KR101975315B1 - 테스트소켓 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 테스트소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 하나 이상의 단자(2)를 가지는 소자 등을 테스트하는 테스트소켓에 관한 것이다.
본 발명은 테스트기판(10)에 설치되는 본체부(20)와; 상기 본체부(20)에 설치되어 저면에 복수의 단자(2)들이 형성된 검사대상(1)이 안착되는 소자안착부(210)와; 상기 테스트기판(10)에 설치된 인가단자들과 상기 검사대상(1)의 단자(2)들이 전기적으로 연결되도록 상기 소자안착부(210)에 대응되어 설치되는 단자연결부(220)와; 상기 단자연결부(220)의 연결단자(221)들을 향하여 검사대상(1)을 가압하도록 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 상기 본체부(20)와 힌지결합되고 힌지회전 및 수평이동 후에 상기 본체부(20)에 고정되는 가압부(30)를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓을 개시한다.

Description

테스트소켓{Test socket}
본 발명은 테스트소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 하나 이상의 단자를 가지는 소자 등을 테스트하는 테스트소켓에 관한 것이다.
SDRAM, 플래시램 LSI, 등의 반도체, 카메라모듈과 같은 단자부를 가지는 모듈 등은 작동이 정상적으로 이루어지는지 여부, 고온환경 등의 극한 환경하에서의 정상작동 여부 등 여러 가지 검사가 검사장치에 의하여 수행된 후 시장에 출하되고 있는 것이 일반적이다.
테스트소켓은 반도체, 모듈 등의 검사대상의 검사를 수행하기 위하여, 검사대상이 장착되는 소켓으로, 테스트 보드 등에 설치된다.
그리고 검사대상들의 단자들과 테스트소켓의 접속 및 신호 인가에 의하여 검사대상들의 불량품 여부를 판단한다.
그런데 최근 기술의 발전으로 검사대상들이 소형화되면서, 검사대상을 테스트소켓의 검사위치에 정확히 안착시키기 어렵다는 문제점이 있다.
따라서, 정확한 위치에 안착될 경우 정상제품으로 판단될 수 있는 검사대상들이 테스트소켓에 안착되는 과정상의 문제로 인한 불량품 비율이 증가하고 있다는 문제점이 있다.
이를 해결하기 위해 정확한 위치에 검사대상가 위치되도록 검사대상을 가압하여 이동시키는 방식이 사용되고 있으나, 검사대상을 가압하고 있는 상태에서 과도하게 이동시키면 테스트모듈을 구성하는 테스트 보드의 단자로 하중이 전달되어 테스트 보드가 파손될 수 있다는 문제점이 있다.
본 발명의 목적은, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 검사 수행시 검사대상이 정확한 검사위치에 위치시키는 테스트소켓을 제공하는 데 있다.
본 발명은 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 창출된 것으로서, 본 발명은, 테스트기판(10)에 설치되는 본체부(20)와; 상기 본체부(20)에 설치되어 저면에 복수의 단자들이 형성된 검사대상(1)이 안착되는 소자안착부(210)와; 상기 테스트기판(10)에 설치된 인가단자들과 상기 검사대상(1)의 단자들이 전기적으로 연결되도록 상기 소자안착부(210)에 대응되어 설치되는 단자연결부(220)와; 상기 단자연결부(220)의 연결단자(221)들을 향하여 검사대상(1)의 가압시 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 상기 본체부(20)와 힌지결합되고 힌지회전 및 수평이동 후에 상기 본체부(20)에 고정되는 가압부(30)를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓을 개시한다.
상기 가압부(30)는, 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 일단이 상기 본체부(20)와 힌지결합되며 힌지회전 및 수평이동에 의하여 검사대상(1)을 하측으로 가압하는 가압본체부(31)와, 상기 가압본체부(31)의 측면으로 돌출되어 상기 가압본체부(31)의 힌지회전 및 수평이동에 의하여 상기 본체부(20)에 설치된 걸림부(21)에 의하여 걸림되는 하나 이상의 고정부(320)를 포함할 수 있다.
상기 걸림부(21)는, 상기 고정부(320)의 수평이동을 안내함과 아울러 상기 고정부(320)가 걸림되는 가이드슬롯(22)이 형성될 수 있다.
상기 가이드슬롯(22)은, 상기 가압본체부(31)의 수평이동시 상기 소자안착부(210)를 하측으로 가압하기 위하여, 상기 고정부(320)의 도입단이 하향 경사를 이루어 형성되는 경사부(22a) 및 상기 경사부(22a)와 연결되는 수평부(22b)가 형성될 수 있다.
상기 가압부(30)는, 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 일단이 상기 본체부(20)와 힌지결합되며 힌지회전 및 수평이동에 의하여 검사대상(1)을 하측으로 가압하는 가압본체부(31)와, 상기 가압본체부(31)의 전면 방향으로 돌출형성되어 상기 가압본체부(31)의 힌지회전 및 수평이동에 의하여 상기 본체부(20)에 형성된 고정부(320)에 걸림되는 걸림부(21)를 포함할 수 있다.
상기 고정부(320)는, 상기 가압본체부(31)의 수평이동을 안내함과 아울러 상기 걸림부(21)에 걸림되는 가이드슬롯(32)이 형성될 수 있다.
상기 가이드슬롯(32)은, 상기 가압본체부(31)의 수평이동시 상기 소자안착부(210)를 하측으로 가압하기 위하여, 상기 걸림부(21)의 도입단이 하향 경사를 이루어 형성되는 경사부(32a) 및 상기 경사부(32a)와 연결되는 수평부(32b)를 포함할 수 있다.
상기 가압본체부(31)는, 상기 본체부(20)에 설치된 힌지축(25)이 삽입되는 힌지홀(310)이 형성되며, 상기 힌지홀(310)은, 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 슬롯형상으로 형성될 수 있다.
상기 소자안착부(210)는, 상기 본체부(20)에서 상하방향이 이동가능하도록 설치되며, 상기 가압본체부(31)의 수평이동시 상기 소자안착부(210)를 하측으로 가압하기 위하여 상기 힌지축(25)이 상기 힌지홀(310)에 삽입된 상태로 이동이 가능하도록 형성될 수 있다.
상기 가압본체부(31)는, 상기 검사대상(1)을 가열 및 냉각 중 적어도 어느 하나를 수행하기 위한 온도제어부가 결합될 수 있다.
청구항 5 내지 청구항 7 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 가압부(30)는,
상기 가압부(30)와 상기 소자안착부(210)의 사이에 설치되며, 일단이 상기 가압부(30)에 결합되어 탄성력에 의하여 검사대상(1)을 소자안착부(210) 방향으로 가압하는 보조가압부재(40)를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
상기 보조가압부재(40)는, 상기 가압부(30) 중 상기 소자안착부(210)에 안착된 검사대상(1)을 향하는 면에서 볼록하게 형성되는 판스프링으로 이루어지며, 일단이 상기 가압부(30) 중 상기 본체부(20)와 힌지결합된 부분에 고정결합될 수 있다.
상기 보조가압부재(40)는, 타단이 상기 고정부(320)에 걸림될 수 있다.
본 발명에 따른 테스트소켓은, 검사대상의 단자와의 전기적 연결을 단자연결부의 연결단자들을 향하여 검사대상의 가압시 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 본체부와 힌지결합되고 힌지회전 및 수평이동 후에 본체부에 고정되는 가압부를 구비함으로써, 검사대상을 테스트소켓의 검사위치에 정확히 안착시킬 수 있는 이점이 있다.
또한, 본 발명에 따른 테스트 소켓은, 가압부가 힌지회전 및 수평이동에 의하여 검사대상을 연결단자를 향하여 가압하도록 함으로써, 검사대상의 가압 및 이동시 테스트 보드의 단자로 하중이 전달되는 것을 최소화하여 테스트 보드의 파손을 최소화하는 이점이 있다.
도 1은, 본 발명에 따른 테스트소켓의 제1실시예를 보여주는 사시도이다.
도 2는, 도 1의 테스트소켓을 상측에서 본 평면도이다.
도 3a 및 도 3c는, 도 1의 가압부가 본체부에 고정되는 과정을 보여주는 측면도들이다.
도 4a 내지 도 4c는, 검사대상이 접촉부의 검사위치에 안착되는 단계를 보여주는 일부단면도이다.
도 5는, 본 발명에 따른 테스트소켓의 제2실시예를 보여주는 사시도이다.
도 6a 내지 도 6d는, 도 5의 가압부가 본체부에 고정되는 과정을 보여주는 측면도들이다.
도 7은, 본 발명에 따른 테스트소켓의 제3실시예를 보여주는 사시도이다.
도 8a 내지 도 8c는, 도 7의 가압부가 본체부에 고정되는 과정을 보여주는 측면도들이다.
도 9a 내지 도 9c는, 본 발명에 따른 테스트소켓의 실시예들의 소자안착부의 변형예를 보여주는 일부단면도이다.
도 10은, 본 발명에 따른 테스트소켓의 제3실시예를 보여주는 사시도이다.
도 11a 내지 도 11c는, 도 10의 가압부가 본체부에 고정되는 과정을 보여주는 측면도들이다.
이하 본 발명에 따른 테스트소켓에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 따른 테스트소켓은 도 1 내지 도 9c에 도시된 바와 같이, 본 발명은 테스트기판(10)에 설치되는 본체부(20)와; 본체부(20)에 설치되어 저면에 복수의 단자(2)들이 형성된 검사대상(1)이 안착되는 소자안착부(210)와; 테스트기판(10)에 설치된 인가단자들과 검사대상(1)의 단자들이 전기적으로 연결되도록 소자안착부(210)에 대응되어 설치되는 단자연결부(220)와; 단자연결부(220)의 연결단자(221)들을 향하여 검사대상(1)을 가압하도록 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 본체부(20)와 힌지결합되고 힌지회전 및 수평이동 후에 본체부(20)에 고정되는 가압부(30)를 포함한다.
상기 테스트기판(10)은, 테스트 대상인 검사대상(1)을 테스트하기 위한 구성으로서, 테스트 종류, 목적 등에 따라서 다양한 구성이 가능하다.
예로서, 상기 테스트기판(10)은, 테스트 수행을 위한 칩 등이 설치되며 탐침부와의 접속을 위한 복수의 단자들이 설치된 회로기판으로 구성될 수 있다.
그리고 테스트 대상인 검사대상(1)은, SD RAM, LSI, 카메라모듈 등 저면에 하나 이상의 단자를 구비한 전자제품 또는 반도체이면 어떠한 대상도 가능하다.
상기 본체부(20)는, 테스트기판(10)에 설치되어 검사대상(1)에 대한 테스트를 수행하기 위한 구성으로서, 검사기판(1)의 테스트가 수행되기 위한 형태 및 구성이면 다양한 형태 및 구성이 가능하다.
예로서, 상기 본체부(20)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 소자안착부(210), 단자연결부(220)가 설치됨과 아울러 테스트소켓의 본체를 구성하며, 후술하는 가압부(30)와의 결합을 위한 구성으로 가압부(30)와의 결합구종에 따라서 다양한 구성이 가능하다.
상기 소자안착부(210)는, 본체부(20)에 설치되어 검사대상(1)이 안착될 수 있는 구성으로서 그 재질 및 구조는 다양한 구성이 가능하다.
예로서 상기 소자안착부(210)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 상면에 검사대상(1)이 안착될 수 있도록 가이드 하는 하나 이상의 돌출부와, 후술하는 단자연결부(220)가 삽입될 수 있도록 상하로 관통형성되는 하나 이상의 관통공이 형성될 수 있다.
상기 소자안착부(210)는, 단자연결부(220) 등의 설치의 편의를 위하여 플라스틱, 실리콘 등 다양한 재질을 가질 수 있다.
그리고 상기 소자안착부(210)는, 검사대상(1)인 소자의 안착구조 및 단자연결부(220)의 설치구조에 따라서 다양한 구성이 가능하다.
특히 상기 소자안착부(210)는, 도 4a 내지 도 4c에 도시된 바와 같이, 검사대상(1)이 상하방향으로 적어도 일부가 삽입되도록 요홈부(211)가 형성될 수 있다.
상기 요홈부(211)는, 소자안착부(210)에 검사대상(1)이 상하방향으로 적어도 일부가 삽입되도록 형성되며 상단 가장자리부분은 검사대상(1)의 원활한 안착을 위하여 내측을 향하여 경사를 이루어 형성될 수 있다.
또한, 상기 소자안착부(210)는, 도 9a 내지 도 9c에 도시된 바와 같이, 도 4a 내지 도 4c에 도시된 요홈부(211)가 형성되지 않고, 검사대상(1)의 단자(2)의 적어도 일부가 삽입되는 정도의 요홈(212) 만이 형성될 수 있다.
구체적으로 상기 검사대상(1)은, 볼단자와 같은 단자(2)가 소자안착부(210)에 설치된 연결단자(221)의 상단부분에 접촉되도록 소자안착부(210)에 안착될 수 있다.
한편, 상기 소자안착부(210)는, 후술하는 가압부(30)에 의하여 하측으로 가압될 때 소자안착부(210)가 본체부(20)에서 상하방향으로 이동 가능하도록 하는 탄성부재(미도시)가 추가로 설치될 수 있다.
구체적으로 상기 탄성부재(미도시)는, 소자안착부(210)가 하측으로 이동 가능하도록 탄성 변형되어 가압부(30)가 제거되면 복원력에 의하여 소자안착부(210)를 상측으로 이동시킬 수 있다.
그리고 상기 단자연결부(220)는, 검사대상(1)의 단자(2)와 테스트기판(10)을 전기적으로 연결시키기 위한 구성으로 다양한 구성이 가능하다.
예로서, 상기 단자연결부(220)는, 소자안착부(210)의 관통공에 삽입설치되며, 일단이 테스트기판(10)에 전기적으로 연결되고 타단이 소자안착부(210)의 상부면 외부로 노출되도록 설치되는 연결단자(221)로서 복수의 포고핀들을 포함하여 구성될 수 있다.
그리고 상기 포고핀의 일단은, 타단이 검사대상(1)의 단자(2)와 접촉 후 테스트기판(10)에 전기적으로 연결될 수 있도록 설치될 수 있다.
구체적으로, 상기 단자연결부(220)는, 일단 부분에 검사대상(1)의 단자(2)와 접촉되는 제1단부가 형성되고 타단부분에 제2단부가 형성되는 연결단자(221)와, 연결단자(221)의 제2단부의 일부가 삽입되며 연결단자(221)가 하측으로 가압될 때 검사대상(1)의 단자(2)와 접촉되는 스프링부를 포함할 수 있다.
이때, 상기 연결단자(221)의 몸체부는, BeCu 등 도전성 재질이면 어떠한 재질도 사용이 가능하며, 도전성을 높이기 위하여 금(Au)으로 도금될 수 있다.
그리고 상기 본체부(20)는, 가압부(30)가 힌지회전 및 수평이동 후 본체부(20)에 고정될 수 있도록 설치되는 것이 바람직하다.
예로서, 상기 본체부(20)는, 가압부(30)의 힌지회전 및 수평이동 후 본체부(20)에 고정될 수 있도록 하는 걸림부(21)가 추가로 설치될 수 있다.
제1실시예로서, 상기 본체부(20)는, 본체부(20)의 상면에 길이방향을 따라 한쌍으로 돌출 형성되는 걸림부(21)를 포함할 수 있다.
구체적으로 상기 걸림부(21)는, 본체부(20)가 가압부(30)와 힌지결합하기 위한 관통홀(23)과, 가압부(30)의 수평이동을 가이드하는 가이드슬롯(22) 형성될 수 있다.
이때, 상기 관통홀(23)은, 후술하는 힌지홀(310)과 힌지축(25)에 의해 힌지결합될 수 있도록 형성되는 형태이면 다양한 형태가 가능하다.
그리고 상기 가이드슬롯(22)은, 가압부(30)의 수평이동시 소자안착부(210)를 하측으로 가압하기 위하여, 설치되는 구조로서 다양한 구조가 가능하다.
예로서, 상기 가이드슬롯(22)은, 도 3a 내지 3c에 도시된 바와 같이, 후술하는 고정부(320)의 도입단이 하향 경사를 이루도록 형성되는 경사부(22a)와, 경사부(22a)와 연결되어 가압부(30)가 수평이동되도록 하는 수평부(22b)를 포함할 수 있다.
이때, 상기 경사부(22a)는, 하향 경사를 이루도록 형성되는 형태이면 직선 곡선 등 다양한 형태가 가능하다.
또한, 상기 수평부(22b)는, 가압부(30)가 수평이동되도록 형성되는 형태이면 다양한 형태가 가능하다.
상기 가압부(30)는, 단자연결부(220)의 연결단자(221)들을 향하여 검사대상(1)을 가압하도록 설치되는 구성으로서, 본체부(20)와 힌지결합되어, 이동 후 고정되는 구조 및 형태이면 제1실시예 내지 제3실시예 등 다양한 구조 및 형태가 가능하다.
그리고 상기 가압부(30)는, 본체부(20)로부터 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 설치되는 것이 바람직하다.
예로서, 상기 가압부(30)는, 도시된 바와 같이, 단자연결부(220)의 연결단자(221)들을 향하여 검사대상(1)을 가압하며 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 일단이 본체부(20)에 힌지결합 될 수 있다.
구체적으로 상기 가압부(30)는, 일단이 본체부(20)와 힌지결합되며 힌지회전 및 수평이동에 의하여 검사대상(1)을 하측으로 가압하는 가압본체부(31)와, 가압본체부(31)의 일단에 형성되며 본체부(20)의 관통공과 힌지축(25)이 삽입될 수 있도록 형성되는 힌지홀(310)을 포함할 수 있다.
상기 가압본체부(31)는, 일단이 본체부(20)와 힌지결합되며 힌지회전 및 수평이동에 의하여 검사대상(1)을 하측으로 가압할 수 있는 구조로서, 다양한 구조 및 형태가 가능하다.
구체적으로 상기 가압본체부(31)는, 도 3a 및 도 3c(제1실시예), 도 6a 내지 도 6d(제2실시예), 도 8a 내지 도 8c(제3실시예)에 도시된 바와 같이, 검사대상(1)의 단자(2)가 소자안착부(210)의 연결단자(220) 접촉된 후 검사대상(1)의 상부면을 하측방향으로 가압할 수 있도록 힌지홀(310)을 기준으로 힌지회전될 수 있다.
그리고 상기 가압본체부(31)는, 도 3c, 도 6d 및 도 8c에 도시된 바와 같이, 가압본체부(31)와 면접촉하는 검사대상(1)의 상부면이 수평방향으로 이동되도록 하여 검사대상(1)의 단자(2)와 소자안착부(210)의 연결단자(220)가 정위치에서 접촉할 수 있도록 한다.
이때, 상기 가압본체부(31)의 측면에는, 제1실시예로서, 도 1, 도 3a 내지 도 3c에 도시된 바와 같이, 가압본체부(31)가 본체부(20)에 고정될 수 있도록 측면으로 돌출되어 형성되는 하나 이상의 고정부(320)를 추가로 포함할 수 있다.
또한, 상기 가압본체부(31)는, 검사대상(1)을 가열 및 냉각 중 적어도 어느 하나를 수행하기 위한 온도제어부가 결합될 수 있다.
상기 고정부(320)는, 가압본체부(31)가 검사대상(1)의 상부면을 가압한 상태에서 수평이동 할 수 있도록 가이드할 수 있는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.
그리고 상기 고정부(320)는, 가압본체부(31)의 측면으로 돌출되어 가압본체부(31)의 힌지회전 및 수평이동에 의하여 본체부(20)에 설치된 걸림부(21)에 의하여 걸림되도록 설치되는 구조일 수 있다.
구체적으로 상기 고정부(320)는, 가압본체부(31)의 측면으로 힌지축(25)과 평행하게 돌출되는 단면이 원형, 타원형, 다각형(사각형, 오각형, 육각형 등) 중 어느 하나의 형상을 가지도록 형성될 수 있다.
예로서, 상기 고정부(320)는, 도 1 내지 도 3c에 도시된 바와 같이, 가이드슬롯(22)에 삽입되어 이동이 용이하도록 외주면이 곡면으로 형성되어 가압본체부(31)의 측면으로 힌지축(25)과 평행하게 돌출 형성되는 원기둥 구조를 가질 수 있다.
한편, 제2실시예로서, 상기 본체부(20)는, 도 5, 도 6a 내지 도 6d에 도시된 바와 같이, 본체부(20)의 전면방향으로 돌출 형성되는 걸림부(21)를 포함할 수 있다.
상기 걸림부(21)는, 후술하는 고정부(320)가 걸림되어 본체부(20)와 가압부(30)가 고정될 수 있도록 설치되는 형태이면 다양한 형태가 가능하다.
예로서, 상기 걸림부(21)는, 본체부(20)의 상면에 연장되며, 적어도 일부가 본체부(20)의 내측 방향으로 삽입되도록 형성되는 단차일 수 있다.
그리고 상기 본체부(20)의 상면에는, 본체부(20)가 가압부(30)와 힌지결합하기 위한 관통홀(23)이 형성되는 한 쌍의 지지부재(미도시)가 설치될 수 있다.
상기 관통홀(23)은 후술하는 힌지홀(310)과 힌지축(25)에 의해 힌지결합될 수 있도록 형성되는 형태이면 다양한 형태가 가능하다.
이때, 상기 한 쌍의 지지부재는, 본체부(20)의 상면 길이방향을 따라 한 쌍으로 돌출 형성되는 것이 바람직하다.
그리고 상기 가압부(30)는, 가압본체부(31)의 저면에 가압본체부(31)가 본체부(20)에 고정될 수 있도록 저면 방향으로 돌출되어 형성되는 고정부(320)를 추가로 포함할 수 있다.
상기 고정부(320)는, 가압본체부(31)가 검사대상(1)의 상부면을 가압한 상태에서 수평이동 할 수 있도록 가이드할 수 있는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.
예로서, 상기 고정부(320)는, 가압부(30)의 힌지회전 및 수평이동 후 걸림부(21)에 걸림될 수 있도록 가압본체부(31)의 저면에 돌출형성되는 구조일 수 있다.
이때, 상기 고정부(320)는, 일단에 힌지홀(310)이 형성되는 가압본체부(31)의 타측 저면에 형성되는 것이 바람직하다.
그리고 상기 고정부(320)는, 도 6a 내지 도 6d에 도시된 바와 같이, 가압본체부(31)의 수평이동을 가이드하는 가이드슬롯(32)이 형성될 수 있다.
상기 가이드슬롯(32)은, 가압부(30)의 수평이동시 소자안착부(210)를 하측으로 가압하기 위하여, 설치되는 구조로서 다양한 구조가 가능하다.
예로서, 상기 가이드슬롯(32)은, 도 6a 내지 6d에 도시된 바와 같이, 걸림부(21)와 걸림되는 도입단이 하향 경사를 이루도록 형성되는 경사부(32a)와, 경사부(32a)와 연결되어 가압부(30)가 수평이동되도록 하는 수평부(32b)를 포함할 수 있다.
이때, 상기 경사부(32a)는, 하향 경사를 이루도록 형성되는 형태이면 직선 곡선 등 다양한 형태가 가능하다.
또한, 상기 수평부(32b)는, 가압부(30)가 수평이동되도록 형성되는 형태이면 다양한 형태가 가능하다.
그리고 상기 힌지홀(310)은, 가압본체부(31)의 일단에 형성되어 본체부(20)에 설치된 힌지축(25)이 삽입되는 형태이면 다양한 형태로 형성될 수 있다.
예로서, 상기 힌지홀(310)은, 가압부(30)의 힌지회전 및 수평이동이 용이하도록 슬롯형상으로 형성될 수 있다.
한편, 앞서 설명한 바와 같이, 본체부(20) 및 가압부(30)의 결합구조는 다양한 실시예가 가능하며, 제3실시예로서, 본체부(20)는, 도 7, 도 8a 내지 도 8c에 도시된 바와 같이, 본체부(20)의 측면방향으로 돌출 형성되는 하나 이상의 걸림부(21)를 포함할 수 있다.
상기 걸림부(21)는, 후술하는 고정부(320) 걸림되어 본체부(20)와 가압부(30)가 고정될 수 있도록 설치되는 형태이면 다양한 형태가 가능하다.
그리고 상기 걸림부(21)는, 본체부(20)의 측면으로 힌지축(25)과 평행하게 돌출되며, 단면이 원형, 다각형 중 어느 하나의 형상을 가지는 것이 바람직하다.
예로서, 상기 걸림부(21)는, 도 7 내지 도 8c에 도시된 바와 같이, 후술하는 가이드슬롯(32)에 삽입되어 이동이 용이하도록 외주면이 곡면으로 형성되어 가압본체부(31)의 측면으로 힌지축(25)과 평행하게 돌출 형성되는 원기둥 구조를 가질 수 있다.
그리고 상기 본체부(20)의 상면에는, 본체부(20)가 가압부(30)와 힌지결합하기 위한 관통홀(23)이 형성되는 한 쌍의 지지부재(미도시)가 설치될 수 있다.
상기 관통홀(23)은, 후술하는 힌지홀(310)과 힌지축(25)에 의해 힌지결합될 수 있도록 형성되는 형태이면 다양한 형태가 가능하다.
이때, 상기 한 쌍의 지지부재는, 본체부(20)의 상면 길이방향을 따라 한 쌍으로 돌출 형성되는 것이 바람직하다.
그리고 상기 가압부(30)는, 가압본체부(31)의 저면에 길이방향을 따라 돌출 형성되는 복수개의 고정부(320)를 포함할 수 있다.
상기 고정부(320)는, 가압본체부(31)가 검사대상(1)의 상부면을 가압한 상태에서 수평이동 할 수 있도록 가이드할 수 있는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.
예로서, 상기 고정부(320)는, 가압부(30)의 힌지회전 및 수평이동 후 걸림부(21)에 걸림될 수 있도록 가압본체부(31)의 저면에 돌출형성되는 구조일 수 있다.
이때, 상기 고정부(320)는, 가압본체부(31)의 저면에 복수 개의 쌍으로 형성되는 것이 바람직하다.
그리고 상기 고정부(320)는, 도 8a 내지 도 8c에 도시된 바와 같이, 가압본체부(31)의 수평이동을 가이드하는 가이드슬롯(32)이 형성될 수 있다.
상기 가이드슬롯(32)은, 가압부(30)의 수평이동시 소자안착부(210)를 하측으로 가압하기 위하여, 설치되는 구조로서 다양한 구조가 가능하다.
예로서, 상기 가이드슬롯(32)은, 도 8a 내지 도 8c에 도시된 바와 같이, 걸림부(21)와 걸림되는 도입단이 하향 경사를 이루도록 형성되는 경사부(32a)와, 경사부(32a)와 연결되어 가압부(30)가 수평이동되도록 하는 수평부(32b)를 포함할 수 있다.
이때, 상기 경사부(32a)는, 하향 경사를 이루도록 형성되는 형태이면 직선 곡선 등 다양한 형태가 가능하다.
또한, 상기 수평부(32b)는, 가압부(30)가 수평이동되도록 형성되는 형태이면 다양한 형태가 가능하다.
그리고 상기 힌지홀(310)은, 가압본체부(31)의 일단에 형성되어 본체부(20)에 설치된 힌지축(25)이 삽입되는 형태이면 다양한 형태로 형성될 수 있다.
예로서, 상기 힌지홀(310)은, 가압부(30)의 힌지회전 및 수평이동이 용이하도록 슬롯형상으로 형성될 수 있다.
한편 앞서 설명한 본 발명에 따른 테스트소켓의 실시예들은, 검사대상(1)에 대한 가압본체부(31)의 가압시 검사대상(1)이 가압본체부(31)에 부착된 상태가 유지되어 본체부(20)에 대한 가압본체부(31)의 회전시 검사대상(1)이 가압본체부(31)에 부착된 상태로 회전되어 검사대상(1)이 비산되는 등 검사대상(1)에 대한 관리가 어려운 문제점이 있다.
특히 검사대상(1)인 소자의 크기가 박형화, 소형화 되면서 위와 같은 문제점에 대한 해소가 필요하다.
이에, 본 발명에 따른 테스트소켓은, 앞서 설명한 실시예들에서, 가압본체부(31)가 힌지회전되어 본체부(20)로부터 분리될 때 탄성변형에 의하여 검사대상(1)이 본체부(20)로부터 분리되도록 하는 보조가압부재(40)가 추가로 설치됨이 바람직하하다.
구체적으로, 상기 가압부(30)는, 도 10 내지 도 11c에 도시된 바와 같이, 가압부(30)와 소자안착부(210)의 사이에 설치되며, 일단이 가압부(30)에 결합되어 탄성력에 의하여 검사대상(1)을 소자안착부(210) 방향으로 가압하는 보조가압부재(40)를 추가로 포함할 수 있다.
상기 보조가압부재(40)는, 가압부(30) 중 소자안착부(210)에 안착된 검사대상(1)을 향하는 면에서 볼록하게 형성되는 판스프링으로 이루어지며, 일단이 가압부(30) 중 본체부(20)와 힌지결합된 부분에 고정결합될 수 있다.
구체적으로, 상기 보조가압부재(40)는, 도 11a 내지 도 11c에 도시된 바와 같이, 가압본체부(31)가 힌지회전에 의하여 검사대상(1)을 본체부(20)로 가압할 때에는 탄성력에 의하여 검사대상(1)을 가압하는 동시에 탄성변형에 의하여 가압본체부(31)의 저면과 같이 평평하게 변형될 수 있다.
그리고 상기 보조가압부재(40)는, 도 11b에 도시된 바와 같이, 가압본체부(31)가 힌지회전에 의하여 본체부(20)로 분리될 때 판스프링의 복원력에 의하여 본체부(20)를 향하여 볼록하게 변형된다.
그리고 상기 보조가압부재(40)의 볼록한 변형에 의하여, 검사대상(1)은, 본체부(20)의 소자안착부(210)에 안착된 상태를 유지하게 된다.
한편, 상기 보조가압부재(40)는, 타단이 고정부(320)에 걸림되는 것이 바람직하다.
상기 보조가압부재(40)의 타단이 고정부(320)에 걸림되는 경우 탄성력 등에 의하여 가압본체부(31)로부터 과도하게 밖으로 튕겨지는 것을 방지할 수 있다.
한편 상기 가압본체부(31)는, 도 10 내지 도 11a 내지 도 11c에 도시된 바와 같이, 검사대상(1)을 향하는 면에 대향되는 외면에서 검사대상(1)을 향하는 면이 상측을 향할 때, 즉 도 10에 도시된 바와 같이, 본체부(20) 및 가압본체부(31)가 대략 180°를 이룰 때 가압본체부(31)가 회전에 방해되지 않도록 힌지홀(310)이 형성된 부분을 포함한 부분에 절개부(34)가 형성됨이 바람직하다.
상기 절개부(34)는, 도 10에 도시된 바와 같이, 본체부(20) 및 가압본체부(31)가 대략 180°를 이룰 때 가압본체부(31)가 회전에 방해되지 않도록 힌지홀(310)이 형성된 부분을 포함한 부분에서 절개되어 형성되는 부분으로서 본체부(20) 및 가압본체부(31)가 대략 180°를 이룰 때 가압본체부(31)가 회전에 방해되지 않는 정도이면 가능하다.
이상은 본 발명에 의해 구현될 수 있는 바람직한 실시예의 일부에 관하여 설명한 것에 불과하므로, 주지된 바와 같이 본 발명의 범위는 위의 실시예에 한정되어 해석되어서는 안 될 것이며, 위에서 설명된 본 발명의 기술적 사상과 그 근본을 함께하는 기술적 사상은 모두 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다.
10: 테스트기판 20: 본체부
210: 소자안착부 220: 단자연결부
25: 힌지축 30: 가압부

Claims (13)

  1. 테스트기판(10)에 설치되는 본체부(20)와;
    상기 본체부(20)에 설치되어 저면에 복수의 단자(2)들이 형성된 검사대상(1)이 안착되는 소자안착부(210)와;
    상기 테스트기판(10)에 설치된 인가단자들과 상기 검사대상(1)의 단자(2)들이 전기적으로 연결되도록 상기 소자안착부(210)에 대응되어 설치되는 단자연결부(220)와;
    상기 단자연결부(220)의 연결단자(221)들을 향하여 검사대상(1)의 가압시 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 상기 본체부(20)와 힌지결합되고 힌지회전 및 수평이동 후에 상기 본체부(20)에 고정되는 가압부(30)를 포함하며,
    상기 가압부(30)는, 상기 본체부(20)에 설치된 힌지축(25)이 삽입되는 힌지홀(310)이 형성되며,
    상기 가압부(30)가 상기 단자연결부(220)의 연결단자(221)들을 향하여 검사대상(1)을 가압할 때, 상기 힌지홀(310)은, 상기 힌지축(25)이 삽입된 상태로 힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 슬롯형상으로 형성된 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 가압부(30)는,
    힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 일단이 상기 본체부(20)와 힌지결합되며 힌지회전 및 수평이동에 의하여 검사대상(1)을 하측으로 가압하는 가압본체부(31)와;
    상기 가압본체부(31)가 상기 본체부(20)에 고정될 수 있도록 상기 가압본체부(31)의 측면으로 돌출되어 상기 가압본체부(31)의 힌지회전 및 수평이동에 의하여 상기 본체부(20)에 형성된 걸림부(21)에 의하여 걸림되는 하나 이상의 고정부(320)를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 걸림부(21)는, 상기 본체부(20)의 상면에 길이방향을 따라 돌출 형성되며, 상기 고정부(320)의 수평이동을 안내함과 아울러 상기 고정부(320)가 걸림되는 가이드슬롯(22)이 형성되는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 가이드슬롯(22)은,
    상기 가압본체부(31)의 수평이동시 상기 소자안착부(210)를 하측으로 가압하기 위하여, 상기 고정부(320)의 도입단이 하향 경사를 이루어 형성되는 경사부(22a) 및 상기 경사부(22a)와 연결되는 수평부(22b)가 형성된 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 가압부(30)는,
    힌지회전 및 수평이동이 가능하도록 일단이 상기 본체부(20)와 힌지결합되며 힌지회전 및 수평이동에 의하여 검사대상(1)을 하측으로 가압하는 가압본체부(31)와,
    상기 가압본체부(31)의 전면 방향으로 돌출형성되어 상기 가압본체부(31)의 힌지회전 및 수평이동에 의하여 상기 본체부(20)에 형성된 고정부(320)에 걸림되는 걸림부(21)를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 고정부(320)는, 상기 가압본체부(31)의 수평이동을 안내함과 아울러 상기 걸림부(21)에 걸림되는 가이드슬롯(32)이 형성되는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 가이드슬롯(32)은,
    상기 가압본체부(31)의 수평이동시 상기 소자안착부(210)를 하측으로 가압하기 위하여, 상기 걸림부(21)의 도입단이 하향 경사를 이루어 형성되는 경사부(32a) 및 상기 경사부(32a)와 연결되는 수평부(32b)를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  8. 삭제
  9. 청구항 2 내지 청구항 7 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 소자안착부(210)는, 상기 본체부(20)에서 상하방향이 이동가능하도록 설치되며,
    상기 가압본체부(31)의 수평이동시 상기 소자안착부(210)를 하측으로 가압하기 위하여 상기 힌지축(25)이 상기 힌지홀(310)에 삽입된 상태로 이동이 가능하도록 형성된 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  10. 청구항 2 내지 청구항 7 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 가압본체부(31)는,
    상기 검사대상(1)을 가열 및 냉각 중 적어도 어느 하나를 수행하기 위한 온도제어부가 결합된 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  11. 청구항 5 내지 청구항 7 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 가압부(30)는,
    상기 가압부(30)와 상기 소자안착부(210)의 사이에 설치되며, 일단이 상기 가압부(30)에 결합되어 탄성력에 의하여 검사대상(1)을 소자안착부(210) 방향으로 가압하는 보조가압부재(40)를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 보조가압부재(40)는,
    상기 가압부(30) 중 상기 소자안착부(210)에 안착된 검사대상(1)을 향하는 면에서 볼록하게 형성되는 판스프링으로 이루어지며,
    일단이 상기 가압부(30) 중 상기 본체부(20)와 힌지결합된 부분에 고정결합된 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
  13. 청구항 12에 있어서,
    상기 보조가압부재(40)는, 타단이 상기 고정부(320)에 걸림되는 것을 특징으로 하는 테스트소켓.
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