KR102145912B1 - Light emitting device and light emitting device package including the same - Google Patents

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KR102145912B1 KR1020140007800A KR20140007800A KR102145912B1 KR 102145912 B1 KR102145912 B1 KR 102145912B1 KR 1020140007800 A KR1020140007800 A KR 1020140007800A KR 20140007800 A KR20140007800 A KR 20140007800A KR 102145912 B1 KR102145912 B1 KR 102145912B1
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Abstract

실시예는 복수 개의 패턴이 형성된 기판; 패턴에 접촉하며 상기 기판 상에 배치된 언도프드(undoped) 반도체층; 상기 패턴과 상기 언도프드 반도체층 사이에 형성된 에어 보이드(air void); 및 상기 언도프드 반도체층 상에 배치되고, 제1 도전형 반도체층과 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광 구조물을 포함하는 발광소자를 제공한다.The embodiment includes a substrate on which a plurality of patterns are formed; An undoped semiconductor layer disposed on the substrate and in contact with the pattern; An air void formed between the pattern and the undoped semiconductor layer; And a light emitting structure disposed on the undoped semiconductor layer and including a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer.

Description

발광소자 및 이를 포함하는 발광소자 패키지{LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE INCLUDING THE SAME}Light-emitting device and light-emitting device package including the same {LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHT EMITTING DEVICE PACKAGE INCLUDING THE SAME}

실시예는 발광소자 및 이를 포함하는 발광소자 패키지에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광추출 효율이 향상된 발광소자에 관한 것이다.The embodiment relates to a light emitting device and a light emitting device package including the same, and more particularly, to a light emitting device having improved light extraction efficiency.

GaN, AlGaN 등의 3-5 족 화합물 반도체는 넓고 조정이 용이한 밴드 갭 에너지를 가지는 등의 많은 장점으로 인해 광 전자 공학 분야(optoelectronics)와 전자 소자를 위해 등에 널리 사용된다.Group 3-5 compound semiconductors such as GaN and AlGaN are widely used in optoelectronics and electronic devices due to their many advantages, such as having a wide and easily adjustable band gap energy.

특히, 반도체의 3-5족 또는 2-6족 화합물 반도체 물질을 이용한 발광 다이오드(Ligit Emitting Diode)나 레이저 다이오드와 같은 발광소자는 박막 성장 기술 및 소자 재료의 개발로 적색, 녹색, 청색 및 자외선 등 다양한 색을 구현할 수 있으며, 형광 물질을 이용하거나 색을 조합함으로써 효율이 좋은 백색 광선도 구현이 가능하며, 형광등, 백열등 등 기존의 광원에 비해 저소비전력, 반영구적인 수명, 빠른 응답속도, 안전성, 환경친화성의 장점을 가진다.In particular, light emitting devices such as Ligit Emitting Diodes and laser diodes using semiconductor materials of Group 3-5 or Group 2-6 compound are developed in thin film growth technology and device materials, such as red, green, blue and ultraviolet rays. Various colors can be implemented, and efficient white light can be realized by using fluorescent materials or by combining colors. Low power consumption, semi-permanent life, quick response speed, safety, and environment compared to conventional light sources such as fluorescent lamps and incandescent lamps. It has the advantage of affinity.

따라서, 광 통신 수단의 송신 모듈, LCD(Liquid Crystal Display) 표시 장치의 백라이트를 구성하는 냉음극관(CCFL: Cold Cathode Fluorescence Lamp)을 대체하는 발광 다이오드 백라이트, 형광등이나 백열 전구를 대체할 수 있는 백색 발광 다이오드 조명 장치, 자동차 헤드 라이트 및 신호등에까지 응용이 확대되고 있다.Therefore, a light-emitting diode backlight that replaces the cold cathode fluorescent lamp (CCFL) constituting the transmission module of the optical communication means, the backlight of the LCD (Liquid Crystal Display) display device, and white light that can replace fluorescent or incandescent bulb Applications are expanding to diode lighting devices, automobile headlights and traffic lights.

종래의 발광소자는 사파이어(Sapphire) 등으로 이루어진 기판 위에 언도프드 반도체층(un-GaN)과 제1 도전형 반도체층(n-GaN)과 활성층(MQW) 및 제2 도전형 반도체층(p-GaN)을 포함하는 발광구조물이 형성되고, 제1 도전형 반도체층과 제2 도전형 반도체층 상에 각각 제1 전극과 제2 전극이 배치될 수 있다.Conventional light emitting devices include an undoped semiconductor layer (un-GaN), a first conductivity type semiconductor layer (n-GaN), an active layer (MQW), and a second conductivity type semiconductor layer (p-) on a substrate made of sapphire or the like. A light emitting structure including GaN) may be formed, and a first electrode and a second electrode may be disposed on the first conductive type semiconductor layer and the second conductive type semiconductor layer, respectively.

발광소자는 제1 도전형 반도체층을 통해서 주입되는 전자와 제2 도전형 반도체층을 통해서 주입되는 정공이 서로 만나서 활성층을 이루는 물질 고유의 에너지 밴드에 의해서 결정되는 에너지를 갖는 빛을 방출한다. 활성층에서 방출되는 빛은 활성층을 이루는 물질의 조성에 따라 다를 수 있으며, 청색광이나 자외선(UV) 또는 심자외선(Deep UV) 또는 다른 파장 영역의 광일 수 있다.The light emitting device emits light having energy determined by an energy band unique to a material constituting the active layer by meeting each other with electrons injected through the first conductivity type semiconductor layer and holes injected through the second conductivity type semiconductor layer. Light emitted from the active layer may vary depending on the composition of the material constituting the active layer, and may be blue light, ultraviolet (UV), deep ultraviolet (Deep UV), or light of a different wavelength range.

발광소자의 광추출 효율을 향상시키기 위하여, 발광구조물의 표면을 식각하여 요철을 형성하는 방법과 기판의 표면에 패턴을 형성하는 방법이 있다.In order to improve the light extraction efficiency of the light emitting device, there are a method of forming irregularities by etching the surface of a light emitting structure, and a method of forming a pattern on the surface of a substrate.

도 1a 및 도 1b는 패턴이 형성된 사파이어 기판(PSS)의 일실시예들을 나타낸 도면이다.1A and 1B are diagrams illustrating exemplary embodiments of a sapphire substrate PSS on which a pattern is formed.

사파이어 기판에 패턴을 형성하면 버퍼층이나 언도프드 반도체층으로부터 성장되는 발광 구조물에 결함(Dislocation) 밀도를 줄일 수 있고, 활성층에서 방출된 빛이 사파이어 기판의 패턴에서 반사 내지 굴절되어 광추출 효율을 향상시킬 수 있다.When a pattern is formed on the sapphire substrate, the density of dislocations in the light emitting structure grown from the buffer layer or the undoped semiconductor layer can be reduced, and the light emitted from the active layer is reflected or refracted from the pattern of the sapphire substrate to improve light extraction efficiency. I can.

그러나, 언도프드 반도체층과 사파이어 기판 사이에서의 광 굴절은 충분하지 못하여, 발광소자의 광추출 효율을 향상시키려는 다양한 노력이 계속되고 있다.However, since light refraction between the undoped semiconductor layer and the sapphire substrate is insufficient, various efforts to improve the light extraction efficiency of the light emitting device have been continued.

실시예는 발광소자의 광추출 효율을 향상시키고자 한다.The embodiment aims to improve light extraction efficiency of a light emitting device.

실시예는 복수 개의 패턴이 형성된 기판; 패턴에 접촉하며 상기 기판 상에 배치된 언도프드(undoped) 반도체층; 상기 패턴과 상기 언도프드 반도체층 사이에 형성된 에어 보이드(air void); 및 상기 언도프드 반도체층 상에 배치되고, 제1 도전형 반도체층과 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광 구조물을 포함하는 발광소자를 제공한다.The embodiment includes a substrate on which a plurality of patterns are formed; An undoped semiconductor layer disposed on the substrate and in contact with the pattern; An air void formed between the pattern and the undoped semiconductor layer; And a light emitting structure disposed on the undoped semiconductor layer and including a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer.

다른 실시예는 복수 개의 패턴이 형성된 기판; 상기 패턴에 접촉하며 상기 기판 상에 배치된 제1 도전형 반도체층; 상기 패턴과 상기 제1 도전형 반도체층 사이에 형성된 에어 보이드(air void); 및 상기 제1 도전형 반도체층 상에 배치되는 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광소자를 제공한다.Another embodiment is a substrate on which a plurality of patterns are formed; A first conductivity type semiconductor layer disposed on the substrate and in contact with the pattern; An air void formed between the pattern and the first conductivity type semiconductor layer; And an active layer and a second conductivity type semiconductor layer disposed on the first conductivity type semiconductor layer.

에어 보이드는 상기 패턴의 측면에 접촉할 수 있다.The air void may contact the side surface of the pattern.

패턴은 중앙 영역의 단면적이 상기 기판과 접촉하는 영역의 단면적보다 클 수 있다.The cross-sectional area of the pattern may be larger than the cross-sectional area of the area in contact with the substrate.

패턴의 가로 방향의 길이는 1 마이크로 미터 내지 3 마이크로 미터일 수 있다.The length of the pattern in the transverse direction may be 1 micrometer to 3 micrometers.

에어 보이드의 가로 방향의 길이는 상기 패턴의 가로 방향의 길이의 1/4 내지 1/2일 수 있다.The length of the air void in the horizontal direction may be 1/4 to 1/2 of the length of the pattern in the horizontal direction.

에어 보이드의 높이는 상기 패턴의 높이보다 작을 수 있다.The height of the air void may be smaller than the height of the pattern.

에어 보이드는 상기 기판에 접촉하는 영역의 가로 방향의 길이가 다른 영역의 가로 방향의 길이보다 클 수 있다.The air void may have a length in a horizontal direction of a region in contact with the substrate greater than a length in a horizontal direction of another region.

기판과 상기 패턴은 동일한 재료로 이루어질 수 있다.The substrate and the pattern may be made of the same material.

기판은 Al2O3, SiO2, SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, GaP, InP, Ge, Ga203 중 어느 하나로 이루어질 수 있다.The substrate may be made of any one of Al 2 O 3 , SiO 2 , SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, GaP, InP, Ge, and Ga 2 0 3 .

다른 실시예는 몸체; 상기 몸체에 배치된 제1 리드 프레임과 제2 리드 프레임; 상기 몸체에 배치되고 상기 제1 리드 프레임과 제2 리드 프레임에 전기적으로 연결된 상술한 발광소자; 및 상기 발광소자를 둘러싸는 몰딩부를 포함하는 발광소자 패키지를 제공한다.Another embodiment is a body; A first lead frame and a second lead frame disposed on the body; The above-described light emitting device disposed on the body and electrically connected to the first lead frame and the second lead frame; And it provides a light emitting device package including a molding portion surrounding the light emitting device.

실시예에 따른 발광소자는, 기판의 패턴 하부에 에어 보이드가 형성되어, 활성층에서 방출된 빛이 에어 보이드에서 굴절되고 산란되어 광추출 효율이 향상될 수 있다.In the light emitting device according to the embodiment, an air void is formed under a pattern of a substrate, so that light emitted from the active layer is refracted and scattered in the air voids, thereby improving light extraction efficiency.

도 1a 및 도 1b는 종래의 발광소자에서 기판 상에 형성된 패턴을 나타낸 도면이고,
도 2a 및 도 2b는 발광소자의 제1 실시예의 구조를 나타낸 도면이고,
도 3은 발광소자의 제2 실시예의 구조를 나타낸 도면이고,
도 4a 내지 도 4e는 도 2a의 발광소자의 기판 상의 패턴의 제조방법을 나타낸 도면이고,
도 5는 발광소자를 포함하는 발광소자 패키지의 일실시예를 나타낸 도면이고,
도 6은 발광소자를 포함하는 영상표시장치의 일실시예를 나타낸 도면이고,
도 7은 발광소자를 포함하는 조명장치의 일실시예를 나타낸 도면이다.
1A and 1B are views showing patterns formed on a substrate in a conventional light emitting device,
2A and 2B are diagrams showing the structure of the first embodiment of the light emitting device,
3 is a diagram showing the structure of a second embodiment of a light emitting device,
4A to 4E are views showing a method of manufacturing a pattern on a substrate of the light emitting device of FIG. 2A,
5 is a view showing an embodiment of a light emitting device package including a light emitting device,
6 is a view showing an embodiment of an image display device including a light emitting device,
7 is a view showing an embodiment of a lighting device including a light emitting device.

이하 상기의 목적을 구체적으로 실현할 수 있는 본 발명의 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention capable of realizing the above object will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 실시예의 설명에 있어서, 각 element의 " 상(위) 또는 하(아래)(on or under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)(on or under)는 두개의 element가 서로 직접(directly)접촉되거나 하나 이상의 다른 element가 상기 두 element사이에 배치되어(indirectly) 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 “상(위) 또는 하(아래)(on or under)”으로 표현되는 경우 하나의 element를 기준으로 위쪽 방향 뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiment according to the present invention, in the case where it is described as being formed in "on or under" of each element, the upper (upper) or lower (lower) (on or under) includes both elements in direct contact with each other or in which one or more other elements are indirectly formed between the two elements. In addition, when expressed as "on or under", it may include not only an upward direction but also a downward direction based on one element.

도 2a 및 도 2b는 발광소자의 제1 실시예의 구조를 나타낸 도면이다.2A and 2B are diagrams showing the structure of the first embodiment of a light emitting device.

본 실시예에 따른 발광소자(100a)는 복수 개의 패턴(115)이 형성된 기판(110)과, 패턴(115)에 접촉하며 기판 상에 배치된 언도프드(undoped) 반도체층(130), 패턴(115)과 언도프드 반도체층(130) 사이에 형성된 에어 보이드(air void, 120), 및 언도프드 반도체층(130) 상에 배치되고, 제1 도전형 반도체층(142)과 활성층(144) 및 제2 도전형 반도체층(146)을 포함하는 발광 구조물(140)을 포함할 수 있다.The light emitting device 100a according to the present embodiment includes a substrate 110 on which a plurality of patterns 115 are formed, an undoped semiconductor layer 130 disposed on the substrate and in contact with the pattern 115, and a pattern ( 115) and an air void 120 formed between the undoped semiconductor layer 130, and disposed on the undoped semiconductor layer 130, the first conductivity type semiconductor layer 142 and the active layer 144, and A light emitting structure 140 including a second conductivity type semiconductor layer 146 may be included.

기판(110)은 반도체 물질 성장에 적합한 물질이나 캐리어 웨이퍼로 형성될 수 있으며, 열 전도성이 뛰어난 물질로 형성될 수 있고, 전도성 기판 또는 절연성 기판을 포함할 수 있다. 예컨대, 사파이어(Al2O3), SiO2, SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, GaP, InP, Ge, Ga203 중 적어도 하나를 사용할 수 있다.The substrate 110 may be formed of a material suitable for growth of semiconductor materials or a carrier wafer, may be formed of a material having excellent thermal conductivity, and may include a conductive substrate or an insulating substrate. For example, at least one of sapphire (Al 2 O 3 ), SiO 2 , SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, GaP, InP, Ge, Ga 2 0 3 may be used.

사파이어 등으로 기판(110)을 형성하고, 기판(110) 상에 GaN이나 AlGaN 등을 포함하는 발광구조물(220)이 배치될 때, GaN이나 AlGaN과 사파이어 사이의 격자 부정합(lattice mismatch)이 매우 크고 이들 사이에 열 팽창 계수 차이도 매우 크기 때문에, 결정성을 악화시키는 전위(dislocation), 멜트 백(melt-back), 크랙(crack), 피트(pit), 표면 모폴로지(surface morphology) 불량 등이 발생할 수 있으므로, AlN 등으로 버퍼층을 형성하거나 언도프드 반도체층(130)을 형성할 수 있다.When the substrate 110 is formed of sapphire or the like, and the light emitting structure 220 including GaN or AlGaN is disposed on the substrate 110, the lattice mismatch between GaN or AlGaN and sapphire is very large. Since the difference in the coefficient of thermal expansion between them is also very large, dislocation, melt-back, crack, pit, and surface morphology defects that deteriorate crystallinity occur. Therefore, the buffer layer may be formed of AlN or the like or the undoped semiconductor layer 130 may be formed.

패턴(115)은 기판(110)과 동일한 재료로 이루어지고, 기판(110)의 표면이 일부 식각되어 형성될 수 있다. 패턴(115)은 도 2a에 도시된 형상 외에 다른 형상일 수 있고, 각각의 패턴(115)의 형상이 서로 다를 수도 있으나 식각 공정을 고려하면 서로 동일하거나 유사한 패턴(115)이 형성될 수 있다.The pattern 115 may be formed of the same material as the substrate 110 and may be formed by partially etching the surface of the substrate 110. The pattern 115 may have a shape other than the shape shown in FIG. 2A, and each pattern 115 may have a different shape, but considering the etching process, the same or similar patterns 115 may be formed.

패턴(115)은 중앙 영역의 단면의 크기가 기판(110)과 접촉하는 영역의 단면의 크기보다 클 수 있고, 패턴(115)의 중앙 영역은 기하학적으로 패턴(115)의 정중앙을 의미하지는 않고 패턴(115)의 상부와 하부 사이의 영역을 의미한다.In the pattern 115, the size of the cross section of the central region may be larger than the size of the cross section of the region in contact with the substrate 110, and the central region of the pattern 115 geometrically does not mean the center of the pattern 115 It means the area between the top and bottom of 115.

그리고, 패턴(115)이 중앙 영역의 단면의 크기가 기판(110)과 접촉하는 영역의 단면의 크기보다 클 수 있으므로, 패턴은 중앙 영역에서의 한 변의 길이(d1)는가 기판(110)과 접촉하는 영역에서의 한 변의 길이(d2)보다 클 수 있다. 여기서, 한 변의 길이(d1, d2)는 패턴(115)의 가로 방향의 단면이 다각형인 경우이며, 만약 단면이 원형이면 지름일 수 있다.And, since the size of the cross-section of the central region of the pattern 115 may be larger than the cross-section of the region in contact with the substrate 110, the length of one side of the pattern (d 1 ) in the central region is It may be greater than the length (d 2 ) of one side in the contacting area. Here, the length of one side (d 1 , d 2 ) is when the cross section in the horizontal direction of the pattern 115 is a polygon, and if the cross section is circular, it may be a diameter.

에어 보이드(120)는 기판(110)과 패턴(115) 사이에 형성될 수 있는데, 보다 상세하게는 패턴(115)의 측면과 기판(110)의 상부 및 언도프드 반도체층(130)에 접촉하며 배치될 수 있다. 그리고, 패턴(115)이 도시된 바와 같이 중앙 영역의 길이(d1)보다 기판(110)과 접촉하는 영역의 길이(d2)가 짧으므로 패턴(115)의 하부가 내측으로 함몰된 형상일 수 있고, 패턴(115)이 함몰된 영역에 에어 보이드(120)가 삽입되어 배치될 수 있다.The air void 120 may be formed between the substrate 110 and the pattern 115. More specifically, the air void 120 is in contact with the side surface of the pattern 115 and the upper portion of the substrate 110 and the undoped semiconductor layer 130. Can be placed. And, as the pattern 115 is shown, the length (d 2 ) of the region in contact with the substrate 110 is shorter than the length (d 1 ) of the central region, so the lower portion of the pattern 115 is inwardly recessed. The air void 120 may be inserted and disposed in a region in which the pattern 115 is recessed.

패턴(115)의 가로 방향의 길이는 1 마이크로 미터 내지 3 마이크로 미터일 수 있는데, 가로 방향의 길이는 도 2a에서 한 변의 길이(d1, d2)들일 수 있다. 패턴(115)의 가로 방향의 길이가 너무 작으면 광산란에 의한 광추출 향상이 충분하지 못할 수 있고, 너무 크면 산란된 빛이 고르지 않고 얼룩이나 기타 광산란에 의한 흔적이 나타날 수 있다.The length in the horizontal direction of the pattern 115 may be 1 micrometer to 3 micrometers, and the length in the horizontal direction may be lengths of one side (d 1 , d 2 ) in FIG. 2A. If the length of the pattern 115 in the horizontal direction is too small, light extraction may not be sufficiently improved by light scattering. If it is too large, the scattered light may be uneven and traces due to spots or other light scattering may appear.

에어 보이드(120)의 가로 방향의 길이(d3)는 패턴의 가로 방향의 길이의 1/4 내지 1/2일 수 있다. 에어 보이드(120)의 가로 방향의 길이(d3)가 너무 작으면 광산란에 의한 광추출 향상이 충분하지 못할 수 있고, 너무 크면 패턴(115)의 하부 영역이 기판(110)에 안정적으로 고정되지 못할 수 있다.The length d 3 of the air void 120 in the horizontal direction may be 1/4 to 1/2 of the length in the horizontal direction of the pattern. If the length (d 3 ) in the horizontal direction of the air void 120 is too small, the improvement of light extraction by light scattering may not be sufficient, and if it is too large, the lower region of the pattern 115 is not stably fixed to the substrate 110. It may not be possible.

에어 보이드(120)의 높이(h2)는 패턴(115)의 높이(h1)보다 작을 수 있는데, 에어 보이드(120)가 패턴(115)이 하부에서 내측으로 함몰된 영역에 삽입되어 배치됨에 따른 구조이다. 그리고, 에어 보이드(120)의 높이(h2)와 가로 방향의 길이(d3)는 나노 규모일 수 있다.The height (h 2 ) of the air void 120 may be smaller than the height (h 1 ) of the pattern 115, since the air void 120 is inserted and disposed in the area where the pattern 115 is recessed from the bottom to the inside. It is a structure that follows. In addition, the height h 2 of the air void 120 and the length d 3 in the horizontal direction may be nanoscale.

에어 보이드(120)는 기판(110)에 접촉하는 영역의 가로 방향의 길이(d3)가 다른 영역의 가로 방향의 길이보다 클 수 있는데, 도 2a에 도시된 구조에서는 에어 보이드(120)의 가로 방향의 길이는 기판(110)에 접촉하는 영역에서 가장 크고 발광 구조물(140) 방향으로 갈수록 줄어들 수 있다.The air void 120 may have a horizontal length d 3 of a region in contact with the substrate 110 that is greater than the horizontal length of another region. In the structure shown in FIG. 2A, the horizontal length of the air void 120 The length of the direction is largest in a region in contact with the substrate 110 and may decrease toward the light emitting structure 140.

도 2b는 도 2a를 에어 보이드(120)의 중간 높이에서의 횡방향(가로 방향)의 단면도이고, 에어 보이드(120)가 패턴(115)의 둘레를 링(ring) 형태로 감싸고 있으며, 에어 보이드(120)의 둘레는 언도프드 반도체층(130)이 둘러싸고 있다.2B is a cross-sectional view of FIG. 2A in the transverse direction (horizontal direction) at an intermediate height of the air void 120, and the air void 120 surrounds the circumference of the pattern 115 in the form of a ring, and the air void The circumference of 120 is surrounded by an undoped semiconductor layer 130.

언도프드 반도체층(130)은 기판(110)과 패턴(115) 및 에어 보이드(120)와 접촉하며 배치될 수 있는데, 경우에 따라 생략될 수 있고 도 3의 실시예에서도 동일하다. 패턴(120) 위에 언도프드 반도체층(130)이 성장하더라고 에어와 굴절률이 상이하여, 에어 보이드(120)와 언도프드 반도체층(130)의 사이에서 광산란이 발생할 수 있다.The undoped semiconductor layer 130 may be disposed in contact with the substrate 110, the pattern 115 and the air void 120, but may be omitted in some cases, and the same is the same in the embodiment of FIG. 3. Even if the undoped semiconductor layer 130 is grown on the pattern 120, the refractive index is different from that of air, so light scattering may occur between the air void 120 and the undoped semiconductor layer 130.

발광 구조물(140)은 제1 도전형 반도체층(142)과 활성층(144) 및 제2 도전형 반도체층(146)을 포함하여 이루어진다.The light emitting structure 140 includes a first conductivity type semiconductor layer 142, an active layer 144 and a second conductivity type semiconductor layer 146.

제1 도전형 반도체층(142)은 Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제1 도전형 도펀트가 도핑되어 제1 도전형의 반도체층일 수 있다. 제1 도전형 반도체층(142)은 AlxInyGa(1-x-y)N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질, AlGaN, GaN, InAlGaN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있다.The first conductivity type semiconductor layer 142 may be implemented as a compound semiconductor such as Group III-V or Group II-VI, and may be a semiconductor layer of a first conductivity type by doping with a first conductivity type dopant. The first conductivity type semiconductor layer 142 is a semiconductor material having a composition formula of Al x In y Ga (1-xy) N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1), AlGaN , GaN, InAlGaN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP may be formed of any one or more.

제1 도전형 반도체층(142)이 n형 반도체층인 경우, 제1 도전형 도펀트는 Si, Ge, Sn, Se, Te 등과 같은 n형 도펀트를 포함할 수 있다. 제1 도전형 반도체층(142)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.When the first conductivity-type semiconductor layer 142 is an n-type semiconductor layer, the first conductivity-type dopant may include an n-type dopant such as Si, Ge, Sn, Se, and Te. The first conductivity type semiconductor layer 142 may be formed as a single layer or multiple layers, but is not limited thereto.

활성층(144)은 제1 도전형 반도체층(142)의 상부면에 배치되며, 단일 우물 구조(Double Hetero Structure), 다중 우물 구조, 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물(MQW:Multi Quantum Well) 구조, 양자점 구조 또는 양자선 구조 중 어느 하나를 포함할 수 있다.The active layer 144 is disposed on the upper surface of the first conductivity type semiconductor layer 142, and has a single well structure, a multi-well structure, a single quantum well structure, and a multi-quantum well (MQW) structure. , It may include any one of a quantum dot structure or a quantum wire structure.

활성층(144)은 Ⅲ-Ⅴ족 원소의 화합물 반도체 재료를 이용하여 우물층과 장벽층, 예를 들면 AlGaN/AlGaN, InGaN/GaN, InGaN/InGaN, AlGaN/GaN, InAlGaN/GaN, GaAs(InGaAs)/AlGaAs, GaP(InGaP)/AlGaP 중 어느 하나 이상의 페어 구조로 형성될 수 있으나 이에 한정되지는 않는다. 우물층은 장벽층의 에너지 밴드 갭보다 작은 에너지 밴드 갭을 갖는 물질로 형성될 수 있다.The active layer 144 is a well layer and a barrier layer, such as AlGaN/AlGaN, InGaN/GaN, InGaN/InGaN, AlGaN/GaN, InAlGaN/GaN, GaAs (InGaAs), using a compound semiconductor material of group III-V element. /AlGaAs, GaP (InGaP) / AlGaP may be formed in any one or more pair structure, but is not limited thereto. The well layer may be formed of a material having an energy band gap smaller than that of the barrier layer.

제2 도전형 반도체층(146)은 활성층(144)의 표면에 반도체 화합물로 형성될 수 있다. 제2 도전형 반도체층(146)은 Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제2 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다. 제2 도전형 반도체층(146)은 예컨대, InxAlyGa1 -x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질, AlGaN, GaN AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있으며, 예를 들어 제2 도전형 반도체층(146)이 AlxGa(1-x)N으로 이루어질 수 있다.The second conductivity type semiconductor layer 146 may be formed of a semiconductor compound on the surface of the active layer 144. The second conductivity-type semiconductor layer 146 may be implemented as a compound semiconductor such as Group III-V or Group II-VI, and may be doped with a second conductivity-type dopant. The second conductivity type semiconductor layer 146 is, for example, a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1 -xy N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1), AlGaN , GaN AlInN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP may be formed of any one or more, for example, the second conductivity type semiconductor layer 146 may be formed of Al x Ga (1-x) N.

제2 도전형 반도체층(146)은 제2 도전형 도펀트가 도핑되어 제2 도전형의 반도체층일 수 있는데, 제2 도전형 반도체층(146)이 p형 반도체층일 경우 제2 도전형 도펀트는 Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등과 같은 p형 도펀트일 수 있다. 제2 도전형 반도체층(146)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The second conductivity type semiconductor layer 146 may be a second conductivity type semiconductor layer doped with a second conductivity type dopant. When the second conductivity type semiconductor layer 146 is a p type semiconductor layer, the second conductivity type dopant is Mg , Zn, Ca, Sr, Ba, etc. may be a p-type dopant. The second conductivity type semiconductor layer 146 may be formed as a single layer or multiple layers, but is not limited thereto.

도시되지는 않았으나, 활성층(144)과 제2 도전형 반도체층(146)의 사이에는 전자 차단층(Electron blocking layer)이 배치될 수 있다. 전자 차단층은 초격자(superlattice) 구조로 이루어질 수 있는데, 초격자는 예를 들어 제2 도전형 도펀트로 도핑된 AlGaN이 배치될 수 있고, 알루미늄의 조성비를 달리하는 GaN이 층(layer)을 이루어 복수 개 서로 교번하여 배치될 수도 있다.Although not shown, an electron blocking layer may be disposed between the active layer 144 and the second conductivity type semiconductor layer 146. The electron blocking layer may have a superlattice structure, for example, AlGaN doped with a second conductivity type dopant may be disposed, and GaN having a different composition ratio of aluminum is formed as a layer. A plurality may be arranged alternately with each other.

도시되지는 않았으나 발광 구조물(140)의 일부 영역에서 제2 도전형 반도체층(146)으로부터 활성층(144)과 제1 도전형 반도체층(142)의 일부가 메사 식각되어, 제1 도전형 반도체층(142)의 표면이 노출된다.Although not shown, a portion of the active layer 144 and the first conductivity-type semiconductor layer 142 from the second conductivity-type semiconductor layer 146 is mesa-etched in a partial region of the light emitting structure 140 to form a first conductivity-type semiconductor layer. The surface of 142 is exposed.

노출된 제1 도전형 반도체층(142)의 표면과 제2 도전형 반도체층(146) 상에는 각각 제1 전극과 제2 전극이 배치되는데, 제1 전극과 제2 전극은 알루미늄(Al), 티타늄(Ti), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 구리(Cu), 금(Au) 중 적어도 하나를 포함하여 단층 또는 다층 구조로 형성될 수 있으며, 각각 와이어(미도시)에 연결될 수 있다.A first electrode and a second electrode are disposed on the exposed surface of the first conductivity-type semiconductor layer 142 and on the second conductivity-type semiconductor layer 146, respectively, and the first and second electrodes are aluminum (Al) and titanium. (Ti), chromium (Cr), nickel (Ni), copper (Cu), may be formed in a single-layer or multi-layered structure including at least one of gold (Au), each may be connected to a wire (not shown).

그리고, 제2 도전형 반도체층(146)의 표면에는 요철이 형성되어 광추출 효율을 향상시킬 수 있고, 발광 구조물(140)의 둘레에는 패시베이션층이 형성될 수 있는데, 패시베이션층은 절연성 물질로 이루어질 수 있다. 상기 절연성 물질은 비전도성인 산화물이나 질화물로 이루어질 수 있고, 보다 상세하게는 실리콘 산화물(SiO2)층, 산화 질화물층, 산화 알루미늄층으로 이루어질 수 있다.In addition, the surface of the second conductivity-type semiconductor layer 146 may be formed with irregularities to improve light extraction efficiency, and a passivation layer may be formed around the light emitting structure 140, and the passivation layer is made of an insulating material. I can. The insulating material may be made of a non-conductive oxide or nitride, and more specifically, a silicon oxide (SiO 2 ) layer, an oxide nitride layer, and an aluminum oxide layer.

도 3은 발광소자의 제2 실시예의 구조를 나타낸 도면이다.3 is a diagram showing the structure of a second embodiment of a light emitting device.

본 실시예에 따른 발광소자(100b)는 도 2a에 도시된 발광소자(100b)와 유사하나, 패턴(115)의 형상이 상이하다. 즉, 도 2a에서 패턴(115)의 수직 방향의 단면은 삼각형에서 하부의 양측면이 식각된 형상일 수 있고, 도 3에서 패턴(115)의 수직 방향의 단면은 원에서 하부의 양측면이 식각된 형상일 수 있으며, 각각의 식각된 영역에 에어 보이드(120)가 배치될 수 있다.The light emitting device 100b according to the present embodiment is similar to the light emitting device 100b shown in FIG. 2A, but the shape of the pattern 115 is different. That is, the vertical cross section of the pattern 115 in FIG. 2A may be a shape in which both sides of the lower part are etched in a triangle, and in FIG. 3, the cross section in the vertical direction of the pattern 115 is a shape in which both sides of the lower part are etched from a circle. May be, and air voids 120 may be disposed in each etched area.

도 3에서 에어 보이드(120)와 패턴(115)의 크기 내지 위치 관계 등은 도 2a와 동일할 수 있다.In FIG. 3, the size or positional relationship between the air void 120 and the pattern 115 may be the same as that of FIG. 2A.

도 4a 내지 도 4e는 도 2a의 발광소자의 기판 상의 패턴의 제조방법을 나타낸 도면이다.4A to 4E are views illustrating a method of manufacturing a pattern on a substrate of the light emitting device of FIG. 2A.

먼저, 도 4a에 도시된 바와 같이 기판(110)의 표면을 식각하여 패턴(115)을 형성하는데, 건식 식각의 방법으로 기판(110)의 표면이 식각될 수 있다.First, as shown in FIG. 4A, a pattern 115 is formed by etching the surface of the substrate 110, and the surface of the substrate 110 may be etched by a dry etching method.

도 4b에 도시된 바와 같이 식각된 패턴(115)의 주변에 포토 레지스트(200)를 도포하고, 도 4c에 도시된 바와 같이 포토 레지스트(200)를 식각하는데 습식 식각의 방법으로 포토 레지스트(200)의 하부면을 더 식각하여 측면과 하부면이 둔각을 이루게 식각할 수 있으며, 이때 'a' 영역에서 패턴(115)의 일부가 노출될 수 있다.A photoresist 200 is applied around the etched pattern 115 as shown in FIG. 4B, and the photoresist 200 is etched as shown in FIG. 4C by a wet etching method. The lower surface of may be further etched so that the side surface and the lower surface form an obtuse angle, and at this time, a part of the pattern 115 may be exposed in the'a' area.

여기서, 포토 레지스트의 도포 후 노광 공정에서 아래쪽 부분을 노광을 덜하여 상술한 식각을 진행할 수 있는데, 초점을 조절하는 등의 방법으로 노광을 조절할 수 있다.Here, after the photoresist is applied, the above-described etching may be performed by less exposing the lower part in the exposure process, and the exposure may be controlled by a method such as adjusting the focus.

그리고, 도 4c에 도시된 바와 같이 포토 레지스트(200)가 제거되어 노출된 시판의 하부를 건식 식각의 방법으로 식각할 수 있는데, 이때 도 4c에서 'a' 영역에서 노출되었던 패턴이 제거되어 'b' 영역에 도시된 바와 같이 포토 레지스트(200)와 패턴(115)의 윤곽이 일치할 수 있다.In addition, as shown in FIG. 4C, the lower portion of the commercial market exposed by removing the photoresist 200 may be etched by a dry etching method. In this case, the pattern exposed in the area'a' in FIG. 4C is removed, and thus'b' As shown in the 'area, the contours of the photoresist 200 and the pattern 115 may match.

그리고, 포토 레지스트(200)를 제거하면, 도 4e에 도시된 패턴(115)이 완성된다.And, when the photoresist 200 is removed, the pattern 115 shown in FIG. 4E is completed.

도 4a 내지 도 4e에서 기판(110) 위에 하나의 패턴(115)이 도시되고 있으나, 기판(110)의 전체 영역에서 복수 개의 패턴(115)이 형성될 수 있다. 그리고, 도 4e의 구조 위에 언도프드 반도체층을 성장시키면, 패턴(115)의 하부에서 상술한 'b' 영역에서 언도프드 반도체층이 성장되지 않고 에어 보이드가 형성될 수 있다. 즉, 언도프드 반도체층은 초기에 수직 성장을 주로 하고 후에 수평 성장을 할 수 있다.Although one pattern 115 is shown on the substrate 110 in FIGS. 4A to 4E, a plurality of patterns 115 may be formed in the entire area of the substrate 110. In addition, when the undoped semiconductor layer is grown on the structure of FIG. 4E, the undoped semiconductor layer may not be grown in the region'b' described above under the pattern 115 and air voids may be formed. That is, the undoped semiconductor layer may be mainly vertically grown initially and then horizontally grown.

아래의 표는 도 2a의 실시예에 따른 발광소자을 종래의 비교예와 비교한 것이다. 에어 보이드가 형성된 실시예에 따른 발광소자는 동일한 파워를 입력하였을 때, 광추출 효율이 5.8% 정도 향상된 것을 알 수 있다.The table below compares the light emitting device according to the embodiment of FIG. 2A with a conventional comparative example. It can be seen that the light extraction efficiency of the light emitting device according to the embodiment in which the air void is formed is improved by about 5.8% when the same power is input.

입력 파워Input power 효율efficiency 절대 값Absolute value 상대값Relative value 비교예Comparative example 1One 0.8360.836 0.940.94 실시예Example 1One 0.8850.885 1One

도 5는 발광소자를 포함하는 발광소자 패키지의 일실시예를 나타낸 도면이다.5 is a view showing an embodiment of a light emitting device package including a light emitting device.

실시예에 따른 발광소자 패키지(400)는 캐비티를 포함하는 몸체(410)와, 상기 몸체(410)에 설치된 제1 리드 프레임(Lead Frame, 421) 및 제2 리드 프레임(422)과, 상기 몸체(410)에 설치되어 상기 제1 리드 프레임(421) 및 제2 리드 프레임(422)과 전기적으로 연결되는 상술한 실시예들에 따른 발광소자(200a)와, 상기 캐비티에 형성된 몰딩부(470)를 포함한다.The light emitting device package 400 according to the embodiment includes a body 410 including a cavity, a first lead frame 421 and a second lead frame 422 installed on the body 410, and the body The light emitting device 200a according to the above-described embodiments installed in the 410 and electrically connected to the first lead frame 421 and the second lead frame 422, and a molding part 470 formed in the cavity Includes.

몸체(410)는 실리콘 재질, 합성수지 재질, 또는 금속 재질을 포함하여 형성될 수 있다. 상기 몸체(410)가 금속 재질 등 도전성 물질로 이루어지면, 도시되지는 않았으나 상기 몸체(410)의 표면에 절연층이 코팅되어 상기 제1,2 리드 프레임(421, 422) 간의 전기적 단락을 방지할 수 있다.The body 410 may be formed of a silicon material, a synthetic resin material, or a metal material. When the body 410 is made of a conductive material such as a metal material, although not shown, an insulating layer is coated on the surface of the body 410 to prevent an electrical short between the first and second lead frames 421 and 422. I can.

제1 리드 프레임(421) 및 제2 리드 프레임(422)은 서로 전기적으로 분리되며, 상기 발광소자(200a)에 전류를 공급한다. 또한, 제1 리드 프레임(421) 및 제2 리드 프레임(422)은 발광소자(200a)에서 발생된 광을 반사시켜 광 효율을 증가시킬 수 있으며, 발광소자(200a)에서 발생된 열을 외부로 배출시킬 수도 있다.The first lead frame 421 and the second lead frame 422 are electrically separated from each other, and supply current to the light emitting device 200a. In addition, the first lead frame 421 and the second lead frame 422 may reflect light generated from the light emitting device 200a to increase light efficiency, and transfer heat generated from the light emitting device 200a to the outside. It can also be discharged.

발광소자(200a)는 상술한 실시예들에 따른 발광소자일 수 있다.The light emitting device 200a may be a light emitting device according to the above-described embodiments.

발광소자(200a)는 제1 리드 프레임(421)에 도전성 페이스트(미도시) 등으로 고정될 수 있고, 전극(430)은 제2 리드 프레임에 와이어(450)로 본딩될 수 있다.The light emitting device 200a may be fixed to the first lead frame 421 with a conductive paste (not shown) or the like, and the electrode 430 may be bonded to the second lead frame with a wire 450.

상기 몰딩부(470)는 상기 발광소자(200a)를 포위하여 보호할 수 있다. 또한, 상기 몰딩부(470) 상에는 형광체(480)가 포함될 수 있다. 이러한 구조는 형광체(480)가 분포되어, 발광소자(200a)로부터 방출되는 빛의 파장을 발광소자 패키지(400)의 빛이 출사되는 전 영역에서 변환시킬 수 있다.The molding part 470 may surround and protect the light emitting device 200a. In addition, a phosphor 480 may be included on the molding part 470. In this structure, since the phosphor 480 is distributed, the wavelength of light emitted from the light emitting device 200a can be converted in the entire area of the light emitting device package 400 to which light is emitted.

발광소자 패키지(400)는 상술한 실시예들에 따른 발광소자 중 하나 또는 복수 개로 탑재할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The light emitting device package 400 may be mounted as one or a plurality of light emitting devices according to the above-described embodiments, but is not limited thereto.

이하에서는 상술한 발광소자 패키지가 배치된 조명 시스템의 일실시예로서, 영상표시장치와 조명장치를 설명한다.Hereinafter, an image display device and a lighting device will be described as an embodiment of a lighting system in which the above-described light emitting device package is disposed.

도 6은 발광소자가 배치된 영상표시장치의 일실시예를 나타낸 도면이다.6 is a diagram showing an embodiment of an image display device in which a light emitting device is disposed.

도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 영상표시장치(500)는 광원 모듈과, 바텀 커버(510) 상의 반사판(520)과, 상기 반사판(520)의 전방에 배치되며 상기 광원모듈에서 방출되는 빛을 영상표시장치 전방으로 가이드하는 도광판(540)과, 상기 도광판(540)의 전방에 배치되는 제1 프리즘시트(550)와 제2 프리즘시트(560)와, 상기 제2 프리즘시트(560)의 전방에 배치되는 패널(570)과 상기 패널(570)의 전반에 배치되는 컬러필터(580)를 포함하여 이루어진다.As shown, the image display device 500 according to the present embodiment includes a light source module, a reflector 520 on the bottom cover 510, and light emitted from the light source module disposed in front of the reflector 520. The first prism sheet 550 and the second prism sheet 560 and the second prism sheet 560 are disposed in front of the light guide plate 540 to guide the image display device in front of the light guide plate 540. It includes a panel 570 disposed in front and a color filter 580 disposed in the entirety of the panel 570.

광원 모듈은 회로 기판(530) 상의 발광소자 패키지(535)를 포함하여 이루어진다. 여기서, 회로 기판(530)은 PCB 등이 사용될 수 있고, 발광소자 패키지(535)의 발광소자는 상술한 바와 같다.The light source module includes a light emitting device package 535 on the circuit board 530. Here, the circuit board 530 may be a PCB or the like, and the light emitting device of the light emitting device package 535 is as described above.

바텀 커버(510)는 영상표시장치(500) 내의 구성 요소들을 수납할 수 있다. 반사판(520)은 본 도면처럼 별도의 구성요소로 마련될 수도 있고, 도광판(540)의 후면이나, 상기 바텀 커버(510)의 전면에 반사도가 높은 물질로 코팅되는 형태로 마련되는 것도 가능하다.The bottom cover 510 may accommodate components in the image display device 500. The reflector 520 may be provided as a separate component as shown in this drawing, or may be provided in a form coated with a material having high reflectivity on the rear surface of the light guide plate 540 or the front surface of the bottom cover 510.

반사판(520)은 반사율이 높고 초박형으로 사용 가능한 소재를 사용할 수 있고, 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PolyEthylene Terephtalate; PET)를 사용할 수 있다.The reflector 520 may use a material that has high reflectivity and can be used in an ultra-thin type, and may use PolyEthylene Terephtalate (PET).

도광판(540)은 발광소자 패키지 모듈에서 방출되는 빛을 산란시켜 그 빛이 액정 표시 장치의 화면 전영역에 걸쳐 균일하게 분포되도록 한다. 따라서, 도광판(530)은 굴절률과 투과율이 좋은 재료로 이루어지는데, 폴리메틸메타크릴레이트(PolyMethylMethAcrylate; PMMA), 폴리카보네이트(PolyCarbonate; PC), 또는 폴리에틸렌(PolyEthylene; PE) 등으로 형성될 수 있다. 또한, 도광판(540)이 생략되면 에어 가이드 방식의 표시장치가 구현될 수 있다.The light guide plate 540 scatters light emitted from the light emitting device package module so that the light is uniformly distributed over the entire screen area of the liquid crystal display. Accordingly, the light guide plate 530 is made of a material having a good refractive index and transmittance, and may be formed of polymethylmethacrylate (PMMA), polycarbonate (PC), or polyethylene (PolyEthylene; PE). In addition, if the light guide plate 540 is omitted, an air guide type display device may be implemented.

상기 제1 프리즘 시트(550)는 지지필름의 일면에, 투광성이면서 탄성을 갖는 중합체 재료로 형성되는데, 상기 중합체는 복수 개의 입체구조가 반복적으로 형성된 프리즘층을 가질 수 있다. 여기서, 상기 복수 개의 패턴은 도시된 바와 같이 마루와 골이 반복적으로 스트라이프 타입으로 구비될 수 있다.The first prism sheet 550 is formed of a light-transmitting and elastic polymer material on one surface of the support film, and the polymer may have a prism layer in which a plurality of three-dimensional structures are repeatedly formed. Here, the plurality of patterns may be repeatedly provided in a stripe type with floors and valleys as shown.

상기 제2 프리즘 시트(560)에서 지지필름 일면의 마루와 골의 방향은, 상기 제1 프리즘 시트(550) 내의 지지필름 일면의 마루와 골의 방향과 수직할 수 있다. 이는 광원 모듈과 반사시트로부터 전달된 빛을 상기 패널(570)의 전방향으로 고르게 분산하기 위함이다.In the second prism sheet 560, a direction of a floor and a valley on one side of the support film may be perpendicular to a direction of a floor and a valley on one side of the support film in the first prism sheet 550. This is to evenly distribute the light transmitted from the light source module and the reflective sheet in all directions of the panel 570.

본 실시예에서 상기 제1 프리즘시트(550)과 제2 프리즘시트(560)가 광학시트를 이루는데, 상기 광학시트는 다른 조합 예를 들어, 마이크로 렌즈 어레이로 이루어지거나 확산시트와 마이크로 렌즈 어레이의 조합 또는 하나의 프리즘 시트와 마이크로 렌즈 어레이의 조합 등으로 이루어질 수 있다.In this embodiment, the first prism sheet 550 and the second prism sheet 560 form an optical sheet, and the optical sheet is formed of a different combination, for example, a micro lens array, or a diffusion sheet and a micro lens array. It may be made of a combination or a combination of a single prism sheet and a micro lens array.

상기 패널(570)은 액정 표시 패널(Liquid crystal display)가 배치될 수 있는데, 액정 표시 패널(560) 외에 광원을 필요로 하는 다른 종류의 디스플레이 장치가 구비될 수 있다.The panel 570 may include a liquid crystal display. In addition to the liquid crystal display panel 560, other types of display devices that require a light source may be provided.

상기 패널(570)은, 유리 바디 사이에 액정이 위치하고 빛의 편광성을 이용하기 위해 편광판을 양 유리바디에 올린 상태로 되어있다. 여기서, 액정은 액체와 고체의 중간적인 특성을 가지는데, 액체처럼 유동성을 갖는 유기분자인 액정이 결정처럼 규칙적으로 배열된 상태를 갖는 것으로, 상기 분자 배열이 외부 전계에 의해 변화되는 성질을 이용하여 화상을 표시한다.The panel 570 is in a state in which a liquid crystal is placed between the glass bodies and polarizing plates are placed on both glass bodies in order to utilize the polarization of light. Here, the liquid crystal has an intermediate characteristic between a liquid and a solid, and the liquid crystal, which is an organic molecule having fluidity like a liquid, has a state that is regularly arranged like a crystal, and the molecular arrangement is changed by an external electric field. Display an image.

표시장치에 사용되는 액정 표시 패널은, 액티브 매트릭스(Active Matrix) 방식으로서, 각 화소에 공급되는 전압을 조절하는 스위치로서 트랜지스터를 사용한다.A liquid crystal display panel used in a display device is an active matrix type, and uses a transistor as a switch for controlling a voltage supplied to each pixel.

상기 패널(570)의 전면에는 컬러 필터(580)가 구비되어 상기 패널(570)에서 투사된 빛을, 각각의 화소마다 적색과 녹색 및 청색의 빛만을 투과하므로 화상을 표현할 수 있다.A color filter 580 is provided on the front surface of the panel 570 to transmit light projected from the panel 570 and transmit only red, green, and blue light for each pixel, so that an image can be expressed.

도 7은 발광소자가 배치된 조명장치의 일실시예를 나타낸 도면이다.7 is a diagram showing an embodiment of a lighting device in which a light emitting device is disposed.

본 실시예에 따른 조명 장치는 커버(1100), 광원 모듈(1200), 방열체(1400), 전원 제공부(1600), 내부 케이스(1700), 소켓(1800)을 포함할 수 있다. 또한, 실시 예에 따른 조명 장치는 부재(1300)와 홀더(1500) 중 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있고, 광원 모듈(1200)은 상술한 실시예들에 따른 발광소자 패키지를 포함할 수 있다.The lighting apparatus according to the present embodiment may include a cover 1100, a light source module 1200, a radiator 1400, a power supply unit 1600, an inner case 1700, and a socket 1800. In addition, the lighting apparatus according to the embodiment may further include one or more of the member 1300 and the holder 1500, and the light source module 1200 may include a light emitting device package according to the above-described embodiments. .

커버(1100)는 벌브(bulb) 또는 반구의 형상을 가지며, 속이 비어 있고, 일 부분이 개구된 형상으로 제공될 수 있다. 상기 커버(1100)는 상기 광원 모듈(1200)과 광학적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 상기 커버(1100)는 상기 광원 모듈(1200)로부터 제공되는 빛을 확산, 산란 또는 여기 시킬 수 있다. 상기 커버(1100)는 일종의 광학 부재일 수 있다. 상기 커버(1100)는 상기 방열체(1400)와 결합될 수 있다. 상기 커버(1100)는 상기 방열체(1400)와 결합하는 결합부를 가질 수 있다.The cover 1100 has a shape of a bulb or a hemisphere, is hollow, and may be provided in an open shape. The cover 1100 may be optically coupled to the light source module 1200. For example, the cover 1100 may diffuse, scatter, or excite light provided from the light source module 1200. The cover 1100 may be a kind of optical member. The cover 1100 may be coupled to the radiator 1400. The cover 1100 may have a coupling portion coupled to the radiator 1400.

커버(1100)의 내면에는 유백색 도료가 코팅될 수 있다. 유백색의 도료는 빛을 확산시키는 확산재를 포함할 수 있다. 상기 커버(1100)의 내면의 표면 거칠기는 상기 커버(1100)의 외면의 표면 거칠기보다 크게 형성될 수 있다. 이는 상기 광원 모듈(1200)로부터의 빛이 충분히 산란 및 확산되어 외부로 방출시키기 위함이다.A milky white paint may be coated on the inner surface of the cover 1100. The milky white paint may include a diffuser that diffuses light. The surface roughness of the inner surface of the cover 1100 may be greater than the surface roughness of the outer surface of the cover 1100. This is to sufficiently scatter and diffuse light from the light source module 1200 to emit it to the outside.

커버(1100)의 재질은 유리(glass), 플라스틱, 폴리프로필렌(PP), 폴리에틸렌(PE), 폴리카보네이트(PC) 등일 수 있다. 여기서, 폴리카보네이트는내광성, 내열성, 강도가 뛰어나다. 상기 커버(1100)는 외부에서 상기 광원 모듈(1200)이 보이도록 투명할 수 있고, 불투명할 수 있다. 상기 커버(1100)는 블로우(blow) 성형을 통해 형성될 수 있다.The material of the cover 1100 may be glass, plastic, polypropylene (PP), polyethylene (PE), polycarbonate (PC), or the like. Here, polycarbonate is excellent in light resistance, heat resistance, and strength. The cover 1100 may be transparent so that the light source module 1200 is visible from the outside, or may be opaque. The cover 1100 may be formed through blow molding.

광원 모듈(1200)은 상기 방열체(1400)의 일 면에 배치될 수 있다. 따라서, 광원 모듈(1200)로부터의 열은 상기 방열체(1400)로 전도된다. 상기 광원 모듈(1200)은 발광소자 패키지(1210), 연결 플레이트(1230), 커넥터(1250)를 포함할 수 있다.The light source module 1200 may be disposed on one surface of the radiator 1400. Accordingly, heat from the light source module 1200 is conducted to the radiator 1400. The light source module 1200 may include a light emitting device package 1210, a connection plate 1230, and a connector 1250.

부재(1300)는 상기 방열체(1400)의 상면 위에 배치되고, 복수의 발광소자 패키지(1210)들과 커넥터(1250)이 삽입되는 가이드홈(1310)들을 갖는다. 가이드홈(1310)은 상기 발광소자 패키지(1210)의 기판 및 커넥터(1250)와 대응된다.The member 1300 is disposed on an upper surface of the radiator 1400 and has guide grooves 1310 into which a plurality of light emitting device packages 1210 and a connector 1250 are inserted. The guide groove 1310 corresponds to the substrate and the connector 1250 of the light emitting device package 1210.

부재(1300)의 표면은 빛 반사 물질로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 예를 들면, 부재(1300)의 표면은 백색의 도료로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 이러한 상기 부재(1300)는 상기 커버(1100)의 내면에 반사되어 상기 광원 모듈(1200)측 방향으로 되돌아오는 빛을 다시 상기 커버(1100) 방향으로 반사한다. 따라서, 실시 예에 따른 조명 장치의 광 효율을 향상시킬 수 있다.The surface of the member 1300 may be coated or coated with a light reflective material. For example, the surface of the member 1300 may be coated or coated with a white paint. The member 1300 reflects light reflected on the inner surface of the cover 1100 and returning toward the light source module 1200 toward the cover 1100. Therefore, it is possible to improve the light efficiency of the lighting device according to the embodiment.

부재(1300)는 예로서 절연 물질로 이루어질 수 있다. 상기 광원 모듈(1200)의 연결 플레이트(1230)는 전기 전도성의 물질을 포함할 수 있다. 따라서, 상기 방열체(1400)와 상기 연결 플레이트(1230) 사이에 전기적인 접촉이 이루어질 수 있다. 상기 부재(1300)는 절연 물질로 구성되어 상기 연결 플레이트(1230)와 상기 방열체(1400)의 전기적 단락을 차단할 수 있다. 상기 방열체(1400)는 상기 광원 모듈(1200)로부터의 열과 상기 전원 제공부(1600)로부터의 열을 전달받아 방열한다.The member 1300 may be made of an insulating material, for example. The connection plate 1230 of the light source module 1200 may include an electrically conductive material. Accordingly, electrical contact may be made between the radiator 1400 and the connection plate 1230. The member 1300 may be formed of an insulating material to block an electrical short between the connection plate 1230 and the radiator 1400. The radiator 1400 receives heat from the light source module 1200 and heat from the power supply unit 1600 to radiate heat.

홀더(1500)는 내부 케이스(1700)의 절연부(1710)의 수납홈(1719)을 막는다. 따라서, 상기 내부 케이스(1700)의 상기 절연부(1710)에 수납되는 상기 전원 제공부(1600)는 밀폐된다. 홀더(1500)는 가이드 돌출부(1510)를 갖는다. 가이드 돌출부(1510)는 상기 전원 제공부(1600)의 돌출부(1610)가 관통하는 홀을 갖는다.The holder 1500 blocks the receiving groove 1719 of the insulating part 1710 of the inner case 1700. Accordingly, the power supply unit 1600 accommodated in the insulating unit 1710 of the inner case 1700 is sealed. The holder 1500 has a guide protrusion 1510. The guide protrusion 1510 has a hole through which the protrusion 1610 of the power supply unit 1600 passes.

전원 제공부(1600)는 외부로부터 제공받은 전기적 신호를 처리 또는 변환하여 상기 광원 모듈(1200)로 제공한다. 전원 제공부(1600)는 상기 내부 케이스(1700)의 수납홈(1719)에 수납되고, 상기 홀더(1500)에 의해 상기 내부 케이스(1700)의 내부에 밀폐된다. 상기 전원 제공부(1600)는 돌출부(1610), 가이드부(1630), 베이스(1650), 연장부(1670)를 포함할 수 있다.The power supply unit 1600 processes or converts an electrical signal provided from the outside and provides it to the light source module 1200. The power supply unit 1600 is accommodated in the storage groove 1919 of the inner case 1700 and is sealed inside the inner case 1700 by the holder 1500. The power supply unit 1600 may include a protrusion 1610, a guide unit 1630, a base 1650, and an extension 1670.

상기 가이드부(1630)는 상기 베이스(1650)의 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 가이드부(1630)는 상기 홀더(1500)에 삽입될 수 있다. 상기 베이스(1650)의 일 면 위에 다수의 부품이 배치될 수 있다. 다수의 부품은 예를 들어, 외부 전원으로부터 제공되는 교류 전원을 직류 전원으로 변환하는 직류변환장치, 상기 광원 모듈(1200)의 구동을 제어하는 구동칩, 상기 광원 모듈(1200)을 보호하기 위한 ESD(ElectroStatic discharge) 보호 소자 등을 포함할 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The guide part 1630 has a shape protruding outward from one side of the base 1650. The guide part 1630 may be inserted into the holder 1500. A number of parts may be disposed on one surface of the base 1650. A number of components include, for example, a DC converter that converts AC power provided from an external power source to DC power, a driving chip that controls the driving of the light source module 1200, and an ESD for protecting the light source module 1200. (ElectroStatic discharge) may include a protection element, but is not limited thereto.

상기 연장부(1670)는 상기 베이스(1650)의 다른 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 연장부(1670)는 상기 내부 케이스(1700)의 연결부(1750) 내부에 삽입되고, 외부로부터의 전기적 신호를 제공받는다. 예컨대, 상기 연장부(1670)는 상기 내부 케이스(1700)의 연결부(1750)의 폭과 같거나 작게 제공될 수 있다. 상기 연장부(1670)에는 "+ 전선"과 "- 전선"의 각 일 단이 전기적으로 연결되고, "+ 전선"과 "- 전선"의 다른 일 단은 소켓(1800)에 전기적으로 연결될 수 있다.The extension part 1670 has a shape protruding outward from the other side of the base 1650. The extension part 1670 is inserted into the connection part 1750 of the inner case 1700 and receives an electrical signal from the outside. For example, the extension part 1670 may be provided equal to or smaller than the width of the connection part 1750 of the inner case 1700. Each end of the "+ wire" and "- wire" may be electrically connected to the extension part 1670, and the other end of the "+ wire" and "- wire" may be electrically connected to the socket 1800. .

내부 케이스(1700)는 내부에 상기 전원 제공부(1600)와 함께 몰딩부를 포함할 수 있다. 몰딩부는몰딩 액체가 굳어진 부분으로서, 상기 전원 제공부(1600)가 상기 내부 케이스(1700) 내부에 고정될 수 있도록 한다.The inner case 1700 may include a molding unit together with the power supply unit 1600 therein. The molding part is a part in which the molding liquid is solidified, and allows the power supply part 1600 to be fixed inside the inner case 1700.

이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The embodiments have been described above, but these are only examples and do not limit the present invention, and those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs are not illustrated above within the scope not departing from the essential characteristics of the present embodiment. It will be seen that various modifications and applications are possible. For example, each component specifically shown in the embodiment can be modified and implemented. And differences related to such modifications and applications should be construed as being included in the scope of the present invention defined in the appended claims.

100a, 100b, 200a: 발광소자 110: 기판
115: 패턴 120: 에어 보이드
130: 언도프드 바도체층 140: 발광 구조물
142: 제1 도전형 반도체층 144: 활성층
146: 제2 도전형 반도체층 400: 발광소자 패키지
410: 몸체 421: 제1 리드 프레임
422: 제2 리드 프레임 450: 와이어
470: 몰딩부 480: 형광체
500: 영상표시장치
100a, 100b, 200a: light emitting element 110: substrate
115: pattern 120: air void
130: undoped bar conductor layer 140: light emitting structure
142: first conductivity type semiconductor layer 144: active layer
146: second conductivity type semiconductor layer 400: light emitting device package
410: body 421: first lead frame
422: second lead frame 450: wire
470: molding part 480: phosphor
500: image display device

Claims (11)

복수 개의 패턴이 형성된 기판;
상기 패턴에 접촉하며 상기 기판 상에 배치된 언도프드(undoped) 반도체층;
상기 패턴과 상기 언도프드 반도체층 사이에 형성된 에어 보이드(air void); 및
상기 언도프드 반도체층 상에 배치되고, 제1 도전형 반도체층과 활성층 및 제2 도전형 반도체층을 포함하는 발광 구조물을 포함하고,
상기 패턴의 가로 방향의 길이는 1 마이크로 미터 내지 3 마이크로 미터이고, 상기 에어 보이드의 가로 방향의 길이는 상기 패턴의 가로 방향의 길이의 1/4 내지 1/2이고,
상기 패턴의 가로 방향의 폭은 상기 언도프드 반도체층의 바닥면으로부터 제1 지점까지 증가하고, 상기 제1 지점으로부터 상기 언도프드 반도체층의 바닥면과 상기 발광 구조물의 하면의 사이의 제2 지점까지 감소하고,
상기 에어 보이드는 세로 방향에서 상기 언도프드 반도체층의 바닥면과 상기 제1 지점 사이의 높이에만 배치되고,
하나의 패턴에 대하여, 상기 에어 보이드는 가로 방향에서 상기 패턴의 최대 폭의 내측 영역에만 배치되고,
인접한 상기 패턴들의 사이 및 인접한 상기 패턴들 각각에 배치된 상기 에어 보이드들의 사이에는 상기 언도프드 반도체층이 배치되는 발광소자.
A substrate on which a plurality of patterns are formed;
An undoped semiconductor layer disposed on the substrate and in contact with the pattern;
An air void formed between the pattern and the undoped semiconductor layer; And
It is disposed on the undoped semiconductor layer and includes a light emitting structure including a first conductivity type semiconductor layer, an active layer, and a second conductivity type semiconductor layer,
The length in the horizontal direction of the pattern is 1 micrometer to 3 micrometers, the length in the horizontal direction of the air void is 1/4 to 1/2 of the length in the horizontal direction of the pattern,
The width of the pattern in the horizontal direction increases from the bottom surface of the undoped semiconductor layer to a first point, and from the first point to a second point between the bottom surface of the undoped semiconductor layer and the bottom surface of the light emitting structure. Decrease,
The air voids are disposed only at a height between the bottom surface of the undoped semiconductor layer and the first point in a vertical direction,
For one pattern, the air voids are disposed only in an inner region of the maximum width of the pattern in the horizontal direction,
The light emitting device in which the undoped semiconductor layer is disposed between adjacent patterns and between the air voids disposed in each of the adjacent patterns.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1 항에 있어서,
상기 하나의 패턴에 대하여, 상기 에어 보이드의 외측에는 상기 언도프드 반도체층이 배치되는 발광소자.
The method of claim 1,
With respect to the one pattern, the light emitting device in which the undoped semiconductor layer is disposed outside the air void.
제1항에 있어서,
상기 기판과 상기 패턴은 동일한 재료로 이루어지는 발광소자.
The method of claim 1,
The substrate and the pattern are made of the same material.
삭제delete 삭제delete
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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