KR102281297B1 - Pusher apparatus for electrical test - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전기적 검사를 위한 푸셔장치에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스와 검사장치의 전기적 검사를 위하여 사용되며, 피검사 디바이스를 검사장치 측으로 가압하기 위한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에 있어서, 검사장치 측에 설치되며, 피검사 디바이스가 수용되어 있는 수용공간이 마련된 베이스 부재; 상기 베이스 부재의 상측에 배치되고, 상기 베이스 부재에 회전가능하게 결합되는 핸들부; 상기 베이스 부재의 수용공간 내에 수용된 피검사 디바이스의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스를 검사장치 측으로 가압할 수 있는 푸셔부재; 및 상기 핸들부에 탄성적으로 지지되고, 상기 푸셔부재와 연결되어 있는 인터포저를 포함하되, 상기 핸들부는 상기 베이스 부재에 대해서 일방향으로 회전하면서 피검사 디바이스에 근접하는 하측방향으로 이동하여 푸셔부재가 상기 피검사 디바이스를 가압하게 하거나, 상기 베이스 부재에 대해서 타방향으로 회전하면서 피검사 디바이스로부터 멀어지는 상측방향으로 이동하여 푸셔부재가 상기 피검사 디바이스에 대한 가압을 해제시키는 전기적 검사를 위한 푸셔장치에 대한 것이다.The present invention relates to a pusher apparatus for an electrical inspection, and more particularly, in the pusher apparatus for an electrical inspection used for electrical inspection of a device to be inspected and an inspection apparatus, and for pressing the device to be inspected toward the inspection apparatus, a base member installed on the side of the inspection apparatus and having an accommodation space in which the device to be inspected is accommodated; a handle portion disposed above the base member and rotatably coupled to the base member; a pusher member capable of pressing the device to be tested toward the testing apparatus by contacting an upper surface of the device to be tested accommodated in the receiving space of the base member; and an interposer elastically supported by the handle portion and connected to the pusher member, wherein the handle portion rotates in one direction with respect to the base member and moves in a downward direction close to the device to be inspected so that the pusher member is removed. Pusher device for electrical inspection that presses the device to be inspected or moves in an upward direction away from the device to be inspected while rotating in the other direction with respect to the base member so that the pusher member releases the pressure on the device to be inspected will be.
Description
본 발명은 전기적 검사를 위한 푸셔장치에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 좁은 공간에서 큰 힘이 필요없이 디바이스 전체에 고른 압력이 가해질 수 있게 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치에 대한 것이다.The present invention relates to a pusher device for an electrical test, and more particularly, to a pusher device for an electrical test that enables uniform pressure to be applied to the entire device without the need for a large force in a narrow space.
일반적으로 반도체 검사 장치는 반도체 패키지와 같은 피검사 디바이스를 검사장치의 위치에 순차 반송 가압하고, 소정의 시험 프로그램을 따라서 피검사 디바이스의 각각에 대하여 전기적 검사를 실시한다. 이때 검사결과에 따라 소정의 위치로 반송한 후에 양불여부에 따라서 불량품과 양품을 서로 분류한다. 이러한 반도체 검사 장치의 일련의 동작에서는 검사장치측으로 이동되어온 피검사 디바이스를 푸셔장치가 검사장치 측으로 가압하게 된다. 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드가 서로 확실하게 접촉할 수 있게 하기 위하여 적절한 압력으로 피검사 디바이스를 눌러서 검사장치의 패드와 접촉되게 하는 것이다.In general, a semiconductor inspection apparatus sequentially conveys and pressurizes a device to be inspected, such as a semiconductor package, to a position of the inspection apparatus, and conducts an electrical inspection on each of the devices under test according to a predetermined test program. At this time, after returning to a predetermined location according to the inspection result, defective products and good products are classified into each other according to whether or not the product is acceptable or not. In a series of operations of the semiconductor inspection apparatus, the pusher device presses the device to be inspected, which has been moved toward the inspection apparatus, toward the inspection apparatus. In order to ensure that the terminal of the device to be tested and the pad of the testing device are in contact with each other, the device to be tested is pressed with an appropriate pressure to come into contact with the pad of the testing device.
종래의 푸셔장치(10)는 도 1 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 베이스 본체(20), 핸들(30), 푸셔본체(40)를 포함하여 구성된다. 베이스 본체(20)는 검사장치 측에 고정설치되며 사각판의 형상을 가지고 있으며 그 중앙에 피검사 디바이스(50)가 수용되는 수용공간(21)이 마련되어 있게 된다. 상기 수용공간(21)은 피검사 디바이스(50)와 대응되는 사각형태의 단면형상을 가지게 된다.The
상기 베이스 본체(20)에는 수용공간(21)의 주변에 4개의 제1볼트(22)가 형성되어 있게 되며 상기 제1볼트(22)는 핸들(30)이 분리가능하게 결합할 수 있게 한다.Four
상기 핸들(30)은, 전체적으로 원판의 형상을 가지고 있으며 하면 중앙에서 상측으로 연장된 삽입공간(31)이 마련되어 있게 된다.The
상기 핸들(30)의 가장자리에서는 상하관통하는 복수의 절개부(32)가 마련되어 있으며 상기 절개부(32)에는 제1볼트(22)가 삽입되는 삽입부(32a)와, 상기 제1볼트(22)를 걸리게 하는 걸림턱(32b)이 마련되어 있게 된다. 제1볼트(22)가 삽입부(32a)를 통하여 삽입된 후에 핸들(30)을 회전시키면 제1볼트(22)의 머리가 걸림턱(32b)이 걸리게 되어 핸들(30)이 베이스 본체(20)로부터 이탈되는 것이 방지된다.A plurality of
상기 푸셔본체(40)는, 베이스 본체(20)의 수용공간(21)에 배치된 피검사 디바이스(50)의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스(50)를 검사장치 측으로 가압하기 위한 것이다. 이러한 푸셔본체(40)는, 베이스 본체(20)의 삽입공간(31) 내에 삽입되어 있게 되고, 푸셔본체(40)의 중앙 부분을 관통하는 복수의 제2볼트(33)에 의하여 상기 핸들(30)에 결합되어 있게 된다.The
상기 제2볼트(33)에는 제2스프링(34)이 삽입되어 있어서 상기 푸셔본체(40)가 상기 베이스 본체(20)로부터 멀어지는 방향으로 탄성바이어스 시키게 된다.A
이러한 구조를 가지는 종래의 푸셔장치(10)는 다음과 같이 작용한다.The
먼저, 피검사 디바이스(50)를 베이스 본체(20)의 수용공간(21) 내에 삽입한 후에, 핸들(30)을 베이스 본체(20)의 상측에 위치시킨다. 이후에 핸들(30)의 삽입부(32a)와 상기 제1볼트(22)를 정렬시킨 후에 핸들(30)의 삽입부(32a)를 통해서 제1볼트(22)를 삽입한다. 작업자가 핸들(30)을 베이스 본체(20) 측으로 가압하게 되면 제2스프링(34)에 의하여 탄성지지된 푸셔본체(40)는 피검사 디바이스(50)를 소정의 힘으로 누르게 된다. 작업자가 핸들(30)을 가압한 상태에서 일방향으로 회전시키면 제1볼트(22)가 삽입부(32a)에서 걸림턱(32b)으로 이동함으로서 핸들(30)이 베이스 본체(20)에 결합된 상태를 유지하게 된다. 이때 제2스프링(34)은 푸셔본체(40)에 텐션을 주고 있으므로 소정의 가압력을 가지면서 푸셔본체(40)는 피검사 디바이스(50)를 검사장치에 확실하게 접촉된다.First, after inserting the device to be inspected 50 into the
이후에, 검사장치로부터 소정의 전기적 신호가 인가되면 그 신호가 검사장치의 패드를 통해서 검사장치의 단자로 흐르면서 소정의 전기적 검사가 수행된다.Thereafter, when a predetermined electrical signal is applied from the inspection apparatus, the signal flows through the pad of the inspection apparatus to the terminal of the inspection apparatus, and a predetermined electrical inspection is performed.
전기적 검사가 완료된 후에는, 핸들(30)에 소정의 가압력을 가하면서 반대방향으로 회전을 시키면 제1볼트(22)는 걸림턱(32b)에서 삽입부(32a)로 이동하게 되고, 이후에 핸들(30)이 제1볼트(22)로부터 이탈되면서 베이스 본체(20)의 수용공간(21)을 개방시킬 수 있게 되며, 피검사 디바이스(50)는 소정의 위치로 반송된다.After the electrical inspection is completed, if the
이러한 종래의 푸셔장치(10)는 다음과 같은 문제점을 가지게 된다.Such a
첫째, 종래의 푸셔장치(10)는 핸들(30)을 제1볼트(22)에 삽입한 후에 힘을 가하여 제2스프링(34)이 압축된 상태에서 손의 힘으로만 핸들(30)을 회전시켜 피검사 디바이스(50)를 가압해야 하기 때문에, 작업자에게 큰 불편을 초래하게 된다.First, in the
즉, 작업자는 푸셔본체(40)에 압력을 가하기 위하여 온전히 손으로 핸들(30)을 누른 상태에서 회전까지 시켜야 하므로 작업자의 불편을 초래하게 되는 것이다.That is, since the operator has to rotate the
둘째, 푸셔장치(10)는 핸들(30)과 푸셔본체(40)가 제2볼트(33)에 의하여 고정결합되어 있고, 핸들(30)과 푸셔본체(40)가 일체로 회전하도록 구성되어 있게 된다. 즉, 핸들(30)을 회전하면 푸셔본체(40)도 동시에 회전하도록 구성되어 있다. 이러한 구조를 가진 푸셔장치(10)는 피검사 디바이스(50)에 접촉한 상태에서 핸들(30)을 회전하면 푸셔본체(40)도 동시에 회전하게 되는데, 좁은 수용공간(21) 내에서 푸셔본체(40)가 회전하는 과정에서 직육면체 형태의 푸셔본체(40)가 수용공간(21) 내벽에 부딪히면서 푸셔본체(40)의 모서리가 파손될 염려가 있다.Second, in the
특히, 푸셔본체(40)가 수용공간(21) 내에서 회전을 해야 하기 때문에, 푸셔본체(40)의 크기를 수용공간(21)의 단면보다 충분하게 작게 해야 하는데, 푸셔본체(40)의 크기가 크지 않은 경우에는 피검사 디바이스(50)의 전면을 충분하게 눌러주지 못해서 피검사 디바이스(50)의 가장자리의 단자가 검사장치의 패드가 충분한 압력을 가지고서 눌리지 못하게 되는 일이 있게 된다.In particular, since the
푸셔본체(40)가 회전하는 과정에서 모서리가 수용공간(21) 내벽에 부딪히는 것을 막기 위해서 푸셔본체(40)를 원형단면을 가지도록 구성하는 것도 가능하나, 이 경우에도 피검사 디바이스(50)(사각형태)의 가장자리 부분을 누르지 못하는 일이 있게 되어 피검사 디바이스(50) 번체에 고르게 압력이 분산되지 않게 되고, 이는 검사의 신뢰도를 저하시키는 요인이 될 수 있다.It is also possible to configure the
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 더욱 상세하게는 작업자의 불편을 최소화하고 피검사 디바이스에 고른 압력이 충분하게 가해질 수 있게 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치를 제공하는 것을 기술적 목적으로 한다.The present invention has been created to solve the above problems, and more specifically, to provide a pusher device for electrical inspection that minimizes operator's inconvenience and allows an even pressure to be sufficiently applied to the device to be tested. do.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전기적 검사를 위한 푸셔장치는, 피검사 디바이스와 검사장치의 전기적 검사를 위하여 사용되며, 피검사 디바이스를 검사장치 측으로 가압하기 위한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에 있어서,The pusher apparatus for electrical inspection of the present invention for achieving the above object is used for electrical inspection of a device to be inspected and the inspection apparatus, and in the pusher apparatus for electrical inspection for pressing the device to be inspected toward the inspection apparatus ,
검사장치 측에 설치되며, 피검사 디바이스가 수용되어 있는 수용공간이 마련된 베이스 부재;a base member installed on the side of the inspection device and having an accommodating space in which the device to be inspected is accommodated;
상기 베이스 부재의 상측에 배치되고, 상기 베이스 부재에 회전가능하게 결합되는 핸들부;a handle portion disposed above the base member and rotatably coupled to the base member;
상기 베이스 부재의 수용공간 내에 수용된 피검사 디바이스의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스를 검사장치 측으로 가압할 수 있는 푸셔부재; 및a pusher member capable of pressing the device to be tested toward the testing apparatus by contacting an upper surface of the device to be tested accommodated in the receiving space of the base member; and
상기 핸들부에 탄성적으로 지지되고, 상기 푸셔부재와 연결되어 있는 인터포저를 포함하되,An interposer elastically supported by the handle portion and connected to the pusher member,
상기 핸들부는,The handle part,
상기 베이스 부재에 대해서 일방향으로 회전하면서 피검사 디바이스에 근접한 하측방향으로 이동하여 푸셔부재가 상기 피검사 디바이스를 가압하게 하거나, While rotating in one direction with respect to the base member, the pusher member presses the device to be inspected by moving in a downward direction close to the device to be inspected, or
상기 베이스 부재에 대해서 타방향으로 회전하면서 피검사 디바이스로부터 멀어지는 상측방향으로 이동하여 푸셔부재가 상기 피검사 디바이스에 대한 가압을 해제시킬 수 있다.While rotating in the other direction with respect to the base member, the pusher member may release the pressure on the device to be inspected by moving in an upward direction away from the device to be inspected.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 베이스 부재는,The base member is
검사장치에 고정되며 중앙에 상기 수용공간이 마련되는 베이스 본체와,A base body fixed to the inspection device and provided with the receiving space in the center;
상기 베이스 본체의 수용공간 주변에 배치되고, 상기 수용공간을 둘러싸도록 상기 베이스 본체에서 상측으로 돌출되고, 내측면에 나사탭이 형성되어 있는 지지부를 포함할 수 있다.It may include a support portion disposed around the receiving space of the base body, protruding upward from the base body to surround the receiving space, and having a screw tab formed on an inner surface thereof.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 핸들부에는 상기 지지부의 나사탭에 나사결합되는 나사산이 형성되어 있어서, 상기 나사탭과 나사산이 결합되어 상기 핸들부를 상기 베이스 부재에 대하여 회전가능하게 결합시킬 수 있다.Since the handle part has a screw thread screwed to the screw tab of the support part, the screw thread is coupled to the screw tab to rotatably couple the handle part with respect to the base member.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 핸들부는, 외주면에는 손으로 파지할 수 있는 파지부가 형성되는 핸들본체와,The handle portion includes a handle body having a grip portion that can be gripped by hand on an outer circumferential surface;
상기 핸들본체의 하면에서 하측으로 연장되며, 상기 외측면에 상기 나사산이 형성되어 있는 삽입부를 포함할 수 있다.It extends downwardly from the lower surface of the handle body, and may include an insertion part having the screw thread formed on the outer surface.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 핸들부에는, 상기 삽입부의 저면 중앙에서 상측으로 파여져서 내부에 삽입공간이 마련되어 있으며, In the handle portion, an insertion space is provided therein by being dug upward from the center of the bottom surface of the insertion portion,
상기 인터포저는 상기 삽입공간 내에 삽입배치될 수 있다.The interposer may be inserted and disposed within the insertion space.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치는,The pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 핸들부를 관통하여 인터포저에 고정되는 제1볼트와, 상기 제1볼트에 끼워지며 상기 핸들부와 인터포저 사이에 배치되어 상기 핸들부와 인터포저를 서로 멀어지는 방향으로 탄성바이어스시키는 제1스프링을 포함할 수 있다.A first bolt passed through the handle portion and fixed to the interposer, and a first spring fitted to the first bolt and disposed between the handle portion and the interposer to elastically bias the handle portion and the interposer in a direction away from each other. may include
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 인터포저는 상기 핸들부와 상기 푸셔부재의 사이에 배치되며, 상기 푸셔부재는 상기 인터포저에 대해서 상대 회전가능하게 결합될 수 있다.The interposer may be disposed between the handle part and the pusher member, and the pusher member may be coupled to be rotatably relative to the interposer.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치는,The pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 푸셔부재를 관통하여 상기 인터포저에 고정되고, 푸셔부재와 인터포저를 연결하는 제2볼트를 더 포함하고, 상기 푸셔부재는 상기 제2볼트에 회전가능하게 지지될 수 있다.A second bolt passing through the pusher member and being fixed to the interposer and connecting the pusher member and the interposer may be further included, wherein the pusher member may be rotatably supported by the second bolt.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 제2볼트는, 볼트머리와 상기 볼트머리로부터 연장되는 기둥부를 포함하되, 상기 볼트머리는 상기 푸셔부재 내에 삽입되고, 상기 기둥부는 상기 푸셔부재를 통과하여 상기 인터포저에 고정될 수 있다.The second bolt may include a bolt head and a pillar portion extending from the bolt head, wherein the bolt head is inserted into the pusher member, and the pillar portion may pass through the pusher member and be fixed to the interposer.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 인터포저와 상기 푸셔부재 사이에는 상기 제2볼트에 끼워지는 제2스프링을 포함하고, 상기 제2스프링은 검사과정에서 푸셔부재가 인터포저에 대해서 요동하지 않게 할 수 있다.A second spring may be included between the interposer and the pusher member to be fitted to the second bolt, and the second spring may prevent the pusher member from swinging with respect to the interposer during the inspection process.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 푸셔부재의 내부에는Inside the pusher member
상기 저면에서 상측으로 연장되고 상기 볼트머리가 수용되는 제1삽입공간과, 상기 제1삽입공간으로부터 상측으로 연장되며 볼트머리보다 내경이 작고 기둥부만 통과가능하게 하는 제2삽입공간이 마련될 수 있다.A first insertion space extending upward from the bottom surface and accommodating the bolt head, and a second insertion space extending upward from the first insertion space and having a smaller inner diameter than the bolt head and allowing only the column part to pass through may be provided. there is.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 제1삽입공간과 제2삽입공간의 사이에는 머리부가 걸릴 수 있는 단턱이 형성되고,Between the first insertion space and the second insertion space, a step on which the head can be caught is formed,
검사시 상기 단턱과 머리부 사이에는 푸셔부재가 인터포저에 대한 상대회전이 용이하도록 공간이 마련될 수 있다.During inspection, a space may be provided between the step and the head to facilitate relative rotation of the pusher member with respect to the interposer.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 푸셔부재의 상면 중앙에는 하측으로 파여진 제1포켓이 마련되고, 상기 제1포켓과 대응되는 인터포저의 하면 중앙에는 상측으로 파여진 제2포켓이 마련되되, 상기 제1포켓과 제2포켓에 의하여 스프링 수용부가 형성되고, 상기 제2스프링은 상기 스프링 수용부에 마련될 수 있다.A first pocket recessed downward is provided in the center of the upper surface of the pusher member, and a second pocket recessed upward is provided in the center of the lower surface of the interposer corresponding to the first pocket, the first pocket and the second pocket A spring accommodating part is formed by the , and the second spring may be provided in the spring accommodating part.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 수용공간의 주변벽에는 상기 푸셔부재를 수용공간의 중앙으로 안내하도록 하방으로 갈수록 수용공간의 중앙을 향하도록 경사지는 경사가이드면이 마련될 수 있다.An inclined guide surface that is inclined toward the center of the accommodation space may be provided on the peripheral wall of the accommodation space to guide the pusher member toward the center of the accommodation space.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 베이스 본체에는 상기 푸셔부재가 상기 피검사 디바이스의 단자를 파손시키는 위치에 도달하기 전에 상기 핸들부의 하강을 저지하는 스토퍼가 마련될 수 있다.A stopper may be provided on the base body to block the lowering of the handle part before the pusher member reaches a position where the terminal of the device under test is damaged.
상술한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에서,In the pusher device for the above-described electrical inspection,
상기 베이스부재는, 검사장치에 고정되며 중앙에 상기 수용공간이 마련되는 베이스 본체와, 상기 베이스 본체의 수용공간 주변에 배치되고 상기 수용공간을 둘러싸도록 상기 베이스 본체에서 상측으로 돌출되는 지지부를 포함하되,The base member includes a base body fixed to the inspection device and having the receiving space in the center thereof, and a support part disposed around the receiving space of the base body and protruding upward from the base body to surround the receiving space, ,
상기 지지부의 상단이 상기 핸들부의 저면에 접촉하여 상기 핸들부의 하강을 저지하는 스토퍼일 수 있다.The upper end of the support portion may be a stopper that contacts the bottom surface of the handle portion to prevent the handle portion from descending.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전기적 검사를 위한 푸셔장치는, 피검사 디바이스와 검사장치의 전기적 검사를 위하여 사용되며, 피검사 디바이스를 검사장치 측으로 가압하기 위한 전기적 검사를 위한 푸셔장치에 있어서,The pusher apparatus for electrical inspection of the present invention for achieving the above object is used for electrical inspection of a device to be inspected and the inspection apparatus, and in the pusher apparatus for electrical inspection for pressing the device to be inspected toward the inspection apparatus ,
검사장치 측에 설치되며, 피검사 디바이스가 수용되어 있는 수용공간이 마련된 베이스 부재;a base member installed on the side of the inspection device and having an accommodating space in which the device to be inspected is accommodated;
상기 베이스 부재의 상측에 배치되고, 상기 베이스 부재에 회전가능하게 결합되는 핸들부;a handle portion disposed above the base member and rotatably coupled to the base member;
상기 베이스 부재의 수용공간 내에 수용된 피검사 디바이스의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스를 검사장치 측으로 가압할 수 있는 푸셔부재; 및a pusher member capable of pressing the device to be tested toward the testing apparatus by contacting an upper surface of the device to be tested accommodated in the receiving space of the base member; and
상기 핸들부와 상기 푸셔부재에 각각 연결되는 인터포저를 포함하되,An interposer connected to the handle part and the pusher member, respectively,
상기 핸들부는 상기 베이스 부재에 대한 상대회전에 의하여 상승 또는 하강하도록 구성되고, The handle portion is configured to rise or fall by relative rotation with respect to the base member,
상기 푸셔부재는 상기 인터포저에 회전자유롭게 연결되어 있어서 핸들부가 회전해도 상기 푸셔부재는 상기 수용공간 내에 삽입되어 비회전상태에 놓인다.The pusher member is rotatably connected to the interposer so that even when the handle part rotates, the pusher member is inserted into the accommodation space and placed in a non-rotating state.
본 발명에 따른 전기적 검사를 위한 푸셔장치는, 핸들과 베이스 본체가 나사식으로 결합되도록 구성되어 있어서 적은 힘으로도 피검사 디바이스를 가압하면서 핸들을 베이스 본체에 결합시키는 것이 가능하다는 장점이 있게 된다.The pusher device for electrical inspection according to the present invention has the advantage that it is possible to couple the handle to the base body while pressing the device to be tested even with a small force because the handle and the base body are configured to be screwed together.
본 발명에 따른 전기적 검사를 위한 푸셔장치는, 핸들과 푸셔본체가 상대회전가능하게 결합되어 있으므로 핸들이 회전하는 과정에서 푸셔본체를 회전되지 않고 피검사 디바이스를 가압할 수 있어서 피검사 디바이스의 전면에 고른 가압력을 분산시킬 수 있게 되는 장점이 있다.In the pusher device for electrical inspection according to the present invention, since the handle and the pusher body are relatively rotatably coupled, the pusher body can be pressed without rotating the pusher body during the rotation of the handle, so that the There is an advantage of being able to distribute an even pressing force.
도 1은 종래의 푸셔장치의 분리사시도.
도 2는 도 1의 푸셔장치의 핸들의 평면도
도 3은 도 1의 푸셔장치가 결합사시도 사시도.
도 4는 도 1의 푸셔장치의 핸들을 회전한 모습을 나타내는 사시도.
도 5는 도 4의 Ⅴ-Ⅴ단면도.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 푸셔장치의 분리사시도.
도 7은 도 6의 일부 결합사시도.
도 8은 도 6의 결합사시도.
도 9는 도 8의 Ⅸ-Ⅸ 단면도.
도 10은 도 8의 푸셔장치의 핸들을 회전시킨 후의 모습을 나타내는 평면도.
도 11은 도 10의 ⅩⅠ- ⅩⅠ 단면도.1 is an exploded perspective view of a conventional pusher device;
Figure 2 is a plan view of the handle of the pusher device of Figure 1;
Figure 3 is a perspective view in which the pusher device of Figure 1 is coupled.
Figure 4 is a perspective view showing a state in which the handle of the pusher device of Figure 1 is rotated.
5 is a V-V cross-sectional view of FIG.
6 is an exploded perspective view of a pusher device according to an embodiment of the present invention;
Figure 7 is a partial perspective view of the combination of Figure 6;
Figure 8 is a perspective view of the combination of Figure 6;
9 is a cross-sectional view IX-IX of FIG.
Figure 10 is a plan view showing a state after rotating the handle of the pusher device of Figure 8;
FIG. 11 is a cross-sectional view taken along line XⅠ-XⅠ of FIG. 10. FIG.
본 개시의 실시예들은 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이다. 본 개시에 따른 권리범위가 이하에 제시되는 실시예들이나 이들 실시예들에 대한 구체적 설명으로 한정되는 것은 아니다.Embodiments of the present disclosure are exemplified for the purpose of explaining the technical spirit of the present disclosure. The scope of the rights according to the present disclosure is not limited to the embodiments presented below or specific descriptions of these embodiments.
본 개시에 사용되는 모든 기술적 용어들 및 과학적 용어들은, 달리 정의되지 않는 한, 본 개시가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 의미를 갖는다. 본 개시에 사용되는 모든 용어들은 본 개시를 더욱 명확히 설명하기 위한 목적으로 선택된 것이며 본 개시에 따른 권리범위를 제한하기 위해 선택된 것이 아니다.All technical and scientific terms used in this disclosure have the meanings commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this disclosure belongs, unless otherwise defined. All terms used in the present disclosure are selected for the purpose of more clearly describing the present disclosure and not to limit the scope of the present disclosure.
본 개시에서 사용되는 "포함하는", "구비하는", "갖는" 등과 같은 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 달리 언급되지 않는 한, 다른 실시예를 포함할 가능성을 내포하는 개방형 용어(open-ended terms)로 이해되어야 한다.As used in this disclosure, expressions such as "comprising", "including", "having", etc. are open-ended terms connoting the possibility of including other embodiments, unless otherwise stated in the phrase or sentence in which the expression is included. (open-ended terms).
본 개시에서 기술된 단수형의 표현은 달리 언급하지 않는 한 복수형의 의미를 포함할 수 있으며, 이는 청구범위에 기재된 단수형의 표현에도 마찬가지로 적용된다.Expressions in the singular described in this disclosure may include plural meanings unless otherwise stated, and the same applies to expressions in the singular in the claims.
본 개시에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 경우, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로, 또는 새로운 다른 구성요소를 매개로 하여 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로 이해되어야 한다.In the present disclosure, when a component is referred to as being “connected” or “connected” to another component, the component can be directly connected or connectable to the other component, or a new component It should be understood that other components may be connected or may be connected via other components.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 실시예들을 설명한다. 첨부된 도면에서, 동일하거나 대응하는 구성요소에는 동일한 참조부호가 부여되어 있다. 또한, 이하의 실시예들의 설명에 있어서, 동일하거나 대응하는 구성요소를 중복하여 기술하는 것이 생략될 수 있다. 그러나 구성요소에 관한 기술이 생략되어도, 그러한 구성요소가 어떤 실시예에 포함되지 않는 것으로 의도되지는 않는다.Hereinafter, embodiments will be described with reference to the accompanying drawings. In the accompanying drawings, identical or corresponding components are assigned the same reference numerals. In addition, in the description of the embodiments below, overlapping description of the same or corresponding components may be omitted. However, even if descriptions regarding components are omitted, it is not intended that such components are not included in any embodiment.
본 발명에 따른 푸셔장치는 피검사 디바이스와 검사장치의 전기적 검사를 위하여 사용되는 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스를 검사장치 측으로 가압하여 피검사 디바이스의 단자가 검사장치의 패드와 확실하게 접속된 상태에서 전기적 검사를 수행할 수 있게 하는 푸셔장치에 대한 것이다.The pusher apparatus according to the present invention is used for electrical inspection of a device to be inspected and an inspection apparatus, and more specifically, by pressing the inspected device toward the inspection apparatus, the terminal of the inspected device is securely connected to the pad of the inspection apparatus. It is about a pusher device that can perform an electrical inspection in the state.
이러한 본 발명의 푸셔장치(100)는 베이스 부재(110), 핸들부(120), 인터포저(130) 및 푸셔부재(140)를 포함하여 구성된다.The
상기 베이스 부재(110)는, 검사장치(180) 측에 설치되며, 피검사 디바이스(170)가 수용되어 있는 수용공간(111a)이 마련된 것이다.The
구체적으로 베이스 부재(110)는, 베이스 본체(111)와, 지지부(112)를 포함한다.Specifically, the
상기 베이스 본체(111)는 검사장치(180)의 고정설치되는 것으로서 전체적으로 사각판형태로 구성된다. 이러한 베이스 본체(111)는, 중앙에 피검사 디바이스(170)가 수용될 수 있는 수용공간(111a)이 마련되어 있게 된다. 상기 수용공간(111a)은 전체적으로 사각단면형태를 가지는 구멍형상을 가지고 있으며 피검사 디바이스(170)와 대응되는 형상을 가지고 있다. The
상기 수용공간(111a)의 주변벽에는 상기 푸셔부재(140)를 수용공간(111a)의 중앙으로 안내하도록 하방으로 갈수록 수용공간(111a)의 중앙을 향하도록 경사지는 경사가이드면(111b)이 마련되고, 상기 경사가이드면(111b)의 하측에는 수직방향으로 연장되는 수용면(111c)이 마련된다. An
상기 경사가이드면(111b)은 수용공간(111a) 중앙에 위치하는 피검사 디바이스(170)의 상면을 향하여 푸셔부재(140)가 이동할 수 있도록 가이드하는 기능을 수행하게 되는데, 경사가이드면(111b)에 의하여 푸셔부재(140)가 수용공간(111a) 내에 정렬될 수 있게 된다.The
상기 베이스 본체(111)에서 가장자리 모서리에는 상기 베이스 본체(111)를 검사장치(180)에 고정시키기 위한 볼트구멍(111d)이 형성되어 있게 되며, 상기 볼트구멍(111d)에 볼트가 체결되어 베이스 본체(111)를 검사장치(180)에 고정설치할 수 있게 된다.In the edge of the
상기 지지부(112)는, 상기 베이스 본체(111)의 수용공간(111a) 주변에 배치되고, 상기 수용공간(111a)을 둘러싸도록 상기 베이스 본체(111)에서 상측으로 돌출되고, 내측면에 나사탭(1121)이 형성되어 있는 것이다.The
구체적으로 상기 지지부(112)는 수용공간(111a)을 둘러싸고 있으며 원형의 고리형상으로 이루어지게 된다. 상기 지지부(112)는 핸들부(120)과 나사식으로 결합되어 상기 핸들의 위치를 베이스 부재(110)에 고정시키는 기능을 수행한다. Specifically, the
상기 지지부(112)는 그 상단이 상기 핸들부(120)의 저면에 접촉하여 상기 핸들부(120)의 하강을 저지하는 스토퍼로서 기능을 수행할 수 있다. 즉, 지지부(112)는 상기 베이스 본체(111)에는 상기 푸셔부재(140)가 상기 피검사 디바이스(170)의 단자를 파손시키는 위치에 도달하기 전에 상기 핸들부(120)의 하강을 저지하는 스토퍼로서의 기능을 수행하며, 이러한 기능을 달성할 수 있도록 지지부(112)의 돌출높이를 선정하게 된다.The upper end of the
상기 핸들부(120)는 상기 베이스 부재(110)의 상측에 배치되고, 상기 베이스 부재(110)에 회전가능하게 결합되는 것이다. The
이러한 핸들부(120)는, 핸들본체(121)와, 삽입부(122)를 포함하여 구성된다.The
상기 핸들본체(121)는, 외주면에 손으로 파지할 수 있는 오목홈(1211)이 원주방향을 따라서 다수 형성된 것이다. 이러한 핸들본체(121)의 중앙에는 상면에서 하측을 향하여 복수의 볼트체결공(1212)이 형성되어 있다. 구체적으로 핸들본체(121)의 중심축을 기준으로 반경방향으로 이격된 위치에서 원주방향으로 등간격으로 4개의 볼트체결공(1212)이 형성되어 있다. 각각의 볼트체결공(1212)은 상면에서 하측으로 연장되며 제1볼트(150)의 머리가 수용되는 대직경공(1212a)과, 상기 대직경공(1212a)으로부터 하측으로 연장되며 볼트의 기둥이 삽입되는 소직경공(1212b)으로 구성된다.The handle body 121 has a plurality of
상기 삽입부(122)는, 핸들본체(121)의 하면에서 하측으로 연장되는 원통형태의 구조로서, 외측면에는 지지부(112)의 나사탭(1121)에 나사결합될 수 있는 나사산(1221)이 형성되어 있게 된다. 상기 나사탭(1121)과 나사산(1221)이 결합되어 상기 핸들부(120)를 상기 베이스 부재(110)에 대하여 회전가능하게 결합시킨다. 즉, 삽입부(122)의 나사산(1221)을 지지부(112)의 나사탭(1121)에 접촉한 상태에서 핸들부(120)를 일방향으로 회전하면 핸들부(120)가 하강하면서 삽입부(122)가 베이스 본체(111)를 향하여 진입한다. 또한 핸들부(120)를 타방향으로 회전하면 핸들부(120)가 상승하면서 삽입부(122)가 베이스 본체(111)로부터 멀어지도록 이동할 수 있다.The
상기 핸들부(120)에는 그 내부에 인터포저(130)를 수용할 수 있는 삽입공간(1222)이 마련된다. 상기 삽입공간(1222)은 핸들부(120)의 삽입부(122) 저면 중앙에서 상측으로 패여져서 형성된 공간으로서 상기 삽입공간(1222)은 볼트체결공(1212)과 연통되어 있어서 제1볼트(150)가 상기 볼트체결공(1212)을 통과하여 인터포저(130)에 나사결합될 수 있게 한다.An
상기 인터포저(130)는 상기 핸들부(120)에 탄성적으로 지지되고, 상기 푸셔부재(140)와 연결되어 있는 것이다. 이러한 인터포저(130)는 상기 핸들부(120)의 삽입공간(1222) 내에 삽입된 상태에서 상하방향으로 이동가능하게 배치된다. 구체적으로 인터포저(130)는 핸들부(120)의 제1볼트(150)와 결합된 상태에서 상승 또는 하강가능하게 구성된다. 이때 제1볼트(150)에는 핸들부(120)와 인터포저(130) 사이에 배치되어 핸들부(120)와 인터포저(130)를 서로 멀어지는 방향으로 탄성바이어스시키는 제1스프링(151)이 삽입되어 있어서, 외력이 가해지면 제1스프링(151)이 압축되면서 인터포저(130)가 핸들부(120)의 상면을 향하도록 이동하게 하고 외력이 제거되면 제1스프링(151)이 탄성복원되면서 인터포저(130)를 핸들부(120)의 상면에서 멀어지도록 탄성가압하게 된다. 구체적으로 인터포저(130)에는 원주방향을 따라서 상면에서 하측으로 연장된 복수의 안착홈(133)이 형성되며, 상기 안착홈(133)에 제1스프링(151)이 수용된다. The
상기 인터포저(130)의 중앙에는 푸셔부재(140)를 인터포저(130)에 결합시키기 위한 제2볼트(160)가 체결되어 있게 된다. 구체적으로 인터포저(130)의 중앙 저면에는 상측으로 연장되는 볼트체결구멍(131)이 형성되어 있으며 상기 볼트체결구멍(131)에 제2볼트(160)가 체결되어 고정된다. 상기 볼트체결구멍(131)의 주변에는 인터포저(130)의 하면 중앙에서 상측으로 파여지며 제2스프링(161)이 안착되는 제2포켓(132)이 형성되어 있게 된다.A
상기 푸셔부재(140)는, 상기 베이스 부재(110)의 수용공간(111a) 내에 수용된 피검사 디바이스(170)의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스(170)를 검사장치(180) 측으로 가압할 수 있는 것이다. 이러한 푸셔부재(140)는, 인터포저(130)에 대하여 상대회전가능하게 결합되어 있게 된다. 구체적으로 핸들부(120)가 회전하면 인터포저(130)도 핸들부(120)와 연동되어 회전하지만, 푸셔부재(140)는 핸들부(120)의 회전에도 회전하지 않고 베이스 부재(110)의 수용공간(111a) 내에서 위치가 고정되어 있을 수 있다. 이와 같이 푸셔부재(140)가 핸들부(120)에 연동되어 회전하지 않음에 따라서 푸셔부재(140)가 수용공간(111a) 내에 삽입된 상태에서 회전하여 수용공간(111a)의 주변벽에 부딪히는 일이 없어 푸셔부재(140)의 모서리가 파손될 염려가 없게 된다.The
이러한 푸셔부재(140)는 전체적으로 직육면체 형상을 가지고 있으며 피검사 디바이스(170)를 상면 전체를 가압할 수 있도록 피검사 디바이스(170)와 대응되는 크기를 가질 수 있으며, 피검사 디바이스(170)보다 더 큰 단면을 가질 수 있다.This
이러한 푸셔부재(140)는, 하면에서 상측으로 연장되며 제2볼트(160)의 볼트머리(160a)가 수용되는 제1삽입공간(141)과, 상기 제1삽입공간(141)으로부터 상측으로 연장되며 볼트머리(160a)보다 내경이 작고 기둥부(160b)만 통과가능하게 하는 제2삽입공간(142)이 형성되며, 상기 제1삽입공간(141)과 제2삽입공간(142)의 사이에는 볼트머리(160a)가 통과하지 못하게 볼트머리(160a)를 걸리게 하는 단턱(143)이 형성되어 있게 된다.The
상기 단턱(143)의 상측으로는 푸셔부재(140)의 상면 중앙에서 하측으로 파여진 제1포켓(144)이 마련되어 있게 된다. 상기 제1포켓(144)과 제2삽입공간(142)은 서로 연통되어 있으며 제2볼트(160)가 상기 제2삽입공간(142)과 제1포켓(144)을 통과하여 인터포저(130)의 중앙에 고정될 수 있게 된다. 한편, 상기 제1포켓(144)과 제2포켓(132)에 의하여 스프링 수용부가 형성되고, 제2스프링(161)은 상기 스프링 수용부에 마련될 수 있다. A
상기 푸셔부재(140)는 제2볼트(160)에 의하여 인터포저(130)에 결합될 수 있다. 이때 제2볼트(160)는 볼트머리(160a)와, 상기 볼트머리(160a)보다 외경이 작은 기둥부(160b)를 포함하고 있게 된다. 상기 제2볼트(160)의 볼트머리(160a)가 제1삽입공간(141)에 삽입된 상태에서 기둥부(160b)는 제2삽입공간(142)과 제1포켓(144)을 지나서 인터포저(130)에 고정되는데, 제2볼트(160)는 푸셔부재(140)에 나사결합되지 않고 단턱(143)에 의하여 인터포저(130)에서 이탈되지 않게 결합하는 기능을 수행한다.The
한편, 검사시 상기 단턱(143)과 볼트머리(160a) 사이에는 푸셔부재(140)가 인터포저(130)에 대한 상대회전이 용이하도록 공간이 마련되어 있다. 볼트머리(160a)는 푸셔부재(140)가 피검사 디바이스(170)를 가압하지 않을 때에는 단턱(143)에 접촉할 수 있으며, 푸셔부재(140)가 피검사 디바이스(170)를 가압하는 경우에는 볼트머리(160a)가 단턱(143)에서 이격되면서 도 11에 나타난 바와 같이 볼트머리(160a)와 단턱(143) 사이에 공간이 형성되고 이 공간에 의하여 푸셔부재(140)가 인터포저(130)에 대하여 자유롭게 회전하게 한다.Meanwhile, a space is provided between the
또한, 인터포저(130)와 푸셔부재(140) 사이에는 제2볼트(160)에 끼워지는 제2스프링(161)이 포함된다. 이러한 제2스프링(161)은 검사과정에서 푸셔부재(140)가 인터포져에 대하여 요동하지 않게 하는 기능을 수행한다. 즉,푸셔부재(140)의 제2삽입공간(142), 제1포켓(144)은 제2볼트(160)의 기둥보다 큰 내경을 가지고 있어서 푸셔부재(140)가 인터포저(130)에 대하여 회전가능한 상태에 놓이게 하나, 이에 따라서 검사과정에서 푸셔부재(140)가 좌우, 상하방향으로 요동이 가능하게 되는데, 이러한 요동은 피검사 디바이스(170)에 대한 균일한 가압력을 전달하는데에 방해요소로 작용하는데, 이를 방지하기 위하여 제2스프링(161)을 배치하는 것이다. In addition, a
이러한 본 발명에 따른 전기적 검사를 위한 푸셔장치(100)는 다음과 같은 작용효과를 가진다. The
먼저, 피검사 디바이스(170)를 베이스 부재(110)의 수용공간(111a)에 삽입한 후에, 베이스 부재(110)의 수용공간(111a)의 상측에 푸셔장치(100)의 푸셔부재(140)가 상측에 놓일 수 있게 정렬한다. 이후에 핸들부(120)의 삽입부(122)를 베이스 부재(110)의 지지부(112)에 접촉하게 시킨다. 이때 삽입부(122)의 외주면에 형성된 나사산(1221)이 지지부(112)의 내주면에 형성된 나사탭(1121)이 접촉시킨다. 이때 푸셔부재(140)의 하면은 베이스 부재(110)의 경사가이드면(111b)에 접촉되어 있게 된다.First, after inserting the device to be inspected 170 into the receiving
이 상태에서 핸들부(120)를 일방향으로 회전시키면 나사산(1221)이 나사탭(1121)에 나사결합되면서 핸들부(120)가 하강하게 된다. 핸들부(120)가 충분하게 하강하게 되면 푸셔부재(140)의 하면이 피검사 디바이스(170)의 상면에 접촉하게 되고 이 상태에서 핸들부(120)를 일방향으로 추가하강시키면 제1스프링(151)이 압축되면서 푸셔부재(140)에 텐션을 주면서 푸셔부재(140)가 피검사 디바이스(170)의 상면을 가압하게 된다. 핸들부(120)를 계속 회전시키게 되면 푸셔부재(140)가 피검사 디바이스(170)를 충분한 압력을 가압을 하게 되고 핸들부(120)가 지지부(112)의 상단에 접촉하게 되면 핸들부(120)의 회전이 멈추면서 피검사 디바이스(170)에 대한 가압상태를 유지할 수 있게 된다. When the
이때 검사장치(180)에서 소정의 전기적 신호를 인가하면 상기 전기적 신호는 검사장치(180)의 패드를 거쳐서 피검사 디바이스(170)의 단자로 흐르게 되고 이에 따라서 피검사 디바이스(170)에 대한 전기적 검사가 수행된다.At this time, when a predetermined electrical signal is applied by the
전기적 검사가 완료된 후에 핸들부(120)를 반대방향으로 회전하면 상기 핸들부(120)는 상승하면서 피검사 디바이스(170)에 대한 가압력을 제거하게 되고, 충분하게 회전하면 핸들부(120)는 베이스 부재(110)로부터 분리된다. 이후에 피검사 디바이스(170)를 수용공간(111a)에서 제거한다.After the electrical test is completed, if the
이러한 본 발명에 따른 전기적 검사를 위한 푸셔장치(100)는, 기존과 달리 작업자가 회전동작에 의하여 가압력을 부여하거나 제거할 수 있게 되어 간편한 푸싱작업을 수행할 수 있게 되고 작업자가 큰 힘을 가할 필요가 없이 작업이 편리하게 된다.In the
또한, 푸셔부재(140)는 핸들부(120)의 회전에도 불구하고 수용공간(111a) 내에서 회전없이 피검사 디바이스(170)에 대한 가압력을 부여할 수 있어서 푸셔부재(140)가 수용공간(111a) 내벽에 부딪히는 일이 없어서 푸셔부재(140)의 모서리 파손을 방지할 수 있게 된다.In addition, the
또한, 푸셔부재(140)는 가압과정에서 제2볼트(160)와 이격된 상태를 유지할 수 있어서 푸셔부재(140)가 인터포저(130)에 대한 자유로운 상대회전을 가능하게 하고 이에 따라서 푸셔부재(140)가 수용공간(111a) 내벽에 부딪히는 것을 확실하게 방지할 수 있다.In addition, the
또한, 실제 검사환경에서 보드가 수직으로 세워져 있어 메뉴얼 하우징을 옆으로 테스트하는 경우가 있고 옆에서 검사할 대 보드 옆에 다른 기구물이 있어 그 사이에 들어갈 수 있는 하우징을 개발할 필요가 있게 되는데, 본원발명은 좁은 공간에서도 용이하게 검사를 진행할 수 있어서 부품수를 줄이고 베이스 부재(110)와 핸들의 높이를 낮출 수 있는 장점이 있다.In addition, there are cases in which the manual housing is tested sideways because the board is erected vertically in the actual inspection environment, and there is another device next to the board to test from the side, so it is necessary to develop a housing that can fit in between. can be easily inspected even in a narrow space, thereby reducing the number of parts and lowering the height of the
또한 본원발명은 핸들을 과도하게 회전함에 따라서 피검사 디바이스(170) 또는 검사장치(180)의 파손이 발생하지 않도록 지지부(112)가 스토퍼의 기능을 수행하게 함으로서 안정적인 검사를 가능하게 한다.In addition, the present invention enables stable inspection by allowing the
이상에서 바람직한 실시예를 들어 본 발명을 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예에 한정되는 것은 아니고 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. Although the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments above, the present invention is not necessarily limited to these embodiments, and various modifications may be made within the scope without departing from the technical spirit of the present invention.
100...푸셔장치 110...베이스 부재
111...베이스 본체 111a...수용공간
111b....경사가이드면 111c....수용면
111d...볼트구멍 112...지지부
1121...나사탭 120...핸들부
121...핸들본체 1211...오목홈
1212...볼트체결공 1212a...대직경공
1212b...소직경공 122...삽입부
1221...나사산 1222...삽입공간
130...인터포저 131...볼트체결구멍
132...제2포켓 140...푸셔부재
141...제1삽입공간 142...제2삽입공간
143...단턱 144...제1포켓
150...제1볼트 151...제1스프링
160...제2볼트 160a...볼트머리
160b...기둥부 161...제2스프링
170...피검사 디바이스 180...검사장치100...
111...
111b....
111d...
1121...
121...Handle
1212...bolt
1212b...
1221...
130...Interposer 131...Bolt fastening hole
132...
141...
143...Step 144...First Pocket
150...
160...
160b...
170...
Claims (17)
검사장치 측에 설치되며, 피검사 디바이스가 수용되어 있는 수용공간이 마련된 베이스 부재;
상기 베이스 부재의 상측에 배치되고, 상기 베이스 부재에 회전가능하게 결합되는 핸들부;
상기 베이스 부재의 수용공간 내에 수용된 피검사 디바이스의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스를 검사장치 측으로 가압할 수 있는 푸셔부재; 및
상기 핸들부에 탄성적으로 지지되고, 상기 푸셔부재와 연결되어 있는 인터포저를 포함하되,
상기 핸들부는,
상기 베이스 부재에 대해서 일방향으로 회전하면서 피검사 디바이스에 근접한 하측방향으로 이동하여 푸셔부재가 상기 피검사 디바이스를 가압하게 하거나,
상기 베이스 부재에 대해서 타방향으로 회전하면서 피검사 디바이스로부터 멀어지는 상측방향으로 이동하여 푸셔부재가 상기 피검사 디바이스에 대한 가압을 해제시키는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.In the pusher device for electrical inspection used for the electrical inspection of the device to be inspected and the inspection apparatus, for pressing the device to be inspected toward the inspection apparatus,
a base member installed on the side of the inspection device and having an accommodating space in which the device to be inspected is accommodated;
a handle portion disposed above the base member and rotatably coupled to the base member;
a pusher member capable of pressing the device to be tested toward the testing apparatus by contacting an upper surface of the device to be tested accommodated in the receiving space of the base member; and
An interposer elastically supported by the handle portion and connected to the pusher member,
The handle part,
While rotating in one direction with respect to the base member, the pusher member presses the device to be inspected by moving in a downward direction close to the device to be inspected, or
The pusher device for electrical inspection, characterized in that the pusher member releases the pressure on the device under test by moving in an upward direction away from the device under test while rotating in the other direction with respect to the base member.
상기 베이스 부재는,
검사장치에 고정되며 중앙에 상기 수용공간이 마련되는 베이스 본체와,
상기 베이스 본체의 수용공간 주변에 배치되고, 상기 수용공간을 둘러싸도록 상기 베이스 본체에서 상측으로 돌출되고, 내측면에 나사탭이 형성되어 있는 지지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.According to claim 1,
The base member is
A base body fixed to the inspection device and provided with the receiving space in the center;
The pusher device for electrical inspection, which is disposed around the receiving space of the base body, protrudes upward from the base body to surround the receiving space, and includes a support part having a screw tab formed on an inner surface thereof.
상기 핸들부에는 상기 지지부의 나사탭에 나사결합되는 나사산이 형성되어 있어서, 상기 나사탭과 나사산이 결합되어 상기 핸들부를 상기 베이스 부재에 대하여 회전가능하게 결합시키는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.3. The method of claim 2,
A pusher device for electrical inspection, characterized in that the handle portion has a thread screwed to the screw tab of the support portion, and the screw tab and the screw thread are coupled to rotatably couple the handle portion with respect to the base member. .
상기 핸들부는, 외주면에는 손으로 파지할 수 있는 파지부가 형성되는 핸들본체와,
상기 핸들본체의 하면에서 하측으로 연장되며, 외측면에 상기 나사산이 형성되어 있는 삽입부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.4. The method of claim 3,
The handle portion includes a handle body having a grip portion that can be gripped by hand on an outer circumferential surface;
The pusher device for electrical inspection, characterized in that it extends downward from the lower surface of the handle body, and includes an insertion part in which the screw thread is formed on the outer surface.
상기 핸들부에는, 상기 삽입부의 저면 중앙에서 상측으로 파여져서 내부에 삽입공간이 마련되어 있으며,
상기 인터포저는 상기 삽입공간 내에 삽입배치되는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.5. The method of claim 4,
In the handle portion, an insertion space is provided therein by being dug upward from the center of the bottom surface of the insertion portion,
The interposer is a pusher device for electrical inspection, characterized in that inserted and disposed within the insertion space.
상기 핸들부를 관통하여 인터포저에 고정되는 제1볼트와, 상기 제1볼트에 끼워지며 상기 핸들부와 인터포저 사이에 배치되어 상기 핸들부와 인터포저를 서로 멀어지는 방향으로 탄성바이어스시키는 제1스프링을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.6. The method of claim 5,
A first bolt passed through the handle portion and fixed to the interposer, and a first spring fitted to the first bolt and disposed between the handle portion and the interposer to elastically bias the handle portion and the interposer in a direction away from each other. Pusher device for electrical inspection, characterized in that it comprises.
상기 인터포저는 상기 핸들부와 상기 푸셔부재의 사이에 배치되며, 상기 푸셔부재는 상기 인터포저에 대해서 상대 회전가능하게 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.According to claim 1,
The interposer is disposed between the handle portion and the pusher member, and the pusher member is a pusher device for electrical inspection, characterized in that it is coupled to be rotatably relative to the interposer.
상기 푸셔부재를 관통하여 상기 인터포저에 고정되고, 푸셔부재와 인터포저를 연결하는 제2볼트를 더 포함하고, 상기 푸셔부재는 상기 제2볼트에 회전가능하게 지지되는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.8. The method of claim 7,
The pusher member is fixed to the interposer and further includes a second bolt connecting the pusher member and the interposer, wherein the pusher member is rotatably supported by the second bolt. for pusher devices.
상기 제2볼트는, 볼트머리와 상기 볼트머리로부터 연장되는 기둥부를 포함하되,
상기 볼트머리는 상기 푸셔부재 내에 삽입되고, 상기 기둥부는 상기 푸셔부재를 통과하여 상기 인터포저에 고정되는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.9. The method of claim 8,
The second bolt includes a bolt head and a pillar extending from the bolt head,
The bolt head is inserted into the pusher member, and the pillar part passes through the pusher member and is fixed to the interposer.
상기 인터포저와 상기 푸셔부재 사이에는 상기 제2볼트에 끼워지는 제2스프링을 포함하고, 상기 제2스프링은 검사과정에서 푸셔부재가 인터포저에 대해서 요동하지 않게 하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.9. The method of claim 8,
Between the interposer and the pusher member includes a second spring fitted to the second bolt, the second spring for electrical inspection, characterized in that the pusher member does not swing with respect to the interposer during the inspection process pusher device.
상기 푸셔부재의 내부에는
저면에서 상측으로 연장되고 상기 볼트머리가 수용되는 제1삽입공간과, 상기 제1삽입공간으로부터 상측으로 연장되며 볼트머리보다 내경이 작고 기둥부만 통과가능하게 하는 제2삽입공간이 마련되는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.10. The method of claim 9,
Inside the pusher member
A first insertion space extending upward from the bottom and accommodating the bolt head, and a second insertion space extending upward from the first insertion space and having a smaller inner diameter than the bolt head and allowing only the column part to pass through are provided. Pusher device for electrical inspection with
상기 제1삽입공간과 제2삽입공간의 사이에는 머리부가 걸릴 수 있는 단턱이 형성되고,
검사시 상기 단턱과 볼트머리 사이에는 푸셔부재가 인터포저에 대한 상대회전이 용이하도록 공간이 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.12. The method of claim 11,
Between the first insertion space and the second insertion space, a step on which the head can be caught is formed,
A pusher device for electrical inspection, characterized in that a space is provided between the step and the bolt head during inspection to facilitate relative rotation of the pusher member with respect to the interposer.
상기 푸셔부재의 상면 중앙에는 하측으로 파여진 제1포켓이 마련되고, 상기 제1포켓과 대응되는 인터포저의 하면 중앙에는 상측으로 파여진 제2포켓이 마련되되, 상기 제1포켓과 제2포켓에 의하여 스프링 수용부가 형성되고, 상기 제2스프링은 상기 스프링 수용부에 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.11. The method of claim 10,
A first pocket recessed downward is provided in the center of the upper surface of the pusher member, and a second pocket recessed upward is provided in the center of the lower surface of the interposer corresponding to the first pocket, the first pocket and the second pocket A spring accommodating part is formed by a pusher device for electrical inspection, characterized in that the second spring is provided in the spring accommodating part.
상기 수용공간의 주변벽에는 상기 푸셔부재를 수용공간의 중앙으로 안내하도록 하방으로 갈수록 수용공간의 중앙을 향하도록 경사지는 경사가이드면이 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.According to claim 1,
A pusher device for electrical inspection, characterized in that the peripheral wall of the accommodation space is provided with an inclined guide surface inclined toward the center of the accommodation space as it goes downward to guide the pusher member to the center of the accommodation space.
상기 베이스 본체에는 상기 푸셔부재가 상기 피검사 디바이스의 단자를 파손시키는 위치에 도달하기 전에 상기 핸들부의 하강을 저지하는 스토퍼가 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.3. The method of claim 2,
The pusher device for electrical inspection, characterized in that the base body is provided with a stopper for preventing the lowering of the handle part before the pusher member reaches a position where the terminal of the device under test is damaged.
상기 베이스부재는, 검사장치에 고정되며 중앙에 상기 수용공간이 마련되는 베이스 본체와, 상기 베이스 본체의 수용공간 주변에 배치되고 상기 수용공간을 둘러싸도록 상기 베이스 본체에서 상측으로 돌출되는 지지부를 포함하되,
상기 지지부의 상단이 상기 핸들부의 저면에 접촉하여 상기 핸들부의 하강을 저지하는 스토퍼인 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.16. The method of claim 15,
The base member includes a base body fixed to the inspection device and having the receiving space in the center thereof, and a support part disposed around the receiving space of the base body and protruding upward from the base body to surround the receiving space, ,
The pusher device for electrical inspection, characterized in that the upper end of the support part is a stopper that contacts the bottom surface of the handle part to prevent the handle part from descending.
검사장치 측에 설치되며, 피검사 디바이스가 수용되어 있는 수용공간이 마련된 베이스 부재;
상기 베이스 부재의 상측에 배치되고, 상기 베이스 부재에 회전가능하게 결합되는 핸들부;
상기 베이스 부재의 수용공간 내에 수용된 피검사 디바이스의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스를 검사장치 측으로 가압할 수 있는 푸셔부재; 및
상기 핸들부와 상기 푸셔부재에 각각 연결되는 인터포저를 포함하되,
상기 핸들부는 상기 베이스 부재에 대한 상대회전에 의하여 상승 또는 하강하도록 구성되고,
상기 푸셔부재는 상기 인터포저에 회전자유롭게 연결되어 있어서 핸들부가 회전해도 상기 푸셔부재는 상기 수용공간 내에 삽입되어 비회전상태에 놓일 수 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사를 위한 푸셔장치.
In the pusher device for electrical inspection used for the electrical inspection of the device to be inspected and the inspection apparatus, for pressing the device to be inspected toward the inspection apparatus,
a base member installed on the side of the inspection device and having an accommodating space in which the device to be inspected is accommodated;
a handle portion disposed above the base member and rotatably coupled to the base member;
a pusher member capable of pressing the device to be tested toward the testing apparatus by contacting an upper surface of the device to be tested accommodated in the receiving space of the base member; and
An interposer connected to the handle part and the pusher member, respectively,
The handle portion is configured to rise or fall by relative rotation with respect to the base member,
The pusher member is rotatably connected to the interposer so that even when the handle part rotates, the pusher member is inserted into the accommodation space to be placed in a non-rotating state.
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