KR102228098B1 - 3차원 가상 의상에 대응하는 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법 및 장치 - Google Patents

3차원 가상 의상에 대응하는 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

일 실시예에 따른 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법 및 장치는 의상의 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들을 입력받고, 공간에서 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정하고, 영역의 속성을 기초로 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 측정하며, 선분의 길이를 출력한다.

Description

3차원 가상 의상에 대응하는 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법 및 장치{METHODE AND APPARATUS OF MEASURING MEASUREMENT OF TWO DIMENSIONAL PATTERN CORRESPONDING TO THREE DIMENSIONAL VIRTUAL CLOTHING}
실시예들은 3차원 가상 의상에 대응하는 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
의상(clothes)은 사람이 착용한 경우에 3차원으로 보이지만, 실제로는 2차원의 패턴(pattern)에 따라 재단된 천(fabric) 조각의 조합에 해당하므로 2차원에 가깝다. 의상의 재료가 되는 천은 유연(flexible)하기 때문에 착용한 사람의 신체 모양이나 움직임에 따라 그 모습이 시시각각 달라질 수 있다. 예를 들어, 중력, 바람, 또는 신체와의 충돌에 의해서 착용한 의상이 흘러내리거나, 주름이 지고 접힐 수 있다.
다양한 경우에 3차원 가상 의상의 임의의 두 점 사이의 길이를 측정할 필요가 있지만, 그 길이를 정확하게 측정하는 것은 다양한 이유로 용이하지 않다. 예를 들어, 가상 의상이 3차원으로 시뮬레이션(simulation)된 상태에서 두 점 사이의 거리(또는 길이)를 재는 경우, 가상 의상을 이루는 메쉬의 다각형들은 원단의 물성 및 물리 법칙을 반영된 상태로 중력의 영향을 받아 어느 정도 늘어난 상태이기 때문에 원단의 정확한 길이를 구하기 어렵다.
전술한 배경기술은 발명자가 본원의 개시 내용을 도출하는 과정에서 보유하거나 습득한 것으로서, 반드시 본 출원 전에 일반 공중에 공개된 공지기술이라고 할 수는 없다.
일 실시예에 따르면, 3차원 가상 의상에서 두 점 사이의 길이를 재는 대신에, 3차원 가상 의상에 대응하는 2차원 패턴 상에서 또는 2차원 패턴이 표시되는 공간 상에서의 길이를 측정함으로써 희망하는 두 점 간의 길이를 용이하게 측정할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 2차원 패턴의 변형률에 따라 2차원 패턴의 두 점 사이의 선분의 길이를 변경함으로써 변경된 2차원 패턴에서 길이를 측정하고자 하는 두 점을 다시 설정하지 않고도 변경된 두 점 사이의 선분의 길이를 측정할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 2차원 패턴이 표현되는 공간에서 2차원 패턴 내부의 선분의 길이, 2차원 패턴 외부의 선분의 길이, 해당 공간에서 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역과 2차원 패턴에 걸친 선분의 길이 등 다양한 치수를 용이하게 측정할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법은 의상의 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들(points)을 입력받는 단계; 상기 공간에서 상기 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정하는 단계; 상기 영역의 속성을 기초로, 상기 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 측정하는 단계; 및 상기 선분의 길이를 출력하는 단계를 포함한다.
상기 영역의 속성을 결정하는 단계는 상기 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조를 기초로, 상기 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조는 상기 복수의 점들 각각이 위치하는 패턴 조각, 상기 복수의 점들 각각이 위치하는 상기 패턴 조각에서의 라인, 및 상기 패턴 조각에서의 라인 상의 지점 중 적어도 하나에 대한 정보를 링크(link) 형태로 포함할 수 있다.
상기 영역의 속성은 상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각 에 해당하는 제1 속성; 상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 상이한 제1 패턴 조각 및 제2 패턴 조각 에 해당하는 제2 속성; 상기 복수의 점들 중 시작점과 종료점이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각의 외곽선 호(arc)에 해당하는 제3 속성; 상기 복수의 점들 중 상기 시작점과 상기 종료점 중 어느 하나가 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 임의의 패턴 조각에 해당하고, 상기 시작점과 상기 종료점 중 나머지 하나가 속한 영역이 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제4 속성; 및 상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제5 속성 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상기 영역의 속성이 제1 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는 상기 동일한 패턴 조각에 입력된 상기 복수의 점들 중 시작점과 종료점 간을 연결한 제1 선분의 제1 길이를 측정하는 단계; 및 상기 제1 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 영역의 속성이 제2 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는 상기 제1 패턴 조각에 입력된 시작점과 상기 제2 패턴 조각에 입력된 종료점 간을 연결한 제2 선분의 제2 길이를 측정하는 단계; 상기 제2 길이에서, 상기 제2 선분이 상기 제1 패턴 조각의 제1 외곽선과 교차되는 제1 교점 및 상기 제2 선분이 상기 제2 패턴 조각의 제2 외곽선과 교차되는 제2 교점 사이를 연결한 연결선의 길이를 뺀 제3 길이를 측정하는 단계; 및 상기 제3 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법은 상기 시작점 및 상기 종료점 중 어느 한 점에 대한 변경된 위치를 입력받는 단계를 더 포함하고, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는 상기 어느 한 점에 대한 변경된 위치를 기준으로 상기 선분의 길이를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 영역의 속성이 제3 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는 상기 시작점과 상기 종료점 각각으로부터 연장되고, 서로 직각으로 이루는 제3 선분의 길이 및 제4 선분의 길이를 측정하는 단계; 상기 제3 선분의 길이 및 상기 제4 선분의 길이를 기초로, 상기 외곽선 호의 길이를 산출하는 단계; 및 상기 외곽선 호의 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 영역의 속성이 제4 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는 상기 복수의 점들 중 상기 임의의 패턴 조각에 해당하는 점으로부터 상기 임의의 패턴 조각의 외곽선과 교차되는 교점 사이를 연결한 내부선의 길이를 측정하는 단계; 상기 교점으로부터 상기 복수의 점들 중 상기 나머지 영역에 속하는 점 사이를 연결한 외부선의 길이를 측정하는 단계; 및 상기 내부선의 길이, 상기 외부선의 길이, 상기 내부선의 길이와 상기 외부선의 길이의 합 중 적어도 하나의 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 영역의 속성이 제5 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는 상기 나머지 영역에 입력된 복수의 점들 중 시작점과 종료점을 연결한 제5 선분의 제5 길이를 측정하는 단계; 및 상기 제5 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법은 상기 2차원 패턴의 변형률을 입력받는 단계; 및 상기 2차원 패턴의 변형률에 따라 상기 선분의 길이를 변형하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 복수의 점들을 입력받는 단계는 상기 복수의 점들 중 미리 설정된 제1 입력 패턴 에 따라 입력되는 제1 점을 시작점으로 설정하는 단계; 상기 복수의 점들 중 상기 시작점의 설정 이후에, 상기 제1 입력 패턴에 따라 입력되는 적어도 하나의 제2 점을 적어도 하나의 중간점으로 설정하는 단계; 및 상기 복수의 점들 중 상기 시작점 또는 상기 적어도 하나의 중간점의 설정 이후에, 미리 설정된 제2 입력 패턴 에 따라 입력되는 제3 점을 종료점으로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 2차원 패턴은 복수의 다각형들을 포함하는 메쉬로 모델링되고, 상기 복수의 점들 중 상기 2차원 패턴의 내부 및 상기 2차원 패턴의 외곽선에 입력된 적어도 하나의 점은 상기 복수의 다각형들에 매핑될 수 있다.
상기 2차원 패턴은 복수의 다각형들을 포함하는 메쉬로 모델링되고, 상기 복수의 점들 중 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 입력된 적어도 하나의 점은 상기 2차원 패턴과의 상대적인 위치로 정의될 수 있다.
일 실시예에 따르면, 컴퓨터 프로그램은 하드웨어와 결합되어 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법을 실행시키기 위하여 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 저장된다.
일 실시예에 따르면, 의상의 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들(points)을 입력받는 사용자 인터페이스; 상기 공간에서 상기 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정하고, 상기 영역의 속성을 기초로, 상기 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 측정하는 프로세서; 및 상기 선분의 길이를 출력하는 출력 장치를 포함한다.
상기 프로세서는 상기 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조를 기초로, 상기 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정할 수 있다.
상기 영역의 속성은 상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각에 해당하는 제1 속성; 상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 상이한 제1 패턴 조각 및 제2 패턴 조각에 해당하는 제2 속성; 상기 복수의 점들 중 시작점과 종료점이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각의 외곽선 호에 해당하는 제3 속성; 상기 복수의 점들 중 상기 시작점과 상기 종료점 중 어느 하나가 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 임의의 패턴 조각에 해당하고, 상기 시작점과 상기 종료점 중 나머지 하나가 속한 영역이 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제4 속성; 및 상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제5 속성 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
상기 프로세서는 상기 제1 패턴 조각에 입력된 시작점과 상기 제2 패턴 조각에 입력된 종료점 간을 연결한 제2 선분의 제2 길이를 측정하고, 상기 제2 길이에서, 상기 제2 선분이 상기 제1 패턴 조각의 제1 외곽선과 교차되는 제1 교점 및 상기 제2 선분이 상기 제2 패턴 조각의 제2 외곽선과 교차되는 제2 교점 사이를 연결한 연결선의 길이를 뺀 제3 길이를 측정하며, 상기 제3 길이를 상기 선분의 길이로 설정할 수 있다.
상기 프로세서는 상기 시작점과 상기 종료점 각각으로부터 연장되고, 서로 직각으로 이루는 제3 선분의 길이 및 제4 선분의 길이를 측정하고, 상기 제3 선분의 길이 및 상기 제4 선분의 길이를 기초로, 상기 외곽선 호의 길이를 산출하며, 상기 외곽선 호의 길이를 상기 선분의 길이로 설정할 수 있다.
일 측에 따르면, 3차원 가상 의상에서 두 점 사이의 길이를 재는 대신에, 3차원 가상 의상에 대응하는 2차원 패턴 상에서 또는 2차원 패턴이 표시되는 공간 상에서의 길이를 측정함으로써 희망하는 두 점 간의 길이를 용이하게 측정할 수 있다.
일 측에 따르면, 2차원 패턴의 변형률에 따라 2차원 패턴의 두 점 사이의 선분의 길이를 변경함으로써 변경된 2차원 패턴에서 길이를 측정하고자 하는 두 점을 다시 설정하지 않고도 변경된 두 점 사이의 선분의 길이를 측정할 수 있다.
일 측에 따르면, 2차원 패턴이 표현되는 공간에서 2차원 패턴 내부의 선분의 길이, 2차원 패턴 외부의 선분의 길이, 해당 공간에서 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역과 2차원 패턴에 걸친 선분의 길이 등 다양한 치수를 용이하게 측정할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법을 나타낸 흐름도.
도 2a 및 2b는 실시예들에 따라 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들을 입력받는 과정을 설명하기 위한 도면.
도 3은 일 실시예에 따라 2차원 패턴의 다양한 영역에서 측정된 치수 목록을 나타내는 사용자 인터페이스 화면의 일 예시를 도시한 도면.
도 4는 일 실시예에 따른 영역의 속성이 제2 속성인 경우에 선분의 길이를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면.
도 5a 및 도 5b는 일 실시예에 따라 제2 속성의 영역에 속한 어느 한 점이 이동된 경우에 선분의 길이를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면들
도 6은 일 실시예에 따른 영역의 속성이 제3속성인 경우에 선분의 길이를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면.
도 7은 일 실시예에 따른 2차원 패턴의 치수를 측정하는 장치의 블록도.
이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 실시예들을 상세하게 설명한다. 그러나, 실시예들에는 다양한 변경이 가해질 수 있어서 특허출원의 권리 범위가 이러한 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 실시예들에 대한 모든 변경, 균등물 내지 대체물이 권리 범위에 포함되는 것으로 이해되어야 한다.
실시예에서 사용한 용어는 단지 설명을 목적으로 사용된 것으로, 한정하려는 의도로 해석되어서는 안된다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
또한, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 도면 부호에 관계없이 동일한 구성 요소는 동일한 참조부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 실시예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 실시예의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
또한, 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
어느 하나의 실시 예에 포함된 구성요소와, 공통적인 기능을 포함하는 구성요소는, 다른 실시 예에서 동일한 명칭을 사용하여 설명하기로 한다. 반대되는 기재가 없는 이상, 어느 하나의 실시 예에 기재한 설명은 다른 실시 예에도 적용될 수 있으며, 중복되는 범위에서 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 일 실시예에 따른 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법을 나타낸 흐름도이다. 도 1을 참조하면, 일 실시예에 따른 2차원 패턴의 치수를 측정하는 장치(이하, '측정 장치')는 의상의 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들(points)을 입력받는다(110). 본 명세서에서 '의상'은 예를 들어, 3차원 가상 의상에 해당하며, 2차원 패턴에 대응되는 의상일 수 있다. '2차원 패턴'은 컴퓨터 프로그램에 의해 가상으로 제작되는 2차원의 평면의 패턴에 해당할 수 있다. 2차원 패턴은 예를 들어, 사용자가 3차원 아바타에 착장시키고자 하는 의상의 제작에 이용되는 의상 패턴일 수 있다. 2차원 패턴은 3차원 아바타의 각 신체 부분(예를 들어, 소매, 몸통(앞, 뒤), 목, 다리 등)에 해당하는 패턴 조각들을 포함할 수 있다. 또한, '착장(draping)'은 컴퓨터 프로그램에 의해 2차원 패턴 또는 2차원 패턴 조각들을 결합하여 3차원 의상을 3차원 아바타에 입히는 과정으로 이해될 수 있다.
일 실시예에 따른 2차원 패턴은 3차원 가상 의상(virtual clothes)의 시뮬레이션을 위하여 복수의 다각형(예를 들어, 삼각형)들을 포함하는 메쉬(mesh)로 모델링될 수 있다. 삼각형의 세 꼭지점은 질량을 가지고 있는 점(point mass)이며, 삼각형의 각 변은 그 질량을 연결하는 탄성을 가지고 있는 스프링들로 표현될 수 있다. 이에 따라, 2차원 패턴은 예를 들어, 질량-스프링 모델(Mass-Spring Model)에 의해 모델링될 수 있다. 여기서, 스프링들은 사용되는 천(fabric)의 물성에 따라 예를 들어, 신축(stretch), 비틀림(shear), 및 굽힘(bending)에 대한 각 저항값(resist)을 가질 수 있다. 각 꼭지점들은 중력 등과 같은 외부적인 힘(external force)과 신축, 비틀림, 및 굽힘의 내부적인 힘(internal force)의 작용에 따라 움직일 수 있다. 외부적인 힘과 내부적인 힘을 계산하여 각 꼭지점에 가해지는 힘을 구하면, 각 꼭지점의 변위 및 움직임의 속도를 구할 수 있다. 그리고 각 시점(time step)의 다각형의 꼭지점들의 움직임을 통하여 가상 의상의 움직임을 시뮬레이션할 수 있다. 메쉬로 이루어진 2차원의 가상 의상 패턴들을 3차원의 아바타에 착장(draping)시키면 물리 법칙에 기반한 자연스러운 모습의3차원 가상 의상을 구현할 수 있다.
일 실시예에 따른 2차원 패턴은 복수의 다각형들을 포함하는 메쉬로 모델링되고, 복수의 점들 중 2차원 패턴의 내부 및 2차원 패턴의 외곽선에 입력된 적어도 하나의 점은 복수의 다각형들에 매핑될 수 있다. 또한, 복수의 점들 중 공간에서 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 입력된 적어도 하나의 점은 2차원 패턴과의 상대적인 위치로 정의될 수 있다.
단계(110)에서, 측정 장치는 예를 들어, 사용자 인터페이스 화면을 통해 공간 상에서 치수 또는 길이를 측정하기 위한 복수의 점들을 입력받을 수 있다. 단계(110)에서 측정 장치가 치수 측정을 위해 복수의 점들을 입력받는 방법은 아래의 도 2를 참조하여 구체적으로 설명한다.
측정 장치는 공간에서 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정한다(120). 복수의 점들이 속한 영역은 예를 들어, 2차원 패턴의 내부일 수도 있고, 2차원 패턴의 외부일 수도 있으며, 2차원 패턴의 내부 및 외부 둘 다에 걸쳐 있을 수도 있다.
단계(120)에서, 측정 장치는 예를 들어, 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조를 기초로, 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정할 수 있다. 이때, 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조는 예를 들어, 복수의 점들 각각이 위치하는 패턴 조각, 복수의 점들 각각이 위치하는 패턴 조각에서의 라인, 및 패턴 조각에서의 라인 상의 지점 중 적어도 하나에 대한 정보를 링크(link) 형태로 포함할 수 있다. 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조는 예를 들어, 링크드 리스트(linked list), 트리(tree) 또는 테이블(table)의 형태로 복수의 점들 각각에 대응하는 정보를 저장할 수 있다. 복수의 점들 각각에 대응하는 정보는 예를 들어, 복수의 점들 각각이 위치하는 패턴 조각에 대한 식별 정보, 복수의 점들 각각이 위치하는 패턴 조각에서의 라인의 식별 정보, 패턴 조각에서의 라인 상의 지점의 좌표 등을 포함할 수 있으며, 반드시 이에 한정되지는 않는다.
영역의 속성은 예를 들어, 복수의 점들 각각이 속한 영역이 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각에 해당하는 제1 속성, 복수의 점들 각각이 속한 영역이 2차원 패턴 중 상이한 제1 패턴 조각 및 제2 패턴 조각에 해당하는 제2 속성, 복수의 점들 중 시작점과 종료점이 속한 영역이 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각의 외곽선 호(arc)에 해당하는 제3 속성, 복수의 점들 중 시작점과 종료점 중 어느 하나가 속한 영역이 2차원 패턴 중 임의의 패턴 조각에 해당하고, 시작점과 종료점 중 나머지 하나가 속한 영역이 공간에서 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제4 속성, 및 복수의 점들 각각이 속한 영역이 공간에서 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제5 속성 등을 포함할 수 있다.
예를 들어, 사용자로부터 2 개의 점들(점 A, 및 점 B)이 입력되었다고 하자. 측정 장치는 점 A및 점 B 각각에 대응하는 자료 구조로부터 점 A가 제3패턴 조각의 제2 라인 상에 있으며, 그 좌표는 (25, 43)이고, 점 B는 제2 패턴 조각의 제1 라인에 인접하며, 그 좌표는 (02, 40)임을 파악할 수 있다. 측정 장치는 2개의 점들(점 A, 및 점 B)에 대응하는 자료 구조로부터 2개의 점들(점 A, 및 점 B) 각각이 속한 영역이 상이한 패턴 조각들임을 파악할 수 있다. 측정 장치는 2 개의 점들(점 A, 및 점 B)이 속한 영역의 속성을 제2 속성으로 결정할 수 있다.
실시예에 따라서 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조는 복수의 점들 각각이 위치하는 상기 패턴 조각에서의 라인이 외곽선 호(arc)에 해당하는지 여부에 대한 정보를 더 포함할 수도 있다.
예를 들어, 사용자로부터 2개의 점들(점 F, 및 점 G)가 입력되었다고 하자. 측정 장치는 점 F, 및 점 G 각각에 대응하는 자료 구조로부터 점 F는 2차원 패턴 중 하나인 제2 패턴 조각에서 외곽선 호에 해당하는 제1 라인 상에 있고, 점 G 또한 제2 패턴 조각에서 외곽선 호에 해당하는 제1 라인 상에 있음을 파악할 수 있다. 측정 장치는 2개의 점들(점 F, 및 점 G)이 속한 영역의 속성을 제3 속성으로 결정할 수 있다.
또는, 사용자로부터 3개의 점들(점 C, 점 D, 및 점 E)가 입력되었다고 하자. 측정 장치는 점 C, 점 D, 점 E 각각에 대응하는 자료 구조로부터 점 C와 점 D가 2차원 패턴 중 하나인 제1 패턴 조각에 있고, 점 E는 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 있음을 파악할 수 있다. 측정 장치는 3개의 점들(점 C, 점 D, 및 점 E)이 속한 영역의 속성을 제4 속성으로 결정할 수 있다.
이와 같이, 측정 장치는 복수의 점들 각각에 대응하여 저장된 자료 구조로부터 파악된 정보를 통해 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정할 수 있다.
측정 장치는 단계(120)에서 결정한 영역의 속성을 기초로, 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 측정한다(130).
예를 들어, 영역의 속성이 제1 속성으로 결정된 경우, 측정 장치는 동일한 패턴 조각에 입력된 복수의 점들 중 시작점과 종료점 간을 연결한 제1 선분의 제1 길이를 측정할 수 있다. 측정 장치는 제1 길이를 선분의 길이로 설정할 수 있다.
예를 들어, 영역의 속성이 제2 속성으로 결정된 경우, 측정 장치는 제1 패턴 조각에 입력된 시작점과 제2 패턴 조각에 입력된 종료점 간을 연결한 제2 선분의 제2 길이를 측정할 수 있다. 측정 장치는 제2 길이에서, 제2 선분이 제1 패턴 조각의 제1 외곽선과 교차되는 제1 교점 및 제2 선분이 제2 패턴 조각의 제2 외곽선과 교차되는 제2 교점 사이를 연결한 연결선의 길이를 뺀 제3 길이를 측정할 수 있다. 측정 장치는 제3 길이를 선분의 길이로 설정할 수 있다. 단계(130)에서 영역의 속성이 제2 속성으로 결정된 경우, 선분의 길이를 측정하는 방법은 아래의 도 4 및 도 5a를 참조하여 구체적으로 설명한다.
예를 들어, 영역의 속성이 제3 속성으로 결정된 경우, 측정 장치는 시작점과 종료점 각각으로부터 연장되고, 서로 직각으로 이루는 제3 선분의 길이 및 제4 선분의 길이를 측정할 수 있다. 측정 장치는 제3 선분의 길이 및 제4 선분의 길이를 기초로, 외곽선 호의 길이를 산출할 수 있다. 측정 장치는 외곽선 호의 길이를 선분의 길이로 설정할 수 있다. 단계(130)에서 영역의 속성이 제3 속성으로 결정된 경우, 선분의 길이를 측정하는 방법은 아래의 도 6을 참조하여 구체적으로 설명한다.
예를 들어, 영역의 속성이 제4 속성으로 결정된 경우, 측정 장치는 복수의 점들 중 임의의 패턴 조각에 해당하는 점으로부터 임의의 패턴 조각의 외곽선과 교차되는 교점 사이를 연결한 내부선의 길이를 측정할 수 있다. 측정 장치는 교점으로부터 복수의 점들 중 나머지 영역에 속하는 점 사이를 연결한 외부선의 길이를 측정할 수 있다. 측정 장치는 내부선의 길이, 외부선의 길이, 내부선의 길이와 외부선의 길이의 합 중 적어도 하나의 길이를 선분의 길이로 설정할 수 있다.
또는, 예를 들어, 영역의 속성이 제5 속성으로 결정된 경우, 측정 장치는 나머지 영역에 입력된 복수의 점들 중 시작점과 종료점을 연결한 제5 선분의 제5 길이를 측정할 수 있다. 측정 장치는 제5 길이를 선분의 길이로 설정할 수 있다.
측정 장치는 단계(130)에서 측정한 선분의 길이를 출력한다(140). 측정 장치는 예를 들어, 착장 시뮬레이션 된 3차원 의상에 대응하는 2차원 패턴 상의 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 디스플레이의 화면 상에 출력할 수도 있다. 실시예에 따라서, 측정 장치는 3차원 의상을 구성하는 2차원 패턴을 종이 또는 옷감 등의 별도의 출력물에 출력하는 2차원 패턴 출력 장치일 수 있다. 이 경우, 측정 장치는 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 2차원 패턴 상에 출력할 수도 있다.
도 2a 및 2b는 실시예들에 따라 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들을 입력받는 과정을 설명하기 위한 도면이다. 도 2a및 2b를 참조하면, 일 실시예에 따른 2차원 패턴이 표현되는 공간을 나타내 화면(210)에서 및 2차원 패턴의 다수의 패턴 조각들에서 복수의 점들을 입력받는 과정들을 나타낸 화면들(210, 230, 570, 270)이 도시된다.
예를 들어, 3차원의 가상 의상은 여러 겹(layer)의 패턴 조각들로 구성되는 2차원 패턴으로 이루어질 수 있다. 때문에, 2차원 패턴이 표현되는 공간에서 적어도 하나의 패턴 조각에 대한 수정 작업을 할 때에는 각 패턴 조각을 겹치지 않게 배열하여 작업하는 것이 효율적이다. 이러한 경우 패턴 조각 사이의 공백을 고려해야 하기 때문에 서로 다른 패턴 조각 상의 두 점 간의 거리를 직관적으로 재는 데에는 어려움이 있었다. 이 밖에도, 서로 다른 패턴 조각 상의 임의의 두 점 사이의 길이를 잰 뒤 해당 패턴 조각을 수정하는 경우, 수정된 패턴 조각 상에서의 거리를 재기 위해서 두 점을 다시 설정해야 하는 번잡함이 있다. 이 밖에도, 필요에 따라서, 패턴 조각 내부의 두 점 간의 길이를 측정하거나, 또는 패턴 조각 외부의 두 점 간의 길이를 측정하는 등 다양한 영역의 치수들을 측정하고자 하는 니즈가 있다.
일 실시예에 따르면, 사용자는 우선, 거리 및/또는 길이를 측정하고자 하는 2차원 패턴의 구성 요소, 다시 말해, 해당 2차원 패턴의 패턴 조각들을 선택할 수 있다. 사용자가 선택한 패턴 조각들이 화면 상에 호출되면, 사용자는 화면에 표시된 패턴 조각들 중 길이 또는 거리를 측정하고 싶은 임의의 점들을 선택할 수 있다. 이때, 2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법은 예를 들어, 패턴 조각의 내부의 두 점을 선택하거나, 또는 패턴 조각 외부의 두 점을 선택하거나, 또는 패턴 조각을 수정하는 경우에도 마찬가지로 적용될 수 있다.
이하에서는 사용자에 의해 3차원 의상에 대응하는 2차원 패턴이 선택된 후, 선택된 2차원 패턴이 표현된 공간에서 치수를 측정하기 위한 과정을 설명한다.
예를 들어, 도 2a의 화면(210)과 같이 2차원 패턴이 선택되면, 사용자는 화면(210)의 우측 상단에 표시된 치수 측정을 위한 사용자 인터페이스(215)를 선택함으로써 2차원 패턴의 패턴 조각들 및/또는 2 차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 원하는 위치의 점들을 선택하여 점들 간의 치수를 측정할 수 있다. 이때, 선택된 점들 간에는 줄자가 표시될 수 있으며, 줄자와 함께 거리(또는 길이)가 표시될 수 있다.
이때, 치수 측정을 위한 사용자 인터페이스(215)는 예를 들어, 메인 메뉴에 나타난 2차원 패턴-> 줄자 -> 줄자와 같은 경로의 서브 메뉴를 거쳐 선택될 수도 있고, 또는 2차원 툴바(tool bar)에 표시된 줄자 형태의 아이콘(
Figure 112020087240715-pat00001
)과 같이 직관적인 사용자 인터페이스를 통해 선택될 수도 있다.
치수 측정을 위한 사용자 인터페이스(215)를 선택한 후, 의상의 2차원 패턴이 표현되는 공간에는 치수 측정을 위한 줄자가 생성될 수 있다. 사용자는 예를 들어, 마우스를 좌클릭하여 줄자를 생성함으로써 패턴 조각들 간의 치수 또는 거리를 측정할 수 있다.
예를 들어, 화면(230)과 같이 단일 패턴 조각(235) 내에 있는 복수의 점들 간의 치수를 측정한다고 가정하자. 이 경우, 사용자는 단일 패턴 조각(235) 내에서 측정을 시작할 지점('시작점')에서 마우스를 한번 클릭하고, 측정을 종료할 지점('종료점')에서 마우스를 더블 클릭함으로써 치수를 측정할 점들, 다시 말해 POM(Point of Measurement)을 선택(생성)할 수 있다.
일 실시예에 따른 측정 장치는 복수의 점들 중 미리 설정된 제1 입력 패턴에 따라 입력되는 제1 점을 시작점으로 설정할 수 있다. 제1 입력 패턴은 예를 들어, 마우스 클릭일 수 있다. 측정 장치는 시작점이 설정되면, 시작점에 대응하는 열린 점을 생성할 수 있다. .
측정 장치는 복수의 점들 중 시작점의 설정 이후에, 제2 입력 패턴에 따라 입력되는 적어도 하나의 제2 점을 적어도 하나의 중간점으로 설정할 수 있다. 또한, 측정 장치는 시작점의 설정 이후에, 미리 설정된 제2 입력 패턴에 따라 입력되는 제3 점을 종료점으로 설정할 수 있다. 제2 입력 패턴은 예를 들어, 마우스 더블 클릭일 수 있다. 제1 입력 패턴 및/또는 제2 입력 패턴은 이 밖에 다양한 형태를 가질 수 있으며, 반드시 이에 한정되지는 않는다.
마우스 더블 클릭에 의해 중간점 또는 종료점이 설정되면, 측정 장치는 설정된 중간점 또는 종료점에 대응하는 닫힌 점을 생성함과 동시에 열린 점과 닫힌 점을 잇는 선분을 표시할 수 있다. 이에 따라 시작점과 중간점을 잇는 선분이 표시될 수도 있고, 시작점과 중간점을 잇는 선분이 표시될 수도 있다.
측정 장치는 열린 점과 닫힌 점을 잇는 선분을 예를 들어, 점선의 형태로 생성할 수 있으며, 반드시 이에 한정되지는 않는다.
도면에 도시되지 않았으나, 사용자가 열린 점과 닫힌 점을 잇는 선분이 표시된 어플리케이션 화면에서 키보드의 쉬프트(Shift) 키를 누르는 경우, 클릭 지점을 기준으로 예를 들어, 수직, 수평, 및/또는 45도의 가이드 라인이 표시될 수 있다.
전술한 과정을 통해 치수를 측정할 점들의 선택이 완료되면, 측정 장치는 단일 패턴 조각(235) 내에서 선택된 점들을 예를 들어, POM 탭에 추가할 수 있다. 일 실시예에 따른 POM 탭의 일 예시는 아래의 도 3을 참조하여 구체적으로 설명한다.
예를 들어, 도 2b의 화면(250)과 같이 상이한 패턴 조각들(패턴 조각(251)과 패턴 조각(253))에 있는 복수의 점들 간의 치수를 측정한다고 하자. 이 경우, 사용자는 측정을 시작한 패턴 조각(251)의 시작점에서 마우스를 한번 클릭하고, 측정을 종료할 패턴 조각(253)의 종료점에서 마우스를 더블 클릭함으로써 치수를 측정할 점들을 선택할 수 있다. 이때, 복수의 점들이 걸쳐 있는 상이한 패턴 조각들(패턴 조각(251)과 패턴 조각(253))을 패턴 그룹이라 부를 수 있다.
패턴 그룹에서 치수를 측정할 점들의 선택이 완료되면, 패턴 그룹에서 선택된 점들은 예를 들어, POM 탭에 하나의 목록으로 추가될 수 있다. 이때, 패턴 조각들(251,253) 사이를 연결한 선분이 패턴 조각(251)의 외곽선과 교차되는 제1 교점 및 패턴 조각들(251,253) 사이를 연결한 선분이 패턴 조각(253)의 외곽선과 교차되는 제2 교점 사이를 연결한 선분을 '연결선'이라 부를 수 있다. 연결선은 패턴 조각 내에 위치하지 않는 선분에 해당하며, 연결선은 일 실시예에 따른 측정 장치가 측정하고자 선분의 길이에 포함되지 않을 수 있다. 연결선은 예를 들어, 사용자가 패턴 조각의 위치 또는 크기를 변형하거나, 또는 패턴 조각 상에서 선택한 점들을 변경함에 따라 그 길이 또는 위치 등이 연동되어 변경될 수 있다.
실시예에 따라서, 사용자는 예를 들어, 측정 장치에 의해 연결선이 생성되는 도중에 마우스 우클릭하여 이동 거리를 입력할 수 있다. 또는 연결선의 실행을 취소하고 싶은 경우, 사용자는 측정 장치에 의해 연결선이 생성되는 중에 키보드의 백스페이스(Backspace) 키, 이스케이프(ESC) 키, 또는 컨트롤(Ctrl) + Z 키를 누름으로써 연결선의 생성 동작을 취소할 수 있다.
실시예에 따라서, 사용자는 시작점과 종료점 사이에 다수의 점들을 선택할 수 있다. 이때, 시작점과 종료점 사이에서 선택되는 점들을 '중간점'이라 부를 수 있다.
예를 들어, 사용자가 화면(270)과 같이 상이한 패턴 조각들(패턴 조각(271)과 패턴 조각(275)) 상에 있는 세 개의 점들(272, 274, 276)을 선택했다고 하자.
이 경우, 측정 장치는 패턴 조각(271)에 있는 두 개의 점들(272, 274) 간의 제1 선분의 길이 및 패턴 조각(271)의 점(274)와 패턴 조각(275)의 점(276) 간의 제2 선분의 길이를 측정할 수 있다. 실시예에 따라서, 측정 장치는 전체 길이 중 제1 선분 또는 제2 선분과 같은 중간 선분 별 길이를 제공할 수도 있고, 또는 제1 선분의 길이와 제2 선분의 길이를 총합한 전체 길이를 제공할 수도 있다. 이때, 제2 선분의 길이에는 패턴 조각(271)의 점(274)와 패턴 조각(275)의 점(276) 사이의 연결선의 길이가 포함될 수 있다. 측정 장치는 제2 선분의 길이에서 연결선의 길이를 뺀 전체 길이를 제공할 수도 있고, 연결선의 길이를 빼지 않은 전체 길이를 제공할 수도 있다.
도 3은 일 실시예에 따라 2차원 패턴의 다양한 영역에서 측정된 치수 목록을 나타내는 사용자 인터페이스 화면의 일 예시를 도시한 도면이다. 도 3을 참조하면, 일 실시예에 따라 치수를 측정할 점들에 대응하여 생성된 POM(Point of Measurement) 목록의 일 예시가 도시된다.
전술한 과정을 통해 치수를 측정할 점들이 선택되면, 치수를 측정할 점들 사이에 줄자가 생성될 수 있다. 측정 장치는 줄자가 생성된 점들(다시 말해, 치수를 측정할 점들)에 대응하는 정보를 POM 목록(300)에 저장할 수 있다. 이때, 측정 장치는 예를 들어, "Object Browser"의 POM 탭을 통해 POM 목록(300)을 표시함으로써 사용자가 각 부분의 치수를 확인하도록 할 수 있다.
POM 목록(300)에는 예를 들어, 치수를 측정할 점들에 대응하는 번호가 자동 넘버링되는 번호 항목, 각 점들이 의상의 어느 부분에 대한 것인지에 대한 설명 및/또는 해당 부분의 이름이 기재되는 설명(Description) 항목, 및 치수를 측정할 점들 간에 측정된 길이를 나타내는 길이(Length) 항목 등이 포함될 수 있다. 이 밖에도, 화면에 도시되지는 않았지만, POM 목록(300)에는 치수를 측정할 점들에 대응하는 텍스트 색상을 설정하거나, 또는 치수를 측정하는 점들이 위치하는 패턴 조각의 그레이딩 정보 등이 포함될 수 있으며, 반드시 이에 한정되지는 않는다. 실시예에 따르면, POM 목록(300)에는 2차원 패턴 상의 길이가 포함될 수도 있고, 해당하는 2차원 패턴이 3차원 시뮬레이션 공간에서 아바타에 착장된 상태에서의 길이가 포함될 수도 있다.
도 4는 일 실시예에 따른 영역의 속성이 제2 속성인 경우에 선분의 길이를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 4를 참조하면, 일 실시예에 따른 복수의 점들(예를 들어, 시작점, 중간점들 및 종료점)이 속한 영역이 서로 다른 패턴 조각인 경우가 도시된다.
예를 들어, 시작점(410)이 속한 영역이 패턴 조각(401)에 해당하고, 종료점(440)이 속한 영역이 패턴 조각(403)에 해당한다고 하자. 측정 장치는 시작점(410)과 종료점(440) 각각이 속한 영역이 서로 다른 패턴 조각들에 해당하므로 시작점(410) 및 종료점(440)이 속한 영역의 속성을 제2 속성으로 결정할 수 있다.
이 경우, 측정 장치는 패턴 조각(401)에 입력된 시작점(410)과 패턴 조각(403)에 입력된 종료점(440) 간을 연결한 선분(415)의 길이를 측정할 수 있다. 또한, 측정 장치는 선분(415)이 패턴 조각(401)의 외곽선과 교차되는 교점(420) 및 선분(415)이 패턴 조각(403)의 외곽선과 교차되는 교점(430) 사이를 연결한 연결선(425)(점선으로 표시됨)의 길이를 측정할 수 있다. 측정 장치는 선분(415)의 길이에서 연결선(425)의 길이를 뺀 길이를 측정할 수 있다. 이때, 연결선(425)의 길이는 예를 들어, 사용자가 패턴 조각의 위치 또는 크기를 변형하거나, 또는 패턴 조각 상에서 선택한 점들의 위치를 변경함에 따라 연동되어 변경될 수 있다.
실시예에 따라서, 사용자는 예를 들어, 측정 장치에 의해 연결선(425)이 생성되는 도중에 패턴 조각 내부에서 마우스를 우클릭하여 어느 한 점('이동점')을 선택함으로써 측정하는 선분에 대한 이동 거리를 설정할 수 있다. 패턴 조각 내부에서 마우스를 우클릭 함에 따라 화면에는 치수 입력 창이 나타나고, 사용자는 치수 입력 창 내의 일정 거리 값을 입력함으로써 측정하는 선분에 대한 이동 거리를 설정할 수 있다. 이때, 치수 입력 창에 표시되는 거리 값은 예를 들어, 이전 점과 우클릭한 점과의 거리가 기본 값으로 설정될 수 있다.
또는 실시예에 따라서, 선분에 대한 이동 거리의 설정을 취소하고 싶은 경우, 사용자는 측정 장치에 의해 새로운 연결선이 생성되는 중에 키보드의 백스페이스(Backspace) 키, 이스케이프(ESC) 키, 또는 컨트롤(Ctrl) + Z 키를 누름으로써 새로운 연결선의 생성을 취소할 수 있다. 사용자가 이동점을 선택함으로써 연결선이 변경되는 경우에 치수를 측정하는 방법은 아래의 도 5a를 참조하여 구체적으로 설명한다.
도 5a는 일 실시예에 따라 제2 속성의 영역에 속한 어느 한 점이 이동된 경우에 선분의 길이를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 5a를 참조하면, 일 실시예에 따라 사용자가 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들을 선택한 이후에 선택한 점을 이동시키는 상황이 도시된다.
일 실시예에 따르면, 사용자는 복수의 점들(예를 들어, 시작점, 중간점들, 및 종료점)을 선택한 후, 이들 중 어느 하나의 점 또는 복수의 점들을 연결한 선분의 위치를 이동시킬 수 있다.
예를 들어, 사용자는 제1 패턴 조각(501)에 시작점(510)을 입력하고, 제2 패턴 조각(503)에 종료점(520)을 입력한 후, 종료점(520)의 위치를 제2 패턴 조각(503) 상의 이동점(530)의 위치로 이동시킬 수 있다. 이때, 시작점(510)이나 종료점(520) 중 어느 것이라도 사용자에 의해 선택되어 다시 이동될 수 있다. 이하, 설명의 편의를 위하여 처음 입력된 위치가 사용자에 의해 이동된 점을 '이동점'이라 부르고, 이동점에 연동되어 이동된 선분을 '이동 선분'이라 부르기로 기로 한다.
사용자가 이동점 및/또는 이동 선분을 선택하는 방법은 다음과 같다.
예를 들어, 사용자는 마우스 커서의 클릭을 통해 점 또는 선분을 선택할 수 있다. 사용자는 마우스 커서를 이동시켜 종료점(520)을 클릭하거나, 또는 종료점(520)과 연결된 선분을 선택함으로써 종료점(520) 또는 종료점(520)과 연결된 선분을 선택할 수 있다. 사용자는 더블 클릭을 통해 선분 전체를 선택할 수도 있다. 이 경우, 더블 클릭한 점, 더블 클릭한 선분과 연결된 점 또는 더블 클릭한 선분 전체가 선택될 수 있다. 또는 사용자는 마우스 드래그(drag) 등을 통해 영역을 선택할 수 있다. 이 경우 선택된 영역 내에 포함된 점 및 선이 모두 선택될 수 있다.
이 밖에도, 사용자는 예를 들어, 쉬프트(shift) 키와 마우스 왼클릭의 다중 선택에 의해 클릭한 점 및 선분을 선택하거나, 또는 컨트롤(Ctrl) 키와 A 키의 다중 선택에 의해 생성된 줄자 전체를 선택할 수도 있다.
사용자는 전술한 방법을 통해 선택한 객체(예를 들어, 종료점(520) 또는 종료점(520)과 연결된 선분)을 드래그하여 원하는 위치로 이동시킬 수 있다.
이때, 이동점(530)이 도 5a에 도시된 것과 같이 제2 패턴 조각(503)의 내부에 위치하는 경우, 시작점(510)과 이동점(530)을 잇는 선분과 제2 패턴 조각(503)의 외곽선 간의 교점(540)이 다시 계산되고, 이에 따라 시작점(510)과 교점(540) 간의 연결하는 연결선이 갱신될 수 있다. 이때, 종료점(520)은 이동점(530)이 결정됨에 따라 자동 삭제될 수도 있고, 또는 삭제되지 않고 남아 있다가 사용자에 의해 삭제될 수도 있다.
측정 장치는 변경된 교점(540) 및/또는 이동점(530)의 위치를 기준으로 시작점(510)으로부터의 선분의 길이를 측정할 수 있다.
도 5a와 달리, 이동점이 제2 패턴 조각(503)의 외부에 위치하는 경우, 연결선은 양 끝 점(시작점(510)과 이동점)으로만 갱신될 수 있다. 다시 말해, 도 5b의 위 화면과 같이 연결선(두 패턴 조각 사이의 하얀 선)의 점이 이동되어 제2 패턴 조각의 외부(두 패턴 조각 사이의 검은 선이 꺾인 지점)로 나가려고 하는 경우, 측정 장치는 도 5b의 아래 화면과 같이 연결선의 해당 점을 해당 패턴 조각의 외각선으로 끌어당길 수 있다.
실시예에 따라서, 사용자는 제2 패턴 조각(503)에 입력된 종료점(520)의 위치를 제2 패턴 조각(503)이 아닌 새로운 제3의 패턴 조각으로 이동시킬 수도 있다. 이 경우, 제2 패턴 조각(503)에 표시되는 연결선은 사라지고, 제3의 패턴 조각에 이동점 및 새로운 연결선이 생성될 수 있다. 사용자는 점 또는 선분의 이동 도중에 예를 들어, 마우스 우클릭을 통해 이동 거리를 직접 입력할 수도 있다. 이 경우, 사용자가 입력한 이동 거리에 따라 점 또는 선분이 이동될 수 있다. 사용자는 패턴 조각의 외곽선 및/또는 내부 선분을 따라 점의 위치를 수정할 수도 있다.
또는, 실시예에 따라서, 사용자가 2차원 패턴의 각 부분의 길이, 및 크기 등을 변경함에 따라 2차원 패턴이 수정되는 경우가 발생할 수 있다. 2차원 패턴이 수정되는 경우, 사용자에 의해 입력된 점들의 위치 또한 변경될 수 있으며, 해당 점들과 2차원 패턴의 외곽선 및/또는 내부 선분과의 교점 또한 변경될 수 있다. 또한, 측정 장치는 예를 들어, 2차원 패턴의 변형률 등을 입력받을 수 있다. 이 경우, 측정 장치는 2차원 패턴의 변형률을 반영하여 측정된 선분의 길이를 변형할 수 있다.
도 6은 일 실시예에 따른 영역의 속성이 제3속성인 경우에 선분의 길이를 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다. 도 6을 참조하면, 패턴 조각의 외곽선 호의 길이를 측정하는 과정이 도시된다.
예를 들어, 공간 상에 입력된 복수의 점들 중 시작점(610)과 종료점(620)이 속한 영역이 동일한 패턴 조각(600)의 외곽선 호(630)에 해당한다고 하자. 이 경우, 해당 영역의 속성은 제3 속성으로 결정될 수 있다. 영역의 속성이 제3 속성으로 결정된 경우, 선분의 길이를 측정하는 방법은 다음과 같다.
측정 장치는 시작점(610)으로부터 연장되는 선분(615)과 종료점으로부터 연장되는 선분(625)를 생성하고, 선분(615) 및 선분(625)이 서로 직각을 이루도록 할 수 있다. 측정 장치는 선분(615)의 길이 및 선분(625)의 길이를 측정하고, 선분(615)의 길이 및 선분(625)의 길이를 기초로, 외곽선 호(630)의 길이를 산출할 수 있다. 측정 장이는 예를 들어, 호의 길이 공식에 따라 선분(615)의 길이 또는 선분(625)의 길이에 호의 부채꼴의 중심각(라디안)을 곱함으로써 외곽선 호(630)의 길이를 산출할 수 있다. 측정 장치는 외곽선 호(630)의 길이를 측정할 선분의 길이로 설정할 수 있다.
도 6을 통해 전술한 과정은 호의 길이뿐만 아니라 곡률을 측정할 때에도 동일하게 적용될 수 있다. 측정 장치는 2차원 패턴 외부로 연장되고, 서로 직각인 두 선분의 길이를 측정하여 패턴들의 거리를 표현할 수 있다. 이때, 2차원 패턴 외부의 점은 2차원 패턴과의 상대적인 위치로 정의될 수 있다.
도 7은 일 실시예에 따른 2차원 패턴의 치수를 측정하는 장치의 블록도이다. 도 7을 참조하면, 일 실시예에 따른 측정 장치(700)는 사용자 인터페이스(710), 프로세서(730), 출력 장치(750), 및 메모리(770)를 포함한다. 사용자 인터페이스(710), 프로세서(730), 출력 장치(750), 및 메모리(770)는 통신 버스(705)를 통해 서로 통신할 수 있다.
사용자 인터페이스(710)는 의상의 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들(points)을 입력받는다. 사용자 인터페이스(710)는 예를 들어, 스타일러스 펜, 마우스, 키보드, 터치 인터페이스를 통한 터치 입력 등을 포함할 수 있다.
프로세서(730)는 공간에서 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정한다. 프로세서(730)는 영역의 속성을 기초로, 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 측정한다.
프로세서(730)는 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조를 기초로, 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정할 수 있다. 영역의 속성은 예를 들어, 복수의 점들 각각이 속한 영역이 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각에 해당하는 제1 속성, 복수의 점들 각각이 속한 영역이 2차원 패턴 중 상이한 제1 패턴 조각 및 제2 패턴 조각에 해당하는 제2 속성, 복수의 점들 중 시작점과 종료점이 속한 영역이 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각의 외곽선 호에 해당하는 제3 속성, 복수의 점들 중 시작점과 종료점 중 어느 하나가 속한 영역이 2차원 패턴 중 임의의 패턴 조각에 해당하고, 시작점과 종료점 중 나머지 하나가 속한 영역이 공간에서 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제4 속성, 및 복수의 점들 각각이 속한 영역이 공간에서 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제5 속성 등을 포함할 수 있다.
프로세서(730)는 제1 패턴 조각에 입력된 시작점과 제2 패턴 조각에 입력된 종료점 간을 연결한 제2 선분의 제2 길이를 측정할 수 있다. 프로세서(730)는 제2 길이에서, 제2 선분이 제1 패턴 조각의 제1 외곽선과 교차되는 제1 교점 및 제2 선분이 제2 패턴 조각의 제2 외곽선과 교차되는 제2 교점 사이를 연결한 연결선의 길이를 뺀 제3 길이를 측정할 수 있다. 프로세서(730)는 제3 길이를 선분의 길이로 설정할 수 있다.
또는 프로세서(730)는 시작점과 종료점 각각으로부터 연장되고, 서로 직각으로 이루는 제3 선분의 길이 및 제4 선분의 길이를 측정할 수 있다. 프로세서(730)는 제3 선분의 길이 및 제4 선분의 길이를 기초로, 외곽선 호의 길이를 산출할 수 있다. 프로세서(730)는 외곽선 호의 길이를 선분의 길이로 설정할 수 있다.
출력 장치(750)는 프로세서(730)에 측정된 선분의 길이를 출력한다. 출력 장치(750)는 착장 시뮬레이션된 3차원 의상 및/또는 3차원 의상에 대응하는 2차원 패턴 상의 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 디스플레이의 화면 상에 출력할 수도 있고, 또는 측정 장치(700)의 외부로 출력할 수도 있다. 출력 장치(750)는 예를 들어, 디스플레이, 또는 측정 장치(700)의 외부와 통신하는 통신 인터페이스일 수도 있다.
실시예에 따라서, 출력 장치(750)는 3차원 의상을 구성하는 2차원 패턴을 종이 또는 옷감 등의 별도의 출력물에 출력하는 2차원 패턴 출력 장치일 수 있다. 이 경우, 프로세서(730)는 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 2차원 패턴 상에 출력할 수 있다.
메모리(770)는 상술한 프로세서(730)의 처리 과정에서 생성되는 다양한 정보들을 저장할 수 있다. 이 밖에도, 메모리(770)는 각종 데이터와 프로그램 등을 저장할 수 있다. 메모리(770)는 휘발성 메모리 또는 비휘발성 메모리를 포함할 수 있다. 메모리(770)는 하드 디스크 등과 같은 대용량 저장 매체를 구비하여 각종 데이터를 저장할 수 있다.
이 밖에도, 프로세서(730)는 도 1 내지 도 6을 통해 전술한 적어도 하나의 방법 또는 적어도 하나의 방법에 대응되는 알고리즘을 수행할 수 있다. 프로세서(730)는 목적하는 동작들(desired operations)을 실행시키기 위한 물리적인 구조를 갖는 회로를 가지는 하드웨어로 구현된 데이터 처리 장치일 수 있다. 예를 들어, 목적하는 동작들은 프로그램에 포함된 코드(code) 또는 인스트럭션들(instructions)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 하드웨어로 구현된 예측 장치는 마이크로프로세서(microprocessor), 중앙 처리 장치(central processing unit), 프로세서 코어(processor core), 멀티-코어 프로세서(multi-core processor), 멀티프로세서(multiprocessor), ASIC(Application-Specific Integrated Circuit), FPGA(Field Programmable Gate Array)를 포함할 수 있다.
프로세서(730)는 프로그램을 실행하고, 측정 장치(700)를 제어할 수 있다. 프로세서(730)에 의하여 실행되는 프로그램 코드는 메모리(770)에 저장될 수 있다. 프로세서(730)는 예를 들어, CPU(Central Processing Unit), GPU(Graphics Processing Unit), 또는 NPU(Neural network Processing Unit)으로 구성될 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기를 기초로 다양한 기술적 수정 및 변형을 적용할 수 있다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 청구범위의 범위에 속한다.
700: 측정 장치
705: 통신 버스
710: 사용자 인터페이스
730: 프로세서
750: 출력 장치
770: 메모리

Claims (20)

  1. 의상의 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들(points)을 입력받는 단계;
    상기 공간에서 상기 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정하는 단계;
    상기 영역의 속성을 기초로, 상기 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 측정하는 단계; 및
    상기 선분의 길이를 출력하는 단계
    를 포함하고,
    상기 영역의 속성은
    상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각에 해당하는 제1 속성;
    상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 상이한 제1 패턴 조각 및 제2 패턴 조각에 해당하는 제2 속성;
    상기 복수의 점들 중 시작점과 종료점이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각의 외곽선 호(arc)에 해당하는 제3 속성;
    상기 복수의 점들 중 상기 시작점과 상기 종료점 중 어느 하나가 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 임의의 패턴 조각에 해당하고, 상기 시작점과 상기 종료점 중 나머지 하나가 속한 영역이 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제4 속성; 및
    상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제5 속성
    중 적어도 하나를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 영역의 속성을 결정하는 단계는
    상기 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조를 기초로, 상기 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정하는 단계
    를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조는
    상기 복수의 점들 각각이 위치하는 패턴 조각, 상기 복수의 점들 각각이 위치하는 상기 패턴 조각에서의 라인, 및 상기 패턴 조각에서의 라인 상의 지점 중 적어도 하나에 대한 정보를 링크(link) 형태로 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 영역의 속성이 제1 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는
    상기 동일한 패턴 조각에 입력된 상기 복수의 점들 중 시작점과 종료점 간을 연결한 제1 선분의 제1 길이를 측정하는 단계; 및
    상기 제1 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계
    를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 영역의 속성이 제2 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는
    상기 제1 패턴 조각에 입력된 시작점과 상기 제2 패턴 조각에 입력된 종료점 간을 연결한 제2 선분의 제2 길이를 측정하는 단계;
    상기 제2 길이에서, 상기 제2 선분이 상기 제1 패턴 조각의 제1 외곽선과 교차되는 제1 교점 및 상기 제2 선분이 상기 제2 패턴 조각의 제2 외곽선과 교차되는 제2 교점 사이를 연결한 연결선의 길이를 뺀 제3 길이를 측정하는 단계; 및
    상기 제3 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계
    를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 시작점 및 상기 종료점 중 어느 한 점에 대한 변경된 위치를 입력받는 단계
    를 더 포함하고,
    상기 선분의 길이를 측정하는 단계는
    상기 어느 한 점에 대한 변경된 위치를 기준으로 상기 선분의 길이를 측정하는 단계
    를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 영역의 속성이 제3 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는
    상기 시작점과 상기 종료점 각각으로부터 연장되고, 서로 직각으로 이루는 제3 선분의 길이 및 제4 선분의 길이를 측정하는 단계;
    상기 제3 선분의 길이 및 상기 제4 선분의 길이를 기초로, 상기 외곽선 호의 길이를 산출하는 단계; 및
    상기 외곽선 호의 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계
    를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 영역의 속성이 제4 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는
    상기 복수의 점들 중 상기 임의의 패턴 조각에 해당하는 점으로부터 상기 임의의 패턴 조각의 외곽선과 교차되는 교점 사이를 연결한 내부선의 길이를 측정하는 단계;
    상기 교점으로부터 상기 복수의 점들 중 상기 나머지 영역에 속하는 점 사이를 연결한 외부선의 길이를 측정하는 단계; 및
    상기 내부선의 길이, 상기 외부선의 길이, 상기 내부선의 길이와 상기 외부선의 길이의 합 중 적어도 하나의 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계
    를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 영역의 속성이 제5 속성으로 결정된 경우, 상기 선분의 길이를 측정하는 단계는
    상기 나머지 영역에 입력된 복수의 점들 중 시작점과 종료점을 연결한 제5 선분의 제5 길이를 측정하는 단계; 및
    상기 제5 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는 단계
    를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 2차원 패턴의 변형률을 입력받는 단계; 및
    상기 2차원 패턴의 변형률에 따라 상기 선분의 길이를 변형하는 단계
    를 더 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 점들을 입력받는 단계는
    상기 복수의 점들 중 미리 설정된 제1 입력 패턴에 따라 입력되는 제1 점을 시작점으로 설정하는 단계;
    상기 복수의 점들 중 상기 시작점의 설정 이후에, 상기 제1 입력 패턴에 따라 입력되는 적어도 하나의 제2 점을 적어도 하나의 중간점으로 설정하는 단계; 및
    상기 복수의 점들 중 상기 시작점 또는 상기 적어도 하나의 중간점의 설정 이후에, 미리 설정된 제2 입력 패턴에 따라 입력되는 제3 점을 종료점으로 설정하는 단계
    를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  13. 제1항에 있어서,
    상기 2차원 패턴은
    복수의 다각형들을 포함하는 메쉬로 모델링되고,
    상기 복수의 점들 중 상기 2차원 패턴의 내부 및 상기 2차원 패턴의 외곽선에 입력된 적어도 하나의 점은
    상기 복수의 다각형들에 매핑되는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  14. 의상의 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들(points)을 입력받는 단계;
    상기 공간에서 상기 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정하는 단계;
    상기 영역의 속성을 기초로, 상기 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 측정하는 단계; 및
    상기 선분의 길이를 출력하는 단계
    를 포함하고,
    상기 2차원 패턴은 복수의 다각형들을 포함하는 메쉬로 모델링되고,
    상기 복수의 점들 중 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 입력된 적어도 하나의 점은 상기 2차원 패턴과의 상대적인 위치로 정의되는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 방법.
  15. 하드웨어와 결합되어 제1항 내지 제3항, 및 제5항 내지 제14항 중 어느 한 항의 방법을 실행시키기 위하여 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램.
  16. 의상의 2차원 패턴이 표현되는 공간 상에서 복수의 점들(points)을 입력받는 사용자 인터페이스;
    상기 공간에서 상기 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정하고, 상기 영역의 속성을 기초로, 상기 복수의 점들에 기초한 선분의 길이를 측정하는 프로세서; 및
    상기 선분의 길이를 출력하는 출력 장치
    를 포함하고,
    상기 영역의 속성은
    상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각에 해당하는 제1 속성;
    상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 상이한 제1 패턴 조각 및 제2 패턴 조각에 해당하는 제2 속성;
    상기 복수의 점들 중 시작점과 종료점이 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 동일한 패턴 조각의 외곽선 호(arc)에 해당하는 제3 속성;
    상기 복수의 점들 중 상기 시작점과 상기 종료점 중 어느 하나가 속한 영역이 상기 2차원 패턴 중 임의의 패턴 조각에 해당하고, 상기 시작점과 상기 종료점 중 나머지 하나가 속한 영역이 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제4 속성; 및
    상기 복수의 점들 각각이 속한 영역이 상기 공간에서 상기 2차원 패턴을 제외한 나머지 영역에 해당하는 제5 속성
    중 적어도 하나를 포함하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 장치.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 프로세서는
    상기 복수의 점들 각각에 대응하는 자료 구조를 기초로, 상기 복수의 점들이 속한 영역의 속성을 결정하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 장치.
  18. 삭제
  19. 제16항에 있어서,
    상기 프로세서는
    상기 제1 패턴 조각에 입력된 시작점과 상기 제2 패턴 조각에 입력된 종료점 간을 연결한 제2 선분의 제2 길이를 측정하고,
    상기 제2 길이에서, 상기 제2 선분이 상기 제1 패턴 조각의 제1 외곽선과 교차되는 제1 교점 및 상기 제2 선분이 상기 제2 패턴 조각의 제2 외곽선과 교차되는 제2 교점 사이를 연결한 연결선의 길이를 뺀 제3 길이를 측정하며,
    상기 제3 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 장치.
  20. 제16항에 있어서,
    상기 프로세서는
    상기 시작점과 상기 종료점 각각으로부터 연장되고, 서로 직각으로 이루는 제3 선분의 길이 및 제4 선분의 길이를 측정하고,
    상기 제3 선분의 길이 및 상기 제4 선분의 길이를 기초로, 상기 외곽선 호의 길이를 산출하며,
    상기 외곽선 호의 길이를 상기 선분의 길이로 설정하는,
    2차원 패턴의 치수를 측정하는 장치.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022211561A1 (ko) * 2021-04-02 2022-10-06 (주)클로버추얼패션 의상 시뮬레이션 방법 및 장치

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113706658B (zh) * 2021-08-18 2023-09-05 江苏红豆工业互联网有限公司 一种基于服装圆弧曲线的离散化参数绘图方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101665653B1 (ko) * 2015-04-27 2016-10-13 (주)클로버추얼패션 디지털 의상 객체 생성 방법 및 장치

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6208352B1 (en) * 1999-08-30 2001-03-27 General Dynamics Government Systems Corp. Method for the computerized solution of the intersection of polygons
US7385603B2 (en) * 2004-06-30 2008-06-10 Warner Bros. Entertainment, Inc. Method for simulating motion of cloth
US10628729B2 (en) * 2010-06-08 2020-04-21 Styku, LLC System and method for body scanning and avatar creation
US9047394B2 (en) * 2010-10-22 2015-06-02 Samsung Medison Co., Ltd. 3D ultrasound system for intuitive displaying to check abnormality of object and method for operating 3D ultrasound system
KR20160098582A (ko) * 2015-02-09 2016-08-19 한국전자통신연구원 2차원 속성을 이용한 의상 검색 장치 및 검색 방법
KR101665651B1 (ko) * 2015-03-31 2016-10-24 (주)클로버추얼패션 3d 의상 착장 시뮬레이션 방법 및 장치
JP6659901B2 (ja) * 2019-08-01 2020-03-04 株式会社メルカリ プログラム、情報処理方法、及び情報処理装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101665653B1 (ko) * 2015-04-27 2016-10-13 (주)클로버추얼패션 디지털 의상 객체 생성 방법 및 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022211561A1 (ko) * 2021-04-02 2022-10-06 (주)클로버추얼패션 의상 시뮬레이션 방법 및 장치

Also Published As

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