switch supplies a data voltage from the digital-analog converter to the data line via the output channel in a data supply period of the measurement mode, and the second switch supplies a data voltage from the high- Supplying power to the first power line; In the measurement period of the measurement mode, the first and second switches are turned off, the third switch is turned on, the data line connected to the output channel, and the first switch Measure the voltage on the power line.
상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간의 프리차지 기간에서, 상기 제2 스위치가 턴-오프되기 이전에 상기 제3 스위치가 턴-온됨과 아울러 상기 제1 스위치가 턴-오프되어 상기 데이터 라인 및 출력 채널을 상기 고전위 전압으로 프리차지한다.The third switch is turned on and the first switch is turned off before the second switch is turned off in the data supply period of the measurement mode and the precharge period of the measurement period, Line and output channels to the high potential voltage.
본 발명의 OLED 표시 장치는 상기 측정 모드에서, 상기 데이터 드라이버로부터 출력된 측정 전압과, 상기 측정 기간과, 상기 전류 측정 라인과 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스를 이용하여 상기 화소 전류를 산출하고, 산출된 화소 전류를 이용하여 보상치를 산출하여 저장하는 타이밍 컨트롤러를 추가로 구비한다.The OLED display of the present invention calculates the pixel current using the measured voltage output from the data driver, the measurement period, and the capacitance of the capacitor connected in parallel with the current measurement line in the measurement mode, And a timing controller for calculating and storing the compensation value using the pixel current.
상기 타이밍 컨트롤러는 상기 측정 모드에서, 상기 데이터 드라이버에서 상기 전류 측정 라인 상의 전압을 측정하여 출력하는 측정 전압(V1, V2)과, 그 측정 전압의 측정 시간(t1, t2)과, 상기 전류 측정 라인과 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스(C)를 이용한 아래의 수학식 1과 같은 연산을 통해 상기 화소 전류(I)를 산출한다.Wherein the timing controller is configured to measure the measurement voltage (V1, V2) for measuring and outputting the voltage on the current measurement line in the data driver, the measurement time (t1, t2) And the capacitance C of the capacitor connected in parallel to the pixel current I in accordance with the following equation (1).
<수학식 1>&Quot; (1) &quot;
I = C×(V2-V1)/(t2-t1)I = C (V2 - V1) / (t2 - t1)
여기서, V1 및 V2은 t1 및 t2 시점에서 각각 측정된 전압이다.Here, V1 and V2 are measured voltages at the time t1 and t2, respectively.
상기 커패시턴스는 상기 전류 측정 라인에 존재하는 기생 커패시터의 커패시턴스와, 상기 측정부의 입력단에 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스의 합이다.The capacitance is a sum of a capacitance of a parasitic capacitor existing in the current measurement line and a capacitance of a capacitor connected in parallel to an input terminal of the measurement unit.
상기 커패시턴스는 상기 제1 전원 라인에 존재하는 기생 커패시터의 커패시턴스와, 상기 데이터 라인에 존재하는 기생 커패시턴스의 합이다.The capacitance is a sum of a capacitance of a parasitic capacitor existing in the first power supply line and a parasitic capacitance existing in the data line.
본 발명의 실시예에 따른 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법은 측정 모드의 데이터 공급 기간에서, 데이터 전압을 상기 화소 회로에 공급하여 상기 화소 회로를 구동하는 단계와; 상기 측정 모드의 측정 기간에서, 상기 화소 회로와 접속된 데이터 라인과, 레퍼런스 라인과, 제1 전원 라인 중 하나를 플로팅시켜서 전류 측정 라인으로 이용하고, 상기 전류 측정 라인으로 흐르는 상기 화소 회로의 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하여 출력하는 단계를 포함한다.A method of measuring a pixel current of an OLED display according to an exemplary embodiment of the present invention includes: supplying a data voltage to the pixel circuit in a data supply period of a measurement mode to drive the pixel circuit; Wherein one of the data line connected to the pixel circuit, the reference line, and the first power supply line is used as a current measurement line in a measurement period of the measurement mode, and the pixel current And outputting the measured voltage.
상기 데이터 공급 기간에서, 데이터 드라이버의 디지털-아날로그 컨버터와 출력 채널 사이에 접속된 제1 스위치를 통해 상기 데이터 전압을 상기 출력 채널을 통해 상기 데이터 라인으로 공급하고, 상기 측정 기간에서, 상기 데이터 드라이버내에서 상기 제1 스위치와 상기 출력 채널에 병렬 접속되고, 상기 제1 스위치와 상반된 동작을 하는 제2 스위치를 통해 상기 전류 측정 라인 상의 전압을 샘플링 및 홀딩하여 측정하고, 상기 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력한다.In the data supply period, supplies the data voltage via the output channel to the data line through a first switch connected between the digital-analog converter and the output channel of the data driver, and in the measurement period, Wherein the voltage on the current measurement line is sampled and held through a second switch connected in parallel to the first switch and the output channel and operated in a manner opposite to the first switch to convert the measured voltage into digital data And outputs it.
상기 데이터 공급 기간에서, 제3 스위치를 통해 상기 데이터 드라이버의 출력 채널이 상기 데이터 라인과 접속되고, 상기 출력 채널과 상기 레퍼런스 라인 사이의 제4 스위치는 오프되고, 제5 스위치를 통해 상기 레퍼런스 라인에는 레퍼런스 전압이 공급되며, 상기 측정 기간에서, 상기 제3 및 제5 스위치는 오프되고, 상기 제4 스위치를 통해 상기 출력 채널에 상기 레퍼런스 라인이 접속되어 상기 레퍼런스 라인을 통해 상기 화소 전류에 대응하는 전압을 측정한다.In the data supply period, the output channel of the data driver is connected to the data line through the third switch, the fourth switch between the output channel and the reference line is turned off, and the reference line The reference voltage is supplied, and in the measurement period, the third and fifth switches are turned off, the reference line is connected to the output channel through the fourth switch, and the voltage corresponding to the pixel current .
본 발명의 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법은 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이의 프리차지 기간에서, 상기 제2, 제4, 제5 스위치가 턴-온되어 상기 출력 채널을 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압으로 프리차지하는 단계를 추가로 포함한다.In the pixel current measuring method of the OLED display of the present invention, the second, fourth, and fifth switches are turned on in the precharge period between the data supply period and the measurement period to turn the output channel from the reference line Lt; RTI ID = 0.0 &gt; reference voltage &lt; / RTI &gt;
본 발명의 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법은 상기 측정 기간에서, 상기 제2 스위치 및 상기 데이터 라인 라인을 통해 상기 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하고, 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이의 프리차지 기간에서, 상기 제1 스위치가 턴-온되어 상기 디지털-아날로그 컨버터로부터의 프리차지 전압을 상기 데이터 라인으로 공급하는 단계를 추가로 포함한다.A method of measuring a pixel current of an OLED display device according to the present invention is characterized by measuring a voltage corresponding to the pixel current through the second switch and the data line in the measurement period, Further comprising the step of, during a charge period, turning on the first switch to supply a pre-charge voltage from the digital-to-analog converter to the data line.
본 발명의 다른 실시예에 따른 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법은, OLED 표시 장치가 각 화소가 발광 소자와, 그 발광 소자를 독립적으로 구동하는 화소 회로와, 상기 화소 회로와 접속되고 서로 나란한 데이터 라인 및 제1 전원 라인을 포함하고, 측정 모드의 데이터 공급 기간에서, 상기 데이터 라인에 데이터 전압을 공급하고, 상기 제1 전원 라인에 고전위 전원을 공급하여 상기 화소 회로를 구동하는 단계와, 상기 측정 모드의 측정 기간에서, 상기 데이터 라인으로부터 상기 화소 회로로의 상기 데이터 전압의 공급을 차단함과 아울러 상기 제1 전원 라인으로의 상기 고전위 전원의 공급을 차단한 후, 상기 제1 전원 라인을 전류 측정 라인으로 이용하여 상기 화소 회로의 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하여 출력하는 단계를 포함한다.A method of measuring a pixel current of an OLED display device according to another embodiment of the present invention is a method of measuring a pixel current of an OLED display device, wherein each pixel includes a light emitting element, a pixel circuit for independently driving the light emitting element, Driving the pixel circuit by supplying a data voltage to the data line and supplying a high potential power to the first power line in a data supply period of the measurement mode, Wherein the control circuit stops the supply of the data voltage from the data line to the pixel circuit in the measurement period of the measurement mode and interrupts the supply of the high potential power to the first power supply line, And measuring and outputting a voltage corresponding to the pixel current of the pixel circuit using the current as a current measurement line.
본 발명의 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법은, 상기 데이터 공급 기간에서, 상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 전원 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 제1 스위치가 턴-온되고, 상기 측정 기간에서, 상기 제1 스위치가 턴-오프되고 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하고, 그 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력하고, 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이에서, 상기 데이터 라인으로부터 상기 화소 회로로의 상기 데이터 전압의 공급을 차단한 후 상기 제1 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인에 상기 고전위 전원의 공급을 유지하는 단계를 추가로 포함한다.In the pixel current measuring method of the OLED display of the present invention, in the data supply period, the first switch between the high potential power supply common line supplying the high potential power and the first power supply line is turned on, The first switch is turned off and the voltage on the first power supply line is measured, and the measured voltage is converted into digital data and outputted, and between the data supply period and the measurement period, Further comprising the step of interrupting the supply of the data voltage to the pixel circuit and then maintaining the supply of the high potential power supply to the first power supply line through the first switch.
상기 데이터 공급 기간에서, 상기 화소 회로의 구동 TFT는 상기 데이터 전압과 상기 고전위 전원과의 차전압을 이용하여 구동한다.In the data supply period, the driving TFT of the pixel circuit drives using the difference voltage between the data voltage and the high potential power supply.
상기 OLED 표시 장치는 상기 화소 회로에 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 라인을 추가로 구비하고, 상기 데이터 공급 기간에서, 상기 화소 회로의 구동 TFT는 상기 데이터 전압과 상기 레퍼런스 전압과의 차전압을 이용하여 구동한다.Wherein the OLED display device further comprises a reference line for supplying a reference voltage to the pixel circuit, and in the data supply period, the driving TFT of the pixel circuit is driven by using a difference voltage between the data voltage and the reference voltage do.
상기 OLED 표시 장치는 데이터 드라이버에서 디지털-아날로그 컨버터와 출력 채널 사이에 접속된 제1 스위치와; 표시 패널에서 상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속되고, 제1 제어 라인의 제1 제어 신호에 응답하여 상기 고전위 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 접속을 스위칭하는 제2 스위치와; 상기 표시 패널에서 상기 데이터 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속되고, 제2 제어 라인의 제2 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 접속을 스위칭하는 제3 스위치를 추가로 구비하고, 상기 데이터 공급 기간에서, 상기 제1 스위치를 통해 상기 데이터 라인에 상기 데이터 전압을 공급하고, 상기 제2 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인에 상기 고전위 전원을 공급하고, 상기 측정 기간에서, 상기 제1 및 제2 스위치는 턴-오프되고, 상기 데이터 라인 및 상기 제3 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하여 출력한다.The OLED display comprises a first switch connected between the digital-to-analog converter and an output channel in a data driver; And a second control line connected in common between the high potential common line for supplying the high potential power to the display panel and the first power line, A second switch for switching a connection between the first switch and the second switch; A third switch connected between the data line and the first power supply line in the display panel on a channel-by-channel basis and switching a connection between the data line and the first power supply line in response to a second control signal of the second control line; In the data supply period, supplies the data voltage to the data line through the first switch, supplies the high-potential power supply to the first power supply line through the second switch, In the measurement period, the first and second switches are turned off and measure and output the voltage on the first power line through the data line and the third switch.
본 발명의 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법은 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간의 프리차지 기간에서, 상기 제2 스위치가 턴-오프되기 이전에 상기 제3 스위치가 턴-온됨과 아울러 상기 제1 스위치가 턴-오프되어 상기 데이터 라인 및 출력 채널을 상기 고전위 전압으로 프리차지하는 단계를 추가로 포함한다.The method for measuring a pixel current of an OLED display according to the present invention is characterized in that, in the data supply period and the precharge period of the measurement period, before the second switch is turned off, the third switch is turned on, Further comprising the step of precharging the data line and the output channel to the high voltage by turning the switch off.
본 발명의 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법은 상기 측정 모드에서, 상기 측정 전압과, 상기 측정 기간과, 상기 전류 측정 라인과 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스를 이용하여 상기 화소 전류를 산출하고, 산출된 화소 전류를 이용하여 보상치를 산출하여 저장하는 단계를 추가로 포함한다.The pixel current measuring method of an OLED display according to the present invention is characterized in that in the measuring mode, the pixel current is calculated using the measured voltage, the measuring period, and the capacitance of a capacitor connected in parallel with the current measuring line, And calculating and storing the compensation value using the pixel current.
상기 화소 전류(I)는, 상기 측정 전압(V1, V2)과, 그 측정 전압의 측정 시간(t1, t2)과, 상기 전류 측정 라인과 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스(C)를 이용한 상기 수학식 1과 같은 연산을 통해 산출한다.Wherein the pixel current I is calculated based on the measured voltages V1 and V2 and the measurement times t1 and t2 of the measured voltages and the capacitance C of the capacitors connected in parallel with the current measurement line 1 &lt; / RTI &gt;
본 발명에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치 및 그의 화소 전류 측정 방법은 측정 모드에서 표시 패널의 레퍼런스 라인 또는 데이터 라인과 병렬 접속된 커패시터에 화소 전류를 유입시켜 충전시키고, 상기 커패시터에 충전되는 전압을 샘플링 및 홀딩하여 측정하는 것으로 구동 TFT에 흐르는 화소 전류를 순차적으로 고속 측정하여 휘도 불균일을 보정할 수 있다.An OLED display device for measuring a pixel current according to the present invention and a method for measuring a pixel current of the OLED display device according to the present invention are characterized by charging a pixel current into a capacitor connected in parallel with a reference line or a data line of a display panel in a measurement mode, The pixel currents flowing through the driving TFTs can be sequentially measured at a high speed to correct the luminance unevenness.
또한, 본 발명에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치 및 그 화소 전류 측정 방법은 측정 모드에서 데이터 라인과 나란한 제1 전원 라인을 통해 구동 TFT에 흐르는 화소 전류를 전압으로 측정함으로써 화소 전류를 순차적으로 고속 측정할 수 있다.The OLED display device and the pixel current measurement method for measuring the pixel current according to the present invention measure pixel current flowing in a driving TFT through a first power line parallel to a data line in a measurement mode as a voltage, High-speed measurement is possible.
또한, 본 발명에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치 및 그 화소 전류 측정 방법은 데이터 드라이버를 통해 각 화소 전류를 간단한 구성으로 고속으로 측정할 수 있다. 이에 따라, 본 발명은 제품 출하전의 검사 공정뿐만 아니라 제품 출하 이후에도 OLED 표시 장치가 구동되는 표시 모드 사이마다 측정 모드를 삽입하여 각 화소 전류를 측정하여 초기 구동 TFT의 특성 편차뿐만 아니라 구동 TFT의 열화로 인한 특성 편차도 보상할 수 있으므로, OLED 표시 장치의 수명 및 화질을 증가시킬 수 있다. In addition, the OLED display and the pixel current measurement method for measuring the pixel current according to the present invention can measure each pixel current at a high speed with a simple configuration through a data driver. Accordingly, in the present invention, not only the inspection process before the product shipment but also the measurement mode is inserted between display modes in which the OLED display device is driven even after the product is shipped, and each pixel current is measured to determine not only the characteristic drift of the initial driving TFT, It is possible to increase the lifetime and image quality of the OLED display device.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 대표적인 일부 구성을 나타낸 회로도이다.
도 2는 도 1에 도시된 OLED 표시 장치의 표시 모드의 동작 상태를 나타낸 회로도이다.
도 3은 도 2에 도시된 OLED 표시 장치의 표시 모드의 구동 파형도이다.
도 4a 및 도 4b는 도 1에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드의 동작 상태를 나타낸 회로도이다.
도 5는 도 4a 및 도 4b에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드의 구동 파형도이다.
도 6은 도 4b에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드의 등가 회로도이다.
도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 표시 모드의 동작 상태를 나타낸 회로도이다.
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 측정 모드의 동작 상태를 나타낸 회로도이다.
도 9는 도 8에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드의 구동 파형도이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 데이터 드라이버의 내부 구성을 나타낸 블록도이다.
도 11a 및 도 11b는 도 4b에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드에서 화소 전류와 측정 전압의 관계를 시뮬레이션하여 나타낸 파형도이다.
도 12는 본 발명의 제3 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 대표적인 일부 구성을 나타낸 회로도이다.
도 13은 도 12에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드의 구동 파형도이다.
도 14는 도 13에 도시된 측정 모드의 측정 기간(C)에서 도 12에 도시된 OLED 표시 장치의 등가 회로도이다.
도 15는 본 발명의 제4 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 대표적인 일부 구성을 나타낸 회로도이다.
도 16은 본원 발명의 다른 실시예에 따른 데이터 드라이버의 내부 구성을 나타낸 블록도이다.
도 17은 본 발명의 제5 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 대표적인 일부 구성을 나타낸 회로도이다.
도 18은 본 발명의 제6 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 대표적인 일부 구성을 나타낸 회로도이다.
도 19는 도 18에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드의 구동 파형도이다.
도 20a 내지 20c는 도 17에 도시된 OLED 표시 장치를 시뮬레이션한 등가 회로도와, 그 등가 회로도의 제1 전원 라인을 통해 측정된 전압 및 전류를 나타낸 도면이다.
1 is a circuit diagram showing a typical configuration of an OLED display device for measuring pixel current according to a first embodiment of the present invention.
2 is a circuit diagram showing an operation state of a display mode of the OLED display device shown in FIG.
3 is a driving waveform diagram of a display mode of the OLED display device shown in Fig.
4A and 4B are circuit diagrams showing an operation state of a measurement mode of the OLED display device shown in FIG.
5 is a driving waveform diagram of a measurement mode of the OLED display device shown in Figs. 4A and 4B.
6 is an equivalent circuit diagram of the measurement mode of the OLED display shown in Fig. 4B.
7 is a circuit diagram showing an operation state of a display mode of an OLED display device for measuring a pixel current according to a second embodiment of the present invention.
8 is a circuit diagram showing an operation state of a measurement mode of an OLED display device for measuring a pixel current according to a second embodiment of the present invention.
9 is a drive waveform diagram of a measurement mode of the OLED display device shown in FIG.
10 is a block diagram illustrating an internal configuration of a data driver according to an embodiment of the present invention.
FIGS. 11A and 11B are waveform diagrams illustrating the relationship between the pixel current and the measured voltage in the measurement mode of the OLED display device shown in FIG. 4B. FIG.
12 is a circuit diagram showing a typical configuration of an OLED display device for measuring pixel current according to the third embodiment of the present invention.
13 is a drive waveform diagram of a measurement mode of the OLED display device shown in Fig.
Fig. 14 is an equivalent circuit diagram of the OLED display device shown in Fig. 12 in the measurement period C of the measurement mode shown in Fig.
15 is a circuit diagram showing a typical configuration of an OLED display device for measuring a pixel current according to a fourth embodiment of the present invention.
16 is a block diagram illustrating an internal configuration of a data driver according to another embodiment of the present invention.
17 is a circuit diagram showing a typical configuration of an OLED display device for measuring pixel current according to the fifth embodiment of the present invention.
18 is a circuit diagram showing a typical configuration of an OLED display device for measuring pixel current according to the sixth embodiment of the present invention.
19 is a drive waveform diagram of a measurement mode of the OLED display device shown in Fig.
20A to 20C are equivalent circuit diagrams simulating the OLED display device shown in FIG. 17, and voltage and current measured through the first power source line of the equivalent circuit diagram.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 일부 구성을 나타낸 등가 회로도이다.1 is an equivalent circuit diagram showing a configuration of a part of an OLED display device for measuring a pixel current according to a first embodiment of the present invention.
도 1에 도시된 OLED 표시 장치는 화소 어레이가 형성된 표시 패널(20)과, 표시 패널(20)과 접속된 출력 채널(CH)을 통해 데이터 라인(DL)을 구동하고 각 화소의 전류를 전압으로 고속 측정하여 출력하는 데이터 드라이버(10)를 구비하고, 설명의 편의상 표시 패널(20)은 대표적인 1개 화소의 구성을, 데이터 드라이버(10)는 1개의 출력 채널(CH)과 접속된 구동부의 구성을 도시하였다. The OLED display device shown in Fig. 1 includes a display panel 20 on which a pixel array is formed, and a display panel 20 on which a data line DL is driven through an output channel CH connected to the display panel 20, And the data driver 10 has a configuration in which the display panel 20 is configured by a typical one pixel structure and the data driver 10 is configured by a configuration of a driving unit connected to one output channel CH Respectively.
이외에도 본 발명의 OLED 표시 장치는 표시 패널(20)의 스캔 라인(SL)을 구동하는 스캔 드라이버와, 데이터 드라이버 및 스캔 드라이버의 구동 타이밍을 제어함과 아울러 데이터 드라이버로 데이터를 공급하는 타이밍 컨트롤러와, 전원부를 더 구비하지만 이들은 종래 구성과 동일하므로 생략한다. In addition, the OLED display device of the present invention includes a scan driver for driving the scan lines SL of the display panel 20, a timing controller for controlling the driving timing of the data driver and the scan driver and supplying data to the data driver, But they are omitted because they are the same as the conventional configuration.
도 1에 도시된 OLED 표시 장치는 통상적인 화상 표시를 위한 표시 모드(도 2)와, 화소 전류 측정을 위한 측정 모드(도 4a 및 도 4b)로 구분되어 동작한다. The OLED display device shown in FIG. 1 is divided into a display mode for normal image display (FIG. 2) and a measurement mode for pixel current measurement (FIGS. 4A and 4B).
데이터 드라이버(10)는 출력 채널(CH)과 채널별로 접속된 디지털-아날로그 컨버터(Digital-to-Analog Converter; 이하 DAC)(12)와, 출력 채널(CH)과 채널별로 접속된 샘플링 및 홀딩(Sampling & Holding; 이하 S/H) 회로(14)와, DAC(12)와 출력 채널(CH) 사이에 채널별로 접속된 제1 스위치(SW1)와, 출력 채널(CH)과 S/H 회로(14) 사이에 채널별로 접속된 제2 스위치(SW2)와, S/H 회로(14)의 입력단에 채널별로 병렬 접속된 커패시터(Ch)를 구비한다. The data driver 10 includes a digital-to-analog converter (DAC) 12 connected to the output channel CH and a channel, a sampling and holding circuit A first switch SW1 connected between the DAC 12 and the output channel CH on a channel-by-channel basis, an output channel CH and an S / H circuit And a capacitor Ch connected in parallel at the input terminal of the S / H circuit 14 for each channel.
표시 모드 및 측정 모드에서 DAC(12)는 입력 데이터를 데이터 전압(Vdata)로 변환하여 제1 스위치(SW1) 및 출력 채널(CH)을 통해 표시 패널(20)의 데이터 라인(DL)으로 공급한다. 측정 모드에서 S/H 회로(14)는 출력 채널(CH) 및 제2 스위치(SW2)를 통해 표시 패널(20)의 전류 측정용 라인(레퍼런스 라인 또는 데이터 라인)의 전압을 측정(샘플링 및 홀딩)하여 출력한다. In the display mode and the measurement mode, the DAC 12 converts the input data into a data voltage Vdata and supplies it to the data line DL of the display panel 20 via the first switch SW1 and the output channel CH . In the measurement mode, the S / H circuit 14 measures (samples and holds) the voltage of the current measurement line (reference line or data line) of the display panel 20 through the output channel CH and the second switch SW2 ).
표시 패널(20)의 각 화소는 OLED와, OLED를 독립적으로 구동하는 화소 회로를 구비한다. 화소 회로는 OLED를 독립적으로 구동하기 위한 적어도 3개의 TFT(ST1, ST2, DT)와 1개의 스토리지 커패시터(Cs)와, 고전위 전압(Vdd)을 공급하는 제1 전원 라인(PL1), 고전위 전압(Vdd) 또는 고전위 전압(Vdd) 보다 낮은 저전위 전압(Vss)을 공급하는 제2 전원 라인(PL2), 고전위 전압(Vdd) 보다 낮고 저전위 전압(Vss) 보다 높거나 같은 레퍼런스 전압(Vref)을 공급하는 레퍼런스 라인(RL)과, 제1 및 제2 스캔 신호를 각각 공급하는 제1 및 제2 스캔 라인(SL1, SL2)과, 데이터 전압(Vdata)을 공급하는 데이터 라인(DL)을 구비한다. 레퍼런스 라인(RL)은 데이터 라인(DL)과 나란하게 형성되며, 레퍼런스 라인(RL)의 수는 화소열의 수와 동일한 데이터 라인(DL)의 수와 동일하다.Each pixel of the display panel 20 includes an OLED and a pixel circuit that independently drives the OLED. The pixel circuit includes at least three TFTs (ST1, ST2, DT) and one storage capacitor (Cs) for independently driving the OLED, a first power supply line (PL1) for supplying a high potential voltage (Vdd) A second power supply line PL2 for supplying a low potential voltage Vss lower than the voltage Vdd or the high potential voltage Vdd, a second power supply line PL2 for supplying a reference voltage Vss lower than the high potential voltage Vdd, A first and a second scan lines SL1 and SL2 for supplying first and second scan signals respectively and a data line DL for supplying a data voltage Vdata, ). The reference line RL is formed in parallel with the data line DL and the number of the reference lines RL is equal to the number of the data lines DL equal to the number of pixel columns.
표시 패널(20)은 출력 채널(CH)과 데이터 라인(DL) 사이에 채널별로 접속된 제3 스위치(SW3)와, 출력 채널(CH)과 레퍼런스 라인(RL) 사이에 채널별로 접속된 제4 스위치(SW4)와, 외부 전압원으로부터의 레퍼런스 전압(Vdd)을 공급하는 레퍼런스 공통 라인(RCL)과 레퍼런스 라인(RL) 사이에 채널별로 접속된 제5 스위치(SW5)를 구비한다. The display panel 20 includes a third switch SW3 connected between the output channel CH and the data line DL on a channel-by-channel basis and a fourth switch SW3 connected between the output channel CH and the reference line RL. A switch SW4 and a fifth switch SW5 connected on a channel-by-channel basis between a reference common line RCL for supplying a reference voltage Vdd from an external voltage source and the reference line RL.
또한, OLED 표시 장치는 고전위 전압(Vdd)과 저전위 전압(Vss)을 스위칭하여 제2 전원 라인(PL2)으로 공급하는 제6 스위치(SW6)를 더 구비한다. 제6 스위치(SW6)는 전원부 또는 전원부와 표시 패널(20) 사이에 위치할 수 있다. 제6 스위치(SW6)는 표시 모드에서는 저전위 전원(Vss)을 제2 전원 라인(PL2)과 접속시키고, 측정 모드에서는 고전위 전원(Vdd)을 제2 전원 라인(PL2)과 접속시킨다.The OLED display further includes a sixth switch SW6 for switching the high potential Vdd and the low potential Vss to the second power supply line PL2. The sixth switch SW6 may be located between the power source unit or the power source unit and the display panel 20. The sixth switch SW6 connects the low potential power supply Vss to the second power supply line PL2 in the display mode and connects the high potential power supply Vdd to the second power supply line PL2 in the measurement mode.
제1 내지 제6 스위치(SW1~SW6)를 제어하는 제어 신호는 타이밍 컨트롤러 또는 데이터 드라이버(10)에서 생성되어 공급된다.A control signal for controlling the first to sixth switches SW1 to SW6 is generated and supplied from the timing controller or the data driver 10.
OLED는 제1 전원 라인(PL1)과 제2 전원 라인(PL2) 사이에 구동 TFT(DT)와 직렬로 접속된다. OLED는 구동 TFT(DT)와 접속된 애노드와, 제2 전원 라인(PL2)과 접속된 캐소드와, 애노드 및 캐소드 사이의 발광층을 구비한다. 발광층은 캐소드와 애노드 사이에 순차 적층된 전자 주입층, 전자 수송층, 유기 발광층, 정공 수송층, 정공 주입층을 구비한다. OLED는 애노드와 캐소드 사이에 포지티브 바이어스가 인가되면 캐소드로부터의 전자가 전자 주입층 및 전자 수송층을 경유하여 유기 발광층으로 공급되고, 애노드로부터의 정공이 정공 주입층 및 정공 수송층을 경유하여 유기 발광층으로 공급된다. 이에 따라, 유기 발광층에서 공급된 전자 및 정공의 재결합으로 형광 또는 인광 물질을 발광시킴으로써 전류 밀도에 비례하는 휘도를 발생한다. The OLED is connected in series with the driving TFT DT between the first power supply line PL1 and the second power supply line PL2. The OLED has an anode connected to the driving TFT (DT), a cathode connected to the second power supply line (PL2), and a light emitting layer between the anode and the cathode. The light emitting layer includes an electron injection layer, an electron transport layer, an organic light emitting layer, a hole transport layer, and a hole injection layer sequentially stacked between the cathode and the anode. In the OLED, when a positive bias is applied between the anode and the cathode, electrons from the cathode are supplied to the organic light emitting layer via the electron injection layer and the electron transport layer, and holes from the anode are supplied to the organic light emitting layer via the hole injection layer and the hole transport layer do. Accordingly, the fluorescent or phosphorescent material is caused to emit light by the recombination of electrons and holes supplied from the organic light emitting layer, thereby generating a luminance proportional to the current density.
제1 스위칭 TFT(ST1)는 제1 스캔 라인(SL1)에 게이트 전극이 접속되고 데이터 라인(DL)에 제1 전극이 접속되며, 구동 TFT(DT)의 게이트 전극과 접속된 제1 노드(N1)에 제2 전극이 접속된다. 제1 스위칭 TFT(ST1)의 제1 전극과 제2 전극은 전류 방향에 따라서 소스 전극과 드레인 전극이 된다. 표시 모드 및 측정 모드에서 제1 스위칭 TFT(ST1)는 제1 스캔 라인(SL1)의 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터의 데이터 전압(Vdata)을 제1 노드(N1)에 공급한다.The first switching TFT ST1 has a gate electrode connected to the first scan line SL1, a first electrode connected to the data line DL, a first node N1 connected to the gate electrode of the drive TFT DT, ) Is connected to the second electrode. The first electrode and the second electrode of the first switching TFT (ST1) become a source electrode and a drain electrode in accordance with the current direction. In the display mode and the measurement mode, the first switching TFT (ST1) supplies the data voltage (Vdata) from the data line (DL) to the first node (N1) in response to the scan signal of the first scan line (SL1).
제2 스위칭 TFT(ST2)는 제2 스캔 라인(SL2)에 게이트 전극이 접속되고 레퍼런스 라인(RL)에 제1 전극이 접속되며, 구동 TFT(DT)의 제2 전극과 접속된 제2 노드(N2)에 제2 전극이 접속된다. 제2 스위칭 TFT(ST2)의 제1 전극과 제2 전극은 전류 방향에 따라서 소스 전극과 드레인 전극이 된다. 표시 모드 및 측정 모드에서 제2 스위칭 TFT(ST2)는 제2 스캔 라인(SL2)의 스캔 신호에 응답하여 레퍼런스 라인(RL)으로부터의 레퍼런스 전압(Vref)을 제2 노드(N2)에 공급한다. 또한, 제2 스위칭 TFT(ST2)는 측정 모드에서 제2 스캔 라인(SL2)의 스캔 신호에 응답하여 구동 TFT(DT)로부터의 전류, 즉 화소 전류를 레퍼런스 라인(RL)으로 공급한다.The second switching TFT ST2 has the gate electrode connected to the second scan line SL2, the first electrode connected to the reference line RL, and the second node connected to the second electrode of the driving TFT DT N2 are connected to the second electrode. The first electrode and the second electrode of the second switching TFT ST2 become a source electrode and a drain electrode in accordance with the current direction. In the display mode and the measurement mode, the second switching TFT ST2 supplies the reference voltage Vref from the reference line RL to the second node N2 in response to the scan signal of the second scan line SL2. The second switching TFT ST2 supplies the current from the driver TFT DT, that is, the pixel current, to the reference line RL in response to the scan signal of the second scan line SL2 in the measurement mode.
스토리지 커패시터(Cs)는 제1 및 제2 노드(N1, N2)에 각각 공급된 데이터 전압(Vdata)과 레퍼런스 전압(Vref)과의 차전압(Vdata-Vref)을 충전하여 구동 TFT(DT)의 구동 전압(Vgs)으로 공급한다.The storage capacitor Cs charges the difference voltage Vdata-Vref between the data voltage Vdata and the reference voltage Vref supplied to the first and second nodes N1 and N2, And supplies it as the driving voltage Vgs.
구동 TFT(DT)는 제1 노드(N1)에 게이트 전극이 접속되고, 제1 전원 라인(PL1)에 제1 전극이 접속되며, 제2 노드(N2)에 제2 전극이 접속된다. 구동 TFT(DT)의 제1 전극과 제2 전극은 전류 방향에 따라서 소스 전극과 드레인 전극이 된다. 구동 TFT(DT)는 스토리지 커패시터(Cs)로부터 공급된 구동 전압(Vgs)에 대응한 화소 전류를 OLED로 공급하여 OLED를 발광시킨다. In the driving TFT DT, a gate electrode is connected to the first node N1, a first electrode is connected to the first power supply line PL1, and a second electrode is connected to the second node N2. The first electrode and the second electrode of the driving TFT DT become a source electrode and a drain electrode in accordance with the current direction. The driving TFT DT supplies a pixel current corresponding to the driving voltage Vgs supplied from the storage capacitor Cs to the OLED to emit the OLED.
도 2는 도 1에 도시된 OLED 표시 장치의 표시 모드의 동작 상태를 나타내고, 도 3은 도 2에 도시된 한 화소 회로의 구동 파형도이다. FIG. 2 shows an operation state of the display mode of the OLED display device shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a driving waveform diagram of the pixel circuit shown in FIG.
도 2에 도시된 표시 모드에서, DAC(12)과 데이터 라인(DL) 사이에 직렬 접속된 제1 및 제3 스위치(SW1, SW3)와, 레퍼런스 공통 라인(RCL)과 레퍼런스 라인(RL) 사이에 접속된 제5 스위치(SW5)가 해당 제어 신호에 각각 응답하여 항상 턴-온된다. 반면에, 출력 채널(CH)과 S/H 회로(14) 사이에 접속된 제2 스위치(SW2)와, 출력 채널(CH) 및 레퍼런스 라인(RL) 사이에 접속된 제4 스위치(SW4)는 해당 제어 신호에 각각 응답하여 항상 턴-오프된다. 제6 스위치(SW6)는 해당 제어 신호에 응답하여 저전위 전원(Vss)을 제2 전원 라인(PL2)과 접속시킨다. The first and third switches SW1 and SW3 connected in series between the DAC 12 and the data line DL and the first and third switches SW1 and SW3 connected between the reference common line RCL and the reference line RL in the display mode shown in Fig. The fifth switch SW5 connected to the first switch SW2 is always turned on in response to the corresponding control signal. On the other hand, the second switch SW2 connected between the output channel CH and the S / H circuit 14 and the fourth switch SW4 connected between the output channel CH and the reference line RL And is always turned off in response to the corresponding control signal. The sixth switch SW6 connects the low potential power supply Vss to the second power supply line PL2 in response to the corresponding control signal.
도 2에 도시된 표시 모드의 해당 스캔 기간(1H)에서 DAC(12)는 입력 디지털 데이터를 아날로그 데이터 전압(Vdata)으로 변환하고, 그 데이터 전압(Vdata)을 제1 및 제3 스위치(SW1, SW3)을 통해 데이터 라인(DL)으로 공급한다. 레퍼런스 공통 라인(RCL)으로부터의 레퍼런스 전압(Vref)은 제5 스위치(SW5)를 경유하여 레퍼런스 라인(RL)으로 공급된다. 화소 회로의 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 도 3에 도시된 제1 및 제2 스캔 라인(SL1, SL2)의 제1 및 제2 스캔 신호에 각각 응답하여 동시에 턴-온되면, 스토리지 커패시터(Cs)는 데이터 전압(Vdata)과 레퍼런스 전압(Vref)과의 차전압(Vdata-Vref)을 충전하여 구동 TFT(DT)의 구동 전압(Vgs)으로 공급한다. 화소 회로의 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 제1 및 제2 스캔 신호에 응답하여 동시에 턴-오프되더라도, 스토리지 커패시터(Cs)는 충전 전압(Vdata-Vref)을 구동 TFT(DT)의 구동 전압(Vgs)으로 공급한다. 이에 따라, OLED는 구동 TFT(DT)의 구동 전압(Vgs)에 대응하는 전류에 비례하여 발광한다. In the corresponding scan period 1H of the display mode shown in FIG. 2, the DAC 12 converts the input digital data into the analog data voltage Vdata and supplies the data voltage Vdata to the first and third switches SW1, SW3 to the data line DL. The reference voltage Vref from the reference common line RCL is supplied to the reference line RL via the fifth switch SW5. When the first and second switching TFTs ST1 and ST2 of the pixel circuit are simultaneously turned on in response to the first and second scan signals of the first and second scan lines SL1 and SL2 shown in FIG. , The storage capacitor Cs charges the difference voltage Vdata-Vref between the data voltage Vdata and the reference voltage Vref and supplies the difference voltage Vdata-Vref to the driving voltage Vgs of the driving TFT DT. Even if the first and second switching TFTs ST1 and ST2 of the pixel circuit are simultaneously turned off in response to the first and second scan signals, the storage capacitor Cs supplies the charging voltage Vdata-Vref to the driving TFT DT As a driving voltage Vgs. Thus, the OLED emits light in proportion to the current corresponding to the driving voltage Vgs of the driving TFT DT.
도 4a 및 도 4b는 도 1에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드의 동작 상태를 단계적으로 나타낸 것이고, 도 5는 도 4a 및 도 4b에 도시된 OLED 표시 장치의 구동 파형도이다. FIGS. 4A and 4B show operation states of the measurement mode of the OLED display device shown in FIG. 1 in a stepped manner, and FIG. 5 is a driving waveform diagram of the OLED display device shown in FIGS. 4A and 4B.
도 4a 및 도 5에 도시된 측정 모드의 데이터 공급 기간(A)에서, 도 5의 해당 제어 신호에 각각 응답하여 DAC(12)과 데이터 라인(DL) 사이의 제1 및 제3 스위치(SW1, SW3)와, 레퍼런스 전압(Vref) 공급 라인(RPL)과 레퍼런스 라인(RL) 사이의 제5 스위치(SW5)가 턴-온되고, 출력 채널(CH)과 S/H 회로(14) 사이에 접속된 제2 스위치(SW2)와, 출력 채널(CH) 및 레퍼런스 라인(RL) 사이에 접속된 제4 스위치(SW4)가 턴-오프된다. 이때, 제6 스위치(SW6)는 해당 제어 신호에 응답하여 고전위 전원(Vdd)을 제2 전원 라인(PL2)과 접속시킨다. DAC(12)는 측정용 입력 데이터를 데이터 전압으로 변환하여 제1 및 제3 스위치(SW1, SW3)을 경유하여 데이터 라인(DL)으로 공급한다. 레퍼런스 전압(Vref=V0)은 제5 스위치(SW5)를 경유하여 레퍼런스 라인(RL)으로 공급된다. 화소 회로의 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 제1 및 제2 스캔 신호의 응답하여 동시에 턴-온되어 제1 및 제2 노드(N1, N2)에 측정용 데이터 전압(Vdata) 및 레퍼런스 전압(Vref)을 공급한다. 이에 따라, 스토리지 커패시터(Cs)는 측정용 데이터 전압(Vdata)과 레퍼런스 전압(Vref)의 차전압(Vdata-Vref)을 충전하여 구동 TFT(DT)를 구동시킨다. 이때, OLED에는 네거티브 바이어스가 인가되므로 발광하지 않는다.The first and third switches SW1 and SW2 between the DAC 12 and the data line DL in response to the corresponding control signal in Fig. 5 in the data supply period A of the measurement mode shown in Figs. 4A and 5, The fifth switch SW5 between the reference voltage Vref supply line RPL and the reference line RL is turned on and the connection between the output channel CH and the S / The fourth switch SW4 connected between the second switch SW2 and the output channel CH and the reference line RL is turned off. At this time, the sixth switch SW6 connects the high potential power supply Vdd to the second power supply line PL2 in response to the corresponding control signal. The DAC 12 converts the measurement input data into a data voltage and supplies it to the data line DL via the first and third switches SW1 and SW3. The reference voltage Vref = V0 is supplied to the reference line RL via the fifth switch SW5. The first and second switching TFTs ST1 and ST2 of the pixel circuit are simultaneously turned on in response to the first and second scan signals so that the measurement data voltage Vdata is applied to the first and second nodes N1 and N2, And a reference voltage Vref. Thus, the storage capacitor Cs charges the differential voltage (Vdata-Vref) between the measurement data voltage (Vdata) and the reference voltage (Vref) to drive the driving TFT (DT). At this time, the OLED does not emit light because a negative bias is applied thereto.
그 다음, 도 5에 도시된 측정 모드의 프리차지 기간(B)에서 해당 제어 신호에 각각 응답하여 DAC(12)과 데이터 라인(DL) 사이의 제1 및 제3 스위치(SW1, SW3)가 턴-오프되는 반면에, 출력 채널(CH)과 S/H 회로(14) 사이에 접속된 제2 스위치(SW2)와, 출력 채널(CH) 및 레퍼런스 라인(RL) 사이의 제4 스위치(SW4)가 턴-온되고, 제1 스캔 라인(SL1)의 스캔 신호에 응답하여 제1 스위칭 TFT(ST1)가 턴-오프된다. 이때, 레퍼런스 전압(Vref)의 공급 라인(RPL)과 레퍼런스 라인(RL) 사이에 접속된 제5 스위치(SW5)는 턴-온 상태를 유지한다. 이에 따라, 레퍼런스 라인(RL)과 접속된 출력 채널(CH)이 레퍼런스 전압(Vref)으로 프리차지된다.Next, the first and third switches SW1 and SW3 between the DAC 12 and the data line DL in response to the corresponding control signal in the precharge period B of the measurement mode shown in Fig. 5 turn While the second switch SW2 connected between the output channel CH and the S / H circuit 14 and the fourth switch SW4 between the output channel CH and the reference line RL, And the first switching TFT ST1 is turned off in response to the scan signal of the first scan line SL1. At this time, the fifth switch SW5 connected between the supply line RPL of the reference voltage Vref and the reference line RL maintains the turn-on state. Thus, the output channel CH connected to the reference line RL is precharged to the reference voltage Vref.
그리고, 도 4b 및 도 5에 도시된 측정 기간(C)에서, 레퍼런스 공통 라인(RCL)과 레퍼런스 라인(RL) 사이에 접속된 제5 스위치(SW5)가 해당 제어 신호에 응답하여 턴-오프된다. 이에 따라, 화소 회로의 구동 TFT(DT)를 통해 흐르는 화소 전류가 레퍼런스 라인(RL)을 경유하여 레퍼런스 라인(RL)과 병렬 접속된 기생 커패시터(Cline) 및 커패시터(Ch)에 흐르면서 레퍼런스 라인(RL)의 전압이 레퍼런스 전압(Vref=V0)으로부터 상승하게 된다. 도 6은 도 4b에 도시된 측정 기간(C)에서 화소 전류가 흐르는 경로에 대한 등가 회로를 도시한 것으로, 제5 스위치(SW5)가 턴-오프되면 구동 TFT(DT)를 통해 흐르는 화소 전류가 레퍼런스 라인(RL)을 통해 S/H 회로(14)로 흐르면서 기생 커패시터(Cline) 및 커패시터(Ch)를 충전하여 레퍼런스 라인(RL)의 전압이 상승하게 된다. In the measurement period C shown in FIG. 4B and FIG. 5, the fifth switch SW5 connected between the reference common line RCL and the reference line RL is turned off in response to the corresponding control signal . The pixel current flowing through the drive TFT DT of the pixel circuit flows through the parasitic capacitor Cline and the capacitor Ch connected in parallel with the reference line RL via the reference line RL and the reference line RL Becomes higher than the reference voltage (Vref = V0). FIG. 6 shows an equivalent circuit for a path through which the pixel current flows in the measurement period C shown in FIG. 4B. When the fifth switch SW5 is turned off, the pixel current flowing through the drive TFT DT The parasitic capacitor Cline and the capacitor Ch are charged while flowing to the S / H circuit 14 through the reference line RL to raise the voltage of the reference line RL.
이때, 레퍼런스 라인(RL)의 전압은 화소 전류에 비례하여 상승하므로 특정 시점에서 제2 스위치(SW2)를 턴-오프하고 S/H 회로(14)에서 레퍼런스 라인(RL)의 전압을 읽어내면, 아래의 수학식 1을 이용하여 구동 TFT(DT)에 흐르는 화소 전류를 계산할 수 있다.At this time, since the voltage of the reference line RL rises in proportion to the pixel current, if the second switch SW2 is turned off at a specific point in time and the voltage of the reference line RL is read by the S / H circuit 14, The pixel current flowing in the driving TFT DT can be calculated by using the following expression (1).
<수학식 1>&Quot; (1) &quot;
I = (Cline +Ch)×(V2-V1)/(t2-t1)I = (Cline + Ch) x (V2 - V1) / (t2 - t1)
상기 수학식 1에서 I는 화소 전류를 나타내고, Cline은 레퍼런스 라인(RL)에 병렬 접속된 기생 커패시터(Cline)의 용량을, Ch는 S/H 회로(14)의 입력단에 병렬 접속된 커패시터(Ch)의 용량을, V1 및 V2는 도 5에 도시된 측정 모드의 C기간에서 t1 및 t2 시점에서 각각 검출된 레퍼런스 라인(RL)의 전압을 나타낸다. 예를 들어, 레퍼런스 라인(RL)에 병렬 접속된 커패시터의 용량(Cline+Ch)이 50pF, 전압 변화(V2-V1)가 1V, 시간 t(=t2-t1)가 100㎲라고 가정하면 상기 수학식 1에 의해 산출된 화소 전류(I)는 500nA가 됨을 알 수 있다.In the equation (1), I represents the pixel current, Cline represents the capacitance of the parasitic capacitor Cline connected in parallel to the reference line RL and Ch represents the capacitance of the capacitor Ch connected in parallel at the input of the S / And V1 and V2 represent the voltages of the reference line RL detected at time points t1 and t2 respectively in the C period of the measurement mode shown in Fig. Assuming that the capacitance (Cline + Ch) of the capacitor connected in parallel to the reference line RL is 50 pF, the voltage change (V2-V1) is 1 V and the time t (= t2-t1) It can be seen that the pixel current I calculated by Formula 1 is 500 nA.
한편, 레퍼런스 라인(RL)의 충전 시작의 전압이 기저 전압(V0)인 경우, 레퍼런스 라인(RL)의 전압을 t2 시점에서 한번만 측정하고, 아래의 수학식 2를 이용하여 화소 전류(I)를 구할 수 있다.On the other hand, when the voltage of the charging start of the reference line RL is the base voltage V0, the voltage of the reference line RL is measured only once at the time t2, and the pixel current I is calculated using the following equation Can be obtained.
<수학식 2>&Quot; (2) &quot;
I = (Cline +Ch)×(V2-V0)/(t2-t0)I = (Cline + Ch) x (V2 - V0) / (t2 - t0)
이와 같이, 데이터 드라이버(10)는 측정 모드에서 각 화소의 전류를 레퍼런스 라인(RL)을 통해 전압으로 측정하고 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 타이밍 컨트롤러로 출력한다. As described above, the data driver 10 measures the current of each pixel in the measurement mode as a voltage through the reference line RL, converts the measured voltage into digital data, and outputs the digital data to the timing controller.
타이밍 컨트롤러는 측정 모드에서 데이터 드라이버(10)로부터 측정된 각 화소의 측정 전압을 이용하여 구동 TFT(DT)의 화소 전류에 따른 특성 편차를 검출하여 데이터를 보상한다. 다시 말하여, 타이밍 컨트롤러는 측정 모드에서 데이터 드라이버(10)로부터 디지털 데이터로 공급되는 측정 전압을 이용하여 각 화소 전류에 따른 구동 TFT(DT)의 문턱 전압과 이동도 편차를 보상하기 위한 보상치를 검출하여 메모리에 저장한다. 타이밍 컨트롤러는 표시 모드에서 상기 측정 모드에서 저장된 보상치를 이용하여 입력 데이터를 보상한다. The timing controller detects the characteristic deviation according to the pixel current of the driving TFT DT by using the measured voltage of each pixel measured from the data driver 10 in the measuring mode and compensates the data. In other words, the timing controller uses the measured voltage supplied from the data driver 10 as digital data in the measurement mode to detect a compensation value for compensating the threshold voltage and mobility deviation of the driving TFT DT according to each pixel current And stores it in the memory. The timing controller compensates the input data using the compensation value stored in the measurement mode in the display mode.
예를 들면, 타이밍 컨트롤러는 측정 모드에서 데이터 드라이버로(10)부터의 측정 전압을 이용하여 상기 수학식 1 또는 2과 같이 각 화소의 구동 TFT(DT)의 화소 전류를 계산한다. 타이밍 컨트롤러는 미국 특허 공보 US 7,982,695에 기재된 바와 같이 문턱 전압 및 이동도에 따라 화소 전류를 구하는 함수를 이용하여 구동 TFT(DT)의 특성을 나타내는 문턱 전압과, 화소간의 이동도 편차(해당 화소와 기준 화소간의 이동도 비율)를 검출하고, 검출된 문턱 전압을 보상하기 위한 옵셋값과, 이동도 편차를 보상하기 위한 게인값을 보상치로 검출하여 메모리에 룩-업 테이블 형태로 저장한다. 타이밍 컨트롤러는 표시 모드에서 입력 데이터를 저장된 각 화소의 옵셋값 및 게인값을 이용하여 보상한다. 예를 들면, 타이밍 컨트롤러는 게인값을 입력 데이터 전압과 승산하고, 옵셋값을 입력 데이터 전압과 가산함으로써 입력 데이터를 보상한다.For example, the timing controller calculates the pixel current of the driving TFT DT of each pixel as shown in Equation (1) or (2) by using the measured voltage from the data driver 10 in the measurement mode. The timing controller uses a function of obtaining the pixel current according to the threshold voltage and the mobility as described in U.S. Patent No. 7,982,695 to determine a threshold voltage representing the characteristics of the driving TFT DT and a mobility deviation between pixels Pixels), detects an offset value for compensating the detected threshold voltage, and a gain value for compensating for the mobility deviation as a compensation value, and stores the offset value in the form of a look-up table in the memory. The timing controller compensates the input data in the display mode by using the offset value and the gain value of each stored pixel. For example, the timing controller compensates the input data by multiplying the gain value by the input data voltage and adding the offset value to the input data voltage.
이와 같이, 본 발명에 따른 OLED 표시 장치는 측정 모드에서 데이터 드라이버를 이용하여 데이터 라인(DL)을 구동시키고 레퍼런스 라인(RL)을 통해 각 화소 전류를 간단하게 고속으로 측정할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 OLED 표시 장치는 제품 출하전의 검사 공정뿐만 아니라 제품 출하 이후에도 OLED 표시 장치가 구동되는 표시 모드 사이마다 측정 모드를 삽입하여 각 화소 전류를 측정하여 구동 TFT의 열화로 인한 특성 편차도 보상할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 OLED 표시 장치는 측정 모드에서 데이터 드라이버의 각 출력 채널이 데이터 라인(DL) 및 레퍼런스 라인(RL)과 순차적으로 접속되므로 데이터 드라이버가 레퍼런스 라인(RL)을 통해 화소 전류를 측정하면서도 데이터 드라이버의 출력 채널 수의 증가를 방지할 수 있다.As described above, the OLED display according to the present invention can drive the data line DL using the data driver in the measurement mode and measure the pixel currents simply and at high speed through the reference line RL. Accordingly, the OLED display device according to the present invention inspects each pixel current by inserting a measurement mode between display modes in which the OLED display device is driven not only after the product shipment but also before the product shipment, Can also be compensated. Also, in the OLED display according to the present invention, since each output channel of the data driver is sequentially connected to the data line DL and the reference line RL in the measurement mode, the data driver measures the pixel current through the reference line RL It is possible to prevent an increase in the number of output channels of the data driver.
도 7 및 도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치가 표시 모드와 측정 모드에서 동작하는 상태를 각각 나타낸 회로도이고, 도 9는 도 8에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드의 구동 파형도이다.7 and 8 are circuit diagrams respectively showing an OLED display device for measuring a pixel current according to a second embodiment of the present invention in a display mode and a measurement mode, Fig.
도 7 및 도 8에 도시된 제2 실시예의 OLED 표시 장치와, 전술한 도 1에 도시된 제1 실시예의 OLED 표시 장치를 대비하면, 도 1에서 표시 패널(20)에 위치한 제3 내지 제5 스위치(SW3, SW4, SW5)가 생략되고, 화소 회로내의 제1 스위칭 TFT(ST1)가 레퍼런스 전압(Vref)을 제1 노드(N1)로 공급하고, 제2 스위칭 TFT(ST2)가 데이터 전압(Vdata)을 제2 노드(N2)로 공급하는 것을 제외하고는 동일한 구성요소를 갖으므로, 중복되는 구성요소들에 대한 설명은 생략하기로 한다. 데이터 드라이버(10)의 DAC(12) 및 S/H 회로(14)는 출력 채널(CH)을 통해 표시 패널(20)의 데이터 라인(DL)에 병렬 접속된다.In contrast to the OLED display device of the second embodiment shown in Figs. 7 and 8 and the OLED display device of the first embodiment shown in Fig. 1 described above, the third to fifth The switches SW3, SW4 and SW5 are omitted and the first switching TFT ST1 in the pixel circuit supplies the reference voltage Vref to the first node N1 and the second switching TFT ST2 supplies the data voltage Vdata) to the second node N2, the description of the overlapping components will be omitted. The DAC 12 and the S / H circuit 14 of the data driver 10 are connected in parallel to the data line DL of the display panel 20 via the output channel CH.
도 7에 도시된 표시 모드의 각 스캔 기간에서, 스토리지 커패시터(Cs)는 턴-온된 제1 스위칭 TFT(ST1)로부터의 레퍼런스 전압(Vref)과, 턴-온된 제2 스위칭 TFT(ST2)로부터의 데이터 전압(Vdata)의 차전압(Vref-Vdata)을 충전하여 구동 TFT(DT)를 구동시킨다. 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 턴-오프되더라도, 구동 TFT(DT)는 스토리지 커패시터(Cs)로부터의 구동 전압(Vgs=Vref-Vdata)에 의해 구동된다. 이에 따라, 구동 TFT(DT)는 구동 전압(Vgs)에 대응하는 전류를 OLED로 공급하여 OLED를 발광시킨다.In each scan period of the display mode shown in Fig. 7, the storage capacitor Cs is connected to the reference voltage Vref from the first switching TFT ST1 turned on and the reference voltage Vref from the second switching TFT ST2 turned on And charges the differential voltage (Vref-Vdata) of the data voltage (Vdata) to drive the driving TFT (DT). The drive TFT DT is driven by the drive voltage (Vgs = Vref-Vdata) from the storage capacitor Cs even if the first and second switching TFTs ST1 and ST2 are turned off. Thus, the driving TFT DT supplies a current corresponding to the driving voltage Vgs to the OLED to emit light to the OLED.
도 8 및 도 9를 참조하면, 측정 모드의 데이터 공급 기간(A)에서, 도 9의 해당 제어 신호에 각각 응답하여 DAC(12)과 데이터 라인(DL) 사이의 제1 스위치(SW1)가 턴-온되고, 데이터 라인(DL)과 S/H 회로(14) 사이에 접속된 제2 스위치(SW2)가 턴-오프되며, 제6 스위치(SW6)는 해당 제어 신호(미도시)에 응답하여 고전위 전원(Vdd)을 제2 전원 라인(PL2)과 접속시킨다. DAC(12)는 제1 스위치(SW1)을 경유하여 측정용 데이터 전압(Vdata)을 데이터 라인(DL)으로 공급한다. 화소 회로의 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 제1 및 제2 스캔 신호에 응답하여 제1 및 제2 노드(N1, N2)에 레퍼런스 전압(Vref) 및 측정용 전압(Vdata)을 각각 공급함으로써 구동 TFT(DT)가 스토리지 커패시터(Cs)에 저장된 전압(Vref-Vdata)에 따라 구동된다. 이때, OLED에는 네거티브 바이어스가 인가되므로 발광하지 않는다.8 and 9, in the data supply period A of the measurement mode, the first switch SW1 between the DAC 12 and the data line DL is turned on in response to the corresponding control signal of Fig. 9, And the second switch SW2 connected between the data line DL and the S / H circuit 14 is turned off and the sixth switch SW6 is turned on in response to the corresponding control signal (not shown) And connects the high potential power supply Vdd to the second power supply line PL2. The DAC 12 supplies the measurement data voltage Vdata to the data line DL via the first switch SW1. The reference voltage Vref and the measurement voltage Vdata are applied to the first and second nodes N1 and N2 by the first and second switching TFTs ST1 and ST2 of the pixel circuit in response to the first and second scan signals, The driving TFT DT is driven in accordance with the voltage Vref-Vdata stored in the storage capacitor Cs. At this time, the OLED does not emit light because a negative bias is applied thereto.
그 다음, 도 9에 도시된 측정 모드의 프리차지 기간(B)에서 제1 스캔 라인(SL1)의 스캔 신호에 응답하여 제1 스위칭 TFT(ST1)가 턴-오프되고, DAC(12)은 제1 스위치(SW1)를 통해 프리차지 전압(V0=Vref)을 데이터 라인(DL)으로 공급하여 데이터 라인(DL)에 프리차지 전압(V0)을 프리차지시킨다. DAC(12)은 데이터 공급 기간(A) 이외에는 프리차지 전압(V0)을 출력한다.Then, the first switching TFT (ST1) is turned off in response to the scan signal of the first scan line (SL1) in the precharge period (B) of the measurement mode shown in Fig. 9, The precharge voltage V0 is precharged to the data line DL by supplying the precharge voltage V0 = Vref to the data line DL through the first switch SW1. The DAC 12 outputs the precharge voltage V0 other than the data supply period A. [
그리고, 도 8 및 도 9에 도시된 측정 기간(C)에서, 제1 스위치(SW1)가 해당 제어 신호에 응답하여 턴-오프되고, 제2 스위치(SW2)가 턴-온된다. 이에 따라, 화소 회로의 구동 TFT(DT)를 통해 흐르는 화소 전류가 데이터 라인(DL)을 경유하여 데이터 라인(DL)과 병렬 접속된 기생 커패시터(Cline) 및 커패시터(Ch)에 흐르면서 도 9와 같이 데이터 라인(DL)의 전압이 기저 전압(V0)으로부터 상승하게 된다. 이때, 데이터 라인(DL)의 전압은 화소 전류에 비례하여 상승하므로 특정 시점에서 S/H 회로(14)의 제2 스위치(SW2)를 턴-오프하고 커패시터(Ch)에 홀딩된 데이터 라인(DL)의 전압을 ADC(16)을 통해 읽어내면, 전술한 수학식 1 또는 2를 이용하여 구동 TFT(DT)에 흐르는 화소 전류(I)를 계산할 수 있다.In the measurement period C shown in Figs. 8 and 9, the first switch SW1 is turned off in response to the corresponding control signal, and the second switch SW2 is turned on. 9, the pixel current flowing through the driving TFT DT of the pixel circuit flows through the parasitic capacitor Cline and the capacitor Ch connected in parallel with the data line DL via the data line DL The voltage of the data line DL rises from the base voltage V0. At this time, since the voltage of the data line DL rises in proportion to the pixel current, the second switch SW2 of the S / H circuit 14 is turned off at a specific time point and the data line DL Is read through the ADC 16, the pixel current I flowing through the driving TFT DT can be calculated by using the above-described expression (1) or (2).
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 데이터 드라이버의 구성을 구체적으로 나타낸 회로도이다.FIG. 10 is a circuit diagram specifically showing a configuration of a data driver according to an embodiment of the present invention.
도 10에 도시된 데이터 드라이버(10)는 쉬프트 레지스터(18)와, n개의 출력 채널(CH1~CHn)에 채널별로 접속된 n개의 DAC(12), n개의 출력 채널(CH1~CHn)에 채널별로 접속된 n개의 S/H 회로(14)와, n개의 DAC(12)과 n개의 출력 채널(CH1~CHn) 사이에 채널별로 접속된 n개의 제1 스위치(SW1)와, n개의 출력 채널(CH1~CHn)과 n개의 S/H 회로(14) 사이에 채널별로 접속된 n개의 제2 스위치(SW2)와, n개의 S/H 회로(14)의 입력단에 채널별로 병렬 접속된 n개의 커패시터(Ch)와, 쉬프트 레지스터(18)의 제어에 따라 n개의 S/H 회로(14)의 출력을 순차적으로 1개의 아날로그-디지털 컨버터(Analog-to-Digital Converter; 이하 ADC)(16)로 공급하는 멀티플렉서(Multiplexer; 이하 MUX)(15)를 구비한다. MUX(15)는 n개의 S/H 회로(14)의 출력단에 개별적으로 접속되고 1개의 ADC(16)의 입력단에 공통 접속된 n개의 선택 스위치(SS1~SSn)를 구비한다. The data driver 10 shown in FIG. 10 includes a shift register 18, n DACs 12 connected to n output channels CH1 through CHn on a channel-by-channel basis, n output channels CH1 through CHn, N first switches SW1 connected between the n DACs 12 and n output channels CH1 through CHn on a channel-by-channel basis, n output channels N second switches SW2 connected between the n number of S / H circuits 14 and the n number of S / H circuits 14 connected to the input terminals of the n number of S / H circuits 14, The output of the n S / H circuits 14 is sequentially output to one analog-to-digital converter (ADC) 16 under the control of the capacitor Ch and the shift register 18 And a multiplexer (MUX) 15 for supplying the multiplexed data. The MUX 15 has n selection switches SS1 to SSn which are individually connected to the output terminals of the n S / H circuits 14 and commonly connected to the input terminal of one ADC 16. [
이외에도, 데이터 드라이버(10)는 n개의 DAC(12)와 n개의 제1 스위치(SW1) 사이에는 채널별로 접속된 n개의 출력 버퍼와, 입력 데이터를 순차적으로 입력하여 n개의 DAC(12)로 동시에 출력하기 위한 제1 쉬프트 레지스터 및 래치부를 더 구비하지만, 이들은 종래와 동일한 구성이므로 설명의 편의상 생략하기로 한다.The data driver 10 also includes n output buffers connected in series between the n DACs 12 and n first switches SW1 and n output buffers sequentially connected to n DACs 12 And a first shift register and a latch unit for outputting the first shift register and the latch unit.
n개의 DAC(12)는 표시 모드 및 측정 모드에서 입력 데이터를 데이터 전압으로 변환하여 n개의 제1 스위치(SW1)를 통해 n개의 출력 채널(CH1~CHn)에 채널별로 공급한다.The n DACs 12 convert input data into data voltages in a display mode and a measurement mode, and supply the data voltages to the n output channels CH1 to CHn through n first switches SW1.
n개의 S/H 회로(14)는 측정 모드에서 n개의 출력 채널(CH1~CHn)로부터 n개의 제2 스위치(SW2) 및 커패시터(Ch)를 통해 채널별로 화소 전류에 대응하는 전압을 샘플링 및 홀딩한다.The n S / H circuits 14 sample and hold the voltages corresponding to the pixel currents from the n output channels (CH1 to CHn) through the n second switches (SW2) and the capacitor (Ch) do.
쉬프트 레지스터(18)는 측정 모드에서 외부로부터의 AD 클럭에 응답하여 쉬프트 동작을 하면서 샘플링 신호를 순차적으로 MUX(15)의 n개 출력 스위치(OS1~OSn)로 출력한다.The shift register 18 sequentially shifts the sampling signal to the n output switches OS1 to OSn of the MUX 15 while shifting in response to the external AD clock in the measurement mode.
MUX(15)의 n개 선택 스위치(SS1~SSn)는 쉬프트 레지스터(18)로부터의 샘플링 신호에 응답하여 순차적으로 턴-온됨으로써, n개의 S/H 회로(14)에 홀딩된 전압, 즉 측정 전압을 순차적으로(채널별로) ADC(30)로 공급한다.The n selection switches SS1 to SSn of the MUX 15 are sequentially turned on in response to the sampling signal from the shift register 18 so that the voltages held in the n S / H circuits 14, And supplies the voltage to the ADC 30 sequentially (on a channel-by-channel basis).
ADC(30)는 MUX(15)를 통해 순차적으로 입력되는 S/H 회로(14)로부터의 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 옵셋값 및 게인값 산출을 위한 타이밍 컨트롤러로 출력한다. The ADC 30 converts the measured voltage from the S / H circuit 14, which is sequentially inputted through the MUX 15, into digital data and outputs the digital data to a timing controller for calculating an offset value and a gain value.
타이밍 컨트롤러는 측정 모드에서 ADC(30)로부터 출력된 측정 전압을 바탕으로 화소 전류를 검출하고, 검출된 화소 전류를 이용하여 옵셋값 및 게인값을 산출하여 메모리에 저장한다. 타이밍 컨트롤러는 표시 모드에서 메모리에 저장된 옵셋값 및 게인값을 이용하여 데이터를 보상하여 데이터 드라이버(10)로 출력한다.The timing controller detects the pixel current based on the measured voltage outputted from the ADC 30 in the measurement mode, calculates the offset value and the gain value using the detected pixel current, and stores it in the memory. The timing controller compensates the data using the offset value and the gain value stored in the memory in the display mode and outputs the compensated data to the data driver 10.
도 11a는 도 4b에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드에서 제5 스위치(SW5)가 오프된 후에 구동 TFT(DT)에 흐르는 전류 파형을 나타낸다. 도 11a에는 3개의 구동 전압(Vgs)이 4V, 4.5V, 5V인 경우에 대한 3개의 전류 파형이 도시되어 있다. 구동 TFT(DT)의 포화 영역에서 채널 길이 변조(Channel Length Modulation)의 영향으로 구동 TFT(DT)의 드레인-소스간 전압(Vds)에 따라 전류가 약간 변화된다. 예를 들면, 구동 전압(Vgs)이 5V일 때 t1 및 t2에서의 전류는 각각 217.6nA, 215.8nA이고 평균 전류는 216.7nA가 된다.Fig. 11A shows a current waveform flowing in the driving TFT DT after the fifth switch SW5 is turned off in the measurement mode of the OLED display device shown in Fig. 4B. Fig. 11A shows three current waveforms when three driving voltages Vgs are 4V, 4.5V, and 5V. The current changes slightly in accordance with the drain-source voltage Vds of the driving TFT DT due to the influence of the channel length modulation in the saturation region of the driving TFT DT. For example, when the driving voltage Vgs is 5 V, the currents at t1 and t2 are 217.6 nA and 215.8 nA, respectively, and the average current is 216.7 nA.
도 11b는 도 4b에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드에서 제5 스위치(SW5)가 오프된 후 S/H 회로(14)의 입력 파형을 나타낸다. 도 11b에서 Cline+Ch=50.3pF이고, 구동 전압(Vgs)이 5V일 때 t1(60㎲), t2(160㎲)에서의 전압값(V1=2.135V, V2=2.556V)으로부터 216.6nA(I = (Cline +Ch)×(V2-V1)/(t2-t1) = 50.3×10-12×(2.566-2.135)/(160-60)×10-6 = 216.6nA)의 전류가 산출된다. Vds는 Vds=Vdd-Vs≒Vdd-VCh (여기서, VCh는 S/H 회로(14)의 입력 전압)으로 나타낼 수 있으므로, t1 및 t2 사이에서 Vds는 Vds1=Vdd-V1으로부터 Vds2=Vdd-V2까지 변화하고, 평균 전류 216.8nA가 흐를 때의 Vds는 Vds2<Vds<Vds1의 범위내에 있다. Vds1≒Vds2이고, 평균 전압(Vds_av=(Vds1+Vds2)/2)일 때 평균 전류(Ids_av=216.2nA)가 흐름을 알 수 있다.11B shows the input waveform of the S / H circuit 14 after the fifth switch SW5 is turned off in the measurement mode of the OLED display shown in Fig. 4B. (V1 = 2.135V, V2 = 2.556V) at t1 (60μs) and t2 (160μs) when the driving voltage (Vgs) is 5V and 216.6nA The current of I = (Cline + Ch) × (V2-V1) / (t2-t1) = 50.3 × 10 -12 × (2.566-2.135) / (160-60) × 10 -6 = 216.6 nA is calculated . Vds can be represented by Vds = Vdd-Vs Vdd-VCh (where VCh is the input voltage of the S / H circuit 14) so that Vds is changed from Vds1 = Vdd-V1 to Vds2 = Vdd-V2 And the Vds when the average current 216.8 nA flows is within the range of Vds2 < Vds < Vds1. (Ids_av = 216.2 nA) flows when the average voltage (Vds_av = (Vds1 + Vds2) / 2) is Vds1≈Vds2.
이와 같이, 본 발명의 제1 및 제2 실시예에 따른 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 장치는 측정 모드에서 레퍼런스 라인 또는 데이터 라인을 전류 측정용 라인으로 이용하여, 그 전류 측정용 라인과 병렬 접속된 커패시터(Cline+Ch)에 화소 전류를 유입시켜 충전시키고, 상기 커패시터에 충전되는 전압을 샘플링 및 홀딩하여 측정하는 것으로 구동 TFT에 흐르는 화소 전류를 순차적으로 고속 측정할 수 있다.As described above, the device for measuring the pixel current of the OLED display according to the first and second embodiments of the present invention uses a reference line or a data line as a current measurement line in a measurement mode, A pixel current flowing into the capacitor Cline + Ch is charged and the voltage charged in the capacitor is sampled and held to measure the pixel current flowing in the driving TFT sequentially at a high speed.
도 12는 본 발명의 제3 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 대표적인 일부 구성을 나타낸 등가 회로도이고, 도 13은 도 12에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드에서의 구동 파형도이다.FIG. 12 is an equivalent circuit diagram showing a typical configuration of an OLED display device for measuring pixel current according to a third embodiment of the present invention, and FIG. 13 is a driving waveform diagram of a measurement mode of the OLED display device shown in FIG. 12 .
도 12에 도시된 OLED 표시 장치는, 도 1에 도시된 제1 실시예의 OLED 표시 장치와 대비하여, 측정부(50)가 표시 패널(40)에서 데이터 라인(DL)과 나란하게 형성된 제1 전원 라인(PL1)을 통해 각 화소(P)의 전류를 전압으로 측정한다는 점에서 차이가 있다. The OLED display device shown in FIG. 12 is different from the OLED display device of the first embodiment shown in FIG. 1 in that a measuring section 50 is formed on a display panel 40 with a first power There is a difference in that the current of each pixel P is measured by the voltage through the line PL1.
이를 위하여, 도 12에 도시된 OLED 표시 장치는 화소 어레이를 포함하는 표시 패널(40)과, 표시 모드 및 측정 모드에서 표시 패널(40)의 데이터 라인(DL)을 구동하는 데이터 드라이버(30)와, 표시 모드 및 측정 모드에서 표시 패널(40)의 제1 전원 라인(PL1)에 고전위 전원(Vdd)을 공급하고, 측정 모드에서 제1 전원 라인(PL1)을 통해 각 화소의 전류를 전압으로 측정하여 출력하는 측정부(50)를 구비한다. 이외에도 스캔 드라이버 및 타이밍 컨트롤러를 더 구비하지만 이들은 종래와 동일한 구성이므로 설명의 편의상 생략한다.12 includes a display panel 40 including a pixel array, a data driver 30 for driving a data line DL of the display panel 40 in a display mode and a measurement mode, A high-potential power supply Vdd is supplied to the first power supply line PL1 of the display panel 40 in the display mode and the measurement mode, and the current of each pixel is supplied as a voltage through the first power supply line PL1 in the measurement mode And a measuring unit 50 for measuring and outputting the measured value. In addition, a scan driver and a timing controller are further provided, but they are the same as those in the conventional art and will be omitted for convenience of explanation.
데이터 드라이버(30)는 표시 모드 및 측정 모드에서 DAC(32)을 통해 입력 데이터를 데이터 전압(Vdata)으로 변환하여 데이터 라인(DL)으로 공급한다. DAC(32)는 채널별로 데이터 라인(DL)과 접속된다.The data driver 30 converts the input data to the data voltage Vdata via the DAC 32 in the display mode and the measurement mode and supplies the data to the data line DL. The DAC 32 is connected to the data line DL on a channel-by-channel basis.
측정부(50)는 표시 모드 및 측정 모드에서 제1 스위치(SW1)를 통해 제1 전원 라인(PL1)에 고전위 전원(Vdd)를 공급한다. 측정부(50)는 측정 모드의 측정 기간에서 제1 스위치(SW1)를 턴-오프시키고 제1 전원 라인(PL1)을 통해 각 화소(P)의 구동 TFT(DT)의 구동 전류, 즉 화소 전류에 따라 하강하는 전압을 ADC(52)를 통해 측정하여 출력한다. ADC(52)는 채널별로 제1 전원 라인(PL1)과 접속된다. The measuring section 50 supplies the high potential power supply Vdd to the first power supply line PL1 through the first switch SW1 in the display mode and the measurement mode. The measuring section 50 turns off the first switch SW1 in the measuring period of the measuring mode and supplies the driving current of the driving TFT DT of each pixel P, And outputs the measured voltage through the ADC 52 and outputs it. The ADC 52 is connected to the first power supply line PL1 for each channel.
도 12에 도시된 각 화소(P)의 화소 회로는 스캔 라인(SL)의 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터의 데이터 전압(Vdata)을 제1 노드(N1)로 공급하는 n형 스위칭 TFT(ST)와, 제1 노드(N1)에 게이트 전극이 접속되고 제1 전원 라인(PL1)과 OLED에 소스 전극 및 드레인 전극이 각각 접속된 p형 구동 TFT(DT)와, 제1 전원 라인(PL1) 및 구동 TFT(DT)의 소스 전극이 공통 접속된 제2 노드(N1)와 상기 제1 노드(N1) 사이에 접속된 스토리지 커패시터(Cs)를 구비한다. 제1 전원 라인(PL1)은 데이터 라인(DL)과 나란하게 배치되고, 데이터 라인(DL)과 제1 전원 라인(PL1) 사이에 화소(P1)가 배치되며, 제1 전원 라인(PL1)의 수는 데이터 라인(DL)의 수와 동일하다.The pixel circuit of each pixel P shown in FIG. 12 includes an n-type switching circuit which supplies a data voltage Vdata from the data line DL to the first node N1 in response to a scan signal of the scan line SL, A p-type driver TFT DT having a gate electrode connected to the first node N1 and having a first power supply line PL1 and a source electrode and a drain electrode connected to the OLED, And a storage capacitor Cs connected between the first node N1 and the second node N1 to which the source electrodes of the drive TFT DT and the drive TFT DT are commonly connected. The first power line PL1 is arranged in parallel to the data line DL and the pixel P1 is disposed between the data line DL and the first power line PL1. The number is equal to the number of data lines DL.
표시 모드에서 n형 스위칭 TFT(ST)가 스캔 라인(SL)의 스캔 신호에 응답하여 턴-온되면, 스토리지 커패시터(Cs)는 스위칭 TFT(ST)를 통해 데이터 라인(DL)으로부터 공급된 데이터 전압(Vdata)과 제1 전원 라인(PL1)으로 공급된 고전위 전원(Vdd)과의 차전압(Vdata-Vdd)을 충전하여 p형 구동 TFT(DT)를 구동시킴으로써 OLED가 구동 TFT(DT)의 구동 전류에 비례하여 발광한다.When the n-type switching TFT ST is turned on in response to the scan signal of the scan line SL in the display mode, the storage capacitor Cs is turned on by the data voltage DL supplied from the data line DL through the switching TFT ST Type driving TFT DT by charging the differential voltage Vdata-Vdd between the first power supply line Vdata and the high potential power supply Vdd supplied to the first power supply line PL1, And emits light in proportion to the driving current.
도 13을 참조하면, 측정 모드의 데이터 공급 기간(A)에서, 해당 제어 신호에 응답하여 제1 스위치(SW1)가 턴-온되어 고전위 전원(Vdd)을 제1 전원 라인(PL1)과 접속시킨다. DAC(32)는 측정용 데이터 전압(Vdata)을 데이터 라인(DL)으로 공급한다. 그 다음, 화소 회로의 스위칭 TFT(ST)가 스캔 라인(SL)의 스캔 신호인 게이트 온 전압에 응답하여 제1 노드(N1)에 측정용 전압(Vdata)을 공급한다. 이에 따라, 스토리지 커패시터(Cs)는 스위칭 TFT(ST)를 통해 데이터 라인(DL)으로부터 공급된 측정용 데이터 전압(Vdata)과 제1 전원 라인(PL1)으로 공급된 고전위 전원(Vdd)과의 차전압(Vdata-Vdd)을 충전하여 p형 구동 TFT(DT)를 구동시킨다.13, in the data supply period A of the measurement mode, the first switch SW1 is turned on in response to the corresponding control signal so that the high-potential power supply Vdd is connected to the first power supply line PL1 . The DAC 32 supplies the measurement data voltage Vdata to the data line DL. Then, the switching TFT (ST) of the pixel circuit supplies the measurement voltage (Vdata) to the first node (N1) in response to the gate-on voltage which is the scan signal of the scan line (SL). The storage capacitor Cs is connected between the measurement data voltage Vdata supplied from the data line DL through the switching TFT ST and the high potential power supply Vdd supplied to the first power supply line PL1. And drives the p-type driving TFT DT by charging the differential voltage Vdata-Vdd.
그 다음, 도 13에 도시된 측정 모드의 데이터 공급 기간(A)과 측정 기간(C) 사이의 B기간에서 제1 스위치(SW1)가 턴-오프되기 이전에 스캔 라인(SL)의 스캔 신호인 게이트 오프 전압에 응답하여 스위칭 TFT(ST)가 턴-오프되고, 스토리지 커패시터(Cs)가 상기 충전 전압(Vdata-Vdd)을 유지하여 구동 TFT(DT)를 구동시키게 한다. 이때, 제1 스위치(SW1)는 턴-온 상태를 유지하므로 제1 전원 라인(PL1)으로 고전위 전원(Vdd)의 공급을 유지한다.Next, before the first switch SW1 is turned off in the period B between the data supply period A and the measurement period C of the measurement mode shown in Fig. 13, the scan signal of the scan line SL The switching TFT ST is turned off in response to the gate off voltage so that the storage capacitor Cs maintains the charging voltage Vdata-Vdd to drive the driving TFT DT. At this time, the first switch SW1 maintains the turn-on state and thus maintains the supply of the high-potential power supply Vdd to the first power supply line PL1.
이어서, 도 13에 도시된 측정 기간(C)에서, 제1 스위치(SW1)가 해당 제어 신호에 응답하여 턴-오프됨으로써 제1 전원 라인(PL1)으로 고전위 전원(Vdd)의 공급이 차단된다. 이에 따라, 고전위 전원(Vdd)로부터의 전류 공급없이 제1 전원 라인(PL1)과 병렬 접속된 기생 커패시터(Cvdd)로부터의 전류가 화소 회로의 구동 TFT(DT)를 통해 흐르면서 제1 전원 라인(PL1)의 전압이 직선형으로 하강하게 된다. 도 14는 도 13에 도시된 측정 기간(C)에서 화소 전류가 흐르는 경로에 대한 등가 회로를 도시한 것으로, 제1 스위치(SW1)가 턴-오프되면 제1 전원 라인(PL1)의 기생 커패시터(Cvdd)로부터의 전류가 구동 TFT(DT)를 흐르면서 제1 전원 라인(PL1)의 전압이 하강하게 됨을 알 수 있다.Next, in the measurement period C shown in FIG. 13, the first switch SW1 is turned off in response to the corresponding control signal so that the supply of the high-potential power supply Vdd is cut off to the first power supply line PL1 . Thus, the current from the parasitic capacitor Cvdd connected in parallel with the first power supply line PL1 is supplied to the first power supply line (Vdd) while the current flows from the parasitic capacitor Cvdd through the drive TFT DT of the pixel circuit without supplying current from the high- PL1) falls linearly. FIG. 14 shows an equivalent circuit for a path through which the pixel current flows in the measurement period C shown in FIG. 13. When the first switch SW1 is turned off, the parasitic capacitors of the first power line PL1 It can be seen that the voltage of the first power supply line PL1 is decreased while the current from the second power supply line Cvdd flows through the driving TFT DT.
이때, 제1 전원 라인(PL1)의 전압은 화소 전류의 방전에 따라 하강하므로 특정 시점(t1, t2)에서 제1 전원 라인(PL1)의 전압을 ADC(52)를 통해 읽어내면, 아래의 수학식 3을 이용하여 구동 TFT(DT)에 흐르는 화소 전류를 계산할 수 있다.At this time, since the voltage of the first power supply line PL1 falls according to the discharge of the pixel current, when the voltage of the first power supply line PL1 is read through the ADC 52 at the specific time points t1 and t2, The pixel current flowing in the driving TFT DT can be calculated by using the equation (3).
<수학식 3>&Quot; (3) &quot;
I = Cvdd×(V1-V2)/(t2-t1)I = Cvdd x (V1 - V2) / (t2 - t1)
상기 수학식 3에서 I는 화소 전류를 나타내고, Cvdd는 제1 전원 라인(PL1)에 병렬 접속된 기생 커패시터(Cvdd)의 용량을, V1 및 V2는 도 13에 도시된 측정 모드의 C기간에서 t1 및 t2 시점에서 각각 검출된 제1 전원 라인(PL1)의 전압을 나타낸다. In the equation (3), I represents the pixel current, Cvdd represents the capacitance of the parasitic capacitor (Cvdd) connected in parallel to the first power supply line (PL1), and V1 and V2 represent t1 And the voltage of the first power supply line PL1 detected at the time t2.
한편, 방전 기간의 시작점(t0)에서의 제1 전원 라인(PL1)의 전압(Vdd)을 이용하는 경우 제1 전원 라인(PL1)의 전압을 t2 시점에서 한번만 측정하고, 아래의 수학식 2를 이용하여 화소 전류(I)를 구할 수 있다.On the other hand, when the voltage Vdd of the first power supply line PL1 at the start point t0 of the discharge period is used, the voltage of the first power supply line PL1 is measured only once at the time point t2, The pixel current I can be obtained.
<수학식 2>&Quot; (2) &quot;
I = Cvdd×(Vdd-V2)/(t2-t0)I = Cvdd (Vdd-V2) / (t2-t0)
이와 같이, 측정부(50)의 ADC(52)는 측정 모드에서 각 화소의 전류를 제1 전원 라인(PL1)을 통해 전압으로 측정하여 타이밍 컨트롤러로 출력한다. Thus, the ADC 52 of the measuring unit 50 measures the current of each pixel in the measurement mode as a voltage through the first power supply line PL1 and outputs it to the timing controller.
도 15는 본 발명의 제4 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 대표적인 일부 구성을 나타낸 등가 회로도이다.15 is an equivalent circuit diagram showing a typical configuration of an OLED display device for measuring pixel current according to the fourth embodiment of the present invention.
도 15에 도시된 제4 실시예에 따른 OLED 표시 장치는, 도 12에 도시된 제3 실시예의 OLED 표시 장치와 대비하여 측정부(50)가 데이터 드라이버(60)에 내장된 것을 제외하고는 동일한 구성 요소들을 구비하므로, 중복된 구성 요소들에 대한 설명은 생략하기로 한다.The OLED display according to the fourth embodiment shown in Fig. 15 is the same as the OLED display according to the third embodiment shown in Fig. 12 except that the measuring unit 50 is built in the data driver 60 The description of the redundant components will be omitted since they are provided for the components.
도 15를 참조하면, 데이터 드라이버(60)가 표시 모드 및 측정 모드에서 DAC(32)를 통해 표시 패널(40)의 데이터 라인(DL)을 구동함과 아울러 제1 스위치(SW1)를 통해 제1 전원 라인(PL1)에 고전위 전원(Vdd)을 공급한다. 데이터 드라이버(60)는 측정 모드의 측정 기간(C)에서 제1 스위치(SW1)를 턴-오프시킨 후 ADC(52)를 통해 제1 전원 라인(PL1) 상의 전압을 측정함으로써 구동되는 화소(P)의 화소 전류를 전압으로 측정하여 출력한다. 표시 패널(40)에서 데이터 라인(DL)의 수는 제1 전원 라인(PL1)의 수와 동일하고, DAC(32)는 데이터 라인(DL)과 채널별로 접속되고, ADC(52)는 제1 전원 라인(PL1)과 채널별로 접속된다.15, the data driver 60 drives the data line DL of the display panel 40 through the DAC 32 in the display mode and the measurement mode, and also drives the data line DL through the first switch SW1 And supplies the high potential power supply Vdd to the power supply line PL1. The data driver 60 turns on the pixel P (n) driven by measuring the voltage on the first power supply line PL1 through the ADC 52 after turning off the first switch SW1 in the measurement period C of the measurement mode, ) As a voltage and outputs the measured pixel current. The number of data lines DL in the display panel 40 is equal to the number of the first power supply lines PL1 and the DAC 32 is connected to the data lines DL on a channel by channel basis, And is connected to the power supply line PL1 on a channel-by-channel basis.
도 16은 본 발명의 다른 실시예에 따른 데이터 드라이버의 구성을 나타낸 회로도이다.16 is a circuit diagram showing a configuration of a data driver according to another embodiment of the present invention.
도 15에 도시된 데이터 드라이버(60) 대신 도 16에 도시된 데이터 드라이버(70)가 적용될 수 있다. 도 16에 도시된 데이터 드라이버(70)는 n개의 데이터 라인(DL1~DLn)과 채널별로 접속된 n개의 DAC(32)과, 고전위 전원 공통 라인(PCL)에 공통 접속되고 n개의 제1 전원 라인(PL11~PL1n)과 채널별로 접속된 n개의 제1 스위치(SW1)와, n개의 제1 전원 라인(PL11~PL1n)과 채널별로 접속된 n개의 S/H 회로(72)와, n개의 S/H 회로(72)의 출력을 1개의 ADC(52)로 순차적으로 출력하는 n개의 선택 스위치(SS1~SSn)을 구비하는 MUX(74)와, MUX(74)를 통해 S/H 회로(72)의 출력 순서를 제어하는 쉬프트 레지스터(76)를 추가로 구비한다. n개의 S/H 회로(14) 각각은 전술한 도 10과 같이 스위치(SW2) 및 커패시터(Ch)를 구비한다. The data driver 70 shown in Fig. 16 may be applied instead of the data driver 60 shown in Fig. The data driver 70 shown in Fig. 16 includes n DACs 32 connected to n data lines DL1 through DLn and a plurality of n DACs 32 commonly connected to a high potential power supply common line PCL, N first switches SW1 connected to the lines PL11 through PL1n and n first power lines PL11 through PL1n and n S / H circuits 72 connected on a channel-by-channel basis, n A MUX 74 having n selection switches SS1 to SSn for sequentially outputting the output of the S / H circuit 72 to one ADC 52 and a S / H circuit And a shift register 76 for controlling the output order of the output registers 72. Each of the n S / H circuits 14 has a switch SW2 and a capacitor Ch as shown in Fig. 10 described above.
이외에도, 데이터 드라이버(10)는 n개의 DAC(12)와 n개의 제1 스위치(SW1) 사이에는 개별적으로 접속된 n개의 출력 버퍼와, 입력 데이터를 순차적으로 입력하여 n개의 DAC(12)로 동시에 출력하기 위한 제1 쉬프트 레지스터 및 래치부를 더 구비하지만, 이들은 종래와 동일한 구성이므로 설명의 편의상 생략하기로 한다.In addition, the data driver 10 includes n output buffers individually connected between n DACs 12 and n first switches SW1, and input buffers sequentially input to n DACs 12 And a first shift register and a latch unit for outputting the first shift register and the latch unit.
n개의 DAC(32)는 표시 모드 및 측정 모드에서 입력 데이터를 데이터 전압으로 변환하여 n개의 데이터 라인(DL1~DLn)에 각각 공급한다.The n DACs 32 convert the input data into data voltages in the display mode and the measurement mode and supply the data voltages to the n data lines DL1 to DLn, respectively.
n개의 제1 스위치(SW1)는 표시 모드와, 측정 모드의 A, B 기간(도 13)에서 턴-온되어 고전위 전압(Vdd)을 n개의 제1 전원 라인(PL11~PL1n)에 각각 공급하고, 측정 모드의 C 기간(전압 측정 기간)에서 턴-오프되어 n개의 제1 전원 라인(PL11~PL1n)을 플로팅시킴으로써 채널별로 분리시킨다.The n first switches SW1 are turned on in the display mode and the A and B periods of the measurement mode (Fig. 13) to supply the high potential voltage Vdd to the n first power supply lines PL11 to PL1n, respectively And is turned off in the C period (voltage measurement period) of the measurement mode to float the n first power supply lines PL11 to PL1n, thereby separating the first power supply lines PL11 to PL1n.
n개의 S/H 회로(72)는 측정 모드의 C 기간(도 13)에서 n개의 제1 전원 라인(PL11~PL1n)로부터 각각 공급되는 화소 전류에 대응하는 전압을 샘플링 및 홀딩한다.The n S / H circuits 72 sample and hold the voltages corresponding to the pixel currents supplied from the n first power supply lines PL11 through PL1n in the C period (FIG. 13) of the measurement mode.
쉬프트 레지스터(76)는 측정 모드에서 외부로부터의 AD 클럭에 응답하여 쉬프트 동작을 하면서 순차적인 샘플링 신호를 MUX(74)의 n개 선택 스위치(SS1~SSn)로 출력한다.The shift register 76 performs a shift operation in response to an AD clock from the outside in a measurement mode and outputs a sequential sampling signal to the n selection switches SS1 to SSn of the MUX 74. [
MUX(74)의 n개 선택 스위치(SS1~SSn)는 쉬프트 레지스터(76)로부터의 샘플링 신호에 응답하여 순차적으로 턴-온됨으로써, n개의 S/H 회로(72)에 홀딩된 전압, 즉 측정 전압을 순차적으로(채널별로) ADC(52)로 공급한다.The n selection switches SS1 to SSn of the MUX 74 are sequentially turned on in response to the sampling signal from the shift register 76 so that the voltages held in the n S / H circuits 72, And supplies the voltage to the ADC 52 sequentially (on a channel-by-channel basis).
ADC(52)는 MUX(74)를 통해 순차적으로 입력되는 S/H 회로(74)로부터의 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 옵셋값 및 게인값 산출을 위한 타이밍 컨트롤러로 출력한다. The ADC 52 converts the measured voltage from the S / H circuit 74, which is sequentially inputted through the MUX 74, into digital data and outputs the digital data to a timing controller for calculating an offset value and a gain value.
타이밍 컨트롤러는 측정 모드에서 ADC(52)로부터 출력된 측정 전압을 바탕으로 화소 전류를 검출하고, 검출된 화소 전류를 이용하여 옵셋값 및 게인값을 산출하여 메모리에 저장한다. 타이밍 컨트롤러는 표시 모드에서 메모리에 저장된 옵셋값 및 게인값을 이용하여 데이터를 보상하여 데이터 드라이버(70)로 출력한다.The timing controller detects the pixel current based on the measured voltage output from the ADC 52 in the measurement mode, calculates an offset value and a gain value using the detected pixel current, and stores the offset value and the gain value in the memory. The timing controller compensates the data using the offset value and the gain value stored in the memory in the display mode and outputs the compensated data to the data driver 70.
도 17은 본 발명의 제5 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 대표적인 일부 구성을 나타낸 등가 회로도이다.17 is an equivalent circuit diagram showing a typical configuration of an OLED display device for measuring pixel current according to the fifth embodiment of the present invention.
도 17에 도시된 제5 실시예에 따른 OLED 표시 장치는, 도 12에 도시된 제3 실시예에 따른 OLED 표시 장치와 대비하여, 표시 패널(70)이 화소(P)에 접속되고 데이터 라인(DL)과 나란한 레퍼런스 라인(RL)과, 다수의 레퍼런스 라인(RL)이 공통 접속된 레퍼런스 공통 라인(RCL)과, 화소 회로에서 제1 스위칭 TFT(ST1)와 동일한 스캔 라인(SL)을 공유하여 레퍼런스 라인(RL)으로부터의 레퍼런스 전압(Vref)을 제2 노드(N2)로 공급하는 제2 스위칭 TFT(ST2)를 추가로 구비하고, 구동 TFT(DT)가 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)와 동일한 n형인 것을 제외하고는 동일한 구성 요소들을 구비하므로, 중복된 구성 요소들에 대한 설명은 생략하기로 한다. 도 17에 도시된 측정부(50)는 도 15와 같이 데이터 드라이버(30)에 내장될 수 있다.The OLED display according to the fifth embodiment shown in FIG. 17 is different from the OLED display according to the third embodiment shown in FIG. 12 in that the display panel 70 is connected to the pixel P, And a reference common line RCL in which a plurality of reference lines RL are connected in common and a scan line SL which is the same as the first switching TFT ST1 in a pixel circuit are shared And a second switching TFT ST2 for supplying a reference voltage Vref from the reference line RL to the second node N2 and the driving TFT DT is connected to the first and second switching TFTs ST1 , And ST2), the description of the overlapping components will be omitted. The measuring unit 50 shown in Fig. 17 can be incorporated in the data driver 30 as shown in Fig.
도 17을 참조하면, 표시 모드의 해당 스캔 기간에서 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 턴-온되어 스토리지 커패시터(Cs)는 데이터 전압(Vdata)과 레퍼런스 전압(Vref)의 차전압(Vdata-Vref)을 충전하여 구동 TFT(DT)를 구동시킨다.17, in the corresponding scan period of the display mode, the first and second switching TFTs ST1 and ST2 are turned on, so that the storage capacitor Cs is turned on by the difference voltage (Vdata) between the data voltage Vdata and the reference voltage Vref (Vdata-Vref) to drive the driving TFT DT.
측정 모드에서 도 17에 도시된 제5 실시예에 따른 OLED 표시 장치에는 도 13에 도시된 제3 실시예의 구동 파형도가 동일하게 적용된다.In the measurement mode, the driving waveform diagram of the third embodiment shown in FIG. 13 is applied to the OLED display according to the fifth embodiment shown in FIG.
도 17 및 도 13을 참조하면, 측정 모드의 데이터 공급 기간(A)에서, 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 스캔 라인(SL)의 스캔 신호인 게이트 온 전압에 응답하여 동시에 턴-온되고, 스토리지 커패시터(Cs)는 제1 스위칭 TFT(ST1)로부터의 측정용 데이터 전압(Vdata)과, 제2 스위칭 TFT(ST2)로부터의 레퍼런스 전압(Vref)의 차전압(Vdata-Vref)을 충전하여 구동 TFT(DT)를 구동시킨다.17 and 13, in the data supply period A of the measurement mode, the first and second switching TFTs ST1 and ST2 are turned on simultaneously in response to the gate-on voltage, which is a scan signal of the scan line SL. The storage capacitor Cs is turned on and the difference between the data voltage for measurement Vdata from the first switching TFT ST1 and the reference voltage Vref from the second switching TFT ST2 is Vdata- To drive the driving TFT DT.
그 다음, B기간(도 13)에서 스캔 라인(SL)의 스캔 신호인 게이트 오프 전압에 응답하여 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 턴-오프되고, 스토리지 커패시터(Cs)는 상기 충전 전압(Vdata-Vref)을 유지하여 구동 TFT(DT)를 구동시킨다. 이때, 제1 스위치(SW1)는 턴-온 상태를 유지하여 제1 전원 라인(PL1)으로 고전위 전원(Vdd)의 공급을 유지한다.Next, the first and second switching TFTs ST1 and ST2 are turned off in response to a gate-off voltage which is a scan signal of the scan line SL in the B period (FIG. 13), and the storage capacitor Cs is turned off And maintains the charging voltage Vdata-Vref to drive the driving TFT DT. At this time, the first switch SW1 maintains the turn-on state and maintains the supply of the high-potential power supply Vdd to the first power supply line PL1.
그리고, 측정 기간(C)(도 13)에서, 제1 스위치(SW1)가 턴-오프됨으로써 고전위 전원(Vdd)로부터의 전류 공급없이 제1 전원 라인(PL1)과 병렬 접속된 기생 커패시터(Cvdd)로부터의 전류가 화소 회로의 구동 TFT(DT)를 통해 흐르면서 제1 전원 라인(PL1)의 전압이 직선형으로 하강하게 된다. 이에 따라, 특정 시점(t1, t2)에서 제1 전원 라인(PL1)의 전압을 ADC(52)를 통해 측정하여, 전술한 수학식 3 또는 4를 이용하여 구동 TFT(DT)에 흐르는 화소 전류를 계산할 수 있다.In the measurement period C (Fig. 13), the parasitic capacitor Cvdd connected in parallel with the first power supply line PL1 without supplying the current from the high-potential power supply Vdd by turning off the first switch SW1 ) Flows through the drive TFT DT of the pixel circuit, the voltage of the first power supply line PL1 falls linearly. Accordingly, the voltage of the first power supply line PL1 is measured through the ADC 52 at the specific time points t1 and t2, and the pixel current flowing through the driving TFT DT is calculated by using Equation (3) or (4) Can be calculated.
도 18은 본 발명의 제6 실시예에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치의 대표적인 일부 구성을 나타낸 등가 회로도이고, 도 19는 도 18에 도시된 OLED 표시 장치의 측정 모드의 구동 파형도이다.FIG. 18 is an equivalent circuit diagram showing a typical configuration of an OLED display device for measuring pixel current according to a sixth embodiment of the present invention, and FIG. 19 is a driving waveform diagram of a measurement mode of the OLED display device shown in FIG.
도 18에 도시된 제6 실시예에 따른 OLED 표시 장치는, 도 17에 도시된 제5 실시예에 따른 OLED 표시 장치와 대비하여, 데이터 드라이버(80)에 내장된 ADC(52) 또는 S/H 회로(72)가 DAC(32)과 데이터 채널(CH)을 공유하고, 표시 패널(90)에서 고전위 공통 라인(PCL)과 제1 전원 라인(PL1) 사이에 접속된 제2 스위치(SW2)와, 데이터 라인(DL)과 제1 전원 라인(PL1) 사이에 접속된 제3 스위치(SW3)와, 제2 및 제3 스위치(SW2, SW3)를 각각 제어하는 제어 라인(CL1, CL2)을 구비하는 것을 제외하고는 동일한 구성 요소들을 구비하므로, 중복된 구성 요소들에 대한 설명은 생략하기로 한다. The OLED display according to the sixth embodiment shown in FIG. 18 is different from the OLED display according to the fifth embodiment shown in FIG. 17 in that the ADC 52 or the S / The circuit 72 shares the data channel CH with the DAC 32 and the second switch SW2 connected between the high potential common line PCL and the first power supply line PL1 in the display panel 90, A third switch SW3 connected between the data line DL and the first power line PL1 and control lines CL1 and CL2 for controlling the second and third switches SW2 and SW3 The description of the overlapping components will be omitted.
도 18에 도시된 데이터 드라이버(80)에서 DAC(32)은 제1 스위치(SW1)를 통해 데이터 라인(DL)과 접속된 출력 채널(CH)과 채널별로 접속된다. ADC(52) 또는 S/H 회로(72)는 출력 채널(CH)에 DAC(32)과 병렬 접속되어, DAC(32)과 출력 채널(CH)을 공유한다. ADC(52) 또는 S/H 회로(72)는 측정 모드에서 출력 채널(CH) 및 데이터 라인(DL)을 통해 제1 전원 라인(PL1)과 접속된다. 이에 따라, 데이터 드라이버(80)가 ADC(52) 또는 S/H 회로(72)를 포함하는 측정 회로를 내장하면서도 데이터 드라이버(80)의 출력 채널(CH)의 수는 증가없이 데이터 라인(DL)의 수와 동일하게 유지할 수 있다.In the data driver 80 shown in FIG. 18, the DAC 32 is connected to the output channel CH connected to the data line DL on a channel-by-channel basis through the first switch SW1. The ADC 52 or the S / H circuit 72 is connected in parallel with the DAC 32 to the output channel CH and shares the output channel CH with the DAC 32. The ADC 52 or the S / H circuit 72 is connected to the first power supply line PL1 through the output channel CH and the data line DL in the measurement mode. The number of output channels CH of the data driver 80 can be increased without increasing the number of data lines DL even when the data driver 80 incorporates a measurement circuit including the ADC 52 or the S / Can be kept equal to the number of
도 18에 도시된 표시 패널(90)은 도 17에 도시된 화소(P) 이외에도 외부로부터의 레퍼런스 전압(Vref)을 데이터 라인(DL)과 나란한 레퍼런스 라인(RL)으로 공급하는 레퍼런스 공통 라인(RCL)과, 외부로부터의 고전위 전원(Vdd)을 데이터 라인(DL)과 나란한 제1 전원 라인(PL1)으로 공급하는 고전위 공통 라인(PCL)과, 고전위 공통 라인(PCL)과 제1 전원 라인(PL1) 사이에 채널별로 접속된 제2 스위치(SW2)와, 제1 전원 라인(PL1)과 데이터 라인(DL) 사이에 채널별로 접속된 제3 스위치(SW3)와, 제2 및 제3 스위치(SW2, SW3)를 각각 제어하는 제1 및 제2 제어 라인(CL1, CL2)을 구비한다.The display panel 90 shown in Fig. 18 includes a reference common line RCL (not shown) for supplying a reference voltage Vref from the outside to the reference line RL in parallel with the data line DL in addition to the pixel P shown in Fig. A high potential common line PCL for supplying a high potential power supply Vdd from the outside to a first power supply line PL1 side by side with the data line DL, A third switch SW3 connected between the first power supply line PL1 and the data line DL on a channel-by-channel basis, a second switch SW2 connected between the first power supply line PL1 and the data line DL, And first and second control lines CL1 and CL2 for controlling the switches SW2 and SW3, respectively.
제2 스위치(SW2)는 제1 제어 라인(CL1)으로부터의 제1 제어 신호에 응답하여 표시 모드에서 턴-온되고, 도 19에 도시된 측정 모드에서 고전위 전원(Vdd)의 공급 기간(A, B)에 턴-온되어 고전위 공통 라인(HCL)으로부터의 고전위 전원(Vdd)을 제1 전원 라인(PL1)으로 공급하고, 측정 기간(C)에서 턴-오프되어 고전위 전원(Vdd)의 공급을 차단한다.The second switch SW2 is turned on in the display mode in response to the first control signal from the first control line CL1 and is turned on in the supply period A of the high potential power supply Vdd in the measurement mode shown in Fig. And B so as to supply the high potential power supply Vdd from the high potential common line HCL to the first power supply line PL1 and turn off in the measurement period C to turn off the high potential power supply Vdd ).
제3 스위치(SW3)는 제2 제어 라인(CL2)으로부터의 제2 제어 신호에 응답하여 표시 모드에서는 턴-오프되고, 도 19에 도시된 측정 모드의 고전위 전원(Vdd) 공급 기간(A)에서 턴-오프되고, 프리차지 기간(B) 및 측정 기간(C)에서 턴-온되어 제1 전원 라인(PL1)을 데이터 라인(DL)과 채널별로 접속시킨다. 제3 스위치(SW3)는 측정 기간(C)의 이전에 데이터 라인(DL)을 고전위 전원(Vdd)으로 프리차지시키기 위하여 제2 스위치(SW2)가 턴-오프되기 이전에 턴-온된다.The third switch SW3 is turned off in the display mode in response to the second control signal from the second control line CL2 and is supplied to the high potential power supply Vdd supply period A of the measurement mode shown in Fig. And is turned on in the pre-charge period B and the measurement period C to connect the first power line PL1 to the data line DL on a channel-by-channel basis. The third switch SW3 is turned on before the second switch SW2 is turned off so as to precharge the data line DL to the high potential power supply Vdd before the measurement period C. [
도 18을 참조하면, 표시 모드에서 데이터 드라이버(80)의 제1 스위치(SW1)와, 표시 패널(90)의 제2 스위치(SW2)가 턴-온되고, 제3 스위치(SW3)는 턴-오프된다. 스캔 라인(SL)에 게이트 온 전압이 공급되는 해당 수평 기간에서 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 턴-온되어 스토리지 커패시터(Cs)는 데이터 전압(Vdata)과 레퍼런스 전압(Vref)의 차전압(Vdata-Vref)을 충전하여 구동 TFT(DT)를 구동시킨다.18, in the display mode, the first switch SW1 of the data driver 80 and the second switch SW2 of the display panel 90 are turned on, and the third switch SW3 is turned- Off. The first and second switching TFTs ST1 and ST2 are turned on in the corresponding horizontal period in which the gate-on voltage is supplied to the scan line SL, so that the storage capacitor Cs is turned on to supply the data voltage Vdata and the reference voltage Vref, (Vdata-Vref) of the driving TFT DT to drive the driving TFT DT.
도 18 및 도 19를 참조하면, 측정 모드의 데이터 공급 기간(A)에서, 데이터 드라이버(80)의 제1 스위치(SW1)와, 표시 패널(90)의 제2 스위치(SW2)가 턴-온되고, 제3 스위치(SW3)는 턴-오프된다. 스캔 라인(SL)에 게이트 온 전압이 공급되는 해당 스캔 기간에서 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 턴-온되어 스토리지 커패시터(Cs)는 제1 스위칭 TFT(ST1)로부터의 측정용 데이터 전압(Vdata)과, 제2 스위칭 TFT(ST2)로부터의 레퍼런스 전압(Vref)의 차전압(Vdata-Vref)을 충전하여 구동 TFT(DT)를 구동시킨다.18 and 19, in the data supply period A of the measurement mode, the first switch SW1 of the data driver 80 and the second switch SW2 of the display panel 90 are turned on And the third switch SW3 is turned off. The first and second switching TFTs ST1 and ST2 are turned on during the corresponding scan period in which the gate-on voltage is supplied to the scan line SL so that the storage capacitor Cs is turned on for the measurement from the first switching TFT And charges the difference voltage (Vdata-Vref) between the data voltage (Vdata) and the reference voltage (Vref) from the second switching TFT (ST2) to drive the driving TFT (DT).
그 다음, 도 19에 도시된 프리차지 기간(B)에서 스캔 라인(SL)의 게이트 오프 전압에 응답하여 제1 및 제2 스위칭 TFT(ST1, ST2)가 턴-오프되고, 스토리지 커패시터(Cs)는 상기 충전 전압(Vdata-Vref)을 유지하여 구동 TFT(DT)를 구동시킨다. 제2 스위치(SW2)는 프리차지 기간(B)에서 턴-온 상태를 유지하여 제1 전원 라인(PL1)으로 고전위 전압(Vdd)의 공급을 유지한다. 제3 스위치(SW3)는 B기간의 중간 지점에서 턴-온되어 데이터 라인(DL)에 제1 전원 라인(PL1)과 동일한 고전위 전압(Vdd)을 프리차지한다. 이때, 제1 스위치(SW1)는 제3 스위치(SW3)와 반대로 프리차지 기간(B)의 중간 지점에서 턴-오프되어 데이터 라인(DL)에 고전위 전원(Vdd)이 프리차지될 때 DAC(32)과 데이터 라인(DL)을 전기적으로 분리한다.Then, the first and second switching TFTs ST1 and ST2 are turned off in response to the gate-off voltage of the scan line SL in the precharge period B shown in Fig. 19, and the storage capacitor Cs is turned on, Maintains the charging voltage Vdata-Vref and drives the driving TFT DT. The second switch SW2 maintains the turn-on state in the precharge period B and maintains the supply of the high-potential voltage Vdd to the first power supply line PL1. The third switch SW3 is turned on at an intermediate point of the B period to precharge the data line DL with the same high-potential voltage Vdd as the first power supply line PL1. The first switch SW1 is turned off at an intermediate point of the precharge period B as opposed to the third switch SW3 and is turned on when the high potential power supply Vdd is precharged to the data line DL. 32) and the data line (DL).
그리고, 도 19에 도시된 측정 기간(C)에서, 제1 스위치(SW1)는 턴-오프 상태를 유지하고, 제2 스위치(SW2)가 게이트 오프 전압에 의해 턴-오프됨으로써 고전위 전원(Vdd)의 공급없이 제1 전원 라인(PL1) 및 데이터 라인(DL)과 병렬 접속된 기생 커패시터(Cvdd, Cdata)로부터의 전류가 화소 회로의 구동 TFT(DT)를 통해 흐르면서 제1 전원 라인(PL1) 및 데이터 라인(DL)의 전압이 화소 전류에 따라 직선형으로 하강하게 된다. 이에 따라, 특정 시점(t1, t2)에서 제1 전원 라인(PL1)의 전압을 데이터 라인(DL) 및 출력 채널(CH)을 통해 ADC(52)에서 측정하여 출력한다. 19, the first switch SW1 maintains the turn-off state and the second switch SW2 is turned off by the gate-off voltage so that the high-potential power supply Vdd The current from the parasitic capacitors Cvdd and Cdata connected in parallel with the first power supply line PL1 and the data line DL is supplied to the first power supply line PL1 while flowing through the drive TFT DT of the pixel circuit, And the data line DL are linearly lowered in accordance with the pixel current. Accordingly, the voltage of the first power supply line PL1 is measured and outputted by the ADC 52 via the data line DL and the output channel CH at specific time points t1 and t2.
이에 따라, 타이밍 컨트롤러는 데이터 드라이버(80)로부터의 측정 전압(V2, V1)과 아래의 수학식 5를 이용하여 구동 TFT(DT)에 흐르는 화소 전류를 계산할 수 있다.Accordingly, the timing controller can calculate the pixel current flowing in the driving TFT DT by using the measured voltages (V2, V1) from the data driver 80 and the following equation (5).
<수학식 5>Equation (5)
I = (Cdata+Cvdd)×(V1-V2)/(t2-t1)I = (Cdata + Cvdd) (V1 - V2) / (t2 - t1)
상기 수학식 5에서 I는 화소 전류를 나타내고, Cdata는 데이터 라인(DL)에 병렬 접속된 기생 커패시터(Cdata)의 용량을, Cvdd는 제1 전원 라인(PL1)에 병렬 접속된 기생 커패시터(Cvdd)의 용량을, V1 및 V2는 도 19에 도시된 측정 모드의 C기간에서 t1 및 t2 시점에서 각각 검출된 출력 채널(CH)의 전압을 나타낸다. Where Cdata denotes a capacitance of the parasitic capacitor Cdata connected in parallel to the data line DL and Cvdd denotes a capacitance of the parasitic capacitor Cvdd connected in parallel to the first power supply line PL1, And V1 and V2 represent the voltages of the output channels CH detected at the time points t1 and t2 respectively in the C period of the measurement mode shown in Fig.
도 20a는 본 발명의 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치를 시뮬레이션하기 위한 등가 회로도이고, 도 20b는 도 20a에서 제1 스위치(SW1)가 오프된 후에 제1 전원 라인(PL1)의 전압을 측정하여 나타낸 파형도 및 측정 전압으로부터 계산된 전류를 나타내고, 도 20c는 측정 모드에서 도 20a의 구동 TFT(DT)에 흐르는 전류를 측정하여 나타낸 파형도이다. 20A is an equivalent circuit diagram for simulating an OLED display device for measuring the pixel current according to the present invention. FIG. 20B is a graph showing an equivalent circuit diagram for measuring the voltage of the first power line PL1 after the first switch SW1 is turned off in FIG. 20A 20C is a waveform diagram showing the current flowing in the drive TFT DT of FIG. 20A measured in the measurement mode. FIG.
도 20a 및 도 20b에는 데이터 전압(Vdata)이 3V, 4V, 4.5V, 5V인 경우에 대한 4개의 전압 파형 및 전류 파형이 도시되어 있다. 20A and 20B show four voltage waveforms and current waveforms when the data voltages Vdata are 3V, 4V, 4.5V, and 5V.
도 20a에서 데이터 전압(Vdata)이 3V, 4V, 4.5V, 5V인 경우, t1(=60usec) 및 t2(=80usec)에 측정된 전압과 전술한 수학식 1(Cvdd=10PF)을 이용하여 계산된 전류는 각각 36.82 nA, 108.16 nA, 160.52 nA, 224.49 nA임을 알 수 있다.20A, when the data voltages Vdata are 3V, 4V, 4.5V, and 5V, the voltages are calculated using the voltages measured at t1 (= 60usec) and t2 (= 80usec) and Equation 1 (Cvdd = 10PF) The currents are 36.82 nA, 108.16 nA, 160.52 nA, and 224.49 nA, respectively.
도 20b에서 데이터 전압(Vdata)이 3V, 4V, 4.5V, 5V인 경우, t1(=60usec) 및 t2(=80usec)에 전류의 평균값은 각각 36.83nA, 108.15nA, 160.48nA, 224.51nA임을 알 수 있다.20B, when the data voltages Vdata are 3V, 4V, 4.5V and 5V, the average values of the currents at t1 (= 60usec) and t2 (= 80usec) are 36.83nA, 108.15nA, 160.48nA and 224.51nA, respectively .
따라서, 도 20a에서 제1 전원 라인(PL1)의 전압을 측정하여 산출한 화소 전류는, 도 20b에서 직접 측정한 화소의 평균 전류와 대비하여 0.1% 오차 이내이므로, 비교적 정확한 화소 전류를 측정할 수 있음을 알 수 있다.Therefore, the pixel current calculated by measuring the voltage of the first power supply line PL1 in FIG. 20A is within 0.1% of the average current of the pixel directly measured in FIG. 20B, .
이와 같이, 본 발명에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치 및 그 화소 전류 측정 방법은 측정 모드에서 데이터 라인(DL)과 나란한 제1 전원 라인(PL1)을 통해 구동 TFT에 흐르는 화소 전류를 전압으로 측정함으로써 화소 전류를 순차적으로 고속 측정할 수 있다.As described above, the OLED display device for measuring the pixel current according to the present invention and the pixel current measuring method thereof are capable of measuring the pixel current flowing through the driving TFT through the first power line PL1, which is parallel to the data line DL, So that the pixel current can be sequentially measured at high speed.
또한, 본 발명에 따른 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치 및 그 화소 전류 측정 방법은 데이터 드라이버를 통해 각 화소 전류를 간단한 구성으로 고속으로 측정할 수 있다. 이에 따라, 본 발명은 제품 출하전의 검사 공정뿐만 아니라 제품 출하 이후에도 OLED 표시 장치가 구동되는 표시 모드 사이마다 측정 모드를 삽입하여 각 화소 전류를 측정하여 초기 구동 TFT의 특성 편차뿐만 아니라 구동 TFT의 열화로 인한 특성 편차도 보상할 수 있으므로, OLED 표시 장치의 수명 및 화질을 증가시킬 수 있다. In addition, the OLED display and the pixel current measurement method for measuring the pixel current according to the present invention can measure each pixel current at a high speed with a simple configuration through a data driver. Accordingly, in the present invention, not only the inspection process before the product shipment but also the measurement mode is inserted between display modes in which the OLED display device is driven even after the product is shipped, and each pixel current is measured to determine not only the characteristic drift of the initial driving TFT, It is possible to increase the lifetime and image quality of the OLED display device.
이상에서 본 발명의 기술적 사상을 예시하기 위해 구체적인 실시예로 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상기와 같이 구체적인 실시예와 동일한 구성 및 작용에만 국한되지 않고, 여러가지 변형이 본 발명의 범위를 벗어나지 않는 한도 내에서 실시될 수 있다. 따라서, 그와 같은 변형도 본 발명의 범위에 속하는 것으로 간주해야 하며, 본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의해 결정되어야 한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, And the like. Accordingly, such modifications are deemed to be within the scope of the present invention, and the scope of the present invention should be determined by the following claims.
10, 30, 60, 70, 80: 데이터 드라이버 12, 32: DAC
14, 72: S/H 회로 15, 74: MUX
16, 52: ADC 18, 76: 쉬프트 레지스터
20, 40, 70, 90: 표시 패널 50: 측정부
10, 30, 60, 70, 80: Data driver 12, 32: DAC
14, 72: S / H circuit 15, 74: MUX
16, 52: ADC 18, 76: Shift register
20, 40, 70, 90: display panel 50:

Claims (37)

  1. 각 화소가 발광 소자와, 그 발광 소자를 독립적으로 구동하는 화소 회로를 포함하는 표시 패널과;
    측정 모드에서, 데이터 전압을 이용하여 상기 화소 회로와 접속된 데이터 라인을 구동시킨 다음, 상기 표시 패널에서 상기 데이터 라인과, 상기 화소 회로에 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 라인과, 상기 화소 회로에 전원을 공급하는 제1 전원 라인 중 하나를 플로팅시켜서 전류 측정 라인으로 이용하고, 상기 전류 측정 라인으로 흐르는 상기 화소 회로의 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하여 출력하는 데이터 드라이버를 구비하고;
    상기 데이터 드라이버는 상기 데이터 라인을 구동하는 구동부와, 상기 전류 측정 라인의 전압을 측정하여 출력하는 측정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    Each pixel including a light emitting element and a pixel circuit for independently driving the light emitting element;
    A reference line for supplying a reference voltage to the data line and the pixel circuit in the display panel after driving a data line connected to the pixel circuit using a data voltage in a measurement mode, And a data driver which uses one of the first power supply lines to supply a current as a current measurement line and measures and outputs a voltage corresponding to a pixel current of the pixel circuit flowing to the current measurement line;
    Wherein the data driver comprises: a driver for driving the data line; and a measurement unit for measuring and outputting a voltage of the current measurement line.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 데이터 드라이버의 구동부는 출력 채널을 통해 상기 데이터 라인으로 데이터 전압을 공급하는 디지털-아날로그 컨버터를 포함하고;
    상기 데이터 드라이버의 측정부는
    상기 디지털-아날로그 컨버터와 상기 출력 채널에 병렬 접속되어 상기 전류 측정 라인의 전압을 샘플링 및 홀딩하여 상기 측정 전압으로 출력하는 샘플링 및 홀딩 회로와;
    상기 샘플링 및 홀딩 회로로부터의 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 컨버터를 구비하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method according to claim 1,
    Wherein the driver of the data driver includes a digital-to-analog converter for supplying a data voltage to the data line through an output channel;
    The measuring unit of the data driver
    A sampling and holding circuit connected in parallel to the digital-analog converter and the output channel for sampling and holding the voltage of the current measuring line and outputting the voltage as the measuring voltage;
    And an analog-to-digital converter converting the measured voltage from the sampling and holding circuit into digital data and outputting the digital data.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 데이터 드라이버의 측정부는
    상기 측정 모드에서 샘플링 신호를 순차적으로 출력하는 쉬프트 레지스터와;
    상기 샘플링 신호에 응답하여 상기 샘플링 및 홀드 회로의 다수의 출력을 순차적으로 상기 아날로그-디지털 컨버터로 출력하는 멀티플렉서를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 2,
    The measuring unit of the data driver
    A shift register for sequentially outputting sampling signals in the measurement mode;
    And a multiplexer for sequentially outputting a plurality of outputs of the sampling and holding circuit to the analog-to-digital converter in response to the sampling signal.
  4. 청구항 2 또는 청구항 3에 있어서,
    상기 발광 소자의 캐소드와 접속된 제2 전원 라인을 저전위 전원 또는 고전위 전원과 접속시는 전원 스위치를 추가로 구비하고;
    상기 데이터 드라이버의 구동부는 상기 디지털-아날로그 컨버터와 상기 출력 채널 사이에 채널별로 접속된 제1 스위치를 추가로 구비하고;
    상기 데이터 드라이버의 측정부는 상기 출력 채널과 상기 샘플링 및 홀딩 회로 사이에 채널별로 접속된 제2 스위치를 추가로 구비하며;
    상기 전원 스위치는 표시 모드에서는 상기 저전위 전원을 상기 전원 라인과 접속시키고, 상기 측정 모드에서는 상기 고전위 전원을 상기 전원 라인과 접속시키고,
    상기 제1 스위치는 상기 표시 모드와, 상기 측정 모드의 데이터 공급 기간에서 상기 디지털-아날로그 컨버터를 상기 출력 채널과 접속시키고,
    상기 제2 스위치는 상기 제1 스위치와 반대로, 상기 측정 모드의 측정 기간에서 상기 출력 채널을 상기 샘플링 및 홀딩 회로와 접속시키는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method according to claim 2 or 3,
    Further comprising a power switch for connecting the second power line connected to the cathode of the light emitting element to the low potential power source or the high potential power source;
    The driving unit of the data driver further comprises a first switch connected between the digital-analog converter and the output channel on a channel-by-channel basis;
    Wherein the measuring unit of the data driver further comprises a second switch connected between the output channel and the sampling and holding circuit on a channel-by-channel basis;
    Wherein the power switch connects the low potential power supply to the power supply line in a display mode, connects the high potential power supply to the power supply line in the measurement mode,
    Wherein the first switch connects the digital-analog converter with the output channel in the display mode and the data supply period of the measurement mode,
    And the second switch connects the output channel with the sampling and holding circuit during a measurement period of the measurement mode, as opposed to the first switch.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 표시 패널은
    상기 데이터 드라이버의 출력 채널과 상기 데이터 라인 사이에 채널별로 접속된 제3 스위치와,
    상기 출력 채널과 상기 레퍼런스 라인 사이에 채널별로 접속된 제4 스위치와,
    상기 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 공통 라인과 상기 레퍼런스 라인 사이에 채널별로 접속된 제5 스위치를 추가로 구비하고,
    상기 제3 스위치는 상기 표시 모드와, 상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간에서 상기 출력 채널을 상기 데이터 라인과 접속시키고,
    상기 제4 스위치는 상기 측정 모드의 상기 측정 기간에서 상기 출력 채널을 상기 레퍼런스 라인과 접속시키고,
    상기 제5 스위치는 상기 표시 모드와, 상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간에서 상기 레퍼런스 공통 라인을 상기 레퍼런스 라인과 접속시키는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 4,
    The display panel
    A third switch connected between the output channel of the data driver and the data line for each channel,
    A fourth switch connected between the output channel and the reference line for each channel,
    A reference common line for supplying the reference voltage and a fifth switch connected between the reference line and the reference line,
    The third switch connects the output channel with the data line in the display mode and the data supply period of the measurement mode,
    The fourth switch connects the output channel with the reference line in the measurement period of the measurement mode,
    And the fifth switch connects the reference common line with the reference line in the display mode and the data supply period of the measurement mode.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이에 존재하는 프리차지 기간에서, 상기 제2, 제4, 제5 스위치가 턴-온되어 상기 샘플링 및 홀딩 회로와 접속된 상기 출력 채널을 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압으로 프리차지하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 5,
    The second, fourth, and fifth switches are turned on and connected to the sampling and holding circuit in the precharge period existing between the data supply period and the measurement period of the measurement mode, Wherein the pre-charge is precharged to the reference voltage from the line.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 화소 회로는
    상기 제1 및 제2 전원 라인 사이에 상기 발광 소자와 직렬 접속되어 상기 발광 소자를 구동하는 구동 TFT와,
    제1 스캔 라인의 제1 스캔 신호에 응답하여 상기 데이터 라인으로부터의 데이터 전압을 상기 구동 TFT의 게이트 전극과 접속된 제1 노드로 공급하는 제1 스위칭 TFT와;
    제2 스캔 라인의 제2 스캔 신호에 응답하여 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압을 상기 구동 TFT와 상기 발광 소자 사이에 접속된 제2 노드로 공급하는 제2 스위칭 TFT와;
    상기 제1 및 제2 노드간의 전압을 충전하여 상기 구동 TFT의 구동 전압으로 공급하는 스토리지 커패시터를 구비하고;
    상기 측정 모드에서, 상기 제1 스위칭 TFT는 데이터 공급 기간에서만 턴-온되고,
    상기 측정 모드에서, 상기 제2 스위칭 TFT는 상기 데이터 공급 기간으로부터 상기 측정 기간까지 턴-온되고, 상기 측정 기간에서는 상기 구동 TFT로부터의 상기 화소 전류가 상기 레퍼런스 라인으로 흐르게 하고,
    상기 측정부는 상기 측정 기간에서 상기 레퍼런스 라인 및 상기 출력 채널을 통해 상기 화소 전류에 비례하여 상승하는 전압을 측정하여 출력하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 6,
    The pixel circuit
    A driving TFT connected between the first and second power supply lines in series with the light emitting element to drive the light emitting element,
    A first switching TFT for supplying a data voltage from the data line to a first node connected to a gate electrode of the driving TFT in response to a first scan signal of the first scan line;
    A second switching TFT for supplying the reference voltage from the reference line to a second node connected between the driving TFT and the light emitting element in response to a second scan signal of the second scan line;
    And a storage capacitor which charges the voltage between the first and second nodes and supplies the charged voltage to the driving voltage of the driving TFT;
    In the measurement mode, the first switching TFT is turned on only in the data supply period,
    In the measurement mode, the second switching TFT is turned on from the data supply period to the measurement period, and in the measurement period, the pixel current from the drive TFT flows to the reference line,
    Wherein the measuring unit measures and outputs a voltage rising in proportion to the pixel current through the reference line and the output channel during the measurement period.
  8. 청구항 4에 있어서,
    상기 화소 회로는
    상기 제1 및 제2 전원 라인 사이에 상기 발광 소자와 직렬 접속되어 상기 발광 소자를 구동하는 구동 TFT와,
    제1 스캔 라인의 제1 스캔 신호에 응답하여 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압을 상기 구동 TFT의 게이트 전극과 접속된 제1 노드로 공급하는 제1 스위칭 TFT와;
    제2 스캔 라인의 제2 스캔 신호에 응답하여 상기 데이터 라인으로부터의 상기 데이터 전압을 상기 구동 TFT와 상기 발광 소자 사이에 접속된 제2 노드로 공급하는 제2 스위칭 TFT와;
    상기 제1 및 제2 노드간의 전압을 충전하여 상기 구동 TFT의 구동 전압으로 공급하는 스토리지 커패시터를 구비하고;
    상기 측정 모드에서, 제1 스위칭 TFT는 데이터 공급 기간에서만 턴-온되고,
    상기 측정 모드에서, 상기 제2 스위칭 TFT는 상기 측정 모드의 데이터 공급 기간으로부터 상기 측정 기간까지 턴-온되며, 상기 측정 기간에서 상기 구동 TFT로부터의 상기 화소 전류가 상기 데이터 라인으로 흐르게 하고,
    상기 측정부는 상기 측정 기간에서 상기 데이터 라인 및 상기 출력 채널을 통해 상기 화소 전류에 비례하여 상승하는 전압을 측정하여 출력하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 4,
    The pixel circuit
    A driving TFT connected between the first and second power supply lines in series with the light emitting element to drive the light emitting element,
    A first switching TFT for supplying the reference voltage from the reference line to a first node connected to a gate electrode of the driving TFT in response to a first scan signal of the first scan line;
    A second switching TFT for supplying the data voltage from the data line to a second node connected between the driving TFT and the light emitting element in response to a second scan signal of the second scan line;
    And a storage capacitor which charges the voltage between the first and second nodes and supplies the charged voltage to the driving voltage of the driving TFT;
    In the measurement mode, the first switching TFT is turned on only in the data supply period,
    The second switching TFT is turned on from the data supply period of the measurement mode to the measurement period and causes the pixel current from the drive TFT to flow to the data line in the measurement period,
    Wherein the measuring unit measures and outputs a voltage rising in proportion to the pixel current through the data line and the output channel during the measurement period.
  9. 청구항 8에 있어서,
    상기 제1 스위치는 상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이에 존재하는 프리차지 기간에서 턴-온되어 상기 디지털-아날로그 컨버터로부터의 프리차지 전압을 상기 데이터 라인으로 공급하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 8,
    The first switch is turned on in a precharge period existing between the data supply period and the measurement period of the measurement mode and supplies the precharge voltage from the digital-analog converter to the data line OLED display for measuring pixel current.
  10. 각 화소가 발광 소자와, 그 발광 소자를 독립적으로 구동하는 화소 회로와, 상기 화소 회로와 접속되고 서로 나란한 데이터 라인 및 제1 전원 라인을 포함하는 표시 패널과;
    표시 모드 및 측정 모드에서 상기 데이터 라인으로 데이터 전압을 공급하는 데이터 드라이버와;
    상기 표시 모드 및 상기 측정 모드에서 상기 화소 회로의 구동을 위해 상기 제1 전원 라인으로 고전위 전원을 공급하고, 상기 측정 모드의 측정 기간에서 상기 제1 전원 라인으로의 상기 고전위 전원의 공급을 차단한 후, 상기 제1 전원 라인을 전류 측정 라인으로 이용하여 상기 화소 회로의 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하여 출력하는 측정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    Each pixel including a light emitting element, a pixel circuit for independently driving the light emitting element, and a data line and a first power supply line connected to the pixel circuit and arranged parallel to each other;
    A data driver for supplying a data voltage to the data lines in a display mode and a measurement mode;
    And supplies a high-potential power supply to the first power supply line for driving the pixel circuit in the display mode and the measurement mode, and stops supply of the high-potential power supply to the first power supply line in the measurement period of the measurement mode And a measuring unit for measuring and outputting a voltage corresponding to a pixel current of the pixel circuit using the first power supply line as a current measuring line.
  11. 청구항 10에 있어서,
    상기 측정부는
    상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 전원 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속된 제1 스위치와;
    상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하고, 그 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 컨버터를 구비하고;
    상기 제1 스위치는 측정 모드의 측정 기간에서만 턴-오프되는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 10,
    The measuring unit
    A first switch connected between the high potential power supply common line for supplying the high potential power and the first power supply line for each channel;
    An analog-to-digital converter for measuring a voltage on the first power supply line, converting the measured voltage into digital data, and outputting the digital data;
    Wherein the first switch is turned off only during a measurement period of the measurement mode.
  12. 청구항 10에 있어서,
    상기 측정부는
    상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 전원 공통 라인과, 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속된 제1 스위치와;
    상기 제1 전원 라인에 채널별로 접속되고, 상기 측정 모드에서 상기 제1 전원 라인의 전압을 샘플링 및 홀딩하여 상기 측정 전압으로 출력하는 샘플링 및 홀딩 회로와;
    상기 측정 모드에서 샘플링 신호를 순차적으로 출력하는 쉬프트 레지스터와;
    상기 샘플링 신호에 응답하여 상기 샘플링 및 홀드 회로의 다수의 출력을 순차적으로 출력하는 멀티플렉서와;
    상기 멀티플렉서의 출력 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 아날로그-디지털 컨버터를 구비하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 10,
    The measuring unit
    A high-potential power supply common line for supplying the high-potential power supply; a first switch connected between the first power supply line and the first switch;
    A sampling and holding circuit connected to the first power supply line on a channel-by-channel basis, for sampling and holding a voltage of the first power supply line in the measurement mode and outputting the measured voltage as the measurement voltage;
    A shift register for sequentially outputting sampling signals in the measurement mode;
    A multiplexer for sequentially outputting a plurality of outputs of the sampling and holding circuit in response to the sampling signal;
    And an analog-to-digital converter converting the output voltage of the multiplexer into digital data and outputting the digital data.
  13. 청구항 11 또는 청구항 12에 있어서,
    상기 측정부는 상기 데이터 드라이버에 내장된 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method according to claim 11 or 12,
    And the measuring unit is embedded in the data driver.
  14. 청구항 10에 있어서,
    상기 화소 회로는
    상기 제1 전원 라인과 제2 전원 라인 사이에 상기 발광 소자와 직렬 접속되어 상기 발광 소자를 구동하는 p형 구동 TFT와,
    스캔 라인의 스캔 신호에 응답하여 상기 데이터 라인으로부터의 상기 데이터 전압을 상기 구동 TFT의 게이트 전극과 접속된 제1 노드로 공급하는 스위칭 TFT와;
    상기 제1 노드와, 상기 제1 전원 라인과 상기 구동 TFT가 공통 접속된 제2 노드 사이의 전압을 충전하여 상기 구동 TFT의 구동 전압으로 공급하는 스토리지 커패시터를 구비하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 10,
    The pixel circuit
    A p-type driver TFT connected between the first power supply line and the second power supply line in series with the light emitting element to drive the light emitting element,
    A switching TFT for supplying the data voltage from the data line to a first node connected to a gate electrode of the driving TFT in response to a scan signal of the scan line;
    And a storage capacitor for charging a voltage between the first node and a second node connected in common between the first power supply line and the drive TFT and supplying the voltage to the drive voltage of the drive TFT. OLED display device.
  15. 청구항 10에 있어서,
    상기 표시 패널은 상기 화소 회로에 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 라인을 더 구비하고,
    상기 화소 회로는
    상기 제1 전원 라인과 제2 전원 라인 사이에 상기 발광 소자와 직렬 접속되어 상기 발광 소자를 구동하는 구동 TFT와,
    스캔 라인의 스캔 신호에 응답하여 상기 데이터 라인으로부터의 상기 데이터 전압을 상기 구동 TFT의 게이트 전극과 접속된 제1 노드로 공급하는 제1 스위칭 TFT와;
    상기 스캔 라인의 스캔 신호에 응답하여 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압을 상기 구동 TFT와 상기 발광 소자 사이에 접속된 제2 노드로 공급하는 제2 스위칭 TFT와;
    상기 제1 및 제2 노드 사이의 전압을 충전하여 상기 구동 TFT의 구동 전압으로 공급하는 스토리지 커패시터를 구비하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 10,
    Wherein the display panel further comprises a reference line for supplying a reference voltage to the pixel circuit,
    The pixel circuit
    A driving TFT connected between the first power supply line and the second power supply line in series with the light emitting element to drive the light emitting element,
    A first switching TFT for supplying the data voltage from the data line to a first node connected to a gate electrode of the driving TFT in response to a scan signal of the scan line;
    A second switching TFT for supplying the reference voltage from the reference line to a second node connected between the driving TFT and the light emitting element in response to a scan signal of the scan line;
    And a storage capacitor for charging a voltage between the first and second nodes to supply the driving voltage to the driving TFT.
  16. 청구항 10에 있어서,
    상기 표시 패널은
    상기 화소 회로에 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 라인과,
    상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 공통 라인과,
    상기 고전위 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속되고, 제1 제어 라인의 제1 제어 신호에 응답하여 상기 고전위 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 접속을 스위칭하는 제2 스위치와;
    상기 데이터 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속되고, 제2 제어 라인의 제2 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 접속을 스위칭하는 제3 스위치를 추가로 구비하고,
    상기 측정 모드의 측정 기간에서, 상기 측정부는 상기 데이터 라인 및 상기 제3 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하여 출력하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method of claim 10,
    The display panel
    A reference line for supplying a reference voltage to the pixel circuit,
    A high potential common line for supplying the high potential power,
    A second switch connected between said high potential common line and said first power supply line for each channel and switching connection between said high potential common line and said first power supply line in response to a first control signal of a first control line, Wow;
    Further comprising a third switch connected between the data line and the first power line for each channel and switching a connection between the data line and the first power line in response to a second control signal of the second control line and,
    Wherein the measuring unit measures and outputs the voltage on the first power line through the data line and the third switch in the measurement period of the measurement mode.
  17. 청구항 16에 있어서,
    상기 데이터 드라이버는
    출력 채널을 통해 상기 데이터 라인으로 상기 데이터 전압을 공급하는 디지털-아날로그 컨버터와;
    상기 디지털-아날로그 컨버터와 상기 출력 채널 사이에 채널별로 접속된 제1 스위치와;
    상기 디지털-아날로그 컨버터와 상기 출력 채널에 병렬 접속되고, 상기 출력 채널과 접속된 상기 데이터 라인 및 상기 제3 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하여 출력하는 상기 측정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    18. The method of claim 16,
    The data driver
    A digital-to-analog converter for supplying the data voltage to the data line through an output channel;
    A first switch connected between the digital-analog converter and the output channel on a channel-by-channel basis;
    And a measuring unit connected in parallel to the digital-analog converter and the output channel, for measuring and outputting a voltage on the first power line through the data line connected to the output channel and the third switch. OLED display device for pixel current measurement.
  18. 청구항 17에 있어서,
    상기 측정 모드의 데이터 공급 기간에서, 상기 제1 스위치는 상기 디지털-아날로그 컨버터로부터의 데이터 전압을 상기 출력 채널을 통해 상기 데이터 라인으로 공급하고, 상기 제2 스위치는 상기 고전위 공통 라인으로부터의 고전위 전원을 상기 제1 전원 라인으로 공급하고;
    상기 측정 모드의 측정 기간에서, 상기 제1 및 제2 스위치가 턴-오프되고, 상기 제3 스위치가 턴-온되어, 상기 출력 채널과 접속된 상기 데이터 라인 및 상기 제3 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    18. The method of claim 17,
    Wherein the first switch supplies a data voltage from the digital-analog converter to the data line via the output channel in a data supply period of the measurement mode, and the second switch supplies a data voltage from the high- Supplying power to the first power line;
    In the measurement period of the measurement mode, the first and second switches are turned off, the third switch is turned on, the data line connected to the output channel, and the first switch And the voltage on the power supply line is measured.
  19. 청구항 18에 있어서,
    상기 측정 모드의 상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간의 프리차지 기간에서, 상기 제2 스위치가 턴-오프되기 이전에 상기 제3 스위치가 턴-온됨과 아울러 상기 제1 스위치가 턴-오프되어 상기 데이터 라인 및 출력 채널을 상기 고전위 전원으로 프리차지하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    19. The method of claim 18,
    The third switch is turned on and the first switch is turned off before the second switch is turned off in the data supply period of the measurement mode and the precharge period of the measurement period, Line and an output channel to the high-potential power supply.
  20. 청구항 1 또는 청구항 10에 있어서,
    상기 측정 모드에서, 상기 데이터 드라이버로부터 출력된 측정 전압과, 측정 기간과, 상기 전류 측정 라인과 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스를 이용하여 상기 화소 전류를 산출하고, 산출된 화소 전류를 이용하여 보상치를 산출하여 저장하는 타이밍 컨트롤러를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    The method according to claim 1 or 10,
    In the measurement mode, the pixel current is calculated using the measured voltage output from the data driver, the measurement period, and the capacitance of the capacitor connected in parallel with the current measurement line, and the compensation value is calculated using the calculated pixel current Wherein the OLED display device further comprises a timing controller for storing the OLED display data.
  21. 청구항 20에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러는 상기 측정 모드에서, 상기 데이터 드라이버에서 상기 전류 측정 라인 상의 전압을 측정하여 출력하는 측정 전압(V1, V2)과, 그 측정 전압의 측정 시간(t1, t2)과, 상기 전류 측정 라인과 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스(C)를 이용한 아래의 수학식 1과 같은 연산을 통해 상기 화소 전류(I)를 산출하는 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    <수학식 1>
    I = C×(V2-V1)/(t2-t1)
    여기서, V1 및 V2은 t1 및 t2 시점에서 각각 측정된 전압이다.
    The method of claim 20,
    Wherein the timing controller is configured to measure the measurement voltage (V1, V2) for measuring and outputting the voltage on the current measurement line in the data driver, the measurement time (t1, t2) And the capacitance (C) of the capacitor connected in parallel with the pixel current (I), the pixel current (I) is calculated by the following equation (1).
    &Quot; (1) &quot;
    I = C (V2 - V1) / (t2 - t1)
    Here, V1 and V2 are measured voltages at the time t1 and t2, respectively.
  22. 청구항 21에 있어서,
    상기 커패시턴스는 상기 전류 측정 라인에 존재하는 기생 커패시터의 커패시턴스와, 상기 측정부의 입력단에 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스의 합인 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    23. The method of claim 21,
    Wherein the capacitance is a sum of a capacitance of a parasitic capacitor existing in the current measurement line and a capacitance of a capacitor connected in parallel to an input terminal of the measurement unit.
  23. 청구항 21에 있어서,
    상기 커패시턴스는 상기 제1 전원 라인에 존재하는 기생 커패시터의 커패시턴스와, 상기 데이터 라인에 존재하는 기생 커패시턴스의 합인 것을 특징으로 하는 화소 전류 측정을 위한 OLED 표시 장치.
    23. The method of claim 21,
    Wherein the capacitance is a sum of a capacitance of a parasitic capacitor existing in the first power supply line and a parasitic capacitance existing in the data line.
  24. OLED 표시 장치의 각 화소 전류를 측정하는 방법에 있어서,
    측정 모드의 데이터 공급 기간에서, 데이터 전압을 화소 회로에 공급하여 상기 화소 회로를 구동하는 단계와;
    상기 측정 모드의 측정 기간에서, 상기 화소 회로와 접속된 데이터 라인과, 레퍼런스 라인과, 제1 전원 라인 중 하나를 플로팅시켜서 전류 측정 라인으로 이용하고, 상기 전류 측정 라인으로 흐르는 상기 화소 회로의 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하여 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    A method for measuring each pixel current of an OLED display,
    Supplying a data voltage to a pixel circuit in a data supply period of the measurement mode to drive the pixel circuit;
    Wherein one of the data line connected to the pixel circuit, the reference line, and the first power supply line is used as a current measurement line in a measurement period of the measurement mode, and the pixel current And outputting the measured voltage to the OLED display device.
  25. 청구항 24에 있어서,
    상기 데이터 공급 기간에서, 데이터 드라이버의 디지털-아날로그 컨버터와 출력 채널 사이에 접속된 제1 스위치를 통해 상기 데이터 전압을 상기 출력 채널을 통해 상기 데이터 라인으로 공급하고,
    상기 측정 기간에서, 상기 데이터 드라이버내에서 상기 제1 스위치와 상기 출력 채널에 병렬 접속되고, 상기 제1 스위치와 상반된 동작을 하는 제2 스위치를 통해 상기 전류 측정 라인 상의 전압을 샘플링 및 홀딩하여 측정하고, 상기 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    27. The method of claim 24,
    Supplying the data voltage through the output channel to the data line through a first switch connected between the digital-analog converter and an output channel of the data driver in the data supply period,
    During the measurement period, the voltage on the current measurement line is sampled and held in parallel through the first switch and the output channel in the data driver through a second switch operating in opposition to the first switch And converting the measured voltage into digital data and outputting the digital data.
  26. 청구항 25에 있어서,
    상기 데이터 공급 기간에서, 제3 스위치를 통해 상기 데이터 드라이버의 출력 채널이 상기 데이터 라인과 접속되고, 상기 출력 채널과 상기 레퍼런스 라인 사이의 제4 스위치는 오프되고, 제5 스위치를 통해 상기 레퍼런스 라인에는 레퍼런스 전압이 공급되며,
    상기 측정 기간에서, 상기 제3 및 제5 스위치는 오프되고, 상기 제4 스위치를 통해 상기 출력 채널에 상기 레퍼런스 라인이 접속되어 상기 레퍼런스 라인을 통해 상기 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    26. The method of claim 25,
    In the data supply period, the output channel of the data driver is connected to the data line through the third switch, the fourth switch between the output channel and the reference line is turned off, and the reference line A reference voltage is supplied,
    The third and fifth switches are turned off and the reference line is connected to the output channel through the fourth switch to measure a voltage corresponding to the pixel current through the reference line in the measurement period Of the pixel current of the OLED display.
  27. 청구항 26에 있어서,
    상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이의 프리차지 기간에서, 상기 제2, 제4, 제5 스위치가 턴-온되어 상기 출력 채널을 상기 레퍼런스 라인으로부터의 상기 레퍼런스 전압으로 프리차지하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    27. The method of claim 26,
    Further comprising the step of pre-charging the output channel with the reference voltage from the reference line in a precharge period between the data supply period and the measurement period, wherein the second, fourth and fifth switches are turned on Wherein the OLED display comprises a plurality of pixels.
  28. 청구항 25에 있어서,
    상기 측정 기간에서, 상기 제2 스위치 및 상기 데이터 라인 라인을 통해 상기 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하고,
    상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이의 프리차지 기간에서, 상기 제1 스위치가 턴-온되어 상기 디지털-아날로그 컨버터로부터의 프리차지 전압을 상기 데이터 라인으로 공급하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    26. The method of claim 25,
    Measuring a voltage corresponding to the pixel current through the second switch and the data line in the measurement period,
    Further comprising the step of supplying the pre-charge voltage from the digital-analog converter to the data line in the precharge period between the data supply period and the measurement period, wherein the first switch is turned on, Of the pixel current of the OLED display.
  29. OLED 표시 장치의 각 화소 전류를 측정하는 방법에 있어서,
    상기 OLED 표시 장치는 각 화소가 발광 소자와, 그 발광 소자를 독립적으로 구동하는 화소 회로와, 상기 화소 회로와 접속되고 서로 나란한 데이터 라인 및 제1 전원 라인을 포함하고,
    측정 모드의 데이터 공급 기간에서, 상기 데이터 라인에 데이터 전압을 공급하고, 상기 제1 전원 라인에 고전위 전원을 공급하여 상기 화소 회로를 구동하는 단계와,
    상기 측정 모드의 측정 기간에서, 상기 데이터 라인으로부터 상기 화소 회로로의 상기 데이터 전압의 공급을 차단함과 아울러 상기 제1 전원 라인으로의 상기 고전위 전원의 공급을 차단한 후, 상기 제1 전원 라인을 전류 측정 라인으로 이용하여 상기 화소 회로의 화소 전류에 대응하는 전압을 측정하여 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    A method for measuring each pixel current of an OLED display,
    Wherein each pixel includes a light emitting element, a pixel circuit for independently driving the light emitting element, and a data line and a first power line connected to the pixel circuit and arranged parallel to each other,
    Supplying a data voltage to the data line in a data supply period of the measurement mode and supplying a high potential power to the first power supply line to drive the pixel circuit;
    In the measurement period of the measurement mode, the supply of the data voltage from the data line to the pixel circuit is cut off, and after the supply of the high potential power to the first power source line is cut off, And measuring and outputting a voltage corresponding to the pixel current of the pixel circuit using the measured current as a current measurement line.
  30. 청구항 29에 있어서,
    상기 데이터 공급 기간에서, 상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 전원 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 제1 스위치가 턴-온되고,
    상기 측정 기간에서, 상기 제1 스위치가 턴-오프되고 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하고, 그 측정 전압을 디지털 데이터로 변환하여 출력하고,
    상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간 사이에서, 상기 데이터 라인으로부터 상기 화소 회로로의 상기 데이터 전압의 공급을 차단한 후 상기 제1 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인에 상기 고전위 전원의 공급을 유지하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    29. The method of claim 29,
    In the data supply period, the first switch between the high potential power supply common line for supplying the high potential power and the first power supply line is turned on,
    In the measurement period, the first switch is turned off and measures the voltage on the first power supply line, converts the measured voltage into digital data and outputs it,
    The supply of the data voltage from the data line to the pixel circuit is interrupted between the data supply period and the measurement period and then the supply of the high potential power is maintained to the first power supply line through the first switch Further comprising the step of: measuring a current flowing through the OLED display.
  31. 청구항 29에 있어서,
    상기 데이터 공급 기간에서, 상기 화소 회로의 구동 TFT는 상기 데이터 전압과 상기 고전위 전원과의 차전압을 이용하여 구동하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    29. The method of claim 29,
    Wherein the driving TFT of the pixel circuit is driven using the difference voltage between the data voltage and the high potential power supply in the data supply period.
  32. 청구항 29에 있어서,
    상기 OLED 표시 장치는 상기 화소 회로에 레퍼런스 전압을 공급하는 레퍼런스 라인을 추가로 구비하고,
    상기 데이터 공급 기간에서, 상기 화소 회로의 구동 TFT는 상기 데이터 전압과 상기 레퍼런스 전압과의 차전압을 이용하여 구동하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    29. The method of claim 29,
    The OLED display further comprises a reference line for supplying a reference voltage to the pixel circuit,
    Wherein the driving TFT of the pixel circuit is driven using the difference voltage between the data voltage and the reference voltage in the data supply period.
  33. 청구항 29에 있어서,
    상기 OLED 표시 장치는
    데이터 드라이버에서 디지털-아날로그 컨버터와 출력 채널 사이에 접속된 제1 스위치와;
    표시 패널에서 상기 고전위 전원을 공급하는 고전위 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속되고, 제1 제어 라인의 제1 제어 신호에 응답하여 상기 고전위 공통 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 접속을 스위칭하는 제2 스위치와;
    상기 표시 패널에서 상기 데이터 라인과 상기 제1 전원 라인 사이에 채널별로 접속되고, 제2 제어 라인의 제2 제어 신호에 응답하여 상기 데이터 라인과 상기 제1 전원 라인 사이의 접속을 스위칭하는 제3 스위치를 추가로 구비하고,
    상기 데이터 공급 기간에서, 상기 제1 스위치를 통해 상기 데이터 라인에 상기 데이터 전압을 공급하고, 상기 제2 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인에 상기 고전위 전원을 공급하고,
    상기 측정 기간에서, 상기 제1 및 제2 스위치는 턴-오프되고, 상기 데이터 라인 및 상기 제3 스위치를 통해 상기 제1 전원 라인 상의 전압을 측정하여 출력하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    29. The method of claim 29,
    The OLED display device
    A first switch connected between the digital-to-analog converter and the output channel in the data driver;
    And a second control line connected in common between the high potential common line for supplying the high potential power to the display panel and the first power line, A second switch for switching a connection between the first switch and the second switch;
    A third switch connected between the data line and the first power supply line in the display panel on a channel-by-channel basis and switching a connection between the data line and the first power supply line in response to a second control signal of the second control line; Further comprising:
    Supplying the data voltage to the data line through the first switch in the data supply period and supply the high potential power to the first power line through the second switch,
    Wherein the first and second switches are turned off and measure and output the voltage on the first power supply line through the data line and the third switch in the measurement period, How to measure.
  34. 청구항 33에 있어서,
    상기 데이터 공급 기간과 상기 측정 기간의 프리차지 기간에서, 상기 제2 스위치가 턴-오프되기 이전에 상기 제3 스위치가 턴-온됨과 아울러 상기 제1 스위치가 턴-오프되어 상기 데이터 라인 및 출력 채널을 상기 고전위 전원으로 프리차지하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    34. The method of claim 33,
    In the precharge period of the data supply period and the measurement period, the third switch is turned on before the second switch is turned off, and the first switch is turned off so that the data line and the output channel Further comprising the step of precharging the OLED display to the high potential power supply.
  35. 청구항 24 또는 청구항 29에 있어서,
    상기 측정 모드에서, 상기 측정 전압과, 상기 측정 기간과, 상기 전류 측정 라인과 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스를 이용하여 상기 화소 전류를 산출하고, 산출된 화소 전류를 이용하여 보상치를 산출하여 저장하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    The method of claim 24 or 29,
    Calculating the pixel current using the measured voltage, the measurement period, and a capacitance of a capacitor connected in parallel with the current measurement line in the measurement mode, calculating and storing a compensation value using the calculated pixel current, The method comprising the steps of: (a)
  36. 청구항 35에 있어서,
    상기 화소 전류(I)는,
    상기 측정 전압(V1, V2)과, 그 측정 전압의 측정 시간(t1, t2)과, 상기 전류 측정 라인과 병렬 접속된 커패시터의 커패시턴스(C)를 이용한 아래의 수학식 1과 같은 연산을 통해 산출하는 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    <수학식 1>
    I = C×(V2-V1)/(t2-t1)
    여기서, V1 및 V2은 t1 및 t2 시점에서 각각 측정된 전압이다.
    36. The method of claim 35,
    The pixel current (I)
    (1) using the measured voltages (V1 and V2), the measurement times (t1 and t2) of the measured voltages, and the capacitance (C) of the capacitors connected in parallel with the current measurement line Wherein the OLED display comprises a plurality of pixels.
    &Quot; (1) &quot;
    I = C (V2 - V1) / (t2 - t1)
    Here, V1 and V2 are measured voltages at the time t1 and t2, respectively.
  37. 청구항 36에 있어서,
    상기 커패시턴스는 상기 제1 전원 라인에 존재하는 기생 커패시터의 커패시턴스와, 상기 데이터 라인에 존재하는 기생 커패시턴스의 합인 것을 특징으로 하는 OLED 표시 장치의 화소 전류 측정 방법.
    37. The method of claim 36,
    Wherein the capacitance is a sum of a capacitance of a parasitic capacitor existing in the first power supply line and a parasitic capacitance existing in the data line.
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Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101965335B1 (en) * 2013-03-29 2019-04-04 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display Device and Driving Method thereof
KR101957281B1 (en) * 2013-04-30 2019-03-13 엘지디스플레이 주식회사 Organic light-emitting display device and Measuring method of transistor characteristics of the same
KR102056784B1 (en) * 2013-08-30 2020-01-22 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device
KR102050268B1 (en) * 2013-08-30 2019-12-02 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device
KR102053444B1 (en) * 2013-11-06 2019-12-06 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display And Mobility Compensation Method Thereof
KR102076845B1 (en) * 2013-11-08 2020-02-12 엘지디스플레이 주식회사 The Method for Driving of Organic Light Emitting diode Display
KR101688923B1 (en) * 2013-11-14 2016-12-23 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device and driving method thereof
KR101661016B1 (en) * 2013-12-03 2016-09-29 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display and Image Quality Compensation Method Of The Same
KR102067228B1 (en) * 2013-12-03 2020-01-17 엘지디스플레이 주식회사 Organic lighting emitting device and method for compensating degradation thereof
KR102253966B1 (en) * 2013-12-09 2021-05-18 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting diode display device, fabricating and inspecting method thereof
KR102118926B1 (en) * 2013-12-23 2020-06-04 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device
KR102103241B1 (en) * 2013-12-26 2020-04-22 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting diode display device and method of sensing driving characteristics thereof
KR102087785B1 (en) * 2013-12-31 2020-05-27 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display Device
KR102276627B1 (en) * 2014-07-11 2021-07-12 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting diode device
KR102180792B1 (en) 2014-07-30 2020-11-20 삼성디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device and method of driving an organic light emitting display device
KR101577909B1 (en) 2014-09-05 2015-12-16 엘지디스플레이 주식회사 Degradation Sensing Method of Organic Light Emitting Display
KR102286641B1 (en) * 2014-09-11 2021-08-06 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display Compensating For A Luminance Variation Due To The Change With Time Of The Drive Element
KR102274740B1 (en) 2014-10-13 2021-07-08 삼성디스플레이 주식회사 Display device
KR102233719B1 (en) * 2014-10-31 2021-03-30 엘지디스플레이 주식회사 Orgainc emitting diode display device and method for driving the same
KR102278599B1 (en) 2014-11-19 2021-07-16 삼성디스플레이 주식회사 Orgainic light emitting display and driving method for the same
KR102280267B1 (en) 2014-11-21 2021-07-22 삼성디스플레이 주식회사 Organic light emitting display and driving method thereof
US10056032B2 (en) 2014-12-01 2018-08-21 Samsung Display Co., Ltd. Organic light-emitting display having sensing transistor
US9818341B2 (en) 2014-12-01 2017-11-14 Samsung Display Co., Ltd. Organic light-emitting display device and method of driving the same
KR102288961B1 (en) * 2014-12-24 2021-08-12 엘지디스플레이 주식회사 Rganic light emitting display panel, organic light emitting display device, and the method for the organic light emitting display device
KR102309679B1 (en) * 2014-12-31 2021-10-07 엘지디스플레이 주식회사 Organic light emitting display device
KR102285392B1 (en) 2015-02-03 2021-08-04 삼성디스플레이 주식회사 Sensing apparatus, Display apparatus, and Method of sensing electrical signal
KR101657008B1 (en) * 2015-08-26 2016-09-22 한양대학교 산학협력단 Measuring device for OLED display panel
KR20180004488A (en) 2016-07-04 2018-01-12 삼성디스플레이 주식회사 Organic light emitting display and manufacturing method thereof
KR20180006531A (en) 2016-07-07 2018-01-18 삼성디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display Device and Driving Method Thereof
KR102050717B1 (en) * 2019-07-10 2019-12-02 엘지디스플레이 주식회사 Display Device
KR102033734B1 (en) * 2019-07-10 2019-10-17 엘지디스플레이 주식회사 Display Device
CN111246138A (en) * 2020-01-17 2020-06-05 北京安酷智芯科技有限公司 Uncooled infrared image sensor and correction method thereof

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090027377A1 (en) 2007-07-27 2009-01-29 Oh-Kyong Kwon Organic light emitting display and method of driving the same
US20090244047A1 (en) 2008-03-31 2009-10-01 Casio Computer Co., Ltd. Light-emitting device, display device, and method for controlling driving of the light-emitting device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090027377A1 (en) 2007-07-27 2009-01-29 Oh-Kyong Kwon Organic light emitting display and method of driving the same
US20090244047A1 (en) 2008-03-31 2009-10-01 Casio Computer Co., Ltd. Light-emitting device, display device, and method for controlling driving of the light-emitting device

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