KR102154484B1 - 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법 - Google Patents

직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법 Download PDF

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KR102154484B1
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Abstract

본 발명에 따른 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법은, 여기광 조사 시 비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 직조되는 비가시 보안패턴을 포함하는 직물을 포함함으로써, 보안요소의 인식 자체를 방지하는 것은 물론, 설사 보안요소가 인식 가능하더라도 보안요소의 보안 특성과 동일하도록 복제가 매우 어려워, 위조 불가능한 효과가 있다.

Description

직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법{Woven security article, its counterfeiting system and its counterfeit determination method}
본 발명은 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법에 관한 것이다.
보안 물질은 위변조 방지가 필요한 영역에 필수적이라 할 수 있다. 일 예로, 보안 인쇄 분야에서는 수표, 우표, 상품권, 증지, 채권 등의 유가증서에 보안 물질이 사용되고 있다.
최근에는 의류, 신발 등의 섬유 제품에서도 보안 물질을 통한 위변조 방지 기술의 필요성이 대두되고 있다. 의류, 신발 등의 섬유를 가공한 제품들은 실생활에 많이 사용되고 있으나, 최근 위변조 사건이 지속적으로 대두되고 있어, 이를 해결할 수 있는 보안 섬유의 개발이 시급하다.
이를 해결하기 위해, 상표 등의 보안요소, 예를 들어 직조라벨, 프린트 네임, 라벨로 표시하고 있긴 하지만, 이러한 보안요소는 위조가 용이하고 견본만 있으면 간단하게 만들 수 있으며, 이는 진품과 분별이 매우 어려운 단점이 있다.
이에, 한국공개특허 제10-2016-0081273호에는 다단 연신 공정을 통하여 길이 방향으로 굵기가 다변화된 합성섬유 제조방법과 여기에 다양한 형광체를 포함하여 위조 및 변조를 방지하는 기능성 요소를 부여하는 기술이 개시되어 있다. 또한 미국등록특허 제4655788호에는 적외선, 가시광선, 자외선에서 여기되는 형광물질을 포함하는 형광섬유 제조방법이 개시되어 있다.
이렇게 상이한 광원에서 여기되어 방출되고 두 가지 물질을 포함하여 위조의 가능성을 낮추고자 하는 기술이 있으나, 고도로 발전하는 측정 장비의 진화에 의해, 보안요소를 일반적인 장비로부터 쉽게 인식이 가능할 수 있는 것은 물론, 인식된 보안요소는 그대로 복제가 용이한 문제가 있었다.
따라서 보안 물질을 포함하는 보안요소의 인식 자체를 방지하는 것은 물론, 설사 보안요소가 인식 가능하더라도 상기 보안요소의 보안 특성과 동일하도록 복제가 불가능한 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법에 대한 심도있는 연구가 필요하다.
한국공개특허 제10-2016-0081273호 미국등록특허 제4655788호
본 발명의 목적은 보안요소의 인식 자체를 방지하는 것은 물론, 설사 보안요소가 인식 가능하더라도 보안요소의 보안 특성과 동일하도록 복제가 불가능하여 위조가 매우 어려운 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 보안요소를 포함하는 직물형 보안 물품이 오염, 손상 등에 의해 훼손되는 경우 및 위조 방지 기술을 무력화하기 위한 인위적 훼손의 경우에서도 진위 여부 판별이 정밀하게 가능한 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 보안요소가 동일한 발광 강도를 갖더라도 실질적으로 무한에 가까운 경우의 수를 포함하는 패턴이 함께 적용됨으로써, 규격화, 코드화, 암호화하여 적용함에 있어서 그 수에 제한이 없는 것은 물론, 각각의 규격화, 코드화, 암호화된 정보들 간에 간섭이 없는 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법을 제공하는 것이다.
본 발명에 따른 직물형 보안 물품은 여기광 조사 시 비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 직조되는 비가시 보안패턴을 포함하는 직물을 포함하며, 상기 비가시 보안패턴의 발광 형상에 의해 진위 여부가 판별된다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 직물은 서로 상이한 발광 파장을 갖는 형광사를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 형광사는 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체를 포함하는 제1 형광사; 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 포함하는 제2 형광사;를 포함할 수 있으며, 상기 비가시 보안패턴은 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 위치하여 형성될 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 형광사는 하기 a) 또는 b)에서 선택되는 필라멘트를 포함할 수 있다.
a) 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 함유하는 필라멘트
b) 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체를 함유하는 제1 필라멘트 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 함유하는 제2 필라멘트
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 형광사는 상기 필라멘트를 포함하는 필라멘트사; 또는 상기 필라멘트들이 꼬여 합연된 방적사;일 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 형광사는 서로 동일하거나 상이한 발광 파장을 갖는 제1 형광사 및 제2 형광사를 포함할 수 있으며, 상기 비가시 보안패턴은 하기 1) 내지 5) 중에서 선택되는 어느 하나 또는 둘 이상의 세부 패턴을 포함할 수 있다.
1) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 교차하는 세부 패턴
2) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 이격 배열되는 세부 패턴
3) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 교차하지 않고 서로 접하되, 접점에서 소정 각을 이루어 형성되는 단위 영역을 포함하는 세부 패턴
4) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 교차하지 않고 서로 접하되, 접점 영역에서의 접선이 연속적으로 변화되는 단위 영역을 포함하는 세부 패턴
5)는 제1 형광사 및 제2 형광사가 접하지 않고 서로 이격하여 위치하되, 이격 되는 끝점이 동일 선상에 위치하는 단위 영역을 포함하는 세부 패턴
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 비가시 보안패턴은 상기 형광사로부터 기인하되, 제1발광 파장에 의한 제1 패턴; 제2발광 파장에 의한 제2 패턴; 및 상기 제1 패턴과 제2 패턴이 중첩된 중첩 패턴;을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 직물은 상기 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 포함하되, 상기 패턴 면적은 여기광 조사 시 발광하는 발광 영역 및 비발광 영역으로 이루어질 수 있으며, 상기 발광 영역은 비가시 보안패턴의 전체 패턴 면적에 대하여 5% 이상일 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 직물은 상기 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 포함할 수 있으며, 상기 패턴 면적은 직물 전체 면적에 대하여 10% 이상일 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 직물은 상기 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 포함할 수 있으며, 상기 패턴 면적은 상기 직물의 테두리와 이격되어 직물의 내측에 형성될 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 직물은 상기 형광사가 위사 또는 경사로 직조되고, 비가시 대역의 발광 파장을 갖지 않는 일반사가 위사 또는 경사로 직조되는 비가시 보안패턴을 포함할 수 있으며, 상기 형광사가 위사에 위치할 경우, 상기 일반사는 경사에 위치할 수 있으며, 상기 형광사가 경사에 위치할 경우, 상기 일반사는 위사에 위치할 수 있다.
본 발명에 따른 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템은, 상기 직물형 보안 물품; 및 상기 직물형 보안 물품에 여기광을 조사하여 비가시 보안패턴의 발광 형상을 통해 진위 여부를 판별하는 검출기;를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 검출기는, 여기광을 출사하는 발광 모듈을 포함하는 발광부; 여기광에 의해 상기 비가시 보안패턴에서 발광된 광을 수광하는 수광 모듈을 포함하는 검출부; 및 상기 검출부에서 얻은 정보를 기반으로 상기 비가시 보안패턴의 발광 형상의 이미지 정보를 통해 상기 직물형 보안 물품의 진위 여부를 판단하는 판별부;를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 판별부는, 상기 검출부로부터 얻은 발광 파장 및 발광 강도를 포함하는 형광 정보와, 상기 형광 정보의 위치 정보를 포함하는 이미지 정보를 기 설정된 기준 값과 비교함으로써 진위 여부를 판별할 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 검출부는, 상기 직물형 보안 물품에서 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 인식하는 패턴 인식부; 및 상기 이미지 정보를 얻는 패턴 추출부;를 포함하며, 상기 판별부는 상기 패턴 추출부로부터 얻은 이미지 정보와 기 설정된 기준 값을 비교하여 진위 여부를 판별하는 패턴 분석부를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 패턴 추출부는 상기 패턴 면적의 발광 형상으로부터 얻은 각 단위 셀에 대한 데이터를 (x, y, w, i)로 저장하여 데이터화할 수 있다. 이때 상기 x 및 상기 y는 상기 패턴 면적 중 각 단위 셀의 2 위치 정보를 나타내고, 상기 w는 해당 단위 셀의 발광 파장이며, 상기 i는 해당 단위 셀의 발광 강도이다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 기준 값 및 상기 기준 이미지 값은 코드화된 규격으로서 사전에 미리 정의된 것일 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 패턴 인식부는 패턴 식별코드가 상기 직물에 존재하는지에 대한 여부를 식별할 수 있으며, 상기 직물에 상기 패턴 식별코드가 있을 경우, 상기 패턴 식별코드의 위치를 기준으로 상기 패턴 면적을 인식할 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 발광 모듈은 서로 상이한 파장대의 여기광을 출사하는 복수의 발광 모듈을 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 직물형 보안 물품의 위조 판별 방법은, 상기 직물형 보안 물품에 여기광을 조사하여 비가시 보안패턴의 발광 형상을 통해 진위 여부를 판별하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 단계는, 비가시 보안패턴으로 부터 얻은 발광 파장 및 발광 강도를 포함하는 형광 정보; 및 상기 형광 정보의 위치 정보;를 포함하는 이미지 정보를 기 설정된 기준 값과 비교함으로써 진위 여부를 판별하는 단계일 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 단계는, 상기 직물형 보안 물품에서 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 인식하는 인식 단계; 상기 패턴 면적에 여기광을 조사하는 단계; 상기 패턴 면적의 발광 형상으로부터 이미지 정보를 얻는 패턴 추출 단계; 및 상기 이미지 정보와 기 설정된 기준 값을 비교하여 진위 여부를 판별하는 패턴 분석 단계;를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 패턴 추출 단계는 상기 패턴 면적의 발광 형상으로부터 얻은 각 단위 셀에 대한 데이터를 (x, y, w, i)로 저장하여 데이터화하는 단계일 수 있다. 이때 상기 x 및 상기 y는 상기 패턴 면적 중 각 단위 셀의 2 위치 정보를 나타내고, 상기 w는 해당 단위 셀의 발광 파장이며, 상기 i는 해당 단위 셀의 발광 강도이다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 기준 값 및 상기 기준 이미지 값은 코드화된 규격으로서 사전에 미리 정의된 것일 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 패턴 인식 단계는 패턴 식별코드가 상기 직물에 존재하는지에 대한 여부를 식별하는 단계를 포함할 수 있으며, 상기 직물에 상기 패턴 식별코드가 있을 경우, 상기 패턴 식별코드의 위치를 기준으로 상기 패턴 면적을 인식할 수 있다.
본 발명에 따른 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법은, 여기광 조사 시 비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 직조되는 비가시 보안패턴을 포함하는 직물을 포함함으로써, 보안요소의 인식 자체를 방지하는 것은 물론, 설사 보안요소가 인식 가능하더라도 보안요소의 보안 특성과 동일하도록 복제가 불가능하여, 위조 불가능한 효과가 있다.
또한 본 발명에 따른 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법은, 보안요소를 포함하는 직물형 보안 물품이 오염, 손상 등에 의해 훼손되는 경우 및 위조 방지 기술을 무력화하기 위한 인위적 훼손의 경우에서도 진위 여부 판별이 정밀하게 가능한 효과가 있다.
또한 본 발명에 따른 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법은, 보안요소가 동일한 발광 강도를 갖더라도 실질적으로 무한에 가까운 경우의 수를 포함하는 패턴이 함께 적용됨으로써, 규격화, 코드화, 암호화하여 적용함에 있어서 그 수에 제한이 없는 것은 물론, 각각의 규격화, 코드화, 암호화된 정보들 간에 간섭이 없는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 예에 따른 세부 패턴 1) 내지 5)를 모식화하여 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 예에 따른 세부 패턴 1) 내지 5)를 포함하는 보안패턴을 모식화하여 나타낸 도면이다.
도 3 및 도 4는 형광사 및 일반사로 제직된 보안패턴을 포함하는 직물의 모식화하여 나타낸 것이다.
이하 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법을 상세히 설명한다.
본 명세서에 기재되어 있는 도면은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서 본 발명은 제시되는 도면들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있으며, 상기 도면들은 본 발명의 사상을 명확히 하기 위해 과장되어 도시될 수 있다.
본 명세서에서 사용되는 기술 용어 및 과학 용어에 있어서 다른 정의가 없다면, 이 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 통상적으로 이해하고 있는 의미를 가지며, 하기의 설명 및 첨부 도면에서 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 설명은 생략한다.
본 명세서에서 사용되는 용어의 단수 형태는 특별한 지시가 없는 한 복수 형태도 포함하는 것으로 해석될 수 있다.
본 명세서에서 언급되는 1), 2), 3), ...; i), ii), iii), ...; 등의 각 단계를 지칭하는 용어 자체는 어떠한 단계, 수단 등을 지칭하기 위해 사용되는 것일 뿐, 그 용어들이 지칭하는 각 대상들의 순서 관계를 의미하는 것으로 해석되어서는 안 된다.
본 명세서에서 특별한 언급 없이 사용된 %의 단위는 별다른 정의가 없는 한 중량%를 의미한다.
본 명세서에서 언급되는 “n”이라는 변수는 자연수로서, 그 하한 값은 적절히 조절될 수 있으므로 크게 제한되지 않으며, 일 예로 50, 30, 20 또는 10을 들 수 있다.
본 명세서에서 언급되는 “발광 형상”의 용어는 여기광 조사 시 형광체가 새로운 빛을 내는 현상에 의한 형상을 의미하는 것으로, 진위 판별 시 2차원의 발광 형상으로 해석될 수 있으며, 2차원의 발광 형상을 통해 발광 파장 정보 및 발광 강도 정보를 포함하는 형광 정보와, 상기 형광 정보와 대응되는 위치 정보를 얻을 수 있다. 또한 상기 “발광 형상”은 여기광의 조사가 끝난 이후에도 잔광 현상으로서 지속되는 발광 형상도 포함하여 해석됨은 물론이다.
본 명세서에서 “이미지 정보”의 용어는 위치 정보; 및 상기 위치 정보에 대응되는, 발광 파장 정보 및 발광 강도 정보를 포함하는 형광 정보;를 포함하는 집합으로서 이러한 정보들을 포함하는 상위 개념의 정보로 해석되어야 한다. 따라서 이러한 정보들을 맵핑하여 처리된 가시적인 이미지로 제한되어 해석되어서는 안 된다.
직물형 물품의 진위 여부를 판별할 수 있도록 하는 기술분야에 있어서, 종래까지는 직물형 물품에 보안요소를 적용하더라도 쉽게 보안요소의 위치 인식이 가능했으며, 따라서 상기 보안요소를 쉽게 복제하여 진품과 가품의 구별이 어려운 한계가 있었다. 또한 직물형 물품의 경우, 세탁, 건조, 직사광선 노출, 오염 등의 다양한 변수가 존재하여 보안요소의 훼손/손상이 불가피한 것은 물론, 인위적인 손상을 통하여 위조 방지 기술을 무력화시키는 등 종래까지는 직물형 물품의 진위 여부를 판별하기에는 많은 문제점들을 가지고 있었다.
이에, 본 발명은 비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사를 위사, 경사로 직조하여 발광 형상을 구현하는 보안패턴을 직물형 물품에 적용함으로써, 발광 파장 정보, 발광 강도 정보 및 발광 형상에 대한 복합 정보가 직물형 보안 물품에 적용됨에 따라, 보안요소의 인식 자체가 어려운 것은 물론, 설사 보안요소의 인식이 가능하더라도 진품의 보안요소와 복제/위조된 보안요소의 높은 정확도로서 구별 및 확인 가능한 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법을 제공한다. 나아가, 상기 정보를 규격화, 코드화, 암호화하여 적용함에 있어서, 현실적으로 그 수에 제한이 없는 것은 물론, 규격화, 코드화, 암호화된 무수히 많은 정보들 간에 간섭이 없고 높은 정확도로 각 정보들을 구별할 수 있는 직물형 보안 물품, 이의 위조 판별 시스템 및 이의 위조 판별 방법을 제공한다.
이하 본 발명에 따른 직물형 보안 물품, 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템 및 직물형 보안 물품의 위조 판별 방법에 대하여 구체적으로 설명한다.
본 발명에 따른 직물형 보안 물품은 여기광 조사 시 비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사가 위사(緯絲), 경사(經絲) 또는 위사와 경사로 직조되는 비가시 보안패턴을 포함하는 직물을 포함한다. 이때 상기 비가시 보안패턴의 발광 형상에 의해 진위 여부가 판별된다. 이를 통해, 본 발명에 직물형 보안 물품은 발광 형상을 통한 이미지 정보, 발광 파장 정보 및 발광 강도(세기) 정보를 포함하는 복합 정보를 데이터베이스화하여 진위 여부를 판별함으로써, 높은 정밀도로 위조 여부를 판별할 수 있는 효과가 있다.
즉, 본 발명에 따른 직물형 보안 물품은 비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 직조되어 형성되는 비가시 보안패턴이 적용됨으로써, 바람직하게는 후술하는 구체화된 비가시 보안패턴을 통해, 여기광 조사 시 비가시 보안패턴의 발광 형상을 구현하여, 비가시 보안패턴이 설사 인식되더라도 진품의 보안패턴과 복제/위조된 보안패턴의 구별이 높은 정확도로 확인 가능한 효과가 있다. 또한 비가시 보안패턴에 사전 정의된 정보를 규격화, 코드화 또는 암호화하여 매칭시킬 수 있고, 서로 상이한 정보가 매칭된 단위 패턴의 경우의 수가 실질적으로 무한대에 가까우며, 상기 단위 패턴 간에 간섭이 없고 높은 정확도로 매칭된 각 정보들을 구별/식별하여 인식할 수 있는 효과가 있다.
본 명세서에서 “비가시 대역의 발광 파장”이라 함은 가시광선 파장 외의 파장이 발광하는 것을 의미하며, 일 예로 적외선 대역 및/또는 자외선 대역의 파장으로 발광하는 것을 의미할 수 있다. 이때 “비가시 대역의 발광 파장”은 가시광선(380~780 nm)에 해당하는 파장이 전혀 없는 이외의 파장 대역만으로 발광하는 것을 의미하는 것으로 해석되어서는 안 되며, 인간의 눈으로 실질적으로 식별이 불가능한 대역의 빛의 파장으로 발광하는 것으로 해석될 수 있다.
본 명세서에서 “비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사”라 함은 여기광 조사 시에 해당하는 특정의 발광 파장을 갖는 사를 의미한다. 이때 여기광이 조사되지 않을 시에는 통상 상기 파장으로 발광하지 않으나, 여기광 조사 후 잔광 등을 가지는 것 또한 포함됨은 물론이다. 이러한 형광사는 인간의 눈으로는 일반사와의 구별이 실질적으로 불가능한 것이 바람직하다.
본 명세서에서 “비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 직조”라 함은 직물에서 비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사가 위사로만 직조되는 경우, 상기 형광사가 경사로만 직조되는 경우, 서로 다른 2종의 상기 형광사가 각각 위사와 경사로 직조되는 경우에서 하나 또는 둘 이상 선택될 수 있다. 구체적인 일 예로, 도 3 및 도 4에서와 같이, 위사에 형광사, 경사에 일반사가 적용되는 경우; 위사에 일반사, 경사에 형광사가 적용되는 경우; 위사에 형광사, 경사에 형광사가 적용되는 경우;를 들 수 있다.
본 명세서에서 언급되는 “일반사”는 형광체를 포함하지 않는 것으로서, 비가시 대역의 발광 파장을 갖지 않는 것을 의미할 수 있고, 공지된 통상의 실이면 무방하다. 또한 형광사 및 일반사는 광에 노출될 경우, 가시 영역의 파장을 반사하며, 이때 가시 영역의 파장은 직물의 요구 색에 맞게 적절히 조절될 수 있음은 물론이다. 즉, 비가시 보안패턴은 사람의 눈으로 인식될 수 없도록 주변 색과 동일한 것이 바람직하다.
상기 직물은 여기광 조사 시 하나의 형광사 및/또는 다수의 형광사에 의해 서로 상이한 파장으로 발광하여 비가시 보안패턴을 형성하는 것이 진품의 보안패턴과 복제/위조된 보안패턴의 구별에 높은 정확도를 가질 수 있는 측면에서 바람직하다.
구체적으로, 상기 직물은, 서로 상이한 발광 파장을 갖는 다수의 형광체를 포함하는 형광사가 위사 및/또는 경사로 사용되는 제1 양태; 서로 상이한 발광 파장을 갖는 다수의 형광사가 위사 및/또는 경사로 사용되는 제2 양태; 또는 제1 양태와 제2 양태를 포함하는, 즉, 서로 상이한 발광 파장을 갖는 다수의 형광체를 포함하는 형광사 다수가 위사 및/또는 경사로 사용되는 제3 양태;를 가질 수 있다.
상기 형광사가 상기 제1 양태로 직물에 적용될 경우, 하나의 형광사에서 서로 상이한 파장이 적어도 둘 이상으로 발광하므로, 일 비가시 보안패턴(A)와 다른 비가시 보안패턴(B)의 발광 형상 및 이의 발광 강도가 동일 또는 유사하더라도, 보안패턴의 발광 형상에 대한 이미지 정보가 상이하다면, 진품의 보안패턴과 가품의 보안패턴을 매우 정확하게 구별할 수 있다.
상세하게, 상기 제1 양태로서, 상기 형광사는 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체; 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체;를 포함할 수 있다. 상기 형광체로 제1 형광체 및 제2 형광체를 예시하였으나, 제1 내지 제n 형광체(n은 2 이상의 자연수)를 포함할 수 있으며, 이러한 다수의 형광체들이 형광사에 포함될 수 있음은 물론이다. 이 경우, 형광사에 해당되는 여기광 조사 시, 상기 형광사는 제1 발광 파장과 제2 발광 파장을 가지므로, 하나의 발광 파장을 갖는 형광사로 직조된 보안패턴과 비교하여 위조가 매우 어렵고, 발광 형상 및 이의 발광 강도가 동일 또는 유사한 경우에 있어서도, 보안패턴의 발광 형상에 대한 이미지 정보가 상이하다면, 하나의 형광사에서 2종 이상의 상이한 파장이 발광하여 검출을 통한 구별이 가능함으로써 매우 높은 정확도로 진품의 보안패턴과 가품의 보안패턴을 구별할 수 있다. 구체적인 일 예로, 위사에 제1 양태의 형광사, 경사에 일반사가 적용되는 경우; 위사에 일반사, 경사에 제1 양태의 형광사가 적용되는 경우; 및/또는 위사에 제1 양태의 형광사, 경사에 제1 양태의 형광사가 적용되는 경우;를 들 수 있다. 이때 위사 및/또는 경사에 일반사가 형광사와 함께 적용될 수 있음은 물론이다.
상기 형광사가 상기 제2 양태로 직물에 적용될 경우에서도, 일 비가시 보안패턴(A)와 다른 비가시 보안패턴(B)의 발광 형상의 발광 강도가 동일 또는 유사하더라도, 보안패턴의 발광 형상에 대한 이미지 정보가 상이하다면, 진품의 보안패턴과 가품의 보안패턴을 정확하게 구별할 수 있다.
상세하게, 상기 제2 양태로서, 상기 형광사는 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체를 포함하는 제1 형광사; 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 포함하는 제2 형광사;를 포함할 수 있다. 이때 상기 비가시 보안패턴은 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 위치하여 형성될 수 있다. 상기 형광사로 제1 형광사 및 제2 형광사를 예시하였으나, 제1 내지 제n 형광사(n은 2 이상의 자연수)를 포함할 수 있으며, 이러한 다수의 형광사들이 위사, 경사 또는 위사와 경사로 위치하여 형성될 수 있음은 물론이다. 이 경우, 각 형광사에 해당되는 여기광 조사 시, 제1 형광사는 제1 발광 파장을 가지며, 제2 형광사는 제2 발광 파장을 가지므로, 각각의 형광사가 위사 또는 경사에 위치하여 직조됨으로써 비가시 보안패턴을 형성할 수 있다. 구체적인 일 예로, 위사에 제1 형광사 및 제2 형광사, 경사에 일반사가 적용되는 경우; 위사에 일반사, 경사에 제1 형광사 및 제2 형광사가 적용되는 경우; 위사에 제1 형광사, 경사에 제2 형광사가 적용되는 경우;를 들 수 있다. 이때 위사 및/또는 경사에는 일반사가 형광사와 함께 적용될 수 있음은 물론이다.
상기 형광사가 상기 제3 양태로 직물에 적용될 경우, 하나의 형광사에서 서로 상이한 파장이 적어도 둘 이상으로 발광, 즉, 제1 발광 파장과 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제1 형광사; 및 제1 발광 파장 및/또는 제2 발광 파장과 상기 제3 발광 파장과 상기 제3 발광 파장과 상이한 제4 발광 파장을 갖는 제2 형광사;가 위사 및/또는 경사로 직조됨으로써, 제1 양태 또는 제2 양태의 경우와 비교하여, 진품의 보안패턴과 가품의 보안패턴을 매우 현저히 높은 수준으로 정확하게 구별할 수 있다.
상세하게, 상기 제3 양태로서, 상기 형광사는 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 포함하는 제1 형광사; 및 상기 제1 발광 파장 및/또는 상기 제2 발광 파장과 상이한 제3 발광 파장을 갖는 제3 형광체 및 상기 제3 발광 파장과 상이한 제4 발광 파장을 갖는 제4 형광체를 포함하는 제2 형광사;를 포함할 수 있다. 이때 상기 비가시 보안패턴은 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 위치하여 형성될 수 있다. 상기 형광체로 제1 내지 제4 형광체를 예시하였으나, 제1 내지 제n 형광체(n은 4 이상의 자연수)를 포함할 수 있으며, 이러한 다수의 형광체들이 형광사에 포함될 수 있음은 물론이다. 또한 상기 형광사로 제1 형광사 및 제2 형광사를 예시하였으나, 제1 내지 제n 형광사(n은 2 이상의 자연수)를 포함할 수 있으며, 이러한 다수의 형광사들이 위사, 경사 또는 위사와 경사로 위치하여 형성될 수 있음은 물론이다. 이 경우, 각 형광사에 해당되는 여기광 조사 시, 제1 형광사는 제1 발광 파장 및 제2 발광 파장을 가지며, 제2 형광사는 제3 발광 파장 및 제4 발광 파장을 가지므로, 각각의 형광사가 위사 또는 경사에 위치하여 직조됨으로써 비가시 보안패턴을 형성할 수 있다. 구체적인 일 예로, 위사에 제1 형광사 및 제2 형광사, 경사에 일반사가 적용되는 경우; 위사에 일반사, 경사에 제1 형광사 및 제2 형광사가 적용되는 경우; 위사에 제1 형광사, 경사에 제2 형광사가 적용되는 경우;를 들 수 있다. 이때 위사 및/또는 경사에는 일반사가 형광사와 함께 적용될 수 있음은 물론이다.
상기 형광사는 하기 a) 또는 하기 b)에서 선택되는 필라멘트를 포함할 수 있으며, 이 필라멘트를 단위 필라멘트로 형광사를 이루어 전술한 상이한 발광 파장을 갖는 하나 또는 복수의 형광사로서 직물에 적용될 수 있다.
a) 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 함유하는 필라멘트
b) 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체를 함유하는 제1 필라멘트 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 함유하는 제2 필라멘트
일반적으로, 사(絲)는 단위 필라멘트들이 다수 모여 형성되며, 공지된 다양한 수단의 방직(紡織)을 통하여 제조될 수 있다. 예를 들어, 면섬유, 마섬유, 모섬유 등의 천연섬유; 탄소섬유 등의 합성섬유; 등의 스테이플 섬유 등과 같은 짧은 섬유를 포함하는 단위 필라멘트를 꼬아 방적사를 제조할 수 있다. 또한 견사나 합성섬유 등과 같이 연속적인 길이의 장섬유를 포함하는 단위 필라멘트들로 이루어진 필라멘트사를 제조할 수 있다. 즉, 상기 형광사는 상기 필라멘트들을 포함하는 필라멘트사; 또는 상기 필라멘트들이 꼬여 합연된 방적사;일 수 있다. 상술한 바와 같이, a) 필라멘트 및/또는 b) 필라멘트를 이용하여 상술한 제1 양태 내지 제3 양태에서 선택되는 일 양태의 형광사가 적용될 수 있다.
또한 상기 b) 필라멘트가 상기 제1 양태 또는 상기 제3 양태로 직물에 적용될 경우의 다른 바람직한 일 예로서, 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체를 포함하는 필라멘트 또는 이를 포함하는 제1 단사(형광사);와 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 포함하는 필라멘트 또는 이를 포함하는 제2 단사(형광사);가 꼬여 합연된 합사가 형광사로 직물에 적용될 수 있다. 상기 단사로 제1 단사 및 제2 단사를 예시하였으나, 제1 내지 제n 단사(n은 2 이상의 자연수)를 포함할 수 있으며, 이러한 다수의 단사들이 꼬여 합연된 합사가 형광사로 직물에 적용될 수 있음은 물론이다. 이를 만족할 경우, 진위 여부의 판별이 매우 정확하면서도, 위조가 현실적으로 매우 어려워 불가능한 효과가 있다. 구체적으로, 서로 상이한 발광 파장을 갖는 상기 제1 단사 및 상기 제2단사가 합연된 합사인 형광사가 적용된 비가시 보안패턴은 동일한 발광 파장 및 발광 강도가 검출되더라도, 발광하는 단위 셀로 이루어지는 발광 형상에 대한 이미지 정보에 특이성을 가지므로, 후술하는 위조 판별 시스템 또는 방법을 통하여, 형광체의 종류 및 함량이 동일한 일반 형광사의 경우에서도 상기 이미지 정보가 상이하다면 정밀하게 구별 및 식별할 수 있으며, 현실적으로 위조가 불가능하다.
구체적인 일 예로, 위사에 상기 합사, 경사에 일반사가 적용되는 경우; 위사에 일반사, 경사에 상기 합사가 적용되는 경우; 위사에 상기 합사, 경사에 상기 합사가 적용되는 경우;를 들 수 있다. 이때 위사 및/또는 경사에는 일반사가 합사와 함께 적용될 수 있음은 물론이다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 직물은 상기 형광사가 위사 또는 경사로 직조되고, 비가시 대역의 발광 파장을 갖지 않는 일반사가 위사 또는 경사로 직조되는 비가시 보안패턴을 포함할 수 있으며, 상기 형광사가 위사에 위치할 경우, 상기 일반사는 경사에 위치할 수 있으며, 상기 형광사가 경사에 위치할 경우, 상기 일반사는 위사에 위치할 수 있다. 이를 만족할 경우, 전술한 특성 및 효과를 만족하면서 비용 절감과 경제성 및 상용성이 보다 용이할 수 있다.
전술한 바와 같이, 형광사가 위사 또는 경사에 위치하여 직물을 형성할 수 있으며, 여기서 형광사는 한 단위의 위사 전체를 이룰 수도 있고, 한 단위의 위사 일 부분을 이룰 수도 있다. 구체적으로, 형광사가 한 단위의 위사에 사용될 수 있으며, 또는 한 단위의 위사 중 소정 길이에 해당하는 부분만 형광사이고, 나머지 부분에 대해서 일반사일 수도 있다. 즉, 비제한적인 일 예로, 상기 형광사는 길이 방향을 기준으로 바가시 대역의 발광파장을 갖는 단위 형광 영역 및 바가시 대역의 발광파장을 갖지 않는 단위 비형광 영역을 가질 수 있다. 상기 단위 형광 영역은 전술한 형광사의 조성 및 조성비를 가질 수 있으며, 상기 단위 비형광 영역은 일반사의 조성 및 조성비를 가질 수 있다.
전술한 다양한 종류의 형광사를 직물의 위사 및/또는 경사에 적용하여 다양한 2차원 형상의 비가시 보안패턴을 직물에 형성할 수 있으며, 비가시 보안패턴의 구체적 예를 하기에 설명한다.
상기 형광사는 제1 형광사 및 제2 형광사를 포함할 수 있으며, 상기 제1 형광사는 제1 발광 파장을 가지며, 상기 제2 형광사는 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 A타입;과 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 모두 동일한 발광 파장을 갖는 B타입을 가질 수 있다. 여기서 상기 A타입의 형광사는 상술한 제1 양태 내지 제3 양태로서 직물에 적용될 수 있으며, 상기 B타입의 형광사는 서로 동일한 형광사이거나 서로 상이하더라도 동일한 발광 파장을 갖는 것일 수 있다.
상기 비가시 보안패턴은, 상기 A타입과 상기 B타입의 형광사들이 직조됨으로써 하기 1) 내지 5) 중에서 선택되는 어느 하나 또는 둘 이상의 세부 패턴을 형성할 수 있다. 이때 B타입의 경우, 각 형광사는 서로 상이한 발광 파장을 갖는 형광체의 종류, 상기 형광체의 수, 형광체의 함유량, 형광사의 밀도 등의 제어를 통해 서로 상이한 파장으로 발광하도록 제어될 수 있다.
1) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 교차하는 세부 패턴
2) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 이격 배열되는 세부 패턴
3) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 교차하지 않고 서로 접하되, 접점에서 소정 각을 이루어 형성되는 단위 영역을 포함하는 세부 패턴
4) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 교차하지 않고 서로 접하되, 접점 영역에서의 접선이 연속적으로 변화되는 단위 영역을 포함하는 세부 패턴
5)는 제1 형광사 및 제2 형광사가 접하지 않고 서로 이격하여 위치하되, 이격 되는 끝점이 동일 선상에 위치하는 단위 영역을 포함하는 세부 패턴
도 1에서와 같이, 상기 세부 패턴 1)은 제1 형광사 및 제2 형광사가 서로 교차하는 단위로서, 교차각은 0도 초과 180도 미만으로서 크게 제한되지 않고, 예를 들어 통상 80 내지 100도, 일 실시예로 90도, 즉, 서로 수직인 십자 형태를 들 수 있다.
도 1에서와 같이, 상기 세부 패턴 2)는 제1 형광사 및 제2 형광사가 서로 이격 배열되는 단위로서, 각 형광사들이 이루는 각은 0 내지 180도일 수 있고, 예를 들어 0 내지 10도 또는 170 내지 180도일 수 있으며, 도 3에 도시된 바와 같이 일 실시예로 0도 또는 180도, 즉, 서로 평행한 것을 들 수 있다. 이격거리는 직물의 직조 형태 및 패턴의 조밀도에 따라 적절히 조절될 수 있으며, 제1 형과사 및 제2 형광사 사이에 다른 형광사 또는 일반사가 이격하여 존재할 수 있으며, 사이에 존재하는 다른 형광사 또는 일반사의 수는 1 내지 100 개가 서로 이격 배열될 수 있으나 이에 제한되지 않음은 물론이다.
도 1에서와 같이, 상기 세부 패턴 3)은 상기 세부 패턴 1)에 속하지 않으면서 제1 형광사 및 제2 형광사가 서로 접하는 단위로서, 형광사들이 이루는 각은 0 내지 180도, 구체적으로, 0도 초과 180도 미만; 또는 0 또는 180도;를 예로 들 수 있다. 구체적으로, 형광사들에 의해 일정 각을 형성하는 경우로서 상기 각이 0도 초과 180도 미만인 경우를 예로 들 수 있고, 다른 예로, 형광사들이 서로 각을 이루지 않는 즉, 상기 각이 0 또는 180도인 경우도 예를 들 수 있다.
도 1에서와 같이, 상기 세부 패턴 4)는 제1 형광사 및 제2 형광사가 접하는 부분이 곡률을 이루는 단위로서, 각 형광사들이 곡선가지면서, 서로 접하는 부분이 굴곡한 형태를 의미할 수 있다.
도 1에서와 같이, 상기 세부 패턴 5)는 제1 형광사 및 제2 형광사가 접하지 않고 서로 이격하여 위치하되, 이격 되는 끝점 또는 끝점 부분이 동일 선상에 위치하는 것을 의미할 수 있다.
전술한 1) 내지 5)의 세부 패턴에서 선택되는 어느 하나 또는 둘 이상의 조합을 통해, 즉, 1) 내지 5)의 세부 패턴에서 선택되는 세부 패턴을 단위 패턴으로 하여, 상기 단위 패턴을 포함하는 비가시 보안패턴이 형성될 수 있음에 따라, 비가시 보안패턴의 위조가 실질적으로 불가능해지는 것은 물론, 특히 서로 정밀하게 식별/구별 가능한, 현실적으로 무한의 보안패턴을 형성할 수 있다.
상기 1) 내지 5)에서 선택되는 어느 하나 또는 둘 이상의 세부 패턴을 포함하는 패턴을 단위 패턴으로 하여, 상기 단위 패턴을 하나 또는 둘 이상을 포함하여 비가시 보안패턴이 형성될 수 있다. 여기서 상기 단위 패턴은 선(곡선)과 선으로 이루어져 폐쇄된 형상을 가질 수도 있고, 열린 형상을 가질 수도 있음은 물론이다.
도 2의 예를 들어 설명하면, 도 2는 세부 패턴 1) 내지 5)를 포함하는 보안패턴을 모식화하여 나타낸 것으로, 설명의 이해를 돕기 위해 상기 1) 내지 5)의 세부 패턴을 모두 포함하도록 구성한 것이다. 구체적으로, 삼각형의 최상단에서 최하단을 가로지르는 중심선과 상기 삼각형이 만나는 부분은 1)의 세부 패턴이며, 삼각형의 밑변과 그 하측에 이격 위치한 선을 포함하는 영역은 2)의 세부 패턴이다. 또한 삼각형의 각을 이루는 부분은 3)의 세부 패턴이고, 원형의 제1 형광사와 제2형광사가 이루는 부분은 4)의 세부 패턴이며, 삼각형 밑변의 하측에 이격 위치하는 두 선을 포함하는 영역은 5)의 세부 패턴이다. 이렇게 1) 내지 5)의 세부 패턴으로 다양한 비가시 보안패턴이 형성될 수 있으나, 이는 설명을 위해 예를 든 것일 뿐, 다양한 형상의 패턴을 자유롭게 가질 수 있으며, 이는 통상의 기술자가 쉽게 설계할 수 있으므로 제한되지 않는다.
비제한적인 일 예로, 전술한 세부 패턴 또는 이들의 조합을 통하여 다양한 패턴을 구현할 수 있으며, 이러한 패턴들을 단위 패턴으로 하여 단위 패턴들의 중첩된 중첩 패턴을 형성할 수 있다. 구체적으로, 상기 비가시 보안패턴은 상기 형광사로부터 기인하되, 제1발광 파장에 의한 제1 패턴; 제2발광 파장에 의한 제2 패턴; 및 상기 제1 패턴과 제2 패턴이 중첩된 중첩 패턴;을 포함할 수 있다. 각각의 단위 패턴들은 서로 동일하거나 상이한 정보를 내포할 수 있으며, 이러한 단위 패턴들이 중첩된 중첩 패턴은 상기 각 정보들을 포함할 수 있으며, 이는 상기 정보로서 또는 새로운 정보로서 기능을 수행할 수 있다. 여기서 제1 패턴 및 제2 패턴으로 설명하였으나, 제3 패턴 또는 이 이상의 패턴을 더 포함할 수 있는 것은 물론이다.
또한 제1 패턴의 하위 패턴, 그 하위 패턴의 하위 패턴을 포함할 수 있음은 물론이다. 구체적인 일 예로, 상기 제1 패턴은 생산지 정보를 포함할 수 있고, 상기 제1 패턴은 제1-1 패턴 내지 제1-n 패턴(n은 2 이상의 자연수)을 포함할 수 있으며, 제1-1 패턴 내지 제1-n 패턴은 구체적 생산지 정보(KR, JP, US, EP, CN 등)를 포함할 수 있다. 상기 제2 패턴은 보안물품의 종류 정보를 포함할 수 있고, 상기 제2 패턴은 제2-1 패턴 내지 제2-n 패턴(n은 2 이상의 자연수)을 포함할 수 있으며, 제2-1 패턴 내지 제2-n 패턴은 구체적 종류 정보(신발, 옷, 수건 등)를 포함할 수 있다. 하지만 이는 이해를 돕기 위해 설명된 것일 뿐, 본 발명이 이에 제한되지 않음은 물론이다.
상술한 바와 같이, 각 패턴은 정보를 포함하여 코드화될 수 있으며, 이러한 정보를 포함하는 패턴은 패턴코드일 수 있다. 상세하게, 코드패턴은 사전 정의된 정보를 포함하는 패턴일 수 있으며, 이러한 코드화된 패턴인 코드패턴을 단위로 하여 이들이 중첩된 중첩 패턴코드를 가질 수 있다. 즉, 이러한 단위 패턴코드는 하나 또는 둘 이상의 사전 정의된 정보를 포함할 수 있으며, 사전 정의된 정보를 포함하는 단위 패턴코드가 중첩되여 형성되는 중첩 패턴코드는 새로운 정보로서 정의되는 정보로서 그 기능을 수행할 수 있다.
상기 직물은 상술한 비가시 보안패턴을 포함하며, 구체적으로, 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 포함한다. 이때 상기 패턴 면적은 여기광 조사 시 발광하는 발광 영역; 및 여기광 조사에도 발광하지 않는 비발광 영역으로 이루어질 수 있다. 패턴 면적에 대한 상기 발광 영역의 면적은 요구되는 패턴의 정밀성, 편의성에 따라 적절히 조절될 수 있으나, 비가시 보안패턴의 전체 패턴 면적에 대하여 5% 이상, 좋게는 10% 이상, 보다 좋게는 20% 이상인 것이 바람직할 수 있다. 이때 상한 값은 크게 제한되는 것은 아니나 일 예로 70%, 구체적으로 90%를 들 수 있다. 이를 만족할 경우, 발광 영역 또는 비발광 영역의 면적이 너무 작음에 따른 패턴의 경우의 수 감소에 따른 식별력 저하 및 오염, 부분적인 손상에 따른 식별력 저하를 감소시킬 수 있다.
또한 상기 직물에서, 직물 전체 면적에 대한 상기 패턴 면적은 적절히 조절 될 수 있으나, 직물 전체 면적에 대하여 10% 이상인 것이 바람직할 수 있다. 이때 상한 값은 100%로 제한되지 않으며, 예를 들어 80%를 들 수 있으나 이에 제한되지 않음은 물론이다. 이를 만족할 경우, 오염, 부분적인 손상에 의해 진위 여부 판별 자체가 불가능해지는 문제를 최소화할 수 있다.
바람직한 일 예로, 상기 직물에서 상기 패턴 면적은 상기 직물의 테두리와 이격되어 직물의 내측에 형성될 수 있다. 직물의 가장자리에서 오염 및 훼손이 특히 심한 직물의 특성상, 직물의 테두리와 이격되어 직물의 내측에 상기 패턴 면적이 형성될 경우, 동일한 크기의 패턴 면적에서도 비가시 보안패턴이 훼손될 확률을 현저히 감소시킬 수 있는 효과가 있다. 이격거리는 크게 제한되지 않으며, 예컨대 0.5 내지 50 mm, 구체적으로 1 내지 30 mm, 보다 구체적으로 2 내지 20 mm를 들 수 있다.
상기 형광체는 여기광 조사 시 가시광선 대역의 파장으로 발광하는 것이 아니라면 무방하며, 예컨대 적외선 대역의 파장으로 발광하는 형광체 또는 자외선 대역의 파장으로 발광하는 형광체를 들 수 있다. 일 예로, 상기 형광체는 바나듐산염, 몰리브덴산염, 텅스텐산염 및 인산염 등에서 선택되는 어느 하나 또는 둘 이상의 제1 성분을 네오디뮴 및 이테르븀 등에서 선택되는 어느 하나 이상의 제2 성분으로 도핑한 것이나, 상기 제2 성분의 일부를 3가를 취할 수 있는 원소로 치환한 것 등을 들 수 있고, 이 외에도 여기광 조사 시 비가시 대역의 파장으로 발광하는 유기 화합물, 유기 고분자 등 다양한 형광물질이 사용될 수 있음은 물론이다. 구체적인 일 예로, 상기 형광체는 Ca10(PO4)6F2:Nd, YbCa8La2(PO4)6O2:Nd, YbYAlO3:Nd, YbY3Al5O12:Nd 및 Yb(Y,La,Lu)PO4:Nd, Gd2O2S:Er, NaYW2O6:Er, CaF2:Er,Yb,Nd3+, Yb3+ 또는 Er3+를 포함하는 CaMoO4계 형광물질, 디케토네이트계 화합물, 사이클렌(Cyclene) 유도체, 크립테이트(Cryptate), EDTA와 DTPA 유도체, 칼릭사렌류(Calixarenes) 및 터페닐계(Terphenyl) 화합물 등에서 선택되는 어느 하나 또는 둘 이상을 포함하는 것을 수 있다. 하지만 이는 구체적인 일 예로서 설명된 것일 뿐, 본 발명이 이에 제한되지 않음은 물론이다.
상기 형광체의 입자 크기는 형광 특성을 갖는 실로 제조될 수 있을 정도라면 크게 제한되지 않으며, 예컨대 0.5 내지 50 ㎛, 구체적으로 1 내지 20 ㎛를 들 수 있다. 하지만 이는 구체적인 일 예로서 설명된 것일 뿐, 본 발명이 이에 반드시 제한되어 해석되는 것은 아니다.
상기 형광체의 형상은 형광 특성을 갖는 실로 제조될 수 있을 정도라면 크게 제한되지 않으며, 예컨대 구형, 타원형, 막대(Rod)형, 박편형(Flake) 등 다양한 형태를 가질 수 있다. 하지만 는 구체적인 일 예로서 설명된 것일 뿐, 본 발명이 이에 반드시 제한되어 해석되는 것은 아니다.
상기 필라멘트 또는 이를 포함할 수 있는 형광사는 형광체를 함유하고, 형광체의 함유량은 적절한 발광 강도를 얻을 수 있을 정도라면 제한되지 않으며, 일 예로 1 내지 20 중량%, 구체적으로 2 내지 10 중량%일 수 있다. 하지만 이는 구체적인 일 예로서 설명된 것일 뿐, 본 발명이 이에 반드시 제한되어 해석되는 것은 아니다.
상기 형광체를 포함하여 형광사를 제조하는 방법은 널리 공지된 사항이므로, 제한되지 않으며, 간단히 예를 들면, 형광체와 실의 주재료를 혼합하고 방사하여 제조할 수 있거나 형광체를 포함하는 분산액을 실에 함침 또는 도포하여 제조할 수도 있으며, 이렇게 제조된 실을 형광사로 사용하거나, 이렇게 제조된 필라멘트 다수를 방적하여 형광사를 제조할 수 있다. 상기 실의 주재료는 공지된 것을 사용하면 무방하며, 예를 들면 합성섬유의 재료로서 폴리에스테르 수지, 나일론 수지, 아크릴 수지 또는 초산 셀룰로오스 수지 등을 들 수 있으나, 이에 제한되지 않음은 물론이다. 또한 필라멘트 또는 실의 단면 형상은 제한되지 않으며, 일 예로 n각형(n은 3 이상의 자연수), 원형, 타원형, 마름모형, 등을 들 수 있으나 이에 제한되지 않음은 물론이다.
본 명세서에서 언급되는 “일반사”는 형광체를 포함하지 않는 것으로서, 비가시 대역의 발광 파장을 갖지 않는 것을 의미할 수 있고, 공지된 통상의 실이면 무방하다. 또한 형광사 및 일반사는 광에 노출될 경우, 가시 영역의 파장을 반사하며, 이때 가시 영역의 파장은 직물의 요구 색에 맞게 적절히 조절될 수 있음은 물론이다. 즉, 비가시 보안패턴은 사람의 눈으로 인식될 수 없도록 주변 색과 동일한 것이 바람직하다.
상기 형광사를 직조하여 직물을 제조하는 직조 방법, 즉, 직물의 제직 수단은 섬유 기술분야에서 널리 공지된 기술 상식이므로, 공지된 다양한 제직/방직 방법을 선택하면 무방하다. 일 예로, 형광사 및 일반사를 워프빔에 감아 들이고, 형광사를 특정한 순서로 폭방향으로 반복하여 배열하고 나서, 형광사 및 일반사를 위사 또는 경사로 하여 광폭직기에서 직성한다. 이때 형광사가 특정한 순서 및 패턴으로 직물 전 폭에 걸쳐 넣어져 짜일 수도 있고, 일부에 걸쳐 넣어져 짜일 수도 있다.
본 발명에 따른 직물형 보안 물품은 그 구체적 용도에 제한되지 않으며, 일 예로, 수표, 우표, 상품권, 증지, 채권 등의 유가증서; 의류, 신발 등의 섬유 제품; 자동차, 전자제품, 사치품 등의 브랜드 제품; 등의 보안이 필요한 물품 중에서 직물을 포함할 수 있는 것이라면 어느 것이든 적용 가능하다. 바람직한 용도로서, 의류, 신발 등의 섬유 제품에 적용할 경우, 섬유 제품 자체가 일반사로 직조된 물품이므로, 비가시 보안패턴 자체가 섬유 제품에 자연스럽게 적용될 수 있으므로, 비가시 보안패턴의 인식 어려운 측면에서 좋다.
본 발명에 따른 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템은, 상기 직물형 보안 물품; 및 상기 직물형 보안 물품에 여기광을 조사하여 비가시 보안패턴의 발광 형상을 통해 진위 여부를 판별하는 검출기;를 포함할 수 있다.
즉, 본 발명에 따른 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템은, 상기 발광 형상으로부터 얻은 위치 정보; 및 상기 위치 정보에 대응되는 형광 정보를 포함하는 이미지 정보를 통해 진위 여부를 판별함으로써, 높은 정밀도로 위조 여부를 판별할 수 있는 효과가 있다.
상기 발광 형상을 통해 형광 정보;와 상기 형광 정보에 대응되는 위치 정보;를 얻을 수 있으며, 이러한 형광 형상 및 위치 정보를 포함하는 이미지 정보를 다음과 같은 수단으로 데이터베이스화하여 진위 여부를 판별할 수 있다. 이 경우, 서로 동일하지 않은 발광 형상에 대한 각각의 이미지 정보는 극단적인 형상 특이성을 나타내게 되므로, 상이한 발광 형상에 대한 각각의 이미지 정보가 동일한 것으로 잘못 판단되는 문제를 방지할 수 있다.
뿐만 아니라 진품과 동일한 이미지 정보를 가지도록 위조하는 것이 현실적으로 불가능하다. 상세하게, 상기 직물형 보안 물품에 적용되는 전술한 다양한 수단, 예를 들어, 형광체의 종류, 형광체의 함량, 형광체를 함유하는 형광사의 구체적 구조(제1 내지 제3 양태, A/B타입, a) 또는 b) 필라멘트, 합사 등), 형광사들로 제직된 비가시 보안패턴의 세부 패턴, 형광사의 위사/경사 적용 위치 등의 전술한 보안요소들은 상기 비가시 보안패턴을 포함하는 직물을 아무리 정밀 분석한다고 하더라도 모두 알아내는 것이 현실적으로 불가능하다. 따라서 비가시 보안패턴을 포함하는 직물을 제조하는 원천 장치를 직접 이용하거나, 원천 장치를 통해 상기 보안요소들을 직접적으로 획득하지 않는 한, 상기 직물을 포함하는 보안 물품을 통해서 진품과 동일하게 위조하는 것은 현실적으로 불가능하다.
일 예로, 본 발명에 따른 직물형 보안 물품은, 진품과 가품에서 여기광 조사 시 해당 파장 대역에서 동일한 발광 강도가 검출되더라도 비가시 보안패턴의 발광 형상에 대한 이미지 정보를 통해 진품과 가품을 정확하게 구별할 수 있다. 구체적으로, 동일 발광 면적을 가지되, 이미지가 상이한 A, B, C, D의 패턴, 즉, A, B, C, D의 전체 패턴 면적에서의 발광 강도가 동일한 경우를 가정할 수 있다. 이 경우, 종래까지는 발광 파장 및 발광 강도만으로는 A, B, C, D에 대한 구별이 어려웠으나, 상기 직물형 보안 물품을 본 발명에 따른 위조 판별 시스템 또는 방법을 통해 판별할 경우, 비가시 보안패턴의 발광 형상으로부터 얻은 이미지 정보와 진품의 기 설정된 이미지 정보인 기준 값의 비교를 통해 진품과 가품을 정확하게 구별할 수 있다.
상기 검출기는, 여기광을 출사하는 발광 모듈을 포함하는 발광부; 여기광에 의해 상기 비가시 보안패턴에서 발광된 광을 수광하는 수광 모듈을 포함하는 검출부; 및 상기 검출부에서 얻은 정보를 통해 상기 직물형 보안 물품의 진위 여부를 판단하는 판별부;를 포함할 수 있다.
상기 발광부는 상기 직물형 보안 물품에 적용된 비가시 보안패턴에서 발광할 수 있는 가능한 모든 발광 파장에 대하여 발광할 수 있도록 하는 여기광을 조사할 수 있는 발광 모듈(광원 모듈)을 포함하는 것이 바람직할 수 있다. 즉, 상기 발광 모듈은 서로 상이한 파장대의 여기광을 출사하는 복수의 발광 모듈을 포함할 수 있으며, 이를 통해 서로 상이한 다양한 파장대로 발광할 수 있는 직물형 보안 물품의 비가시 보안패턴을 정밀하게 검출할 수 있다. 예를 들어, 상기 발광부는, 보안패턴이 하나의 발광 파장만을 가질 경우, 상기 발광 파장에 대응하는 여기광을 조사하는 발광 모듈을 포함할 수 있으며, 보안패턴이 제1 발광 파장 및 제2 발광 파장만을 가질 경우, 상기 제1 발광 파장에 대응하는 여기광을 조사하는 제1 발광 모듈 및 상기 제2 발광 파장에 대응하는 여기광을 조사하는 제2 발광 모듈을 포함할 수 있다. 하지만 이에 제한되지 않으며, 다양한 파장 대역의 여기광을 조사하는 복수의 발광 모듈을 포함하여도, 상기 발광 모듈의 수보다 적은 수로 발광 파장을 갖는 보안패턴의 판별에 관계없음은 물론이다.
상기 발광 모듈은 제1 발광 모듈, 제2 발광 모듈 및 제3 발광 모듈 등에서 선택되는 어느 하나 또는 둘 이상을 포함할 수 있다. 또한 이 외에 제4, 제5 등의 제n 발광 모듈(n은 4에서 무한대)을 더 포함할 수 있으며, 구체적으로, 상기 발광 모듈은 제1 내지 제n 형광모듈(n은 2 이상의 자연수)를 포함할 수 있다.
구체적인 일 예로, 제1 발광 모듈은 제1 파장대의 광을 생성하여 보안패턴에 출광한다. 제1 발광 모듈이 생성하는 제1 파장대의 광을 자외선(ultraviolet rays)으로 예시할 경우, UV LED(Ultraviolet rays light emitting diode)가 구비될 수 있다. 하지만 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며, 보안패턴에 적용된 형광체로부터 비가시 영역의 발광 파장이 발광하도록 할 수 있는 것이라면 무방하다.
구체적인 일 예로, 제2 발광 모듈은 상기 제1 파장대와 상이한 제2 파장대의 광을 생성하여 보안패턴에 출광한다. 제2 발광 모듈이 생성하는 제2 파장대로 가시광선 파장대를 예시할 경우, 가시광선 LED가 구비될 수 있다.
구체적인 일 예로, 제3 발광 모듈은 제1 파장대 및 제2 파장대와 상이한 제3 파장대의 광을 생성하여 보안패턴에 출광한다. 제3 발광 모듈이 생성하는 제3 파장대로 적외선(Infrared ray)을 예시할 경우, IR LED(Infrared ray light emitting diode)가 구비될 수 있다.
하지만 전술한 제1 내지 제3 발광 모듈은 일 실시예로서 설명한 것이므로, 이에 제한되는 것은 아니며, 비가시 대역의 파장 대역을 출광하는 다양한 발광 모듈이 사용될 수 있음은 물론이다.
상기 검출기는 발광 제어부를 더 포함할 수 있다. 상기 발광 제어부는 보안물품의 진위여부를 판별하기 위해서 사용자로부터 작동 입력을 받으면, 발광부에 포함된 하나 또는 다수 개의 발광 모듈을 순차적으로 발광시킨다. 상기 발광 제어부는 제1 발광 모듈, 제2 발광 모듈 및 제3 발광 모듈, 즉, 제1 내지 제n 발광 모듈(n은 2 이상의 자연수)을 순차적으로 발광시키는 것을 예시할 수 있다. 상기 발광 모듈이 제1 내지 제3 발광 모듈을 포함하는 경우를 일 예로 설명하면, 제1 발광 모듈이 점등되면 제2 발광 모듈과 제3 발광 모듈은 소등되며, 제2 발광 모듈이 점등되면 제1 발광 모듈과 제3 발광 모듈은 소등된다. 또한 제3 발광 모듈이 점등되면 제1 발광 모듈과 제2 발광 모듈이 소등된다. 이와 같이, 제1 내지 제3 발광 모듈이 순차적으로 점등되어 각각이 서로 상이한 파장대의 광을 출광하며, 보안 물품의 비가시 보안패턴에서 발광되는 광과 함께 검출부의 수광 모듈로 수광된다.
검출부는 발광부에 의해 보안패턴을 거친 광을 수광 모듈을 통해 수광하고, 수광된 광 신호로부터 얻은 형광 정보를 저장 및 데이터화할 수 있다. 본 실시예는 검출부의 수광 모듈로, 제1 발광 모듈, 제2 발광 모듈 및 제3 발광 모듈 각각에서 출광되어 보안패턴을 거친 광을 수광하는 포토 다이오드를 예시할 수 있다. 또한 검출부는 수광한 광에 대응되는 전기적 신호를 생성, 저장 및 데이터화하여 판별부로 전달한다. 수광 모듈은 발광 모듈의 개수에 대응되는 수광 모듈을 포함할 수 있으며, 이 경우, 발광 모듈과 수광 모듈은 쌍을 이룰 수 있다. 또한 각 쌍에 포함된 발광 모듈에서 출사된 광은 해당 쌍에 포함된 수광 모듈이 수광한다. 이때, 각 쌍 사이에 광 간섭, 즉, 발광 모듈에서 출사된 광이 다른 쌍에 포함된 수광 모듈에 간섭을 발생시키지 않도록 각 쌍 사이에는 차폐막 등의 간섭방지 구조가 구비될 수 있다. 아울러 검출부는 수광 모듈에서 수광하고자 하는 파장대 이외의 광을 차단하는 광학필터를 더 포함할 수 있다.
상기 검출부는 전술한 수단으로 수광된 광 신호로부터 발광 파장 및 발광 강도를 포함하는 형광 정보를 얻을 수 있다. 상기 검출부는 상기 형광 정보에 대응되는 위치 정보를 얻을 수 있으며, 경우에 따라 상기 발광부도 여기광의 조사 면적으로부터 위치 정보를 얻을 수 있다.
상기 판별부는, 상기 검출부로부터 얻은 발광 파장 및 발광 강도를 포함하는 형광 정보와, 상기 형광 정보의 위치 정보를 포함하는 이미지 정보를 기 설정된 기준 값과 비교함으로써 비가시 보안패턴의 진위 여부를 판별할 수 있다. 여기서 상기 기준 값은 진품의 비가시 보안패턴의 정보에 대응되는 값을 의미한다.
상기 이미지 정보는 위치 정보; 및 상기 위치 정보에 대응되는, 발광 파장 정보 및 발광 강도 정보를 포함하는 형광 정보;를 포함하는 집합을 의미한다. 상기 위치 정보는 형광 정보의 위치에 대한 정보로서, 상기 형광 정보와 대응되는 비가시 보안패턴의 단위 셀의 위치를 의미할 수 있다.
본 명세서에서 언급되는 “단위 셀”의 용어는 (x, y) 좌표를 기준으로 형성되는 일정 면적으로 정의될 수 있으며, 면적의 형태는 정사각형을 바람직한 예로 들 수 있으나, n각형(n은 3 이상의 자연수), 원형, 타원형 등 다양한 형태가 사용되어도 무방함은 물론이다. 구체적인 일 예로, 단위 셀은 (x, y) 좌표를 중심으로 하여 상, 하, 좌, 후 방향으로 동일한 간격으로 이격되어 형성되는 정사각형의 면적을 들 수 있다. 이때 이격거리는 작을수록 보다 정밀한 판별이 가능할 수 있으나 측정 장비의 고분해성이 요구되므로, 측정 장비의 분해성의 수준에 따라서 적절히 제어될 수 있음은 물론이다. 이러한 위치 정보 및 형광 정보를 포함하는 복합 정보를 데이터베이스화하여 시스템을 운용할 경우, 불필요한 연산 정보를 최소화함으로써 보다 빠른 정보 분석 및 처리가 가능하면서도, 신뢰도가 현저히 높은 진품/가품의 진위 여부 판별이 가능하다.
이와 같이, 상기 검출부를 통해 광 신호를 통한 형광 정보를 얻을 수 있으며, 이때 발광부에서 단위 셀을 인식하는 수단 및/또는 검출부에서 단위 셀을 인식하는 수단을 통해 위치 정보를 얻을 수 있다. 즉, 발광부에서 여기광이 조사되는 면적인 단위 셀의 위치를 수신하여 위치 정보를 얻을 수도 있고, 또는 검출부에서 수신하는 발광 면적인 단위 셀의 위치를 수신하여 위치 정보를 얻을 수도 있다. 따라서 이를 통해 형광 정보와 위치 정보를 포함하는 이미지 정보를 얻을 수 있다. 구체적으로, 발광부에서 단위 셀을 인식하는 수단의 경우, 발광부에서 여기광 조사 시 조사되는 여기광의 면적에 대응되는 단위 셀의 위치를 특정하여 인식하도록 하고 검출부를 통해 상기 여기광에 따른 형광 정보를 얻음으로써 상기 단위 셀의 위치에 따른 위치 정보를 형광 정보에 매칭하여 이미지 정보를 얻을 수 있다. 검출부에서 단위 셀을 인식하는 수단의 경우, 발광부에서 여기광 조사 시 검출부가 수광하는 광의 위치를 인식하여 상기 단위 셀의 위치 정보에 따른 형광 정보를 얻어 이미지 정보를 얻을 수 있다.
이러한 원리로 비가시 보안패턴에서 단위 셀에 대응하는 형광정보와 상기 형광정보의 위치 정보를 얻을 수 있으며, 단위 셀에 대응하는 위치 정보와 형광정보를 포함하는 단위 이미지 정보가 집합을 이룸으로써 이미지 정보를 얻을 수 있다. 이렇게 얻은 이미지 정보를 기준 값과 비교하여 비가시 보안 물품의 진위 여부를 판별할 수 있다. 진위 여부 판별을 위한 비가시 보안 물품으로부터 측정된 이미지 정보와 기준 값을 비교할 시, 각 단위 셀에 대한 위치정보들이 적합하게 매칭되어야 정확한 판별이 가능하다. 따라서 상기 기준 값의 시작 단위 셀과 종결 단위 셀이 제대로 매칭될 수 있도록, 보안 물품의 비가시 보안패턴 내에 있는 시작 단위 셀 및/또는 종결 단위 셀의 위치 정보 등을 인식할 수 있는, 예를 들어 보안패턴 인식 패턴코드 등을 통해, 측정된 이미지 정보와 기준 값을 정확히 매칭하여 비교함으로써 진위 여부를 판별할 수 있다.
이러한 수단을 통해, 발광 형상을 통한 이미지 정보를 데이터베이스화하여 진위 여부를 판별함으로써, 높은 정밀도로 위조 여부를 판별할 수 있는 효과가 있다. 보다 바람직하며 구체적으로는, 상기 검출부가, 상기 직물형 보안 물품에서 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 인식하는 패턴 인식부; 및 상기 이미지 정보를 얻는 패턴 추출부;를 포함할 수 있으며, 상기 판별부는 상기 이미지 정보와 기 설정된 기준 값을 비교하여 진위 여부를 판별하는 패턴 분석부를 포함할 수 있다. 상기 패턴 추출부는 발광 형상의 발광 신호를 감지할 수 있는 측정 장비를 포함할 수 있으며, 예컨대 에너지 분산 스펙트럼 측정 장치(Energy Dispersive Spectrometer, EDS, 상품명 EDX), IR 카메라 등을 들 수 있다. 나아가 상기 발광 형상으로부터 얻은 이미지 정보를 이미지화할 수 있는 이미지화 장치, 상기 발광 형상으로부터 이미지를 얻을 수 있는 이미지 측정 장치 등의 이미지 측정/분석 장치도 사용될 수 있음은 물론이다.
발광 형상을 통한 이미지 정보를 데이터베이스화하는 바람직한 일 예로서, 상기 패턴 추출부는 상기 패턴 면적의 발광 형상으로부터 얻은 각 단위 셀에 대한 데이터를 (x, y, w, i)로 저장하여 데이터화할 수 있다. 이때 상기 x 및 상기 y는 상기 패턴 면적 중 각 단위 셀의 2 위치 정보를 나타내고, 상기 w는 해당 단위 셀의 발광 파장(Emission wavelength)이며, 상기 i는 해당 단위 셀의 발광 강도(Emission intensity)이다. 즉, 비가시 보안패턴의 단위 셀을 2차원 변수인 위치 정보(x, y); 및 발광 파장 정보(w) 및 발광 강도 정보(i)를 포함하는 변수인 형광 정보(w, i)를 포함하는 4차원의 변수를 포함하는 이미지 정보로서 데이터베이스화할 수 있다. 상기 위치 정보는 보안패턴의 2차원 면적에서 x, y 좌표계로 측정되는 (x, y) 좌표를 포함하는 것으로서, 단위 셀을 (x, y) 좌표를 통해 나타낸다.
상기 발광 파장 정보(w) 및 발광 강도 정보(i)는 비가시 보안패턴의 해당 단위 셀로부터 측정된 형광 정보이다. 비가시 보안패턴이 다양한 파장대로 발광하는 형광사에 의해 형성된 것일 경우, 하나의 단위 셀, 구체적으로 하나의 형광사에는 서로 상이한 2종 이상의 발광 파장대가 측정될 수 있다. 따라서 각 단위 셀에 대응되는 발광 파장 정보(w)는 다수의 발광 파장 정보(w1, w2, w3, ... wn; n은 1 이상의 자연수)를 가질 수 있다.
이렇게 본 발명에 따른 직물형 보안 물품 또는 이를 위조한 가품을 대상으로 진위 여부를 판별할 수 있으며, 이를 위해서는 대상과 비교할 기준 값, 즉, 진품에 대응되는 이미지 정보가 확보되어야 한다.
또한 상기 진품에 대응되는 이미지 정보의 일부 이미지 정보 또는 전체 이미지 정보는 코드화된 규격으로서 사전에 미리 정의된 것일 수 있다. 상기 진품에 대응되는 이미지 정보의 일부 또는 전체를 코드화된 규격으로서 사전에 미리 정의할 때, 미리 정의할 수 있는 경우의 수가 전술한 바와 같은 이유로 실질적으로 무한대이다.
예를 들어, 특정 패턴을 가지는 보안패턴 인식 패턴코드를 정의하고 상기 보안패턴 인식 패턴코드를 비가시 보안패턴에 포함시킴으로써, 진위 여부 판별을 위한 보안물품의 측정된 이미지 정보와 기준 값을 정확히 매칭하여 비교함으로써 진위 여부를 판별할 수 있다. 상기 패턴 인식부는 보안패턴 인식 패턴코드가 상기 직물에 존재하는지에 대한 여부를 식별할 수 있으며, 상기 직물에 보안패턴 인식 패턴코드가 있을 경우, 보안패턴 인식 패턴코드의 위치 정보를 기준으로 비가시 보안패턴의 전체 패턴 면적 및 이의 위치를 인식함으로써, 보안패턴의 패턴 면적 또는 이의 위치를 인식하지 못하여 가품으로 판별하는 문제를 방지할 수 있다. 구체적인 일 예로, 보안패턴 인식 패턴코드는 하나의 인식 가능한 단위 식별패턴의 위치에서 상하좌우로 일정 간격 떨어져 형성되는 면적을 보안패턴의 패턴 면적으로 인식하고 상기 단위 식별패턴의 위치를 기준으로 하여 기준 값과의 비교가 수행될 수 있다. 또는 n 개 이상의 인식 가능한 단위 식별패턴으로 이루어지는 (가상의) 폐쇄된 n각형의 면적을 보안패턴의 패턴 면적으로 인식하고 상기 단위 식별패턴으로 정의된 위치 정보, 예를 들어 상기 단위 식별패턴들의 중심점의 위치를 기준으로 하여 기준 값과의 비교가 수행될 수 있다. 하지만 이는 구체적인 일 예로서 설명된 것일 뿐, 이 외에도 다양한 수단으로 인식 가능한 패턴을 통해 보안패턴의 면적 및 위치를 인식할 수 있도록 할 수 있음은 물론이다.
또한 본 발명에서 비가시 보안패턴이 코드화된 규격으로서 사전에 미리 정의된 패턴을 가짐으로써, 진품/가품의 진위 여부를 판별하는 기능뿐만 아니라, 진품에 해당되는 직물형 보안 물품의 기 정의된 정보의 확인/식별이 가능하다. 예를 들어, 비가시 보안패턴의 일 영역에 대한 이미지 정보를 미리 코드화하여 약속된 패턴 영역에 대한 이미지 정보를 지정함으로써, 예컨대 생산지 등의 정보로 사전 정의된 패턴 영역을 형성할 수 있으며, 이러한 기 정의된 패턴 영역을 포함하는 비가시 보안패턴이 적용된 직물형 보안 물품은 검출기를 통해 위조 여부의 판별뿐만 아니라 생산지가 어디인지 확인할 수 있다. 상기 정보의 예로 생산지를 들었으나, 이 외에도 분류코드, 등급코드, 용도코드, 색깔코드, 패턴 식별코드 등의 기 정의하여 식별하고자 하는 다양한 정보를 비가시 보안패턴이 갖도록 할 수 있으므로, 이에 제한되지 않음은 물론이다.
상술한 바와 같이, 상기 비가시 보안패턴은 단위 패턴을 포함할 수 있으며, 이들 단위 패턴들은 각각의 사전 정의된 정보를 포함하는 코드패턴일 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 형광사로부터 기인하되, 제1발광 파장에 의한 제1 패턴; 제2발광 파장에 의한 제2 패턴; 및 상기 제1 패턴과 제2 패턴이 중첩된 중첩 패턴;을 포함할 수 있다. 여기서 상기 제1 패턴, 상기 제2 패턴 및 상기 중첩 패턴은 사전 정의된 정보를 포함할 수 있다. 여기서 제1 패턴 및 제2 패턴으로 예시하였으나, 제3 패턴 또는 이 이상의 패턴을 더 포함할 수 있음은 물론이다. 이러한 정의된 정보를 포함하는 패턴인 패턴코드는 코드화된 패턴을 일 단위로 하여 이들이 중첩된 중첩 패턴코드를 가질 수 있다. 이러한 단위 패턴코드는 하나 또는 둘 이상의 사전 정의된 정보를 포함할 수 있으며, 사전 정의된 정보를 포함하는 단위 패턴코드가 중첩되여 형성되는 중첩 패턴코드는 상기 단위 패턴코드가 각각 가지는 정보를 모두 포함하거나, 이들로부터 새롭게 정의 가능한 패턴코드로서 그 기능을 수행할 수 있다.
또한 본 발명은 전술한 직물형 보안 물품의 위조 판별 방법도 제공하며, 이는 전술한 직물형 보안 물품 및 이의 위조 판별 시스템에서 설명한 것과 동일한 내용을 포함하므로, 이하 간략히 설명한다.
본 발명에 따른 직물형 보안 물품의 위조 판별 방법은, 상기 직물형 보안 물품에 여기광을 조사하여 비가시 보안패턴의 발광 형상을 통해 진위 여부를 판별하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 단계는, 비가시 보안패턴으로 부터 얻은 발광 파장 및 발광 강도를 포함하는 형광 정보; 및 상기 형광 정보의 위치 정보;를 포함하는 이미지 정보를 기 설정된 기준 값과 비교함으로써 진위 여부를 판별하는 단계일 수 있다.
구체적으로, 상기 단계는, 상기 직물형 보안 물품에서 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 인식하는 인식 단계; 상기 패턴 면적에 여기광을 조사하는 단계; 상기 패턴 면적의 발광 형상으로부터 이미지 정보를 얻는 패턴 추출 단계; 및 상기 이미지 정보와 기 설정된 기준 값을 비교하여 진위 여부를 판별하는 패턴 분석 단계;를 포함할 수 있다. 여기서 상기 기준 값은 코드화된 규격으로서 사전에 미리 정의된 것일 수 있다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 패턴 추출 단계는 상기 패턴 면적의 발광 형상으로부터 얻은 각 셀에 대한 데이터를 (x, y, w, i)로 저장하여 데이터화하는 단계일 수 있다. 이때 상기 x 및 상기 y는 상기 패턴 면적 중 각 단위 셀의 2 위치 정보를 나타내고, 상기 w는 해당 단위 셀의 발광 파장이며, 상기 i는 해당 단위 셀의 발광 강도이다.
본 발명의 일 예에 있어서, 상기 패턴 인식 단계는 패턴 식별코드가 상기 직물에 존재하는지에 대한 여부를 식별하는 단계를 포함할 수 있으며, 상기 직물에 상기 패턴 식별코드가 있을 경우, 상기 패턴 식별코드의 위치를 기준으로 상기 패턴 면적을 인식할 수 있다.

Claims (25)

  1. 직물형 보안 물품에 여기광을 조사하여 비가시 보안패턴의 발광 형상을 통해 진위 여부를 판별하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템으로서,
    상기 직물형 보안 물품은 여기광 조사 시 비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 직조되는 비가시 보안패턴을 포함하는 직물을 포함하며,
    상기 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템은 상기 발광 형상으로부터 발광 파장 및 발광 강도를 포함하는 형광 정보와, 상기 형광 정보의 위치 정보를 포함하는 이미지 정보를 기 설정된 기준 값과 비교함으로써 진위 여부를 판별하는 것을 특징으로 하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 직물은 서로 상이한 발광 파장을 갖는 형광사를 포함하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 형광사는 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체를 포함하는 제1 형광사; 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 포함하는 제2 형광사;를 포함하며,
    상기 비가시 보안패턴은 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 위치하여 형성되는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 형광사는 하기 a) 또는 b)에서 선택되는 필라멘트를 포함하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
    a) 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 함유하는 필라멘트
    b) 제1 발광 파장을 갖는 제1 형광체를 함유하는 제1 필라멘트 및 상기 제1 발광 파장과 상이한 제2 발광 파장을 갖는 제2 형광체를 함유하는 제2 필라멘트
  5. 제4항에 있어서,
    상기 형광사는 상기 필라멘트를 포함하는 필라멘트사; 또는 상기 필라멘트들이 꼬여 합연된 방적사;인 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 형광사는 서로 동일하거나 상이한 발광 파장을 갖는 제1 형광사 및 제2 형광사를 포함하며,
    상기 비가시 보안패턴은 하기 1) 내지 5) 중에서 선택되는 어느 하나 또는 둘 이상의 세부 패턴을 포함하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
    1) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 교차하는 세부 패턴
    2) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 이격 배열되는 세부 패턴
    3) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 교차하지 않고 서로 접하되, 접점에서 소정 각을 이루어 형성되는 단위 영역을 포함하는 세부 패턴
    4) 상기 제1 형광사 및 상기 제2 형광사가 서로 교차하지 않고 서로 접하되, 접점 영역에서의 접선이 연속적으로 변화되는 단위 영역을 포함하는 세부 패턴
    5)는 제1 형광사 및 제2 형광사가 접하지 않고 서로 이격하여 위치하되, 이격 되는 끝점이 동일 선상에 위치하는 단위 영역을 포함하는 세부 패턴
  7. 제1항에 있어서,
    상기 비가시 보안패턴은 상기 형광사로부터 기인하되, 제1발광 파장에 의한 제1 패턴; 제2발광 파장에 의한 제2 패턴; 및 상기 제1 패턴과 제2 패턴이 중첩된 중첩 패턴;을 포함하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 직물은 상기 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 포함하되, 상기 패턴 면적은 여기광 조사 시 발광하는 발광 영역 및 비발광 영역으로 이루어지며,
    상기 발광 영역은 비가시 보안패턴의 전체 패턴 면적에 대하여 5% 이상인 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 직물은 상기 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 포함하며,
    상기 패턴 면적은 직물 전체 면적에 대하여 5% 이상인 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 직물은 상기 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 포함하며,
    상기 패턴 면적은 상기 직물의 테두리와 이격되어 직물의 내측에 형성되는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 직물은 상기 형광사가 위사 또는 경사로 직조되고, 비가시 대역의 발광 파장을 갖지 않는 일반사가 위사 또는 경사로 직조되는 비가시 보안패턴을 포함하며,
    상기 형광사가 위사에 위치할 경우, 상기 일반사는 경사에 위치하며,
    상기 형광사가 경사에 위치할 경우, 상기 일반사는 위사에 위치하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  12. 제1항에 있어서, 상기 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템은 상기 직물형 보안 물품에 여기광을 조사하여 비가시 보안패턴의 발광 형상을 통해 진위 여부를 판별하는 검출기를 포함하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 검출기는,
    여기광을 출사하는 발광 모듈을 포함하는 발광부;
    여기광에 의해 상기 비가시 보안패턴에서 발광된 광을 수광하는 수광 모듈을 포함하는 검출부; 및
    상기 검출부에서 얻은 정보를 기반으로 상기 비가시 보안패턴의 발광 형상의 이미지 정보를 통해 상기 직물형 보안 물품의 진위 여부를 판단하는 판별부;를 포함하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 판별부에서 이미지 정보를 기 설정된 기준 값과 비교함으로써 진위 여부를 판별하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 검출부는,
    상기 직물형 보안 물품에서 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 인식하는 패턴 인식부; 및
    상기 이미지 정보를 얻는 패턴 추출부;를 포함하며,
    상기 판별부는 상기 이미지 정보와 기 설정된 기준 값을 비교하여 진위 여부를 판별하는 패턴 분석부;를 포함하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 패턴 추출부는 상기 패턴 면적의 발광 형상으로부터 얻은 각 단위 셀에 대한 데이터를 (x, y, w, i)로 저장하여 데이터화하며,
    상기 x 및 상기 y는 상기 패턴 면적 중 각 단위 셀의 2 위치 정보를 나타내고, 상기 w는 해당 단위 셀의 발광 파장이며, 상기 i는 해당 단위 셀의 발광 강도인 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  17. 제15항에 있어서,
    상기 기준 값 및 상기 기준 이미지 값은 코드화된 규격으로서 사전에 미리 정의된 것인 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 패턴 인식부는 패턴 식별코드가 상기 직물에 존재하는지에 대한 여부를 식별하며,
    상기 직물에 상기 패턴 식별코드가 있을 경우, 상기 패턴 식별코드의 위치를 기준으로 상기 패턴 면적을 인식하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  19. 제13항에 있어서,
    상기 발광 모듈은 서로 상이한 파장대의 여기광을 출사하는 복수의 발광 모듈을 포함하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 시스템.
  20. 직물형 보안 물품에 여기광을 조사하여 비가시 보안패턴의 발광 형상을 통해 진위 여부를 판별하는 단계를 포함하며,
    상기 직물형 보안 물품은, 여기광 조사 시 비가시 대역의 발광 파장을 갖는 형광사가 위사, 경사 또는 위사와 경사로 직조되는 비가시 보안패턴을 포함하는 직물을 포함하고, 상기 비가시 보안패턴의 발광 형상에 의해 진위 여부가 판별되며,
    상기 단계는, 비가시 보안패턴으로 부터 얻은 발광 파장 및 발광 강도를 포함하는 형광 정보; 및 상기 형광 정보의 위치 정보;를 포함하는 이미지 정보를 기 설정된 기준 값과 비교함으로써 진위 여부를 판별하는 단계인 것을 특징으로 하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 방법.
  21. 삭제
  22. 제20항에 있어서,
    상기 단계는,
    상기 직물형 보안 물품에서 비가시 보안패턴으로 이루어진 패턴 면적을 인식하는 인식 단계;
    상기 패턴 면적에 여기광을 조사하는 단계;
    상기 패턴 면적의 발광 형상으로부터 이미지 정보를 얻는 패턴 추출 단계; 및
    상기 이미지 정보와 기 설정된 기준 값을 비교하여 진위 여부를 판별하는 패턴 분석 단계;를 포함하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 방법.
  23. 제22항에 있어서,
    상기 패턴 추출 단계는 상기 패턴 면적의 발광 형상으로부터 얻은 각 단위 셀에 대한 데이터를 (x, y, w, i)로 저장하여 데이터화하는 단계이며,
    상기 x 및 상기 y는 상기 패턴 면적 중 각 단위 셀의 2 위치 정보를 나타내고, 상기 w는 해당 단위 셀의 발광 파장이며, 상기 i는 해당 단위 셀의 발광 강도인 직물형 보안 물품의 위조 판별 방법.
  24. 제23항에 있어서,
    상기 기준 값 및 상기 기준 이미지 값은 코드화된 규격으로서 사전에 미리 정의된 것인 직물형 보안 물품의 위조 판별 방법.
  25. 제24항에 있어서,
    상기 패턴 인식 단계는 패턴 식별코드가 상기 직물에 존재하는지에 대한 여부를 식별하는 단계를 포함하며,
    상기 직물에 상기 패턴 식별코드가 있을 경우, 상기 패턴 식별코드의 위치를 기준으로 상기 패턴 면적을 인식하는 직물형 보안 물품의 위조 판별 방법.
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