KR101819361B1 - 소재 거치 장치 및 이를 이용한 부식 시험 장치 - Google Patents

소재 거치 장치 및 이를 이용한 부식 시험 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명의 소재 거치 장치는 상부가 개방된 적어도 하나의 거치 공간이 둘레방향을 따라 형성되고, 상기 거치 공간에는 소재가 삽입되어 고정되는 거치부; 및 상기 거치부의 하면에 결합되어, 상기 거치부를 회전시키는 회전부를 포함하는 것을 특징으로 하고, 본 발명의 부식 시험 장치는 상기 소재 거치 장치; 및 상기 소재 거치 장치를 수용하고, 상기 소재에 분사물질을 분무하는 하우징부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 상기와 같은 소재 거치 장치 및 이를 이용한 부식 시험 장치는 복수 개의 소재들을 거치하여 균일하게 부식 시험에 적용시키고, 소재를 다양한 각도로 거치시키며, 소재를 소정의 각도로 고정된 상태로 거치시킨다.

Description

소재 거치 장치 및 이를 이용한 부식 시험 장치{MATERIALS SETTING APPARATUS AND CORROSION TEST APPARATUS USING THE SAME}
본 발명은 소재 거치 장치 및 이를 이용한 부식 시험 장치에 관한 것으로서, 특히, 복수 개의 소재들을 균일하게 부식 시험에 적용될 수 있도록 하는 소재 거치 장치 및 이를 이용한 부식 시험 장치에 관한 것이다.
일반적으로 소재에 발생하는 부식은 소재의 내구성 저하 및 품질 저하에 영향을 미치고 있으며, 이에 따라 소재의 내식성에 대한 신뢰성 확보를 위한 시험이 요구되고 있다.
예를 들어, 스테인리스 강, 및 도금 및 도장 강판 등이 내식성이 요구되는 소재이다. 이러한 소재는 실험 장치 내부에 내식성 시험을 위한 소재를 안착한 후, 염수를 분무형태로 분사하며 부식 상태를 평가함으로써 부식 시험이 이루어진다.
또한, 부식 시험의 신뢰성과 정확성을 높이기 위해 많은 시편을 시험장치 내부에 진열 또는 조립한 상태에서 일정한 비율로 제조된 염수를 분무형태로 공급하고, 이를 소재로 분사하는 부식 시험이 진행된다.
이러한 소재의 부식 시험은 많은 소재를 진열 또는 조립한 상태에서 실시하지만, 시험조건에 따라 일정한 각도를 유지한 상태에서 진행되기도 한다.
하지만, 종래의 부식 시험은 많은 소재의 진열 또는 조립을 실험장치 내부에서 준비를 통해 개별적으로 반복 진행함으로 많은 시간과 노력이 소요된다. 특히, 시험장치 내부 공간의 한정, 및 염수 공급 또는 염수의 분사조건 등으로 인해 사용되는 소재의 일부에는 염수가 분사되어, 염수가 전체적으로 분사되지 않아 전체적인 소재의 내식성을 평하는 데에 어려움이 있다. 또한, 소재의 각도 유지를 통한 부식 시험 진행시, 각도를 일정하게 유지한 상태에서 시험을 진행할만한 보조기구가 없어 많은 어려움이 있고, 시험에 소요되는 시간도 증가되며, 이에 따라 시험에 대한 신뢰성도 낮아지는 요인이 되고 있다.
등록특허공보 제10-1490612호(공고일: 2015년 2월 6일) 등록실용신안공보 제20-1996-0024247호(공개일: 1996년 7월 22일) 공개특허공보 제10-2002-0004633호(공개일: 2002년 1월 16일)
본 발명은 복수 개의 소재들을 거치하여 균일하게 부식 시험에 적용시키는 소재 거치 장치 및 이를 이용한 부식 시험 장치를 제공하고자 한다.
또한, 본 발명은 소재를 다양한 각도로 거치시키는 소재 거치 장치 및 이를 이용한 부식 시험 장치를 제공하고자 한다.
또한, 본 발명은 소재를 소정의 각도로 고정된 상태로 거치시키는 소재 거치 장치를 제공하고자 한다.
본 발명의 소재 거치 장치는 상부가 개방된 적어도 하나의 거치 공간이 둘레방향을 따라 형성되고, 상기 거치 공간에는 소재가 삽입되어 고정되는 거치부; 및 상기 거치부의 하면에 결합되어, 상기 거치부를 회전시키는 회전부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 거치부는, 거치 플레이트부; 상기 거치 플레이트부의 상면 중앙에 설치되는 거치 샤프트부; 및 상기 거치 플레이트의 상면에서 상기 거치 샤프트부로부터 이격되면서 상기 거치 플레이트부의 둘레 방향을 따라 위치되어 상기 거치 공간을 형성하는 적어도 하나의 거치 몸체부를 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 거치 몸체부의 상단에는 거치홈이 형성되고, 상기 거치홈은 상기 거치 플레이트보다 상측에 위치되며, 상기 소재는 상기 거치홈에 삽입된 상태로 상기 거치 샤프트부 및 상기 거치 몸체부에 지지되어 고정되는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 거치 플레이트의 하면에는 상기 거치 샤프트부에 대응하도록 삽입홈이 형성되고, 상기 회전부의 일부는 상기 삽입홈에 삽입되는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 거치 몸체부는 복수 개로 이루어지고, 상기 거치 샤프트부와 상이한 간격을 형성하도록 상호 간에 이격되는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 거치 플레이트부 및 상기 거치 몸체부는 메쉬 형상을 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 회전부는, 상기 거치부의 하측에 위치되고, 외측면에는 원주방향을 따라 복수 개의 회전 톱니들이 형성되는 회전 기어부; 상기 회전 기어부와 상기 거치부 사이에 위치되며, 상기 거치부의 중앙에 위치되어 상기 거치부를 지지하는 지지 몸체부; 상기 회전 기어부와 상기 지지 몸체부를 연결하는 연결 샤프트부; 상기 회전 톱니들의 일부와 맞물리는 복수 개의 왕복 톱니들이 직선 방향으로 배열되고, 상기 직선 방향을 따라 이동하여 상기 회전 기어부를 회전시키는 왕복 기어부; 상기 왕복 기어부를 관통하여, 상기 왕복 기어부가 상기 직선 방향을 따라 이동하도록 회전하는 회전 샤프트부; 및 상기 회전 샤프트부에 연결되어, 상기 회전 샤프트부를 회전시키는 회전 동력부를 포함하되, 상기 왕복 기어부가 상기 직선 방향을 따라 이동하여 상기 회전 기어부를 회전시키면, 상기 회전 기어부는 상기 지지 몸체부 및 상기 거치부를 회전시키는 것을 특징으로 할 수 있다.
상기 회전부는, 상기 거치부를 지지하는 상기 지지 몸체부의 일부를 노출시키면서 상기 회전 기어부, 상기 지지 몸체부, 상기 연결 샤프트부, 상기 왕복 기어부, 상기 회전 샤프트부 및 상기 회전 동력부를 수용하는 케이싱부를 더 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명의 부식 시험 장치는 상기 소재 거치 장치; 및 상기 소재 거치 장치를 수용하고, 상기 소재에 분사물질을 분무하는 하우징부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 소재 거치 장치 및 이를 이용한 부식 시험 장치는 다음과 같은 효과를 갖는다.
(1) 거치된 복수 개의 소재들이 균일하게 부식 시험에 적용되는 효과를 갖는다.
(2) 소재가 다양한 각도로 거치되는 효과를 갖는다.
(3) 소재가 소정의 각도로 고정된 상태로 거치되는 효과를 갖는다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 소재 거치 장치를 도시하는 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시된 소재 거치 장치를 분리하여 도시하는 사시도이다.
도 3은 도 1에 도시된 소재 거치 장치에 소재가 거치된 모습을 도시하는 평면도이다.
도 4는 도 1에 도시된 소재 거치 장치에서 소재가 거치된 거치부를 도시하는 단면도들이다.
도 5는 도 1에 도시된 소재 거치 장치를 이용한 부식 시험 장치를 도시하는 사시도이다.
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 소재 거치 장치(100)를 도시하는 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 소재 거치 장치(100)를 분리하여 도시하는 사시도이며, 도 3은 도 1에 도시된 소재 거치 장치(100)에 소재(10)가 거치된 모습을 도시하는 평면도이고, 도 4는 도 1에 도시된 소재 거치 장치(100)에서 소재(10)가 거치된 거치부(101)를 도시하는 단면도들이며, 도 5는 도 1에 도시된 소재 거치 장치(100)를 이용한 부식 시험 장치(10)를 도시하는 사시도이다.
도 1 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 소재 거치 장치(100)는 거치부(101) 및 회전부(102)를 포함하며, 복수 개의 소재(10)를 거치한 상태로 하우징부(200)에 설치되어 부식 시험 장치(10)를 구성한다. 부식 시험 장치(10)에서 이루어지는 부식 시험은 소재(10)를 거치한 소재 거치 장치(100)가 하우징부(200)에 의해 수용된 상태에서 염수 등과 같은 분사물질이 하우징부(200)로부터 분무형태로 소재(10)에 분사된 후에 소재(10)의 부식 상태를 평가하는 내식성 시험이다.
거치부(101)에는 복수 개의 거치 공간(101a)들이 형성된다. 거치 공간(101a)들은 각각 거치부(101)의 둘레방향을 따라 형성되고, 상부만이 개방된 형태이다. 예를 들어, 도시된 바와 같이 거치 공간(101a)들은 동심원 형태로 배열된다. 소재(10)는 도 4에 도시된 바와 같이, 거치 공간(101a)에 삽입되어 기울어진 상태로 거치부(101)에 지지되어 고정된다. 또한, 거치부(101)는 거치 플레이트부(111), 거치 샤프트부(113) 및 거치 몸체부(115)들을 포함한다.
거치 플레이트부(111)는 평면 플레이트 형상으로 이루어진다.
거치 샤프트부(113)는 거치 플레이트부(113)의 상면 중앙에 설치된다. 또한, 거치 플레이트부(111)의 하면에는 거치 샤프트부(113)에 대응하도록 삽입홈(101c)가 형성된다.
거치 몸체부(115)들은 각각 거치 플레이트부(111)의 상면에서 거치 샤프트부(113)로부터 이격되면서 거치 플레이트부(111)의 둘레방향을 따라 위치되어 거치 공간(101a)을 형성한다. 이때, 거치 몸체부(115)들의 각각은 거치 샤프트부(113)와 상이한 간격을 형성한다. 즉, 거치 몸체부(115)들은 거치 플레이트부(111)의 상면에서 동심원 형태로 배열된다. 거치 공간(101a)은 거치 몸체부(115)들의 개수만큼 형성된다.
도 4(a)에 도시된 바와 같이, 거치 공간(101a)에 삽입된 소재(10)는 거치 플레이트(111)의 상면에 위치되면서 거치 몸체부(115)에 지지되어 기울어진 상태로 유지된다. 이로 인해, 소재(10)는 거치 플레이트부(111)와 소정의 각도를 형성한다. 또한, 거치 공간(101a)은 거치 플레이트부(111)의 둘레방향을 따라 형성된 연속적인 공간이기에, 소재(10)는 거치 공간(101a)에서 원하는 위치에 자유롭게 삽입될 수 있다.
한편, 거치 몸체부(115)의 상단에는 거치홈(101b)이 형성된다. 거치홈(101b)은 소재(10)는 거치 공간(101a)에 삽입하고 거치하고자 하는 위치에 상응하도록 형성된다. 일반적으로 거치홈(101b)은 거치 플레이트부(111)의 둘레방향을 따라 일정한 간격으로 거치 몸체부(115)의 상단에 형성된다.
소재(10)가 거치 공간(101a)에 삽입되면, 소재(10)는 도 4(b)에 도시된 바와 같이, 거치 플레이트부(111)의 상면에 위치되면서 거치홈(101b)에 삽입되어 거치 몸체부(115)에 지지된다. 이때, 소재(10)는 도 4(a)에 도시된 바와 같이, 거치홈(101b)에 삽입되지 않을 때보다 작은 거치 플레이트부(111)와 각도를 형성한다. 소재(10)의 양측면이 거치홈(101b)에 간섭되어 소재(10)는 거치 몸체부(115)에 안정적으로 지지될 수 있다. 이로 인해, 소재(10)는 거치부(101)에 고정된 상태로 거치되어, 후술된 회전부(102)가 거치부(101)를 회전시키더라도, 소재(10)는 흔들리지 않고 고정된 상태로 유지될 수 있다.
또한, 거치홈(101b)의 깊이는 변경가능하다. 여기서, 거치홈(101b)의 깊이는 거치 몸체부(115)의 상단에서 거치홈(101b)이 오목하게 형성된 정도를 의미한다. 이로 인해, 소재(10)는 거치 플레이트부(111)와 다양한 각도를 형성하면서 거치부(101)에 거치될 수 있다.
또한, 거치 플레이트부(111) 및 거치 몸체부(115)들은 메쉬 형상을 포함한다. 이로 인해, 분사물질 및 분사물질로 인한 소재(10)의 부식에 따른 생성물이 거치 공간(101a)에 유입되더라도, 분사물질 및 부식 생성물은 거치 플레이트부(111) 및 거치 몸체부(115)들을 통과하여 하측으로 유도된다.
한편, 거치부(101)는 분사물질과의 직접적인 접촉이 이루어지기 때문에, 분사물질에 대하여 부식이 방지될 수 있는 재료로 이루어진다.
회전부(102)는 거치부(101)의 거치 플레이트부(111)의 하면에 결합되어 거치부(101)를 회전시킨다. 이때, 회전부(102)의 일부는 거치 플레이트부(111)에 형성된 삽입홈(101c)에 삽입된다. 또한, 회전부(121)는 회전 기어부(121), 지지 몸체부(122), 연결 샤프트부(123), 왕복 기어부(124), 회전 샤프트부(125), 회전 동력부(126) 및 케이싱부(127)를 포함한다.
회전 기어부(121)는 거치부(101)의 거치 플레이트부(111)의 하측에 위치되고, 외측면에는 복수 개의 회전 톱니(121a)들이 형성된다.
지지 몸체부(122)는 거치부(101)의 거치 플레이트부(111)와 회전 기어부(121) 사이에 위치되며, 거치 플레이트부(111)의 삽입홈(101c)에 삽입된다. 지지 몸체부(122)는 거치 플레이트부(111)를 지지하는 데에 이용된다.
연결 샤프트부(123)는 회전 기어부(121)와 몸체 지지부(122)를 연결한다. 회전 기어부(121)가 연결 샤프트부(123)의 축방향을 중심으로 하여 회전하면, 회전 기어부(121)의 회전력은 연결 샤프트부(123)를 통해 지지 몸체부(122)에 전달된다. 이로 인해, 지지 몸체부(122)도 연결 샤프트부(123)의 축방향을 중심으로 하여 회전한다.
한편, 연결 샤프트부(123)의 상단부에는 스토퍼(123a)가 형성된다. 스토퍼(123a)는 연결 사프트부(123)의 외주면으로부터 돌출형성되어, 지지 몸체부(122)가 연결 샤프트부(123)와 함께 회전하도록 하는 데에 이용된다.
왕복 기어부(124)는 회전 기어부(121)의 회전 톱니(121a)들의 일부와 맞물리는 복수 개의 왕복 톱니(124a)들을 갖는다. 이때, 왕복 톱니(124a)들은 직선 방향으로 배열된다. 왕복 기어부(124)가 직선 방향으로 이동하면, 회전 기어부(121)는 연결 샤프트부(123)를 중심으로 회전한다.
회전 샤프트부(125)는 바아 형상으로 이루어진다. 회전 샤프트부(125)의 외주면은 나사산의 형태로 이루어진다. 회전 샤프트부(125)는 왕복 기어부(124)를 관통하여 왕복 기어부(124)와 나사결합된다. 이때, 회전 샤프트부(125)가 축방향을 중심으로 회전하면, 왕복 기어부(124)는 회전 샤프트부(125)를 따라 직선 방향으로 이동하고, 회전 기어부(121)를 회전시킨다. 회전 기어부(121)는 연결 샤프트부(123) 및 지지 몸체부(122)까지 회전시킨다. 이로 인해, 거치부(101)는 지지 몸체부(122)와 함께 회전한다.
한편, 회전 샤프트부(125)는 시계방향 또는 반시계방향으로 회전한다. 예를 들어, 회전 샤프트부(125)가 시계방향으로 회전하면, 회전 기어부(121)는 왕복 기어부(124)에 의해 시계방향 또는 반시계방향으로 회전한다. 반면에, 회전 샤프트부(125)가 반시계방향으로 회전하면, 회전 기어부(121)는 왕복 기어부(124)에 의해 반시계방향 또는 시계방향으로 회전한다. 특히, 회전 샤프트부(125)의 회전에 따라 왕복 기어부(124)가 직선 방향으로 이동함으로써, 회전 기어부(121)는 왕복 기어부(124)에 의해 시계방향으로 360°만큼 회전하기도 하고, 이어서 반시계방향으로 360°만큼 회전하기도 한다. 이때, 왕복 기어부(124)의 왕복 톱니(124a)들은 전체적으로 회전 기어부(121)의 회전 톱니(121a)의 일부와 맞물린다.
회전 동력부(126)는 회전 샤프트부(125)에 연결되어, 회전 샤프트부(125)를 회전시킨다. 이때, 회전 샤프트부(125)는 회전 샤프트부(125)의 축방향을 중심으로 회전한다. 또한, 회전 동력부(126)는 모터의 형태로 이루어진다.
케이싱부(127)는 회전 기어부(121), 지지 몸체부(122), 연결 샤프트부(123), 왕복 기어부(124), 회전 샤프트부(125), 및 회전 동력부(126)를 수용한 상태에서 지지 몸체부(122)의 상면만을 노출시킨다. 한편, 케이싱부(127)를 통해 노출된 지지 몸체부(122)의 상면은 거치부(101)의 거치 플레이트부(111)를 지지한다.
분사물질 및 부식 생성물은 거치 공간(101a)에 유입되어 거치 플레이트부(111) 및 거치 몸체부(115)들을 통과한 후에 케이싱부(127)에 도달된다. 이로 인해, 회전 기어부(121), 지지 몸체부(122), 연결 샤프트부(123), 왕복 기어부(124), 회전 샤프트부(125), 및 회전 동력부(126)는 케이싱부(127)에 의해 보호된 상태로 유지된다. 또한, 케이싱부(127)는 분사물질과 직접적인 접촉이 이루어지기 때문에, 분사물질에 대하여 부식이 방지될 수 있는 재료로 이루어진다.
본 실시예의 소재 거치 장치(100)는 하우징부(200)와 조합하여 부식 시험 장치(10)를 구성한다. 여기서, 소재 거치 장치(100)가 하우징부(200)의 내부에 수용된 상태에서, 소재 거치 장치(100)의 거치부(101)에 거치된 소재(10)에는 분사물질이 분무된다. 이때, 소재(10)가 회전부(102)에 의해 회전되기에, 분사물질이 특정방향으로 분무되더라도 특정 위치의 소재(10)들에만 분무되지 않고 소재(10) 전체에 걸쳐 균일하게 분무될 수 있다. 이로 인해, 분사물질에 의한 소재(10)의 부식 시험에 대한 신뢰성 및 재현성이 확보될 수 있다.
또한, 거치부(101)에 거치된 소재(10)는 거치 공간(101a) 및 거치홈(101b)에 걸쳐 거치되어 고정된 상태로 유지된다. 이로 인해, 소재(10)는 거치부(101)의 회전에 따라 흔들리지 않고 안정적으로 거치부(101)에 거치된다.
거치부(101)는 회전부(102)에 대하여 용이하게 착탈가능하다. 또한, 거치부(101)를 통과한 분사물질 및 소재(10)의 부식에 따른 생성물이 회전부(102)에 도달한다. 이로 인해, 회전부(102)에 도달된 분사물질 및 생성물은 거치부(101)가 회전부(102)로부터 분리된 상태에 용이하게 제거되고 청소될 수 있다.
이상, 구체적인 실시예에 관해서 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 자명하다 할 것이다.
100: 소재 거치 장치
101: 거치부
101a: 거치 공간
101b: 거치홈
101c: 삽입홈
111: 거치 플레이트부
113: 거치 샤프트부
115: 거치 몸체부
102: 회전부
121: 회전 기어부
122: 지지 몸체부
123: 연결 샤프트부
124: 왕복 기어부
125: 회전 샤프트부
126: 회전 동력부
127: 케이싱부

Claims (9)

  1. 상부가 개방된 복수개의 거치 공간이 둘레방향을 따라 각각 연장되어 있고, 상기 거치 공간에는 소재가 삽입되어 고정되는 거치부;
    상기 거치부의 하면에 결합되어, 상기 거치부를 회전시키는 회전부;
    상기 회전부에 연결된 거치 플레이트부;
    상기 거치 플레이트부의 상면 중앙에 설치되는 거치 샤프트부; 및
    상기 거치 플레이트의 상면에서 상기 거치 샤프트부로부터 이격되면서 상기 거치 플레이트부의 둘레방향을 따라 각각 위치되어 상기 거치 공간을 각각 형성하도록 복수개로 이루어진 거치 몸체부;를 포함하고,
    상기 거치 몸체부가,
    상기 거치 샤프트부와 상이한 간격을 형성하면서 상호 간에 이격되고, 상기 거치 공간의 동심원 형태의 배열에 대응되도록, 상기 거치 플레이트부의 상면에서 동심원 형태로 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 소재 거치 장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 거치 몸체부의 상단에는 거치홈이 형성되고, 상기 거치홈은 상기 거치 플레이트보다 상측에 위치되며,
    상기 소재는 상기 거치홈에 삽입된 상태로 상기 거치 샤프트부 및 상기 거치 몸체부에 지지되어 고정되는 것을 특징으로 하는 소재 거치 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 거치 플레이트의 하면에는 상기 거치 샤프트부에 대응하도록 삽입홈이 형성되고,
    상기 회전부의 일부는 상기 삽입홈에 삽입되는 것을 특징으로 하는 소재 거치 장치.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 거치 플레이트부 및 상기 거치 몸체부는 메쉬 형상을 포함하는 것을 특징으로 하는 소재 거치 장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 회전부는,
    상기 거치부의 하측에 위치되고, 외측면에는 원주방향을 따라 복수 개의 회전 톱니들이 형성되는 회전 기어부;
    상기 회전 기어부와 상기 거치부 사이에 위치되며, 상기 거치부의 중앙에 위치되어 상기 거치부를 지지하는 지지 몸체부;
    상기 회전 기어부와 상기 지지 몸체부를 연결하는 연결 샤프트부;
    상기 회전 톱니들의 일부와 맞물리는 복수 개의 왕복 톱니들이 직선 방향으로 배열되고, 상기 직선 방향을 따라 이동하여 상기 회전 기어부를 회전시키는 왕복 기어부;
    상기 왕복 기어부를 관통하여, 상기 왕복 기어부가 상기 직선 방향을 따라 이동하도록 회전하는 회전 샤프트부; 및
    상기 회전 샤프트부에 연결되어, 상기 회전 샤프트부를 회전시키는 회전 동력부를 포함하되,
    상기 왕복 기어부가 상기 직선 방향을 따라 이동하여 상기 회전 기어부를 회전시키면, 상기 회전 기어부는 상기 지지 몸체부 및 상기 거치부를 회전시키는 것을 특징으로 하는 소재 거치 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 회전부는,
    상기 거치부를 지지하는 상기 지지 몸체부의 일부를 노출시키면서 상기 회전 기어부, 상기 지지 몸체부, 상기 연결 샤프트부, 상기 왕복 기어부, 상기 회전 샤프트부 및 상기 회전 동력부를 수용하는 케이싱부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 소재 거치 장치.
  9. 제1항, 제3항, 제4항, 제6항, 제7항, 제8항 중 어느 한 항에 따른 소재 거치 장치; 및
    상기 소재 거치 장치를 수용하고, 상기 소재에 분사물질을 분무하는 하우징부를 포함하는 것을 특징으로 하는 부식 시험 장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012026757A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Shimadzu Corp 表面分析装置及びそれに用いられる試料ホルダ
JP2012172974A (ja) * 2011-02-17 2012-09-10 Suga Test Instr Co Ltd 腐食試験機

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