KR102016839B1 - A Half-wave Rectifier Power Strong-ARM Amplifier - Google Patents

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Abstract

Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 Block 구성은 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부 (700), CLK 발생부 (701), Sensor부 (702) 및 Surge Current Protection부 (712)로 구성된다.
S_OUT 신호 입력 Transistor (706)는 Sensor부 (702)의 S_OUT 신호를 입력 시키기 위한 Transistor 소자이다.
S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)는 Sensor부 (702)의 S_REF 신호를 입력 시키기 위한 Transistor 소자이다.
상기 S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)는, 상기 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)와 다른 정해진 값의 Sensing Detection Voltage 특성을 생성하기 위해, 복수개의 Transistor를 직렬로 연결하여 구성하거나 병렬로 연결하여 전류 구동 능력에서 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)와 차이가 나도록 하는 것을 특징으로 한다.Block configuration of Sensing Detection Voltage generation strong-ARM Latch amplification circuit is composed of Sensing Detection Voltage generation strong-ARM amplification unit 700, CLK generator 701, Sensor unit 702 and Surge Current Protection unit 712 .
The S_OUT signal input transistor 706 is a transistor device for inputting the S_OUT signal of the sensor unit 702.
S_REF Signal Input Sensing Detection Voltage Generation The transistor 707 is a transistor device for inputting the S_REF signal from the sensor unit 702.
The S_REF signal input sensing detection voltage generation transistor 707 may be configured by connecting a plurality of transistors in series or in parallel to generate a sensing detection voltage characteristic different from the S_OUT signal input transistor 706. The current driving capability may be different from the S_OUT signal input transistor 706.

Description

반파 정류 전원strong-ARM증폭 회로 장치 {A Half-wave Rectifier Power Strong-ARM Amplifier}Half-wave Rectifier Power Strong-ARM Amplifier

Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 Block 구성은 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부, CLK 발생부, Sensor부 (702) 및 Surge Current Protection부 (712)로 구성된다.The block configuration of the Sensing Detection Voltage generation strong-ARM Latch Amplification Circuit is composed of the Sensing Detection Voltage generation strong-ARM amplification unit, CLK generation unit, Sensor unit 702, and Surge Current Protection unit 712.

S_OUT 신호 입력 Transistor는 Sensor부의 S_OUT 신호를 입력 시키기 위한 Transistor 소자이다.S_OUT Signal Input Transistor is a transistor device to input S_OUT signal of sensor part.

S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage Control Transistor는 Sensor부의 S_REF 신호를 입력 시키기 위한 Transistor 소자이다.S_REF Signal Input Sensing Detection Voltage Control Transistor is a transistor device to input S_REF signal of sensor part.

상기 S_OUT 신호 입력 Transistor와 다른 정해진 값의 Sensing Detection Voltage 특성을 생성하기 위해 복수개의 Transistor를 직렬로 연결하여 구성하거나 병렬로 연결하여 전류 구동 능력에서 S_OUT 신호 입력 Transistor와 차이가 나도록 하는 것을 특징으로 한다. In order to generate a sensing detection voltage characteristic different from the S_OUT signal input transistor, a plurality of transistors may be connected in series or in parallel to be different from the S_OUT signal input transistor in current driving capability.

전원이 공급되고 있는 동안에 CLK의 일정 주파수 주기에 대응하여 증폭 동작과 Precharge 동작을 주기적으로 반복하는 증폭 회로에 관련된 기술이다.This technology relates to an amplification circuit that periodically repeats the amplification operation and the precharge operation in response to a constant frequency period of the CLK while power is being supplied.

고 전압의 교류 전원에서 저 전압의 직류 전원으로 변환하는 전압 변환 장치에 있어서 통상 변압 회로(100)는 회로의 구성에 많은 면적과 비용을 유발하는 회로 영역이 된다. In a voltage conversion device for converting a high voltage AC power supply into a low voltage DC power supply, the transformer circuit 100 usually becomes a circuit area that causes a large area and cost in the circuit configuration.

따라서 저 비용의 회로를 구성하는데 있어서 방해 요인으로 작용하게 된다. 한편, 제너 다이오드(Zener diode)(104)회로 영역은 정 전압의 출력 전압 특성을 확보하기 위해 정류 회로(102)의 출력 단자에 병렬로 배치하여 사용하게 된다. As a result, it becomes an obstacle in constructing a low cost circuit. On the other hand, the Zener diode 104 circuit region is used in parallel to the output terminal of the rectifier circuit 102 in order to secure the output voltage characteristics of the constant voltage.

최근에는 통신 분야의 system transients와 lightning-induced transients로부터 시스템을 보호해주는 써지 보호 역할과, 이동 통신 단말기, 노트북 PC, 전자수첩, PDA등의 정전 기에 대하여 회로를 보호해주는 ESD(electrostatic discharge) protection의 역할로서 PN 바리스터(Varistor)가 필요하다.In recent years, the surge protection role protects the system from system transients and lightning-induced transients in the telecommunication field, and the role of ESD protection that protects the circuit against electrostatic devices such as mobile communication terminals, notebook PCs, electronic notebooks, and PDAs. As a PN varistor is required.

각종 정보기기, 제어기기 등 전기를 사용하는 제품에 갑작스런 전압의 변화(surge) 가전제품에 대한 기기 손상을 방지하기 위한 써지 흡수소자로서 사용 된다. 또한 발전소, 변전소, 송전소 같은 전력 기기 분야에서 낙뢰로부터 설비를 안전하게 보호하기 위한 전력용 피뢰기의 핵심 소자에 이르기까지 다양한 부분에 사용된다. It is used as a surge absorbing device to prevent the damage of the device to the home appliance which suddenly changes the voltage in the products that use electricity such as various information devices and control devices. It is also used in power applications such as power plants, substations and transmission stations, from lightning strikes to the core components of lightning arresters for safeguarding installations.

이에 따라 이들 장비에 발생하는 전원서지, 낙뇌서지 등으로부터 시스템을 보호하기 위한 필요성이 그 어느 때보다도 강하게 요구되고 있다.Accordingly, the necessity for protecting the system from power surges, lightning surges, etc. generated in these equipments is stronger than ever.

전력 계통에 설치되는 전자기기들을 이러한 과도 외부 서지로부터 파괴, 또는 오동작하지 않도록 서지를 차단하기 위해서는 서지 보호 장치(Surge Protection Device: SPD, Voltage Transient Management System: VTMS, or Transient Voltage Surge Suppressor: TVSS)를 설치한다. 또한, 전력 계통에 설치되는 전자기기들은 이상 전류, 이상 전압 혹은 누설 전류와 같은 각종 고장 사고에 의한 재해를 방지할 수 있는 감지(Sensing) 보호 장치를 설치하여야 한다.Surge Protection Device (SPD) or Voltage Transient Management System (VTMS) or Transient Voltage Surge Suppressor (TVSS) can be used to prevent surges from breaking or malfunctioning electronic devices installed in the power system. Install. In addition, electronic devices installed in the power system should be equipped with a sensing protection device that can prevent a disaster caused by various failures such as abnormal current, abnormal voltage or leakage current.

본 발명의 실시예는 다음과 같은 특징을 갖는다. Embodiments of the present invention have the following features.

첫째, 통상 변압 회로(100) 영역의 구성을 제거하여 통상 변압 회로(100) 영역에서 차지하는 면적을 제거하여 저 비용 회로의 구현이 가능하게 하는 특징을 갖는다. First, it is possible to implement a low cost circuit by removing the area of the transformer circuit 100 region by removing the configuration of the transformer circuit region.

둘째, Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 Block 구성은 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부, CLK 발생부 및 Sensor부로 구성되게 하는 특징을 갖는다.Second, the block configuration of the Sensing Detection Voltage generation strong-ARM Latch amplification circuit is characterized by being composed of the Sensing Detection Voltage generation strong-ARM amplification unit, CLK generation unit and the sensor unit.

셋째, 전원이 공급되고 있는 동안에 CLK의 일정 주파수 주기에 대응하여 증폭 동작과 Precharge 동작을 주기적으로 반복되는 특징을 갖는다.Third, the amplification operation and the precharge operation are periodically repeated in response to a predetermined frequency period of the CLK while power is being supplied.

고 전압의 교류 및 직류 전원에서 저 전압의 직류 전원으로 변환하는 전압 변환 장치에 있어서, 통상 변압 회로(100)의 구성을 제거하여 통상 변압 회로(100) 구성에서 차지하는 많은 면적을 제거하여 저 비용의 회로를 구성할 수 있도록 하는 것을 특징으로 한다. In a voltage converter that converts a high voltage alternating current and a direct current power source into a low voltage direct current power source, the configuration of the transformer circuit 100 is normally removed, thereby eliminating a large area of the transformer circuit 100. It is characterized in that the circuit can be configured.

또한 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 Block 구성은 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부 (700), CLK 발생부 (701) 및 Sensor부 (702) 로 구성된다.In addition, the block configuration of the Sensing Detection Voltage generation strong-ARM Latch amplification circuit is composed of a Sensing Detection Voltage generation strong-ARM amplification unit 700, CLK generation unit 701 and the sensor unit 702.

S_OUT 신호 입력 Transistor (706)는 Sensor부 (702)의 S_OUT 신호를 입력 시키기 위한 Transistor 소자이다.The S_OUT signal input transistor 706 is a transistor device for inputting the S_OUT signal of the sensor unit 702.

S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)는 Sensor부 (702)의 S_REF 신호를 입력 시키기 위한 Transistor 소자이다.S_REF Signal Input Sensing Detection Voltage Generation The transistor 707 is a transistor device for inputting the S_REF signal from the sensor unit 702.

상기 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)와 다른 정해진 값의 Sensing Detection Voltage 특성을 생성하기 위해 복수개의 Transistor를 직렬로 연결하여 구성하거나 병렬로 연결하여 전류 구동 능력에서 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)와 차이가 나도록 하는 것을 특징으로 한다.In order to generate the sensing detection voltage characteristic different from the S_OUT signal input transistor 706, a plurality of transistors may be connected in series or in parallel to be different from the S_OUT signal input transistor 706 in current driving capability. Characterized in that.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예는 다음과 같은 효과를 갖는다. As described above, the embodiment of the present invention has the following effects.

첫째, 통상 변압 회로(100) 영역의 구성을 제거하여 통상 변압 회로(100) 영역에서 차지하는 면적을 제거하여 저 비용 회로의 구현이 가능하도록 한다. First, it is possible to implement a low-cost circuit by eliminating the configuration of the conventional transformer circuit 100 region to remove the area occupied by the conventional transformer circuit 100 region.

둘째, Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 Block 구성은 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부, CLK 발생부, Sensor부 (702) 및 Surge Current Protection부 (712)로 구성됨을 특징으로 하는 효과를 제공한다. Second, the block structure of the Sensing Detection Voltage generation strong-ARM Latch Amplification Circuit is composed of Sensing Detection Voltage generation strong-ARM amplification unit, CLK generation unit, Sensor unit 702 and Surge Current Protection unit 712 To provide.

셋째, 전원이 공급되고 있는 동안에 CLK의 일정 주파수 주기에 대응하여 증폭 동작과 Precharge 동작을 주기적으로 반복됨을 특징으로 하는 효과를 제공한다.Third, the amplification operation and the precharge operation are periodically repeated in response to a predetermined frequency period of the CLK while power is being supplied.

아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다. In addition, a preferred embodiment of the present invention is for the purpose of illustration, those skilled in the art will be able to various modifications, changes, substitutions and additions through the spirit and scope of the appended claims, such modifications and changes are the following claims It should be seen as belonging to a range.

도 1은 통상의 전압 변환 회로의 구성도.
도 2는 본 발명의 반파 정류 VDD 전원 발생 회로의 구성도
도 3은 본 발명의 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 구성도.
도 4은 본 발명의 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 동작 파형도.1 is a configuration diagram of a conventional voltage conversion circuit.
2 is a block diagram of a half-wave rectified VDD power generation circuit of the present invention.
Figure 3 is a block diagram of a Sensing Detection Voltage generation strong-ARM Latch amplification circuit of the present invention.
Figure 4 is an operational waveform diagram of the Sensing Detection Voltage generation strong-ARM Latch amplification circuit of the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대해 상세히 설명하고자 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail an embodiment of the present invention.

도 1은 통상의 전압 변환 회로의 구성도이다.1 is a configuration diagram of a conventional voltage conversion circuit.

교류 입력 전원(100)에서 저 전압의 직류 전원의 전압으로 변환하는 전압 변환 장치에 있어서 통상 변압회로(101), 정류 회로(102), 및 제너 다이오드(Zener diode)(104)의 회로 영역으로 구성된다. 통상 변압 회로(100)는 고 전압의 입력 전원을 저 전압으로 변환하는 회로 영역이다. In a voltage conversion device for converting an AC input power supply 100 into a voltage of a low voltage DC power supply, a circuit region of a transformer circuit 101, a rectifier circuit 102, and a Zener diode 104 is usually configured. do. Typically, the transformer circuit 100 is a circuit area for converting a high voltage input power supply into a low voltage.

정류 회로(102)는 교류 전원을 직류 전원으로 변환하는 반파 혹은 전파 정류 다이오드로 구성된 회로 영역이다. 통상 변압 회로(100)는 회로의 구성에 많은 면적과 비용을 유발하는 회로 영역이 된다. The rectifier circuit 102 is a circuit region composed of half-wave or full-wave rectifier diodes that convert AC power into DC power. In general, the transformer circuit 100 becomes a circuit area that causes a large area and cost in the circuit configuration.

따라서 저 비용의 회로를 구성하는데 있어서 방해 요인으로 작용하게 된다.As a result, it becomes an obstacle in constructing a low cost circuit.

한편, 제너 다이오드(Zener diode)(104)회로 영역은 정 전압의 출력 전압 특성을 확보하기 위해 정류 회로(102)의 출력 단자(103)에 병렬로 배치하여 사용하게 된다. On the other hand, the Zener diode (104) circuit region is used in parallel to the output terminal 103 of the rectifier circuit 102 to secure the output voltage characteristics of the constant voltage.

정류 회로(102)의 출력 단자(103)는 최종 출력 제1 전력 공급 단자(105)로 사용된다.The output terminal 103 of the rectifier circuit 102 is used as the final output first power supply terminal 105.

도 2는 본 발명의 반파 정류 VDD 전원 발생 회로의 구성도이다.2 is a block diagram of a half-wave rectified VDD power generation circuit of the present invention.

본 발명의 교류 입력 전원에서 저 전압의 직류 전원의 전압으로 변환하는 전압 변환 장치에 있어서, 교류 입력 전원(200)의 한쪽 전극(201)은 반파 정류 회로의 한쪽 입력 단에 연결된다.In the voltage conversion device for converting an AC input power supply into a voltage of a low voltage DC power supply of the present invention, one electrode 201 of the AC input power supply 200 is connected to one input terminal of the half-wave rectifier circuit.

교류 입력 전원(200)의 다른 쪽 전극(202)은 공통의 접지 단자인 GND에 연결된다.The other electrode 202 of the AC input power source 200 is connected to GND, which is a common ground terminal.

교류 입력 전원(200)의 한쪽 전극(201)은 전류 제한 소자인 저항 R1의 한쪽 단자에 연결된다.One electrode 201 of the AC input power supply 200 is connected to one terminal of the resistor R1 which is a current limiting element.

저항 R1의 다른 쪽 단자(204)는 Zener diode (206)의 Cathode 와 Diode D5의 Anode 전극에 공통으로 연결된다.The other terminal 204 of the resistor R1 is commonly connected to the Cathode of the Zener diode 206 and the Anode electrode of the Diode D5.

상기 Zener diode (206)의 Anode 단자는 공통의 접지 단자인 GND에 연결된다.The Anode terminal of the Zener diode 206 is connected to GND, which is a common ground terminal.

상기 D5의 Cathode 전극에는 저 전압 출력 단자인 VDD 전원 단자가 연결된다.The Cathode electrode of D5 is connected to the VDD power terminal, which is a low voltage output terminal.

VDD 전원 단자는 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 VDD 전원 단자에 연결된다.The VDD power terminal is connected to the VDD power terminal of the Sensing Detection Voltage generating strong-ARM Latch amplification circuit.

도 3은 본 발명의 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 구성도이다.3 is a block diagram of a sensing-voltage generating strong-ARM latch amplification circuit of the present invention.

Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 Block 구성은 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부 (700), CLK 발생부 (701), Sensor부 (702) 및 Surge Current Protection부 (712)로 구성된다.Block configuration of Sensing Detection Voltage generation strong-ARM Latch amplification circuit is composed of Sensing Detection Voltage generation strong-ARM amplification unit 700, CLK generator 701, Sensor unit 702 and Surge Current Protection unit 712 .

상기 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부 (700)는 out- 단자의 precharge transistor (703), out+ 단자의 precharge transistor (704), Latch 증폭부 (705), S_OUT 신호 입력 Transistor (706), S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707) 및 활성화 제어 Transistor (708) 로 구성된다.The sensing detection voltage generating strong-ARM amplifier 700 includes a precharge transistor 703 of an out- terminal, a precharge transistor 704 of an out + terminal, a latch amplifier 705, an S_OUT signal input transistor 706, and an S_REF signal. It consists of an input Sensing Detection Voltage generation Transistor 707 and an Activation Control Transistor 708.

상기 precharge transistor (703) 와 precharge transistor (704)는 out- 단자와 out+ 단자를 High 전압으로 Precharge 시키는 사용되는 Transistor 이다.The precharge transistor 703 and the precharge transistor 704 are transistors used to precharge the out- terminal and the out + terminal to a high voltage.

Latch 증폭부 (705)는 out- 단자와 out+ 단자를 증폭시키기 위한 회로이다.The latch amplifier 705 is a circuit for amplifying the out- terminal and the out + terminal.

S_OUT 신호 입력 Transistor (706)는 Sensor부 (702)의 S_OUT 신호를 입력 시키기 위한 Transistor 소자이다.The S_OUT signal input transistor 706 is a transistor device for inputting the S_OUT signal of the sensor unit 702.

S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)는 Sensor부 (702)의 S_REF 신호를 입력 시키기 위한 Transistor 소자이다.S_REF Signal Input Sensing Detection Voltage Generation The transistor 707 is a transistor device for inputting the S_REF signal from the sensor unit 702.

또한, 상기 S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)는, 상기 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)와 다른 정해진 값의 Sensing Detection Voltage 특성을 생성하기 위해, 복수개의 Transistor를 직렬로 연결하여 구성하거나 병렬로 연결하여 전류 구동 능력에서 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)와 차이가 나도록 하는 것을 특징으로 한다.In addition, the S_REF signal input sensing detection voltage generation transistor 707 may be configured by connecting a plurality of transistors in series or in parallel to generate a sensing detection voltage characteristic different from the S_OUT signal input transistor 706. Connected to the S_OUT signal input transistor 706 in the current driving capability.

상기 활성화 제어 Transistor (708)는 CLK 신호가 High 일 때는 동작을 활성화 시키고, CLK 신호가 Low 일 때는 Precharge 시키는 동작을 수행한다. The activation control transistor 708 activates an operation when the CLK signal is high and precharges when the CLK signal is low.

상기 CLK 발생부 (701)는 전원을 인가하면 자체적으로 일정 주기의 clock 신호인 CLK 을 발생함을 특징으로 하는 회로 Block이다.The CLK generator 701 is a circuit block which generates CLK, which is a clock signal of a predetermined period when power is applied.

상기 Sensor부 (702)는 온도 Sensor, 자기 Sensor, 가스 Sensor 등 각종 Sensor 신호를 발생하는 Sensor 회로 Block이다.The sensor unit 702 is a sensor circuit block that generates various sensor signals such as a temperature sensor, a magnetic sensor, and a gas sensor.

상기 Sensor부 (702)는 외부의 Sensing 신호 입력 조건에 따라 아주 큰 Level의 Sensing 신호가 유입되어 Surge Current 가 상기 S_OUT 과 S_REF 에 생성되는 경우가 발생하게 된다.The sensor unit 702 generates a surge current generated at S_OUT and S_REF by inputting a very high level sensing signal according to an external sensing signal input condition.

이러한 Surge Current를 방전시키지 못하면 상기 S_OUT 과 S_REF 에 연결된 Transistor를 파괴하는 경우가 발생한다.Failure to discharge this surge current may cause the transistors connected to the S_OUT and S_REF to be destroyed.

따라서 이러한 Surge Current를 방전할 수 있는 보호 장치가 필요하게 된다.Therefore, a protection device capable of discharging such surge current is needed.

상기 Surge Current Protection부 (712)는 상기 Sensor부 (702)부에 유기되는 고 전류 Level의 Surge Current를 Discharge 시켜서 상기 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)와 상기 S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)를 보호하는 동작을 수행한다.The surge current protection unit 712 discharges the surge current of the high current level induced by the sensor unit 702 to generate the S_OUT signal input transistor 706 and the S_REF signal input sensing detection voltage generation transistor 707. Perform a protective action.

상기 Surge Current Protection부 (712)는 Varistor, PN Diode, MOS Transistor Diode 와 동등한 동작을 수행하는 소자로 구성된다.The surge current protection unit 712 is composed of elements that perform operations equivalent to varistors, PN diodes, and MOS transistors.

도 4는 본 발명의 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM Latch 증폭 회로의 동작 파형도이다.4 is an operation waveform diagram of a sensing detection voltage generation strong-ARM latch amplification circuit of the present invention.

상기 CLK 발생부 (701)의 CLK 신호가 Low인 구간에서는 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부 (700)가 비활성화 되어 Precharge 동작을 수행한다.In the section where the CLK signal of the CLK generator 701 is low, the sensing-voltage generating strong-ARM amplifier 700 is deactivated to perform a precharge operation.

한편, 상기 CLK 발생부 (701)의 CLK 신호가 High인 구간에서는 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부 (700)가 활성화 되어 정상 증폭 동작을 수행한다.On the other hand, in the section where the CLK signal of the CLK generator 701 is High, the Sensing Detection Voltage generation strong-ARM amplifier 700 is activated to perform a normal amplification operation.

본 발명의 회로는 전원이 공급되고 있는 동안에 CLK의 일정 주파수 주기에 대응하여 증폭 동작과 Precharge 동작을 주기적으로 반복됨을 특징으로 한다.The circuit of the present invention is characterized in that the amplification operation and the precharge operation are periodically repeated in response to a predetermined frequency period of the CLK while power is being supplied.

100 입력 전원
101 변압 회로
102 정류 회로
104 제너 다이노드(Zener diode)
105 제1 전력 공급 단자
200 입력 전원100 input power
101 transformer circuit
102 rectifier circuit
104 Zener diode
105 first power supply terminal
200 input power

Claims (1)

반파 정류 전원 strong-ARM Latch 증폭 회로 장치의 구성에 있어서,
교류 입력 전원(200); 및
상기 교류 입력 전원(200)의 한쪽 전극(201); 및
상기 교류 입력 전원(200)의 다른 쪽 전극(202); 및
반파 정류 VDD 전원 발생부; 및
Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부 (700); 및
CLK 발생부 (701); 및
Sensor부 (702)로 구성되고,
상기 반파 정류 VDD 전원 발생부에서,
상기 교류 입력 전원(200)의 상기 한쪽 전극(201)은 전류 제한 소자인 저항 R1의 한쪽 단자에 연결되고,
상기 교류 입력 전원(200)의 상기 다른 쪽 전극(202)은 공통의 접지 단자인 GND에 연결되고,
상기 저항 R1의 다른 쪽 단자(204)는 Zener diode (206)의 Cathode 와 Diode D5의 Anode 전극에 공통으로 연결되고,
상기 Zener diode (206)의 Anode 단자는 공통의 접지 단자인 GND에 연결되고,
상기 Diode D5의 Cathode 전극에는 저 전압 출력 단자인 VDD 전원 단자가 연결되고,
상기 VDD 전원 단자는 상기 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부 (700)의 VDD 전원 단자에 연결되고,
상기 Sensing Detection Voltage 생성 strong-ARM 증폭부 (700)는 out- 단자의 precharge transistor (703), out+ 단자의 precharge transistor (704), Latch 증폭부 (705), S_OUT 신호 입력 Transistor (706), S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707) 및 활성화 제어 Transistor (708) 로 구성되고,
상기 precharge transistor (703) 와 상기 precharge transistor (704)의 2개의 Drain 단자는 상기 out- 단자와 상기 out+ 단자와 각각 연결되고,
상기 precharge transistor (703) 와 상기 precharge transistor (704)의 2개의 Gate 단자는 상기 CLK 발생부(701)의 CLK 신호에 연결되어 상기 CLK 신호에 따라 상기 out- 단자와 상기 out+ 단자를 High 전압으로 Precharge 시키고,
상기 Latch 증폭부 (705)는 상기 out- 단자와 상기 out+ 단자를 증폭시키고,
상기 Latch 증폭부 (705)의 서로 다른 2개의 Source 단자는 상기 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)의 Drain 단자와 상기 S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)의 Drain 단자와 각각 연결되고,
상기 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)의 Gate 단자는 상기 Sensor부 (702)의 S_OUT 신호를 입력 시키고,
상기 S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)의 Gate 단자는 상기 Sensor부 (702)의 S_REF 신호를 입력 시키고,
S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)는, 상기 Sensor부 (702)의 상기 S_OUT 신호와 상기 S_REF 신호 전압이 같은 크기로 입력될 경우에, 상기 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)의 전류 구동 능력 대비 상기 S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)의 전류 구동 능력은 차이가 나도록 하는 것을 특징으로 하고,
상기 S_OUT 신호 입력 Transistor (706)의 Source 단자와 상기 S_REF 신호 입력 Sensing Detection Voltage 생성 Transistor (707)의 Source 단자는 공통으로 상기 활성화 제어 Transistor (708)의 Drain 단자에 연결되고,
상기 활성화 제어 Transistor (708)의 Gate 단자는 상기 CLK 신호가 연결되고,
상기 활성화 제어 Transistor (708)는 상기 CLK 신호가 High 일 때는 상기 Latch 증폭부(705)의 동작을 활성화 시키고, 상기 CLK 신호가 Low 일 때는 상기 Latch 증폭부(705)를 Precharge 시키는 동작을 수행하고,
상기 CLK 발생부 (701)는 전원을 인가하면 자체적으로 일정 주기의 clock 신호인 상기 CLK 신호를 발생하고,
상기 Sensor부 (702)는 Sensor 신호인 상기 S_OUT 신호와 상기 S_REF 신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 반파 정류 전원 strong-ARM Latch 증폭 회로 장치. In the configuration of the half-wave rectified power strong-ARM latch amplifier circuit device,
AC input power source 200; And
One electrode 201 of the AC input power source 200; And
The other electrode 202 of the AC input power source 200; And
A half-wave rectified VDD power generator; And
Generating a Sensing Detection Voltage strong-ARM amplifier 700; And
A CLK generator 701; And
It consists of a sensor unit 702,
In the half-wave rectified VDD power generator,
The one electrode 201 of the AC input power source 200 is connected to one terminal of the resistor R1, which is a current limiting element,
The other electrode 202 of the AC input power source 200 is connected to a common ground terminal GND,
The other terminal 204 of the resistor R1 is commonly connected to the Cathode of the Zener diode 206 and the Anode electrode of the Diode D5,
The Anode terminal of the Zener diode 206 is connected to GND, which is a common ground terminal.
The Cathode electrode of the Diode D5 is connected to the VDD power terminal, which is a low voltage output terminal,
The VDD power terminal is connected to the VDD power terminal of the Sensing Detection Voltage generating strong-ARM amplifier 700,
The sensing detection voltage generating strong-ARM amplifier 700 includes a precharge transistor 703 of an out- terminal, a precharge transistor 704 of an out + terminal, a latch amplifier 705, an S_OUT signal input transistor 706, and an S_REF signal. Consisting of an input Sensing Detection Voltage generation Transistor (707) and an activation control Transistor (708),
Two drain terminals of the precharge transistor 703 and the precharge transistor 704 are connected to the out- terminal and the out + terminal, respectively,
Two gate terminals of the precharge transistor 703 and the precharge transistor 704 are connected to the CLK signal of the CLK generator 701 to precharge the out- terminal and the out + terminal to a high voltage according to the CLK signal. Let's
The latch amplifier 705 amplifies the out- terminal and the out + terminal,
Two different source terminals of the latch amplifier 705 are connected to the drain terminal of the S_OUT signal input transistor 706 and the drain terminal of the S_REF signal input Sensing Detection Voltage generation transistor 707, respectively.
The gate terminal of the S_OUT signal input transistor 706 inputs the S_OUT signal of the sensor unit 702,
The S_REF signal input The gate terminal of the sensing detection voltage generation transistor 707 inputs the S_REF signal of the sensor unit 702,
S_REF signal input Sensing Detection Voltage generation Transistor 707 is compared with the current driving capability of the S_OUT signal input Transistor 706 when the S_OUT signal and the S_REF signal voltage of the sensor unit 702 are input with the same magnitude. The current driving capability of the S_REF signal input sensing detection voltage generation transistor 707 may be different from each other.
The source terminal of the S_OUT signal input transistor 706 and the source terminal of the S_REF signal input Sensing Detection Voltage generation transistor 707 are commonly connected to the drain terminal of the activation control transistor 708.
Gate terminal of the activation control transistor 708 is connected to the CLK signal,
The activation control transistor 708 activates the operation of the latch amplifier 705 when the CLK signal is high, and precharges the latch amplifier 705 when the CLK signal is low.
The CLK generation unit 701 generates the CLK signal, which is a clock signal of a predetermined period when the power is applied,
The sensor unit 702 is a half-wave rectified power strong-ARM latch amplification circuit device, characterized in that for generating the S_OUT signal and the S_REF signal which is a sensor signal.
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