KR101780747B1 - 캔 타입 프로브 - Google Patents
캔 타입 프로브 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101780747B1 KR101780747B1 KR1020170041539A KR20170041539A KR101780747B1 KR 101780747 B1 KR101780747 B1 KR 101780747B1 KR 1020170041539 A KR1020170041539 A KR 1020170041539A KR 20170041539 A KR20170041539 A KR 20170041539A KR 101780747 B1 KR101780747 B1 KR 101780747B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- contact
- pin body
- battery tab
- battery
- contact pins
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/3644—Constructional arrangements
Abstract
본 발명은 캔 타입 프로브에 관한 것으로, 원통형상의 상부 핀바디; 상기 상부 핀바디와 수직으로 결합되고 배터리 탭의 상부면과 접촉하는 다수개의 제1 컨택 핀; 상기 상부 핀바디의 외측면에 형성되어 완충 역할을 하는 스프링; 및 상기 상부 핀바디와 연결된 하부 핀바디와 수평으로 결합되고, 상기 배터리 탭의 측면에 접촉하는 다수개의 제2 컨텍 핀;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 캔 타입 배터리 프로브에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 배터리 탭(Tap)과 접촉 면적이 넓은 캔 타입 프로브에 관한 것이다.
2차 전지를 만드는 메이커는 전지를 출하하기 전에 충방전 테스트가 필수적이며, 이 충방전을 테스트하기 위해서는 별도의 테스트 프로브가 사용되고 있다. 이 테스트 프로브는 배터리 작업의 품질상태를 측정하는 테스트기와의 접촉 소자로써 배터리의 충방전이 양호한지 불량한지를 판정해 주는 핵심부품이다.
이러한 배터리 테스트 프로브는 배터리의 용량이 증가할수록 누르는 힘이 증가하는데 용량이 큰 배터리일수록 프로브의 누르는 힘에 손상되지 않도록 기계적 강성 확보가 필요하고, 누르는 벡터가 ∠90°를 이룰 수 없으므로 배터리 전체의 강성이 확보되어야 한다.
그러나, 종래의 테스트 프로브(Can Type Prove)는 누르는 힘에 수직으로 접촉이 어렵고, 배터리 탭(Tap) 상부면만 핀(Pin)이 접촉하므로 접촉 면적이 제한적이어서 대용량에 부적합한 문제점이 있다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은 대용량에 적합하고 배터리 탭(Tab)의 상부면 및 측면에 핀이 접촉되어 배터리 테스트에 신뢰성이 높은 캔 타입 프로브를 제공하는 데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 일실시예에 따른 본 발명의 캔 타입 프로브는 원통형상의 상부 핀바디; 상기 상부 핀바디와 수직으로 결합되고 배터리 탭의 상부면과 접촉하는 다수개의 제1 컨택 핀; 상기 상부 핀바디의 외측면에 형성되어 완충 역할을 하는 스프링; 및 상기 상부 핀바디와 연결된 하부 핀바디와 수평으로 결합되고, 상기 배터리 탭의 측면에 접촉하는 다수개의 제2 컨택 핀;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 배터리 탭은 원기둥형상이거나 상부면을 갖는 원뿔기둥형상인 것을 특징으로 한다.
상기 제1 컨택 핀은 탄성력을 갖는 금속판으로 중앙 부분이 반원 형상으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기 제2 컨택 핀은 탄성력을 갖는 금속판으로 이루어지거나 중앙 부분이 반원 형상으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
상기 상부 핀바디와 하부 핀바디와 결합시켜 흔들림을 방지하는 가이드 부재를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제1 및 제2 컨택 핀은 상기 배터리 탭과 접촉하지 않는 일측 끝단을 연결하는 연결판을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제1 및 제2 컨택 핀은 배터리 탭과 접촉을 위해 힘을 가하면 일정한 간격으로 휘어져 배터리 탭의 상부면 및 측면에 골고루 수직 접촉하는 것을 특징으로 한다.
이상과 같이 본 발명에 따르면, 대용량에 적합하고 배터리 탭의 상부면 및 측면에 컨택 핀이 접촉되어 접촉면적을 충분히 확보함으로써 신뢰성이 높은 배터리 테스트 결과를 얻을 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 캔 타입 프로브의 단면도이다.
도 2는 도 1의 배터리 팩의 상부와 접촉하는 컨택 핀의 (a) 측면도, (b) 펼친 모양 및 (c) 평면도이다.
도 3은 도 1의 배터리 팩의 측면과 접촉하는 컨택 핀의 (a) 측면도 및 (b) 정면도이다.
도 4는 본 발명의 캔 타입 프로브에 힘을 가한 상태의 실시예를 보여주는 단면도이다.
도 2는 도 1의 배터리 팩의 상부와 접촉하는 컨택 핀의 (a) 측면도, (b) 펼친 모양 및 (c) 평면도이다.
도 3은 도 1의 배터리 팩의 측면과 접촉하는 컨택 핀의 (a) 측면도 및 (b) 정면도이다.
도 4는 본 발명의 캔 타입 프로브에 힘을 가한 상태의 실시예를 보여주는 단면도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위하여 설명과 관계없는 부분은 생략하였다.
그러면 본 발명의 일실시예에 따른 캔 타입 프로브에 대하여 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 캔 타입 프로브의 단면도이고, 도 2는 도 1의 배터리 팩의 상부와 접촉하는 컨택 핀의 (a) 측면도, (b) 펼친 모양 및 (c) 평면도이며, 도 3은 도 1의 배터리 팩의 측면과 접촉하는 컨택 핀의 (a) 측면도 및 (b) 정면도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 캔 타입 프로브는 배터리 탭(10)의 상부면에 접촉하는 다수개의 제1 컨택 핀(20)과, 상기 배터리 탭(10)의 측면에 접촉하는 다수개의 제2 컨택 핀(30)을 포함하여 구성된다.
상기 배터리 탭(10)은 원기둥형상이거나 상부면을 갖는 원뿔기둥형상이 바람직하며, 이에 한정하지 않는다.
상기 제1 컨택 핀(20)은 탄성력을 가지는 금속판 형상의 핀으로 다수개가 일정 간격으로 상부 핀바디(40)와 수직으로 결합되어 구성된다.
여기서, 상기 제1 컨택 핀(20)은 중앙 부분이 반원 형상으로 형성될 수 있다. 이와 같이, 반원 형상은 힘을 가해 제1 컨택 핀(20)을 배터리 탭(10)의 상부면에 접촉시 완충 역할을 할 수 있다.
상기 상부 핀바디(40)는 원통형상으로 내부에는 제1 컨택 핀(20)이 일정한 간격으로 이루어지며 외측면에는 스프링(50)으로 구성될 수 있다. 이때, 상기 스프링(50)은 제1 컨택 핀(20)에 힘을 가해 배터리 탭(10)에 접촉시 완충 역할을 하게 된다.
상기 제2 컨택 핀(30)은 탄성력을 가지는 금속판 형상의 핀으로 원통형상의 하부 핀바디(60)와 수평으로 다수개가 일정 간격으로 결합되어 구성된다. 여기서, 상기 하부 핀바디(60)와 상부 핀바디(40)는 부도체로 이루어지며, 흔들림을 방지하는 가이드 부재(70)를 통해 결합된다.
또한, 상기 제2 컨택 핀(30)은 제1 컨택 핀(30)과 동일한 형상으로 이루어질 수 있다. 즉, 상기 제2 컨택 핀(30)은 중앙 부분이 반원 형상으로 이루어질 수 있다.
상기 제1 컨택 핀들(20)은 도 2와 같이 배터리 탭(10)의 상부면과 접촉하지 않는 일측 끝단에 일정한 폭을 갖는 제1 연결판(21)을 연결하며, 프레스 금형 작업을 통해 제1 컨택 핀들(20)과 제1 연결판(21)을 일체형으로 제작할 수 있다. 이때, 컨택 핀(20)의 폭과 간격은 0.2cm가 바람직하고, 이에 한정하지 않는다.
또한, 상기 제2 컨택 핀(20)은 도 3과 같이 배터리 탭(10)의 측면과 접촉하지 않는 일측 끝단에 일정한 폭을 갖는 제2 연결판(31)을 연결하며, 프레스 금형 작업을 통해 일체형으로 제작할 수 있다.
도 4는 본 발명의 캔 타입 프로브에 힘을 가한 상태의 실시예를 보여주는 단면도이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 캔 타입 프로브를 배터리 탭(10)과 접촉을 위해 힘을 가하면 탄성력을 가진 제1 및 제2 컨택 핀들(20,30)이 일정한 간격으로 화살표 방향으로 휘어져 배터리 탭(10)의 상부면 및 측면에 수직으로 골고루 접촉하게 된다.
이와 같이, 본 발명은 배터리 탭(10)의 상부면과 측면에 탄성력을 갖는 컨택 핀들이 골고루 수직 접촉함으로써 배터리 테스트에 신뢰성을 더욱 높일 수 있다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
10: 배터리 탭
20: 제1 컨택 핀
21: 제1 연결판
30: 제2 컨택 핀
31: 제2 연결판
40: 상부 핀바디
50: 스프링
60: 하부 핀바디
70: 가이드 부재
20: 제1 컨택 핀
21: 제1 연결판
30: 제2 컨택 핀
31: 제2 연결판
40: 상부 핀바디
50: 스프링
60: 하부 핀바디
70: 가이드 부재
Claims (7)
- 원통형상의 상부 핀바디;
상기 상부 핀바디와 수직으로 결합되고 배터리 탭의 상부면과 접촉하는 다수개의 제1 컨택 핀;
상기 상부 핀바디의 외측면에 형성되어 완충 역할을 하는 스프링; 및
상기 상부 핀바디와 연결된 하부 핀바디와 수평으로 결합되고, 상기 배터리 탭의 측면에 접촉하는 다수개의 제2 컨택 핀;을 포함하되,
상기 제1 및 제2 컨택 핀은 배터리 탭과 접촉을 위해 힘을 가하면 일정한 간격으로 휘어져 배터리 탭의 상부면 및 측면에 골고루 수직 접촉하는 것을 특징으로 하는 캔 타입 프로브.
- 제1항에 있어서,
상기 배터리 탭은 원기둥형상이거나 상부면을 갖는 원뿔기둥형상인 것을 특징으로 하는 캔 타입 프로브.
- 제1항에 있어서,
상기 제1 컨택 핀은 탄성력을 갖는 금속판으로 중앙 부분이 반원 형상으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 캔 타입 프로브.
- 제1항에 있어서,
상기 제2 컨택 핀은 탄성력을 갖는 금속판으로 이루어지거나 중앙 부분이 반원 형상으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 캔 타입 프로브.
- 제1항에 있어서,
상기 상부 핀바디와 하부 핀바디와 결합시켜 흔들림을 방지하는 가이드 부재를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 캔 타입 프로브.
- 제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 컨택 핀은 상기 배터리 탭과 접촉하지 않는 일측 끝단을 연결하는 연결판을 포함하는 것을 특징으로 하는 캔 타입 프로브.
- 삭제
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170041539A KR101780747B1 (ko) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 캔 타입 프로브 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170041539A KR101780747B1 (ko) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 캔 타입 프로브 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101780747B1 true KR101780747B1 (ko) | 2017-09-21 |
Family
ID=60034770
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020170041539A KR101780747B1 (ko) | 2017-03-31 | 2017-03-31 | 캔 타입 프로브 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101780747B1 (ko) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000030762A (ja) * | 1998-07-09 | 2000-01-28 | Furukawa Battery Co Ltd:The | 蓄電池用検査装置並びに電池の導電接触装置 |
JP2003207523A (ja) | 2002-01-09 | 2003-07-25 | Fujitsu Ltd | コンタクタ及びその製造方法並びにコンタクト方法 |
-
2017
- 2017-03-31 KR KR1020170041539A patent/KR101780747B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000030762A (ja) * | 1998-07-09 | 2000-01-28 | Furukawa Battery Co Ltd:The | 蓄電池用検査装置並びに電池の導電接触装置 |
JP2003207523A (ja) | 2002-01-09 | 2003-07-25 | Fujitsu Ltd | コンタクタ及びその製造方法並びにコンタクト方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9726693B2 (en) | Probe member for pogo pin | |
US20160018440A1 (en) | Contact Device for Test and Test Socket | |
US20100120299A1 (en) | Contact and electrical connecting apparatus | |
US10254310B2 (en) | Electrical probe with a probe head and contacting pins | |
TWI554763B (zh) | 彈簧式探針頭 | |
KR100929645B1 (ko) | 반도체 칩 검사용 소켓 | |
JP2020504302A (ja) | 検査用プローブ及びソケット | |
US10908182B2 (en) | Electrical connecting apparatus and contact | |
KR101532393B1 (ko) | 전기적 검사소켓 | |
KR101455174B1 (ko) | 포고 핀 및 그 제조방법 | |
KR102208381B1 (ko) | 검사프로브 및 그의 제조방법, 그리고 그를 지지하는 검사소켓 | |
KR102019040B1 (ko) | 배터리 충방전 검사용 프로브 | |
KR100947056B1 (ko) | 켈빈 테스트용 소켓 | |
KR101780747B1 (ko) | 캔 타입 프로브 | |
KR100970895B1 (ko) | 반도체 칩 검사용 소켓 | |
KR101782600B1 (ko) | 반도체 패키지 테스트 장치 | |
KR101544499B1 (ko) | 검사장치 | |
KR100985498B1 (ko) | 반도체 칩 패키지 검사용 소켓 | |
CN216310082U (zh) | 一种用于待测元器件的测试治具 | |
KR101500609B1 (ko) | 검사장치 | |
KR101446146B1 (ko) | 검사장치 | |
JP2008008624A (ja) | コンタクトプローブ | |
JP2004257831A (ja) | 接触子及び電気的接続装置 | |
KR102242244B1 (ko) | 이차전지용 충방전장치 | |
CN216126686U (zh) | 一种消费类聚合物锂离子电池的通用激光焊工装 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |