KR102007782B1

KR102007782B1 - 엘이디 전구용 검사기구

Info

Publication number: KR102007782B1
Application number: KR1020190069176A
Authority: KR
Inventors: 장영환
Original assignee: 장영환
Priority date: 2019-06-12
Filing date: 2019-06-12
Publication date: 2019-08-06

Abstract

본 발명은 엘이디 전구의 점등, 단락 및 에이징 등의 검사를 대량으로 자동 수행하도록 하여 생산성, 작업성이 향상되도록 하는 엘이디 전구용 검사기구에 관한 것이다.
이와 같은 목적을 해결하기 위해 본 발명은; 엘이디 전구(10)가 안착되는데, 이 안착된 엘이디 전구(10)에 커넥터봉(111)을 이용해 전원을 공급하면서 엘이디 전구(10)의 검사를 수행하는 본체 부재(100)와; 상기 본체 부재(100)의 커넥터봉(111) 및 상기 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b)에 접속되어 본체 부재(100)의 전원을 엘이디 전구(10)에 접속시키는 접속 부재(200)를 포함하여 구성되고, 상기 엘이디 전구(10)의 점등검사 및 단락검사는 상기 접속 부재(200)가 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b)에 접속되면서 수행하고, 상기 엘이디 전구(10)의 에이징검사는 상기 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b) 이외에 추가로 상기 -단자(10b) 측에 연결된 에이징핀(250)이 본체 부재(100)에 마련된 에이징봉(140)에 접속되면서 수행하는데, 상기 에이징핀(250)과 에이징봉(140)의 선택적 접속에 의해 점등검사, 단락검사 또는 에이징검사 중 어느 하나가 선택적 수행되는 구조이다.

Description

엘이디 전구용 검사기구 {Inspection device of LED bulb}

본 발명은 엘이디 전구의 점등, 단락 및 에이징 등의 검사를 대량으로 자동 수행하도록 하여 생산성, 작업성이 향상되도록 하는 엘이디 전구용 검사기구에 관한 것이다.

일반적으로, 전구는 각종 산업분야에서 어두운 곳을 밝히거나, 어두운 곳에서 위치를 식별하기 위한 용도로 사용되는 것이며, 전구의 내부에는 빛을 조사하는 광원이 마련되는데, 이 광원은 필라멘트, 네온, 수은 방식 등의 발광체를 이용하고, 최근에는 수명, 광도가 월등하고 저렴한 LED 소자가 기판에 마련된 LED 모듈형 전구를 널리 사용하고 있다.

이러한 LED는 반도체 다이오드의 특성을 가지면서 전류를 흐르게 하면 빛을 발산하고, 소형화가 가능하여 작은 크기의 전구를 제작할 수 있으며, LED를 이용한 전구는 대량생산됨에 따라 LED 전구의 점등, 단락 및 에이징 등의 검사를 수행한다.

예를 들어, 종래 국내공개실용신안공보 제20-2013-0003695호를 살펴보면, 엘이디 램프용 검사 및 에이징 장치로서, 복수의 수직프레임과; 상기 복수의 수직프레임에 걸쳐 상하 일정한 간격으로 지지되는 한 쌍의 수평프레임과; 상기 한 쌍의 수평프레임의 길이방향을 따라 다수 개가 일렬배치되되, 상하 대응되는 위치에 각각 한 쌍으로 마련되어 엘이디램프의 양단이 전기적으로 접속지지되는 접속단자와; 한 쌍인 상기 다수의 접속단자에 각각 대응하여 마련되는 다수의 전원공급부와; 상기 각 전원공급부로부터 이에 대응하는 상기 각 접속단자로의 전원인가를 조작하기 위한 스위치와; 타이머와; 상기 타이머에서 카운트된 시간이 설정된 작동시간을 초과하면 상기 스위치를 조작하여 상기 각 전원공급부의 전원을 차단하는 제어부;를 포함하여 제시되어 있다.

또한, 종래 국내공개특허공보 제10-2011-0106128호를 살펴보면, LED 조명등용 에이징장치로서, LED 조명등이 삽입되는 삽입홈이 형성된 본체; 상기 삽입홈에 구비되고, LED 조명등의 베이스부 주면에 지지되는 제1 단자부; 상기 삽입홈에 구비되고, LED 조명등의 베이스부 저면에 지지되는 제2 단자부; 및 상기 제1 단자부에 연결되는 -단자와, 상기 제2단자부에 연결되는 +단자를 구비한 전원부를 포함하며, 상기 제2 단자부는 삽입홈의 바닥면에 구비되는 단자 몸체, 상기 단자 몸체의 하부에 구비되고 전원부의 +단자가 연결되는 +단자판, 상기 단자 몸체의 상면에 이동가능하게 삽입되고 상기 +단자판에 지지되는 +단자봉, 및 상기 +단자봉의 상부에 형성된 걸림돌기와 단자 몸체의 상면 사이에 구비되는 스프링을 포함하여 제시되어 있다.

그러나 종래에는 엘이디 전구의 검사기구는 전구의 점등, 단락, 에이징 등의 검사를 하나의 장치에서 동시에 수행하지 못하기 때문에 전구의 점등 검사, 단락 검사, 에이징 검사를 위해서는 각각의 장치를 별도로 구비해야 하는 번거로움으로 작업성이 현저히 떨어지는 문제점이 있었다.

또한, 종래에는 엘이디 전구의 다양한 제품 사양 및 외형에 대응하여 이들을 하나의 장치에서 검사를 동시에 수행하지 못하기 때문에 범용성이 현저히 떨어지는 문제점이 있었다.

국내공개실용신안공보 제20-2013-0003695호가 제시되어 있다. 국내공개특허공보 제10-2011-0106128호가 제시되어 있다.

본 발명은 종래 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 엘이디 전구의 점등, 단락, 에이징과 같은 검사공정들을 하나의 검사기구에서 선택적으로 수행할 수 있도록 하여 각 검사공정을 위한 개별적 검사기구들이 필요 없어 번거로움을 해소하면서 작업성이 향상되도록 하는데 그 목적이 있다.

또한, 본 발명은 엘이디 전구의 다양한 제품 사양 및 외형에 맞는 지그를 각각 구비하면서 이 지그를 교체하는 것으로 이들의 검사를 하나의 장치에서 동시에 수행하도록 하여 검사공정의 범용성을 향상되도록 하는데 또 다른 목적이 있다.

이와 같은 목적을 해결하기 위해 본 발명은;

엘이디 전구가 안착되는데, 이 안착된 엘이디 전구에 커넥터봉을 이용해 전원을 공급하면서 엘이디 전구의 검사를 수행하는 본체 부재와;

상기 본체 부재의 커넥터봉 및 상기 엘이디 전구의 +단자, -단자에 접속되어 본체 부재의 전원을 엘이디 전구에 접속시키는 접속 부재를 포함하여 구성되고,

상기 엘이디 전구의 점등검사 및 단락검사는 상기 접속 부재가 엘이디 전구(10)의 +단자, -단자에 접속되면서 수행하고, 상기 엘이디 전구의 에이징검사는 상기 엘이디 전구의 +단자, -단자 이외에 추가로 상기 -단자 측에 연결된 에이징핀이 본체 부재에 마련된 에이징봉에 접속되면서 수행하는데, 상기 에이징핀과 에이징봉의 선택적 접속에 의해 점등검사, 단락검사 또는 에이징검사 중 어느 하나가 선택적 수행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 전구용 검사기구를 제공한다.

이러한 본 발명에 따르면, 하나의 검사기구에서 엘이디 전구의 점등, 단락, 에이징의 검사공정을 선택적 수행함에 따라 각 검사공정을 위한 개별적 검사기구들이 필요 없어 번거로움이 해소되고, 검사공정의 작업성이 향상되는 효과가 있다.

또한, 엘이디 전구의 다양한 제품 사양 및 외형에 맞는 지그가 구비되면서 이 지그를 교체 사용하는 구조로 각 검사공정들을 하나의 장치에서 동시에 수행함에 따라 검사공정의 생산성이 향상되는 효과가 있다.

도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 엘이디 전구용 검사기구를 나타낸 도면.
도 2는 본 발명의 제2 실시 예에 따른 엘이디 전구용 검사기구를 나타낸 도면.
도 3은 본 발명의 제3 실시 예에 따른 엘이디 전구용 검사기구를 나타낸 도면.

본 발명에 따른 엘이디 전구용 검사기구를 첨부된 도면을 참고로 하여 이하 상세히 기술되는 실시 예들에 의해 그 특징들을 이해할 수 있을 것이다.

한편, 실시 예를 설명함에 있어 본 고안이 속하거나 속하지 아니한 기술분야에서 광범위하게 널리 알려져 사용되고 있는 구성요소에 대해서는 이에 대한 상세한 설명은 생략하도록 하며, 이는 불필요한 설명을 생략함과 더불어 이에 따른 본 고안의 요지를 더욱 명확하게 전달하기 위함이다.

이하, 본 발명의 기본 구성의 실시 예로서, 제1 실시 예에 따른 엘이디 전구용 검사기구에 대한 각부 구성을 도 1을 참고로 구체적으로 설명한다. 도 1은 검사기구의 분해사시도이다.

이에 따른 엘이디 전구용 검사기구(1)를 개략적으로 살펴보면, 전원 공급 및 엘이디 전구(10)의 검사를 수행하는 본체 부재(100); 엘이디 전구(10)에 전원을 접속시키는 접속 부재(200);를 포함하여 구성된다.

여기서 본 발명의 검사기구(1)를 이용해 검사하는 엘이디 전구(10)는 각각 기본형태의 A형 타입(11), 막대 형태의 B형 타입(12)으로 구분된다.

이와 같은 구성으로 이루어진 엘이디 전구용 검사기구(1)의 세부 구성을 첨부된 도면을 참고로 상세하게 살펴보면 다음과 같다.

먼저, 상기 본체 부재(100)는;

엘이디 전구(10)가 안착되는데, 이 안착된 엘이디 전구(10)에 커넥터봉(111)을 이용해 전원을 공급하면서 엘이디 전구(10)의 검사를 수행하기 위한 것이다.

예를 들면, 상기 본체 부재(100)는; 엘이디 전구(10)가 안착되는 공간을 제공하며, 접속 부재(200)에 접속되면서 엘이디 전구(10)에 전원 공급 및 검사 신호의 수집을 위한 커넥터봉(111)이 마련되는 메인프레임(110)을 더 포함한다.

상기 메인프레임(110)은 사각 박스 형태로 제작되는데, 상단부 일측에 접속 부재(200)에 접속되면서 엘이디 전구(10)에 전원 공급 및 검사 신호의 수집을 위한 복수의 커넥터봉(111)이 돌출되어 마련되며, 상기 커넥터봉(111)은 엘이디 전구(10)의 검사 신호가 수집되면 이를 활용하여 검사를 수행하는 제어부가 마련되고, 이 제어부는 마이컴이며, 입력되는 명령어에 의해 해석, 연산, 비교 등의 처리를 수행할 수 있고, 저장장치, 입력장치 및 모니터와 같은 출력장치가 구비되어 검사 합격, 불합격 판정을 실시간 출력할 수 있고, 이를 위해 별도 개발된 소프트웨어를 운용할 수 있다.

이때, 상기 메인프레임(110)은 엘이디 전구(10)의 다양한 제품사양에 대응하는데, 다양한 엘이디 전구(10) 중 안착을 위한 돌기가 마련된 엘이디 전구(10)의 끼움결합을 위해 메인프레임(110) 상면으로 엘이디 전구(10)가 안착되는 측에 전구홈(112)을 형성할 수 있다.

여기서, 상기 메인프레임(110)은, 지그(130)를 전기 접속 위치로 안착되게 안내하면서 안착된 지그(130)를 고정하는 제1가이드(113); 접속 부재(200)를 전기 접속 위치로 안착되게 안내하면서 안착된 접속 부재(200)를 고정하는 제2가이드(114);가 각각 마련된다.

상기 제1가이드(113)는, 환봉으로 메인프레임(110)의 상단부 모서리 측에 각각 수직 결합되면서 지그(130)에 마련된 지그가이드(131)이 끼워지게 하는데, 지그(130)에 구비된 엘이디 전구(10)가 메인프레임(110)과 접속 부재(200) 사이에서 용이하게 전기 접속되는 위치에 대응하여 엘이디 전구(10)를 안내할 수 있도록 구비된다.

상기 제2가이드(114)는, 관통구멍으로 메인프레임(110)의 상단부 모서리 측에 각각 마련되면서 접속 부재(200)에 마련된 제3가이드(212)가 끼워지게 하는데, 접속 부재(200)의 커넥터핀(213)이 메인프레임(110)의 커넥터봉(111)에 용이하게 전기 접속되는 위치에 대응하여 접속 부재(200)를 안내할 수 있도록 구비된다.

또한, 상기 본체 부재(100)는; 단락검사 과정에서 단락 판정된 엘이디 전구(10)의 위치를 실시간으로 표시하는 단락표시부(120)를 더 포함한다.

상기 단락표시부(120)는 메인프레임(110)의 상단부에 안착되어 검사를 진행하는 다수의 엘이디 전구(10)의 위치에 대응하여 그 위치를 숫자로 순차별 표시하는 다수의 표시등(121)이 구비되는데, 이 다수의 표시등(121)은 메인프레임(110)의 전면부에 등간격 배치되어 마련된다.

이때, 상기 단락표시부(120)는 다수의 표시등(121)이 메인프레임(110) 내부의 검사를 위한 제어부에 전기적으로 연결되어 단락검사 중 단락되어 불량의 판정을 받은 엘이디 전구(10)의 위치 신호를 제공받을 수 있고, 이 제공받은 위치 신호에 따라 검사 중인 다수의 엘이디 전구(10) 중 불량 판정의 해당 엘이디 전구(10)의 위치에 맞는 표시등(121)이 점등되면서 표시한다.

또한, 상기 본체 부재(100)는; 엘이디 전구(10)의 외형에 대응한 끼움부(132)을 이용해 하나 또는 그 이상의 엘이디 전구(10)를 끼워 지지한 상태에서 상기 본체 부재(100)에 안착시키는데, 엘이디 전구(10)의 다양한 제품 사양에 대응하여 교체 사용하는 지그(130)를 더 포함한다.

상기 지그(130)는 메인프레임(110)과 접속 부재(200) 사이에 삽입되는 판재 형태로 제작되는데, 이 지그(130)의 둘레 모서리 측으로 상기 제1가이드(113)에 끼워져 메인프레임(110)의 알맞은 위치에 지그(130)를 안착시키기 위한 지그가이드(131)이 각각 관통구멍으로 형성되고, 지그(130)의 상면 내측으로 다수의 엘이디 전구(10)를 등간격 끼워 고정하는 끼움부(132)가 상기 엘이디 전구(10)의 외형에 대응한 홈 또는 구멍으로 형성된다.

이때, 상기 끼움부(132)는 엘이디 전구(10)의 다양한 제품 사양에 대응한 형상으로 형성되기 때문에 엘이디 전구(10)의 다양한 제품 사양에 맞는 복수의 지그(130)를 구비하고, 이 제품 사양에 맞는 복수의 지그(130)를 검사 종류에 따라 교체 사용한다.

예컨대, 상기 지그(130)를 부가함에 따라 엘이디 전구(10)의 다양한 제품 사양 및 외형에 맞는 지그(130)가 구비되면서 이 지그(130)를 교체 사용하는 구조로 각 검사공정들을 하나의 장치에서 동시에 수행하여 검사공정의 범용적으로 생산성이 향상되게 된다.

그리고, 상기 접속 부재(200)는;

상기 본체 부재(100)의 커넥터봉(111) 및 상기 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b)에 접속되어 본체 부재(100)의 전원을 엘이디 전구(10)에 접속시키기 위한 것이다.

예를 들면, 상기 접속 부재(200)는; 엘이디 전구(10)의 접속 공간을 제공하며, 본체 부재(100)의 커넥터봉(111)에 접속되는 커넥터핀(213)이 마련되는 접속프레임(210)을 더 포함한다.

상기 접속프레임(210)은 본체 부재(100)의 메인프레임(110)에 용이하게 안착될 수 있는 크기의 판재로 제작되는데, 하단부 일측에 상기 본체 부재(100)의 커넥터봉(111)에 접속되면서 공급되는 전원을 엘이디 전구(10)에 전달하고, 검사 중 엘이디 전구(10)의 신호를 본체 부재(100)에 제공하기 위한 복수의 커넥터핀(213)이 돌축되어 마련되며, 상기 커넥터핀(213)은 접속프레임(210)을 관통하면서 상단부로 돌출되어 전선 연결을 수행할 수 있도록 한다.

이때, 상기 접속프레임(210)은 엘이디 전구(10)가 본체 부재(100)에 각가 안착되는 위치로 하나 이상의 전구홀(214)이 관통형성되는데, 상기 전구홀(214)은 엘이디 전구(10)의 점등된 빛을 접속 부재(200)의 외부로 조사시키면서 점등검사를 수행하도록 하는 것이다.

여기서, 상기 접속프레임(210)은, 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b)에 각각 접속되는 제1단자핀(211)을 더 포함한다.

상기 제1단자핀(211)은 지그(130)를 통해 본체 부재(100)에 안착된 엘이디 전구(10)의 +단자(10a) 및 -단자(10b) 위치에 대응하여 접속프레임(210)의 내측에 관통되면서 상하 돌출되는 복수의 핀으로 마련되는데, 이 제1단자핀(211)의 하단부는 지그(130)에 안착된 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b)에 각각 접속되고, 상기 제1단자핀(211)의 상단부로 +단자(10a)가 연결되는 측은 분할라인(220)이 연결되면서 전원이 공급된다.

더불어, 상기 접속프레임(210)은, 본체 부재(100)의 제2가이드(114)에 체결되면서 본체 부재(100)의 전기 접속 위치로 접속 부재(200)를 안내하여 안착 고정되게 하는 제3가이드(212)를 더 포함한다.

상기 제3가이드(212)는 환봉으로 접속프레임(210)의 하단부 모서리 측으로 본체 부재(100)의 제2가이드(114) 위치에 대응한 측에 각가 수직 결합되면서 상기 제2가이드(114)에 끼워지고, 이 제3가이드(212)와 제2가이드(114)의 끼움 구조에 의해 접속 부재(200)가 본체 부재(100)에 안착되면서 엘이디 전구(10)의 접속을 수행한다.

또한, 상기 접속 부재(200)는; 다수의 엘이디 전구(10)의 +단자(10a) 측에 각각 연결되면서 다수의 엘이디 전구(10)에 본체 부재(100)의 전원을 분할 접속되게 하는 분할라인(220)을 더 포함한다.

상기 분할라인(220)은 전선의 일종이며, 상기 커넥터핀(213)에 분할라인(220)의 일측이 연결된 상태에서 이 분할라인(220)은 엘이디 전구(10)의 +단자(10a) 접속 측에 병렬 접속 형태로 연결되면서 상기 커넥터핀(213)으로부터 전달되는 본체 부재(100)의 전원을 다수의 엘이디 전구(10)에 균일하게 공급할 수 있게 한다.

이때, 상기 분할라인(220)에 의해 다수의 엘이디 전구(10)에 대한 동시 검사가 가능하여 대량 검사에 의한 생산력이 향상되게 된다.

또한, 상기 접속 부재(200)는; 점등검사중 육안확인용 디스플레이를 제공하면서 검사 보호 기능을 수행하는 커버(230)를 더 포함한다.

상기 커버(230)는 투명 재질의 판재로 상기 접속프레임(210)을 덮을 수 있을 정도의 크기로 제작되는데, 이 커버(230)는 접속프레임(210)의 상방으로 임의 간격 이격되면서 다수의 지그핀(231)을 이용해 설치되고, 상기 접속프레임(210)의 전구홀(214)을 통해 조사되는 빛을 외부로 투과시켜 점등검사를 위한 육안확인용 디스플레이를 제공하고, 외부 충격 등으로부터 엘이디 전구(10), 접속 부재(200) 등의 부속품 들이 파손되지 않도록 보호하는 기능을 한다.

이때, 상기 커버(230)의 외측에는 엘이디 전구(10)의 빛으로부터 검사를 위한 작업자의 눈을 보호하기 위해 상기 엘이디 전구(10)의 검사 중 빛을 식별 가능한 범위 안에서 감소시키기 위한 기능의 구조들을 구비할 수 있고, 예를 들어 색을 갖는 불투명의 판재 또는 편광 판재를 적용할 수 있다.

또한, 상기 접속 부재(200)는; 검사 중 엘이디 전구(10)의 냉각 기능을 수행하는 냉각팬(240)을 더 포함한다.

상기 냉각팬(240)은 전동 팬의 일종이며 상기 접속프레임(210)과 커버(230) 사이의 이격 공간 측에 설치되어 엘이디 전구(10)로부터 발산되는 열을 외부로 강제 배출하는 기능을 하며, 이 열 배출에 의해 접속 부재(200)의 검사 위치로 과열을 방지하게 된다.

특징적으로 전술한 구성에 따라 엘이디 전구(10)의 점등검사 및 단락검사는 상기 접속 부재(200)가 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b)에 접속되면서 선택적 수행하는데, 점등검사의 경우 본체 부재(100)의 전원을 공급받아 점등된 다수의 엘이디 전구(10)가 접속 부재(200)의 커버(230)를 통해 빛이 투과되면서 육안확인을 하면서 점등검사를 수행한다.

또한, 단락검사의 경우 본체 부재(100)의 전원을 공급받아 점등된 상태에서 일정시간 점등된 상태를 유지하는 검사시간을 갖고, 이 검사시간 중 각 해당하는 엘이디 전구(10)에 공급되는 본체 부재(100)의 전원 단락 여부를 검사하면서 단락검사를 수행하고, 단락된 엘이디 전구(10)의 위치를 단락표시부(120)를 이용해 점등표시하여 그 해당하는 엘이디 전구(10)를 분리할 수 있도록 한다.

한편, 전술한 제1 실시 예에서는 기본형태의 A형 타입(11) 엘이디 전구(10)에 대한 검사를 수행한다.

이하, 본 발명의 또 다른 구성의 실시 예로서, 제2 실시 예에 따른 엘이디 전구용 검사기구에 대한 각부 구성을 도 2를 참고로 구체적으로 설명한다. 도 2는 검사기구의 분해 사시도이다.

이에 따르면, 전술한 구조로 이루어진 엘이디 전구용 검사기구(1)는; 엘이디 전구(10)의 에이징검사를 수행하기 위해 접속 부재(200)의 에이징핀(250)에 접속되도록 본체 부재(100)에 마련되는 에이징봉(140); 상기 에이징봉(140)에 접속 가능하게 접속 부재(200)에 마련되는데, 상기 에이징봉(140)과의 접속을 통해 에이징검사를 수행되게 하는 에이징핀(250)을 더 포함한다.

상기 에이징봉(140)은, 본체 부재(100)에 엘이디 전구(10)가 안착되는 인접한 측에 환봉 형태로 수직 결합되어 마련되고, 이 에이징봉(140)은 본체 부재(100)의 제어부에 연결되면서 엘이디 전구(10)의 에이징검사 신호를 수집하여 검사할 수 있도록 하며, 상기 에이징봉(140)은 지그(130)를 관통하면서 접속 부재(200)의 에이징핀(250)에 접속되게 한다.

상기 에이징핀(250)은, 접속 부재(200)의 제1단자핀(211)에 인접한 측에 환봉 형태로 수직 결합된 상태에서 엘이디 전구(10)의 -단자(10b)에 접속되는 제1단자핀(211) 측에 연결되어 마련되는데, 이 에이징핀(250)은 본체 부재(100)의 에이징봉(140)에 접속 가능한 위치로 대응하며, 상기 에이징핀(250)이 제1단자핀(211)에 연결되면서 엘이디 전구(10)의 전기 흐름에 대한 정보를 본체 부재(100)가 수집할 수 있도록 하여 에이징검사를 수행하도록 한다.

특징적으로 전술한 구성에 따라 엘이디 전구(10)의 에이징검사는 상기 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b) 이외에 추가로 상기 -단자(10b) 측엔 연결된 에이징핀(250)이 본체 부재(100)에 마련된 에이징봉(140)에 접속되면서 선택적 수행한다.

한편, 전술한 제2 실시 예에서는 기본형태의 A형 타입(11), 막대 형태의 B형 타입(12) 엘이디 전구(10)에 대한 검사를 선택적 수행할 수 있다.

이 경우 상기 A형 타입(11) 엘이디 전구(10)의 검사는 에이징핀(250)이 제1단자핀(211)에 연결되고, B형 타입(12) 엘이디 전구(10)의 검사는 에이징핀(250)이 제2단자핀(260)에 연결된다.

이하, 본 발명의 또 다른 구성의 실시 예로서, 제3 실시 예에 따른 엘이디 전구용 검사기구에 대한 각부 구성을 도 3을 참고로 구체적으로 설명한다. 도 3은 검사기구의 분해 사시도이다.

이에 따르면, 전술한 구조로 이루어진 엘이디 전구용 검사기구(1)는; 엘이디 전구(10)의 제품 사양에 따라 막대 형태의 B형 타입(12) 엘이디 전구(10)에 전기 접속되도록 본체 부재(100)에 마련된 단자봉(150); 및 상기 단자봉(150)과 연계하여 타측에서 막대 형태의 B형 타입(12) 엘이디 전구(10)에 전기 접속되는 제2단자핀(260)을 선택적으로 더 포함한다.

상기 단자봉(150)은, 한 쌍의 핀 형태로 본체 부재(100)에 B형 타입(12) 엘이디 전구(10)가 안착되는 위치로 상기 엘이디 전구(10)의 저부에 접속되는데, 이 단자봉(150)의 한 쌍의 핀 중 일측은 B형 타입(12) 엘이디 전구(10)를 지지하는 동시에 타측은 엘이디 전구(10)의 +단자(10a) 또는 -단자(10b) 중 어느 하나에 접속된다.

상기 제2단자핀(260)은, 한 쌍의 핀 형태로 접속 부재(200)에 상기 단자봉(150)의 위치에 대응하여 B형 타입(12) 엘이디 전구(10)의 상부에 접속되는데, 이 제2단자핀(260)의 한 쌍의 핀 중 일측은 B형 타입(12) 엘이디 전구(10)를 지지하는 동시에 타측은 엘이디 전구(10)의 +단자(10a) 또는 -단자(10b) 중 어느 하나에 접속되는데, 바람직하게는 상기 단자봉(150)이 접속된 반대 극성의 단자에 접속된다.

한편, 전술한 제3 실시 예에서는 막대 형태의 B형 타입(12) 엘이디 전구(10)에 대한 검사만을 선택적 수행할 수 있으며, 이 경우 전술한 제1단자핀(211)을 대신하여 제2단자핀(260)이 접속 부재(200)에 구비되고, 본체 부재(100)에는 단자봉(150)이 구비된다.

이상 설명한 바와 같이. 본 발명은 특정의 바람직한 실시 예를 예시한 설명과 도면으로 표현하였으나, 여기서 사용하는 용어들은 본 발명을 용이하게 설명하기 위함이며, 이 용어들에 대한 의미 한정이나, 특허청구범위에 기재된 범위를 제한하기 위함이 아니며,

본 발명은 상기한 실시 예에 따른 특허청구범위에 의해 나타난 발명의 사상 및 영역을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경 및 개조, 수정 등이 가능할 수 있음을 누구나 쉽게 알 수 있을 것이다.

1; 검사기구 100; 본체 부재
110; 메인프레임 120; 단락표시부
130; 지그 140; 에이징봉
150; 단자봉 200; 접속 부재
210; 접속프레임 220; 분할라인
230; 보호커버 240; 냉각팬
250; 에이징핀 260; 제2단자핀
10; 엘이디 전구

Claims

엘이디 전구(10)가 안착되는데, 이 안착된 엘이디 전구(10)에 커넥터봉(111)을 이용해 전원을 공급하면서 엘이디 전구(10)의 검사를 수행하는 본체 부재(100)와;
상기 본체 부재(100)의 커넥터봉(111) 및 상기 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b)에 접속되어 본체 부재(100)의 전원을 엘이디 전구(10)에 접속시키는 접속 부재(200)를 포함하여 구성되고,
상기 엘이디 전구(10)의 점등검사 및 단락검사는 상기 접속 부재(200)가 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b)에 접속되면서 수행하고, 상기 엘이디 전구(10)의 에이징검사는 상기 엘이디 전구(10)의 +단자(10a), -단자(10b) 이외에 추가로 상기 -단자(10b) 측에 연결된 에이징핀(250)이 본체 부재(100)에 마련된 에이징봉(140)에 접속되면서 수행하는데, 상기 에이징핀(250)과 에이징봉(140)의 선택적 접속에 의해 점등검사, 단락검사 또는 에이징검사 중 어느 하나가 선택적 수행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 전구용 검사기구.
제1항에 있어서,
상기 본체 부재(100)는 엘이디 전구(10)의 외형에 대응한 끼움부(132)을 이용해 하나 또는 그 이상의 엘이디 전구(10)를 끼워 지지한 상태에서 상기 본체 부재(100)에 안착시키는데, 엘이디 전구(10)의 다양한 제품 사양에 대응하여 교체 사용하는 지그(130)를 더 포함한 엘이디 전구용 검사기구.
제1항에 있어서,
상기 본체 부재(100)는 단락검사 과정에서 단락 판정된 엘이디 전구(10)의 위치를 실시간으로 표시하는 단락표시부(120)를 선택적으로 더 포함한 엘이디 전구용 검사기구.
제1항에 있어서,
상기 접속 부재(200)는 다수의 엘이디 전구(10)의 +단자(10a) 측에 각각 연결되면서 다수의 엘이디 전구(10)에 본체 부재(100)의 전원을 분할 접속시키는 분할라인(220)을 더 포함한 엘이디 전구용 검사기구.
제1항에 있어서,
상기 접속 부재(200)는 검사중 육안확인용 디스플레이를 제공하면서 검사 보호 기능을 수행하는 커버(230)를 더 포함한 엘이디 전구용 검사기구.