KR102101052B1 - 3d tsv assembly method for mass reflow - Google Patents

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Abstract

본 명세서에서는 공기가 통과하여 흐를 수 있도록 적어도 하나의 개구부를 포함하는 플레이트를 노즐로 픽업하는 단계를 포함하는 방법이 개시되어 있다. 그 방법은 플레이트가 노즐과 다이 사이에 위치되도록 다이를 노즐로 픽업하는 단계를 포함한다. 그 방법은 플레이트가 다이의 최상부 상에 위치되도록 다이와 플레이트를 디바이스, 기판 또는 다른 다이 상에 배치하는 단계를 포함한다. 그 방법은 다이를 디바이스, 기판 또는 다른 다이에 영구적으로 부착하도록 플레이트가 다이의 최상부 상에 남아 있는 동안 가열 챔버에서 그 다이와 디바이스, 기판 또는 다른 다이를 가열하는 단계를 포함한다. 본 명세서에서는 가열에 의해 다이를 디바이스, 기판 또는 다른 다이에 부착하기 위해 플레이트와 다이 조합을 이용하는 방법을 수행하도록 구성된 조립 시스템이 더 개시되어 있다.Disclosed herein is a method comprising picking up a plate comprising at least one opening with a nozzle to allow air to flow through. The method includes picking up the die with a nozzle such that the plate is positioned between the nozzle and the die. The method includes placing the die and plate on a device, substrate or other die such that the plate is positioned on top of the die. The method includes heating the die and the device, substrate, or other die in a heating chamber while the plate remains on top of the die to permanently attach the die to the device, substrate, or other die. Further disclosed herein is an assembly system configured to perform a method of using a plate and die combination to attach a die to a device, substrate, or other die by heating.

Figure 112015029395817-pct00001
Figure 112015029395817-pct00001

Description

양산 리플로우를 위한 3D TSV 조립 방법{3D TSV ASSEMBLY METHOD FOR MASS REFLOW}3D TSV ASSEMBLY METHOD FOR MASS REFLOW for mass production reflow

관련 출원에 대한 상호 참조Cross reference to related applications

본 출원은 2012년 8월 30일자로 출원된 미국 가출원 제61/659,092호(발명의 명칭: 3D TSV ASSEMBLY METHOD FOR MASS REFLOW)의 유익을 주장한다.This application claims the benefit of US Provisional Application No. 61 / 659,092 filed August 30, 2012 (invention name: 3D TSV ASSEMBLY METHOD FOR MASS REFLOW).

기술분야Technology field

본 개시는 일반적으로는 전자 조립에 관한 것이다. 더 구체적으로, 본 개시는 양산 리플로우 또는 리플로우 솔더링(reflow soldering)을 위한 3D 조립(소위 3D 스루-실리콘 비아(through-silicon via: "TSV")라고도 함)의 일부분으로서 기판 상의 다이 또는 다른 다이 상의 다이의 조립 방법에 관한 것이다.The present disclosure generally relates to electronic assembly. More specifically, the present disclosure is part of a 3D assembly for mass production reflow or reflow soldering (also called 3D through-silicon via ("TSV")) as a part of a die or other on a substrate. It relates to a method of assembling a die on a die.

다이 상의 다이 또는 3D TSV 조립 내 다이들은 가열 또는 양산 리플로우 또는 본딩 공정 동안 다이가 말리는 경향을 가질 정도로 얇을 수 있다. 이것은 산업계에서는 "포테이토 칩" 효과라고 지칭된다. "포테이토 칩" 효과는 베이스 다이와 상위 다이 간 많은 불량 접속을 남긴다. 이러한 문제에 대한 현재의 해법은 배치시 다이의 인 사이투 본딩을 가능하게 할 특수 노즐을 사용하는 것이다. 이러한 해법에 대한 문제는 노즐이 제거될 수 있기 전에 흔히 다이가 열 처리될 필요가 있다는 것이다. 이것의 속도를 높이기 위하여, 노즐은 가열되어야 하고 또한 신속히 냉각될 수 있어야 한다. 그래서, 노즐에 의한 다이의 배치 공정 전체는 각각의 다이에 대해 상당량의 시간이 걸리는데, 노즐이 또 다른 부분을 픽업하도록 이동하기 전에 다이를 가열 및 냉각하기 위해 배치 장소에 남아 있어야 하기 때문이다. 진행이 이루어졌더라도, 위 가열 및 냉각 공정은 매우 낮은 배치 레이트의 결과를 초래한다. 더욱, 이들 공정을 수행하는데 요구되는 장비는 요구되는 배치의 정확도 때문에 비싸다. 그래서, 장비 비용 및 시간 비용(다이당 5 내지 60초의 택트 타임을 가짐)은 이것을 TSV 조립에 있어서 비싼 공정 단계로 만든다. 부가적으로, 노즐 선단에서 국소 가열 및 냉각의 사용은 배치 및 부착 단계에서 요구되는 정확도에 도달하는 것을 더 어렵게 한다.The dies on the die or dies in the 3D TSV assembly can be thin enough to tend to die during the heating or mass production reflow or bonding process. This is called the "potato chip" effect in industry. The "potato chip" effect leaves many bad connections between the base die and the upper die. The current solution to this problem is to use a special nozzle that will enable in-situ bonding of the die during deployment. The problem with this solution is that the die often needs to be heat treated before the nozzle can be removed. To speed it up, the nozzle must be heated and also able to cool quickly. So, the entire process of placing the die by the nozzle takes a considerable amount of time for each die, because the nozzle must remain at the placement site to heat and cool the die before moving to pick up another portion. Even if progress has been made, the above heating and cooling process results in a very low batch rate. Moreover, the equipment required to perform these processes is expensive due to the required batch accuracy. So, equipment cost and time cost (with a tact time of 5 to 60 seconds per die) make this an expensive process step in TSV assembly. Additionally, the use of local heating and cooling at the tip of the nozzle makes it more difficult to reach the required accuracy in the placement and attachment steps.

그리하여, 여기 위에서 설명된 문제 중 다수를 경감 또는 방지하는 양산 리플로우 방법과 호환가능한 다이 상의 다이 또는 3D TSV 조립 방법 및 조립 기계는 당업계에서 잘 수용될 것이다.Thus, a die or 3D TSV assembly method and assembly machine on a die compatible with mass production reflow methods that alleviate or prevent many of the problems described herein above will be well accepted in the art.

일 실시예에 의하면, 방법은: 공기가 통과하여 흐를 수 있도록 적어도 하나의 개구부를 포함하는 플레이트를 노즐로 픽업하는 단계; 플레이트가 노즐과 다이 사이에 위치되도록 다이를 노즐로 픽업하는 단계; 플레이트가 다이의 최상부 상에 위치되도록 다이와 플레이트를 디바이스, 기판 또는 다른 다이 상에 배치하는 단계; 및 다이를 디바이스, 기판 또는 다른 다이에 영구적으로 부착하도록 플레이트가 다이의 최상부 상에 남아 있는 동안 가열 챔버에서 디바이스와 다이를 가열하는 단계를 포함한다.According to one embodiment, the method comprises: picking up a plate comprising at least one opening to allow the air to flow through the nozzle; Picking up the die with the nozzle such that the plate is positioned between the nozzle and the die; Placing the die and plate on a device, substrate or other die such that the plate is positioned on top of the die; And heating the device and die in a heating chamber while the plate remains on top of the die to permanently attach the die to the device, substrate, or other die.

다른 일 실시예에 의하면, 방법은, a) 플레이트가 다이와 노즐 사이에 위치되도록 플레이트와 다이의 조합을 노즐로 픽업하는 단계; b) 플레이트와 다이의 조합을 디바이스, 기판 또는 다른 다이 상에 배치하는 단계; c) 디바이스, 기판 또는 다른 다이에 플레이트와 다이의 복수의 조합을 실장하도록 단계 a) 및 단계 b)를 반복하는 단계; d) 다이의 각각을 디바이스, 기판 또는 다른 다이에 부착하도록 플레이트와 다이의 복수의 조합과 디바이스, 기판 또는 다른 다이를 동시에 가열하는 단계; 및 e) 플레이트의 각각을 다이의 각각으로부터 제거하는 단계를 포함한다.According to another embodiment, a method includes: a) picking up a combination of a plate and die with a nozzle such that the plate is positioned between the die and the nozzle; b) placing the combination of plate and die on a device, substrate or other die; c) repeating steps a) and b) to mount multiple combinations of plates and dies on a device, substrate or other die; d) simultaneously heating the device, substrate or other die and multiple combinations of plates and die to attach each of the die to the device, substrate or other die; And e) removing each of the plates from each of the dies.

다른 일 실시예에 의하면, 조립 시스템은, 조립 기계; 및 가열 챔버를 포함하되, 상기 조립 기계는, 플레이트가 노즐과 다이 사이에 위치되도록 플레이트와 다이의 조합을 픽업하도록 구성된 노즐로서, 플레이트는 공기가 통과하여 흐를 수 있도록 적어도 하나의 개구부를 포함하고, 플레이트가 제1 픽업 장소에서 픽업되고 다이가 제2 픽업 장소에서 픽업되는 것인, 상기 노즐; 및 플레이트와 다이의 조합을 노즐에 의해 디바이스, 기판 또는 다른 다이 상에 배치하기 위한 배치 장소로서, 노즐은 디바이스, 기판 또는 다른 다이에 플레이트와 다이의 복수의 조합을 실장하도록 구성되는 것인 배치 장소를 더 포함하고, 상기 가열 챔버는, 다이를 디바이스, 기판 또는 다른 다이에 부착하기 위해 디바이스, 기판 또는 다른 다이 전체를 가열하도록 구성된다.According to another embodiment, the assembly system includes: an assembly machine; And a heating chamber, wherein the assembly machine is a nozzle configured to pick up a combination of plate and die such that the plate is positioned between the nozzle and the die, the plate including at least one opening to allow air to flow through, The nozzle wherein the plate is picked up at the first pick-up point and the die picked up at the second pick-up point; And a placement location for placing the combination of plate and die on the device, substrate, or other die by the nozzle, wherein the nozzle is configured to mount multiple combinations of plates and die on the device, substrate, or other die. Further comprising, the heating chamber is configured to heat the entire device, substrate, or other die to attach the die to the device, substrate, or other die.

본 발명의 일부 실시예가 유사한 지명이 유사한 부재를 표시하는 이하의 도면을 참조하여 상세하게 설명될 것이다:
도 1a는 플레이트의 평면도;
도 1b는 도 1a에 도시된 플레이트의 절단면도;
도 2a는 TSV를 갖는 다이의 평면도;
도 2b는 도 2a에 도시된 TSV를 갖는 다이의 측면도;
도 3a는 노즐의 측면도;
도 3b는 화살표(3b-3b)에서 취해진 도 3a에 도시된 노즐의 절단면도;
도 4a 내지 도 4c는 노즐에 의한 플레이트의 픽 공정의 묘사도;
도 5a 내지 도 5c는 플레이트와 노즐에 의한 3D TSV의 픽 공정의 묘사도;
도 6a 내지 도 6c는 노즐에 의해 디바이스 상에 3D TSV와 플레이트를 배치하는 공정의 묘사도;
도 7a 내지 도 7c는 세정 공정을 통하여 디바이스 상에 장착된 3D TSV로부터 플레이트를 제거하는 공정의 묘사도;
도 8a 내지 도 8c는 노즐에 의해 디바이스 상에 장착된 3D TSV로부터 플레이트를 제거하는 또 다른 공정의 묘사도;
도 9a 내지 도 9c는 다른 세정 공정을 통하여 디바이스 상에 장착된 3D TSV로부터 플레이트를 제거하는 또 다른 공정의 묘사도; 및
도 10은 도 4 내지 도 9에 도시된 공정을 수행할 수 있는 조립 시스템의 평면도.
Some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the following drawings in which similar names indicate similar members:
1A is a top view of a plate;
1B is a cross-sectional view of the plate shown in FIG. 1A;
2A is a top view of a die with TSV;
2B is a side view of the die with TSV shown in FIG. 2A;
3A is a side view of the nozzle;
Fig. 3B is a cut away view of the nozzle shown in Fig. 3A taken from arrows 3B-3B;
4A to 4C are depictions of the picking process of a plate by a nozzle;
5A to 5C are diagrams of a pick process of 3D TSV by plate and nozzle;
6A-6C are diagrams of a process for placing a 3D TSV and plate on a device by a nozzle;
7A-7C are diagrams of a process for removing a plate from a 3D TSV mounted on a device through a cleaning process;
8A-8C depict depictions of another process for removing a plate from a 3D TSV mounted on a device by a nozzle;
9A-9C are depictions of another process for removing a plate from a 3D TSV mounted on a device through another cleaning process; And
10 is a plan view of an assembly system capable of performing the processes shown in FIGS.

개시된 장치 및 방법의 이하 설명되는 실시예의 상세한 설명은 여기에서 도면을 참조하여 예로써 제시되는 것이고 한정이 아니다.DETAILED DESCRIPTION OF THE EMBODIMENTS The detailed description of the embodiments described below of the disclosed apparatus and method is presented here as an example with reference to the drawings and is not limiting.

도 1 내지 도 6 및 도 10을 참조하면, 조립 시스템(1000)의 조립 기계(100)에 장착된 픽 앤 플레이스 헤드(pick and place head)(110)의 일부분일 수 있는 노즐(16)이 도시되어 있다. 도 4a 내지 도 4c에 도시된 바와 같이, 노즐은 우선 대략 배치 및 부착될 3D TSV 또는 다이(14)의 사이즈인 플레이트(10)를 피더(112)로부터 픽업할 수 있다. 이러한 플레이트(10)는 매우 평탄할 수 있고, 플레이트(10)가 다이(14)의 최상부 상에 기대고 있을 때 "포테이토 칩" 효과를 방지하도록 양산 리플로우 공정 동안 다이(14)의 평탄도를 유지하기에 충분한 중량을 갖고 있을 수 있다. 예컨대, 플레이트(10)는 다이(14)만큼 또는 그보다 많이 중량이 나갈 수 있다. 플레이트(10)는 다이(14)의 두께보다 더 큰 두께를 갖고 있을 수 있다. 플레이트(10)는 반 투기성일 수 있다. 투과성은 플레이트(10) 내 작은 오리피스 유형 홀(12)에 의해 생성될 수 있다. 대안적으로, 플레이트(10)는 공기가 전부는 아니지만 일부 저부로부터 최상부로 통과할 수 있게 하는 소결 재료로 만들어질 수 있다. 이것은 플레이트(10)의 저부와 최상부 간 압력 차이를 생성할 수 있어서 플레이트(10)가 노즐(16)로부터의 흡입에 의해 픽업될 수 있게 한다. 플레이트(10)는 리플로우 공정 동안 플레이트가 다이에 부착되지 않게 방지하도록 솔더링이 매우 불가능한 재료로 구축될 수 있다. 환언하면, 플레이트(10)는 리플로우 공정의 고온에 노출될 때 변형되지 않을 재료로 만들어질 수 있다. 플레이트(10)는 또한 분자 인력(반데르발스 힘)이 다이(14)로 하여금 양산 리플로우/본딩 공정 동안 플레이트(10)에 들러붙게 할 수 있는 그러한 표면 마감으로 연마될 수 있다.1 to 6 and 10, a nozzle 16 that can be part of a pick and place head 110 mounted on the assembly machine 100 of the assembly system 1000 is shown. It is done. 4A-4C, the nozzle can first pick up the plate 10, which is approximately the size of the 3D TSV or die 14 to be placed and attached, from the feeder 112. This plate 10 can be very flat and maintains the flatness of the die 14 during the mass production reflow process to prevent the "potato chip" effect when the plate 10 is leaning on top of the die 14 It may have a sufficient weight to. For example, the plate 10 can weigh as much or more than the die 14. The plate 10 may have a thickness greater than that of the die 14. Plate 10 may be semi-permeable. Permeability can be created by small orifice type holes 12 in the plate 10. Alternatively, the plate 10 can be made of sintered material that allows air to pass from some bottom but not all to the top. This can create a pressure difference between the bottom and top of the plate 10, allowing the plate 10 to be picked up by suction from the nozzle 16. The plate 10 can be constructed of a material that is very unsolderable to prevent the plate from adhering to the die during the reflow process. In other words, the plate 10 can be made of a material that will not deform when exposed to high temperatures in the reflow process. The plate 10 can also be polished with such a surface finish that allows molecular attraction (Vanderwald's force) to cause the die 14 to stick to the plate 10 during the mass production reflow / bonding process.

조립 순서는 다음과 같을 수 있다. 우선, 노즐(16)이, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 청정 평탄 플레이트(10)의 최상부 상에 내려진다. 노즐(16)에서의 진공 또는 흡입은 플레이트의 소결 재료의 구조 또는 오리피스 크기 조절에 의해 야기된 플레이트(10)를 통과하는 한정된 공기 흐름에 의해 충분히 축조되어, 플레이트가 도 4c에 도시된 바와 같이 노즐(16)에 의해 픽업될 수 있게 할 것이다. 다음의 옵션 단계는 다이(14)의 픽업시 다이(14) 상에서 다이(14)가 센터링되도록 다이(14)를 픽업하기 이전에 노즐(16)에 대한 플레이트(10)의 정렬을 최적화하기 위해 비전 시스템(vision system)(114)에 의한 플레이트(10)의 비전 센터링일 것이다.The assembly sequence may be as follows. First, the nozzle 16 is lowered on the top of the clean flat plate 10, as shown in FIGS. 4A and 4B. The vacuum or suction at the nozzle 16 is sufficiently built up by a limited air flow through the plate 10 caused by the structure of the sintered material of the plate or the size of the orifice, so that the plate is a nozzle as shown in Fig. 4c. (16). The next optional step is to optimize the alignment of the plate 10 relative to the nozzle 16 prior to picking up the die 14 so that the die 14 is centered on the die 14 upon pickup of the die 14. It will be the vision centering of the plate 10 by the vision system 114.

노즐(16)이 플레이트를 픽업하고 나면, 그 후 노즐(16) 및 플레이트(10)는, 도 5a 및 도 5b에 도시된 바와 같이, 다른 피더(112)로부터의 다이(14)의 최상부에 내려진다. 다이(14)는 양산 리플로우 공정을 위한 솔더 범프(15)를 포함할 수 있다. 다이(14)가 플레이트(10)와 같은 투기성이 아닐 수 있기 때문에, 도 5b에 도시된 바와 같이 플레이트(10)를 다이와 접촉하게 하는 것은 오리피스 개구부를 닫아 완전 진공이 구축되도록 야기할 수 있다. 이것은, 도 5c에 도시된 바와 같이, 노즐(16)에 의해 플레이트(10) 밑에서 다이(14)를 픽업 가능하게 할 수 있다. 이것에 뒤이어, 다이(14)는, 접착제 또는 플럭스에 솔더 범프(15)를 디핑하는 단계, 비전 센터링 단계 및 보드 상에 배치 단계를 포함할 수 있는, 플립 칩 배치를 위한 현재 공정 단계를 거쳐갈 수 있다.After the nozzle 16 picks up the plate, the nozzle 16 and plate 10 are then lowered on top of the die 14 from another feeder 112, as shown in FIGS. 5A and 5B. . The die 14 may include solder bumps 15 for mass production reflow processes. Since the die 14 may not be breathable, such as the plate 10, bringing the plate 10 into contact with the die, as shown in FIG. 5B, can cause the orifice opening to be closed causing a full vacuum to build up. This can enable the die 14 to be picked up under the plate 10 by a nozzle 16, as shown in FIG. 5C. Following this, die 14 will go through the current process steps for flip chip placement, which may include dipping the solder bumps 15 onto the adhesive or flux, vision centering steps and placement steps on the board. You can.

도 6a에 도시된 바와 같이, 다이(14)와 플레이트(10) 조합의 픽업 후에, 노즐(16)은 기판, 베이스 다이, 보드 또는 다른 디바이스(18) 위 배치 장소로 이동할 수 있다. 노즐(16)로부터 진공이 제거될 때, 플레이트(10)가 더해진 다이(14)는, 도 6b에 도시된 바와 같이, 기판, 또는 베이스 다이, 보드 또는 다른 디바이스(18) 상에 남아 있을 수 있다. 이 포인트에서, 노즐(16)은 디바이스(18) 상의 배치를 위해 다른 플레이트와 다이 조합(10, 14)을 픽업하도록 즉시 제거될 수 있다. 그래서, 노즐(16)은 어떠한 가열 또는 냉각 기구도 포함할 필요가 없다고 이해되는 것이다. 더욱, 조립 기계의 어떠한 다른 디바이스도 다이(14)를 디바이스(18)에 부착하도록 그것을 개별적으로 가열 또는 냉각할 필요가 없다.As shown in FIG. 6A, after picking up a combination of die 14 and plate 10, nozzle 16 may move to a placement location on a substrate, base die, board, or other device 18. When the vacuum is removed from the nozzle 16, the die 14 to which the plate 10 is added can remain on the substrate, or base die, board or other device 18, as shown in FIG. 6B. . At this point, the nozzle 16 can be removed immediately to pick up another plate and die combination 10, 14 for placement on the device 18. Thus, it is understood that the nozzle 16 need not include any heating or cooling mechanism. Moreover, no other device in the assembly machine needs to heat or cool it individually to attach die 14 to device 18.

디바이스(18)로의 개개의 다이(14)의 개개의 가열 대신에, 디바이스(18)에는 가열 이전에 복수의 플레이트와 다이 조합(10, 14)이 완전 실장될 수 있다. 여기서부터, 실장 디바이스(18)는 조립 기계(100)에 의해 가열 챔버(200)(도 10에 도시함)로 이송될 수 있다. 가열 챔버(200)는, 예컨대, 오븐 챔버 또는 다른 가열 챔버일 수 있다. 실장 디바이스(18)는 조립 라인 유형 방식으로 가열 챔버(200)를 따라 이동할 수 있다. 대안적으로, 실장 디바이스(18)는 가열 챔버(200)의 중심으로 이동할 수 있고 양산 리플로우 공정이 완료될 때까지 거기에 남아 있을 수 있다. 실시예가 무엇이든 간에, 가열 챔버(200)는 솔더 범프(15)를 녹여 다이(14)를 디바이스(18)에 부착하기에 충분한 온도를 갖는 환경을 생성할 수 있다.Instead of individual heating of individual dies 14 to device 18, device 18 may be fully mounted with multiple plate and die combinations 10, 14 prior to heating. From here, the mounting device 18 can be transferred to the heating chamber 200 (shown in FIG. 10) by the assembly machine 100. The heating chamber 200 may be, for example, an oven chamber or other heating chamber. The mounting device 18 can move along the heating chamber 200 in an assembly line type manner. Alternatively, the mounting device 18 can move to the center of the heating chamber 200 and remain there until the mass production reflow process is complete. Whatever the embodiment, the heating chamber 200 can melt the solder bumps 15 to create an environment with sufficient temperature to attach the die 14 to the device 18.

도 7 및 도 9에 도시된 바와 같이, 다이(14)가 디바이스(18)에 영구 부착되고 나면, 플레이트(10)는 나중에 플레이트 제거 기계(300)에 의해 추후 단계에서 제거될 수 있다. 플레이트 제거 기계(300)는 다른 조립 기계, 세정 스테이션 또는 다른 유형의 기계일 수 있다. 예컨대, 가열 챔버(200)에서 양산 리플로우 후에, 실장 디바이스(18)는 플레이트 제거 기계(300)로 이송될 수 있고, 도 7에 도시된 바와 같이, 수직 위치로 돌려져 유체(20)가 플레이트(10)의 제거를 용이하게 하도록 사용될 때 중력에 의해 다이(14)로부터 플레이트(10)의 제거를 도울 수 있다. 이것은 플레이트 제거 기계(300)의 플레이트 제거 스테이션 또는 장소에서 일어날 수 있다. 유체(20)는 실시예에 따라 필요할 수도 필요하지 않을 수도 있다. 예컨대, 단순히 도 7에 도시된 바와 같은 수직 위치로 디바이스(18)와 플레이트(10)를 이동시키는 것이 중력에 기인하여 자동으로 플레이트(10)를 제거할 수도 있다. 수직으로 돌리는 대신에, 디바이스(18)와 플레이트(10)는 대안적으로 도 9에 도시된 바와 같이 거꾸로 뒤집어질 수도 있다. 이 실시예는 또한 유체(20)가 다이(14)로부터 플레이트(10)의 제거를 돕도록 사용되고 있는 것으로 도시하고 있다.7 and 9, once die 14 is permanently attached to device 18, plate 10 may be later removed by plate removal machine 300 at a later stage. Plate removal machine 300 may be another assembly machine, cleaning station, or other type of machine. For example, after mass production reflow in the heating chamber 200, the mounting device 18 can be transferred to the plate removal machine 300, and as shown in FIG. 7, the fluid 20 is returned to the vertical position to return the plate 20 to the plate ( When used to facilitate removal of 10), gravity can help remove plate 10 from die 14. This can occur at a plate removal station or location of the plate removal machine 300. The fluid 20 may or may not be needed depending on the embodiment. For example, simply moving the device 18 and plate 10 to a vertical position as shown in FIG. 7 may automatically remove the plate 10 due to gravity. Instead of turning vertically, the device 18 and plate 10 may alternatively be turned upside down as shown in FIG. 9. This embodiment also shows that fluid 20 is being used to help remove plate 10 from die 14.

도 8a 내지 도 8c에 도시된 다른 일 실시예에 있어서, 노즐(16)과 같은 노즐은 다이(14)가 디바이스(18)에 부착된 후에 플레이트(10)를 다이(14)에서 떼어 다시 픽업하도록 구성될 수 있다. 대안적으로, 원래 노즐(16)보다는 다른 노즐(도시 생략)이 가열 후에 플레이트(10)를 다이(14)에서 떼어 다시 픽업하도록 이용될 수 있다. 이제 도 10을 참조하면, 플레이트 제거 기계(300)는 다이(14)로부터 플레이트(10)를 제거하기 위해, 도포 노즐(16)과 유사한, 하나 이상의 제거 노즐을 포함할 수 있다. 이들 제거 노즐은 위의 도 7 및 도 9에서 설명된 중력 또는 유체 방법에 부가하여 또는 그 대신에 사용될 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제거 노즐은 제거되지 않은 플레이트(10)를 다이(14)에서 떼어내기 위하여 다른 방법에 의해 제거되지 않은 어떠한 플레이트(10)라도 감지하도록 구성될 수 있다. 다른 실시예에 있어서, 제거 노즐은 배타적 제거 기구일 수 있고, 각각의 플레이트(10)를 그 각각의 다이(14)로부터 개별적으로 픽업하도록 구성될 수 있다.In another embodiment, shown in FIGS. 8A-8C, a nozzle, such as nozzle 16, is used to detach plate 10 from die 14 and pick it up again after die 14 is attached to device 18. Can be configured. Alternatively, a nozzle other than the original nozzle 16 (not shown) can be used to remove the plate 10 from the die 14 and pick it up again after heating. Referring now to FIG. 10, plate removal machine 300 may include one or more removal nozzles, similar to application nozzle 16, to remove plate 10 from die 14. These removal nozzles can be used in addition to or instead of the gravity or fluid method described in FIGS. 7 and 9 above. In one embodiment, the removal nozzle can be configured to detect any plate 10 that has not been removed by other methods to remove the plate 10 that has not been removed. In other embodiments, the removal nozzle can be an exclusive removal mechanism and can be configured to pick up each plate 10 separately from its respective die 14.

위에서 설명된 공정은 3D TSV 다이(14)의 제1 층의 최상부 상에 부가적 층을 부가하도록 필요에 따라 반복될 수 있다고 이해되는 것이다. 예컨대, 단일 다이(14)가 디바이스(18)에 직접 부착되는 저부 층으로서 도포될 수 있다. 그 후 디바이스(18)는 제1 다이(14)의 최상부 상에 직접 제2 다이 층(도시 생략)을 부착하기 위해 바로 그 동일한 공정을 실행하는 조립 기계(100) 또는 다른 조립 기계(도시 생략)를 통하여 배치될 수 있다. 이러한 제2 다이는 동일한 양산 리플로우 공정으로 그리고 위에서 설명된 것과 동일한 바로 그 방식으로 다이의 형상을 보유하도록 플레이트를 사용하여 제1 다이(14)에 부착될 수 있다.It is understood that the process described above can be repeated as necessary to add additional layers on top of the first layer of the 3D TSV die 14. For example, a single die 14 can be applied as a bottom layer directly attached to device 18. The device 18 then performs an assembly machine 100 or other assembly machine (not shown) that performs the same process directly to attach the second die layer (not shown) directly on top of the first die 14. It can be arranged through. This second die can be attached to the first die 14 using a plate to retain the shape of the die in the same mass production reflow process and in the same manner as described above.

그리하여, 플레이트(10)를 갖는 TSV 다이(14)가 종래기술 공정에서보다 상당히 더 고속으로 장착될 수 있고, 모든 다이(14)와 플레이트(10)를 갖는, 완전 실장 웨이퍼/기판 또는 디바이스(18) 전체가 개개의 다이(14) 상의 말림 또는 포테이토 칩 효과의 위험이 없는 양산 리플로우/본딩 공정으로 부착될 수 있다. 이러한 공정은 특정 개개의 가열 및 냉각 헤드로 또는 배치하는 그때에 다이(14)를 개별적으로 가열 및 냉각할 필요성을 방지한다. 이것은 3D TSV의 조립 공정에 대한 상당한 비용 감축을 창출할 수 있다. 일백만 달러 조립 기계의 출력은, 예컨대, 50배만큼 증가될 수 있다. 위에서 설명된 방법 및 조립 기계는 또한 더 작은 청정실 공간에서 동일한 수량 및 속도의 생산을 가능하게 할 수 있다.Thus, the TSV die 14 with the plate 10 can be mounted at significantly higher speeds than in the prior art process, and has a full mounting wafer / substrate or device 18 with all dies 14 and plates 10. ) The whole can be attached in a mass production reflow / bonding process without the risk of curling on individual dies 14 or potato chip effects. This process avoids the need to individually heat and cool the dies 14 at the time of or with a particular individual heating and cooling head. This can create significant cost savings for the assembly process of 3D TSV. The output of a $ 1 million assembly machine can be increased, for example, by 50 times. The method and assembly machine described above can also enable production of the same quantity and speed in a smaller clean room space.

다른 일 실시예에서는, 재료의 층이 다이(14)와의 접촉 이전에 플레이트(10)의 저부 측에 부착되거나 그렇지 않으면 도포될 수 있다. 이러한 재료는 플레이트(10)가 다이(14)에 더 잘 붙게 할 수 있도록 유연성이거나, 접착제이거나, 또는 강화된 마찰력을 제공할 수 있다. 고온 실리콘 고무와 같은 재료가 이러한 목적으로 사용될 수 있다. 이들 재료는 TSV 다이(14)의 최상부에 일시적으로 들러붙도록 다소 점착성일 수도 있다. 이들 재료는 내열성일 수 있고 다이(14)와 플레이트(10)의 영구 고착을 야기하지 않을 수 있고 그보다는 단지 마찰력을 생성하여 조립 기계(100) 및 가열 챔버(200)에서 디바이스(18)의 이동 동안 플레이트(10)를 다이(14) 위 적절한 위치에 보유하는데 도움을 줄 수 있다.In another embodiment, a layer of material may be attached to or otherwise applied to the bottom side of the plate 10 prior to contact with the die 14. This material can be flexible, adhesive, or provide enhanced friction to allow the plate 10 to better adhere to the die 14. Materials such as high temperature silicone rubber can be used for this purpose. These materials may be somewhat tacky to temporarily stick to the top of TSV die 14. These materials may be heat resistant and may not cause permanent fixation of die 14 and plate 10, but rather create only frictional forces during movement of device 18 in assembly machine 100 and heating chamber 200 It may help to hold the plate 10 in a suitable position on the die 14.

다른 일 실시예에서는, 플레이트(10)와의 계면을 이루는 고도로 연마된 표면 및 정밀 그라운드를 갖도록 TSV 다이(14)를 평탄하게 유지하는 것이 유리할 수 있다. 이러한 방식에서 분자 인력은 플레이트(10)를 다이(14)에 일시적으로 부착하는 힘일 수 있다. 부가적으로 플레이트(10)는 다이(14)의 최상부 상의 비-평탄 영역 또는 민감 영역으로의 접촉을 방지하도록 오목부 또는 포켓을 가져야 할 수 있다. 예컨대, 다이(14)가 플레이트(10)와 집적할 평탄 최상부 표면을 포함하지 않으면, 플레이트(10)는 다이(14)의 표면에 대응하는 표면으로 특별 설계될 수 있다.In another embodiment, it may be advantageous to keep the TSV die 14 flat to have a highly grounded surface and a precision ground that interfaces with the plate 10. The molecular attraction in this way can be the force that temporarily attaches the plate 10 to the die 14. Additionally, plate 10 may have recesses or pockets to prevent contact with non-flat areas or sensitive areas on top of die 14. For example, if the die 14 does not include a flat top surface to integrate with the plate 10, the plate 10 can be specially designed with a surface corresponding to the surface of the die 14.

다이를 디바이스에 부착하기 위한 위 설명의 장치 및 방법은 다이를 기판 또는 다른 다이에 부착하도록 사용될 수도 있다.The apparatus and method described above for attaching a die to a device may be used to attach the die to a substrate or other die.

실시예들의 구성요소는 어느 부정 관사와 도입되었다. 그 관사는 구성요소의 하나 이상이 있음을 의미하려는 의도이다. 용어 "포함하는" 및 "갖는" 및 그 파생어는 열거된 구성요소 이외에 부가적인 구성요소가 있을 수 있도록 포괄적인 것으로 의도된다. 적어도 2개의 항의 열거로 사용될 때의 접속사 "또는"은 어느 항 또는 항의 조합을 의미하려는 의도이다. 용어 "제1" 및 "제2"는 구성요소들을 구별하도록 사용되고, 특정 순서를 나타내도록 사용되는 것은 아니다.The components of the embodiments were introduced with a negative article. The article is intended to mean that there is more than one component. The terms "comprising" and "having" and derivatives thereof are intended to be inclusive so that there may be additional components in addition to those listed. The conjunction “or” when used in an enumeration of at least two terms is intended to mean any term or combination of terms. The terms "first" and "second" are used to distinguish elements, and are not used to indicate a specific order.

본 발명이 단지 한정된 수의 실시예와 연관하여 상세히 설명되었지만, 본 발명은 그러한 개시된 실시예로 한정되는 것은 아님이 쉽게 이해되는 것이다. 그보다는, 본 발명은 지금까지 설명되지는 않았지만 본 발명의 취지 및 범위와 상응하는 어떠한 수의 변형, 개조, 대체 또는 균등한 배열이라도 편입하도록 수정될 수 있다. 부가적으로, 본 발명의 다양한 실시예가 설명되었지만, 본 발명의 태양은 설명된 실시예의 일부만을 포함할 수도 있다고 이해되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이상의 설명에 의해 제한되는 것으로 보이려는 것이 아니고 첨부된 특허청구범위에 의해서 제한될 뿐이다.Although the invention has been described in detail in connection with only a limited number of embodiments, it is readily understood that the invention is not limited to such disclosed embodiments. Rather, the present invention has not been described so far, but can be modified to incorporate any number of modifications, alterations, replacements, or equivalent arrangements corresponding to the spirit and scope of the present invention. Additionally, while various embodiments of the invention have been described, it is understood that aspects of the invention may include only some of the described embodiments. Therefore, the present invention is not intended to be limited by the above description, but is only limited by the appended claims.

Claims (20)

공기가 통과하여 흐를 수 있도록 적어도 하나의 개구부를 포함하는 플레이트를 조립 기계에서 노즐로 픽업하는 단계;
상기 플레이트가 상기 노즐과 다이 사이에 위치되도록 상기 다이를 상기 노즐로 픽업하는 단계;
상기 플레이트가 상기 다이의 최상부 상에 위치되도록 상기 다이와 상기 플레이트를 디바이스, 기판 또는 다른 다이 중 하나 상에 배치하는 단계;
상기 배치 이후, 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나, 및 상기 다이와 상기 플레이트를 상기 조립 기계로부터 가열 챔버로 이송하는 단계;
상기 다이를 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나에 영구적으로 부착하도록 상기 플레이트가 상기 다이의 최상부 상에 남아 있는 동안 상기 가열 챔버에서 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나와 상기 다이를 가열하는 단계;
상기 가열 이후, 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나, 및 상기 다이와 상기 플레이트를 플레이트 제거 기계로 이송하는 단계; 및
상기 플레이트 제거 기계를 통해 상기 다이로부터 상기 플레이트를 제거하는 단계를 포함하는 방법.
Picking up a plate comprising at least one opening from the assembly machine to the nozzle to allow air to flow through;
Picking up the die to the nozzle such that the plate is positioned between the nozzle and the die;
Placing the die and the plate on one of a device, substrate, or other die such that the plate is positioned on top of the die;
After the placement, transferring the one of the device, the substrate or the other die, and the die and the plate from the assembly machine to a heating chamber;
In the heating chamber while the plate remains on top of the die to permanently attach the die to the one of the device, the substrate, or the other die, and the one of the device, the substrate, or the other die. Heating the die;
After the heating, transferring the one of the device, the substrate or the other die, and the die and the plate to a plate removal machine; And
And removing the plate from the die through the plate removal machine.
삭제delete 제1항에 있어서, 상기 노즐에 의해, 상기 적어도 하나의 개구부를 통해서 공기를 제거함으로써 상기 플레이트와 상기 다이 사이에 진공을 생성하는 단계를 더 포함하는 방법.The method of claim 1, further comprising generating a vacuum between the plate and the die by removing air through the at least one opening by the nozzle. 제1항에 있어서, 상기 다이를 픽업하기 이전에 비전 시스템(vision system)으로 상기 노즐 상에 상기 플레이트를 위치시키는 단계를 더 포함하는 방법.The method of claim 1, further comprising positioning the plate on the nozzle with a vision system prior to picking up the die. 제1항에 있어서, 상기 다이는 상기 가열 챔버에서 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나의 가열 동안 상기 다이를 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나에 부착하도록 구성되는 복수의 솔더 범프를 포함하는 것인 방법.The plurality of dies of claim 1, wherein the die is configured to attach the die to the one of the device, the substrate or the other die during the heating of the device, the substrate or the other die in the heating chamber. A method comprising solder bumps. 제1항에 있어서, 제2 다이를 배치할 때 상기 플레이트를 재사용하는 단계를 더 포함하는 방법.The method of claim 1, further comprising reusing the plate when placing the second die. 제1항에 있어서, 상기 플레이트와 상기 다이 사이에 위치하고 있는 상기 플레이트의 표면에 접착제 층을 부착하는 단계를 더 포함하되, 상기 접착제 층은 상기 플레이트를 상기 다이에 일시적으로 부착하도록 구성되는 것인 방법.The method of claim 1, further comprising attaching an adhesive layer to the surface of the plate positioned between the plate and the die, wherein the adhesive layer is configured to temporarily attach the plate to the die. . 제1항에 있어서, 상기 다이로부터 상기 플레이트를 제거하는 단계는, 상기 플레이트가 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나와 상기 다이로부터 떨어지게 되도록 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나를 수직으로 배향시킴으로써 달성되는 것인 방법.The method of claim 1, wherein the step of removing the plate from the die is such that the plate, the one of the device, the substrate, or the other die is separated from the die and the device, the substrate, or the other die. The method is achieved by vertically oriented. 제1항에 있어서, 상기 다이로부터 상기 플레이트를 제거하는 단계는 제2 노즐로 상기 플레이트를 상기 다이로부터 픽업함으로써 달성되는 것인 방법.The method of claim 1, wherein removing the plate from the die is accomplished by picking up the plate from the die with a second nozzle. a) 플레이트가 다이와 노즐 사이에 위치되도록 상기 플레이트와 상기 다이의 조합을 조립 기계에서 상기 노즐로 픽업하는 단계;
b) 상기 플레이트와 상기 다이의 상기 조합을 디바이스, 기판 또는 다른 다이 중 하나 상에 배치하는 단계;
c) 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나에 상기 플레이트와 상기 다이의 복수의 조합을 실장하도록 단계 a) 및 단계 b)를 반복하는 단계;
d) 상기 배치 이후, 상기 다이의 각각을 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나에 부착하도록 가열 챔버에서 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나, 및 상기 플레이트와 상기 다이의 상기 복수의 조합을 동시에 가열하는 단계; 및
e) 상기 가열 이후, 플레이트 제거 기계를 통해 상기 플레이트의 각각을 상기 다이의 각각으로부터 제거하는 단계를 포함하는 방법.
a) picking up a combination of the plate and the die from the assembly machine to the nozzle such that the plate is positioned between the die and the nozzle;
b) placing the combination of the plate and the die on one of a device, substrate, or other die;
c) repeating steps a) and b) to mount a plurality of combinations of the plate and the die on the one of the device, the substrate or the other die;
d) after the placement, the device, the one of the substrate or the other die, and the plate and the die in the heating chamber to attach each of the die to the one of the device, the substrate or the other die. Simultaneously heating a plurality of combinations; And
e) after the heating, removing each of the plates from each of the dies through a plate removal machine.
제10항에 있어서, 상기 노즐에 의해, 상기 플레이트의 각각에 위치하는 개구부를 통해서 공기를 제거함으로써 상기 플레이트와 상기 다이의 상기 복수의 조합의 각각 사이에 진공을 생성하는 단계를 더 포함하는 방법.The method of claim 10, further comprising generating a vacuum between each of the plurality of combinations of the die and the plate by removing air through openings located in each of the plates by the nozzle. 제10항에 있어서, 상기 다이의 각각을 픽업하기 이전에 비전 시스템으로 상기 노즐 상에 상기 플레이트의 각각을 위치시키는 단계를 더 포함하는 방법.12. The method of claim 10, further comprising positioning each of the plates on the nozzle with a vision system prior to picking up each of the dies. 제10항에 있어서, 상기 플레이트의 각각을 재사용하는 단계를 더 포함하는 방법.The method of claim 10 further comprising reusing each of the plates. 제10항에 있어서, 상기 복수의 조합의 각각에 대해 상기 플레이트와 상기 다이 사이에 위치하고 있는 상기 플레이트의 각각의 표면에 접착제 층을 부착하는 단계를 더 포함하되, 상기 접착제 층은 상기 플레이트를 상기 다이에 일시적으로 부착하도록 구성되는 것인 방법.12. The method of claim 10, further comprising attaching an adhesive layer to each surface of the plate positioned between the plate and the die for each of the plurality of combinations, wherein the adhesive layer attaches the plate to the die. The method is configured to temporarily attach to. 제10항에 있어서, 상기 플레이트의 각각을 상기 다이의 각각으로부터 제거하는 단계는 상기 플레이트의 각각이 상기 다이의 각각과 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나로부터 떨어지게 되도록 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나를 수직으로 배향시킴으로써 달성되는 것인 방법.11. The method of claim 10, wherein removing each of the plates from each of the dies is such that each of the plates is separated from each of the dies and the device, the substrate, or the other die so that the device, the substrate Or by vertically orienting one of the other dies. 제10항에 있어서, 상기 플레이트의 각각을 상기 다이의 각각으로부터 제거하는 단계는 상기 노즐 및 제2 노즐 중 적어도 하나로 상기 플레이트의 각각을 상기 다이의 각각으로부터 픽업함으로써 달성되는 것인 방법.11. The method of claim 10, wherein removing each of the plates from each of the dies is achieved by picking each of the plates from each of the dies into at least one of the nozzle and the second nozzle. 삭제delete 조립 시스템으로서,
조립 기계; 및
가열 챔버를 포함하되,
상기 조립 기계는,
플레이트가 노즐과 다이 사이에 위치되도록 상기 플레이트와 상기 다이의 조합을 픽업하도록 구성된 상기 노즐로서, 상기 플레이트는 공기가 통과하여 흐를 수 있도록 적어도 하나의 개구부를 포함하고, 상기 플레이트가 제1 픽업 장소에서 픽업되고 상기 다이가 제2 픽업 장소에서 픽업되는 것인, 상기 노즐; 및
상기 플레이트와 상기 다이의 상기 조합을 상기 노즐에 의해 디바이스, 기판 또는 다른 다이 중 하나 상에 배치하기 위한 배치 장소로서, 상기 노즐은 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나에 상기 플레이트와 상기 다이의 상기 조합을 복수 실장하도록 구성되는 것인, 상기 배치 장소를 더 포함하고,
상기 가열 챔버는, 상기 다이를 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나에 부착하기 위해 상기 플레이트가 상기 다이의 최상부 상에 남아 있는 동안 상기 디바이스, 상기 기판 또는 상기 다른 다이 중 상기 하나와 상기 다이를 가열하도록 구성되고,
상기 플레이트를 상기 다이로부터 제거하도록 구성되는 플레이트 제거 기계를 더 포함하는 조립 시스템.
As an assembly system,
Assembly machine; And
A heating chamber,
The assembly machine,
The nozzle configured to pick up a combination of the plate and the die such that the plate is positioned between the nozzle and the die, the plate comprising at least one opening to allow air to flow through, and the plate at the first pick up location The nozzle being picked up and the die picked up at a second pick up location; And
A placement location for placing the combination of the plate and the die on one of the device, substrate or other die by the nozzle, the nozzle being placed on the plate and the device on the one of the device, the substrate or the other die It is configured to mount a plurality of the combination of the die, further comprising the placement site,
The heating chamber is used to attach the die to the one of the device, the substrate, or the other die while the plate remains on top of the die and the one of the device, the substrate, or the other die and the Configured to heat the die,
And a plate removal machine configured to remove the plate from the die.
삭제delete 제18항에 있어서, 제거된 상기 플레이트를 세정하고 사용된 상기 플레이트를 상기 제1 픽업 장소에 제공하도록 구성된 플레이트 재활용 기구(plate recycling mechanism)를 더 포함하는 조립 시스템.19. The assembly system of claim 18, further comprising a plate recycling mechanism configured to clean the removed plate and provide the used plate to the first pick-up location.
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