KR102206374B1 - Orgaiic Light Emittiig Diode - Google Patents

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Abstract

본 발명의 표시장치에서 게이트 구동부는 Q 노드 제어부, 클럭신호를 출력단으로 출력하는 출력제어부, 제1 기간 동안 출력제어부가 출력단의 전위를 방전하도록 출력제어부와 연결된 기수 QB 노드를 제어하는 기수 QB 노드 제어부, 제2 기간 동안 상기 출력제어부가 출력단의 전위를 방전하도록 출력제어부와 연결된 우수 QB 노드를 제어하는 우수 QB 노드 제어부, 및 제1 기간 동안 우수 QB 노드에 음(-)의 전위의 리커버리 전압을 제공하고, 제2 기간 동안 기수 QB 노드에 상기 리커버리 전압을 제공하는 저전위 홀딩부를 포함하고, 기수 QB 노드가 저전위전압으로 방전되는 제3 기간 동안, 저전위 홀딩부는 우수 QB 노드에 저전위전압보다 낮은 리커버리전압을 제공하고, 우수 QB 노드가 저전위전압으로 방전되는 제4 기간 동안, 저전위 홀딩부는 기수 QB 노드에 리커버리전압을 제공한다.In the display device of the present invention, the gate driving unit is a Q node control unit, an output control unit that outputs a clock signal to the output terminal, and an odd QB node control unit that controls the odd QB node connected to the output control unit so that the output control unit discharges the potential of the output terminal during a first period. , An excellent QB node control unit that controls an excellent QB node connected to the output control unit so that the output control unit discharges the potential of the output terminal during the second period, and provides a recovery voltage of negative potential to the excellent QB node during the first period. And a low potential holding unit that provides the recovery voltage to the odd QB node during a second period, and during a third period in which the odd QB node is discharged to a low potential voltage, the low potential holding unit is less than the low potential voltage to the superior QB node. During the fourth period in which the low recovery voltage is provided and the superior QB node is discharged to the low potential voltage, the low potential holding unit provides the recovery voltage to the odd QB node.

Description

유기발광다이오드 표시장치{Orgaiic Light Emittiig Diode}Organic light emitting diode display device {Orgaiic Light Emittiig Diode}

본 발명은 유기발광다이오드 표시장치에 관한 것이다.
The present invention relates to an organic light emitting diode display.

평판 표시장치(FPD; Flat Paiel Display)는 소형화 및 경량화에 유리한 장점으로 인해서 데스크탑 컴퓨터의 모니터 뿐만 아니라, 노트북컴퓨터, PDA 등의 휴대용 컴퓨터나 휴대 전화 단말기 등에 폭넓게 이용되고 있다. 이러한 평판 표시장치는 액정표시장치{Liquid Crystal Display; LCD), 플라즈마 표시장치(Plasma Display Paiel; PDP), 전계 방출표시장치{Field Emissioi Display; FED) 및 유기발광다이오드 표시장치(Orgaiic Light Emittiig diode Display; 이하, OLED) 등이 있다. Flat panel displays (FPDs) are widely used not only for desktop computer monitors, but also for portable computers such as notebook computers and PDAs, or mobile phone terminals due to their advantages in miniaturization and weight reduction. Such a flat panel display includes a liquid crystal display; LCD), Plasma Display Paiel (PDP), Field Emissioi Display; FED) and Organic Light Emittiig Diode Display (hereinafter, OLED).

표시장치에서 스캔신호인 게이트펄스를 생성하는 게이트 구동부는 표시패널에서 비표시영역인 베젤 영역에 박막 트랜지스터들의 조합으로 이루어지는 게이트-인-패널(Gate Ii Paiel, 이하 GIP) 형태로 구현되기도 한다. In a display device, a gate driver that generates a gate pulse as a scan signal may be implemented in the form of a gate-in-panel (GIP) formed of a combination of thin film transistors in a bezel region that is a non-display region in the display panel.

GIP 형태의 게이트 구동부는 게이트펄스의 출력타이밍을 제어하는 Q 노드와 출력단을 방전시키기 위한 QB 노드를 제어하는 방식으로 게이트펄스를 출력한다. 1 프레임 기간에서 게이트펄스가 출력되는 스캔 기간은 매우 짧고, 스캔 기간 이외의 게이트펄스가 출력되지 않는 기간은 상대적으로 매우 길다. 게이트펄스의 출력을 차단하기 위해서는 QB 노드를 충전하여 이를 바탕으로 출력단을 방전시키는 방법을 이용한다. 즉, QB 노드는 1 프레임 기간 중에서 긴 시간 동안 충전되어 있고, 이에 따라서 QB 노드와 연결되는 트랜지스터들은 심한 바이어스 스트레스(bias stress)를 받는다. 따라서, QB 노드와 연결되는 트랜지스터들은 문턱전압(Vth)의 편차가 심해지고, 트랜지스터들의 특성이 저하된다.
The GIP-type gate driver outputs the gate pulse in a manner that controls the Q node for controlling the output timing of the gate pulse and the QB node for discharging the output terminal. In one frame period, the scan period in which the gate pulses are output is very short, and the period in which the gate pulses other than the scan period are not output is relatively very long. In order to block the output of the gate pulse, a method of charging the QB node and discharging the output terminal based on this is used. That is, the QB node is charged for a long time in one frame period, and thus, transistors connected to the QB node are subjected to severe bias stress. Accordingly, the threshold voltage Vth of the transistors connected to the QB node increases, and characteristics of the transistors deteriorate.

상술한 배경기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명은 게이트 구동부의 트랜지스터들이 바이어스 스트레스로 인해서 특성이 저하되는 것을 개선하기 위한 것이다.
The present invention for solving the problems of the above-described background technology is to improve the characteristics of the transistors of the gate driver are deteriorated due to bias stress.

상술한 과제 해결 수단으로 본 발명의 표시장치는 게이트라인이 형성된 표시패널 및 게이트라인에 제공되는 게이트펄스를 출력하는 게이트 구동부를 포함한다. 게이트 구동부는 클럭신호의 출력 타이밍을 결정하는 Q 노드를 제어하는 Q 노드 제어부, Q 노드의 하이레벨 전위에 응답하여 클럭신호를 출력단으로 출력하는 출력제어부, 제1 기간 동안 출력제어부가 출력단의 전위를 방전하도록 출력제어부와 연결된 기수 QB 노드를 제어하는 기수 QB 노드 제어부, 제2 기간 동안 상기 출력제어부가 출력단의 전위를 방전하도록 출력제어부와 연결된 우수 QB 노드를 제어하는 우수 QB 노드 제어부, 및 제1 기간 동안 우수 QB 노드에 음(-)의 전위의 리커버리 전압을 제공하고, 제2 기간 동안 기수 QB 노드에 상기 리커버리 전압을 제공하는 저전위 홀딩부를 포함하고, 기수 QB 노드가 저전위전압으로 방전되는 제3 기간 동안, 저전위 홀딩부는 우수 QB 노드에 저전위전압보다 낮은 리커버리전압을 제공하고, 우수 QB 노드가 저전위전압으로 방전되는 제4 기간 동안, 저전위 홀딩부는 기수 QB 노드에 리커버리전압을 제공한다.As a means of solving the above problems, the display device of the present invention includes a display panel having a gate line formed thereon, and a gate driver outputting a gate pulse provided to the gate line. The gate driver is a Q node control unit that controls the Q node that determines the timing of outputting the clock signal, an output control unit that outputs a clock signal to the output terminal in response to the high level potential of the Q node, and the output control unit adjusts the potential of the output terminal during the first period. An odd QB node control unit that controls the odd QB node connected to the output control unit to discharge, an excellent QB node control unit that controls the excellent QB node connected to the output control unit so that the output control unit discharges the potential of the output terminal during a second period, and a first period And a low potential holding unit that provides a recovery voltage of a negative potential to an even QB node during a second period, and provides the recovery voltage to an odd QB node during a second period, wherein the odd QB node is discharged to a low potential voltage. For 3 periods, the low potential holding unit provides a recovery voltage lower than the low potential voltage to the superior QB node, and during the fourth period when the superior QB node is discharged to the low potential voltage, the low potential holding unit provides the recovery voltage to the odd QB node. do.

본 발명은 게이트 구동부의 QB 노드를 기수 QB 노드와 우수 QB 노드로 교번적으로 구동하고, 구동하지 않는 QB 노드는 음(-)의 전위를 유지하여 QB 노드와 접속된 트랜지스터들의 문턱전압 특성을 회복시킨다. In the present invention, the QB node of the gate driver is alternately driven by an odd QB node and an excellent QB node, and the non-driving QB node maintains a negative potential to recover the threshold voltage characteristics of the transistors connected to the QB node. Let it.

본 발명은 구동기간과 회복기간을 구분하여 저전위전압의 레벨을 다르게 유지하기 때문에, 구동기간에는 소비전력을 줄일 수 있고, 회복기간에는 문턱전압의 편차를 빠르게 회복시킬 수 있다.Since the present invention maintains different levels of the low potential voltage by dividing the driving period and the recovery period, it is possible to reduce power consumption during the driving period, and quickly recover the deviation of the threshold voltage during the recovery period.

또한, 본 발명은 회복기간에 음(-)의 전위를 갖는 리커버리전압과 저전위전압 간에 쇼트 현상을 방지하여, 저전위전압 또는 리커버리전압이 흔들리는 것을 방지할 수 있다.
In addition, the present invention can prevent a short-circuit phenomenon between the recovery voltage having a negative potential and the low potential voltage during the recovery period, thereby preventing the low potential voltage or the recovery voltage from shaking.

도 1은 본 발명에 의한 표시장치의 구성을 나타내는 도면.
도 2는 도 1에 도시된 화소구조의 일례를 나타내는 도면.
도 3은 게이트 구동부의 스테이지의 종속관계를 나타내는 블록도.
도 4는 제1 실시 예에 의한 제i 스테이지의 회로 구성도.
도 5 및 도 6은 스테이지의 동작 타이밍도.
도 7은 바이어스 스트레스와 문턱전압 편차의 관계를 나타내는 도면.
도 8은 제2 실시 예에 의한 제i 스테이지의 회로 구성도.
도 9는 비동작 구간에서의 쇼트 현상을 나타내는 도면.
도 10은 제3 실시 예에 의한 제i 스테이지의 회로 구성도.
도 11은 제4 실시 예에 의한 제i 스테이지의 회로 구성도.
1 is a diagram showing a configuration of a display device according to the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing an example of the pixel structure shown in FIG. 1;
3 is a block diagram showing a dependency relationship between stages of a gate driver.
4 is a circuit diagram of an ith stage according to the first embodiment.
5 and 6 are operation timing diagrams of the stage.
7 is a diagram showing a relationship between a bias stress and a threshold voltage deviation.
8 is a circuit diagram of an ith stage according to the second embodiment.
9 is a diagram showing a short-circuit phenomenon in a non-operation section.
10 is a circuit diagram of an ith stage according to the third embodiment.
11 is a circuit diagram of an i-th stage according to the fourth embodiment.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시 예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.Hereinafter, exemplary embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The same reference numbers throughout the specification mean substantially the same elements. In the following description, when it is determined that detailed descriptions of known functions or configurations related to the present invention may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, detailed descriptions thereof will be omitted.

도 1은 본 발명에 의한 표시장치의 구성을 나타내는 블록도이다. 1 is a block diagram showing the configuration of a display device according to the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명에 의한 표시장치는 표시패널(100), 타이밍 콘트롤러(T110), 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130,140)가 포함된다.Referring to FIG. 1, a display device according to the present invention includes a display panel 100, a timing controller T110, a data driver 120, and a gate driver 130 and 140.

표시패널(10)은 서브 픽셀들이 형성되는 표시영역(100A)과 표시영역(100A)의 외측으로 각종 신호라인들이나 패드 등이 형성되는 비표시영역(100B)을 포함한다. 표시영역(100A)은 복수 개의 화소(P)를 포함하고, 각각의 화소(P)들이 표시하는 계조를 기반으로 영상을 표시한다. 화소(P)들은 수평라인들 각각에 복수 개가 매트릭스 형태로 배치된다. 각각의 화소(P)들은 서로 직교하는 데이터라인부(DL) 및 게이트라인부(GL)와 접속한다. The display panel 10 includes a display area 100A in which sub-pixels are formed and a non-display area 100B in which various signal lines or pads are formed outside the display area 100A. The display area 100A includes a plurality of pixels P, and displays an image based on a gray scale displayed by each of the pixels P. A plurality of pixels P are arranged in a matrix form on each of the horizontal lines. Each of the pixels P is connected to the data line portion DL and the gate line portion GL that are orthogonal to each other.

도 2에 도시된 바와 같이, 하나의 서브 픽셀(SP)에는 스캔 라인(GL1)과 데이터 라인(DL1)에 연결된 스위칭 트랜지스터(SW)와 스위칭 트랜지스터(SW)를 통해 공급된 스캔신호에 대응하여 공급된 데이터신호(DATA)에 대응하여 동작하는 픽셀회로(PC)가 포함된다. 서브 픽셀(SP)은 픽셀회로(PC)의 구성에 따라 액정소자를 포함하는 액정표시패널이나 유기발광소자를 포함하는 유기발광표시패널 등으로 구현된다.As shown in FIG. 2, one sub-pixel SP is supplied in response to a scan signal supplied through a switching transistor SW and a switching transistor SW connected to the scan line GL1 and the data line DL1. A pixel circuit PC that operates in response to the data signal DATA is included. The sub-pixel SP is implemented as a liquid crystal display panel including a liquid crystal device or an organic light emitting display panel including an organic light emitting device, depending on the configuration of the pixel circuit PC.

타이밍 콘트롤러(T110)는 영상보드에 연결된 LVDS 또는 TMDS 인터페이스 수신회로 등을 통해 수직 동기신호(Vsyic), 수평 동기신호(Hsyic), 데이터 인에이블 신호(DE), 도트 클럭(DLCK) 등의 타이밍신호를 입력받는다. 타이밍 콘트롤러(T110)는 입력된 타이밍신호를 기준으로 데이터 구동부(120)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터제어신호(DDC) 및 게이트 구동부(130,140)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트제어신호(GDC)를 생성한다.The timing controller T110 is a timing signal such as a vertical synchronization signal (Vsyic), a horizontal synchronization signal (Hsyic), a data enable signal (DE), and a dot clock (DLCK) through an LVDS or TMDS interface receiving circuit connected to the image board. It receives input. The timing controller T110 includes a data control signal DDC for controlling the operation timing of the data driver 120 and a gate control signal GDC for controlling the operation timing of the gate drivers 130 and 140 based on the input timing signal. Create

데이터 구동부(120)는 다수의 소스 드라이브 IC(Iitegrated Circuit)들을 포함한다. 소스 드라이브 IC들은 타이밍 콘트롤러(110)로부터 디지털 비디오 데이터들(RGB)과 소스 타이밍 제어신호(DDC)를 공급받는다. 소스 드라이브 IC들은 소스 타이밍 제어신호(DDC)에 응답하여 디지털 비디오 데이터들(RGB)을 감마전압으로 변환하여 데이터전압을 생성하고, 데이터전압을 표시패널(100)의 데이터 라인들(DL)을 통해 공급한다. The data driver 120 includes a plurality of source drive ICs (itegrated circuits). The source drive ICs receive digital video data RGB and a source timing control signal DDC from the timing controller 110. The source drive ICs convert digital video data RGB into a gamma voltage in response to a source timing control signal DDC to generate a data voltage, and transmit the data voltage through the data lines DL of the display panel 100. Supply.

게이트 구동부(130,140)는 레벨 시프터(130) 및 쉬프트 레지스터(140)를 포함한다. 게이트 구동부(130)는 레벨 시프터(130)와 쉬프트 레지스터(140)가 구분되고, 쉬프트 레지스터(140)가 표시패널(100)의 비표시영역(100B)에 형성되는 게이트-인-패널(Gate Ii Paiel; 이하 GIP) 방식으로 형성된다. The gate drivers 130 and 140 include a level shifter 130 and a shift register 140. In the gate driver 130, the level shifter 130 and the shift register 140 are separated, and the shift register 140 is formed in the non-display area 100B of the display panel 100. Paiel; hereinafter GIP).

레벨 시프터(130)는 레벨 시프터(130)는 IC 형태로 표시패널(100)에 접속되는 인쇄회로기판(미도시)에 형성된다. 레벨 시프터(130)는 타이밍 콘트롤러(11)의 제어하에 클럭신호들(CLK) 및 스타트신호(VST)를 레벨 쉬프팅한 후 쉬프트 레지스터(140)에 공급한다. 쉬프트 레지스터(140)는 GIP 방식에 의해 표시패널(100)의 비표시영역(100B)에서 다수의 박막 트랜지스터(이하 TFT)조합으로 형성된다. 쉬프트 레지스터(140)는 클럭신호들(CLK) 및 스타트신호(VST)에 대응하여 스캔 신호를 쉬프트하고 출력하는 스테이지들로 구성된다. The level shifter 130 is formed on a printed circuit board (not shown) connected to the display panel 100 in the form of an IC. The level shifter 130 level-shifts the clock signals CLK and the start signal VST under the control of the timing controller 11 and supplies them to the shift register 140. The shift register 140 is formed by a combination of a plurality of thin film transistors (hereinafter, TFT) in the non-display area 100B of the display panel 100 by the GIP method. The shift register 140 includes stages for shifting and outputting a scan signal in response to the clock signals CLK and the start signal VST.

도 3은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 내장형 게이트 구동부의 개략적인 스테이지별 구성도이고, 도 4는 제1 실시 예에 따른 내장형 게이트 구동부의 제i 스테이지를 나타내는 도면이다. 도 5는 본 발명의 게이트 구동부에 제공되는 기수 고전위전압 및 우수 고전위전압의 파형을 나타내는 도면이다. 3 is a schematic configuration diagram for each stage of an embedded gate driver according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a diagram illustrating an i-th stage of the embedded gate driver according to the first embodiment. 5 is a diagram showing waveforms of odd high potential voltage and excellent high potential voltage provided to a gate driver of the present invention.

도 3을 참조하여, 게이트 구동부(130,140)의 쉬프트 레지스터(140)의 실시 예를 살펴보면 다음과 같다. 쉬프트 레지스터(140)는 m개의 게이트라인에 일대일로 대응하는 m 개의 스테이지들을 포함하고, 각 스테이지는 종속적으로 접속된다. 도 3은 제i 게이트라인 내지 제(i+2) 게이트라인에 제공되는 게이트펄스를 출력하는 제i 내지 제(i+2) 스테이지(STG[i]~STG[i+2])를 도시하고 있다. 이하의 설명에서 "전단 스테이지"는 기준이 되는 스테이지의 상부에 위치하는 것을 말한다. 예컨대, 제i(k는 1<k<m 인 자연수) 스테이지(STGi)을 기준으로, 전단 스테이지는 제1 스테이지(ST1) 내지 제k-1 스테이지(ST[i-1]) 중 어느 하나를 지시한다. "후단 스테이지"는 기준이 되는 스테이지의 하부에 위치하는 것을 말한다. 예컨대, 제k(1<k<m) 스테이지(STi)을 기준으로, 후단 스테이지는 제i+1 스테이지(ST[i+1]) 내지 제m 스테이지 중 어느 하나를 지시한다.Referring to FIG. 3, an embodiment of the shift register 140 of the gate drivers 130 and 140 will be described as follows. The shift register 140 includes m stages corresponding to m gate lines on a one-to-one basis, and each stage is connected dependently. 3 is an i-th stage STG[i] to STG[i+2] that outputs a gate pulse provided to an i-th gate line to an (i+2)-th gate line. have. In the following description, the "shearing stage" refers to being positioned above the standard stage. For example, based on the i-th (k is a natural number of 1<k<m) stage STGi, the front stage is one of the first stage ST1 to the k-1th stage ST[i-1]. Instruct. The "rear stage" refers to being located below the standard stage. For example, based on the kth (1<k<m) stage STi, the subsequent stage indicates any one of the i+1th stage ST[i+1] to the mth stage.

제i 스테이지(STGi)는 제1 내지 제8 단자(1~8)를 포함한다. 제1 단자(1)는 스타트신호(VST)를 입력받고, 제2 단자(2)는 리셋신호(VRST)를 입력받는다. 제3 단자(3)는 클럭신호(CLK)를 입력받는다. 제4 내지 제6 단자(4~6)는 각각 고전위전압(VDD), 기수 고전위전압(VDD_O) 및 우수 고전위전압(VDD_E)과 연결된다. 제7 및 제8 단자(7,8)는 각각 저전위전압(VSS) 및 리커버리전압(Vrec)에 연결된다. 이하, 본 명세서에서 각 단자 및 각 단자에 입력되는 신호는 도면부호를 간략하게 하기 위해서 동일한 도면부호를 사용하기로 한다. The ith stage STGi includes first to eighth terminals 1 to 8. The first terminal 1 receives the start signal VST, and the second terminal 2 receives the reset signal VRST. The third terminal 3 receives the clock signal CLK. The fourth to sixth terminals 4 to 6 are connected to a high potential voltage VDD, an odd high potential voltage VDD_O, and an even high potential voltage VDD_E, respectively. The seventh and eighth terminals 7 and 8 are connected to the low potential voltage VSS and the recovery voltage Vrec, respectively. Hereinafter, in the present specification, the same reference numerals are used for each terminal and the signal input to each terminal in order to simplify the reference numerals.

도 5에서 보는 바와 같이, 고전위전압(VDD)은 항상 하이레벨의 전압을 유지한다. 기수 QB노드 동작 기간(To) 동안에 기수 고전위전압은 클럭신호(CLK)가 제공되어서 게이트펄스를 생성하는 스캔 기간(Ts)을 제외하고는 고전위전압을 유지한다. 기수 고전위전압(VDD_O) 및 우수 고전위전압(VDD_E)은 일정간격 예컨대 수 초마다 로직하이와 로직로우 또는 로직로우와 로직하이로 번갈아서 스윙한다.As shown in FIG. 5, the high potential voltage VDD always maintains a high level voltage. During the odd QB node operation period To, the odd high potential voltage maintains the high potential voltage except for the scan period Ts in which the clock signal CLK is provided to generate the gate pulse. The odd high potential voltage (VDD_O) and the excellent high potential voltage (VDD_E) alternately swing from logic high to logic low or logic low to logic high at a predetermined interval, for example, every few seconds.

저전위전압(VSS)은 게이트로우전압(VGL)을 이용할 수 있고 -5V 내지 -6V 전압레벨일 수 있다. 리커버리전압(Vrec)은 저전위전압(VSS) 보다 낮은 전압값을 갖는다.The low potential voltage VSS may use the gate low voltage VGL and may have a voltage level of -5V to -6V. The recovery voltage Vrec has a voltage value lower than that of the low potential voltage VSS.

제i 스테이지(STG[i])는 제i 클럭신호라인(CLK[i]), 리셋신호라인(VRST), 스타트신호라인(VST), 고전위전압(VDD), 기수 고전위전압(VDD_O)(또는 우수 고전위전압(VDD_E)) 및 저전위전압(VSS) 및 리커버리전압(Vrec)을 통해 공급된 신호 및 전원을 기반으로 동작한다. 제i 스테이지(STG[i])는 자신의 출력단(Gout)을 통해 제i 스캔신호를 출력한다.The i-th stage STG[i] is an i-th clock signal line CLK[i], a reset signal line VRST, a start signal line VST, a high potential voltage VDD, and an odd high potential voltage VDD_O. (Or, it operates based on the signal and power supplied through the excellent high potential voltage (VDD_E)), the low potential voltage (VSS), and the recovery voltage (Vrec). The ith stage STG[i] outputs the ith scan signal through its own output terminal Gout.

다수의 스테이지들(STG[i] ~ STG[i+2])은 전단 스테이지의 출력단이나 후단 스테이지의 출력단 등을 통해 출력된 스캔신호를 기반으로 동작하기 위해 출력단과 입력단이 접속된다. 일례로, 제i+1 스테이지(STG[i+1])는 제i 스캔신호를 입력단의 스타트신호로 사용하기 위해 제i 스테이지(STG[i])의 출력단(Gout)에 접속될 수 있다. 그리고 제i+2 스테이지(STG[i+2])는 제i+1 스캔신호를 입력단의 스타트신호로 사용하기 위해 제i+1 스테이지(STG[i+1])의 출력단(VG_OUT[i+1])에 접속될 수 있다.The plurality of stages STG[i] to STG[i+2] are connected to an output terminal to operate based on a scan signal output through an output terminal of a front stage or an output terminal of a rear stage. For example, the i+1th stage STG[i+1] may be connected to the output terminal Gout of the ith stage STG[i] in order to use the ith scan signal as a start signal of the input terminal. In addition, the i+2th stage STG[i+2] is the output terminal VG_OUT[i+1] of the i+1th stage STG[i+1] to use the i+1th scan signal as a start signal of the input terminal. 1]) can be connected.

또한, 다수의 스테이지들(STG[i] ~ STG[i+2])은 후단(다음단) 스테이지의 출력단(예: VG_OUT[i+1])이나 후후단(다다음단) 스테이지의 출력단(예: VG_OUT[i+2])으로부터 출력된 스캔신호 등을 통해 출력된 스캔신호를 기반으로 동작하기 위해 출력단과 입력단이 접속된다. 일례로, 제i 스테이지(STG[i])는 제i+2 스캔신호를 입력단의 안정화신호(또는 리셋신호)로 사용하기 위해 제i+2 스테이지(STG[i+2])의 출력단(VG_OUT[i+2])에 접속될 수 있다. 그리고 제i 스테이지(STG[i])는 제i+2 스캔신호를 입력단의 안정화신호(또는 리셋신호)로 사용하기 위해 제i+2 스테이지(STG[i+2])의 출력단(VG_OUT[i+2])에 접속될 수 있다.In addition, a plurality of stages (STG[i] to STG[i+2]) are the output stages of the rear (next stage) stage (e.g., VG_OUT[i+1]) or the output stage of the rear stage (next stage) stage ( Example: The output terminal and the input terminal are connected to operate based on the scan signal output through the scan signal output from VG_OUT[i+2]). For example, the ith stage STG[i] is the output terminal VG_OUT of the i+2th stage STG[i+2] in order to use the i+2th scan signal as a stabilization signal (or reset signal) of the input terminal. [i+2]) can be connected. In addition, the ith stage STG[i] uses the i+2th scan signal as a stabilization signal (or reset signal) of the input terminal, and the output terminal VG_OUT[i] of the i+2th stage STG[i+2] +2]).

도 4를 참조하면, 제1 실시 예에 따른 게이트 구동부의 제i 스테이지는 스캔방향 제어부(T1, T3N), 노드 제어부(T3R, T3a, T3b, T4a, T5Fa, T5QIa, T5Qa, T3b, T4b, T5Fb, T5QIb, T5Qb) 및 출력 제어부(T6, T7a, T7b)를 포함한다. 4, the ith stage of the gate driver according to the first embodiment includes scan direction controllers T1 and T3N, node controllers T3R, T3a, T3b, T4a, T5Fa, T5QIa, T5Qa, T3b, T4b, T5Fb. , T5QIb, T5Qb) and output control units T6, T7a, T7b.

스캔방향 제어부(T1, T3N)는 제i 스테이지의 스캔신호에 대한 쉬프트 방향을 순방향 또는 역방향으로 설정한다. 노드 제어부(T3R, T3a, T4a, T5Fa, T5QIa, T5Qa, T3b, T4b, T5Fb, T5QIb, T5Qb)는 제i 스테이지의 Q 노드(Q), 기수 QB 노드(QB_O), 우수 QB 노드(QB_E)를 충전하거나 방전하는 역할을 한다. 출력 제어부(T6, T7a, T7b)는 노드 제어부의 동작에 따라서 제i 스테이지의 출력단(Gout)을 통해 하이레벨의 게이트펄스를 출력하거나 제i 스테이지의 출력단(Gout)의 전위를 저전위전압으로 방전한다. The scan direction controllers T1 and T3N set the shift direction for the scan signal of the i-th stage in the forward or reverse direction. The node control unit (T3R, T3a, T4a, T5Fa, T5QIa, T5Qa, T3b, T4b, T5Fb, T5QIb, T5Qb) is the Q node (Q) of the ith stage, the odd QB node (QB_O), and the excellent QB node (QB_E) It serves to charge or discharge. The output control unit (T6, T7a, T7b) outputs a high-level gate pulse through the output terminal (Gout) of the ith stage or discharges the potential of the output terminal (Gout) of the ith stage to a low potential voltage according to the operation of the node controller. do.

제i 스테이지의 구성을 자세히 살펴보면 다음과 같다.A detailed look at the configuration of the ith stage is as follows.

스캔방향 제어부(T1, T3N)는 제1 트랜지스터(T1)와 제3N 트랜지스터(T3N)를 포함한다. 제1 트랜지스터(T1)는 스타트신호단자(VST)에 게이트전극이 연결되고 순방향 전압이 공급되는 고전위전압원(VDD)에 제1 전극이 연결되고 Q 노드(Q)에 제2전극이 연결된다. 제1 트랜지스터(T1)는 스타트신호(VST)에 응답하여, 고전위전압(VDD)을 이용하여 Q 노드(Q)를 충전한다. 제1 트랜지스터(T1)가 턴-온되면 제i 스테이지는 스캔신호에 대한 쉬프트 방향이 순방향으로 설정된다.The scan direction controllers T1 and T3N include a first transistor T1 and a third N transistor T3N. In the first transistor T1, a gate electrode is connected to the start signal terminal VST, a first electrode is connected to a high potential voltage source VDD to which a forward voltage is supplied, and a second electrode is connected to the Q node Q. The first transistor T1 charges the Q node Q using the high potential voltage VDD in response to the start signal VST. When the first transistor T1 is turned on, in the ith stage, the shift direction for the scan signal is set to the forward direction.

제3N 트랜지스터(T3N)는 후단신호단자(VNEXT)에 게이트전극이 연결되고 저전위전압원(VSS)에 제1 전극이 연결되고 Q 노드(Q)에 제2전극이 연결된다. 제3N 트랜지스터(T3N)는 후단신호(VNEXT)에 응답하여 Q 노드(Q)를 저전위전압(VSS)으로 방전한다. 제3N 트랜지스터(T3N)가 턴-온되면 제i 스테이지는 스캔신호에 대한 쉬프트 방향이 역방향으로 설정된다.In the 3N transistor T3N, the gate electrode is connected to the rear signal terminal VNEXT, the first electrode is connected to the low potential voltage source VSS, and the second electrode is connected to the Q node Q. The 3N transistor T3N discharges the Q node Q to the low potential voltage VSS in response to the downstream signal VNEXT. When the 3N transistor T3N is turned on, the i-th stage is set in a reverse direction for the scan signal.

노드 제어부는 Q 노드 제어부, 기수 QB 노드 제어부, 우수 QB 노드 제어부 및 저전위 홀딩부를 포함한다. The node control unit includes a Q node control unit, an odd QB node control unit, an even QB node control unit, and a low potential holding unit.

Q 노드 제어부(T3R, T3a, T3b)는 Q 노드(Q)의 충전 타이밍을 결정한다. 기수 QB 노드 제어부(T4a, T5Fa,T5Qa)는 기수 QB 노드(QB_O)의 충전타이밍을 결정한다. 우수 QB 노드 제어부(T4b, T5Fb, T5Qb)는 우수 QB 노드(QB_E)의 충전타이밍을 결정한다. 저전위 홀딩부(T5QIa, T5QIb)는 기수 QB 노드(QB_O) 및 우수 QB 노드(QB_E)가 동작하지 않는 구간에서 리커버리전압(Vrec)을 제공한다. The Q node control units T3R, T3a, and T3b determine the charging timing of the Q node Q. The odd-numbered QB node control units T4a, T5Fa, and T5Qa determine the charging timing of the odd-numbered QB node QB_O. The excellent QB node controllers T4b, T5Fb, and T5Qb determine the charging timing of the excellent QB node QB_E. The low-potential holding units T5QIa and T5QIb provide the recovery voltage Vrec in a period in which the odd QB node QB_O and the superior QB node QB_E do not operate.

제T3R 트랜지스터(T3R)는 리셋단자(VRST)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원(VSS)에 제1 전극이 연결되고 Q 노드(Q)에 제2 전극이 연결된다. 제T3R 트랜지스터(T3R)는 리셋단자(VRST)를 통해 공급되는 리셋신호에 응답하여 Q 노드(Q)를 저전위전압(VSS)까지 방전한다. In the T3R transistor T3R, the gate electrode is connected to the reset terminal VRST, the first electrode is connected to the low potential power source VSS, and the second electrode is connected to the Q node Q. The T3Rth transistor T3R discharges the Q node Q to the low potential voltage VSS in response to the reset signal supplied through the reset terminal VRST.

제T3a 트랜지스터(T3a)는 기수 QB 노드(QB_O)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원(VSS)에 제1전극이 연결되고 Q 노드(Q)에 제2 전극이 연결된다. 제T3a 트랜지스터(T3a)는 기수 QB 노드(QB_O)가 하이레벨의 전압일 때 Q 노드(Q)의 전원을 저전위전압(VSS)까지 방전한다.In the T3a-th transistor T3a, a gate electrode is connected to an odd QB node QB_O, a first electrode is connected to a low potential power source VSS, and a second electrode is connected to a Q node Q. The T3a-th transistor T3a discharges the power of the Q node Q to the low potential voltage VSS when the odd QB node QB_O is a high-level voltage.

제T4a 트랜지스터(T4a)는 기수 고전위전압원(VDD_O)에 게이트전극과 제1 전극이 연결되고 기수 QB 노드(QB_O)에 제2 전극이 연결된다. 제T4a 트랜지스터(T4a)는 하이레벨의 기수 고전위전압(VDD_O)이 제공될 때에 기수 QB 노드(QB_O)를 충전한다. In the T4ath transistor T4a, the gate electrode and the first electrode are connected to the odd high potential voltage source VDD_O, and the second electrode is connected to the odd QB node QB_O. The T4ath transistor T4a charges the odd QB node QB_O when the odd high potential voltage VDD_O of the high level is provided.

제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)는 스타트신호단자(VST)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원(VSS)에 제1 전극이 연결되고 기수 QB 노드(QB_O)에 제2 전극이 연결된다. 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)는 스타트신호(VST)에 응답하여 기수 QB 노드(QB_O)를 저전위전압(VSS)으로 방전한다.In the first odd QB node control transistor T5Fa, the gate electrode is connected to the start signal terminal VST, the first electrode is connected to the low potential power source VSS, and the second electrode is connected to the odd QB node QB_O. The first odd QB node control transistor T5Fa discharges the odd QB node QB_O to the low potential voltage VSS in response to the start signal VST.

기수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIa)는 우수 고전위전압원(VDD_E)에 게이트전극이 연결되고 리커버리단자(Vrec)에 제1 전극이 연결되고 기수 QB 노드(QB_O)에 제2 전극이 연결된다. 기수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIa)는 우수 고전위전압(VDD_E)에 응답하여, 기수 QB 노드(QB_O)의 전압을 리커버리전압(Vrec)레벨까지 방전한다.The odd low potential holding transistor T5QIa has a gate electrode connected to the excellent high potential voltage source VDD_E, a first electrode connected to the recovery terminal Vrec, and a second electrode connected to the odd QB node QB_O. The odd low potential holding transistor T5QIa discharges the voltage of the odd QB node QB_O to the recovery voltage Vrec level in response to the excellent high potential voltage VDD_E.

제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)는 Q 노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원라인(VSS)에 제1 전극이 연결되고 기수 QB 노드(QB_O)에 제2 전극이 연결된다. 제T5Qa트랜지스터(T5Qa)는 Q 노드(Q)가 하이레벨의 전압일 때 턴-온되어서 기수 QB 노드(QB_O)를 저전위전압(VSS)으로 방전한다. In the second odd QB node control transistor T5Qa, the gate electrode is connected to the Q node Q, the first electrode is connected to the low potential power line VSS, and the second electrode is connected to the odd QB node QB_O. The T5Qa-th transistor T5Qa is turned on when the Q node Q has a high level voltage to discharge the odd QB node QB_O to the low potential voltage VSS.

제T3b 트랜지스터(T3b)는 우수 QB 노드(QB_E)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원라인(VSS)에 제1 전극이 연결되고 Q 노드(Q)에 제2 전극이 연결된다. 제T3b 트랜지스터(T3b)는 우수 QB 노드(QB_E)가 하이레벨일 때 턴-온되어서, Q 노드(Q)를 저전위전압(VSS)까지 방전한다.In the T3b transistor T3b, the gate electrode is connected to the superior QB node QB_E, the first electrode is connected to the low potential power line VSS, and the second electrode is connected to the Q node Q. The T3b-th transistor T3b is turned on when the superior QB node QB_E is at a high level, and discharges the Q node Q to the low potential voltage VSS.

제T4b 트랜지스터(T4b)는 우수 고전위전압원(VDD_E)에 게이트전극과 제1 전극이 연결되고 우수 QB 노드(QB_E)에 제2 전극이 연결된다. 제T4b 트랜지스터(T4b)는 하이레벨의 우수 고전위전압(VDD_E)이 입력될 때, 우수 QB 노드(QB_E)를 충전한다.In the T4b transistor T4b, the gate electrode and the first electrode are connected to the superior high potential voltage source VDD_E, and the second electrode is connected to the superior QB node QB_E. When the high-level excellent high potential voltage VDD_E is input, the T4bth transistor T4b charges the excellent QB node QB_E.

제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)는 스타트신호단자(VST)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원(VSS)에 제1 전극이 연결되고 우수 QB 노드(QB_E)에 제2 전극이 연결된다. 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)는 스타트신호(VST)에 응답하여 우수 QB 노드(QB_E)를 저전위전압(VSS)으로 방전한다. In the first excellent QB node control transistor T5Fb, the gate electrode is connected to the start signal terminal VST, the first electrode is connected to the low potential power source VSS, and the second electrode is connected to the excellent QB node QB_E. The first good QB node control transistor T5Fb discharges the good QB node QB_E to the low potential voltage VSS in response to the start signal VST.

우수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIb)는 기수 고전위전압원(VDD_O)에 게이트전극이 연결되고 리커버리전압원(Vrec)에 제1 전극이 연결되고 우수 QB 노드(QB_E)에 제2 전극이 연결된다. 우수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIb)는 하이레벨의 기수 고전위전압(VDD_O)에 응답하여, 우수 QB 노드(QB_E)를 리커버리전압(Vrec)레벨까지 방전한다. In the excellent low potential holding transistor T5QIb, the gate electrode is connected to the odd high potential voltage source VDD_O, the first electrode is connected to the recovery voltage source Vrec, and the second electrode is connected to the excellent QB node QB_E. The superior low potential holding transistor T5QIb discharges the superior QB node QB_E to the recovery voltage Vrec level in response to the odd high potential voltage VDD_O of the high level.

제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)는 Q 노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원(VSS)에 제1 전극이 연결되고 우수 QB 노드(QB_E)에 제2 전극이 연결된다. 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)는 Q 노드(Q)가 충전될 때에 우수 QB 노드(QB_E)의 전위를 저전위전압(VSS)으로 방전한다.In the second excellent QB node control transistor T5Qb, the gate electrode is connected to the Q node Q, the first electrode is connected to the low potential power supply VSS, and the second electrode is connected to the even QB node QB_E. The second excellent QB node control transistor T5Qb discharges the potential of the even QB node QB_E to the low potential voltage VSS when the Q node Q is charged.

출력 제어부(T6, T7a, T7b) 풀업 트랜지스터(T6), 기수 풀다운 트랜지스터(T7a) 및 우수 풀다운 트랜지스터(T7b)를 포함한다. 풀업 트랜지스터(T6)는 게이트하이전압의 게이트신호를 출력하고 기수 풀다운 트랜지스터(T7a) 및 우수 풀다운 트랜지스터(T7b)는 출력단(Gout)의 전위를 저전위전압으로 방전한다.The output control units T6, T7a, and T7b include a pull-up transistor T6, an odd pull-down transistor T7a, and an even pull-down transistor T7b. The pull-up transistor T6 outputs a gate signal of a gate high voltage, and the odd pull-down transistor T7a and the excellent pull-down transistor T7b discharge the potential of the output terminal Gout to a low potential voltage.

풀업 트랜지스터(T6)는 Q 노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 클럭신호라인(CLK)에 제1 전극이 연결되고 출력단(Gout)에 제2 전극이 연결된다. 풀업 트랜지스터(T6)는 Q 노드(Q)가 충전 상태일 때, 클럭신호(CLK)를 출력단(Gout)으로 출력한다.The pull-up transistor T6 has a gate electrode connected to the Q node Q, a first electrode connected to the clock signal line CLK, and a second electrode connected to the output terminal Gout. The pull-up transistor T6 outputs the clock signal CLK to the output terminal Gout when the Q node Q is in a charged state.

기수 풀다운 트랜지스터(T7a)는 기수 QB 노드(QB_O)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원라인(VSS)에 제1 전극이 연결되고 출력단(Gout)에 제2 전극이 연결된다. 기수 풀다운 트랜지스터(T7a)는 기수 QB 노드(QB_O)가 충전 상태일 때, 출력단(Gout)의 전위를 저전위전압(VSS)으로 방전한다.In the odd pull-down transistor T7a, a gate electrode is connected to the odd QB node QB_O, a first electrode is connected to the low potential power line VSS, and a second electrode is connected to the output terminal Gout. The odd pull-down transistor T7a discharges the potential of the output terminal Gout to a low potential voltage VSS when the odd QB node QB_O is in a charged state.

우수 풀다운 트랜지스터(T7b)는 우수 QB 노드(QB_E)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원라인(VSS)에 제1 전극이 연결되고 출력단(Gout)에 제2 전극이 연결된다. 우수 풀다운 트랜지스터(T7b)는 우수 QB 노드(QB_E)가 충전 상태일 때, 출력단(Gout)의 전위를 저전위전압(VSS)으로 방전한다. In the even pull-down transistor T7b, the gate electrode is connected to the even QB node QB_E, the first electrode is connected to the low potential power line VSS, and the second electrode is connected to the output terminal Gout. The even pull-down transistor T7b discharges the potential of the output terminal Gout to the low potential voltage VSS when the superior QB node QB_E is in a charged state.

본 발명의 게이트 구동부는 기수 QB 노드(QB_O) 및 우수 QB 노드(QB_E)를 교번적으로 구동하기 위한 기수 고전위전압(VDD_O) 및 우수 고전위전압(VDD_E)을 제공받는다.The gate driver of the present invention is provided with odd high potential voltage VDD_O and excellent high potential voltage VDD_E for alternately driving odd QB nodes QB_O and excellent QB nodes QB_E.

기수 QB노드 동작 기간(To)은 기수 고전위전압단자(VDD_O)를 통해서 제공되는 전압을 바탕으로 기수 QB 노드(QB_O)를 구동하는 구간이다. 기수 QB노드 동작 기간(To) 동안에 우수 QB 노드(QB_E)는 리커버리전압(Vrec)을 유지한다.The odd QB node operation period To is a period in which the odd QB node QB_O is driven based on the voltage provided through the odd high potential voltage terminal VDD_O. During the odd QB node operation period To, the even QB node QB_E maintains the recovery voltage Vrec.

우수 QB노드 동작 기간(Te)은 우수 고전위전압단자(VDD_E)를 통해서 제공되는 전압을 바탕으로 우수 QB 노드(QB_E)를 구동하는 구간이다. 우수 QB노드 동작 기간(Te) 동안에 기수 QB 노드(QB_O)는 리커버리전압(Vrec)을 유지한다.The excellent QB node operation period Te is a period in which the excellent QB node QB_E is driven based on the voltage provided through the excellent high potential voltage terminal VDD_E. During the even QB node operation period Te, the odd QB node QB_O maintains the recovery voltage Vrec.

저전위전압(VSS)은 '0'V의 전압값을 갖는 그라운드 전압이고, 리커버리전압(Vrec)은 저전위전압(VSS) 보다 낮은 전압, 즉 음의 전압값을 갖는다.The low potential voltage VSS is a ground voltage having a voltage value of '0'V, and the recovery voltage Vrec has a voltage lower than the low potential voltage VSS, that is, a negative voltage value.

기수 QB노드 동작 기간(To) 및 우수 QB노드 동작 기간(Te)은 수 초 단위로 설정될 수 있다. 이렇듯 기수 QB 노드(QB_O) 및 우수 QB 노드(QB_E)는 일정간격마다 교번적으로 구동되고, 이에 따라서 QB 노드를 구동하는 트랜지스터들에 부담되는 바이어스 스트레스(bias stress)를 줄일 수 있다. The odd QB node operation period To and the even QB node operation period Te may be set in units of several seconds. As described above, odd QB nodes QB_O and even QB nodes QB_E are alternately driven at regular intervals, thereby reducing a bias stress burdened on transistors driving the QB nodes.

한편, 제1 실시 예에 따른 내장형 스캔 구동부의 제i 스테이지는 도 6에 도시된 바와 같이, 클럭신호(CLK), 스타트신호(VST), 고전위전원(VDD), 기수 고전위전원(VDD_O) 및 후단신호(VNEXT)에 대응하여 동작할 수 있다. 도 6은 기수 QB 노드를 구동하기 위해서 기수 고전위전압(VDD_O)이 하이레벨인 경우를 나타내고 있다. On the other hand, the ith stage of the built-in scan driver according to the first embodiment, as shown in Figure 6, clock signal (CLK), start signal (VST), high potential power (VDD), odd high potential power (VDD_O) And it can operate in response to the rear end signal (VNEXT). 6 shows a case in which the odd high potential voltage VDD_O is at a high level to drive the odd QB node.

도 6을 참조하여, 각 신호들의 타이밍에 따라서 게이트펄스를 출력하는 출력단(Gout)의 전위변화를 살펴보면 다음과 같다. Referring to FIG. 6, a change in the potential of the output terminal Gout outputting the gate pulse according to the timing of each signal is as follows.

스타트신호(VST)가 입력되는 동안에, 제1 트랜지스터(T1)는 고전위전압(VDD)을 Q 노드(Q)에 제공한다. 따라서, Q 노드(Q)는 스타트신호(VST)가 입력되는 동안에 프리챠징(pre-charging)된다. While the start signal VST is being input, the first transistor T1 provides the high potential voltage VDD to the Q node Q. Accordingly, the Q node Q is pre-charged while the start signal VST is input.

클럭신호(CLK)가 입력되는 동안에, 풀업 트랜지스터(T6)의 제1 전극은 클럭신호(CLK)에 의해서 전위가 올라가고 게이트전극은 부트스트래핑(boot strapping) 된다. 따라서, 스타트신호(VST)가 입력되는 동안에 프리챠징 된 Q 노드(Q)의 전위는 클럭신호(CLK)가 입력될 때 더욱 높아지면서 턴-온된다. 턴-온된 풀업 트랜지스터(T6)는 클럭신호(CLK)를 출력단(Gout)으로 출력한다. While the clock signal CLK is being input, the potential of the first electrode of the pull-up transistor T6 is raised by the clock signal CLK, and the gate electrode is bootstrapped. Accordingly, the potential of the Q node Q precharged while the start signal VST is input becomes higher when the clock signal CLK is input and is turned on. The turned-on pull-up transistor T6 outputs the clock signal CLK to the output terminal Gout.

그리고 스타트신호(VST)와 클럭신호(CLK)에 의한 Q 노드(Q)가 충전되는 스캔 기간(Ts) 동안에, 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)는 기수 QB 노드(QB_O)의 전위를 저전위전압(VSS)으로 방전하고 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)는 우수 QB 노드(QB_E)의 전위를 저전위전압(VSS)으로 방전한다. 또한, 제1 기간(t1) 동안에 Q 노드(Q)가 충전됨에 따라서, 제2 기수 QB노드 제어 트랜지스터(T5QIa)는 기수 QB 노드(QB_O)를 저전위전압(VSS)으로 방전하고, 제2 우수 QB노드 제어 트랜지스터(T5QIb)는 우수 QB 노드(QB_E)를 저전위전압(VSS)으로 방전한다. And during the scan period Ts in which the Q node Q is charged by the start signal VST and the clock signal CLK, the first odd QB node control transistor T5Fa reduces the potential of the odd QB node QB_O. After discharging with the potential voltage VSS, the first superior QB node control transistor T5Fb discharges the potential of the superior QB node QB_E to the low potential voltage VSS. In addition, as the Q node Q is charged during the first period t1, the second odd QB node control transistor T5QIa discharges the odd QB node QB_O to a low potential voltage VSS, and a second excellent The QB node control transistor T5QIb discharges the even QB node QB_E to a low potential voltage VSS.

즉, 스캔 기간(Ts) 동안에, Q 노드(Q)는 충전되고 기수 QB 노드(QB_O) 및 우수 QB 노드(QB_E)는 저전위전압(VSS)으로 방전된다. That is, during the scan period Ts, the Q node Q is charged and the odd QB node QB_O and the even QB node QB_E are discharged to the low potential voltage VSS.

클럭신호(CLK)가 로우레벨로 반전되고, 후단신호(VNEXT)가 입력되는 동안에 제T3N 트랜지스터(T3N)는 턴-온되어 Q 노드(Q)의 전위를 저전위전압(VSS)으로 방전한다. Q 노드(Q)의 전위를 저전위전압(VSS)으로 방전됨에 따라서 제2 기수 QB노드 제어 트랜지스터(T5QIa) 및 제2 우수 QB노드 제어 트랜지스터(T5QIb)는 턴-오프되고, 기수 QB노드(QB_O) 및 우수 QB노드(QB_E)는 저전위를 유지하지 못한다. 따라서, 기수 QB노드(QB_O)는 기수 고전위전압(VDD_O)에 의해서 충전되고, 우수 QB노드(QB_E)는 우수 고전위전압(VDD_E)에 의해서 충전된다. While the clock signal CLK is inverted to the low level and the downstream signal VNEXT is input, the T3Nth transistor T3N is turned on to discharge the potential of the Q node Q to the low potential voltage VSS. As the potential of the Q node Q is discharged to the low potential voltage VSS, the second odd QB node control transistor T5QIa and the second excellent QB node control transistor T5QIb are turned off, and the odd QB node QB_O ) And good QB nodes (QB_E) cannot maintain the low potential. Accordingly, the odd QB node QB_O is charged by the odd high potential voltage VDD_O, and the even QB node QB_E is charged by the excellent high potential voltage VDD_E.

기수 QB 노드 동작 기간(To) 동안에, 기수 QB 노드(QB_O)가 충전됨에 따라서 제T3a 트랜지스터(T3a)는 턴-온되어서 Q 노드(Q)를 저전위전압(VSS)으로 방전한다. 또는, 우수 QB 노드 동작 기간(Te) 동안에, 우수 QB 노드(QB_E)가 충전됨에 따라서 제T3b 트랜지스터(T3b)는 턴-온되어서 Q 노드(Q)를 저전위전압(VSS)으로 방전한다. During the odd QB node operation period To, as the odd QB node QB_O is charged, the T3ath transistor T3a is turned on to discharge the Q node Q to the low potential voltage VSS. Alternatively, during the excellent QB node operation period Te, as the even QB node QB_E is charged, the T3bth transistor T3b is turned on to discharge the Q node Q to the low potential voltage VSS.

살펴본 바와 같이, 제T3a 트랜지스터(T3a) 및 기수 풀다운 트랜지스터(T7a)는 기수 QB 노드(QB_O)를 구동하는 과정에서 게이트펄스를 출력하는 구간을 제외하고는 기수 QB 노드(QB_O)에 충전된 전압을 게이트전극을 통해서 입력받는다. 즉, 제T3a 트랜지스터(T3a) 및 기수 풀다운 트랜지스터(T7a)는 장시간 바이어스 스트레스(bias stress)를 받기 때문에 트랜지스터의 문턱전압(Vth) 특성이 변한다. As described above, the T3a-th transistor T3a and the odd-numbered pull-down transistor T7a control the voltage charged in the odd-numbered QB node QB_O except for the period in which the gate pulse is output during the driving of the odd-numbered QB node QB_O. It is input through the gate electrode. That is, since the T3a-th transistor T3a and the odd pull-down transistor T7a are subjected to a bias stress for a long time, the threshold voltage Vth characteristic of the transistor is changed.

마찬가지로 제T3b 트랜지스터(T3b) 및 우수 풀다운 트랜지스터(T7b)는 우수 QB 노드(QB_E)를 구동하는 과정에서 바이어스 스트레지스에 의한 트랜지스터 특성이 변하게 된다. Likewise, transistor characteristics of the T3b-th transistor T3b and the excellent pull-down transistor T7b are changed due to the bias resistance in the process of driving the excellent QB node QB_E.

본 발명의 쉬프트 레지스터(140)는 기수 QB 노드(QB_O) 및 우수 QB 노드(QB_E)를 교번구동하며, 비구동 기간 동안에 QB 노드를 저전위로 유지하여 제T3a 트랜지스터(T3a) 및 기수 풀다운 트랜지스터(T7a) 또는 제T3b 트랜지스터(T3b) 및 우수 풀다운 트랜지스터(T7b)의 소자특성을 회복시킨다. 특히, 이 과정에서 비구동 기간의 QB 노드는 저전위전압 보다 전압레벨이 낮은 리커버리전압(Vrec)을 유지한다. 예컨대, 도 6에서와 같이 기수 QB 노드(QB_O)를 구동하는 동안에, 우수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIb)는 우수 QB 노드(QB_E)를 리커버리전압(Vrec)레벨까지 방전한다. The shift register 140 of the present invention alternately drives the odd QB node (QB_O) and the excellent QB node (QB_E), and maintains the QB node at a low potential during the non-driving period, so that the T3a-th transistor T3a and the odd pull-down transistor T7a ) Or the device characteristics of the T3b-th transistor T3b and the excellent pull-down transistor T7b are restored. In particular, during this process, the QB node in the non-driving period maintains a recovery voltage Vrec whose voltage level is lower than that of the low potential voltage. For example, while driving the odd QB node QB_O as shown in FIG. 6, the excellent low potential holding transistor T5QIb discharges the even QB node QB_E to the recovery voltage Vrec level.

도 7은 게이트-소스 전위(Vgs)가 양의 전위일 경우와 음(-)의 전위일 경우에 트랜지스터 문턱전압(Vth)의 회복특성을 나타내는 도면이다. 도 7에서 보는 바와 같이, 트랜지스터는 게이트-소스 전위가 음(-)의 전위일 경우에 문턱전압의 회복이 더 빠르게 되는 것을 알 수 있다. 7 is a diagram showing a recovery characteristic of a transistor threshold voltage Vth when the gate-source potential Vgs is a positive potential and a negative potential Vgs. As shown in FIG. 7, it can be seen that when the gate-source potential of the transistor is a negative (-) potential, the recovery of the threshold voltage becomes faster.

제1 실시 예의 게이트 구동부는 구동기간에 따라서 QB 노드를 선택적으로 저전위전압(VSS) 또는 리커버리전압(Vrec)으로 유지한다. 만약 QB 노드를 항시 음(-)의 전압으로 유지하면, 구동기간 동안에는 QB 노드의 전압 스윙폭이 커지기 때문에 소비전력이 증가한다. 하지만, 제1 실시 예는 구동기간에는 QB 노드를 저전위전압으로 유지하기 때문에 소비전력을 낮추면서, 비구동기간에는 QB 노드를 음(-)의 전위로 유지하여 문턱전압의 회복 기능을 효과적으로 수행할 수 있다.The gate driver of the first embodiment selectively maintains the QB node at a low potential voltage VSS or a recovery voltage Vrec according to a driving period. If the QB node is always maintained at a negative voltage, power consumption increases because the voltage swing of the QB node increases during the driving period. However, in the first embodiment, since the QB node is maintained at a low potential voltage during the driving period, power consumption is reduced, and during the non-driving period, the QB node is maintained at a negative potential to effectively perform a threshold voltage recovery function. I can.

도 8은 제2 실시 예에 의한 스테이지를 나타내는 도면이다. 8 is a diagram illustrating a stage according to a second embodiment.

도 8을 참조하면, 제2 실시 예에 따른 게이트 구동부의 제i 스테이지는 스캔방향 제어부(T1, T3N), 노드 제어부(T3R, T3a, T3b, T4a, T5Fa, T5QIa, T5Qa, T3b, T4b, T5Fb, T5QIb, T5Qb, T5F_La, T5F_Lb, T5F_Ha, T5F_Hb, T5Q_La, T5Q_Lb, T5Q_Ha, T5Q_Hb,) 및 출력 제어부(T6, T7a, T7b)를 포함한다. 제2 실시 예에서 전술한 실시 예와 실질적으로 동일한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고 자세한 설명을 생략하기로 한다. Referring to FIG. 8, the ith stage of the gate driver according to the second embodiment includes scan direction controllers T1 and T3N, node controllers T3R, T3a, T3b, T4a, T5Fa, T5QIa, T5Qa, T3b, T4b, T5Fb. , T5QIb, T5Qb, T5F_La, T5F_Lb, T5F_Ha, T5F_Hb, T5Q_La, T5Q_Lb, T5Q_Ha, T5Q_Hb) and output control units (T6, T7a, T7b). In the second embodiment, the same reference numerals are used for configurations that are substantially the same as those of the above-described embodiment, and detailed descriptions will be omitted.

노드 제어부는 Q 노드 제어부, 기수 QB 노드 제어부, 우수 QB 노드 제어부 및 저전위 홀딩부를 포함한다. The node control unit includes a Q node control unit, an odd QB node control unit, an even QB node control unit, and a low potential holding unit.

Q 노드 제어부(T3R, T3a, T3b)는 Q 노드(Q)의 충전 타이밍을 결정한다. 기수 QB 노드 제어부(T4a, T5Fa, T5Qa, T5F_Ha, T5Q_Ha)는 기수 QB 노드(QB_O)의 충전타이밍을 결정한다. 우수 QB 노드 제어부(T4b, T5Fb, T5Qb, T5F_Hb, T5Q_Hb)는 우수 QB 노드(QB_E)의 충전타이밍을 결정한다. 저전위 홀딩부(T5QIa, T5QIb)는 기수 QB 노드(QB_O) 및 우수 QB 노드(QB_E)가 동작하지 않는 구간에서 리커버리전압(Vrec)을 제공한다. The Q node control units T3R, T3a, and T3b determine the charging timing of the Q node Q. The odd QB node controllers T4a, T5Fa, T5Qa, T5F_Ha, and T5Q_Ha determine the charging timing of the odd QB node QB_O. The excellent QB node controllers T4b, T5Fb, T5Qb, T5F_Hb, and T5Q_Hb determine the charging timing of the excellent QB node QB_E. The low-potential holding units T5QIa and T5QIb provide the recovery voltage Vrec in a period in which the odd QB node QB_O and the superior QB node QB_E do not operate.

쇼트 방지부(T5F_La, T5Q_La, T5F_Lb, T5Q_Lb)는 동작하지 않는 QB노드를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 방지한다. The short-circuit prevention units T5F_La, T5Q_La, T5F_Lb, and T5Q_Lb prevent a short-circuit phenomenon from occurring through an inactive QB node.

제T4a 트랜지스터(T4a)는 기수 고전위전압원(VDD_O)에 게이트전극과 제1 전극이 연결되고 기수 QB 노드(Qr_O)에 제2 전극이 연결된다. 제T4a 트랜지스터(T4a)는 하이레벨의 기수 고전위전압(VDD_O)이 제공될 때에 기수 QB 노드(QB_O)를 충전한다. In the T4ath transistor T4a, a gate electrode and a first electrode are connected to the odd high potential voltage source VDD_O, and a second electrode is connected to the odd QB node Qr_O. The T4ath transistor T4a charges the odd QB node QB_O when the odd high potential voltage VDD_O of the high level is provided.

제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)는 기수 스타트 출력제어 트랜지스터(T5F_Ha)에 게이트전극이 연결되고 저전위전압(VSS)에 제1 전극이 연결되고 기수 QB 노드(QB_O)에 제2 전극이 연결된다. 기수 스타트 출력제어 트랜지스터(T5F_Ha)의 게이트전극은 기수 고전위전압(VDD_O)에 연결되고 제1 전극은 스타트신호(VST)에 연결되며 제2 전극은 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)에 연결된다. 즉, 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)는 기수 고전위전압(VDD_O)이 하이레벨일 때에 한해서 선택적으로 제공받는 스타트신호(VST)에 응답하여 기수 QB 노드(QB_O)를 저전위전압(VSS)으로 방전한다.In the first odd QB node control transistor T5Fa, the gate electrode is connected to the odd start output control transistor T5F_Ha, the first electrode is connected to the low potential voltage VSS, and the second electrode is connected to the odd QB node (QB_O). do. The gate electrode of the odd start output control transistor T5F_Ha is connected to the odd high potential voltage (VDD_O), the first electrode is connected to the start signal (VST), and the second electrode is connected to the first odd QB node control transistor (T5Fa). do. That is, the first odd QB node control transistor T5Fa converts the odd QB node QB_O to the low potential voltage VSS in response to the start signal VST selectively provided only when the odd high potential voltage VDD_O is at a high level. ) To discharge.

제1 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_La)는 우수 고전위전압단자(VDD_E)에 게이트전극이 연결되고 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)에 제1 전극이 연결되며 리커버리전압원(Vrec)에 제2 전극이 연결된다. 제1 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_La)는 우수 고전위전압(VDD_E)이 제공될 때, 즉 기수 QB노드 동작 기간(Te) 동안에 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)를 턴-오프시킨다. In the first odd short-circuit prevention transistor T5F_La, the gate electrode is connected to the superior high potential voltage terminal VDD_E, the first electrode is connected to the first odd QB node control transistor T5Fa, and the second electrode is connected to the recovery voltage source Vrec. Is connected. The first odd-numbered short-circuit prevention transistor T5F_La turns off the first odd-numbered QB node control transistor T5Fa when the excellent high potential voltage VDD_E is applied, that is, during the odd-numbered QB node operation period Te.

제T4b 트랜지스터(T4b)는 우수 고전위전압원(VDD_E)에 게이트전극과 제1 전극이 연결되고 우수 QB 노드(QB_E)에 제2 전극이 연결된다. 제T4b 트랜지스터(T4b)는 하이레벨의 우수 고전위전압(VDD_E)이 입력될 때, 우수 QB 노드(QB_E)를 충전한다.In the T4b transistor T4b, the gate electrode and the first electrode are connected to the superior high potential voltage source VDD_E, and the second electrode is connected to the superior QB node QB_E. When the high-level excellent high potential voltage VDD_E is input, the T4bth transistor T4b charges the excellent QB node QB_E.

제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)는 우수 스타트 출력제어 트랜지스터(T5F_Hb)에 게이트전극이 연결되고 저전위전압원(VSS)에 제1 전극이 연결되고 우수 QB 노드(QB_E)에 제2 전극이 연결된다. 우수 스타트 출력제어 트랜지스터(T5F_Hb)의 게이트전극은 우수 고전위전압원(VDD_E)에 연결되고 제1 전극은 스타트신호(VST)에 연결되며 제2 전극은 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)에 연결된다. 즉, 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)는 우수 고전위전압(VDD_E)이 하이레벨일 때에 한해서 선택적으로 제공받는 스타트신호(VST)에 응답하여 우수 QB 노드(QB_E)를 저전위전압으로 방전한다.In the first excellent QB node control transistor T5Fb, the gate electrode is connected to the excellent start output control transistor T5F_Hb, the first electrode is connected to the low potential voltage source (VSS), and the second electrode is connected to the excellent QB node (QB_E). do. The gate electrode of the excellent start output control transistor T5F_Hb is connected to the excellent high potential voltage source VDD_E, the first electrode is connected to the start signal VST, and the second electrode is connected to the first odd QB node control transistor T5Fa. do. That is, the first excellent QB node control transistor T5Fb discharges the excellent QB node (QB_E) to a low potential voltage in response to the start signal VST selectively provided only when the excellent high potential voltage (VDD_E) is at a high level. do.

제1 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_Lb)는 기수 고전위전압단자(VDD_O)에 게이트전극이 연결되고 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)에 제1 전극이 연결되며 리커버리전압원(Vrec)에 제2 전극이 연결된다. 제1 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_Lb)는 기수 고전위전압(VDD_O)이 제공될 때, 즉 기수 QB노드 동작 기간 동안에 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)를 턴-오프시킨다. The first excellent short-circuit prevention transistor T5F_Lb has a gate electrode connected to the odd high potential voltage terminal VDD_O, a first electrode connected to the first excellent QB node control transistor T5Fb, and a second electrode to the recovery voltage source Vrec. Is connected. The first excellent short-circuit prevention transistor T5F_Lb turns off the first excellent QB node control transistor T5Fb when the odd high potential voltage VDD_O is applied, that is, during an odd QB node operation period.

제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)는 기수 Q 노드 스위칭 트랜지스터(T5Q_Ha)의 제2 전극에 게이트전극이 연결되고 기수 QB 노드(QB_O)에 제1 전극이 연결되며 저전위전원라인(VSS)에 제2 전극이 연결된다. 기수 Q 노드 스위칭 트랜지스터(T5Q_Ha)는 기수 고전위전압단자(VDD_O)에 게이트전극이 연결되고 Q 노드(Q)에 제1 전극이 연결되며 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)의 게이트전극에 제2 전극이 연결된다. 즉, 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)는 기수 고전위전압(VDD_O)이 제공되는 동안에 Q 노드(Q)가 하이레벨의 전압일 때 턴-온된다. 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)는 턴-온되는 동안에 기수 QB 노드(QB_O)를 저전위전압(VSS)으로 방전시킨다.In the second odd QB node control transistor T5Qa, the gate electrode is connected to the second electrode of the odd Q node switching transistor T5Q_Ha, the first electrode is connected to the odd QB node QB_O, and is connected to the low potential power line VSS. The second electrode is connected. The odd Q node switching transistor T5Q_Ha has a gate electrode connected to the odd high potential voltage terminal VDD_O, a first electrode connected to the Q node Q, and a gate electrode of the second odd QB node control transistor T5Qa. 2 electrodes are connected. That is, the second odd QB node control transistor T5Qa is turned on when the Q node Q is the high level voltage while the odd high potential voltage VDD_O is provided. The second odd QB node control transistor T5Qa discharges the odd QB node QB_O to a low potential voltage VSS while being turned on.

제2 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_La)는 기수 고전위전압단자(VDD_O)에 게이트전극이 연결되고 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)에 제1 전극이 연결되며 리커버리전압원(Vrec)에 제2 전극이 연결된다. 제2 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_La)는 기수 고전위전압(VDD_O)이 제공될 때에 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)를 턴-오프 시킨다. 즉, 제2 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_La)는 기수 QB 노드(QB_O)가 동작구간이고 우수 QB 노드가 비동작구간일 때에 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)를 턴-오프시킨다. In the second odd short-circuit prevention transistor T5Q_La, the gate electrode is connected to the odd high potential voltage terminal VDD_O, the first electrode is connected to the second excellent QB node control transistor T5Qb, and the second electrode is connected to the recovery voltage source Vrec. Is connected. The second odd short-circuit prevention transistor T5Q_La turns off the second odd QB node control transistor T5Qb when the odd high potential voltage VDD_O is applied. That is, the second odd short-circuit prevention transistor T5Q_La turns off the second good QB node control transistor T5Qb when the odd QB node QB_O is in the operating period and the even QB node is in the inactive period.

제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)는 우수 Q 노드 스위칭 트랜지스터(T5Q_Hb)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원라인(VSS)에 제1 전극이 연결되고 우수 QB 노드(QB_E)에 제2 전극이 연결된다. 우수 Q 노드 스위칭 트랜지스터(T5Q_Hb)는 우수 고전위전압단자(VDD_E)에 게이트전극이 연결되고 Q 노드(Q)에 제1 전극이 연결되며 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)의 게이트전극에 제2 전극이 연결된다. 즉, 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)는 우수 고전위전압(VDD_E)이 제공되는 동안에 Q 노드(Q)가 하이레벨의 전압일 때 턴-온된다. 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)는 턴-온되는 동안에 우수 QB 노드(QB_E)를 저전위전압(VSS)으로 방전시킨다.The second excellent QB node control transistor T5Qb has a gate electrode connected to the excellent Q node switching transistor T5Q_Hb, a first electrode connected to the low potential power line VSS, and a second electrode connected to the excellent QB node QB_E. Connected. The excellent Q node switching transistor T5Q_Hb has a gate electrode connected to the excellent high potential voltage terminal VDD_E, a first electrode connected to the Q node Q, and a gate electrode of the second excellent QB node control transistor T5Qb. 2 electrodes are connected. That is, the second excellent QB node control transistor T5Qb is turned on when the Q node Q is a high level voltage while the excellent high potential voltage VDD_E is provided. The second good QB node control transistor T5Qb discharges the good QB node QB_E to the low potential voltage VSS while being turned on.

제2 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_Lb)는 우수 고전위전압단자(VDD_E)에 게이트전극이 연결되고 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)에 제1 전극이 연결되며 리커버리전압원(Vrec)에 제2 전극이 연결된다. 제2 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_Lb)는 우수 고전위전압(VDD_E)이 제공될 때에 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)를 턴-오프 시킨다. 즉, 제2 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_Lb)는 우수 QB 노드(QB_E)가 동작구간이고 기수 QB 노드(QB_O)가 비동작구간일 때에 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)를 턴-오프시킨다. The second excellent short-circuit prevention transistor T5Q_Lb has a gate electrode connected to the excellent high potential voltage terminal VDD_E, a first electrode connected to the first odd QB node control transistor T5Fa, and a second electrode to the recovery voltage source Vrec. Is connected. The second even short-circuit prevention transistor T5Q_Lb turns off the second odd QB node control transistor T5Qa when the excellent high potential voltage VDD_E is provided. That is, the second even short-circuit prevention transistor T5Q_Lb turns off the second odd QB node control transistor T5Qa when the even QB node QB_E is an operating period and the odd QB node QB_O is a non-operating period.

한편, 제2 실시 예에 따른 내장형 스캔 구동부의 제i 스테이지는 제1 실시 예와 마찬가지로 도 6에 도시된 클럭신호(CLK), 스타트신호(VST), 고전위전원(VDD), 기수 고전위전원(VDD_O) 및 후단신호(VNEXT)에 대응하여 동작할 수 있다. Meanwhile, the i-th stage of the built-in scan driver according to the second embodiment is the clock signal CLK, the start signal VST, the high potential power supply (VDD), and the odd high potential power supply shown in FIG. 6 as in the first embodiment. It can operate in response to (VDD_O) and the rear end signal (VNEXT).

기수 QB노드 동작 기간(To) 동안에 우수 QB 노드(QB_E)는 우수 저전위 홀딩 트랜지스터(T5QIb)의 동작에 의해서 리커버리전압(Vrec)레벨을 유지하여야 한다. 하지만, 기수 QB노드 동작 기간(To)에서도 스타트신호(VST)가 입력되는 동안에는 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)가 턴-온되고, Q 노드(Q)가 충전되기 때문에 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb) 또한 턴-온된다. 이에 따라, 기수 QB노드 동작 기간(To) 동안에 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)와 우수 저전위 홀딩 트랜지스터(T5QIb)를 통해서 저전위전압(VSS)과 리커버리전압(Vrec)이 쇼트(short)되는 현상이 발생한다. 또한, 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)와 우수 저전위 홀딩 트랜지스터(T5QIb)를 통해서 저전위전압(VSS)과 리커버리전압(Vrec)이 쇼트(short)되는 현상이 발생한다. 결국, 도 9에서 보는 바와 같이, 기수 QB노드 동작 기간(To) 내에서 쇼트 전압이 발생하여, 저전위전압(VSS) 및 리커버리전압(Vrec)의 전압레벨이 흔들릴 수 있다. During the odd QB node operation period To, the good QB node QB_E must maintain the recovery voltage Vrec level by the operation of the good low potential holding transistor T5QIb. However, even in the odd QB node operation period (To), while the start signal VST is input, the first excellent QB node control transistor T5Fb is turned on and the Q node Q is charged. The control transistor T5Qb is also turned on. Accordingly, the low potential voltage VSS and the recovery voltage Vrec are shorted through the first excellent QB node control transistor T5Fb and the excellent low potential holding transistor T5QIb during the odd QB node operation period To. This phenomenon occurs. In addition, a phenomenon in which the low potential voltage VSS and the recovery voltage Vrec are shorted occurs through the second excellent QB node control transistor T5Qb and the excellent low potential holding transistor T5QIb. As a result, as shown in FIG. 9, a short-circuit voltage occurs within the odd QB node operation period To, and the voltage levels of the low potential voltage VSS and the recovery voltage Vrec may fluctuate.

제2 실시 예의 스테이지는 기수 QB 노드 동작기간(To) 동안에 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)를 정상 동작시키기 위한 기수 스타트출력제어 트랜지스터(T5F_Ha)를 포함한다. 그리고 제2 실시 예의 스테이지는 기수 QB 노드 동작기간(To) 동안에 우수 QB 노드(QB_E)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 방지하기 위한 제1 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5F_Lb)를 포함한다. The stage of the second embodiment includes an odd start output control transistor T5F_Ha for normally operating the first odd QB node control transistor T5Fa during the odd QB node operation period To. Further, the stage of the second embodiment includes a first excellent short-circuit prevention transistor T5F_Lb for preventing a short-circuit from occurring through the even QB node QB_E during the odd QB node operation period To.

또한, 제2 실시 예의 스테이지는 기수 QB 노드 동작기간(To) 동안에, 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)를 정상 동작시키기 위한 기수 Q 노드 스위칭 트랜지스터(T5Q_Ha)를 포함하고, 우수 QB 노드(QB_E)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 방지하기 위한 제2 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5Q_Lb)를 포함한다. In addition, the stage of the second embodiment includes an odd Q node switching transistor T5Q_Ha for normally operating the second odd QB node control transistor T5Qa during the odd QB node operation period To, and an excellent QB node QB_E ), and a second excellent short-circuit prevention transistor T5Q_Lb for preventing a short-circuit from occurring.

기수 스타트출력제어 트랜지스터(T5F_Ha)는 기수 고전위전압(VDD_O)에 응답하여 턴-온된다. 따라서 기수 스타트출력제어 트랜지스터(T5F_Ha)는 기수 QB노드 동작 기간(To) 동안에 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)를 턴-온시켜서 정상적인 구동을 한다. The odd start output control transistor T5F_Ha is turned on in response to the odd high potential voltage VDD_O. Therefore, the odd-numbered start output control transistor T5F_Ha turns on the first odd-numbered QB node control transistor T5Fa during the odd-numbered QB node operation period To to perform normal driving.

제1 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5F_Lb)는 기수 고전위전압(VDD_O)에 응답하여 턴-온된다. 즉, 제1 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5F_Lb)는 기수 QB노드 동작 기간(To)에서 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)를 턴-오프시킨다. 따라서, 제1 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5F_Lb)는 기수 QB 노드 구동기간(To) 동안에서는 스타트신호(VST)가 입력될지라도 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)가 턴-온되는 것을 방지한다. 결국 제1 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5F_Lb)는 기수 QB 노드 구동기간(To) 동안에, 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb) 및 우수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIb)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 억제할 수 있다.The first excellent short-circuit prevention transistor T5F_Lb is turned on in response to the odd high potential voltage VDD_O. That is, the first excellent short-circuit prevention transistor T5F_Lb turns off the first excellent QB node control transistor T5Fb in the odd QB node operation period To. Accordingly, the first excellent short-circuit prevention transistor T5F_Lb prevents the first excellent QB node control transistor T5Fb from being turned on even when the start signal VST is input during the odd QB node driving period To. As a result, the first excellent short-circuit prevention transistor T5F_Lb can suppress the occurrence of a short-circuit through the first excellent QB node control transistor T5Fb and the excellent low potential holding transistor T5QIb during the odd QB node driving period To. I can.

기수 Q 노드 스위칭 트랜지스터(T5Q_Ha)는 기수 고전위전압(VDD_O)에 응답하여 턴-온된다. 기수 Q 노드 스위칭 트랜지스터(T5Q_Ha)는 기수 QB노드 동작 기간(To) 동안에는 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)를 턴-온시켜서 정상적인 구동을 한다. The odd Q node switching transistor T5Q_Ha is turned on in response to the odd high potential voltage VDD_O. The odd Q node switching transistor T5Q_Ha turns on the second odd QB node control transistor T5Qa during the odd QB node operation period To to perform normal driving.

제2 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5Q_Lb)는 기수 고전위전압(VDD_O)에 응답하여 턴-온된다. 즉, 제2 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5Q_Lb)는 기수 QB노드 동작 기간(To)에서 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)를 턴-오프시킨다. 따라서, 제2 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5Q_Lb)는 기수 QB 노드 구동기간(To) 동안에, 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb) 및 우수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIb)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 억제할 수 있다.The second excellent short-circuit prevention transistor T5Q_Lb is turned on in response to the odd high potential voltage VDD_O. That is, the second excellent short-circuit prevention transistor T5Q_Lb turns off the second excellent QB node control transistor T5Qb in the odd QB node operation period To. Therefore, the second excellent short-circuit prevention transistor T5Q_Lb suppresses the occurrence of a short-circuit through the second excellent QB node control transistor T5Qb and the excellent low potential holding transistor T5QIb during the odd QB node driving period To. can do.

이와 유사하게, 제2 실시 예의 스테이지는 우수 QB 노드 동작기간(Te) 동안에 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fb)를 정상 동작시키기 위한 우수 스타트출력제어 트랜지스터(T5F_Hb)를 포함한다. 그리고 제2 실시 예의 스테이지는 우수 QB 노드 동작기간(Te) 동안에 기수 QB 노드(QB_O)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 방지하기 위한 제1 기수 쇼트방지 트랜지스터(T5F_La)를 포함한다. Similarly, the stage of the second embodiment includes an excellent start output control transistor T5F_Hb for normally operating the first excellent QB node control transistor T5Fb during the excellent QB node operation period Te. In addition, the stage of the second exemplary embodiment includes a first odd short-circuit prevention transistor T5F_La for preventing a short-circuit from occurring through the odd QB node QB_O during the even QB node operation period Te.

또한, 제2 실시 예의 스테이지는 우수 QB 노드 동작기간(Te) 동안에, 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)를 정상 동작시키기 위한 우수 Q 노드 스위칭 트랜지스터(T5Q_Hb)를 포함하고, 기수 QB 노드(QB_O)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 방지하기 위한 제2 기수 쇼트방지 트랜지스터(T5Q_La)를 포함한다. In addition, the stage of the second embodiment includes an excellent Q node switching transistor T5Q_Hb for normally operating the second excellent QB node control transistor T5Qb during the excellent QB node operation period Te, and the odd QB node QB_O ) And a second odd-numbered short-circuit prevention transistor T5Q_La for preventing a short-circuit from occurring.

도 10은 제3 실시 예에 의한 스테이지를 나타내는 도면이다. 10 is a diagram showing a stage according to a third embodiment.

도 10을 참조하면, 제2 실시 예에 따른 게이트 구동부의 제i 스테이지는 스캔방향 제어부(T1, T3N), 노드 제어부(T3R, T3a, T3b, T4a, T5Fa, T5QIa, T5Qa, T3b, T4b, T5Fb, T5QIb, T5Qb, T5F_La, T5F_Lb, T5Q_La, T5Q_Lb) 및 출력 제어부(T6, T7a, T7b)를 포함한다. 제3 실시 예에서 전술한 제2 실시 예와 실질적으로 동일한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고 자세한 설명을 생략하기로 한다. Referring to FIG. 10, the ith stage of the gate driver according to the second embodiment includes scan direction controllers T1 and T3N, node controllers T3R, T3a, T3b, T4a, T5Fa, T5QIa, T5Qa, T3b, T4b, T5Fb. , T5QIb, T5Qb, T5F_La, T5F_Lb, T5Q_La, T5Q_Lb) and output control units T6, T7a, T7b. In the third embodiment, the same reference numerals are used for configurations that are substantially the same as those of the second embodiment, and detailed descriptions thereof will be omitted.

노드 제어부는 Q 노드 제어부, 기수 QB 노드 제어부, 우수 QB 노드 제어부 및 저전위 홀딩부를 포함한다. The node control unit includes a Q node control unit, an odd QB node control unit, an even QB node control unit, and a low potential holding unit.

Q 노드 제어부(T3R, T3a, T3b)는 Q 노드(Q)의 충전 타이밍을 결정한다. 기수 QB 노드 제어부(T4a, T5Fa, T5Qa)는 기수 QB 노드(QB_O)의 충전타이밍을 결정한다. 우수 QB 노드 제어부(T4b, T5Fb, T5Qb)는 우수 QB 노드(QB_E)의 충전타이밍을 결정한다. 저전위 홀딩부(T5QIa, T5QIb)는 기수 QB 노드(QB_O) 및 우수 QB 노드(QB_E)가 동작하지 않는 구간에서 리커버리전압(Vrec)을 제공한다. 쇼트 방지부(T5F_La, T5Q_La, T5F_Lb, T5Q_Lb)는 동작하지 않는 QB노드를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 방지한다. The Q node control units T3R, T3a, and T3b determine the charging timing of the Q node Q. The odd-numbered QB node control units T4a, T5Fa, and T5Qa determine the charging timing of the odd-numbered QB node (QB_O). The excellent QB node controllers T4b, T5Fb, and T5Qb determine the charging timing of the excellent QB node QB_E. The low-potential holding units T5QIa and T5QIb provide the recovery voltage Vrec in a period in which the odd QB node QB_O and the superior QB node QB_E do not operate. The short-circuit prevention units T5F_La, T5Q_La, T5F_Lb, and T5Q_Lb prevent a short-circuit phenomenon from occurring through an inactive QB node.

제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)는 스타트신호단자(VST)에 게이트전극이 연결되고 저전위전압(VSS)에 제1 전극이 연결되고 제1 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_La)의 제2 전극에 제1 전극이 연결된다. 제1 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_La)는 우수 고전위전압원(VDD_E)에 게이트전극이 연결되고 기수 QB 노드(QB_O)에 제1 전극이 연결된다. 따라서, 우수 QB 노드 동작기간(Te) 동안에는 제1 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_La)가 턴-오프되어서, 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa)와 기수 QB 노드(QB_O) 간의 전류 경로가 차단된다. 즉, 제1 기수 쇼트방지 트랜지스터(T5F_La)는 우수 QB노드 동작 기간(Te) 동안에 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa) 및 기수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIa)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 억제할 수 있다. 다시 말해서, 제1 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_La)는 우수 QB 노드 동작기간(Te) 동안에 기수 QB 노드(QB_O)를 통해서 쇼트 형상이 발생하는 것을 방지한다. The first odd QB node control transistor T5Fa has a gate electrode connected to the start signal terminal VST, a first electrode connected to a low potential voltage VSS, and a second electrode of the first odd short-circuit prevention transistor T5F_La. The first electrode is connected. In the first odd short-circuit prevention transistor T5F_La, the gate electrode is connected to the even high potential voltage source VDD_E, and the first electrode is connected to the odd QB node QB_O. Therefore, during the excellent QB node operation period Te, the first odd short-circuit prevention transistor T5F_La is turned off, so that the current path between the first odd QB node control transistor T5Fa and the odd QB node QB_O is blocked. That is, the first odd short-circuit prevention transistor T5F_La can suppress the occurrence of a short circuit through the first odd QB node control transistor T5Fa and the odd low potential holding transistor T5QIa during the excellent QB node operation period Te. I can. In other words, the first odd short-circuit prevention transistor T5F_La prevents the occurrence of a short shape through the odd QB node QB_O during the even QB node operation period Te.

이와 마찬가지로, 제1 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_Lb)는 기수 QB 노드 동작기간(To) 동안에 우수 QB 노드(QB_E)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 방지한다.Similarly, the first even short-circuit prevention transistor T5F_Lb prevents a short-circuit phenomenon from occurring through the even QB node QB_E during the odd QB node operation period To.

제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)는 Q 노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원라인(VSS)에 제2 전극이 연결되고 제2 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_La)의 제2 전극에 제1 전극이 연결된다. 제2 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_La)는 우수 고전위전압(VDD_E)에 게이트전극이 연결되고 기수 QB 노드(QB_O)에 제1 전극이 연결된다. 즉, 제2 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_La)는 우수 QB 노드 동작기간(Te) 동안에 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa)를 턴-오프시킨다. 따라서, 제2 기수 쇼트방지 트랜지스터(T5Q_La)는 우수 QB노드 동작기간(Te) 동안에 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa) 및 기수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIa)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 억제할 수 있다.The second odd QB node control transistor T5Qa has a gate electrode connected to the Q node Q, a second electrode connected to the low potential power line VSS, and a second electrode of the second odd short prevention transistor T5Q_La. The first electrode is connected. In the second odd short-circuit prevention transistor T5Q_La, the gate electrode is connected to the even high potential voltage VDD_E, and the first electrode is connected to the odd QB node QB_O. That is, the second odd-numbered short-circuit prevention transistor T5Q_La turns off the second odd-numbered QB node control transistor T5Qa during the even QB node operation period Te. Therefore, the second odd short-circuit prevention transistor T5Q_La can suppress the occurrence of a short circuit through the second odd QB node control transistor T5Qa and the odd low potential holding transistor T5QIa during the excellent QB node operation period Te. I can.

제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb)는 Q 노드(Q)에 게이트전극이 연결되고 저전위전원라인(VSS)에 제1 전극이 연결되고 우수 QB 노드(QB_E)에 제2 전극이 연결된다. 우수 QB 노드(QB_O)와 제2 전극 사이에는 제2 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_Lb)가 형성된다. 제2 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_Lb)의 게이트전극은 기수 고전위전압(VDD_O)에 연결된다. In the second excellent QB node control transistor T5Qb, the gate electrode is connected to the Q node Q, the first electrode is connected to the low potential power line VSS, and the second electrode is connected to the even QB node QB_E. A second even short-circuit prevention transistor T5Q_Lb is formed between the even QB node QB_O and the second electrode. The gate electrode of the second excellent short-circuit prevention transistor T5Q_Lb is connected to the odd high potential voltage VDD_O.

제2 우수 쇼트방지 트랜지스터(T5Q_Lb)는 기수 QB노드 동작기간(To) 동안에 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb) 및 우수 저전위홀딩 트랜지스터(T5QIb)를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 억제할 수 있다.The second excellent short-circuit prevention transistor T5Q_Lb can suppress the occurrence of a short-circuit phenomenon through the second excellent QB node control transistor T5Qb and the excellent low potential holding transistor T5QIb during the odd QB node operation period To. .

이렇듯 제3 실시 예의 게이트 구동부는 제2 실시 예와 마찬가지로, 비구동기간을 갖는 QB 노드를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 방지할 수 있다. As described above, the gate driver of the third embodiment can prevent a short circuit from occurring through the QB node having a non-driving period, similar to the second embodiment.

도 11은 제4 실시 예에 의한 스테이지를 나타내는 도면이다. 제4 실시 예에서 전술한 실시 예들과 동일한 구성에 대해서는 동일한 도면부호를 사용하고 자세한 설명을 생략하기로 한다. 11 is a diagram showing a stage according to a fourth embodiment. In the fourth embodiment, the same reference numerals are used for the same configurations as those of the above-described embodiments, and detailed descriptions will be omitted.

도 11에 도시된 제4 실시 예는 제3 실시 예의 변형 예이다. 제1 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_La)는 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Fa) 및 저전위전압(VSS) 사이에 연결된다. 그리고 제1 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_Lb)는 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터 및 저전위전압(VSS) 사이에 연결된다. The fourth embodiment shown in FIG. 11 is a modified example of the third embodiment. The first odd short prevention transistor T5F_La is connected between the first odd QB node control transistor T5Fa and the low potential voltage VSS. In addition, the first excellent short-circuit prevention transistor T5F_Lb is connected between the first excellent QB node control transistor and the low potential voltage VSS.

제2 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_La)는 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qa) 및 저전위전압(VSS) 사이에 연결된다. 제2 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_Lb)는 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터(T5Qb) 및 저전위전압(VSS) 사이에 연결된다. The second odd short prevention transistor T5Q_La is connected between the second odd QB node control transistor T5Qa and the low potential voltage VSS. The second excellent short-circuit prevention transistor T5Q_Lb is connected between the second excellent QB node control transistor T5Qb and the low potential voltage VSS.

제4 실시 예의 제1 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_La), 제1 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5F_Lb), 제2 기수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_La) 및 제2 우수 쇼트 방지 트랜지스터(T5Q_Lb)들은 각각 전술한 제3 실시 예와 동일한 동작하기 때문에 자세한 설명은 생략하기로 한다. The first odd short prevention transistor T5F_La, the first odd short prevention transistor T5F_Lb, the second odd short prevention transistor T5Q_La, and the second odd short prevention transistor T5Q_Lb according to the fourth embodiment are respectively implemented in the third embodiment described above. Since the operation is the same as in the example, a detailed description will be omitted.

즉, 제4 실시 예의 게이트 구동부 역시 비구동기간을 갖는 QB 노드를 통해서 쇼트 현상이 발생하는 것을 방지할 수 있다. That is, the gate driver according to the fourth embodiment can also prevent a short circuit from occurring through the QB node having a non-driving period.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, the technical configuration of the present invention described above is in other specific forms without changing the technical spirit or essential features of the present invention by those skilled in the art. It will be appreciated that it can be implemented. Therefore, the embodiments described above are illustrative in all respects and should be understood as non-limiting. In addition, the scope of the present invention is indicated by the claims to be described later rather than the detailed description. In addition, all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

Claims (9)

게이트라인이 형성된 표시패널; 및
상기 게이트라인에 제공되는 게이트펄스를 출력하는 게이트 구동부를 포함하되,
상기 게이트 구동부는
클럭신호의 출력 타이밍을 결정하는 Q 노드를 제어하는 Q 노드 제어부;
상기 Q 노드의 하이레벨 전위에 응답하여 상기 클럭신호를 출력단으로 출력하는 출력제어부;
제1 기간 동안 상기 출력제어부가 상기 출력단의 전위를 방전하도록 상기 출력제어부와 연결된 기수 QB 노드를 제어하는 기수 QB 노드 제어부;
제2 기간 동안 상기 출력제어부가 상기 출력단의 전위를 방전하도록 상기 출력제어부와 연결된 우수 QB 노드를 제어하는 우수 QB 노드 제어부; 및
상기 제1 기간 동안 상기 우수 QB 노드에 음(-)의 전위의 리커버리 전압을 제공하고, 상기 제2 기간 동안 상기 기수 QB 노드에 상기 리커버리 전압을 제공하는 저전위 홀딩부를 포함하고,
상기 기수 QB 노드가 저전위전압으로 방전되는 제3 기간 동안, 상기 저전위 홀딩부는 상기 우수 QB 노드에 상기 저전위전압보다 낮은 상기 리커버리전압을 제공하고,
상기 우수 QB 노드가 상기 저전위전압으로 방전되는 제4 기간 동안, 상기 저전위 홀딩부는 상기 기수 QB 노드에 상기 리커버리전압을 제공하는 표시장치.
A display panel on which a gate line is formed; And
Including a gate driver for outputting a gate pulse provided to the gate line,
The gate driver
A Q node control unit for controlling a Q node for determining an output timing of a clock signal;
An output controller configured to output the clock signal to an output terminal in response to the high level potential of the Q node;
An odd QB node control unit for controlling the odd QB node connected to the output control unit so that the output control unit discharges the potential of the output terminal during a first period;
An excellent QB node control unit for controlling an excellent QB node connected to the output control unit so that the output control unit discharges the potential of the output terminal during a second period; And
A low potential holding unit providing a recovery voltage of a negative potential to the even QB node during the first period, and providing the recovery voltage to the odd QB node during the second period,
During a third period in which the odd QB node is discharged to a low potential voltage, the low potential holding unit provides the recovery voltage lower than the low potential voltage to the excellent QB node,
During a fourth period in which the superior QB node is discharged to the low potential voltage, the low potential holding unit provides the recovery voltage to the odd QB node.
제 1 항에 있어서,
상기 저전위 홀딩부는
상기 기수 QB 노드가 구동되는 상기 제1 기간 동안과, 상기 기수 QB 노드가 방전되는 상기 제3 기간 동안, 상기 우수 QB 노드를 상기 리커버리 전압으로 방전하는 우수 저전위 홀딩 트랜지스터; 및
상기 우수 QB 노드가 구동되는 상기 제2 기간 동안과, 상기 우수 QB 노드가 방전되는 상기 제4 기간 동안, 상기 기수 QB 노드를 상기 리커버리 전압으로 방전하는 기수 저전위 홀딩 트랜지스터를 포함하는 표시장치.
The method of claim 1,
The low potential holding part
An excellent low potential holding transistor discharging the even QB node to the recovery voltage during the first period when the odd QB node is driven and the third period when the odd QB node is discharged; And
And an odd low potential holding transistor for discharging the odd QB node to the recovery voltage during the second period when the even QB node is driven and the fourth period when the even QB node is discharged.
제 2 항에 있어서,
상기 기수 QB 노드는 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 제3 기간 동안 상기 저전위전압을 유지하고, 상기 우수 QB 노드는 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 제4 기간 동안 상기 저전위전압을 유지하며,
상기 게이트 구동부는
상기 제3 기간 동안에 상기 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터의 동작 여부를 제어하는 기수 스타트 출력제어 트랜지스터; 및
상기 제4 기간 동안에 상기 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터의 동작 여부를 제어하는 우수 스타트 출력제어 트랜지스터를 더 포함하는 표시장치.
The method of claim 2,
The odd QB node maintains the low potential voltage during the third period by a first odd QB node control transistor, and the even QB node maintains the low potential voltage during a fourth period by the first odd QB node control transistor. Keep,
The gate driver
An odd-numbered start output control transistor for controlling whether the first odd-numbered QB node control transistor is operated during the third period; And
The display device further comprises an excellent start output control transistor that controls whether or not the first excellent QB node control transistor is operated during the fourth period.
제 3 항에 있어서,
상기 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터는 스타트신호단자를 통해서 제공받는 스타트신호에 응답하여 상기 기수 QB 노드를 상기 저전위전압으로 방전하고,
상기 기수 스타트 출력제어 트랜지스터는 상기 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터와 상기 스타트신호단자 사이에 형성되어서 기수 고전위전압에 응답하여 상기 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터와 상기 스타트신호단자 사이의 전류 경로를 연결하며,
상기 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터는 상기 스타트신호단자를 통해서 제공받는 상기 스타트신호에 응답하여 상기 우수 QB 노드를 상기 저전위전압으로 방전하고,
상기 우수 스타트 출력제어 트랜지스터는 상기 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터와 상기 스타트신호단자 사이에 형성되어서 우수 고전위전압에 응답하여 상기 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터와 상기 스타트신호단자 사이의 전류 경로를 연결하는 표시장치.
The method of claim 3,
The first odd QB node control transistor discharges the odd QB node to the low potential voltage in response to a start signal provided through a start signal terminal,
The odd start output control transistor is formed between the first odd QB node control transistor and the start signal terminal to connect a current path between the first odd QB node control transistor and the start signal terminal in response to an odd high potential voltage And
The first excellent QB node control transistor discharges the excellent QB node to the low potential voltage in response to the start signal provided through the start signal terminal,
The excellent start output control transistor is formed between the first excellent QB node control transistor and the start signal terminal to connect a current path between the first excellent QB node control transistor and the start signal terminal in response to an excellent high potential voltage. Display device.
제 2 항에 있어서,
상기 기수 QB 노드는 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 제3 기간 동안 상기 저전위전압을 유지하고, 상기 우수 QB 노드는 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 제4 기간 동안 상기 저전위전압을 유지하며,
상기 게이트 구동부는
상기 제4 기간 동안에 상기 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터의 동작을 차단하는 제1 기수 쇼트방지 트랜지스터; 및
상기 제3 기간 동안에 상기 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터의 동작을 차단하는 제1 우수 쇼트방지 트랜지스터를 더 포함하는 표시장치.
The method of claim 2,
The odd QB node maintains the low potential voltage during the third period by a first odd QB node control transistor, and the excellent QB node maintains the low potential voltage during the fourth period by a first odd QB node control transistor. And
The gate driver
A first odd-numbered short-circuit prevention transistor that blocks an operation of the first odd-numbered QB node control transistor during the fourth period; And
The display device further comprises a first excellent short-circuit prevention transistor for blocking an operation of the first excellent QB node control transistor during the third period.
제 2 항에 있어서,
상기 기수 QB 노드는 상기 Q 노드 전위에 응답하여 턴-온되는 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 저전위전압으로 방전되고, 상기 우수 QB 노드는 상기 Q 노드 전위에 응답하여 턴-온되는 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 저전위전압으로 방전되고,
상기 게이트 구동부는
기수 고전위전압에 응답하여 상기 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터의 동작 여부를 제어하는 기수 Q 노드 스위칭 트랜지스터; 및
우수 고전위전압에 응답하여 상기 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터의 동작 여부를 제어하는 우수 Q 노드 스위칭 트랜지스터를 더 포함하는 표시장치.
The method of claim 2,
The odd QB node is discharged to the low potential voltage by a second odd QB node control transistor turned on in response to the Q node potential, and the even QB node is turned on in response to the Q node potential. 2 discharged to the low potential voltage by the superior QB node control transistor,
The gate driver
An odd Q node switching transistor controlling whether the second odd QB node control transistor is operated in response to an odd high potential voltage; And
The display device further comprising an excellent Q node switching transistor for controlling whether the second excellent QB node control transistor is operated in response to an excellent high potential voltage.
제 2 항에 있어서,
상기 기수 QB 노드는 상기 Q 노드 전위에 응답하여 턴-온되는 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 저전위전압으로 방전되고, 상기 우수 QB 노드는 상기 Q 노드 전위에 응답하여 턴-온되는 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 저전위전압으로 방전되고,
상기 게이트 구동부는
우수 고전위전압에 응답하여 상기 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터의 동작을 차단하는 제2 기수 쇼트방지 트랜지스터; 및
기수 고전위전압에 응답하여 상기 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터의 동작을 차단하는 제2 우수 쇼트방지 트랜지스터를 더 포함하는 표시장치.
The method of claim 2,
The odd QB node is discharged to the low potential voltage by a second odd QB node control transistor turned on in response to the Q node potential, and the even QB node is turned on in response to the Q node potential. 2 discharged to the low potential voltage by the superior QB node control transistor,
The gate driver
A second odd short-circuit prevention transistor configured to block an operation of the second odd-numbered QB node control transistor in response to an even high potential voltage; And
The display device further comprising a second excellent short-circuit prevention transistor configured to block an operation of the second superior QB node control transistor in response to an odd high potential voltage.
제 2 항에 있어서,
상기 기수 QB 노드는 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 제3 기간 동안 상기 저전위전압을 유지하고, 상기 우수 QB 노드는 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 제4 기간 동안 상기 저전위전압을 유지하며,
상기 게이트 구동부는
상기 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터의 드레인전극 또는 소스전극에 연결되어, 우수 고전위전압에 응답하여 상기 제1 기수 QB 노드 제어 트랜지스터를 턴-오프시키는 제1 기수 쇼트방지 트랜지스터; 및
상기 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터의 드레인전극 또는 소스전극에 연결되어, 기수 고전위전압에 응답하여 상기 제1 우수 QB 노드 제어 트랜지스터를 턴-오프시키는 제1 우수 쇼트방지 트랜지스터를 더 포함하는 표시장치.
The method of claim 2,
The odd QB node maintains the low potential voltage during the third period by a first odd QB node control transistor, and the excellent QB node maintains the low potential voltage during the fourth period by a first odd QB node control transistor. And
The gate driver
A first odd short-circuit prevention transistor connected to a drain electrode or a source electrode of the first odd QB node control transistor to turn off the first odd QB node control transistor in response to an even high potential voltage; And
The display device further comprising a first excellent short-circuit prevention transistor connected to a drain electrode or a source electrode of the first excellent QB node control transistor to turn off the first excellent QB node control transistor in response to an odd high potential voltage .
제 2 항에 있어서,
상기 기수 QB 노드는 상기 Q 노드 전위에 응답하여 턴-온되는 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 저전위전압으로 방전되고, 상기 우수 QB 노드는 상기 Q 노드 전위에 응답하여 턴-온되는 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터에 의해서 상기 저전위전압으로 방전되고,
상기 게이트 구동부는
상기 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터의 드레인전극 또는 소스전극에 연결되어, 우수 고전위전압에 응답하여 상기 제2 기수 QB 노드 제어 트랜지스터를 턴-오프시키는 제2 기수 쇼트방지 트랜지스터; 및
상기 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터의 드레인전극 또는 소스전극에 연결되어, 기수 고전위전압에 응답하여 상기 제2 우수 QB 노드 제어 트랜지스터를 턴-오프시키는 제2 우수 쇼트방지 트랜지스터를 더 포함하는 표시장치.
The method of claim 2,
The odd QB node is discharged to the low potential voltage by a second odd QB node control transistor turned on in response to the Q node potential, and the even QB node is turned on in response to the Q node potential. 2 discharged to the low potential voltage by the superior QB node control transistor,
The gate driver
A second odd short-circuit prevention transistor connected to a drain electrode or a source electrode of the second odd QB node control transistor to turn off the second odd QB node control transistor in response to an even high potential voltage; And
A display device further comprising a second excellent short-circuit prevention transistor connected to a drain electrode or a source electrode of the second superior QB node control transistor, and turning off the second superior QB node control transistor in response to an odd high potential voltage .
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