KR102110105B1 - Protective-membrane-forming film - Google Patents

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Abstract

본 발명에 관한 보호막 형성용 필름은, 반도체 칩을 보호하는 보호막을 형성하기 위한 보호막 형성용 필름이며, 상기 보호막 형성용 필름이 (A) 아크릴계 중합체, (B) 에폭시계 경화성 성분 및 (C) 충전재를 함유하고, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체가 전체 단량체의 8질량% 이하의 비율로 에폭시기 함유 단량체를 포함함과 함께, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도가 -3℃ 이상이고, 상기 보호막 형성용 필름을 경화하여 얻은 보호막의 적어도 일면의 JIS Z 8741에 의해 측정되는 그로스값이 20 이상이다.The film for forming a protective film according to the present invention is a film for forming a protective film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip, wherein the film for forming a protective film includes (A) an acrylic polymer, (B) an epoxy curable component, and (C) a filler. And (A) the monomer constituting the acrylic polymer contains an epoxy group-containing monomer in a proportion of 8% by mass or less of the total monomers, and (A) the glass transition temperature of the acrylic polymer is -3 ° C or higher, and The gross value measured by JIS Z 8741 of at least one surface of the protective film obtained by curing the protective film forming film is 20 or more.

Description

보호막 형성용 필름{PROTECTIVE-MEMBRANE-FORMING FILM}Protective film forming film {PROTECTIVE-MEMBRANE-FORMING FILM}

본 발명은, 예를 들어 반도체 칩의 이면을 보호하기 위하여 사용되는 보호막 형성용 필름에 관한 것이다.The present invention relates to, for example, a film for forming a protective film used to protect the back surface of a semiconductor chip.

종래, 페이스 다운 방식이라고 불리는 실장법을 사용한 반도체 장치의 제조가 행하여지고 있다. 페이스 다운 방식에 있어서, 반도체 칩은, 범프 등의 전극이 형성된 칩 표면이 기판 등에 대향되어 접합되는 한편, 칩 이면이 드러나게 되기 때문에 보호막에 의해 보호되고 있다. 그리고, 보호막에 의해 보호된 반도체 칩(이하, 「보호막을 구비한 칩」이라고 함)의 이면은, 보호막 위에 레이저 인자 등에 의해 마크나 문자 등이 인자된다.Conventionally, semiconductor devices using a mounting method called a face-down method have been manufactured. In the face-down method, the semiconductor chip is protected by a protective film because the surface of the chip on which an electrode such as a bump is formed is bonded to a substrate or the like and the back surface of the chip is exposed. In addition, marks, characters, and the like are printed on the protective film by laser printing or the like on the back surface of the semiconductor chip (hereinafter referred to as a "chip with a protective film") protected by the protective film.

상기 보호막은, 예를 들어 수지 코팅 등에 의해 형성되어 있었지만, 최근들어 예를 들어 특허문헌 1에 개시된 바와 같이, 막 두께의 균일성을 확보하기 위하여, 보호막 형성용 시트가 부착되어 형성되는 것이 계속 실용화되고 있다. 이 보호막 형성용 시트는, 에폭시 수지 등을 포함하는 열경화성 성분과, 아크릴계 중합체 등을 포함하는 결합제 중합체 성분을 함유하는 보호막 형성용 필름이, 지지 시트 위에 형성되어 이루어지는 것이다.Although the protective film was formed by, for example, resin coating or the like, recently, for example, as disclosed in Patent Document 1, in order to secure uniformity of the film thickness, the sheet for forming a protective film is continuously put into practical use. Is becoming. The sheet for forming a protective film is formed by forming a film for forming a protective film containing a thermosetting component containing an epoxy resin or the like and a binder polymer component containing an acrylic polymer or the like on the support sheet.

한편, 반도체에 사용되는 접착 필름으로서는 다양하게 알려져 있으며, 예를 들어 특허문헌 2에는, 반도체 패키지 등에 사용되는 접착 필름으로서, B 스테이지 상태에서 서로 상분리되는, 탄성률 3500 내지 10000GPa의 수지 A와, 탄성률 1 내지 3000MPa의 수지 B의 혼합물을 필수 성분으로 하는 것이 개시되어 있다. 특허문헌 2의 접착 필름에서는, 예를 들어 수지 A로서 에폭시 수지가, 수지 B로서 메타크릴산에스테르와 아크릴로니트릴의 공중합체인 아크릴 고무가 사용되고 있다.On the other hand, it is known variously as an adhesive film used for a semiconductor, for example, Patent Document 2, an adhesive film used for a semiconductor package, etc., separated from each other in the B-stage state, the resin A having an elastic modulus of 3500 to 10000 GPa, and an elastic modulus of 1 It is disclosed that a mixture of resin B to 3000 MPa is an essential component. In the adhesive film of Patent Document 2, for example, an epoxy resin is used as the resin A, and an acrylic rubber that is a copolymer of a methacrylic acid ester and acrylonitrile is used as the resin B.

일본 특허 공개 제2002-280329호 공보Japanese Patent Publication No. 2002-280329 일본 특허 공개 제2001-220556호 공보Japanese Patent Publication No. 2001-220556

특허문헌 1에 개시되는 보호막 형성용 시트로부터 반도체 칩의 보호막이 형성되는 경우, 그 보호막을 구비한 칩은, 장기 사용에 의해, 칩과 보호막의 접합부에서 들뜸이나 박리가 발생하거나, 보호막에 크랙이 발생하거나 하는 등의 문제가 일어나기 쉬워, 신뢰성이 떨어지는 경우가 있다. 또한, 특허문헌 2에 개시된 바와 같이 2종의 성분이 상분리되는 조성물을 칩용의 보호막으로 전용하면, 보호막을 구비한 칩의 신뢰성이 향상될 가능성이 있기는 하지만, 레이저 인자에 의한 문자 등의 인식성이 나빠지기 쉽다는 별도의 문제가 발생한다.When the protective film of the semiconductor chip is formed from the sheet for forming a protective film disclosed in Patent Literature 1, the chip provided with the protective film may be lifted or peeled off at the junction between the chip and the protective film or cracks in the protective film due to long-term use. Problems such as occurrence are likely to occur, and reliability may be poor. Further, as disclosed in Patent Literature 2, if a composition in which two components are phase-separated is converted to a protective film for a chip, the reliability of the chip with the protective film may be improved, but recognition of characters, etc. by laser printing A separate problem arises that this is easy to get worse.

본 발명은, 이상의 문제점을 감안하여 이루어진 것이며, 신뢰성이 높은 보호막을 구비한 칩을 얻을 수 있음과 함께, 레이저 인자에 의한 문자의 인식성이 우수한 보호막을 형성하는 것이 가능한 보호막 형성용 필름을 제공하는 것을 과제로 한다.The present invention has been made in view of the above problems, and it is possible to obtain a chip having a highly reliable protective film, and to provide a film for forming a protective film capable of forming a protective film excellent in character recognition by laser printing. Make it a task.

본 발명자들은, 상기 과제를 해결하기 위하여 예의 검토를 거듭한 결과, 보호막 형성용 수지의 아크릴계 중합체에 착안하여, 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체에 에폭시기 함유 단량체를 함유시키면서, 또한 그 배합 비율을 소정의 범위로 조정하면서, 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도도 소정의 범위로 함으로써, 상기 과제를 해결할 수 있는 것을 발견하고, 이하의 본 발명을 완성시켰다.As a result of repeated studies in order to solve the above problems, the present inventors focused on the acrylic polymer of the resin for forming a protective film, and while containing the epoxy group-containing monomer in the monomer constituting the acrylic polymer, the blending ratio thereof was within a predetermined range. It was found that the above-mentioned problems can be solved by adjusting the glass transition temperature of the acrylic polymer to a predetermined range while adjusting to the following, thereby completing the present invention.

즉, 본 발명은, 이하의 (1) 내지 (8)을 제공하는 것이다.That is, the present invention provides the following (1) to (8).

(1) 반도체 칩을 보호하는 보호막을 형성하기 위한 보호막 형성용 필름이며,(1) a film for forming a protective film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip,

상기 보호막 형성용 필름이 (A) 아크릴계 중합체, (B) 에폭시계 경화성 성분 및 (C) 충전재를 함유하고,The film for forming a protective film contains (A) an acrylic polymer, (B) an epoxy-based curable component, and (C) a filler,

(A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체가 전체 단량체의 8질량% 이하의 비율로 에폭시기 함유 단량체를 포함함과 함께, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도가 -3℃ 이상이고,(A) while the monomer constituting the acrylic polymer contains an epoxy group-containing monomer in a proportion of 8% by mass or less of the total monomers, and (A) the glass transition temperature of the acrylic polymer is -3 ° C or higher,

상기 보호막 형성용 필름을 경화하여 얻은 보호막의 적어도 일면의 JIS Z 8741에 의해 측정되는 그로스값이 20 이상인 보호막 형성용 필름.A film for forming a protective film having a gross value of 20 or more as measured by JIS Z 8741 on at least one surface of the protective film obtained by curing the film for forming a protective film.

(2) (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도가 6℃ 이하인 상기 (1)에 기재된 보호막 형성용 필름.(2) The film for forming a protective film according to (1) above, wherein the glass transition temperature of the acrylic polymer (A) is 6 ° C or lower.

(3) (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체가 (메트)아크릴산알킬에스테르를 더 포함하는 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 보호막 형성용 필름.(3) The film for forming a protective film according to (1) or (2) above, wherein the monomer constituting the acrylic polymer (A) further comprises an alkyl (meth) acrylate.

(4) (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체가 전체 단량체의 12질량% 이하의 비율로 알킬기의 탄소수가 4 이상인 (메트)아크릴산알킬에스테르를 포함하는 상기 (1) 내지 (3) 중 어느 하나에 기재된 보호막 형성용 필름.(4) (A) Any one of (1) to (3) above, wherein the monomer constituting the acrylic polymer contains a (meth) acrylic acid alkyl ester having 4 or more carbon atoms in the alkyl group at a proportion of 12% by mass or less of the total monomers. The film for forming the protective film described.

(5) 상기 알킬기의 탄소수가 4 이상인 (메트)아크릴산알킬에스테르가 (메트)아크릴산부틸인 상기 (4)에 기재된 보호막 형성용 필름.(5) The film for forming a protective film according to the above (4), wherein the alkyl group having 4 or more carbon (meth) acrylate alkyl ester is (meth) acrylate butyl.

(6) (C) 충전재의 함유량이 보호막 형성용 필름의 50질량% 이상인 상기 (1) 내지 (5) 중 어느 하나에 기재된 보호막 형성용 필름.(6) The film for forming a protective film according to any one of (1) to (5) above, wherein the content of the filler (C) is 50% by mass or more of the film for forming a protective film.

(7) (D) 착색제를 더 함유하는 상기 (1) 내지 (6) 중 어느 하나에 기재된 보호막 형성용 필름.(7) The film for forming a protective film according to any one of (1) to (6) above, which further contains (D) a colorant.

(8) 반도체 칩과, 상기 반도체 칩 위에 형성되는 보호막을 구비하는, 보호막을 구비한 칩이며,(8) A chip having a protective film, comprising a semiconductor chip and a protective film formed on the semiconductor chip,

상기 보호막이 보호막 형성용 필름을 경화시켜 형성된 것임과 함께, 상기 보호막 형성용 필름이 (A) 아크릴계 중합체, (B) 에폭시계 경화성 성분 및 (C) 충전재를 함유하고,While the protective film is formed by curing the film for forming a protective film, the film for forming a protective film contains (A) an acrylic polymer, (B) an epoxy-based curable component, and (C) a filler,

(A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체가 전체 단량체의 8질량% 이하의 비율로 에폭시기 함유 단량체를 포함함과 함께, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도가 -3℃ 이상이고,(A) while the monomer constituting the acrylic polymer contains an epoxy group-containing monomer in a proportion of 8% by mass or less of the total monomers, and (A) the glass transition temperature of the acrylic polymer is -3 ° C or higher,

상기 보호막은, 상기 반도체 칩측의 면과는 반대인 면이 JIS Z 8741에 의해 측정되는 그로스값이 20 이상인 보호막을 구비한 칩. The protective film is a chip having a protective film having a gross value of 20 or more as measured by JIS Z 8741 on a surface opposite to the surface on the semiconductor chip side.

본 발명에서는, 신뢰성이 높은 보호막을 구비한 칩을 얻을 수 있음과 함께, 레이저 인자에 의한 문자의 인식성이 우수한 보호막을 형성하는 것이 가능한 보호막 형성용 필름을 제공할 수 있다.In the present invention, it is possible to provide a film for forming a protective film capable of forming a protective film having a highly reliable protective film and being capable of forming a protective film excellent in character recognition by laser printing.

이하, 본 발명에 대하여, 그 실시 형태를 사용하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the present invention will be specifically described using the embodiments.

또한, 본 명세서에 있어서, 「(메트)아크릴」은, 「아크릴」 및 「메타크릴」의 양쪽을 나타내는 용어로서 사용하고, 다른 유사 용어에 대해서도 마찬가지이다.In addition, in this specification, "(meth) acrylic" is used as a term showing both "acrylic" and "methacryl," and the same applies to other similar terms.

[보호막 형성용 필름] [Film for forming protective film]

본 발명에 관한 보호막 형성용 필름은, 반도체 칩을 보호하는 보호막을 형성하기 위한 필름이며, 적어도 (A) 아크릴계 중합체, (B) 에폭시계 경화성 성분 및 (C) 충전재를 함유하는 것이다. The film for forming a protective film according to the present invention is a film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip, and contains at least (A) an acrylic polymer, (B) an epoxy-based curable component, and (C) a filler.

<(A) 아크릴계 중합체><(A) Acrylic polymer>

(A) 아크릴계 중합체는, 보호막 및 보호막 형성용 필름에 가요성, 조막성을 부여하는 성분이며, 에폭시기 함유 단량체와, 다른 단량체를 공중합하여 얻어짐과 함께, 에폭시기 함유 단량체의 비율이, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 전체 단량체 중, 8질량% 이하로 되는 것이다. 구체적으로는, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체는, 에폭시기 함유 (메트)아크릴산에스테르 및 비아크릴계 에폭시기 함유 단량체로부터 선택되는 1종 이상의 에폭시기 함유 단량체와, 에폭시기를 갖지 않는 각종 (메트)아크릴산에스테르, 및/또는 비아크릴계 에폭시기 비함유 단량체를 포함한다. 이 경우에 있어서, 에폭시기 함유 단량체가 비아크릴계 에폭시기 함유 단량체만을 포함하는 경우에는, 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체는 에폭시기를 갖지 않는 각종 (메트)아크릴산에스테르를 포함한다.(A) The acrylic polymer is a component that provides flexibility and film-forming properties to a protective film and a film for forming a protective film, and is obtained by copolymerizing an epoxy group-containing monomer and another monomer, and the ratio of the epoxy group-containing monomer is (A). It is 8 mass% or less among all the monomers which comprise an acrylic polymer. Specifically, the monomers constituting the acrylic polymer (A) include at least one epoxy group-containing monomer selected from epoxy group-containing (meth) acrylic acid esters and non-acrylic epoxy group-containing monomers, and various (meth) acrylic acid esters having no epoxy group, And / or non-acrylic epoxy group-free monomers. In this case, when the epoxy group-containing monomer contains only a non-acrylic epoxy group-containing monomer, the monomer constituting the acrylic polymer contains various (meth) acrylic acid esters having no epoxy group.

에폭시기 함유 단량체의 비율이 8질량%보다 많아지면, (B) 성분의 경화물의 상용성이 향상되고, 후술하는 상분리 구조가 형성되기 어려워져, 보호막을 구비한 칩의 신뢰성이 저하된다. 한편, 아크릴계 중합체 (A)가, 에폭시기 함유 단량체를 구성 단량체에 전혀 포함하지 않으면, 상분리의 진행에 기인한 보호막의 그로스값의 저하가 과분해지기 때문에, 그로스값을 후술하는 범위 내에 그치게 하는 것이 어려워진다. 즉, 에폭시기 함유 단량체를 전혀 포함하지 않으면, 보호막 표면에는 상분리의 진행에 기인한 미소한 요철이 생겨, 그 결과, 보호막 표면에서의 반사광의 산란을 초래하기 때문에, 그로스값이 작아져, 레이저 인자부의 인식성이 저하된다.When the proportion of the epoxy group-containing monomer is more than 8% by mass, the compatibility of the cured product of the component (B) is improved, the phase-separated structure described later becomes difficult to form, and the reliability of the chip with the protective film is lowered. On the other hand, if the acrylic polymer (A) does not contain an epoxy group-containing monomer at all in the constituent monomers, the deterioration of the gross value of the protective film due to the progress of the phase separation is excessively decomposed, making it difficult to make the gross value within the range described later. Lose. That is, if the epoxy group-containing monomer is not included at all, minute unevenness due to the progress of phase separation occurs on the surface of the protective film, and as a result, scattering of reflected light at the surface of the protective film is caused, so the gross value becomes small and the laser printing part Recognition decreases.

이들 관점에서, 에폭시기 함유 단량체의 함유량은, 전체 단량체의 합계 질량중 0.1질량% 이상인 것이 바람직하고, 1질량% 이상인 것이 보다 바람직하다. 또한, 그로스값을 계속 양호하게 하면서 신뢰성을 보다 높이기 위해서는, 3질량% 이상인 것이 특히 바람직하다. 또한, 에폭시기 함유 단량체의 함유량은, (A) 아크릴계 공중합체의 전체 단량체의 6질량% 이하인 것이 바람직하다.From these viewpoints, the content of the epoxy group-containing monomer is preferably 0.1% by mass or more, and more preferably 1% by mass or more, of the total mass of all monomers. Moreover, it is especially preferable that it is 3 mass% or more in order to further improve reliability while continuing to make the gross value favorable. Moreover, it is preferable that content of the epoxy group containing monomer is 6 mass% or less of the whole monomer of (A) acrylic copolymer.

에폭시기 함유 (메트)아크릴산에스테르로서는, 예를 들어 글리시딜(메트)아크릴레이트, β-메틸글리시딜(메트)아크릴레이트, (3,4-에폭시시클로헥실)메틸(메트)아크릴레이트, 3-에폭시시클로-2-히드록시프로필(메트)아크릴레이트 등을, 비아크릴계 에폭시기 함유 단량체로서는, 예를 들어 글리시딜크로토네이트, 알릴글리시딜에테르 등을 들 수 있다. 에폭시기 함유 단량체로서는, 에폭시기 함유 (메트)아크릴산에스테르가 바람직하다.Examples of the epoxy group-containing (meth) acrylic acid ester include glycidyl (meth) acrylate, β-methylglycidyl (meth) acrylate, (3,4-epoxycyclohexyl) methyl (meth) acrylate, and 3 -Epoxycyclo-2-hydroxypropyl (meth) acrylate etc., As a non-acrylic epoxy group containing monomer, glycidyl crotonate, allyl glycidyl ether, etc. are mentioned, for example. As the epoxy group-containing monomer, an epoxy group-containing (meth) acrylic acid ester is preferable.

(A) 아크릴계 중합체에 있어서의 다른 단량체로서는, (메트)아크릴산알킬에스테르나, 그 밖의 (메트)아크릴산 유도체를 들 수 있다.(A) Other monomers in the acrylic polymer include (meth) acrylic acid alkyl esters and other (meth) acrylic acid derivatives.

(A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체는, 상기 다른 단량체로서, (메트)아크릴산알킬에스테르를 포함하는 것이 바람직하다. 이에 의해, (메트)아크릴산알킬에스테르의 탄소수의 증감이나, 상이한 탄소수의 (메트)아크릴산알킬에스테르의 조합에 의해, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도를 조정하는 것이 용이해진다. (메트)아크릴산알킬에스테르는, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 전체 단량체의 50질량% 이상인 것이 바람직하고, 70질량% 이상인 것이 보다 바람직하다. 또한, (메트)아크릴산알킬에스테르는, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 전체 단량체의 92질량% 이하인 것이 바람직하다.(A) It is preferable that the monomer which comprises an acrylic polymer contains (meth) acrylic-acid alkylester as said other monomer. This makes it easy to adjust the glass transition temperature of the acrylic polymer (A) by increasing or decreasing the number of carbon atoms of the (meth) acrylic acid alkyl ester, or by combining (meth) acrylic acid alkyl esters of different carbon numbers. It is preferable that (meth) acrylic-acid alkylester is 50 mass% or more of all the monomers which comprise (A) acrylic polymer, and it is more preferable that it is 70 mass% or more. Moreover, it is preferable that (meth) acrylic-acid alkylester is 92 mass% or less of the whole monomer which comprises (A) acrylic polymer.

(메트)아크릴산알킬에스테르로서는, (메트)아크릴산메틸, (메트)아크릴산에틸, (메트)아크릴산프로필, (메트)아크릴산부틸, (메트)아크릴산펜틸, (메트)아크릴산2-에틸헥실, (메트)아크릴산이소옥틸, (메트)아크릴산n-옥틸, (메트)아크릴산n-노닐, (메트)아크릴산이소노닐, (메트)아크릴산데실, (메트)아크릴산라우릴 등, 알킬기의 탄소수가 1 내지 18인 (메트)아크릴산알킬에스테르를 들 수 있다.As the (meth) acrylic acid alkyl ester, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, (meth) The alkyl group having 1 to 18 carbon atoms, such as isooctyl acrylate, n-octyl (meth) acrylate, n-nonyl (meth) acrylate, isononyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, etc. And (meth) acrylic acid alkyl esters.

(A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체는, 상기 (메트)아크릴산알킬에스테르 중, 알킬기의 탄소수가 4 이상인 (메트)아크릴산알킬에스테르를, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 전체 단량체의 12질량% 이하의 양으로 함유하는 것이 바람직하다. 이에 의해, 유리 전이 온도를 계속 -3℃ 이상으로 하면서, 그로스값을 보다 양호하게 하기 쉬워진다. 그로스값을 계속 양호하게 하면서 신뢰성을 향상시키기 위해서는, 알킬기의 탄소수가 4 이상인 (메트)아크릴산알킬에스테르의 상기 함유량은, 보다 바람직하게는 1 내지 12질량%, 더욱 바람직하게는 5 내지 12질량%이다. 또한, 당해 알킬기의 탄소수가 4 이상인 (메트)아크릴산알킬에스테르로서는 (메트)아크릴산부틸이 바람직하다.(A) The monomer constituting the acrylic polymer is 12% by mass or less of the (meth) acrylic acid alkyl ester of the (meth) acrylic acid alkyl ester, wherein the alkyl group has 4 or more carbon atoms in the (meth) acrylic acid alkyl ester. It is desirable to contain it in an amount. Thereby, it becomes easy to make a gross value more favorable, making a glass transition temperature into -3 degreeC or more continuously. In order to improve reliability while keeping the gross value satisfactory, the content of the (meth) acrylic acid alkyl ester having 4 or more carbon atoms in the alkyl group is more preferably 1 to 12% by mass, still more preferably 5 to 12% by mass. . Moreover, as the (meth) acrylic acid alkyl ester having 4 or more carbon atoms in the alkyl group, butyl (meth) acrylate is preferable.

또한, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체는, 상기 (메트)아크릴산알킬에스테르 중, 알킬기의 탄소수가 3 이하인 (메트)아크릴산알킬에스테르를 함유하는 것이 바람직하다. 알킬기의 탄소수가 3 이하인 (메트)아크릴산알킬에스테르를 함유함으로써, 열 안정성 등을 계속 양호하게 하면서도, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도를 후술하는 바와 같이 -3℃ 이상으로 하기 쉬워진다. 이들 관점에서, 알킬기의 탄소수가 3 이하인 (메트)아크릴산알킬에스테르는, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 전체 단량체의 50질량% 이상인 것이 바람직하고, 60질량% 이상인 것이 보다 바람직하다. 또한, 알킬기의 탄소수가 3 이하인 (메트)아크릴산알킬에스테르는, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 전체 단량체의 90질량% 이하인 것이 바람직하다. 또한, 당해 알킬기의 탄소수가 3 이하인 (메트)아크릴산알킬에스테르로서는, (메트)아크릴산메틸 또는 (메트)아크릴산에틸이 바람직하고, (메트)아크릴산메틸이 보다 바람직하다.Moreover, it is preferable that the monomer which comprises (A) acrylic polymer contains (meth) acrylic-acid alkylester whose alkyl group has 3 or less carbon atoms in the said (meth) acrylic-acid alkylester. By containing the (meth) acrylic acid alkyl ester having 3 or less carbon atoms in the alkyl group, it is easy to make the glass transition temperature of the acrylic polymer (A) to -3 ° C or higher, as described later, while still improving thermal stability and the like. From these viewpoints, the (meth) acrylic acid alkyl ester having 3 or less carbon atoms in the alkyl group is preferably 50% by mass or more, and more preferably 60% by mass or more, of all monomers constituting the acrylic polymer (A). Moreover, it is preferable that (meth) acrylic-acid alkylester whose alkyl group has 3 or less carbon atoms is (A) 90 mass% or less of all the monomers which comprise an acrylic polymer. In addition, as the (meth) acrylic acid alkyl ester having 3 or less carbon atoms in the alkyl group, methyl (meth) acrylate or ethyl (meth) acrylate is preferable, and methyl (meth) acrylate is more preferable.

또한, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체는, 그 밖의 (메트)아크릴산 유도체로서, 수산기 함유 (메트)아크릴산에스테르를 포함하는 것이 바람직하다. 수산기 함유 (메트)아크릴산에스테르에 의해, 아크릴계 공중합체에 수산기가 도입되면, 반도체 칩으로의 밀착성이나 점착 특성의 컨트롤이 용이해진다. 수산기 함유 (메트)아크릴산에스테르로서는, (메트)아크릴산히드록시메틸, (메트)아크릴산2-히드록시에틸, (메트)아크릴산2-히드록시프로필 등을 들 수 있다.Moreover, it is preferable that the monomer which comprises (A) acrylic polymer contains another hydroxyl-containing (meth) acrylic acid ester as a (meth) acrylic acid derivative. When a hydroxyl group is introduced into the acrylic copolymer by a hydroxyl group-containing (meth) acrylic acid ester, control of adhesion to a semiconductor chip and adhesion properties becomes easy. Examples of the hydroxyl group-containing (meth) acrylic acid ester include hydroxymethyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, and 2-hydroxypropyl (meth) acrylate.

수산기 함유 (메트)아크릴산에스테르는, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 전체 단량체의 1 내지 30질량%인 것이 바람직하고, 5 내지 25질량%인 것이 보다 바람직하고, 10 내지 20질량%인 것이 더욱 바람직하다.The hydroxyl group-containing (meth) acrylic acid ester is preferably 1 to 30% by mass, more preferably 5 to 25% by mass, and even more preferably 10 to 20% by mass, of all monomers constituting the acrylic polymer (A). Do.

또한, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체는, 다른 단량체로서, 상기한 바와 같이 스티렌, 에틸렌, 비닐에테르, 아세트산비닐 등의 비아크릴계 에폭시기 비함유 단량체를 포함하고 있을 수도 있다.In addition, the monomer constituting the acrylic polymer (A) may include, as another monomer, a non-acrylic epoxy group-free monomer such as styrene, ethylene, vinyl ether, and vinyl acetate.

(A) 아크릴계 중합체의 중량 평균 분자량(Mw)은, 보호막 형성용 필름에 가요성, 조막성을 부여할 수 있음과 함께, 후술하는 그로스값을 20 이상으로 하기 쉽게 하기 위하여, 10,000 이상인 것이 바람직하다. 또한, 상기 중량 평균 분자량은, 보다 바람직하게는 15,000 내지 1,000,000, 더욱 바람직하게는 20,000 내지 500,000이다. 중량 평균 분자량(Mw)은, 후술하는 실시예의 방법에 따라 측정할 수 있다.(A) The weight-average molecular weight (Mw) of the acrylic polymer is preferably 10,000 or more in order to provide flexibility and film-forming properties to the film for forming a protective film, and to easily make the gross value to be described later 20 or more. . In addition, the weight average molecular weight is more preferably 15,000 to 1,000,000, and more preferably 20,000 to 500,000. The weight average molecular weight (Mw) can be measured according to the method of Examples described later.

본 발명에 있어서 (A) 아크릴계 중합체는, 그 유리 전이 온도(Tg)가 -3℃ 이상으로 되는 것이다. 유리 전이 온도가 -3℃ 미만으로 되면, (A) 아크릴계 중합체의 운동성이 충분히 억제되지 않아, 보호막이 열 이력에 기인하여 변형되기 쉬워져, 보호막을 구비한 칩의 신뢰성을 충분히 향상시킬 수 없다. 본 발명에 있어서, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도는, Fox의 식으로부터 구해지는 이론값이다.In the present invention, the acrylic polymer (A) has a glass transition temperature (Tg) of -3 ° C or higher. When the glass transition temperature is less than -3 ° C, the mobility of the acrylic polymer (A) is not sufficiently suppressed, and the protective film tends to deform due to thermal history, and the reliability of the chip with the protective film cannot be sufficiently improved. In the present invention, the glass transition temperature of the acrylic polymer (A) is a theoretical value obtained from the equation of Fox.

또한, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도는 6℃ 이하인 것이 바람직하다. 유리 전이 온도가 6℃ 이하임으로써, 후술하는 그로스값을 향상시켜, 인자 인식성을 양호하게 할 수 있다. 이 이유는, 반드시 명백하지는 않으나, 아크릴계 중합체 (A)가 적절하게 운동성을 갖는 것에 기인하여 경화 후의 보호막의 표면 형상이 평활화되기 때문이라고 추정된다.Moreover, it is preferable that the glass transition temperature of (A) acrylic polymer is 6 degrees C or less. When the glass transition temperature is 6 ° C or less, the gross value to be described later can be improved, and the printability can be improved. Although this reason is not necessarily obvious, it is estimated that it is because the surface shape of the protective film after hardening is smoothed because the acrylic polymer (A) has moderate mobility.

보호막 형성용 필름은, 에폭시기 함유 단량체가 적은 양으로 억제됨으로써, 보호막에 있어서 (A) 성분이 많은 상과, 후술하는 (B) 성분의 경화물이 많은 상이 상분리되기 쉬워져, 보호막을 구비한 칩의 신뢰성이 향상된다. 이것은, 칩 실장 후에 온도 변화를 거친 경우에도 온도 변화에 기인한 변형에 의한 응력을, 유연한 (A)가 많은 상이 완화시키기 때문에, 응력에 의한 보호막의 박리가 발생하기 어려워지기 때문이라고 추정된다. 또한, 열경화 후의 보호막 형성용 필름(즉, 보호막)에 있어서의 상분리는, (A)가 많은 상이 연속상을 형성하고 있는 것이 바람직하다. 이에 의해, 상술한 신뢰성 향상의 효과를 더 높일 수 있다.In the film for forming a protective film, since the epoxy group-containing monomer is suppressed in a small amount, the phase in which the (A) component is high and the phase in which the cured product of the component (B) is large in the protective film is easily phase-separated is easily separated. Reliability is improved. This is presumed to be because the stress caused by the temperature change after the chip mounting is subjected to the temperature change is less likely because the flexible (A) -rich phase relieves the peeling of the protective film due to the stress. In addition, in the phase separation in the protective film-forming film (that is, the protective film) after thermal curing, it is preferable that the phase with many (A) forms a continuous phase. Thereby, the effect of improving the reliability mentioned above can be further improved.

(A)가 많은 상과 (B)의 경화물이 많은 상은, 예를 들어 라만 산란 분광 측정에 의해, 어느 상의 측정 차트로부터, 어떤 물질이 그 상의 주성분으로 되어 있는지를 관찰함으로써 판별할 수 있다. 또한, 상분리 구조의 크기가 라만 분광법의 분해능 이하인 경우, SPM(주사형 프로브 현미경)의 탭핑 모드 측정의 경도를 지표로, 더 단단한 쪽이 (B) 성분의 경화물이 많은 상이며, 더 부드러운 쪽이 (A) 성분이 많은 상인 것을 추정할 수 있다. 그로 인해, 본 발명에서는, 보호막 형성용 필름을 경화하여 얻은 보호막을, 라만 산란 분광 측정이나 SPM 관찰함으로써, 상분리 구조가 형성되어 있는지의 여부를 확인할 수 있다.The phase having many (A) and many phases of the cured product of (B) can be determined by observing which substance is the main component of the phase from a measurement chart of which phase, for example, by Raman scattering spectroscopy. In addition, when the size of the phase-separated structure is less than or equal to the resolution of Raman spectroscopy, the hardness of the tapping mode measurement of the SPM (scanning probe microscope) is used as an index. It can be estimated that this (A) component is a large phase. Therefore, in the present invention, it is possible to confirm whether or not a phase separation structure is formed by performing Raman scattering spectroscopy or SPM observation on the protective film obtained by curing the protective film forming film.

또한, (A) 아크릴계 중합체는, 보호막 형성용 필름의 전체 질량(고형분 환산)에서 차지하는 비율로서, 통상 10 내지 80질량%, 바람직하게는 15 내지 50질량%이다.The acrylic polymer (A) is a proportion of the total mass (in terms of solid content) of the film for forming a protective film, and is usually 10 to 80 mass%, preferably 15 to 50 mass%.

<(B) 에폭시계 경화성 성분><(B) Epoxy-based curable component>

(B) 에폭시계 경화성 성분은, 경화에 의해 경질의 보호막을 반도체 칩 위에 형성시키기 위한 성분이며, 통상 에폭시계 화합물 및 열경화제를 포함한다.(B) The epoxy-based curable component is a component for forming a hard protective film on a semiconductor chip by curing, and usually contains an epoxy-based compound and a thermosetting agent.

보호막 형성용 필름에 있어서, (B) 에폭시계 경화성 성분은, (A) 아크릴계 중합체 100질량부에 대하여, 바람직하게는 250질량부 이하, 보다 바람직하게는 150질량부 이하, 더욱 바람직하게는 100질량부 이하이다. 또한, (B) 에폭시계 경화성 성분은, (A) 아크릴계 중합체 100질량부에 대하여, 바람직하게는 20질량부 이상, 보다 바람직하게는 40질량부 이상, 더욱 바람직하게는 60질량부 이상이다.In the film for forming a protective film, the epoxy curable component (B) is preferably 250 parts by mass or less, more preferably 150 parts by mass or less, and even more preferably 100 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the acrylic polymer (A). Less than wealth. Moreover, (B) epoxy-type curable component is (A) It is 20 mass parts or more with respect to 100 mass parts of acrylic polymers, More preferably, it is 40 mass parts or more, More preferably, it is 60 mass parts or more.

(B) 에폭시계 경화성 성분의 함유량을 상기 범위로 함으로써, 반도체 칩 등의 피착체에 대한 충분한 접착성이 얻어지고, 또한, 후술하는 지지 시트와의 박리력이 적절해져, 지지 시트를 보호막 형성용 필름으로부터 박리할 때의 박리 불량 등도 방지할 수 있다. 또한, 상기한 바와 같이 (B) 성분의 배합량을 소정의 상한값 이하의 범위로 제한함으로써, (A) 성분이 많은 상이 연속상으로 되기 쉬워, 반도체 칩의 신뢰성을 높일 수 있고, 또한, 그로스값을 향상시키기 쉬워진다.(B) By setting the content of the epoxy-based curable component in the above range, sufficient adhesiveness to an adherend such as a semiconductor chip is obtained, and the peeling force with the supporting sheet described later becomes appropriate, and the supporting sheet is used for forming a protective film. A peeling defect or the like when peeling from the film can also be prevented. In addition, as described above, by limiting the compounding amount of the component (B) to a range equal to or less than a predetermined upper limit, the phase with many components (A) tends to become a continuous phase, and the reliability of the semiconductor chip can be enhanced, and the gross value is also increased. It becomes easy to improve.

또한, (B) 에폭시계 경화성 성분은, 보호막 형성용 필름의 전체 질량(고형분 환산)에서 차지하는 비율로서, 통상 5 내지 60질량%, 바람직하게는 10 내지 40질량% 정도이다.In addition, (B) The epoxy-based curable component is a proportion of the total mass (in terms of solid content) of the film for forming a protective film, and is usually about 5 to 60% by mass, preferably about 10 to 40% by mass.

에폭시계 화합물로서는, 종래 공지의 에폭시 화합물을 사용할 수 있다. 구체적으로는, 비페닐 화합물, 비스페놀 A 디글리시딜에테르나 그의 수소 첨가물, 오르토크레졸노볼락에폭시 수지, 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 페닐렌 골격형 에폭시 수지 등, 분자 중에 2관능 이상 갖는 에폭시 화합물을 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.As an epoxy compound, a conventionally well-known epoxy compound can be used. Specifically, a biphenyl compound, bisphenol A diglycidyl ether or a hydrogenated product thereof, orthocresol novolac epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type Epoxy resins, phenylene skeleton-type epoxy resins, and the like, and epoxy compounds having two or more functionalities in the molecule. These can be used alone or in combination of two or more.

열경화제는, 에폭시 화합물에 대한 경화제로서 기능한다. 바람직한 열경화제로서는, 1분자 중에 에폭시기와 반응할 수 있는 관능기를 2개 이상 갖는 화합물을 들 수 있다. 그 관능기로서는 페놀성 수산기, 알코올성 수산기, 아미노기, 카르복실기 및 산 무수물 등을 들 수 있다. 이들 중 바람직하게는 페놀성 수산기, 아미노기, 산 무수물 등을 들 수 있고, 더욱 바람직하게는 페놀성 수산기, 아미노기를 들 수 있다.The thermosetting agent functions as a curing agent for the epoxy compound. As a preferable thermosetting agent, the compound which has 2 or more functional groups which can react with an epoxy group in 1 molecule is mentioned. Examples of the functional group include phenolic hydroxyl groups, alcoholic hydroxyl groups, amino groups, carboxyl groups and acid anhydrides. Among these, phenolic hydroxyl group, amino group, acid anhydride, etc. are mentioned preferably, and phenolic hydroxyl group and amino group are more preferable.

페놀성 수산기를 갖는 페놀계 경화제의 구체적인 예로서는, 다관능계 페놀 수지, 비페놀, 노볼락형 페놀 수지, 디시클로펜타디엔계 페놀 수지, 자일록형 페놀 수지, 아르알킬페놀 수지를 들 수 있다. 아미노기를 갖는 아민계 경화제의 구체적인 예로서는, 디시안디아미드를 들 수 있다. 이들은, 1종 단독으로 또는 2종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.Specific examples of the phenolic curing agent having a phenolic hydroxyl group include polyfunctional phenolic resins, biphenols, novolac-type phenolic resins, dicyclopentadiene-based phenolic resins, xylotype-type phenolic resins, and aralkylphenolic resins. Dicyandiamide is mentioned as a specific example of the amine-type hardener which has an amino group. These can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

또한, 열경화제의 함유량은, 에폭시 화합물 100질량부에 대하여, 0.1 내지 100질량부인 것이 바람직하고, 0.5 내지 50질량부인 것이 보다 바람직하고, 1 내지 20질량부인 것이 더욱 바람직하다. 열경화제의 함유량을 상기 하한값 이상으로 함으로써 (B) 성분이 경화되어, 피착체와의 접착성이 얻어지기 쉬워진다. 또한, 상기 상한값 이하로 함으로써, 보호막 형성용 필름의 흡습률이 억제되어, 반도체 장치의 신뢰성을 양호하게 하기 쉬워진다.Moreover, it is preferable that content of a thermosetting agent is 0.1-100 mass parts with respect to 100 mass parts of epoxy compounds, It is more preferable that it is 0.5-50 mass parts, It is still more preferable that it is 1-20 mass parts. By making the content of the thermosetting agent more than the above lower limit, the component (B) is cured, and the adhesion with the adherend becomes easy to be obtained. Moreover, by setting it below the said upper limit, the moisture absorption rate of the film for protective film formation is suppressed, and it becomes easy to make the reliability of a semiconductor device favorable.

<(C) 충전재><(C) Filler>

(C) 충전재는, 보호막에 내습성, 치수 안정성 등을 부여하는 성분이며, 구체적으로는 무기 필러 등을 들 수 있다. 또한, 보호막에 레이저 마킹(레이저광에 의해 보호막 표면을 깍아내어 인자를 행하는 방법)을 실시함으로써, 레이저광에 의해 깍아내어진 부분(인자 부분)은, (C) 충전재가 노출되어 반사광을 확산시키기 때문에, 비인자 부분과의 콘트라스트가 향상되어 인식 가능해진다.(C) The filler is a component that imparts moisture resistance, dimensional stability, and the like to the protective film, and examples thereof include inorganic fillers. In addition, by subjecting the protective film to laser marking (a method of printing the surface of the protective film by using laser light), the portion (factor) cut off by the laser light exposes the filler (C) to diffuse the reflected light Therefore, the contrast with the non-factor part is improved, and recognition becomes possible.

바람직한 무기 필러로서는, 실리카, 알루미나, 탈크, 탄산칼슘, 산화티타늄, 산화철, 탄화규소, 질화붕소 등의 분말, 이들을 구형화한 비즈, 단결정 섬유 및 유리 섬유 등을 들 수 있다. 이들 중에서는, 실리카 필러 및 알루미나 필러가 특히 바람직하다. 또한, 상기 무기 필러는, 단독으로 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있다.Preferable inorganic fillers include powders such as silica, alumina, talc, calcium carbonate, titanium oxide, iron oxide, silicon carbide, and boron nitride, beads spheroidizing them, single crystal fibers, and glass fibers. Of these, silica fillers and alumina fillers are particularly preferred. In addition, the said inorganic filler can be used individually or in mixture of 2 or more types.

또한, 충전재의 평균 입경은, 특별히 한정되지 않지만, 0.1 내지 20㎛가 바람직하다. 0.1㎛ 이상이면, 보호막 형성용 조성물을, 지지 시트 위에 도포 건조하여 보호막 형성용 필름을 얻는 경우 등에, 보호막 형성용 조성물이 도포에 적합한 성상으로 되는 경향이 있다. 또한, 20㎛ 이하이면 그로스값이 보다 향상되기 쉬워진다.The average particle diameter of the filler is not particularly limited, but is preferably 0.1 to 20 μm. When it is 0.1 micrometer or more, when the composition for forming a protective film is applied and dried on a support sheet to obtain a film for forming a protective film, the composition for forming a protective film tends to be a property suitable for application. Moreover, if it is 20 micrometers or less, a gross value will become easy to improve more.

또한, 이들 관점에서, 충전재의 평균 입경은 0.2 내지 10㎛가 보다 바람직하고, 0.3 내지 6㎛가 더욱 바람직하다. Moreover, from these viewpoints, the average particle diameter of the filler is more preferably 0.2 to 10 μm, and even more preferably 0.3 to 6 μm.

또한, 평균 입경은 동적 광산란법을 사용한 입도 분포계에 의해 측정된 것이다. 입도 분포계로서는, 예를 들어 닛끼소사제의 나노트랙(Nanotrac) 150 등을 들 수 있다.In addition, the average particle diameter was measured by the particle size distribution system using the dynamic light scattering method. Examples of the particle size distribution system include Nanotrac 150 manufactured by Nikkiso Co., Ltd., and the like.

보호막 형성용 필름에 있어서의 (C) 충전재의 함유량은, 보호막 형성용 필름의 전체 질량(고형분 환산)에서 차지하는 비율로서, 10질량% 이상인 것이 바람직하고, 30질량% 이상인 것이 보다 바람직하고, 50질량% 이상인 것이 더욱 바람직하다. 또한, (C) 충전재의 함유량은, 보호막 형성용 필름의 전체 질량에 대하여, 80질량% 이하인 것이 바람직하고, 70질량% 이하인 것이 보다 바람직하고, 63질량% 이하인 것이 더욱 바람직하다. (C) 충전재의 함유량을 이들 범위로 함으로써, 상기한 충전재의 효과를 발휘하기 쉬워진다. 또한, (C) 충전재의 함유량을 50질량% 이상으로 함으로써 레이저 마킹된 인자부와 비인자부의 콘트라스트가 향상되어, 인자의 인식성이 양호해진다. 또한, 상기 상한값 이하로 함으로써, 그로스값을 향상시키기 쉬워진다.The content of the filler (C) in the film for forming a protective film is a proportion of the total mass (in terms of solid content) of the film for forming a protective film, preferably 10% by mass or more, more preferably 30% by mass or more, and 50% by mass % Is more preferable. The content of the filler (C) is preferably 80% by mass or less, more preferably 70% by mass or less, and even more preferably 63% by mass or less, based on the total mass of the film for forming a protective film. (C) By making content of a filler into these ranges, it becomes easy to exhibit the effect of the said filler. In addition, by setting the content of the filler (C) to 50% by mass or more, the contrast between the laser-marked printing portion and the non-printing portion is improved, and the recognition performance of the printing is improved. Moreover, it becomes easy to improve a gross value by setting it below the said upper limit.

본 발명에 관한 보호막 형성용 필름은, 이상 설명한 (A) 내지 (C) 성분 외에, 이하의 (D) 착색제, (E) 커플링제, (F) 경화 촉진제 및 (G) 그 밖의 첨가제 중 어느 1개 이상을 함유하고 있을 수도 있다. The film for forming a protective film according to the present invention includes any of the following (D) coloring agents, (E) coupling agents, (F) curing accelerators, and (G) other additives, in addition to the components (A) to (C) described above. It may contain more than one dog.

<(D) 착색제><(D) Coloring agent>

보호막 형성용 필름은, 반도체 칩을 기기에 내장했을 때, 주위의 장치로부터 발생하는 적외선 등을 차폐하여, 반도체 칩의 오작동을 방지할 수 있기 때문에, (D) 착색제를 함유하는 것이 바람직하다. 또한, (D) 착색제를 함유함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화하여 얻은 보호막에, 제품 번호나 마크 등을 인자했을 때의 문자 식별성을 향상시킬 수 있다. 즉, 반도체 칩의 보호막을 형성한 배면에는, 제품 번호 등이 통상 레이저 마킹법에 의해 인자되지만, 보호막이 (D) 착색제를 함유함으로써, 인자 부분과, 비인자 부분의 콘트라스트차가 커져 식별성이 향상된다.The film for forming a protective film preferably contains (D) a colorant because the semiconductor chip can be prevented from malfunctioning of the semiconductor chip by shielding infrared rays or the like generated from surrounding devices when the semiconductor chip is embedded in the device. In addition, by containing the colorant (D), character identification when printing a product number, mark, or the like on the protective film obtained by curing the protective film-forming film can be improved. That is, the product number or the like is usually printed on the back surface of the semiconductor chip formed with the protective film, but the protective film contains the colorant (D), thereby increasing the contrast difference between the printed part and the non-factor part, thereby improving identification. .

(D) 착색제로서는, 유기 또는 무기의 안료 또는 염료가 사용된다. 염료로서는, 산성 염료, 반응 염료, 직접 염료, 분산 염료, 양이온 염료 등의 어느 염료이어도 사용하는 것이 가능하다. 또한, 안료도, 특별히 제한되지 않고, 공지의 안료로부터 적절히 선택하여 사용할 수 있다.(D) As a colorant, an organic or inorganic pigment or dye is used. As the dye, any dye such as an acid dye, a reaction dye, a direct dye, a disperse dye, and a cationic dye can be used. Further, the pigment is not particularly limited, and may be appropriately selected from known pigments and used.

이들 중에서는, 전자파나 적외선의 차폐성이 양호하면서, 또한 레이저 마킹법에 의한 식별성을 보다 향상시키는 것이 가능한 흑색 안료가 보다 바람직하다. 흑색 안료로서는, 카본 블랙, 산화철, 이산화망간, 아닐린 블랙, 활성탄 등이 사용되지만, 이들에 한정되지는 않는다. 반도체 칩의 신뢰성을 높이는 관점에서는, 카본 블랙이 특히 바람직하다. (D) 착색제는, 1종을 단독으로 사용할 수도 있고, 2종 이상을 조합하여 사용할 수도 있다.Among these, a black pigment that is capable of further improving the discrimination by a laser marking method while having good shielding properties of electromagnetic waves and infrared rays is more preferable. Carbon black, iron oxide, manganese dioxide, aniline black, activated carbon, and the like are used as the black pigment, but are not limited to these. Carbon black is particularly preferable from the viewpoint of increasing the reliability of the semiconductor chip. (D) The colorant may be used alone or in combination of two or more.

(D) 착색제의 배합량은, 보호막 형성용 필름의 전체 질량(고형분 환산)에서 차지하는 비율로서, 바람직하게는 0.01 내지 25질량%, 보다 바람직하게는 0.03 내지 15질량%이다. (D) The blending amount of the colorant is a proportion of the total mass (in terms of solid content) of the film for forming a protective film, preferably 0.01 to 25% by mass, more preferably 0.03 to 15% by mass.

<(E) 커플링제><(E) Coupling agent>

보호막 형성용 필름에는, (E) 커플링제가 배합되어 있을 수도 있다. (E) A coupling agent may be mix | blended with the film for protective film formation.

(E) 커플링제로서는, 메톡시기, 에톡시기 등의 알콕시기를 갖는 실란 커플링제가 바람직하다. 또한, (E) 커플링제로서는, (A) 아크릴계 중합체나 (B) 에폭시계 경화성 성분 등이 갖는 관능기와 반응하는, 알콕시기 이외의 반응성 관능기를 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 반응성 관능기로서는, 글리시독시기, 글리시독시기 이외의 에폭시기, 아미노기, (메트)아크릴옥시기, (메트)아크릴옥시기 이외의 비닐기, 머캅토기 등을 들 수 있다. 이들 중에서는, 글리시독시기, 에폭시기가 바람직하다.(E) As the coupling agent, a silane coupling agent having an alkoxy group such as a methoxy group or an ethoxy group is preferable. Moreover, as (E) coupling agent, the compound which has reactive functional groups other than an alkoxy group which reacts with the functional group which (A) acrylic polymer or (B) epoxy curable component etc. has is used preferably. Examples of the reactive functional group include glycidoxy groups, epoxy groups other than glycidoxy groups, amino groups, (meth) acryloxy groups, vinyl groups other than (meth) acryloxy groups, mercapto groups, and the like. Among these, a glycidoxy group and an epoxy group are preferable.

실란 커플링제로서는, 분자량이 300 미만인 저분자량 실란 커플링제가 사용될 수도 있고, 분자량이 300 이상인 올리고머 타입의 실란 커플링제가 사용될 수도 있고, 그들이 병용될 수도 있다.As the silane coupling agent, a low molecular weight silane coupling agent having a molecular weight of less than 300 may be used, or an oligomeric type silane coupling agent having a molecular weight of 300 or more may be used, or they may be used in combination.

저분자량 실란 커플링제로서는, 구체적으로는 γ-글리시독시프로필트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필트리에톡시실란, γ-글리시독시프로필메틸디에톡시실란, β-(3,4-에폭시시클로헥실)에틸트리메톡시실란, γ-(메타크릴로프로필)트리메톡시실란, N-페닐-γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-우레이도프로필트리에톡시실란, N-6-(아미노에틸)-γ-아미노프로필메틸디에톡시실란, γ-머캅토프로필트리에톡시실란, γ-머캅토프로필메틸디메톡시실란, 비닐트리아세톡시실란 등을 들 수 있다.As a low molecular weight silane coupling agent, specifically, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltriethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, β- (3,4- Epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ- (methacrylopropyl) trimethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-ureidopropyltriethoxysilane, N-6- And (aminoethyl) -γ-aminopropylmethyldiethoxysilane, γ-mercaptopropyltriethoxysilane, γ-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, and vinyl triacetoxysilane.

올리고머 타입의 실란 커플링제는, 실록산 골격을 갖는 오르가노폴리실록산임과 함께, 규소 원자에 직접 결합하는 알콕시기를 갖는 것이 바람직하다. It is preferable that the oligomeric type silane coupling agent is an organopolysiloxane having a siloxane skeleton and has an alkoxy group directly bonded to a silicon atom.

(E) 커플링제의 함유량은, 보호막 형성용 필름의 전체 질량(고형분 환산)에서 차지하는 비율로서, 바람직하게는 0.01 내지 10.0질량%, 보다 바람직하게는 0.1 내지 3.0질량%이다.(E) The content of the coupling agent is a proportion of the total mass (in terms of solid content) of the film for forming a protective film, preferably 0.01 to 10.0 mass%, more preferably 0.1 to 3.0 mass%.

<(F) 경화 촉진제><(F) Curing accelerator>

(F) 경화 촉진제는, 보호막 형성층의 경화 속도를 조정하기 위하여, 보호막 형성용 필름에 함유될 수도 있다.(F) The curing accelerator may be contained in the film for forming a protective film in order to adjust the curing rate of the protective film forming layer.

바람직한 경화 촉진제로서는, 트리에틸렌디아민, 벤질디메틸아민, 트리에탄올아민, 디메틸아미노에탄올, 트리스(디메틸아미노메틸)페놀 등의 3급 아민류; 2-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5-히드록시메틸이미다졸 등의 이미다졸류; 트리부틸포스핀, 디페닐포스핀, 트리페닐포스핀 등의 유기 포스핀류; 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, 트리페닐포스핀테트라페닐보레이트 등의 테트라페닐붕소염 등을 들 수 있다. 이들은 1종 단독으로 또는 2종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.Preferred curing accelerators include tertiary amines such as triethylenediamine, benzyldimethylamine, triethanolamine, dimethylaminoethanol, and tris (dimethylaminomethyl) phenol; 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5 -Imidazoles such as hydroxymethyl imidazole; Organic phosphine such as tributylphosphine, diphenylphosphine, and triphenylphosphine; And tetraphenyl boron salts such as tetraphenyl phosphonium tetraphenyl borate and triphenylphosphine tetraphenyl borate. These can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types.

(F) 경화 촉진제는, (B) 에폭시계 경화성 성분 100질량부에 대하여, 바람직하게는 0.01 내지 10질량부, 더욱 바람직하게는 0.1 내지 5질량부의 양으로 포함된다. (F) 경화 촉진제를 상기 범위의 양으로 함유함으로써, 보호막 형성용 필름은 고온도 고습도 하에 노출되어도 우수한 접착 특성을 갖고, 엄격한 조건에 노출된 경우에도 높은 신뢰성을 달성할 수 있다.The curing accelerator (F) is contained in an amount of preferably 0.01 to 10 parts by mass, and more preferably 0.1 to 5 parts by mass, relative to 100 parts by mass of the epoxy curable component (B). (F) By containing the curing accelerator in an amount in the above range, the film for forming a protective film has excellent adhesion properties even when exposed to high temperature and high humidity, and high reliability can be achieved even when exposed to strict conditions.

<(G) 그 밖의 첨가제><(G) Other additives>

보호막 형성용 필름에 포함될 수도 있는 그 밖의 첨가제로서는, 특별히 이들에 한정되는 것은 아니지만, 가교제, 상용화제, 레벨링제, 가소제, 대전 방지제, 산화 방지제, 이온 포착제, 게터링제, 연쇄 이동제, 에너지선 중합성 화합물, 광중합 개시제 등을 들 수 있다. 보호막 형성용 필름은, 예를 들어 상용화제가 배합됨으로써, (A) 성분이 많은 상과, (B) 성분의 경화물이 많은 상의 상용성을 적절히 조정하여, 적절한 상분리 구조가 설계 가능해진다.Other additives that may be included in the film for forming a protective film are not particularly limited, but crosslinking agents, compatibilizers, leveling agents, plasticizers, antistatic agents, antioxidants, ion trapping agents, gettering agents, chain transfer agents, energy rays Polymerizable compounds, photopolymerization initiators, and the like. For the film for forming a protective film, for example, by mixing a compatibilizer, the compatibility between the phases with many (A) components and the phases with many cured products of (B) components is appropriately adjusted, and an appropriate phase separation structure can be designed.

<그로스값><Gross value>

보호막 형성용 필름은, 상기 배합을 가짐으로써, 경화되어 얻어지는 보호막의 적어도 한쪽의 면의 JIS Z 8741에 의해 측정되는 그로스값이 20 이상으로 되는 것이다. 본 발명에서는, 그로스값이 20 이상으로 되는 면과 반대측의 면을, 웨이퍼에 부착하여 경화함으로써, 보호막의 레이저 마킹에 의한 피인자면이 그로스값 20 이상을 갖게 된다. 그로 인해, 본 발명에서는, 인자부와 비인자부의 콘트라스트가 향상되어, 인자 부분의 식별성이 양호해진다.The film for protective film formation has a gloss value of 20 or more as measured by JIS Z 8741 on at least one surface of the protective film obtained by curing by having the above-mentioned compounding. In the present invention, the surface on the opposite side to the surface having the gross value of 20 or more is attached to the wafer and cured, so that the surface of the target by laser marking of the protective film has a gross value of 20 or more. Therefore, in the present invention, the contrast of the printing portion and the non-printing portion is improved, and the discrimination of the printing portion is improved.

상기 그로스값은, 콘트라스트를 보다 향상시켜, 문자의 식별성을 올리기 때문에, 27 이상인 것이 바람직하다. 또한, 그로스값은, 특별히 한정되지 않지만, 45 이하인 것이 바람직하다.It is preferable that the gross value is 27 or more, because the contrast is further improved to increase the discrimination of characters. Moreover, although a gross value is not specifically limited, It is preferable that it is 45 or less.

또한, 그로스값은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어 에폭시기 함유 단량체나 알킬기의 탄소수가 4 이상인 (메트)아크릴산알킬에스테르 등의 양의 조정, (A) 성분에 대한 (B) 성분의 함유량의 조정, 충전제의 종류의 선택, 충전제의 함유량 또는 입경의 조정, 또는 그 밖의 첨가제의 첨가에 따라 적절히 조정 가능하다.In addition, although the gross value is not specifically limited, For example, adjustment of the amount of the epoxy group containing monomer or the alkyl group (meth) acrylic acid alkyl ester having 4 or more carbon atoms, the content of the component (B) to the component (A) It can be appropriately adjusted according to adjustment, selection of the type of filler, adjustment of the content or particle size of the filler, or addition of other additives.

보호막 형성용 필름의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 바람직하게는 3 내지 300㎛, 보다 바람직하게는 5 내지 250㎛, 더욱 바람직하게는 7 내지 200㎛이다.The thickness of the film for forming a protective film is not particularly limited, but is preferably 3 to 300 μm, more preferably 5 to 250 μm, and even more preferably 7 to 200 μm.

[보호막 형성용 복합 시트][Composite sheet for forming a protective film]

본 발명의 보호막 형성용 필름은, 통상 지지 시트 위에 박리 가능하게 형성되고, 적층체인 보호막 형성용 복합 시트로서 사용된다. 보호막 형성용 필름은, 지지 시트와 동일 형상으로 할 수 있다. 또한, 보호막 형성용 복합 시트는, 보호막 형성용 필름이, 웨이퍼와 대략 동일 형상 또는 웨이퍼의 형상을 그대로 포함할 수 있는 형상으로 제조된 것이며, 보호막 형성용 필름보다도 큰 사이즈의 지지 시트 위에 적층되어 있는, 소위 사전 성형 구성을 취하고 있을 수도 있다.The film for forming a protective film of the present invention is usually formed to be peelable on a support sheet, and is used as a composite sheet for forming a protective film as a laminate. The film for forming a protective film can be made into the same shape as a support sheet. In addition, the composite sheet for forming a protective film is produced in a shape in which the film for forming a protective film can have a shape substantially the same as a wafer or a shape of a wafer, and is laminated on a support sheet having a size larger than the film for forming a protective film. In other words, it may be taking a so-called pre-molding configuration.

지지 시트는, 보호막 형성용 필름을 지지하는 것으로서, 예를 들어 폴리에틸렌 필름, 폴리프로필렌 필름, 폴리부텐 필름, 폴리부타디엔 필름, 폴리메틸펜텐 필름, 폴리염화비닐 필름, 염화비닐 공중합체 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리에틸렌나프탈레이트 필름, 폴리부틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리우레탄 필름, 에틸렌아세트산비닐 공중합체 필름, 아이오노머 수지 필름, 에틸렌·(메트)아크릴산 공중합체 필름, 에틸렌·(메트)아크릴산에스테르 공중합체 필름, 폴리스티렌 필름, 폴리카르보네이트 필름, 폴리이미드 필름, 불소 수지 필름 등의 필름이 사용된다. 또한 이들의 가교 필름도 사용된다. 또한, 이들로부터 선택된 2 이상의 적층 필름일 수도 있다. 또한, 이들을 착색한 필름도 사용할 수 있다.The support sheet supports a film for forming a protective film, for example, polyethylene film, polypropylene film, polybutene film, polybutadiene film, polymethylpentene film, polyvinyl chloride film, vinyl chloride copolymer film, polyethylene terephthalate Film, polyethylene naphthalate film, polybutylene terephthalate film, polyurethane film, ethylene vinyl acetate copolymer film, ionomer resin film, ethylene · (meth) acrylic acid copolymer film, ethylene · (meth) acrylic acid ester copolymer film , Polystyrene films, polycarbonate films, polyimide films, films such as fluororesin films are used. In addition, these crosslinked films are also used. Moreover, it may be two or more laminated films selected from these. Moreover, the film which colored these can also be used.

지지 시트의 보호막 형성용 필름이 형성되는 측의 면은, 적절히 박리 처리가 실시되어 있을 수도 있다. 박리 처리에 사용되는 박리제로서는, 예를 들어 알키드계, 실리콘계, 불소계, 불포화 폴리에스테르계, 폴리올레핀계, 왁스계 등을 들 수 있지만, 알키드계, 실리콘계, 불소계의 박리제가 내열성을 가지므로 바람직하다.The surface on the side of the support sheet on which the film for forming a protective film is formed may be appropriately subjected to a peeling treatment. Examples of the peeling agent used in the peeling treatment include alkyd-based, silicone-based, fluorine-based, unsaturated polyester-based, polyolefin-based, and wax-based adhesives, but the alkyd-based, silicone-based, and fluorine-based peeling agents are preferred because they have heat resistance.

또한, 보호막 형성용 복합 시트에 있어서, 보호막 형성용 필름의 지지 시트가 형성되는 측의 면과는 반대인 면에는, 경박리성의 박리 시트가 접합되어, 그 박리 시트에 의해 보호막 형성용 필름이 보호될 수도 있다.In addition, in the composite sheet for forming a protective film, a light peeling release sheet is bonded to a surface opposite to the surface on the side where the support sheet of the film for forming a protective film is formed, and the film for forming a protective film is protected by the release sheet. It may be.

보호막 형성용 필름은, 상기 각성분을 적당한 비율로, 적당한 용매 중에서 또는 무용매로 혼합하여 이루어지는 보호막 형성용 조성물을, 지지 시트 위에 도포 건조하여 얻어진다. 또한, 지지 시트와는 다른 공정 필름 위에 보호막 형성용 조성물을 도포, 건조하여 성막하고, 적절히, 지지 시트 등에 전사하여 형성할 수도 있다. 공정 필름은, 그 후 제거하지 않고 상술한 박리 시트로서 사용할 수도 있다.The film for forming a protective film is obtained by applying and drying the composition for forming a protective film formed by mixing the above components in an appropriate ratio in a suitable solvent or without a solvent. In addition, a protective film forming composition may be applied onto a process film different from the support sheet, dried and formed into a film, and appropriately transferred to a support sheet or the like to form the film. The process film can also be used as the above-mentioned release sheet without being removed thereafter.

또한, 웨트 라미네이션이나 드라이 라미네이션, 열용융 라미네이션, 용융 압출 라미네이션, 공압출 가공 등에 의해 필름의 적층을 행함으로써 지지 시트의 표면 장력을 조정할 수도 있다. 즉, 적어도 한쪽의 면의 표면 장력이, 상술한 지지 시트의 보호막 형성용 필름과 접하는 면의 것으로서 바람직한 범위 내에 있는 필름을, 당해 면이 보호막 형성용 필름과 접하는 면으로 되도록, 다른 필름과 적층한 적층체를 제조하여, 지지 시트로 할 수도 있다.In addition, the surface tension of the support sheet can also be adjusted by laminating the film by wet lamination, dry lamination, hot melt lamination, melt extrusion lamination, coextrusion, or the like. That is, the film in which the surface tension of at least one surface is within a preferred range as that of the surface contacting the film for forming a protective film of the support sheet described above is laminated with another film so that the surface becomes a surface contacting the film for forming a protective film. A laminate can also be produced and used as a support sheet.

또한, 상기 필름 위에 점착제층을 형성한 점착 시트를 지지 시트로서 사용할 수도 있다. 이 경우, 보호막 형성용 필름은, 지지 시트에 형성된 점착제층 위에 적층된다. 이러한 구성으로 함으로써, 특히 보호막 형성용 복합 시트 위에서 보호막 형성용 필름 또는 보호막마다 웨이퍼를 칩으로 개편화하는 경우에, 웨이퍼나 칩의 고정 성능이 우수한 것으로 되기 때문에 바람직하다. 점착제층을 재박리성 점착제층으로 함으로써, 보호막 형성용 필름 또는 보호막을 지지 시트로부터 분리하는 것이 용이해지기 때문에 바람직하다. 재박리성 점착제층은, 보호막 형성용 필름을 박리할 수 있을 정도의 점착력을 갖는 약점착성의 것을 사용할 수도 있고, 에너지선 조사에 의해 점착력이 저하되는 에너지선 경화성의 것을 사용할 수도 있다. 구체적으로는, 재박리성 점착제층은, 종래부터 공지된 다양한 점착제(예를 들어, 고무계, 아크릴계, 실리콘계, 우레탄계, 비닐에테르계 등의 범용 점착제, 표면 요철이 있는 점착제, 에너지선 경화형 점착제, 열팽창 성분 함유 점착제 등)에 의해 형성할 수 있다.Moreover, the adhesive sheet which formed the adhesive layer on the said film can also be used as a support sheet. In this case, the film for forming a protective film is laminated on the pressure-sensitive adhesive layer formed on the support sheet. By setting it as such a structure, it is preferable because the fixing performance of a wafer or a chip becomes excellent especially when a wafer is divided into chips for every film or protective film for forming a protective film on a composite sheet for forming a protective film. It is preferable to use the pressure-sensitive adhesive layer as a releasable pressure-sensitive adhesive layer because it is easy to separate the protective film forming film or protective film from the support sheet. As the releasable pressure-sensitive adhesive layer, a weakly adhesive substance having an adhesive strength sufficient to release the protective film-forming film may be used, or an energy ray-curable substance having reduced adhesive strength by energy ray irradiation may be used. Specifically, the releasable pressure-sensitive adhesive layer is a variety of pressure-sensitive adhesives conventionally known (for example, rubber-based, acrylic-based, silicone-based, urethane-based, vinyl ether-based general-purpose adhesives, adhesives with surface irregularities, energy ray curable adhesives, thermal expansion) Component-containing adhesives, and the like).

에너지선 경화성의 재박리성 점착제층을 사용하는 경우에 있어서, 보호막 형성용 복합 시트가 사전 성형 구성을 취할 때는, 보호막 형성용 필름이 적층되는 영역에 미리 에너지선 조사를 행하여, 점착성을 저감시켜 두는 한편, 다른 영역은 에너지선 조사를 행하지 않고, 예를 들어 지그로의 접착을 목적으로 하여, 점착력을 높은 상태로 유지해 둘 수도 있다. 다른 영역에만 에너지선 조사를 행하지 않도록 하기 위해서는, 예를 들어 지지 시트의 다른 영역에 대응하는 영역에 인쇄 등에 의해 에너지선 차폐층을 형성하고, 지지 시트측으로부터 에너지선 조사를 행하면 된다. 또한, 마찬가지의 효과를 얻기 위하여, 점착 시트에 있어서의 점착제층 위의 보호막 형성용 필름이 적층되는 영역에, 보호막 형성용 필름과 대략 동일 형상의 재박리성 점착제층을 더 적층한 구성으로 할 수도 있다. 재박리성 점착제용 필름으로서는, 상기와 동일한 것을 사용할 수 있다.In the case of using the energy ray-curable releasable pressure-sensitive adhesive layer, when the composite sheet for forming a protective film has a preformed configuration, energy ray irradiation is performed in advance on the region where the film for forming a protective film is laminated to reduce the adhesiveness. On the other hand, other regions may not be irradiated with energy rays, and for example, for the purpose of adhesion to a jig, the adhesive force may be kept high. In order not to perform energy ray irradiation only in other regions, an energy ray shielding layer may be formed, for example, by printing or the like in a region corresponding to other regions of the support sheet, and energy ray irradiation may be performed from the support sheet side. In addition, in order to obtain the same effect, a structure in which a film for forming a protective film and a removable pressure-sensitive adhesive layer having a substantially the same shape as the film for forming a protective film are further laminated on a region where the film for forming a protective film on the pressure-sensitive adhesive layer in the pressure-sensitive adhesive sheet is laminated may be used. have. As the film for the removable pressure-sensitive adhesive, the same ones as described above can be used.

보호막 형성용 필름이 사전 성형 구성을 취하지 않는 경우에는, 보호막 형성용 필름의 표면(피착체와 접하는 면)의 외주부에는, 링 프레임 등의 다른 지그를 고정하기 위하여, 별도 접착제층이나 양면 점착 테이프가 형성되어 있을 수도 있다. 보호막 형성용 필름이 사전 성형 구성을 취하는 경우에는, 지지 시트의 외주부에 있어서의 보호막 형성용 필름이 적층되어 있지 않은 영역에, 링 프레임 등의 다른 지그를 고정하기 위하여, 별도 접착제층이나 양면 점착 테이프가 형성되어 있을 수도 있다.When the film for forming a protective film does not take a pre-formed configuration, a separate adhesive layer or double-sided adhesive tape is provided on the outer circumference of the surface of the film for forming a protective film (the surface in contact with the adherend) to fix other jigs such as ring frames. It may be formed. When the film for forming a protective film takes a pre-formed configuration, a separate adhesive layer or double-sided adhesive tape is used to fix another jig such as a ring frame in an area where the film for forming a protective film in the outer circumference of the support sheet is not laminated. May be formed.

[보호막 형성용 필름의 사용 방법][How to use the film for forming a protective film]

보호막 형성용 필름은, 반도체 웨이퍼, 반도체 칩 등의 피착체에 부착되고, 그 후 열경화되어 보호막으로서 사용된다. 여기서, 보호막 형성용 필름이, 보호막 형성용 복합 시트로서 피착체에 부착되는 경우에는, 먼저, 박리 시트로 보호되어 있는 경우에는 박리 시트가 박리되고, 계속해서, 보호막 형성용 필름과 지지 필름의 적층체가 피착체에 부착된 후, 지지 시트가 보호막 형성용 필름으로부터 박리된다.The film for forming a protective film is adhered to an adherend such as a semiconductor wafer or a semiconductor chip, and then thermally cured to be used as a protective film. Here, when the film for forming a protective film is adhered to an adherend as a composite sheet for forming a protective film, first, when it is protected by a release sheet, the release sheet is peeled off, and then, the film for protection film formation and the supporting film are laminated. After the body is attached to the adherend, the support sheet is peeled from the film for forming a protective film.

이하, 보호막 형성용 필름의 사용 방법에 대하여, 보호막 형성용 필름이, 반도체 칩의 이면 보호용에 사용되어, 보호막을 구비한 칩이 제조되는 예를 설명하지만, 이하에 나타내는 예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the method of using the film for forming a protective film will be described as an example in which the film for forming a protective film is used for protecting the back surface of a semiconductor chip, and a chip with a protective film is produced, but is not limited to the examples shown below.

본 방법에서는, 먼저, 상기 보호막 형성용 필름을 반도체 웨이퍼의 이면에 적층한다. 예를 들어, 보호막 형성용 복합 시트를 사용하는 경우에는, 보호막 형성용 필름과 기재 시트의 적층체를 반도체 웨이퍼의 이면에 부착한다. 그 후, 보호막 형성용 필름으로부터 지지 시트를 박리한 후, 반도체 웨이퍼 위에 적층된 보호막 형성용 필름을 열경화하여, 웨이퍼의 전체면에 보호막을 형성한다.In this method, first, the film for forming a protective film is laminated on the back surface of a semiconductor wafer. For example, when a composite sheet for forming a protective film is used, a laminate of a film for forming a protective film and a base sheet is attached to the back surface of the semiconductor wafer. Then, after peeling the support sheet from the film for forming a protective film, the film for forming a protective film laminated on a semiconductor wafer is thermally cured to form a protective film on the entire surface of the wafer.

또한, 반도체 웨이퍼는, 실리콘 웨이퍼일 수도 있고, 또한 갈륨·비소 등의 화합물 반도체 웨이퍼일 수도 있다. 또한, 반도체 웨이퍼는, 그 표면에 회로가 형성되어 있음과 함께, 이면이 적절히 연삭 등 되어, 두께가 50 내지 500㎛ 정도로 되는 것이다.Further, the semiconductor wafer may be a silicon wafer or a compound semiconductor wafer such as gallium arsenide. In addition, the semiconductor wafer has a circuit formed on its surface, the back surface is appropriately ground, and the like, and has a thickness of about 50 to 500 µm.

계속해서, 반도체 웨이퍼와 보호막의 적층체를 웨이퍼 표면에 형성된 회로마다 다이싱한다. 다이싱은, 웨이퍼와 보호막을 모두 절단하도록 행하여져, 다이싱에 의해 반도체 웨이퍼와 보호막의 적층체는 복수의 칩으로 분할된다. 또한, 웨이퍼의 다이싱은, 다이싱 시트를 사용한 통상의 방법에 의해 행하여진다. 계속해서, 다이싱된 칩을 콜릿 등의 범용 수단에 의해 픽업함으로써, 이면에 보호막을 갖는 반도체 칩(보호막을 구비한 칩)을 얻는다.Subsequently, the laminate of the semiconductor wafer and the protective film is diced for each circuit formed on the wafer surface. Dicing is performed so as to cut both the wafer and the protective film, and the dicing of the semiconductor wafer and the protective film is divided into a plurality of chips by dicing. In addition, dicing of a wafer is performed by the usual method using a dicing sheet. Subsequently, the diced chip is picked up by a general-purpose means such as collet to obtain a semiconductor chip (a chip with a protective film) having a protective film on the back surface.

또한, 반도체 칩의 제조 방법은, 이상의 예에 한정되지 않고, 예를 들어 지지 시트의 박리가, 보호막의 열경화 후에 행해질 수도 있고, 다이싱 후에 행할 수도 있다. 또한, 지지 시트의 박리가, 다이싱 후에 행하여지는 경우, 지지 시트는 다이싱 시트로서의 역할을 할 수 있다. 또한, 보호막 형성용 필름의 열경화는, 다이싱 후에 행할 수도 있다.In addition, the manufacturing method of a semiconductor chip is not limited to the above example, For example, peeling of a support sheet may be performed after thermosetting of a protective film, or after dicing. Moreover, when peeling of a support sheet is performed after dicing, the support sheet can serve as a dicing sheet. Moreover, the thermosetting of the film for protective film formation can also be performed after dicing.

[보호막을 구비한 칩][Chip with protective film]

본 발명의 보호막을 구비한 칩은, 예를 들어 상기 제조 방법에 의해 얻어지고, 반도체 칩과, 해당 반도체 칩의 이면에 적층되는 보호막을 구비하고, 해당 보호막은, 상술한 보호막 형성용 필름을 경화시켜 형성되고, 칩 이면을 보호하는 것이다. 보호막은, 반도체 칩측의 면과는 반대인 면이, JIS Z 8741에 의해 측정되는 그로스값이 20 이상으로 되는 것이다.The chip provided with the protective film of the present invention is obtained, for example, by the above manufacturing method, and includes a semiconductor chip and a protective film laminated on the back surface of the semiconductor chip, and the protective film cures the film for forming the protective film described above. It is formed to protect the back side of the chip. In the protective film, the surface opposite to the surface on the semiconductor chip side has a gross value of 20 or more as measured by JIS Z 8741.

보호막을 구비한 칩을, 페이스 다운 방식으로 기판 등의 위에 실장함으로써 반도체 장치를 제조할 수 있다. 또한, 보호막을 구비한 칩은 다이 패드부 또는 별도의 반도체 칩 등의 다른 부재 위(칩 탑재부 위)에 접착함으로써, 반도체 장치를 제조할 수도 있다.A semiconductor device can be manufactured by mounting a chip with a protective film on a substrate or the like in a face-down method. In addition, the semiconductor device can also be manufactured by adhering a chip with a protective film onto another member (on a chip mounting portion) such as a die pad portion or a separate semiconductor chip.

<실시예><Example>

이하, 실시예에 기초하여 본 발명을 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들 예에 의해 제한되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on examples, but the present invention is not limited by these examples.

본 발명에 있어서의 측정 방법, 평가 방법은 이하와 같다.The measurement method and evaluation method in the present invention are as follows.

(1) 중량 평균 분자량(Mw) (1) Weight average molecular weight (Mw)

겔 투과 크로마토그래피(GPC)법에 의해, 표준 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량 Mw를 측정했다. The weight average molecular weight Mw of standard polystyrene conversion was measured by the gel permeation chromatography (GPC) method.

측정 장치: 도소사제의 고속 GPC 장치 「HLC-8120GPC」에, 고속 칼럼 「TSK 가드 칼럼(guard column) HXL-H」, 「TSK 겔(Gel) GMHXL」, 「TSK 겔 G2000 HXL」(이상, 모두 도소사제)을 이 순서로 연결하여 측정했다.Measuring device: Tosoh's high-speed GPC device `` HLC-8120GPC '', the high-speed column `` TSK guard column (guard column) H XL- H '', `` TSK gel (Gel) GMH XL '', `` TSK gel G2000 H XL '' ( As described above, all manufactured by Tosoh Corporation) were connected and measured in this order.

칼럼 온도: 40℃, 송액 속도: 1.0mL/분, 검출기: 시차 굴절률계 Column temperature: 40 ° C, feeding rate: 1.0 mL / min, detector: differential refractive index meter

(2) 그로스값(2) Gross value

#2000 연마한 실리콘 웨이퍼(200㎜ 직경, 두께 280㎛)의 연마면에, 박리 시트를 박리한 보호막 형성용 복합 시트의 보호막 형성용 필름을, 테이프 마운터(린텍 가부시끼가이샤제, 애드윌(Adwill) RAD-3600 F/12)를 사용하여 70℃로 가열하면서 부착했다. 계속해서, 지지 시트를 박리한 후, 130℃에서 2시간 가열을 행함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화하여, 실리콘 웨이퍼 위에 보호막을 형성했다. 하기 측정 장치 및 측정 조건에서, 보호막 표면의 60도의 경면 광택도를 측정하여, 그로스값으로 했다.A film for forming a protective film of a composite sheet for forming a protective film obtained by peeling a release sheet on a polished surface of a # 2000 polished silicon wafer (200 mm diameter, 280 μm thick), a tape mounter (Adwill, manufactured by Lintec Co., Ltd.) ) RAD-3600 F / 12) was used while heating to 70 ° C. Subsequently, after peeling a support sheet, the film for protective film formation was hardened by heating at 130 degreeC for 2 hours, and the protective film was formed on the silicon wafer. Under the following measurement apparatus and measurement conditions, the mirror surface glossiness of 60 degrees of the protective film surface was measured, and it was set as the gross value.

측정 장치: VG 2000 닛본 덴쇼꾸 고교 가부시끼가이샤제 Measuring device: VG 2000 Nippon Denshoku High School, Ltd.

측정 조건: JIS Z 8741에 준함 Measurement conditions: according to JIS Z 8741

(3) 문자의 인식성(인자성)(3) Recognition of characters (humanity)

#2000 연마한 실리콘 웨이퍼(200㎜ 직경, 두께 280㎛)의 연마면에, 박리 시트를 박리한 보호막 형성용 복합 시트의 보호막 형성용 필름을, 테이프 마운터(린텍 가부시끼가이샤제, 애드윌 RAD-3600 F/12)를 사용하여 70℃로 가열하면서 부착했다. 계속해서, 지지 시트를 박리한 후, 130℃에서 2시간 가열을 행함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화하여, 실리콘 웨이퍼에 보호막을 형성했다. 보호막 표면에, 레이저 인자 장치(파나소닉 디바이스 SUNX 가부시끼가이샤제 LP-V10U, 레이저 파장: 1056㎚)를 사용하여, 1문자의 폭이 300㎛ 이하인 문자를 4문자 인자했다. 얻어진 인자 완료된 보호막면을 디지털 현미경으로 확인하여, 인자가 판독 가능한지를 화상으로 확인했다. 판단 기준은, 디지털 현미경의 관찰 시에, 직사광으로 인자부를 비추었을 때, 충분히 판독 가능을 "A", 판독 가능하지만 선명하지 않음을 "B", 판독 불가능을 "F"라고 표현했다. A film for forming a protective film of a composite sheet for forming a protective film obtained by peeling a release sheet on a polished surface of a # 2000 polished silicon wafer (200 mm diameter, 280 μm thick), a tape mounter (made by Lintec Co., Ltd., Adwill RAD- 3600 F / 12) while heating to 70 ° C. Subsequently, after peeling a support sheet, the film for protective film formation was hardened by heating at 130 degreeC for 2 hours, and the protective film was formed on the silicon wafer. A laser printing apparatus (LP-V10U manufactured by Panasonic Device SUNX, laser wavelength: 1056 nm) was used on the surface of the protective film to print four characters of characters having a width of 300 µm or less. The obtained printed protective film surface was checked with a digital microscope to confirm whether the printing was readable. As for the judgment criteria, when observing the digital microscope, when the printing part was illuminated with direct sunlight, "A" was readable enough, "B" was readable but not clear, and "F" was not readable.

(4) 신뢰성 평가(4) Reliability evaluation

#2000 연마한 실리콘 웨이퍼(200㎜ 직경, 두께 280㎛)의 연마면에, 박리 시트를 박리한 보호막 형성용 복합 시트의 보호막 형성용 필름을, 테이프 마운터(린텍 가부시끼가이샤제, 애드윌 RAD-3600 F/12)를 사용하여, 70℃로 가열하면서 부착했다. 계속해서, 지지 시트를 박리한 후, 130℃에서 2시간 가열을 행함으로써, 보호막 형성용 필름을 경화하여, 실리콘 웨이퍼 위에 보호막을 형성했다. 그리고, 보호막측을 다이싱 테이프(린텍 가부시끼가이샤제 애드윌 D-676H)에 부착하고, 다이싱 장치(가부시끼가이샤 디스코제, DFD651)를 사용하여 3㎜×3㎜ 크기로 다이싱함으로써 신뢰성 평가용의 보호막을 구비한 칩을 얻었다.A film for forming a protective film of a composite sheet for forming a protective film obtained by peeling a release sheet on a polished surface of a # 2000 polished silicon wafer (200 mm diameter, 280 μm thick), a tape mounter (made by Lintec Co., Ltd., Adwill RAD- 3600 F / 12), while heating to 70 ° C. Subsequently, after peeling a support sheet, the film for protective film formation was hardened by heating at 130 degreeC for 2 hours, and the protective film was formed on the silicon wafer. Reliability by attaching the protective film side to a dicing tape (AdWill D-676H manufactured by Lintec Co., Ltd.) and dicing to a size of 3 mm x 3 mm using a dicing device (manufactured by Disco Co., Ltd., DFD651) A chip with a protective film for evaluation was obtained.

상기 신뢰성 평가용의 보호막을 구비한 칩은, 먼저, 반도체 칩이 실제로 실장되는 프로세스를 모방한 조건(프리컨디션)에서 처리했다. 구체적으로는, 보호막을 구비한 칩을 125℃에서 20시간 베이킹하고, 계속해서, 85℃, 85%RH의 조건 하에 168시간 방치하여 흡습시키고, 그 후 즉시 예열 160℃, 피크 온도 260℃, 가열 시간 30초간의 조건의 IR 리플로우로에 3회 통과시켰다. 이들 프리컨디션으로 처리한 보호막을 구비한 칩 25개를, 냉열 충격 장치(에스펙(ESPEC) 가부시끼가이샤제, TSE-11-A) 내에 설치하고, -65℃에서 10분간 유지하고, 그 후 150℃에서 10분간 유지하는 사이클을 1000회 반복했다.The chip provided with the protective film for reliability evaluation was first processed under conditions (preconditions) that mimic the process in which the semiconductor chip is actually mounted. Specifically, the chip with the protective film was baked at 125 ° C for 20 hours, and then left to stand for 168 hours under the conditions of 85 ° C and 85% RH to absorb moisture, and then immediately preheat 160 ° C, peak temperature 260 ° C, and heating It was passed through the IR reflow furnace three times under the condition of time 30 seconds. Twenty-five chips with protective films treated with these pre-conditions were installed in a cold heat shock device (ESPEC manufactured by TSE-11-A), held at -65 ° C for 10 minutes, and thereafter. The cycle of holding at 150 ° C for 10 minutes was repeated 1000 times.

그 후, 25개의 보호막을 구비한 칩을 냉열 충격 장치로부터 취출하여 신뢰성을 평가했다. 구체적으로는, 칩과 보호막의 접합부에서의 들뜸·박리나 보호막에 있어서의 크랙의 유무를, 주사형 초음파 탐상 장치(히타치 겐키 파인 테크 가부시끼가이샤제 하이-포커스(Hye-Focus)) 및 단면 관찰에 의해 평가하여, 들뜸, 박리 및 크랙 중 어느 하나가 있으면 NG라고 했다. 25개의 칩 중 NG의 개수를 표 4에 나타낸다.Thereafter, chips with 25 protective films were taken out from the cold heat shock device to evaluate reliability. Specifically, the presence or absence of excitation / exfoliation at the junction between the chip and the protective film or the presence or absence of cracks in the protective film is observed by a scanning ultrasonic inspection device (Hye-Focus manufactured by Hitachi Genki Fine Tech Co., Ltd.) and cross-section. Evaluated by, it was referred to as NG if any of the lifting, peeling and cracking. Table 4 shows the number of NGs among the 25 chips.

실시예 1Example 1

실시예 1에 있어서, 보호막 형성 필름을 형성하는 성분은 이하와 같았다.In Example 1, the components forming the protective film-forming film were as follows.

(A) 아크릴계 공중합체: 아크릴산n-부틸 1질량부와, 메타크릴산메틸 79질량부와, 아크릴산2-히드록시에틸 15질량부와, 메타크릴산글리시딜 5질량부를 공중합하여 이루어지는 중량 평균 분자량(Mw) 37만, 유리 전이 온도(Tg) 7℃의 공중합체(A) Acrylic copolymer: weight average obtained by copolymerizing 1 part by mass of n-butyl acrylate, 79 parts by mass of methyl methacrylate, 15 parts by mass of 2-hydroxyethyl acrylate, and 5 parts by mass of glycidyl methacrylate Copolymer with molecular weight (Mw) of 370,000 and glass transition temperature (Tg) of 7 ° C

(B) 에폭시계 경화성 성분(B) Epoxy-based curable component

에폭시계 화합물: 비스페놀 A형 에폭시 수지(닛본 쇼꾸바이 가부시끼가이샤제, BPA-328)와, 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지(다이닛본 잉크 가가꾸 고교 가부시끼가이샤제, 에피클론 HP-7200HH) Epoxy-based compounds: bisphenol A-type epoxy resin (manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd., BPA-328) and dicyclopentadiene-type epoxy resin (manufactured by Dai Nippon Ink Chemical Co., Ltd., Epiclon HP-7200HH)

열경화제: 디시안디아미드(가부시끼가이샤 아데카(ADEKA)제, 아데카 하드너3636AS) Heat curing agent: Dicyandiamide (made by ADEKA, Adeka Hardner 3636AS)

(C) 충전제: 평균 입경 8㎛의 용융 석영 필러(실리카 필러, 다쯔모리사제, SV-10을 물리적으로 파쇄한 것) (C) Filler: Fused quartz filler with an average particle diameter of 8 µm (silica filler, manufactured by Tatsumori, physically crushed SV-10)

(D) 착색제: 카본 블랙(미쯔비시 가가꾸 가부시끼가이샤제, MA600, 평균 입경: 28㎚) (D) Coloring agent: Carbon black (Mitsubishi Chemical Co., Ltd., MA600, average particle diameter: 28 nm)

(E) 실란 커플링제: 올리고머 타입 실란 커플링제(신에쯔 가가꾸 고교 가부시끼가이샤제 X-41-1056 메톡시 당량 17.1mmol/g, 분자량 500 내지 1500)와, γ-글리시독시프로필트리에톡시실란(신에쯔 가가꾸 고교 가부시끼가이샤제 KBE-403 메톡시 당량 8.1mmol/g, 분자량 278.4)과, γ-글리시독시프로필트리메톡시실란(신에쯔 가가꾸 고교 가부시끼가이샤제 KBM-403 메톡시 당량 12.7mmol/g, 분자량 236.3)(E) Silane coupling agent: Oligomer type silane coupling agent (X-41-1056 methoxy equivalent of 17.1 mmol / g, molecular weight 500 to 1500, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and γ-glycidoxypropyl tree Ethoxysilane (KBE-403 methoxy equivalent, 8.1 mmol / g, molecular weight 278.4 by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and γ-glycidoxypropyl trimethoxysilane (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. KBM-403 methoxy equivalent 12.7mmol / g, molecular weight 236.3)

(F) 경화 촉진제: 2-페닐-4,5-디히드록시메틸이미다졸(시꼬꾸 가세이 고교 가부시끼가이샤제, 큐어졸 2PHZ)(F) Curing accelerator: 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole (Shikoku Chemical Co., Ltd., Cursol 2PHZ)

상기 각 재료를, 표 1에 나타내는 비율로 배합된 보호막 형성용 조성물을 메틸에틸케톤로 희석하고, 편면에 박리 처리를 실시한 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(린텍 가부시끼가이샤제, SP-PET5011, 두께 50㎛)을 포함하는 지지 시트의 박리 처리면에, 건조 제거 후의 두께가 25㎛로 되도록 도포하고, 100℃에서 3분간 건조하여, 지지 시트 위에 보호막 형성용 필름을 형성했다. 계속해서, 그 보호막 형성용 필름에 별도 박리 시트(린텍 가부시끼가이샤제, SP-PET3811, 두께 38㎛)를 중첩하여, 실시예 1의 보호막 형성용 복합 시트를 얻었다.A polyethylene terephthalate film (SP-PET5011 manufactured by Lintec Co., Ltd., 50 µm thick) obtained by diluting the composition for forming a protective film blended with each of the materials in the ratio shown in Table 1 with methyl ethyl ketone and peeling treatment on one side. On the peeling treatment surface of the support sheet containing, the thickness after drying and removal was applied to be 25 µm, and dried at 100 ° C for 3 minutes to form a film for forming a protective film on the support sheet. Subsequently, another release sheet (made by Lintec Co., Ltd., SP-PET3811, thickness 38 µm) was superimposed on the film for forming a protective film to obtain a composite sheet for forming a protective film of Example 1.

실시예 2, 비교예 1 내지 6 Example 2, Comparative Examples 1-6

(A) 아크릴계 공중합체로서, 표 2에 나타내는 것을 사용한 점을 제외하고는, 실시예 1과 마찬가지로 실시했다. 또한, 각 실시예, 비교예의 (A) 아크릴 공중합체에 대하여, 중량 평균 분자량(Mw) 및 유리 전이 온도(Tg)를 아울러 표 2에 나타낸다.(A) It carried out similarly to Example 1 except having used what was shown in Table 2 as an acrylic copolymer. Table 2 also shows the weight average molecular weight (Mw) and glass transition temperature (Tg) for the acrylic copolymer (A) of each of Examples and Comparative Examples.

Figure 112015051748858-pct00001
Figure 112015051748858-pct00001

Figure 112015051748858-pct00002
Figure 112015051748858-pct00002

실시예 3Example 3

(C) 성분으로서, 평균 입경 8㎛의 실리카 필러 대신에 평균 입경 3㎛의 실리카 필러(가부시끼가이샤 토쿠야마제, UF310)를 사용한 것 이외는 실시예 2와 마찬가지로 실시했다.(C) It carried out similarly to Example 2 except having used the silica filler (made by Tokuyama Corporation, UF310) of an average particle diameter of 3 micrometers instead of the silica filler of average particle diameter 8 micrometers as a component.

실시예 4Example 4

(C) 성분으로서, 평균 입경 8㎛의 실리카 필러 대신에 평균 입경 0.5㎛의 실리카 필러(아드마텍스사제, SC2050MA)를 사용한 것 이외는 실시예 2와 마찬가지로 실시했다.As a component (C), it carried out similarly to Example 2 except having used the silica filler (SC2050MA by Admatex Corporation) with an average particle diameter of 0.5 micrometer instead of the silica filler of average particle diameter of 8 micrometers.

실시예 5, 6Examples 5 and 6

(C) 성분의 배합량을 표 3에 나타낸 바와 같이 변경한 점을 제외하고 실시예 2와 마찬가지로 실시했다.(C) It carried out similarly to Example 2 except having changed the compounding quantity of a component as shown in Table 3.

실시예 7, 8Examples 7, 8

(A) 및 (B) 성분의 배합량을 표 3에 나타낸 바와 같이 변경한 점을 제외하고 실시예 2와 마찬가지로 실시했다.It carried out similarly to Example 2 except having changed the compounding quantity of (A) and (B) component as shown in Table 3.

Figure 112015051748858-pct00003
Figure 112015051748858-pct00003

각 실시예 1 내지 8, 비교예 1 내지 6에 대하여, 그로스값을 측정함과 함께, 인자 인식성 및 신뢰성을 평가했다. 결과를 표 4에 나타낸다.For each of Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 6, the gross value was measured, and the factor recognition and reliability were evaluated. Table 4 shows the results.

Figure 112015051748858-pct00004
Figure 112015051748858-pct00004

표 4로부터 명백해진 바와 같이, 실시예 1 내지 8에서는, (A) 아크릴계 중합체가, 구성 단량체로서 8질량% 이하의 에폭시기 함유 단량체를 포함하면서, 또한 유리 전이 온도가 -3℃ 이상임으로써, (A) 성분이 많은 상과 (B) 성분의 경화물이 많은 상의 상분리성이 양호해지면서, 또한 그로스값도 20 이상으로 할 수 있었기 때문에, 인자 인식성 및 신뢰성의 양쪽을 양호하게 할 수 있었다.As is apparent from Table 4, in Examples 1 to 8, (A) the acrylic polymer contained 8 mass% or less of an epoxy group-containing monomer as a constituent monomer, and the glass transition temperature was -3 ° C or higher, (A ) As the phase separation property of the phase with many components and the phase with many cured products of component (B) became good, and the gross value could also be set to 20 or more, both the factor recognition and reliability could be improved.

한편, 비교예 1에서는, (A) 아크릴계 중합체가, 구성 단량체로서 에폭시기 함유 단량체를 포함하지 않았기 때문에, 상분리에 기인하여 보호막 표면에 미소한 요철이 생겨, 그 결과, 보호막 표면에서의 반사광의 산란을 초래했다. 따라서, 그로스값이 작아져, 인자 인식성이 나빠졌다. 또한, 비교예 2, 3, 6에서는, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도가 -3℃ 미만으로 되었기 때문에, 보호막이 열 이력에 의해 변형되었다고 추정되어, NG 칩의 수가 많아져, 보호막을 구비한 칩의 신뢰성을 충분히 향상시킬 수 없었다. 또한, 비교예 4, 5에서는, (A) 아크릴계 중합체가, 구성 단량체로서 에폭시기 함유 단량체를 다량으로 포함했기 때문에, (A) 성분과 (B) 성분의 친화성이 높아 상분리가 일어나기 어려워져, 보호막을 구비한 칩의 신뢰성은 낮아졌다.On the other hand, in Comparative Example 1, since the acrylic polymer (A) did not contain an epoxy group-containing monomer as a constituent monomer, minute unevenness occurred on the surface of the protective film due to phase separation, and as a result, scattering of reflected light on the surface of the protective film Effect. Therefore, the gross value became small, and the printability was deteriorated. In Comparative Examples 2, 3, and 6, the glass transition temperature of the acrylic polymer (A) was less than -3 ° C, so it was estimated that the protective film was deformed by thermal history, and the number of NG chips increased, and the protective film was provided. The reliability of one chip could not be sufficiently improved. In addition, in Comparative Examples 4 and 5, since the (A) acrylic polymer contained a large amount of the epoxy group-containing monomer as a constituent monomer, the affinity between the (A) component and the (B) component was high, and phase separation was unlikely to occur, resulting in a protective film. The reliability of the chip equipped with was lowered.

Claims (8)

반도체 칩을 보호하는 보호막을 형성하기 위한 보호막 형성용 필름이며,
상기 보호막 형성용 필름이 (A) 아크릴계 중합체, (B) 에폭시계 경화성 성분 및 (C) 충전재를 함유하고,
(A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체가 전체 단량체의 8질량% 이하의 비율로 에폭시기 함유 단량체를 포함함과 함께, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도가 -3℃ 이상이고,
(A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체가 (메트)아크릴산알킬에스테르를 더 포함하면서, 또한 상기 (메트)아크릴산알킬에스테르 중, 알킬기의 탄소수가 4 이상인 (메트)아크릴산알킬에스테르를, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 전체 단량체의 12질량% 이하의 비율로 포함하고,
상기 보호막 형성용 필름을 경화하여 얻은 보호막의 적어도 일면의 JIS Z 8741에 의해 측정되는 그로스값이 20 이상인, 보호막 형성용 필름.
A film for forming a protective film for forming a protective film for protecting a semiconductor chip,
The film for forming a protective film contains (A) an acrylic polymer, (B) an epoxy-based curable component, and (C) a filler,
(A) while the monomer constituting the acrylic polymer contains an epoxy group-containing monomer in a proportion of 8% by mass or less of the total monomers, and (A) the glass transition temperature of the acrylic polymer is -3 ° C or higher,
(A) While the monomer constituting the acrylic polymer further contains an (meth) acrylic acid alkyl ester, and among the (meth) acrylic acid alkyl esters, the (meth) acrylic acid alkyl ester having 4 or more carbon atoms in the alkyl group is (A) an acrylic polymer. And 12% by mass or less of all monomers constituting
A film for forming a protective film having a gross value of 20 or more as measured by JIS Z 8741 on at least one surface of the protective film obtained by curing the film for forming a protective film.
제1항에 있어서, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도가 6℃ 이하인, 보호막 형성용 필름.The film for forming a protective film according to claim 1, wherein the glass transition temperature of the acrylic polymer (A) is 6 ° C. or less. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 알킬기의 탄소수가 4 이상인 (메트)아크릴산알킬에스테르가 (메트)아크릴산부틸인, 보호막 형성용 필름.The film for forming a protective film according to claim 1 or 2, wherein the alkyl group has a (meth) acrylic acid alkyl ester having 4 or more carbon atoms (butyl) (meth) acrylate. 제1항 또는 제2항에 있어서, (C) 충전재의 함유량이 보호막 형성용 필름의 50질량% 이상인, 보호막 형성용 필름.The film for forming a protective film according to claim 1 or 2, wherein the content of the filler (C) is 50% by mass or more of the film for forming a protective film. 제1항 또는 제2항에 있어서, (D) 착색제를 더 함유하는, 보호막 형성용 필름.The film for forming a protective film according to claim 1 or 2, further comprising a colorant (D). 반도체 칩과, 상기 반도체 칩 위에 형성되는 보호막을 구비하는, 보호막을 구비한 칩이며,
상기 보호막이 보호막 형성용 필름을 경화시켜 형성된 것임과 함께, 상기 보호막 형성용 필름이 (A) 아크릴계 중합체, (B) 에폭시계 경화성 성분 및 (C) 충전재를 함유하고,
(A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체가 전체 단량체의 8질량% 이하의 비율로 에폭시기 함유 단량체를 포함함과 함께, (A) 아크릴계 중합체의 유리 전이 온도가 -3℃ 이상이고,
(A) 아크릴계 중합체를 구성하는 단량체가 (메트)아크릴산알킬에스테르를 더 포함하면서, 또한 상기 (메트)아크릴산알킬에스테르 중, 알킬기의 탄소수가 4 이상인 (메트)아크릴산알킬에스테르를, (A) 아크릴계 중합체를 구성하는 전체 단량체의 12질량% 이하의 비율로 포함하고,
상기 보호막은, 상기 반도체 칩측의 면과는 반대인 면이 JIS Z 8741에 의해 측정되는 그로스값이 20 이상인, 보호막을 구비한 칩.
A semiconductor chip and a chip having a protective film, the protective film being formed on the semiconductor chip,
While the protective film is formed by curing the film for forming a protective film, the film for forming a protective film contains (A) an acrylic polymer, (B) an epoxy-based curable component, and (C) a filler,
(A) while the monomer constituting the acrylic polymer contains an epoxy group-containing monomer in a proportion of 8% by mass or less of the total monomers, and (A) the glass transition temperature of the acrylic polymer is -3 ° C or higher,
(A) While the monomer constituting the acrylic polymer further contains an (meth) acrylic acid alkyl ester, and among the (meth) acrylic acid alkyl esters, the (meth) acrylic acid alkyl ester having 4 or more carbon atoms in the alkyl group is (A) an acrylic polymer. And 12% by mass or less of all monomers constituting
The protective film is a chip provided with a protective film having a gross value of 20 or more on a surface opposite to the surface on the semiconductor chip side measured by JIS Z 8741.
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6388228B2 (en) * 2013-12-27 2018-09-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 Liquid epoxy resin composition for semiconductor encapsulation and semiconductor device using the same
JP6458290B2 (en) * 2014-03-28 2019-01-30 リンテック株式会社 Protective film forming film and method of manufacturing semiconductor chip with protective film
JP7154732B2 (en) 2016-03-31 2022-10-18 味の素株式会社 resin composition
JP6353868B2 (en) * 2016-06-07 2018-07-04 リンテック株式会社 Protective film forming sheet
KR102487552B1 (en) 2018-02-05 2023-01-11 삼성전자주식회사 Composition for protective film against sawing process and method of manufacturing semiconductor package using the composition
JP7156335B2 (en) * 2020-06-03 2022-10-19 味の素株式会社 RESIN COMPOSITION, ADHESIVE FILM, COMPONENT-BUILDING CIRCUIT BOARD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SHEET-LIKE RESIN COMPOSITION

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004074472A (en) * 2002-08-12 2004-03-11 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Matting acrylic thermoplastic resin film and acrylic laminate of the film
JP2004214288A (en) * 2002-12-27 2004-07-29 Lintec Corp Protection film forming sheet for chip
JP2007250970A (en) * 2006-03-17 2007-09-27 Hitachi Chem Co Ltd Film for protecting rear face of semiconductor element, semiconductor device using the same and manufacturing method thereof

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3601443B2 (en) 1999-11-30 2004-12-15 日立化成工業株式会社 Adhesive film, method of manufacturing the same, wiring board for mounting semiconductor, and semiconductor device
JP3544362B2 (en) 2001-03-21 2004-07-21 リンテック株式会社 Method for manufacturing semiconductor chip
JP2008006386A (en) * 2006-06-29 2008-01-17 Furukawa Electric Co Ltd:The Method for forming protective film using protective-film-forming sheet for chip
JP2009130233A (en) * 2007-11-27 2009-06-11 Furukawa Electric Co Ltd:The Film for chip protection
CN102083932B (en) * 2008-07-01 2014-08-20 Lg化学株式会社 Acrylic composition for optical members, protective film for optical members, polarizing plate, and liquid crystal display
CN102372826A (en) * 2010-08-12 2012-03-14 株式会社Lg化学 Thermally curable resin composition for protective film
JP5893250B2 (en) * 2011-01-31 2016-03-23 リンテック株式会社 Chip protective film forming sheet, semiconductor chip manufacturing method, and semiconductor device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004074472A (en) * 2002-08-12 2004-03-11 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Matting acrylic thermoplastic resin film and acrylic laminate of the film
JP2004214288A (en) * 2002-12-27 2004-07-29 Lintec Corp Protection film forming sheet for chip
JP2007250970A (en) * 2006-03-17 2007-09-27 Hitachi Chem Co Ltd Film for protecting rear face of semiconductor element, semiconductor device using the same and manufacturing method thereof

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