KR101959756B1 - Light emitting device and lightihng device having the same - Google Patents

Light emitting device and lightihng device having the same Download PDF

Info

Publication number
KR101959756B1
KR101959756B1 KR1020120076596A KR20120076596A KR101959756B1 KR 101959756 B1 KR101959756 B1 KR 101959756B1 KR 1020120076596 A KR1020120076596 A KR 1020120076596A KR 20120076596 A KR20120076596 A KR 20120076596A KR 101959756 B1 KR101959756 B1 KR 101959756B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
semiconductor layer
light emitting
layer
substrate
light
Prior art date
Application number
KR1020120076596A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20140009796A (en
Inventor
김병조
Original Assignee
엘지이노텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지이노텍 주식회사 filed Critical 엘지이노텍 주식회사
Priority to KR1020120076596A priority Critical patent/KR101959756B1/en
Publication of KR20140009796A publication Critical patent/KR20140009796A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101959756B1 publication Critical patent/KR101959756B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/22Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/12Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a stress relaxation structure, e.g. buffer layer
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21YINDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
    • F21Y2115/00Light-generating elements of semiconductor light sources
    • F21Y2115/10Light-emitting diodes [LED]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

실시 예는 발광 소자 및 이를 구비한 발광 장치에 관한 것이다.
실시 예에 따른 발광소자는, 복수의 볼록부를 갖는 기판; 상기 기판 상에 제1반도체층; 상기 제1반도체층 내에 상기 각 볼록부의 상부를 노출시키는 복수의 피트; 상기 각 피트 내에 배치되며 상기 피트의 측면과 상기 볼록부에 접촉되는 금속 화합물; 상기 금속 화합물 및 상기 제1반도체층 상에 제1도전형 반도체층; 상기 제1도전형 반도체층 상에 활성층; 상기 활성층 상에 제2도전형 반도체층을 포함한다.
The embodiments relate to a light emitting device and a light emitting device having the same.
A light emitting device according to an embodiment includes: a substrate having a plurality of convex portions; A first semiconductor layer on the substrate; A plurality of pits exposing an upper portion of each convex portion in the first semiconductor layer; A metal compound disposed in each of the pits and contacting the side surface of the pit and the convex portion; A first conductive semiconductor layer on the metal compound and the first semiconductor layer; An active layer on the first conductive semiconductor layer; And a second conductive semiconductor layer on the active layer.

Description

발광 소자 및 이를 구비한 조명 장치{LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHTIHNG DEVICE HAVING THE SAME}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light emitting device,

실시 예는 발광 소자 및 이를 구비한 조명 장치에 관한 것이다. The embodiment relates to a light emitting device and a lighting device having the same.

Ⅲ-Ⅴ족 질화물 반도체(group Ⅲ-Ⅴ nitride semiconductor)는 물리적, 화학적 특성으로 인해 발광 다이오드(LED) 또는 레이저 다이오드(LD) 등의 발광 소자의 핵심 소재로 각광을 받고 있다. Ⅲ-Ⅴ족 질화물 반도체는 통상 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질로 이루어져 있다.III-V nitride semiconductors (group III-V nitride semiconductors) are widely recognized as key materials for light emitting devices such as light emitting diodes (LEDs) and laser diodes (LD) due to their physical and chemical properties. The III-V group nitride semiconductors are usually made of a semiconductor material having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y?

발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED)는 화합물 반도체의 특성을 이용하여 전기를 적외선 또는 빛으로 변환시켜서 신호를 주고 받거나, 광원으로 사용되는 반도체 소자의 일종이다.BACKGROUND ART Light emitting diodes (LEDs) are a kind of semiconductor devices that convert the electric power to infrared rays or light using the characteristics of compound semiconductors, exchange signals, or use as a light source.

이러한 질화물 반도체 재료를 이용한 LED 혹은 LD는 광을 얻기 위한 발광 소자에 많이 사용되고 있으며, 핸드폰의 키 패드 발광부, 표시 장치, 전광판, 조명 장치 등 각종 제품의 광원으로 응용되고 있다. LEDs or LDs using such nitride semiconductor materials are widely used in light emitting devices for obtaining light, and they have been applied as light sources for various products such as a key pad light emitting portion of a cellular phone, a display device, an electric sign board, and a lighting device.

실시 예는 기판의 볼록부와 화합물 반도체층 사이에 실리콘 산화물을 포함하는 발광 소자를 제공한다.An embodiment provides a light-emitting device including silicon oxide between a convex portion of a substrate and a compound semiconductor layer.

실시 예는 기판의 볼록부에 대응되는 피트(pit) 내에 실리콘 산화물을 포함하는 발과 소자를 제공한다. Embodiments provide a foot and a device comprising silicon oxide within a pit corresponding to a convex portion of the substrate.

실시 예는 발광 소자를 갖는 조명 장치를 제공한다.An embodiment provides a lighting apparatus having a light emitting element.

실시 예에 따른 발광소자는, 복수의 볼록부를 갖는 기판; 상기 기판 상에 제1반도체층; 상기 제1반도체층 내에 상기 각 볼록부의 상부를 노출시키는 복수의 피트; 상기 각 피트 내에 배치되며 상기 피트의 측면과 상기 볼록부에 접촉되는 금속 화합물; 상기 금속 화합물 및 상기 제1반도체층 상에 제1도전형 반도체층; 상기 제1도전형 반도체층 상에 활성층; 상기 활성층 상에 제2도전형 반도체층을 포함한다.A light emitting device according to an embodiment includes: a substrate having a plurality of convex portions; A first semiconductor layer on the substrate; A plurality of pits exposing an upper portion of each convex portion in the first semiconductor layer; A metal compound disposed in each of the pits and contacting the side surface of the pit and the convex portion; A first conductive semiconductor layer on the metal compound and the first semiconductor layer; An active layer on the first conductive semiconductor layer; And a second conductive semiconductor layer on the active layer.

실시 예는 활성층에서의 결함을 줄여줄 수 있다.The embodiment can reduce defects in the active layer.

실시 예는 정전압 방출(ESD: elecrosatic discharge)에 대한 내성이 강한 소자를 제공할 수 있다.The embodiment can provide a device resistant to ESD (elecrosatic discharge).

실시 예는 반도체 내부에서 광 흡수가 최소화되고 난반사를 발생시켜 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.Embodiments can minimize light absorption within a semiconductor and generate diffuse reflection to improve light extraction efficiency.

실시 예는 기판의 볼록부 상에 발생되는 전위를 차단하는 발광 소자를 제공하여, 전기적인 신뢰성을 개선시켜 줄 수 있다. Embodiments can provide a light emitting device that cuts off a potential generated on a convex portion of a substrate, thereby improving electrical reliability.

도 1은 제1실시 예에 따른 발광소자의 측 단면도이다.
도 2는 도 1의 부분 확대도이다.
도 3은 도 1의 발광 소자의 평면도이다.
도 4 내지 도 6은 도 1의 발광 소자의 제조 과정을 나타낸 도면이다.
도 7은 제2실시 예에 따른 발광소자의 측 단면도이다.
도 8은 제3실시 예에 따른 발광 소자의 측 단면도이다.
도 9는 도 1의 발광 소자에 전극을 배치한 예를 나타낸 도면이다.
도 10은 도 1의 발광 소자에 전극 및 광 추출 구조를 배치한 도면이다.
도 11은 도 1의 발광 소자에 전극을 수직하게 배치한 다른 도면이다.
도 12는 도 9의 발광 소자를 갖는 발광 소자 패키지를 나타낸 사시도이다.
도 13은 도 12의 발광 소자 패키지의 측 단면도이다.
도 14는 실시 예에 따른 발광 소자 또는 발광 소자 패키지를 갖는 표시장치를 나타낸 도면이다.
도 15는 실시 예에 따른 발광 소자 또는 발광 소자 패키지를 갖는 표시장치의 다른 예를 나타낸 도면이다.
도 16은 실시 예에 따른 발광 소자 또는 발광 소자 패키지를 갖는 조명장치를 나타낸 도면이다.
1 is a side sectional view of a light emitting device according to a first embodiment.
2 is a partially enlarged view of Fig.
3 is a plan view of the light emitting device of FIG.
FIGS. 4 to 6 are views showing a manufacturing process of the light emitting device of FIG.
7 is a side sectional view of the light emitting device according to the second embodiment.
8 is a side sectional view of the light emitting device according to the third embodiment.
9 is a view showing an example in which electrodes are arranged in the light emitting element of Fig.
10 is a view in which electrodes and a light extracting structure are arranged in the light emitting device of FIG.
11 is another view in which electrodes are vertically arranged in the light emitting device of FIG.
12 is a perspective view showing a light emitting device package having the light emitting element of FIG.
13 is a side sectional view of the light emitting device package of Fig.
14 is a view illustrating a display device having a light emitting device or a light emitting device package according to the embodiment.
15 is a view showing another example of a display device having a light emitting device or a light emitting device package according to the embodiment.
16 is a view illustrating a light emitting device having the light emitting device or the light emitting device package according to the embodiment.

실시 예의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on)"에 또는 "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상/위(on)"와 "아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 층을 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 층의 상/위 또는 아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다. 도면에서 각층의 두께나 크기는 설명의 편의 및 명확성을 위하여 과장되거나 생략되거나 또는 개략적으로 도시되었다. 또한 각 구성요소의 크기는 실제크기를 전적으로 반영하는 것은 아니다.In the description of the embodiments, it is to be understood that each layer (film), region, pattern or structure may be formed "on" or "under" a substrate, each layer The terms " on " and " under " include both being formed "directly" or "indirectly" Also, the criteria for top, bottom, or bottom of each layer will be described with reference to the drawings. The thickness and size of each layer in the drawings are exaggerated, omitted, or schematically shown for convenience and clarity of explanation. Also, the size of each component does not entirely reflect the actual size.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 제1실시 예에 따른 발광소자를 나타낸 사시도이며, 도 2는 도 1의 기판의 볼록부 영역의 부분 확대도이며, 도 3은 도 1의 발광 소자의 평면도이다. FIG. 1 is a perspective view of a light emitting device according to a first embodiment, FIG. 2 is a partially enlarged view of a convex region of the substrate of FIG. 1, and FIG. 3 is a plan view of the light emitting device of FIG.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 발광 소자(100)는 복수의 볼록부(113)을 갖는 기판(111); 제1반도체층(121), 금속 화합물(123), 제2반도체층(131), 제1도전형 반도체층(133), 활성층(135), 제2도전형 반도체층(137)을 포함한다. 1 to 3, the light emitting device 100 includes a substrate 111 having a plurality of convex portions 113; A first semiconductor layer 121, a metal compound 123, a second semiconductor layer 131, a first conductivity type semiconductor layer 133, an active layer 135, and a second conductivity type semiconductor layer 137.

상기 기판(111)은 투광성, 절연성 또는 도전성 기판을 이용할 수 있으며, 예컨대, 사파이어(Al2O3), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge, Ga2O3 중 적어도 하나를 이용할 수 있다. 상기 기판(111)의 두께(T2)는 120㎛~500㎛ 범위를 포함하며, 그 굴절률은 2.4 이하 예컨대, 2 이하의 물질로 형성될 수 있다. 여기서, 투광성 재질인 사파이어 기판은 사파이어 기판은 육각-롬보형(Hexa-Rhombo R3c) 대칭성을 갖는 결정체로서 c축 방향의 격자상수가 13.001Å, a축 방향으로는 4.765Å의 격자 간 거리를 가지며, C(0001)면, A(1120)면, R(1102)면 등을 갖는다. 사파이어 기판의 C면은 비교적 질화물 박막의 성장이 용이하며, 고온에서 안정하기 때문에 질화물 성장용 기판으로 주로 사용된다.The substrate 111 may use a light-transmitting, insulating or conductive substrate, e.g., sapphire (Al 2 O 3), SiC, Si, GaAs, GaN, ZnO, Si, GaP, InP, Ge, Ga 2 O 3 of At least one can be used. The thickness (T2) of the substrate 111 may range from 120 to 500 mu m and the refractive index may be 2.4 or less, for example, 2 or less. Here, the sapphire substrate, which is a light-transmissive material, has a hexagonal-rhombo-symmetric crystal structure with a lattice constant of 13.001 Å in the c-axis direction and 4.765 Å in the a-axis direction, C (0001) plane, A (1120) plane, R (1102) plane, and the like. The C-plane of the sapphire substrate is relatively easy to grow the nitride film, and is stable at high temperatures, and thus is mainly used as a substrate for nitride growth.

상기 기판(111)은 인접한 변의 길이가 서로 동일하거나 다를 수 있으며, 인접한 변들은 길이가 0.3mm×0.3mm 이상이거나, 대면적 예컨대, 1mm×1mm 또는 그 이상의 면적을 갖는 크기로 제공될 수 있다. 상기 기판(111)은 위에서 볼 때, 사각형, 육각형과 같은 다각형 형상으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
The adjacent sides of the substrate 111 may have the same or different lengths, and adjacent sides may have a length of 0.3 mm x 0.3 mm or more, or a size having a large area such as 1 mm x 1 mm or more. The substrate 111 may be formed in a polygonal shape such as a quadrangular shape or a hexagonal shape when viewed from above, but is not limited thereto.

상기 기판(111)은 복수의 볼록부(113)를 포함한다. 상기 복수의 볼록부(113)는 상기 기판(111)에서 활성층(135) 방향으로 돌출되며, 그 형상은 반구형 형상, 볼록한 돔형 렌즈 형상, 또는 볼록 렌즈 형상이 3차원 형상으로 형성될 수 있다. 상기 볼록부(113)의 다른 형상은 3차원 구조물인 다각형 형상을 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The substrate 111 includes a plurality of convex portions 113. The plurality of convex portions 113 protrude from the substrate 111 toward the active layer 135 and may have a hemispherical shape, a convex dome lens shape, or a convex lens shape in a three-dimensional shape. The other shape of the convex portion 113 may include a polygonal shape, which is a three-dimensional structure, but is not limited thereto.

상기 복수의 볼록부(113)은 도 3과 같이 복수개가 서로 분리되어 배치되며, 위에서 볼 때, 격자 형태 또는 매트릭스 형태 또는 스트라이프 형태로 배열될 수 있다. 상기 복수의 볼록부(113) 간의 간격(T1)은 일정한 주기로 형성되거나, 불규칙한 간격 또는 랜덤한 간격으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.As shown in FIG. 3, the plurality of convex portions 113 are arranged separately from each other, and may be arranged in a lattice shape, a matrix shape, or a stripe shape as viewed from above. The interval T1 between the plurality of convex portions 113 may be formed at regular intervals, irregular intervals, or random intervals, but the invention is not limited thereto.

상기 복수의 볼록부(113)는 입사되는 광의 임계각을 변환시켜 주어, 광 추출 효율을 개선시켜 줄 수 있다.The plurality of convex portions 113 may change the critical angle of incident light to improve light extraction efficiency.

상기 볼록부(113)의 너비(D1)와, 상기 볼록부(113) 사이의 오목 영역(112)의 너비(G1)의 비율은 1:1~4:2 정도일 수 있으며, 상기 볼록부(113)의 높이(H1)와 오목 영역(112)의 너비(G1)의 비율은 1:1~1:1/3의 범위로 형성될 수 있다. 상기 볼록부(113)의 너비(D1)는 3㎛±0.5㎛ 범위를 포함하며, 상기 오목 영역(112)의 너비(G1)는 상기 볼록부(113)의 너비(D1)보다는 좁으며 예컨대, 2㎛±0.5㎛ 범위를 포함하며, 상기 볼록부(113)의 높이(H1)는 0.8㎛~2.5㎛ 범위로 형성될 수 있다.
The ratio of the width D1 of the convex portion 113 to the width G1 of the concave portion 112 between the convex portion 113 may be about 1: 1 to 4: 2, and the convex portion 113 And the width G1 of the concave region 112 may be in the range of 1: 1 to 1: 1/3. The width D1 of the convex portion 113 includes a range of 3 占 퐉 占 0 占 퐉 and the width G1 of the concave portion 112 is narrower than the width D1 of the convex portion 113, And the height H1 of the convex portion 113 may be in the range of 0.8 mu m to 2.5 mu m.

상기 기판(111) 상에는 제1반도체층(121)이 형성되며, 상기 제1반도체층(121)은 II족 내지 VI족 화합물 반도체를 선택적으로 이용하여 형성될 수 있다. 상기 제1반도체층(121)은 II족 내지 VI족 화합물 반도체를 이용하여 적어도 한 층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있다. 상기 제1반도체층(121)은 예컨대, III족-V족 화합물 반도체를 이용한 반도체층 예컨대, AlxInyGa(1-x-y)N 조성식(여기서, 0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1임)을 갖는 화합물 반도체로 형성될 수 있으며, 대표적으로, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. A first semiconductor layer 121 is formed on the substrate 111. The first semiconductor layer 121 may be formed using a Group II to VI compound semiconductor. The first semiconductor layer 121 may be formed of at least one layer or a plurality of layers using Group II to VI compound semiconductors. For example, the first semiconductor layer 121 may be a semiconductor layer using, for example, a Group III-V compound semiconductor such as Al x In y Ga (1-xy) N composition formula (0? X? 1, 0? , 0? X + y? 1), and may include at least one of GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN and AlInN.

상기 제1반도체층(121)은 불순물이 도핑되지 않는 반도체층(undoped semiconductor layer)로 형성될 수 있으며, 이러한 언도프드 반도체층은 n형 반도체층보다 낮은 전도성을 갖는 저 전도층으로 형성될 수 있다.The first semiconductor layer 121 may be formed of an undoped semiconductor layer which is not doped with impurities, and the undoped semiconductor layer may be formed of a low conductivity layer having lower conductivity than the n-type semiconductor layer .

상기 제1반도체층(121)은 기판(111)의 성장면(0001)을 통해 주로 성장이 되고, 격자 상수에 의해 전위가 발생되면 경사진 성장면(1-101)을 통해 성장이 이루어진다. 또한 볼록부(113)는 경사진 면이거나 곡면이므로, 제1반도체층(121)이 정상적으로 성장되지 않게 된다. 이에 따라 상기 제1반도체층(121)을 소정 두께로 성장할 경우, 상기 볼록부(113)의 둘레부터 적층되면서 성장되고, 이때 상기 볼록부(113) 상에는 피트(13)가 형성된다. 상기 피트(13)의 상면은 육각형으로 형성되고, 측 단면은 V자 형상을 갖는다. 상기 제1반도체층(121)의 두께는 상기 볼록부(113)의 높이(H1)보다 더 두껍게 형성될 수 있으며, 예컨대 2㎛-3㎛ 범위로 형성될 수 있다. 상기 제1반도체층(121)은 상기 피트(13)가 상기 각 볼록부(113)의 상부 즉, 상기 볼록부(113)의 높이(H1)의 1/3 이상의 영역을 봉합하지 않는 두께로 형성될 수 있다.The first semiconductor layer 121 is grown mainly through the growth surface 0001 of the substrate 111 and is grown through the inclined growth surface 1-101 when dislocations are generated by the lattice constant. Also, since the convex portion 113 is inclined or curved, the first semiconductor layer 121 is not normally grown. Accordingly, when the first semiconductor layer 121 is grown to a predetermined thickness, the first semiconductor layer 121 is grown from the periphery of the convex portion 113, and the pits 13 are formed on the convex portion 113 at this time. The upper surface of the pit 13 is formed in a hexagonal shape, and the side end face has a V-shape. The thickness of the first semiconductor layer 121 may be greater than the height H1 of the convex portion 113 and may be in the range of 2 탆 to 3 탆. The first semiconductor layer 121 is formed such that the pit 13 has a thickness not exceeding one third of the height H1 of each of the convex portions 113 .

상기 제1반도체층(121) 내에는 상기 기판(111)과의 격자 결함에 의해 전위가 발생되며, 상기 전위는 수직 방향으로 진행하는 수직 전위(11), 수직 방향에서 수평 방향으로 진행하는 수평 전위(12)를 포함한다. 상기의 수직 전위(11) 및 상기 수평 전위(12)는 격자 상수의 차이에 의해 발생되며, 차단되지 않을 경우 정전압 방출에 의한 손해를 받을 수 있다. A potential is generated in the first semiconductor layer 121 by a lattice defect with the substrate 111. The potential is a vertical potential 11 that advances in a vertical direction, (12). The vertical potential 11 and the horizontal potential 12 are generated by the difference of the lattice constant and can be damaged by the constant voltage discharge if not blocked.

여기서, 상기 제1반도체층(121) 내의 수평 전위(11)들은 상기 볼록부(113) 상에서 다시 모여 전위 집합으로 다른 층으로 전파된다. 또한 볼록부(113)의 정점에서의 전위가 더 발생되어, 다른 층으로 전파되는 문제가 발생될 수 있다. 이를 위해, 실시 예는 상기 제1반도체층(121)의 피트(13) 내에 금속 화합물(123)을 형성하게 된다. 상기 금속 화합물(123)은 상기 볼록부(113)와 상기 피트(13)의 측면이 서로 접촉된다. Here, the horizontal potentials 11 in the first semiconductor layer 121 collect on the convex portion 113 and propagate to other layers as a potential set. Further, a potential at the apex of the convex portion 113 may be further generated and propagated to other layers. For this, in the embodiment, the metal compound 123 is formed in the pit 13 of the first semiconductor layer 121. The convex portion 113 and the side surface of the pit 13 are in contact with each other in the metal compound 123.

여기서, 상기 피트(13)의 하부 너비(D3) 또는 상기 볼록부(113)의 노출된 너비(D3)는 0.5㎛-1㎛ 범위로 형성되며, 상기 금속 화합물(123)은 상기 피트(13)의 하부 너비(D3)보다는 크고 상부 너비(D2)보다는 작은 너비로 형성될 수 있다. 상기 금속 화합물(123)은 상기 피트(13) 내에 채워지며, 그 상면은 오목한 면으로 형성될 수 있다. The bottom width D3 of the pit 13 or the exposed width D3 of the convex portion 113 is in a range of 0.5 탆 to 1 탆 and the metal compound 123 is formed in the pit 13, The width D2 of the lower portion of the first substrate W2 may be greater than the width of the lower portion of the substrate W2. The metal compound 123 is filled in the pit 13, and the upper surface thereof may be formed as a concave surface.

상기 금속 화합물(123)은 볼록부(113)의 정점과 수평 전위(12)들이 집합되는 피트(13)의 측면을 커버함으로써, 반도체층의 성장에 따라 전위가 다른 층으로 전파되는 것을 방지하여 결정성을 개선시키고 전기적인 신뢰성과 내부 양자 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기의 금속 화합물(123)은 상기 볼록부(113)의 정점에 대응되는 영역이 얇고, 상기 정점으로부터 멀어질수록 더 두꺼운 두께로 형성될 수 있다. 상기 금속 화합물(123)은 상기 제1반도체층(121)의 상면보다 낮게 형성된다. The metal compound 123 covers the side surface of the pit 13 where the vertex of the convex portion 113 and the horizontal potentials 12 are gathered to prevent the potential from propagating to other layers as the semiconductor layer grows, And improve electrical reliability and internal quantum efficiency. The metal compound 123 may have a thinner area corresponding to the apex of the convex 113 and a thicker area as the apex is farther from the apex. The metal compound 123 is formed lower than the upper surface of the first semiconductor layer 121.

상기 금속 화합물(123)은 실리콘 질화물 또는 실리콘 산화물일 수 있으며, 상기 실리콘 질화물은 SiXNY 예컨대, SiN 또는 Si3N4를 포함하며, 상기 실리콘 산화물은 SiOx 예컨대, SiO2를 포함한다.The metal compound 123 may be silicon nitride or silicon oxide, and the silicon nitride may be Si X N Y for example, It includes SiN or Si 3 N 4, and said silicon oxide comprises SiOx, for example, SiO 2.

상기의 금속 화합물(123)은 상기 기판(111)의 재질과 질화물 반도체층과의 굴절률 차이를 갖고 있어, 외부 양자 효율도 개선시켜 줄 수 있다. 상기 금속 화합물(123)과 상기 볼록부(113) 사이의 영역 중 적어도 한 영역에는 공극이 더 형성될 수 있으며, 이러한 공극은 공기와 같은 매질로 채워질 수 있다.The metal compound 123 has a refractive index difference between the material of the substrate 111 and the nitride semiconductor layer, thereby improving external quantum efficiency. At least one region of the region between the metal compound 123 and the convex portion 113 may be further filled with a medium such as air.

여기서, 상기 제1반도체층(121)의 상면의 전위 밀도는 하면의 전위 밀도보다 50% 이상 감소하게 된다. 이에 따라 제1반도체층(121)에서 활성층(135)으로 전파되는 전위가 감소되어, 내부 양자 효율이 개선될 수 있다. 또한 상기의 금속 화합물(123)은 기판(111)과 실질적으로 접촉된 영역에 형성됨으로써, 반도체층 사이에서 전위를 차단하는 구조물보다는 더 효과적이다. 그 이유는 반도체층 사이에서 전위를 차단할 경우 평탄화 과정을 거치게 되므로 발광 소자의 두께가 증가하게 되고, 전기적인 저항이 증가되는 문제가 발생될 수 있다. 실시 예는 제2반도체층(131)과 기판(111) 사이의 영역에 배치된 피트(13) 내에 금속 화합물(123)을 형성해 주어, 기판(111) 상에서 발생된 전위가 상기의 볼록부(113)의 영역을 통해 상기 제2반도체층(131)으로 전파되는 것을 차단할 수 있다. 실질적으로, 상기 볼록부(113)과 대응되는 영역 상에는 전위가 거의 100% 차단되는 효과를 줄 수 있다. Here, the dislocation density of the upper surface of the first semiconductor layer 121 is reduced by 50% or more than the dislocation density of the lower surface. Accordingly, the potential propagated from the first semiconductor layer 121 to the active layer 135 is reduced, and the internal quantum efficiency can be improved. Further, the metal compound 123 is formed in a region substantially in contact with the substrate 111, so that the metal compound 123 is more effective than a structure that blocks dislocation between semiconductor layers. The reason for this is that when the potential is interrupted between the semiconductor layers, the light emitting device is subjected to a planarization process, thereby increasing the thickness of the light emitting device and increasing the electrical resistance. The metal compound 123 is formed in the pit 13 disposed in the region between the second semiconductor layer 131 and the substrate 111 so that the electric potential generated on the substrate 111 becomes the convex portion 113 To the second semiconductor layer 131 through the region of the first semiconductor layer 131 and the second semiconductor layer 131. The potential can be substantially 100% blocked on the region corresponding to the convex portion 113.

상기 제1반도체층(121) 및 상기 금속 화합물(123) 상에는 제2반도체층(131)이 형성되며, 상기 제2반도체층(131)은 상기 피트(13)의 굴곡 부분을 메우게 되므로, 그 하면은 요철 구조일 수 있고, 그 상면은 평탄한 면으로 형성될 수 있다.The second semiconductor layer 131 is formed on the first semiconductor layer 121 and the metal compound 123 and the second semiconductor layer 131 covers the bent portion of the pit 13, The lower surface may be a concave-convex structure, and the upper surface thereof may be formed as a flat surface.

상기 제2반도체층(131)은 제1도전형의 불순물을 첨가하여 형성된 층이거나, 언도프드 반도체층일 수 있다. 상기 제2반도체층(131)은 예컨대, III족-V족 화합물 반도체를 이용한 반도체층 예컨대, AlxInyGa(1-x-y)N 조성식(여기서, 0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1임)을 갖는 화합물 반도체로 형성될 수 있으며, 대표적으로, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 제2반도체층(131)은 제1도전형 반도체층 예컨대, n형 반도체층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The second semiconductor layer 131 may be a layer formed by adding an impurity of the first conductivity type, or may be an undoped semiconductor layer. For example, the second semiconductor layer 131 may be a semiconductor layer using a Group III-V compound semiconductor, for example, an Al x In y Ga (1-xy) N composition formula (0? X? 1, 0? , 0? X + y? 1), and may include at least one of GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN and AlInN. The second semiconductor layer 131 may be formed of a first conductivity type semiconductor layer, for example, an n-type semiconductor layer, but is not limited thereto.

상기 제2반도체층(131) 위에는 발광 구조물(130)이 형성될 수 있다. 상기 발광 구조물(130)은 III족-V족 화합물 반도체를 포함하며, 예컨대 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체를 갖고, 자외선 대역부터 가시 광선 대역의 파장 범위 내에서 소정의 피크 파장을 발광할 수 있다. The light emitting structure 130 may be formed on the second semiconductor layer 131. The light emitting structure 130 includes a group III-V compound semiconductor, for example, In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + ), And can emit a predetermined peak wavelength within a wavelength range from the ultraviolet band to the visible light band.

상기 발광 구조물(130)은 제1도전형 반도체층(133), 제2도전형 반도체층(137), 상기 제1도전형 반도체층(133)과 상기 제2도전형 반도체층(137) 사이에 형성된 활성층(135)을 포함한다.The light emitting structure 130 includes a first conductive semiconductor layer 133, a second conductive semiconductor layer 137, and a second conductive semiconductor layer 133 between the first conductive semiconductor layer 133 and the second conductive semiconductor layer 137 And an active layer 135 formed thereon.

상기 제1도전형 반도체층(133)은 상기 제2반도체층(131) 위에 형성될 수 있다. 상기 제1도전형 반도체층(133)은 제1도전형 도펀트가 도핑된 III족-V족 화합물 반도체 예컨대, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN와 같은 화합물 반도체 중 어느 하나로 이루어질 수 있다. 상기 제1도전형 반도체층(133)은 예컨대 InxAlyGa1-x-yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체를 갖는 N형 반도체층으로 형성될 수 있으며, 상기 제1도전형 도펀트는 N형 도펀트로서, Si, Ge, Sn, Se, Te를 포함한다. The first conductive semiconductor layer 133 may be formed on the second semiconductor layer 131. The first conductive semiconductor layer 133 may be made of any one of compound semiconductors such as Group III-V compound semiconductor doped with the first conductive dopant such as GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN and AlInN have. The first conductive semiconductor layer 133 may be formed of a material having a compositional formula of In x Al y Ga 1-xy N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? Type semiconductor layer, and the first conductivity type dopant is an N type dopant including Si, Ge, Sn, Se, and Te.

상기 제1도전형 반도체층(133)과 상기 제2반도체층(131) 사이에는 서로 다른 반도체층들이 교대로 적층된 초 격자 구조가 형성될 수 있으며, 이러한 초격자 구조는 격자 결함을 감소시켜 줄 수 있다. 상기 초 격자 구조의 각 층은 수 A 이상의 두께로 적층될 수 있다. A superlattice structure in which different semiconductor layers are alternately stacked may be formed between the first conductive type semiconductor layer 133 and the second semiconductor layer 131. Such a superlattice structure may reduce lattice defects . Each layer of the superlattice structure may be stacked to a thickness of several A or more.

상기 제1도전형 반도체층(133)과 상기 활성층(135) 사이에는 제1도전형 클래드층이 형성될 수 있다. 상기 제1도전형 클래드층은 GaN계 반도체로 형성될 수 있으며, 그 밴드 갭은 상기 활성층(135)의 밴드 갭 이상으로 형성될 수 있다. 이러한 제1도전형 클래드층은 캐리어를 구속시켜 주는 역할을 한다. A first conductive clad layer may be formed between the first conductive semiconductor layer 133 and the active layer 135. The first conductive clad layer may be formed of a GaN-based semiconductor, and the bandgap thereof may be formed to be equal to or larger than a bandgap of the active layer 135. The first conductive type cladding layer serves to constrain the carrier.

상기 제1도전형 반도체층(133) 위에는 활성층(135)이 형성된다. 상기 활성층(135)은 단일 양자 우물, 다중 양자 우물(MQW), 양자 선(quantum wire) 구조 또는 양자 점(quantum dot) 구조를 선택적으로 포함하며, 우물층과 장벽층의 주기를 포함한다. 상기 우물층은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 포함하며, 상기 장벽층은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 포함할 수 있다. 상기 우물층/장벽층의 주기는 예컨대, InGaN/GaN, GaN/AlGaN, InGaN/AlGaN, InGaN/InGaN, InGaN/InAlGaN, GaN/InAlGaN의 적층 구조를 이용하여 1주기 이상으로 형성될 수 있다. 상기 장벽층은 상기 우물층의 밴드 갭보다 높은 밴드 갭을 가지는 반도체 물질로 형성될 수 있다. The active layer 135 is formed on the first conductive semiconductor layer 133. The active layer 135 selectively includes a single quantum well, a multiple quantum well (MQW), a quantum wire structure, or a quantum dot structure, and includes a well layer and a barrier layer period. The well layer comprises a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1), and wherein the barrier layer is In x Al y It may include a composition formula of Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x + y≤1). The period of the well layer / barrier layer may be one or more cycles using a lamination structure of InGaN / GaN, GaN / AlGaN, InGaN / InGaN, InGaN / InGaN, InGaN / InAlGaN and GaN / InAlGaN. The barrier layer may be formed of a semiconductor material having a band gap higher than a band gap of the well layer.

상기 활성층(135) 위에는 제2도전형 반도체층(137)이 형성된다. 상기 제2도전형 반도체층(137)은 제2도전형 도펀트가 도핑된 반도체 예컨대, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN와 같은 화합물 반도체 중 어느 하나로 이루어질 수 있다. 상기 제2도전형 반도체층(137)은 예컨대 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체를 갖는 p형 반도체층으로 형성될 수 있으며, 상기 제2도전형 도펀트는 p형 도펀트로서, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba을 포함할 수 있다. The second conductive semiconductor layer 137 is formed on the active layer 135. The second conductive semiconductor layer 137 may be formed of any one of compound semiconductors such as GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, and AlInN doped with a second conductive dopant. The second conductivity type semiconductor layer 137 may be formed of a semiconductor having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + And the second conductive dopant may include Mg, Zn, Ca, Sr, and Ba as a p-type dopant.

상기 제2도전형 반도체층(137)은 초격자 구조를 포함할 수 있으며, 상기 초격자 구조는 InGaN/GaN 초격자 구조 또는 AlGaN/GaN 초격자 구조를 포함할 수 있다. 상기 제2도전형 반도체층(137)의 초격자 구조는 비 정상적으로 전압에 포함된 전류를 확산시켜 주어, 활성층(135)을 보호할 수 있다.The second conductive semiconductor layer 137 may include a superlattice structure, and the superlattice structure may include an InGaN / GaN superlattice structure or an AlGaN / GaN superlattice structure. The superlattice structure of the second conductivity type semiconductor layer 137 may protect the active layer 135 by diffusing a current contained in the voltage abnormally.

또한 상기 제1도전형 반도체층(133)은 p형 반도체층, 상기 제2도전형 반도체층(137)은 n형 반도체층으로 구현될 수 있다. 상기 제2도전형 반도체층(137) 위에는 상기 제2도전형과 반대의 극성을 갖는 제3도전형 반도체층이 형성할 수도 있다. The first conductive semiconductor layer 133 may be a p-type semiconductor layer, and the second conductive semiconductor layer 137 may be an n-type semiconductor layer. A third conductive type semiconductor layer having a polarity opposite to the second conductive type may be formed on the second conductive type semiconductor layer 137.

상기 발광소자(100)는 상기 제1도전형 반도체층(133), 활성층(135) 및 상기 제2도전형 반도체층(137)을 발광 구조물(130)로 정의될 수 있으며, 상기 발광 구조물(130)은 n-p 접합 구조, p-n 접합 구조, n-p-n 접합 구조, p-n-p 접합 구조 중 어느 한 구조로 구현할 수 있다. 여기서, 상기 p는 p형 반도체층이며, 상기 n은 n형 반도체층이며, 상기 -은 p형 반도체층과 n형 반도체층이 직접 접촉되거나 간접 접촉된 구조를 포함한다. 이하, 설명의 편의를 위해, 발광 구조물(130)의 최 상층은 제2도전형 반도체층(137)으로 설명하기로 한다.The light emitting device 100 may be defined as a light emitting structure 130 including the first conductive semiconductor layer 133, the active layer 135, and the second conductive semiconductor layer 137, ) May be implemented by any one of an np junction structure, a pn junction structure, an npn junction structure, and a pnp junction structure. Here, p is a p-type semiconductor layer, and n is an n-type semiconductor layer, and the - includes a structure in which the p-type semiconductor layer and the n-type semiconductor layer are in direct contact or indirect contact. Hereinafter, for convenience of explanation, the uppermost layer of the light emitting structure 130 will be described as the second conductivity type semiconductor layer 137.

또한 상기 제1도전형 반도체층(133) 및 상기 제2도전형 반도체층(137)에 전극을 전기적으로 연결하여, 전원을 공급시켜 줄 수 있다.
The first conductive semiconductor layer 133 and the second conductive semiconductor layer 137 may be electrically connected to each other to supply power.

도 4내지 도 6은 도 1의 발광소자의 제조과정을 나타낸 도면이다. 이하의 제조 과정은 설명의 용이성을 위해 개별 소자로 도시되었으나, 개별 소자는 후술하는 처리 공정을 통해 제조되는 것으로 설명될 수 있다. 또한 개별 소자의 후술하는 제조 공정으로 한정하는 것이 아니며, 각 공정의 특정 공정에 추가적인 공정 또는 더 적은 공정으로 제조될 수 있다. FIGS. 4 to 6 are views showing a manufacturing process of the light emitting device of FIG. Although the following manufacturing processes are shown as individual elements for ease of explanation, individual elements can be described as being manufactured through a processing process described below. Further, the present invention is not limited to the production process of the individual elements described below, and can be manufactured in an additional process or a fewer process in a specific process of each process.

도 4를 참조하면, 기판(111)은 성장 장비에 로딩되고, 그 위에 II족 내지 VI족 원소의 화합물 반도체를 선택적으로 이용하여 층 또는 패턴 형태로 형성될 수 있다. 상기 기판(111)은 성장 기판으로 사용된다.Referring to FIG. 4, the substrate 111 may be loaded in a growth apparatus, and may be formed in a layer or pattern shape by selectively using compound semiconductors of Groups II to VI elements thereon. The substrate 111 is used as a growth substrate.

여기서, 상기 기판(111)은 투광성 기판, 절연 기판 또는 전도성 기판으로 이루어질 수 있으며, 예컨대, 사파이어 기판(Al2O3), GaN, SiC, ZnO, Si, GaP, InP, Ga2O3, 그리고 GaAs 등으로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. 이러한 기판(111)의 상부에는 복수의 볼록부(113)가 형성되며, 상기 복수의 볼록부(113)는 상기 기판(111)의 상부에 대해 미리 설정된 마스크 패턴을 배치하여 식각하여 복수의 볼록부(113)를 형성할 수 있다. The substrate 111 may be a transparent substrate, an insulating substrate, or a conductive substrate. The substrate 111 may be a sapphire substrate (Al 2 O 3 ), GaN, SiC, ZnO, Si, GaP, InP, Ga 2 O 3 , GaAs, and the like. A plurality of convex portions 113 are formed on the substrate 111. The plurality of convex portions 113 are formed by etching a predetermined mask pattern on the upper surface of the substrate 111, (113) can be formed.

상기 기판(111) 상에는 제1반도체층(121)이 성장된다. 상기 기판(111)과 상기 제1반도체층(121)은 격자 상수의 차이가 있기 때문에, 격자 상수의 차이에 의하여 스트레인이 발생된다. 상기의 스트레인은 상기 제1반도체층(121) 내의 전위(11,12)로 발생된다. 상기 제1반도체층(121)은 상기 기판(111)의 평탄한 면(0001)을 통해 성장이 되며, 성장 온도를 조절하여 상기 볼록부(113) 상의 피트(13)의 크기를 조절할 수 있다. A first semiconductor layer 121 is grown on the substrate 111. Since the substrate 111 and the first semiconductor layer 121 have different lattice constants, a strain is generated due to a difference in lattice constant. The strain is generated at the potentials (11, 12) in the first semiconductor layer (121). The first semiconductor layer 121 is grown on the flat surface 0001 of the substrate 111 and the growth temperature is controlled to adjust the size of the pits 13 on the convex portion 113. [

도 5를 참조하면, 상기 피트(13) 내에 금속 화합물(123)을 형성하게 된다. 상기 금속 화합물(123)은 동일 챔버 내에서 수행될 수 있다. 상기 금속 화합물(123)의 형성 온도는 900 내지 1100도 범위로 하고, 암모니아(NH3) 분위기에서 실리콘(Si) 전구체를 공급한다. 상기 실리콘(Si) 전구체는 SiH4, Si2H6 또는 DTBSi(ditertiarybutyl silane)를 사용할 수 있다. 금속 화합물(123)은 피트(123) 내에 우선적으로 형성되므로, 상기 피트(123)의 측면과 상기 볼록부(113)의 상면 상에 형성된다. 이때 상기 금속 화합물(123)은 상기 피트(13)에 완전히 채워지거나 하부만 채워질 수 있다. 이후, 실리콘(Si) 전구체의 공급을 중단한다. 금속 화합물(123)은 피트(13) 내에 형성되는 과정에서 공극을 포함할 수 있다. 상기 공극을 통하여 반도체 내부에서 발생되는 광 흡수가 최소화되고, 난반사를 발생시켜 광 출력이 향상된다.Referring to FIG. 5, a metal compound 123 is formed in the pit 13. The metal compound 123 may be performed in the same chamber. The formation temperature of the metal compound 123 is in a range of 900 to 1100 degrees, and a silicon (Si) precursor is supplied in an ammonia (NH3) atmosphere. The silicon (Si) precursor may be SiH 4 , Si 2 H 6, or DTBSi (ditertiary butyl silane). The metal compound 123 is preferentially formed in the pit 123 and therefore is formed on the side surface of the pit 123 and the upper surface of the convex portion 113. At this time, the metal compound 123 may be completely or only filled in the pit 13. Thereafter, the supply of the silicon (Si) precursor is stopped. The metal compound 123 may include voids in the process of being formed in the pit 13. The light absorption generated inside the semiconductor through the gap is minimized, and the diffused reflection is generated to improve the light output.

도 6을 참조하면, 상기 제1반도체층(121) 및 상기 금속 화합물(123) 상에는 제2반도체층(131)이 형성되며, 상기 제2반도체층(131)은 상기 제1반도체층(121)과 동일한 화합물 반도체이거나 다른 화합물 반도체로 형성될 수 있다. 상기 제2반도체층(131)은 수직 성장 속도 및 수평 성장 속도를 조절하여 상기의 피트(13)를 메우면서 성장시켜 줄 수 있다. 상기의 성장 속도는 전구체의 유량, 압력, 및 성장 온도에 의하여 조절될 수 있으며, 그 성장 온도는 1000도 이상이 될 수 있다. 다른 예로서, 상기 제2반도체층(131)의 상면은 상기 피트(13)에 대응되는 영역이 굴곡되도록 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.6, a second semiconductor layer 131 is formed on the first semiconductor layer 121 and the metal compound 123, and the second semiconductor layer 131 is formed on the first semiconductor layer 121, Or may be formed of other compound semiconductors. The second semiconductor layer 131 may be grown while filling the pits 13 by adjusting a vertical growth rate and a horizontal growth rate. The growth rate may be controlled by the flow rate, pressure, and growth temperature of the precursor, and the growth temperature may be 1000 ° C or more. As another example, the upper surface of the second semiconductor layer 131 may be formed to be bent in a region corresponding to the pit 13, but the present invention is not limited thereto.

상기 제2반도체층(131) 상에는 제1도전형 반도체층(133), 활성층(135) 및 제2도전형 반도체층(137)을 포함하는 발광 구조물(130)이 형성된다. 상기의 발광 구조물(130)은 상기의 층 구조를 갖고 3층 이상의 반도체층으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 또한 상기 제1 및 제2도전형 반도체층(133,137) 중 적어도 한 층 또는 이에 인접한 층은 AlGaN/GaN/InGaN층 또는 AlGaN/GaN/InGaN층 중 적어도 하나를 갖는 초격자 구조를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.A light emitting structure 130 including a first conductive semiconductor layer 133, an active layer 135, and a second conductive semiconductor layer 137 is formed on the second semiconductor layer 131. The light emitting structure 130 may have three or more semiconductor layers having the above-described layer structure, but the present invention is not limited thereto. At least one of the first and second conductive semiconductor layers 133 and 137 or a layer adjacent thereto may include a superlattice structure having at least one of an AlGaN / GaN / InGaN layer and an AlGaN / GaN / InGaN layer, It is not limited thereto.

상기와 같이 금속 화합물(123)이 기판(111)의 볼록부(113)에 형성된 제1반도체층(121)의 피트(13)의 일부에 형성됨으로써, 상기 기판(111)의 볼록부(113)의 영역을 통해 다른 층으로 전파되는 전위를 효과적으로 차단할 수 있다.
The metal compound 123 is formed on a part of the pit 13 of the first semiconductor layer 121 formed on the convex portion 113 of the substrate 111 so that the convex portion 113 of the substrate 111, It is possible to effectively block the electric potential that is propagated to the other layer through the region of FIG.

도 7은 제2실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도이다. 제2실시 예를 설명함에 있어서, 제1실시 예와 동일한 구성은 제1실시 예의 설명을 참조하기로 한다.7 is a side sectional view showing a light emitting device according to the second embodiment. In describing the second embodiment, the same configuration as that of the first embodiment will be described with reference to the description of the first embodiment.

도 7을 참조하면, 발광 소자는 제1반도체층(121)과 기판(111) 사이에 버퍼층(120)이 배치되며, 상기 버퍼층(120)은 상기 기판(111)과 상기 제1반도체층(121) 사이의 격자 상수 차이를 줄여주게 된다. 이에 따라 상기 제1반도체층(121)으로 전파되는 전위를 줄여줄 수 있다. 상기의 버퍼층(120)의 두께는 수 nm 이하로 형성될 수 있으며, 그 재질은 예컨대 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 재질을 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 여기서, 상기의 버퍼층(120)은 상기 볼록부(113)가 반구형 형상인 경우, 곡면 부분에는 성장이 되지 않을 수 있다. 7, a buffer layer 120 is disposed between the first semiconductor layer 121 and the substrate 111, and the buffer layer 120 is formed between the substrate 111 and the first semiconductor layer 121 Lt; RTI ID = 0.0 > a < / RTI > Accordingly, the potential propagated to the first semiconductor layer 121 can be reduced. The buffer layer 120 may have a thickness of several nm or less. The material of the buffer layer 120 may be, for example, In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? y ≤ 1), but the present invention is not limited thereto. Here, the buffer layer 120 may not grow on the curved portion when the convex portion 113 has a hemispherical shape.

제1반도체층(121)과 상기 제1도전형 반도체층(133) 사이에 배치된 제2반도체층(132)은 복수의 층을 갖는 초격자 구조로 형성될 수 있다. 상기 제2반도체층(132)은 서로 다른 굴절률 또는 서로 다른 두께를 갖는 적어도 2층의 페어가 교대로 반복된다. 이에 따라 상기 제2반도체층(132)의 초격자 구조에 의해 상기 제1도전형 반도체층(133)으로 전파되는 전위를 차단할 수 있다. 발광 소자의 내부 양자 효율을 개선시켜 줄 수 있다. 상기의 제1층 및 제2층은 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 화합물 반도체를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
The second semiconductor layer 132 disposed between the first semiconductor layer 121 and the first conductive semiconductor layer 133 may have a superlattice structure having a plurality of layers. The second semiconductor layer 132 is alternately repeated in at least two layers having different refractive indices or different thicknesses. Accordingly, the potential that is propagated to the first conductivity type semiconductor layer 133 can be blocked by the superlattice structure of the second semiconductor layer 132. The internal quantum efficiency of the light emitting device can be improved. The first layer and the second layer include a compound semiconductor having a composition formula of In x Al y Ga 1 -x- y N (0? X? 1, 0? Y? 1, 0? X + y? The present invention is not limited thereto.

도 8은 제3실시 예에 따른 발광 소자를 나타낸 측 단면도이다. 제3실시 예를 설명함에 있어서, 제1실시 예와 동일한 구성은 제1실시 예의 설명을 참조하기로 한다.8 is a side sectional view showing a light emitting device according to the third embodiment. In describing the third embodiment, the same configuration as that of the first embodiment will be described with reference to the description of the first embodiment.

도 8을 참조하면, 발광 소자는 기판(111) 상에 버퍼층(120) 및 제1반도체층(121)이 형성된다. 상기 기판(111)의 볼록부(113) 상에는 상기 버퍼층(120)의 일부(21)이 형성되며, 상기 버퍼층(120)의 일부(21)는 상기 볼록부(113)의 정점 영역 즉, 수 평면에 형성되어, 상기 버퍼층(120)의 두께보다 얇은 두께로 형성될 수 있다. Referring to FIG. 8, a buffer layer 120 and a first semiconductor layer 121 are formed on a substrate 111 of a light emitting device. A portion 21 of the buffer layer 120 is formed on the convex portion 113 of the substrate 111 and a portion 21 of the buffer layer 120 is formed in a vertex area of the convex portion 113, And may be formed to have a thickness smaller than the thickness of the buffer layer 120.

상기 버퍼층(120)의 일부(21)는 상기 금속 화합물(123)과 접촉된다. 상기 버퍼층(120)의 일부(21)는 상기 금속 화합물(123) 내에 임베디드된 형태로 결합될 수 있다. 상기 금속 화합물(123)은 상기 볼록부(113), 상기 버퍼층(120)의 일부(21) 및 상기 피트(13)의 측면에 접촉되어, 상기 볼록부(113) 영역에서 금속 화합물(123)에 의해 전위를 효과적으로 차단할 수 있다.
A portion (21) of the buffer layer (120) is in contact with the metal compound (123). A portion (21) of the buffer layer (120) may be embedded in the metal compound (123). The metal compound 123 contacts the side surfaces of the convex portion 113, the portion 21 of the buffer layer 120 and the pit 13 to form the metal compound 123 in the region of the convex portion 113 So that the potential can be effectively blocked.

도 9는 도 1의 발광 소자에 전극을 배치한 예를 나타낸 도면이다. 9 is a view showing an example in which electrodes are arranged in the light emitting element of Fig.

도 9를 참조하면, 발광 소자(101)는 기판(111), 제1 및 제2반도체층(121,131), 금속 화합물(123), 발광 구조물(130), 상기 발광 구조물(130) 위에 전류 확산층(141), 제1도전형 반도체층(133) 위에 제1전극(142), 상기 전극층(141) 위에 제2전극(143)을 포함한다. 9, the light emitting device 101 includes a substrate 111, first and second semiconductor layers 121 and 131, a metal compound 123, a light emitting structure 130, and a current diffusion layer 141, a first electrode 142 on the first conductive semiconductor layer 133, and a second electrode 143 on the electrode layer 141.

상기 전극층(141)은 제2도전형 반도체층(137)의 상면에 투명한 전류 확산층으로 형성될 수 있으며, 그 물질은 ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), ZnO, IrOx, RuOx, NiO 등 중에서 선택되며, 적어도 한 층으로 형성될 수 있다. 상기 전극층(141)은 반사 전극층으로 형성될 수 있으며, 그 물질은 예컨대, Al, Ag, Pd, Rh, Pt, Ir 및 이들 중 2이상의 합금 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. The electrode layer 141 may be formed as a transparent current diffusion layer on the upper surface of the second conductive type semiconductor layer 137. The material of the electrode layer 141 may be indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide IZO (indium gallium zinc oxide), IGTO (indium gallium tin oxide), AZO (aluminum zinc oxide), ATO (antimony tin oxide), GZO (gallium zinc oxide), ZnO, IrOx , RuOx, NiO, and the like, and may be formed of at least one layer. The electrode layer 141 may be formed of a reflective electrode layer, for example, Al, Ag, Pd, Rh, Pt, Ir, or an alloy of two or more thereof.

상기 제2전극(145)은 상기 제2도전형 반도체층(137) 및/또는 상기 전극층(141) 위에 형성될 수 있으며, 전극 패드를 포함할 수 있다. 상기 제2전극(145)은 암(arm) 구조 또는 핑거(finger) 구조의 전류 확산 패턴이 더 형성될 수 있다. 상기 제2전극(145)은 오믹 접촉, 접착층, 본딩층의 특성을 갖는 금속으로 비 투광성으로 이루어질 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The second electrode 145 may be formed on the second conductive semiconductor layer 137 and / or the electrode layer 141, and may include an electrode pad. The second electrode 145 may further have a current diffusion pattern of an arm structure or a finger structure. The second electrode 145 may be made of a metal having the characteristics of an ohmic contact, an adhesive layer, and a bonding layer, but is not limited thereto.

상기의 제2전극(151)은 상기 제2도전형 반도체층(137)의 상면 면적의 40% 이하 예컨대, 20% 이하로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. The second electrode 151 may be formed to be 40% or less, for example, 20% or less of the upper surface area of the second conductive type semiconductor layer 137, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1도전형 반도체층(133)에는 제1전극(143)이 형성된다. 상기 제1전극(143)과 상기 제2전극(135)은 Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si, Ge, Ag 및 Au와 이들의 선택적인 합금 중에서 선택될 수 있다.The first electrode 143 is formed on the first conductive semiconductor layer 133. The first electrode 143 and the second electrode 135 may be formed of one selected from the group consisting of Ti, Ru, Rh, Ir, Mg, Zn, Al, In, Ta, Pd, Co, Ni, Si, Can be selected from among the optional alloys.

상기 발광 구조물(130)의 표면에 절연층이 더 형성될 수 있으며, 상기 절연층은 발광 구조물(130)의 층간 쇼트(short)를 방지하고, 습기 침투를 방지할 수 있다.
An insulating layer may further be formed on the surface of the light emitting structure 130. The insulating layer may prevent a short between layers of the light emitting structure 130 and prevent moisture penetration.

도 10은 제1의 발광 소자의 다른 전극 배치 예를 나타낸 도면이다. 도 10의 일부 구성 요소의 설명은 도 9의 설명을 참조하기로 한다.10 is a view showing another example of electrode arrangement of the first light emitting element. The description of some components in Fig. 10 will be made with reference to the description of Fig.

도 10을 참조하면, 발광 소자(102)는 발광 구조물(130) 아래에 전극층(141)이 배치된다. 상기 전극층(141)은 금속을 이용하여 반사 전극층으로 형성될 수 있다. 제1전극(143) 및 상기 제2전극(145)은 하 방향으로 돌출되어, 범프와 같은 연결 부재로 연결되어, 기판 상에 탑재될 수 있다.Referring to FIG. 10, in the light emitting device 102, an electrode layer 141 is disposed under the light emitting structure 130. The electrode layer 141 may be formed of a reflective electrode layer using a metal. The first electrode 143 and the second electrode 145 protrude downward and can be connected to a connection member such as a bump and mounted on the substrate.

기판(111)의 두께(T3)는 30㎛-70㎛ 범위로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 기판(111)은 하부 및 상부에 복수의 볼록부(113) 및 복수의 돌기(114)를 포함한다. 상기 하부에 배치된 볼록부(113)과 상기 상부에 배치된 돌기(114)는 서로 같은 중심 상에 대응되거나, 서로 다른 중심 상에 놓이도록 어긋나게 배치될 수 있다. 상기 돌기(114)는 반구형 형상이거나, 다각형 형상을 포함할 수 있으며, 이러한 구조는 광 추출 방향에 배치되어 광 추출 효율을 증가시켜 줄 수 있다.
The thickness T3 of the substrate 111 may be in the range of 30 mu m to 70 mu m, but is not limited thereto. The substrate 111 includes a plurality of protrusions 113 and a plurality of protrusions 114 at lower and upper portions thereof. The protrusions 113 disposed at the lower portion and the protrusions 114 disposed at the upper portion may be disposed on the same center or may be shifted so as to lie on different centers. The protrusion 114 may have a hemispherical shape or a polygonal shape, and such a structure may be disposed in the light extraction direction to increase the light extraction efficiency.

도 11은 도 1의 발광 소자에 수직형 전극을 배치한 측 단면도이다.11 is a side sectional view in which a vertical electrode is arranged in the light emitting device of FIG.

도 11을 참조하면, 발광 소자(103)는 발광 구조물(130)의 상부에 제1전극(151) 및 하부에 제2전극(150)을 포함한다. 상기 발광 구조물(130)과 상기 제1전극(151) 상에는 반도체층(131)이 배치될 수 있으며, 상기 반도체층(131) 상에 제1전극(151)이 배치된다. Referring to FIG. 11, the light emitting device 103 includes a first electrode 151 on a top of a light emitting structure 130 and a second electrode 150 on a bottom. A semiconductor layer 131 may be disposed on the light emitting structure 130 and the first electrode 151 and a first electrode 151 may be disposed on the semiconductor layer 131.

상기 반도체층(131) 상에 배치된 도 1의 기판(111) 및 반도체층(121)은 물리적 화학적 방법으로 제거하게 된다. 상기 반도체층(131)은 도전형 반도체층 예컨대, n형 반도체층을 포함한다. The substrate 111 and the semiconductor layer 121 of FIG. 1 disposed on the semiconductor layer 131 are removed by a physical and chemical method. The semiconductor layer 131 includes a conductive semiconductor layer such as an n-type semiconductor layer.

여기서, 상기 도 1의 기판은 제거하게 된다. 상기 성장 기판의 제거 방법은 물리적 방법(예: Laser lift off) 또는/및 화학적 방법(습식 에칭 등)으로 제거할 수 있으며, 다른 제1반도체층도 제거하여 상기 제2반도체층(131)을 노출시켜 준다. 상기 기판이 제거된 방향을 통해 아이솔레이션 에칭을 수행하여, 상기 제2반도체층(131) 상에 제1전극(151)을 형성하게 된다. 이에 따라 발광 구조물(130) 위에 제1전극(151) 및 아래에 제2전극(150)를 갖는 수직형 전극 구조를 갖는 발광 소자가 제조될 수 있다.Here, the substrate of FIG. 1 is removed. The growth substrate may be removed by a physical method (e.g., laser lift off) and / or chemical methods (such as wet etching), and the first semiconductor layer may be removed to expose the second semiconductor layer 131 I will. The first electrode 151 is formed on the second semiconductor layer 131 by performing the isolation etching in the direction in which the substrate is removed. Accordingly, a light emitting device having a vertical electrode structure having the first electrode 151 and the second electrode 150 below the light emitting structure 130 can be manufactured.

상기 제1전극(151)은 서로 다른 영역에 배치될 수 있으며, 암(arm) 패턴 또는 브리지 패턴을 갖고 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 제1전극(151)의 일부 영역은 패드로 사용될 수 있다.The first electrodes 151 may be formed in different regions and may have an arm pattern or a bridge pattern, but the present invention is not limited thereto. A portion of the first electrode 151 may be used as a pad.

상기 반도체층(131) 상에 금속 화합물(123)이 서로 다른 영역에 이격되게 배치된다. 상기 금속 화합물(123)은 상기 반도체층(131)의 상면보다 더 위로 돌출된다.And the metal compound 123 is disposed on the semiconductor layer 131 so as to be spaced apart from each other. The metal compound 123 protrudes further than the upper surface of the semiconductor layer 131.

상기 발광 구조물(130)의 아래 즉, 상기 제2도전형 반도체층(137) 아래에 제2전극(150)이 배치된다. The second electrode 150 is disposed under the light emitting structure 130, that is, under the second conductive type semiconductor layer 137.

상기 제2전극(150)은 복수의 전도층을 포함할 수 있으며, 예컨대 오믹 접촉층(153), 반사층(155), 본딩층(157) 및 전도성 지지부재(159)를 포함한다. The second electrode 150 may include a plurality of conductive layers and may include an ohmic contact layer 153, a reflective layer 155, a bonding layer 157, and a conductive support member 159.

상기 오믹 접촉층(153)은 투과성 전도물질 또는 금속 물질로서, 예컨대 ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, ATO와 같은 저 전도성 물질이거나 Ni, Ag의 금속을 이용할 수 있다. 상기 오믹 접촉층(153) 아래에 반사층(155)이 형성되며, 상기 반사층(155)은 Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf 및 그 조합으로 구성된 그룹으로부터 선택된 물질로 이루어진 적어도 하나의 층을 포함하는 구조로 형성될 수 있다. 상기 반사층(155)은 상기 제2도전형 반도체층(137) 아래에 접촉될 수 있으며, 금속으로 오믹 접촉하거나 ITO와 같은 저 전도 물질로 오믹 접촉할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The ohmic contact layer 153 may be a low conductive material such as ITO, IZO, IZTO, IAZO, IGZO, IGTO, AZO, or ATO or a metal such as Ni or Ag. A reflective layer 155 is formed under the ohmic contact layer 153 and the reflective layer 155 is formed of Ag, Ni, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, And at least one layer made of a material selected from the group consisting of. The reflective layer 155 may be in contact with the second conductive semiconductor layer 137 and may be in ohmic contact with a metal or ohmic contact with a conductive material such as ITO.

상기 반사층(155) 아래에는 본딩층(157)이 형성되며, 상기 본딩층(157)은 베리어 금속 또는 본딩 금속으로 사용될 수 있으며, 그 물질은 예를 들어, Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag 및 Ta와 선택적인 합금 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. A bonding layer 157 is formed under the reflective layer 155 and the bonding layer 157 may be used as a barrier metal or a bonding metal. The material may be Ti, Au, Sn, Ni, Cr, Ga, In, Bi, Cu, Ag, and Ta and an optional alloy.

상기 본딩층(157) 아래에는 전도성 지지 부재(159)가 형성되며, 상기 전도성 지지 부재(159)는 금속 또는 캐리어 기판일 수 있으며, 예컨대 구리(Cu-copper), 금(Au-gold), 니켈(Ni-nickel), 몰리브덴(Mo), 구리-텅스텐(Cu-W), 캐리어 웨이퍼(예: Si, Ge, GaAs, ZnO, SiC 등)와 같은 전도성 물질로 형성될 수 있다. 상기 지지부재(159)는 다른 예로서, 전도성 시트로 구현될 수 있다.A conductive support member 159 is formed under the bonding layer 157. The conductive support member 159 may be a metal or a carrier substrate and may be formed of a metal such as copper-copper, gold- (Ni-nickel), molybdenum (Mo), copper-tungsten (Cu-W), and carrier wafers (e.g., Si, Ge, GaAs, ZnO, SiC and the like). As another example, the support member 159 may be embodied as a conductive sheet.

상기 반도체층(131)의 상면에는 러프니스와 같은 광 추출 구조로 형성될 수 있다. 상기 반도체층(131-135)의 표면에는 절연층이 형성될 수 있으며, 상기 절연층의 상면에는 러프니스와 같은 광 추출 구조가 형성될 수 있다.
The upper surface of the semiconductor layer 131 may be formed with a light extraction structure such as a roughness. An insulating layer may be formed on the surface of the semiconductor layer 131-135, and a light extraction structure such as a roughness may be formed on the insulating layer.

도 12은 상기의 발광 소자를 갖는 발광소자 패키지의 사시도를 나타내며, 도 13은 도 12의 발광소자의 측 단면도이다. FIG. 12 is a perspective view of a light emitting device package having the above-described light emitting device, and FIG. 13 is a side sectional view of the light emitting device of FIG.

도 12 및 도 13을 참조하면, 발광소자 패키지(600)는 오목부(660)를 갖는 몸체(610), 제1캐비티(625)를 갖는 제1리드 프레임(621), 제2캐비티(635)를 갖는 제2리드 프레임(631), 연결 프레임(646), 발광 소자들(671,672), 연결부재들(603 내지 606), 몰딩 부재(651), 및 페이스트 부재(681,682)를 포함한다. 실시 예의 설명의 위해, 상기 발광소자 패키지(600)는 제1방향의 길이가 3mm-12mm, 제1방향과 직교하는 제2방향의 길이가 3mm-12mm, 두께가 800㎛ 범위로 형성될 수 있으며, 내부에 복수의 발광 소자(671,672)이 배치된 구성을 일 예로 설명하기로 하며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 12 and 13, the light emitting device package 600 includes a body 610 having a concave portion 660, a first lead frame 621 having a first cavity 625, a second cavity 635, A connecting frame 646, light emitting elements 671 and 672, connecting members 603 to 606, a molding member 651 and a paste member 681 and 682 having a first lead frame 631 and a second lead frame 631. For the description of the embodiment, the light emitting device package 600 may have a length of 3 mm-12 mm in the first direction, a length of 3 mm-12 mm in the second direction orthogonal to the first direction, and a thickness of 800 m And a plurality of light emitting devices 671 and 672 are disposed inside the light emitting display device 100. However, the present invention is not limited thereto.

상기 몸체(610)는 절연성, 전속성, 또는 금속성 재질 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 몸체(610)는 폴리프탈아미드(PPA: Polyphthalamide)와 같은 수지 재질, 실리콘(Si), 금속 재질, PSG(photo sensitive glass), 사파이어(Al2O3), 인쇄회로기판(PCB) 중 적어도 하나로 형성될 수 있다. 예를 들면, 상기 몸체(610)는 폴리프탈아미드(PPA: Polyphthalamide)와 같은 수지 재질로 이루어질 수 있다. The body 610 may include at least one of an insulating material, a conductive material, and a metallic material. The body 610 may include at least one of a resin material such as polyphthalamide (PPA), a silicon (Si), a metal material, a photo sensitive glass (PSG), a sapphire (Al 2 O 3 ), a printed circuit board Can be formed. For example, the body 610 may be made of a resin material such as polyphthalamide (PPA).

다른 예로서, 상기 몸체(610)가 전도성을 갖는 재질로 형성되면, 상기 몸체(610)의 표면에는 절연막(미도시)이 더 형성되어 전도성의 몸체(610)와 다른 리드 프레임과의 전기적인 쇼트를 방지할 수 있다.As another example, when the body 610 is formed of a conductive material, an insulating film (not shown) is further formed on the surface of the body 610 to electrically short the conductive body 610 to the other lead frame Can be prevented.

상기 몸체(610)의 형상은 위에서 볼 때, 삼각형, 사각형, 다각형, 원형, 또는 곡면을 갖는 형상으로 형성될 수 있다. 상기 몸체(610)는 복수의 측면부(611~614)를 포함하며, 상기 복수의 측면부(611~614) 중 적어도 하나는 상기 몸체(610)의 하면에 대해 수직하거나 경사지게 배치될 수 있다. 상기 몸체(610)는 제1 내지 제4측면부(611~614)를 그 예로 설명하며, 제1측면부(611)와 제2측면부(612)는 서로 반대측 면이며, 상기 제3측면부(613)와 상기 제4측면부(614)는 서로 반대측 면이다. 상기 제1측면부(611) 및 제2측면부(612) 각각의 길이는 제3측면부(613) 및 제4측면부(614)의 길이와 다를 수 있으며, 예컨대 상기 제1측면부(611)와 상기 제2측면부(612)의 길이(예: 단변 길이)는 상기 제3측면부(613) 및 제4측면부(614)의 길이보다 더 짧게 형성될 수 있다. 상기 제1측면부(611) 또는 제2측면부(612)의 길이는 상기 제3측면부(613) 및 제4측면부(614) 사이의 간격일 수 있으며, 상기의 길이 방향은 제2 및 제3캐비티(625,635)의 중심을 지나는 방향일 수 있다. The shape of the body 610 may be triangular, rectangular, polygonal, circular, or curved when viewed from above. The body 610 includes a plurality of side portions 611 to 614 and at least one of the plurality of side portions 611 to 614 may be disposed perpendicular or inclined with respect to a lower surface of the body 610. The first side surface portion 611 and the second side surface portion 612 are opposite to each other and the third side surface portion 613 and the second side surface portion 612 The fourth side portions 614 are opposite to each other. The length of each of the first side surface portion 611 and the second side surface portion 612 may be different from the length of the third side surface portion 613 and the fourth side surface portion 614, The length of the side portion 612 (e.g., the short side length) may be shorter than the length of the third side portion 613 and the fourth side portion 614. [ The length of the first side surface portion 611 or the second side surface portion 612 may be a distance between the third side surface portion 613 and the fourth side surface portion 614 and the longitudinal direction may be a distance between the second and third cavities 625, 635, respectively.

상기 제1리드 프레임(621) 및 제2리드 프레임(631)은 상기 몸체(610)의 하면에 배치되어 회로기판 상에 탑재될 수 있다. 다른 예로서, 상기 제1리드 프레임(621) 및 제2리드 프레임(631)은 상기 몸체(610)의 일 측면에 배치되어 회로 기판 상에 탑재될 수 있다. 상기 제1리드 프레임(621) 및 제2리드 프레임(631)의 두께는 0.2mm±0.05 mm로 형성될 수 있다. 상기의 제1 및 제2리드 프레임(621,631)은 전원을 공급하는 리드로 기능하게 된다.The first lead frame 621 and the second lead frame 631 may be disposed on the lower surface of the body 610 and mounted on the circuit board. As another example, the first lead frame 621 and the second lead frame 631 may be disposed on one side of the body 610 and mounted on a circuit board. The thicknesses of the first lead frame 621 and the second lead frame 631 may be 0.2 mm ± 0.05 mm. The first and second lead frames 621 and 631 function as leads for supplying power.

상기 몸체(610)는 오목부(660)를 포함하며, 상기 오목부(660)는 상부가 개방되고, 측면과 바닥(616)으로 이루어진다. 상기 오목부(660)는 상기 몸체(610)의 상면(615)으로부터 오목한 컵 구조, 캐비티 구조, 또는 리세스 구조와 같은 형태로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 오목부(660)의 측면은 그 바닥(616)에 대해 수직하거나 경사질 수 있다. 상기 오목부(660)를 위에서 바라본 형상은 원형, 타원형, 다각형(예컨대, 사각형), 또는 모서리가 곡면인 다각형 형상일 수 있다. The body 610 includes a concave portion 660 and the concave portion 660 is open at an upper side and comprises a side and a bottom 616. The concave portion 660 may be formed in the form of a concave cup structure, a cavity structure, or a recess structure from the top surface 615 of the body 610, but the present invention is not limited thereto. The side surface of the concave portion 660 may be perpendicular or inclined to the bottom 616 thereof. The shape of the concave portion 660 viewed from above may be a circular shape, an elliptical shape, a polygonal shape (e.g., a rectangle), or a polygonal shape having a curved corner.

상기 제1리드 프레임(621)은 상기 오목부(660)의 제1영역 아래에 배치되며, 상기 오목부(660)의 바닥(616)에 일부가 배치되고 그 중심부에 상기 오목부(660)의 바닥(616)보다 더 낮은 깊이를 갖도록 오목한 제1캐비티(625)가 배치된다. 상기 제1캐비티(625)는 상기 오목부(660)의 바닥(616)으로부터 상기 몸체(610)의 하면 방향으로 오목한 형상, 예컨대, 컵(Cup) 구조 또는 리세스(recess) 형상을 포함한다. The first lead frame 621 is disposed below the first region of the concave portion 660 and partially disposed on the bottom 616 of the concave portion 660, A concave first cavity 625 is disposed to have a lower depth than the bottom 616. The first cavity 625 may have a concave shape such as a cup shape or a recess shape from the bottom 616 of the concave portion 660 in the bottom direction of the body 610.

상기 제1캐비티(625)의 측면 및 바닥(622)은 상기 제1리드 프레임(621)에 의해 형성되며, 상기 제1캐비티(625)의 둘레 측면은 상기 제1캐비티(625)의 바닥(622)으로부터 경사지거나 수직하게 절곡될 수 있다. 상기 제1캐비티(625)의 측면 중에서 대향되는 두 측면은 동일한 각도로 경사지거나 서로 다른 각도로 경사질 수 있다. The side surface and the bottom 622 of the first cavity 625 are formed by the first lead frame 621 and the peripheral side surface of the first cavity 625 is formed by the bottom 622 of the first cavity 625 Or may be bent vertically. The opposite sides of the first cavity 625 may be inclined at the same angle or may be inclined at different angles.

상기 제2리드 프레임(631)은 상기 오목부(660)의 제1영역과 이격되는 제2영역에 배치되며, 상기 오목부(660)의 바닥(616)에 일부가 배치되고, 그 중심부에는 상기 오목부(660)의 바닥(616)보다 더 낮은 깊이를 갖도록 오목한 제2캐비티(635)가 형성된다. 상기 제2캐비티(635)는 상기 제2리드 프레임(631)의 상면으로부터 상기 몸체(610)의 하면 방향으로 오목한 형상, 예컨대, 컵(Cup) 구조 또는 리세스(recess) 형상을 포함한다. 상기 제2캐비티(635)의 바닥(632) 및 측면은 상기 제2리드 프레임(631)에 의해 형성되며, 상기 제2캐비티(635)의 측면은 상기 제2캐비티(635)의 바닥(632)으로부터 경사지거나 수직하게 절곡될 수 있다. 상기 제2캐비티(635)의 측면 중에서 대향되는 두 측면은 동일한 각도로 경사지거나 서로 다른 각도로 경사질 수 있다. The second lead frame 631 is disposed in a second region spaced apart from the first region of the concave portion 660 and partially disposed on the bottom 616 of the concave portion 660, A concave second cavity 635 is formed to have a lower depth than the bottom 616 of the concave portion 660. The second cavity 635 may have a concave shape such as a cup shape or a recess shape from the upper surface of the second lead frame 631 in the bottom direction of the body 610. The bottom surface 632 and the side surface of the second cavity 635 are formed by the second lead frame 631 and the side surface of the second cavity 635 is formed by the bottom surface 632 of the second cavity 635. [ Or may be bent vertically. Two opposite sides of the side surface of the second cavity 635 may be inclined at the same angle or may be inclined at different angles.

상기 제1캐비티(625)와 상기 제2캐비티(635)는 위에서 볼 때, 동일한 형상이거나, 서로 대칭되는 형상으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first cavity 625 and the second cavity 635 may have the same shape as viewed from above, or may be formed symmetrically with respect to each other, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1리드 프레임(621) 및 상기 제2리드 프레임(631)의 중심부 각각은 상기 몸체(610)의 하부로 노출되며, 상기 몸체(610)의 하면과 동일 평면 또는 다른 평면 상에 배치될 수 있다. Each of the center portions of the first lead frame 621 and the second lead frame 631 is exposed to the lower portion of the body 610 and may be disposed on the same plane as the lower surface of the body 610, have.

상기 제1리드 프레임(621)은 제1리드부(623)를 포함하며, 상기 제1리드부(623)는 상기 몸체(610)의 하부에 배치되고 상기 몸체(610)의 제3측면부(613)로 돌출될 수 있다. 상기 제2리드 프레임(631)은 제2리드부(633)를 포함하며, 상기 제2리드부(633)는 상기 몸체(610)의 하부에 배치되고 상기 몸체(610)의 제3측면부(613)의 반대측 제4측면부(614)로 돌출될 수 있다. The first lead frame 621 includes a first lead portion 623 and the first lead portion 623 is disposed at a lower portion of the body 610 and has a third side portion 613 . The second lead frame 631 includes a second lead portion 633 and the second lead portion 633 is disposed at a lower portion of the body 610 and includes a third side portion 613 To the fourth side surface portion 614 opposite to the first side surface portion 614.

상기 제1리드 프레임(621), 제2리드 프레임(631) 및 연결 프레임(646)은 금속 재질, 예를 들어, 티타늄(Ti), 구리(Cu), 니켈(Ni), 금(Au), 크롬(Cr), 탄탈늄(Ta), 백금(Pt), 주석(Sn), 은(Ag), 인(P) 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다. 상기 제1, 제2리드 프레임(621,631)의 두께는 동일한 두께로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first lead frame 621, the second lead frame 631 and the connection frame 646 may be made of a metal material such as titanium (Ti), copper (Cu), nickel (Ni), gold (Au) And may include at least one of chromium (Cr), tantalum (Ta), platinum (Pt), tin (Sn), silver (Ag), and phosphorous (P). The first and second lead frames 621 and 631 may have the same thickness, but the present invention is not limited thereto.

상기 제1캐비티(625) 및 상기 제2캐비티(635)의 바닥 형상은 직사각형, 정 사각형 또는 곡면을 갖는 원 또는 타원 형상일 수 있다.The bottom shapes of the first cavity 625 and the second cavity 635 may be circular or elliptical shapes having a rectangular shape, a square shape, or a curved shape.

상기 오목부(660)의 바닥(616)에는 연결 프레임(646)이 배치되며, 상기 연결 프레임(646)은 상기 제1리드 프레임(621)과 제2리드 프레임(631) 사이에 배치되어, 중간 연결 단자로 사용된다. 상기의 연결 프레임(646)은 제거될 수 있으며, 상기 연결 프레임(646)이 제거되면 상기 제1 및 제2발광 소자(671,672)은 제1리드 프레임(621)과 제2리드 프레임(631)에 전기적으로 연결될 수 있다. A connection frame 646 is disposed on the bottom 616 of the concave portion 660 and the connection frame 646 is disposed between the first lead frame 621 and the second lead frame 631, It is used as a connection terminal. The connection frame 646 may be removed and the first and second light emitting devices 671 and 672 may be connected to the first lead frame 621 and the second lead frame 631 And can be electrically connected.

상기 제1리드 프레임(621)의 제1캐비티(625) 내에는 제1발광 소자(671)이 배치되며, 상기 제2리드 프레임(631)의 제2캐비티(635) 내에는 제2발광 소자(672)이 배치될 수 있다. A first light emitting device 671 is disposed in the first cavity 625 of the first lead frame 621 and a second light emitting device 671 is disposed in the second cavity 635 of the second lead frame 631 672 may be disposed.

상기 제1 및 제2발광 소자(671,672)은 가시광선 대역부터 자외선 대역의 범위 중에서 선택적으로 발광할 수 있으며, 예컨대 레드 LED 칩, 블루 LED 칩, 그린 LED 칩, 엘로우 그린(yellow green) LED 칩 중에서 선택될 수 있다. 상기 제1 및 제2발광 소자(671,672)은 II족-VI족 원소 또는 III족-V족 원소의 화합물 반도체 발광소자를 포함한다.The first and second light emitting devices 671 and 672 can selectively emit light in a visible light band to an ultraviolet light band. For example, a red LED chip, a blue LED chip, a green LED chip, a yellow green LED chip, Can be selected. The first and second light emitting devices 671 and 672 include compound semiconductor light emitting devices of group II-VII elements or group III-V elements.

상기 제1발광 소자(671)는 연결부재(603,604)로 상기 제1연결 프레임(621)과 상기 연결 프레임(646)와 연결된다. 상기 제2발광 소자(672)는 연결부재(605,606)로 상기 제2연결 프레임(631)과 상기 연결 프레임(646)와 연결된다. 상기의 연결부재(603-606)은 와이어로 구현될 수 있다. The first light emitting device 671 is connected to the first connection frame 621 and the connection frame 646 by connecting members 603 and 604. The second light emitting device 672 is connected to the second connection frame 631 and the connection frame 646 by connecting members 605 and 606. The connecting members 603-606 may be realized by a wire.

보호 소자는 상기 제1리드 프레임(621) 또는 상기 제2리드 프레임(631)의 일부 상에 배치될 수 있다. 상기 보호 소자는 싸이리스터, 제너 다이오드, 또는 TVS(Transient voltage suppression)로 구현될 수 있으며, 상기 제너 다이오드는 상기 발광 소자를 ESD(electro static discharge)로 부터 보호하게 된다. 상기 보호 소자는 제1발광 소자(671) 및 제2발광 소자(672)의 연결 회로에 병렬로 연결됨으로써, 상기 발광 소자들(671,672)을 보호할 수 있다.The protection element may be disposed on a part of the first lead frame 621 or the second lead frame 631. The protection device may be implemented with a thyristor, a zener diode, or a TVS (Transient Voltage Suppression), and the zener diode protects the light emitting device from electrostatic discharge (ESD). The protection element may be connected in parallel to the connection circuit of the first light emitting element 671 and the second light emitting element 672 to protect the light emitting elements 671 and 672.

상기 오목부(660), 제1캐비티(625) 및 상기 제2캐비티(635)에는 몰딩 부재(651)가 형성될 수 있다. 상기 몰딩 부재(651)는 실리콘 또는 에폭시와 같은 투광성 수지 재질을 포함하며, 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다. Molding members 651 may be formed in the concave portion 660, the first cavity 625, and the second cavity 635. The molding member 651 includes a light transmitting resin material such as silicone or epoxy, and may be formed as a single layer or a multi-layer.

제1페이스트 부재(681)는 상기 제1발광 소자(671)과 상기 제1캐비티(625)의 바닥(622) 사이를 배치되어, 서로를 접착시켜 주고 전기적으로 연결시켜 준다. 제2페이스트 부재(682)는 상기 제2발광 소자(672)과 상기 제2캐비티(635)의 바닥(632) 사이를 배치되어, 서로를 접착시켜 주고 전기적으로 연결시켜 준다. The first paste member 681 is disposed between the first light emitting device 671 and the bottom 622 of the first cavity 625 to bond and electrically connect the first light emitting device 671 and the first light emitting device 671. The second paste member 682 is disposed between the second light emitting device 672 and the bottom 632 of the second cavity 635 to bond and electrically connect the second paste member 682 to each other.

상기 제1 및 제2페이스트 부재(681,682)는 절연성 접착제를 포함하며, 예컨대 에폭시를 포함한다. 또한 상기의 에폭시에 필러를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The first and second paste members 681 and 682 include an insulating adhesive, and include, for example, epoxy. In addition, the epoxy may include a filler, but the present invention is not limited thereto.

상기 몰딩 부재(651)는 상기 발광 소자(671,672) 상으로 방출되는 빛의 파장을 변환하기 위한 형광체를 포함할 수 있으며, 상기 형광체는 상기 제1캐비티(625) 및 상기 제2캐비티(635) 중 하나 또는 모든 영역에 형성된 몰딩 부재(651)에 첨가될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 형광체는 발광 소자(671,672)에서 방출되는 빛의 일부를 여기시켜 다른 파장의 빛으로 방출하게 된다. 상기 형광체는 YAG, TAG, Silicate, Nitride, Oxy-nitride 계 물질 중에서 선택적으로 형성될 수 있다. 상기 형광체는 적색 형광체, 황색 형광체, 녹색 형광체 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 몰딩 부재(651)의 표면은 플랫한 형상, 오목한 형상, 볼록한 형상 등으로 형성될 수 있으며, 예를 들면 상기 몰딩 부재(651)의 표면은 오목한 곡면으로 형성될 수 있으며, 상기 오목한 곡면은 광 출사면이 될 수 있다. The molding member 651 may include a phosphor for converting the wavelength of light emitted onto the light emitting devices 671 and 672. The phosphor may include one of the first cavity 625 and the second cavity 635 May be added to the molding member 651 formed in one or all of the regions, but the present invention is not limited thereto. The phosphor excites a part of the light emitted from the light emitting elements 671 and 672 to emit light of a different wavelength. The phosphor may be selectively formed from YAG, TAG, Silicate, Nitride, and Oxy-nitride based materials. The phosphor may include at least one of a red phosphor, a yellow phosphor, and a green phosphor, but the present invention is not limited thereto. The surface of the molding member 651 may be formed in a flat shape, a concave shape, a convex shape, or the like. For example, the surface of the molding member 651 may be formed as a concave curved surface, It can be an exit plane.

상기 오목부(660)의 둘레는 상기 오목부(660)의 바닥(616)에 대해 경사지게 형성될 수 있다. 상기 오목부(660)의 둘레는 스텝 구조로 형성되어, 몰딩 부재(651)가 넘치는 것을 방지할 수 있다.The circumference of the concave portion 660 may be formed to be inclined with respect to the bottom 616 of the concave portion 660. The periphery of the concave portion 660 is formed in a stepped structure, so that the molding member 651 can be prevented from overflowing.

상기 몰딩 부재(651)의 상면은 오목하거나, 볼록하거나, 플랫한 면으로 형성될 수 있다. 또한 상기 몰딩 부재(651)의 상면은 러프한 요철 면으로 형성될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The upper surface of the molding member 651 may be formed as a concave, convex or flat surface. Further, the upper surface of the molding member 651 may be formed as a rough uneven surface, but the present invention is not limited thereto.

상기의 발광 소자(600) 상에는 형광 시트가 배치되거나, 상기 각 발광 소자(671,672) 상에 형광체층이 접착되도록 도포될 수 있다. 이는 도 1의 발광 소자의 동공이 없어지는 것을 차단하기 위한 예이다.A fluorescent sheet may be disposed on the light emitting device 600 or may be coated on the light emitting devices 671 and 672 so as to bond the phosphor layers. This is an example for preventing the pupil of the light emitting device of Fig. 1 from disappearing.

실시 예의 패키지는 탑뷰 형태로 도시하고 설명하였으나, 사이드 뷰 방식으로 구현하여 상기와 같은 방열 특성, 전도성 및 반사 특성의 개선 효과가 있으며, 이러한 탑뷰 또는 사이드 뷰 방식의 발광 소자는 상기와 같이 수지층으로 패키징한 후, 렌즈를 상기 수지층 위에 형성하거나, 접착할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.
Although the package of the embodiment has been shown and described in the form of a top view, it has the effect of improving the heat dissipation characteristics, conductivity, and reflection characteristics as described above by implementing it in a side view manner. The light emitting device of the top view type or the side view type, After packaging, a lens may be formed on or adhered to the resin layer, but the present invention is not limited thereto.

<조명 시스템><Lighting system>

실시예에 따른 발광 소자 또는 발광 소자 패키지는 라이트 유닛에 적용될 수 있다. 상기 라이트 유닛은 복수의 발광 소자 또는 발광 소자 패키지가 어레이된 구조를 포함하며, 도 14 및 도 15에 도시된 표시 장치, 도 16에 도시된 조명 장치를 포함하고, 조명등, 신호등, 차량 전조등, 전광판 등이 포함될 수 있다.The light emitting device or the light emitting device package according to the embodiment can be applied to a light unit. The light unit includes a structure in which a plurality of light emitting devices or light emitting device packages are arrayed, and includes the display device shown in Figs. 14 and 15 and the illuminating device shown in Fig. 16, and includes a lighting lamp, a traffic light, a vehicle headlight, And the like.

도 14는 실시 예에 따른 표시 장치의 분해 사시도이다. 14 is an exploded perspective view of the display device according to the embodiment.

도 14를 참조하면, 실시예에 따른 표시 장치(1000)는 도광판(1041)과, 상기 도광판(1041)에 빛을 제공하는 발광 모듈(1031)와, 상기 도광판(1041) 아래에 반사 부재(1022)와, 상기 도광판(1041) 위에 광학 시트(1051)와, 상기 광학 시트(1051) 위에 표시 패널(1061)과, 상기 도광판(1041), 발광 모듈(1031) 및 반사 부재(1022)를 수납하는 바텀 커버(1011)를 포함할 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.14, a display device 1000 according to an embodiment includes a light guide plate 1041, a light emitting module 1031 for providing light to the light guide plate 1041, and a reflection member 1022 An optical sheet 1051 on the light guide plate 1041, a display panel 1061 on the optical sheet 1051, the light guide plate 1041, a light emitting module 1031, and a reflection member 1022 But is not limited to, a bottom cover 1011.

상기 바텀 커버(1011), 반사시트(1022), 도광판(1041), 광학 시트(1051)는 라이트 유닛(1050)으로 정의될 수 있다.The bottom cover 1011, the reflective sheet 1022, the light guide plate 1041, and the optical sheet 1051 can be defined as a light unit 1050.

상기 도광판(1041)은 빛을 확산시켜 면광원화 시키는 역할을 한다. 상기 도광판(1041)은 투명한 재질로 이루어지며, 예를 들어, PMMA(polymethyl methaacrylate)와 같은 아크릴 수지 계열, PET(polyethylene terephthalate), PC(poly carbonate), COC(cycloolefin copolymer) 및 PEN(polyethylene naphthalate) 수지 중 하나를 포함할 수 있다. The light guide plate 1041 serves to diffuse light into a surface light source. The light guide plate 1041 may be made of a transparent material such as acrylic resin such as PMMA (polymethyl methacrylate), polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), cycloolefin copolymer (COC), and polyethylene naphthalate Resin. &Lt; / RTI &gt;

상기 발광모듈(1031)은 상기 도광판(1041)의 적어도 일 측면에 빛을 제공하며, 궁극적으로는 표시 장치의 광원으로써 작용하게 된다.The light emitting module 1031 provides light to at least one side of the light guide plate 1041, and ultimately acts as a light source of the display device.

상기 발광모듈(1031)은 적어도 하나를 포함하며, 상기 도광판(1041)의 일 측면에서 직접 또는 간접적으로 광을 제공할 수 있다. 상기 발광 모듈(1031)은 기판(1033)과 상기에 개시된 실시 예에 따른 발광 소자 패키지(30)를 포함하며, 상기 발광 소자 패키지(1035)는 상기 기판(1033) 상에 소정 간격으로 어레이될 수 있다. The light emitting module 1031 may include at least one light source, and may provide light directly or indirectly from one side of the light guide plate 1041. The light emitting module 1031 includes a substrate 1033 and a light emitting device package 30 according to the embodiment described above and the light emitting device package 1035 may be arrayed on the substrate 1033 at a predetermined interval have.

상기 기판(1033)은 회로패턴(미도시)을 포함하는 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board)일 수 있다. 다만, 상기 기판(1033)은 일반 PCB 뿐 아니라, 메탈 코어 PCB(MCPCB, Metal Core PCB), 연성 PCB(FPCB, Flexible PCB) 등을 포함할 수도 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 발광 소자 패키지(1035)는 상기 바텀 커버(1011)의 측면 또는 방열 플레이트 상에 탑재될 경우, 상기 기판(1033)은 제거될 수 있다. 여기서, 상기 방열 플레이트의 일부는 상기 바텀 커버(1011)의 상면에 접촉될 수 있다.The substrate 1033 may be a printed circuit board (PCB) including a circuit pattern (not shown). However, the substrate 1033 may include not only a general PCB, but also a metal core PCB (MCPCB), a flexible PCB (FPCB), and the like. When the light emitting device package 1035 is mounted on the side surface of the bottom cover 1011 or on the heat radiation plate, the substrate 1033 may be removed. Here, a part of the heat radiating plate may be in contact with the upper surface of the bottom cover 1011.

그리고, 상기 복수의 발광 소자 패키지(1035)는 상기 기판(1033) 상에 빛이 방출되는 출사면이 상기 도광판(1041)과 소정 거리 이격되도록 탑재될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 발광 소자 패키지(1035)는 상기 도광판(1041)의 일측면인 입광부에 광을 직접 또는 간접적으로 제공할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기의 도광판(1041)은 반사 광량이 클 경우 제거될 수 있다.The plurality of light emitting device packages 1035 may be mounted on the substrate 1033 such that the light emitting surface of the light emitting device package 1035 is spaced apart from the light guiding plate 1041 by a predetermined distance. The light emitting device package 1035 may directly or indirectly provide light to the light-incident portion on one side of the light guide plate 1041, but the present invention is not limited thereto. The light guide plate 1041 can be removed when the amount of reflected light is large.

상기 도광판(1041) 아래에는 상기 반사 부재(1022)가 배치될 수 있다. 상기 반사 부재(1022)는 상기 도광판(1041)의 하면으로 입사된 빛을 반사시켜 위로 향하게 함으로써, 상기 라이트 유닛(1050)의 휘도를 향상시킬 수 있다. 상기 반사 부재(1022)는 예를 들어, PET, PC, PVC 레진 등으로 형성될 수 있으나, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 반사 부재(1022)는 상기 바텀 커버(1011)의 상면일 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The reflective member 1022 may be disposed under the light guide plate 1041. The reflection member 1022 reflects the light incident on the lower surface of the light guide plate 1041 so as to face upward, thereby improving the brightness of the light unit 1050. The reflective member 1022 may be formed of, for example, PET, PC, or PVC resin, but is not limited thereto. The reflective member 1022 may be an upper surface of the bottom cover 1011, but is not limited thereto.

상기 바텀 커버(1011)는 상기 도광판(1041), 발광모듈(1031) 및 반사 부재(1022) 등을 수납할 수 있다. 이를 위해, 상기 바텀 커버(1011)는 상면이 개구된 박스(box) 형상을 갖는 수납부(1012)가 구비될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다. 상기 바텀 커버(1011)는 탑 커버와 결합될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom cover 1011 may house the light guide plate 1041, the light emitting module 1031, the reflective member 1022, and the like. To this end, the bottom cover 1011 may be provided with a housing portion 1012 having a box-like shape with an opened upper surface, but the present invention is not limited thereto. The bottom cover 1011 may be coupled to the top cover, but is not limited thereto.

상기 바텀 커버(1011)는 금속 재질 또는 수지 재질로 형성될 수 있으며, 프레스 성형 또는 압출 성형 등의 공정을 이용하여 제조될 수 있다. 또한 상기 바텀 커버(1011)는 열 전도성이 좋은 금속 또는 비 금속 재료를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom cover 1011 may be formed of a metal material or a resin material, and may be manufactured using a process such as press molding or extrusion molding. In addition, the bottom cover 1011 may include a metal or a non-metal material having good thermal conductivity, but the present invention is not limited thereto.

상기 표시 패널(1061)은 예컨대, LCD 패널로서, 서로 대향되는 투명한 재질의 제 1 및 제 2기판, 그리고 제 1 및 제 2기판 사이에 개재된 액정층을 포함한다. 상기 표시 패널(1061)의 적어도 일면에는 편광판이 부착될 수 있으며, 이러한 편광판의 부착 구조로 한정하지는 않는다. 상기 표시 패널(1061)은 광학 시트(1051)를 통과한 광에 의해 정보를 표시하게 된다. 이러한 표시 장치(1000)는 각 종 휴대 단말기, 노트북 컴퓨터의 모니터, 랩탑 컴퓨터의 모니터, 텔레비젼 등에 적용될 수 있다. The display panel 1061 is, for example, an LCD panel, including first and second transparent substrates facing each other, and a liquid crystal layer interposed between the first and second substrates. A polarizing plate may be attached to at least one surface of the display panel 1061, but the present invention is not limited thereto. The display panel 1061 displays information by light passing through the optical sheet 1051. Such a display device 1000 can be applied to various types of portable terminals, monitors of notebook computers, monitors of laptop computers, televisions, and the like.

상기 광학 시트(1051)는 상기 표시 패널(1061)과 상기 도광판(1041) 사이에 배치되며, 적어도 한 장의 투광성 시트를 포함한다. 상기 광학 시트(1051)는 예컨대 확산 시트, 수평 및 수직 프리즘 시트, 및 휘도 강화 시트 등과 같은 시트 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 확산 시트는 입사되는 광을 확산시켜 주고, 상기 수평 또는/및 수직 프리즘 시트는 입사되는 광을 표시 영역으로 집광시켜 주며, 상기 휘도 강화 시트는 손실되는 광을 재사용하여 휘도를 향상시켜 준다. 또한 상기 표시 패널(1061) 위에는 보호 시트가 배치될 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The optical sheet 1051 is disposed between the display panel 1061 and the light guide plate 1041 and includes at least one light-transmitting sheet. The optical sheet 1051 may include at least one of a sheet such as a diffusion sheet, a horizontal and vertical prism sheet, and a brightness enhancement sheet. The diffusion sheet diffuses incident light, and the horizontal and / or vertical prism sheet condenses incident light into a display area. The brightness enhancing sheet improves the brightness by reusing the lost light. A protective sheet may be disposed on the display panel 1061, but the present invention is not limited thereto.

여기서, 상기 발광 모듈(1031)의 광 경로 상에는 광학 부재로서, 상기 도광판(1041), 및 광학 시트(1051)를 포함할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.Here, the optical path of the light emitting module 1031 may include the light guide plate 1041 and the optical sheet 1051 as an optical member, but the present invention is not limited thereto.

도 15는 실시 예에 따른 표시 장치를 나타낸 도면이다. 15 is a view showing a display device according to the embodiment.

도 15를 참조하면, 표시 장치(1100)는 바텀 커버(1152), 상기에 개시된 발광 소자 패키지(1124)가 어레이된 기판(1120), 광학 부재(1154), 및 표시 패널(1155)을 포함한다. 15, the display device 1100 includes a bottom cover 1152, a substrate 1120 on which the above-described light emitting device package 1124 is arrayed, an optical member 1154, and a display panel 1155 .

상기 기판(1120)과 상기 발광 소자 패키지(1124)는 발광 모듈(1060)로 정의될 수 있다. 상기 바텀 커버(1152), 적어도 하나의 발광 모듈(1060), 광학 부재(1154)는 라이트 유닛(1150)으로 정의될 수 있다. The substrate 1120 and the light emitting device package 1124 may be defined as a light emitting module 1060. The bottom cover 1152, at least one light emitting module 1060, and the optical member 1154 may be defined as a light unit 1150.

상기 바텀 커버(1152)에는 수납부(1153)를 구비할 수 있으며, 이에 대해 한정하지는 않는다.The bottom cover 1152 may include a receiving portion 1153, but the present invention is not limited thereto.

여기서, 상기 광학 부재(1154)는 렌즈, 도광판, 확산 시트, 수평 및 수직 프리즘 시트, 및 휘도 강화 시트 등에서 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 도광판은 PC 재질 또는 PMMA(Poly methy methacrylate) 재질로 이루어질 수 있으며, 이러한 도광판은 제거될 수 있다. 상기 확산 시트는 입사되는 광을 확산시켜 주고, 상기 수평 및 수직 프리즘 시트는 입사되는 광을 표시 영역으로 집광시켜 주며, 상기 휘도 강화 시트는 손실되는 광을 재사용하여 휘도를 향상시켜 준다. Here, the optical member 1154 may include at least one of a lens, a light guide plate, a diffusion sheet, a horizontal and vertical prism sheet, and a brightness enhancement sheet. The light guide plate may be made of a PC material or a PMMA (poly methy methacrylate) material, and such a light guide plate may be removed. The diffusion sheet diffuses incident light, and the horizontal and vertical prism sheets condense incident light into a display area. The brightness enhancing sheet enhances brightness by reusing the lost light.

상기 광학 부재(1154)는 상기 발광 모듈(1060) 위에 배치되며, 상기 발광 모듈(1060)로부터 방출된 광을 면 광원하거나, 확산, 집광 등을 수행하게 된다.
The optical member 1154 is disposed on the light emitting module 1060, and performs surface light source, diffusion, and light condensation of the light emitted from the light emitting module 1060.

도 16은 실시 예에 따른 발광소자를 갖는 조명장치의 분해 사시도이다.16 is an exploded perspective view of a lighting apparatus having a light emitting element according to an embodiment.

도 16을 참조하면, 실시 예에 따른 조명 장치는 커버(2100), 광원 모듈(2200), 방열체(2400), 전원 제공부(2600), 내부 케이스(2700), 소켓(2800)을 포함할 수 있다. 또한, 실시 예에 따른 조명 장치는 부재(2300)와 홀더(2500) 중 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)은 실시 예에 따른 발광소자를 포함할 수 있다.16, the lighting apparatus according to the embodiment includes a cover 2100, a light source module 2200, a heat discharger 2400, a power supply unit 2600, an inner case 2700, and a socket 2800 . Further, the illumination device according to the embodiment may further include at least one of the member 2300 and the holder 2500. The light source module 2200 may include a light emitting device according to an embodiment of the present invention.

예컨대, 상기 커버(2100)는 벌브(bulb) 또는 반구의 형상을 가지며, 속이 비어 있고, 일 부분이 개구된 형상으로 제공될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)과 광학적으로 결합될 수 있다. 예를 들어, 상기 커버(2100)는 상기 광원 모듈(2200)로부터 제공되는 빛을 확산, 산란 또는 여기 시킬 수 있다. 상기 커버(2100)는 일종의 광학 부재일 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합될 수 있다. 상기 커버(2100)는 상기 방열체(2400)와 결합하는 결합부를 가질 수 있다.For example, the cover 2100 may have a shape of a bulb or a hemisphere, and may be provided in a shape in which the hollow is hollow and a part is opened. The cover 2100 may be optically coupled to the light source module 2200. For example, the cover 2100 may diffuse, scatter, or excite light provided from the light source module 2200. The cover 2100 may be a kind of optical member. The cover 2100 may be coupled to the heat discharging body 2400. The cover 2100 may have an engaging portion that engages with the heat discharging body 2400.

상기 커버(2100)의 내면에는 유백색 도료가 코팅될 수 있다. 유백색의 도료는 빛을 확산시키는 확산재를 포함할 수 있다. 상기 커버(2100)의 내면의 표면 거칠기는 상기 커버(2100)의 외면의 표면 거칠기보다 크게 형성될 수 있다. 이는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 빛이 충분히 산란 및 확산되어 외부로 방출시키기 위함이다. The inner surface of the cover 2100 may be coated with a milky white paint. Milky white paints may contain a diffusing agent to diffuse light. The surface roughness of the inner surface of the cover 2100 may be larger than the surface roughness of the outer surface of the cover 2100. This is for sufficiently diffusing and diffusing the light from the light source module 2200 and emitting it to the outside.

상기 커버(2100)의 재질은 유리(glass), 플라스틱, 폴리프로필렌(PP), 폴리에틸렌(PE), 폴리카보네이트(PC) 등일 수 있다. 여기서, 폴리카보네이트는 내광성, 내열성, 강도가 뛰어나다. 상기 커버(2100)는 외부에서 상기 광원 모듈(2200)이 보이도록 투명할 수 있고, 불투명할 수 있다. 상기 커버(2100)는 블로우(blow) 성형을 통해 형성될 수 있다.The cover 2100 may be made of glass, plastic, polypropylene (PP), polyethylene (PE), polycarbonate (PC), or the like. Here, polycarbonate is excellent in light resistance, heat resistance and strength. The cover 2100 may be transparent so that the light source module 2200 is visible from the outside, and may be opaque. The cover 2100 may be formed by blow molding.

상기 광원 모듈(2200)은 상기 방열체(2400)의 일 면에 배치될 수 있다. 따라서, 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열은 상기 방열체(2400)로 전도된다. 상기 광원 모듈(2200)은 광원부(2210), 연결 플레이트(2230), 커넥터(2250)를 포함할 수 있다.The light source module 2200 may be disposed on one side of the heat discharging body 2400. Accordingly, heat from the light source module 2200 is conducted to the heat discharger 2400. The light source module 2200 may include a light source unit 2210, a connection plate 2230, and a connector 2250.

상기 부재(2300)는 상기 방열체(2400)의 상면 위에 배치되고, 복수의 광원부(2210)들과 커넥터(2250)이 삽입되는 가이드홈(2310)들을 갖는다. 상기 가이드홈(2310)은 상기 광원부(2210)의 기판 및 커넥터(2250)와 대응된다.The member 2300 is disposed on the upper surface of the heat discharging body 2400 and has guide grooves 2310 through which the plurality of light source portions 2210 and the connector 2250 are inserted. The guide groove 2310 corresponds to the substrate of the light source unit 2210 and the connector 2250.

상기 부재(2300)의 표면은 빛 반사 물질로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 예를 들면, 상기 부재(2300)의 표면은 백색의 도료로 도포 또는 코팅된 것일 수 있다. 이러한 상기 부재(2300)는 상기 커버(2100)의 내면에 반사되어 상기 광원 모듈(2200)측 방향으로 되돌아오는 빛을 다시 상기 커버(2100) 방향으로 반사한다. 따라서, 실시 예에 따른 조명 장치의 광 효율을 향상시킬 수 있다.The surface of the member 2300 may be coated or coated with a light reflecting material. For example, the surface of the member 2300 may be coated or coated with a white paint. The member 2300 reflects the light reflected by the inner surface of the cover 2100 toward the cover 2100 in the direction toward the light source module 2200. Therefore, the light efficiency of the illumination device according to the embodiment can be improved.

상기 부재(2300)는 예로서 절연 물질로 이루어질 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)의 연결 플레이트(2230)는 전기 전도성의 물질을 포함할 수 있다. 따라서, 상기 방열체(2400)와 상기 연결 플레이트(2230) 사이에 전기적인 접촉이 이루어질 수 있다. 상기 부재(2300)는 절연 물질로 구성되어 상기 연결 플레이트(2230)와 상기 방열체(2400)의 전기적 단락을 차단할 수 있다. 상기 방열체(2400)는 상기 광원 모듈(2200)로부터의 열과 상기 전원 제공부(2600)로부터의 열을 전달받아 방열한다.The member 2300 may be made of an insulating material, for example. The connection plate 2230 of the light source module 2200 may include an electrically conductive material. Therefore, electrical contact can be made between the heat discharging body 2400 and the connecting plate 2230. The member 2300 may be formed of an insulating material to prevent an electrical short circuit between the connection plate 2230 and the heat discharging body 2400. The heat discharger 2400 receives heat from the light source module 2200 and heat from the power supply unit 2600 to dissipate heat.

상기 홀더(2500)는 내부 케이스(2700)의 절연부(2710)의 수납홈(2719)을 막는다. 따라서, 상기 내부 케이스(2700)의 상기 절연부(2710)에 수납되는 상기 전원 제공부(2600)는 밀폐된다. 상기 홀더(2500)는 가이드 돌출부(2510)를 갖는다. 상기 가이드 돌출부(2510)는 상기 전원 제공부(2600)의 돌출부(2610)가 관통하는 홀을 구비할 수 있다.The holder 2500 blocks the receiving groove 2719 of the insulating portion 2710 of the inner case 2700. Therefore, the power supply unit 2600 housed in the insulating portion 2710 of the inner case 2700 is sealed. The holder 2500 has a guide protrusion 2510. The guide protrusion 2510 may have a hole through which the protrusion 2610 of the power supply unit 2600 passes.

상기 전원 제공부(2600)는 외부로부터 제공받은 전기적 신호를 처리 또는 변환하여 상기 광원 모듈(2200)로 제공한다. 상기 전원 제공부(2600)는 상기 내부 케이스(2700)의 수납홈(2719)에 수납되고, 상기 홀더(2500)에 의해 상기 내부 케이스(2700)의 내부에 밀폐된다.The power supply unit 2600 processes or converts an electrical signal provided from the outside and provides the electrical signal to the light source module 2200. The power supply unit 2600 is housed in the receiving groove 2719 of the inner case 2700 and is sealed inside the inner case 2700 by the holder 2500.

상기 전원 제공부(2600)는 돌출부(2610), 가이드부(2630), 베이스(2650), 연장부(2670)를 포함할 수 있다.The power supply unit 2600 may include a protrusion 2610, a guide 2630, a base 2650, and an extension 2670.

상기 가이드부(2630)는 상기 베이스(2650)의 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 가이드부(2630)는 상기 홀더(2500)에 삽입될 수 있다. 상기 베이스(2650)의 일 면 위에 다수의 부품이 배치될 수 있다. 다수의 부품은 예를 들어, 외부 전원으로부터 제공되는 교류 전원을 직류 전원으로 변환하는 직류변환장치, 상기 광원 모듈(2200)의 구동을 제어하는 구동칩, 상기 광원 모듈(2200)을 보호하기 위한 ESD(ElectroStatic discharge) 보호 소자 등을 포함할 수 있으나 이에 대해 한정하지는 않는다.The guide portion 2630 has a shape protruding outward from one side of the base 2650. The guide portion 2630 may be inserted into the holder 2500. A plurality of components may be disposed on one side of the base 2650. The plurality of components include, for example, a DC converter for converting AC power supplied from an external power source into DC power, a driving chip for controlling driving of the light source module 2200, an ESD (ElectroStatic discharge) protective device, and the like, but the present invention is not limited thereto.

상기 연장부(2670)는 상기 베이스(2650)의 다른 일 측에서 외부로 돌출된 형상을 갖는다. 상기 연장부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750) 내부에 삽입되고, 외부로부터의 전기적 신호를 제공받는다. 예컨대, 상기 연장부(2670)는 상기 내부 케이스(2700)의 연결부(2750)의 폭과 같거나 작게 제공될 수 있다. 상기 연장부(2670)에는 "+ 전선"과 "- 전선"의 각 일 단이 전기적으로 연결되고, "+ 전선"과 "- 전선"의 다른 일 단은 소켓(2800)에 전기적으로 연결될 수 있다.The extension portion 2670 has a shape protruding outward from the other side of the base 2650. The extension portion 2670 is inserted into the connection portion 2750 of the inner case 2700 and receives an external electrical signal. For example, the extension portion 2670 may be provided to be equal to or smaller than the width of the connection portion 2750 of the inner case 2700. One end of each of the positive wire and the negative wire is electrically connected to the extension portion 2670 and the other end of the positive wire and the negative wire are electrically connected to the socket 2800 .

상기 내부 케이스(2700)는 내부에 상기 전원 제공부(2600)와 함께 몰딩부를 포함할 수 있다. 몰딩부는 몰딩 액체가 굳어진 부분으로서, 상기 전원 제공부(2600)가 상기 내부 케이스(2700) 내부에 고정될 수 있도록 한다.
The inner case 2700 may include a molding part together with the power supply part 2600. The molding part is a hardened portion of the molding liquid so that the power supply unit 2600 can be fixed inside the inner case 2700.

이상에서 실시 예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시 예에 포함되며, 반드시 하나의 실시 예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시 예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시 예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시 예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
The features, structures, effects and the like described in the embodiments are included in at least one embodiment of the present invention and are not necessarily limited to one embodiment. Further, the features, structures, effects, and the like illustrated in the embodiments can be combined and modified by other persons having ordinary skill in the art to which the embodiments belong. Therefore, it should be understood that the present invention is not limited to these combinations and modifications.

13: 피트 100,101-103: 발광소자
111: 기판 113: 볼록부
121: 제1반도체층 123: 실리콘 산화물
131: 제2반도체층 133: 제1도전형 반도체층
135:활성층 137:제2도전형 반도체층
130: 발광 구조물 141:전극층
142,143: 전극
13: PIT 100, 101-103: Light emitting element
111: substrate 113: convex portion
121: first semiconductor layer 123: silicon oxide
131: second semiconductor layer 133: first conductivity type semiconductor layer
135: active layer 137: second conductivity type semiconductor layer
130: light emitting structure 141: electrode layer
142, 143:

Claims (11)

복수의 볼록부를 갖는 기판;
상기 기판 상에 제1반도체층;
상기 제1반도체층 내에 상기 각 볼록부의 상부를 노출시키는 복수의 피트;
상기 각 피트 내에 배치되며 상기 피트의 측면과 상기 볼록부에 접촉되는 금속 화합물;
상기 금속 화합물 및 상기 제1반도체층 상에 제1도전형 반도체층;
상기 제1도전형 반도체층 상에 활성층; 및
상기 활성층 상에 제2도전형 반도체층을 포함하고,
상기 기판의 하부에 복수의 돌기를 포함하며,
상기 복수의 볼록부 중 적어도 하나와 상기 금속 화합물 사이에 공극을 포함하며,
상기 제1반도체층은 상기 볼록부의 높이보다 더 두꺼운 두께를 포함하며,
상기 제1반도체층은 상면 전위 밀도가 하면 전위 밀도보다 낮은 발광 소자.
A substrate having a plurality of convex portions;
A first semiconductor layer on the substrate;
A plurality of pits exposing an upper portion of each convex portion in the first semiconductor layer;
A metal compound disposed in each of the pits and contacting the side surface of the pit and the convex portion;
A first conductive semiconductor layer on the metal compound and the first semiconductor layer;
An active layer on the first conductive semiconductor layer; And
And a second conductive semiconductor layer on the active layer,
A plurality of protrusions formed on a lower surface of the substrate,
A gap between at least one of the plurality of convex portions and the metal compound,
Wherein the first semiconductor layer includes a thickness greater than a height of the convex portion,
Wherein the first semiconductor layer has a top surface dislocation density lower than a dislocation density.
제1항에 있어서,
상기 금속 화합물은 실리콘 질화물 또는 실리콘 산화물을 포함하며,
상기 기판과 상기 제1반도체층 사이에 버퍼층을 포함하며,
상기 버퍼층의 일부는 상기 금속 화합물과 상기 볼록부 사이의 일부에 배치되는 발광 소자.
The method according to claim 1,
Wherein the metal compound comprises silicon nitride or silicon oxide,
And a buffer layer between the substrate and the first semiconductor layer,
And a part of the buffer layer is disposed in a part between the metal compound and the convex portion.
제1항에 있어서,
상기 금속 화합물의 상면은 상기 제1반도체층의 상면보다 낮게 배치되며,
상기 제1반도체층과 상기 제1도전형 반도체층 사이에 제2반도체층을 포함하며,
상기 제2반도체층의 일부는 상기 피트 내에 배치되는 발광 소자.
The method according to claim 1,
The upper surface of the metal compound is disposed lower than the upper surface of the first semiconductor layer,
And a second semiconductor layer between the first semiconductor layer and the first conductivity type semiconductor layer,
And a part of the second semiconductor layer is disposed in the pit.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제1반도체층의 상면 전위 밀도는 하면 전위 밀도보다 50%이상 감소된 발광소자.
The method according to claim 1,
Wherein a top surface dislocation density of the first semiconductor layer is reduced by 50% or more from a bottom dislocation density.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항 내지 제3항, 제7항 중 어느 한 항의 발광 소자를 포함하는 조명 장치.
8. A lighting device comprising the light-emitting element according to any one of claims 1 to 7.
KR1020120076596A 2012-07-13 2012-07-13 Light emitting device and lightihng device having the same KR101959756B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120076596A KR101959756B1 (en) 2012-07-13 2012-07-13 Light emitting device and lightihng device having the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120076596A KR101959756B1 (en) 2012-07-13 2012-07-13 Light emitting device and lightihng device having the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140009796A KR20140009796A (en) 2014-01-23
KR101959756B1 true KR101959756B1 (en) 2019-03-19

Family

ID=50142810

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120076596A KR101959756B1 (en) 2012-07-13 2012-07-13 Light emitting device and lightihng device having the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101959756B1 (en)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006339534A (en) * 2005-06-03 2006-12-14 Sony Corp Light emitting diode, manufacturing method therefor, light emitting diode back light, light emitting diode lighting device, light emitting diode display and electronic apparatus

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101020961B1 (en) * 2008-05-02 2011-03-09 엘지이노텍 주식회사 Semiconductor light emitting device and fabrication method thereof

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006339534A (en) * 2005-06-03 2006-12-14 Sony Corp Light emitting diode, manufacturing method therefor, light emitting diode back light, light emitting diode lighting device, light emitting diode display and electronic apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140009796A (en) 2014-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101953716B1 (en) Light emitting device, light emitting device package, and lighting system
KR101047639B1 (en) Semiconductor light emitting device, light emitting device package and fabricating method for semiconductor light emitting device
KR101886156B1 (en) Light emitting device
KR101916131B1 (en) Light emitting device, method for fabricating the same and lighting system
KR102142709B1 (en) Light emitting device and lightihng device having the same
KR101982626B1 (en) Light emitting device and lighting device having the same
KR101979942B1 (en) Light emitting device and lighting system having the same
KR102131319B1 (en) Light emitting device and lightihng device having the same
KR101896690B1 (en) Light emitting device and light emitting device package
KR102224061B1 (en) Light emitting device
KR20140078250A (en) Light emitting device, method for fabricating the same, and lighting system
KR101875426B1 (en) Light emitting module and light unit having the same
KR101959756B1 (en) Light emitting device and lightihng device having the same
KR102199998B1 (en) Light emitting device
KR102237105B1 (en) Light emitting device
KR102163987B1 (en) Light emitting device
KR101946831B1 (en) Light emitting device package
KR20160093370A (en) Light emitting device package and lighting device
KR102200023B1 (en) Light emitting device
KR102486034B1 (en) Light emitting package and lighting device having thereof
KR102164063B1 (en) Light emitting device
KR102199995B1 (en) Light emitting device
KR102164070B1 (en) Light emitting device
KR102163984B1 (en) Light emitting device
KR101896691B1 (en) Light emitting device and lighting system

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant