KR102321518B1 - Led chip transferring apparatus using photoresist resin - Google Patents

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KR102321518B1
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이재엽
박재석
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Abstract

The present invention provides a technology of transferring an LED chip formed on a wafer to a substrate or a display panel and relates to an LED chip transferring apparatus where the technology of transferring a part of each chip attached to a substrate to another carrier substrate and a display panel selectively, sequentially or at intervals by using a transfer resin which can be expanded by light is applied. The LED chip transferring apparatus using a photosensitive resin in accordance with an embodiment of the present invention comprises: a substrate; and a photosensitive resin layer composed of a photosensitive resin which is expanded at a predetermined temperature and formed on the substrate, whose particular area is exposed to light by UV emission to form a photodegrade layer, wherein the LED chip is formed on the photosensitive resin layer, a lower part of the LED chip is stuck in the photosensitive resin layer by a clip-up structure, and predetermined heat is applied to expand the photodegrade layer. Moreover, adhesive force of the LED chip disposed on the photodegrade layer is offset to exfoliate or transfer the LED chip.

Description

감광성 수지를 이용한 LED칩 전사 장치{LED CHIP TRANSFERRING APPARATUS USING PHOTORESIST RESIN}LED chip transfer device using photosensitive resin {LED CHIP TRANSFERRING APPARATUS USING PHOTORESIST RESIN}

본 발명은 웨이퍼 상에 형성된 LED칩을 기판 또는 디스플레이 패널로 전사하는 기술이며, 기판에 부착된 각 칩 중 일부를 광에 의해 팽창되는 광감성 수지를 이용하여 다른 캐리어 기판 및 디스플레이 패널로 선택적, 순차적 또는 시간 간격을 두고 전사하는 기술을 적용한 LED칩 전사 장치에 관한 것이다.The present invention is a technology for transferring an LED chip formed on a wafer to a substrate or a display panel, and a part of each chip attached to the substrate is selectively and sequentially transferred to another carrier substrate and display panel using a photosensitive resin that is expanded by light. Or it relates to an LED chip transfer device to which the transfer technology is applied at a time interval.

발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED)는 전류가 인가되면 광을 방출하는 발광 소자 중 하나이다. 발광 다이오드는 저 전압으로 고효율의 광을 방출할 수 있어 에너지 절감 효과가 뛰어나다. A light emitting diode (LED) is one of light emitting devices that emits light when an electric current is applied thereto. Light-emitting diodes can emit high-efficiency light with a low voltage, and thus have an excellent energy-saving effect.

최근, 발광 다이오드의 휘도 문제가 크게 개선되어, 액정표시장치의 백라이트 유닛(Backlight Unit), 전광판, 표시기, 가전 제품 등과 같은 각종 기기에 적용되고 있다.Recently, the luminance problem of light emitting diodes has been greatly improved, and it has been applied to various devices such as a backlight unit of a liquid crystal display device, an electric sign board, a display device, and a home appliance.

마이크로 발광 다이오드(μ-LED)의 크기는 1 ~ 100μm 수준으로 매우 작고, 40 인치(inch)의 디스플레이 장치를 구현하기 위해서는 대략 2,500만개 이상의 픽셀이 요구된다. The size of a micro light emitting diode (μ-LED) is very small, ranging from 1 to 100 μm, and approximately 25 million or more pixels are required to implement a 40-inch display device.

따라서, 40 인치의 디스플레이 장치를 하나 만드는데 단순한 픽 앤 플레이스(Pick & Place) 방법으로는 시간적으로 최소 한달이 소요되는 문제가 있다. Therefore, there is a problem that it takes at least a month in terms of time by a simple pick and place method to make one 40-inch display device.

기존의 마이크로 발광 다이오드(μ-LED)는 사파이어 기판 상에 다수개로 제작된 후, 기계적 전사(Transfer) 방법인, 픽 앤 플레이스(pick & place)에 의해, 마이크로 발광 다이오드가 하나씩 유리 혹은 유연성 기판 등에 전사된다. Existing micro light emitting diodes (μ-LED) are manufactured in plurality on a sapphire substrate, and then, by a mechanical transfer method, pick & place, micro light emitting diodes are placed on glass or flexible substrate one by one. are transcribed

마이크로 발광 다이오드를 하나씩 픽업(pick-up)하여 전사하므로, 1:1 픽 앤 플레이스 전사 방법이라고 지칭한다. Since the micro light emitting diodes are picked up one by one and transferred, it is referred to as a 1:1 pick-and-place transfer method.

그런데, 사파이어 기판 상에 제작된 마이크로 발광 다이오드 칩의 크기는 작고 두께가 얇기 때문에, 마이크로 발광 다이오드 칩을 하나씩 전사하는 픽 앤 플레이스 전사 공정 중에 상기 칩이 파손되거나, 전사가 실패하거나, 칩의 얼라인먼트(Alignment)가 실패되거나, 또는 칩의 틸트(Tilt)가 발생되는 등의 문제가 발생되고 있다. However, since the size of the micro light emitting diode chip manufactured on the sapphire substrate is small and the thickness is thin, the chip is damaged or the transfer fails, or the chip alignment ( Alignment) fails, or a problem such as a tilt of the chip is generated.

또한, 전사 과정에 필요한 시간이 너무 오래 걸리는 문제가 있다.In addition, there is a problem that the time required for the transcription process is too long.

일본 공개특허공보 2019-015899호에는 칩 부품의 전사 방법으로서, 열팽창성 입자를 팽창시켜 피점착력을 약화하여 박리하는 기술이 개시되어 있으나, 열팽창성 입자의 균일한 혼합과 열팽창에 따른 균일한 피점착력의 확보 기술 등의 난제가 존재한다.Japanese Patent Application Laid-Open No. 2019-015899 discloses a technique for exfoliating by expanding thermally expansible particles to weaken the adhesive force as a transfer method of chip parts, but uniform mixing of thermally expansible particles and uniform adhesive force due to thermal expansion There are difficulties such as securing technology.

대한민국 등록특허 10-0853410Republic of Korea Patent Registration 10-0853410 일본 공개특허공보 특개2019-015899Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2019-015899

본 발명은, 베이스 기판에 형성 또는 배치된 다수의 칩을 감광성 수지의 광활성과 팽창성을 이용하여 전사시킬 수 있는 LED칩 전사 장치를 제공하고자 한다. An object of the present invention is to provide an LED chip transfer device capable of transferring a plurality of chips formed or disposed on a base substrate by using the photoactivity and expansibility of a photosensitive resin.

또한, 본 발명은 베이스 기판에 형성된 다수의 칩을 소정의 수지를 이용하여 선택적으로 전사시킬 수 있는 LED칩 전사 장치를 제공하고자 한다.Another object of the present invention is to provide an LED chip transfer device capable of selectively transferring a plurality of chips formed on a base substrate using a predetermined resin.

또한, 마이크로 단위의 LED칩을 오류없이 요구되는 크기별로 전사가 가능하도록 하여 다양한 피치를 갖는 디스플레이 장치를 제조할 수 있도록 하고자 한다.In addition, it is intended to manufacture a display device having a variety of pitches by enabling micro-unit LED chips to be transferred according to required sizes without errors.

본 발명의 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problem to be solved of the present invention is not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned can be clearly understood by those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs from the description below. will be.

본 발명의 실시 형태에 따른 감광성 수지를 이용한 LED칩 전사 장치는 기판; 및 상기 기판 상에 형성되고, UV 조사에 의해 특정 영역이 노광되어 광열화층이 형성되고, 소정의 온도에서 팽창되는 감광성 수지로 이루어지는 감광성 수지층;을 포함하고, 상기 감광성 수지층 상에는 LED칩이 배치되고, 상기 LED칩 하측 부분은 클립-업(Clip-up) 구조에 의해 상기 감광성 수지층에 박힌 상태로 놓이고, 소정의 열을 가하여 상기 광열화층이 팽창되고, 상기 광열화층에 위치한 상기 LED칩의 피점착력이 상쇄되어 상기 LED칩이 박리 또는 전사될 수 있도록 하는 전사 장치이다. An LED chip transfer apparatus using a photosensitive resin according to an embodiment of the present invention includes: a substrate; and a photosensitive resin layer formed on the substrate, a specific area exposed to UV irradiation to form a photodegradation layer, and made of a photosensitive resin that expands at a predetermined temperature, wherein an LED chip is disposed on the photosensitive resin layer The lower part of the LED chip is placed in a state embedded in the photosensitive resin layer by a clip-up structure, the photodegradation layer is expanded by applying a predetermined heat, and the LED chip located in the photodegradation layer It is a transfer device that cancels the adhesive force of the LED chip so that the LED chip can be peeled or transferred.

여기서, 상기 감광성 수지는 베이스 수지(Base Resin), 유기용매 및 광활성제를 혼합하여 제조될 수 있다. Here, the photosensitive resin may be prepared by mixing a base resin, an organic solvent, and a photoactive agent.

여기서, 상기 감광성 수지는 마스크 및 UV 조사에 의해 특정 영역이 노광되어 광열화층이 형성되고, 소정의 열을 가하여 상기 광열화층이 팽창되어 상기 광열화층에 위치한 LED칩만을 선택적으로 전사시킬 수 있다.Here, in the photosensitive resin, a specific region is exposed by a mask and UV irradiation to form a photodegradation layer, and by applying a predetermined heat, the photodegradation layer is expanded to selectively transfer only the LED chip located in the photodegradation layer.

여기서, 상기 감광성 수지는 용제를 더 포함할 수 있다. Here, the photosensitive resin may further include a solvent.

여기서, 상기 감광성 수지에는 상기 LED칩의 피점착력을 보강하기 위한 필러가 첨가될 수 있다.Here, a filler for reinforcing the adhesive force of the LED chip may be added to the photosensitive resin.

여기서, 상기 감광성 수지에는 초순수(DI water)가 첨가될 수 있다. Here, DI water may be added to the photosensitive resin.

상술한 본 발명의 구성에 따르면, 베이스 기판에 형성 또는 배치된 다수의 칩을 소정의 UV 및 열을 이용하여 선택적으로 전사시킬 수 있는 이점이 있다.According to the above-described configuration of the present invention, there is an advantage in that a plurality of chips formed or disposed on the base substrate can be selectively transferred using predetermined UV and heat.

또한, 베이스 기판에 형성된 다수의 칩을 소정의 수지층의 표적 노광을 통해 광열화층을 만들고, 이에 열을 가하여 팽창시킴으로써 LED칩의 피점착력을 상쇄하여 전사시킬 수 있는 수지를 제공할 수 있다.In addition, it is possible to provide a resin capable of transferring a plurality of chips formed on the base substrate by offsetting the adhesive force of the LED chip by forming a photodegradation layer through target exposure of a predetermined resin layer, and applying heat thereto to expand.

또한, 광활성제(광개시제)의 열화 특성과 팽창 특성을 이용하여 이를 전사 수지로서 제공하는 것이 가능하여, 제조의 용이성을 높이고 제조 단가를 낮추며 마이크로 단위의 LED칩의 전사 오류를 제로화할 수 있다.In addition, it is possible to provide this as a transfer resin by using the deterioration and expansion characteristics of the photoactivator (photoinitiator), thereby increasing the ease of manufacture, lowering the manufacturing cost, and zeroing the transfer error of the micro-unit LED chip.

또한, 수지에 점착된 LED칩의 박리를 최소화하도록 LED칩을 수지에 박혀 있도록 하는 Clip-up 구조를 가지도록 하여, 전사 전에 LED칩의 박리 또는 이탈로 인한 디스플레이 패널 제작의 오류를 제로화하는 것이 가능하다.In addition, it is possible to have a clip-up structure that allows the LED chip to be embedded in the resin to minimize the peeling of the LED chip attached to the resin, so that it is possible to zero the error in display panel manufacturing due to the peeling or separation of the LED chip before transfer. do.

도 1은 본 발명의 실시 형태에 따른 LED칩 전사 방법을 설명하기 위한 개념도이다.
도 2는 도 1에 도시된 감광성 수지에서 광활성제의 함량에 따른 팽창 배율 그래프이다.
도 3은 본 발명의 실시 형태에 따른 LED칩 전사에 적용된 감광성 수지의 팽창 상태를 보인 사진이다.
도 4는 본 발명의 실시 형태에 따른 LED칩 감광성 수지를 이용한 전사 장치의 모식도이다.
도 5는 도 4의 구현 모식도에 따른 실제 LED칩이 수지 내에 박힌 구조의 확대 사진이다.
도 6은 본 발명의 실시 형태에 따른 LED칩 전사 방법을 나타낸 것이다.
도 7은 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 8은 본 발명의 실시 형태에 따라 각각의 웨이퍼 상에 칩들이 형성된 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시 형태에 따라 각각의 웨이퍼 상에 각각의 Epi를 성장시키는 공정도이다.
도 10은 본 발명의 실시 형태에 따라 각각의 웨이퍼 상에 형성된 각각의 칩들을 하나의 칩 단위로 에칭(Etching)하는 공정도이다.
도 11은 도 10의 에칭된 칩을 웨이퍼로부터 제1 캐리어 기판으로 전사시키는 공정도이다.
도 12는 웨이퍼를 LLO 기법으로 제거하는 공정도이다.
도 13 내지 도 16은 도 7에 도시된 칩 어레이를 선택적으로 제1 캐리어 기판에서 제2 캐리어 기판으로 선택적으로 전사하는 과정(S160)을 설명하기 위한 공정도이다.
도 17는 도 16의 제2 캐리어 기판으로부터 디스플레이 패널로 LED 칩 어레이가 전사되는 공정(S170)을 나타낸 것이다.
1 is a conceptual diagram for explaining an LED chip transfer method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a graph of expansion magnification according to the content of a photoactive agent in the photosensitive resin shown in FIG. 1 .
3 is a photograph showing the expansion state of the photosensitive resin applied to the LED chip transfer according to the embodiment of the present invention.
4 is a schematic diagram of a transfer device using an LED chip photosensitive resin according to an embodiment of the present invention.
5 is an enlarged photograph of a structure in which an actual LED chip is embedded in a resin according to the implementation schematic diagram of FIG. 4 .
6 shows an LED chip transfer method according to an embodiment of the present invention.
7 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a display device according to an embodiment of the present invention.
8 is a diagram showing chips formed on each wafer according to an embodiment of the present invention.
9 is a process diagram of growing each Epi on each wafer according to an embodiment of the present invention.
10 is a process diagram of etching each chip formed on each wafer in a single chip unit according to an embodiment of the present invention.
11 is a process diagram of transferring the etched chip of FIG. 10 from a wafer to a first carrier substrate;
12 is a process diagram of removing a wafer using an LLO technique.
13 to 16 are process diagrams for explaining a process ( S160 ) of selectively transferring the chip array shown in FIG. 7 from a first carrier substrate to a second carrier substrate.
FIG. 17 shows a process ( S170 ) of transferring the LED chip array from the second carrier substrate of FIG. 16 to the display panel.

실시 형태의 설명에 있어서, 각 구성 요소의 "상(위) 또는 하(아래)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)는 두 개의 구성 요소들이 서로 직접 접촉되거나 하나 이상의 또 다른 구성 요소가 두 개의 구성 요소들 사이에 배치되어 형성되는 것을 모두 포함한다. In the description of the embodiment, in the case where it is described as being formed on "above (above) or under (below)" of each component, the upper (above) or lower (below) two components are in direct contact with each other or one or more other components disposed between two components.

또한, "상(위) 또는 하(아래)"으로 표현되는 경우 하나의 구성 요소를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In addition, when expressed as "upper (upper) or lower (lower)", the meaning of not only an upper direction but also a lower direction based on one component may be included.

도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.In the drawings, the thickness or size of each layer is exaggerated, omitted, or schematically illustrated for convenience and clarity of description. In addition, the size of each component does not fully reflect the actual size.

본 발명에서 사용되는 칩, CSP, LED 픽셀 CSP, LED 서브 픽셀 CSP는 다음과 같이 정의될 수 있다.The chip, CSP, LED pixel CSP, and LED sub-pixel CSP used in the present invention may be defined as follows.

칩은 LED 칩, RGB 칩, R 칩, G 칩, B 칩, 미니(Mini) LED 칩 및 마이크로(Micro) LED 칩 등을 모두 포함하는 개념이다. 이하에서는, 설명의 편의 상, 상기 칩을 R 칩, G 칩 또는 B 칩으로 설명하지만, 상기 칩이 R 칩, G 칩 또는 B 칩으로만 한정되는 것은 아님에 유의해야 한다.A chip is a concept including an LED chip, an RGB chip, an R chip, a G chip, a B chip, a mini LED chip, and a micro LED chip. Hereinafter, for convenience of description, the chip is described as an R chip, a G chip, or a B chip, but it should be noted that the chip is not limited to the R chip, the G chip, or the B chip.

CSP(Chip Scale Package)는 단일 칩 패키지(single chip package)의 발전에 있어 최근 매우 주목 받는 패키지로서 반도체/패키지 면적비가 80% 이상인 단일 칩 패키지를 의미한다.A chip scale package (CSP) is a package that has recently received a lot of attention in the development of a single chip package, and refers to a single chip package having a semiconductor/package area ratio of 80% or more.

LED 픽셀 CSP는 Red LED, Green LED 및 Blue LED를 하나의 픽셀 단위로 하여 하나의 LED 픽셀을 CSP 패키징한 단일 패키지를 의미한다.LED pixel CSP refers to a single package in which one LED pixel is CSP packaged by using Red LED, Green LED, and Blue LED as one pixel unit.

LED 서브 픽셀 CSP는 Red LED, Green LED, Blue LED 각각을 하나의 서브 픽셀 단위로 하여 하나의 LED 서브 픽셀 단위로 CSP 패키징한 단일 패키지를 의미한다.The LED sub-pixel CSP refers to a single package in which each of Red LED, Green LED, and Blue LED is used as one sub-pixel unit and CSP is packaged in one LED sub-pixel unit.

웨이퍼 상에 형성된 발광체는 LED 칩으로 정의될 수 있다.A light emitting body formed on a wafer may be defined as an LED chip.

도 1은 본 발명의 실시 형태에 따른 LED칩 전사 방법을 설명하기 위한 개념도이다.1 is a conceptual diagram for explaining an LED chip transfer method according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 광활성제의 열화 특성과 팽창성을 이용한다.The present invention utilizes the degradation properties and expandability of a photoactive agent.

베이스 수지에 UV가 조사되면 내부 노볼락레진과 광활성제 등에서 광반응이 일어나 Acid가 발생되며, 이 Acid는 액체상태로 Hop Plate위에서 웨이퍼를 올리고 온도를 가할시 UV 조사가 된 영역만 팽창이 진행되고, 팽창은 PR 내부에 갖혀 있는 액상인 Acid가 열에 의해 급격히 부피가 증가하면 발생된다.When the base resin is irradiated with UV, a photoreaction occurs in the internal novolak resin and photoactivator to generate acid. This acid is liquid and when the wafer is placed on the hop plate and temperature is applied, only the UV-irradiated area expands. , expansion occurs when the volume of acid trapped inside the PR increases rapidly due to heat.

여기서, 베이스 수지의 팽창력을 증가시켜 LED칩의 전사가 가능하도록 하기 위해서 광활성제를 추가하여, Acid 양이 증가하도록 하고 수지의 팽창력을 증가시킴으로서, 전사시 불량의 원인을 차단하도록 한다.Here, by adding a photoactivator to increase the expansion power of the base resin to enable the transfer of the LED chip, the acid amount increases and the expansion power of the resin is increased to block the cause of the transfer failure.

도 1의 (A)는 광활성제 함량이 비교적 적은 경우의 UV 조사 및 가열에 의한 감광성 수지의 팽창 정도를 모식한 것이고, 도 1의 (B)는 광활성제 함량이 비교적 많은 경우의 UV 조사 및 가열에 의한 감광성 수지의 팽창 정도를 모식한 것이다.Figure 1 (A) is a schematic diagram of the degree of expansion of the photosensitive resin by UV irradiation and heating in the case where the photoactive agent content is relatively small, and Figure 1 (B) is UV irradiation and heating in the case where the photoactive agent content is relatively high. The degree of expansion of the photosensitive resin by

본 발명의 감광성 수지는 베이스 수지(Base Resin), 유기용매 및 광활성제를 혼합한 감광성 수지로 제조되고, 광활성제의 팽창성을 이용하여 감광성 수지를 노광 후 열에 의해 팽창시켜, 감광성 수지에 점착된 LED칩의 피점착력을 와해 또는 상쇄하여 LED칩을 기판으로 전사시킬 수 있다.The photosensitive resin of the present invention is made of a photosensitive resin in which a base resin, an organic solvent, and a photoactive agent are mixed, and the photosensitive resin is expanded by heat after exposure using the expandability of the photoactive agent, and the LED adhered to the photosensitive resin The LED chip can be transferred to the substrate by breaking or canceling the adhesive force of the chip.

베이스 수지는 페놀수지, 에폭시수지, UV 수지, 폴리에스테르 수지, 폴리우레탄 수지 또는 아크릴 수지 중 하나 이상의 수지로 선택될 수 있고, 바람직한 일실시예로는 페놀수지중 노볼락 레진이 적용될 수 있다.The base resin may be selected from one or more of a phenol resin, an epoxy resin, a UV resin, a polyester resin, a polyurethane resin, or an acrylic resin, and as a preferred embodiment, a novolak resin among phenolic resins may be applied.

유기용매(솔벤트)는 알코올류, 석유계물질, 방향족용제, 케톤류, 글리콜에테르류, 아세테이트류 또는 디엠씨류 중 하나 이상의 솔벤트로 선택될 수 있고, 바람직한 일실시예로는 아세테이트, 아세톤 또는 PGMEA이 적용될 수 있다.The organic solvent (solvent) may be selected from one or more solvents of alcohols, petroleum substances, aromatic solvents, ketones, glycol ethers, acetates, and DMCs, and in a preferred embodiment, acetate, acetone or PGMEA is applied. can

광활성제는 광산발산제(PAG, Photo Acid Generator), PAC(Photo Active compound), 광개시제, 감광성 화합물 또는 광활성 화합물 중 어느 하나를 지칭하는 포괄적인 의미의 물질을 의미한다.The photoactive agent refers to a material in the generic sense that refers to any one of a photoacid generator (PAG), a photoactive compound (PAC), a photoinitiator, a photosensitive compound, or a photoactive compound.

광활성제는 Oxime-ester계, s-Triazine 계, Phosphineoxide계 광개시제 들이며, 이중 하나 이상으로 구성된 PAC 물질을 사용할 수 있고, 본 발명의 바람직한 일실시예는 에스테르계 물질중 2-디아조-1-나프톤-5-슬폰산 클로라이드의 에스테르 화합물이 적용될 수 있다.Photoactivators are Oxime-ester-based, s-Triazine-based, and Phosphineoxide-based photoinitiators, and a PAC material composed of at least one of them may be used, and a preferred embodiment of the present invention is 2-diazo-1-naph among ester-based materials. Ester compounds of ton-5-sulfonic acid chloride may be applied.

도 1의 (A)는 광활성제를 2중량% 이하로 합성한 감광성 수지인 경우이고, (B)는 광활성제를 6중량% 초과하여 합성한 감광성 수지인 경우이다.Figure 1 (A) is a case of a photosensitive resin synthesized in an amount of 2 wt% or less of a photoactive agent, (B) is a case of a photosensitive resin synthesized in an amount exceeding 6 wt% of a photoactive agent.

기판(101) 상에 감광성 수지(102, 103)를 도포하고, 그 상부 측에 마스크(105)를 배치하여 UV를 조사한다.The photosensitive resins 102 and 103 are coated on the substrate 101, and a mask 105 is placed on the upper side thereof to irradiate UV.

UV가 조사되는 영역은 감광성 수지(102, 103)가 팽창을 하게 되며, UV가 조사되지 않은 영역은 감광성 수지(102, 103)가 팽창을 하지 않게 된다.The photosensitive resins 102 and 103 expand in the area irradiated with UV, and the photosensitive resins 102 and 103 do not expand in the area where UV is not irradiated.

즉, 마스크 패턴에 따라 UV 조사의 유무 영역에 따라 감광성 수지(102, 103)에 부착된 LED칩의 점착력을 제로화하여 선택적으로 타 기판에 선택적으로 LED칩의 전사가 가능하게 된다.That is, the adhesive force of the LED chip attached to the photosensitive resins 102 and 103 is zeroed according to the region of the presence or absence of UV irradiation according to the mask pattern, thereby selectively transferring the LED chip to another substrate.

다만, (A)의 경우는 감광성 수지(102')의 팽창력이 약해 전사로서의 완전한 기능을 수행하기 어렵고, (B)의 경우는 감광성 수지(103')가 LED칩의 점착력을 제로화하여 타 기판으로의 전사가 가능할 정도의 팽창력을 갖는다.However, in the case of (A), it is difficult to perform a complete function as a transfer because the expansion force of the photosensitive resin 102' is weak. It has enough expansive force to allow the transfer of

결국, 감광성 수지에 상당량의 광활성제 용액을 혼합하여 UV 조사에 의한 노광 영역을 형성하고, 그 노광 영역에 열을 가함으로써 그 노광 영역의 감광성 수지가 팽창하게 함으로써, 그 노광 영역에 점착된 LED칩을 박리시키는 것이 가능하거나 다른 기판 상으로 LED칩을 전사시키는 것이 가능하게 되며, 감광성 수지는 노광 공정만을 거칠 뿐 현상(Develop) 공정을 거치지 않는 새로운 용도(LED칩 전사용도)로서의 물질을 구현하는 것이 가능하다.In the end, a significant amount of a photoactivator solution is mixed with the photosensitive resin to form an exposed area by UV irradiation, and heat is applied to the exposed area to cause the photosensitive resin in the exposed area to expand, so that the LED chip adhered to the exposed area. It is possible to peel off the LED chip or to transfer the LED chip onto another substrate. possible.

도 2는 도 1에 도시된 감광성 수지에서 광활성제의 함량에 따른 팽창 배율 그래프이다.FIG. 2 is a graph of expansion magnification according to the content of a photoactive agent in the photosensitive resin shown in FIG. 1 .

도 2는 감광성 수지 내의 광활성제의 함량과 감광성 수지의 팽창배율을 실험적으로 검증한 결과치를 그래프로 표시한 것이다.2 is a graph showing the results of experimentally verifying the content of the photoactive agent in the photosensitive resin and the expansion ratio of the photosensitive resin.

도 2에 도시된 그래프의 결과치를 표로 나타내면 아래와 같으며, 이는 동일 UV 조사량 및 동일한 온도에서의 열을 가할 때의 상대값을 나타낸 것이다.The results of the graph shown in FIG. 2 are shown in a table as follows, which shows the relative values when heat is applied at the same UV irradiation amount and the same temperature.

PAC함량
(wt%)
PAC content
(wt%)
1One 22 33 44 55 66 77 1010
팽창배율
(배)
expansion factor
(ship)
1.21.2 1.31.3 1.61.6 1.81.8 3.13.1 5.65.6 5.85.8 6.06.0

PAC 함량이 4 내지 6wt% 에서 기울기 값이 급경사를 이루고 있는 것을 볼 수 있으며, 이 범위 내에서 PAC 함량에 따른 최대 효율치의 팽창력을 갖는 것을 알 수 있다.It can be seen that the slope value forms a steep slope when the PAC content is 4 to 6 wt%, and it can be seen that the expansion force of the maximum efficiency value according to the PAC content is within this range.

결과적으로 PAC 함량이 4 내지 6wt%을 함유할 때 감광성 수지의 팽창 배율은 1.8~5.6배의 팽창력을 가지게 되고, 이러한 팽창력은 점착된 LED칩의 점착력을 제로화시켜 이탈, 즉 완전 전사시킬 수 있는 물리값임을 알 수 있다.As a result, when the PAC content contains 4 to 6 wt%, the expansion ratio of the photosensitive resin has an expansion power of 1.8 to 5.6 times, and this expansion power is a physical that can be separated, that is, completely transferred by zeroing the adhesive force of the attached LED chip. value can be seen.

PAC 함량이 10wt% 이상에서는 팽창배율 6.0배에 수렴하는 것으로 나타나며, 따라서, PAC 함량이 4wt% 이상일 때 LED칩 전사를 위한 팽창이 이루어짐을 알 수 있다.When the PAC content is 10 wt% or more, it appears that the expansion factor converges to 6.0 times, therefore, it can be seen that the expansion for LED chip transfer is made when the PAC content is 4 wt% or more.

다만, 팽창배율만 보면 6wt% 이상에서는 팽창률은 큰 차이가 없으나, PAC 함량을 6wt%이상 즉, 한 예로 12.7wt%로 가져가면 결과적으로 불량률이 현저히 감소하는 결과를 가져온다.However, looking at the expansion ratio alone, there is no significant difference in the expansion ratio at 6 wt% or more, but when the PAC content is 6 wt% or more, i.e., 12.7 wt%, as a result, the defect rate is significantly reduced.

이러한 불량율 감소는 PAC 함량이 높을수록 감광성 수지의 치밀도(혹은 밀도)가 증가하기 때문인 것으로 반복되는 실험을 통해 확인할 수 있다.This decrease in the defect rate is because the density (or density) of the photosensitive resin increases as the PAC content increases, and it can be confirmed through repeated experiments.

실제로 PAC 함량이 4 ~ 6wt%에 비하여 12.7wt%는 밀도가 20% 증가하고, 이러한 밀도의 증가는 팽창 전사에 있어 LED칩의 전사 불량을 최소화할 수 있도록 보조한다.In fact, compared to 4 to 6 wt% of PAC content, 12.7 wt% increases the density by 20%, and this increase in density helps to minimize the transfer defect of the LED chip during expansion transfer.

본 발명의 감광성 수지는 용제(아세톤)를 더 포함할 수 있으며, 베이스 수지는 30~35 중량%, 유기용매는 45~50 중량%, 용제는 5~10 중량% 및 광활성제는 10~15 중량%를 혼합하여 제조된 혼합 수지인 것이 바람직하다.The photosensitive resin of the present invention may further include a solvent (acetone), the base resin is 30 to 35 wt%, the organic solvent is 45 to 50 wt%, the solvent is 5 to 10 wt%, and the photoactive agent is 10 to 15 wt% It is preferable that it is a mixed resin prepared by mixing %.

본 발명의 감광성 수지는 수지의 강성을 높일 수 있는 필러가 더 추가될 수 있으며, 발포 성능을 향상시키는 데 보조 역할을 하는 초순수(DI Water)가 더 추가될 수 있다.In the photosensitive resin of the present invention, a filler capable of increasing the resin's rigidity may be further added, and ultrapure water (DI Water) serving as an auxiliary to improve the foaming performance may be further added.

필러는 SiOF 계열, SiOF2 계열, SiOF3 계열 등에서 선택될 수 있고, 바람직한 실시예로서 SiOF3 계열의 그 크기는 3um 수준의 필러를 사용할 수 있다.The filler may be selected from SiOF series, SiOF2 series, SiOF3 series, and the like, and as a preferred embodiment, SiOF3 series fillers having a size of 3 μm may be used.

필러는 0.1wt% 내지 10wt%이고, 초순수는 0.1wt% 내지 10wt%를 혼합할 수 있다.The filler is 0.1wt% to 10wt%, and ultrapure water can be mixed in 0.1wt% to 10wt%.

도 3은 본 발명의 실시 형태에 따른 LED칩 전사에 적용된 전사 수지의 팽창 상태를 보인 사진이다.3 is a photograph showing the expansion state of the transfer resin applied to the LED chip transfer according to the embodiment of the present invention.

본 발명에 적용되는 감광성 수지는 나프토키논 디아지드-노볼락 수지(Naphtoquinonediazide-novolac)일 수 있다.The photosensitive resin applied to the present invention may be a naphtoquinonediazide-novolac resin.

감광성 수지에 4wt% 이상의 광활성제를 혼합하여, 광조사하면 광분해되어 반응성이 좋은 ketene을 형성하고 이때 발생하는 질소기체에 의한 영향과 ketene이 수분과 반응하여 형성되는 carboxylic acid에 의해, 현상액에서 용해도가 상승하는 반응 메커니즘에 따라 positive 화상(104)을 형성하게 된다.When 4 wt% or more of a photoactive activator is mixed with a photosensitive resin and irradiated with light, it is photodegraded to form highly reactive ketene. A positive image 104 is formed according to the ascending reaction mechanism.

도 3의 사진에서, 상좌측 사진은 UV를 조사하기 전의 감광성 수지 사진(103)이며, 상우측 사진은 UV를 조사하여 포지티브 화상(104)이 형성된 사진이다.In the photograph of FIG. 3 , the upper left photograph is the photosensitive resin photograph 103 before UV irradiation, and the upper right photograph is a photograph in which a positive image 104 is formed by UV irradiation.

하측 사진은 UV를 조사하여 포지티브 화상 즉 팽창 영역(103')이 형성된 부분을 확대한 사진이다.The lower photo is an enlarged photo of a positive image, that is, a portion where the expansion region 103' is formed by irradiating UV.

이러한 팽창 영역은 패터닝된 마스크를 통해 특정 위치를 팽창시키는 것이 가능하고, 광활성제의 최적의 배합비를 산출하여 최대의 효율적인 팽창배율을 갖도록 구현 가능하며, 본 발명의 실시 형태에 적용되는 감광성 수지만이 갖는 열에 의한 팽창력은 LED칩의 피점착력을 와해시킴으로써 LED칩을 박리하거나 전사시키는 역할을 수행할 수 있게 된다.It is possible to expand a specific position through the patterned mask, and the expansion region can be implemented to have the maximum effective expansion ratio by calculating the optimal mixing ratio of the photoactive agent, and only the photosensitive resin applied to the embodiment of the present invention The expansion force by the heat can perform the role of peeling or transferring the LED chip by breaking the adhesive force of the LED chip.

도 1 내지 도 3을 근거로 하여, 실제 어떻게 전사 공정이 이루어지는 지 도 6를 통해 상세하게 설명하며, 웨이퍼에서 디스플레이 패널로의 전사 공정을 도 7 내지 도 17를 통해 더욱 상세하게 설명하기로 한다. Based on FIGS. 1 to 3 , how the transfer process is actually performed will be described in detail with reference to FIG. 6 , and the transfer process from the wafer to the display panel will be described in more detail with reference to FIGS. 7 to 17 .

특히, 본 발명의 실시 형태에 따른 전사 장치의 구조는 도 4와 도 5를 통해 다시 설명된다.In particular, the structure of the transfer apparatus according to the embodiment of the present invention will be described again with reference to FIGS. 4 and 5 .

도 4는 본 발명의 실시 형태에 따른 LED칩 감광성 수지를 이용한 전사 장치의 모식도이다.4 is a schematic diagram of a transfer device using an LED chip photosensitive resin according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명의 실시 형태에 따른 LED칩 감광성 수지를 이용한 LED칩 전사 장치는 기판(101) 및 기판(101) 상에 형성되고 UV 조사에 의해 특정 영역이 노광되어 광열화층이 형성되고 소정의 온도에서 팽창되는 수지로 이루어지는 감광성 수지층(103);을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 4 , the LED chip transfer device using the LED chip photosensitive resin according to the embodiment of the present invention is formed on the substrate 101 and the substrate 101, and a specific area is exposed by UV irradiation to form a photodegradation layer. and a photosensitive resin layer 103 made of a resin that expands at a predetermined temperature.

감광성 수지층(103) 상에는 LED칩(100)이 감광성 수지층이 갖는 소정의 점착력에 의해 배치된다.The LED chip 100 is disposed on the photosensitive resin layer 103 by a predetermined adhesive force of the photosensitive resin layer.

(A)의 경우는 LED칩(100)이 감광성 수지층(103) 상단 표면에 배치되는 구조이고, (B)의 경우는 LED칩(100)이 감광성 수지층(103) 내로 박히어 배치되는 구조를 보인다.In the case of (A), the LED chip 100 is disposed on the upper surface of the photosensitive resin layer 103 , and in the case of (B), the LED chip 100 is embedded in the photosensitive resin layer 103 . looks like

본 발명에서는 LED칩(100)이 기판으로부터 쉽게 이탈이나 박리되는 것을 방지하기 위해 (A)의 구조에서 (B)의 구조로 개선하고자 한다.In the present invention, in order to prevent the LED chip 100 from being easily separated or separated from the substrate, the structure of (A) is improved from the structure of (B).

LED칩(100) 하측 부분은 감광성 수지층(103)에 박혀 클립-업(Clip-up) 구조를 갖으므로써, 감광성 수지층(103)의 클립-업 구조에 의해 LED칩(100)의 사면이 수지에 의해 잡힌 구조가 되어 전사 전에 기판으로부터 쉽게 이탈되거나 박리되는 것을 막을 수 있다. The lower portion of the LED chip 100 is embedded in the photosensitive resin layer 103 to have a clip-up structure, so that the slope of the LED chip 100 is formed by the clip-up structure of the photosensitive resin layer 103 . A structure held by the resin can be prevented from being easily detached or peeled off from the substrate before transfer.

이 상태에서 UV를 가하여 광열화층을 형성하고, 광열화층에 소정의 열을 가하면 광열화층이 팽창되고, 광열화층에 위치한 LED칩의 피점착력이 상쇄되어 LED칩이 박리 또는 전사될 수 있다. In this state, UV is applied to form a photodegradation layer, and when a predetermined heat is applied to the photodegradation layer, the photodegradation layer expands, and the adhesive force of the LED chip located in the photodegradation layer is offset, so that the LED chip can be peeled or transferred.

도 5는 도 4의 구현 모식도에 따른 실제 LED칩이 수지 내에 박힌 구조의 확대 사진을 나타낸다.5 shows an enlarged photograph of a structure in which an actual LED chip is embedded in a resin according to the implementation schematic diagram of FIG. 4 .

도 6은 본 발명의 실시 형태에 따른 LED칩 전사 방법을 나타낸 것이다.6 shows an LED chip transfer method according to an embodiment of the present invention.

도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LED 칩 전사 장치는 기판(101), 감광성 수지층(103) 및 LED 칩(100, 100')을 포함하여 구성될 수 있다.As shown in FIG. 6 , the LED chip transfer apparatus according to the present invention may include a substrate 101 , a photosensitive resin layer 103 , and LED chips 100 and 100 ′.

LED 칩(100, 100')은 RGB LED 칩, R LED 칩, G LED 칩, B LED 칩, CSP(Chip Scale Package)을 의미할 수 있으며, LED 칩 픽셀 CSP는 Red LED, Green LED 및 Blue LED를 하나의 픽셀 단위로 하여 하나의 LED 픽셀을 CSP 패키징한 단일 패키지를 의미할 수 있고, LED 서브 픽셀 CSP는 Red LED, Green LED, Blue LED 각각을 하나의 서브 픽셀 단위로 하여 하나의 LED 서브 픽셀 단위로 CSP 패키징한 단일 패키지를 의미할 수 있다.The LED chips 100 and 100' may mean an RGB LED chip, an R LED chip, a G LED chip, a B LED chip, and a CSP (Chip Scale Package), and the LED chip pixel CSP is a Red LED, a Green LED, and a Blue LED. may mean a single package in which one LED pixel is CSP packaged by using as one pixel unit, and the LED sub-pixel CSP is one LED sub-pixel by using each of Red LED, Green LED, and Blue LED as one sub-pixel unit. It may mean a single package packaged as a CSP unit.

기판(101)은 유리(Glass), 석영(Quartz), 인공 석영(synthetic Quartz) 및 금속(metal) 중 어느 하나의 물질로 구성될 수 있으며, 특별히 재질은 한정되지 않는다.The substrate 101 may be made of any one of glass, quartz, synthetic quartz, and metal, and the material is not particularly limited.

감광성 수지층(103)은 광활성제 4wt% 이상을 함유한 수지재일 수 있으며, 상술한 바와 같이 밀도를 높여 불량율을 높이기 위해서 광활성제의 함량을 10wt% 이상 바람직하게는 12.7wt%로 설정될 수 있을 것이다.The photosensitive resin layer 103 may be a resin material containing 4 wt% or more of the photoactive agent, and as described above, the content of the photoactive agent may be set to 10 wt% or more, preferably 12.7 wt%, in order to increase the defect rate by increasing the density. will be.

도 6을 참조하여 특정 위치의 LED 칩(100, 100')을 박리 또는 전사시키는 공정을 살펴본다.A process of peeling or transferring the LED chips 100 and 100' at a specific position will be described with reference to FIG. 6 .

도 6의 (A)를 참조하면, 기판(101) 상에 감광성 수지층(103)이 형성되고, 감광성 수지층(103) 상에 LED 칩(100, 100')이 배치 또는 전사(타 기판으로부터의 전사를 의미)되어 형성된다.Referring to FIG. 6A , a photosensitive resin layer 103 is formed on a substrate 101 , and LED chips 100 and 100 ′ are disposed or transferred (from another substrate) on the photosensitive resin layer 103 . (meaning the transcription of) is formed.

도 6의 (B)를 참조하면, 기판(101) 배면측에 패턴을 형성할 마스크(105)를 배치하고, 마스크(105)를 통해 UV를 조사한다.Referring to FIG. 6B , a mask 105 to form a pattern is disposed on the back side of the substrate 101 , and UV is irradiated through the mask 105 .

마스크(105) 및 UV 조사에 의해 노광된 감광성 수지 영역은 도시된 바와 같이 광에 의해 노광된다.The mask 105 and the photosensitive resin region exposed by UV irradiation are exposed by light as shown.

마스크(105) 및 UV 조사에 의해, 감광성 수지는 노광 영역과 노광되지 않은 영역을 갖는다.By the mask 105 and UV irradiation, the photosensitive resin has an exposed area and an unexposed area.

도 6의 (C)를 참조하면, 기판(101)의 배면측으로부터 열을 가하여 소정의 온도에 이르게 되면, 감광성 수지층(103) 내의 노광 영역이 팽창되면서 그 부피가 팽창하고, 부피가 팽창된 팽창 영역(103')는 LED칩(100)의 피점착력을 제로화시키게 된다.Referring to FIG. 6C , when heat is applied from the back side of the substrate 101 to reach a predetermined temperature, the exposure area in the photosensitive resin layer 103 expands and the volume expands, and the volume expands. The expansion region 103 ′ zeroes the adhesive force of the LED chip 100 .

반대로 노광되지 않은 영역(103)에서는 팽창이 없으므로 LED칩(100)의 피점착력은 그대로 유지된다.Conversely, since there is no expansion in the unexposed region 103 , the adhesive force of the LED chip 100 is maintained as it is.

도 6의 (D)를 참조하면, 그 해당 위치에 점착되어 있던 LED 칩(100)은 박리되며, 반대측에 목적 기판이 있는 경우 그 목적 기판으로 전사가 될 수 있고, 다른 위치(팽창 영역이 아닌 위치)에 점착되어 있는 LED칩(100')은 그대로 기판 상에 놓여, 필요에 따라 LED칩을 선택적으로 박리 또는 전사시키는 것이 가능하다.Referring to FIG. 6D , the LED chip 100 attached to the corresponding position is peeled off, and if there is a target substrate on the opposite side, it may be transferred to the target substrate and may be transferred to another position (not the expansion region). The LED chip 100' adhered to the position) is placed on the substrate as it is, and it is possible to selectively peel or transfer the LED chip as needed.

여기서, 감광성 수지는 UV에 의한 노광 공정과 열에 의한 팽창 공정만이 있을 뿐 현상(Develop) 공정을 진행하지 않는다는 점에서 패턴 형성과 같은 반도체 공정 상의 감광성 수지의 용도와는 기본적으로 다르다.Here, the photosensitive resin is fundamentally different from the use of the photosensitive resin in a semiconductor process such as pattern formation in that there is only an exposure process by UV and an expansion process by heat and no development process is performed.

이하, 도 7 내지 도 17를 참조하여, 상술한 LED 칩 전사 장치를 이용한 디스플레이 패널로의 전사 방법에 대해 상세하게 설명한다.Hereinafter, a transfer method to a display panel using the above-described LED chip transfer apparatus will be described in detail with reference to FIGS. 7 to 17 .

도 7은 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다.7 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a display device according to an embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 본 발명의 실시 형태에 따른 디스플레이 장치의 제조 방법은, 각각의 웨이퍼 상에 각각의 다수의 칩을 형성하는 단계(S110), 각각의 칩을 하나의 칩 별로 웨이퍼를 에칭(Etching)하는 단계(S120), 칩 단위로 분리된 각각의 웨이퍼의 칩 어레이를 제1 캐리어 기판에 부착하는 단계(S130), LLO(Laser Lift Off) 공정에 의해 웨이퍼를 제거하는 단계(S140), 제2 캐리어 기판을 준비하는 단계(S150), 칩 어레이를 제1 캐리어 기판으로부터 제2 캐리어 기판으로 선택적으로 전사하는 단계(S160), 제2 캐리어 기판에 선택적으로 전사된 칩 어레이를 디스플레이 패널로 순차적으로 전사하는 단계(S170) 및 제2 캐리어 기판을 제거하는 단계(S180)를 포함한다. Referring to FIG. 7 , in the method of manufacturing a display device according to an embodiment of the present invention, each of a plurality of chips is formed on each wafer ( S110 ), and each chip is etched on each wafer by one chip ( S110 ). Etching) step (S120), attaching the chip array of each wafer separated in chip unit to the first carrier substrate (S130), removing the wafer by LLO (Laser Lift Off) process (S140), Preparing the second carrier substrate (S150), selectively transferring the chip array from the first carrier substrate to the second carrier substrate (S160), sequentially transferring the chip array selectively transferred to the second carrier substrate to the display panel It includes a step of transferring (S170) and a step of removing the second carrier substrate (S180).

구체적인 실시예는 다음과 같다.Specific examples are as follows.

S130 단계 전에, 광활성제 용액(solution)을 제조하는 단계가 추가될 수 있다.Before step S130, a step of preparing a photoactive agent solution (solution) may be added.

광활성제 용액은 아세톤(Acetone)과 광활성제(PAC)를 혼합하여 PAC 용액을 제조한다.A photoactivator solution is prepared by mixing acetone (Acetone) and photoactive activator (PAC).

감광성 수지층은 베이스 수지와 PAC 용액을 혼합하여 제조한다.The photosensitive resin layer is prepared by mixing a base resin and a PAC solution.

S130 단계에서, 제조된 감광성 수지 및 PAC 용액의 감광성 전사 수지층을 스핀 코팅 공정에 의해 제1 캐리어 기판 위에 코팅한다.In step S130, the prepared photosensitive resin and the photosensitive transfer resin layer of the PAC solution are coated on the first carrier substrate by a spin coating process.

코팅된 감광성 전사 수지층을 105도 90초 동안 1차 소프트 경화시키고, 다시 105도 60초 동안 2차 소프트 경화시킨다.The coated photosensitive transfer resin layer was first soft cured at 105 degrees for 90 seconds, and second soft cured at 105 degrees for 60 seconds again.

S130 단계에서, 준비된 감광성 전사 수지층에 105도 60초 동안 열을 가해 웨이퍼 상의 LED칩을 제1 캐리어 기판으로 전사시킨다.In step S130, heat is applied to the prepared photosensitive transfer resin layer at 105 degrees for 60 seconds to transfer the LED chip on the wafer to the first carrier substrate.

S150 단계에서, 글라스 기판 상에 발포체와 점착액을 혼합한 EMC(Expandable Micro-Capsule) 점착층을 도포하여 제2 캐리어 기판을 준비하거나 열박리 필름을 부착한다.In step S150, a second carrier substrate is prepared by applying an EMC (Expandable Micro-Capsule) adhesive layer in which a foam and an adhesive liquid are mixed on a glass substrate, or a heat release film is attached.

S160 단계에서, 제1 캐리어 기판의 반대측에 제2 캐리어 기판을 결합하고, 마스크 얼라이너를 이용하여 얼라인시킨 후, 2,000mJ 열량의 UV를 조사하고, 100도 20초 동안 가열하여 제1 캐리어 기판 상의 감광성 수지층을 가열하여 팽창시키며, 이때 제1 캐리어 기판은 분리되고, LED칩은 제2 캐리어 기판으로 전사가 완료된다.In step S160, the second carrier substrate is bonded to the opposite side of the first carrier substrate, aligned using a mask aligner, irradiated with UV of 2,000 mJ calorie, and heated at 100 degrees for 20 seconds on the first carrier substrate. The photosensitive resin layer is heated to expand, and at this time, the first carrier substrate is separated, and the transfer of the LED chip to the second carrier substrate is completed.

S170 및 S180 단계에서, TFT 어레이를 준비하고, 솔더 페이스트를 도포한 후, 제2 캐리어 기판과 TFT 어레이를 결합시킨다.In steps S170 and S180, a TFT array is prepared, a solder paste is applied, and the second carrier substrate and the TFT array are bonded.

200도 90초 동안 가열하여 제2 캐리어 기판의 EMC 점착층의 발포체를 발포시켜 제2 캐리어 기판을 분리시키고, 디스플레이 기판(TFT 어레이) 상에 LED칩을 전사시킨다.The second carrier substrate is separated by heating at 200 degrees for 90 seconds to foam the foam of the EMC adhesive layer of the second carrier substrate, and the LED chip is transferred on the display substrate (TFT array).

도 8은 본 발명의 실시 형태에 따라 각각의 웨이퍼 상에 칩들이 형성된 도면이다. 8 is a diagram showing chips formed on each wafer according to an embodiment of the present invention.

도 8에 도시된 바와 같이 본 발명의 실시 형태는 R칩, G칩 및 B칩이 각각 형성된 3개의 웨이퍼를 예시로서 설명하나 이에 한정되지는 않는다.As shown in FIG. 8 , the embodiment of the present invention describes three wafers each having an R chip, a G chip, and a B chip as an example, but is not limited thereto.

도 8을 참조하면, 각각의 하나의 웨이퍼(10R, 10G, 10B) 상에 같은 파장 대역의 광을 방출하는 복수의 발광 소자(11R, 11G, 11B)를 형성한다. Referring to FIG. 8 , a plurality of light emitting devices 11R, 11G, and 11B emitting light of the same wavelength band are formed on each of the wafers 10R, 10G, and 10B.

여기서, 발광 소자(11R, 11G, 11B)는 적색, 녹색, 청색의 광을 방출하는 발광 칩일 수 있다.Here, the light emitting devices 11R, 11G, and 11B may be light emitting chips emitting red, green, and blue light.

복수의 발광 소자(11R, 11G, 11B)는 각각의 웨이퍼(10R, 10G, 10B) 상에서 복수의 행과 열을 따라 등간격으로 이격된 채 배열될 수 있다. The plurality of light emitting devices 11R, 11G, and 11B may be arranged at equal intervals along a plurality of rows and columns on each wafer 10R, 10G, and 10B.

등간격으로 배치된 발광 소자(11R, 11G, 11B)는 행 또는 열 방향으로 이후 디스플레이 패널에 전사되므로, 상대적으로 고가인 웨이퍼의 전체 면적으로 효율적으로 활용하여 발광 소자의 제조 단가를 낮출 수 있다.Since the light emitting devices 11R, 11G, and 11B arranged at equal intervals are transferred to the display panel thereafter in the row or column direction, the manufacturing cost of the light emitting device can be reduced by efficiently utilizing the entire area of a relatively expensive wafer.

한편, 각각의 하나의 웨이퍼(10R, 10G, 10B) 상에 다수의 칩을 형성한 후, 각 칩 별로 웨이퍼를 에칭 공정을 거쳐 각 칩 별로 분리할 수 있다.Meanwhile, after forming a plurality of chips on each of the wafers 10R, 10G, and 10B, the wafers may be separated for each chip through an etching process for each chip.

각각의 웨이퍼(10R, 10G, 10B) 상에 형성된 칩 간의 피치(W)는 디스플레이 패널 상에 형성된 칩 간의 피치와 동일하거나 소정의 값의 비례상수의 배수로 정하여지는 것이 바람직하다.It is preferable that the pitch W between the chips formed on each of the wafers 10R, 10G, and 10B is the same as the pitch between the chips formed on the display panel or is set as a multiple of a proportional constant of a predetermined value.

이는 후술할 제2 캐리어 기판으로부터 디스플레이 패널로 칩들을 행렬 단위로 선택적으로 전사할 때 전사를 용이하게 할 수 있다.This may facilitate the transfer when selectively transferring the chips from the second carrier substrate to the display panel in a matrix unit, which will be described later.

도 9는 본 발명의 실시 형태에 따라 각각의 웨이퍼 상에 각각의 Epi를 성장시키는 공정도이다.9 is a process diagram of growing each Epi on each wafer according to an embodiment of the present invention.

도 9를 참조하면, 3개의 웨이퍼(10R, 10G, 10B) 각각의 일면 상에 소정의 광을 방출하는 에피(11R, 11G, 11B)를 성장시킨다. Referring to FIG. 9 , epis 11R, 11G, and 11B emitting a predetermined light are grown on one surface of each of the three wafers 10R, 10G, and 10B.

여기서, 웨이퍼(10R, 10G, 10B)는 사파이어(Al2O3), 실리콘, 갈륨비소(GaAs), 질화갈륨(GaN) 및 질화아연(ZnN) 중 어느 하나의 기판일 수 있다. 그러나 이에 한정하는 것은 아니며, 웨이퍼로 이용될 수 어떠한 기판이든 사용가능하다. Here, the wafers 10R, 10G, and 10B may be one of sapphire (Al2O3), silicon, gallium arsenide (GaAs), gallium nitride (GaN), and zinc nitride (ZnN). However, the present invention is not limited thereto, and any substrate that can be used as a wafer may be used.

성장된 각각의 에피(11R, 11G, 11B) 상에 패드(14r, 14g, 14b)를 형성하고, 에피(11R, 11G, 11B)와 패드(14r, 14g, 14b)를 패시베이션(Passivation)하는 보호층(13)을 형성한다. Forming the pads 14r, 14g, 14b on the grown epi (11R, 11G, 11B), respectively, and protecting the epi (11R, 11G, 11B) and the pad (14r, 14g, 14b) passivation (Passivation) A layer 13 is formed.

여기서, 패드(14r, 14g, 14b)는 확장되지 않은 것으로서, 일반적인 패드의 크기와 형상을 가질 수 있다. Here, the pads 14r, 14g, and 14b are not expanded and may have the size and shape of a general pad.

보호층(13)을 형성할 때, 패드(14r, 14g, 14b)가 보호층(13)의 외부에 노광되도록 형성하는 것이 이후 패드의 영역을 확장하는 데 있어서 바람직하다.When forming the protective layer 13, it is preferable to form the pads 14r, 14g, and 14b so that they are exposed to the outside of the protective layer 13 in order to expand the area of the pad thereafter.

도 9에는 도 8에서의 A-A Section과 B-B Section의 단면도를 각각 표현하고 있으며, 바람직하게는 칩 당 한 쌍의 (+), (-) 전극은 Epi 층 아래에 형성되는데, A-A section 기준으로 전극을 상하 형성할 수 있으며 필요에 따라서는 좌우로 형성하는 것도 가능함은 물론이다.9 is a cross-sectional view of the AA Section and the BB Section in FIG. 8, respectively. Preferably, a pair of (+), (-) electrodes per chip are formed under the Epi layer, and the electrodes are based on the AA section. Of course, it can be formed up and down, and it is also possible to form left and right if necessary.

웨이퍼(10R, 10G, 10B) 상에 형성된 발광체는 칩 단위로 전기적으로 분리된 상태이며, 본 발명에서는 LED 칩이라 칭하며, 이후 칩 별로 에칭된 후 웨이퍼(10R, 10G, 10B)로부터 제1 캐리어 기판으로 전사된다. The light emitting bodies formed on the wafers 10R, 10G, and 10B are in a state of being electrically separated in units of chips, and in the present invention, they are referred to as LED chips, and after etching for each chip, the first carrier substrate from the wafers 10R, 10G, and 10B is transcribed into

도 10은 본 발명의 실시 형태에 따라 각각의 웨이퍼 상에 형성된 각각의 칩들을 하나의 칩 단위로 에칭(Etching)하는 공정도이다.10 is a process diagram of etching each chip formed on each wafer in a single chip unit according to an embodiment of the present invention.

도 10을 참조하면, 도 9와 같이 웨이퍼(10B, 10G, 10B)에 에피(11R, 11G, 11B) 및 패드(14r, 14g, 14b)를 형성시키고, 보호층(13)을 각각의 칩 별로 에칭하여 물리적으로 분리된 다수의 칩(100R, 100G, 100B)을 형성한다. 여기서, 각 칩과 칩을 둘러싸는 보호층(13)을 본 명세서에서 칩이라 칭하도록 한다. 물론, 각 칩과 칩을 둘러싸는 보호층(13)을 픽셀 CSP 또는 서브 픽셀 CSP로도 칭할 수 있다. Referring to FIG. 10, as shown in FIG. 9, epis 11R, 11G, 11B and pads 14r, 14g, and 14b are formed on wafers 10B, 10G, and 10B, and a protective layer 13 is applied to each chip. A plurality of physically separated chips 100R, 100G, and 100B are formed by etching. Here, each chip and the protective layer 13 surrounding the chip will be referred to as a chip in the present specification. Of course, each chip and the protective layer 13 surrounding the chip may also be referred to as a pixel CSP or a sub-pixel CSP.

여기서, 칩(100R, 100G, 100B) 별로 에칭하는 공정은 습식(Wet) 또는 건식(Dry) 에칭이 적용될 수 있으며, 에칭에 의해 LED 칩 모양이 정의되며, 이때 웨이퍼(10B, 10G, 10B)는 그대로 잔존하게 된다.Here, in the etching process for each chip 100R, 100G, and 100B, wet or dry etching may be applied, and the shape of the LED chip is defined by etching, in which case the wafers 10B, 10G, and 10B are will remain as it is.

이하의 도면들에서 하나의 칩(100R, 100G, 100B)은 도 8에서 형성된 칩(100R, 100G, 100B)으로 도시되어 있으나, 이에 한정하는 것은 아니며, 도 6에서 행과 열 방향으로 에칭된 칩(100R, 100G, 100B) 어레이일 수도 있다. In the drawings below, one chip 100R, 100G, and 100B is illustrated as the chips 100R, 100G, and 100B formed in FIG. 8 , but is not limited thereto. In FIG. 6 , the chips 100R, 100G, and 100B are etched in the row and column directions. It may be a (100R, 100G, 100B) array.

각각의 칩(100R, 100G, 100B)은 와이어가 불필요한 플립 칩 구조를 가질 수 있다. Each of the chips 100R, 100G, and 100B may have a flip-chip structure that does not require wires.

와이어 대신에 패드(14r, 14g, 14b)로 전기적 연결이 가능하며, 칩(100R, 100G, 100B) 각각은 패드(14r, 14g, 14b)를 통한 외부 제어신호에 따라 다양한 색상의 광을 방출할 수 있다. Electrical connection is possible with the pads 14r, 14g, and 14b instead of wires, and each of the chips 100R, 100G, and 100B emits light of various colors according to an external control signal through the pads 14r, 14g, and 14b. can

또한, 본 발명에서 칩(100R, 100G, 100B) 각각은 R, G, B 별로 각각 서브 픽셀을 구성하여 CSP 형태로 제작된 새로운 개념의 소형 패키지화될 수 있다.In addition, in the present invention, each of the chips 100R, 100G, and 100B may be packaged into a new concept small package manufactured in the form of a CSP by configuring sub-pixels for each R, G, and B, respectively.

R 칩(100R), G 칩(100G) 및 B 칩(100B)은 하나의 발광 소자 또는 발광체를 구성할 수 있다. The R chip 100R, the G chip 100G, and the B chip 100B may constitute one light emitting device or a light emitting body.

각각의 칩(100R, 100G, 100B)을 복수로 행과 열 방향으로 제1 캐리어 기판에 부착시킴으로써 칩 어레이를 전사할 수 있는 선공정이 수행될 수 있고, 제1 캐리어 기판으로부터 제2 캐리어 기판으로 선택적으로 전사하고, 제2 캐리어 기판에 배열된 칩 어레이가 후술할 디스플레이 패널로 순차적으로 전사될 수 있다.By attaching a plurality of each of the chips 100R, 100G, and 100B to the first carrier substrate in the row and column directions, a pre-process for transferring the chip array may be performed, and from the first carrier substrate to the second carrier substrate. After selectively transferring, the chip array arranged on the second carrier substrate may be sequentially transferred to a display panel to be described later.

도 10에서와 같이 각각의 웨이퍼(10B, 10G, 10B) 상에서 칩(100R, 100G, 100B) 형태로 에칭된 칩 어레이들을 캐리어 기판에 부착하여 웨이퍼를 제거하는 공정을 수행하고, 이후 제1 캐리어 기판으로부터 제2 캐리어 기판으로 선택적 전사 및 디스플레이 패널로 순차적으로 선택적 전사시키는 공정을 살펴본다.As shown in FIG. 10 , a process of removing the wafer is performed by attaching chip arrays etched in the form of chips 100R, 100G, and 100B to a carrier substrate on each of the wafers 10B, 10G, and 10B, and thereafter, the first carrier substrate A process of sequentially selective transfer to the second carrier substrate and sequentially selective transfer to the display panel will be described.

이하의 도면들은 도 8의 웨이퍼 상에서 행렬 배열된 칩 어레이에서 행(가로) 배열 기준으로 설명된다.The following drawings are described based on the row (horizontal) arrangement in the matrix-arranged chip array on the wafer of FIG. 8 .

도 11은 도 10의 에칭된 칩을 웨이퍼로부터 제1 캐리어 기판으로 전사시키는 공정도이고, 도 12는 웨이퍼를 LLO 기법으로 제거하는 공정도이다.11 is a process diagram of transferring the etched chip of FIG. 10 from a wafer to a first carrier substrate, and FIG. 12 is a process diagram of removing the wafer using an LLO technique.

도 11 및 도 12는 에칭된 칩을 제1 캐리어 기판(210R)으로 전사시키기 위해 웨이퍼(10R, 10G, 10B)를 제거하기 위한 공정이다.11 and 12 are processes for removing the wafers 10R, 10G, and 10B to transfer the etched chip to the first carrier substrate 210R.

제1 캐리어 기판(210R)은 도 4의 전사 장치와 동일한 구성일 수 있다.The first carrier substrate 210R may have the same configuration as the transfer device of FIG. 4 .

도 11를 참조하면, 에칭에 의해 칩이 행렬 방향으로 분리된 후(도 10과 같이), 제1 캐리어 기판(210R, 210G, 210B)을 웨이퍼(10R, 10G, 10B)의 반대 방향의 LED칩(100R, 100G, 100B)에 부착시킨다. Referring to FIG. 11 , after the chips are separated in the matrix direction by etching (as shown in FIG. 10 ), the first carrier substrates 210R, 210G, and 210B are applied to the LED chips in the opposite direction of the wafers 10R, 10G, and 10B. (100R, 100G, 100B).

즉, 제1 캐리어 기판(210R, 210G, 210B)을 칩(100R, 100G, 100B)의 패드(14r, 14g, 14b)측에 부착시킨다.That is, the first carrier substrates 210R, 210G, and 210B are attached to the pads 14r, 14g, and 14b of the chips 100R, 100G, and 100B.

제1 캐리어 기판(210R, 210G, 210B)은 기판(211R, 211G, 211B) 및 감광성 전사 수지층(213R, 213G, 213B)을 포함한다.The first carrier substrates 210R, 210G, and 210B include substrates 211R, 211G, and 211B and photosensitive transfer resin layers 213R, 213G, and 213B.

기판(211R, 211G, 211B)은 유리(Glass), 석영(Quartz), 인공 석영(synthetic Quartz) 및 금속(metal) 중 어느 하나의 물질로 구성될 수 있으며, 특별히 재질은 한정되지 않는다.The substrates 211R, 211G, and 211B may be made of any one of glass, quartz, synthetic quartz, and metal, and the material is not particularly limited.

감광성 수지층(213R, 213G, 213B)은 4wt% 이상의 광활성제를 함유한 수지제이다.The photosensitive resin layers 213R, 213G and 213B are made of a resin containing 4 wt% or more of a photoactive agent.

도 12를 참조하면, 도 11과 같은 상태에서 LLO(Laser Lift Off) 공정에 의해 웨이퍼(10R, 10G, 10B)를 제거시키면, LED 칩(100R, 100G, 100B)은 제1 캐리어 기판(210R, 210G, 210B)에 부착된 상태로 놓이게 되며, 이때 칩(100R, 100G, 100B)의 방향은 반대 방향으로 발광체가 노출된 상태로 배치된다.12, when the wafers 10R, 10G, and 10B are removed by the LLO (Laser Lift Off) process in the same state as in FIG. 11 , the LED chips 100R, 100G, and 100B are formed on the first carrier substrate 210R, It is placed in a state attached to 210G and 210B, and at this time, the directions of the chips 100R, 100G, and 100B are opposite to each other, and the light emitting body is exposed.

제1 캐리어 기판(210R, 210G, 210B)은, R LED 칩 어레이가 형성된 제1 캐리어 기판(210R), G LED 칩 어레이가 형성된 제1 캐리어 기판(210G) 및 B LED 칩이 어레이가 형성된 제1 캐리어 기판(210B)을 포함할 수 있다.The first carrier substrates 210R, 210G, and 210B include a first carrier substrate 210R in which an R LED chip array is formed, a first carrier substrate 210G in which a G LED chip array is formed, and a first first carrier substrate in which an array of B LED chips is formed. A carrier substrate 210B may be included.

도 13 내지 도 16은 도 7에 도시된 칩 어레이를 선택적으로 제1 캐리어 기판에서 제2 캐리어 기판으로 선택적으로 전사하는 과정을 설명하기 위한 예시적인 도면들이다.13 to 16 are exemplary views for explaining a process of selectively transferring the chip array shown in FIG. 7 from a first carrier substrate to a second carrier substrate.

도 13 내지 도 16은 도 9 내지 도 12와 같은 RGB LED 칩 중 어느 하나의 LED 칩만을 기준으로 설명된다.13 to 16 are described based on only one LED chip among the RGB LED chips shown in FIGS. 9 to 12 .

도 13을 참조하면, LED 칩 어레이(100)가 형성된 제1 캐리어 기판(210) 상에 제2 캐리어 기판(220)을 배치한다. Referring to FIG. 13 , the second carrier substrate 220 is disposed on the first carrier substrate 210 on which the LED chip array 100 is formed.

LED 칩(100)들 상에 제2 캐리어 기판(220)의 EMC 점착층(223)을 접촉시켜 서로 부착되도록 한다. The EMC adhesive layer 223 of the second carrier substrate 220 is brought into contact on the LED chips 100 to be attached to each other.

여기서, 제2 캐리어 기판(220)은 글라스 기판(221), 발포체(225)를 포함하는 EMC 점착층(223)으로 이루어질 수 있다.Here, the second carrier substrate 220 may be formed of a glass substrate 221 and an EMC adhesive layer 223 including a foam 225 .

발포체(225)는 소정 온도에서 발포 특성을 갖는 마이크로 단위의 캡슐화된 발포 물질일 수 있다.Foam 225 may be a micro-scale encapsulated foam material having foaming properties at a predetermined temperature.

EMC(Expandable Micro-Capsule) 점착층(223)은 발포체(225)와 점착액을 혼합한 수지일 수 있다.The EMC (Expandable Micro-Capsule) adhesive layer 223 may be a resin in which the foam 225 and the adhesive liquid are mixed.

도 14를 참조하면, 도 13과 같이 LED 칩(100)을 사이에 두고 제1 캐리어 기판(210)과 제2 캐리어 기판(220)이 대향하여 배치된 상태에서, 제1 캐리어 기판(210)의 글라스 기판(211)의 배면에 마스크(215)를 배치한다.Referring to FIG. 14 , in a state in which the first carrier substrate 210 and the second carrier substrate 220 face each other with the LED chip 100 interposed therebetween, as shown in FIG. 13 , the A mask 215 is disposed on the back surface of the glass substrate 211 .

마스크(215)는 사전에 패터닝된 마스크일 수 있다.The mask 215 may be a pre-patterned mask.

마스크(215)가 배치된 상태에서 UV를 조사한다.UV is irradiated while the mask 215 is disposed.

마스크(215) 패턴 및 UV 조사에 의해 감광성 전사 수지층(213)의 특정 영역만이 노광될 수 있다.Only a specific region of the photosensitive transfer resin layer 213 may be exposed by the mask 215 pattern and UV irradiation.

여기서, '노광(Exposure)'은 UV 조사량(UV Exposure Energy)의 제어에 따라 노광 정도가 조절될 수 있다.Here, the 'exposure' may have an exposure degree adjusted according to the control of the UV exposure energy.

UV 조사량에 따른 감광성 수지의 조절된 노광 부분을 광열화층(Photo-induced Degradation)이라 할 수 있다.The controlled exposure portion of the photosensitive resin according to the amount of UV irradiation may be referred to as a photo-induced degradation layer.

광열화층은 열이 가해짐에 따라 감광성 수지의 팽창과 LED칩의 피점착력의 제로화, 이를 통한 해당 위치의 LED 칩만을 선택적으로 전사시킬 수 있다.The photodegradation layer can selectively transfer only the LED chip at the corresponding position through the expansion of the photosensitive resin and the zeroing of the adhesive force of the LED chip as heat is applied.

도 15를 참조하면, 제1 캐리어 기판(210) 상부로 열을 가한다.Referring to FIG. 15 , heat is applied to the upper portion of the first carrier substrate 210 .

이 때 열은 감광성 수지층(213)의 팽창 가능한 온도를 의미할 수 있다.In this case, heat may mean an expandable temperature of the photosensitive resin layer 213 .

제1 캐리어 기판(210)에 열을 가하여 감광성 수지층(213)이 팽창 가능한 온도가 되면, 감광성 수지층(213)은 부피가 팽창한 감광성 수지층(213')이 되고, 이때 부피가 팽창할 수 있는 위치는 도 14에서 진행된 광열화층이 존재하는 영역이 될 수 있다.When heat is applied to the first carrier substrate 210 so that the photosensitive resin layer 213 reaches a temperature at which it can expand, the photosensitive resin layer 213 becomes the photosensitive resin layer 213' in which the volume is expanded. A possible position may be a region in which the photodegradation layer progressed in FIG. 14 exists.

부피가 팽창한 감광성 수지층(213')은 그 크기가 커지고, 부피가 팽창할 때의 압력(팽창력)에 의해 LED칩(100)을 밀어내면서 LED칩(100)의 피점착력을 제로화시키게 되며, 그 해당 위치에 점착된 LED 칩(100)은 박리(또는 전사)되어 제2 캐리어 기판(220)으로 전사될 수 있는 상태가 된다.The volume-expanded photosensitive resin layer 213' increases in size and pushes the LED chip 100 by the pressure (expansion force) when the volume expands, thereby zeroing the adhesive force of the LED chip 100, The LED chip 100 adhered to the corresponding position is peeled (or transferred) to a state in which it can be transferred to the second carrier substrate 220 .

도 16을 참조하면, 제1 캐리어 기판(210)으로부터 제2 캐리어 기판(220)으로 특정 LED 칩(100)만이 선택적으로 박리되어 전사된 상태를 볼 수 있다.Referring to FIG. 16 , it can be seen that only a specific LED chip 100 is selectively peeled off and transferred from the first carrier substrate 210 to the second carrier substrate 220 .

도 17은 제2 캐리어 기판(220)으로부터 디스플레이 패널(300)로 LED 칩 어레이가 전사되는 공정을 표현한 단면 공정도이다.17 is a cross-sectional process diagram illustrating a process in which the LED chip array is transferred from the second carrier substrate 220 to the display panel 300 .

도 17의 (A)를 참조하면, 디스플레이 패널(300)의 다수의 패드(31) 상에 솔더 페이스트(Solder Paste, 33)를 도포한다. Referring to FIG. 17A , solder paste 33 is applied on the plurality of pads 31 of the display panel 300 .

디스플레이 패널(300) 아래에는 TFT 어레이 기판(400)이 배치될 수 있다.A TFT array substrate 400 may be disposed under the display panel 300 .

여기서, 솔더 페이스트(33)는 1열 내지 4열의 패드(31-SP1~31-SP4) 상에 도포될 수 있고, 또는 LED 칩(100)이 선택 전사되는 위치의 패드에만 솔더 페이스트(33)가 선택적으로 도포될 수 있다.Here, the solder paste 33 may be applied on the pads 31-SP1 to 31-SP4 in rows 1 to 4, or the solder paste 33 is applied only to the pad at the position where the LED chip 100 is selectively transferred. It can be applied selectively.

솔더 페이스트(33)는 디스플레이 패널(300)의 다수의 패드(31) 상에 스크린 프린팅, 디스펜싱, 젯팅 등의 여러 방법을 통해 도포될 수 있다.The solder paste 33 may be applied on the plurality of pads 31 of the display panel 300 through various methods such as screen printing, dispensing, jetting, and the like.

다음으로, 도 17의 (B)를 참조하면, 제2 캐리어 기판(220)에 부착된 LED 칩 어레이(100)를 디스플레이 패널(300) 상으로 배치하고, LED 칩 어레이(100)의 패드를 디스플레이 패널(300)의 패드(31) 상에 도포된 솔더 페이스트(33-SP1~33-SP4)위치에 배열시킨다. Next, referring to FIG. 17B , the LED chip array 100 attached to the second carrier substrate 220 is disposed on the display panel 300 , and the pad of the LED chip array 100 is displayed. The solder pastes 33-SP1 to 33-SP4 applied on the pad 31 of the panel 300 are arranged.

다음으로, 도 17의 (C)를 참조하면, 제2 캐리어 기판(220) 상부로부터 열을 가한다.Next, referring to FIG. 17C , heat is applied from an upper portion of the second carrier substrate 220 .

이때 열은 발포체(225)가 발포될 수 있는 온도를 의미한다.In this case, the heat means a temperature at which the foam 225 can be foamed.

발포체(225)는 열에 의해 그 부피가 팽창하고 함침된 점착액을 포함한 EMC 점착층(223)을 일정한 압력으로 밀어내면서 LED 칩(100)과 제2 캐리어 기판(220)간의 접착력을 잃게하여 EMC 점착층(223) 선상에 위치한 LED 칩(100)이 디스플레이 패널(300) 상으로 전사될 수 있게 된다. The foam 225 loses the adhesive force between the LED chip 100 and the second carrier substrate 220 while pushing the EMC adhesive layer 223 including the adhesive solution impregnated therein with a constant pressure, and the volume of the foam 225 is expanded by heat. The LED chip 100 positioned on the layer 223 may be transferred onto the display panel 300 .

이와 같은 공정들을 반복적으로 수행하면, 디스플레이 패널(300) 상에 순차적으로 R, G, B LED 칩을 시간간격 순으로 순차적으로 전사하는 것이 가능하게 된다.By repeatedly performing these processes, it becomes possible to sequentially transfer the R, G, and B LED chips sequentially on the display panel 300 in order of time intervals.

이상에서 실시 형태들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시 형태에 포함되며, 반드시 하나의 실시 형태에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시 형태에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시 형태들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시 형태들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, etc. described in the above embodiments are included in at least one embodiment of the present invention, and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, features, structures, effects, etc. illustrated in each embodiment can be combined or modified for other embodiments by those of ordinary skill in the art to which the embodiments belong. Accordingly, the contents related to such combinations and modifications should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

또한, 이상에서 실시 형태를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시 형태의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시 형태에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.In addition, although the embodiment has been mainly described in the above, this is only an example and does not limit the present invention, and those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains to the above in the range that does not depart from the essential characteristics of the present embodiment. It will be appreciated that various modifications and applications not illustrated are possible. For example, each component specifically shown in the embodiment can be implemented with modification. And differences related to such modifications and applications should be construed as being included in the scope of the present invention defined in the appended claims.

10R, 10G, 10B : 웨이퍼
100, 100R, 100G, 100B : LED 칩
210, 210R, 210G, 210B : 제1 캐리어 기판
220, 220R, 220G, 220B : 제2 캐리어 기판
300 : 디스플레이 패널
400 : TFT 어레이 기판
10R, 10G, 10B: Wafer
100, 100R, 100G, 100B: LED chip
210, 210R, 210G, 210B: first carrier substrate
220, 220R, 220G, 220B: second carrier substrate
300: display panel
400: TFT array substrate

Claims (6)

기판; 및
상기 기판 상에 형성되고, UV 조사에 의해 특정 영역이 노광되어 광열화층이 형성되고, 소정의 온도에서 상기 광열화층이 팽창되는 감광성 수지로 이루어지는 감광성 수지층;을 포함하고,
상기 감광성 수지층 상에는 LED칩이 배치되고, 상기 LED칩 하측 부분은 클립-업(Clip-up) 구조에 의해 상기 감광성 수지층에 박힌 상태로 놓이고,
소정의 열을 가하여 상기 광열화층이 팽창되고, 상기 광열화층에 위치한 상기 LED칩의 피점착력이 상쇄되어 상기 LED칩이 박리 또는 전사되고,
상기 감광성 수지는 마스크 및 UV 조사에 의해 특정 영역이 노광되어 광열화층이 형성되고, 소정의 열을 가하여 상기 광열화층이 팽창되어 상기 광열화층에 위치한 LED칩만을 선택적으로 전사시키는, 감광성 수지를 이용한 LED칩 전사 장치.
Board; and
A photosensitive resin layer formed on the substrate, a specific region is exposed by UV irradiation to form a photodegradation layer, and a photosensitive resin layer made of a photosensitive resin in which the photodegradation layer expands at a predetermined temperature;
An LED chip is disposed on the photosensitive resin layer, and a lower portion of the LED chip is placed in a state embedded in the photosensitive resin layer by a clip-up structure,
The photodegradation layer is expanded by applying a predetermined heat, and the adhesive force of the LED chip located in the photodegradation layer is canceled so that the LED chip is peeled or transferred,
In the photosensitive resin, a specific area is exposed by a mask and UV irradiation to form a photodegradation layer, and by applying a predetermined heat, the photodegradation layer is expanded to selectively transfer only the LED chip located in the photodegradation layer. LED using a photosensitive resin chip transfer device.
제1항에 있어서,
상기 감광성 수지는 베이스 수지(Base Resin), 유기용매 및 광활성제를 혼합하여 제조되는, 감광성 수지를 이용한 LED칩 전사 장치.
According to claim 1,
The photosensitive resin is prepared by mixing a base resin, an organic solvent and a photoactive agent, an LED chip transfer device using a photosensitive resin.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 감광성 수지는 용제를 더 포함하는, 감광성 수지를 이용한 LED칩 전사 장치.
According to claim 1,
The photosensitive resin further comprises a solvent, the LED chip transfer device using the photosensitive resin.
제1항에 있어서,
상기 감광성 수지에는 상기 LED칩의 피점착력을 보강하기 위한 필러가 첨가되는, 감광성 수지를 이용한 LED칩 전사 장치.
According to claim 1,
A filler for reinforcing the adhesive force of the LED chip is added to the photosensitive resin, an LED chip transfer device using a photosensitive resin.
기판; 및
상기 기판 상에 형성되고, UV 조사에 의해 특정 영역이 노광되어 광열화층이 형성되고, 소정의 온도에서 상기 광열화층이 팽창되는 감광성 수지로 이루어지는 감광성 수지층;을 포함하고,
상기 감광성 수지층 상에는 LED칩이 배치되고, 상기 LED칩 하측 부분은 클립-업(Clip-up) 구조에 의해 상기 감광성 수지층에 박힌 상태로 놓이고,
소정의 열을 가하여 상기 광열화층이 팽창되고, 상기 광열화층에 위치한 상기 LED칩의 피점착력이 상쇄되어 상기 LED칩이 박리 또는 전사되고,
상기 감광성 수지에는 초순수(DI water)가 첨가되는, 감광성 수지를 이용한 LED칩 전사 장치.
Board; and
A photosensitive resin layer formed on the substrate, a specific region is exposed by UV irradiation to form a photodegradation layer, and a photosensitive resin layer made of a photosensitive resin in which the photodegradation layer expands at a predetermined temperature;
An LED chip is disposed on the photosensitive resin layer, and a lower portion of the LED chip is placed in a state embedded in the photosensitive resin layer by a clip-up structure,
The photodegradation layer is expanded by applying a predetermined heat, and the adhesive force of the LED chip located in the photodegradation layer is canceled so that the LED chip is peeled or transferred,
An LED chip transfer device using a photosensitive resin, in which ultrapure water (DI water) is added to the photosensitive resin.
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