KR102139317B1 - Device for inspecting the surface of contact lenses - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 콘택트렌즈 표면 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 루페(lupe)에 의한 회전 관찰방법과 현미경에 의한 확대 관찰방법을 결합하여, 현미경 사용 하에서 피측정대상 렌즈의 전체면 관찰이 가능하고 또한 피측정대상 렌즈를 회전시켜가면서 관찰할 수 있게 하여 3D 현미경을 사용하는 것과 같은 입체적인 관찰이 가능하게 하고, 현미경의 조명을 수평으로 사용하고 조명의 높낮이 및 각도 조절이 가능하도록 함으로써 루페 관찰시와 같이 밝은 빛 아래에서 렌즈를 회전시키면서 렌즈의 전체면을 관찰할 수 있으며 렌즈 표면의 난반사 문제도 극복할 수 있는 콘택트렌즈 표면 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a contact lens surface inspection device, and more specifically, by combining a rotational observation method with a loupe and an enlarged observation method with a microscope, it is possible to observe the entire surface of the lens to be measured under the use of a microscope. In addition, the lens to be measured can be rotated to be observed, allowing stereoscopic observation, such as using a 3D microscope, and using the microscope's illumination horizontally and adjusting the height and angle of the illumination. The present invention relates to a contact lens surface inspection device that can observe the entire surface of the lens while rotating the lens under bright light and overcome the problem of diffuse reflection on the lens surface.
일반적으로 하드콘택트렌즈는 사람의 동공 사이즈와 비슷한 크기로 1 ~ 1.5cm 크기로 투명한 재질로서, 근시교정뿐 아니라 소프트콘택트렌즈가 교정하기 어려운 난시교정도 훌륭하게 해결하는 능력이 있어 많이 사용되어온 렌즈이다.In general, hard contact lenses have a size similar to that of a human pupil and are 1 to 1.5 cm in size and are transparent materials, and have been used a lot because they have the ability to solve not only myopia correction but also astigmatism, which is difficult for soft contact lenses to correct.
이러한 하드콘택트렌즈는 인체에 적용되는 의료기기이기 때문에 제품 출하전 렌즈 표면의 스크래치, 내부의 기포 등의 이물질 함유 여부, 렌즈 연부의 깨짐이나 형태 변형 등의 결함 판별을 필요로 하며, 이러한 결함 판별은 제품 생산시 품질 결정의 핵심 공정으로 작용하게 된다.Since such a hard contact lens is a medical device applied to the human body, it is necessary to discriminate defects such as scratches on the lens surface before shipment of the product, whether foreign substances such as air bubbles are contained, and cracks or shape deformation of the lens edges. It will serve as a key process for quality determination in product production.
종래의 하드콘택트렌즈 표면 검사는 현미경을 사용하여 검사하는 방법, 및 밝은 조명 하에서 루페로 검사하는 방법 등이 있다.Conventional hard contact lens surface inspection includes inspection using a microscope, and inspection using a loupe under bright lighting.
실제 현미경을 이용하는 경우 현미경의 수직조명, 즉 콘택트렌즈 위에서 조명을 비추어 관찰하게 되므로 콘택트렌즈 표면에서의 빛의 난반사로 인하여 렌즈 표면에서 빛이 결함부위와 겹쳐서 결함판별이 용이하지 않게 되는 문제점이 있으며, 또한 현미경 하에서는 물체를 확대하여 보여주게 되므로 렌즈의 전체가 아닌 일부분만 하나의 프레임에서 관찰되는 한계가 있다.In the case of using a real microscope, since the vertical illumination of the microscope, that is, light is observed on the contact lens and observed, the light on the lens surface overlaps the defect area, making it difficult to identify the defect. In addition, under the microscope, an object is enlarged to show, so there is a limitation that only a part of the lens is observed in one frame.
또한 밝은 조명하에서 루페를 이용하는 경우, 검사자가 한 손에는 콘택트렌즈를 들고 다른 한쪽에는 루페를 들고 콘택트렌즈를 회전하면서 관찰하는 방식으로 45도, 90도, 180도 등 렌즈를 회전시키면서 관찰하게 되므로, 검사자의 주관적 판단에 의존하게 되며, 또한 현미경 하에서만 관찰되는 미세 스크래치는 관찰이 불가능하다는 한계가 있다.In addition, when using a loupe under bright lighting, the inspector observes while rotating the lens such as 45 degrees, 90 degrees, 180 degrees by rotating the contact lens while holding the contact lens in one hand and the loupe in the other. It depends on the subjective judgment of the examiner, and there is a limit that it is impossible to observe fine scratches observed only under a microscope.
또한 상기와 같은 종래의 검사방식은 렌즈를 움직이면서 관찰하게 되므로 렌즈와 조명을 위한 광원과의 간격 변동이 초래되거나 광원의 반사 등으로 인해 렌즈의 검사 조건이 안정적이지 못하고, 또한 품질 향상을 위해서는 고숙련도의 작업자를 필요로 할 뿐만 아니라 고숙련도의 작업자라 할지라도 작업자 마다 상이한 조건을 통해 관측하게 되는 것이어서 검사의 정밀성과 신뢰성이 저하되는 등의 문제점이 있었다.In addition, the conventional inspection method as described above is observed while moving the lens, causing fluctuations in the distance between the lens and the light source for illumination, or the inspection condition of the lens is not stable due to reflection of the light source, etc. Not only does it require an operator, but even a highly skilled worker is observed through different conditions for each operator, and thus, there is a problem in that precision and reliability of inspection are deteriorated.
또한 중복 검사영역이나 미검사 영역이 발생되는 등 검사가 비효율적으로 이루어질 수 있게 되므로 작업시간이 지연되는 등 작업성의 저하를 초래하였고, 오픈된 상태에서 관측하게 됨으로써 외부의 이물질이 부착되는 경우 불량요인으로 오인하여 정상 렌즈를 폐기할 수 있는 소지가 있었으며, 콘택트렌즈를 렌즈 홀더에 장착하기 위하여 핀셋이나 기타 도구들을 이용하게 되므로 검사 실시 중 렌즈 표면에 손상을 발생시키는 등의 문제점이 있었다.In addition, since inspection can be performed inefficiently, such as a duplicate inspection area or an unexamined area, a decrease in workability, such as a delay in working time, is observed in the open state. There was a possibility that the normal lens could be discarded due to misunderstanding, and since a tweezers or other tools were used to mount the contact lens to the lens holder, there were problems such as damage to the lens surface during the inspection.
따라서 본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 창안한 것으로서, 본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는, 루페에 의한 회전 관찰방법과 현미경에 의한 확대 관찰방법을 결합하여, 현미경 사용 하에서 피측정대상 렌즈의 전체면 관찰이 가능하고 또한 피측정대상 렌즈를 회전시켜가면서 관찰할 수 있게 하여 3D 현미경을 사용하는 것과 같은 입체적인 관찰이 가능하게 하고, 현미경의 조명을 수평으로 사용하고 조명의 높낮이 및 각도 조절이 가능하도록 함으로써 루페 관찰시와 같이 밝은 빛 아래에서 렌즈를 회전시키면서 렌즈의 전체면을 관찰할 수 있으며 렌즈 표면의 난반사 문제도 극복할 수 있는 하드 콘택트렌즈 표면 검사장치를 제공하고자 하는 것이다.Therefore, the present invention was devised to solve the above problems, and the technical problem to be solved by the present invention is to combine a rotational observation method with a loupe and an enlarged observation method with a microscope, and to measure the lens to be measured under microscope use. It is possible to observe the entire surface and to observe while rotating the lens to be measured, enabling stereoscopic observation such as using a 3D microscope, and using the microscope's illumination horizontally and adjusting the height and angle of the illumination. This is to provide a hard contact lens surface inspection device that can observe the entire surface of the lens while rotating the lens under bright light, such as when observing a loupe, and can also overcome the problem of diffuse reflection on the lens surface.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시 형태는, 받침대에 하단부가 고정된 경통 지지대에 의해 일측이 지지되어 지면에 대해 수직하게 설치되며 대물렌즈와 접안렌즈가 하단부와 상단부에 각각 구비되고 초점 거리를 변화시키는 줌렌즈가 대물렌즈와 접안렌즈 사이에 설치되는 현미경 경통, 경통의 최상부에 설치되어 접안렌즈를 통해 관찰되는 이미지를 촬영하는 CCD 카메라, 경통의 최하부에 회전 가능하게 설치되며 피측정대상 렌즈의 표면에서 반사되는 빛을 내부에 설치되는 다수 개의 내부 반사경을 통해 대물렌즈로 반사시켜 피측정대상 렌즈 표면에서의 빛의 난반사를 제거하는 회전 반사경, 중앙부에 개구홀이 형성된 원형 몸체로서 회전 반사경 하측의 받침대 상에 회전 가능하게 설치되고 피측정대상 렌즈를 올려놓기 위한 렌즈 거치홈을 구비한 다수 개의 렌즈 홀더가 각각의 홀더 거치대에 의해 지지되어 원형 몸체의 바닥면에서 일정 높이 이격되게 설치되되 각 렌즈 홀더의 렌즈 거치홈이 원형 몸체의 중앙부 개구홀 상부에 위치되도록 원형 몸체를 따라 방사상으로 일정간격 이격되게 설치되는 회전 재물대, 및 회전 재물대 일측 또는 좌우 양측의 받침대 상부에 설치되며 렌즈 홀더를 향하여 그 측방에서 수평으로 조명을 조사하는 측면 조명부를 포함하는, 콘택트렌즈 표면검사장치이다.One embodiment of the present invention for achieving the above object, one side is supported by a barrel support having a lower end fixed to the pedestal, installed perpendicular to the ground, and an objective lens and eyepiece are provided at the lower and upper ends, respectively, and the focal length A zoom lens that changes the lens is installed between the objective lens and the eyepiece, and is installed on the top of the microscope barrel, the CCD camera that captures the image observed through the eyepiece, and is installed rotatably on the bottom of the lens barrel. A rotating reflector that reflects the light reflected from the surface to the objective lens through a plurality of internal reflectors installed therein to remove diffuse reflection of light from the surface of the lens to be measured. A plurality of lens holders rotatably installed on a pedestal and having lens mounting grooves for placing a lens to be measured are supported by respective holder holders and installed at a predetermined height apart from the bottom surface of the circular body. The rotating stage is installed to be spaced radially at regular intervals along the circular body so that the lens mounting groove of the circular body is located at the top of the opening hole of the circular body, and the rotating stage is installed on the top of the pedestal on one side or both left and right sides. It is a contact lens surface inspection device, including a side lighting unit for irradiating light horizontally.
상기 본 발명에 따른 일 실시 형태의 콘택트렌즈 표면검사장치는, 회전 재물대의 하부 일측에 설치되어 회전 재물대의 하부에서 수평으로 조명을 조사하는 하단 조명부, 및 회전 재물대의 직하부에 설치되어 하단 조명부에서 조사된 빛을 회전 재물대 측으로 전반사시켜 개구홀을 통해 렌즈 홀더를 향하여 그 하방에서 상부로 빛이 조사되게 하는 전반사 반사경을 더 포함하여 다른 실시 형태로 구현될 수 있다.The contact lens surface inspection apparatus of the embodiment according to the present invention is installed on the lower side of the rotating stage and is installed at the bottom of the rotating stage to illuminate light horizontally, and the bottom of the rotating stage is installed directly below the lighting stage. It may be embodied in another embodiment by further reflecting the reflected light toward the lens holder through the opening hole by totally reflecting the irradiated light toward the lens holder.
본 발명에 의하면, 루페(lupe) 관찰시의 회전 관찰방법과 현미경 관찰시의 확대 관찰방법을 결합하여 현미경 사용 하에서 렌즈의 전체면 관찰이 가능하도록 렌즈를 회전시켜가면서 관찰할 수 있게 하므로 3D 현미경을 사용하는 것과 같은 입체적인 관찰효과를 얻을 수 있게 되며, 현미경의 조명을 수평으로 사용하고 조명의 높낮이 및 빛의 각도를 필요에 따라 조절할 수 있도록 함으로써 루페 관찰시와 같이 밝은 빛 아래에서 렌즈를 회전시키면서 렌즈의 전체면을 관찰할 수 있으며 렌즈 표면의 난반사 문제도 극복할 수 있는 이점을 제공한다.According to the present invention, the 3D microscope can be observed while rotating the lens so that the entire surface of the lens can be observed under the use of a microscope by combining the rotation observation method when observing a loupe and the enlarged observation method when observing a microscope. The stereoscopic observation effect can be obtained, and the lens can be rotated under bright light as in the case of loupe observation by using the microscope's illumination horizontally and adjusting the height and angle of light as needed. It provides the advantage of observing the entire surface of the lens and overcoming the problem of diffuse reflection of the lens surface.
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치가 하우징 내에 설치된 상태를 예시한 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치의 정면도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치의 측면도이다.
도 4a와 도 4b는 본 발명에서 회전 반사경에 의한 빛의 난반사 제거 및 입체 검사기술을 설명하기 위하여 예시한 주요부 확대도 및 회전 반사경의 회전동작을 예시한 참고도이다.
도 5의 (a)와 (b)는 본 발명에서 측면 조명부에 의한 회전 재물대 상에서의 빛의 진행방향을 설명하기 위하여 예시한 참고도이다.
도 6a 내지 도 6c는 본 발명에서 측면 조명부에 의한 빛의 조사 방향 및 각도를 설명하기 위하여 예시한 참고도이다.
도 7의 (a) 내지 (d)는 본 발명에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치를 통해 관찰될 수 있는 각종 형태의 렌즈결함을 예시한 참고사진들이다.1 is a perspective view illustrating a state in which a contact lens surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is installed in a housing.
2 is a front view of a contact lens surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a side view of a contact lens surface inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.
4A and 4B are reference diagrams illustrating an enlarged view of a main part and a rotation operation of a rotating reflector illustrated in order to describe a technique for removing diffuse reflection of light by a rotating reflector and a stereoscopic inspection technique.
5(a) and 5(b) are reference diagrams exemplified to explain the direction of light traveling on the rotating stage by the side lighting unit in the present invention.
6A to 6C are reference diagrams exemplified for explaining the irradiation direction and angle of light by the side lighting unit in the present invention.
7A to 7D are reference photographs illustrating various types of lens defects that can be observed through the contact lens surface inspection apparatus according to the present invention.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여, 본 발명에 따른 콘택트렌즈 표면검사장치의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 첨부된 도면에서 작성된 구성요소 및 선의 두께와 길이 등은 도면의 이해를 돕기 위해 간단하게 표현되어 과장 또는 함축이 포함되어 있을 수 있다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, a preferred embodiment of the contact lens surface inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. The thickness and length of components and lines created in the accompanying drawings may be simply expressed in order to help understanding of the drawings, and may include exaggerations or implications.
또한, 하기 실시 예는 본 발명의 권리범위의 한정에 국한하지 않으며 본 발명의 기술에 근거하여 다양하게 실시 예가 구현될 수 있다.In addition, the following examples are not limited to the limitations of the scope of the present invention, and various embodiments may be implemented based on the technology of the present invention.
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치가 하우징 내에 설치된 상태를 예시한 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치의 정면도이며, 도 3은 본 발명의 다른 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치의 측면도이고, 도 4a와 도 4b는 본 발명에서 회전 반사경에 의한 빛의 난반사 제거 및 입체 검사기술을 설명하기 위하여 예시한 주요부 확대도 및 회전 반사경의 회전동작을 예시한 참고도이며, 도 5의 (a)와 (b)는 본 발명에서 측면 조명부에 의한 회전 재물대 상에서의 빛의 진행방향을 설명하기 위하여 예시한 참고도이고, 도 6a 내지 도 6c는 본 발명에서 측면 조명부에 의한 빛의 조사 방향 및 각도를 설명하기 위하여 예시한 참고도이며, 도 7의 (a) 내지 (d)는 본 발명에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치를 통해 관찰될 수 있는 각종 형태의 렌즈결함을 예시한 참고사진들로서, 본 발명의 일 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면검사장치는 도 1 및 도 2에 예시된 바와 같이 받침대(10), 현미경 경통(20), CCD 카메라(30), 회전 반사경(40), 회전 재물대(50), 및 측면조명부(60)를 포함하여 구성될 수 있으며, 이러한 본 발명의 일 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면검사장치는 도 3에 예시된 바와 같이 하단 조명부(70), 및 전반사 반사경(71)를 더 포함하여 다른 실시 형태로 구현될 수 있다. 또한 이러한 본 발명의 각 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치는 도 1에 예시된 바와 같이 전자적인 제어장치 또는 컴퓨터 등에 의해 회전 반사경(40)과 회전 재물대(50) 및 측면 조명부(60) 및/또는 하단 조명부(70)의 동작을 제어할 수 있도록 시스템화 된 하우징 내부에 설치되어 구성될 수도 있다.1 is a perspective view illustrating a state in which a contact lens surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is installed in a housing, FIG. 2 is a front view of a contact lens surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is Side view of a contact lens surface inspection apparatus according to another embodiment of the present invention, Figures 4a and 4b are enlarged main parts and rotation reflectors illustrated to explain the diffuse reflection removal and stereoscopic inspection technology of the light by the rotating reflector in the present invention A reference diagram illustrating the rotational operation of FIGS. 5(a) and 5(b) are reference diagrams exemplified for explaining the direction of light traveling on the rotating stage by the side lighting unit in the present invention. 6c is a reference diagram exemplified to explain the direction and angle of light irradiation by the side lighting unit in the present invention, and FIGS. 7(a) to 7(d) can be observed through the contact lens surface inspection device according to the present invention. As reference pictures illustrating various types of lens defects, the contact lens surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes a
받침대(10)는 본 발명의 콘택트렌즈 표면검사장치를 전체적으로 지지하는 역할을 한다.The
현미경 경통(20)은 하단부가 받침대(10)에 고정된 경통 지지대(11)에 의해 일측이 지지되어 받침대의 상부에 수직하게 설치되며, 피측정대상 렌즈가 내는 빛을 모아 상을 만드는 대물렌즈(21)와 대물렌즈(21)가 만든 실상을 허상으로 만들어 직접 눈으로 보기 쉽게 하는 접안렌즈(22)가 하단부와 상단부에 각각 구비되고, 초점 거리를 변화시키는 줌렌즈(23)가 대물렌즈(21)와 접안렌즈(22) 사이에 설치된다. 여기서 대물렌즈(21)와 접안렌즈(22)는 CCD 카메라(30)로 전달되는 이미지의 크기는 줄이고 해상도는 높이기 위해 각각 0.5 배율의 렌즈로 구성되는 것이 바람직하다. 여기서 대물렌즈(21)와 접안렌즈(22)가 0.5 배율 보다 작은 경우 시야는 넓어질 수 있으나 CCD 카메라로 입력되는 피측정대상 렌즈의 이미지가 너무 작아서 결함을 검출하는데에 어려움이 있을 수 있고, 대물렌즈(21) 또는 접안렌즈(22)의 배율이 0.5 보다 큰 경우 CCD 카메라로 입력되는 피측정대상 렌즈의 이미지가 커서 시야가 좁아지고 어둡게 보이기 때문에 한 모니터 화면으로 피측정대상 렌즈 전체를 관찰하는 것이 불가능할 수 있다.The
CCD 카메라(30)는 현미경 경통(20)의 최상부에 설치되며, 접안렌즈(22)를 통해 관찰되는 이미지를 촬영한다. 여기서 CCD 카메라(30)에 탑재되는 이미지 센서는 접안렌즈(22)를 통해 관찰되는 피측정대상 렌즈가 한 프레임, 즉 하나의 모니터 화면 내에서 고화질 이미지로 관찰 가능하도록 1/1.8 ~ 1 인치 크기의 것으로 탑재되는 것이 바람직하다. 여기서 이미지 센서의 크기가 1/1.8 인치보다 작은 경우 한 프레임에서 관찰되는 피측정대상 렌즈의 이미지가 너무 작아서 결함을 검출하는데에 어려움이 있을 수 있고, 이미지 센서의 크기가 1 인치보다 큰 경우 한 프레임에서 관찰되는 피측정대상 렌즈의 이미지가 너무 커서 하나의 모니터 화면으로 피측정대상 렌즈의 전체를 관찰하는 것이 불가능할 수 있기 때문이다.The
회전 반사경(40)은 현미경 경통(20)의 최하부에 설치되며, 도 4a 및 도 4b에 예시된 바와 같이 경통의 일측에 설치되는 반사경 회전모터(41)에 의해 360도 수평 회전 가능하게 설치되며, 피측정대상 렌즈의 표면에서 좀 더 측면을 볼 것인지 좀 더 윗면을 볼 것인지를 선택할 수 있도록 기울기 조절이 가능하게 설치된다. 특히 하드콘택트렌즈용으로는 45도 반사경을 적용했을 시 최적의 이미지를 관찰할 수 있다.The rotating
회전 재물대(50)는 도 5의 (a) 및 (b)에 예시된 바와 같이 중앙부에 중앙 개구홀(50a)이 형성된 원형 몸체로 이루어지며, 회전 반사경(40) 하측의 받침대(10) 상에 회전 가능하게 설치되고, 피측정대상 렌즈를 올려놓기 위한 렌즈 거치홈(51a)을 구비한 다수 개의 렌즈 홀더(51)가 각각의 홀더 거치대(52)에 의해 지지되어 원형 몸체의 바닥면에서 일정 높이 이격되게 설치된다. 이때 각각의 렌즈 홀더(51)는 렌즈 거치홈(51a)이 원형 몸체의 중앙 개구홀(50a) 상부에 위치되도록 중심을 향하게 배치되고 원형 몸체를 따라 방사상으로 일정간격 이격되게 설치된다.The rotating
측면조명부(60)는 조명지지대(61), LED 광원(62), 및 렌즈(63)로 이루어지며, 회전 재물대(50)의 일측 또는 좌우 양측에 설치되되 하단부가 받침대(10)에 고정된 조명 지지대(61)에 의해 승강 가능하게 지지되어 조명의 높낮이 조절이 가능하게 설치되고, 빛의 난반사 제거를 위해 수직 조명이 아닌, 수평으로 조명을 조사할 수 있도록 렌즈 홀더와 수평하게 설치되되 도 6a의 (가) 및 (나)에 예시된 바와 같이 평행광 또는 확산광을 만들기 위해 LED 광원(62)은 고정하고 전방의 집광렌즈(63)를 앞뒤로 조절할 수 있도록 설치된다. 특히 집광렌즈(63)는 400 ~ 700nm에서 투과율이 가장 높고 20nm 의 초점거리를 가지고 있는 집광렌즈를 사용하는 것이 바람직하다. 이러한 측면조명부(60)는 평행광일 때 시료로 가장 많은 빛을 집속하여 보낼 수 있으며 피측정대상 렌즈에서 불량 판별이 가장 용이하다. 즉 이러한 평행광은 피측정대상 렌즈에 도달하여 피측정대상 렌즈의 불량 부위에서 난반사되어 정상인 렌즈표면과 다르게 빛이 도드라지거나 감소되므로 이를 이용하여 불량의 유무를 판별할 수 있게 하며, 광원의 특정 입사각에 의하여 불량을 더 쉽게 판별할 수 있게 된다.The
또한 이러한 측면조명부(60)는 도 6b에 예시된 바와 같이 조명지지대(61)와 측면조명부(60)를 연결하는 연결부(64)가 힌지 구조로 형성되어 외력에 의해 회전(또는 꺽임) 가능하게 설치되어 빛의 조사 각도를 조절할 수 있게 구성되며, 도 6c에 예시된 바와 같이 빛의 세기나 파장이 각각 다른 빛을 방출하는 다수 개의 측면조명부(60a-60c)로 이루어질 수 있다. 이러한 다수 개의 측면조명부(60a-60c)는 예를 들면 두 개의 측면조명부(60a,60b)는 6500K의 백색 측면광 LED로, 하나의 측면조명부(60c)는 405nm의 측면광 LED로 구현될 수 있을 것이다.In addition, the
하단 조명부(70)는 도 3에 예시된 바와 같이 회전 재물대(50)의 하부 일측에 설치되어 회전 재물대(50)의 하부 일측에서 중앙부를 향하여 수평으로 평행광을 조사하도록 구성된다. 이러한 하단 조명부(70)도 상기 측면조명부(60)와 마찬가지로 평행광 또는 확산광의 선택조사, 높낮이 및 빛의 조사 각도 조절이 가능하게 구성되는 것이 바람직하다.The
전반사 반사경(71)은 도 3에 예시된 바와 같이 회전 재물대(50)의 직하부에 설치되어 하단 조명부(70)에서 중앙을 향하여 수평으로 조사된 빛을 회전 재물대(50) 측으로 전반사시켜 회전 재물대(50)의 중앙 개구홀(50a)을 통해 렌즈 홀더(51)를 향하여 그 하방에서 상부로 빛이 조사되게 한다.The
이상과 같이 구성되는 본 발명의 각 실시 형태에 따른 콘택트렌즈 표면 검사장치의 동작 및 그에 의한 작용 효과를 설명하면 다음과 같다.The operation of the contact lens surface inspection apparatus according to each embodiment of the present invention constituted as described above and the effect of the action are as follows.
본 발명에 의한 콘택트렌즈 표면 검사장치는 루페관찰시 밝은 빛 아래에서 피측정대상렌즈를 회전시켜가면서 관찰하는 것과 현미경관찰시 피측정대상 렌즈의 이미지를 확대시켜 관찰하는 것을 결합하여, 현미경 사용 하에서 피측정대상 렌즈의 전체면 관찰이 가능하고 또한 피측정대상 렌즈를 회전시켜가면서 관찰할 수 있게 하여 3D 현미경을 사용하는 것과 같은 입체적인 관찰이 가능하게 하며, 수평의 평행광을 현미경의 조명으로 사용하면서 동시에 조명의 높낮이 및 각도 조절이 가능하도록 하여 루페 관찰시와 같이 밝은 빛 아래에서 렌즈를 회전시키면서 렌즈의 전체면을 관찰할 수 있도록 하여 렌즈 표면의 난반사 문제를 해결할 수 있게 한다.The contact lens surface inspection apparatus according to the present invention combines observing while rotating the lens to be measured under bright light when observing the loupe and observing by expanding the image of the lens to be measured when observing the microscope, avoiding under microscope use. It is possible to observe the entire surface of the lens to be measured and to observe while rotating the lens to be measured, enabling stereoscopic observation, such as using a 3D microscope, while using horizontal parallel light as illumination of the microscope. It is possible to adjust the height and angle of the light so that the entire surface of the lens can be observed while rotating the lens under bright light, such as when looking at a loupe, so that the problem of diffuse reflection on the lens surface can be solved.
먼저, 현미경 경통(20)의 최상단부에 피측정대상 렌즈의 이미지가 한 프레임, 즉 한 모니터 안에서 관찰될 수 있도록 하기 위해 이미지 센서의 사이즈가 1/1.8 ~ 1 인치의 큰 CCD 카메라(30)를 설치하고, 이러한 현미경 경통(20)의 상단와 하단에 설치되는 대물렌즈(21)와 접안렌즈(22)는 CCD 카메라(30)로 전달되는 이미지의 사이즈를 줄이면서 해상도를 높이기 위해 0.5 배율의 렌즈로 대체하여 설치한다.First, in order to allow the image of the lens to be measured to be observed in one frame, i.e., one monitor, at the top end of the
이와 같이 설치한 현미경 경통(20)은 하단부가 받침대(10)에 고정된 경통 지지대(11)에 의해 일측이 지지되게 하여 받침대(10)의 상부에 수직하게 설치한다.The
그리고 이러한 현미경 경통(20)의 최하단부에 피측정대상 렌즈의 빛의 난반사를 제거하기 위해 회전 반사경(40)을 장착하여, 피측정대상 렌즈에서 반사되는 빛이 현미경 경통(20)의 최하단부에 설치된 회전 반사경을 통해 대물렌즈(21)로 입사되게 하고, 접안렌즈(22)를 통해 CCD 카메라(30)에서 이미지로 관찰될 수 있게 한다.In addition, a rotating
또한 이러한 현미경 경통(20)의 직하부, 즉 현미경 경통(20)의 최하단부에 설치된 회전 반사경(40)의 직하부에는 중앙부에 중앙 개구홀(50a)이 형성된 원형 몸체의 회전 재물대(50)를 회전 가능하게 설치하고, 이러한 회전 재물대(50) 상에 피측정대상 렌즈를 올려놓기 위한 렌즈 거치홈(51a)을 구비한 다수 개의 렌즈 홀더(51)를 홀더 거치대(52)에 의해 각각 지지시켜 원형 몸체의 바닥면에서 일정 높이 이격되게 설치하되 원형 몸체를 따라 방사상으로 일정간격 이격되게 설치한다. 이때 각각의 렌즈 홀더(51)는 렌즈 거치홈(51a)이 원형 몸체의 중앙 개구홀(50a) 상부에 위치되도록 중심을 향하게 배치한다.In addition, the
아울러 회전 재물대(40)의 일측, 또는 좌우 양측에 LED 광원(62)과 집광렌즈(63)로 이루어지는 다수 개의 측면조명부(60; 60a-60c)를 조명 지지대(61)에 의해 승강 가능하게 지지시켜 광원의 높낮이 조절이 가능하게 받침대(10) 상에 설치하되 렌즈 홀더(51)와 수평하게 빛을 조사할 수 있도록 설치한다. 이때 각 측면조명부(60)의 LED 광원(62)은 힌지구조의 연결부(64)에 의해 회전(또는 꺽임) 가능하게 설치하여 빛의 조사 각도를 조절할 수 있게 한다. 또한 각 측면조명부(60)의 LED 광원(62)은 고정하고 전방의 집광렌즈(63)를 앞뒤로 조절할 수 있도록 하여 필요에 따라 평행광 또는 확산광을 만들 수 있도록 한다.In addition, a plurality of side lighting units (60; 60a-60c) made of an
본 발명에서는 특히, 두 개의 측면조명부(60a,60b)의 LED 광원은 6500K의 백색 측면광 LED로, 하나의 측면조명부(60c)의 LED 광원은 405nm의 측면광 LED를 사용하고, 집광렌즈(63)는 400 ~ 700nm에서 투과율이 가장 높고 20nm 의 초점거리를 가지고 있는 집광렌즈를 사용함으로써, 평행광이 조사되어 피측정대상 렌즈의 불량 부위에서 난반사되는 경우 정상인 렌즈표면과 다르게 빛이 도드라지거나 감소될 수 있도록 하고, 이를 이용하여 불량의 유무를 판별할 수 있게 한다. 특히 특정 입사각이 되도록 LED 광원의 조사 각도를 조절하게 되면 불량을 더 쉽게 판별할 수 있게 된다.In the present invention, in particular, the LED light source of the two
또한 회전 재물대(50)의 하부 일측에서 중앙부를 향하여 수평으로 평행광을 조사하도록 하단 조명부(70)를 설치하고, 회전 재물대(50)의 직하부에 전반사 반사경(71)을 설치하여 하단 조명부에서 나온 빛을 전반사 반사경(71)에 의해 회전 재물대(50) 측으로 전반사시켜 회전 재물대(50)의 하부에서 중앙 개구홀(50a)을 통해 렌즈 홀더(51)를 향하여 상부로 빛이 조사되게 한다.In addition, the
이후 회전재물대(50)의 렌즈 홀더(51)에 형성된 렌즈 거치홈(51a)에 피측정대상 렌즈를 올려놓고 측면조명부(60)에서 평행광을 조사하여 현미경 경통(20) 최상부의 CCD 카메라(30)를 통해 피측정대상 렌즈의 이미지를 관찰하게 되면 피측정대상 렌즈의 이미지가 한 프레임에서 관찰 가능하게 되며, 회전 반사경(40)을 필요에 따라 회전시키거나 기울기를 조절하거나 또는 회전 재물대(50)를 필요에 따라 회전시키는 동작을 통해 렌즈 전체면을 회전시키면서 관찰이 가능하게 된다. 이때 회전 반사경(40)의 각도에 따라 피측정대상 렌즈의 이미지를 좀더 측면을 볼 것인지 좀 더 윗면을 볼 것인지를 선택할 수 있게 되며, 특히 하드콘택트렌즈를 관찰하는 경우 55도 반사경을 적용했을 시 최적의 이미지를 관찰할 수 있게 된다.Subsequently, the lens to be measured is placed on the lens holder groove 51a formed in the
도 7a 내지 도 7d는 본 발명에 의한 콘택트렌즈 표면 검사장치의 CCD 카메라를 통해 실제 관찰된 결함들을 예시한 이미지사진들로서, 도 7a는 미세 스크래치 결함(초록색 화살표)과 먼지 및 흰색 반점 결함(빨간색 화살표)이 관찰된 사진이며, 도 7b는 렌즈 세척불량이 관찰된 사진이고, 도 7c는 눌림 현상이 관찰된 사진이며, 도 7d는 링(빨간색 화살표)이 관찰된 사진이다.7A to 7D are image photographs illustrating defects actually observed through a CCD camera of a contact lens surface inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 7A shows fine scratch defects (green arrow) and dust and white spot defects (red arrow) ) Is a photograph observed, FIG. 7B is a photograph in which lens cleaning failure is observed, FIG. 7C is a photograph in which a pressing phenomenon is observed, and FIG. 7D is a photograph in which a ring (red arrow) is observed.
미세 스크래치 결함은 LED 광원이 피측정대상 렌즈와 X,Y 모두 수평일 때 가장 도드라지게 관찰되며 UV 유무와는 관계없이 광량 5W 백색 LED 기준 출력량 60% 이상일 때 잘 관찰된다.Fine scratch defects are observed most prominently when the LED light source is both horizontal and X and Y to be measured, and is well observed when the light output is more than 60% of the standard output of 5W white LED regardless of UV.
먼지 및 흰색 반점 결함은 LED 광원이 피측정대상 렌즈와 수평일 때 가장 도드라지게 관찰되며, 5W 백색 LED 기준 출력량 60% 이상, 3W UV LED 기준 출력량 60%이상인 상태에서 잘 관찰된다.Dust and white spot defects are observed most prominently when the LED light source is horizontal with the lens to be measured, and is well observed in a state in which the standard output power of 5W white LED is greater than 60% and the standard output power of 3W UV LED is greater than 60%.
렌즈 세척불량은 모든 광원 각도에서 관찰 가능하며, 광량 5W 백색 LED 기준 출력량 40% 이상(UV 유무 관계없음)인 상태에서 잘 관찰된다.The lens cleaning defect can be observed from all light source angles, and is well observed in a state where the light output is at least 40% (with or without UV) of a 5W white LED.
눌림 현상은 광원 높이와 각도 조절에 따라 광원이 렌즈보다 10mm 위에 있고 하단으로 -2 ~ -7도일 때 가장 도드라지게 보이며, 광량 5W 백색 LED 기준 출력량 75% 이상, 3W UV LED 기준 출력량 80% 이상인 상태에서 잘 관찰된다.Pressing is the most noticeable when the light source is 10mm above the lens and is -2 to -7 degrees below the lens depending on the height and angle adjustment of the light source, and the light output is more than 75% of the 5W white LED and 80% of the 3W UV LED. It is well observed in.
링(빨간색 화살표)은 3D 현미경에서 3D로 볼 수 있는 회전 반사경을 제거하고 2D로 관찰시 광원이 렌즈와 X,Y 모두 수평일 때 관찰되며, 광량 5W 백색 LED 기준 출력량 90% 이상일 때 잘 관찰된다.The ring (red arrow) removes the rotating reflector that can be viewed in 3D from a 3D microscope and is observed when the light source is horizontal when both the lens and the X and Y are observed in 2D, and is well observed when the light output is more than 90% of the standard output of 5W white LED. .
이상의 본 발명에 의하면, 루페(lupe) 관찰시의 회전 관찰방법과 현미경 관찰시의 확대 관찰방법을 결합하여, 현미경 사용 하에서 렌즈의 전체면 관찰이 가능하도록 렌즈를 회전시켜가면서 관찰할 수 있게 하여 3D 현미경을 사용하는 것과 같은 효과를 얻을 수 있게 하고, 현미경의 조명을 수평으로 사용하고 조명의 높낮이 및 빛의 각도를 조절할 수 있도록 함으로써 루페 관찰시와 같이 밝은 빛 아래에서 렌즈를 회전시키면서 렌즈의 전체면을 관찰할 수 있으며 렌즈 표면의 난반사 문제도 극복할 수 있게 된다.According to the present invention as described above, by combining a rotational observation method when observing a loupe and an enlarged observation method when observing a microscope, it is possible to observe while rotating the lens so that the entire surface of the lens can be observed under microscope use. By achieving the same effect as using a microscope, and by using the microscope's illumination horizontally and adjusting the height and angle of the light, the entire surface of the lens is rotated under bright light, such as when looking at a loupe. And the problem of diffuse reflection on the lens surface can be overcome.
이상에서와 같이 상기에서 설명된 본 발명의 실시 예는 예시로서 본 발명이 속하는 기술 분야의 일반적인 상식에서 다양한 변형이 가능함에 따라 청구범위에 따라 정의되는 범위에 대하여 본 발명의 기술적 보호범위를 볼 수 있다.As described above, the embodiment of the present invention described above is an example, and as various modifications are possible in the common sense of the technical field to which the present invention belongs, the technical protection scope of the present invention can be seen with respect to the range defined according to the claims. have.
10 : 받침대 11 : 경통 지지대 20 : 현미경 경통
21 : 대물렌즈 22 : 접안렌즈 23 : 줌렌즈
30 : CCD 카메라 40 : 회전 반사경 41 : 반사경 회전모터
50 : 회전 재물대 50a : 중앙 개구홀 51 : 렌즈 홀더
51a : 렌즈 거치홈 52 : 홀더 거치대 60,60a-60c : 측면 조명부
61 : 조명지지대 62 : LED 광원 63 : 집광렌즈
64 : 연결부 70 : 하단 조명부 71 : 전반사 반사경DESCRIPTION OF
21: objective lens 22: eyepiece 23: zoom lens
30: CCD camera 40: rotating reflector 41: reflector rotating motor
50: rotating stage 50a: central opening hole 51: lens holder
51a: Lens mounting groove 52:
61: lighting support 62: LED light source 63: condensing lens
64: connecting portion 70: lower lighting portion 71: total reflection
Claims (9)
상기 받침대(10)에 하단부가 고정된 경통 지지대(11)에 의해 일측이 지지되어 지면에 대해 수직하게 설치되며 대물렌즈(21)와 접안렌즈(22)가 하단부와 상단부에 각각 구비되고 초점 거리를 변화시키는 줌렌즈(23)가 상기 대물렌즈(21)와 접안렌즈(22) 사이에 설치되는 현미경 경통(20);
상기 현미경 경통(20)의 최상부에 설치되어 상기 접안렌즈(22)를 통해 관찰되는 이미지를 촬영하고 기록하는 CCD 카메라(30);
상기 현미경 경통(20)의 최하부에 회전 가능하게 설치되며 피측정대상 렌즈의 표면에서 반사되는 빛을 상기 대물렌즈(21)로 반사시켜 피측정대상 렌즈 표면에서의 빛의 난반사를 제거하는 회전 반사경(40);
중앙부에 중앙 개구홀(50a)이 형성된 원형 몸체로서 상기 회전 반사경(40) 하측의 받침대(10) 상에 회전 가능하게 설치되고, 피측정대상 렌즈를 올려놓기 위한 렌즈 거치홈(51a)을 구비한 다수 개의 렌즈 홀더(51)가 각각의 홀더 거치대(52)에 의해 지지되어 원형 몸체의 바닥면에서 일정 높이 이격되게 설치되되 상기 각 렌즈 홀더(51)의 렌즈 거치홈(51a)이 원형 몸체의 중앙 개구홀(50a) 상부에 위치되도록 원형 몸체를 따라 방사상으로 일정간격 이격되게 설치되는 회전 재물대(50); 및,
하단부가 받침대(10)에 고정된 조명 지지대(61)에 의해 승강 가능하게 지지되어 높낮이 조절이 가능한 LED 광원(62)과 LED 광원 전방의 렌즈(63)로 이루어지며, 상기 회전 재물대(50)의 일측 또는 좌우 양측에 설치되되 빛의 난반사 제거를 위해 렌즈 홀더(51)와 수평하게 설치되어 상기 렌즈 홀더(51)를 향하여 그 측방에서 수평으로 조명을 조사하는 측면조명부(60);를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 콘택트렌즈 표면검사장치.Pedestal 10;
One side is supported by the barrel support 11 fixed to the lower end of the pedestal 10 and installed vertically with respect to the ground. An objective lens 21 and an eyepiece 22 are provided at the lower and upper ends, respectively, and the focal length is adjusted. A microscope barrel 20 in which a changing zoom lens 23 is installed between the objective lens 21 and the eyepiece 22;
A CCD camera 30 installed on the top of the microscope barrel 20 to record and record an image observed through the eyepiece 22;
A rotating reflector that is rotatably installed at the bottom of the microscope tube 20 and reflects light reflected from the surface of the lens to be measured to the objective lens 21 to remove diffuse reflection of light on the surface of the lens to be measured ( 40);
As a circular body having a central opening hole (50a) formed in the central portion is rotatably installed on the pedestal (10) under the rotating reflector (40), equipped with a lens mounting groove (51a) for placing the lens to be measured A plurality of lens holders 51 are supported by respective holder holders 52 and installed to be spaced apart from the bottom of the circular body by a certain height, but the lens mounting grooves 51a of each lens holder 51 are centered in the circular body. A rotating stage 50 that is installed at a predetermined interval radially along the circular body so as to be positioned on the opening hole 50a; And,
The lower portion is supported by the lighting support 61 fixed to the pedestal 10, and is made of an LED light source 62 that can be height-adjusted and a lens 63 in front of the LED light source, and of the rotating stage 50 It is installed on one side or both sides and is installed horizontally with a lens holder 51 to remove diffuse reflection of light, and a side lighting unit 60 for horizontally illuminating light from the side toward the lens holder 51. Contact lens surface inspection device characterized in that the.
상기 회전 재물대(50)의 하부 일측에 설치되어 상기 회전 재물대(50)의 하부에서 수평으로 평행광을 조사하는 하단 조명부(70);
상기 회전 재물대(50)의 직하부에 설치되어 상기 하단 조명부(70)에서 조사되는 빛을 상기 회전 재물대(50) 측으로 전반사시켜 중앙 개구홀(50a)을 통해 상기 렌즈 홀더(51)를 향하여 그 하방에서 상부로 빛이 조사되게 하는 전반사 반사경(71);이 더 설치되는 것을 특징으로 하는 콘택트렌즈 표면검사장치.According to claim 1,
A lower illumination unit 70 installed on a lower side of the rotating stage 50 to irradiate parallel light horizontally from the bottom of the rotating stage 50;
It is installed directly under the rotating stage 50 and reflects the light irradiated from the lower illumination portion 70 toward the rotating stage 50, downward toward the lens holder 51 through the central opening hole 50a. The total reflection reflector (71) that allows light to be irradiated from the top; Contact lens surface inspection device characterized in that it is further installed.
상기 접안렌즈(22)를 통해 관찰되는 피측정대상 렌즈의 이미지가 한 프레임 내에서 관찰 가능하도록 1/1.8 ~ 1 인치 크기의 이미지센서가 탑재된 것을 특징으로 콘택트렌즈 표면검사장치.The CCD camera (30) according to any one of claims 1 to 3,
A contact lens surface inspection device, characterized in that an image sensor of 1/1.8 to 1 inch is mounted so that the image of the lens to be measured observed through the eyepiece 22 can be observed within one frame.
상기 CCD 카메라(30)로 전달되는 이미지의 해상도는 높이되 이미지의 크기는 줄일 수 있도록 0.5 배율의 렌즈로 구성되는 것을 특징으로 하는 콘택트렌즈 표면검사장치.According to any one of claims 1 or 2, wherein the objective lens (21) and the eyepiece (22),
The contact lens surface inspection device, characterized in that it is composed of a lens of 0.5 magnification so that the resolution of the image transmitted to the CCD camera 30 is increased, but the size of the image is reduced.
경통의 일측에 설치되는 반사경 회전모터(41)에 의해 360도 수평 회전 가능하게 설치되며, 피측정대상 렌즈 표면의 측면을 볼 것인지 윗면을 볼 것인지에 따라 기울기 조절이 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 콘택트렌즈 표면검사장치.According to any one of claims 1 or 2, wherein the rotating reflector (40),
It is installed to be rotated 360 degrees horizontally by a reflector rotating motor (41) installed on one side of the barrel, and a contact characterized in that it is possible to adjust the tilt depending on whether to view the side or top of the lens surface to be measured Lens surface inspection device.
빛의 세기나 파장이 각각 다른 빛을 방출하는 다수 개의 측면조명부(60a-60c)로 구성되는 것을 특징으로 하는 콘택트렌즈 표면검사장치.The method of claim 1, wherein the side lighting portion 60,
A contact lens surface inspection device, characterized in that it consists of a plurality of side lighting units (60a-60c) that emit light having different light intensities or wavelengths.
평행광 또는 확산광을 만들기 위해 LED 광원(62)은 고정하고 전방의 집광렌즈(63)를 앞뒤로 조절할 수 있도록 설치되는 것을 특징으로 하는 콘택트렌즈 표면검사장치.The method of claim 1, wherein the side lighting portion 60,
The LED light source 62 is fixed to make parallel light or diffused light, and the contact lens surface inspection device characterized in that it is installed so as to be able to adjust the front and rear light collecting lenses 63.
평행광을 조사하도록 설치되는 것을 특징으로 하는 콘택트렌즈 표면검사장치.The method of claim 7, wherein the side lighting portion 60,
Contact lens surface inspection device characterized in that it is installed to irradiate parallel light.
조명 지지대(61)와 LED 광원(62)을 연결하는 연결부(64)가 외력에 의해 회전(또는 꺽임) 가능하게 설치되어 광의 조사 각도를 조절할 수 있게 구성되는 것을 특징으로 하는 콘택트렌즈 표면검사장치.The method of claim 7, wherein the side lighting portion 60,
A contact lens surface inspection device, characterized in that the connecting portion (64) connecting the lighting support (61) and the LED light source (62) is rotatably (or bent) by an external force and is configured to adjust the irradiation angle of light.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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Family
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20220032266A (en) * | 2020-09-07 | 2022-03-15 | (주)에이아이엠 | Lens surface inspection device and method thereof |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010110905A (en) * | 2000-06-09 | 2001-12-15 | 정하철 | Microscope having a lighting optical apparatus |
KR200321786Y1 (en) * | 2003-04-26 | 2003-07-31 | 김용모 | Biological imaging microscope |
KR20040052759A (en) | 2004-04-28 | 2004-06-23 | 정무영 | The inspection apparatus for contact lens |
KR100766394B1 (en) * | 2006-07-25 | 2007-10-12 | 주식회사 브이원텍 | Auto denting test equipment |
KR101732460B1 (en) * | 2016-10-13 | 2017-05-04 | 다래비젼주식회사 | The Inspection Apparatus for Contact Lens |
-
2020
- 2020-06-03 KR KR1020200067322A patent/KR102139317B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010110905A (en) * | 2000-06-09 | 2001-12-15 | 정하철 | Microscope having a lighting optical apparatus |
KR200321786Y1 (en) * | 2003-04-26 | 2003-07-31 | 김용모 | Biological imaging microscope |
KR20040052759A (en) | 2004-04-28 | 2004-06-23 | 정무영 | The inspection apparatus for contact lens |
KR100766394B1 (en) * | 2006-07-25 | 2007-10-12 | 주식회사 브이원텍 | Auto denting test equipment |
KR101732460B1 (en) * | 2016-10-13 | 2017-05-04 | 다래비젼주식회사 | The Inspection Apparatus for Contact Lens |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20220032266A (en) * | 2020-09-07 | 2022-03-15 | (주)에이아이엠 | Lens surface inspection device and method thereof |
KR102420855B1 (en) * | 2020-09-07 | 2022-07-14 | (주)에이아이엠 | Lens surface inspection device and method thereof |
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