KR102280209B1 - 휴대용 비전 검사 장치 - Google Patents

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허준영
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Abstract

휴대용 비전 검사 장치가 제공된다. 이 휴대용 비전 검사 장치는 피검사물의 검사 표면으로 광을 조사하되, 검사 표면에 대향하는 몸체의 일 면에 구비되는 조사부, 몸체의 일 면에 조사부로부터 이격되어 구비되되, 광이 조사된 피검사물의 검사 부위를 촬영하는 촬영부, 및 몸체의 일 면의 테두리를 따라 구비되되, 피검사물의 검사 표면 방향으로 몸체의 외부를 향하도록 자세 교정용 광을 각각 조사하는 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들을 포함한다. 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들은 2개가 한 쌍을 이루어 하나의 초점을 이루도록 자세 교정용 광을 조사하고, 그리고 복수의 한 쌍의 자세 교정용 조사부들은 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성한다.

Description

휴대용 비전 검사 장치{Portable Vision Inspection Apparatus}
본 발명은 휴대용 비전 검사 장치에 관한 것으로, 더 구체적으로 사용자가 육안으로 측정 자세를 교정할 수 휴대용 비전 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로 비전(vision) 검사 장치는 휴대폰(cellular phone)이나 자동차 등의 부품을 카메라(camera)나 센서(sensor) 등에 의해 촬영 또는 감지하여 검사하고자 하는 부품의 형상이나 치수, 검사하고자 하는 부품에 묻은 이물질, 또는 검사하고자 하는 부품에 발생한 스크래치(scratch) 등을 검사하여 검사하고자 하는 부품의 불량 여부를 판단하고 선별할 수 있는 장치이다.
용접부의 품질 검사는 샘플(sample) 검사 및 전수 검사가 이루어지고 있으며, 대부분의 전수 검사는 육안을 통한 외관 검사를 통해 수행되고 있다. 숙련된 기술자는 육안 검사를 통해 용접 결함을 검출할 수 있으나, 일반적으로 기술 숙련에 많은 어려움이 있으며, 기술자에 따라 편차가 존재한다.
최근 많은 기계 부품 관련 생산 업체들은 용접부의 비전을 이용한 외관 검사 장비를 도입하여 검사하고 있으며, 2차원 또는 3차원 기반의 검사 시스템(system)을 적용하여 기술자들 사이에 존재하는 불량 검출의 편차를 줄이고 있다.
비전 검사는 주로 3차원 기반의 검사 장비가 많이 이용되고 있으며, 3차원 기반의 검사 방식은 제품의 3차원 형상을 스캔(scan)하고, 이를 기반으로 검사를 수행한다. 하지만, 3차원 기반의 검사 방법은 형상만으로 제품을 검사하므로 검사하고자 하는 제품과 용접부의 경계 구분이 어렵고, 많은 양의 데이터를 처리함으로 인해 제품 검사에 많은 시간이 소요되므로, 생산 라인(line)에서 전수 검사용으로 사용하기에는 많은 문제점이 있다.
이에 따라, 휴대용 비전 검사 장치의 활용이 증가하고 있는 실정이지만, 핸디(handy)형의 휴대용 비전 검사 장치는 사용자가 제품을 검사하기 위해 수동으로 조작을 할 때, 신체 특성 상의 떨림, 기울어짐 등과 같은 불안정한 자세로 인해 검사하고자 하는 제품에 대한 정확한 인식이 어려운 점이 존재한다.
이러한 신체 특성뿐만 아니라, 물리적으로도 휴대용 비전 검사 장치의 자체적인 자세에 따른 변위로 인한 검사 결과의 차이가 발생하고 있다.
이는 3차원 기반의 비전 검사 장치는 검사하고자 하는 제품에 조사된 광을 일정한 각도 및 거리를 두고 있는 카메라가 촬영하고, 촬영된 결과를 이미지(image) 처리 프로그램(program)으로 판단하는 원리를 이용하고 있기 때문에, 검사하고자 하는 제품과 조사되는 광 사이의 각도 및 방향에 따라, 조사된 광의 크기 및 방향이 입체적으로 변할 수 있다. 이에 따라, 검사하고자 하는 제품에 대한 절대적인 측정이 어려워 검사 결과의 차이를 초래한다.
이러한 검사 결과의 차이를 해결하기 위해, 소프트웨어(software)적인 애플리케이션(application)을 부차적으로 사용하여 검사 결과의 차이를 보정하고 있는 실정이다.
공개특허 제10-2009-0074964호
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 사용자가 피검사물의 검사 부위를 검사하는 과정에서 육안으로 측정 자세를 곧바로 교정할 수 있는 휴대용 비전 검사 장치를 제공하는 데 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에 언급한 과제들에 제한되지 않으며, 언급되지 않는 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기한 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 휴대용 비전 검사 장치를 제공한다. 이 휴대용 비전 검사 장치는 피검사물의 검사 표면으로 광을 조사하되, 검사 표면에 대향하는 몸체의 일 면에 구비되는 조사부, 몸체의 일 면에 조사부로부터 이격되어 구비되되, 광이 조사된 피검사물의 검사 부위를 촬영하는 촬영부, 및 몸체의 일 면의 테두리를 따라 구비되되, 피검사물의 검사 표면 방향으로 몸체의 외부를 향하도록 자세 교정용 광을 각각 조사하는 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들을 포함할 수 있다. 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들은 2개가 한 쌍을 이루어 하나의 초점을 이루도록 자세 교정용 광을 조사하고, 그리고 복수의 한 쌍의 자세 교정용 조사부들은 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성할 수 있다.
조사부 및 자세 교정용 조사부들은 레이저일 수 있다.
휴대용 비전 검사 장치는 복수의 한 쌍의 자세 교정용 조사부들이 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성하였을 때의 촬영부에서 촬영한 피검사물의 검사 부위를 검사에 사용할 수 있다.
휴대용 비전 검사 장치는 사용자가 손으로 휴대하여 피검사물을 검사할 수 있도록 몸체의 일 부위와 연결되도록 구비되되, 조사부에서 조사되는 광 및 자세 교정용 조사부들에서 각각 조사되는 자세 교정용 광에 간섭되지 않는 몸체의 일 부위와 연결되도록 구비되는 손잡이를 포함할 수 있다.
휴대용 비전 검사 장치는 몸체의 일 면에 대향하는 타 면에 구비되는 디스플레이부를 포함할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 과제의 해결 수단에 따르면 휴대용 비전 검사 장치는 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성하도록 2개가 한 쌍을 이루어 자세 교정용 광을 각각 조사하는 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들을 포함함으로써, 사용자가 피검사물을 검사하는 과정에서 육안으로 측정 자세를 곧바로 교정할 수 있다. 이에 따라, 사용자의 기술 숙련도와 상관없이 피검사물에 대한 검사 결과의 편차를 없앨 수 있는 휴대용 비전 검사 장치가 제공될 수 있다.
또한, 본 발명의 과제의 해결 수단에 따르면 휴대용 비전 검사 장치는 피검사물의 검사 표면에 대향하는 몸체의 일 면에 구비되어 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성하도록 2개가 한 쌍을 이루어 자세 교정용 광을 각각 조사하는 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들을 포함함으로써, 피검사물을 검사하는 과정에서 측정 자세를 교정하기 위한 물리적인 부가 장치를 필요로 하지 않을 수 있다. 이에 따라, 검사 장치와 피검사물 사이의 간섭을 최소화하고, 검사 장치의 파손에 대한 우려를 해소하고, 그리고 이미지 간섭이 없는 검사 결과를 얻을 수 있는 휴대용 비전 검사 장치가 제공될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치를 이용하여 피검사물을 검사하는 것을 설명하기 위한 입체도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치를 설명하기 위해 하부에서 본 평면도이다.
도 3a 내지 도 3c는 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치의 검사 동작을 설명하기 위해 측면에서 본 평면도, 전면에서 본 평면도 및 상부에서 본 평면도이다.
도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치의 검사 동작에서 자세 교정에 대한 것을 설명하기 위해 3가지의 자세 교정 방법을 각각 설명하기 위해 측면 또는 전면에서 본 평면도, 및 상부에서 본 평면도의 결합도들이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면들과 함께 상세하게 후술 되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
명세서 전문에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 따라서, 동일한 참조 부호 또는 유사한 참조 부호들은 해당 도면에서 언급 또는 설명되지 않았더라도, 다른 도면을 참조하여 설명될 수 있다. 또한, 참조 부호가 표시되지 않았더라도, 다른 도면들을 참조하여 설명될 수 있다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprises)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 장치는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 장치의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 또한, 바람직한 실시예에 따른 것이기 때문에, 설명의 순서에 따라 제시되는 참조 부호는 그 순서에 반드시 한정되지는 않는다.
하나의 구성 요소(element)가 다른 구성 요소와 '접속된(connected to)' 또는 '결합한(coupled to)'이라고 지칭되는 것은, 다른 구성 요소와 직접적으로 연결된 또는 결합한 경우, 또는 중간에 다른 구성 요소를 개재한 경우를 모두 포함한다. 반면, 하나의 구성 요소가 다른 구성 요소와 '직접적으로 접속된(directly connected to)' 또는 '직접적으로 결합한(directly coupled to)'으로 지칭되는 것은 중간에 다른 구성 요소를 개재하지 않은 것을 나타낸다. '및/또는'은 언급된 아이템(item)들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.
공간적으로 상대적인 용어인 '아래(below)', '밑(beneath)', '하부(lower)', '위(above)', '상부(upper)' 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 장치 또는 구성 요소들과 다른 장치 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작 시 장치의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 장치를 뒤집을 경우, 다른 장치의 '아래(below)' 또는 '밑(beneath)'으로 기술된 장치는 다른 장치의 '위(above)'에 놓일 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 '아래'는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 장치는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.
또한, 본 명세서에서 기술하는 실시예들은 본 발명의 이상적인 예시도인 단면도 및/또는 평면도들을 참고하여 설명될 것이다. 도면들에 있어서, 막 및 영역들의 두께는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다. 따라서, 제조 기술 및/또는 허용 오차 등에 의해 예시도의 형태가 변형될 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도시된 특정 형태로 제한되는 것이 아니라 제조 공정에 따라 생성되는 형태의 변화도 포함하는 것이다. 예를 들면, 직각으로 도시된 영역은 라운드지거나(rounded) 소정 곡률을 가지는 형태일 수 있다. 따라서, 도면에서 예시된 영역들은 개략적인 속성을 가지며, 도면에서 예시된 영역들의 모양은 장치의 영역의 특정 형태를 예시하기 위한 것이며 발명의 범주를 제한하기 위한 것이 아니다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치를 이용하여 피검사물을 검사하는 것을 설명하기 위한 입체도이고, 그리고 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치를 설명하기 위해 하부에서 본 평면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 휴대용 비전 검사 장치(100)는 몸체의 일 면이 하부면에 구비되는 조사부(110), 촬영부(120) 및 자세 교정용 조사부들(130), 몸체의 하부면에 대향하는 상부면에 구비되는 디스플레이(display)부(150), 및 몸체의 일 부위와 연결되도록 구비되는 손잡이(150)를 포함할 수 있다.
조사부(110)는 피검사물(200)의 검사 표면에 대향하는 몸체의 일 면인 하부면에 구비되어, 피검사물(200)의 검사 표면으로 광(LB)을 조사할 수 있다. 조사부(110)는 레이저(laser)일 수 있다. 즉, 조사부(110)는 피검사물(200)의 검사 표면으로 레이저 빔(beam)인 광(LB)을 조사할 수 있다. 하지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치(100)의 조사부(110)는 비전 검사에 이용될 수 있는 다른 광을 조사하는 광원을 포함할 수도 있다.
촬영부(120)는 몸체의 일 면인 하부면에 조사부(110)로부터 이격되도록 구비되어, 조사부(110)로부터 광(LB)이 조사된 피검사물(200)의 검사 부위를 촬영할 수 있다. 촬영부(120)는 비전 카메라일 수 있다. 하지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치(100)의 촬영부(120)는 조사부(110)로부터 조사된 광(LB)에 의해 피검사물(200)의 검사 부위로부터 반사되는 광학적 정보를 판독할 수 있는 광학 장치를 포함할 수도 있다.
자세 교정용 조사부들(130)은 몸체의 일 면인 하부면의 테두리를 따라 구비되어, 피검사물(200)의 검사 표면 방향으로 몸체의 외부를 향하도록 자세 교정용 광을 각각 조사할 수 있다. 자세 교정용 조사부들(130)은 레이저일 수 있다. 즉, 자세 교정용 조사부들(130)은 각각 피검사물(200)의 검사 표면 방향으로 레이저 빔인 자세 교정용 광(도 3a 내지 도 4c의 점선 화살표 참조)을 조사할 수 있다. 하지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치(100)의 자세 교정용 조사부들(130)은 2개의 조사된 광들이 피검사물(200)의 검사 표면 방향으로 일정 거리에서 하나의 초점을 형성할 수 있는 광원을 포함할 수 있다.
자세 교정용 조사부들(130)은 4개 이상의 짝수로 구성될 수 있다. 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들(130)은 2개가 한 쌍을 이루어 하나의 초점을 이루도록 각각 자세 교정용 광을 조사할 수 있으며, 그리고 복수의 한 쌍의 자세 교정용 조사부들(130)은 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성할 수 있다. 즉, 자세 교정용 조사부들(130)에 의해 형성되는 초점의 개수는 2개 이상일 수 있다. 이에 따라, 사용자는 육안으로 자세 교정용 조사부들(130)에 의해 서로 다른 방향에 형성되는 2개 이상의 초점들을 확인하는 것에 의해 휴대용 비전 검사 장치(100)의 측정 자세를 교정할 수 있다.
휴대용 비전 검사 장치(100)는 사각형의 평단면을 갖는 것으로 도시되었지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 휴대용 비전 검사 장치(100)는 원형 또는 다각형의 평단면을 가질 수도 있다. 즉, 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들(130)은 피검사물(200)의 검사 표면에 대향하는 휴대용 비전 검사 장치(100)의 몸체의 일 면의 테두리를 따라 구비되고, 자세 교정용 조사부들(130)은 2개가 한 쌍을 이루어 피검사물(200)의 검사 표면 방향으로 휴대용 비전 검사 장치(100)의 몸체의 외부를 향하도록 서로 다른 방향에 2개 이상의 초점들을 형성할 수 있다.
즉, 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치(100)는 복수의 한 쌍의 자세 교정용 조사부들(130)이 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성하였을 때의 촬영부(120)에서 촬영한 피검사물(200)의 검사 부위를 검사에 사용할 수 있다. 이에 따라, 사용자는 휴대용 비전 검사 장치(100)의 측정 자세를 복수의 한 쌍의 자세 교정용 조사부들(130)이 서로 다른 방향에 형성한 2개 이상의 초점들을 육안으로 확인하는 것을 통해 교정한 후, 피검사물(200)의 검사 부위에 대해 검사를 수행할 수 있다.
손잡이(140)는 사용자가 손으로 휴대하여 피검사물(200)을 검사할 수 있도록 휴대용 비전 검사 장치(100)의 몸체의 일 부위와 연결되도록 구비될 수 있다. 손잡이(140)는 조사부(110)에서 조사되는 광(LB) 및 자세 교정용 조사부들(130)에서 각각 조사되는 자세 교정용 광에 간섭되지 않는 몸체의 일 부위와 연결되도록 구비될 수 있다. 즉, 사용자가 휴대용 비전 검사 장치(100)를 손에 쥐고 피검사물(200)의 검사 부위를 검사할 때에, 손잡이(140)가 조사부(110)에서 조사되는 광(LB)을 가리지 않고, 자세 교정용 조사부들(130)에서 각각 조사되는 자세 교정용 광을 가리지 않고, 그리고 자세 교정용 조사부들(130)에서 각각 조사되는 자세 교정용 광에 의해 형성되는 2개 이상의 초점들을 가리지 않는 휴대용 비전 검사 장치(100)의 몸체의 일 부위에 구비될 수 있다.
디스플레이부(150)는 휴대용 비전 검사 장치(100)의 몸체의 일 면인 하부면에 대향하는 타 면인 상부면에 구비될 수 있다. 디스플레이부(150)는 사용자가 휴대용 비전 검사 장치(100)로 피검사물(200)의 검사 부위를 검사한 결과를 보여주는 역할을 수행할 수 있다. 즉, 사용자는 디스플레이부(150)를 통해 휴대용 비전 검사 장치(100)로 피검사물(200)의 검사 부위를 검사한 결과를 바로 확인할 수 있다.
도 3a 내지 도 3c는 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치의 검사 동작을 설명하기 위해 측면에서 본 평면도, 전면에서 본 평면도 및 상부에서 본 평면도이고, 그리고 도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치의 검사 동작에서 자세 교정에 대한 것을 설명하기 위해 3가지의 자세 교정 방법을 각각 설명하기 위해 측면 또는 전면에서 본 평면도, 및 상부에서 본 평면도의 결합도들이다.
도 3a 내지 도 4c를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치(100)는 피검사물(200)의 검사 표면에 대향하는 몸체의 일 면인 하부면의 테두리를 따라 구비되어 피검사물(200)의 검사 표면 방향으로 몸체의 외부를 향하도록 자세 교정용 광(점선 화살표)을 각각 조사하는 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들(130)을 포함할 수 있다.
4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들(130)은 2개가 한 쌍을 이루어 하나의 초점을 이루도록 자세 교정용 광을 조사할 수 있으며, 그리고 복수의 한 쌍의 자세 교정용 조사부들(130)은 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성할 수 있다.
도 3a 내지 도 3c에는 휴대용 비전 검사 장치(100)의 전후로 각각 한 쌍의 자세 교정용 조사부들(130)이 하나의 초점을 형성하는 것이 도시되었지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 복수의 한 쌍의 자세 교정용 조사부들(130)은 휴대용 비전 검사 장치(100)의 좌우, 전좌우, 전후좌우 또는 방사형태로 복수의 초점을 형성할 수도 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치(100)의 측정 자세를 교정하는 것은 자세 교정용 조사부들(130)과 피검사물(200) 사이의 거리에 따라 자세 교정용 조사부들(130) 각각으로부터 조사되는 자세 교정용 광의 크기가 달라지는 현상을 이용하는 것일 수 있다.
도 4a에 도시된 것과 같이, 휴대용 비전 검사 장치(100)와 피검사물(200)의 서로 대향하는 면들 사이의 거리 및 수평이 정상적인 경우에는 2개의 초점들이 각각 휴대용 비전 검사 장치(100)의 전후에 형성될 수 있다. 하지만, 휴대용 비전 검사 장치(100)와 피검사물(200)의 서로 대향하는 면들 사이의 수평은 정상적이지만, 휴대용 비전 검사 장치(100)와 피검사물(200)의 서로 대향하는 면들 사이의 거리가 너무 가깝거나 또는 멀 경우에는 휴대용 비전 검사 장치(100)의 전후에 각각 초점이 맺히지 않거나(미도시) 막대 형상의 복수의 광흔들이 각각 형성될 수 있다.
도 4b에 도시된 것과 같이, 휴대용 비전 검사 장치(100)와 피검사물(200)의 서로 대향하는 면들 사이의 거리 및 수평이 정상적인 경우에는 2개의 초점들이 각각 휴대용 비전 검사 장치(100)의 전후에 형성될 수 있다. 하지만, 휴대용 비전 검사 장치(100)와 피검사물(200)의 서로 대향하는 면들 사이의 거리는 정상적이지만, 휴대용 비전 검사 장치(100)가 좌우로 기울어져 휴대용 비전 검사 장치(100)와 피검사물(200)의 서로 대향하는 면들 사이가 수평을 이루지 못한 경우에는 휴대용 비전 검사 장치(100)의 전후에 각각 좌우 방향으로 짧고 긴 막대 형상의 복수의 광흔들이 형성될 수 있다.
도 4c에 도시된 것과 같이, 휴대용 비전 검사 장치(100)와 피검사물(200)의 서로 대향하는 면들 사이의 거리 및 수평이 정상적인 경우에는 2개의 초점들이 각각 휴대용 비전 검사 장치(100)의 전후에 형성될 수 있다. 하지만, 휴대용 비전 검사 장치(100)와 피검사물(200)의 서로 대향하는 면들 사이의 거리는 정상적이지만, 휴대용 비전 검사 장치(100)가 전후로 기울어져 휴대용 비전 검사 장치(100)와 피검사물(200)의 서로 대향하는 면들 사이가 수평을 이루지 못한 경우에는 휴대용 비전 검사 장치(100)의 전후에 각각 전후 방향으로 짧고 긴 막대 형상의 복수의 광흔들이 형성될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치는 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성하도록 2개가 한 쌍을 이루어 자세 교정용 광을 각각 조사하는 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들을 포함함으로써, 사용자가 피검사물을 검사하는 과정에서 육안으로 측정 자세를 곧바로 교정할 수 있다. 이에 따라, 사용자의 기술 숙련도와 상관없이 피검사물에 대한 검사 결과의 편차를 없앨 수 있는 휴대용 비전 검사 장치가 제공될 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 휴대용 비전 검사 장치는 피검사물의 검사 표면에 대향하는 몸체의 일 면에 구비되어 각각 서로 다른 방향에 하나의 초점을 형성하도록 2개가 한 쌍을 이루어 자세 교정용 광을 각각 조사하는 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들을 포함함으로써, 피검사물을 검사하는 과정에서 측정 자세를 교정하기 위한 물리적인 부가 장치를 필요로 하지 않을 수 있다. 이에 따라, 검사 장치와 피검사물 사이의 간섭을 최소화하고, 검사 장치의 파손에 대한 우려를 해소하고, 그리고 이미지 간섭이 없는 검사 결과를 얻을 수 있는 휴대용 비전 검사 장치가 제공될 수 있다.
이상, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들에는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
100 : 휴대용 비전 검사 장치
110 : 조사부
120 : 촬영부
130 : 자세 교정용 조사부
140 : 손잡이
150 : 디스플레이부
200 : 피검사물
LB : 레이저 빔

Claims (5)

  1. 피검사물의 검사 표면으로 광을 조사하되, 상기 검사 표면에 대향하는 몸체의 일 면에 구비되는 조사부;
    상기 몸체의 상기 일 면에 상기 조사부로부터 이격되어 구비되되, 상기 광이 조사된 상기 피검사물의 부위를 촬영하는 촬영부; 및
    상기 몸체의 상기 일 면의 테두리를 따라 구비되되, 상기 피검사물의 상기 검사 표면 방향으로 상기 몸체의 외부를 향하도록 자세 교정용 광을 각각 조사하는 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들을 포함하되,
    상기 4개 이상의 짝수의 자세 교정용 조사부들은 2개가 한 쌍을 이루어 하나의 초점을 이루도록 상기 자세 교정용 광을 조사하고, 그리고
    복수의 상기 한 쌍의 자세 교정용 조사부들은 각각 서로 다른 방향에 상기 하나의 초점을 형성하는 휴대용 비전 검사 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 조사부 및 상기 자세 교정용 조사부들은 레이저인 휴대용 비전 검사 장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 한 쌍의 자세 교정용 조사부들이 각각 서로 다른 방향에 상기 하나의 초점을 형성하였을 때의 상기 촬영부에서 촬영한 상기 피검사물의 부위를 검사에 사용하는 휴대용 비전 검사 장치.
  4. 제 1항에 있어서,
    사용자가 손으로 휴대하여 상기 피검사물을 검사할 수 있도록 상기 몸체의 일 부위와 연결되도록 구비되되, 상기 조사부에서 조사되는 상기 광 및 상기 자세 교정용 조사부들에서 각각 조사되는 상기 자세 교정용 광에 간섭되지 않는 상기 몸체의 상기 일 부위와 연결되도록 구비되는 손잡이를 포함하는 휴대용 비전 검사 장치.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 몸체의 상기 일 면에 대향하는 타 면에 구비되는 디스플레이부를 포함하는 휴대용 비전 검사 장치.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09113241A (ja) * 1995-10-20 1997-05-02 Takigawa Kogyo Co Ltd 長尺材の曲がり検出方法
KR20050018773A (ko) * 2004-12-15 2005-02-28 한국유지관리 주식회사 이미지 프로세싱 기법을 이용한 균열측정 장치
KR20090074964A (ko) 2008-01-03 2009-07-08 삼성중공업 주식회사 엘브이에스에서의 용접비드 에지 검출 방법
KR101503304B1 (ko) * 2008-10-23 2015-03-17 대우조선해양 주식회사 레이저 포인터를 이용하는 러그 용접 로봇의 위치 및 자세 세팅방법
KR101739063B1 (ko) * 2015-09-24 2017-05-23 무진기공주식회사 금형 랩핑 검사장치

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09113241A (ja) * 1995-10-20 1997-05-02 Takigawa Kogyo Co Ltd 長尺材の曲がり検出方法
KR20050018773A (ko) * 2004-12-15 2005-02-28 한국유지관리 주식회사 이미지 프로세싱 기법을 이용한 균열측정 장치
KR20090074964A (ko) 2008-01-03 2009-07-08 삼성중공업 주식회사 엘브이에스에서의 용접비드 에지 검출 방법
KR101503304B1 (ko) * 2008-10-23 2015-03-17 대우조선해양 주식회사 레이저 포인터를 이용하는 러그 용접 로봇의 위치 및 자세 세팅방법
KR101739063B1 (ko) * 2015-09-24 2017-05-23 무진기공주식회사 금형 랩핑 검사장치

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