KR102095985B1 - 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치 - Google Patents

회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치 Download PDF

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오상근
이상용
장완성
이각인
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(주)하이비젼시스템
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Abstract

본 발명은 n개의 서로 다른 테스트 장치와 회전 인덱스 테이블에 설치된 n개의 테스트 존이 구비된 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호를 제어하기 위한 장치에 관한 것으로, 해결하고자 하는 기술적 과제는 다양한 테스트 단계를 진행하기 위해 인덱스를 회전시키는 경우마다 테스트 장치를 구동시키는 트리거 보드의 수를 최소화시켜 설비의 전체적인 복잡도를 낮추고 사이즈를 최소화시키는데 있다.
일례로, 외부 제어 장치로부터 상기 테스트 장치 각각에 대한 트리거 신호를 입력 받는 n개의 입력 단자를 포함하는 입력 단자부; 테스트 존을 통해 상기 테스트 장치와 각각 연결된 n개의 출력 단자를 포함하는 출력 단자부; 상기 입력 단자와 상기 출력 단자 간에 매트릭스 배열로 연결된 nxn개의 스위치를 포함하는 매트릭스 스위치부; 및 상기 테스트 장치 또는 상기 테스트 존의 인덱스 회전각도에 따라 상기 입력 단자에 대한 상기 출력 단자의 일대일 연결이 순차적으로 시프트 되도록 상기 스위치의 온/오프를 제어하는 스위치 제어부를 포함하는 트리거 신호 제어 장치를 개시한다.

Description

회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치{DEVICE FOR CONTROLLING TRIGGER SIGNAL OF ROTARY INDEX TEST EQUIPMENT}
본 발명의 실시예는 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치에 관한 것이다.
카메라 모듈 또는 카메라 모듈을 포함하는 휴대폰, 스마트 폰 및 태블릿 PC 등의 대상물을 시험하기 위한 회전 인덱스 테스트 설비는 다수의 테스트 존(test zone)과 회전 인덱스를 구비한 다수의 테스트 장치를 포함한다. 다수의 테스트 장치에 대응되는 각각의 테스트 존에는 각각 테스트 대상물을 거치한 상태에서 서로 다른 테스트 장치가 각각의 테스트 존에 거치된 테스트 대상물에 대하여 동시에 서로 다른 테스트가 이루어지도록 할 수 있다. 그리고 한 번의 테스트가 각각 동시에 완료되면, 테스트 장치를 회전시켜 각 테스트 장치가 다음 인덱스에 있는 테스트 대상물로 이동하도록 하면서 각각의 테스트를 동시에 진행한다. 물론, 테스트 존이 각각의 인덱스로 이동하면서 회전하는 경우 또한 테스트는 동일하게 진행된다.
이러한 테스트가 이루어지기 위해서는 n개의 테스트 존에 각각 위치한 각각의 n개의 테스트 장치는 외부로부터 트리거 신호를 입력 받아 제어되는데, 이러한 테스트 장치의 제어를 위해서는 n개의 트리거 보드가 필요하며, 인덱스 회전 시 테스트 장치와 트리거 신호를 동기화하기 위해 제어 회로가 각각 필요함에 따라 설비의 전체적인 구조와 조작이 복잡해지는 단점이 있다.
등록특허공보 제10-1419683호(등록일자: 2014년07월09일)
본 발명의 실시예는, 다양한 테스트 단계를 진행하기 위해 인덱스를 회전시키는 경우마다 테스트 장치를 구동시키는 트리거 보드의 수를 최소화시켜 설비의 전체적인 복잡도를 낮추고 사이즈를 최소화시킬 수 있는 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치를 제공한다.
본 발명의 실시예에 따른 트리거 신호 제어 장치는, n개의 서로 다른 테스트 장치와 회전 인덱스 테이블에 설치된 n개의 테스트 존이 구비된 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호를 제어하기 위한 장치로, 외부 제어 장치로부터 상기 테스트 장치 각각에 대한 트리거 신호를 입력 받는 n개의 입력 단자를 포함하는 입력 단자부; 상기 테스트 존을 통해 상기 테스트 장치와 각각 연결된 n개의 출력 단자를 포함하는 출력 단자부; 상기 입력 단자와 상기 출력 단자 간에 매트릭스 배열로 연결된 nxn개의 스위치를 포함하는 매트릭스 스위치부; 및 상기 테스트 장치 또는 상기 테스트 존의 인덱스 회전각도에 따라 상기 입력 단자에 대한 상기 출력 단자의 일대일 연결이 순차적으로 시프트 되도록 상기 스위치의 온/오프를 제어하는 스위치 제어부를 포함한다.
또한, 상기 스위치 제어부는, 상기 입력 단자 및 일정각도로 분할된 인덱스로 회전 이동하는 상기 테스트 장치 또는 상기 테스트 존 간의 일대일 연결이 유지되도록 상기 테스트 장치 또는 상기 테스트 존의 인덱스 회전이동에 따라 상기 스위치의 턴온 동작을 순차적으로 시프트 시켜 상기 출력 단자의 신호 출력을 순차적으로 변경할 수 있다.
또한, 상기 스위치 제어부는, 상기 테스트 장치 또는 상기 테스트 존의 인덱스 회전이동을 제어하는 인덱스 제어부로부터 상기 인덱스 회전각도에 대한 정보를 수신하거나, 상기 인덱스 제어부와 연동하여, 인덱스 회전이동에 따른 상기 인덱스 회전각도를 산출할 수 있다.
또한, 상기 스위치 제어부는, 특정 인텍스를 원점으로 360/n의 각도만큼 n회의 인덱스 회전이동을 1 사이클로 정의하고, 상기 1 사이클 내 인덱스 회전이동 횟수를 카운팅하여 상기 인덱스 회전각도를 산출할 수 있다.
본 발명에 따르면, 다양한 테스트 단계를 진행하기 위해 인덱스를 회전시키는 경우마다 테스트 장치를 구동시키는 트리거 보드의 수를 최소화시켜 설비의 전체적인 복잡도를 낮추고 사이즈를 최소화시킬 수 있는 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치를 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 회전 인덱스 테스트 설비와 트리거 신호 제어 장치의 전체 구성에 관한 개요도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 입력 단자부, 출력 단자부 및 매트릭스 스위치부의 구성 관계를 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예의 인덱스 회전각도에 따른 입출력 단자 간의 일대일 연결 상태를 나타낸 도면이다.
도 5 내지 도 11은 본 발명의 실시예의 인덱스 회전각도에 따른 매트릭스 스위치부의 스위칭 동작과 입출력 단자 간의 연결 관계를 나타낸 도면이다.
본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 본 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.
본 발명에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "...부", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 회전 인덱스 테스트 설비와 트리거 신호 제어 장치의 전체 구성에 관한 개요도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치의 구성을 나타낸 블록도이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 입력 단자부, 출력 단자부 및 매트릭스 스위치부의 구성 관계를 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명의 실시예의 인덱스 회전각도에 따른 입출력 단자 간의 일대일 연결 상태를 나타낸 도면이다.
본 발명의 실시예에 따른 트리거 신호 제어 장치(1000)는 n개의 서로 다른 테스트 장치(21)와 회전 인덱스 테이블(22)에 설치된 n개의 테스트 존(Zone_1~Zone_6)이 구비된 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호를 제어하기 위한 장치로, 트리거 제어부(11)로부터 각각의 테스트 장치(EQ_1~EQ6)의 구동을 제어하기 위한 트리거 신호를 받아 테스트 장치(EQ_1~EQ6)로 각각 출력할 수 있다. 이때, 테스트 장치(EQ_1~EQ6)로부터 측정 또는 계측된 테스트 데이터는 테스트 장치 제어부(13)로 출력될 수 있다. 여기서, 각각의 테스트 존(Zone_1~Zone_6)은 회전 인덱스 테이블(22)에 구성되며, 각각의 테스트 존(Zone_1~Zone_6)마다 인덱스가 정의되어 있다. 또한, 회전 인덱스 테이블(22)은 인덱스 제어부(12)의 제어에 따라 회전동작을 수행할 수 있다.
이러한 트리거 신호 제어 장치(1000)는 도 1 내지 도 3을 참조하면, 입력 단자부(100), 출력 단자부(200), 매트릭스 스위치부(300) 및 스위치 제어부(400) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 이러한 트리거 신호 제어 장치(1000)는 하나의 트리거 보드(trigger board) 내에 칩 형태로 구현될 수 있으나, 본 실시예에서는 트리거 신호 제어 장치(1000)의 구현 형태를 상기와 같이 한정하는 것은 아니며, 다양한 형태로 구현 가능하다.
상기 입력 단자부(100)는 트리거 제어부(11)로부터 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_n) 각각에 대한 트리거 신호를 입력 받는 n개의 입력 단자(IN_1 ~ IN_n)를 포함할 수 있다.
예를 들어, 입력 단자는 도 3에 도시된 바와 같이, 6개의 단자 즉, 제1 입력 단자(IN_1), 제2 입력 단자(IN_2), 제3 입력 단자(IN_3), 제4 입력 단자(IN_4), 제5 입력 단자(IN_5) 및 제6 입력 단자(IN_6)를 포함할 수 있으나, 이와 같은 입력 단자의 개수는 테스트 장비(EQ_1 ~ EQ_n)(또는 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_n))의 개수에 따라 변경 가능하다.
상기 출력 단자부(200)는 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_n)을 통해 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_n)와 각각 연결되는 n개의 출력 단자(OUT_1 ~ OUT_n)를 포함할 수 있다. 즉, 출력 단자(OUT_1 ~ OUT_n)는 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_n)의 각 인덱스와 대응 연결되어 있고, 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_n)과 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_n) 간의 전기적 접점을 통해 연결되어, 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_n)의 회전에 의해 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_n)와 대응되는 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_n)이 각각 변경되더라도 상기와 같은 전기적 접점을 통해 트리거 신호가 각각 전달될 수 있다.
예를 들어, 출력 단자는 도 3에 도시된 바와 같이, 6개의 단자 즉, 제1 출력 단자(OUT_1), 제2 출력 단자(OUT_2), 제3 출력 단자(OUT_3), 제4 출력 단자(OUT_4), 제5 출력 단자(OUT_5) 및 제6 출력 단자(OUT_6)를 포함할 수 있으나, 이와 같은 출력 단자의 개수는 입력 단자의 개수와 대응되도록 이루어질 수 있다.
상기 매트릭스 스위치부(300)는 제1 내지 제6 입력 단자(IN_1~IN_6)와 제1 내지 제6 출력 단자(OUT_1~OUT_6) 간에 매트릭스 배열로 연결된 다수의 스위치를 포함할 수 있다.
예를 들어, 매트릭스 스위치부(300)는 제1 내지 제6 입력 단자(IN_1~IN_6)와 제1 내지 제6 출력 단자(OUT_1~OUT_6)가 각각 6개로 이루어짐에 따라 6x6개의 매트릭스 배열로 연결된 1x1 스위치(S11) 내지 6x6 스위치(S66)를 포함할 수 있다. 이러한 1x1 스위치(S11) 내지 6x6 스위치(S66)는 제어신호에 따라 온/오프 스위칭이 가능한 반도체 스위치 소자를 적용할 수 있다.
상기 스위치 제어부(400)는, 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6))의 인덱스 회전각도에 따라 제1 내지 제6 입력 단자(IN_1~IN_6)에 대한 제1 내지 제6 출력 단자(OUT_1~OUT_6)의 일대일 연결이 순차적으로 시프트(shift) 되도록 스위치(S11~S66)의 온/오프를 제어할 수 있다.
좀 더 구체적으로, 스위치 제어부(400)는, 제1 내지 제6 입력 단자(IN_1~IN_6) 및 일정각도로 분할된 인덱스로 회전 이동하는 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6)) 간의 일대일 연결이 유지되도록 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6))의 인덱스 회전이동에 따라 1x1 스위치 내지 6x6 스위치(S11~S66)의 턴온 동작을 순차적으로 시프트(shift) 시켜 제1 내지 제6 출력 단자(OUT_1~OUT_6)의 트리거 신호의 출력을 순차적으로 변경할 수 있다.
이러한 스위치 제어부(400)는 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6))이 인덱스 회전이동이 진행되더라도 매트릭스 스위치부(300)를 이용하여 제1 입력 단자(IN_1~IN_6)를 통해 입력된 각각의 트리거 신호들이 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6))를 쫓아 해당 테스트 장치(또는 해당 테스트 좀)에 대한 출력이 그대로 유지되도록 제1 내지 제6 입력 단자(IN_1~IN_6)에 대한 제1 내지 제6 출력 단자(OUT_1~OUT_6)의 연결을 순차적으로 변경(또는 제1 내지 제6 출력 단자(OUT_1~OUT_6)를 통한 트리거 신호의 출력을 순차적으로 시프트)시킬 수 있다.
이러한 인덱스 회전 이동하는 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6))의 인덱스 회전각도에 따라 스위치 제어부(400)가 매트릭스 스위치부(300)의 스위칭을 제어하는 방식에 대한 보다 상세한 설명은 후술한다.
상기 스위치 제어부(400)는, 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6))의 인덱스 회전이동을 제어하는 인덱스 제어부(12)로부터 인덱스 회전각도에 대한 정보를 별도로 수신하거나, 인덱스 제어부(12)와 연동하여, 인덱스 회전이동에 따른 인덱스 회전각도를 산출할 수 있다.
후자의 경우, 스위치 제어부(400)는, 특정 인텍스를 원점으로 360/n의 각도만큼 n회의 인덱스 회전이동을 '1 사이클'로 정의하고, '1 사이클' 내 인덱스 회전이동 횟수를 카운팅하여 인덱스 회전각도를 산출할 수 있다.
예를 들어, 본 실시예의 경우 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6))가 6개로 구성되므로, 60도(360/6도)만큼 6회 인덱스 회전이동을 '1 사이클'로 정의할 수 있으며, 원점(특정 인덱스 지점 또는 인덱스 각도가 0도인 특정 지점)에서부터 6회 인덱스 회전이동이 이루어지면 하나의 사이클이 완료된 것으로 정의할 수 있다. 이는 도 4에 도시된 바와 같이, 인덱스 회전각도는 '0도(360)', '60도', '120도', '180도', '240도', '300도'로 정의되고, 각각의 회전각도에 따라 제1 내지 제6 입력 단자(IN_1~IN_6)와 제1 내지 제6 출력 단자(OUT_1~OUT_6) 간의 일대일 연결 상태가 변경되며, 이러한 인덱스 회전각도에 따라 매트릭스 스위치부(300)의 스위칭을 제어할 수 있다.
이하, 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6))의 인덱스 회전각도에 따라 스위치 제어부(400)가 매트릭스 스위치부(300)를 제어하는 방식에 대하여 설명한다.
도 5 내지 도 11은 본 발명의 실시예의 인덱스 회전각도에 따른 매트릭스 스위치부의 스위칭 동작과 입출력 단자 간의 연결 관계를 나타낸 도면이다.
좀 더 구체적으로, 도 5에 도시된 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1 ~ EQ_6))의 인덱스 회전각도는 '0도'인 상태로 원점에 있는 것으로 정의할 수 있다. 또한, 매트릭스 스위치부(300)에 스위칭 제어 방식에 대한 이해를 돕기 위하여 제1 입력 단자(IN_1)로 입력되는 신호를 제1 트리거 신호로, 제2 입력 단자(IN_2)로 입력되는 신호를 제2 트리거 신호로, 제3 입력 단자(IN_3)로 입력되는 신호를 제3 트리거 신호로, 제4 입력 단자(IN_4)로 입력되는 신호를 제4 트리거 신호로, 제5 입력 단자(IN_5)로 입력되는 신호를 제5 트리거 신호로, 제5 입력 단자(IN_6)로 입력되는 신호를 제6 트리거 신호로 각각 정의한다. 본 실시예에서는 회전 인덱스 테이블(22)이 회전 이동함에 따라 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1 ~ Zone_6)이 일정한 인덱스 회전각도단위로 회전할 수 있다.이러한 경우, 1x1 스위치(S11), 2x2 스위치(S22), 3x3 스위치(S33), 4x4 스위치(S44), 5x5 스위치(S55), 6x6 스위치(S66)가 턴온되어, 제1 입력 단자(IN_1)와 제1 출력 단자(OUT_1)가 서로 연결되고, 제2 입력 단자(IN_2)와 제2 출력 단자(OUT_2)가 서로 연결되고, 제3 입력 단자(IN_3)와 제3 출력 단자(OUT_3)가 서로 연결되고, 제4 입력 단자(IN_4)와 제4 출력 단자(OUT_4)가 서로 연결되고, 제5 입력 단자(IN_5)와 제5 출력 단자(OUT_5)가 서로 연결되고, 제6 입력 단자(IN_6)와 제6 출력 단자(OUT_6)가 서로 연결될 수 있으며, 회전 인덱스 테이블(22)의 회전에 의해 제1 테스트 존(Zone_1) 상에는 제1 테스트 장치(EQ_1)이 위치하고, 제2 테스트 존(Zone_2) 상에는 제2 테스트 장치(EQ_2)이 위치하고, 제3 테스트 존(Zone_3) 상에는 제3 테스트 장치(EQ_3)이 위치하고, 제4 테스트 존(Zone_4) 상에는 제4 테스트 장치(EQ_4)이 위치하고, 제5 테스트 존(Zone_5) 상에는 제5 테스트 장치(EQ_5)이 위치하고, 제6 테스트 존(Zone_6) 상에는 제6 테스트 장치(EQ_6)이 위치한다.
이에 따라, 제1 입력 단자(IN_1)를 통해 입력되는 제1 트리거 신호가 제1 출력 단자(OUT_1)를 통해 제1 테스트 장치(EQ_1)로 출력되고, 제2 입력 단자(IN_2)를 통해 입력되는 제2 트리거 신호가 제2 출력 단자(OUT_2)를 통해 제2 테스트 장치(EQ_2)로 출력되고, 제3 입력 단자(IN_3)를 통해 입력되는 제3 트리거 신호가 제3 출력 단자(OUT_3)를 통해 제3 테스트 장치(EQ_3)로 출력되고, 제4 입력 단자(IN_4)를 통해 입력되는 제4 트리거 신호가 제4 출력 단자(OUT_4)를 통해 제4 테스트 장치(EQ_4)로 출력되고, 제5 입력 단자(IN_5)를 통해 입력되는 제5 트리거 신호가 제5 출력 단자(OUT_5)를 통해 제5 테스트 장치(EQ_5)로 출력되고, 제6 입력 단자(IN_6)를 통해 입력되는 제6 트리거 신호가 제6 출력 단자(OUT_6)를 통해 제6 테스트 장치(EQ_6)로 출력되어, 제1 내지 제6 테스트 장비(1~6)의 테스트 동작이 시작될 수 있다.
제1 내지 제6 테스트 장비(EQ_1~EQ_6)의 테스트 동작이 완료된 이후, 도 6에 도시된 바와 같이 제1 내지 제6 테스트 존(Zone_1~Zone_6)(또는 테스트 장치(EQ_1~EQ_6))의 인덱스 회전각도가 원점을 기준으로 '60도'인 경우로, 테스트 존(또는 테스트 장치)가 다음 스테이지의 인덱스로 60도만큼 회전 이동한 상태이며, 회전 인덱스 테이블(22)의 회전에 의해 제1 테스트 존(Zone_1) 상에는 제6 테스트 장치(EQ_6)이 위치하고, 제2 테스트 존(Zone_2) 상에는 제1 테스트 장치(EQ_1)이 위치하고, 제3 테스트 존(Zone_3) 상에는 제2 테스트 장치(EQ_2)이 위치하고, 제4 테스트 존(Zone_4) 상에는 제3 테스트 장치(EQ_3)이 위치하고, 제5 테스트 존(Zone_5) 상에는 제4 테스트 장치(EQ_4)이 위치하고, 제6 테스트 존(Zone_6) 상에는 제5 테스트 장치(EQ_5)이 위치한다.
이러한 경우, 1x2 스위치(S12), 2x3 스위치(S23), 3x4 스위치(S34), 4x5 스위치(S45), 5x6 스위치(S56), 6x1 스위치(S61)가 턴온되어, 제1 입력 단자(IN_1)와 제2 출력 단자(OUT_2)가 서로 연결되고, 제2 입력 단자(IN_2)와 제3 출력 단자(OUT_3)가 서로 연결되고, 제3 입력 단자(IN_3)와 제4 출력 단자(OUT_4)가 서로 연결되고, 제4 입력 단자(IN_4)와 제5 출력 단자(OUT_5)가 서로 연결되고, 제5 입력 단자(IN_5)와 제6 출력 단자(OUT_6)가 서로 연결되고, 제6 입력 단자(IN_6)와 제1 출력 단자(OUT_1)가 서로 연결될 수 있다.
이에 따라, 제1 입력 단자(IN_1)를 통해 입력되는 제1 트리거 신호가 제2 출력 단자(OUT_2)를 통해 제1 테스트 장치(EQ_1)로 출력되고, 제2 입력 단자(IN_2)를 통해 입력되는 제2 트리거 신호가 제3 출력 단자(OUT_3)를 통해 제2 테스트 장치(EQ_2)로 출력되고, 제3 입력 단자(IN_3)를 통해 입력되는 제3 트리거 신호가 제4 출력 단자(OUT_4)를 통해 제3 테스트 장치(EQ_3)로 출력되고, 제4 입력 단자(IN_4)를 통해 입력되는 제4 트리거 신호가 제5 출력 단자(OUT_5)를 통해 제4 테스트 장치(EQ_4)로 출력되고, 제5 입력 단자(IN_5)를 통해 입력되는 제5 트리거 신호가 제6 출력 단자(OUT_6)를 통해 제5 테스트 장치(EQ_5)로 출력되고, 제6 입력 단자(IN_6)를 통해 입력되는 제6 트리거 신호가 제1 출력 단자(OUT_1)를 통해 제6 테스트 장치(EQ_6)로 출력되어, 제1 내지 제6 테스트 장비(1~6)의 테스트 동작이 시작될 수 있다.
제1 내지 제6 테스트 장비(EQ_1~EQ_6)의 테스트 동작이 완료된 이후, 도 7에 도시된 바와 같이 테스트 존(또는 테스트 장치)의 인덱스 회전각도가 원점을 기준으로 '120도'인 경우로, 테스트 존(또는 테스트 장치)가 다음 스테이지의 인덱스로 60도만큼 회전 이동한 상태이며, 회전 인덱스 테이블(22)의 회전에 의해 제1 테스트 존(Zone_1) 상에는 제5 테스트 장치(EQ_5)이 위치하고, 제2 테스트 존(Zone_2) 상에는 제6 테스트 장치(EQ_6)이 위치하고, 제3 테스트 존(Zone_3) 상에는 제1 테스트 장치(EQ_1)이 위치하고, 제4 테스트 존(Zone_4) 상에는 제2 테스트 장치(EQ_2)이 위치하고, 제5 테스트 존(Zone_5) 상에는 제3 테스트 장치(EQ_3)이 위치하고, 제6 테스트 존(Zone_6) 상에는 제4 테스트 장치(EQ_4)이 위치한다.
이러한 경우, 1x3 스위치(S13), 2x4 스위치(S24), 3x5 스위치(S35), 4x6 스위치(S46), 5x1 스위치(S51), 6x2 스위치(S62)가 턴온되어, 제1 입력 단자(IN_1)와 제3 출력 단자(OUT_3)가 서로 연결되고, 제2 입력 단자(IN_2)와 제4 출력 단자(OUT_4)가 서로 연결되고, 제3 입력 단자(IN_3)와 제5 출력 단자(OUT_5)가 서로 연결되고, 제4 입력 단자(IN_4)와 제6 출력 단자(OUT_6)가 서로 연결되고, 제5 입력 단자(IN_5)와 제1 출력 단자(OUT_1)가 서로 연결되고, 제6 입력 단자(IN_6)와 제2 출력 단자(OUT_2)가 서로 연결될 수 있다.
이에 따라, 제1 입력 단자(IN_1)를 통해 입력되는 제1 트리거 신호가 제3 출력 단자(OUT_3)를 통해 제1 테스트 장치(EQ_1)로 출력되고, 제2 입력 단자(IN_2)를 통해 입력되는 제2 트리거 신호가 제4 출력 단자(OUT_4)를 통해 제2 테스트 장치(EQ_2)로 출력되고, 제3 입력 단자(IN_3)를 통해 입력되는 제3 트리거 신호가 제5 출력 단자(OUT_5)를 통해 제3 테스트 장치(EQ_3)로 출력되고, 제4 입력 단자(IN_4)를 통해 입력되는 제4 트리거 신호가 제6 출력 단자(OUT_6)를 통해 제4 테스트 장치(EQ_4)로 출력되고, 제5 입력 단자(IN_5)를 통해 입력되는 제5 트리거 신호가 제1 출력 단자(OUT_1)를 통해 제5 테스트 장치(EQ_5)로 출력되고, 제6 입력 단자(IN_6)를 통해 입력되는 제6 트리거 신호가 제2 출력 단자(OUT_2)를 통해 제6 테스트 장치(EQ_6)로 출력되어, 제1 내지 제6 테스트 장비(1~6)의 테스트 동작이 시작될 수 있다.
제1 내지 제6 테스트 장비(EQ_1~EQ_6)의 테스트 동작이 완료된 이후, 도 8에 도시된 바와 같이 테스트 존(또는 테스트 장치)의 인덱스 회전각도가 원점을 기준으로 '180도'인 경우로, 테스트 존(또는 테스트 장치)가 다음 스테이지의 인덱스로 60도만큼 회전 이동한 상태이며, 회전 인덱스 테이블(22)의 회전에 의해 제1 테스트 존(Zone_1) 상에는 제4 테스트 장치(EQ_4)이 위치하고, 제2 테스트 존(Zone_2) 상에는 제5 테스트 장치(EQ_5)이 위치하고, 제3 테스트 존(Zone_3) 상에는 제6 테스트 장치(EQ_6)이 위치하고, 제4 테스트 존(Zone_4) 상에는 제1 테스트 장치(EQ_1)이 위치하고, 제5 테스트 존(Zone_5) 상에는 제2 테스트 장치(EQ_2)이 위치하고, 제6 테스트 존(Zone_6) 상에는 제3 테스트 장치(EQ_3)이 위치한다.
이러한 경우, 1x4 스위치(S14), 2x5 스위치(S25), 3x6 스위치(S36), 4x1 스위치(S41), 5x2 스위치(S52), 6x3 스위치(S63)가 턴온되어, 제1 입력 단자(IN_1)와 제4 출력 단자(OUT_4)가 서로 연결되고, 제2 입력 단자(IN_2)와 제5 출력 단자(OUT_5)가 서로 연결되고, 제3 입력 단자(IN_3)와 제6 출력 단자(OUT_6)가 서로 연결되고, 제4 입력 단자(IN_4)와 제1 출력 단자(OUT_1)가 서로 연결되고, 제5 입력 단자(IN_5)와 제2 출력 단자(OUT_2)가 서로 연결되고, 제6 입력 단자(IN_6)와 제3 출력 단자(OUT_3)가 서로 연결될 수 있다.
이에 따라, 제1 입력 단자(IN_1)를 통해 입력되는 제1 트리거 신호가 제4 출력 단자(OUT_4)를 통해 제1 테스트 장치(EQ_1)로 출력되고, 제2 입력 단자(IN_2)를 통해 입력되는 제2 트리거 신호가 제5 출력 단자(OUT_5)를 통해 제2 테스트 장치(EQ_2)로 출력되고, 제3 입력 단자(IN_3)를 통해 입력되는 제3 트리거 신호가 제6 출력 단자(OUT_6)를 통해 제3 테스트 장치(EQ_3)로 출력되고, 제4 입력 단자(IN_4)를 통해 입력되는 제4 트리거 신호가 제1 출력 단자(OUT_1)를 통해 제4 테스트 장치(EQ_4)로 출력되고, 제5 입력 단자(IN_5)를 통해 입력되는 제5 트리거 신호가 제2 출력 단자(OUT_2)를 통해 제5 테스트 장치(EQ_5)로 출력되고, 제6 입력 단자(IN_6)를 통해 입력되는 제6 트리거 신호가 제3 출력 단자(OUT_3)를 통해 제6 테스트 장치(EQ_6)로 출력되어, 제1 내지 제6 테스트 장비(1~6)의 테스트 동작이 시작될 수 있다.
제1 내지 제6 테스트 장비(EQ_1~EQ_6)의 테스트 동작이 완료된 이후, 도 9에 도시된 바와 같이 테스트 존(또는 테스트 장치)의 인덱스 회전각도가 원점을 기준으로 '240도'인 경우로, 테스트 존(또는 테스트 장치)가 다음 스테이지의 인덱스로 60도만큼 회전 이동한 상태이며, 회전 인덱스 테이블(22)의 회전에 의해 제1 테스트 존(Zone_1) 상에는 제3 테스트 장치(EQ_3)이 위치하고, 제2 테스트 존(Zone_2) 상에는 제4 테스트 장치(EQ_4)이 위치하고, 제3 테스트 존(Zone_3) 상에는 제5 테스트 장치(EQ_5)이 위치하고, 제4 테스트 존(Zone_4) 상에는 제6 테스트 장치(EQ_6)이 위치하고, 제5 테스트 존(Zone_5) 상에는 제1 테스트 장치(EQ_1)이 위치하고, 제6 테스트 존(Zone_6) 상에는 제2 테스트 장치(EQ_2)이 위치한다.
이러한 경우, 1x5 스위치(S15), 2x6 스위치(S26), 3x1 스위치(S31), 4x2 스위치(S42), 5x3 스위치(S53), 6x4 스위치(S64)가 턴온되어, 제1 입력 단자(IN_1)와 제5 출력 단자(OUT_5)가 서로 연결되고, 제2 입력 단자(IN_2)와 제6 출력 단자(OUT_6)가 서로 연결되고, 제3 입력 단자(IN_3)와 제1 출력 단자(OUT_1)가 서로 연결되고, 제4 입력 단자(IN_4)와 제2 출력 단자(OUT_2)가 서로 연결되고, 제5 입력 단자(IN_5)와 제3 출력 단자(OUT_3)가 서로 연결되고, 제6 입력 단자(IN_6)와 제4 출력 단자(OUT_4)가 서로 연결될 수 있다.
이에 따라, 제1 입력 단자(IN_1)를 통해 입력되는 제1 트리거 신호가 제5 출력 단자(OUT_5)를 통해 제1 테스트 장치(EQ_1)로 출력되고, 제2 입력 단자(IN_2)를 통해 입력되는 제2 트리거 신호가 제6 출력 단자(OUT_6)를 통해 제2 테스트 장치(EQ_2)로 출력되고, 제3 입력 단자(IN_3)를 통해 입력되는 제3 트리거 신호가 제1 출력 단자(OUT_1)를 통해 제3 테스트 장치(EQ_3)로 출력되고, 제4 입력 단자(IN_4)를 통해 입력되는 제4 트리거 신호가 제2 출력 단자(OUT_2)를 통해 제4 테스트 장치(EQ_4)로 출력되고, 제5 입력 단자(IN_5)를 통해 입력되는 제5 트리거 신호가 제3 출력 단자(OUT_3)를 통해 제5 테스트 장치(EQ_5)로 출력되고, 제6 입력 단자(IN_6)를 통해 입력되는 제6 트리거 신호가 제4 출력 단자(OUT_4)를 통해 제6 테스트 장치(EQ_6)로 출력될 수 있다.
제1 내지 제6 테스트 장비(EQ_1~EQ_6)의 테스트 동작이 완료된 이후, 도 10에 도시된 바와 같이 테스트 존(또는 테스트 장치)의 인덱스 회전각도가 원점을 기준으로 '300도'인 경우로, 테스트 존(또는 테스트 장치)가 다음 스테이지의 인덱스로 60도만큼 회전 이동한 상태이며, 회전 인덱스 테이블(22)의 회전에 의해 제1 테스트 존(Zone_1) 상에는 제2 테스트 장치(EQ_2)이 위치하고, 제2 테스트 존(Zone_2) 상에는 제3 테스트 장치(EQ_3)이 위치하고, 제3 테스트 존(Zone_3) 상에는 제4 테스트 장치(EQ_4)이 위치하고, 제4 테스트 존(Zone_4) 상에는 제5 테스트 장치(EQ_5)이 위치하고, 제5 테스트 존(Zone_5) 상에는 제6 테스트 장치(EQ_6)이 위치하고, 제6 테스트 존(Zone_6) 상에는 제1 테스트 장치(EQ_1)이 위치한다.
이러한 경우, 1x6 스위치(S16), 2x1 스위치(S21), 3x2 스위치(S32), 4x3 스위치(S43), 5x4 스위치(S54), 6x5 스위치(S65)가 턴온되어, 제1 입력 단자(IN_1)와 제6 출력 단자(OUT_6)가 서로 연결되고, 제2 입력 단자(IN_2)와 제1 출력 단자(OUT_1)가 서로 연결되고, 제3 입력 단자(IN_3)와 제2 출력 단자(OUT_2)가 서로 연결되고, 제4 입력 단자(IN_4)와 제3 출력 단자(OUT_3)가 서로 연결되고, 제5 입력 단자(IN_5)와 제4 출력 단자(OUT_4)가 서로 연결되고, 제6 입력 단자(IN_6)와 제5 출력 단자(OUT_5)가 서로 연결될 수 있다.
이에 따라, 제1 입력 단자(IN_1)를 통해 입력되는 제1 트리거 신호가 제6 출력 단자(OUT_6)를 통해 제1 테스트 장치(EQ_1)로 출력되고, 제2 입력 단자(IN_2)를 통해 입력되는 제2 트리거 신호가 제1 출력 단자(OUT_1)를 통해 제2 테스트 장치(EQ_2)로 출력되고, 제3 입력 단자(IN_3)를 통해 입력되는 제3 트리거 신호가 제2 출력 단자(OUT_2)를 통해 제3 테스트 장치(EQ_3)로 출력되고, 제4 입력 단자(IN_4)를 통해 입력되는 제4 트리거 신호가 제3 출력 단자(OUT_3)를 통해 제4 테스트 장치(EQ_4)로 출력되고, 제5 입력 단자(IN_5)를 통해 입력되는 제5 트리거 신호가 제4 출력 단자(OUT_4)를 통해 제5 테스트 장치(EQ_5)로 출력되고, 제6 입력 단자(IN_6)를 통해 입력되는 제6 트리거 신호가 제5 출력 단자(OUT_5)를 통해 제6 테스트 장치(EQ_6)로 출력되어, 제1 내지 제6 테스트 장비(1~6)의 테스트 동작이 시작될 수 있다.
제1 내지 제6 테스트 장비(EQ_1~EQ_6)의 테스트 동작이 완료된 이후, 도 11에 도시된 바와 같이 테스트 존(또는 테스트 장치)가 360도 회전함에 따라 원점으로 복귀한 상태로, 상술한 바와 같이 인덱스 회전각도 '0도'와 동일하게 스위칭 제어될 수 있다.
본 실시예에 따르면, 인덱스 회전각도에 따라서 각 트리거 신호의 출력 위치를 시피팅 제어함으로써, 기존의 회전 인덱스 테스트 설비에서 테스트 장치 별 대응되도록 구성된 트리거 보드의 개수를 하나로 감소시킬 수 있다. 이에 따라 설비의 전체적인 복잡도를 낮추고 사이즈를 축소시킬 수 있다.
이상에서 설명한 것은 본 발명에 의한 회전 인덱스 테스트 설비와 신호 제어 장치를 실시하기 위한 하나의 실시예에 불과한 것으로서, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 이하의 특허청구범위에서 청구하는 바와 같이 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 정신이 있다고 할 것이다.
1000: 신호 제어 장치 100: 입력 단자부
IN_1: 제1 입력 단자 IN_2: 제2 입력 단자
IN_3: 제3 입력 단자 IN_4: 제4 입력 단자
IN_5: 제5 입력 단자 IN_6: 제6 입력 단자
200: 출력 단자부 OUT_1: 제1 출력 단자
OUT_2: 제2 출력 단자 OUT_3: 제3 출력 단자
OUT_4: 제4 출력 단자 OUT_5: 제5 출력 단자
OUT_6: 제6 출력 단자 300: 매트릭스 스위치부
S11~S66: 1x1 스위치 ~ 6x6 스위치
400: 스위치 제어부 10: 설비 제어부
11: 트리거 제어부 12: 인덱스 제어부
13: 테스트 장치 제어부 20: 설비 구동부
21: 테스트 장치
EQ_1 ~ EQ_6: 제1 테스트 장치 ~ 제6 테스트 장치
22: 회전 인덱스 테이블
Zone_1 ~ Zone_6: 제1 테스트 존 ~ 제6 테스트 존

Claims (4)

  1. n개의 서로 다른 테스트 장치와 회전 인덱스 테이블에 설치된 n개의 테스트 존이 구비된 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호를 제어하기 위한 장치로,
    외부 제어 장치로부터 상기 테스트 장치 각각에 대한 트리거 신호를 입력 받는 n개의 입력 단자를 포함하는 입력 단자부;
    상기 테스트 존을 통해 상기 테스트 장치와 각각 연결되는 n개의 출력 단자를 포함하는 출력 단자부;
    상기 입력 단자와 상기 출력 단자 간에 매트릭스 배열로 연결된 nxn개의 스위치를 포함하는 매트릭스 스위치부; 및
    상기 테스트 장치 또는 상기 테스트 존의 인덱스 회전각도에 따라 상기 입력 단자에 대한 상기 출력 단자의 일대일 연결이 순차적으로 시프트 되도록 상기 스위치의 온/오프를 제어하는 스위치 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 스위치 제어부는,
    상기 입력 단자 및 일정각도로 분할된 인덱스로 회전 이동하는 상기 테스트 장치 또는 상기 테스트 존 간의 일대일 연결이 유지되도록 상기 테스트 장치 또는 상기 테스트 존의 인덱스 회전이동에 따라 상기 스위치의 턴온 동작을 순차적으로 시프트 시켜 상기 출력 단자의 신호 출력을 순차적으로 변경하는 것을 특징으로 하는 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 스위치 제어부는,
    상기 테스트 장치 또는 상기 테스트 존의 인덱스 회전이동을 제어하는 인덱스 제어부로부터 상기 인덱스 회전각도에 대한 정보를 수신하거나, 상기 인덱스 제어부와 연동하여, 인덱스 회전이동에 따른 상기 인덱스 회전각도를 산출하는 것을 특징으로 하는 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 스위치 제어부는,
    특정 인텍스를 원점으로 360/n의 각도만큼 n회의 인덱스 회전이동을 1 사이클로 정의하고, 상기 1 사이클 내 인덱스 회전이동 횟수를 카운팅하여 상기 인덱스 회전각도를 산출하는 것을 특징으로 하는 트리거 회전 인덱스 테스트 설비의 트리거 신호 제어 장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2547915B2 (ja) * 1990-11-30 1996-10-30 インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン 基板機械加工検査装置
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