KR100766394B1 - Auto denting test equipment - Google Patents

Auto denting test equipment Download PDF

Info

Publication number
KR100766394B1
KR100766394B1 KR1020060069813A KR20060069813A KR100766394B1 KR 100766394 B1 KR100766394 B1 KR 100766394B1 KR 1020060069813 A KR1020060069813 A KR 1020060069813A KR 20060069813 A KR20060069813 A KR 20060069813A KR 100766394 B1 KR100766394 B1 KR 100766394B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inspection
unit
indentation
double
digital
Prior art date
Application number
KR1020060069813A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김선중
Original Assignee
주식회사 브이원텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=39420083&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=KR100766394(B1) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by 주식회사 브이원텍 filed Critical 주식회사 브이원텍
Priority to KR1020060069813A priority Critical patent/KR100766394B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100766394B1 publication Critical patent/KR100766394B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/70Determining position or orientation of objects or cameras
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/063Illuminating optical parts
    • G01N2201/0631Homogeneising elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/10Scanning
    • G01N2201/102Video camera
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30141Printed circuit board [PCB]

Abstract

An automatic indenting inspection device is provided to prevent an image from being changed according to assembling condition of a body tube and to perform an automatic focus control operation easily and accurately at high sped by using a laser. An automatic indenting inspection device comprises a double inspection unit, a digital indenting image generating unit(20), and a laser focus control unit. The double inspection unit is moved by a transfer motor controlled by a program logic control unit to place an inspection object. The digital indenting image generating unit is installed to form a digital indenting image from indent formed on the inspection object, and includes an objective microscope lens(220), a CCD(Charge Coupled Device) camera(230), a DIC(Differential Interference Contrast) filter(240), an illumination unit(260), a polarizing filter(250), and an analyzer filter(270). The objective microscope lens is combined with one side of a single body tube(210), and the CCD camera is combined with the other side. The DIC filter is combined with a side surface of the single body tube, and the illumination unit is formed with an LED(Light Emitting Diode) element and an aluminum protection cover. The polarizing filter and the analyzer filter are combined with the illumination unit. The motor control unit comprises a line CCD receiving unit, a focus control fixing support, a focus control motor, and a motor control unit. The line CCD receiving unit receives laser from a laser emitting unit, and the focus control fixing support is combined with the single body tube. The focus control motor moves the focus control fixing support vertically. The motor control unit controls the operation of the focus control motor.

Description

자동 압흔 검사 장치{AUTO DENTING TEST EQUIPMENT}AUTO DENTING TEST EQUIPMENT}

도 1은 출원번호 10-2005-92804호에 개시된 종래의 압흔 검사 장치를 설명하기 위한 도면,1 is a view for explaining a conventional indentation inspection apparatus disclosed in the application number 10-2005-92804,

도 2는 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치를 설명하기 위한 도면,2 is a view for explaining the automatic indentation inspection device for inspecting the bonding state of the flat panel display device module having a double inspection table of the present invention,

도 3은 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치에 따른 이중 검사대를 설명하기 위한 도면,3 is a view for explaining a double inspection table according to the automatic indentation inspection device for inspecting the bonding state of the flat panel display device module having a double inspection table of the present invention,

도 4는 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치의 이중 검사대를 통한 부품 검사과정을 설명하기 위한 도면,4 is a view for explaining a part inspection process through the double inspection table of the automatic indentation inspection device for bonding state inspection of the flat panel display device module having a double inspection table of the present invention,

도 5는 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치에 따른 단일 경통의 디지털 압흔 이미지 생성부를 설명하기 위한 도면,FIG. 5 is a view for explaining a single barrel digital indentation image generating unit according to an automatic indentation inspection device for bonding state inspection of a flat panel display device module having a double inspection table of the present invention;

도 6은 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치에 따른 조명부를 포함한 편광필터부를 설명하기 위한 도면,6 is a view for explaining a polarization filter unit including an illumination unit according to the automatic indentation inspection device for bonding state inspection of the flat panel display device module having a double inspection table of the present invention,

도 7은 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치에 따른 자동 초점 조절을 설명하기 위한 도면이다.7 is a view for explaining the automatic focus adjustment according to the automatic indentation inspection device for bonding state inspection of the flat panel display device module having a double inspection table of the present invention.

*** 도면의 주요부분에 대한 도면부호의 설명 ****** Explanation of reference numerals for main parts of drawing ***

1 : 검사 대상물 10 : 이중 검사대1: test object 10: double inspection table

20 : 디지털 압흔 이미지 생성부 40 : 메인컨트롤러20: digital indentation image generating unit 40: main controller

60 : 모니터 60: monitor

70 : CIM(Computer-Integrated Manufacturing) 서버70: computer-integrated manufacturing (CIM) server

110 : 제1 검사대 120 : 제2 검사대110: first inspection table 120: second inspection table

210 : 단일 경통 220 : 대물현미경렌즈210: single barrel 220: objective microscope lens

230 : CCD카메라 240 : DIC필터부230: CCD camera 240: DIC filter unit

250 : 편광필터부 252 : 편광필터 조정 레버250 polarization filter unit 252 polarization filter adjustment lever

254 : 집광렌즈 260 : 조명부254 condensing lens 260 lighting unit

262 : 반달 확산판 264 : LED발광소자262: half moon diffusion plate 264: LED light emitting element

266 : 방열판 270 : 애널라이져필터부266: heat sink 270: analyzer filter unit

310 : 레이저발광부 320 : 라인CCD수광부310: laser light emitting unit 320: line CCD light receiving unit

330 : 초점 조절 모터 340 : 초점 조절 고정 지지대330: focusing motor 340: focusing fixed support

410 : 라인컨트롤러 510 : 이송모터410: line controller 510: transfer motor

본 발명은 평판 디스플레이 장치(FPD:Flate Panel Display) 모듈의 접합상태 를 압흔을 이용하여 검사하는 검사장치에 관한 것으로서 특히 이방전도성필름(ACF: Anisotropic Film)의 접착력에 의하여, ACF가 표면에 가부착된 부품을 고온,고압의 부착수단으로 본부착시키는 과정에서 발생된 압흔을 이미지로 추출하여 접합상태를 검사하는 압흔 검사 장치에 관한 것이다. 즉, 평판 디스플레이 장치(FPD:Flate Panel Display)에는 액정표시장치(LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP), 유기ELED) 등의 제품이 포함되며 특히 액정표시장치(LCD)는 TFT/STN/CSTN 등의 다양한 제품군이 존재한다. 이러한 모든 평판 디스플레이 장치의 모듈 생산 공정의 일부인 Tape Automatic Bonding(TAB) 및 Chip On Glass(COG)/Film On Glass(FOG) 공정 이후에 패널과 자재의 접합상태를 압흔 이미지를 통해 확인하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus for inspecting the bonding state of a flat panel display (FPD) module using an indentation, and in particular, the ACF is temporarily attached to the surface by the adhesive force of an anisotropic film (ACF). The present invention relates to an indentation inspection device for inspecting a bonding state by extracting an indentation generated in the process of attaching a part to a high temperature and high pressure attachment means as an image. That is, a flat panel display (FPD) includes products such as a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), and an organic ELD, and in particular, the liquid crystal display (LCD) is a TFT / STN / CSTN. There is a wide range of products. Indentation image of panel and material bonding process after Tape Automatic Bonding (TAB) and Chip On Glass (COG) / Film On Glass (FOG) processes, which are part of the module production process of all these flat panel display devices. will be.

일반적으로 평판 디스플레이 장치의 실장분야에서 LCD패널과 TCP(Tape Carrier Package)의 접합, PCB(Printed Cricuit Board)와 TCP의 접합, 베어칩(Bare Chip)과 LCD패널의 접합, FPCB(Film PCB)와 패널의 접합 등의 공정에서 이들을 전기적으로 접속시키기 위한 방안으로 통상 ACF를 이용한다. Generally, LCD panel and TCP (Tape Carrier Package) bonding, PCB (Printed Cricuit Board) and TCP bonding, bare chip and LCD panel bonding, FPCB (Film PCB) ACF is normally used as a method for electrically connecting these in the process of joining a panel.

ACF는 열에 의하여 경화되는 접착제와 그 안에 미세한 도전볼을 혼합시킨 양면 테이프 형태의 구조를 갖는 것으로 고온의 압력을 가하면 회로패턴의 패드가 맞닿는 부분의 도전볼이 파괴되면서 상기 파괴된 도전볼이 패드간의 통전을 하게 되고, 패드 부분 외의 요철면에 나머지의 접착제가 충진/경화되어 서로 접착되어진다. 이와 같은 ACF가 Tape Automatic Bonding(TAB) 및 Chip On Glass(COG)/Film On Glass(FOG) 공정을 통해 접합 되도록 한 후 이들의 접합상태를 점검하여 접합불량 에 따른 접속불량 불량 유무를 확인한 후 이어지는 다른 여러 가지 공정을 거쳐 정상적인 작동이 이루어지는 제품을 얻을 수 있게 된다.ACF has a double-sided tape structure in which a heat-hardened adhesive and a fine conductive ball are mixed therein. When a high temperature pressure is applied, the conductive ball in the portion where the pad of the circuit pattern contacts is destroyed, and the broken conductive ball is separated between the pads. Electricity is applied, and the remaining adhesive is filled / cured on the uneven surface other than the pad portion and adhered to each other. After the ACF is bonded through Tape Automatic Bonding (TAB) and Chip On Glass (COG) / Film On Glass (FOG) processes, the connection status is checked by checking their bonding status. There are a number of other processes that result in a product with normal operation.

따라서, 완제품의 생산 전에 부품 간의 접속불량을 찾아내야만 제품의 불량률을 낮출 수 있다. 또한 불완전한 접합이 된 경우 화면이 나온다고 하여도 제품의 수명이 짧고, 작은 충격에도 불량 제품이 발생한다.Therefore, the defective rate of the product can be lowered only by finding a connection defect between parts before producing the finished product. In the case of incomplete bonding, even if the screen comes out, the life of the product is short, and even a small impact generates a defective product.

이와 같은 이유로 육안 또는 공구 현미경을 이용한 수검사를 실시하였으나, 수검사의 경우 원활한 검사를 하기 위해서는 많은 인력이 필요하게 됨과 동시에 검사에 상당한 시간이 소요되어 비생산적인 문제점이 있다.For this reason, a visual inspection using a naked eye or a tool microscope was performed. However, in the case of a manual inspection, a lot of manpower is required for a smooth inspection and a considerable amount of time is required for the inspection.

이와 같이 수검사가 많은 인력을 요구하고, 비생산적인 문제점을 해결하기 위하여 ACF의 접착력에 의하여 가부착된 부품 소재를 고온,고압의 수단으로 본부착시키는 과정에서 발생한 압흔의 이미지를 추출하여 검사하는 압흔 검사 장치가 개발되었다. In order to solve the problem of unproductive problem that requires a lot of manpower and inspection, indentation inspection that extracts and inspects the image of indentation generated in the process of attaching the part material temporarily attached by ACF adhesive force by means of high temperature and high pressure. The device was developed.

도 1 출원번호 10-2005-92804호(이하 '종래 검사 장치'라 한다.)에 개시된 종래의 압흔 검사 장치는 압흔의 이미지를 추출하여 접합상태를 검사하는 압흔 검사 장치의 하나로 압흔 이미지를 얻는 광학 이미지 생성부와 상기 광학 이미지 생성부에서 생성된 압흔 이미지를 디지털화시키는 이미지 변환부와 상기 이미지 변환부의 신호를 전송받아 검사 알고리즘을 수행하는 비젼제어부와 상기 비젼제어부의 정렬신호를 받아 이송모터를 구동시켜 검사대로 공급된 검사 대상물을 상기 광학 이미지 생성부로 이동시키는 PLC제어부로 구성된 장치에 있어서, 상기 광학 이미지 생성부가 DIC필터와 조명부가 각각 일측으로 결합된 제1경통의 하부에 대물렌즈가 설치되고, 상기 제1경통의 상부에 제1카메라가 결합된 제2경통이 애널라이져 필터를 갖는 제3경통에 의하여 결합되고, 상기 제2경통의 상부에 시야조정용 렌즈를 갖는 제4경통이 결합되고, 상기 제4경통의 상부에 제2카메라가 결합되는 것을 특징으로 합니다.The conventional indentation inspection apparatus disclosed in Fig. 1 Application No. 10-2005-92804 (hereinafter referred to as 'conventional inspection device') is an optical device that obtains the indentation image as one of the indentation inspection device for extracting the indentation image and inspecting the bonding state The image generating unit and the image converting unit for digitizing the indentation image generated by the optical image generating unit and the vision control unit for performing the inspection algorithm by receiving the signal of the image conversion unit receives the alignment signal of the vision control unit to drive the transfer motor In the apparatus consisting of a PLC control unit for moving the inspection object supplied to the inspection table to the optical image generating unit, the optical image generating unit is provided with an objective lens in the lower portion of the first barrel coupled to each side of the DIC filter, The second barrel having the first camera coupled to the upper part of the first barrel is formed by the third barrel having the analyzer filter. The coupling is characterized in that, the fourth column has a field of view adjusting lens on top of the second column is coupled, in which the second camera is coupled to a top of the fourth column.

그러나, 이와 같은 종래 검사 장치는 일반 현미경에서 이용되는 편광필터, 애널라이져 필터, DIC필터로 구성되어 압흔의 입체감을 만드는 광학계를 다수의 경통(1, 2, 3, 4)을 조합하여 구성함에 따라 경통의 조립상태에 따라 영상이 달라지는 현상이 발생하는 문제점이 있다.However, such a conventional inspection apparatus is composed of a polarizing filter, an analyzer filter, a DIC filter used in a general microscope, and combines a plurality of barrels (1, 2, 3, 4) to create an optical system for creating a three-dimensional impression of indentation. There is a problem that the image is changed depending on the assembly state of the barrel.

또한, 종래 검사 장치는 자동 초점조절을 위하여 검사부 광학계와 동일한 광로를 갖는 제1카메라로 초점 조절용 광학계를 구성하기 때문에 자동 초점조절이 고속으로 정밀하게 이루어지지 못하는 문제점이 있으며, 모든 검사 위치에서 초점 조절을 할 수 없기 때문에 초점이 맞지않아 흐릿한 영상이 생성되는 현상이 발생하며 이는 검사 반복도 및 정확도를 떨어뜨리는 주요한 원인이 된다.In addition, the conventional inspection apparatus has a problem in that the automatic focusing is not made precisely at high speed because the first camera having the same optical path as that of the inspection unit optical system for the automatic focusing adjustment is made precisely, the focus adjustment at all inspection positions Because of this problem, blurring occurs due to out of focus, which is a major cause of poor test repeatability and accuracy.

또한, 종래 검사 장치는 조명의 치우침 현상이 발생하고, 안정성이 떨어지는 문제점이 있다.In addition, the conventional inspection device has a problem that the bias of the illumination occurs, the stability is inferior.

또한, 종래 검사 장치는 조명수단의 발열로 인해 사용자가 화상을 입는 문제점이 있다.In addition, the conventional inspection apparatus has a problem that the user is burned due to the heat of the lighting means.

또한, 종래 검사 장치는 광학계가 검사대의 상부에 위치함에 따라 검사대의 이송간에 발생한 진동에 영향을 받는 문제점이 있다.In addition, the conventional inspection apparatus has a problem that is affected by the vibration generated between the transport of the inspection table as the optical system is located above the inspection table.

또한, 종래 검사 장치는 하나의 검사대로 구성되어 있어, 검사중에는 검사 대상물의 투입 및 취출 동작이 불가능한 문제점이 있다.In addition, the conventional inspection apparatus is composed of a single inspection stand, there is a problem that the input and take-out operation of the inspection object is impossible during the inspection.

또한, 종래 검사 장치는 검사 대상물이 바뀌는 경우, 사용자가 검사 대상물별로 검사대의 위치값을 계산하여 PLC제어부에 입력해야 하는 번거로움으로 인해 검사 대상물의 교체시 많은 시간이 소요되는 문제점이 있다.In addition, the conventional inspection apparatus has a problem in that a large amount of time is required when the inspection object is replaced due to the user's hassle to calculate the position value of the inspection table for each inspection object and input it to the PLC control unit.

이와 같은 종래 검사 장치의 종합적인 문제로 인해 고속화되어 가는 TAB/COG/FOG 부착 장비의 속도를 따라가지 못해 전수 검사를 하지 못하거나 검사 위치를 축소하여 검사하는 것이 현 실정이다. Due to such a comprehensive problem of the conventional inspection device, it is not possible to keep up with the speed of the TAB / COG / FOG attachment equipment that is being accelerated, so that it is not possible to perform a full inspection or to reduce the inspection position.

결국 완전한 사전 검사가 이루어지지 못함으로 인해 불량 자재가 다음 공정으로 전해지고 이로써 공정상 손해를 미칠 뿐 아니라 불량제품의 생산가능성을 높임으로 제품의 안정성을 감소시키는 문제점이 있다.As a result, the defective material is transferred to the next process due to the failure to perform a complete pre-inspection, thereby reducing the stability of the product by increasing the possibility of producing the defective product as well as damaging the process.

즉, 종래 검사 장치는 주변 기술의 발달에 의한 고속 및 정밀의 검사요구를 충족시키지 못하는 문제점이 있다.That is, the conventional inspection apparatus has a problem that does not meet the high-speed and precise inspection requirements by the development of the surrounding technology.

본 발명은 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로, 시간대비 상대적으로 많은 검사 대상물을 처리할 수 있고, 그 정확성 또한 확보되는 압흔 검사 장치를 제공하는 것을 기본 목적으로 하며, 이를 위해 정확한 압흔 이미지 획득, 자동 초점조절의 시간 단축 및 정확도 향상, 안정적인 조명제공, 조명의 발열로 인한 사용자의 화상 예방, 상대적으로 광학계가 장치의 진동에 영향을 덜 받는 구조, 검사중에 검사 대상물의 투입 및 취출 가능 및 검사 대상물에 따라 자동으로 검사대의 위치를 제어할 수 있는 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, and the object of the present invention is to provide an indentation inspection apparatus that can process a large number of inspection objects relative to time, and also ensures accuracy thereof, Accurate indentation image acquisition, shorter time and accuracy of auto focusing, stable lighting, prevention of user's burns due to heat generation of light, relatively structure that optical system is less susceptible to vibration of device, input of inspection object during inspection And it is an object of the present invention to provide a device that can automatically control the position of the inspection table according to the take-out and inspection object.

상기한 바와 같은 발명이 이루고자 하는 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명은 평판 디스플레이 장치(FPD)의 모듈 생산 공정의 일부인 Tape Automatic Bonding(TAB) 및 Chip On Glass(COG)/Film On Glass(FOG) 공정 이후에 패널과 자재의 부착시에 발생한 압흔의 이미지를 획득하여 이를 통해 접합상태를 검사하기 위해 프로그램 로직 제어부(PLC)에 의해 제어되는 이송모터(510)에 의해 이동하는 검사대에 안치된 검사 대상물(1)로부터 디지털 압흔 이미지를 생성하고, 대물현미경렌즈(220), 애널라이져필터부(270) 및 DIC필터부(240)와 조명부(260)가 결합된 편광필터부(250)를 포함하는 디지털 압흔 이미지 생성부를 통해 디지털 압흔 이미지를 생성하여 메인컨트롤러(40)에서 상기 디지털 압흔 이미지에 대한 검사 알고리즘을 수행하는 검사 장치에 있어서,
상기 검사 대상물(1)이 안치되며 프로그램 로직 제어부(PLC)에 의해 제어되는 이송모터(510)에 의해 이동하는 검사대는 디지털 압흔 이미지 생성부 1개당 2개로 이루어진 2중 검사대(10)이고,
상기 2중 검사대(10)에 안치된 검사 대상물(1)에 형성된 압흔으로부터 디지털 압흔 이미지를 생성하는 디지털 압흔 이미지 생성부(20)는
단일 경통(210)으로 일측에는 상기 대물현미경렌즈(220)가 결합되고, 타측에는 CCD카메라(230)가 결합하며, 그 측면에 상기 DIC필터부(240), LED발광소자(264)와 알루미늄 소재의 보호커버를 포함하는 상기 조명부(260)가 결합된 상기 편광필터부(250) 및 상기 애널라이져필터부(270)가 결합하여 구성되며,
레이저를 발사하는 레이저발광부(310)와 상기 레이저를 받는 라인CCD수광부(320);와 상기 단일 경통(210)과 결합하는 초점 조절 고정 지지대(340);와 상기 초점 조절 고정 지지대(340)를 상하로 이동시키는 초점 조절 모터(330);와 상기 초점 조절 모터(330)의 구동을 제어하는 모터 제어부;를 포함하는 레이저 초점 조절부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
The present invention for achieving the technical problem to be achieved by the above-described invention is a Tape Automatic Bonding (TAB) and Chip On Glass (COG) / Film On Glass (FOG) process that is part of the module production process of a flat panel display device (FPD) An inspection object placed on an inspection table moved by a transfer motor 510 controlled by a program logic control unit PLC to acquire an image of the indentation generated when the panel and the material are attached thereafter, and then inspect the bonding state. A digital indentation image is generated from 1) and includes an objective microscope lens 220, an analyzer filter unit 270, and a polarization filter unit 250 in which a DIC filter unit 240 and an illumination unit 260 are combined. In the inspection apparatus for generating a digital indentation image through the image generator to perform the inspection algorithm for the digital indentation image in the main controller 40,
The test bench is placed in the test object 1 and moved by the transfer motor 510 controlled by the program logic controller PLC is a double test bench 10 consisting of two per digital indentation image generating unit,
The digital indentation image generating unit 20 for generating a digital indentation image from the indentation formed on the inspection object 1 placed on the double inspection table 10 is
A single barrel 210 is coupled to the objective microscope lens 220 on one side, CCD camera 230 is coupled to the other side, the DIC filter unit 240, LED light emitting element 264 and aluminum material on the side The polarization filter unit 250 and the analyzer filter unit 270 coupled to the illumination unit 260 including a protective cover of the combination is configured,
A laser light emitting unit 310 for emitting a laser and a line CCD receiving unit 320 receiving the laser; and a focusing fixing support 340 coupled to the single barrel 210; and the focusing fixing support 340 And a laser focus control unit including a focus control motor 330 for moving up and down; and a motor controller for controlling the driving of the focus control motor 330.

삭제delete

삭제delete

단일 경통(210)으로 일측에는 대물현미경렌즈(220)가 결합되고, 타측에는 CCD카메라(230)가 결합하며, 그 측면에 DIC필터부(240), LED발광소자(264)와 알루미늄 소재의 보호커버를 포함하는 조명부(260)가 결합된 편광필터부(250) 및 애널라이져필터부(270)가 결합하여 구성되며, The objective tube lens 220 is coupled to one side with the single barrel 210, and the CCD camera 230 is coupled to the other side, and the DIC filter unit 240, the LED light emitting element 264 and the aluminum material are protected on the side. The polarizing filter unit 250 and the analyzer filter unit 270 coupled to the lighting unit 260 including the cover are configured to be combined,

삭제delete

또한, 상기 2중 검사대(10)는 두 개의 검사대 중 어느 하나의 검사대는 검사를 실행함과 동시에 다른 검사대에서는 검사 대상물(1)을 투입할 수 있는 로더(미도시)와 검사 완료된 검사 대상물(1)을 취출할 수 있는 언로더(미도시)를 장착한 것을 특징으로 한다.In addition, the double inspection table 10 is a loader (not shown) and the completed inspection object (1) that can insert the inspection object (1) at the same time the inspection of any one of the two inspection table and the other inspection table at the same time It is characterized by mounting an unloader (not shown) that can take out).

또한, 상기 편광필터부(250)는 조명을 균일하게 하기 위하여 상기 조명부(260)와 결합되는 부위에 설치되는 집광렌즈(254);를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the polarization filter unit 250 further includes a condenser lens 254 installed at a portion coupled to the illumination unit 260 in order to uniformize the illumination.

또한, 상기 조명부(260)의 알루미늄 소재로 된 보호커버는 알루미늄 소재의 보호커버 내부의 열을 외부로 방출하기 위한 다수의 방열판(266);을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the protective cover made of an aluminum material of the lighting unit 260 may further include a plurality of heat sinks 266 for dissipating heat inside the protective cover of the aluminum material to the outside.

또한, 상기 조명부(260)는 조명의 치우침을 방지하기 위해 LED발광소자(264)의 전단에 설치되는 반달 확산판(262);을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the lighting unit 260 further includes a half moon diffusion plate 262 installed at the front end of the LED light emitting device 264 to prevent the illumination of the illumination.

또한, 상기 메인컨트롤러(40)는 검사 대상물에 따라 프로그램 로직 제어부(PLC)에 의해 위치가 결정되는 2중 검사대의 위치가 결정되도록 검사 대상물에 따른 2중 검사대의 위치정보를 상기 프로그램 로직 제어부(PLC)에 제공하는 라인컨트롤러(410);를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the main controller 40 receives the position information of the double inspection table according to the inspection object so that the position of the double inspection table is determined by the program logic controller PLC according to the inspection object. It is characterized in that it further comprises; a line controller 410 provided to).

또한, 상기 메인컨트롤러(40)는 컴퓨터에 의한 통합 생산 시스템 서버(Computer-Integrated Manufacturing Server, 70)로 실시간 장비의 상태 및 생산 정보를 보고하는 것;을 특징으로 한다.In addition, the main controller 40 is to report the status and production information of the real-time equipment to the computer-integrated manufacturing system server (Computer-Integrated Manufacturing Server, 70);

또한, 상기 디지털 압흔 이미지 생성부(20) 및 레이저 초점 조절부는 상기 2중 검사대(10)의 하부에 위치하여, 상기 2중 검사대(10)에 안치된 검사 대상물(1)의 디지털 압흔 이미지를 상기 2중 검사대(10)의 밑에서 촬영하는 것;을 특징으로 한다.In addition, the digital indentation image generating unit 20 and the laser focus control unit is located under the double inspection table 10, the digital indentation image of the inspection object (1) placed on the double inspection table (10) Taken under the double inspection table 10; characterized in that.

아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다. 또한, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention. In the drawings, parts irrelevant to the description are omitted in order to clearly describe the present invention, and like reference numerals designate like parts throughout the specification. In addition, when a part is said to "include" a certain component, this means that it may further include other components, except to exclude other components unless otherwise stated.

이제 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치에 대하여 도면을 참고로 하여 상세하게 설명하는데 후술하는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치를 사용하는 사용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 발명 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.Now, the automatic indentation inspection device for inspecting the bonding state of the flat panel display device module having a double inspection table according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings, the following terms are defined in consideration of functions in the present invention As such, the terms may vary depending on the intention or custom of a user using the automatic indentation inspection device for inspecting the bonding state of the flat panel display device module having a double inspection table. Therefore, the definition should be made based on the contents throughout the present specification.

본 발명 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치를 상세히 설명하기 위한 도 2는 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치를 설명하기 위한 도면이며, 도 3은 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치에 따른 이중 검사대를 설명하기 위한 도면이며, 도 4는 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치의 이중 검사대를 통한 부품 검사과정을 설명하기 위한 도면이며, 도 5는 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치에 따른 단일 경통의 디지털 압흔 이미지 생성부를 설명하기 위한 도면이며, 도 6은 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치에 따른 조명부를 포함한 편광필터부를 설명하기 위한 도면이며, 도 7은 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상 태 검사용 자동 압흔 검사 장치에 따른 자동 초점 조절을 설명하기 위한 도면이다.2 is a view for explaining the automatic indentation inspection device for inspecting the bonded state of the flat panel display device module of the present invention in detail, the present invention is a view for explaining the automatic indentation inspection apparatus for inspecting the bonded state of the flat panel display device module having a double inspection table, 3 is a view for explaining a double inspection table according to the automatic indentation inspection device for inspecting the bonding state of the flat panel display device module having a double inspection table of the present invention, Figure 4 is a bonding state inspection of the flat panel display device module having a double inspection table of the present invention FIG. 5 is a view illustrating a part inspection process through a double inspection table of an automatic indentation inspection device, and FIG. 5 is a digital indentation image generation of a single barrel according to an automatic indentation inspection device for bonding state inspection of a flat panel display device module having a double inspection table according to the present invention. 6 is a view for explaining a portion of the present invention, 7 is a view illustrating a polarization filter unit including an illumination unit according to an automatic indentation inspection apparatus for inspecting a bonding state of a flat panel display device module having an inspection table, and FIG. 7 is an automatic inspection for bonding state inspection of a flat panel display device module having a double inspection table of the present invention. It is a figure for demonstrating auto focus adjustment by an indentation test apparatus.

이하 상기한 도면을 참조하여 본 발명 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치를 상세히 설명한다.Hereinafter, the automatic indentation inspection apparatus for inspecting the bonding state of the flat panel display device module of the present invention will be described in detail.

상기 도 2에 도시한 바와 같이 본 발명 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치는 2중 검사대(10), 디지털 압흔 이미지 생성부(20), 레이저 초점 조절부, 메인컨트롤러(40), 모니터(60) 등으로 구성된다.As shown in FIG. 2, the automatic indentation inspection apparatus for inspecting the bonded state of the flat panel display device module according to the present invention includes a double inspection table 10, a digital indentation image generator 20, a laser focus controller, and a main controller 40. , The monitor 60 and the like.

상기 2중 검사대(10)는 프로그램 로직 제어부(PLC)에 의해 구동이 제어되는 이송모터(510)에 의해 개별적으로 구동된다. The double inspection table 10 is individually driven by a transfer motor 510 whose driving is controlled by a program logic controller PLC.

즉 상기 도 3의 (a)에 도시한 바와 같이 상기 2중 검사대(10)는 제1 검사대(110)와 제2 검사대(120)로 이루어지고, 상기 프로그램 로직 제어부에 의해 구동되는 이송모터(510)는 X축 리니어 모터(510-1)와 제1 검사대(110) Y축 리니어 모터(510-2) 및 제2 검사대(120) Y축 리니어 모터(510-3)로 이루어진다.That is, as shown in (a) of FIG. 3, the double inspection table 10 includes a first inspection table 110 and a second inspection table 120, and a transfer motor 510 driven by the program logic controller. ) Is composed of the X-axis linear motor 510-1, the first inspection table 110, the Y-axis linear motor 510-2, and the second inspection table 120, the Y-axis linear motor 510-3.

또한 2중 검사대(10)의 공급/취출1 위치(P1) 및 공급/취출2 위치(P2)에 검사 대상물(1)을 투입해 줄 수 있는 로더와 이를 공급/취출1 위치(P1) 및공급/취출2 위치(P2)에서 취출시킬 수 있는 언로더로 이루어지고, 이 로더와 언로더는 하나의 X축 리니어 모터에 장착된다.In addition, the loader that can inject the inspection object (1) into the supply / takeout 1 position (P1) and the supply / takeout 2 position (P2) of the double inspection table 10 and the supply / takeout 1 position (P1) and supply It consists of an unloader which can be ejected at the position of ejection / distraction 2 (P2), and this loader and unloader are mounted on one X-axis linear motor.

따라서 2중 검사대(10)의 각각의 검사대는 도 3의 (b)에 도시한 바와 같이 공급/취출1 위치(P1), 검사 위치(P2) 및 공급/취출2 위치(P2)를 이동하게 된다.Therefore, each inspection stand of the double inspection table 10 moves the supply / takeout 1 position P1, the inspection position P2, and the supply / takeout 2 position P2 as shown in FIG. .

이와 같이 각각의 검사대가 개별적으로 공급/취출/검사 위치에 따라 구동됨으로 상기 도 4에 도시한 바와 같이 검사 대상물의 검사 중에도 공급 및 취출이 가능하여 결국 전체 검사시간을 단축한다.As described above, each inspection stand is individually driven according to the supply / takeout / inspection position, so that supply and take-out is possible even during inspection of the inspection object as shown in FIG. 4, thereby shortening the entire inspection time.

또한, 상기 디지털 압흔 이미지 생성부(20)는 상기 도 3의 (b)에 도시한 바와 같이 2중 검사대의 하측에 설치되어 이송모터(510)의 구동에 의한 진동의 영향을 덜 받도록 설계하는 것이 바람직하다. In addition, the digital indentation image generating unit 20 is installed in the lower side of the double inspection table as shown in (b) of Figure 3 is designed to be less affected by the vibration caused by the drive of the transfer motor 510. desirable.

이때, 상기 2중 검사대(10)의 각각의 검사대(110, 120)는 상기 검사 대상물(1)이 안치될 수 있는 통상의 구조를 갖는다.At this time, each of the inspection table (110, 120) of the double inspection table 10 has a conventional structure in which the inspection object (1) can be placed.

상기 2중 검사대(10)에 안치된 검사 대상물(1)에 형성된 압흔으로부터 디지털 압흔 이미지를 생성하는 디지털 압흔 이미지 생성부(20)는 상기 도 5에 도시한 바와 같이 단일 경통(210)으로 일측에는 대물현미경렌즈(220)가 결합되고, 타측에는 CCD카메라(230)가 결합하며, 그 측면에 DIC필터부(240), LED발광소자(264)와 알루미늄 소재의 보호커버를 포함하는 조명부(260)가 결합된 편광필터부(250) 및 애널라이져필터부(270)가 결합하여 구성된다.The digital indentation image generating unit 20 for generating a digital indentation image from the indentation formed on the inspection object 1 placed on the double inspection table 10 is a single barrel 210 as shown in FIG. 5. Objective microscope lens 220 is coupled, the CCD camera 230 is coupled to the other side, the lighting unit 260 including a DIC filter unit 240, LED light emitting element 264 and a protective cover of aluminum material on the side The combined polarization filter unit 250 and the analyzer filter unit 270 are configured to combine.

따라서, 본 발명에 따른 디지털 압흔 이미지 생성부(20)는 압흔의 입체감이 있는 이미지를 생성하는 DIC필터부(240), 편광필터부(250) 및 애널라이져필터부(270)를 하나의 단일 경통(210)으로 구성함으로써 종래 검사 장치와 같이 다수의 경통이 조립되어 구성됨으로 인해 경통간의 조립상태에 불량에 따른 불량 이미지의 생성을 원천적으로 제거할 수 있다.
또한 종래 검사 장치의 조명의 치우침으로 인한 불량 이미지의 생성을 방지하기 위해 상기 도 6에 도시한 바와 같이 조명부(260)의 LED발광소자(264)의 전단에 위치조정을 통해 조명의 치우침 보정이 가능한 반달 확산판(262)을 더 포함한다. 이로써 종래 검사 장치의 조명이 어느 한쪽으로 치우침으로 인해 불량 이미지가 발생하는 것을 방지함과 동시에 보다 정확한 디지털 압흔 이미지를 생성할 수 있는 환경을 제공한다.
Therefore, the digital indentation image generating unit 20 according to the present invention is a single barrel of the DIC filter unit 240, the polarization filter unit 250 and the analyzer filter unit 270 for generating a three-dimensional image of the indentation By constructing 210, a plurality of barrels may be assembled as in the conventional inspection apparatus, and thus generation of a defective image due to a defect in the assembly state between the barrels may be eliminated at the source.
In addition, in order to prevent the generation of a bad image due to the bias of the illumination of the conventional inspection device, as shown in FIG. 6, the bias of the illumination can be corrected by adjusting the position in front of the LED light emitting element 264 of the lighting unit 260. The half moon diffusion plate 262 is further included. This prevents the occurrence of a bad image due to the bias of the illumination of the conventional inspection device, and at the same time provides a more accurate digital indentation image.

삭제delete

또한, 상기 도 6에 도시한 바와 같이 안정적인 조명을 위해 편광필터 조정 레버(252)가 부착된 상기 편광필터부(250)에 집광렌즈(254)를 부가한다. 상기 집광렌즈(254)는 조명부(260)로부터 제공되는 조명을 편광필터부(250)로 안정적으로 제공하는 역할을 한다.In addition, as shown in FIG. 6, a condenser lens 254 is added to the polarization filter unit 250 to which the polarization filter adjustment lever 252 is attached for stable illumination. The condenser lens 254 serves to stably provide the illumination provided from the illumination unit 260 to the polarization filter unit 250.

또한, 상기 도 6에 도시한 바와 같이 조명부(260)는 그 외관을 형성하는 커버를 열전도율이 높은 알루미늄 소재를 이용하여 내부 LED발광소자(264)의 발열로 인한 조명부(260)의 과열을 방지함은 물론 방열면적의 확대로 커버 내부의 열을 조속히 공중으로 방출하기 위한 다수의 방열판(266)을 더 포함한다.In addition, as shown in FIG. 6, the lighting unit 260 prevents overheating of the lighting unit 260 due to heat generation of the internal LED light emitting device 264 using an aluminum material having a high thermal conductivity as a cover forming the exterior. Of course, further includes a plurality of heat sinks 266 for dissipating heat in the cover as soon as possible by expanding the heat dissipation area.

상기 CCD카메라는 통상의 전자현미경에 사용되는 디지털카메라로 압흔 광학이미지를 디지털 압흔 이미지로 변환시킨다. 이렇게 디지털신호로 변환된 디지털 압흔 이미지는 상기 메인컨트롤러(40)로 전달되고 검사 알고리즘 수행의 기초 정보가 된다.The CCD camera is a digital camera used in a conventional electron microscope and converts an indentation optical image into a digital indentation image. The digital indentation image converted into the digital signal is transmitted to the main controller 40 and becomes basic information for performing the inspection algorithm.

상기 레이저 초점 조절부는 상기 도 7에 도시한 바와 같이 레이저를 발사하는 레이저발광부(310)와 상기 레이저를 받는 라인CCD수광부(320)와 상기 단일 경통(210)과 결합하는 초점 조절 고정 지지대(340)와 상기 초점 조절 고정 지지대(340)를 상하로 이동시키는 초점 조절 모터(330)와 상기 초점 조절 모터(330)의 구동을 제어하는 모터 제어부로 구성된다.As shown in FIG. 7, the laser focus control unit is configured to combine a laser light emitting unit 310 for emitting a laser, a line CCD receiving unit 320 receiving the laser, and the single barrel 210. ) And a focus control motor 330 for moving the focus adjustment fixed support 340 up and down, and a motor controller for controlling the driving of the focus adjustment motor 330.

상기 대물현미경렌즈(220)의 초점 심도는 0.01mm 이하이며, 최적의 압흔 형상을 취득하기 위하여 0.005mm 이하의 고정밀 초점 조절이 이루어져야 한다.The depth of focus of the objective microscope lens 220 is 0.01 mm or less, and high precision focus adjustment of 0.005 mm or less should be made to obtain an optimal indentation shape.

따라서, 본 발명은 고정밀의 초점 조절을 위해 레이저를 이용한다. 즉, 상기 레이저발광부(310)에서 발사된 레이저를 상기 라인CCD수광부(320)를 통해 수신하고, 수신된 정보를 메인컨트롤러(40)에 제공하면, 상기 메인컨트롤러(40)는 수신된 정보에 따라 디지털 압흔 이미지 생성부(20)의 수직 위치를 수정하기 위한 신호를 모터제어부에 제공하고, 이를 제공받은 모터제어부는 상기 초점 조절 모터(330)를 구동하고, 상기 초점 조절 모터(330)에 의해 수직운동을 하는 초점 조절 고정 지지대(340)는 그 수직 위치가 변경되고, 이에 결합된 디지털 압흔 이미지 생성부(20) 역시 수직 위치가 수정되어 최적의 초점을 자동으로 맞춘다.Therefore, the present invention uses a laser for high-precision focusing. That is, when the laser emitted from the laser light emitting unit 310 is received through the line CCD light receiving unit 320, and the received information is provided to the main controller 40, the main controller 40 is connected to the received information. Accordingly, a signal for correcting the vertical position of the digital indentation image generator 20 is provided to the motor controller, and the motor controller, which receives the same, drives the focus control motor 330 and is driven by the focus control motor 330. The vertical adjustment of the focus adjustment fixing support 340 is a vertical movement, the digital indentation image generation unit 20 is also coupled to the vertical position is modified to adjust the optimal focus automatically.

상기 메인컨트롤러(40)는 상기 디지털 압흔 이미지 생성부(20)를 통해 생성된 디지털 압흔 이미지를 상기 CCD카메라(230)로부터 수신하여 디지털 압흔 이미지에 대한 검사 알고리즘을 수행하며, 압흔 검사를 다양한 구성요소의 제어를 수행하며, 결과 이미지, 검사 상태 및 인터페이스화면 등을 모니터(70)를 통해 출력한다.The main controller 40 receives the digital indentation image generated by the digital indentation image generating unit 20 from the CCD camera 230 to perform an inspection algorithm for the digital indentation image, and performs indentation inspection for various components. Control is performed, and the resultant image, the inspection state, and the interface screen are output through the monitor 70.

본 발명에 따른 메인컨트롤러(40)는 종래 검사 장치의 비젼제어부와는 달리 검사 대상물(1)에 따라 프로그램 로직 제어부(PLC)에 의해 위치가 결정되는 2중 검사대(10)의 위치가 결정되도록 검사 대상물(1)에 따른 2중 검사대의 위치정보를 상기 프로그램 로직 제어부(PLC)에 제공하는 라인컨트롤러(410)를 더 포함한다.Unlike the vision control unit of the conventional inspection apparatus, the main controller 40 according to the present invention inspects the position of the double inspection table 10 whose position is determined by the program logic controller PLC according to the inspection object 1. The apparatus may further include a line controller 410 for providing the program logic controller PLC with position information of the double inspection table according to the object 1.

즉, 종래 검사 장치는 검사 대상물(1)이 변경된 경우 검사대의 위치를 계산하여 이를 입력해야하므로 검사 대상물의 변경에 따른 검사 장치의 준비시간이 상대적으로 긴 시간이 소요되나, 본 발명에 따른 메인컨트롤러(40)는 상기 라인컨트롤러(410)를 더 포함하여 변경된 검사 대상물의 정보만 입력되면, 변경된 검사 대상물을 검사하기 위한 검사대의 위치를 자동으로 계산하고, 계산된 정보를 상기 프로그램 로직 제어부에 제공하여 검사대의 이송 위치를 제어한다.That is, in the conventional inspection apparatus, when the inspection object 1 is changed, the position of the inspection table must be calculated and inputted, so that the preparation time of the inspection apparatus according to the change of the inspection object takes a relatively long time, but the main controller according to the present invention. The line controller 410 further includes the line controller 410, when only the information of the changed inspection object is input, automatically calculates the position of the inspection table for inspecting the changed inspection object, and provides the calculated information to the program logic controller. Control the transfer position of the inspection table.

또한, 상기 메인컨트롤러(40)는 컴퓨터에 의한 통합 생산 시스템 서버(Computer-Integrated Manufacturing Server, 70)로 실시간 장비의 상태 및 생산 정보를 보고하는 것을 특징으로 한다.In addition, the main controller 40 is characterized by reporting the status and production information of the real-time equipment to a computer-integrated manufacturing server (Computer-Integrated Manufacturing Server, 70).

상기한 바와 같은 구성을 갖는 본 발명 이중 검사대를 갖는 평판 디스플레이 장치 모듈의 접합상태 검사용 자동 압흔 검사 장치는 편광필터, 애널라이져 필터, DIC필터로 하나의 단일 경통에 결합하여 구성함에 따라 종래 다수의 경통으로 된 경우의 경통간의 조립상태에 따라 영상이 달라지는 현상을 방지하는 효과가 있다.The automatic indentation inspection device for the bonding state inspection of the flat panel display device module having a double inspection table of the present invention having the configuration as described above is composed of a polarizing filter, an analyzer filter, a DIC filter coupled to one single barrel, There is an effect of preventing the image from changing depending on the state of assembly between the barrel in the case of the barrel.

또한, 레이저를 이용하여 초점 조절을 하여 자동 초점조절이 고속으로 정밀하게 이루어지는 효과가 있다.In addition, there is an effect that the automatic focusing is made precisely at high speed by adjusting the focus using a laser.

또한, 반달확산판을 이용하여 조명의 치우침을 개선하고, 집광렌즈를 통해 안정적인 조명을 제공하여 고품질의 디지털 압흔 이미지를 획득할 수 있는 효과가 있다.In addition, by using a half-diffusion plate to improve the blurring of the light, and provide a stable light through the condensing lens has the effect of obtaining a high quality digital indentation image.

또한, 알루미늄 소재의 조명부의 커버와 방열판으로 조명부의 과열로 인한 사용자가 화상을 입는 것을 방지하고 조명부의 수명을 연장시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, there is an effect that can prevent the user from being burned by the overheating of the lighting unit by the cover and the heat sink of the aluminum material and to extend the life of the lighting unit.

또한, 디지털 압흔 이미지 생성부를 검사대의 하측에 설치되는 구조를 함으로써 검사대의 이송 간에 발생한 진동에 따른 영향을 상대적으로 덜 받는 효과가 있다.In addition, since the digital indentation image generating unit is installed below the inspection table, the digital indentation image generating unit is relatively less affected by the vibration generated between the inspection tables.

또한, 검사대를 2중으로 하여 검사중에도 검사 대상물의 투입 및 취출 동작이 가능한 효과가 있다.In addition, there is an effect that the input and take-out operation of the inspection object can be performed even during the inspection by making the inspection table double.

또한, 라인컨트롤러를 통해 검사 대상물별로 검사대의 위치값을 계산하여 PLC에 제공하여 검사 대상물의 교체시 검사 장치의 준비시간이 단축되는 효과가 있다.In addition, by calculating the position value of the inspection table for each inspection object through the line controller to provide to the PLC, the preparation time of the inspection device is reduced when the inspection object is replaced.

이와 같은 본 발명의 구체적인 효과는 결국 전수 검사가 가능한 검사 속도를 제공하여 검사 대상물에 대한 정밀한 검사가 가능하도록 하고, 이는 완전한 사전 검사가 이루어지지 못함으로 인해 불량 자재가 다음 공정으로 전해지고 이로써 공정상 손해를 미칠 뿐 아니라 불량제품의 생산가능성을 높임으로 제품의 안정성을 감소시키는 문제점을 해결하는 효과가 있다.Such a specific effect of the present invention provides an inspection speed capable of full inspection, thereby enabling precise inspection of the inspection object, which causes defective materials to be transferred to the next process due to the lack of complete pre-inspection, thereby resulting in process damages. In addition to increasing the likelihood of producing defective products has the effect of solving the problem of reducing the stability of the product.

Claims (8)

평판 디스플레이 장치(FPD)의 모듈 생산 공정의 일부인 Tape Automatic Bonding(TAB) 및 Chip On Glass(COG)/Film On Glass(FOG) 공정 이후에 패널과 자재의 부착시에 발생한 압흔의 이미지를 획득하여 이를 통해 접합상태를 검사하기 위해 프로그램 로직 제어부(PLC)에 의해 제어되는 이송모터(510)에 의해 이동하는 검사대에 안치된 검사 대상물(1)로부터 디지털 압흔 이미지를 생성하는 디지털 압흔 이미지 생성부를 통해 디지털 압흔 이미지를 생성하여 메인컨트롤러(40)에서 상기 디지털 압흔 이미지에 대한 검사 알고리즘을 수행하는 검사 장치에 있어서,After the tape automatic bonding (TAB) and chip on glass (COG) / film on glass (FOG) processes, which are part of the module production process of the flat panel display device (FPD), the image of the indentation generated during the attachment of the panel and the material is obtained and Digital indentation through a digital indentation image generating unit for generating a digital indentation image from the inspection object (1) placed on the inspection table moved by the transfer motor 510 controlled by the program logic controller (PLC) to inspect the bonded state through In the inspection apparatus for generating an image to perform the inspection algorithm for the digital indentation image in the main controller 40, 상기 검사 대상물(1)이 안치되며 프로그램 로직 제어부(PLC)에 의해 제어되는 이송모터(510)에 의해 이동하는 검사대는 디지털 압흔 이미지 생성부 1개당 2개로 이루어진 2중 검사대(10)이고,The test bench is placed in the test object 1 and moved by the transfer motor 510 controlled by the program logic controller PLC is a double test bench 10 consisting of two per digital indentation image generating unit, 상기 2중 검사대(10)에 안치된 검사 대상물(1)에 형성된 압흔으로부터 디지털 압흔 이미지를 생성하는 디지털 압흔 이미지 생성부(20)는 The digital indentation image generating unit 20 for generating a digital indentation image from the indentation formed on the inspection object 1 placed on the double inspection table 10 is 단일 경통(210)으로 일측에는 대물현미경렌즈(220)가 결합되고, 타측에는 CCD카메라(230)가 결합하며, 그 측면에 DIC필터부(240), LED발광소자(264)와 알루미늄 소재의 보호커버를 포함하는 조명부(260)가 결합된 편광필터부(250) 및 애널라이져필터부(270)가 결합하여 구성되며, The objective tube lens 220 is coupled to one side with the single barrel 210, and the CCD camera 230 is coupled to the other side, and the DIC filter unit 240, the LED light emitting element 264 and the aluminum material are protected on the side. The polarizing filter unit 250 and the analyzer filter unit 270 coupled to the lighting unit 260 including the cover are configured to be combined, 레이저를 발사하는 레이저발광부(310)와 상기 레이저를 받는 라인CCD수광부(320);와 상기 단일 경통(210)과 결합하는 초점 조절 고정 지지대(340);와 상기 초점 조절 고정 지지대(340)를 상하로 이동시키는 초점 조절 모터(330);와 상기 초점 조절 모터(330)의 구동을 제어하는 모터 제어부;를 포함하는 레이저 초점 조절부를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 압흔 검사 장치.A laser light emitting unit 310 for emitting a laser and a line CCD receiving unit 320 receiving the laser; and a focusing fixing support 340 coupled to the single barrel 210; and the focusing fixing support 340 And a laser focus control unit including a focus control motor 330 for moving up and down; and a motor controller for controlling the driving of the focus control motor 330. 제1항에 있어서, 상기 2중 검사대(10)는The method of claim 1, wherein the double inspection table 10 두 개의 검사대 중 어느 하나의 검사대는 검사를 실행함과 동시에 다른 검사대에서는 검사 대상물(1)을 투입할 수 있는 로더와 검사 완료된 검사 대상물(1)을 취출할 수 있는 언로더를 장착한 것을 특징으로 하는 자동 압흔 검사 장치.At any one of the two inspection stands, the inspection stand is equipped with a loader capable of injecting the inspection object (1) and an unloader for taking out the inspected inspection object (1) at the other inspection station. Automatic indentation inspection device. 제1항에 있어서, 상기 편광필터부(250)는The method of claim 1, wherein the polarization filter 250 조명을 균일하게 하기 위하여 상기 조명부(260)와 결합되는 부위에 설치되는 집광렌즈(254);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 압흔 검사 장치.Automatic indentation inspection device further comprises a; condensing lens (254) is installed in a portion coupled with the illumination unit (260) in order to uniformize the illumination. 제1항에 있어서, 상기 조명부(260)의 알루미늄 소재로 된 보호커버는According to claim 1, wherein the protective cover made of aluminum of the lighting unit 260 is 알루미늄 소재의 보호커버 내부의 열을 외부로 방출하기 위한 다수의 방열판(266);을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 압흔 검사 장치.And a plurality of heat sinks 266 for dissipating heat inside the protective cover of aluminum to the outside. 제1항에 있어서, 상기 조명부(260)는 The method of claim 1, wherein the lighting unit 260 is 조명의 치우침을 방지하기 위해 LED발광소자(264)의 전단에 설치되는 반달 확산판(262);을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 압흔 검사 장치.An automatic indentation inspection device further comprising; a half moon diffuser plate 262 installed at the front end of the LED light emitting element 264 to prevent the illumination of the illumination. 제1항에 있어서, 상기 메인컨트롤러(40)는The method of claim 1, wherein the main controller 40 검사 대상물에 따라 프로그램 로직 제어부(PLC)에 의해 위치가 결정되는 2중 검사대의 위치가 결정되도록 검사 대상물에 따른 2중 검사대의 위치정보를 상기 프로그램 로직 제어부(PLC)에 제공하는 라인컨트롤러(410);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 압흔 검사 장치.The line controller 410 provides the program logic controller PLC with position information of the double inspection table according to the inspection object so that the position of the double inspection table whose position is determined by the program logic controller PLC is determined according to the inspection object. Automatic indentation inspection device comprising a. 제1항에 있어서, 상기 메인컨트롤러(40)는The method of claim 1, wherein the main controller 40 컴퓨터에 의한 통합 생산 시스템 서버(Computer-Integrated Manufacturing Server, 70)로 실시간 장비의 상태 및 생산 정보를 보고하는 것;을 특징으로 하는 자동 압흔 검사 장치.Automatic indentation inspection device, characterized by reporting the status and production information of the real-time equipment to a computer-integrated manufacturing server (70). 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 1 to 7, 상기 디지털 압흔 이미지 생성부(20) 및 레이저 초점 조절부는 상기 2중 검사대(10)의 하부에 위치하여, 상기 2중 검사대(10)에 안치된 검사 대상물(1)의 디지털 압흔 이미지를 상기 2중 검사대(10)의 밑에서 촬영하는 것;을 특징으로 하는 자동 압흔 검사 장치.The digital indentation image generating unit 20 and the laser focus adjusting unit are positioned under the double inspection table 10 to double-induce the digital indentation image of the inspection object 1 placed on the double inspection table 10. Automatic indentation inspection device, characterized in that shooting under the inspection table (10).
KR1020060069813A 2006-07-25 2006-07-25 Auto denting test equipment KR100766394B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060069813A KR100766394B1 (en) 2006-07-25 2006-07-25 Auto denting test equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060069813A KR100766394B1 (en) 2006-07-25 2006-07-25 Auto denting test equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100766394B1 true KR100766394B1 (en) 2007-10-12

Family

ID=39420083

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060069813A KR100766394B1 (en) 2006-07-25 2006-07-25 Auto denting test equipment

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100766394B1 (en)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101091688B1 (en) * 2010-01-28 2011-12-08 윈텍 주식회사 Denting inspecting apparatus
KR101342117B1 (en) * 2012-11-08 2013-12-18 (주)바론시스템 Apparatus and method for inspecting trace
CN104965320A (en) * 2015-05-12 2015-10-07 深圳市鑫三力自动化设备有限公司 Indentation acquisition device, particle detection system used for liquid crystal module, and detection method thereof
KR20160002151A (en) 2014-06-30 2016-01-07 주식회사 티오스 Denting Inspecting Apparatus and Method thereof
KR20160003608A (en) 2015-12-21 2016-01-11 주식회사 브이원텍 Chip on glass bonding inspection apparatus
KR20180054416A (en) * 2016-11-14 2018-05-24 주식회사 인스풀 Optical inspecting apparatus
KR101884196B1 (en) 2017-05-16 2018-08-01 주식회사 제이스텍 Method of inspecting denting trace of anisotropic film
KR20200032898A (en) 2018-09-19 2020-03-27 주식회사 제이스텍 Apparatus of inspecting denting trace of anisotropic film using line scan camera
KR20200032897A (en) 2018-09-19 2020-03-27 주식회사 제이스텍 Method of color marking of indentation test for attaching of anisotropic film
KR102139317B1 (en) * 2020-06-03 2020-07-30 주식회사 리암솔루션 Device for inspecting the surface of contact lenses

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05273139A (en) * 1991-09-10 1993-10-22 Photon Dynamics Inc Method for inspecting liquid crystal display board
JPH06174650A (en) * 1992-12-01 1994-06-24 Sony Corp Inspection apparatus of external appearance of display panel
JPH06242410A (en) * 1993-02-17 1994-09-02 Nec Corp Lcd display body inspecting device
JP2003194669A (en) 2001-12-27 2003-07-09 Seiko Epson Corp Inspection method and inspection device for liquid crystal device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05273139A (en) * 1991-09-10 1993-10-22 Photon Dynamics Inc Method for inspecting liquid crystal display board
JPH06174650A (en) * 1992-12-01 1994-06-24 Sony Corp Inspection apparatus of external appearance of display panel
JPH06242410A (en) * 1993-02-17 1994-09-02 Nec Corp Lcd display body inspecting device
JP2003194669A (en) 2001-12-27 2003-07-09 Seiko Epson Corp Inspection method and inspection device for liquid crystal device

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101091688B1 (en) * 2010-01-28 2011-12-08 윈텍 주식회사 Denting inspecting apparatus
KR101342117B1 (en) * 2012-11-08 2013-12-18 (주)바론시스템 Apparatus and method for inspecting trace
KR20160002151A (en) 2014-06-30 2016-01-07 주식회사 티오스 Denting Inspecting Apparatus and Method thereof
CN104965320A (en) * 2015-05-12 2015-10-07 深圳市鑫三力自动化设备有限公司 Indentation acquisition device, particle detection system used for liquid crystal module, and detection method thereof
CN104965320B (en) * 2015-05-12 2018-07-20 深圳市鑫三力自动化设备有限公司 Impression harvester, liquid crystal module particle detection systems and its detection method
KR20160003608A (en) 2015-12-21 2016-01-11 주식회사 브이원텍 Chip on glass bonding inspection apparatus
KR20180054416A (en) * 2016-11-14 2018-05-24 주식회사 인스풀 Optical inspecting apparatus
KR101917131B1 (en) * 2016-11-14 2019-01-24 주식회사 인스풀 Optical inspecting apparatus
KR101884196B1 (en) 2017-05-16 2018-08-01 주식회사 제이스텍 Method of inspecting denting trace of anisotropic film
KR20200032898A (en) 2018-09-19 2020-03-27 주식회사 제이스텍 Apparatus of inspecting denting trace of anisotropic film using line scan camera
KR20200032897A (en) 2018-09-19 2020-03-27 주식회사 제이스텍 Method of color marking of indentation test for attaching of anisotropic film
KR102139317B1 (en) * 2020-06-03 2020-07-30 주식회사 리암솔루션 Device for inspecting the surface of contact lenses

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100766394B1 (en) Auto denting test equipment
KR100958204B1 (en) Method and apparatus for inspecting of flat display panel
JP5038191B2 (en) Electronic component inspection method and apparatus used therefor
CN102472711A (en) Substrate inspecting apparatus
KR101342117B1 (en) Apparatus and method for inspecting trace
JP2005019950A (en) Bonding device
CN106645169A (en) Image acquisition system for edge line detection of liquid crystal screen
CN100473978C (en) Denting test equipment of anisotropic conductive film
KR20100013908A (en) Camera module assembling device and method thereof
TW201923725A (en) Sub-displays and methods for fabricating tiled displays from sub-displays
JP2012238411A (en) Method for manufacturing led illumination substrate
CN108008556A (en) Display device
CN103512491A (en) Equipment and method for detecting position of LED phosphor, and method of mounting lens
KR100753895B1 (en) Differential interference contrast microscope consist of singular body
CN103604372A (en) Product full range observation and measurement method based on multiple cameras and device thereof
US5519535A (en) Precision placement apparatus having liquid crystal shuttered dual prism probe
JP2012238410A (en) Method for manufacturing led illumination substrate
JP5158895B2 (en) Imaging device
JP2008218539A (en) Method of mounting camera for recognizing substrate in electronic component mounting device
JP2001174672A (en) Optical element module
KR100477855B1 (en) Inspecting equipment of liquid crystal display panel
JP3501671B2 (en) Defect picture element coordinate identification device for display device
JP2008209564A (en) Inspection device and inspection method for electrooptical device
KR101091688B1 (en) Denting inspecting apparatus
KR200434341Y1 (en) Differential interference contrast microscope consist of singular body

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E90F Notification of reason for final refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
E801 Decision on dismissal of amendment
AMND Amendment
J201 Request for trial against refusal decision
E801 Decision on dismissal of amendment
B601 Maintenance of original decision after re-examination before a trial
J301 Trial decision

Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20070502

Effective date: 20070831

S901 Examination by remand of revocation
GRNO Decision to grant (after opposition)
GRNT Written decision to grant
J204 Request for invalidation trial [patent]
J301 Trial decision

Free format text: TRIAL DECISION FOR INVALIDATION REQUESTED 20091109

Effective date: 20110708

J2X1 Appeal (before the patent court)

Free format text: INVALIDATION

J2X2 Appeal (before the supreme court)

Free format text: APPEAL BEFORE THE SUPREME COURT FOR INVALIDATION

J302 Written judgement (patent court)

Free format text: JUDGMENT (PATENT COURT) FOR INVALIDATION REQUESTED 20110809

Effective date: 20120502

EXTG Extinguishment
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120917

Year of fee payment: 6

J303 Written judgement (supreme court)

Free format text: JUDGMENT (SUPREME COURT) FOR INVALIDATION REQUESTED 20120530

Effective date: 20120913