KR102278473B1 - Electric contact member check device - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 접점 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 사이즈가 잘못되어 있거나 부분적으로 찌그러져 있거나 크랙이 가있는 것과 같은 불량 접점을 효율적으로 검사하고 따로 취출할 수 있는 접점 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a contact inspection apparatus, and more particularly, to a contact inspection apparatus capable of efficiently inspecting and separately taking out defective contacts such as having a wrong size, partially dented, or cracked.
기계장치 등의 전기회로를 개폐하기 위한 수단이나 또는 제어(control) 및 조정(regulation) 등을 위한 수단으로 사용되는 스위치는 그 적응분야와 작동원리 등에 따라 다양한 형태와 종류로 분류되는 것들이 있다.Switches used as means for opening and closing electrical circuits such as mechanical devices or means for control and regulation, etc. are classified into various types and types according to their adaptation fields and operating principles.
상기한 바와 같은 총체적 개념의 스위치 중에서도 일반적으로 텔레비젼 세트나 전자랜지 및 세탁기 등과 같은 가전제품과 컴퓨터 시스템의 입력장치인 마우스 등에 있어서, 부여되는 소정 기능의 작동을 수행토록 조작하는 수단으로 사용되는 컨택트 스위치를 대상으로 하여, 이러한 컨택트 스위치의 고정접점부와 유동접점부의 접점 상태에서 전기적 스위치의 작동이 이루어진다.Among the switches of the overall concept as described above, a contact switch used as a means for operating a predetermined function given in a mouse, which is an input device of a computer system and a home appliance such as a TV set, a microwave oven, and a washing machine, is generally used. As a target, the operation of the electrical switch is made in the contact state of the fixed contact part and the floating contact part of this contact switch.
다시 말해, 스위치는 고정접점과 이동접점을 가지는데 이러한 스위치 중 외력이 가해지면 이동접점이 고정접점 방향으로 이동되어 전기가 연결되고, 외력이 제거되면 이동접점이 고정접점에서 떨어짐으로써 전기가 단절되는데 이동접점과 고정접점 사이의 간격이 매우 작은 접점스위치가 있다.In other words, a switch has a fixed contact and a moving contact. Among these switches, when an external force is applied, the moving contact moves in the direction of the fixed contact and electricity is connected. When the external force is removed, the moving contact is separated from the fixed contact and electricity is cut off. There is a contact switch with a very small gap between the moving contact and the fixed contact.
전기 접점 부재는 릴레이 및 스위치등과 같은 전기 스위칭 소자의 회로 개폐 및 접촉을 위한 소재 및 가공재를 지칭하는 것으로 자동차, 선박, 가전 및 산업 전력 기기의 핵심 원천 소재로 적용되는 소재로서, 우수한 전도도 및 내산화성이 요구되며, 이를 위한 금속 복합 소재 및 가공 기술이 요구되고, 나아가 스위치 등의 고정점점과 이동접점이 정밀한 접촉이 이루어지도록 정밀한 접점부재가 요구된다.Electrical contact members refer to materials and processed materials for opening and closing circuits and contacting electrical switching elements such as relays and switches. It is a material that is applied as a core source material for automobiles, ships, home appliances and industrial power devices, and has excellent conductivity and resistance. Oxidation is required, and metal composite material and processing technology are required for this, and further, a precise contact member is required so that a fixed point of a switch and a moving contact can make precise contact.
이때, 접점 중에는 사이즈가 잘못되어 있거나 부분적으로 찌그러져 있거나 크랙이 가있는 불량 접점이 있으며, 이러한 불량 접점을 검사하여 양품 접점과는 따로 분리할 필요가 있다. 사이즈가 다르면 접점들의 위치가 달라지는 등의 스위치 불량을 초래할 수 있기 때문에, 사이즈가 다른 것과 같은 불량 접점을 검사하여 따로 취출할 필요가 있다.At this time, some of the contact points are defective in size, partially crushed, or have cracks, and it is necessary to inspect these defective contact points and separate them from the good contact points. If the size is different, it is necessary to inspect and take out the defective contacts, such as those of different sizes, because switch failures such as the positions of the contacts are changed.
본 발명의 목적은 높이가 잘못되거나 폭이 잘못되는 것과 같이 사이즈가 잘못되어 있거나 부분적으로 찌그러져 있거나 크랙이 가있는 것과 같은 불량 접점을 효율적으로 검사하고 따로 취출할 수 있도록 하는 새로운 구성의 접점 검사 장치을 제공하고자 하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a contact inspection device of a new configuration that enables efficient inspection and separate extraction of defective contacts such as the wrong size, partially dented, or cracked, such as the wrong height or the wrong width. will do
상기와 같은 과제를 해결하기 위한 본 발명에 의하면, 검사 대상인 접점이 상면에 얹혀지는 턴테이블을 구비한 접점 이동부; 상기 턴테이블에 의해 회전 이송되는 상기 접점의 이송 경로상에서 상기 접점을 검사하는 비젼 검사부; 상기 비젼 검사부에 의해 검사된 상기 접점 중에서 양품 접점과 불량 접점을 분리하여 취출되도록 하는 접점 분리 취출부;를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치이 제공된다.According to the present invention for solving the above problems, a contact moving unit having a turntable on which a contact to be inspected is placed on an upper surface; a vision inspection unit for inspecting the contact point on a transport path of the contact point rotated by the turntable; There is provided a contact inspection device comprising a; a contact separation and extraction unit for separating and taking out a good contact and a bad contact from among the contacts inspected by the vision inspection unit.
상기 접점 이동부에는 접점 피딩트랙이 인접하도록 배치되어, 상기 접점 피딩트랙에서 피딩되는 상기 접점이 상기 턴테이블 위에 올려지고, 상기 비젼 검사부는 상기 접점을 측면에서 검사하는 제1카메라부와 상기 접점을 상부에서 검사하는 제2카메라부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.A contact feeding track is disposed adjacent to the contact moving unit, the contact fed from the contact feeding track is placed on the turntable, and the vision inspection unit is configured to connect the first camera unit for inspecting the contact from the side and the contact at the top. It is characterized in that it is configured to include a second camera unit to be inspected.
상기 턴테이블은 메인 프레임에 회전 가능하게 장착되고, 상기 제1카메라부는, 상기 메인 프레임에 지지된 제1지지 베이스판; 상기 제1지지 베이스판에 이동 가능하게 결합된 제1 Y축 이동 지지판; 상기 제1 Y축 이동 지지판에 이동 가능하게 결합된 제1 X축 이동 지지판; 상기 제1 X축 이동 지지판에 이동 가능하게 결합되어 제1카메라의 렌즈가 상기 턴테이블에 올려진 상기 접점의 측면 쪽을 향하도록 지지하는 제1 Z축 이동 지지판;을 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.The turntable is rotatably mounted on a main frame, and the first camera unit includes: a first support base plate supported on the main frame; a first Y-axis movable support plate movably coupled to the first support base plate; a first X-axis movable support plate movably coupled to the first Y-axis movable support plate; and a first Z-axis movement support plate movably coupled to the first X-axis movement support plate to support the lens of the first camera toward the side of the contact point mounted on the turntable.
상기 제1 Y축 이동 지지판은 제1 Y축 스핀들의 작동에 의해 상기 턴테이블의 둘레부에서 상기 턴테이블의 중심부 쪽으로 전진하거나 상기 턴테이블의 둘레부에서 상기 턴테이블의 중심부에서 멀어지는 방향으로 후진하도록 구성되고, 상기 제1 X축 이동 지지판은 제1 X축 스핀들의 작동에 의해 상기 제1 Y축 이동 지지판의 이동 방향과 직교하는 X축 방향으로 이동하고, 상기 제1 Z축 이동 지지판은 제1 Z축 스핀들의 작동에 의해 수직 방향으로 이동하여, 상기 제1카메라가 상기 턴테이블을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동 가능하도록 구성된 것을 특징으로 한다.The first Y-axis movement support plate is configured to move forward from the periphery of the turntable toward the center of the turntable or backward from the periphery of the turntable in a direction away from the center of the turntable by the operation of the first Y-axis spindle, and The first X-axis movement support plate is moved in the X-axis direction orthogonal to the movement direction of the first Y-axis movement support plate by the operation of the first X-axis spindle, and the first Z-axis movement support plate is the first Z-axis movement support plate. By moving in the vertical direction by operation, the first camera is characterized in that it is configured to be movable in the XYZ axis direction with respect to the turntable.
상기 턴테이블은 메인 프레임에 회전 가능하게 장착되고, 상기 제2카메라부는, 상기 메인 프레임에 지지된 제2지지 베이스판; 상기 제2지지 베이스판에 이동 가능하게 결합된 제2 Y축 이동 지지판; 상기 제2 Y축 이동 지지판에 이동 가능하게 결합된 제2 X축 이동 지지판; 상기 제2 X축 이동 지지판에 이동 가능하게 결합되어 제2카메라의 렌즈가 상기 턴테이블에 올려진 상기 접점의 위쪽에서 촬영하도록 지지하는 제2 Z축 이동 지지판;을 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.The turntable is rotatably mounted on a main frame, and the second camera unit includes: a second support base plate supported on the main frame; a second Y-axis movable support plate movably coupled to the second support base plate; a second X-axis movable support plate movably coupled to the second Y-axis movable support plate; and a second Z-axis movement support plate movably coupled to the second X-axis movement support plate to support the lens of the second camera to be photographed above the contact point mounted on the turntable.
상기 제2 Y축 이동 지지판은 제2 Y축 스핀들의 작동에 의해 상기 턴테이블의 둘레부에서 상기 턴테이블의 중심부 쪽으로 전진하거나 상기 턴테이블의 둘레부에서 상기 턴테이블의 중심부에서 멀어지는 방향으로 후진하도록 구성되고, 상기 제2 X축 이동 지지판은 제2 X축 스핀들의 작동에 의해 상기 제2 Y축 이동 지지판의 이동 방향과 직교하는 X축 방향으로 이동하고, 상기 제2 Z축 이동 지지판은 제2 Z축 스핀들의 작동에 의해 수직 방향으로 이동하여, 상기 제2카메라가 상기 턴테이블을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동 가능하도록 구성된 것을 특징으로 한다.The second Y-axis movement support plate is configured to move forward from the periphery of the turntable toward the center of the turntable or backward from the periphery of the turntable in a direction away from the center of the turntable by the operation of the second Y-axis spindle, and The second X-axis movement support plate is moved in the X-axis direction orthogonal to the movement direction of the second Y-axis movement support plate by the operation of the second X-axis spindle, and the second Z-axis movement support plate is the second Z-axis movement support plate. By moving in the vertical direction by operation, the second camera is characterized in that it is configured to be movable in the XYZ axis direction with respect to the turntable.
상기 접점 분리 취출부는 상기 비젼 검사부에서 검사된 이후 이동되어온 위치에 구비되고, 상기 접점 분리 취출부에는 양품 접점을 수집하는 양품 접점 취출 케이스와 불량 접점을 수집하는 불량 접점 취출 케이스가 구비되고, 상기 양품 접점 취출 케이스의 투입구와 상기 불량 접점 취출 케이스의 투입구는 상기 턴테이블의 둘레부에 근접하도록 설치되고, 상기 양품 접점 취출 케이스와 상기 불량 접점 취출 케이스를 지지하는 케이스 프레임에는 상기 턴테이블의 상면에 배치되도록 게이트판이 구비되고, 상기 게이트판은 회동작동수단에 의해 회동하여 상기 양품 접점 취출 케이스의 투입구와 상기 불량 접점 취출 케이스의 투입구를 선택적으로 개폐하도록 구성된 것을 특징으로 한다.The contact separation and extraction unit is provided at a position that has been moved after being inspected by the vision inspection unit, and the contact separation and extraction unit is provided with a good contact extraction case for collecting good contact points and a bad contact extraction case for collecting defective contacts, and the good product The inlet of the contact extraction case and the inlet of the defective contact extraction case are installed close to the periphery of the turntable, and the case frame supporting the good contact extraction case and the defective contact extraction case includes a gate to be disposed on the upper surface of the turntable. A plate is provided, and the gate plate is rotated by a rotation operation means to selectively open and close the inlet of the good contact extraction case and the inlet of the defective contact extraction case.
상기 양품 접점 취출 케이스의 내부에 양품 접점이 다 차있는지의 여부를 센싱하는 제1센서와, 상기 불량 접점 취출 케이스의 내부에 불량 접점이 다 차있는지의 여부를 센싱하는 제2센서를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.A first sensor for sensing whether the defective contact is full inside the defective contact extraction case, and a second sensor for sensing whether the defective contact is full in the defective contact extraction case. characterized in that
본 발명에 의한 접점 검사 장치는 턴테이블 위로 피딩된 접점을 회전식으로 이동시키다가 제1카메라부와 제2카메라부에 접점이 양품 접점인지 불량 접점인지를 신속하게 검사하고 신속하게 불량 접점과 양품 접점을 구분하여 취출할 수 있으므로, 접점의 검사 효율을 높이고 작업성을 향상시키는 효과가 있다.The contact inspection apparatus according to the present invention rotates the feed contact on the turntable, and quickly inspects whether the contact is a good contact or a bad contact in the first camera unit and the second camera unit, and quickly checks the defective contact and the good contact. Since it can be taken out separately, there is an effect of increasing the inspection efficiency of the contact point and improving the workability.
도 1은 본 발명에 의한 접점 검사 장치의 구조를 보여주는 평면도
도 2는 본 발명의 주요부인 턴테이블에 접점을 공급하기 위한 피딩드럼과 피딩트랙 및 슈트의 정면을 보여주는 도면
도 3은 도 2에 도시된 피딩드럼과 피딩트랙 및 슈트의 측면을 보여주는 도면
도 4는 검사 대상 접점의 검사 결과를 화면으로 디스플레이한 상태를 보여주는 도면
도 5는 본 발명의 주요부인 포지션 가이더의 구조를 보여주는 사진
도 6은 본 발명에 의한 접점 검사 장치의 주요부인 제1카메라부와 제2카메라부 및 턴테이블을 보여주는 사진
도 7은 도 6에 도시된 제1카메라부를 뒤쪽에서 보여주는 사진
도 8은 도 7에 도시된 제2카메라부를 뒤쪽에서 보여주는 사진
도 9는 도 8의 제2카메라부를 한쪽 옆에서 보여주는 사진
도 10은 도 8에 도시된 제2카메라와 턴테이블의 일부를 위쪽에서 보여주는 사진
도 11은 도 10에 도시된 제2카메라를 옆에서 확대하여 보여주는 사진
도 12는 본 발명의 주요부인 턴테이블과 접점 분리 취출부의 일부를 확대하여 보여주는 사진
도 13은 도 12에 도시된 주요부인 불량 접점 취출 케이스와 양품 접점 취출 케이스를 보여주는 사진
도 14는 도 13의 주요부인 양품 접점 취출 케이스의 일부를 확대하여 보여주는 사진1 is a plan view showing the structure of a contact inspection device according to the present invention;
2 is a view showing the front of the feeding drum, the feeding track, and the chute for supplying contact points to the turntable, which is the main part of the present invention;
3 is a view showing the side of the feeding drum, the feeding track and the chute shown in FIG.
4 is a view showing a state in which an inspection result of a contact to be inspected is displayed on a screen;
5 is a photograph showing the structure of the position guider, which is the main part of the present invention;
6 is a photograph showing a first camera unit, a second camera unit, and a turntable, which are main parts of the contact inspection apparatus according to the present invention;
7 is a photograph showing the first camera unit shown in FIG. 6 from the rear;
8 is a photograph showing the second camera unit shown in FIG. 7 from the rear;
9 is a photograph showing the second camera unit of FIG. 8 from one side;
10 is a photograph showing a second camera and a part of the turntable shown in FIG. 8 from above; FIG.
11 is an enlarged photograph showing the second camera shown in FIG. 10 from the side; FIG.
12 is an enlarged photograph showing a part of the turntable and the contact separation take-out part, which is the main part of the present invention;
13 is a photograph showing the main part shown in FIG. 12, a case for taking out a bad contact and a case for taking out a good contact.
14 is an enlarged photograph showing a part of the non-defective contact extraction case, which is the main part of FIG. 13 ;
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명한다. 상기 본 발명의 목적과 특징 및 장점은 첨부도면 및 다음의 상세한 설명을 참조함으로써 더욱 쉽게 이해될 수 있을 것이다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The objects, features and advantages of the present invention will be more readily understood by referring to the accompanying drawings and the following detailed description. In addition, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 예를 들어, 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), (b), etc. may be used. These terms are only for distinguishing the components from other components, and the essence, order, or order of the components are not limited by the terms. For example, when a component is described as being "connected", "coupled" or "connected" to another component, the component may be directly connected or connected to the other component, but between each component. It will be understood that another component may be “connected,” “coupled,” or “connected.”
도 1은 본 발명에 의한 접점 검사 장치의 구조를 보여주는 평면도, 도 2는 본 발명의 주요부인 턴테이블에 접점을 공급하기 위한 피딩드럼과 피딩트랙 및 슈트의 정면을 보여주는 도면, 도 3은 도 2에 도시된 피딩드럼과 피딩트랙 및 슈트의 측면을 보여주는 도면, 도 4는 검사 대상 접점의 검사 결과를 화면으로 디스플레이한 상태를 보여주는 도면, 도 5는 본 발명의 주요부인 포지션 가이더의 구조를 보여주는 사진, 도 6은 본 발명에 의한 접점 검사 장치의 주요부인 제1카메라부와 제2카메라부 및 턴테이블을 보여주는 사진, 도 7은 도 6에 도시된 제1카메라부를 뒤쪽에서 보여주는 사진, 도 8은 도 7에 도시된 제2카메라부를 뒤쪽에서 보여주는 사진, 도 9는 도 8의 제2카메라부를 한쪽 옆에서 보여주는 사진, 도 10은 도 8에 도시된 제2카메라와 턴테이블의 일부를 위쪽에서 보여주는 사진, 도 11은 도 10에 도시된 제2카메라를 옆에서 확대하여 보여주는 사진, 도 12는 본 발명의 주요부인 턴테이블과 접점 분리 취출부의 일부를 확대하여 보여주는 사진, 도 13은 도 12에 도시된 주요부인 불량 접점 취출 케이스와 양품 접점 취출 케이스를 보여주는 사진, 도 14는 도 13의 주요부인 양품 접점 취출 케이스의 일부를 확대하여 보여주는 사진이다.1 is a plan view showing the structure of a contact inspection apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a view showing the front of a feeding drum, a feeding track, and a chute for supplying contacts to a turntable which is a main part of the present invention, FIG. 3 is FIG. A drawing showing the side of the shown feeding drum, feeding track and chute, FIG. 4 is a view showing a state in which the inspection result of the contact to be inspected is displayed on the screen, and FIG. 5 is a photograph showing the structure of the position guider, which is the main part of the present invention, 6 is a photograph showing a first camera unit, a second camera unit, and a turntable, which are main parts of the contact inspection device according to the present invention, FIG. 7 is a photograph showing the first camera unit shown in FIG. 6 from the back, FIG. 8 is FIG. 7 A photo showing the second camera unit shown in FIG. 9 from the back, FIG. 9 is a photo showing the second camera unit of FIG. 8 from one side, and FIG. 10 is a photo showing the second camera and a part of the turntable shown in FIG. 8 from above, FIG. 11 is an enlarged photograph showing the second camera shown in FIG. 10 from the side, FIG. 12 is an enlarged photograph showing a part of the turntable and the contact separation extraction unit which is the main part of the present invention, and FIG. 13 is the main part shown in FIG. 12 defective A photograph showing the contact extraction case and the non-defective contact extraction case, FIG. 14 is an enlarged photograph showing a part of the non-defective contact extraction case, which is a main part of FIG. 13 .
도면을 참조하면, 본 발명은 검사 대상인 접점(2)이 상면에 얹혀지는 턴테이블(214)을 구비한 접점 이동부(200)와, 상기 턴테이블(214)에 의해 회전 이송되는 접점(2)의 이송 경로상에서 접점(2)을 검사하는 비젼 검사부(300)와, 상기 비젼 검사부(300)에 의해 검사된 접점(2) 중에서 양품 접점(2)과 불량 접점(2)을 분리하여 취출되도록 하는 접점 분리 취출부(400)를 구비한다. 본 발명에서 기술하는 접점(2)은 전기적으로 통전 가능한 접점 부재인데, 본 발명에서는 접점 부재를 접점(2)으로 칭하기로 한다.Referring to the drawings, the present invention relates to a contact
상기 접점 이동부(200)에는 접점 피딩트랙(40)이 인접하도록 배치되어, 상기 접점 피딩트랙(40)에서 피딩되는 접점(2)이 턴테이블(214) 위에 올려지고, 상기 비젼 검사부(300)는 접점(2)을 측면에서 검사하는 제1카메라부(310)와 접점(2)을 상부에서 검사하는 제2카메라부(320)를 포함하여 구성된다.A
상기 접점 피딩트랙(40)은 슈트(70)에서 공급된 접점(2)을 피딩드럼(10)에서 진동에 의해 공급받도록 구성되고, 상기 피딩드럼(10)은 제1진동 유닛(20)에 의해 진동하여 접점(2)이 접점 피딩트랙(40)에 공급되도록 하되, 상기 피딩드럼(10)은 메인 프레임(212)의 메인 베이스판(213)에 방진패드를 매개로 장착되고, 상기 피딩드럼(10)과 제1진동 유닛(20)은 물리적으로 턴테이블(214)과 분리되어 있어서, 상기 피딩드럼(10)의 진동이 턴테이블(214)에 전달되는 것을 방지하여 접점(2)이 진동에 의해 제대로 검사되지 못하는 경우를 방지한다.The
상기 메인 프레임(212)에는 접점 피딩트랙(40)이 구비되고, 상기 접점 피딩트랙(40)은 상기 접점(2)을 공급하는 피딩드럼(10)에 이어지고, 상기 접점 피딩트랙(40)은 상기 턴테이블(214)의 상면 위쪽까지 연장되어, 상기 피딩드럼(10)에서 피딩되는 상기 접점(2)이 상기 피딩트랙(40)을 따라 이동하여 상기 턴테이블(214)에 구비된 투명 테이블부(214PT)에 상기 접점(2)이 얹혀져서 공급되고, 상기 투명 테이블부(214PT)의 아래에서 광원(LS)의 빛이 올라온 상태에서 상기 제2카메라(325)가 상기 접점(2)을 위쪽에서 촬영하도록 구성된다.The
구체저으로, 접점 피딩트랙(40)은 피딩드럼(10)에 이어진 연결 피딩트랙(42)과, 상기 연결 피딩트랙(42)에 기단부가 인접하도록 배치된 메인 피딩트랙(44)으로 구성되고, 상기 메인 피딩트랙(44)의 선단부는 상기 턴테이블의 상면 위에까지 연장된다. 따라서, 상기 피딩드럼(10)에서 진동으로 피딩되는 접점(2)이 연결 피딩트랙(42)과 메인 피딩트랙(44)을 따라 일자로 줄지어서 공급되고, 상기 메인 피딩트랙(44)의 선단부에서 접점(2)이 하나씩 순서대로 상기 턴테이블(214) 위에 얹혀져서 공급된다. 상기 턴테이블(214)은 둘레부에 투명 테이블부(214PT)가 구비되어, 상기 투명 테이블부(214PT)에 접점(2)이 얹혀져서 공급된다.Specifically, the
상기 턴테이블(214)의 투명 테이블부(214PT)에 접점(2)이 얹혀져서 공급된 상태에서 상기 투명 테이블부(214PT)의 아래에서 광원(LS)의 빛이 올라와서 제2카메라(325)가 접점(2)의 위쪽에서 접점(2)을 촬영하게 된다. 즉, 상기 피딩트랙(40)에서 턴테이블(214)의 투명 테이블부(214PT) 위로 접점(2)이 올려져서 공급된 상태에서 제2카메라(325)가 접점(2)을 위쪽에서 촬영하도록 구성된다. In a state in which the
이때, 상기 피딩트랙(40)에서 접점(2)이 이동하여 나오는 선단부 쪽에 인접하도록 포지션 가이더(60)가 구비되어, 상기 포지션 가이더(60)에 의해 접점(2)이 턴테이블(214)의 상기 투명 테이블부(214PT)의 상면에서 제위치에 배치되도록 가이드된다.At this time, the
상기 포지션 가이더(62)는 외측 포지션 가이더(62)와 내측 포지션 가이더(64)로 구성된다.The
상기 턴테이블(214)의 둘레부에 배치되도록 메인 프레임(212)이 가이더 서포트 브라켓(61)이 구비되고, 상기 포지션 가이더(60)는 가이더 서포트 브라켓(61)에 장착된 외측 포지션 가이더(62)와, 상기 가이더 서포트 브라켓(61)에 장착된 내측 포지션 가이더(64)를 포함하여 구성되며, 상기 외측 포지션 가이더(62)의 내측면과 내측 포지션 가이더(64)의 외측면 사이에 확보된 포지셔닝 스페이스를 접점(2)이 지나갈 때에 턴테이블(214)의 상면에 상기 접점(2)이 제위치에 있도록 조정된다.The
상기 외측 포지션 가이더(62)와 내측 포지션 가이더(64)는 블록 형상으로 구성된다. 외측 포지션 가이더(62)의 내측면과 내측 포지션 가이더(64)의 외측면은 서로 마주하고 있으며, 외측 포지션 가이더(62)의 내측면과 내측 포지션 가이더(64)의 외측면 사이에 접점(2)이 지나가는 포지셔닝 스페이스가 구비되어, 상기 외측 포지션 가이더(62)와 내측 포지션 가이더(64) 사이의 상기 포지셔닝 스페이스로 접점(2)이 지나가면서 턴테이블(214)의 정해진 상면 위치에 접점(2)이 올바르게 이동(다시 말해, 투명 테이블부(214PI)에서 올바른 위치에 접점(2)이 이동)하게 되며, 이처럼 포지션 가이더(60)에 의해 가이드되어 턴테이블(214)의 제위치에 접점(2)이 올바른 위치에 올려지도록 가이드된 상태에서 턴테이블(214)의 회전에 의해 접점(2)이 검사용 카메라에 의해 촬영되어 접점(2)이 불량인지 양품인지 제대로 원활하게 검사되도록 할 수 있게 된다. 카메라는 제1카메라(315)와 제2카메라(325)로 구성되어, 제1카메라(315)에 의해 접점(2)을 측면에서 검사하고 제2카메라(325)에 의해 접점(2)을 위쪽에서 촬영하여 검사할 수 있도록 한다. The
한편, 상기 접점 피딩트랙(40)은 제2진동 유닛(50)의 진동에 의해 접점(2)을 턴테이블(214)의 상면으로 공급되도록 하되, 상기 접점 피딩트랙(40)을 진동시키는 제2진동 유닛(50)은 메인 프레임(212)의 메인 베이스판(213)에 방진패드를 매개로 장착되고, 상기 제2진동 유닛(50)과 접점 피딩트랙(40)은 물리적으로 턴테이블(214)과 분리되어 있어서, 상기 접점 피딩트랙(40)의 진동이 턴테이블(214)에 전달되는 것을 방지하여 접점(2)이 진동에 의해 제대로 검사되지 못하는 경우를 방지한다.On the other hand, the
상기 접점 피딩트랙(40)은 턴테이블(214)이 회전 가능하게 장착된 메인 프레임(212)의 메인 베이스판(213)에 진동유닛에 의해 진동하면서 접점(2)을 턴테이블(214)의 상면으로 피딩하는데, 상기 접점 피딩트랙(40)의 선단부는 턴테이블(214)의 상면 위에 배치되지만 접점 피딩트랙(40)은 물리적으로 턴테이블(214)과는 분리되어 있어서, 상기 접점 피딩트랙(40)의 진동이 턴테이블(214)로 전달되는 것을 방지하여, 턴테이블(214) 위에 올려진 접점(2)이 진동에 의해 떨려서 카메라에 의해 접점(2) 검사가 제대로 이루어지지 못하는 경우를 방지한다.The
상기 턴테이블(214)은 메인 프레임(212)에 회전 가능하게 장착되고, 턴테이블(214)의 중심부에 하부에 구비된 턴테이블(214) 샤프트는 메인 프레임(212)의 메인 베이스판(213)에 회전 가능하게 결합되고, 상기 메인 프레임(212)에는 로테이션 구동모터가 구비되고, 로테이션 구동모터의 모터축은 풀리와 벨트에 의해 턴테이블(214) 샤프트에 연결되어, 상기 로테이션 구동모터의 모터축이 회전함에 따라 상기 턴테이블(214)이 수평 방향으로 배치된 상태에서 회전하게 되고, 상기 턴테이블(214) 위에 올려진 접점(2)이 회전하여 카메라에 의해 접점(2)을 검사할 수 있도록 구성된다.The
상기 제1카메라부(310)는 메인 프레임(212)에 지지된 제1지지 베이스판(311)과, 상기 제1지지 베이스판(311)에 이동 가능하게 결합된 제1 Y축 이동 지지판(312)과, 상기 제1 Y축 이동 지지판(312)에 이동 가능하게 결합된 제1 X축 이동 지지판(313)과, 상기 제1 X축 이동 지지판(313)에 이동 가능하게 결합되어 제1카메라(315)의 렌즈가 턴테이블(214)에 올려진 접점(2)의 측면 쪽을 향하도록 지지하는 제1 Z축 이동 지지판(314)을 포함한다.The
상기 제1 Y축 이동 지지판(312)은 엘엠 가이드 또는 크로스 롤러 베어링을 매개로 제1지지 베이스판(311)에 이동 가능하게 결합된다.The first Y-axis
상기 제1 X축 이동 지지판(313)은 엘엠 가이드 또는 크로스 롤러 베어링을 매개로 제1 Y축 이동 지지판(312)에 이동 가능하게 결합된다.The first X-axis
상기 제1 Y축 이동 지지판(312)은 제1 Y축 스핀들(316)의 작동에 의해 턴테이블(214)의 둘레부에서 턴테이블(214)의 중심부 쪽으로 전진하거나 턴테이블(214)의 둘레부에서 턴테이블(214)의 중심부에서 멀어지는 방향으로 후진하도록 구성된다.The first Y-axis
상기 제1 Y축 스핀들(316)은 제1지지 베이스판(311)에 장착되고, 상기 제1 Y축 스핀들(316)은 제1 Y축 이동 지지판(312)에 홀더와 같은 연결구를 매개로 연결되고, 상기 홀더는 제1 Y축 스핀들(316)과 제1 Y축 이동 지지판(312)에 상대 회전 가능하게 결합되어, 상기 제1 Y축 스핀들(316)의 회전에 따라 상기 제1 Y축 이동 지지판(312)이 메인 프레임(212)의 Y축 방향을 따라 전후진될 수 있다. 메인 프레임(212)의 Y축 방향을 따라 전후진될 수 있다는 것은 제1 Y축 이동 지지판(312)이 제1 Y축 스핀들(316)의 작동에 의해 턴테이블(214)의 둘레부에서 턴테이블(214)의 중심부 쪽으로 전진하거나 턴테이블(214)의 둘레부에서 턴테이블(214)의 중심부에서 멀어지는 방향으로 후진하는 것을 의미한다.The first Y-
상기 제1 X축 이동 지지판(313)은 제1 X축 스핀들(317)의 작동에 의해 제1 Y축 이동 지지판(312)의 이동 방향과 직교하는 X축 방향으로 이동한다. 상기 제1 X축 스핀들(317)은 제1 Y축 이동 지지판(312)에 장착되어 상기 제1 Y축 스핀들(316)과 직교하는 X축 방향으로 배치되고, 상기 제1 X축 스핀들(317)은 제1 X축 이동 지지판(313)에 홀더와 같은 연결구를 매개로 연결되고, 상기 홀더는 제1 X축 스핀들(317)과 제1 X축 이동 지지판(313)에 상대 회전 가능하게 결합되어, 상기 제1 X축 스핀들(317)의 회전에 따라 상기 제1 X축 이동 지지판(313)이 메인 프레임(212)의 X축 방향을 따라 전후진될 수 있다. 메인 프레임(212)의 X축 방향을 따라 전후진될 수 있다는 것은 제1 X축 이동 지지판(313)은 제1 X축 스핀들(317)의 작동에 의해 제1 Y축 이동 지지판(312)의 이동 방향과 직교하는 X축 방향으로 이동한다는 것을 의미한다.The first X-axis
상기 제1 Z축 이동 지지판(314)은 제1 Z축 스핀들(318)의 작동에 의해 수직 방향으로 이동한다. 상기 제1 축 이동 지지판에 제1카메라(315)가 장착된다. 이때, 상기 제1카메라(315)에 의해 접점(2)을 옆에서 검사(촬영)할 때에 광원(LS)이 옆에서 빛을 비추어서 접점(2)을 제1카메라(315)가 옆에서 확실하게 검사(촬영)할 수 있도록 한다.The first Z-axis
상기 제1 Z축 이동 지지판(314)은 제1 Z축 스핀들(318)의 작동에 의해 수직 방향으로 이동한다. 상기 제1 Z축 스핀들(318)은 제1 Y축 이동 지지판(312)의 상면에서 수직 방향으로 연장된 제1 Z축 스핀들 결합 지지판에 장착되고, 상기 제1 Z축 스핀들 결합 지지판에 제1 Z축 이동 지지판(314)이 엘엠 가이드 또는 크로스 롤러 베어링을 매개로 수직 방향으로 이동 가능하게 결합되고, 상기 제1 Z축 스핀들(318)은 제1 Z축 이동 지지판(314)에 홀더와 같은 연결구를 매개로 연결되고, 상기 홀더는 제1 Z축 스핀들(318)과 제1 Z축 이동 지지판(314)에 상대 회전 가능하게 결합되어, 상기 제1 Z축 스핀들(318)의 회전에 따라 상기 제1 Z축 이동 지지판(314)이 메인 프레임(212)의 Z축 방향(수직 방향)을 따라 승강될 수 있다. 메인 프레임(212)의 Z축 방향을 따라 승강될 수 있다는 것은 제1 Z축 이동 지지판(314)은 제1 Z축 스핀들(318)의 작동에 의해 제1 Y축 이동 지지판(312)의 이동 방향과 수직 방향으로 직교하는 Z축 방향으로 이동한다는 것을 의미한다.The first Z-axis
상기 제1카메라(315)가 턴테이블(214)을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동 가능하도록 구성된다.The
상기 제1 Z축 이동 지지판(314)에 제1카메라(315)가 장착되어 수평 방향으로 배치되고, 제1카메라(315)의 렌즈는 턴테이블(214)의 상면에 얹혀진 접점(2)의 측면을 보도록 턴테이블(214) 쪽으로 향하고 있는데, 상기 제1 X축 스핀들(317)이 회전하면 제1 X축 이동 지지판(313)과 제1 Y축 이동 지지판(312)과 제1 Z축 이동 지지판(314)이 상기 제1지지 베이스판(311)을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 X축 방향으로 이동하여 제1카메라(315)를 X축 방향으로 이동시킬 수 있다. 이때, 상기 제1지지 베이스판(311)에는 브라켓이 구비되고, 상기 제1지지 베이스판(311)의 상기 브라켓을 관통한 고정볼트가 상기 제1 X축 이동 지지판(313)에 조여져서 상기 고정볼트의 헤드가 브라켓을 제1 X축 이동 지지판(313)에 가압 밀착되도록 하므로, 제1 X축 이동 지지판(313)과 제1 Y축 이동 지지판(312)과 제1 Z축 이동 지지판(314)이 턴테이블(214)의 옆에서 X축 방향으로 이동한 상태를 유지할 수 있다. 상기 고정볼트를 풀어주면 상기 고정볼트의 헤드가 상기 브라켓을 제1 X축 이동 지지판(313)에 가압 밀착되어 있는 상태를 해제하므로, 상기 제1 X축 이동 지지판(313)과 제1 Y축 이동 지지판(312)과 제1 Z축 이동 지지판(314)이 상기 제1지지 베이스판(311)을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 X축 방향으로 이동할 수 있는 상태로 전환된다.A
상기 제1 Y축 스핀들(316)이 회전하면 제1 Y축 이동 지지판(312)과 제1 Z축 이동 지지판(314)이 상기 제1 X축 이동 지지판(313)을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 Y축 방향으로 이동하여 제1카메라(315)를 Y축 방향으로 이동시킬 수 있다. 이때, 상기 제1 X축 이동 지지판(313)에는 브라켓이 구비되고, 상기 제1 X축 이동 지지판(313)의 상기 브라켓을 관통한 고정볼트가 상기 제1 Y축 이동 지지판(312)에 조여져서 상기 고정볼트의 헤드가 브라켓을 제1 Y축 이동 지지판(312)에 가압 밀착되도록 하므로, 제1 Y축 이동 지지판(312)과 제1 Z축 이동 지지판(314)이 턴테이블(214)의 옆에서 Y축 방향으로 이동한 상태를 유지할 수 있다. 상기 고정볼트를 풀어주면 상기 고정볼트의 헤드가 상기 브라켓을 제1 Y축 이동 지지판(312)에 가압 밀착되어 있는 상태를 해제하므로, 상기 제1 Y축 이동 지지판(312)과 제1 Z축 이동 지지판(314)이 상기 제1 X축 이동 지지판(313)을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 Y축 방향으로 이동할 수 있는 상태로 전환된다.When the first Y-
상기 제1 Z축 스핀들(318)이 회전하면 제1 Z축 이동 지지판(314)과 제1카메라(315)가 제1 Y축 이동 지지판(312)의 상면에서 수직 방향으로 세워진 제1 Z축 스핀들(318) 결합 지지판을 기준으로 수직 방향(Z축 방향)으로 승강될 수 있다. 이때, 상기 제1 Z축 스핀들 결합 지지판에는 브라켓이 구비되고, 상기 제1 Z축 스핀들 결합 지지판의 상기 브라켓을 관통한 고정볼트가 상기 제1 Z축 이동 지지판(314)에 조여져서 상기 고정볼트의 헤드가 브라켓을 제1 Z축 이동 지지판(314)에 가압 밀착되도록 하므로, 제1 Z축 이동 지지판(314)과 제1카메라(315)가 수직 방향(Z축 방향)으로 이동한 상태를 유지할 수 있다. 상기 고정볼트를 풀어주면 상기 고정볼트의 헤드가 상기 브라켓을 제1 Z축 이동 지지판(314)에 가압 밀착되어 있는 상태를 해제하므로, 상기 제1 Z축 이동 지지판(314)이 제1 Z축 스핀들(318) 결합 지지판을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 Y축 방향으로 이동할 수 있는 상태로 전환된다.When the first Z-
이처럼, 상기 제1 X축 이동 지지판(313)과 제1 Y축 이동 지지판(312)과 제1 Z축 이동 지지판(314)이 XYZ축 방향으로 이동함에 따라 제1카메라(315)가 턴테이블(214)을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동 하게 된다.As such, as the first X-axis
상기 턴테이블(214)은 메인 프레임(212)에 회전 가능하게 장착되고, 상기 제2카메라부(320)는 메인 프레임(212)에 지지된 제2지지 베이스판(321)과, 상기 제2지지 베이스판(321)에 이동 가능하게 결합된 제2 Y축 이동 지지판(322)과, 상기 제2 Y축 이동 지지판(322)에 이동 가능하게 결합된 제2 X축 이동 지지판(323)과, 상기 제2 X축 이동 지지판(323)에 이동 가능하게 결합되어 제2카메라(325)의 렌즈가 상기 턴테이블(214)에 올려진 상기 접점(2)을 위쪽에서 촬영하도록 지지하는 제2 Z축 이동 지지판(324)을 포함한다. 상기 제2카메라부(320)는 상기 제1카메라부(310)와 접점 분리 취출부(400) 사이에 배치된다.The
상기 제2 Y축 이동 지지판(322)은 제2 Y축 스핀들(326)의 작동에 의해 턴테이블(214)의 둘레부에서 상기 턴테이블(214)의 중심부 쪽으로 전진하거나 상기 턴테이블(214)의 둘레부에서 상기 턴테이블(214)의 중심부에서 멀어지는 방향으로 후진하도록 구성되고, 상기 제2 X축 이동 지지판(323)은 제2 X축 스핀들(327)의 작동에 의해 제2 Y축 이동 지지판(322)의 이동 방향과 직교하는 X축 방향으로 이동하고, 상기 제2 Z축 이동 지지판(324)은 제2 Z축 스핀들(328)의 작동에 의해 수직 방향으로 이동하여, 상기 제2카메라(325)가 상기 턴테이블(214)을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동 가능하도록 구성된다. 제2카메라(325)는 수직 방향으로 세워진 상태라서 제2카메라(325)의 렌즈가 턴테이블(214)의 상면 쪽으로 바라볼 수 있도록 구성된다. 이때, 턴테이블(214)은 둘레부에 투명 테이블부가 구비되고, 상기 투명 테이블부의 아래에는 광원(LS)이 배치되어, 상기 제2카메라(325)에 의해 접점(2)을 위에서 검사(촬영)할 때에 광원(LS)이 아래에서 빛을 내서 상기 투명 테이블부(214PI) 위로 올라온 빛에 의해 접점(2)을 제2카메라(325)가 확실하게 검사(촬영)할 수 있도록 한다.The second Y-axis
상기 제2 Y축 이동 지지판(322)은 엘엠 가이드 또는 크로스 롤러 베어링을 매개로 제2지지 베이스판(321)에 이동 가능하게 결합된다.The second Y-axis
상기 제2 X축 이동 지지판(323)은 엘엠 가이드 또는 크로스 롤러 베어링을 매개로 제2 Y축 이동 지지판(322)에 이동 가능하게 결합된다.The second X-axis
상기 제2 Y축 이동 지지판(322)은 제2 Y축 스핀들(326)의 작동에 의해 턴테이블(214)의 둘레부에서 턴테이블(214)의 중심부 쪽으로 전진하거나 턴테이블(214)의 둘레부에서 턴테이블(214)의 중심부에서 멀어지는 방향으로 후진하도록 구성된다.The second Y-axis
상기 제2 Y축 스핀들(326)은 제2지지 베이스판(321)에 장착되고, 상기 제2 Y축 스핀들(326)은 제2 Y축 이동 지지판(322)에 홀더와 같은 연결구를 매개로 연결되고, 상기 홀더는 제2 Y축 스핀들(326)과 제2 Y축 이동 지지판(322)에 상대 회전 가능하게 결합되어, 상기 제2 Y축 스핀들(326)의 회전에 따라 상기 제2 Y축 이동 지지판(322)이 메인 프레임(212)의 Y축 방향을 따라 전후진될 수 있다. 메인 프레임(212)의 Y축 방향을 따라 전후진될 수 있다는 것은 제2 Y축 이동 지지판(322)이 제2 Y축 스핀들(326)의 작동에 의해 턴테이블(214)의 둘레부에서 턴테이블(214)의 중심부 쪽으로 전진하거나 턴테이블(214)의 둘레부에서 턴테이블(214)의 중심부에서 멀어지는 방향으로 후진하는 것을 의미한다.The second Y-
상기 제2 X축 이동 지지판(323)은 제2 X축 스핀들(327)의 작동에 의해 제2 Y축 이동 지지판(322)의 이동 방향과 직교하는 X축 방향으로 이동한다. 상기 제2 X축 스핀들(327)은 제2 Y축 이동 지지판(322)에 장착되어 상기 제2 Y축 스핀들(326)과 직교하는 X축 방향으로 배치되고, 상기 제2 X축 스핀들(327)은 제2 X축 이동 지지판(323)에 홀더와 같은 연결구를 매개로 연결되고, 상기 홀더는 제2 X축 스핀들(327)과 제2 X축 이동 지지판(323)에 상대 회전 가능하게 결합되어, 상기 제2 X축 스핀들(327)의 회전에 따라 상기 제2 X축 이동 지지판(323)이 메인 프레임(212)의 X축 방향을 따라 전후진될 수 있다. 메인 프레임(212)의 X축 방향을 따라 전후진될 수 있다는 것은 제2 X축 이동 지지판(323)은 제2 X축 스핀들(327)의 작동에 의해 제2 Y축 이동 지지판(322)의 이동 방향과 직교하는 X축 방향으로 이동한다는 것을 의미한다.The second X-axis
상기 제2 Z축 이동 지지판(324)은 제2 Z축 스핀들(328)의 작동에 의해 수직 방향으로 이동한다. 상기 제2 축 이동 지지판에 제2카메라(325)가 장착된다.The second Z-axis
상기 제2 Z축 이동 지지판(324)은 제2 Z축 스핀들(328)의 작동에 의해 수직 방향으로 이동한다. 상기 제2 Z축 스핀들(328)은 제2 Y축 이동 지지판(322)의 상면에서 수직 방향으로 연장된 제2 Z축 스핀들 결합 지지판에 장착되고, 상기 제2 Z축 스핀들 결합 지지판에 제2 Z축 이동 지지판(324)이 엘엠 가이드 또는 크로스 롤러 베어링을 매개로 수직 방향으로 이동 가능하게 결합되고, 상기 제2 Z축 스핀들(328)은 제2 Z축 이동 지지판(324)에 홀더와 같은 연결구를 매개로 연결되고, 상기 홀더는 제2 Z축 스핀들(328)과 제2 Z축 이동 지지판(324)에 상대 회전 가능하게 결합되어, 상기 제2 Z축 스핀들(328)의 회전에 따라 상기 제2 Z축 이동 지지판(324)이 메인 프레임(212)의 Z축 방향(수직 방향)을 따라 승강될 수 있다. 메인 프레임(212)의 Z축 방향을 따라 승강될 수 있다는 것은 제2 Z축 이동 지지판(324)은 제2 Z축 스핀들(328)의 작동에 의해 제2 Y축 이동 지지판(322)의 이동 방향과 수직 방향으로 직교하는 Z축 방향으로 이동한다는 것을 의미한다.The second Z-axis
상기 제2카메라(325)가 턴테이블(214)을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동 가능하도록 구성된다.The
상기 제2 Z축 이동 지지판(324)에 제2카메라(325)가 장착되어 수평 방향으로 배치되고, 제2카메라(325)의 렌즈는 턴테이블(214)의 상면에 얹혀진 접점(2)의 측면을 보도록 턴테이블(214) 쪽으로 향하고 있는데, 상기 제2 X축 스핀들(327)이 회전하면 제2 X축 이동 지지판(323)과 제2 Y축 이동 지지판(322)과 제2 Z축 이동 지지판(324)이 상기 제2지지 베이스판(321)을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 X축 방향으로 이동하여 제2카메라(325)를 X축 방향으로 이동시킬 수 있다. 이때, 상기 제2지지 베이스판(321)에는 브라켓이 구비되고, 상기 제2지지 베이스판(321)의 상기 브라켓을 관통한 고정볼트가 상기 제2 X축 이동 지지판(323)에 조여져서 상기 고정볼트의 헤드가 브라켓을 제2 X축 이동 지지판(323)에 가압 밀착되도록 하므로, 제2 X축 이동 지지판(323)과 제2 Y축 이동 지지판(322)과 제2 Z축 이동 지지판(324)이 턴테이블(214)의 옆에서 X축 방향으로 이동한 상태를 유지할 수 있다. 상기 고정볼트를 풀어주면 상기 고정볼트의 헤드가 상기 브라켓을 제2 X축 이동 지지판(323)에 가압 밀착되어 있는 상태를 해제하므로, 상기 제2 X축 이동 지지판(323)과 제2 Y축 이동 지지판(322)과 제2 Z축 이동 지지판(324)이 상기 제2지지 베이스판(321)을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 X축 방향으로 이동할 수 있는 상태로 전환된다.A
상기 제2 Y축 스핀들(326)이 회전하면 제2 Y축 이동 지지판(322)과 제2 Z축 이동 지지판(324)이 상기 제2 X축 이동 지지판(323)을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 Y축 방향으로 이동하여 제2카메라(325)를 Y축 방향으로 이동시킬 수 있다. 이때, 상기 제2 X축 이동 지지판(323)에는 브라켓이 구비되고, 상기 제2 X축 이동 지지판(323)의 상기 브라켓을 관통한 고정볼트가 상기 제2 Y축 이동 지지판(322)에 조여져서 상기 고정볼트의 헤드가 브라켓을 제2 Y축 이동 지지판(322)에 가압 밀착되도록 하므로, 제2 Y축 이동 지지판(322)과 제2 Z축 이동 지지판(324)이 턴테이블(214)의 옆에서 Y축 방향으로 이동한 상태를 유지할 수 있다. 상기 고정볼트를 풀어주면 상기 고정볼트의 헤드가 상기 브라켓을 제2 Y축 이동 지지판(322)에 가압 밀착되어 있는 상태를 해제하므로, 상기 제2 Y축 이동 지지판(322)과 제2 Z축 이동 지지판(324)이 상기 제2 X축 이동 지지판(323)을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 Y축 방향으로 이동할 수 있는 상태로 전환된다.When the second Y-
상기 제2 Z축 스핀들(328)이 회전하면 제2 Z축 이동 지지판(324)과 제2카메라(325)가 제2 Y축 이동 지지판(322)의 상면에서 수직 방향으로 세워진 제2 Z축 스핀들(328) 결합 지지판을 기준으로 수직 방향(Z축 방향)으로 승강될 수 있다. 이때, 상기 제2 Z축 스핀들(328) 결합 지지판에는 브라켓이 구비되고, 상기 제2 Z축 스핀들(328) 결합 지지판의 상기 브라켓을 관통한 고정볼트가 상기 제2 Z축 이동 지지판(324)에 조여져서 상기 고정볼트의 헤드가 브라켓을 제2 Z축 이동 지지판(324)에 가압 밀착되도록 하므로, 제2 Z축 이동 지지판(324)과 제2카메라(325)가 수직 방향(Z축 방향)으로 이동한 상태를 유지할 수 있다. 상기 고정볼트를 풀어주면 상기 고정볼트의 헤드가 상기 브라켓을 제2 Z축 이동 지지판(324)에 가압 밀착되어 있는 상태를 해제하므로, 상기 제2 Z축 이동 지지판(324)이 제2 Z축 스핀들(328) 결합 지지판을 기준으로 턴테이블(214)의 옆에서 Y축 방향으로 이동할 수 있는 상태로 전환된다.When the second Z-
이처럼, 상기 제2 X축 이동 지지판(323)과 제2 Y축 이동 지지판(322)과 제2 Z축 이동 지지판(324)이 XYZ축 방향으로 이동함에 따라 제2카메라(325)가 턴테이블(214)을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동 하게 된다.As such, as the second X-axis
상기 접점 분리 취출부(400)는 비젼 검사부(300)에서 검사된 이후 이동되어온 위치에 구비된다. 상기 제1카메라부(310)와 제2카메라부(320)에서 접점(2)이 검사된 이후 상기 턴테이블(214)의 회전에 의해 접점(2)이 이동되어오는 위치에 접점 분리 취출부(400)가 배치된다.The contact separation and extraction unit 400 is provided at a position that has been moved after being inspected by the
상기 접점 분리 취출부(400)에는 양품 접점(2)을 수집하는 양품 접점 취출 케이스(414)와 불량 접점(2)을 수집하는 불량 접점 취출 케이스(412)가 구비된다. 불량 접점 취출 케이스(412)에는 턴테이블(214)의 둘레부 쪽을 마주하고 있는 불량 접점(2) 투입구가 구비되고, 양품 접점 취출 케이스(414)에도 턴테이블(214)의 둘레부 쪽을 마주하고 있는 양품 접점(2) 투입구가 구비된다.The contact separation and extraction unit 400 is provided with a good
상기 불량 접점 취출 케이스(412)는 턴테이블(214)의 옆에 세워져 있으면서 불량 접점 취출 케이스(412)의 불량 접점(2) 투입구는 상기 턴테이블(214)의 둘레부에 근접하도록 배치되고, 상기 양품 접점 취출 케이스(414)는 턴테이블(214)의 옆에 세워져 있으면서 불량 접점 취출 케이스(412)의 옆에 배치되고 양품 접점 취출 케이스(414)의 양품 접점(2) 투입구는 턴테이블(214)의 둘레부에 근접하도록 배치된다.The bad contact take-out
상기 불량 접점 취출 케이스(412)와 양품 접점 취출 케이스(414)를 지지하는 케이스 프레임에는 상기 턴테이블(214)의 상면에 배치되도록 게이트판(417)이 구비되고, 상기 게이트판(417)은 회동작동수단에 의해 회동하여 불량 접점 취출 케이스(412)의 불량 접점(2) 투입구와 양품 접점 취출 케이스(414)의 양품 접점(2) 투입구를 선택적으로 개폐한다. 상기 게이트판(417)은 게이트 구동모터의 모터축에 연결되어 게이트 구동모터의 모터축이 회전함에 따라 턴테이블(214)의 상면에서 회동하면서 불량 접점 취출 케이스(412)의 불량 접점(2) 투입구와 양품 접점 취출 케이스(414)의 양품 접점(2) 투입구를 선택적으로 개폐한다. 게이트판(417)이 턴테이블(214)의 상면에서 게이트 구동모터와 같은 회동 작동수단에 의해 회동하여 불량 접점 취출 케이스(412)의 불량 접점(2) 투입구와 양품 접점 취출 케이스(414)의 양품 접점(2) 투입구를 선택적으로 개폐하도록 구성될 수 있다. 상기 게이트판(417)이 불량 접점 취출 케이스(412)의 불량 접점(2) 투입구를 막고 있으면 양품 접점 취출 케이스(414)의 양품 접점(2) 투입구가 열려 있어서 양품 접점(2)이 상기 양품 접점(2) 투입구를 통해서 양품 접점 취출 케이스(414)로 들어가서 수집되고, 상기 게이트판(417)이 양량 접점(2) 취출 케이스의 양량 접점(2) 투입구를 막고 있으면 불량 접점 취출 케이스(412)의 불량 접점(2) 투입구가 열려 있어서 불량 접점(2)이 상기 불량 접점(2) 투입구를 통해서 불량 접점 취출 케이스(412)로 들어가서 수집된다. 한편, 상기 양품 접점 취출 케이스(414)와 인접한 위치에는 카운팅 센서가 구비되고, 상기 카운팅 센서에 의해 카운팅되는 양품 접점(2)을 양을 숫자로 표시하는 카운터(419)가 구비되어, 양품 접점 취출 케이스(414)로 투입된 양품 접점(2)의 갯수를 카운터(419)에 표시된 숫자로 확인할 수 있다.A
또한, 상기 양품 접점 취출 케이스(414)의 내부에 양품 접점(2)이 다 차있는지의 여부를 센싱하는 제1센서(416)와, 상기 불량 접점 취출 케이스(412)의 내부에 불량 접점(2)이 다 차있는지의 여부를 센싱하는 제2센서(418)를 포함한다.In addition, a
상기 제1센서(416)는 양품 접점 취출 케이스(414)의 내부에 양품 접점(2)이 다 차있는 경우에 알람을 통해서 알려주어 양품 접점 취출 케이스(414)를 새로운 양품 접점 취출 케이스(414)로 교체할 수 있도록 하고, 상기 제2센서(418)는 불품 접점(2) 취출 케이스의 내부에 불량 접점(2)이 다 차있는 경우에 알람을 통해서 알려주어 불량 접점 취출 케이스(412)를 새로운 불량 접점 취출 케이스(412)로 교체할 수 있도록 한다.The
상기한 구성의 본 발명에 의하면, 상기 턴테이블(214) 위로 접점(2)이 올라오면, 상기 턴테이블(214)이 회전하여 상기 제1카메라부(310)에 있는 제1카메라(315)의 렌즈 앞에 접점(2)이 도착하면 제1카메라(315)가 접점(2)을 옆에서 검사(주로, 접점(2)의 상하 높이와 좌우 폭을 촬영하여 검사)하고, 제1카메라(315)에 의해 촬영된 접점(2)의 이미지와 검사 수치가 검사용 디스플레이에 표시되도록 하고, 상기 턴테이블(214) 위에서 턴테이블(214)의 회전에 의해 접점(2)이 상기 제2카메라부(320)에 있는 제2카메라(325)의 렌즈 아래에 도착하면 제2카메라(325)가 접점(2)을 위에서 검사(주로, 접점(2)의 폭과 플랜지부의 폭을 촬영하여 검사)하고, 제2카메라(325)에 의해 촬영된 접점(2)의 이미지와 검사 수치가 검사용 디스플레이에 표시되도록 한다.According to the present invention having the above configuration, when the
상기 제1카메라부(310)와 제2카메라부(320)에서 접점(2)을 검사한 결과, 접점(2)이 불량일 경우에는 턴테이블(214)이 회전하여 불량 접점(2)이 이동하다가 상기 게이트판(417)이 불량 접점 취출 케이스(412)의 불량 접점(2) 투입구를 열어놓고 양품 접점 취출 케이스(414)의 양품 접점(2) 투입구는 닫아놓고 있기 때문에, 불량 접점(2)이 불량 접점 투입구를 통하여 불량 접점 취출 케이스(412)로 투입되어 수집된다.As a result of inspecting the
상기 제1카메라부(310)와 제2카메라부(320)에서 접점(2)을 검사한 결과, 접점(2)이 양품인 경우에는 턴테이블(214)이 회전하여 양품 접점(2)이 이동하다가 상기 게이트판(417)이 불량 접점 취출 케이스(412)의 불량 접점(2) 투입구를 닫아놓고 양품 접점 취출 케이스(414)의 양품 접점(2) 투입구는 열어놓고 있기 때문에, 양품 접점(2)이 양품 접점 투입구를 통하여 양품 접점 취출 케이스(414)로 투입되어 수집된다.As a result of inspecting the
따라서, 본 발명은 턴테이블(214) 위로 피딩된 접점(2)을 회전식으로 이동시키다가 제1카메라부(310)와 제2카메라부(320)에 접점(2)이 양품 접점(2)인지 불량 접점(2)인지를 신속하게 검사하고 신속하게 불량 접점(2)과 양품 접점(2)을 구분하여 취출할 수 있으므로, 접점(2)의 검사 효율을 높이고 작업성을 향상시키는 효과가 있다.Therefore, in the present invention, while the
또한, 상기 제1카메라(315)와 제2카메라(325)는 턴테이블(214)을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동할 수 있어서 검사 대상 접점(2)의 사이즈에 대응하여 유연성 있게 접점(2)을 정밀 검사할 수 있는 효과가 있다.In addition, the
이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재할 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미가 있다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Terms such as "include", "compose" or "have" described above mean that the corresponding component may be inherent unless otherwise stated, so it does not exclude other components. It should be construed as being able to further include other components. All terms, including technical and scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which the present invention belongs, unless otherwise defined. Commonly used terms such as terms defined in the dictionary should be interpreted as being consistent with the contextual meaning of the related art, and are not interpreted in an ideal or excessively formal meaning unless explicitly defined in the present invention.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely illustrative of the technical spirit of the present invention, and various modifications and variations will be possible without departing from the essential characteristics of the present invention by those skilled in the art to which the present invention pertains. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical spirit of the present invention, but to explain, and the scope of the technical spirit of the present invention is not limited by these embodiments. The protection scope of the present invention should be construed by the following claims, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be construed as being included in the scope of the present invention.
따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Accordingly, since the embodiments described above are provided to fully inform those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs the scope of the invention, it should be understood that they are exemplary in all respects and not limiting, The invention is only defined by the scope of the claims.
2. 접점 40. 접점 피딩트랙
200. 접점 이동부 212. 메인 프레임
213. 메인 베이스판 214. 턴테이블
300. 비젼 검사부 310. 제1카메라부
311. 제1지지 베이스판 312. 제1 Y축 이동 지지판
313. 제1 X축 이동 지지판 314. 제1 Z축 이동 지지판
315. 제1카메라 316. 제1 Y축 스핀들
317. 제1 X축 스핀들 318. 제1 Z축 스핀들
320. 제2카메라부 321. 제2지지 베이스판
322. 제2 Y축 이동 지지판 313. 제2 X축 이동 지지판
324. 제2 Z축 이동 지지판 325. 제2카메라
326. 제2 Y축 스핀들 327. 제2 X축 스핀들
328. 제2 Z축 스핀들 400. 접점 분리 취출부
412. 불량 접점 취출 케이스 414. 양품 접점 취출 케이스
416. 제1센서 418. 제2센서
419. 카운터2.
200. Contact moving
213.
300.
311. First
313. First X-axis
315.
317. First
320.
322. 2nd Y-axis
324. Second Z-axis
326. Second Y-
328. Second Z-axis spindle 400. Contact separation take-out part
412. Defective
416.
419. Counter
Claims (10)
상기 턴테이블(214)에 의해 회전 이송되는 상기 접점(2)의 이송 경로상에서 상기 접점(2)을 검사하는 비젼 검사부(300);
상기 비젼 검사부(300)에 의해 검사된 상기 접점(2) 중에서 양품 접점(2)과 불량 접점(2)을 분리하여 취출되도록 하는 접점 분리 취출부(400);를 포함하여 구성되고,
상기 접점 이동부(200)에 인접하도록 접점 피딩트랙(40)이 배치되어, 상기 접점 피딩트랙(40)에서 피딩되는 상기 접점(2)이 상기 턴테이블(214) 위에 올려지고, 상기 비젼 검사부(300)는 상기 접점(2)을 측면에서 검사하는 제1카메라부(310)와 상기 접점(2)을 상부에서 검사하는 제2카메라부(320)를 포함하여 구성되고,
상기 접점 피딩트랙(40)은 슈트(70)에서 공급된 접점(2)을 피딩드럼(10)에서 진동에 의해 공급받도록 구성되고, 상기 피딩드럼(10)은 제1진동 유닛(20)에 의해 진동하여 접점(2)이 접점 피딩트랙(40)에 공급되도록 하되, 상기 피딩드럼(10)은 메인 프레임(212)의 메인 베이스판(213)에 방진패드를 매개로 장착되고, 상기 피딩드럼(10)과 제1진동 유닛(20)은 물리적으로 턴테이블(214)과 분리되어 있어서, 상기 피딩드럼(10)의 진동이 턴테이블(214)에 전달되는 것을 방지하여 접점(2)이 진동에 의해 제대로 검사되지 못하는 경우를 방지하도록 구성된 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치.
a contact moving unit 200 having a turntable 214 on which a contact 2 to be inspected is placed on an upper surface;
a vision inspection unit 300 for inspecting the contact point 2 on a transport path of the contact point 2 rotationally transferred by the turntable 214;
A contact separation and extraction unit 400 for separating and taking out a good contact 2 and a defective contact 2 from among the contact points 2 inspected by the vision inspection unit 300;
A contact feeding track 40 is disposed adjacent to the contact moving unit 200 so that the contact 2 fed from the contact feeding track 40 is placed on the turntable 214, and the vision inspection unit 300 ) is configured to include a first camera unit 310 for inspecting the contact point 2 from the side and a second camera unit 320 for inspecting the contact point 2 from the top,
The contact feeding track 40 is configured to receive the contact 2 supplied from the chute 70 by vibration from the feeding drum 10 , and the feeding drum 10 is operated by the first vibration unit 20 . Vibrating so that the contact point 2 is supplied to the contact feeding track 40, the feeding drum 10 is mounted on the main base plate 213 of the main frame 212 via a vibration-proof pad, and the feeding drum ( 10) and the first vibration unit 20 are physically separated from the turntable 214, so that the vibration of the feeding drum 10 is prevented from being transmitted to the turntable 214, so that the contact point 2 is properly operated by the vibration. Contact inspection device, characterized in that configured to prevent the failure to be inspected.
상기 접점 이동부(200)는 상기 턴테이블(214)이 메인 프레임(212)에 회전 가능하게 장착되도록 구성되고,
상기 제1카메라부(310)는,
상기 메인 프레임(212)에 지지된 제1지지 베이스판(311);
상기 제1지지 베이스판(311)에 이동 가능하게 결합된 제1 Y축 이동 지지판(312);
상기 제1 Y축 이동 지지판(312)에 이동 가능하게 결합된 제1 X축 이동 지지판(313);
상기 제1 X축 이동 지지판(313)에 이동 가능하게 결합되어 제1카메라(315)의 렌즈가 상기 턴테이블(214)에 올려진 상기 접점(2)의 측면 쪽을 향하도록 지지하는 제1 Z축 이동 지지판(314);을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치.
According to claim 1,
The contact moving unit 200 is configured such that the turntable 214 is rotatably mounted to the main frame 212,
The first camera unit 310,
a first support base plate 311 supported on the main frame 212;
a first Y-axis movable support plate 312 movably coupled to the first support base plate 311;
a first X-axis movable support plate 313 movably coupled to the first Y-axis movable support plate 312;
The first Z-axis is movably coupled to the first X-axis movement support plate 313 to support the lens of the first camera 315 toward the side of the contact point 2 mounted on the turntable 214 . Contact inspection device comprising a; movable support plate (314).
상기 제1 Y축 이동 지지판(312)은 제1 Y축 스핀들(316)의 작동에 의해 상기 턴테이블(214)의 둘레부에서 상기 턴테이블(214)의 중심부 쪽으로 전진하거나 상기 턴테이블(214)의 둘레부에서 상기 턴테이블(214)의 중심부에서 멀어지는 방향으로 후진하도록 구성되고, 상기 제1 X축 이동 지지판(313)은 제1 X축 스핀들(317)의 작동에 의해 상기 제1 Y축 이동 지지판(312)의 이동 방향과 직교하는 X축 방향으로 이동하고, 상기 제1 Z축 이동 지지판(314)은 제1 Z축 스핀들(318)의 작동에 의해 수직 방향으로 이동하여, 상기 제1카메라(315)가 상기 턴테이블(214)을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동 가능하도록 구성된 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치.
4. The method of claim 3,
The first Y-axis movement support plate 312 advances from the periphery of the turntable 214 toward the center of the turntable 214 by the operation of the first Y-axis spindle 316 or the periphery of the turntable 214 . is configured to move backward in a direction away from the center of the turntable 214, and the first X-axis movement support plate 313 is the first Y-axis movement support plate 312 by the operation of the first X-axis spindle 317. moves in the X-axis direction orthogonal to the movement direction of the , and the first Z-axis movement support plate 314 moves in the vertical direction by the operation of the first Z-axis spindle 318, so that the first camera 315 is Contact inspection device, characterized in that configured to be movable in the XYZ axis direction with respect to the turntable (214).
상기 접점 이동부(200)는 상기 턴테이블(214)이 메인 프레임(212)에 회전 가능하게 장착되도록 구성되고,
상기 제2카메라부(320)는,
상기 메인 프레임(212)에 지지된 제2지지 베이스판(321);
상기 제2지지 베이스판(321)에 이동 가능하게 결합된 제2 Y축 이동 지지판(322);
상기 제2 Y축 이동 지지판(322)에 이동 가능하게 결합된 제2 X축 이동 지지판(323);
상기 제2 X축 이동 지지판(323)에 이동 가능하게 결합되어 제2카메라(325)가 상기 턴테이블(214)에 올려진 상기 접점(2)을 위쪽에서 촬영하도록 지지하는 제2 Z축 이동 지지판(324);을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치.
According to claim 1,
The contact moving unit 200 is configured such that the turntable 214 is rotatably mounted to the main frame 212,
The second camera unit 320,
a second support base plate 321 supported on the main frame 212;
a second Y-axis movable support plate 322 movably coupled to the second support base plate 321;
a second X-axis movable support plate 323 movably coupled to the second Y-axis movable support plate 322;
A second Z-axis movement support plate movably coupled to the second X-axis movement support plate 323 to support the second camera 325 to photograph the contact point 2 mounted on the turntable 214 from above ( 324); Contact inspection device comprising a.
상기 메인 프레임(212)에는 접점 피딩트랙(40)이 구비되고, 상기 접점 피딩트랙(40)은 상기 접점(2)을 공급하는 피딩드럼(10)에 이어지고, 상기 접점 피딩트랙(40)은 상기 턴테이블(214)의 상면 위쪽까지 연장되어, 상기 피딩드럼(10)에서 피딩되는 상기 접점(2)이 상기 피딩트랙(40)을 따라 이동하여 상기 턴테이블(214)에 구비된 투명 테이블부(214PT)에 상기 접점(2)이 얹혀져서 공급되고, 상기 투명 테이블부(214PT)의 아래에서 광원(LS)의 빛이 올라온 상태에서 상기 제2카메라(325)가 상기 접점(2)을 위쪽에서 촬영하도록 구성된 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치.
6. The method of claim 5,
The main frame 212 is provided with a contact feeding track 40, the contact feeding track 40 is connected to a feeding drum 10 for supplying the contact 2, and the contact feeding track 40 is A transparent table part (214PT) provided in the turntable (214) extending up to the upper surface of the turntable (214), so that the contact point (2) fed from the feeding drum (10) moves along the feeding track (40) is supplied with the contact point 2 placed on it, and the second camera 325 captures the contact point 2 from above in a state where the light of the light source LS is raised from below the transparent table part 214PT. Contact inspection device, characterized in that configured.
상기 피딩트랙(40)에서 접점(2)이 이동하여 나오는 선단부 쪽에 인접하도록 포지션 가이더(60)가 구비되어, 상기 포지션 가이더(60)에 의해 접점(2)이 턴테이블(214)의 상기 투명 테이블부(214PT)의 상면에서 제위치에 배치되도록 가이드되는 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치.
7. The method of claim 6,
The position guider 60 is provided so as to be adjacent to the tip side from which the contact point 2 moves from the feeding track 40, and the contact point 2 is the transparent table part of the turntable 214 by the position guider 60. A contact test device, characterized in that it is guided to be placed in place on the upper surface of the (214PT).
상기 포지션 가이더(60)는 외측 포지션 가이더(62)와 내측 포지션 가이더(64)로 구성되고,
상기 외측 포지션 가이더(62)의 내측면과 상기 내측 포지션 가이더(64)의 외측면 사이에 상기 접점(2)이 지나가는 포지셔닝 스페이스가 구비되어, 상기 외측 포지션 가이더(62)와 상기 내측 포지션 가이더(64) 사이의 상기 포지셔닝 스페이스로 상기 접점(2)이 지나가면서 턴테이블(214)의 투명 테이블부(214PI)에서 올바른 위치에 상기 접점(2)이 이동하는 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치.
8. The method of claim 7,
The position guider 60 is composed of an outer position guider 62 and an inner position guider 64,
A positioning space through which the contact point 2 passes is provided between the inner surface of the outer position guider 62 and the outer surface of the inner position guider 64, the outer position guider 62 and the inner position guider 64 ) as the contact point (2) passes to the positioning space between the contact points (2), characterized in that the contact point (2) moves to the correct position in the transparent table part (214PI) of the turntable (214).
상기 제2 Y축 이동 지지판(322)은 제2 Y축 스핀들(326)의 작동에 의해 상기 턴테이블(214)의 둘레부에서 상기 턴테이블(214)의 중심부 쪽으로 전진하거나 상기 턴테이블(214)의 둘레부에서 상기 턴테이블(214)의 중심부에서 멀어지는 방향으로 후진하도록 구성되고, 상기 제2 X축 이동 지지판(323)은 제2 X축 스핀들(327)의 작동에 의해 상기 제2 Y축 이동 지지판(322)의 이동 방향과 직교하는 X축 방향으로 이동하고, 상기 제2 Z축 이동 지지판(324)은 제2 Z축 스핀들(328)의 작동에 의해 수직 방향으로 이동하여, 상기 제2카메라(325)가 상기 턴테이블(214)을 기준으로 XYZ축 방향으로 이동 가능하도록 구성된 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치.
6. The method of claim 5,
The second Y-axis movement support plate 322 advances from the periphery of the turntable 214 toward the center of the turntable 214 or the periphery of the turntable 214 by the operation of the second Y-axis spindle 326 . is configured to move backward in a direction away from the center of the turntable 214, and the second X-axis movement support plate 323 is the second Y-axis movement support plate 322 by the operation of the second X-axis spindle 327. moves in the X-axis direction orthogonal to the movement direction of the , and the second Z-axis movement support plate 324 moves in the vertical direction by the operation of the second Z-axis spindle 328, so that the second camera 325 is Contact inspection device, characterized in that configured to be movable in the XYZ axis direction with respect to the turntable (214).
상기 접점 분리 취출부(400)는 상기 비젼 검사부(300)에서 검사된 이후 이동되어온 위치에 구비되고,
상기 접점 분리 취출부(400)에는 불량 접점(2)을 수집하는 불량 접점 취출 케이스(412)와 양품 접점(2)을 수집하는 양품 접점 취출 케이스(414)가 구비되고,
상기 불량 접점 취출 케이스(412)의 투입구와 상기 양품 접점 취출 케이스(414)의 투입구는 상기 턴테이블(214)의 둘레부에 근접하도록 설치되고, 상기 불량 접점 취출 케이스(412)와 상기 양품 접점 취출 케이스(414)를 지지하는 케이스 프레임에는 상기 턴테이블(214)의 상면에 배치되도록 게이트판(417)이 구비되고, 상기 게이트판(417)은 회동작동수단에 의해 회동하여 상기 불량 접점 취출 케이스(412)의 투입구와 상기 양품 접점 취출 케이스(414)의 투입구를 선택적으로 개폐하도록 구성된 것을 특징으로 하는 접점 검사 장치.
According to claim 1,
The contact separation extraction unit 400 is provided at a position that has been moved after being inspected by the vision inspection unit 300,
The contact separation and extraction unit 400 is provided with a defective contact extraction case 412 for collecting the defective contact 2 and a good contact removal case 414 for collecting the good contact 2,
The inlet of the defective contact take-out case 412 and the inlet of the good contact take-out case 414 are installed close to the periphery of the turntable 214, and the defective contact take-out case 412 and the good contact take-out case A gate plate 417 is provided on the case frame supporting the turntable 214 to be disposed on the upper surface of the turntable 214, and the gate plate 417 is rotated by a rotation operation means to rotate the defective contact extraction case 412. Contact inspection device, characterized in that configured to selectively open and close the inlet of the and the inlet of the non-defective contact take-out case (414).
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