KR102265542B1 - 플렉서블 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 플렉서블 표시 장치에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 플렉서블 표시 장치는 복수의 픽셀이 배치된 표시 영역, 표시 영역에서 연장된 제1 비표시 영역, 제1 비표시 영역에서 연장된 벤딩 영역, 벤딩 영역에서 연장된 제2 비표시 영역 및 제2 비표시 영역에서 연장되고, 복수의 패드가 배치된 패드 영역을 포함하는 플렉서블 기판, 복수의 픽셀에 데이터 전압을 인가하고, 표시 영역에 배치된 복수의 데이터 배선, 복수의 데이터 배선 각각과 복수의 패드 각각을 연결하도록, 제1 비표시 영역, 벤딩 영역, 제2 비표시 영역 및 패드 영역에 배치된 복수의 링크 배선; 및 복수의 링크 배선 각각에 연결된 제1 전극을 포함하고, 패드 영역에 배치된 복수의 검사용 트랜지스터를 포함하여, 넓은 영역의 배선을 검사하기 위한 검사용 트랜지스터를 사용하면서도 베젤의 크기를 최소화할 수 있다.

Description

플렉서블 표시 장치{FLEXIBLE DISPLAY DEVICE}
본 발명은 플렉서블 표시 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 베젤을 감소시키고, 보다 넓은 영역의 배선 불량을 검사할 수 있는 플렉서블 표시 장치에 관한 것이다.
컴퓨터의 모니터나 TV, 핸드폰 등에 사용되는 표시 장치에는 스스로 광을 발광하는 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display; OLED), 플라즈마 표시 장치(Plasma Display Panel; PDP)등과 별도의 광원을 필요로 하는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD)등이 있다.
또한, 최근에는 플렉서블(flexible)소재인 플라스틱 등과 같이 유연성 있는 기판에 표시부, 배선 등을 형성하여, 종이처럼 휘어져도 화상 표시가 가능하게 제조되는 플렉서블 표시 장치가 차세대 표시 장치로 주목 받고 있다.
플렉서블 표시 장치는 컴퓨터의 모니터 및 TV 뿐만 아니라 개인 휴대 기기까지 그 적용 범위가 다양해지고 있으며, 넓은 표시 면적을 가지면서도 감소된 부피 및 무게를 갖는 플렉서블 표시 장치에 대한 연구가 진행되고 있다.
이러한 플렉서블 표시 장치에서는 베젤의 크기를 감소시키기 위해 기판의 특정 영역을 벤딩하는 기술이 사용되고 있다. 다만, 기판이 벤딩되는 과정에서 기판 상에 배치된 배선이 크랙(crack)되어 플렉서블 표시 장치가 불량으로 되는 경우가 발생한다.
본 발명의 발명자들은, 상술한 바와 같이 플렉서블 표시 장치가 벤딩되는 경우, 플렉서블 표시 장치의 벤딩 영역을 지나는 배선 및/또는 벤딩 영역과 인접한 영역에 배치된 배선이 크랙될 수 있음을 인식하였다. 따라서, 본 발명의 발명자들은 플렉서블 표시 장치 제조 과정에서 구동 칩 등이 실장된 COF(Chip on Film), FPCB(Flexible Printed Circuit Board)등의 플렉서블 필름을 플렉서블 표시 장치에 부착하기 전에 플렉서블 표시 장치의 양품 여부를 검사하는 과정이 필요하며, 해당 검사에서는 벤딩 영역 및 벤딩 영역에 인접한 영역에 배치된 배선의 크랙 여부를 검사할 수 있어야 한다는 사실을 인식하였다.
또한, 본 발명의 발명자들은 플렉서블 표시 장치가 경량 박형화됨에 따라, 그리고 사용자에게 보다 넓은 표시 영역을 제공하기 위해 플렉서블 표시 장치의 베젤을 최소화하는 것이 중요하다는 것을 인식하였다. 특히, 본 발명의 발명자들은 디자인적 측면에서 플렉서블 표시 장치가 종래의 직사각형 형태가 아닌 다양한 형태를 갖게 됨에 따라 베젤 영역의 길이 및 폭을 감소시키는 것은 매우 중요하다는 것을 인식하였다.
이에, 본 발명의 발명자들은 보다 넓은 영역의 배선을 검사하기 위한 검사용 트랜지스터를 사용하면서도 베젤의 크기를 최소화할 수 있는 새로운 구조를 갖는 플렉서블 표시 장치를 발명하였다.
이에, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 플렉서블 기판에서 표시 영역과 패드 사이의 비표시 영역에 배치된 배선 모두에 대한 검사를 수행할 수 있는 구조를 갖는 플렉서블 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 또 다른 과제는 비표시 영역의 길이를 감소시켜 베젤의 크기를 최소화할 수 있는 플렉서블 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치는 복수의 픽셀이 배치된 표시 영역, 표시 영역에서 연장된 제1 비표시 영역, 제1 비표시 영역에서 연장된 벤딩 영역, 벤딩 영역에서 연장된 제2 비표시 영역 및 제2 비표시 영역에서 연장되고, 복수의 패드가 배치된 패드 영역을 포함하는 플렉서블 기판, 복수의 픽셀에 데이터 전압을 인가하고, 표시 영역에 배치된 복수의 데이터 배선, 복수의 데이터 배선 각각과 복수의 패드 각각을 연결하도록, 제1 비표시 영역, 벤딩 영역, 제2 비표시 영역 및 패드 영역에 배치된 복수의 링크 배선 및 복수의 링크 배선 각각에 연결된 제1 전극을 포함하고, 패드 영역에 배치된 복수의 검사용 트랜지스터를 포함하여, 넓은 영역의 배선을 검사하기 위한 검사용 트랜지스터를 사용하면서도 베젤의 크기를 최소화할 수 있다.
전술한 바와 같은 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치는 표시 영역, 표시 영역에서 연장되고 벤딩 영역을 갖는 비표시 영역을 포함하는 플렉서블 기판, 표시 영역에 배치된 복수의 데이터 배선, 복수의 데이터 배선 각각과 연결되고, 비표시 영역에 배치되고, 벤딩 영역에 배치된 벤딩 패턴을 갖는 복수의 링크 배선, 복수의 링크 배선 각각과 연결된 복수의 패드 및 복수의 링크 배선과 전기적으로 연결되고, 벤딩 패턴 및 복수의 패드 중 복수의 패드에 보다 인접하게 배치된 복수의 검사용 트랜지스터를 포함하여, 벤딩 패턴과 패드 사이의 배선에 대해서도 검사용 트랜지스터를 통해 단선 여부에 대한 검사를 수행할 수 있다.
기타 실시예의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명은 플렉서블 기판에 구동 칩 등이 실장된 플렉서블 필름이 부착 전에 플렉서블 기판의 표시 영역 및 비표시 영역 전체에 배치된 배선의 크랙과 표시 영역 상에 배치된 픽셀의 구동을 검사할 수 있다.
본 발명은 비표시 영역 상에 배치된 복수의 패드 사이의 이격 공간에 검사용 트랜지스터를 배치하여 베젤의 크기를 감소시킬 수 있다.
본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치의 평면도이다.
도 2는 도 1의 A 영역에 대한 확대도이다.
도 3은 도 2의 B 영역에 대한 확대도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치의 복수의 검사용 트랜지스터를 설명하기 위한 예시적인 회로도이다.
도 5는 도 2의 V-V'에 따른 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치의 단면도이다.
도 6은 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치의 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치의 벤딩된 상태에 대한 단면도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.
구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다. 위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.
또한 제 1, 제 2 등이 다양한 구성 요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성 요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제 1 구성 요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제 2 구성 요소일 수도 있다.
본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치의 평면도이다. 도 1에서는 설명의 편의를 위해 플렉서블 표시 장치(100)의 다양한 구성 요소 중 플렉서블 기판(110)만을 도시하였다.
플렉서블 기판(110)은 연성이 부여된 기판으로, 플렉서블 표시 장치(100)의 여러 구성 요소들을 지지하기 위한 기판이다. 플렉서블 기판(110)은 플렉서빌리티(flexibility)를 갖는 물질로 이루어질 수 있으며, 예를 들어, 폴리이미드(PI)등과 같은 플라스틱 물질로 이루어질 수 있다.
도 1을 참조하면, 플렉서블 기판(110)은 표시 영역(A/A) 및 비표시 영역(N/A)을 포함한다.
표시 영역(A/A)은 복수의 픽셀이 배치되어 화상을 표시하는 영역이다. 표시 영역(A/A)에는 영상을 표시하기 위한 표시부 및 표시부를 구동하기 위한 회로부가 형성될 수 있다. 예를 들어, 플렉서블 표시 장치(100)가 유기 발광 표시 장치인 경우, 표시부는 유기 발광 소자를 포함할 수 있다. 즉, 표시부는 애노드, 애노드 상의 유기층 및 유기층 상의 캐소드를 포함할 수 있다. 유기층은, 예를 들어, 정공 수송층, 정공 주입층, 유기 발광층, 전자 주입층 및 전자 수송층으로 구성될 수 있다. 다만, 플렉서블 표시 장치(100)가 액정 표시 장치인 경우, 표시부는 액정층을 포함하도록 구성될 수도 있다. 이하에서는 설명의 편의를 위해 플렉서블 표시 장치(100)가 유기 발광 표시 장치인 것을 가정하여 설명하나, 이에 제한되는 것은 아니다. 회로부는 유기 발광 소자를 구동하기 위한 다양한 박막 트랜지스터, 커패시터 및 배선을 포함할 수 있다. 예를 들어, 회로부는 구동 박막 트랜지스터, 스위칭 박막 트랜지스터, 스토리지 커패시터, 게이트 배선 및 데이터 배선 등과 같은 다양한 구성 요소로 이루어질 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
도 1을 참조하면, 표시 영역(A/A)은 모서리가 둥근(rounded) 형상을 가질 수 있다. 최근 디자인적 측면이 강조됨에 따라, 기존의 직사각형 형상의 표시 영역(A/A)이 아닌 다른 형태의 표시 영역(A/A)에 대한 니즈가 존재한다. 이에, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)의 플렉서블 기판(110)은 모서리가 둥근 형상을 갖는다. 다만, 표시 영역(A/A)의 형상이 이에 제한되는 것은 아니고 실시예에 따라 직사각형 등의 다른 형상을 가질 수도 있다.
비표시 영역(N/A)은 화상이 표시되지 않는 영역으로서, 표시 영역(A/A)에 배치된 표시부를 구동하기 위한 다양한 배선, 회로 등이 배치되는 영역이다. 또한, 비표시 영역(N/A)에는 게이트 드라이버 IC, 데이터 드라이버 IC와 같은 다양한 IC 및 구동 회로들이 배치되는 COF, FPCB 등이 배치될 수도 있다.
비표시 영역(N/A)은 도 1에 도시된 바와 같이 표시 영역(A/A)에서 연장된 영역으로 정의될 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 비표시 영역(N/A)은 표시 영역(A/A)을 둘러싸는 영역도 포함하도록 정의될 수 있다. 또한, 비표시 영역(N/A)은 표시 영역(A/A)의 복수의 변으로부터 연장하는 것으로 정의될 수도 있다.
도 1을 참조하면, 비표시 영역(N/A)은 제1 비표시 영역(NA1), 벤딩 영역(BA), 제2 비표시 영역(NA2) 및 패드 영역(PA)을 포함한다. 제1 비표시 영역(NA1)은 표시 영역(A/A)에서 연장된 영역이고, 벤딩 영역(BA)은 제1 비표시 영역(NA1)에서 연장된 영역으로 벤딩이 가능할 수 있다. 제2 비표시 영역(NA2)은 벤딩 영역(BA)에서 연장된 영역이고, 패드 영역(PA)은 제2 비표시 영역(NA2)에서 연장된 영역으로 복수의 패드(PA)가 배치될 수 있다.
이하에서는 비표시 영역(N/A)에 대한 보다 상세한 설명을 위해 도 2를 함께 참조하여 설명한다.
도 2는 도 1의 A 영역에 대한 확대도이다.
도 2를 참조하면, 표시 영역(A/A)에 복수의 데이터 배선(DL)이 배치되고, 비표시 영역(N/A)에 복수의 데이터 배선(DL)과 연결된 복수의 링크 배선(LL)이 배치된다.
복수의 데이터 배선(DL)은 표시 영역(A/A)에 배치된 복수의 픽셀에 데이터 전압을 인가하기 위한 배선이다. 복수의 데이터 배선(DL)은 복수의 링크 배선(LL)으로부터 데이터 전압을 전달 받아 복수의 픽셀로 데이터 전압을 전달한다.
복수의 링크 배선(LL)은 비표시 영역(N/A)에 배치되거나 별도의 플렉서블 필름(120)에 배치될 수 있는 구동 회로, 게이트 드라이버 IC, 데이터 드라이버 IC 등으로부터의 신호를 표시 영역(A/A)에 배치된 배선으로 전달하기 위한 배선이다. 특히, 복수의 링크 배선(LL)은 제1 비표시 영역(NA1), 벤딩 영역(BA), 제2 비표시 영역(NA2) 및 패드 영역(PA)에 배치되어 복수의 패드(PA) 각각과 복수의 데이터 배선(DL) 각각을 연결한다. 이에, 복수의 링크 배선(LL)은 복수의 데이터 배선(DL)으로 데이터 전압을 전달할 수 있다. 도 2에서는 복수의 링크 배선(LL)이 복수의 데이터 배선(DL)과만 연결되는 것으로 도시되었으나, 복수의 링크 배선(LL)은 이에 제한되지 않고, 게이트 배선, 고전위 전압 배선, 저전위 전압 배선 등과 같은 다양한 배선과 연결될 수도 있다.
복수의 데이터 배선(DL) 및 복수의 링크 배선(LL)은 도전성 물질로 형성되고, 플렉서블 기판(110)의 벤딩 시 크랙이 발생하는 것을 최소화하기 위해 연성이 우수한 도전성 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 복수의 데이터 배선(DL) 및 복수의 링크 배선(LL)은 표시 영역(A/A)의 유기 발광 소자 및 박막 트랜지스터의 게이트 전극, 소스 전극 및 드레인 전극 제조 시 사용되는 다양한 물질 중 하나로 형성될 수 있고, 단층 또는 복층으로 구성될 수 있다. 구체적으로, 복수의 데이터 배선(DL) 및 복수의 링크 배선(LL)은 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd), 구리(Cu), 및 은(Ag)과 마그네슘(Mg)의 합금 등으로 형성될 수 있다.
한편, 표시 영역(A/A)의 평균 폭은 비표시 영역(N/A)의 평균 폭보다 클 수 있다. 구체적으로, 도 1 내지 도 2에 도시된 바와 같이, 표시 장치의 표시 영역(A/A)은 모서리가 둥근 형태일 수 있으며, 이러한 표시 영역(A/A)으로부터 연장된 제1 비표시 영역(NA1)의 평균 폭은 표시 영역(A/A)의 평균 폭보다 작을 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)에서는 베젤의 크기가 감소될 수 있다.
추가적으로, 도 2를 참조하면, 제1 비표시 영역(NA1)의 평균 폭은 벤딩 영역(BA)의 평균 폭보다 크고, 벤딩 영역(BA)의 평균 폭은 제2 비표시 영역(NA2)의 평균 폭 보다 클 수 있다. 앞서 설명한 바와 같이, 베젤의 크기를 감소시키기 위해 비표시 영역(N/A)의 크기를 감소시키는 것이 중요하므로, 도 2에 도시된 바와 같이 제1 비표시 영역(NA1)의 폭은 표시 영역(A/A)으로부터 멀어질수록 감소할 수 있다. 다만, 벤딩 영역(BA)은 실제 플렉서블 표시 장치(100)가 벤딩되는 영역으로 후술할 벤딩 패턴(BP)이 배치되는 영역이다. 따라서, 벤딩 영역(BA)의 폭을 표시 영역(A/A)으로부터 멀어질수록 감소시키는 것은 어려울 수 있다. 이에, 도 2에서는 벤딩 영역(BA)의 폭이 일정한 것으로 도시하였으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 또한, 베젤의 크기를 감소시키기 위해 비표시 영역(N/A)의 크기를 감소시키는 것이 중요하므로, 도 2에 도시된 바와 같이 제2 비표시 영역(NA2)의 폭은 표시 영역(A/A)으로부터 멀어질수록 감소할 수 있다.
복수의 링크 배선(LL) 각각은 제1 비표시 영역(NA1)에 배치된 제1 배선(LLA), 벤딩 영역(BA)에 배치된 벤딩 패턴(BP), 및 제2 비표시 영역(NA2) 및 패드 영역(PA)에 배치된 제2 배선(LLB)을 포함할 수 있다.
상술한 바와 같이, 제1 비표시 영역(NA1)의 폭이 표시 영역(A/A)으로부터 멀어질수록 감소하므로, 제1 비표시 영역(NA1)에 배치된 복수의 링크 배선(LL)의 간격, 즉, 제1 배선(LLA)들 간의 간격은 표시 영역(A/A)으로부터 멀어질수록 감소한다. 또한, 제2 비표시 영역(NA2)의 폭이 표시 영역(A/A)으로부터 멀어질수록 감소하므로, 제2 비표시 영역(NA2)에 배치된 복수의 링크 배선(LL)의 간격, 즉, 제2 배선(LLB)들 간의 간격은 표시 영역(A/A)으로부터 멀어질수록 감소한다. 다만, 제1 비표시 영역(NA1)의 평균 폭이 제2 비표시 영역(NA2)의 평균 폭보다 크므로, 제1 배선(LLA)들 간의 평균 간격이 제2 배선(LLB)들 간의 평균 간격보다는 크다.
복수의 링크 배선(LL)의 벤딩 패턴(BP)은 벤딩 영역(BA)에 배치된다. 벤딩 영역(BA)은 상술한 바와 같이 제1 비표시 영역(NA1)에서 연장된 영역으로 벤딩 방향으로 최종 제품 상에서 벤딩되는 영역이다. 따라서, 복수의 링크 배선(LL)의 벤딩 패턴(BP)은 벤딩 영역(BA)에서는 복수의 링크 배선(LL)에 집중되는 응력 및 크랙을 최소화하기 위한 특정 형상의 패턴으로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 벤딩 패턴(BP)은 다이아몬드 형상, 마름모 형상, 지그재그 형상, 원형 형상 중 적어도 하나의 형상을 갖는 도전 패턴이 반복적으로 배치된 패턴일 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 벤딩 패턴(BP)의 형상은 복수의 링크 배선(LL)에 집중되는 응력 및 크랙을 최소화하기 위한 다양한 형상일 수 있다.
도 2에서는 벤딩 패턴(BP)이 벤딩 영역(BA)에만 배치되는 것으로 도시하였으나, 이에 제한되지 않고, 벤딩 영역(BA) 외의 제1 비표시 영역(NA1) 및 제2 비표시 영역(NA2) 상의 일부 영역에도 더 배치될 수 있다. 구체적으로, 벤딩 패턴(BP)은 벤딩 영역(BA)과 인접한 제1 비표시 영역(NA1)의 일부 및 제2 비표시 영역(NA2)의 일부에도 배치될 수 있다.
패드 영역(PA)은 제2 비표시 영역(NA2)에서 연장된 영역으로 복수의 패드(PA)가 배치되는 영역이다. 또한, 패드 영역(PA)에는 플렉서블 표시 장치(100)의 복수의 픽셀의 점등 여부를 검사하기 위한 복수의 검사용 트랜지스터(TR)가 배치될 수 있다.
이하에서는 패드 영역(PA)에 대한 보다 상세한 설명을 위해 도 3 및 도 4를 함께 참조하여 설명한다.
도 3은 도 2의 B 영역에 대한 확대도이다. 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치의 복수의 검사용 트랜지스터를 설명하기 위한 예시적인 회로도이다.
도 3을 참조하면, 패드 영역(PA)에는 복수의 패드(PA)가 배치된다. 복수의 패드(PA)는 복수의 제1 패드(PA1) 및 복수의 제2 패드(PA2)를 포함할 수 있다. 복수의 제1 패드(PA1)는 복수의 링크 배선(LL) 중 복수의 제1 링크 배선(LL1)과 연결되고, 일렬로 배열될 수 있다. 복수의 제2 패드(PA2)는 복수의 링크 배선(LL) 중 복수의 제2 링크 배선(LL2)과 연결되고, 일렬로 배열될 수 있다. 복수의 제1 패드(PA1) 및 복수의 제2 패드(PA2)는 서로 교대로 배치되고, 복수의 제1 링크 배선(LL1) 및 복수의 제2 링크 배선(LL2)도 서로 교대로 배치될 수 있다. 또한, 복수의 제2 패드(PA2)는 복수의 제1 패드(PA1)보다 표시 영역(A/A)에 인접하도록 배치될 수 있다.
도 3에서는 복수의 링크 배선(LL)은 단일층으로 이루어지고, 복수의 패드(PA)는 복수의 링크 배선(LL)과 동일한 물질로 이루어진 하나의 층과 해당 층 상의 추가 층으로 이루어진 것으로 도시되었으나 이에 제한되지는 않는다.
복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)는 표시 영역(A/A)에 배치된 복수의 픽셀의 점등 여부를 검사하기 위한 트랜지스터이며, 제1 비표시 영역(NA1), 벤딩 영역(BA), 제2 비표시 영역(NA2)에 배치된 복수의 링크 배선(LL)의 불량을 검출하기 위한 트랜지스터이다. 도 3을 참조하면, 복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)는 패드 영역(PA) 상에서 복수의 제1 패드(PA1)와 복수의 제2 패드(PA2) 사이에 배치될 수 있다. 그리고 복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)가 배치되도록 복수의 제1 패드(PA1)와 복수의 제2 패드(PA2)는 소정의 거리가 이격되어 패드 영역(PA)에 배치될 수 있다.
복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)는 복수의 링크 배선(LL) 각각과 연결된다. 도 3을 참조하면, 예를 들어, 제1 검사용 트랜지스터(TR1) 및 제3 검사용 트랜지스터(TR3)는 각각 서로 다른 제2 링크 배선(LL2)에 연결되고, 제2 검사용 트랜지스터(TR2) 및 제4 검사용 트랜지스터(TR4)는 서로 다른 제1 링크 배선(LL1)에 연결될 수 있다. 도 3 및 도 4에서는 설명의 편의를 위해 4개의 종류의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)가 사용되는 것으로 도시되었으나, 표시 영역(A/A)에 배치된 픽셀의 배치 및 형태에 따라 사용되는 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)의 개수 및 종류는 달라질 수 있다.
복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4) 각각은 복수의 링크 배선(LL) 각각에 연결된 제1 전극을 포함할 수 있다. 여기서, 제1 전극은 복수의 검사용 트랜지스터(TR)의 출력 단자로서, 소스 전극 및 드레인 전극 중 하나일 수 있다.
제1 검사용 트랜지스터(TR1) 및 제3 검사용 트랜지스터(TR3)가 제2 링크 배선(LL2)에 연결되기 위해, 복수의 제2 링크 배선(LL2) 각각은 복수의 제2 패드(PA2)로부터 복수의 제1 패드(PA1) 측으로 연장된 돌출 부분(LL2P)을 포함한다. 복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)의 제1 전극은 복수의 제2 링크 배선(LL2) 각각의 돌출 부분(LL2P)에서 제2 링크 배선(LL2)과 연결될 수 있다.
도 3을 참조하면, 복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)에 인에이블 신호를 인가하기 위한 인에이블 신호 배선(EL) 및 복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)에 검사용 데이터 전압을 인가하기 위한 복수의 검사용 데이터 배선(TL)이 패드 영역(PA)에 배치될 수 있다. 도 3에서는 인에이블 신호 배선(EL)이 1개이고 검사용 데이터 배선(TL)이 3개인 것으로 도시되었으나, 이는 4개의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)에 대응하는 것이며, 실제 플렉서블 표시 장치(100)에서는 보다 많은 수의 검사용 트랜지스터가 사용되므로, 인에이블 신호 배선(EL)의 개수도 복수일 수 있다. 또한, 표시 영역(A/A)에 배치된 픽셀의 배치 및 형태에 따라 사용되는 인에이블 신호 배선(EL) 및 검사용 데이터 배선(TL)의 개수는 달라질 수 있다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 패드 영역(PA)에는 인에이블 신호 배선(EL) 및 복수의 검사용 데이터 배선(TL)과 연결되는 복수의 검사용 패드(PA3)가 배치될 수 있다. 복수의 검사용 패드(PA3)는 인에이블 신호 배선(EL)과 연결된 인에이블 신호 패드(EP) 및 검사용 데이터 배선(TL)과 연결된 검사용 데이터 패드(TP)를 포함할 수 있다.
이하에서는 검사용 트랜지스터의 동작에 대한 보다 상세한 설명을 위해 도 4를 참조한다.
도 4에는 설명의 편의를 위해 표시 영역(A/A)의 복수의 픽셀이 4개의 픽셀 라인(PX1, PX2, PX3, PX3)이 반복되어 배치되는 것을 가정하였다. 즉, 도 4에서는 적색 픽셀(R)과 청색 픽셀(B)이 교대로 배치되는 제1 픽셀 라인(PX1), 녹색 픽셀(G)만 배치되는 제2 픽셀 라인(PX2), 청색 픽셀(B)과 적색 픽셀(R)이 교대로 배치되는 제3 픽셀 라인(PX3) 및 녹색 픽셀(G)만 배치되는 제4 픽셀 라인(PX4)이 표시 영역(A/A)에 배치되는 것을 가정하였다. 다만, 이에 제한되지 않고, 표시 영역(A/A)의 복수의 픽셀은 다양한 배열 방식으로 배치될 수 있다.
도 4를 참조하면, 복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)의 게이트 전극에 인에이블 신호 배선(EL)이 연결되고, 소스 전극 또는 드레인 전극에 복수의 검사용 데이터 배선(TL)이 연결된다. 구체적으로, 제1 검사용 트랜지스터(TR1), 제2 검사용 트랜지스터(TR2), 제3 검사용 트랜지스터(TR3) 및 제4 검사용 트랜지스터(TR4) 각각의 게이트 전극에 인에이블 신호 배선(EL)이 연결될 수 있다. 또한, 제1 검사용 트랜지스터(TR1)의 소스 전극 및 드레인 전극 중 하나는 제1 검사용 데이터 패드(TP1)로부터 연장된 제1 검사용 데이터 배선(TL1)과 연결되고, 제1 검사용 트랜지스터(TR1)의 소스 전극 및 드레인 전극 중 다른 하나는 제1 픽셀 라인(PX1)과 전기적으로 연결된 제2 링크 배선(LL2)과 연결된다. 제2 검사용 트랜지스터(TR2)의 소스 전극 및 드레인 전극 중 하나는 제2 검사용 데이터 패드(TP2)로부터 연장된 제2 검사용 데이터 배선(TL2)과 연결되고, 제2 검사용 트랜지스터(TR2)의 소스 전극 및 드레인 전극 중 다른 하나는 제2 픽셀 라인(PX2)과 전기적으로 연결된 제1 링크 배선(LL1)과 연결된다. 제3 검사용 트랜지스터(TR3)의 소스 전극 및 드레인 전극 중 하나는 제3 검사용 데이터 패드(TP3)로부터 연장된 제3 검사용 데이터 배선(TL3)과 연결되고, 제3 검사용 트랜지스터(TR3)의 소스 전극 및 드레인 전극 중 다른 하나는 제3 픽셀 라인(PX3)과 전기적으로 연결된 제2 링크 배선(LL2)과 연결된다. 제4 검사용 트랜지스터(TR4)의 소스 전극 및 드레인 전극 중 하나는 제2 검사용 데이터 패드(TP2)로부터 연장된 제2 검사용 데이터 배선(TL2)과 연결되고, 제4 검사용 트랜지스터(TR4)의 소스 전극 및 드레인 전극 중 다른 하나는 제4 픽셀 라인(PX4)과 전기적으로 연결된 제1 링크 배선(LL1)과 연결된다.
복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)를 사용하여 복수의 픽셀의 점등 여부를 검사하고, 복수의 링크 배선(LL)의 불량을 검출하기 위해, 인에이블 신호 패드(EP)를 통해 복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)의 게이트 전극에 인에이블 신호가 인가될 수 있다. 인에이블 신호가 인가됨에 따라 복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)가 턴온(turn-on) 될 수 있다. 이어서, 검사용 데이터 패드(TP)를 통해 복수의 검사용 트랜지스터(TR1, TR2, TR3, TR4)의 소스 전극 또는 드레인 전극에 검사용 데이터 전압을 인가하여 복수의 픽셀의 점등 여부를 검사하고, 복수의 링크 배선(LL)의 불량을 검출할 수 있다.
구체적으로, 제1 검사용 트랜지스터(TR1)가 턴온된 상태에서 제1 검사용 데이터 배선(TL1)을 통해 검사용 데이터 전압을 인가하여, 제1 픽셀 라인(PX1)에 배치된 픽셀들에 대한 점등 여부를 검사하고, 제1 픽셀 라인(PX1)과 전기적으로 연결된 데이터 배선 및 제2 링크 배선의 불량을 검출할 수 있다. 즉, 검사용 데이터 전압이 인가됨에 따라 제1 픽셀 라인(PX1)이 점등되지 않는 경우, 제2 링크 배선(LL2), 데이터 배선(DL) 및 제1 픽셀 라인(PX1)의 픽셀 중 적어도 어느 하나가 불량임을 검출할 수 있다. 이때, 제1 검사용 트랜지스터(TR1)가 제1 패드(PA1)와 제2 패드(PA2) 사이에 배치되므로, 제1 검사용 트랜지스터(TR1)를 통해 모든 비표시 영역(N/A)에서의 제2 링크 배선(LL2)의 불량 여부, 예를 들어, 단선 여부를 검출할 수 있다.
상술한 바와 동일한 원리로, 제2 검사용 트랜지스터(TR2) 및 제4 검사용 트랜지스터(TR4)가 턴온된 상태에서 제2 검사용 데이터 배선(TL2)을 통해 검사용 데이터 전압을 인가하여, 제2 픽셀 라인(PX2) 및 제4 픽셀 라인(PX4)에 배치된 픽셀들에 대한 점등 여부를 검사하고, 제2 픽셀 라인(PX2) 및 제4 픽셀 라인(PX4) 각각과 전기적으로 연결된 데이터 배선(DL1) 및 제1 링크 배선(LL1)의 불량을 검출할 수 있다. 또한, 제3 검사용 트랜지스터(TR3)가 턴온된 상태에서 제3 검사용 데이터 배선(TL3)을 통해 검사용 데이터 전압을 인가하여, 제3 픽셀 라인(PX3)에 배치된 픽셀들에 대한 점등 여부를 검사하고, 제3 픽셀 라인(PX3)과 전기적으로 연결된 데이터 배선(DL) 및 제2 링크 배선(LL2)의 불량을 검출할 수 있다.
도 2 및 도 3에서는 인에이블 신호 패드(EP) 및 검사용 데이터 패드(TP)를 포함하는 검사용 패드(PA3), 인에이블 신호 배선(EL) 및 검사용 데이터 배선(TL)이 모두 플렉서블 기판(110)의 패드 영역(PA)에 배치되는 것으로 도시하였으나, 검사용 패드(PA3) 및 인에이블 신호 배선(EL)과 검사용 데이터 배선(TL)의 일부는 최종 제품에서 제거될 수도 있다. 검사용 패드(PA3), 인에이블 신호 배선(EL) 및 검사용 데이터 배선(TL)은 모두 플렉서블 필름(120) 부착 전의 점등 검사를 위한 구성이므로, 점등 검사 이후에 검사용 패드(PA3), 인에이블 신호 배선(EL) 및 검사용 데이터 배선(TL)이 배치된 패드 영역(PA)의 일부를 제거할 수 있고, 이에 따라 보다 좁은 베젤 구현이 가능할 수 있다.
도 5는 도 2의 V-V'에 따른 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치의 단면도이다. 도 5에서는 설명의 편의를 위해, 복수의 검사용 트랜지스터(TR) 중 제1 검사용 트랜지스터(TR1)에 대한 단면이 포함되도록 도시하였다.
도 5를 참조하면, 플렉서블 표시 장치(100)의 플렉서블 기판(110) 상에 편광판(150) 및 터치 필름(140)이 배치될 수 있다. 터치 필름(140)은 유기 발광 소자를 포함하는 표시부 및 비표시 영역(N/A)의 일부 영역에 배치되어 터치 입력을 센싱할 수 있다. 터치 필름(140)은 베이스 부재 및 베이스 부재에 배치된 터치 전극들을 포함할 수 있으나 이에 제한되지는 않는다. 편광판(150)은 터치 필름(140) 상에 배치되어, 플렉서블 표시 장치(100)로 입사하는 외부 광의 반사를 저감시킬 수 있다. 다만, 도 5에 도시된 플렉서블 표시 장치(100)의 구성은 예시적인 것이며, 터치 필름(140) 및 편광판(150)은 플렉서블 표시 장치(100)의 구현예에 따라 생략될 수도 있다.
도 5를 참조하면, 패드 영역(PA) 상에 제1 패드(PA1) 및 제2 패드(PA2)와 연결되는 플렉서블 필름(120)이 배치된다. 플렉서블 필름(120)은 베이스층(123), 제1 도전층(122), 제2 도전층(124), 제1 보호층(121) 및 제2 보호층(125)을 포함한다. 즉, 플렉서블 필름(120)은 2개의 도전층을 갖는 COF로 구현될 수 있다.
베이스층(123)은 플렉서블 필름(120)을 지지하는 층이다. 베이스층(123)은 절연 물질로 이루어질 수 있고, 예를 들어, 플렉서빌리티를 갖는 절연 물질로 이루어질 수 있다. 제1 도전층(122)은 베이스층(123)의 하면에 배치되고, 제2 도전층(124)은 베이스층(123)의 상면에 배치된다. 제1 도전층(122) 및 제2 도전층(124)은 전도성이 우수한 금속 물질로 이루어질 수 있다. 제1 보호층(121)은 제1 도전층(122)의 적어도 일부를 덮고, 제2 보호층(125)은 제2 도전층(124)의 적어도 일부를 덮는다. 제1 보호층(121) 및 제2 보호층(125)은 솔더 레지스트와 같은 절연 물질로 이루어질 수 있다. 플렉서블 필름(120)의 제1 도전층(122)과 제2 도전층(124)은 플렉서블 필름(120)과 연결되는 패드의 개수 및 배치에 따라 다양하게 패터닝될 수 있다. 도 5에서는 플렉서블 필름(120)이 패드 영역(PA)의 복수의 제1 패드(PA1) 및 복수의 제2 패드(PA2)와 연결되므로, 제1 도전층(122)이 복수의 제1 패드(PA1)와 연결된 복수의 제1 도전 패턴(122A) 및 복수의 제2 패드(PA2)와 연결된 복수의 제2 도전 패턴(122B)을 포함할 수 있다.
플렉서블 필름(120)은 패드 영역(PA)에서, 복수의 제1 패드(PA1), 복수의 제2 패드(PA2) 및 복수의 검사용 트랜지스터(TR) 상에 배치될 수 있다. 이에 따라, 복수의 검사용 트랜지스터(TR)는 플렉서블 필름(120)과 중첩할 수 있다.
플렉서블 필름(120)의 제1 도전층(122)의 복수의 제1 도전 패턴(122A) 및 복수의 제2 도전 패턴(122B) 각각을 복수의 제1 패드(PA1) 및 복수의 제2 패드(PA2)와 전기적으로 연결하기 위해, 플렉서블 필름(120)과 제1 패드(PA1) 및 제2 패드(PA2) 사이에는 전도성 입자를 포함하는 접착층(130)이 배치된다. 접착층(130)은 이방성 도전 필름인 ACF(Anisotropic Conductive Flim)일 수 있다. 제1 도전 패턴(122A)은 접착층(130)의 전도성 입자를 통해 제1 패드(PA1)와 전기적으로 연결되고, 제2 도전 패턴(122B)은 접착층(130)의 전도성 입자를 통해 제2 패드(PA2)와 전기적으로 연결된다.
이때, 복수의 검사용 트랜지스터(TR)를 플렉서블 필름(120) 및 접착층(130)과 절연시키기 위해, 유기막인 평탄화층(114)이 복수의 검사용 트랜지스터(TR)와 플렉서블 필름(120) 사이에 배치될 수 있다. 평탄화층(114)은 표시 영역(A/A)에 배치된 평탄화층(114)과 동일한 물질로 이루어질 수 있다.
종래의 플렉서블 표시 장치는 모니터 및 TV, 스마트폰, 시계 등 그 적용 범위가 다양해지고 있으며, 넓은 표시 면적을 가지면서도 감소된 부피 및 무게를 갖는 플렉서블 표시 장치에 대한 연구가 진행되고 있다. 그 중 한가지로 플렉서블 표시 장치의 베젤의 크기를 감소시키기 위한 연구가 진행되고 있으며, 베젤의 크기를 감소시키기 위해 기판의 비표시 영역을 벤딩하는 기술이 사용되고 있다. 그러나, 기판이 벤딩되는 과정에서 기판 상에 배치된 배선 또는 절연층 등에 크랙이 발생하여 불량이 될 수 있고, 특히, 벤딩 영역 인근에서 배선 또는 절연층에서 크랙 불량이 발생할 수 있다. 다만, 이와 같이 불량이 발생한 상태에서 구동 칩 등이 실장된 COF, FPCB 등의 플렉서블 필름이 부착되는 경우, 부착된 플렉서블 필름 또한 폐기되어야 하므로, 플렉서블 표시 장치의 제조 비용이 크게 증가할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)는 이러한 문제점을 해결하기 위해, 구동 칩이 등이 실장된 COF, FPCB 등의 플렉서블 필름(120)이 부착되기 전에, 기판 상에 배치된 배선의 크랙 여부를 검사할 수 있는 복수의 검사용 트랜지스터(TR)를 포함한다.
이때, 복수의 검사용 트랜지스터(TR)는 패드 영역(PA)에 배치될 수 있고, 복수의 검사용 트랜지스터(TR)는 패드 영역(PA)에서부터 제2 비표시 영역(NA2), 벤딩 영역(BA), 제1 비표시 영역(NA1) 및 표시 영역(A/A)에 이르기까지 플렉서블 표시 장치(100)의 전체 영역에 배치된 배선의 불량을 검사할 수 있다. 또한, 복수의 검사용 트랜지스터(TR)는 배선 및 절연층의 크랙이 발생할 가능성이 높은 벤딩 영역(BA)과 벤딩 영역(BA) 인근의 제1 비표시 영역(NA1), 제2 비표시 영역(NA2)까지도 검사할 수 있어, 비표시 영역(NA)의 모든 영역에 배치된 링크 배선(LL)에 대한 불량을 검사할 수 있다.
한편, 패드 영역(PA) 상에 배치되는 복수의 제1 패드(PA1) 및 복수의 제2 패드(PA2)에 구동 칩 등이 실장된 플렉서블 필름(120)이 부착되어, 플렉서블 필름(120)으로부터 표시 영역(A/A)의 구동을 위한 데이터 전압이 인가될 수 있다. 그리고, 복수의 제1 패드(PA1) 및 복수의 제2 패드(PA2)는 플렉서블 필름(120)이 부착될 수 있도록 일정 간격 이상 이격되어 패드 영역(PA) 상에 배치될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)에서는 비표시 영역(N/A)의 크기를 감소시키기 위해, 복수의 검사용 트랜지스터(TR)가 복수의 제1 패드(PA1) 및 복수의 제2 패드(PA2) 사이의 이격 공간에 배치된다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)는 복수의 검사용 트랜지스터(TR)가 비표시 영역(N/A) 상에 배치되기 위한 일정 영역을 추가로 더 배치할 필요가 없으므로, 종래의 플렉서블 표시 장치보다 비표시 영역(N/A)의 크기를 감소시킬 수 있는 효과가 있다.
이하에서는 상술한 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)의 효과에 대한 보다 상세한 설명을 위해 도 6을 함께 참조한다.
도 6은 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치의 단면도이다. 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치에서는 복수의 검사용 트랜지스터(TRX)가 벤딩 영역(BA)과 제2 비표시 영역(NA2) 사이에 배치되었다는 점을 제외하면 도 1 내지 도 5에 도시된 플렉서블 표시 장치(100)와 실질적으로 동일하다.
도 6을 참조하면, 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치의 복수의 검사용 트랜지스터(TRX)를 사용하여, 벤딩 영역(BA), 제1 비표시 영역(NA1)에 배치된 복수의 링크 배선(LL) 및 표시 영역(A/A)에 배치된 복수의 데이터 배선(DL) 및 복수의 픽셀의 불량을 검사할 수 있다. 그러나, 복수의 검사용 트랜지스터(TRX)에 인가되는 검사용 데이터 전압은 표시 영역(A/A)을 향하는 방향으로만 인가되므로, 복수의 검사용 트랜지스터(TRX)는 제2 비표시 영역(NA2) 및 패드 영역(PA)에 배치된 복수의 링크 배선(LL)의 제2 배선(LLB)의 불량은 검사할 수 없는 문제점이 있다.
반면, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)는 복수의 검사용 트랜지스터(TR1)가 패드 영역(PA)에 배치되므로, 표시 영역(A/A) 및 제1 비표시 영역(NA1), 벤딩 영역(BA)만이 아니라 제2 비표시 영역(NA2) 및 패드 영역(PA) 상에 배치된 복수의 링크 배선(LL)의 제2 배선(LLB)의 크랙까지 검사할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)는 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치와 비교하여 베젤의 크기를 보다 감소시킬 수 있다. 정량적인 비교를 위해 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)에서 복수의 검사용 트랜지스터(TR)가 차지하는 공간의 길이, 즉, 도 5에 도시된 제1 검사용 트랜지스터(TR1)가 차지하는 공간의 길이를 “A”로 가정한다. 또한, 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치에서 복수의 검사용 트랜지스터(TRX)가 차지하는 공간의 길이를 “X”로 가정하고, 공정상 필요한 제1 패드(PA1)와 제2 패드(PA2) 사이의 최소 이격 거리를 “Y”로 가정한다.
앞서 설명한 바와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)와 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치는 검사용 트랜지스터(TR, TRX)의 배치 위치만이 상이하므로, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)의 비표시 영역(NA)의 길이와 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치의 비표시 영역(NA)의 길이의 차이는 A - (X+Y) 이다.
먼저, 비교예에서 복수의 검사용 트랜지스터(TRX)가 차지하는 공간의 길이(X)가 제1 패드(PA1)와 제2 패드(PA2) 사이의 최소 이격 거리(Y)보다 큰 경우, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)에서 복수의 검사용 트랜지스터(TR)가 차지하는 공간의 길이(A)는 비교예에서 복수의 검사용 트랜지스터(TRX)가 차지하는 공간의 길이(X)와 동일하다. 따라서, 이 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)의 비표시 영역(NA)의 길이와 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치의 비표시 영역(NA)의 길이의 차이는 -Y이므로, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)의 비표시 영역(NA)의 길이가 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치의 비표시 영역(NA)의 길이보다 감소하였음을 확인할 수 있다.
다음으로, 비교예에서 복수의 검사용 트랜지스터(TRX)가 차지하는 공간의 길이(X)가 제1 패드(PA1)와 제2 패드(PA2) 사이의 최소 이격 거리(Y)보다 작은 경우, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)에서 복수의 검사용 트랜지스터(TR)가 차지하는 공간의 길이(A)는 비교예에서 제1 패드(PA1)와 제2 패드(PA2) 사이의 최소 이격 거리(Y)와 동일하다. 따라서, 이 경우 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)의 비표시 영역(NA)의 길이와 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치의 비표시 영역(NA)의 길이의 차이는 -X이므로, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)의 비표시 영역(NA)의 길이가 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치의 비표시 영역(NA)의 길이보다 감소하였음을 확인할 수 있다.
정리하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)를 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치와 비교하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치(100)는 비교예에 따른 플렉서블 표시 장치에 비해 더 넓은 영역에 배치된 배선의 불량을 검사할 수 있음과 동시에, 비표시 영역(N/A)의 길이도 더 줄일 수 있어 베젤을 저감할 수 있는 효과가 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치의 벤딩된 상태에 대한 단면도이다.
도 7을 참조하면, 플렉서블 표시 장치(100)는 백 플레이트(115, 116) 및 코팅층(119)이 더 포함할될 수 있다.
백 플레이트(115, 116)는 플렉서블 기판(110)의 표시 영역(A/A)에 대응하여 플렉서블 기판(110)의 아래에 배치되는 제1 백 플레이트(115) 및 플렉서블 필름(120)에 대응하여 배치되고, 벤딩되었을 때 제1 백 플레이트(115)의 하부에 위치하는 제2 백 플레이트(116)를 포함할 수 있다.
제1 백 플레이트(115) 및 제2 백 플레이트(116)는 플렉서블 기판(110)을 지지할 수 있다. 그리고, 제1 백 플레이트(115)는 플렉서블 기판(110)의 표시 영역(A/A) 상에 배치된 복수의 픽셀을 평면 상태로 유지시킬 수 있다.
한편, 플렉서블 표시 장치(100)의 비표시 영역(N/A)에는 수분의 침투 및 배선의 크랙 방지를 위한 코팅층(119)이 배치될 수 있고, 코팅층(119)은 적어도 벤딩 영역(BA)을 덮도록 배치될 수 있다. 즉, 코팅층(119)은 벤딩 영역(BA)과 벤딩 영역(BA) 인근의 제1 비표시 영역(NA1) 및 제2 비표시 영역(NA2)의 일부를 덮도록 배치될 수 있다. 코팅층(119)은 절연 물질로 이루어지며, 예를 들어, 유기물로 이루어질 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 플렉서블 표시 장치는 다음과 같이 설명될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치는 복수의 픽셀이 배치된 표시 영역, 표시 영역에서 연장된 제1 비표시 영역, 제1 비표시 영역에서 연장된 벤딩 영역, 벤딩 영역에서 연장된 제2 비표시 영역 및 제2 비표시 영역에서 연장되고, 복수의 패드가 배치된 패드 영역을 포함하는 플렉서블 기판, 복수의 픽셀에 데이터 전압을 인가하고, 표시 영역에 배치된 복수의 데이터 배선, 복수의 데이터 배선 각각과 복수의 패드 각각을 연결하도록, 제1 비표시 영역, 벤딩 영역, 제2 비표시 영역 및 패드 영역에 배치된 복수의 링크 배선 및 복수의 링크 배선 각각에 연결된 제1 전극을 포함하고, 패드 영역에 배치된 복수의 검사용 트랜지스터로 구성된다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 복수의 패드는 복수의 링크 배선 중 복수의 제1 링크 배선과 연결된 복수의 제1 패드 및 복수의 링크 배선 중 복수의 제2 링크 배선과 연결되고, 복수의 제1 패드보다 표시 영역에 인접하도록 배치된 복수의 제2 패드를 포함하고, 복수의 검사용 트랜지스터는 패드 영역 상에서 복수의 제1 패드와 복수의 제2 패드 사이에 배치될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 복수의 제2 링크 배선 각각은 복수의 제2 패드로부터 복수의 제1 패드 측으로 연장된 돌출 부분을 포함하고, 복수의 검사용 트랜지스터의 제1 전극은 돌출 부분에서 복수의 제2 링크 배선과 연결될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 복수의 검사용 트랜지스터의 게이트 전극에 연결된 복수의 인에이블 신호 배선, 복수의 검사용 트랜지스터의 소스 전극 또는 드레인 전극에 연결된 복수의 검사용 데이터 배선 및 복수의 인에이블 신호 배선 및 복수의 검사용 데이터 배선 각각과 연결되는 검사용 패드를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 플렉서블 표시 장치는 베이스층, 베이스층의 하면에 배치된 제1 도전층, 베이스층의 상면에 배치된 제2 도전층, 제1 도전층의 적어도 일부를 덮는 제1 보호층 및 제2 도전층의 적어도 일부를 덮는 제2 보호층을 포함하는 플렉서블 필름을 더 포함하고, 플렉서블 필름의 제1 도전층은 복수의 제1 패드와 연결된 복수의 제1 도전 패턴 및 복수의 제2 패드와 연결된 복수의 제2 도전 패턴을 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 플렉서블 필름은, 복수의 제1 패드, 복수의 제2 패드 및 복수의 검사용 트랜지스터 상에 배치되고, 복수의 검사용 트랜지스터와 플렉서블 필름 사이에 유기막이 더 배치될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 검사용 트랜지스터는 복수의 픽셀의 점등 여부를 검사하기 위한 트랜지스터일 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 검사용 트랜지스터는 상기 제1 비표시 영역, 상기 벤딩 영역 및 상기 제2 비표시 영역에 배치된 상기 복수의 링크 배선의 불량을 검출하기 위한 트랜지스터일 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 표시 영역은 모서리가 둥근(rounded)형상을 가질 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제1 비표시 영역의 평균 폭은 제2 비표시 영역의 평균 폭보다 크고, 표시 영역의 평균 폭보다 작을 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 제1 비표시 영역에 배치된 복수의 링크 배선 간의 평균 간격은, 제2 비표시 영역에 배치된 복수의 링크 배선 간의 평균 간격보다 클 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 플렉서블 표시 장치는 표시 영역, 표시 영역에서 연장되고 벤딩 영역을 갖는 비표시 영역을 포함하는 플렉서블 기판, 표시 영역에 배치된 복수의 데이터 배선, 복수의 데이터 배선 각각과 연결되고, 비표시 영역에 배치되고, 벤딩 영역에 배치된 벤딩 패턴을 갖는 복수의 링크 배선, 복수의 링크 배선 각각과 연결된 복수의 패드 및 복수의 링크 배선과 전기적으로 연결되고, 벤딩 패턴 및 복수의 패드 중 복수의 패드에 보다 인접하게 배치된 복수의 검사용 트랜지스터를 포함한다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 복수의 패드와 전기적으로 연결되고, 도전층을 포함하는 플렉서블 필름을 더 포함하고, 복수의 검사용 트랜지스터는 플렉서블 필름과 중첩할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 플렉서블 필름의 도전층과 복수의 패드를 전기적으로 연결하기 위한 전도성 입자를 포함하는 접착층을 더 포함하고, 복수의 검사용 트랜지스터는 접착층과 중첩할 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 벤딩 패턴은 다이아몬드 형상, 마름모 형상, 지그재그 형상, 원형 형상 중 적어도 하나의 형상을 갖는 도전 패턴이 반복적으로 배치된 패턴일 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 복수의 패드는, 일렬로 배열된 복수의 제1 패드 및 복수의 제1 패드와 교대로 배치되며, 복수의 제1 패드보다 벤딩 영역에 인접하도록 일렬로 배열된 복수의 제2 패드를 포함하고, 복수의 검사용 트랜지스터는 복수의 제1 패드와 복수의 제2 패드 사이에 배치될 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100 : 플렉서블 표시 장치
110 : 플렉서블 기판
114 : 평탄화층
115 : 제1 백 플레이트
116 : 제2 백 플레이트
119 : 코팅층
120 : 플렉서블 필름
121 : 제1 보호층
122 : 제1 도전층
123 : 베이스층
124 : 제2 도전층
125 : 제2 보호층
130 : 접착층
140 : 터치 필름
150 : 편광판
A/A : 표시 영역
BA : 벤딩 영역
BP : 벤딩 패턴
DL : 데이터 배선
EL : 인에이블 신호 배선
EP : 인에이블 신호 패드
LL : 링크 배선
LL1 : 제1 링크 배선
LL2 : 제2 링크 배선
LL2 : 제2 링크 배선의 돌출 부분
LLA : 제1 배선
LLB : 제2 배선
N/A : 비표시 영역
NA1 : 제1 비표시 영역
NA2 : 제2 비표시 영역
PA : 패드 영역
PA1 : 제1 패드
PA2 : 제2 패드
PA3 : 검사용 패드
PXn : 제n 픽셀 라인
TP : 검사용 데이터 패드
TL : 검사용 데이터 배선
TLn : 제n 검사용 데이터 배선
TPn : 제n 검사용 데이터 패드
TR : 검사용 트랜지스터
TRn : 제n 검사용 트랜지스터

Claims (16)

  1. 복수의 픽셀이 배치된 표시 영역, 상기 표시 영역에서 연장된 제1 비표시 영역, 상기 제1 비표시 영역에서 연장된 벤딩 영역, 상기 벤딩 영역에서 연장된 제2 비표시 영역 및 상기 제2 비표시 영역에서 연장되고, 복수의 패드가 배치된 패드 영역을 포함하는 플렉서블 기판;
    상기 복수의 픽셀에 데이터 전압을 인가하고, 상기 표시 영역에 배치된 복수의 데이터 배선;
    상기 복수의 데이터 배선 각각과 상기 복수의 패드 각각을 연결하도록, 상기 제1 비표시 영역, 상기 벤딩 영역, 상기 제2 비표시 영역 및 상기 패드 영역에 배치된 복수의 링크 배선; 및
    상기 복수의 링크 배선 각각에 연결된 제1 전극을 포함하고, 상기 패드 영역에 배치된 복수의 검사용 트랜지스터를 포함하는, 플렉서블 표시 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 패드는,
    상기 복수의 링크 배선 중 복수의 제1 링크 배선과 연결된 복수의 제1 패드; 및
    상기 복수의 링크 배선 중 복수의 제2 링크 배선과 연결되고, 상기 복수의 제1 패드보다 상기 표시 영역에 인접하도록 배치된 복수의 제2 패드를 포함하고,
    상기 복수의 검사용 트랜지스터는 상기 패드 영역 상에서 상기 복수의 제1 패드와 상기 복수의 제2 패드 사이에 배치된, 플렉서블 표시 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 복수의 제2 링크 배선 각각은 상기 복수의 제2 패드로부터 상기 복수의 제1 패드 측으로 연장된 돌출 부분을 포함하고,
    상기 복수의 검사용 트랜지스터의 상기 제1 전극은 상기 돌출 부분에서 상기 복수의 제2 링크 배선과 연결된, 플렉서블 표시 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 복수의 검사용 트랜지스터의 게이트 전극에 연결된 복수의 인에이블 신호 배선;
    상기 복수의 검사용 트랜지스터의 소스 전극 또는 드레인 전극에 연결된 복수의 검사용 데이터 배선; 및
    상기 복수의 인에이블 신호 배선 및 상기 복수의 검사용 데이터 배선 각각과 연결되는 검사용 패드를 더 포함하는, 플렉서블 표시 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    베이스층;
    상기 베이스층의 하면에 배치된 제1 도전층;
    상기 베이스층의 상면에 배치된 제2 도전층;
    상기 제1 도전층의 적어도 일부를 덮는 제1 보호층; 및
    상기 제2 도전층의 적어도 일부를 덮는 제2 보호층을 포함하는 플렉서블 필름을 더 포함하고,
    상기 플렉서블 필름의 상기 제1 도전층은 상기 복수의 제1 패드와 연결된 복수의 제1 도전 패턴 및 상기 복수의 제2 패드와 연결된 복수의 제2 도전 패턴을 포함하는, 플렉서블 표시 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 플렉서블 필름은, 상기 복수의 제1 패드, 상기 복수의 제2 패드 및 상기 복수의 검사용 트랜지스터 상에 배치되고,
    상기 복수의 검사용 트랜지스터와 상기 플렉서블 필름 사이에 유기막이 더 배치되는, 플렉서블 표시 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 검사용 트랜지스터는 상기 복수의 픽셀의 점등 여부를 검사하기 위한 트랜지스터인, 플렉서블 표시 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 검사용 트랜지스터는 상기 제1 비표시 영역, 상기 벤딩 영역 및 상기 제2 비표시 영역에 배치된 상기 복수의 링크 배선의 불량을 검출하기 위한 트랜지스터인, 플렉서블 표시 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 표시 영역은 모서리가 둥근(rounded) 형상을 갖는, 플렉서블 표시 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제1 비표시 영역의 평균 폭은 상기 제2 비표시 영역의 평균 폭보다 크고, 상기 표시 영역의 평균 폭보다 작은, 플렉서블 표시 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 제1 비표시 영역에 배치된 상기 복수의 링크 배선 간의 평균 간격은, 상기 제2 비표시 영역에 배치된 상기 복수의 링크 배선 간의 평균 간격보다 큰, 플렉서블 표시 장치.
  12. 표시 영역, 상기 표시 영역에서 연장되고 벤딩 영역을 갖는 비표시 영역을 포함하는 플렉서블 기판;
    상기 표시 영역에 배치된 복수의 데이터 배선;
    상기 복수의 데이터 배선 각각과 연결되고, 상기 비표시 영역에 배치되고, 상기 벤딩 영역에 배치된 벤딩 패턴을 갖는 복수의 링크 배선;
    상기 복수의 링크 배선 각각과 연결된 복수의 패드; 및
    상기 복수의 링크 배선과 전기적으로 연결되고, 상기 벤딩 패턴 및 상기 복수의 패드 중 상기 복수의 패드에 보다 인접하게 배치된 복수의 검사용 트랜지스터를 포함하는, 플렉서블 표시 장치.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 복수의 패드와 전기적으로 연결되고, 도전층을 포함하는 플렉서블 필름을 더 포함하고,
    상기 복수의 검사용 트랜지스터는 상기 플렉서블 필름과 중첩하는, 플렉서블 표시 장치.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 플렉서블 필름의 도전층과 상기 복수의 패드를 전기적으로 연결하기 위한 전도성 입자를 포함하는 접착층을 더 포함하고,
    상기 복수의 검사용 트랜지스터는 상기 접착층과 중첩하는, 플렉서블 표시 장치.
  15. 제12항에 있어서,
    상기 벤딩 패턴은 다이아몬드 형상, 마름모 형상, 지그재그 형상, 원형 형상 중 적어도 하나의 형상을 갖는 도전 패턴이 반복적으로 배치된 패턴인, 플렉서블 표시 장치.
  16. 제12항에 있어서,
    상기 복수의 패드는,
    일렬로 배열된 복수의 제1 패드; 및
    상기 복수의 제1 패드와 교대로 배치되며, 상기 복수의 제1 패드보다 상기 벤딩 영역에 인접하도록 일렬로 배열된 복수의 제2 패드를 포함하고,
    상기 복수의 검사용 트랜지스터는 상기 복수의 제1 패드와 상기 복수의 제2 패드 사이에 배치된, 플렉서블 표시 장치.
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