KR102171255B1 - System for non-contact transfer of carriers, and method for non-contact transfer of carriers in a deposition system - Google Patents
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Abstract
본 개시내용은, 증착 시스템에서의 캐리어(220)의 비접촉식 이송을 위한 장치를 제공한다. 장치는, 캐리어(220)의 자석 구조(222)를 향하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112)을 갖는 유도 구조(210), 및 캐리어(220)의 존재를 검출하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 센서들(230)을 포함하며, 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112) 및 하나 또는 그 초과의 센서들(230)은 그들 사이에 자석 구조(222)를 위한 유도 공간(S)을 정의하도록 배열된다.The present disclosure provides an apparatus for non-contact transfer of carrier 220 in a deposition system. The device includes an inductive structure 210 having one or more active magnet units 112 configured to face the magnet structure 222 of the carrier 220, and one or more configured to detect the presence of the carrier 220. Including more than one sensor 230, one or more active magnet units 112 and one or more sensors 230 between them is an induction space (S) for the magnet structure 222 ) Are arranged to define.
Description
[0001] 본 개시내용의 실시예들은, 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 장치, 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템, 및 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 방법에 관한 것이다. 본 개시내용의 실시예들은 특히, 유기 발광 다이오드(OLED; organic light-emitting diode) 디바이스들의 제조 시 사용되는 기판들 및/또는 마스크들을 유지하기 위한 정전 척(electrostatic chuck)(E-척)에 관한 것이다.Embodiments of the present disclosure relate to an apparatus for contactless transfer of a carrier in a deposition system, a system for contactless transfer of a carrier, and a method for contactless transfer of a carrier in a deposition system. Embodiments of the present disclosure particularly relate to an electrostatic chuck (E-chuck) for holding substrates and/or masks used in the manufacture of organic light-emitting diode (OLED) devices. will be.
[0002] 기판 상의 층 증착을 위한 기법들은 예컨대 열 증발, 물리 기상 증착(PVD; physical vapor deposition), 및 화학 기상 증착(CVD; chemical vapor deposition)을 포함한다. 코팅된 기판들이 몇몇 애플리케이션들에서 그리고 몇몇 기술 분야들에서 사용될 수 있다. 예컨대, 코팅된 기판들은 유기 발광 다이오드(OLED) 디바이스들의 분야에서 사용될 수 있다. OLED들은, 정보를 디스플레이하기 위한 텔레비전 스크린들, 컴퓨터 모니터들, 모바일 폰들, 다른 핸드-헬드 디바이스들 등의 제조 시 사용될 수 있다. OLED 디바이스, 이를테면 OLED 디스플레이는 2개의 전극들 사이에 놓이는 유기 재료의 하나 또는 그 초과의 층들을 포함할 수 있으며, 이들은 전부가 기판 상에 증착된다.Techniques for layer deposition on a substrate include, for example, thermal evaporation, physical vapor deposition (PVD), and chemical vapor deposition (CVD). Coated substrates can be used in some applications and in some fields of technology. For example, coated substrates can be used in the field of organic light emitting diode (OLED) devices. OLEDs can be used in the manufacture of television screens, computer monitors, mobile phones, other hand-held devices, and the like for displaying information. An OLED device, such as an OLED display, may comprise one or more layers of organic material lying between two electrodes, all of which are deposited on a substrate.
[0003] 프로세싱 동안, 기판은 기판 및 선택적인 마스크를 유지하도록 구성된 캐리어 상에서 지지될 수 있다. 캐리어는, 자력들을 사용하여 증착 시스템, 이를테면 진공 증착 시스템 내부에서 비접촉식으로 이송될 수 있다. 유기 발광 디바이스들과 같은 애플리케이션들의 경우, 기판 상에 증착된 유기 층들의 순도 및 균일성은 높아야 한다. 추가로, 기판 파손에 기인하여 스루풋을 희생시키지 않으면서, 비접촉식 이송을 사용하는, 기판들 및 마스크들을 지지하는 캐리어들의 이송 및 핸들링은 난제이다.[0003] During processing, a substrate may be supported on a carrier configured to hold the substrate and an optional mask. The carrier may be transported contactlessly inside a deposition system, such as a vacuum deposition system, using magnetic forces. For applications such as organic light emitting devices, the purity and uniformity of organic layers deposited on a substrate must be high. Additionally, the transport and handling of carriers supporting substrates and masks using contactless transport without sacrificing throughput due to substrate breakage is a challenge.
[0004] 위 내용을 고려하여, 기술분야에서의 문제들 중 적어도 일부를 극복하는, 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 새로운 장치들, 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템들, 및 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 방법들이 유익하다. 본 개시내용은 특히, 증착 시스템, 이를테면 진공 증착 시스템에서 효율적으로 그리고 매끄럽게 이송될 수 있는 캐리어들을 제공하는 것을 목적으로 한다.[0004] In view of the above, new devices for non-contact transfer of a carrier in a deposition system, systems for non-contact transfer of a carrier, and in a deposition system that overcome at least some of the problems in the technical field Methods for contactless transport of the carrier are beneficial. The present disclosure aims in particular to provide carriers that can be transported efficiently and smoothly in a deposition system, such as a vacuum deposition system.
[0005] 위 내용을 고려하여, 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 장치, 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템, 및 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 방법이 제공된다. 본 개시내용의 추가적인 양상들, 이득들, 및 특징들은 청구항들, 상세한 설명, 및 첨부된 도면들로부터 자명하다.[0005] In view of the above, an apparatus for non-contact transfer of a carrier in a deposition system, a system for non-contact transfer of a carrier, and a method for non-contact transfer of a carrier in a deposition system are provided. Additional aspects, benefits, and features of the present disclosure are apparent from the claims, the detailed description, and the accompanying drawings.
[0006] 본 개시내용의 일 양상에 따라, 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 장치가 제공된다. 장치는, 캐리어의 자석 구조를 향하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들을 갖는 유도 구조(guiding structure), 및 캐리어의 존재를 검출하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 센서들을 포함하며, 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들 및 하나 또는 그 초과의 센서들은 그들 사이에 자석 구조를 위한 유도 공간을 정의하도록 배열된다.[0006] In accordance with an aspect of the present disclosure, an apparatus for contactless transfer of a carrier in a deposition system is provided. The device comprises a guiding structure having one or more active magnet units configured to face the magnetic structure of the carrier, and one or more sensors configured to detect the presence of the carrier, and one or more The active magnet units and one or more sensors are arranged to define an induction space for the magnet structure between them.
[0007] 본 개시내용의 다른 양상에 따라, 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 장치가 제공된다. 장치는, 캐리어의 존재를 검출하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 센서들을 포함하며, 하나 또는 그 초과의 센서들의 각각의 센서는 캐리어의 이송 방향으로 센서 연장부(extension)를 가지며, 센서 연장부는 이송 방향으로 캐리어 연장부의 1% 또는 그 초과이다.[0007] In accordance with another aspect of the disclosure, an apparatus for contactless transfer of a carrier in a deposition system is provided. The device comprises one or more sensors configured to detect the presence of a carrier, each sensor of the one or more sensors having a sensor extension in the transport direction of the carrier, the
[0008] 본 개시내용의 추가적인 양상에 따라, 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템이 제공된다. 시스템은, 본 개시내용에 따른 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 장치, 및 캐리어를 포함한다.[0008] According to a further aspect of the present disclosure, a system for contactless transport of a carrier is provided. The system includes an apparatus for contactless transfer of a carrier according to the present disclosure, and a carrier.
[0009] 본 개시내용의 또 추가적인 양상에 따라, 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 방법이 제공된다. 방법은, 캐리어의 검출가능 디바이스의 제1 측을 검출하는 단계, 및 제1 측 반대편의, 검출가능 디바이스의 제2 측 상에 배열된 적어도 하나의 액티브 자석 유닛을 제어하는 단계를 포함한다.[0009] According to another further aspect of the present disclosure, a method for non-contact transfer of a carrier in a deposition system is provided. The method includes detecting a first side of the detectable device of the carrier, and controlling at least one active magnet unit arranged on a second side of the detectable device opposite the first side.
[0010] 실시예들은 또한, 개시된 방법들을 수행하기 위한 장치들에 관한 것이며, 각각의 설명된 방법 양상을 수행하기 위한 장치 부분들을 포함한다. 이들 방법 양상들은 하드웨어 컴포넌트들을 통해, 적절한 소프트웨어에 의해 프로그래밍된 컴퓨터를 통해, 이 둘의 임의의 결합에 의해, 또는 임의의 다른 방식으로 수행될 수 있다. 추가로, 본 개시내용에 따른 실시예들은 또한, 설명된 장치를 동작시키기 위한 방법들에 관한 것이다. 설명된 장치를 동작시키기 위한 방법들은 장치의 모든 각각의 기능을 수행하기 위한 방법 양상들을 포함한다.[0010] Embodiments also relate to apparatuses for performing the disclosed methods, including apparatus portions for performing each described method aspect. These method aspects may be performed through hardware components, through a computer programmed by suitable software, by any combination of the two, or in any other way. Additionally, embodiments according to the present disclosure also relate to methods for operating the described apparatus. Methods for operating the described apparatus include method aspects for performing all respective functions of the apparatus.
[0011] 본 개시내용의 위에서 언급된 특징들이 상세히 이해될 수 있는 방식으로, 위에서 간단히 요약된 본 개시내용의 더욱 구체적인 설명이 실시예들을 참조함으로써 이루어질 수 있다. 첨부된 도면들은 본 개시내용의 실시예들에 관한 것이며, 다음에서 설명된다:
도 1은 캐리어 및 유도 구조의 개략도를 도시하고;
도 2는 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 캐리어 및 비접촉식 이송을 위한 장치의 개략도를 도시하고;
도 3a 및 도 3b는 본원에서 설명된 추가적인 실시예들에 따른, 캐리어 및 비접촉식 이송을 위한 장치의 개략도들을 도시하고;
도 4a 및 도 4b는 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 캐리어 및 비접촉식 이송을 위한 장치의 개략도들을 도시하고;
도 5는 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 기판 프로세싱을 위한 시스템의 개략도를 도시하고;
도 6은 본원에서 설명된 추가적인 실시예들에 따른, 기판 프로세싱을 위한 시스템의 개략도를 도시하며; 그리고
도 7은 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 방법의 흐름도를 도시한다.[0011] In such a way that the above mentioned features of the present disclosure can be understood in detail, a more specific description of the present disclosure briefly summarized above may be made by reference to embodiments. The accompanying drawings relate to embodiments of the present disclosure and are described in the following:
1 shows a schematic diagram of a carrier and inductive structure;
2 shows a schematic view of a carrier and an apparatus for contactless transfer, according to embodiments described herein;
3A and 3B show schematic views of a carrier and an apparatus for contactless transfer, according to further embodiments described herein;
4A and 4B show schematic views of a carrier and an apparatus for contactless transport, according to embodiments described herein;
5 shows a schematic diagram of a system for substrate processing, according to embodiments described herein;
6 shows a schematic diagram of a system for substrate processing, according to additional embodiments described herein; And
7 shows a flow diagram of a method for contactless transfer of a carrier in a deposition system, according to embodiments described herein.
[0012] 이제, 본 개시내용의 다양한 실시예들이 상세히 참조될 것이며, 이러한 다양한 실시예들의 하나 또는 그 초과의 예들이 도면들에서 예시된다. 도면들의 다음의 설명 내에서, 동일한 참조 번호들은 동일한 컴포넌트들을 지칭한다. 일반적으로, 개별적인 실시예들에 대한 차이들만이 설명된다. 각각의 예는 본 개시내용의 설명을 통해 제공되며, 본 개시내용의 제한으로서 여겨지지 않는다. 추가로, 일 실시예의 일부로서 예시되거나 또는 설명된 특징들이 다른 실시예에 대해 또는 다른 실시예와 함께 사용되어, 또 추가적인 실시예가 산출될 수 있다. 상세한 설명이 그러한 수정들 및 변형들을 포함하는 것이 의도된다.[0012] Reference will now be made in detail to various embodiments of the present disclosure, and one or more examples of such various embodiments are illustrated in the drawings. Within the following description of the drawings, like reference numbers refer to like components. In general, only the differences for the individual embodiments are described. Each example is provided throughout the description of the present disclosure and is not considered a limitation of the present disclosure. In addition, features illustrated or described as part of one embodiment may be used for or in conjunction with another embodiment, and further embodiments may be calculated. It is intended that the detailed description includes such modifications and variations.
[0013] 증착 시스템, 이를테면 진공 증착 시스템에서는, 증착 시스템의 증착 챔버 내에서 기판들 및/또는 마스크들을 유지 및 이송하기 위한 캐리어들이 사용될 수 있다. 예컨대, 캐리어 상에서 기판이 지지되는 동안, 기판 상에 하나 또는 그 초과의 재료 층들이 증착될 수 있다. 유기 발광 디바이스들과 같은 애플리케이션들의 경우, 기판 상에 증착된 유기 층들의 높은 순도 및 균일성이 유익할 수 있다. 추가로, 예컨대 기판 파손을 감소시키기 위하여, 증착 시스템 내부에서의 캐리어의 매끄러운 이송이 유익하다.[0013] In a deposition system, such as a vacuum deposition system, carriers for holding and transferring substrates and/or masks within a deposition chamber of the deposition system may be used. For example, while the substrate is supported on the carrier, one or more layers of material may be deposited on the substrate. For applications such as organic light emitting devices, a high purity and uniformity of organic layers deposited on a substrate can be beneficial. Additionally, for example to reduce substrate breakage, a smooth transfer of carriers inside the deposition system is beneficial.
[0014] 본 개시내용의 실시예들에 따라, 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들 및 하나 또는 그 초과의 센서들이 유도 공간의 반대편의 측들(opposite sides)에 배열된다. 특히, 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들 및 하나 또는 그 초과의 센서들은 캐리어의 자석 구조의 반대편의 측들 상에 배열된다. 자기 유도가 수행되는 공간이 효율적으로 사용될 수 있다. 추가로, 하나 또는 그 초과의 센서들과 자기 유도 사이의 간섭이 방지될 수 있으며, 이송 방향으로의 캐리어의 매끄러운 이송이 달성될 수 있다. 입자들의 생성 및/또는 캐리어의 불안정한 이송에 기인하는 기판 파손이 감소되거나 또는 심지어 방지될 수 있다.[0014] In accordance with embodiments of the present disclosure, one or more active magnet units and one or more sensors are arranged on opposite sides of the induction space. In particular, one or more active magnet units and one or more sensors are arranged on opposite sides of the magnetic structure of the carrier. The space where magnetic induction is performed can be used efficiently. Additionally, interference between the magnetic induction and one or more sensors can be prevented, and smooth transfer of the carrier in the transfer direction can be achieved. Substrate breakage due to the generation of particles and/or unstable transport of the carrier can be reduced or even prevented.
[0015] 도 1은 캐리어(100), 그리고 수평 방향일 수 있는 이송 방향(1)으로의 캐리어(100)의 비접촉식 이송을 위해 구성된 이송 어레인지먼트의 일부분의 개략도를 도시한다.1 shows a schematic view of a
[0016] 이송 어레인지먼트는 유도 구조(110)를 포함하며, 이 유도 구조(110)는 액티브 유도 구조일 수 있다. 유도 구조(110)는, 이송 방향을 따라 배열되는 복수의 유도 유닛들(111)을 포함한다. 각각의 유도 유닛(111)은 (예컨대, 전자기) 액추에이터, 이를테면 액티브 자석 유닛(112), 그리고 이 액추에이터를 제어하도록 구성된 제어기(114), 그리고 캐리어(100)에 대한 갭을 측정하도록 구성된 거리 센서(미도시)를 포함한다. 유도 구조(110)는 자력들을 사용하여 캐리어(100)를 비접촉식으로 부상(levitate)시키도록 구성될 수 있다.[0016] The transfer arrangement includes an
[0017] 캐리어(100)가 유도 유닛(111)에 접근하거나 또는 유도 유닛(111)을 떠날 때, 부상 정확성 및/또는 부상 안정성이 영향을 받을 수 있다. 특히, 캐리어(100)의 갑작스러운 가속 또는 감속으로 이어질 수 있는, 상당한 그리고/또는 펄스-형의 힘이, 캐리어(100)가 유도 유닛(111)에 접근하거나 또는 유도 유닛(111)을 떠날 때 생성될 수 있다. 이 힘은, 유도 구조(110)의 컴포넌트들의, 그리고 특히, 복수의 유도 유닛들(111)(예컨대, 전자기 액추에이터(들) 및 거리 센서(들))의 기하학적 어레인지먼트 및 구성에 따라 좌우될 수 있다. 이 힘은, 캐리어(100)의 원치 않는 그리고 갑작스러운 이동들로 이어질 수 있으며, 심지어, 캐리어(100)와 유도 구조(110) 사이의 우발적인 기계적 접촉으로 이어질 수 있다. 캐리어(100), 기판 및/또는 유도 구조(110)는 손상될 수 있다. 추가로, 증착 프로세스의 품질을 저하시키는 입자들이 생성될 수 있다.When the
[0018] 부상력의 방향으로의, 그리고 특히, 액추에이터에 의해 제공되는 자력의 방향(예컨대, 수직 방향(3))으로의 힘의 변화 또는 펄스-형의 힘은, 예컨대 거리 센서 아래로부터 캐리어(100)가 갑작스럽게 사라질 때 일어날 수 있다. 이는, 마치 캐리어가 거리(또는 측정) 방향, 이를테면 수직 방향(3)으로 거리 센서로부터 멀어지는 고속 이동을 수행하는 것과 동일한 신호 값을 거리 센서에서 야기할 수 있다. 다시 말해서, 거리 센서는 갭 확대를 표시한다. 신호 변화는, "이동중인" 캐리어(100)를 유도 구조(110)와 캐리어(100) 사이의 세팅된 거리로 되돌리기 위해 제어기가 액추에이터 힘을 강하게 변화시키게 할 수 있다.[0018] A change in the force in the direction of the levitation force, and in particular in the direction of the magnetic force provided by the actuator (eg, in the vertical direction 3), or a pulse-like force, can be obtained from the carrier ( It can happen when 100) suddenly disappears. This can result in the same signal value in the distance sensor as if the carrier performs a high-speed movement away from the distance sensor in the distance (or measurement) direction, for example in the
[0019] 게다가, 캐리어(100)가 유도 유닛(111)에 접근하거나 또는 유도 유닛(111)을 떠날 때, 이송 방향(1)을 따른 힘 성분이 생성될 수 있다. 이 힘 성분은 심지어, 캐리어(100)의 추가적인 이송을 저해하기에 충분히 강할 수 있다. 이송 방향(1)을 따른 힘 성분은, 캐리어의 전면 및/또는 후면(예컨대, 리딩 에지 또는 트레일링 에지)에 작용하는 액추에이터의 자기저항(reluctance)으로부터 비롯될 수 있다. 이는 예시적으로, 캐리어(100)의 후면에서의 자기력선들에 의해 도 1에서 예시된다.In addition, when the
[0020] 도 2는 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 증착 시스템에서의 캐리어(220)의 비접촉식 이송을 위한 장치의 개략도를 도시한다.[0020] FIG. 2 shows a schematic diagram of an apparatus for contactless transfer of a
[0021] 장치는, 캐리어(220)의 자석 구조(222)를 향하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112)을 갖는 유도 구조(210), 및 캐리어(220)의 존재를 검출하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 센서들(230)을 포함한다. 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112) 및 하나 또는 그 초과의 센서들(230)은 그들 사이에 자석 구조(222)를 위한 유도 공간(S)을 정의하도록 배열된다. 캐리어(220)의 자석 구조(222)는 캐리어(220)의 이송 방향(1)을 따라 연장된다. 마찬가지로, 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112)은 캐리어(220)의 이송 방향(1)을 따라 배열된다. 자석 구조(222)는 캐리어(220)의 길이를 따라 연장되는 강자성 재료일 수 있다.The device is configured to detect the presence of the
[0022] 일부 실시예들에서, 자석 구조(222)는 하나 또는 그 초과의 센서들(230)에 대한 센서 트레일을 제공할 수 있다. 추가적인 실시예들에서, 센서 트레일은, 자석 구조(222)에 부착될 수 있는 별개의 엘리먼트에 의해 제공된다. 별개의 엘리먼트에 의해 제공될 수 있는 센서 트레일들에 대한 예들은 검출가능 디바이스, 이를테면 경사부(inclination)의 형태로 도 3a에서 예시된다.In some embodiments, the
[0023] 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 수직 방향(3)에 대하여, 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112)은 유도 공간(S) 위에 배열되고, 하나 또는 그 초과의 센서들(230)은 유도 공간(S) 아래에 배열된다. 유도 공간(S)을 정의하는, 예컨대 수직 방향(3)으로 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112)과 하나 또는 그 초과의 센서들(230) 사이의 거리는, 동일한 방향으로 자석 구조(222)의 연장부보다 더 클 수 있다. 특히, 예컨대 수직 방향(3)으로 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112)과 자석 구조(222) 사이에 제1 갭(G1)이 제공될 수 있다. 마찬가지로, 예컨대 수직 방향(3)으로 하나 또는 그 초과의 센서들(230)과 자석 구조(222) 사이에 제2 갭(G2)이 제공될 수 있다. 제1 갭(G1)과 제2 갭(G2)은 본질적으로 동일할 수 있거나 또는 상이할 수 있다. 갭들은, 예컨대 캐리어(220)의 이송 동안의 캐리어(220)의 작은 수직 및/또는 수평 이동들에 기인하는, 캐리어(220)와 이송 어레인지먼트 사이의 간섭 또는 접촉을 방지할 수 있다.[0023] According to some embodiments that may be combined with other embodiments described herein, with respect to the
[0024] 캐리어(220)는 이송 경로, 이를테면 선형 이송 경로를 따른, 증착 시스템의 하나 또는 그 초과의 챔버들, 이를테면 진공 챔버를 통과하는, 그리고 특히, 적어도 하나의 증착 영역을 통과하는 비접촉식 이송을 위해 구성된다. 캐리어(220)는 이송 방향(1)으로의 비접촉식 이송을 위해 구성될 수 있으며, 이송 방향(1)은 수평 방향일 수 있다.[0024] The
[0025] 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 증착 시스템은, 증착 시스템에서의 캐리어(220)의 비접촉식 부상 및/또는 비접촉식 이송을 위해 구성된 이송 어레인지먼트를 포함할 수 있다. 이송 관리부는, 캐리어(220)를 부상시키기 위한 자기 부상력을 제공하기 위한 유도 구조(210), 및 이송 방향(1)으로 캐리어(220)를 이동시키기 위한 구동 구조를 포함할 수 있다. 캐리어(220)의 자석 구조(222)는, 유도 구조와 자기적으로 상호작용하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들로 구성될 수 있다. 일부 구현들에서, 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들은 패시브 자석 유닛들, 이를테면 영구 자석들 유닛 및/또는 강자성 부품들일 수 있다.[0025] In accordance with some embodiments that may be combined with other embodiments described herein, the deposition system includes a transfer arrangement configured for contactless floating and/or non-contact transfer of the
[0026] 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 캐리어(220)는, 이송 방향(1)으로 캐리어(220)를 이동시키기 위한 구동 구조와 자기적으로 상호작용하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 제2 자석 유닛들(미도시)로 구성된 다른 자석 구조를 포함한다. 일부 구현들에서, 하나 또는 그 초과의 제2 자석 유닛들은 패시브 자석 유닛들, 이를테면 강자성체들일 수 있다. 유도 구조(210) 및 구동 구조는, 캐리어(220)의 반대편의 단부들 또는 단부 부분들에 배열될 수 있다. 구체적으로, 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들과 하나 또는 그 초과의 제2 자석 유닛들이 캐리어(220)의 반대편의 단부들 또는 단부 부분들에 배열될 수 있다.[0026] According to some embodiments that may be combined with other embodiments described herein, the
[0027] 증착 시스템, 그리고 특히, 이송 어레인지먼트는, 복수의 유도 유닛들(111)을 갖는 유도 구조를 포함할 수 있다. 각각의 유도 유닛(111)은 액추에이터, 이를테면 액티브 자석 유닛(112), 이 액추에이터를 제어하도록 구성된 제어기(114), 및 자석 구조 그리고 특히 이 자석 구조의 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들과 액추에이터 사이의 갭을 감지하거나 또는 측정하도록 구성된 개개의 센서(230)를 포함할 수 있다. 갭, 이를테면 제1 갭(G1)은 이송 방향(1)에 직각인 방향, 이를테면 수직 방향(3)으로 측정될 수 있다. 특히, 센서(230)는, 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들과 액티브 자석 유닛(112) 사이의 갭을 감지하거나 또는 측정하기 위해, 예컨대, 캐리어(220)가 센서(230)에 있을 때, 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들을 향하도록 배열될 수 있다. 센서(230)는 거리 센서일 수 있다.[0027] The deposition system, and in particular, the transfer arrangement may include an induction structure having a plurality of
[0028] 제어기(114)는, 센서(230)에 의해 측정된 갭에 기반하여, 액추에이터에 의해 제공되는 자력을 조정하기 위해 액티브 자석 유닛(112)을 제어하도록 구성될 수 있다. 특히, 제어기(114)는, 캐리어(220)가 증착 시스템을 통해 이송되는 동안, 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들과 액티브 자석 유닛(112) 사이의 거리가 본질적으로 일정하도록 하기 위해, 액티브 자석 유닛(112)을 제어하도록 구성될 수 있다. 도 2가 예시적으로, 각각의 유도 유닛(111)이 자신의 제어기를 갖는 것을 예시하지만, 본 개시내용이 그에 제한되지 않으며, 제어기가 2개 또는 그 초과의 유도 유닛들에 할당될 수 있다는 것이 이해되어야 한다. 예컨대, 모든 유도 유닛들에 대해 하나의 단일 제어기가 제공될 수 있다.The
[0029] 캐리어(220)는 기판 프로세싱, 이를테면 진공 프로세싱 동안 사용되는 기판 및/또는 마스크(미도시)를 유지하도록 구성될 수 있다. 일부 구현들에서, 캐리어(220)는 기판과 마스크 둘 모두를 지지하도록 구성될 수 있다. 추가적인 구현들에서, 캐리어(220)는 기판 또는 마스크 중 어느 하나를 지지하도록 구성될 수 있다. 그러한 경우, 캐리어(220)는 각각 "기판 캐리어" 그리고 "마스크 캐리어"로 지칭될 수 있다.[0029] The
[0030] 캐리어(220)는 지지 표면을 제공하는 지지 구조 또는 바디(225)를 포함할 수 있으며, 이 지지 표면은 본질적으로, 예컨대 기판의 저면에 접촉하도록 구성된 평면일 수 있다. 특히, 기판은 저면에 반대편의 전면("프로세싱 표면"으로 또한 지칭됨)을 가질 수 있으며, 프로세싱, 이를테면 진공 증착 프로세스 동안, 이 전면 상에 층이 증착된다. 자석 구조(222)는 바디(225)에 제공될 수 있다.[0030] The
[0031] 본 개시내용 전체에 걸쳐 사용된 "진공"이란 용어는, 예컨대 10 mbar 미만의 진공 압력을 갖는 기술 진공의 의미로 이해될 수 있다. 진공 챔버 내의 압력은 10-5 mbar 내지 약 10-8 mbar, 구체적으로, 10-5 mbar 내지 10-7 mbar, 그리고 더욱 구체적으로, 약 10-6 mbar 내지 약 10-7 mbar일 수 있다. 진공 챔버 내부의 진공의 생성을 위해 진공 챔버에 연결된 하나 또는 그 초과의 진공 펌프들, 이를테면 터보 펌프들 및/또는 크라이오-펌프들이 제공될 수 있다.[0031] The term "vacuum" as used throughout the present disclosure may be understood in the sense of a technical vacuum having a vacuum pressure of less than 10 mbar, for example. The pressure in the vacuum chamber may be from 10 -5 mbar to about 10 -8 mbar, specifically, from 10 -5 mbar to 10 -7 mbar, and more specifically from about 10 -6 mbar to about 10 -7 mbar. One or more vacuum pumps, such as turbo pumps and/or cryo-pumps, connected to the vacuum chamber may be provided for the creation of a vacuum inside the vacuum chamber.
[0032] 본 개시내용에 따른 캐리어(220)는, 기판 및/또는 마스크를 캐리어(220)에 유지하기 위한 정전력을 제공하는 정전 척(E-척)일 수 있다. 예컨대, 캐리어(220)는 기판 및 마스크 중 적어도 하나에 작용하는 인력을 제공하도록 구성된 전극 어레인지먼트를 포함한다. 전극 어레인지먼트는 바디(225)에 내장될 수 있거나, 또는 바디(225) 상에 제공되는데, 예컨대 배치될 수 있다. 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 바디(225)는 유전체 바디, 이를테면 유전체 플레이트이다. 유전체 바디는 유전체 재료, 바람직하게는 높은 열전도율의 유전체 재료, 이를테면 열분해 보론 나이트라이드, 알루미늄 나이트라이드, 실리콘 나이트라이드, 알루미나 또는 등가 재료로 제작될 수 있지만, 그러한 재료들로부터 폴리이미드로서 만들어질 수 있다. 일부 실시예들에서, 전극 어레인지먼트는, 유전체 플레이트 상에 배치되고 얇은 유전체 층으로 커버된 복수의 전극들, 이를테면 미세 금속 스트립들의 그리드를 포함한다.The
[0033] 전극 어레인지먼트, 그리고 특히, 복수의 전극들은 인력, 이를테면 척킹력(chucking force)을 제공하도록 구성될 수 있다. 인력은, 복수의 전극들(또는 지지 표면)과 기판 및/또는 마스크 사이의 소정의 상대적인 거리에서 기판 및/또는 마스크에 작용하는 힘일 수 있다. 인력은, 복수의 전극 어레인지먼트에 인가되는 전압들에 의해 제공되는 정전력일 수 있다.[0033] An electrode arrangement, and in particular, a plurality of electrodes may be configured to provide an attractive force, such as a chucking force. The attractive force may be a force acting on the substrate and/or mask at a predetermined relative distance between the plurality of electrodes (or support surface) and the substrate and/or mask. The attractive force may be constant power provided by voltages applied to the plurality of electrode arrangements.
[0034] 기판은, E-척일 수 있는 캐리어(220)에 의해 제공되는 인력에 의해 지지 표면 쪽으로(예컨대, 이송 방향에 직각인 방향으로) 끌어당겨질 수 있다. 인력은, 마찰력들에 의해 예컨대 수직 포지션으로 기판을 유지하기에 충분히 강할 수 있다. 특히, 인력은, 본질적으로 부동으로 지지 표면 상에 기판을 고정하도록 구성될 수 있다. 예컨대, 마찰력들을 사용하여 수직 포지션으로 0.5 mm 유리 기판을 유지하기 위해, 마찰 계수에 따라, 약 50 내지 100 N/m2(Pa)의 끌어당기는 압력(attracting pressure)이 사용될 수 있다.[0034] The substrate may be pulled toward the support surface (eg, in a direction perpendicular to the transport direction) by an attraction provided by the
[0035] 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 캐리어(220)는 실질적으로 수직 배향으로 또는 실질적으로 수평 배향으로 기판 및/또는 마스크를 유지하거나 또는 지지하도록 구성된다. 특히, 캐리어는 수직 배향으로의 이송을 위해 구성될 수 있다. 본 개시내용 전체에 걸쳐 사용된 바와 같이, "실질적으로 수직"은, 특히 기판 배향을 지칭할 때, ±20° 또는 그 미만, 예컨대 ±10° 또는 그 미만의, 수직 방향 또는 배향으로부터의 편차를 허용하는 것으로 이해된다. 이 편차는, 예컨대, 수직 배향으로부터 약간의 편차를 갖는 기판 지지부가 더욱 안정된 기판 포지션을 야기할 수 있기 때문에 제공될 수 있다. 추가로, 기판이 전방으로 기울어질 때, 더 적은 수의 입자들이 기판 표면에 도달한다. 그렇지만, 예컨대 증착 프로세스 동안의 기판 배향은 실질적으로 수직으로 간주되며, 이는 수평 ±20° 또는 그 미만으로서 간주될 수 있는 수평 기판 배향과 상이한 것으로 간주된다.[0035] In accordance with some embodiments that may be combined with other embodiments described herein, the
[0036] "수직 방향" 또는 "수직 배향"이란 용어는 "수평 방향" 또는 "수평 배향"을 구분하는 것으로 이해된다. 즉, "수직 방향" 또는 "수직 배향"은 예컨대 캐리어 및 기판의 실질적으로 수직 배향에 관한 것이며, 여기서, 정확한 수직 방향 또는 수직 배향으로부터 몇 도, 예컨대 최대 10° 또는 심지어 최대 15°의 편차는 여전히 "실질적으로 수직 방향" 또는 "실질적으로 수직 배향"으로서 간주된다. 수직 방향은 중력에 실질적으로 평행할 수 있다.[0036] The term "vertical direction" or "vertical orientation" is understood to distinguish between "horizontal direction" or "horizontal orientation". That is, "vertical direction" or "vertical orientation" relates, for example, to a substantially vertical orientation of the carrier and the substrate, where a deviation of several degrees, such as up to 10° or even up to 15° from the correct vertical direction or vertical orientation is still It is considered as "substantially vertical orientation" or "substantially vertical orientation". The vertical direction can be substantially parallel to gravity.
[0037] 본원에서 설명된 실시예들은, 예컨대 OLED 디스플레이 제조를 위한 대면적 기판들 상에서의 증발을 위해 활용될 수 있다. 구체적으로, 본원에서 설명된 실시예들에 따른 구조들 및 방법들이 제공되는 기판들은 대면적 기판들이다. 예컨대, 대면적 기판 또는 캐리어는, 약 0.67 m²(0.73 x 0.92m)의 표면적에 대응하는 GEN 4.5, 약 1.4 m²(1.1 m x 1.3 m)의 표면적에 대응하는 GEN 5, 약 4.29 m²(1.95 m x 2.2 m)의 표면적에 대응하는 GEN 7.5, 약 5.7m²(2.2 m x 2.5 m)의 표면적에 대응하는 GEN 8.5, 또는 심지어 약 8.7 m²(2.85 m x 3.05 m)의 표면적에 대응하는 GEN 10일 수 있다. 심지어 더 큰 세대(generation)들, 이를테면 GEN 11 및 GEN 12, 그리고 대응하는 표면적들이 유사하게 구현될 수 있다. GEN 세대들의 하프 사이즈들이 또한, OLED 디스플레이 제조 시 제공될 수 있다.[0037] The embodiments described herein can be utilized for evaporation on large area substrates, for example, for manufacturing an OLED display. Specifically, the substrates on which structures and methods according to embodiments described herein are provided are large area substrates. For example, a large-area substrate or carrier has a GEN 4.5 corresponding to a surface area of about 0.67 m² (0.73 x 0.92 m), a GEN 5 corresponding to a surface area of about 1.4 m² (1.1 mx 1.3 m), and a GEN 5 of about 4.29 m² (1.95 mx 2.2 m). m), GEN 7.5, corresponding to a surface area of about 5.7 m² (2.2 mx 2.5 m), GEN 8.5, or even
[0038] 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 기판 두께는 0.1 내지 1.8 mm일 수 있다. 기판 두께는 약 0.9 mm 또는 그 미만, 이를테면 0.5 mm일 수 있다. 본원에서 사용된 "기판"이란 용어는 특히, 실질적으로 비가요성 기판들, 예컨대, 웨이퍼, 사파이어 등과 같은 투명 결정의 슬라이스들, 또는 유리 플레이트를 포괄할 수 있다. 그러나, 본 개시내용은 그에 제한되지 않으며, "기판"이란 용어는 또한, 가요성 기판들, 이를테면 웨브 또는 포일을 포괄할 수 있다. "실질적으로 비가요성"이란 용어는 "가요성"을 구분하는 것으로 이해된다. 구체적으로, 실질적으로 비가요성 기판, 예컨대 0.9 mm 또는 그 미만, 이를테면 0.5 mm 또는 그 미만의 두께를 갖는 유리 플레이트는 어느 정도의 가요성을 가질 수 있으며, 여기서, 가요성 기판들과 비교할 때, 실질적으로 비가요성 기판의 가요성은 작다.[0038] In accordance with some embodiments that may be combined with other embodiments described herein, the substrate thickness may be 0.1 to 1.8 mm. The substrate thickness may be about 0.9 mm or less, such as 0.5 mm. As used herein, the term “substrate” may in particular encompass substantially inflexible substrates, such as slices of transparent crystals such as wafers, sapphire, or the like, or a glass plate. However, the present disclosure is not limited thereto, and the term “substrate” may also encompass flexible substrates, such as a web or foil. The term “substantially inflexible” is understood to distinguish between “flexible”. Specifically, a substantially non-flexible substrate, such as a glass plate having a thickness of 0.9 mm or less, such as 0.5 mm or less, may have some degree of flexibility, wherein when compared to flexible substrates, substantially As a result, the flexibility of the non-flexible substrate is small.
[0039] 본원에서 설명된 실시예들에 따라, 기판은 재료 증착에 적절한 임의의 재료로 만들어질 수 있다. 예컨대, 기판은 유리(예컨대, 소다 석회 유리, 붕규산 유리 등), 금속, 폴리머, 세라믹, 화합물 재료들, 탄소 섬유 재료들, 또는 증착 프로세스에 의해 코팅될 수 있는 임의의 다른 재료 또는 재료들의 결합으로 구성되는 그룹(group)으로부터 선택되는 재료로 만들어질 수 있다.[0039] In accordance with the embodiments described herein, the substrate may be made of any material suitable for material deposition. For example, the substrate may be made of glass (e.g., soda lime glass, borosilicate glass, etc.), metal, polymer, ceramic, compound materials, carbon fiber materials, or any other material or combination of materials that may be coated by a deposition process. It can be made of a material selected from the group consisting of.
[0040] 도 3a는 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 증착 시스템에서의 캐리어(320)의 비접촉식 이송을 위한 장치의 개략도를 도시한다. 도 3a의 장치 및 캐리어(320)는 도 2에서 예시된 장치 및 캐리어와 유사하며, 유사한 또는 동일한 엘리먼트들의 설명은 반복되지 않는다.3A shows a schematic diagram of an apparatus for non-contact transfer of a
[0041] 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 캐리어(320)는 캐리어(320)의 존재를 검출하기 위한 하나 또는 그 초과의 센서들(230)에 의해 검출가능한 검출가능 디바이스(340)를 포함한다. 일부 구현들에서, 예컨대, 검출가능 디바이스(340)가 개개의 센서(들)에 위치될 때, 예컨대, 개개의 센서(들) 위에 위치될 때, 검출가능 디바이스(340)는 하나 또는 그 초과의 센서들(230)을 향하도록 배열된다. 일부 실시예들에 따라, 하나 또는 그 초과의 센서들(230)은 검출가능 디바이스(340)에 의해 제공되는 제1 센서 트레일을 향하며, 액추에이터들, 이를테면 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112)은 자석 구조(222), 그리고 특히, 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들에 의해 제공되는 액추에이터 트레일을 향한다. 검출가능 디바이스(340)는 제1 측, 그리고 제1 측 반대편의 제2 측을 가질 수 있다. 예컨대, 제1 측은 검출가능 디바이스(340)의 하부 면일 수 있고, 제2 측은 검출가능 디바이스(340)의 상부 면일 수 있다. 하나 또는 그 초과의 센서들(230)은 제1 측을 향할 수 있다. 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112)은 제2 측을 향할 수 있다.[0041] According to some embodiments, which may be combined with other embodiments described herein, the
[0042] 검출가능 디바이스(340)와 자석 구조(222)는 일체형으로 형성될 수 있거나, 또는 별개의 엘리먼트들로서 제공될 수 있다. 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 검출가능 디바이스(340) 및 자석 구조(222), 그리고 특히, 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들은, 예컨대 이송 방향(1)에 평행한 평면, 이를테면 본질적으로 수평 평면에서, 서로 인접하게 배열될 수 있다. 예컨대, 검출가능 디바이스(340)는 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들을 갖는 캐리어(320)의 자석 구조(222)에 부착될 수 있다.[0042] The
[0043] 검출가능 디바이스(340)는 캐리어(320)의 단부 부분에 배열되며, 이송 방향(1)을 따라 연장될 수 있다. 유도 구조(210)의 복수의 유도 유닛들(111) 중 적어도 하나의 유도 유닛에 대한 캐리어(320)의 포지션 또는 캐리어(320)의 단부들의 포지션들을 결정하기 위해, 검출가능 디바이스(340)는 증착 시스템의 이송 어레인지먼트의 하나 또는 그 초과의 센서들(230)에 의해 검출가능할 수 있다. 이 점과 관련하여, 검출가능 디바이스(340)는 또한, "센서 트레일"로 지칭될 수 있다.[0043] The
[0044] 캐리어(320)는 단부 부분(들), 이를테면 제1 단부 부분 및 제1 단부 부분 반대편의 제2 단부 부분을 갖는다. 기판은 제1 단부 부분과 제2 단부 부분 사이에 위치될 수 있다. 제1 단부 부분은 정상(또는 상부) 단부 부분일 수 있고, 제2 단부 부분은 바닥(또는 하부) 단부 부분일 수 있다. 제1 단부 부분 및 제2 단부 부분은 본질적으로 평행하게, 예컨대, 본질적으로 수평 방향으로 연장될 수 있다. 검출가능 디바이스(340)는 제1 단부 부분 및/또는 제2 단부 부분에 제공될 수 있다. 도 3a의 예는 예시적으로, 캐리어(320)의 정상 또는 상부 단부 부분인 제1 단부 부분에 있는 검출가능 디바이스(340) 및 자석 구조(222)를 예시한다. 검출가능 디바이스(340) 및 자석 구조(222), 특히, 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들은 이송 어레인지먼트의 유도 구조(210)를 향할 수 있다. 하나 또는 그 초과의 제2 자석 유닛들은, 캐리어(320)의 바닥 또는 하부 단부 부분일 수 있는 제2 단부 부분에 위치될 수 있다. 하나 또는 그 초과의 제2 자석 유닛들은 이송 어레인지먼트의 구동 구조를 향할 수 있다.[0044] The
[0045] 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 검출가능 디바이스(340)는, 예컨대, 이송 방향(1)으로 캐리어(320)의 전체 길이(L)에 걸쳐 연장되는 엘리먼트이다. 캐리어(320)의 길이(L)는 이송 방향(1)을 따라 정의되는데, 예컨대, 이송 방향(1)을 따라 캐리어(320)의 제1 단부(201)와 제2 단부(202) 사이에서 정의될 수 있다.[0045] According to some embodiments, which may be combined with other embodiments described herein, the
[0046] 일부 구현들에서, 검출가능 디바이스(340)는, 이송 방향(1)을 따라 변하며 하나 또는 그 초과의 센서들(230)에 의해 검출가능한 기하학적 프로파일이거나, 또는 이 기하학적 프로파일을 포함한다. 하나 또는 그 초과의 센서들(230)은, 개개의 센서와 기하학적 프로파일 사이, 그리고 특히, 개개의 센서와 이 개개의 센서를 향하는 기하학적 프로파일의 표면 사이의 거리를 검출하도록 구성된 거리 센서들일 수 있다. 거리는 이송 방향(1)에 직각인 방향, 이를테면 수직 방향(3) 또는 수평 방향(2)으로 측정될 수 있다. 일부 구현들에서, 각각의 유도 유닛(111)은 기하학적 프로파일을 검출하기 위한 개개의 센서를 포함한다.In some implementations, the
[0047] 기하학적 프로파일은 캐리어(320)의 제1 단부(201)와 제2 단부(202) 사이에서 이송 방향(1)을 따라 변할 수 있다. 기하학적 프로파일은 제1 단부(201)와 제2 단부(202) 사이에서 연장되는 센서 트레일을 제공할 수 있다. 본 개시내용 전체에 걸쳐 사용된 "기하학적 프로파일"이란 용어는, 이송 방향(1)으로 연장되며 그리고 이송 방향(1) 및 이송 방향(1)에 직각인 적어도 하나의 방향, 이를테면 수직 방향(3)에 의해 정의된 평면에서 일정하지 않은(또는 변하는) 단면 형상을 갖는 프로파일 또는 프로파일을 갖는 엘리먼트를 지칭한다. 기하학적 프로파일은, 이송 방향(1)으로 볼 때, 캐리어(320)의 제1 단부(201)(예컨대, 이송 방향(1)으로 캐리어(320)의 최외곽 경계를 정의할 수 있는 전면 또는 리딩 에지)와 제2 단부(202)(예컨대, 이송 방향(1)의 반대 방향으로 캐리어(320)의 최외곽 경계를 정의할 수 있는 후면 또는 트레일링 에지) 사이에서 정의될 수 있다. 다시 말해서, 변하는 기하학적 프로파일은, 캐리어(320)의 제1 단부(201) 또는 제2 단부(202)에 있는 에지를 지칭하는 것이 아니라, 하나 또는 그 초과의 센서들(230)에 의해 검출될 수 있는, 제1 단부(201)와 제2 단부(202) 사이의 추가적인 구조적 변형(variation)들을 지칭한다.[0047] The geometrical profile can vary along the conveying
[0048] 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 기하학적 프로파일은 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들을 포함한다. 일부 구현들에서, 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들은, 불연속부(discontinuity), 경사부(inclination), 아크 형상 및 이들의 임의의 결합을 포함하는 그룹으로부터 선택될 수 있다. 예컨대, 기하학적 프로파일은 캐리어(220)의 길이를 따라 연장되는 엘리먼트이며, 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들, 이를테면 하나 또는 그 초과의 경사부들(342)을 가질 수 있다.[0048] In accordance with some embodiments, which may be combined with other embodiments described herein, the geometrical profile includes one or more shape elements. In some implementations, the one or more shape elements may be selected from the group including discontinuities, inclinations, arc shapes, and any combination thereof. For example, the geometrical profile is an element extending along the length of the
[0049] 일부 실시예들에서, 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들, 이를테면 경사부들은 캐리어(320)의 제1 단부(201) 및/또는 제2 단부(202)에 배열된다. 예컨대, 적어도 하나의 제1 형상 엘리먼트가 제1 단부(201)에 배열될 수 있고, 그리고/또는 적어도 하나의 제2 형상 엘리먼트들이 제2 단부(202)에 배열될 수 있다. 적어도 하나의 제1 형상 엘리먼트와 적어도 하나의 제2 형상 엘리먼트는 본질적으로 동일할 수 있거나 또는 상이할 수 있다. 도 3a의 예에서, 적어도 하나의 제1 형상 엘리먼트와 적어도 하나의 제2 형상 엘리먼트 둘 모두는, 기하학적 프로파일을 제공하는 엘리먼트의 경사부들이다.In some embodiments, one or more shape elements, such as slopes, are arranged at the
[0050] 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들이 캐리어(320)의 단부들에 배열될 수 있어서, 캐리어(320)의 단부들이 유도 구조(210)에 대하여 위치되는 곳이 결정될 수 있다. 유도 유닛들(111)의 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들(112)은 이송 방향(1)으로의 캐리어(320)의 매끄러운 이송을 제공하도록 제어될 수 있다. 특히, 캐리어의 에지(들)에 위치되며 그리고/또는 에지(들)가 접근하는 액추에이터들이 제어될 수 있다. 예컨대, 인접한 액추에이터들/자석 유닛들 사이에서의 캐리어(320)의 단부들의 매끄러운 전이(transition)를 제공하기 위해, 액추에이터(들)에 의해 제공되는 자력은 계속해서 증가되거나 또는 감소될 수 있다. 예컨대, 캐리어(320)가 액추에이터를 "떠날" 때, 액추에이터가 본질적으로 캐리어(320)에 어떤 힘도 가하지 않도록, 액추에이터의 동작은 감소될 수 있다.[0050] One or more shape elements may be arranged at the ends of the
[0051] 일부 실시예들에 따라, 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들의 개별적인 형상 엘리먼트는 이송 방향(1)으로 캐리어(320) 및/또는 기하학적 프로파일의 길이를 따라 길이 연장부를 가질 수 있다. 개별적인 형상 엘리먼트의 길이 연장부는 캐리어(320) 및/또는 기하학적 프로파일의 길이의 적어도 1%, 구체적으로, 길이의 적어도 4%, 구체적으로, 길이의 적어도 8%에 대응할 수 있다.[0051] According to some embodiments, an individual shape element of one or more shape elements may have a length extension along the length of the
[0052] 도 3a는 예시적으로, 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들로서 경사부들(342)을 예시한다. 그러나, 본 개시내용은 그에 제한되지 않으며, 다른 형상 엘리먼트들, 이를테면 컷아웃들 또는 계속해서 변하는 형상들이 제공될 수 있다. 일부 구현들에서, 경사부(342)는 이송 방향(1)에 대하여 경사지는, 캐리어(320)의 표면일 수 있다. 예컨대, 경사부(342)는 수평 평면에 대하여 경사질 수 있다. 일부 실시예들에서, 경사부들(342)은 캐리어(320)의 제1 단부(201) 및/또는 제2 단부(202)에 배열된다. 예컨대, 적어도 하나의 제1 경사부가 캐리어(320)의 제1 단부(201)에 배열될 수 있고, 그리고/또는 적어도 하나의 제2 경사부가 캐리어(320)의 제2 단부(202)에 배열될 수 있다. 적어도 하나의 제1 경사부와 적어도 하나의 제2 경사부는 반대 방향들로 경사질 수 있다. 특히, 적어도 하나의 제1 경사부와 적어도 하나의 제2 경사부는 거울-대칭일 수 있다.[0052] FIG. 3A illustratively illustrates the
[0053] 센서들(230)은 경사부들(342)을 향하도록 배열될 수 있다. 특히, 센서들(230)은, 캐리어(320)가 이송 방향(1)으로 이동할 때 경사부들(342)을 검출하도록 구성될 수 있다. 센서와 경사부 사이의 검출된 거리는 이송 방향(1) 및/또는 경사부 방향에 따라 증가하거나 또는 감소한다. 유도 유닛들(111)의 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들은 이송 방향으로의 캐리어(320)의 매끄러운 이송을 제공하도록 제어될 수 있다. 특히, 경사부(들)에 위치되는 액추에이터들이 제어될 수 있다. 예컨대, 인접한 액추에이터들/자석 유닛들 사이에서의 캐리어의 단부들의 매끄러운 전이를 제공하기 위해, 경사부에 의해 제공되는 변하는 거리에 기반하여, 액추에이터(들)에 의해 제공되는 자력은 계속해서 증가되거나 또는 감소될 수 있다. 특히, 도 3a에서, 캐리어의 좌측의 경사부는, 마치 캐리어가 위쪽으로 이동하는 것과 동일한 검출 신호를 센서에서 야기할 수 있다. 제어기는, 예컨대, 캐리어가 좌측의 액추에이터를 "떠날" 때 이 액추에이터가 캐리어에 부상력을 가하지 않도록, 액추에이터 전류를 감소시킴으로써, 액추에이터 힘을 감소시킬 수 있다.The
[0054] 도 3b는 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 증착 시스템에서의 캐리어(320')의 비접촉식 이송을 위한 장치의 개략도를 도시한다. 도 3b의 장치 및 캐리어(320')는 도 3a에서 예시된 장치 및 캐리어와 유사하며, 유사한 또는 동일한 엘리먼트들의 설명은 반복되지 않는다.[0054] FIG. 3B shows a schematic diagram of an apparatus for contactless transfer of a carrier 320' in a deposition system, according to embodiments described herein. The device and carrier 320' of FIG. 3B is similar to the device and carrier illustrated in FIG. 3A, and descriptions of similar or identical elements are not repeated.
[0055] 본 개시내용의 양상에 따라, 증착 시스템에서의 캐리어(320')의 비접촉식 이송을 위한 장치는 캐리어(320')의 존재를 검출하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 센서들(330)을 포함한다. 하나 또는 그 초과의 센서들(330)의 각각의 센서는 캐리어(320')의 이송 방향(1)으로 센서 연장부(d)를 가지며, 여기서, 센서 연장부(d)는 이송 방향(1)으로 캐리어 연장부, 즉, 캐리어의 길이(L)의 적어도 1%, 구체적으로 적어도 2%, 구체적으로 적어도 4%, 구체적으로 적어도 8%, 그리고 더욱 구체적으로 적어도 10%일 수 있다. 센서 연장부(d)는 캐리어(320')의 길이(L)의 심지어 10% 또는 그 초과, 구체적으로 15% 또는 그 초과, 구체적으로 20% 또는 그 초과, 그리고 더욱 구체적으로 25% 또는 그 초과일 수 있다.[0055] In accordance with an aspect of the present disclosure, an apparatus for contactless transfer of a
[0056] 하나 또는 그 초과의 센서(330)는 이송 방향(1)으로 신장된다. 캐리어(320')(또는 캐리어(320')의 센서 트레일)가 센서(330)를 떠날 때, 센서(330)의 신호 또는 신호 값은, 마치 캐리어(320')가 위쪽으로 (느리게) 이동하는 것 같은 방식으로 점진적으로 변화한다. 액티브 자석 유닛(112)에 의해 제공되는 힘이 신호 변화에 따라 0으로 (점진적으로) 감소될 수 있어서, 캐리어(320')의 매끄러운 이송이 달성될 수 있다. 점진적인(또는 램프식(ramped)) 신호 변화는 신장된 센서들에 의해 달성될 수 있다. 그에 반대로, 예컨대 도 2에서 예시된 짧은 센서들은, 센서가 캐리어의 에지에 도달할 때 갑작스러운 신호 변화를 제공한다. 본 실시예는, 캐리어의 갑작스러운 가속 또는 감속으로 이어질 수 있는 펄스-형의 힘의 발생을 감소시키거나 또는 심지어 방지할 수 있다.One or
[0057] 도 4a 및 도 4b는 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 캐리어(410)의 비접촉식 이송을 위한 장치(400)의 개략도들을 도시한다. 장치 및 캐리어(410)는 본원에서 설명된 일부 실시예들에 따라 구성될 수 있다.4A and 4B show schematic views of an
[0058] 장치(400)는, 본 개시내용에 따라, 복수의 액티브 자기 유닛들(475)을 포함하는 유도 구조(470)를 갖는 이송 어레인지먼트, 캐리어(410)의 존재를 검출하기 위한 하나 또는 그 초과의 센서들(미도시), 및 캐리어(410)를 포함한다. 하나 또는 그 초과의 센서들은, 하나 또는 그 초과의 센서들과 캐리어(410)의 검출가능 디바이스 사이의 거리를 검출하도록 구성될 수 있다. 장치(400)는, 하나 또는 그 초과의 센서들에 의해 제공된 검출 데이터에 기반하여, 복수의 액티브 자석 유닛들(475) 중 적어도 하나의 액티브 자석 유닛을 선택적으로 제어하도록 구성된 제어기를 더 포함할 수 있다. 본원에서 설명된 일부 실시예들에 따라, 이송 어레인지먼트는 진공 시스템의 진공 챔버에 배열될 수 있다. 진공 챔버는 진공 증착 챔버일 수 있다. 그러나, 본 개시내용은 진공 시스템들에 제한되지 않으며, 본원에서 설명된 캐리어들 및 이송 어레인지먼트들은 대기 환경들에서 구현될 수 있다.
[0059] 캐리어(410)는, 캐리어(410)를 부상시키기 위한 자기 부상력을 제공하기 위한, 진공 시스템의 유도 구조(470)와 자기적으로 상호작용하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들을 갖는 자석 구조를 포함할 수 있다. 하나 또는 그 초과의 제1 자석 유닛들은 제1 패시브 자기 유닛(450)일 수 있다. 유도 구조(470)는 수평 방향일 수 있는, 캐리어(410)의 이송 방향(1)으로 연장될 수 있다. 유도 구조(470)는 복수의 액티브 자기 유닛들(475)을 포함할 수 있다. 캐리어(410)는 유도 구조(470)를 따라 이동가능할 수 있다. 제1 패시브 자기 유닛(450), 예컨대, 강자성 재료의 바, 그리고 유도 구조(470)의 복수의 액티브 자기 유닛들(475)은 캐리어(410)를 부상시키기 위한 제1 자기 부상력을 제공하도록 구성될 수 있다. 본원에서 설명된 바와 같은 부상시키기 위한 디바이스들은, 예컨대 캐리어(410)를 부상시키기 위한 비접촉식 힘을 제공하기 위한 디바이스들이다.[0059] The
[0060] 일부 실시예들에 따라, 이송 어레인지먼트는 구동 구조(480)를 더 포함할 수 있다. 구동 구조(480)는 복수의 추가적인 자석 유닛들, 이를테면 추가적인 액티브 자기 유닛들을 포함할 수 있다. 캐리어(410)는, 구동 구조(480)와 자기적으로 상호작용하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 제2 자석 유닛들을 포함할 수 있다. 특히, 하나 또는 그 초과의 제2 자석 유닛들은, 구동 구조(480)의 추가적인 액티브 자기 유닛들(485)과 상호작용하기 위한 제2 패시브 자기 유닛(460), 예컨대 강자성 재료의 바일 수 있다.In accordance with some embodiments, the transfer arrangement may further include a
[0061] 도 4b는 이송 어레인지먼트의 다른 측면도를 도시한다. 도 4b에서, 복수의 액티브 자기 유닛들(475)의 액티브 자기 유닛이 도시된다. 액티브 자기 유닛은 캐리어(410)의 제1 패시브 자기 유닛(450)과 상호작용하는 자력을 제공한다. 예컨대, 제1 패시브 자기 유닛(450)은 강자성 재료의 막대일 수 있다. 막대는 지지 구조(412)에 연결되는, 캐리어(410)의 일부일 수 있다. 지지 구조(412)는 캐리어(410)의 바디에 의해 제공될 수 있다. 또한, 막대 또는 제1 패시브 자기 유닛은, 각각, 기판(10)을 지지하기 위한 지지 구조(412)와 일체형으로 형성될 수 있다. 검출가능 디바이스는 제1 패시브 자기 유닛(450)에 부착될 수 있거나, 또는 제1 패시브 자기 유닛(450)에 의해 제공될 수 있다. 캐리어(410)는 제2 패시브 자기 유닛(460), 예컨대 추가적인 막대를 더 포함할 수 있다. 추가적인 막대는 캐리어(410)에 연결될 수 있다. 또한, 막대 또는 제2 패시브 자기 유닛은, 각각, 지지 구조(412)와 일체형으로 형성될 수 있다.[0061] Figure 4b shows another side view of the transfer arrangement. In FIG. 4B, an active magnetic unit of a plurality of active
[0062] "패시브" 자기 유닛의 용어는, "액티브" 자기 유닛의 관념과 구분하기 위해 본원에서 사용된다. 패시브 자기 유닛은, 액티브 제어 또는 조정을 겪지 않는 ―적어도 이송 어레인지먼트의 동작 동안에는 아님― 자기 특성들을 갖는 엘리먼트를 지칭할 수 있다. 예컨대, 패시브 자기 유닛, 예컨대 캐리어의 막대 또는 추가적인 막대의 자기 특성들은, 일반적으로, 진공 챔버 또는 진공 시스템을 통과하는 캐리어의 이동 동안 액티브 제어를 겪지 않는다. 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 일부 실시예들에 따라, 이송 어레인지먼트의 제어기는 패시브 자기 유닛을 제어하도록 구성되지 않는다. 패시브 자기 유닛은 자기장, 예컨대 정적 자기장을 생성하도록 적응될 수 있다. 패시브 자기 유닛은 조정가능한 자기장을 생성하도록 구성되지 않을 수 있다. 패시브 자기 유닛은 자기 재료, 이를테면 강자성 재료, 영구 자석일 수 있거나, 또는 영구 자기 특성들을 가질 수 있다.[0062] The term "passive" magnetic unit is used herein to distinguish it from the notion of "active" magnetic unit. A passive magnetic unit may refer to an element having magnetic properties that do not undergo active control or coordination—at least not during operation of the transfer arrangement. For example, the magnetic properties of a passive magnetic unit, such as a rod of a carrier or an additional rod, generally do not undergo active control during movement of the carrier through a vacuum chamber or vacuum system. According to some embodiments, which may be combined with other embodiments described herein, the controller of the transfer arrangement is not configured to control the passive magnetic unit. The passive magnetic unit can be adapted to generate a magnetic field, such as a static magnetic field. The passive magnetic unit may not be configured to generate an adjustable magnetic field. The passive magnetic unit may be a magnetic material, such as a ferromagnetic material, a permanent magnet, or may have permanent magnetic properties.
[0063] 본원에서 설명된 실시예들에 따라, 복수의 액티브 자기 유닛들(475)은 제1 패시브 자기 유닛(450) 및 결과적으로 캐리어(410)에 자력을 제공한다. 복수의 액티브 자기 유닛들(475)은 캐리어(410)를 부상시킨다. 추가적인 액티브 자기 유닛들(485)은, 예컨대 이송 방향(1)을 따라 진공 챔버 내에서 캐리어(410)를 구동할 수 있다. 복수의 추가적인 액티브 자기 유닛들(485)은, 캐리어(410) 위에 위치된 복수의 액티브 자기 유닛들(475)에 의해 부상되고 있는 동안 이송 방향(1)으로 캐리어(410)를 이동시키기 위한 구동 구조를 형성한다. 추가적인 액티브 자기 유닛들(485)은 이송 방향(1)을 따라 힘을 제공하기 위해 제2 패시브 자기 유닛(460)과 상호작용할 수 있다. 예컨대, 제2 패시브 자기 유닛(460)은 교번하는 극성(alternating polarity)으로 배열된 복수의 영구 자석들을 포함할 수 있다. 제2 패시브 자기 유닛(460)의 결과적인 자기장들은, 부상되고 있는 동안 캐리어(410)를 이동시키기 위해, 복수의 추가적인 액티브 자기 유닛들(485)과 상호작용할 수 있다.In accordance with embodiments described herein, the plurality of active
[0064] 복수의 액티브 자기 유닛들(475)을 이용하여 캐리어(410)를 부상시키기 위하여 그리고/또는 복수의 추가적인 액티브 자기 유닛들(485)을 이용하여 캐리어(410)를 이동시키기 위해, 액티브 자기 유닛들은 조정가능한 자기장들을 제공하도록 제어될 수 있다. 조정가능한 자기장은 정적 또는 동적 자기장일 수 있다. 본원에서 설명된 다른 실시예들과 결합될 수 있는 실시예들에 따라, 액티브 자기 유닛은, 수직 방향(3)을 따라 연장되는 자기 부상력을 제공하기 위한 자기장을 생성하도록 구성된다. 본원에서 설명된 추가적인 실시예들과 결합될 수 있는 다른 실시예들에 따라, 액티브 자기 유닛은, 횡단 방향을 따라 연장되는 자력을 제공하도록 구성될 수 있다. 본원에서 설명된 액티브 자기 유닛은 전자기 디바이스, 솔레노이드, 코일, 초전도 자석, 또는 이들의 임의의 결합으로 구성되는 그룹으로부터 선택되는 엘리먼트이거나 또는 이 엘리먼트를 포함할 수 있다.[0064] In order to float the
[0065] 본원에서 설명된 실시예들은 캐리어, 기판 및/또는 마스크의 비접촉식 부상, 이송 및/또는 정렬에 관한 것이다. 본 개시내용은, 기판을 지지하는 캐리어, 기판이 없는 캐리어, 기판, 또는 지지부에 의해 지지되는 기판으로 구성되는 그룹의 하나 또는 그 초과의 엘리먼트들을 포함할 수 있는 캐리어를 지칭한다. 본 개시내용 전체에 걸쳐 사용된 "비접촉식"이란 용어는, 예컨대 캐리어 및 기판의 중량이 기계적 접촉 또는 기계적 힘들에 의해 유지되는 것이 아니라, 자력에 의해 유지된다는 의미로 이해될 수 있다. 구체적으로, 캐리어는, 기계적 힘들 대신에, 자력들을 사용하여 부상 또는 부유 상태로 유지된다. 예로서, 본원에서 설명된 이송 어레인지먼트는 캐리어의 중량을 지지하는 어떤 기계적 디바이스들, 이를테면 기계적 레일도 갖지 않을 수 있다. 일부 구현들에서, 진공 시스템에서 캐리어의 부상 그리고 예컨대 이동 동안, 캐리어와 장치의 나머지 사이에는 기계적 접촉이 전혀 존재하지 않을 수 있다.[0065] Embodiments described herein relate to non-contact floating, transfer and/or alignment of a carrier, substrate and/or mask. The present disclosure refers to a carrier that may include one or more elements of a group consisting of a carrier supporting a substrate, a carrier without a substrate, a substrate, or a substrate supported by a support. The term "non-contact" as used throughout this disclosure may be understood to mean, for example, that the weight of the carrier and substrate is held by magnetic forces, not by mechanical contact or mechanical forces. Specifically, the carrier is kept in a floating or floating state using magnetic forces instead of mechanical forces. As an example, the transport arrangement described herein may not have any mechanical devices, such as mechanical rails, to support the weight of the carrier. In some implementations, there may be no mechanical contact between the carrier and the rest of the device, such as during floatation and movement of the carrier in the vacuum system.
[0066] 본 개시내용의 실시예들에 따라, 부상시키는 것 또는 부상은 오브젝트의 상태를 지칭하며, 여기서, 오브젝트들은 기계적 접촉 또는 지지 없이 부유한다. 추가로, 오브젝트를 이동시키는 것은 구동력, 예컨대 부상력과는 상이한 방향의 힘을 제공하는 것을 지칭하며, 여기서, 오브젝트는 하나의 포지션으로부터 다른 상이한 포지션으로 이동된다. 예컨대, 오브젝트, 이를테면 캐리어는 부상되는데, 즉, 중력에 맞대응하는 힘에 의해 부상될 수 있으며, 부상되고 있는 동안, 중력에 평행한 방향과는 상이한 방향으로 이동될 수 있다.In accordance with embodiments of the present disclosure, levitating or levitating refers to the state of an object, where the objects float without mechanical contact or support. Additionally, moving an object refers to providing a force in a direction different from a driving force, such as a levitation force, wherein the object is moved from one position to another different position. For example, an object, such as a carrier, can be floated, ie, it can be lifted by a force counteracting gravity, and while being floated, it can move in a direction different from that parallel to gravity.
[0067] 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 캐리어의 비접촉식 부상 및 이송은, 캐리어의 이송 또는 정렬 동안, 캐리어와 이송 어레인지먼트의 섹션들, 이를테면 기계적 레일들 사이의 기계적 접촉에 기인하는 어떤 입자들도 생성되지 않는다는 점에서 유익하다. 그에 따라서, 본원에서 설명된 실시예들은 기판 상에 증착되는 층들의 개선된 순도 및 균일성을 제공하는데, 그 이유는 특히, 비접촉식 부상, 이송 및/또는 정렬을 사용할 때 입자 생성이 최소화되기 때문이다.[0067] In accordance with the embodiments described herein, the non-contact flotation and transfer of the carrier may result in any particles resulting from mechanical contact between the carrier and sections of the transfer arrangement, such as mechanical rails, during transfer or alignment of the carrier. It is beneficial in that it is not generated. Accordingly, the embodiments described herein provide improved purity and uniformity of the layers deposited on the substrate, since particle generation is minimized, particularly when using contactless flotation, transfer and/or alignment. .
[0068] 도 5는 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 기판 프로세싱을 위한 시스템(500)을 도시한다. 진공 시스템일 수 있는 시스템(500)은, 기판(10) 상에 예컨대 유기 재료의 하나 또는 그 초과의 층들을 증착시키도록 구성될 수 있다.5 shows a
[0069] 시스템(500)은 증착 챔버, 이를테면 진공 챔버(502), 본원에서 설명된 실시예들에 따른 캐리어(520), 및 증착 챔버에서 캐리어(520)의 이송을 위해 구성된 이송 어레인지먼트(510)를 포함한다. 일부 구현들에서, 시스템(500)은 증착 챔버에 하나 또는 그 초과의 재료 증착 소스들(580)을 포함한다. 캐리어(520)는 증착 프로세스, 이를테면 진공 증착 프로세스 동안 기판(10)을 유지하도록 구성될 수 있다. 시스템(500)은 OLED 디바이스들의 제조를 위해 예컨대 유기 재료의 증발을 위해 구성될 수 있다. 다른 예에서, 시스템(500)은 CVD 또는 PVD, 이를테면 스퍼터 증착을 위해 구성될 수 있다.The
[0070] 일부 구현들에서, 하나 또는 그 초과의 재료 증착 소스들(580)은 증발 소스들, 특히, OLED 디바이스의 층을 형성하기 위해 기판 상에 하나 또는 그 초과의 유기 재료들을 증착시키기 위한 증발 소스들일 수 있다. 예컨대 층 증착 프로세스 동안 기판(10)을 지지하기 위한 캐리어(520)는, 이송 경로, 이를테면 선형 이송 경로를 따라, 증착 챔버 안으로 그리고 이 증착 챔버를 통해, 그리고 특히, 증착 영역을 통해 이송될 수 있다.[0070] In some implementations, the one or more
[0071] 재료는, 하나 또는 그 초과의 재료 증착 소스들(580)로부터, 코팅될 기판(10)이 위치되는 증착 영역을 향한 방출 방향으로 방출될 수 있다. 예컨대, 하나 또는 그 초과의 재료 증착 소스들(580)은, 하나 또는 그 초과의 재료 증착 소스들(580)의 길이를 따라 적어도 하나의 라인으로 배열되는 복수의 개구들 및/또는 노즐들을 갖는 라인 소스를 제공할 수 있다. 재료는 복수의 개구들 및/또는 노즐들을 통해 배출될 수 있다.[0071] The material may be emitted from one or more
[0072] 도 5에서 표시된 바와 같이, 추가적인 챔버들이 진공 챔버(502)에 인접하게 제공될 수 있다. 진공 챔버(502)는, 밸브 하우징(504) 및 밸브 유닛(506)을 갖는 밸브에 의해, 인접한 챔버들로부터 분리될 수 있다. 기판(10)이 그 상에 있는 캐리어(520)가 화살표에 의해 표시된 바와 같이 진공 챔버(502)에 삽입된 후에, 밸브 유닛(506)은 폐쇄될 수 있다. 예컨대 진공 챔버(502)에 연결된 진공 펌프들을 이용하여 기술 진공을 생성함으로써, 진공 챔버(502) 내의 분위기가 개별적으로 제어될 수 있다.As indicated in FIG. 5, additional chambers may be provided adjacent to the
[0073] 일부 실시예들에 따라, 캐리어(520), 기판(10), 그리고 선택적으로 마스크(20)는, 증착 재료의 증착 동안 정적이거나 또는 동적이다. 본원에서 설명된 일부 실시예들에 따라, 예컨대 OLED 디바이스들의 제조를 위해, 동적 증착 프로세스가 제공될 수 있다.[0073] In accordance with some embodiments, the
[0074] 일부 구현들에서, 시스템(500)은 진공 챔버(502)를 통해 연장되는 하나 또는 그 초과의 이송 경로들을 포함할 수 있다. 캐리어(520)는, 하나 또는 그 초과의 이송 경로들을 따른, 예컨대 하나 또는 그 초과의 재료 증착 소스들(580)을 지나는 이송을 위해 구성될 수 있다. 도 5에서, 하나의 이송 경로가 예시적으로, 화살표에 의해 표시되지만, 본 개시내용이 그에 제한되지 않으며, 2개 또는 그 초과의 이송 경로들이 제공될 수 있다는 것이 이해되어야 한다. 예컨대, 적어도 2개의 이송 경로들이 개개의 캐리어들의 이송을 위해 실질적으로 서로 평행하게 배열될 수 있다. 하나 또는 그 초과의 재료 증착 소스들(580)은 2개의 이송 경로들 사이에 배열될 수 있다.In some implementations,
[0075] 도 6은 본원에서 설명된 추가적인 실시예들에 따른, 기판(10)의 프로세싱, 이를테면 진공 프로세싱을 위한 시스템(600)의 개략도를 도시한다.6 shows a schematic diagram of a
[0076] 시스템(600)은 2개 또는 그 초과의 프로세싱 구역들, 그리고 기판(10) 및 선택적으로 마스크를 지지하는 캐리어(601)를 2개 또는 그 초과의 프로세싱 구역들로 순차적으로 이송하도록 구성된, 본 개시내용에 따른 이송 어레인지먼트(660)를 포함한다. 예컨대, 이송 어레인지먼트(660)는, 기판 프로세싱을 위한 2개 또는 그 초과의 프로세싱 구역들을 통해 이송 방향(1)을 따라 캐리어(601)를 이송하도록 구성될 수 있다. 다시 말하면, 다수의 프로세싱 구역들을 통과하는 기판(10)의 이송을 위해 동일한 캐리어가 사용된다. 특히, 프로세싱 구역에서의 기판 프로세싱과, 후속하는 프로세싱 구역에서의 기판 프로세싱 사이에 기판(10)은 캐리어(601)로부터 제거되지 않는데, 즉, 기판은 2개 또는 그 초과의 기판 프로세싱 절차들을 위해 동일한 캐리어 상에 계속 있다. 일부 실시예들에 따라, 캐리어(601)는 본원에서 설명된 실시예들에 따라 구성될 수 있다. 선택적으로 또는 대안적으로, 이송 어레인지먼트(660)는 예컨대 도 4a 및 도 4b에 대하여 설명된 바와 같이 구성될 수 있다.The
[0077] 예시적으로 도 6에서 예시된 바와 같이, 2개 또는 그 초과의 프로세싱 구역들은 제1 증착 구역(608) 및 제2 증착 구역(612)을 포함할 수 있다. 선택적으로, 제1 증착 구역(608)과 제2 증착 구역(612) 사이에 전달 구역(610)이 제공될 수 있다. 복수의 구역들, 이를테면 2개 또는 그 초과의 프로세싱 구역들 그리고 전달 구역은 하나의 진공 챔버에 제공될 수 있다. 대안적으로, 복수의 구역들은, 서로 연결된 상이한 진공 챔버들에 제공될 수 있다. 예컨대, 각각의 진공 챔버가 하나의 구역을 제공할 수 있다. 구체적으로, 제1 진공 챔버가 제1 증착 구역(608)을 제공할 수 있고, 제2 진공 챔버가 전달 구역(610)을 제공할 수 있으며, 그리고 제3 진공 챔버가 제2 증착 구역(612)을 제공할 수 있다. 일부 구현들에서, 제1 진공 챔버 및 제3 진공 챔버는 "증착 챔버들"로 지칭될 수 있다. 제2 진공 챔버는 "프로세싱 챔버"로 지칭될 수 있다. 도 6의 예에서 도시된 구역들에 인접하게, 추가적인 진공 챔버들 또는 구역들이 제공될 수 있다.As illustratively illustrated in FIG. 6, the two or more processing zones may include a
[0078] 진공 챔버들 또는 구역들은, 밸브 하우징(604) 및 밸브 유닛(605)을 갖는 밸브에 의해, 인접한 구역들로부터 분리될 수 있다. 기판(10)이 그 상에 있는 캐리어(601)가 구역, 이를테면 제2 증착 구역(612)에 삽입된 후에, 밸브 유닛(605)은 폐쇄될 수 있다. 예컨대 구역들에 연결된 진공 펌프들을 이용하여 기술 진공을 생성함으로써, 그리고/또는 예컨대 제1 증착 구역(608) 및/또는 제2 증착 구역(612)에 하나 또는 그 초과의 프로세스 가스들을 삽입함으로써, 구역들 내의 분위기가 개별적으로 제어될 수 있다. 기판(10)을 그 상에 갖고 있는 캐리어(601)를 구역들 안으로, 구역들을 통해, 그리고 구역들 밖으로 이송하기 위하여, 이송 경로, 이를테면 선형 이송 경로가 제공될 수 있다. 이송 경로는 2개 또는 그 초과의 프로세싱 구역들, 이를테면 제1 증착 구역(608) 및 제2 증착 구역(612)을 통해, 그리고 선택적으로, 전달 구역(610)을 통해, 적어도 부분적으로 연장될 수 있다.Vacuum chambers or zones may be separated from adjacent zones by a valve with a
[0079] 시스템(600)은 전달 구역(610)을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에서, 전달 구역(610)은 생략될 수 있다. 전달 구역(610)은 회전 모듈, 트랜싯 모듈, 또는 이들의 결합에 의해 제공될 수 있다. 도 6은 회전 모듈과 트랜싯 모듈의 결합을 예시한다. 회전 모듈에서, 트랙 어레인지먼트 및 이 트랙 어레인지먼트 상에 배열된 캐리어(들)는 회전 축, 이를테면 수직 회전 축 주위로 회전될 수 있다. 예컨대, 캐리어(들)는 시스템(600)의 좌측으로부터 시스템(600)의 우측으로, 또는 그 반대로 전달될 수 있다. 트랜싯 모듈은, 캐리어(들)가 상이한 방향들, 예컨대 서로 직각인 방향들로 트랜싯 모듈을 통해 전달될 수 있도록, 크로싱 트랙들을 포함할 수 있다.[0079]
[0080] 증착 구역들, 이를테면 제1 증착 구역(608) 및 제2 증착 구역(612) 내에, 하나 또는 그 초과의 증착 소스들이 제공될 수 있다. 예컨대, 제1 증착 구역(608)에 제1 증착 소스들(630)이 제공될 수 있다. 제2 증착 구역(612)에 제2 증착 소스(650)가 제공될 수 있다. 하나 또는 그 초과의 증착 소스들은, OLED 디바이스를 위한 유기 층 스택을 형성하기 위해, 기판(10) 상의 하나 또는 그 초과의 유기 층들의 증착을 위해 구성된 증발 소스들일 수 있다.[0080] One or more deposition sources may be provided within deposition zones, such as
[0081] 도 7은 본원에서 설명된 실시예들에 따른, 증착 시스템, 이를테면 진공 시스템에서 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 방법(700)의 흐름도를 도시한다. 방법(700)은 본 개시내용에 따른 캐리어들, 장치들, 및 시스템들을 활용할 수 있다.7 shows a flow diagram of a
[0082] 방법(700)은, 블록(710)에서, 캐리어의 검출가능 디바이스의 제1 측을 검출하는 단계, 및 블록(720)에서, 제1 측 반대편의, 검출가능 디바이스의 제2 측 상에 배열된 적어도 하나의 액티브 자석 유닛을 제어하는 단계를 포함한다. 일부 구현들에서, 방법(700)은, 검출된 신호들이 예컨대 거리의 변화를 표시할 때, 증착 시스템에서 예컨대 캐리어의 단부들의 포지션을 결정할 수 있다. 일부 실시예들에 따라, 2개 또는 그 초과의 센서들이 그룹을 형성할 수 있으며, 이 그룹에 기반하여, 개개의 액티브 자석 유닛이 제어된다. 예컨대, 액티브 자석 유닛의 센서에 의해 제공된 신호와, 이 센서의 하나 또는 그 초과의 이웃 센서들에 의해 제공된 (a) 신호(들)가 서로 상이하면, 액티브 자석 유닛이 제어될 수 있다.[0082] The
[0083] 일 실시예에서, 적어도 하나의 액티브 자석 유닛을 통해 흐르는 전류가 검출 신호들에 따라 변화될 수 있다. 예컨대, 캐리어가 "떠나는" 액티브 자석 유닛에 대해 전류는 0까지 점진적으로 또는 계속해서 감소될 수 있다. 추가로, 캐리어가 "접근하거나" 또는 "들어가는" 액티브 자석 유닛에 대해 전류는 0으로부터 세팅된 값으로 점진적으로 또는 계속해서 증가될 수 있다.In one embodiment, the current flowing through the at least one active magnet unit may be changed according to the detection signals. For example, for an active magnet unit where the carrier "leaves" the current can be gradually or continuously reduced to zero. Additionally, for an active magnet unit to which the carrier "approaches" or "enters" the current can be incrementally or continuously increased from zero to a set value.
[0084] 본원에서 설명된 실시예들에 따라, 증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 방법은, 컴퓨터 프로그램들, 소프트웨어, 컴퓨터 소프트웨어 제품들, 그리고 상호관련된 제어기들을 사용하여 수행될 수 있으며, 상호관련된 제어기들은 CPU, 메모리, 사용자 인터페이스, 그리고 캐리어, 장치 및/또는 시스템의 대응하는 컴포넌트들과 통신하는 입력 및 출력 디바이스들을 가질 수 있다.[0084] In accordance with embodiments described herein, a method for contactless transfer of a carrier in a deposition system may be performed using computer programs, software, computer software products, and interrelated controllers, Associated controllers may have input and output devices that communicate with the CPU, memory, user interface, and corresponding components of the carrier, apparatus, and/or system.
[0085] 본 개시내용의 실시예들에 따라, 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들 및 하나 또는 그 초과의 센서들이 유도 공간의 반대편의 측들에 배열된다. 특히, 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들 및 하나 또는 그 초과의 센서들은 캐리어의 자석 구조의 반대편의 측들 상에 배열된다. 자기 유도가 수행되는 공간이 효율적으로 사용될 수 있다. 추가로, 자기 유도와 하나 또는 그 초과의 센서들 사이의 간섭이 방지될 수 있으며, 이송 방향으로의 캐리어의 매끄러운 이송이 달성될 수 있다. 입자들의 생성 및/또는 캐리어의 불안정한 이송에 기인하는 기판 파손이 감소되거나 또는 심지어 방지될 수 있다.[0085] According to embodiments of the present disclosure, one or more active magnet units and one or more sensors are arranged on opposite sides of the induction space. In particular, one or more active magnet units and one or more sensors are arranged on opposite sides of the magnetic structure of the carrier. The space where magnetic induction is performed can be used efficiently. Additionally, magnetic induction and interference between one or more sensors can be prevented, and smooth transfer of the carrier in the transfer direction can be achieved. Substrate breakage due to the generation of particles and/or unstable transport of the carrier can be reduced or even prevented.
[0086] 전술된 내용이 본 개시내용의 실시예들에 관한 것이지만, 본 개시내용의 기본적인 범위를 벗어나지 않으면서, 본 개시내용의 다른 그리고 추가적인 실시예들이 창안될 수 있으며, 본 개시내용의 범위는 다음의 청구항들에 의해 결정된다.[0086] Although the above description relates to embodiments of the present disclosure, other and additional embodiments of the present disclosure may be devised without departing from the basic scope of the present disclosure, and the scope of the present disclosure is It is determined by the following claims.
Claims (15)
캐리어;
상기 캐리어의 자석 구조를 향하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들을 갖는 유도 구조(guiding structure); 및
상기 캐리어의 존재를 검출하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 센서들
을 포함하며,
상기 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들 및 상기 하나 또는 그 초과의 센서들은, 상기 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들과 상기 하나 또는 그 초과의 센서들 사이에 상기 자석 구조를 위한 유도 공간을 정의하도록 배열되며,
상기 캐리어는 검출가능 디바이스를 포함하고, 상기 검출가능 디바이스는, 상기 캐리어의 이송 방향을 따라 변하며 상기 하나 또는 그 초과의 센서들에 의해 검출가능한 기하학적 프로파일을 포함하고,
상기 기하학적 프로파일은 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들을 갖는,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.As a system for non-contact transport of carriers in a deposition system,
carrier;
A guiding structure having one or more active magnet units configured to face the magnet structure of the carrier; And
One or more sensors configured to detect the presence of the carrier
Including,
The one or more active magnet units and the one or more sensors define an induction space for the magnet structure between the one or more active magnet units and the one or more sensors. Are arranged to be
The carrier comprises a detectable device, the detectable device comprising a geometric profile that varies along the transport direction of the carrier and is detectable by the one or more sensors,
The geometrical profile having one or more shape elements,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 하나 또는 그 초과의 센서들은 상기 캐리어까지의 거리를 측정하도록 구성된 거리 센서들인,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.The method of claim 1,
The one or more sensors are distance sensors configured to measure the distance to the carrier,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
수직 방향 또는 수평 방향에 대하여, 상기 하나 또는 그 초과의 액티브 자석 유닛들은 상기 유도 공간의 일 측에 배열되고, 상기 하나 또는 그 초과의 센서들은 상기 유도 공간의 다른 측에 배열되는,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.The method according to claim 1 or 2,
With respect to the vertical or horizontal direction, the one or more active magnet units are arranged on one side of the induction space, and the one or more sensors are arranged on the other side of the induction space,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 하나 또는 그 초과의 센서들의 각각의 센서는 상기 캐리어의 이송 방향으로 센서 연장부(extension)를 가지며, 상기 센서 연장부는 상기 이송 방향으로 캐리어 연장부의 1% 또는 그 초과인,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.The method according to claim 1 or 2,
Each sensor of the one or more sensors has a sensor extension in the transport direction of the carrier, and the sensor extension is 1% or more of the carrier extension in the transport direction,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 하나 또는 그 초과의 센서들의 각각의 센서는 상기 캐리어의 이송 방향으로 센서 연장부를 가지며, 상기 센서 연장부는 상기 이송 방향으로 캐리어 연장부의 1% 또는 그 초과인,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.The method of claim 3,
Each sensor of the one or more sensors has a sensor extension in the conveying direction of the carrier, and the sensor extension is 1% or more of the carrier extension in the conveying direction,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
복수의 추가적인 액티브 자석 유닛들을 갖는 구동 구조를 더 포함하는,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.The method according to claim 1 or 2,
Further comprising a drive structure having a plurality of additional active magnet units,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 캐리어의 존재를 검출하도록 구성된 하나 또는 그 초과의 센서들을 포함하며, 상기 하나 또는 그 초과의 센서들의 각각의 센서는 상기 캐리어의 이송 방향으로 센서 연장부를 가지며, 상기 센서 연장부는 상기 이송 방향으로 캐리어 연장부의 1% 또는 그 초과인,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 장치.As an apparatus for non-contact transfer of carriers in a deposition system,
And one or more sensors configured to detect the presence of the carrier, each sensor of the one or more sensors having a sensor extension in the transport direction of the carrier, and the sensor extension part of the carrier in the transport direction 1% or more of the extension,
Apparatus for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 센서 연장부는 상기 캐리어 연장부의 적어도 2% 또는 상기 캐리어 연장부의 적어도 4%인,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 장치.The method of claim 7,
The sensor extension is at least 2% of the carrier extension or at least 4% of the carrier extension,
Apparatus for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 하나 또는 그 초과의 센서들은 상기 캐리어까지의 거리를 측정하도록 구성된 거리 센서들인,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 장치.The method according to claim 7 or 8,
The one or more sensors are distance sensors configured to measure the distance to the carrier,
Apparatus for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 검출가능 디바이스는 상기 하나 또는 그 초과의 센서들을 향하도록 배열되는,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.The method according to claim 1 or 2,
The detectable device is arranged to face the one or more sensors,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 검출가능 디바이스는 상기 캐리어의 단부 부분에 배열되는,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.The method according to claim 1 or 2,
The detectable device is arranged at the end portion of the carrier,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들은 경사부(inclination), 불연속부(discontinuity), 아크 형상, 및 이들의 임의의 조합으로 구성되는 그룹(group)으로부터 선택되는,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.The method according to claim 1 or 2,
The one or more shape elements are selected from a group consisting of an inclination, a discontinuity, an arc shape, and any combination thereof,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 하나 또는 그 초과의 센서들은, 상기 하나 또는 그 초과의 센서들과 상기 기하학적 프로파일 사이의 거리를 검출하도록 구성되는,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 시스템.The method according to claim 1 or 2,
The one or more sensors are configured to detect a distance between the one or more sensors and the geometrical profile,
System for non-contact transport of carriers in deposition systems.
상기 캐리어의 검출가능 디바이스의 제1 측을 검출하는 단계 ―상기 검출가능 디바이스는, 상기 캐리어의 이송 방향을 따라 변하며 하나 또는 그 초과의 형상 엘리먼트들을 갖는 기하학적 프로파일을 포함함―; 및
상기 제1 측 반대편의, 상기 검출가능 디바이스의 제2 측 상에 배열된 적어도 하나의 액티브 자석 유닛을 제어하는 단계
를 포함하는,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 방법.As a method for non-contact transfer of carriers in a deposition system,
Detecting a first side of the detectable device of the carrier, the detectable device comprising a geometrical profile having one or more geometrical elements that varies along a transport direction of the carrier; And
Controlling at least one active magnet unit arranged on a second side of the detectable device, opposite the first side.
Containing,
Method for contactless transfer of carriers in a deposition system.
상기 적어도 하나의 액티브 자석 유닛은 상기 캐리어의 자석 구조를 향하는,
증착 시스템에서의 캐리어의 비접촉식 이송을 위한 방법.The method of claim 14,
The at least one active magnet unit faces the magnetic structure of the carrier,
Method for contactless transfer of carriers in a deposition system.
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