KR101978135B1 - 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법 - Google Patents

전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치는, 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부와, 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부와, 측정 데이터와 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부를 포함할 수 있다.

Description

전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법 {Apparatus and method for generating data quality information of electric power equipment}
본 발명은 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법에 관한 것이다.
유틸리티는 전력시스템의 안정성과 경제성을 향상시키려는 목적으로 스마트그리드의 도입, 지능형 계통해석의 적용 등 다양한 노력을 하고 있다. 이러한 과정에서 다양한 프로토콜들과 다양한 전력설비들이 현장에 적용되고 있다.
예를 들어 전력시스템은 DNP(Distributed Network Protocol) 통신프로토콜을 따르고 RTU(Remote Terminal Unit)에 의해 송수신되는 신호를 중심으로 사용하여왔으나, 최근의 전력시스템은 DNP뿐만 아니라 Modbus, UDP, IEC 61850과 같은 다양한 통신프로토콜을 사용하고 RTU뿐만 아니라 IED(Intelligent Electronic Device), ESS(Energy Storage System), PMU(Phase Measurement Unit)와 같은 다양한 전력설비에 의해 송수신되는 신호를 사용하고 있다. 이로 인하여 정보의 복잡성이 크게 증가하였다.
등록특허공보 제10-1574524호
본 발명의 일 실시 예는, 전력설비의 측정 데이터의 품질 정보를 생성하여 정보의 복잡성을 완화시킬 수 있는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치는, 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부; 상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및 상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함할 수 있다.
예를 들어, 상기 측정 데이터는 나열구조를 가지고, 상기 품질값은 계층구조의 측정 데이터가 가지는 품질값에 대응될 수 있다.
예를 들어, 상기 나열구조의 측정 데이터는 DNP, Modbus 및 UDP 중 적어도 하나의 통신프로토콜을 따르고, 상기 계층구조의 측정 데이터는 IEC 61850의 통신프로토콜을 따를 수 있다.
예를 들어, 상기 데이터 수집부는 상기 전력설비로부터 나열구조의 측정 데이터를 수집하고 제2 전력설비로부터 계층구조의 측정 데이터를 수집하고, 상기 저장부는 상기 나열구조의 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하고, 상기 품질값 생성부는 상기 나열구조의 측정 데이터의 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값 생성부는 상기 나열구조의 측정 데이터에 생성한 품질값을 적용하여 상기 나열구조의 측정 데이터의 구조를 계층구조로 변환할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하고, 상기 소정의 논리 회로에 따른 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터와 상기 과거값을 비교하고 비교 결과에 대응하여 변수값을 축적하고, 상기 변수값이 기준값에 도달할 때까지 경과한 시간이 기준 시간 이상인지 여부에 따라 변동 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 설정값은 측정 주기 설정값을 포함하고, 상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터가 상기 측정 주기 설정값에 대응되는 주기동안 업데이트되는지 여부에 대응되는 누락 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 설정값은 데이터 유형 설정값과 데이터 범위 설정값을 포함하고, 상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터의 유형과 상기 데이터 유형 설정값의 비교 결과에 대응되는 유형 품질값을 생성하고, 상기 측정 데이터가 상기 데이터 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 범위 품질값을 생성할 수 있다.
예를 들어, 상기 측정 데이터는 상기 전력설비의 역률값을 포함하고, 상기 설정값은 상기 역률값의 범위 설정값과 상기 역률값의 분모의 범위 설정값을 포함하고, 상기 품질값 생성부는 상기 전력설비의 역률값이 상기 역률값의 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 범위 품질값을 생성하고, 상기 전력설비의 역률값의 분모가 상기 역률값의 분모의 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 참조 품질값을 생성할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법은, 통신접속이 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 단계; 프로세싱 유닛이 상기 측정 데이터와 설정값을 포함하는 데이터 테이블을 생성하는 단계; 및 상기 프로세싱 유닛이 상기 데이터 테이블과 과거 데이터 테이블을 소정의 논리 회로에 적용하여 품질값을 생성하는 단계; 를 포함할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값을 생성하는 단계는, 상기 소정의 논리 회로에 따라 제1 품질값을 생성하는 단계; 상기 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하는 단계; 및 상기 제1 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성하는 단계; 를 포함할 수 있다.
예를 들어, 상기 품질값은 상기 측정 데이터의 유형에 기초한 유형 품질값, 상기 측정 데이터의 기준범위에 기초한 범위 품질값, 상기 측정 데이터의 참조값 기준범위에 기초한 참조 품질값, 상기 측정 데이터의 변동 빈도에 기초한 변동 품질값 및 상기 측정 데이터의 업데이트 시간에 기초한 누락 품질값을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치 및 방법은, 전력설비의 측정 데이터의 품질 정보를 생성하여 정보의 복잡성을 완화시킬 수 있으며, 전력시스템의 데이터 통합, 지능형 계통해석 및 스마트그리드 운영의 효율성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치의 다중 수집 형태를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치의 단일 수집 형태를 나타낸 도면이다.
도 3은 품질값 생성을 위한 데이터 테이블을 예시한 도면이다.
도 4는 도 3의 데이터 테이블에서의 설정값을 정리한 도면이다.
도 5는 도 3의 데이터 테이블에서의 측정 데이터와 품질값을 정리한 도면이다.
도 6은 품질값 생성을 위한 소정의 논리 회로를 예시한 도면이다.
도 7은 변전소 측정 데이터가 적용된 데이터 테이블의 품질값 생성을 예시한 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법을 나타낸 순서도이다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭한다.
이하에서는, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 하기 위하여, 본 발명의 실시 예들에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치의 다중 수집 형태를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치의 단일 수집 형태를 나타낸 도면이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치(100)는, 데이터 수집부(110), 저장부(120) 및 품질값 생성부(130)를 포함할 수 있다.
예를 들어, 상기 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치(100)는 다수의 전력설비로부터 측정 데이터를 수집하고 수집한 측정 데이터에 대응되는 데이터를 SCADA(Supervisory Control And Data Acquisition)의 FEP(Front End Processor)와 같은 상위시스템(200)으로 전송할 수 있으며, 프록시-게이트웨이(proxy-gateway)의 역할을 수행할 수 있다.
데이터 수집부(110)는 전력설비의 측정 데이터를 수집할 수 있다. 예를 들어, 상기 데이터 수집부(110)는 복수의 제1 전력설비(11, 12, 13)의 측정 데이터와 제2 전력설비(20)의 측정 데이터를 함께 수집할 수 있다.
여기서, 복수의 제1 전력설비(11, 12, 13)는 DNP, Modbus 및 UDP와 같은 통신프로토콜에 따라 나열구조의 측정 데이터를 데이터 수집부(110)로 전송할 수 있다. 여기서, 나열구조의 일 형태는 값들 각각이 서로 병렬적인 관계를 가지는 구조일 수 있다.
또한, 제2 전력설비(20)는 IEC 61850과 같은 통신프로토콜에 따라 계층구조의 측정 데이터를 데이터 수집부(110)로 전송할 수 있다. 여기서, 계층구조의 일 형태는 하나의 제2 전력설비(20)가 다수의 논리장치(Logical Device)에 대응되고 하나의 논리장치가 다수의 논리노드(Logical Node)에 대응되고 하나의 논리노드가 다수의 데이터대상(Data Object)에 대응되는 구조일 수 있으며, UML(Unified Modeling Language) 형식과 유사한 구조를 가질 수 있다.
또한, 계층구조는 측정 데이터의 생성 과정에서부터 측정 데이터를 상위시스템 또는 관리자가 얼마나 믿을 수 있는지를 나타내는 척도인 품질값을 데이터대상(Data Object) 계층의 값으로 포함할 수 있다. 따라서, 상기 품질값은 상위시스템(200)의 데이터 통합, 지능형 계통해석 및 스마트그리드 운영의 효율성을 향상시킬 수 있다.
일반적으로 상기 품질값은 나열구조에 포함되지 않으므로, 나열구조의 측정 데이터의 계층구조의 측정 데이터에 대한 호환성은 낮을 수 있다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치(100)는 나열구조의 측정 데이터에 품질값을 생성함으로써, 나열구조의 측정 데이터의 계층구조의 측정 데이터에 대한 호환성을 향상시킬 수 있다.
저장부(120)는 나열구조의 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장할 수 있다. 예를 들어, 상기 저장부(120)는 도 3에 도시된 데이터 테이블의 형식에 따라 과거값과 설정값을 저장할 수 있다. 예를 들어, 상기 저장부(120)는 도 4에 도시된 설정값을 저장할 수 있다. 예를 들어, 상기 저장부(120)는 도 5에 도시된 측정 데이터의 과거값과 현재값을 저장할 수 있다.
품질값 생성부(130)는 나열구조의 측정 데이터와 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 수집된 측정 데이터의 품질값을 생성할 수 있다. 예를 들어, 상기 소정의 논리 회로는 도 6에 도시된 논리 회로들을 포함할 수 있다.
이에 따라, 나열구조와 같이 품질값을 최초에 포함하지 않는 측정 데이터는 품질값을 포함할 수 있다. 상기 품질값은 계층구조의 품질값에 대응될 수 있으므로, 나열구조의 측정 데이터의 계층구조의 측정 데이터에 대한 호환성은 향상될 수 있다. 더 나아가, 상기 품질값은 상위시스템(200)의 데이터 통합, 지능형 계통해석 및 스마트그리드 운영의 효율성을 향상시킬 수 있다.
한편, 상기 품질값 생성부(130)는 생성한 품질값과 나열구조의 측정 데이터를 결합하거나 생성한 품질값을 나열구조의 측정 데이터에 적용하여 나열구조의 측정 데이터의 구조를 계층구조로 변환하여 상위시스템(200)으로 전송할 수 있다.
도 3은 품질값 생성을 위한 데이터 테이블을 예시한 도면이다.
도 3을 참조하면, 데이터 테이블은 설정값(Configuration)과 측정 데이터(Real time data)을 포함할 수 있다.
도 4는 도 3의 데이터 테이블에서의 설정값을 정리한 도면이다.
도 4를 참조하면, 설정값(Configuration)은 데이터 유형 설정값(definedDataType), 데이터 최소값 설정값(minValue), 데이터 최대값 설정값(maxValue), 참조 데이터 최소값 설정값(refMinValue), 참조 데이터 최대값 설정값(refMaxValue), 변수시간(binErrorTime), 변수값(binErrorNumber), 측정 주기 설정값(meaErrorTime)을 포함할 수 있다.
데이터 유형 설정값(definedDataType)은 유형 품질값(overflow)에 영향을 줄 수 있다.
데이터 최소값 설정값(minValue)과 데이터 최대값 설정값(maxValue)은 범위 품질값(outOfRange)에 영향을 줄 수 있다.
참조 데이터 최소값 설정값(refMinValue)과 참조 데이터 최대값 설정값(refMaxValue)은 참조 품질값(badReference, inaccurate)에 영향을 줄 수 있다.
변수시간(binErrorTime)과 변수값(binErrorNumber)은 변동 품질값(oscillatory)에 영향을 줄 수 있다.
측정 주기 설정값(meaErrorTime)은 누락 품질값(oldData)에 영향을 줄 수 있다.
도 5는 도 3의 데이터 테이블에서의 측정 데이터와 품질값을 정리한 도면이다.
도 5를 참조하면, 측정 데이터(Real time data)는 순번값(Pointer), 측정시각값(timeStamp), 측정값(value), 데이터 유형값(dataType)을 포함할 수 있다.
측정시각값(timeStamp)은 변동 품질값(oscillatory)과 누락 품질값(oldData)에 영향을 줄 수 있다.
데이터 유형값(dataType)은 유형 품질값(overflow)에 영향을 줄 수 있다.
도 5를 참조하면, 품질값은 종합 품질값(validity), 유형 품질값(overflow), 범위 품질값(outOfRange), 참조 품질값(badReference, inaccurate), 변동 품질값(oscillatory), 누락 품질값(oldData)을 포함할 수 있으며, 실패 검증값(failure)과 모순 검증값(inconsistent)을 더 포함할 수 있다.
유형 품질값(overflow), 범위 품질값(outOfRange), 참조 품질값(badReference, inaccurate), 변동 품질값(oscillatory), 누락 품질값(oldData)은 도 6에 도시된 소정의 논리 회로에 따라 생성될 수 있다.
실패 검증값(failure)과 모순 검증값(inconsistent)과 같은 제2 품질값은 별도의 어플리케이션(Application)에 의한 추가 검증에 의해 생성된 값일 수 있다.
종합 품질값(validity)은 소정의 논리 회로에 따라 생성된 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합된 값을 가질 수 있다.
도 6은 품질값 생성을 위한 소정의 논리 회로를 예시한 도면이다.
도 6을 참조하면, 소정의 논리 회로는 제1, 제2, 제3, 제4, 제5, 제6 논리 회로(131, 132, 133, 134, 135, 136)를 포함할 수 있다.
제1 논리 회로(131)는 데이터 유형 설정값(I02)과 데이터 유형값(I13)을 입력 받을 수 있으며, 입력값들의 동일 여부에 종속적인 유형 품질값(O2)을 출력할 수 있다.
제2 논리 회로(132)는 측정값(I12)과 데이터 최소값 설정값(I04)과 데이터 최대값 설정값(I05)을 입력 받을 수 있으며, 측정값(I12)과 데이터 최소값 설정값(I04)간의 대소관계와 측정값(I12)과 데이터 최대값 설정값(I05)간의 대소관계에 종속적인 범위 품질값(O3)을 출력할 수 있다.
제3 논리 회로(133)는 측정값(I12)과 참조 데이터 최소값 설정값(I06)과 참조 데이터 최대값 설정값(I07)을 입력 받을 수 있으며, 측정값(I12)과 참조 데이터 최소값 설정값(I06)간의 대소관계와 측정값(I12)과 참조 데이터 최대값 설정값(I07)간의 대소관계에 종속적인 참조 품질값(O4)을 출력할 수 있다.
제4 논리 회로(134)는 측정값(I12)과 변수시간(I08)과 변수값(I09)을 입력 받을 수 있으며, 변동 품질값(O5)을 출력할 수 있다. 상기 제4 논리 회로(134)는 측정값(I12)과 측정값(I12)의 과거값을 비교하고 비교 결과에 대응하여 변수값(I09)을 축적하고, 변수값(I09)이 기준값에 도달할 때까지 경과한 시간이 변수시간(I08) 이상인지 여부에 따라 변동 품질값(O5)을 생성할 수 있다.
제 5 논리 회로(135)는 측정시각값(I11)과 측정 주기 설정값(I10)을 입력 받을 수 있으며, 측정시각값(I11)과 측정 주기 설정값(I10)간의 비교 결과에 종속적인 누락 품질값(O7)을 출력할 수 있다. 즉, 상기 제5 논리 회로(135)는 측정값(I12)이 측정 주기 설정값(I10)에 대응되는 주기동안 업데이트되는지 여부에 대응되는 누락 품질값(O7)을 생성할 수 있다.
제6 논리 회로(136)는 측정값(I12)과 데이터 최소값 설정값(I04)을 입력 받을 수 있으며, 측정값(I12)과 데이터 최소값 설정값(I04)간의 비교 결과에 대응되는 제2 참조 품질값(O9)을 출력할 수 있다.
한편, 소정의 논리 회로는 정의값(I01), 데이터 유형 정의값(I03)을 추가로 입력 받을 수 있으며, 종합 품질값(O1)과 실패 검증값(O6)과 모순 검증값(O8)을 추가로 출력할 수 있다.
도 7은 변전소 측정 데이터가 적용된 데이터 테이블의 품질값 생성을 예시한 도면이다.
도 7을 참조하면, 측정 데이터는 전력설비(변전소)의 역률값을 포함할 수 있다. 전력설비(변전소)의 역률값의 최소값 설정값은 0이고, 최대값 설정값은 1이고, 참조 데이터(무효전력) 최소값 설정값은 5000이고, 참조 데이터(무효전력) 최대값 설정값은 20000으로 설정될 수 있다.
제1 측정시각(#1)의 역률값(0.97038)은 최소값 설정값보다 크고 최대값 설정값보다 작으며, 제1 측정시각(#1)의 무효전력값(12490)은 최소값 설정값보다 클 수 있다. 따라서, 제1 측정시각(#1)의 역률값의 품질값은 정상 품질값에 대응될 수 있다.
제2 측정시각(#2)의 역률값(0.97082)은 최소값 설정값보다 크고 최대값 설정값보다 작으며, 제2 측정시각(#2)의 무효전력값(12510)은 최소값 설정값보다 클 수 있다. 따라서, 제2 측정시각(#2)의 역률값의 품질값은 정상 품질값(0)에 대응될 수 있다.
제n 측정시각(#n)의 역률값(3.37125)은 최대값 설정값보다 크며, 제n 측정시각(#n)의 무효전력값(3604)은 최소값 설정값(5000)보다 작을 수 있다. 따라서, 제n 측정시각(#n)의 역률값의 품질값은 비정상 품질값(1)에 대응될 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법을 나타낸 순서도이다.
도 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법은, 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 단계(S110), 상기 측정 데이터와 설정값을 포함하는 데이터 테이블을 생성하는 단계(S120), 과거 데이터 테이블을 검색하는 단계(S130), 상기 데이터 테이블과 과거 데이터 테이블을 소정의 논리 회로에 적용하여 품질값을 생성하는 단계(S140)를 포함할 수 있으며, 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하는 단계(S150), 상기 제1 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성하는 단계(S160), 측정 데이터가 마지막 데이터인지 확인하는 단계(S170), 측정 데이터의 순번을 추가하는 단계(S180)를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 품질값은 상기 측정 데이터의 유형에 기초한 유형 품질값, 상기 측정 데이터의 기준범위에 기초한 범위 품질값, 상기 측정 데이터의 참조값 기준범위에 기초한 참조 품질값, 상기 측정 데이터의 변동 빈도에 기초한 변동 품질값 및 상기 측정 데이터의 업데이트 시간에 기초한 누락 품질값을 포함할 수 있다.
한편, 상기 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법은 후술하는 컴퓨팅 디바이스에 의해 구현될 수 있다. 상기 컴퓨팅 디바이스는 개인 컴퓨터, 서버 컴퓨터, 핸드헬드 또는 랩탑 디바이스, 모바일 디바이스(모바일폰, PDA, 미디어 플레이어 등), 멀티프로세서 시스템, 소비자 전자기기, 미니 컴퓨터, 메인프레임 컴퓨터, 임의의 전술된 시스템 또는 디바이스를 포함하는 분산 컴퓨팅 환경 등을 포함하지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다.
컴퓨팅 디바이스는 적어도 하나의 프로세싱 유닛 및 메모리를 포함할 수 있다. 여기서, 프로세싱 유닛은 예를 들어 중앙처리장치(CPU), 그래픽처리장치(GPU), 마이크로프로세서, 주문형 반도체(Application Specific Integrated Circuit, ASIC), Field Programmable Gate Arrays(FPGA) 등을 포함할 수 있으며, 복수의 코어를 가질 수 있다. 메모리는 휘발성 메모리(예를 들어, RAM 등), 비휘발성 메모리(예를 들어, ROM, 플래시 메모리 등) 또는 이들의 조합일 수 있다.
상기 프로세싱 유닛은 전술한 품질값 생성부의 역할을 수행할 수 있으며, 상기 메모리는 전술한 저장부의 역할을 수행할 수 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스는 추가적인 스토리지를 포함할 수 있다. 스토리지는 자기 스토리지, 광학 스토리지 등을 포함하지만 이것으로 한정되지 않는다. 스토리지에는 본 명세서에 개진된 하나 이상의 실시예를 구현하기 위한 컴퓨터 판독 가능한 명령이 저장될 수 있고, 운영 시스템, 애플리케이션 프로그램 등을 구현하기 위한 다른 컴퓨터 판독 가능한 명령도 저장될 수 있다. 스토리지에 저장된 컴퓨터 판독 가능한 명령은 프로세싱 유닛에 의해 실행되기 위해 메모리에 로딩될 수 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스는 입력 디바이스(들) 및 출력 디바이스(들)을 포함할 수 있다. 여기서, 입력 디바이스(들)은 예를 들어 키보드, 마우스, 펜, 음성 입력 디바이스, 터치 입력 디바이스, 적외선 카메라, 비디오 입력 디바이스 또는 임의의 다른 입력 디바이스 등을 포함할 수 있다. 또한, 출력 디바이스(들) 은 예를 들어 하나 이상의 디스플레이, 스피커, 프린터 또는 임의의 다른 출력 디바이스 등을 포함할 수 있다. 또한, 컴퓨팅 디바이스는 다른 컴퓨팅 디바이스에 구비된 입력 디바이스 또는 출력 디바이스를 입력 디바이스(들) 또는 출력 디바이스(들)로서 사용할 수도 있다.
상기 입력 디바이스(들)는 관리자로부터 전술한 설정값 업데이트를 위한 신호를 입력 받을 수 있으며, 상기 출력 디바이스(들)는 관리자에게 품질값을 출력할 수 있다.
또한, 컴퓨팅 디바이스는 네트워크를 통하여 다른 디바이스와 통신할 수 있게 하는 통신접속(들)을 포함할 수 있다. 여기서, 통신 접속(들)은 모뎀, 네트워크 인터페이스 카드(NIC), 통합 네트워크 인터페이스, 무선 주파수 송신기/수신기, 적외선 포트, USB 접속 또는 컴퓨팅 디바이스를 다른 컴퓨팅 디바이스에 접속시키기 위한 다른 인터페이스를 포함할 수 있다. 또한, 통신 접속(들)은 유선 접속 또는 무선 접속을 포함할 수 있다.
상기 통신접속(들)은 전술한 데이터 수집부의 역할을 수행할 수 있다.
상술한 컴퓨팅 디바이스의 각 구성요소는 버스 등의 다양한 상호접속(예를 들어, 주변 구성요소 상호접속(PCI), USB, 펌웨어(IEEE 1394), 광학적 버스 구조 등)에 의해 접속될 수도 있고, 네트워크에 의해 상호접속될 수도 있다.
즉, 전술한 데이터 수집부, 저장부, 품질값 생성부는 상호접속을 통해 서로에게 원격으로 접속될 수 있다.
본 명세서에서 사용되는 "구성요소", "모듈", "시스템", "인터페이스" 등과 같은 용어들은 일반적으로 하드웨어, 하드웨어와 소프트웨어의 조합, 소프트웨어, 또는 실행중인 소프트웨어인 컴퓨터 관련 엔티티를 지칭하는 것이다. 예를 들어, 구성요소는 프로세서 상에서 실행중인 프로세스, 프로세서, 객체, 실행 가능물(executable), 실행 스레드, 프로그램 및/또는 컴퓨터일 수 있지만, 이것으로 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 컨트롤러 상에서 구동중인 애플리케이션 및 컨트롤러 모두가 구성요소일 수 있다. 하나 이상의 구성요소는 프로세스 및/또는 실행의 스레드 내에 존재할 수 있으며, 구성요소는 하나의 컴퓨터 상에서 로컬화될 수 있고, 둘 이상의 컴퓨터 사이에서 분산될 수도 있다.
이상에서는 본 발명을 실시 예로써 설명하였으나, 본 발명은 상기한 실시 예에 한정되지 아니하며, 특허청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형이 가능할 것이다.
11, 12, 13: 제1 전력설비
20: 제2 전력설비
100: 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치
110: 데이터 수집부
120: 저장부
130: 품질값 생성부
200: 상위시스템

Claims (13)

  1. 삭제
  2. 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부;
    상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및
    상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함하고,
    상기 측정 데이터는 나열구조를 가지고,
    상기 품질값은 계층구조의 측정 데이터가 가지는 품질값에 대응되는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 나열구조의 측정 데이터는 DNP, Modbus 및 UDP 중 적어도 하나의 통신프로토콜을 따르고,
    상기 계층구조의 측정 데이터는 IEC 61850의 통신프로토콜을 따르는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  4. 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부;
    상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및
    상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함하고,
    상기 데이터 수집부는 상기 전력설비로부터 나열구조의 측정 데이터를 수집하고 제2 전력설비로부터 계층구조의 측정 데이터를 수집하고,
    상기 저장부는 상기 나열구조의 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 나열구조의 측정 데이터의 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 품질값 생성부는 상기 나열구조의 측정 데이터에 생성한 품질값을 적용하여 상기 나열구조의 측정 데이터의 구조를 계층구조로 변환하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  6. 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부;
    상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및
    상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하고, 상기 소정의 논리 회로에 따른 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  7. 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부;
    상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및
    상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터와 상기 과거값을 비교하고 비교 결과에 대응하여 변수값을 축적하고, 상기 변수값이 기준값에 도달할 때까지 경과한 시간이 기준 시간 이상인지 여부에 따라 변동 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  8. 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부;
    상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및
    상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함하고,
    상기 설정값은 측정 주기 설정값을 포함하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터가 상기 측정 주기 설정값에 대응되는 주기동안 업데이트되는지 여부에 대응되는 누락 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  9. 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부;
    상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및
    상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함하고,
    상기 설정값은 데이터 유형 설정값과 데이터 범위 설정값을 포함하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 측정 데이터의 유형과 상기 데이터 유형 설정값의 비교 결과에 대응되는 유형 품질값을 생성하고, 상기 측정 데이터가 상기 데이터 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 범위 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  10. 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 데이터 수집부;
    상기 측정 데이터의 과거값과 설정값을 저장하는 저장부; 및
    상기 측정 데이터와 상기 과거값과 설정값을 소정의 논리 회로에 적용하여 상기 측정 데이터의 품질값을 생성하는 품질값 생성부; 를 포함하고,
    상기 측정 데이터는 상기 전력설비의 역률값을 포함하고,
    상기 설정값은 상기 역률값의 범위 설정값과 상기 역률값의 분모의 범위 설정값을 포함하고,
    상기 품질값 생성부는 상기 전력설비의 역률값이 상기 역률값의 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 범위 품질값을 생성하고, 상기 전력설비의 역률값의 분모가 상기 역률값의 분모의 범위 설정값을 벗어나는지 여부에 대응되는 참조 품질값을 생성하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 장치.
  11. 삭제
  12. 통신접속이 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 단계;
    프로세싱 유닛이 상기 측정 데이터와 설정값을 포함하는 데이터 테이블을 생성하는 단계; 및
    상기 프로세싱 유닛이 상기 데이터 테이블과 과거 데이터 테이블을 소정의 논리 회로에 적용하여 품질값을 생성하는 단계; 를 포함하고,
    상기 품질값을 생성하는 단계는,
    상기 소정의 논리 회로에 따라 제1 품질값을 생성하는 단계;
    상기 측정 데이터에 대한 검증에 따라 제2 품질값을 생성하는 단계; 및
    상기 제1 품질값과 상기 제2 품질값에 기초하여 종합 품질값을 생성하는 단계; 를 포함하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법.
  13. 통신접속이 전력설비의 측정 데이터를 수집하는 단계;
    프로세싱 유닛이 상기 측정 데이터와 설정값을 포함하는 데이터 테이블을 생성하는 단계; 및
    상기 프로세싱 유닛이 상기 데이터 테이블과 과거 데이터 테이블을 소정의 논리 회로에 적용하여 품질값을 생성하는 단계; 를 포함하고,
    상기 품질값은 상기 측정 데이터의 유형에 기초한 유형 품질값, 상기 측정 데이터의 기준범위에 기초한 범위 품질값, 상기 측정 데이터의 참조값 기준범위에 기초한 참조 품질값, 상기 측정 데이터의 변동 빈도에 기초한 변동 품질값 및 상기 측정 데이터의 업데이트 시간에 기초한 누락 품질값을 포함하는 전력설비 데이터 품질 정보 생성 방법.
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